JPS6370832A - 液晶表示装置 - Google Patents
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- JPS6370832A JPS6370832A JP61215418A JP21541886A JPS6370832A JP S6370832 A JPS6370832 A JP S6370832A JP 61215418 A JP61215418 A JP 61215418A JP 21541886 A JP21541886 A JP 21541886A JP S6370832 A JPS6370832 A JP S6370832A
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- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 title claims description 21
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 23
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 22
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 8
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 8
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 8
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 8
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 8
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 7
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 210000004709 eyebrow Anatomy 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- OUBCNLGXQFSTLU-UHFFFAOYSA-N nitisinone Chemical compound [O-][N+](=O)C1=CC(C(F)(F)F)=CC=C1C(=O)C1C(=O)CCCC1=O OUBCNLGXQFSTLU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229960001721 nitisinone Drugs 0.000 description 1
- VXUYXOFXAQZZMF-UHFFFAOYSA-N titanium(IV) isopropoxide Chemical compound CC(C)O[Ti](OC(C)C)(OC(C)C)OC(C)C VXUYXOFXAQZZMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136213—Storage capacitors associated with the pixel electrode
Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はアクティブマトリクスパネルの構造に関する。
従来アクティブマ) +1クスパネルの構造は“日経エ
レクトロニクス 1984年9月10日号腐351P、
211〜2401に示されるようなものであつ几。
レクトロニクス 1984年9月10日号腐351P、
211〜2401に示されるようなものであつ几。
第2図はアクティブマトリクスパネルの画素部分の平面
図の例である。22けポリシリコンまたはアモルファス
シリコンの薄膜でTFTのチャネル部及びソース・ドレ
イン電極を形成している。
図の例である。22けポリシリコンまたはアモルファス
シリコンの薄膜でTFTのチャネル部及びソース・ドレ
イン電極を形成している。
24けポリシリコンや金属からなる薄膜でTFTのゲ1
