[go: up one dir, main page]

KR102272789B1 - 표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치 - Google Patents

표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR102272789B1
KR102272789B1 KR1020140005311A KR20140005311A KR102272789B1 KR 102272789 B1 KR102272789 B1 KR 102272789B1 KR 1020140005311 A KR1020140005311 A KR 1020140005311A KR 20140005311 A KR20140005311 A KR 20140005311A KR 102272789 B1 KR102272789 B1 KR 102272789B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
inspection
pad
pads
data
gate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
KR1020140005311A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20150085439A (ko
Inventor
김슬기
김승진
이정현
이동훈
한윤석
Original Assignee
삼성디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성디스플레이 주식회사 filed Critical 삼성디스플레이 주식회사
Priority to KR1020140005311A priority Critical patent/KR102272789B1/ko
Priority to US14/293,905 priority patent/US9691314B2/en
Priority to TW103123237A priority patent/TWI631539B/zh
Priority to CN201410418521.9A priority patent/CN104778909B/zh
Publication of KR20150085439A publication Critical patent/KR20150085439A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102272789B1 publication Critical patent/KR102272789B1/ko
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

본 발명은 표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치에 관한 것으로서, 표시 패널 검사를 위한 검사용 패드를 포함하는 표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치에 관한 것이다. 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 패널은 표시 영역에 위치하는 복수의 표시 신호선, 상기 표시 영역의 주변에 위치하는 주변 영역에 위치하며, 상기 복수의 표시 신호선과 각각 연결되어 있는 복수의 검사용 패드, 그리고 상기 복수의 검사용 패드와 접촉 보조 부재를 통해 연결되어 있는 적어도 하나의 쇼팅바를 포함하고, 상기 복수의 검사용 패드 중 가장자리에 위치하는 검사용 패드는 중간에 위치하는 적어도 하나의 검사용 패드와 연결선을 통해 연결되어 있다.

