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KR100244182B1 - 액정표시장치 - Google Patents

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KR100244182B1
KR100244182B1 KR1019960059212A KR19960059212A KR100244182B1 KR 100244182 B1 KR100244182 B1 KR 100244182B1 KR 1019960059212 A KR1019960059212 A KR 1019960059212A KR 19960059212 A KR19960059212 A KR 19960059212A KR 100244182 B1 KR100244182 B1 KR 100244182B1
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gate
liquid crystal
crystal display
shorting bar
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KR1019960059212A
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Inventor
김점재
Original Assignee
구본준
엘지.필립스 엘시디주식회사
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Publication date
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Priority to US09/396,453 priority patent/US6100949A/en
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Abstract

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 고가의 장비를 사용하지 않고도 액정표시장치에서 어레이 검사를 용이하게 할 수 있도록 한 액정표시장치에 관한 것이다.
이와 같은 본 발명의 액정표시장치는 서로 수직한 방향으로 일정한 간격을 갖고 형성되는 복수개의 게이트 라인 및 데이터 라인과, 게이트 구동 IC 실장 영역 및 데이터 구동 IC 실장 영역에 형성되는 제1, 제2쇼팅 바와, 상기 제1쇼팅바와 상기 각 게이트 라인의 패드 사이 및 상기 제2쇼팅 바와 상기 각 데이터 라인의 패드 사이에 각각 형성되는 복수개의 스위칭 소자를 포함하여 구성된 것이다.

Description

액정표시장치
본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 COG 구조의 액정표시장치에서 어레이 검사를 용이하게 할 수 있도록 한 COG 실장용 액정표시장치에 관한 것이다.
일반적으로 액정표시장치에 있어서 TFT-LCD 액정표시장치가 구동하기 위한 구동신호를 공급하는 구동 IC를 TFT-LCD 패널에 접속하는 실장 기술은 WB(Wire Bonding)방식, TAB(Tape Automated Bonding)방식, 및 COG(Chip On Glass)방식으로 구분된다.
첫째, WB 방식은 금(Au) 와이어를 이용하여 패널 전극과 구동 IC를 접속하는 방식을 이용한 실장 방법이다.
둘째, TAB 방식은 필름 캐리어(film carrier)에 구동 IC가 접속된 패캐지(package)를 패널에 실장하는 기술이다.
셋째, COG 방식은 베어 칩(Bare Chip)자체에 범프(Bump)를 형성한 후 인너리드 패드와 아웃 리드 패드가 형성된 패널에 실장하는 기술이다.
그리고 액정 표시장치의 공정 중에 정전기가 내부 TFT-LCD 어레이에 인가되어 내부 소자(박막트랜지스터 등)가 파괴되므로 이를 방지하고, 또한 TFT-LCD 어레이 완성 후 어레이 검사를 용이하게 하기 위하여 쇼팅 바가 필요하게 되었다.
즉, 쇼팅 바는 각 게이트 라인에 연결되는 하나의 쇼팅 바와 각 데이터 라인에 연결되는 다른 하나의 쇼팅 바로 구성되어, 어레이 검사시 게이트 라인의 단락 유무를 체크하기 위해 각 게이트 라인이 연결된 쇼팅 바에 전원을 인가하고 각 게이트 라인의 반대쪽에서 체크하여 게이트 라인의 단락 유무를 체크하며, 데이터 라인도 마찬가지 방법으로 체크한다.
이와 같이 쇼팅 바는 실제 TFT-LCD를 구동함에 있어서는 전혀 이용되지 않고, 상기와 같이 정전기 방지 및 어레이 검사시에 이용되는 것이므로 최종적으로는 제거된다.
즉, TFT-LCD의 어레이가 완성되고 어레이 검사가 끝나면 상판과 하판을 합착한 후, 스크라이브(scribe) 공정과 그라인딩(grinding) 공정을 거쳐서 상기 쇼팅바를 제거한다.
한편, 이와 같은 쇼팅 바를 형성함에 있어서, 실장 방식에 따라 게이트 라인 및 데이터 라인의 구성이 다르기 때문에 실장 방식에 따라 쇼팅 바를 형성하기가 난해하였다.
즉, TAB 방식은 베어 칩 양측에 케리어 필름이 연결되기 때문에 TFT-LCD판넬상에서 공간을 확보할 수 있으므로 구동 IC 실장 영역인 게이트 라인 패드 및 데이터 라인 패드 일측에 쇼팅 바를 형성하였다.