−ト電極及び走査線を形成している。26は画素Kl!
、27けデータ線である。
−ト電極及び走査線を形成している。26は画素Kl!
、27けデータ線である。
しかじ両速の従来技術では以下に述べるような問題点を
生じる。まず第1K、液晶に印加される電圧は液晶自身
の時定数に依存するため、温[/l’−変化すると液晶
の時定数が変化して表示状態も変化するという問題点で
ある。特に高温においては液晶の抵抗が小さくなり時定
数も短くなるためコントラスト比が減少する。第2の問
題点け、液晶は支流駆動する必要があるため通常はビデ
オ信号を交流反転して用いるが、この信号の極性の違い
によりTFTの書き込み及び保持の状態も異なるため、
液晶に印加される電圧b;非対称な改分を持ち、フリッ
カ−を生じるというものである。
生じる。まず第1K、液晶に印加される電圧は液晶自身
の時定数に依存するため、温[/l’−変化すると液晶
の時定数が変化して表示状態も変化するという問題点で
ある。特に高温においては液晶の抵抗が小さくなり時定
数も短くなるためコントラスト比が減少する。第2の問
題点け、液晶は支流駆動する必要があるため通常はビデ
オ信号を交流反転して用いるが、この信号の極性の違い
によりTFTの書き込み及び保持の状態も異なるため、
液晶に印加される電圧b;非対称な改分を持ち、フリッ
カ−を生じるというものである。
本発明けこれらの問題を解決するものであり、その目的
とするところは、高温でもコントラスト比hi減少する
ことなく、かつフリッカ−の少ないアクティブマトリク
スパネルの構造を与えるところにある。
とするところは、高温でもコントラスト比hi減少する
ことなく、かつフリッカ−の少ないアクティブマトリク
スパネルの構造を与えるところにある。
C問題点を解決する念めの手段〕
本発明のアクティブマトリクスパネルは、前段の走査線
の上部ま几は下部にTFTのチャネル部と同じ導電膜を
、ゲート絶縁膜を介して配置し、前記導電膜が画素電極
く接続されていろことを特徴とする。
の上部ま几は下部にTFTのチャネル部と同じ導電膜を
、ゲート絶縁膜を介して配置し、前記導電膜が画素電極
く接続されていろことを特徴とする。
本発明の上記の構造によれば、液晶の容量と並列にゲー
ト絶縁膜の容量が付加されることとなり液晶の時定数h
;長くなるためコントラスト比が大きくなる。また、温
度が上昇して液晶の時定数が小さくなってもゲート絶縁
膜の容量は変化しないため、コントラスト比の減少を抑
えることができる。さらにビデオ信号の極性の違いによ
り生ずるTlPTの書き込み及び保持における非対称な
動作の影響を受けに〈〈なりフリッカ−が減少する。
ト絶縁膜の容量が付加されることとなり液晶の時定数h
;長くなるためコントラスト比が大きくなる。また、温
度が上昇して液晶の時定数が小さくなってもゲート絶縁
膜の容量は変化しないため、コントラスト比の減少を抑
えることができる。さらにビデオ信号の極性の違いによ
り生ずるTlPTの書き込み及び保持における非対称な
動作の影響を受けに〈〈なりフリッカ−が減少する。
〔・実施例1〕
第1回顧は本発明の一実施倒を示すアクティブマド、リ
クスパネルの平面図であり、同図(b)及び(C)はそ
れぞれ同図6)のA−B及び(!−,D&でおける断面
図である。この図を用いて製造工aK従い説明する。ま
ず絶縁基板1上にポリシリコンま几はアモルファスシリ
コンの薄膜2をデポジットし図のようにパターニングす
る。この薄膜は’rlFTのチャネル部及びソース・ド
レイン電極、そして容量を作り込む几めの電極となる0
次にゲート絶縁膜3を形成し、その上にゲート電量も兼
ねる走査線4を形成する。その材料としてはポリシリコ
ンT?Tの場合にはポリシリコンや高融点金属が、アモ
ルファスシリコンTIFTの場合には通常の金属や透明
導電寝等bt用いられている。この上に層間絶縁嘆5を
デポジットし、コンタクトホールな開口し1画素電極6
及びデータ線7を形成し友ものがアクティブマトリクス
基板である。この基板と数μmの空間を介して、共通電
榎を有するもう一つの基板を対向させ、この空間に液晶
を封入し次ものbzアクティブマトリクスパネルマある
。
クスパネルの平面図であり、同図(b)及び(C)はそ
れぞれ同図6)のA−B及び(!−,D&でおける断面