Description

표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치{DISPLAY PANEL AND DISPLAY DEVICE INCLUDING THE SAME}
본 발명은 표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치에 관한 것으로서, 표시 패널 검사를 위한 검사용 패드를 포함하는 표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치에 관한 것이다.
현재 널리 사용되는 표시 장치로서 액정 표시 장치(liquid crystal display), 유기 발광 표시 장치(organic light emitting display), 전기 영동 표시 장치(electrophoretic display) 등이 있다.
표시 장치는 복수의 화소와 복수의 표시 신호선이 위치하는 표시 패널, 그리고 표시 패널을 구동하기 위한 게이트 구동부, 데이터 구동부, 그리고 이들을 제어하는 신호 제어부 등의 여러 표시 구동부를 포함한다.
표시 신호선은 게이트 신호를 전달하는 게이트선 및 데이터 신호를 전달하는 데이터선을 포함한다.
게이트 신호는 스위칭 소자를 턴온시킬 수 있는 게이트 온 전압과 턴오프시킬 수 있는 게이트 오프 전압의 조합으로 이루어질 수 있다. 게이트 신호는 신호 제어부의 제어에 따라 게이트 구동부에서 생성되어 복수의 게이트선으로 출력된다.
데이터 신호는 데이터 구동부가 신호 제어부로부터 디지털 영상 신호를 받아 이를 데이터 전압으로 변환함으로써 얻어질 수 있다.
각 화소는 스위칭 소자 및 이에 연결된 화소 전극을 포함하며, 스위칭 소자는 표시 신호선과 연결되어 있다.
화소 전극은 박막 트랜지스터 등의 스위칭 소자를 통해 데이터 전압을 인가받을 수 있다. 데이터 전압을 인가받은 화소 전극은 공통 전압을 인가받은 대향 전극과 함께 그 사이의 매개체에 전기장을 생성할 수 있다. 예를 들어 액정 표시 장치의 경우 화소 전극과 대향 전극은 그 사이의 액정층에 전기장을 생성하여 액정 분자의 배열 방향을 바꿀 수 있다. 화소 전극 및 스위칭 소자 등은 표시 패널 위에 형성될 수 있다.
신호 제어부는 통상 표시 패널에 연결되는 인쇄 회로 기판(printed circuit board, PCB)에 구비될 수 있다. 게이트 구동부 또는 데이터 구동부는 적어도 하나의 집적 회로 칩의 형태로 표시 패널 위에 직접 장착되거나(chip on glass, COG), 가요성 인쇄 회로막(flexible printed circuit film, FPC) 위에 장착되어 TCP(tape carrier package)의 형태로 표시 패널 위에 부착될 수 있다(chip on FPC, COF).
표시 장치의 제조 과정 중 표시 신호선과 연결된 검사용 패드에 검사 신호를 인가하여 제조된 표시 패널의 정상 여부를 검사하는 단계를 거칠 수 있다.
외부로부터 정전기가 유입되면 검사용 패드에 불량이 생겨 표시 패널의 화소 또는 표시 신호선에 불량이 있는지 검출이 되지 않거나 특정 표시 신호선에 대해 불량 여부가 검출되지 않는 표시 패널을 양품 처리시 진성 불량을 가지는 표시 장치가 유출될 수 있다. 특히 표시 신호선이 표시 패널의 주변 영역에서 서로 간의 간격이 좁아지고 다시 실질적으로 평행 상태가 되는 팬 아웃 영역을 포함할 때, 하나의 팬 아웃 영역의 끝 부분에 위치하는 검사용 패드 중 바깥쪽에 위치하는 검사용 패드는 다른 신호선 또는 패턴과 인접하고 있어 이들을 통해 정전기가 더 잘 유입될 수 있다. 따라서 하나의 팬 아웃 영역의 끝 부분의 검사용 패드 중 바깥쪽에 위치하는 검사용 패드에 정전기로 인한 불량이 더 잘 발생할 수 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 정전기에 의한 검사용 패드의 불량 발생을 줄이는 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 또 다른 과제는 정전기에 의해 검사용 패드에 불량이 발생해도 표시 패널의 불량을 정확히 검출하고 진성 불량을 가지는 표시 장치가 유출되는 것을 막는 것이다.
본 발명의 한 실시예에 따른 표시 패널은 표시 영역에 위치하는 복수의 표시 신호선, 상기 표시 영역의 주변에 위치하는 주변 영역에 위치하며, 상기 복수의 표시 신호선과 각각 연결되어 있는 복수의 검사용 패드, 그리고 상기 복수의 검사용 패드와 접촉 보조 부재를 통해 연결되어 있는 적어도 하나의 쇼팅바를 포함하고, 상기 복수의 검사용 패드 중 가장자리에 위치하는 검사용 패드는 중간에 위치하는 적어도 하나의 검사용 패드와 연결선을 통해 연결되어 있다.
본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치는 표시 영역에 위치하는 복수의 표시 신호선, 상기 표시 영역의 주변에 위치하는 주변 영역에 위치하며, 상기 복수의 표시 신호선의 끝 부분과 각각 마주하는 복수의 검사용 패드, 그리고 상기 복수의 검사용 패드와 접촉 보조 부재를 통해 연결되어 있는 적어도 하나의 쇼팅바를 포함하고, 상기 복수의 검사용 패드 중 가장자리에 위치하는 검사용 패드는 중간에 위치하는 적어도 하나의 검사용 패드와 연결선을 통해 연결되어 있다.
상기 가장자리에 위치하는 검사용 패드의 면적은 상기 중간에 위치하는 검사용 패드의 면적보다 클 수 있다.
상기 복수의 검사용 패드 및 상기 적어도 하나의 쇼팅바와 상기 접촉 보조 부재 사이에 위치하는 보호막을 더 포함하고, 상기 보호막은 상기 가장자리에 위치하는 검사용 패드를 드러내는 복수의 제1 접촉 구멍 및 상기 중간에 위치하는 검사용 패드를 드러내는 적어도 하나의 제2 접촉 구멍을 포함하고, 상기 제1 접촉 구멍의 수는 상기 제2 접촉 구멍의 수보다 많을 수 있다.
상기 연결선은 상기 쇼팅바에 대략 나란하게 뻗는 제1 부분, 그리고 상기 쇼팅바와 교차하는 제2 부분을 포함할 수 있다.
상기 제2 부분의 폭은 상기 제1 부분의 폭보다 클 수 있다.
상기 가장자리에 위치하는 검사용 패드와 연결되어 있는 상기 중간에 위치하는 적어도 하나의 검사용 패드는 상기 가장자리에 위치하는 검사용 패드와 동일한 열에 배치되어 있으며 상기 가장자리에 위치하는 검사용 패드로부터 차례대로 배치되어 있을 수 있다.
상기 복수의 검사용 패드는 복수의 행(row) 또는 열(column)에 교대로 배열되어 있고, 적어도 하나의 행 또는 열에 배치된 복수의 검사용 패드 중 가장자리에 위치하는 검사용 패드가 상기 하나의 행 또는 열에 배치되어 있으며 중간에 위치하는 적어도 하나의 검사용 패드와 상기 연결선을 통해 연결되어 있을 수 있다.
상기 적어도 하나의 쇼팅바는 복수 개로 마련되며, 상기 복수의 쇼팅바는 상기 복수의 행 또는 열에 각각 대응하여 배치되어 있을 수 있다.
상기 복수의 검사용 패드와 상기 연결선은 동일한 층에 위치하고, 상기 쇼팅바는 상기 검사용 패드와 다른 층에 위치할 수 있다.
상기 복수의 표시 신호선은 상기 주변 영역에서 하나의 팬 아웃 영역을 형성할 수 있다.
상기 표시 장치는 상기 복수의 표시 신호선의 끝 부분과 연결되어 있으며 상기 복수의 표시 신호선에 신호를 인가하는 구동부를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면 정전기에 의한 검사용 패드의 불량 발생을 줄일 수 있다. 또한 정전기에 의해 검사용 패드에 불량이 발생해도 표시 패널의 불량을 정확히 검출하고 진성 불량을 가지는 표시 장치가 유출되는 것을 막을 수 있다.
도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 패널의 배치도이고,
도 2는 도 1에 도시한 표시 패널의 'A1' 부분을 확대하여 나타낸 배치도이고,
도 3은 도 2의 표시 패널을 III-III 선을 따라 잘라 도시한 단면도이고,
도 4는 도 1에 도시한 표시 패널의 'A1' 부분을 확대하여 나타낸 배치도이고,
도 5는 도 1에 도시한 표시 패널의 'A2' 부분을 확대하여 나타낸 배치도이고,
도 6은 도 1에 도시한 표시 패널의 'A0' 부분을 확대하여 나타낸 배치도이고,
도 7은 도 1에 도시한 표시 패널의 'A3' 부분을 확대하여 나타낸 배치도이고,
도 8은 도 1에 도시한 표시 패널의 'B1' 부분을 확대하여 나타낸 배치도이고,
도 9는 도 1에 도시한 표시 패널의 'B2' 부분을 확대하여 나타낸 배치도이고,
도 10은 도 1에 도시한 표시 패널의 'B0' 부분을 확대하여 나타낸 배치도이고,
도 11 내지 도 13은 각각 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 배치도이고,
도 14 및 도 15는 각각 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치가 포함하는 표시 패널의 일부에 대한 배치도이다.
그러면 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.
도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다. 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우 뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 어떤 부분이 다른 부분 "바로 위에" 있다고 할 때에는 중간에 다른 부분이 없는 것을 뜻한다.
이제 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치에 대하여 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.
먼저, 도 1을 참조하여 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 패널에 대하여 설명한다.
도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 패널의 배치도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 패널(300)은 영상을 표시하는 영역인 표시 영역(display area)(DA) 및 그 주변에 위치하는 주변 영역(peripheral area)(PA)을 포함한다.
표시 영역(DA)에는 복수의 표시 신호선 및 이에 연결되어 있는 복수의 화소(pixel)가 형성되어 있다.
표시 신호선은 게이트 신호를 전달하는 복수의 게이트선(121)과 데이터 전압을 전달하는 복수의 데이터선(171)을 포함한다. 복수의 게이트선(121)은 대략 제1방향(D1), 예를 들어 행 방향으로 뻗으며 서로가 거의 평행할 수 있다. 복수의 데이터선(171)도 서로가 거의 평행하고 게이트선(121)과 교차할 수 있다. 복수의 데이터선(171)은 예를 들어 제1방향(D1)과 직교하는 대략 제2방향(D2), 예를 들어 열 방향으로 뻗을 수 있다.
복수의 화소(PX)는 각각 기본색(primary color) 중 하나를 표시할 수 있다. 예를 들어 각 화소(PX)는 기본색 중 하나를 고유하게 표시하거나(공간 분할) 각 화소(PX)가 시간에 따라 번갈아 기본색을 표시하여(시간 분할) 이들 기본색의 공간적, 시간적 합으로 원하는 색상이 인식될 수 있다. 기본색의 예로는 적색(R), 녹색(G), 청색(G) 등의 삼원색 또는 사원색 등을 들 수 있다. 색 표현을 위해 각 화소(PX)는 각각의 기본색을 나타내는 색필터를 포함하거나 각 기본색을 나타내는 빛을 공급받거나 발광할 수 있다.
각 화소(PX)는 표시 신호선에 연결된 박막 트랜지스터 등의 스위칭 소자 및 이에 연결된 화소 전극(도시하지 않음), 그리고 화소 전극과 마주하는 대향 전극(도시하지 않음)을 포함할 수 있다. 복수의 화소(PX)는 대략 행렬의 형태로 배열될 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따른 표시 패널(300)이 유기 발광 표시 장치의 표시 패널(300)인 경우 화소 전극과 대향 전극 사이에 유기 발광층이 위치하여 발광 다이오드를 형성할 수도 있다.
본 발명의 한 실시예에 따른 표시 패널(300)이 액정 표시 장치의 표시 패널(300)인 경우 표시 패널(300)은 복수의 박막 트랜지스터가 위치하는 하부 표시판 및 상부 표시판, 그리고 하부 및 상부 표시판 사이에 위치하는 액정층(도시하지 않음)을 포함할 수 있다. 화소 전극과 대향 전극은 액정층에 전기정을 생성하여 액정 분자의 배향 방향을 결정하여 액정층을 통과하는 빛의 휘도를 제어할 수 있다.
표시 영역(DA)에서 박막 트랜지스터와 화소 전극 사이에는 유기 절연 물질을 포함하는 유기막이 더 위치할 수 있다.