그러나, COG 방식은 TFT-LCD 패널의 구동 IC 실장 영역에 인너 리드와 아웃 리드가 형성되어야 하므로 TFT-LCD 패널상에서 공간을 확보하기가 곤란하여 구동 IC 실장 영역에 쇼팅 바를 설치하기가 어려웠다.
그런데 최근에는 COG 실장 방식용 액정표시장치에서도 COG 실장 영역에 쇼팅 바를 설치한 기술이 개발되었다.
이와 같은 COG 실장용 액정표시장치에서 쇼팅바를 형성한 종래의 기술을 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
제1도는 종래 COG 실장용 액정표시장치의 레이 아웃도이다.
기판상에 일정한 간격을 갖고 일방향으로 복수개의 게이트 라인(1)의 배열되고, 상기 각 게이트 라인(1)에 수직한 방향으로 일정한 간격을 갖고 복수개의 데이터 라인(2)이 배열된다.
상기 각 게이트 라인(1)과 데이터 라인(2)의 일측 끝단에는 게이트 라인 패드(3) 및 데이터 라인 패드(4)가 형성되며, 상기 각 게이트 라인 패드(3)에 대향되는 부분에는 일정 간격을 갖고 복수개의 게이트 입력 패드(7)가 형성되고, 상기 데이터 라인 패드(4)에도 대향되는 부분에 일정 간격을 갖고 복수개의 데이터 입력 패드(8)가 형성된다.
여기서, 각 게이트 라인 패드(3)에 대향되도록 게이트 입력 패드(7)가 형성된 부분이 게이트 구동 IC 실장 영역(9)이고, 각 데이터 라인 패드(4)에 대향되도록 데이터 입력 패드(8)가 형성된 부분이 데이터 구동 IC 실장 영역(10)이다.
그리고 상기 게이트 구동 IC 실장 영역(9) 및 데이터 구동 IC 실장 영역(10)에 제1쇼팅 바(5) 및 제2쇼팅 바(6)가 형성된다.
즉, 제1쇼팅 바(5)는 각 게이트 라인 패드(3)와 게이트 입력 패드(7)사이에 형성되고, 각 게이트 라인 패드(3)는 제1쇼팅 바(5)에 연결된다.
또한 제2쇼팅 바(6)는 각 데이터 라인 패드(4)와 데이터 입력 패드(8) 사이에 형성되고, 각 데이터 라인 패드(4)는 제2쇼팅 바(6)에 연결된다.
제1도에서 미설명 부호는 레이져 컷팅 라인(11)이다.
이와 같이 구성하여 박막 트랜지스터 및 화소전극 등을 구비한 TFT-LCD를 형성한 다음 상술한 바와 같이 어레이 검사를 하고, 검사가 끝나면 상, 하판을 합착하고 상기 쇼팅 바(5, 6)와 게이트 라인 패드(3) 및 데이터 라인 패드(4) 사이를 레이저 컷팅(LASER CUTTING) 장비를 이용하여 컷팅한다.
그러나 이와 같은 종래의 COG 실장용 액정표시장치에 있어서는 다음과 같은 문제점이 있었다.
즉, 종래의 COG 실장용 액정표시장치에 있어서는 상술한 바와 같이 고가의 레이저 컷팅 장비를 이용하여 쇼팅 바와 패드 사이를 컷팅해야 하므로 생산 단가를 상승하게 된다.
본 발명은 이와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출한 것으로, COG 방식으로 실장되는 TFT-LCD 액정표시장치에서 컷팅 공정이 필요없는 어레이 검사용 액정표시장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
제1도는 종래의 COG 실장 방식 액정표시장치 레이 아웃도.
제2도는 본 발명의 COG실장 방식 액정표시장치의 레이 아웃도.
제3도는 본 발명 제1실시예의 COG 실장용 액정표시장치의 스위칭 소자 레이아웃도.
제4도는 본 발명 제2실시예의 COG 실장용 액정표시장치의 스위칭 소자 레이 아웃도.
제5도는 본 발명 제1실시예의 스위칭 소자 회로도.
제6도는 본 발명 제2실시예의 스위칭 소자 회로도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 게이트 라인 2 : 데이터 라인
3, 4 : 패드 5, 6 : 쇼팅 바
7 : 게이트 입력 패드 8 : 데이터 입력 패드
9 : 게이트 구동 IC 실장 영역 10 : 데이터 구동 IC 실장 영역
12 : 스위칭 소자 21 : 게이트 전극
22 : 활성층 23 : 소오스 전극
24 : 드레인 전극
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 COG 실장용 액정표시장치는 서로 수직한 방향으로 일정한 간격을 갖고 형성되는 복수개의 게이트 라인 및 데이터 라인과, 게이트 구동 IC 실장 영역 및 데이터 구동 IC 실장 영역에 형성되는 제1, 제2쇼팅바와, 상기 제1쇼팅 바와 상기 각 게이트 라인의 패드 사이 및 상기 제2쇼팅 바와 상기 각 데이터 라인의 패드 사이에 각각 형성되는 복수개의 스위칭 소자를 포함하여 구성됨에 그 특징이 있다.