図である。この図を用いて製造工aK従い説明する。ま
ず絶縁基板1上にポリシリコンま几はアモルファスシリ
コンの薄膜2をデポジットし図のようにパターニングす
る。この薄膜は’rlFTのチャネル部及びソース・ド
レイン電極、そして容量を作り込む几めの電極となる0
次にゲート絶縁膜3を形成し、その上にゲート電量も兼
ねる走査線4を形成する。その材料としてはポリシリコ
ンT?Tの場合にはポリシリコンや高融点金属が、アモ
ルファスシリコンTIFTの場合には通常の金属や透明
導電寝等bt用いられている。この上に層間絶縁嘆5を
デポジットし、コンタクトホールな開口し1画素電極6
及びデータ線7を形成し友ものがアクティブマトリクス
基板である。この基板と数μmの空間を介して、共通電
榎を有するもう一つの基板を対向させ、この空間に液晶
を封入し次ものbzアクティブマトリクスパネルマある
。
第3図は、N型のMO8千ヤパシタのゲート電圧依存性
を示し次ものである。ゲート電圧7Gがしきい値電圧v
thを超えると容量は増大しQ6となりしtい値電圧以
下では重なり容量a gso の入となる。従ってv
O>vthの領埴でMO8容量を使うことが望ましいが
1本実施例にシいては第1図(6)の前段の走査線4の
下に作り込んだMOEi容量けTFlと同じ導電型であ
り1例えばN型の場合にはTFTが0FIP している
通常の状態でけla<VthであるためKOgllOの
入の容量となる。しかし、ゲート膜の厚さは液晶の封入
される空間に対して十分薄いため、単位直積あ几りの容
量bt大きくなり第1図b)K示すようなパターンの重
なり容量a gs。
を示し次ものである。ゲート電圧7Gがしきい値電圧v
thを超えると容量は増大しQ6となりしtい値電圧以
下では重なり容量a gso の入となる。従ってv
O>vthの領埴でMO8容量を使うことが望ましいが
1本実施例にシいては第1図(6)の前段の走査線4の
下に作り込んだMOEi容量けTFlと同じ導電型であ
り1例えばN型の場合にはTFTが0FIP している
通常の状態でけla<VthであるためKOgllOの
入の容量となる。しかし、ゲート膜の厚さは液晶の封入
される空間に対して十分薄いため、単位直積あ几りの容
量bt大きくなり第1図b)K示すようなパターンの重
なり容量a gs。
の入でも1画素電9@6によって駆動される液晶の容量
の30〜50%糧度の容量となる。このMOB容量は液
晶の容量と並列に付加されるため、見かけ上液晶の時定
数が増大し、表示性能が大巾に向上する。これを第4図
を用いて説明する。この図はアクティブマトリクスパネ
ルの各部の電位を示す図であり、横軸に時刻、縦軸に電
位をとっである。周知のように、NTBCのビデオ信号
はインターレースされた2つのフィールド、すなわち奇
数フィールドと偶数フィールドによって17し−ムが構
成され1つの8面が完成される。液晶は交流駆動しなく
てはならない几め、データ線の信号は42のよ5に交流
反転させ几ものを用いる。
の30〜50%糧度の容量となる。このMOB容量は液
晶の容量と並列に付加されるため、見かけ上液晶の時定
数が増大し、表示性能が大巾に向上する。これを第4図
を用いて説明する。この図はアクティブマトリクスパネ
ルの各部の電位を示す図であり、横軸に時刻、縦軸に電
位をとっである。周知のように、NTBCのビデオ信号
はインターレースされた2つのフィールド、すなわち奇
数フィールドと偶数フィールドによって17し−ムが構
成され1つの8面が完成される。液晶は交流駆動しなく
てはならない几め、データ線の信号は42のよ5に交流
反転させ几ものを用いる。
41け走査線の信号であり、NチャネルのTFTで駆動
する場合にはこのようなパルスが必要となる。44及び
45けそれぞれ従来例と本発明の実施例における画素電
極の電経であり、43け共通電極の電位である。この共
通電極と画素電極の間の電位差が液晶に印加される電圧
である。時刻t。
する場合にはこのようなパルスが必要となる。44及び
45けそれぞれ従来例と本発明の実施例における画素電
極の電経であり、43け共通電極の電位である。この共
通電極と画素電極の間の電位差が液晶に印加される電圧
である。時刻t。
fJvららまでを奇数フィールド%t、からt6までを
偶数フィールドとすると、まず奇数フィール、ドにおい