복수의 게이트선(121)은 표시 영역(DA) 내에서 실질적으로 평행하게 형성되어 있으나, 표시 영역(DA)을 벗어나 주변 영역(PA)에서는 부채살처럼 그룹별로 한 곳으로 모여 서로 간의 간격이 좁아지고 다시 실질적인 평행 상태를 이룰 수 있다. 이러한 영역을 팬 아웃(fan out) 영역이라 한다. 게이트 팬 아웃 영역의 끝 부분에서 게이트선(121)은 외부 장치, 즉 게이트 구동부(도시하지 않음)와의 접속을 위한 끝 부분(129)을 포함하고, 그 위에는 접촉 보조 부재(도시하지 않음)가 위치하여 게이트선(121)의 끝 부분(129)과 전기적으로 연결되어 있을 수 있다. 도 1에 도시하지는 않았으나 게이트선(121)의 끝 부분(129)은 다시 게이트 검사용 패드(도시하지 않음)와 연결되어 있을 수 있다.
복수의 데이터선(171)은 표시 영역(DA) 내에서 실질적으로 평행하게 형성되어 있으나, 표시 영역(DA)을 벗어나 주변 영역(PA)에서는 부채살처럼 그룹별로 한 곳으로 모여 서로 간의 간격이 좁아지고 다시 실질적인 평행 상태를 이루어 팬 아웃 영역을 형성한다. 데이터 팬 아웃 영역에서 데이터선(171)은 외부 장치, 즉 데이터 구동부(도시하지 않음)와의 접속을 위한 끝 부분(179)을 포함하고, 그 위에는 접촉 보조 부재(도시하지 않음)가 위치하여 데이터선(171)의 끝 부분(179)과 전기적으로 연결되어 있을 수 있다. 도 1에 도시하지는 않았으나 데이터선(171)의 끝 부분(179)은 다시 데이터 검사용 패드(도시하지 않음)와 연결되어 있을 수 있다.
각 팬 아웃 영역에 위치하는 게이트선(121)의 끝 부분(129) 또는 데이터선(171)의 끝 부분(179) 위에는 하나의 집적 회로 칩 또는 집적 회로 칩이 장착된 필름의 형태로 된 게이트 구동부 및 데이터 구동부가 각각 장착될 수 있다. 주변 영역(PA)에 위치하는 게이트선(121)의 끝 부분(129)과 데이터선(171)의 끝 부분(179) 및 그 주변 영역에서 유기막은 제거되어 있을 수 있다.
본 실시예에서는 게이트선(121)이 행 방향으로 뻗고, 데이터선(171)이 열 방향으로 뻗는 예를 주로 설명하겠으나, 이에 한정되지 않고, 게이트선(121)이 열 방향으로 뻗고 데이터선(171)이 행 방향으로 뻗을 수도 있다.
그러면, 도 1과 함께 도 2 및 도 3을 참조하여 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 신호선, 예를 들어 데이터선(171)의 끝 부분(179)과 연결되어 있는 검사용 패드 및 그 주변의 구조에 대해 설명한다.
도 2는 도 1에 도시한 표시 패널의 'A1' 부분을 확대하여 나타낸 배치도이고, 도 3은 도 2의 표시 패널을 III-III 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다. 특히 도 2는 하나의 팬 아웃 영역에 위치하는 복수의 데이터 검사용 패드의 가장자리 부분을 도시한다.
도 2 및 도 3을 참조하면, 유리, 플라스틱 등으로 이루어진 절연 기판(110) 위에 복수의 데이터 리드선(178), 복수의 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc), 그리고 복수의 연결선(176a, 176b, 176c)을 포함하는 복수의 게이트 도전체가 위치한다.
데이터 리드선(178)은 팬 아웃 영역의 데이터선(171)의 끝 부분(179)과 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc) 사이를 전기적, 물리적으로 연결한다. 데이터 리드선(178)은 대체로 제2방향(D2)(예를 들어 열 방향)으로 뻗을 수 있다.
복수의 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)는 하나 이상의 행(row)에 배열되어 있을 수 있다. 도 2는 복수의 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)가 세 개의 행(RO1, RO2, RO3)에 교대로 배열되어 있는 예를 도시한다. 구체적으로, 하나의 팬 아웃 영역에 대해 한쪽 가장자리부터 (3N-2)번째(N은 1 이상의 자연수)에 위치하는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)는 첫 번째 행(RO1)에 위치하고, 한쪽 가장자리부터 (3N-1)번째에 위치하는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)는 두 번째 행(RO2)에 차례대로 위치하고, 한쪽 가장자리부터 3N번째에 위치하는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)는 세 번째 행(RO3)에 차례대로 위치할 수 있다. 그러나 행(RO1, RO2, RO3)의 수는 도시된 바에 한정되지 않는다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 하나의 팬 아웃 영역에 위치하는 복수의 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc) 중 가장자리에 위치하는 적어도 하나의 데이터 검사용 패드(177aa, 177bb, 177cc)는 확장되어 중간에 위치하는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c)보다 그 면적이 넓을 수 있다. 그 확장된 비율은 대략 1.5배 내지 대략 5배일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 가장자리에 위치하는 데이터 검사용 패드(177aa, 177bb, 177cc) 중 적어도 하나는 연결선(176a, 176b, 176c)을 통해 중간에 위치하는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c)와 연결될 수 있다.
도 2는 가장자리에 위치하는 데이터 검사용 패드(177aa)가 연결선(176a)을 통해 중간에 위치하는 적어도 하나의 데이터 검사용 패드(177a)와 연결되고, 가장자리에 위치하는 데이터 검사용 패드(177bb)가 연결선(176b)을 통해 중간에 위치하는 적어도 하나의 데이터 검사용 패드(177b)와 연결되고, 가장자리에 위치하는 데이터 검사용 패드(177cc)가 연결선(176c)을 통해 중간에 위치하는 적어도 하나의 데이터 검사용 패드(177c)와 연결되는 예를 도시한다. 가장자리에 위치하는 데이터 검사용 패드(177aa, 177bb, 177cc)와 연결되어 있는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c)는 하나의 팬 아웃 영역의 좌우측 가장자리부터 차례대로 위치하는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c)일 수 있다.
특히 가장자리에 위치하는 데이터 검사용 패드(177aa, 177bb, 177cc) 중 가장 바깥쪽에 위치하는 데이터 검사용 패드(177aa)는 중간에 위치하는 복수의 데이터 검사용 패드(177a)와 연결될 수 있다. 데이터 검사용 패드(177aa)와 연결되어 있는 데이터 검사용 패드(177a)의 수는 하나의 팬 아웃 영역의 좌우측 가장자리부터 연속한 수개, 예를 들어 5개 또는 7개의 연속한 데이터 검사용 패드(177a)일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
만약 연결선(176a, 176b, 176c)의 바깥쪽에 다른 신호선, 다른 패드 또는 패턴이 인접하여 형성되어 있어 이들을 통해 정전기가 유입될 가능성이 높지 않다면, 다시 말해 연결선(176a, 176b, 176c)과 그 아래쪽에 위치하는 다른 신호선, 다른 패드 또는 패턴과의 간격이 정전기가 유입되지 않을 만큼 충분히 크다면, 하나의 팬 아웃 영역에서 가장 바깥쪽에 위치하는 데이터 검사용 패드(177aa)는 하나의 팬 아웃 영역에서 대략 중간쯤에 위치하는 데이터 검사용 패드(177a)와도 연결선(176a)을 통해 연결될 수도 있고, 중간에 위치하는 모든 데이터 검사용 패드(177a)와 연결될 수도 있다.
데이터 검사용 패드(177bb)는 연결선(176b)을 통해 중간에 위치하는 인접한 하나의 데이터 검사용 패드(177b)와 연결될 수 있고, 데이터 검사용 패드(177cc)는 연결선(176c)을 통해 중간에 위치하는 인접한 하나의 데이터 검사용 패드(177c)와 연결될 수 있다.
연결선(176a, 176b, 176c)은 제1방향(D1)(예를 들어 행 방향)으로 뻗는 제1 부분(TP) 및 제2방향(D2)(예를 들어 열 방향)으로 뻗는 제2 부분(LP1) 및 제3 부분(LP2)을 포함한다.
제1 부분(TP)은 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)의 아래쪽에 위치하며, 각 행(RO1, RO2, RO3)에 대략 나란하게 뻗을 수 있다.
제3 부분(LP2)은 연결선(176a, 176b, 176c)의 제1 부분(TP)과 하나의 팬 아웃 영역의 중간에 위치하는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c) 사이를 연결한다.
제2 부분(LP1)은 가장자리에 위치하는 데이터 검사용 패드(177aa, 177bb, 177cc)와 연결선(176a, 176b, 176c)의 제1 부분(TP) 사이를 연결하며, 대략 제2방향(D2)(예를 들어 열 방향)으로 뻗을 수 있다. 특히 연결선(176a, 176b, 176c)의 제2 부분(LP1)의 폭(W1)은 제1 부분(TP)의 폭(W2) 및 제3 부분(LP2)의 폭(W3)보다 더 넓을 수 있다.
게이트 도전체는 금속 등의 저저항 도전 물질을 포함할 수 있다. 게이트 도전체는 하나의 광마스크를 사용하여 형성할 수 있다.
게이트 도전체 위에는 유기 절연 물질 또는 무기 절연 물질을 포함하는 게이트 절연막(140)이 위치한다.
게이트 절연막(140) 위에는 적어도 하나의 쇼팅바(shorting bar)(SBLa, SBLb, SBLc)를 포함하는 복수의 데이터 도전체가 위치한다. 도 2는 예를 들어 세 개의 쇼팅바(SBLa, SBLb, SBLc)를 도시한다. 쇼팅바(SBLa, SBLb, SBLc)의 수는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)가 배열되어 있는 행(RO1, RO2, RO3)의 수와 동일할 수 있다.
쇼팅바(SBLa, SBLb, SBLc)는 대체로 제1방향(D1)(예를 들어 행 방향)으로 뻗으며 서로 나란할 수 있다. 쇼팅바(SBLa, SBLb, SBLc)는 각각 행(RO1, RO2, RO3)과 대응하여 위치하고, 각 행(RO1, RO2, RO3)의 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)와 교차한다.
쇼팅바(SBLa, SBLb, SBLc)는 연결선(176a, 176b, 176c)의 제2 부분(LP1)과 교차하며 게이트 절연막(140) 등의 절연층을 사이에 두고 중첩할 수 있다.
데이터 도전체는 금속 등의 저저항 도전 물질을 포함할 수 있다. 데이터 도전체는 동일한 광마스크를 사용하여 형성할 수 있다.
쇼팅바(SBLa, SBLb, SBLc)의 적층 위치는 복수의 데이터 리드선(178), 복수의 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc), 그리고 복수의 연결선(176a, 176b, 176c)의 적층 위치와 바뀔 수도 있다. 즉, 쇼팅바(SBLa, SBLb, SBLc)가 게이트 도전체로 이루어지고, 복수의 데이터 리드선(178), 복수의 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc), 그리고 복수의 연결선(176a, 176b, 176c)이 데이터 도전체로 이루어질 수도 있다.