상기와 같은 본 발명의 어레이 검사용 액정표시장치를 첨부된 도면을 참조하여 보다 상세히 설명하면 다음과 같다.
제2도는 본 발명의 COG 실장용 액정표시장치의 레이 아웃도이다.
기판상에 일정한 간격을 갖고 일방향으로 복수개의 게이트 라인(1)이 배열되고, 상기 각 게이트 라인(1)에 수직한 방향으로 일정한 간격을 갖고 복수개의 데이터 라인(2)이 배열된다.
상기 각 게이트 라인(1)과 데이터 라인(2)의 일측 끝단에는 게이트 라인 패드(3) 및 데이터 라인 패드(4)가 형성되며, 상기 각 게이트 라인 패드(3)에 대향되는 부분에는 일정 간격을 갖고 복수개의 게이트 입력 패드(7)가 형성되고, 상기 데이터 라인 패드(4)에도 대향되는 부분에 일정 간격을 갖고 복수개의 데이터 입력 패드(8)가 형성된다.
여기서, 각 게이트 라인 패드(3)에 대향되도록 게이트 입력 패드(7)가 형성된 부분이 게이트 구동 IC 실장 영역(9)이고, 각 데이터 라인 패드(4)에 대향되도록 데이터 입력 패드(8)가 형성된 부분이 데이터 구동 IC 실장 영역(10)이다.
그리고 상기 게이트 구동 IC 실장 영역(9) 및 데이터 구동 IC 실장 영역(10)에 제1쇼팅 바(5) 및 제2쇼팅 바(6)가 형성되고, 상기 제1, 제2쇼팅 바(5, 6)과 게이트 라인 패드(3) 및 데이터 라인 패드(4)는 각각 스위칭 소자(12)에 의해 연결된다.
즉, 제1쇼팅 바(5)는 각 게이트 라인 패드(2)와 게이트 입력 패드(7) 사이에 형성되고, 각 게이트 라인 패드(3)는 각각 스위치 소자(12)를 통해 제1쇼팅 바(5)에 연결된다.
또한 제2쇼팅바(6)는 각 데이터 라인 패드(4)와 데이터 입력 패드(8) 사이에 형성되고, 각 데이터 라인 패드(4)는 각각 스위칭 소자(12)에 의해 제2쇼팅 바(6)에 연결된다.
그리고 각 스위칭 소자(12)는 외부의 신호에 의해 동시에 온/오프하도록 되어 있다.
이와 같이 구성되는 본 발명의 COG 실장용 액정표시장치의 스위칭 소자(12)를 좀더 구체적으로 설명하면 다음과 같다.
제3도는 본 발명 제1실시예의 COG 실장용 액정표시장치의 스위칭 소자 레이 아웃도이고, 제5도는 본 발명 제1실시예의 스위칭 소자 회로도이다.
본 발명 제1실시예는 스위칭 소자를 트랜지스터로 형성한 것으로, TFT-LCD 셀을 형성하는 공정과 동일하게 트랜지스터를 형성한다.
즉, 게이트 구동 IC 실장 영역(9)은 유리 기판위에 금속을 증착하고 선택적으로 제거하여 TFT-LCD의 게이트 라인(1) 및 게이트 라인 패드(3)을 형성함과 동시에 상기 쇼팅 바와 게이트 라인 패드를 연결하는 스위칭 소자의 게이트 전극(21)을 형성한다.
전면에 게이트 절연막(도면에는 도시되지 않음)을 증착한다.
상기 게이트 절연막위에 반도체층을 증착하고 선택적으로 제거하여 TFT-LCD 어레이 영역의 각 박막 트랜지스터 형성 영역에 제1 활성층을 섬모양으로 형성함과 동시에 상기 스위칭 소자(12) 형성 영역의 게이트 전극(21) 위에 제2활성층(22)을 형성한다.
전면에 금속을 증착하고 선택적으로 제거하여 TFT-LCD 어레이 영역에 데이터 라인(2) 및 데이터 패드(4)를 형성함과 동시에 상기 스위칭 소자(12) 형성 영역에 스위칭 소자의 소오스 전극(23), 드레인 전극(24) 및 제1쇼팅 바(5)를 형성한다.