て時刻t、においてT F T hZ ON L、画素
電極にデータ線の信号が書き込まれ1時刻t8において
TFTが0IFFするとある時定数で画素電極電位は共
通電極電位に向かって放電する。同様に偶数フィールド
においても1時刻t4においてTF’J’がONし1画
素電極にデータ線の信号b−書き込まれ、゛時刻t、に
おいてTIFTがOFFすると画素電極電位は共通電極
電位に向かって放電していく。斜線で示し1部分は本実
施において液晶に印加されろ電圧であり、従来例に比べ
て時定数が長くなう次ことにより、より大ぎな電圧を印
加することができることがわかる。この究めコントラス
ト比が増大する。まft1M0B容景とTFTのドレイ
ン電極との間の配線部は第1回顧のようにデータ線と画
素電極の間に配置することにより、このす針量からもれ
る光を遮断する働きもあるtめ、コントラスト比を増大
させるとともに1画像のきれがよくなる。さらに、温度
の変化に対して液晶の時定数が多少変動しても、付加し
7tMOE+容量は変化しないため第3図の斜線部の面
積はあまり変動しない。
偶数フィールドとすると、まず奇数フィール、ドにおい
て時刻t、においてT F T hZ ON L、画素
電極にデータ線の信号が書き込まれ1時刻t8において
TFTが0IFFするとある時定数で画素電極電位は共
通電極電位に向かって放電する。同様に偶数フィールド
においても1時刻t4においてTF’J’がONし1画
素電極にデータ線の信号b−書き込まれ、゛時刻t、に
おいてTIFTがOFFすると画素電極電位は共通電極
電位に向かって放電していく。斜線で示し1部分は本実
施において液晶に印加されろ電圧であり、従来例に比べ
て時定数が長くなう次ことにより、より大ぎな電圧を印
加することができることがわかる。この究めコントラス
ト比が増大する。まft1M0B容景とTFTのドレイ
ン電極との間の配線部は第1回顧のようにデータ線と画
素電極の間に配置することにより、このす針量からもれ
る光を遮断する働きもあるtめ、コントラスト比を増大
させるとともに1画像のきれがよくなる。さらに、温度
の変化に対して液晶の時定数が多少変動しても、付加し
7tMOE+容量は変化しないため第3図の斜線部の面
積はあまり変動しない。
すなわち、広い温度範囲で再現性のよい表示画面を得る
ことができる。その上、フリヴカーも従来例に対して3
〜5d′B下がることが出願人の実験で確かめられ比。
ことができる。その上、フリヴカーも従来例に対して3
〜5d′B下がることが出願人の実験で確かめられ比。
これけ奇数フィールドと偶数フィールドでのTIPTの
書き退入及び保持における非対称な動作の影響をうけに
くくなる次めである。
書き退入及び保持における非対称な動作の影響をうけに
くくなる次めである。
〔実施例2〕
第5図b)は本発明の第2の実施例におけるアクティブ
マトリクスパネルの平面図であり、同図φ)及び(6)
はそれぞれ同図ヒ)のに−B及びO−Dにおける断面図
である。このアクティブマトリクスパネルは第1の実施
例と全く同じ工場を月いて製造することができる。61
〜67けそれぞれ第1図の1〜7に対応してかり、61
は絶縁基板、62けポリシリコンマ九はアモルファスシ
リコンの薄膜、63けゲート絶縁膜、64け走査線、6
5は眉間絶縁膜、66け画素電極、67けデータ線であ
る。透過型の場合は、66の画素電極には透明導電膜を
用い、67のデータ線には画素電事と同じ透明導電膜ま
念は金属の薄膜を用いる。
マトリクスパネルの平面図であり、同図φ)及び(6)
はそれぞれ同図ヒ)のに−B及びO−Dにおける断面図
である。このアクティブマトリクスパネルは第1の実施
例と全く同じ工場を月いて製造することができる。61
〜67けそれぞれ第1図の1〜7に対応してかり、61
は絶縁基板、62けポリシリコンマ九はアモルファスシ
リコンの薄膜、63けゲート絶縁膜、64け走査線、6
5は眉間絶縁膜、66け画素電極、67けデータ線であ
る。透過型の場合は、66の画素電極には透明導電膜を
用い、67のデータ線には画素電事と同じ透明導電膜ま
念は金属の薄膜を用いる。
本実施例においては第1の実施例と同じく、前段の走査
線64の下にTIFTと同じ導電型のMO8容量を作り
込んであるため、T F T hs 0FIP してい