쇼팅바(SBLa, SBLb, SBLc) 위에는 유기 절연 물질 또는 무기 절연 물질을 포함하는 보호막(180)이 위치한다. 보호막(180)은 하나의 팬 아웃 영역의 가장자리에 위치하는 데이터 검사용 패드(177aa, 177bb, 177cc)를 드러내는 복수의 접촉 구멍(185), 데이터 검사용 패드(177aa, 177bb, 177cc)와 중첩하는 쇼팅바(SBLa, SBLb, SBLc)를 드러내는 복수의 접촉 구멍(186), 팬 아웃 영역의 중간에 위치하는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c)를 드러내는 적어도 하나의 접촉 구멍(187), 그리고 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c)와 중첩하는 쇼팅바(SBLa, SBLb, SBLc)를 드러내는 적어도 하나의 접촉 구멍(188)를 포함한다. 하나의 데이터 검사용 패드(177aa, 177bb, 177cc)를 드러내는 접촉 구멍(185)의 수는 하나의 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c)를 드러내는 접촉 구멍(187)의 수보다 많을 수 있다. 또한 하나의 데이터 검사용 패드(177aa, 177bb, 177cc)와 중첩하는 쇼팅바(SBLa, SBLb, SBLc)를 드러내는 복수의 접촉 구멍(186)의 수는 하나의 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c)와 중첩하는 쇼팅바(SBLa, SBLb, SBLc)를 드러내는 접촉 구멍(188)의 수보다 많을 수 있다.
보호막(180) 위에는 적어도 하나의 접촉 보조 부재(87a, 87b, 87c)가 위치한다. 도 2는 예를 들어 세 개의 접촉 보조 부재(87a, 87b, 87c)를 도시한다. 접촉 보조 부재(87a, 87b, 87c)의 수는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)가 배열되어 있는 행(RO1, RO2, RO3)의 수와 동일할 수 있다.
접촉 보조 부재(87a, 87b, 87c)는 대체로 제1방향(D1)(예를 들어 행 방향)으로 뻗으며 서로 나란할 수 있다. 접촉 보조 부재(87a, 87b, 87c)는 각각 행(RO1, RO2, RO3)과 대응하여 위치하고, 각 행(RO1, RO2, RO3)의 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)와 중첩한다.
접촉 보조 부재(87a, 87b, 87c)는 보호막(180)의 접촉 구멍(185, 186, 187, 188)을 통해 각 행(RO1, RO2, RO3)에 위치하는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)와 이와 중첩하는 쇼팅바(SBLa, SBLb, SBLc)를 전기적, 물리적으로 연결한다.
접촉 보조 부재(87a, 87b, 87c)는 ITO, IZO 등의 투명한 도전 물질 또는 금속 등의 도전 물질을 포함할 수 있다.
쇼팅바(SBLa, SBLb, SBLc) 및 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)를 통해서 한 그룹의 데이터선(171)에 동시에 동일한 검사 신호를 인가하여 표시 패널(300)의 불량 여부를 검사할 수 있다. 예를 들어 본 발명의 한 실시예와 같이 한쪽 가장자리부터 (3N-2)번째에 위치하는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)와 연결되어 있는 데이터선(171) 그룹, 한쪽 가장자리부터 (3N-1)번째에 위치하는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)와 연결되어 있는 데이터선(171) 그룹, 그리고 한쪽 가장자리부터 3N번째에 위치하는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)와 연결되어 있는 데이터선(171) 그룹에는 각각 독립적으로 동일한 검사 신호가 인가될 수 있다.
각 그룹의 데이터선(171)은 동일한 기본색을 나타내는 화소(PX)들에 연결되어 있을 수 있다.
이와 같이 본 발명의 한 실시예에 따르면 하나의 팬 아웃 영역에 위치하는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc) 중 가장자리에 위치하는 데이터 검사용 패드(177aa, 177bb, 177cc)를 동일한 쇼팅바(SBLa, SBLb, SBLc)를 통해 연결되어 있으며 중간에 위치하는 적어도 하나의 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c)와 전기적, 물리적으로 연결한다. 이로써 해당 팬 아웃 영역과 인접한 다른 신호선 또는 패턴을 통해 유입되는 정전기(static electricity)로 인해 가장자리에 위치하는 데이터 검사용 패드(177aa, 177bb, 177cc)와 연결된 접촉 보조 부재(87a, 87b 87c)가 터져(burnt) 단선(opened)되어 그 부분에서 쇼팅바(SBLa, SBLb, SBLc)와 차단되어도 연결선(176a, 176b, 176c)을 통해 연결되어 있는 중간의 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c)와 연결되어 있으므로 동일한 검사용 신호를 인가받을 수 있다. 따라서 표시 패널(300)의 표시 신호선 및 이와 연결된 화소(PX) 등의 불량 여부를 전부 검출할 수 있고, 표시 패널(300)의 검사 단계에서 검출이 되지 않은 진성 불량이 후에 제품 단계에서 나타나는 것을 막을 수 있으며, 제품 수율을 높일 수 있다.
또한 본 발명의 한 실시예에 따르면, 하나의 팬 아웃 영역에 위치하는 복수의 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc) 중 가장자리에 위치하는 적어도 하나의 데이터 검사용 패드(177aa, 177bb, 177cc)의 면적이 중간에 위치하는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c)에 비해 상대적으로 확장되어 있다. 이에 따라 가장자리에 위치하는 데이터 검사용 패드(177aa, 177bb, 177cc)를 드러내는 보호막(180)의 복수의 접촉 구멍(185) 및 쇼팅바(SBLa, SBLb, SBLc)를 드러내는 복수의 접촉 구멍(186)의 수를 더욱 증가시킬 수 있다. 그러면 외부로부터 유입된 정전기에 의해 데이터 검사용 패드(177aa, 177bb, 177cc)와 연결된 접촉 보조 부재(87a)가 터져 데이터 검사용 패드(177aa, 177bb, 177cc)와 대응하는 쇼팅바(SBLa, SBLb, SBLc)로부터 차단될 확률이 더욱 낮아질 수 있다. 따라서 표시 패널(300)의 표시 신호선 및 이와 연결된 화소(PX) 등의 불량 여부를 전부 검출할 수 있고, 표시 패널(300)의 검사 단계에서 검출이 되지 않은 진성 불량이 후에 제품 단계에서 나타나는 것을 막을 수 있으며, 제품 수율을 높일 수 있다.
또한 본 발명의 한 실시예에 따르면, 쇼팅바(SBLa, SBLb, SBLc)와 중첩하여 기생 축전기(parasitic capacitance)(Cap)를 형성하는 연결선(176a, 176b, 176c)의 제2 부분(LP1)의 폭(W1)을 증가시켜 기생 축전기(Cap)를 정전기를 가두는 정전 축전기로 이용할 수 있다. 이로써 데이터 검사용 패드(177a, 117b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)와 연결된 접촉 보조 부재(87a, 87b 87c)가 정전기로 인해 터져 불량이 발생되는 것을 더욱 줄일 수 있다.
이와 같은 데이터 검사용 패드(177a, 117b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc) 및 그 주변의 구조는 게이트선(121)의 끝 부분(129)과 연결되어 있는 게이트 검사용 패드 및 그 주변에도 동일하게 적용될 수 있다.
그러면 앞에서 설명한 도면들과 함께 도 4 내지 도 10을 참조하여 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 신호선의 하나의 팬 아웃 영역에 위치하는 끝 부분과 연결되어 있는 검사용 패드 및 그 주변의 구조에 대해 설명한다. 앞에서 설명한 실시예와 동일한 구성 요소에 대해서는 동일한 도면 부호를 부여하고, 동일한 설명은 생략하며 차이점을 중심으로 설명한다.
도 4는 도 1에 도시한 표시 패널의 'A1' 부분을 확대하여 나타낸 배치도이고, 도 5는 도 1에 도시한 표시 패널의 'A2' 부분을 확대하여 나타낸 배치도이고, 도 6은 도 1에 도시한 표시 패널의 'A0' 부분을 확대하여 나타낸 배치도이고, 도 7은 도 1에 도시한 표시 패널의 'A3' 부분을 확대하여 나타낸 배치도이고, 도 8은 도 1에 도시한 표시 패널의 'B1' 부분을 확대하여 나타낸 배치도이고, 도 9는 도 1에 도시한 표시 패널의 'B2' 부분을 확대하여 나타낸 배치도이고, 도 10은 도 1에 도시한 표시 패널의 'B0' 부분을 확대하여 나타낸 배치도이다.
먼저 도 4를 참조하면, 하나의 팬 아웃 영역에 위치하는 복수의 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc) 중 한쪽인 제1측에 위치하는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)의 구조는 앞에서 설명한 도 2 및 도 3에 도시한 실시예와 대부분 동일할 수 있다.
도 5를 참조하면, 하나의 팬 아웃 영역에 위치하는 복수의 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc) 중 다른 한쪽인 제2측에 위치하는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)의 구조는 제1측에 위치하는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)의 구조와 동일할 수도 있고, 도시한 바와 같이 다를 수도 있다.
예를 들어 하나의 팬 아웃 영역에 위치하는 복수의 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc) 중 가장 바깥쪽에 위치하는 하나의 데이터 검사용 패드(177cc)가 확장되어 중간에 위치하는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c)보다 그 면적이 넓을 수 있다. 확장된 데이터 검사용 패드(177c)는 도시한 바와 같이 세 번째 행(RO3)에 위치할 수 있으나, 이에 한정되지 않고 첫 번째 행(RO1)이나 두 번째 행(RO2)에 위치할 수도 있다.
가장자리에 위치하는 데이터 검사용 패드(177aa, 177bb, 177cc) 중 가장 바깥쪽에 위치하는 데이터 검사용 패드(177cc)는 연결선(176c)을 통해 중간에 위치하는 데이터 검사용 패드(177c)와 연결될 수 있다. 데이터 검사용 패드(177cc)와 연결선(176c)을 통해 연결되어 있는 중간에 위치하는 데이터 검사용 패드(177c)의 수는 대략 5개 내지 7개일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. 또한 서로 연결된 중간에 위치하는 데이터 검사용 패드(177c)는 연속하여 배치될 수 있다.
만약 연결선(176c)의 바깥쪽에 다른 신호선, 다른 패드 또는 패턴이 인접하여 형성되어 있어 이들을 통해 정전기가 유입될 가능성이 높지 않다면, 다시 말해 연결선(176c)과 그 아래쪽에 위치하는 다른 신호선, 다른 패드 또는 패턴과의 간격이 정전기가 유입되지 않을 만큼 충분히 크다면, 하나의 팬 아웃 영역에서 가장 바깥쪽에 위치하는 데이터 검사용 패드(177cc)는 하나의 팬 아웃 영역에서 대략 중간쯤에 위치하는 데이터 검사용 패드(177c)와도 연결선(176c)을 통해 연결될 수도 있고, 중간에 위치하는 모든 데이터 검사용 패드(177c)와 연결될 수도 있다.
가장자리에 위치하는 데이터 검사용 패드(177aa, 177bb, 177cc) 중 데이터 검사용 패드(177bb)는 연결선(176b)을 통해 인접한 데이터 검사용 패드(177b)와 연결될 수 있다. 데이터 검사용 패드(177bb)와 연결선(176b)을 통해 연결되어 있는 중간에 위치하는 데이터 검사용 패드(177b)의 수는 1개일 수 있다.
데이터 검사용 패드(177bb)의 면적은 도 5에 도시한 바와 같이 중간에 위치하는 데이터 검사용 패드(177b)의 면적과 대략 동일할 수도 있고, 앞에서 설명한 실시예와 같이 중간에 위치하는 데이터 검사용 패드(177b)의 면적보다 클 수도 있다. 마찬가지로 데이터 검사용 패드(177aa)의 면적은 중간에 위치하는 데이터 검사용 패드(177a)의 면적과 대략 동일할 수도 있고, 앞에서 설명한 실시예와 같이 중간에 위치하는 데이터 검사용 패드(177a)의 면적보다 클 수도 있다.
이 밖에 도 4 및 도 5에 도시한 쇼팅바(SBLa, SBLb, SBLc) 등에 대한 설명은 앞에서 설명한 바와 동일하므로 여기서 상세한 설명은 생략한다.