이 때, 상기 소오스 전극(23)과 제1쇼팅 바(5)는 일체로 형성되고, 드레인 전극(24)은 게이트 패드(3)에 콘택된다.
마찬가지로 데이터 구동 IC 실장 영역(10)에도 상기와 같은 구조로 형성된다.
도면에는 도시하지 않았지만, 제2쇼팅 바(6)와 스위칭 소자(12)의 게이트 전극(21)이 TFT-LCD 어레이 영역의 게이트 라인(1) 및 게이트 패드(3)와 동시에 형성되고, 스위칭 소자(12)의 소오스 전극(23)과 드레인 전극(24) 및 데이터 라인(2)이 동시에 형성된다. 이 때, 소오스 전극(23)은 제2쇼팅 바(6)에 콘택되고, 드레인 전극(24)과 데이터 라인(2)은 일체로 형성된다.
한편, 제4도는 본 발명 제2실시예의 COG 실장용 액정 표시장치의 스위칭 소자 레이 아웃도이고, 제6도는 본 발명 제2실시예의 스위칭 소자 회로도이다.
본 발명 제2실시예에는 스위칭 소자를 다이오드를 형성한 것으로, TFT-LCD 셀을 형성하는 공정과 동일하게 다이오드를 형성한다.
즉, 게이트 구동 IC 실장 영역(9)은 유리 기판위에 금속을 증착하고 선택적으로 제거하여 TFT-LCD의 게이트 라인(1) 및 게이트 라인 패드(3)을 형성함과 동시에 제1쇼팅 바(5)와 스위칭 소자의 게이트 전극(21)을 형성한다. 이 때, 스위칭 소자(12)의 게이트 전극(21)은 제1쇼팅 바(5)와 일체로 형성된다.
전면에 게이트 절연막(도면에는 도시되지 않음)을 증착한다.
상기 게이트 절연막위에 반도체층을 증착하고 선택적으로 제거하여 TFT-LCD 어레이 영역의 각 박막트랜지스터 형성영역에 제1활성층을 형성함과 동시에 상기 스위칭 소자(12) 형성영역의 게이트 전극(21) 위에 제2활성층(22)을 형성한다.
전면에 금속을 증착하고 선택적으로 제거하여 TFT-LCD 어레이 영역에 데이터 라인(2) 및 데이터 패드(4)를 형성함과 동시에 상기 스위칭 소자(12) 형성영역에 스위칭 소자의 소오스 전극(23), 드레인 전극(24)을 형성한다.
이 때, 상기 소오스 전극(23)은 제1쇼팅 바(5)에 콘택되고, 드레인 전극(24)은 게이트 패드(3)에 콘택된다.
마찬가지로 데이터 구동 IC 실장 영역(10)에도 상기와 같은 구조로 형성된다.
도면에는 도시하지 않았지만, 제2쇼팅 바(6)와 스위칭 소자(12)의 게이트 전극(21)이 TFT-LCD 어레이 영역의 게이트 라인(1) 및 게이트 패드(3)와 동시에 형성되고, 스위칭 소자(12)의 소오스 전극(23)과 드레인 전극(24) 및 데이터 라인(2)이 동시에 형성된다. 이때, 제2쇼팅 바(6)와 게이트 전극(21)은 일체로 형성되고, 소오스 전극(23)은 제2쇼팅 바(6)에 콘택되며, 드레인 전극(24)과 데이터 라인(2)은 일체로 형성된다.
이와 같이 구성된 본 발명의 COG 실장용 액정표시장치는 어레이 검사를 다음과 같이 한다.
본 발명 제1실시예와 같이 스위칭 소자가 트랜지스터로 형성될 경우에는 어레이 검사시 스위칭 소자(12)의 게이트 전극(21)에 상기 트랜지스터의 문턱전압 이상의 "하이" 전압을 인가하여 스위칭 소자를 턴온시켜 종래와 같은 방법으로 어레이 검사한다.
그리고 액정표시장치가 완성된 뒤에는 쇼팅 바에 전원을 인가하지 않으므로 트랜지스터가 동작하지 않으며, 쇼팅 바와 패드가 고저항의 활성층으로 연결되어 있으므로 부가적인 쇼팅 바의 제거 공정이 필요없다.
한편, 본 발명 제2실시예와 같이 스위칭 소자가 다이오드로 형성될 경우에는 어레이 검사시 쇼팅 바에 전원을 공급하여 다이오드의 순방향 특성에 의해 각 라인에 전원이 공급되도록 하여 종래와 같은 방법으로 어레이를 검사한다. 그리고 액정표시장치가 완성된 후에는 쇼팅 바에 전원을 공급하지 않는다.