る通常の状態では重なり容量のみhz有効である。
線64の下にTIFTと同じ導電型のMO8容量を作り
込んであるため、T F T hs 0FIP してい
る通常の状態では重なり容量のみhz有効である。
しかし1本実施例にきいては、走査線64が図4− r
a>のようにデータ線と平行につき出た形状となってお
り、この部分にもMO8容量を作り込むことb;できる
次め、第1の実施例の約2倍の容量を付加することがで
きる。したがってより広い温度範囲で、よりコントラス
ト比が大きくフリッカ−の少ない高品質な表示画面を得
ることf)iで鎗る。
a>のようにデータ線と平行につき出た形状となってお
り、この部分にもMO8容量を作り込むことb;できる
次め、第1の実施例の約2倍の容量を付加することがで
きる。したがってより広い温度範囲で、よりコントラス
ト比が大きくフリッカ−の少ない高品質な表示画面を得
ることf)iで鎗る。
しかも1図4−μ)のように画素電極とデータ線のすき
間を覆うようKMO8容量を作り込むことにより、この
すき間からもれる光を遮断することができ1.″:Iン
トラスト比の増大に寄与する。
間を覆うようKMO8容量を作り込むことにより、この
すき間からもれる光を遮断することができ1.″:Iン
トラスト比の増大に寄与する。
〔実施例3〕
第6図Ca)は本発明の第3の実施例Kかける7クテイ
プマトリクスパネルの平面図であり、同図の)及び(c
)はそれぞれ同図上)のA−B及びO−Dにおける断面
図である。本実施例は第1および第2の実施例と異なり
、TIF’E’と異なる導電シのMO8容量を作り込む
。例えば、0M0a型のドライバーを内置し几アク≠イ
ブマトリクスパネルなどには有効である。
プマトリクスパネルの平面図であり、同図の)及び(c
)はそれぞれ同図上)のA−B及びO−Dにおける断面
図である。本実施例は第1および第2の実施例と異なり
、TIF’E’と異なる導電シのMO8容量を作り込む
。例えば、0M0a型のドライバーを内置し几アク≠イ
ブマトリクスパネルなどには有効である。
第5図を用いて本実施例のアクティブマトリクスパネル
の構造を説明する。まず絶縁基板81上にポリシリコン
またはアモルファスシリコン薄膜82及び88をデポジ
ットし図のようにパタ゛−二ングする。82けTFTの
チャネル部及びソースドレイン電極となり、88はMO
日容量を作り込む念めの電極となる。次にゲート絶縁膜
83を形成し、その上にゲート電極を兼ねる走査線84
を形成する。その後選択的にイオン注入を行ない、82
をNチャネルT’FTとし、88をPチャネルのMO8
#ヤパシタとする。以後の工程は実施例1と同じで、8
5け眉間絶縁膜、86け画素電監87けデータ線である
。
の構造を説明する。まず絶縁基板81上にポリシリコン
またはアモルファスシリコン薄膜82及び88をデポジ
ットし図のようにパタ゛−二ングする。82けTFTの
チャネル部及びソースドレイン電極となり、88はMO
日容量を作り込む念めの電極となる。次にゲート絶縁膜
83を形成し、その上にゲート電極を兼ねる走査線84
を形成する。その後選択的にイオン注入を行ない、82
をNチャネルT’FTとし、88をPチャネルのMO8
#ヤパシタとする。以後の工程は実施例1と同じで、8
5け眉間絶縁膜、86け画素電監87けデータ線である
。
本実施例において#−1tT’FTとMotif容量の
導電m ht aなりている。PチャネルのMOBJ?
+パシタのゲート電圧依存性は第3図のNチャネルの場
合と対称で、yo (V tんでCo 、 Wa )
V tんでa gso となる。従りてTFTのOF
Fする通常の状態では、vo<VtPL−t’あるから
、電極88と走査@84の重なっ比面積がすべて容量の
電極として働き、°本来のMO日容fcoが付加される
ことになる。この容1の犬弾さけ、画素電極86によっ
て駆動される液晶の容量の100〜200チ程度となり
、第1や第2の実施例に比べてけるかに大きい。従りて
その効果も大きくなる。ま九、前段の走査線が選択され
る期間は、MO日容量はOFF して重なり容量0g5
oの入となる友め、走査線の波形をなまらせることもな
く、容量を付加したことくよって駆動状態は変化しない
。
導電m ht aなりている。PチャネルのMOBJ?