도 6 및 도 7을 참조하면, 쇼팅바(SBLa, SBLb, SBLc)는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)의 한쪽 또는 양쪽 주변에 위치하는 적어도 하나의 검사 신호 입력 패드(inspection pad)(SBa, SBb, SBc)와 연결되어 있으며, 검사 신호 입력 패드(SBa, SBb, SBc)를 통해 검사 신호를 입력받을 수 있다. 도 6 및 도 7은 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)의 양쪽 주변에 각각 세 개씩의 검사 신호 입력 패드(SBa, SBb, SBc)가 위치하는 예를 도시한다. 검사 신호 입력 패드(SBa, SBb, SBc)는 대략 제1방향(D1)으로 배열되어 있을 수 있다.
검사 신호 입력 패드(SBa, SBb, SBc)의 주변에는 데이터선(171)의 링 리페어(ring repair) 후 해당 데이터선(171)에 검사 신호를 인가하기 위한 리페어 패드(REP) 또는 공통 전압선(COML)에 공통 전압(Vcom)을 인가하기 위한 공통 전압 패드(COM_PD) 등이 위치할 수 있다.
도 6 및 도 7에 도시한 바와 같이 하나의 팬 아웃 영역에 위치하는 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc) 또는 검사 신호 입력 패드(SBa, SBb, SBc) 주변에는 여러 다른 신호선 또는 패턴 등이 위치하고 있으므로 앞에서 설명한 바와 같이 하나의 팬 아웃 영역에서 가장자리에 위치하는 데이터 검사용 패드(177aa, 177bb, 177cc)와 연결된 접촉 보조 부재(87a, 87b 87c)에 정전기가 유입되어 불량이 생길 수 있다. 그러나 본 발명의 한 실시예에 따르면 앞에서 설명한 바와 같이 정전기 유입에 의한 불량이 생길 가능성을 줄일 수 있고, 정전기로 인한 불량에 의한 검사 불량이 발생되지 않으며 제품 수율을 높일 수 있다.
다음 도 8 및 도 9를 참조하면, 절연 기판(도시하지 않음) 위에 복수의 게이트 리드선(128), 복수의 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb), 그리고 복수의 연결선(126a, 126b)이 위치할 수 있다. 이들은 앞에서 설명한 복수의 게이트 도전체 또는 복수의 데이터 도전체에 포함될 수 있다.
게이트 리드선(128)은 팬 아웃 영역의 게이트선(121)의 끝 부분(129)과 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb) 사이를 전기적, 물리적으로 연결한다. 게이트 리드선(128)은 대체로 제1방향(D1)(예를 들어 행 방향)으로 뻗을 수 있다.
복수의 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb)는 하나 이상의 열(column)에 배열되어 있을 수 있다. 도 8 및 도 9는 복수의 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb)가 두 개의 열(RO4, RO5)에 교대로 배열되어 있는 예를 도시한다. 구체적으로, 하나의 팬 아웃 영역에 대해 한쪽 가장자리부터 (2N-1)번째(N은 1 이상의 자연수)에 위치하는 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb)는 첫 번째 열(RO4)에 위치하고, 한쪽 가장자리부터 (2N)번째에 위치하는 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb)는 두 번째 열(RO5)에 차례대로 위치할 수 있다. 그러나 열(RO4, RO5)의 수는 도시된 바에 한정되지 않는다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 하나의 팬 아웃 영역에 위치하는 복수의 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb) 중 상하측 가장자리에 위치하는 적어도 하나의 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb)는 확장되어 중간에 위치하는 게이트 검사용 패드(127a, 127b)보다 그 면적이 넓을 수 있다. 그 확장된 비율은 대략 1.5배 내지 대략 5배일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 도 8을 참조하면, 가장자리에 위치하는 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb) 모두 확장되어 있을 수도 있고, 도 9를 참조하면, 가장자리에 위치하는 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb) 중 가장 바깥쪽에 위치하는 게이트 검사용 패드(127bb)만이 확장되어 있을 수도 있다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 가장자리에 위치하는 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb) 중 적어도 하나는 연결선(126a, 126b)을 통해 중간에 위치하는 게이트 검사용 패드(127a, 127b)와 연결될 수 있다.
도 8 및 도 9는 가장 바깥쪽에 위치하는 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb)가 연결선(126a, 127b)을 통해 중간에 위치하는 적어도 하나의 게이트 검사용 패드(127a, 127b)와 연결되고, 두 번째로 바깥쪽에 위치하는 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb)가 연결선(126a, 126b)을 통해 중간에 위치하는 적어도 하나의 게이트 검사용 패드(127a, 127b)와 연결되는 예를 도시한다. 가장자리에 위치하는 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb)와 연결되어 있는 게이트 검사용 패드(127a, 127b)는 하나의 팬 아웃 영역의 상하측 가장자리부터 차례대로 위치하는 게이트 검사용 패드(127a, 127b)일 수 있다.
특히 가장자리에 위치하는 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb) 중 가장 바깥쪽에 위치하는 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb)는 중간에 위치하는 복수의 게이트 검사용 패드(127a, 127b)와 연결될 수 있다. 가장 바깥쪽에 위치하는 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb)와 연결되어 있는 게이트 검사용 패드(127a, 127b)의 수는 하나의 팬 아웃 영역의 상하측 가장자리부터 연속한 수개, 예를 들어 5개 또는 7개의 연속한 게이트 검사용 패드(127a, 127b)일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
만약 연결선(126a, 126b)의 바깥쪽에 다른 신호선, 다른 패드 또는 패턴이 인접하여 형성되어 있어 이들을 통해 정전기가 유입될 가능성이 높지 않다면, 다시 말해 연결선(126a, 126b)과 그 옆에 위치하는 다른 신호선, 다른 패드 또는 패턴과의 간격이 정전기가 유입되지 않을 만큼 충분히 크다면, 하나의 팬 아웃 영역에서 가장 바깥쪽에 위치하는 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb)는 하나의 팬 아웃 영역에서 대략 중간쯤에 위치하는 게이트 검사용 패드(127a, 127b)와도 연결선(126a, 126b)을 통해 연결될 수도 있고, 중간에 위치하는 모든 게이트 검사용 패드(127a, 127b)와 연결될 수도 있다.
하나의 팬 아웃 영역에서 두 번째로 바깥쪽에 위치하는 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb)는 연결선(126a, 126b)을 통해 중간에 위치하는 인접한 하나의 게이트 검사용 패드(127a, 127b)와 연결될 수 있다.
도 8을 참조하면, 하나의 팬 아웃 영역에서 어느 한 가장자리에 위치하는 게이트 검사용 패드(127bb)와 연결선(126b)을 통해 연결되어 있는 인접한 게이트 검사용 패드(127b)는 다른 중간에 위치하는 게이트 검사용 패드(127b)보다 확장되어 있을 수 있으며, 연결선(126b)도 다른 연결선(126a)보다 확장되어 있을 수 있다. 예를 들어 도 8에 도시한 바와 같이 게이트 검사용 패드(127bb), 이와 연결선(126b)을 통해 연결되어 있는 인접한 게이트 검사용 패드(127b), 그리고 연결선(126b)의 좌우폭은 대략 동일할 수 있다. 이에 따라 서로 연결되어 있는 게이트 검사용 패드(127bb), 연결선(126b), 그리고 게이트 검사용 패드(127b)는 함께 하나의 사각형, 예를 들어 직사각형의 평면 형태를 이룰 수 있다. 그러나 서로 연결되어 있는 게이트 검사용 패드(127bb), 연결선(126b), 그리고 게이트 검사용 패드(127b)의 형태가 도시된 바에 한정되는 것은 아니다.
연결선(126a, 126b)은 제2방향(D2)으로 뻗는 제1 부분(TPg) 및 제1방향(D1)으로 뻗는 제2 부분(LPg1) 및 제3 부분(LPg2)을 포함한다.
제1 부분(TPg)은 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb)의 옆쪽에 위치하며, 각 열(RO4, RO5)에 대략 나란하게 뻗을 수 있다.
제3 부분(LPg2)은 연결선(126a, 126b)의 제1 부분(TPg)과 하나의 팬 아웃 영역의 중간에 위치하는 게이트 검사용 패드(127a, 127b) 사이를 연결한다.
제2 부분(LPg1)은 가장자리에 위치하는 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb)와 연결선(126a, 126b)의 제1 부분(TPg) 사이를 연결하며, 대략 제1방향(D1)으로 뻗을 수 있다. 특히 연결선(126a, 126b)의 제2 부분(LPg1)의 폭(W4)은 제1 부분(TPg)의 폭(W5) 및 제3 부분(LPg2)의 폭(W6)보다 더 넓을 수 있다.
절연 기판 위에는 적어도 하나의 쇼팅바(SBLd, SBLe)가 위치할 수 있다. 앞에서 설명한 복수의 게이트 리드선(128), 복수의 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb), 그리고 복수의 연결선(126a, 126b)이 게이트 도전체로 이루어진 경우, 쇼팅바(SBLd, SBLe)는 복수의 데이터 도전체에 포함될 수 있고, 그 반대의 경우 쇼팅바(SBLd, SBLe)는 복수의 게이트 도전체에 포함될 수 있다. 앞에서 설명한 바와 같이 게이트 도전체와 데이터 도전체 사이에는 게이트 절연막(도시하지 않음)이 위치한다.
도 8 및 도 9는 예를 들어 두 개의 쇼팅바(SBLd, SBLe)를 도시한다. 쇼팅바(SBLd, SBLe)의 수는 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb)가 배열되어 있는 열(RO4, RO5)의 수와 동일할 수 있다.
쇼팅바(SBLd, SBLe)는 대체로 제2방향(D2)으로 뻗으며 서로 나란할 수 있다. 쇼팅바(SBLd, SBLe)는 각각 열(RO4, RO5)과 대응하여 위치하고, 각 열(RO4, RO5)의 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb)와 교차한다.
쇼팅바(SBLd, SBLe)는 연결선(126a, 126b)의 제2 부분(LPg1)과 교차하며 게이트 절연막 등의 절연층을 사이에 두고 중첩할 수 있다.
도시하지 않았으나, 쇼팅바(SBLd, SBLe) 위에는 보호막(도시하지 않음)이 위치하고, 보호막은 하나의 팬 아웃 영역의 가장자리에 위치하는 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb)를 드러내는 복수의 접촉 구멍, 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb)와 중첩하는 쇼팅바(SBLd, SBLe)를 드러내는 복수의 접촉 구멍, 팬 아웃 영역의 중간에 위치하는 게이트 검사용 패드(127a, 127b)를 드러내는 적어도 하나의 접촉 구멍, 그리고 게이트 검사용 패드(127a, 127b)와 중첩하는 쇼팅바(SBLd, SBLe)를 드러내는 적어도 하나의 접촉 구멍을 포함할 수 있다. 하나의 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb)를 드러내는 접촉 구멍의 수는 하나의 게이트 검사용 패드(127a, 127b)를 드러내는 접촉 구멍의 수보다 많을 수 있다. 또한 하나의 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb)와 중첩하는 쇼팅바(SBLd, SBLe)를 드러내는 복수의 접촉 구멍의 수는 하나의 게이트 검사용 패드(127a, 127b)와 중첩하는 쇼팅바(SBLd, SBLe)를 드러내는 접촉 구멍의 수보다 많을 수 있다.