이상에서 설명한 바와 같은 본 발명의 COG 실장용 액정표시장치에 있어서는 다음과 같은 효과가 있다.
즉, COG 방식으로 실장되는 액정표시장치에서 구동 IC 실장 영역에 쇼팅 바를 설치하고 쇼팅 바와 각 패드 사이에 스위칭 소자를 설치하여 필요에 따라 스위칭 소자를 이용하여 쇼팅 바와 패드 사이에 연결 또는 차단하므로 어레이 검사를 용이할 수 있으며, 레이저 컷팅 공정이 필요없으므로 공정을 단순화하고 더불어 별도로 고가의 장비가 필요없다.

Claims (11)

  1. 서로 수직한 방향으로 일정한 간격을 갖고 형성되는 복수개의 게이트 라인 및 데이터 라인을 포함하고 어레이가 구성되고 COG 방식으로 실장되는 액정 표시 장치에 있어서, 상기 각 게이트 라인 및 데이터 라인의 일측 끝단에 형성되는 복수개의 게이트 라인 패드 및 복수개의 데이터 라인 패드 ; 상기 복수개의 게이트 라인 패드 및 복수개의 데이터 라인 패드들의 일측에 각각 형성되는 제1, 제2쇼팅바 ; 상기 제1쇼팅바와 상기 각 게이트 라인의 패드 사이 및 상기 제2쇼팅바와 데이터 라인 패드 사이에 각각 형성되는 복수개의 스위칭 소자를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 액정 표시장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 스위칭 소자는 트랜지스터로 형성됨을 특징으로 하는 액정 표시장치.
  3. 제2항에 있어서, 제1쇼팅바와 게이트라인의 패드 사이 및 제2쇼팅바와 데이터 라인의 패드에 형성되는 복수개의 트랜지스터는 하나 이상의 신호 라인에 의해 동시에 온/오프 되도록 형성됨을 특징으로 하는 액정 표시장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 스위칭 소자는 다이오드로 형성됨을 특징으로 하는 액정 표시장치.
  5. 제 4항에 있어서, 상기 각 다이오드는 소오스 전극과 게이트 전극이 공통으로 쇼팅 바에 연결되는 트랜지스터 구조로 형성됨을 특징으로 하는 액정 표시장치.
  6. 제1항에 있어서, 상기 제1, 제2쇼팅바는 게이트 구동 IC 실장 영역 및 데이터 구동 IC 실장 영역에 형성됨을 특징으로 하는 액정 표시장치.
  7. 일측에 패드를 구비하여 일정한 간격을 갖고 일방향으로 배열되는 복수개의 게이트 라인; 일측에 패드를 구비하여 상기 각 게이트 라인에 수직한 방향으로 일정한 간격을 갖고 배열되는 복수개의 데이터 라인; 상기 각 게이트 라인 패드에 대향되는 부분에 일정 간격을 갖고 형성되는 복수개의 게이트 입력 패드; 상기 각 데이터 라인 패드에 대향되는 부분에 일정 간격을 갖고 형성되는 복수개의 데이터 입력 패드; 상기 복수개의 게이트 입력 패드와 복수개의 게이트 라인 패드 사이에 형성되는 제1쇼팅바; 상기 복수개의 데이터 입력 패드와 상기 복수개의 데이터 라인 패드 사이에 형성되는제2쇼팅바; 상기 제1쇼팅바와 상기 각 게이트 라인의 패드 사이 및 상기 제2쇼팅바와 데이터 라인의 패드 사이에 각각 형성되는 복수개의 스위칭 소자를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 액정 표시장치.
  8. 제7항에 있어서, 상기 스위칭 소자는 트랜지스터로 형성됨을 특징으로 하는 액정 표시장치.
  9. 제8항에 있어서 제1쇼팅바와 게이트 라인의 패드 사이 및 제2쇼팅바와 데이터 라인의 패드에 형성되는 복수개의 트랜지스터는 하나 이상의 신호 라인에 의해 동시에 온/오프되도록 형성됨을 특징으로 하는 액정 표시장치.
  10. 제7항에 있어서, 상기 스위칭 소자는 다이오드로 형성됨을 특징으로 하는 액정 표시장치.
  11. 제10항에 있어서, 상기 각 다이오드는 소오스 전극과 게이트 전극이 공통으로 쇼팅바에 연결되는 트랜지스터 구조로 형성됨을 특징으로 하는 액정 표시장치.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100864981B1 (ko) * 2002-06-26 2008-10-23 엘지디스플레이 주식회사 라인 온 글래스형 액정표시장치
KR20220001050A (ko) * 2020-06-26 2022-01-05 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 구동 장치, 디스플레이 패널 및 디스플레이 장치

Families Citing this family (75)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4179483B2 (ja) 1996-02-13 2008-11-12 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置の作製方法
KR100244449B1 (ko) * 1997-02-11 2000-02-01 구본준 박막 트랜지스터 검사용 단락 배선을 갖는 액정 표시 장치와 그 제조 방법(liquid crystal display having shorting bar for testing tft and method for manufacturing the same)
KR100260611B1 (ko) * 1997-04-03 2000-07-01 윤종용 배선을 수리하기 위한 평판 표시 장치용 기판
US6734925B1 (en) * 1998-12-07 2004-05-11 Samsung Electronics Co., Ltd. Multiple testing bars for testing liquid crystal display and method thereof
USRE41873E1 (en) 1997-05-12 2010-10-26 Samsung Electronics Co., Ltd. Multiple testing bars for testing liquid crystal display and method thereof
KR100271038B1 (ko) * 1997-09-12 2000-11-01 구본준, 론 위라하디락사 전기적 특성 검사를 위한 단락 배선의 제조 방법 및 그 단락 배선을 포함하는 액티브 기판의 구조(a method for manufacturing a shorting bar probing an electrical state and a structure of an lcd comprising the shorting bar)
KR100502100B1 (ko) * 1997-10-28 2005-11-01 삼성전자주식회사 쇼트불량검출을위한쇼팅바를갖는액정표시기판
US8310262B2 (en) * 1997-12-05 2012-11-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Multiple testing bars for testing liquid crystal display and method thereof
KR100516063B1 (ko) * 1998-04-24 2005-12-01 삼성전자주식회사 액정 표시 장치 및 그 제조 방법
KR100560968B1 (ko) * 1998-12-04 2006-06-14 삼성전자주식회사 두개 이상의 쇼팅 바를 갖는 액정 표시 장치 및 제조 방법
JP4156115B2 (ja) * 1998-12-25 2008-09-24 シャープ株式会社 マトリクス配線基板及び液晶表示装置用基板
KR100580399B1 (ko) * 1999-01-15 2006-05-15 삼성전자주식회사 액정 표시 장치
JP2000321591A (ja) * 1999-05-14 2000-11-24 Nec Corp 液晶表示装置
JP2001053283A (ja) * 1999-08-12 2001-02-23 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置及びその作製方法
JP4118484B2 (ja) * 2000-03-06 2008-07-16 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
JP2001257350A (ja) * 2000-03-08 2001-09-21 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置およびその作製方法
JP4118485B2 (ja) * 2000-03-13 2008-07-16 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
JP4700160B2 (ja) 2000-03-13 2011-06-15 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP4683688B2 (ja) 2000-03-16 2011-05-18 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置の作製方法
JP4393662B2 (ja) 2000-03-17 2010-01-06 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置の作製方法
US6900084B1 (en) * 2000-05-09 2005-05-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device having a display device
KR100363095B1 (ko) * 2000-12-06 2002-12-05 삼성전자 주식회사 정전기 방전 보호를 위한 액정 표시 장치 드라이버 회로
KR100769160B1 (ko) * 2000-12-29 2007-10-23 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치의 테스트 패드
KR100640991B1 (ko) * 2000-12-29 2006-11-06 엘지.필립스 엘시디 주식회사 피뢰침 패턴용 포토 마스크
US7071037B2 (en) 2001-03-06 2006-07-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
KR100389022B1 (ko) * 2001-05-23 2003-06-25 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치를 이용한 휴대 정보 단말기
KR100806885B1 (ko) * 2001-06-12 2008-02-22 삼성전자주식회사 액정 표시 장치의 제조 방법
KR100900537B1 (ko) * 2002-08-23 2009-06-02 삼성전자주식회사 액정 표시 장치, 그 검사 방법 및 제조 방법
KR100923056B1 (ko) * 2002-09-16 2009-10-22 삼성전자주식회사 표시 장치 및 이의 제조방법
KR100487808B1 (ko) * 2002-12-10 2005-05-06 엘지.필립스 엘시디 주식회사 그라인딩 공정 전의 액정표시패널 및 액정표시패널의 제조 방법
CA2517216A1 (en) 2003-02-28 2004-10-07 Brown University Nanopores, methods for using same, methods for making same and methods for characterizing biomolecules using same