보호막 위에는 적어도 하나의 접촉 보조 부재(도시하지 않음)가 위치하며, 접촉 보조 부재의 수는 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb)가 배열되어 있는 열(RO4, RO5)의 수와 동일할 수 있다.
접촉 보조 부재는 대체로 제2방향(D2)으로 뻗으며 서로 나란할 수 있다. 접촉 보조 부재는 각각 열(RO4, RO5)과 대응하여 위치하고, 각 열(RO4, RO5)의 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb)와 중첩한다.
접촉 보조 부재는 보호막의 복수의 접촉 구멍을 통해 각 행 열(RO4, RO5)에 위치하는 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb)와 이와 중첩하는 쇼팅바(SBLd, SBLe)를 전기적, 물리적으로 연결한다.
쇼팅바(SBLd, SBLe) 및 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb)를 통해서 한 그룹의 게이트선(121)에 동시에 동일한 검사 신호를 인가하여 표시 패널(300)의 불량 여부를 검사할 수 있다. 예를 들어 본 발명의 한 실시예와 같이 한쪽 가장자리부터 (2N-1)번째에 위치하는 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb)와 연결되어 있는 게이트선(121) 그룹, 그리고 한쪽 가장자리부터 (2N)번째에 위치하는 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb)와 연결되어 있는 게이트선(121) 그룹에는 각각 독립적으로 동일한 검사 신호가 인가될 수 있다.
이러한 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb) 및 그 주변의 구조에 따른 효과는 앞에서 설명한 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc) 및 그 주변의 구조에 따른 효과와 동일할 수 있다.
구체적으로, 본 발명의 한 실시예에 따르면 하나의 팬 아웃 영역에 위치하는 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb) 중 가장자리에 위치하는 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb)를 동일한 쇼팅바(SBLd, SBLe)를 통해 연결되어 있으며 중간에 위치하는 적어도 하나의 게이트 검사용 패드(127a, 127b)와 전기적, 물리적으로 연결한다. 이로써 해당 팬 아웃 영역과 인접한 다른 신호선 또는 패턴을 통해 유입되는 정전기로 인해 가장자리에 위치하는 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb)와 연결된 접촉 보조 부재가 터져 단선되어 그 부분에서 쇼팅바(SBLd, SBLe)와 차단되어도 연결선(126a, 126b)을 통해 연결되어 있는 중간의 게이트 검사용 패드(127a, 127b)와 연결되어 있으므로 동일한 검사용 신호를 인가받을 수 있다. 따라서 표시 패널(300)의 표시 신호선 및 이와 연결된 화소(PX) 등의 불량 여부를 전부 검출할 수 있고, 표시 패널(300)의 검사 단계에서 검출이 되지 않은 진성 불량이 후에 제품 단계에서 나타나는 것을 막을 수 있으며, 제품 수율을 높일 수 있다.
또한 본 발명의 한 실시예에 따르면, 하나의 팬 아웃 영역에 위치하는 복수의 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb) 중 가장자리에 위치하는 적어도 하나의 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb)의 면적이 중간에 위치하는 게이트 검사용 패드(127a, 127b)에 비해 상대적으로 확장되어 있다. 이에 따라 가장자리에 위치하는 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb)를 드러내는 보호막의 복수의 접촉 구멍 및 쇼팅바(SBLd, SBLe)를 드러내는 복수의 접촉 구멍의 수를 더욱 증가시킬 수 있다. 그러면 외부로부터 유입된 정전기에 의해 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb)와 연결된 접촉 보조 부재가 터져 게이트 검사용 패드(127aa, 127bb)와 대응하는 쇼팅바(SBLd, SBLe)로부터 차단될 확률이 더욱 낮아질 수 있다. 따라서 표시 패널(300)의 표시 신호선 및 이와 연결된 화소(PX) 등의 불량 여부를 전부 검출할 수 있고, 표시 패널(300)의 검사 단계에서 검출이 되지 않은 진성 불량이 후에 제품 단계에서 나타나는 것을 막을 수 있으며, 제품 수율을 높일 수 있다.
또한 본 발명의 한 실시예에 따르면, 쇼팅바(SBLd, SBLe)와 중첩하여 기생 축전기(Cap)를 형성하는 연결선(126a, 126b)의 제2 부분(LPg1)의 폭(W4)을 증가시켜 기생 축전기(Cap)를 정전기를 가두는 정전 축전기로 이용할 수 있다. 이로써 데 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb 와 연결된 접촉 보조 부재가 정전기로 인해 터져 불량이 발생되는 것을 더욱 줄일 수 있다.
도 10을 참조하면, 쇼팅바(SBLd, SBLe)는 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb)의 한쪽 또는 양쪽 주변에 위치하는 적어도 하나의 검사 신호 입력 패드(SBd, SBe)와 연결되어 있으며, 검사 신호 입력 패드(SBd, SBe)를 통해 검사 신호를 입력받을 수 있다. 검사 신호 입력 패드(SBd, SBe)는 대략 제2방향(D2)으로 배열되어 있을 수 있다.
검사 신호 입력 패드(SBd, SBe)의 주변에는 예를 들어 공통 전압선(COML)이 위치할 수 있다.
이제 앞에서 설명한 도면들과 함께 도 11 내지 도 15를 각각 참조하여 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 패널(300)을 포함하는 표시 장치에 대해 설명한다.
도 11 내지 도 13은 각각 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 배치도이고, 도 14 및 도 15는 각각 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치가 포함하는 표시 패널의 일부에 대한 배치도이다.
먼저 도 11을 참조하면, 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치는 표시 패널(300), 게이트 구동부(400), 그리고 데이터 구동부(500)를 포함한다.
게이트 구동부(400)는 표시 패널(300) 위에 장착된 적어도 하나의 게이트 구동 회로(440)를 포함할 수 있다. 각 게이트 구동 회로(440)는 적어도 하나의 게이트선(121)과 연결되어 있다. 게이트 구동 회로(440)는 집적 회로 칩의 형태로서 표시 패널(300) 위에 장착되어 있을 수 있다. 게이트 구동 회로(440)는 복수의 게이트선(121)의 끝 부분(129)과 연결되어 게이트선(121)에 게이트 신호를 전달할 수 있다.
데이터 구동부(500)는 표시 패널(300) 위에 장착된 적어도 하나의 데이터 구동 회로(540)를 포함할 수 있다. 각 데이터 구동 회로(540)는 적어도 하나의 데이터선(171)과 연결되어 있다. 데이터 구동 회로(540)는 집적 회로 칩의 형태로서 표시 패널(300) 위에 장착되어 있을 수 있다. 데이터 구동 회로(540)는 복수의 데이터선(171)의 끝 부분(179)과 연결되어 데이터선(171)에 데이터 전압을 전달할 수 있다.
다음 도 12를 참조하면, 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치는 도 11에 도시한 실시예와 대부분 동일하나, 데이터 구동 회로(540)는 가요성 인쇄 회로막(FPC film)(510) 위에 장착되어 TCP(tape carrier package)의 형태로 표시 패널(300)에 부착될 수 있다. 가요성 인쇄 회로막(510)은 데이터 구동 회로(540)와 연결되어 있는 복수의 데이터 전달선(도시하지 않음)을 포함할 수 있고, 데이터 전달선은 접촉부를 통해 데이터선(171)과 연결되어 데이터 구동 회로(540)로부터의 데이터 신호를 데이터선(171)에 전달할 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치는 신호 제어부(도시하지 않음) 등의 여러 구동 장치가 구비되어 있는 인쇄 회로 기판(PCB)(550)을 더 포함할 수 있다. 인쇄 회로 기판(550)은 가요성 인쇄 회로막(510)을 통하여 표시 패널(300)에 전원 전압 및 여러 구동 신호를 전달할 수 있다.
다음 도 13을 참조하면, 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치는 도 11 또는 도 12에 도시한 실시예와 대부분 동일하나, 게이트 구동부(400)는 신호선(121, 171) 및 박막 트랜지스터와 함께 표시 패널(300)의 주변 영역(PA)에 집적될 수 있다. 이 경우 게이트선(121)은 주변 영역(PA)으로 연장되어 게이트 구동부(400)와 직접 연결될 수 있다.
게이트 구동부(400)는 서로 종속적으로 연결되어 있으며 순차적으로 배열된 복수의 스테이지(stage)를 포함할 수 있다.
도 14 및 도 15를 참조하면, 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치가 포함하는 표시 패널(300)은 앞에서 설명한 도 1 내지 도 10에 도시한 실시예에 따른 표시 패널(300)과 대부분 동일하나 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb)와 게이트선(121)의 끝 부분(129)은 서로 단선되어 있다. 예를 들어 게이트 리드선(128)에 대한 레이저 트리밍(trimming) 등의 방법을 통해 게이트 리드선(128)의 중간부(TRM)를 끊어 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb)와 게이트선(121)의 끝 부분(129)을 서로 차단할 수 있다. 이에 따라 하나의 팬 아웃 영역을 형성하는 복수의 게이트선(121)의 끝 부분(129)은 복수의 게이트 검사용 패드(127a, 127b, 127aa, 127bb)와 중간부(TRM)를 사이에 두고 각각 마주하며 서로 정렬되어 있을 수 있다.
마찬가지로 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)와 데이터선(171)의 끝 부분(179)도 서로 단선되어 있다. 예를 들어 데이터 리드선(178)에 대한 레이저 트리밍 등의 방법을 통해 데이터 리드선(178)의 중간부(TRM)를 끊어 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)와 데이터선(171)의 끝 부분(179)을 서로 차단할 수 있다. 이에 따라 하나의 팬 아웃 영역을 형성하는 복수의 데이터선(171)의 끝 부분(179)은 복수의 데이터 검사용 패드(177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc)와 중간부(TRM)를 사이에 두고 각각 마주하며 서로 정렬되어 있을 수 있다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.
87a, 87b, 87c: 접촉 보조 부재 110: 절연 기판
121: 게이트선 126a, 126b: 연결선
127a, 127b, 127aa, 127bb: 게이트 검사용 패드
128, 178: 리드선 129: 게이트선의 끝 부분
140: 게이트 절연막 171: 데이터선
176a, 176b, 176c: 연결선
177a, 177b, 177c, 177aa, 177bb, 177cc: 데이터 검사용 패드
179: 데이터선의 끝 부분 180: 보호막
185, 186, 187, 188: 접촉 구멍
300: 표시 패널 400: 게이트 구동부
440: 게이트 구동 회로 500: 데이터 구동부
540: 데이터 구동 회로
SBLa, SBLb, SBLc, SBLd, SBLe: 쇼팅바

Claims (20)

  1. 표시 영역에 위치하는 복수의 표시 신호선,
    상기 표시 영역의 주변에 위치하는 주변 영역에 위치하며, 상기 복수의 표시 신호선과 각각 연결되어 있는 복수의 검사용 패드,
    상기 복수의 검사용 패드가 포함하는 제1 검사용 패드 및 제2 검사용 패드에 연결되어 있으며, 제1방향으로 연장되고, 상기 제1 검사용 패드 및 상기 제2 검사용 패드와 중첩하는 제1쇼팅바,
    상기 복수의 검사용 패드가 포함하는 제3 검사용 패드 및 제4 검사용 패드에 연결되어 있으며, 상기 제1방향으로 연장되고, 상기 제1방향과 교차하는 제2방향으로 상기 제1쇼팅바와 이격되어 있는 제2쇼팅바, 그리고
    제1부분, 제2부분 및 제3부분을 포함하는 제1연결선
    을 포함하고,
    상기 제1연결선의 상기 제1부분은, 상기 제1 검사용 패드로부터 상기 제2방향으로 연장되며 상기 제2쇼팅바와 중첩하고,
    상기 제1연결선의 상기 제2부분은 상기 제2 검사용 패드로부터 상기 제2방향으로 연장되고,
    상기 제1연결선의 상기 제3부분은 상기 제1부분과 상기 제2부분 사이에서 상기 제1방향으로 연장된
    표시 패널.
  2. 제1항에서,
    상기 제1 검사용 패드의 면적은 상기 제2 검사용 패드의 면적보다 큰 표시 패널.
  3. 제2항에서,
    상기 제1 검사용 패드 및 상기 제2 검사용 패드 위에 위치하는 접촉 보조 부재, 그리고
    상기 제1쇼팅바와 상기 접촉 보조 부재 사이에 위치하는 보호막을 더 포함하고,
    상기 보호막은 상기 제1 검사용 패드 위에 위치하는 복수의 제1 접촉 구멍 및 상기 제2 검사용 패드 위에 위치하는 적어도 하나의 제2 접촉 구멍을 포함하고,
    상기 제1 접촉 구멍의 수는 상기 제2 접촉 구멍의 수보다 많은
    표시 패널.
  4. 제3항에서,
    상기 접촉 보조 부재는 상기 보호막 위에 위치하는 표시 패널.
  5. 제1항에서,
    상기 제1부분의 폭은 상기 제2부분의 폭보다 큰 표시 패널.
  6. 제1항에서,
    상기 제1 검사용 패드와 상기 제2 검사용 패드는 동일한 행에 배치되어 있는 표시 패널.
  7. 제6항에서,
    상기 복수의 검사용 패드는 복수의 행 또는 열에 교대로 배열되어 있는 표시 패널.
  8. 제1항에서,
    상기 제3 검사용 패드를 상기 제4 검사용 패드와 전기적으로 연결시키는 제2연결선을 더 포함하고,
    상기 제2쇼팅바는 상기 제3 검사용 패드 및 상기 제4 검사용 패드와 교차하는
    표시 패널.
  9. 제1항에서,
    상기 제1 및 제2 검사용 패드와 상기 제1연결선은 동일한 층에 위치하고,
    상기 제1쇼팅바는 상기 제1 및 제2 검사용 패드와 다른 층에 위치하는
    표시 패널.
  10. 제1항에서,
    상기 복수의 표시 신호선은 상기 주변 영역에서 하나의 팬 아웃 영역을 형성하는 표시 패널.
  11. 삭제
  12. 삭제
  13. 삭제
  14. 삭제
  15. 삭제
  16. 삭제
  17. 삭제
  18. 삭제
  19. 삭제
  20. 삭제
KR1020140005311A 2014-01-15 2014-01-15 표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치 Active KR102272789B1 (ko)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020140005311A KR102272789B1 (ko) 2014-01-15 2014-01-15 표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치
US14/293,905 US9691314B2 (en) 2014-01-15 2014-06-02 Display panel and display device including the same
TW103123237A TWI631539B (zh) 2014-01-15 2014-07-04 顯示面板
CN201410418521.9A CN104778909B (zh) 2014-01-15 2014-08-22 显示面板和包括该显示面板的显示设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020140005311A KR102272789B1 (ko) 2014-01-15 2014-01-15 표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20150085439A KR20150085439A (ko) 2015-07-23
KR102272789B1 true KR102272789B1 (ko) 2021-07-05