TWI239403B (en) * 2003-08-26 2005-09-11 Chunghwa Picture Tubes Ltd A combining detection circuit for a display panel
TWI220696B (en) * 2003-09-12 2004-09-01 Toppoly Optoelectronics Corp Testing device and its operation method of the flat-panel display
CN100390551C (zh) * 2003-09-27 2008-05-28 统宝光电股份有限公司 平面显示器的测试装置及其操作方法
KR100977220B1 (ko) * 2003-11-25 2010-08-23 엘지디스플레이 주식회사 Cog 방식의 액정패널 검사방법
TWI229199B (en) * 2004-01-02 2005-03-11 Au Optronics Corp Testing apparatus of flat display
JP4583052B2 (ja) * 2004-03-03 2010-11-17 株式会社 日立ディスプレイズ アクティブマトリクス型表示装置
TWI300543B (en) * 2004-06-01 2008-09-01 Au Optronics Corp Liquid crystal display panel having a cell test structure and method for making the same
CN100346205C (zh) * 2004-06-10 2007-10-31 友达光电股份有限公司 具有一液晶盒测试结构的液晶显示面板及其制作方法
KR100713887B1 (ko) * 2004-10-08 2007-05-07 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 액정표시장치 및 그 어레이 테스트 방법
TW200638143A (en) * 2004-10-29 2006-11-01 Toshiba Matsushita Display Tec Display device
KR20070018456A (ko) * 2005-08-10 2007-02-14 삼성전자주식회사 표시장치용 기판, 그 제조방법, 그 검사방법 및 이를 갖는액정표시장치
TWI267988B (en) * 2005-08-31 2006-12-01 Chunghwa Picture Tubes Ltd Thin film transistor array, electrostatic discharge protective device thereof, and methods for fabricating the same
US7470942B2 (en) 2005-09-07 2008-12-30 Chunghwa Picture Tube., Ltd. Thin film transistor array and electrostatic discharge protective device thereof
US20070190542A1 (en) * 2005-10-03 2007-08-16 Ling Xinsheng S Hybridization assisted nanopore sequencing
US7304492B2 (en) * 2006-03-06 2007-12-04 Chunghwa Picture Tubes, Ltd. Inspecting circuit layout for LCD panel and fabricating method for LCD panel
JP5140999B2 (ja) * 2006-11-22 2013-02-13 カシオ計算機株式会社 液晶表示装置
TWI400785B (zh) * 2007-07-12 2013-07-01 Chunghwa Picture Tubes Ltd 主動元件陣列基板
US8278047B2 (en) * 2007-10-01 2012-10-02 Nabsys, Inc. Biopolymer sequencing by hybridization of probes to form ternary complexes and variable range alignment
TWI389092B (zh) * 2008-03-26 2013-03-11 Au Optronics Corp 一種驅動模組及減緩顯示器之驅動模組老化之方法
CN101562185B (zh) * 2008-04-14 2010-10-13 中华映管股份有限公司 薄膜晶体管阵列基板
WO2010028140A2 (en) * 2008-09-03 2010-03-11 Nabsys, Inc. Use of longitudinally displaced nanoscale electrodes for voltage sensing of biomolecules and other analytes in fluidic channels
US9650668B2 (en) 2008-09-03 2017-05-16 Nabsys 2.0 Llc Use of longitudinally displaced nanoscale electrodes for voltage sensing of biomolecules and other analytes in fluidic channels
US8262879B2 (en) 2008-09-03 2012-09-11 Nabsys, Inc. Devices and methods for determining the length of biopolymers and distances between probes bound thereto
TWM357609U (en) * 2008-12-08 2009-05-21 Chunghwa Picture Tubes Ltd LCD panels capable of testing cell defects, line defects and layout defects
US8455260B2 (en) * 2009-03-27 2013-06-04 Massachusetts Institute Of Technology Tagged-fragment map assembly
EP2411536B1 (en) * 2009-03-27 2014-09-17 Nabsys, Inc. Methods for analyzing biomolecules and probes bound thereto
US8246799B2 (en) * 2009-05-28 2012-08-21 Nabsys, Inc. Devices and methods for analyzing biomolecules and probes bound thereto
KR101340670B1 (ko) * 2009-06-15 2013-12-12 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치
CN102236179B (zh) * 2010-05-07 2014-03-19 北京京东方光电科技有限公司 Tft-lcd阵列基板及其制造方法
TWI409558B (zh) * 2010-07-30 2013-09-21 Chunghwa Picture Tubes Ltd 顯示面板及其訊號線修補方法
US8715933B2 (en) 2010-09-27 2014-05-06 Nabsys, Inc. Assay methods using nicking endonucleases
EP2640849B1 (en) 2010-11-16 2016-04-06 Nabsys 2.0 LLC Methods for sequencing a biomolecule by detecting relative positions of hybridized probes
US11274341B2 (en) 2011-02-11 2022-03-15 NABsys, 2.0 LLC Assay methods using DNA binding proteins