Family

ID=53521874

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020140005311A Active KR102272789B1 (ko) 2014-01-15 2014-01-15 표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9691314B2 (ko)
KR (1) KR102272789B1 (ko)
CN (1) CN104778909B (ko)
TW (1) TWI631539B (ko)

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104035217B (zh) * 2014-05-21 2016-08-24 深圳市华星光电技术有限公司 显示器阵列基板的外围测试线路以及液晶显示面板
CN104077989B (zh) * 2014-06-30 2016-04-13 深圳市华星光电技术有限公司 显示面板
CN104218042B (zh) * 2014-09-02 2017-06-09 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种阵列基板及其制备方法、显示装置
KR102235248B1 (ko) * 2014-10-20 2021-04-05 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
US9553047B2 (en) * 2015-06-10 2017-01-24 Macronix International Co., Ltd. Method of manufacturing semiconductor devices with combined array and periphery patterning in self-aligned quadruple patterning
WO2018030298A1 (ja) * 2016-08-12 2018-02-15 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板および表示装置
KR102701032B1 (ko) 2016-10-06 2024-09-03 삼성디스플레이 주식회사 터치 스크린 및 이를 구비한 표시 장치
CN107154232A (zh) * 2017-05-27 2017-09-12 厦门天马微电子有限公司 阵列基板、显示面板和显示面板的测试方法
CN107068029B (zh) * 2017-06-20 2019-11-22 惠科股份有限公司 一种显示面板的测试电路及测试方法
CN107180604B (zh) * 2017-07-12 2018-02-13 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 显示基板的测试组件以及测试方法
KR102607389B1 (ko) * 2018-03-12 2023-11-28 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 이의 신호 라인 검사 방법
JP7144170B2 (ja) * 2018-03-27 2022-09-29 株式会社ジャパンディスプレイ タッチセンサ及びタッチセンサ付き表示装置
TWI716922B (zh) * 2018-12-26 2021-01-21 友達光電股份有限公司 顯示面板
CN109523943B (zh) * 2018-12-28 2023-06-20 厦门天马微电子有限公司 显示面板和显示装置
KR102754854B1 (ko) * 2019-03-25 2025-01-14 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 표시 장치의 검사 방법
KR102744149B1 (ko) * 2020-05-04 2024-12-20 삼성디스플레이 주식회사 게이트 검사부 및 이를 포함하는 표시 장치
CN111681545B (zh) * 2020-05-27 2022-03-29 上海中航光电子有限公司 显示面板和显示装置
CN112466238B (zh) * 2020-12-03 2022-11-15 友达光电(昆山)有限公司 显示装置
CN112562554B (zh) * 2020-12-04 2022-10-11 昆山国显光电有限公司 显示模组及其检测方法
CN113436541B (zh) * 2021-07-14 2022-09-09 武汉华星光电技术有限公司 显示面板及显示装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100769160B1 (ko) 2000-12-29 2007-10-23 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치의 테스트 패드
KR100900537B1 (ko) * 2002-08-23 2009-06-02 삼성전자주식회사 액정 표시 장치, 그 검사 방법 및 제조 방법
KR101137867B1 (ko) 2005-08-30 2012-04-20 엘지디스플레이 주식회사 액정 표시장치의 검사장치 및 검사방법
KR101140575B1 (ko) * 2005-06-30 2012-05-02 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치 검사공정

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR0145902B1 (ko) * 1995-01-27 1998-09-15 김광호 박막트랜지스터 액정디스플레이 소자의 저항부 및 그 제조방법
KR100232177B1 (ko) 1996-07-22 1999-12-01 구본준 액정 표시 장치의 쇼팅바 및 그의 제조방법
KR100244182B1 (ko) * 1996-11-29 2000-02-01 구본준 액정표시장치
KR100502100B1 (ko) 1997-10-28 2005-11-01 삼성전자주식회사 쇼트불량검출을위한쇼팅바를갖는액정표시기판
KR100521259B1 (ko) 1998-05-15 2006-01-12 삼성전자주식회사 박막 트랜지스터 액정 표시 장치용 쇼팅 바
KR100477127B1 (ko) 1998-12-03 2005-07-12 삼성전자주식회사 액정 표시 장치
KR100443539B1 (ko) * 2002-04-16 2004-08-09 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치용 어레이기판과 그 제조방법
KR100831235B1 (ko) * 2002-06-07 2008-05-22 삼성전자주식회사 박막 트랜지스터 기판
KR20040060044A (ko) 2002-12-30 2004-07-06 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치 및 그 제조방법
KR20060005550A (ko) 2004-07-13 2006-01-18 삼성전자주식회사 박막트랜지스터 기판
KR100749470B1 (ko) 2004-11-30 2007-08-14 삼성에스디아이 주식회사 플라즈마 디스플레이 장치
US9076362B2 (en) * 2006-09-22 2015-07-07 Samsung Display Co., Ltd. Display substrate and method of manufacturing a motherboard for the same
KR20080044986A (ko) 2006-11-17 2008-05-22 삼성전자주식회사 어레이 기판 및 이의 제조 방법
KR101304415B1 (ko) * 2007-01-25 2013-09-05 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
US20080204618A1 (en) * 2007-02-22 2008-08-28 Min-Kyung Jung Display substrate, method for manufacturing the same, and display apparatus having the same
KR101458910B1 (ko) * 2008-03-28 2014-11-10 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR20090126052A (ko) * 2008-06-03 2009-12-08 삼성전자주식회사 박막 트랜지스터 기판 및 이를 표함하는 표시 장치
KR101033463B1 (ko) 2008-06-13 2011-05-09 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치용 어레이 기판
TWI387802B (zh) * 2008-09-30 2013-03-01 Chunghwa Picture Tubes Ltd 主動元件陣列基板與液晶顯示面板
TWI393944B (zh) * 2008-12-10 2013-04-21 Au Optronics Corp 主動元件陣列基板
KR101113340B1 (ko) * 2010-05-13 2012-02-29 삼성모바일디스플레이주식회사 액정 표시장치 및 그의 검사방법
US20130057799A1 (en) 2011-09-07 2013-03-07 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co. Ltd. Shorting bar assembly, lcd panel and lcd
KR101354317B1 (ko) 2011-12-29 2014-01-23 하이디스 테크놀로지 주식회사 정전기 방지 구조를 구비한 표시장치
KR101913839B1 (ko) * 2012-04-10 2018-12-31 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그것의 테스트 방법
KR101969952B1 (ko) * 2012-06-05 2019-04-18 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN103325327B (zh) * 2013-06-20 2016-03-30 深圳市华星光电技术有限公司 一种显示面板、显示面板的检测线路

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100769160B1 (ko) 2000-12-29 2007-10-23 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치의 테스트 패드
KR100900537B1 (ko) * 2002-08-23 2009-06-02 삼성전자주식회사 액정 표시 장치, 그 검사 방법 및 제조 방법
KR101140575B1 (ko) * 2005-06-30 2012-05-02 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치 검사공정
KR101137867B1 (ko) 2005-08-30 2012-04-20 엘지디스플레이 주식회사 액정 표시장치의 검사장치 및 검사방법

Also Published As

Publication number Publication date
CN104778909B (zh) 2019-10-11
US9691314B2 (en) 2017-06-27
KR20150085439A (ko) 2015-07-23
TWI631539B (zh) 2018-08-01
TW201528234A (zh) 2015-07-16
CN104778909A (zh) 2015-07-15
US20150199929A1 (en) 2015-07-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102272789B1 (ko) 표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치
JP5518898B2 (ja) 液晶表示装置
KR101349094B1 (ko) 박막 트랜지스터 기판, 이를 갖는 액정표시장치
JP2019169086A (ja) 位置入力装置
KR20160082883A (ko) 디스플레이 장치
KR20180008999A (ko) 연성 필름, 회로기판 조립체 및 표시장치
JP2010102237A (ja) 表示装置
US8670102B2 (en) Display panel
JP2019184864A (ja) 表示装置
WO2014129272A1 (ja) 表示装置
CN101950110A (zh) 显示面板
KR20180065062A (ko) 표시 장치
KR20150004999A (ko) 액정 표시 장치
JP6503721B2 (ja) アレイ基板およびそれを用いた表示装置
KR102754854B1 (ko) 표시 장치 및 표시 장치의 검사 방법
US20160291380A1 (en) Liquid crystal display and manufacturing method thereof
KR20060134263A (ko) 박막 트랜지스터 기판 및 이를 포함하는 액정 표시 장치
KR20210102524A (ko) 표시 장치
KR101621560B1 (ko) 액정표시장치 테스트 패턴
KR102222274B1 (ko) 액정표시장치
JP2008233730A (ja) 液晶表示パネル
JP2009092695A (ja) 液晶表示装置
KR100656902B1 (ko) 액정 표시 장치용 박막 트랜지스터 기판
KR20060015176A (ko) 박막 트랜지스터 표시판
JP7217650B2 (ja) 表示装置

Legal Events

Date Code Title Description
PA0109 Patent application

Patent event code: PA01091R01D

Comment text: Patent Application

Patent event date: 20140115

PG1501 Laying open of application
A201 Request for examination
PA0201 Request for examination

Patent event code: PA02012R01D

Patent event date: 20190108

Comment text: Request for Examination of Application

Patent event code: PA02011R01I

Patent event date: 20140115

Comment text: Patent Application

E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event date: 20201030

Patent event code: PE09021S01D

E701 Decision to grant or registration of patent right
PE0701 Decision of registration

Patent event code: PE07011S01D

Comment text: Decision to Grant Registration

Patent event date: 20210402

GRNT Written decision to grant
PR0701 Registration of establishment

Comment text: Registration of Establishment

Patent event date: 20210629

Patent event code: PR07011E01D

PR1002 Payment of registration fee

Payment date: 20210629

End annual number: 3

Start annual number: 1

PG1601 Publication of registration