TWM423257U (en) * 2011-06-01 2012-02-21 Chunghwa Picture Tubes Ltd Pixel array substrate and display panel
US9914966B1 (en) 2012-12-20 2018-03-13 Nabsys 2.0 Llc Apparatus and methods for analysis of biomolecules using high frequency alternating current excitation
EP2956550B1 (en) 2013-01-18 2020-04-08 Nabsys 2.0 LLC Enhanced probe binding
KR20140094723A (ko) 2013-01-21 2014-07-31 삼성디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 기판, 그것의 검사 방법 및 그것을 포함하는 액정 표시 장치
CN103325327B (zh) * 2013-06-20 2016-03-30 深圳市华星光电技术有限公司 一种显示面板、显示面板的检测线路
KR102272789B1 (ko) * 2014-01-15 2021-07-05 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치
KR102235248B1 (ko) 2014-10-20 2021-04-05 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR102312291B1 (ko) * 2015-02-24 2021-10-15 삼성디스플레이 주식회사 표시장치 및 그의 검사방법
CN104966491A (zh) * 2015-07-28 2015-10-07 昆山国显光电有限公司 有机发光显示面板及其制造方法
US10121843B2 (en) * 2015-09-30 2018-11-06 Apple Inc. Corrosion resistant test lines
CN110910758B (zh) * 2019-12-17 2022-06-03 厦门天马微电子有限公司 显示基板、显示模组及其控制方法

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02176717A (ja) * 1988-12-28 1990-07-09 Sony Corp 液晶表示装置
US5200876A (en) * 1989-04-10 1993-04-06 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Electrostatic breakdown protection circuit
DE69319760T2 (de) * 1992-02-21 1999-02-11 International Business Machines Corp., Armonk, N.Y. Flüssigkristallanzeigevorrichtung
TW225024B (ko) * 1992-04-03 1994-06-11 Philips Nv
US5233448A (en) * 1992-05-04 1993-08-03 Industrial Technology Research Institute Method of manufacturing a liquid crystal display panel including photoconductive electrostatic protection
US5666131A (en) * 1992-06-19 1997-09-09 Citizen Watch Co., Ltd. Active matrix liquid-crystal display device with two-terminal switching elements and method of driving the same
NL194873C (nl) * 1992-08-13 2003-05-06 Oki Electric Ind Co Ltd Dunnefilmtransistorenreeks en daarvan gebruikmakende vloeibare kristalweergeefinrichting.
JP3029531B2 (ja) * 1994-03-02 2000-04-04 シャープ株式会社 液晶表示装置
JPH0876141A (ja) * 1994-09-07 1996-03-22 Hitachi Ltd 液晶表示基板
KR0139373B1 (ko) * 1994-10-06 1998-06-15 김광호 액정표시소자의 정전기 방지 회로
KR0145902B1 (ko) * 1995-01-27 1998-09-15 김광호 박막트랜지스터 액정디스플레이 소자의 저항부 및 그 제조방법
US5668032A (en) * 1995-07-31 1997-09-16 Holmberg; Scott H. Active matrix ESD protection and testing scheme
US5767929A (en) * 1995-09-21 1998-06-16 Advanced Display Inc. Liquid crystal display apparatus with shorting ring
JP3261699B2 (ja) * 1995-10-03 2002-03-04 セイコーエプソン株式会社 アクティブマトリクス基板
JP3072707B2 (ja) * 1995-10-31 2000-08-07 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレ−ション 液晶表示装置及びその製造方法
KR100242437B1 (ko) * 1996-08-07 2000-02-01 윤종용 액정 모듈 및 그 제조 방법
US5949092A (en) * 1997-08-01 1999-09-07 Advanced Micro Devices, Inc. Ultra-high-density pass gate using dual stacked transistors having a gate structure with planarized upper surface in relation to interlayer insulator
US5936687A (en) * 1997-09-25 1999-08-10 Samsung Electronics Co., Ltd. Liquid crystal display having an electrostatic discharge protection circuit and a method for testing display quality using the circuit

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100864981B1 (ko) * 2002-06-26 2008-10-23 엘지디스플레이 주식회사 라인 온 글래스형 액정표시장치
KR20220001050A (ko) * 2020-06-26 2022-01-05 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 구동 장치, 디스플레이 패널 및 디스플레이 장치
KR102768500B1 (ko) 2020-06-26 2025-02-17 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 구동 장치, 디스플레이 패널 및 디스플레이 장치

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Publication number Publication date
US6025891A (en) 2000-02-15
KR19980040086A (ko) 1998-08-17
US6100949A (en) 2000-08-08

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