+パシタのゲート電圧依存性は第3図のNチャネルの場
合と対称で、yo (V tんでCo 、 Wa )
V tんでa gso となる。従りてTFTのOF
Fする通常の状態では、vo<VtPL−t’あるから
、電極88と走査@84の重なっ比面積がすべて容量の
電極として働き、°本来のMO日容fcoが付加される
ことになる。この容1の犬弾さけ、画素電極86によっ
て駆動される液晶の容量の100〜200チ程度となり
、第1や第2の実施例に比べてけるかに大きい。従りて
その効果も大きくなる。ま九、前段の走査線が選択され
る期間は、MO日容量はOFF して重なり容量0g5
oの入となる友め、走査線の波形をなまらせることもな
く、容量を付加したことくよって駆動状態は変化しない
。
以上述べ比ようK、本発明によるアクティブマトリクス
パネルは工程を増やすことなく、画素に容量を作り込む
ことができる。容量を付加することkより、コントラス
ト比が増大し、フリッカ−は減少し、広い温習範囲で再
現性のよい画面を得ることができる。ま几、データ線と
画素電極の容置結合によるクロストークや1画面内での
絵素のバッツ千をおさえる効果もあり、総合的に画質は
向上する。
パネルは工程を増やすことなく、画素に容量を作り込む
ことができる。容量を付加することkより、コントラス
ト比が増大し、フリッカ−は減少し、広い温習範囲で再
現性のよい画面を得ることができる。ま几、データ線と
画素電極の容置結合によるクロストークや1画面内での
絵素のバッツ千をおさえる効果もあり、総合的に画質は
向上する。
第1図(α)け7クテイプマトリクスパネルの構造を示
す平面図、第1図の)、(c)はそのか方図。 第2図は従来の7クテイプマトリクスパネルの構造を示
す平面図。 第3図はNチャネルのMO8容量のゲート電圧依存性を
示す図。 第4図は7クテイプマトリクスパネルの各部の電位を示
す図。 第5 図b)、第6図社)はアクティブマトリクスパネ
ルの構造を示す平百図、第5図(6)、 (c)、第6
図のL(c)はその断面図。 2.62.82・・・・・・・・ポリシリコーンまたは
アモルファスシリコン薄膜 3.63.85・・・・・・・・ゲート絶縁膜4.64
.84・・・・・・・・走査線取 上 出頓人 セイコーエプソン株式会社 (b) 第1図 茅2図 ツ―卜を五− 第3図 第4図 (a)(す (b) 第5図 (び) (c) dノ 第6図
す平面図、第1図の)、(c)はそのか方図。 第2図は従来の7クテイプマトリクスパネルの構造を示
す平面図。 第3図はNチャネルのMO8容量のゲート電圧依存性を
示す図。 第4図は7クテイプマトリクスパネルの各部の電位を示
す図。 第5 図b)、第6図社)はアクティブマトリクスパネ
ルの構造を示す平百図、第5図(6)、 (c)、第6
図のL(c)はその断面図。 2.62.82・・・・・・・・ポリシリコーンまたは
アモルファスシリコン薄膜 3.63.85・・・・・・・・ゲート絶縁膜4.64
.84・・・・・・・・走査線取 上 出頓人 セイコーエプソン株式会社 (b) 第1図 茅2図 ツ―卜を五− 第3図 第4図 (a)(す (b) 第5図 (び) (c) dノ 第6図
Claims (4)
- (1)絶縁基板上に設けられた、走査線群、データ線群
、及び前記走査線とデータ線の支点に設けられた薄膜ト
ランジスタ(以下、TFTと略記)アレイによって画素
電極を駆動し、前記画素電極と対向電極との間の電界で
液晶を駆動して成るアクティブマトリクスパネルにおい
て、前記画素電極の前段の走査線の上部または下部にT
FTのチャネル部と同じ導電膜をゲート絶縁膜を介して
配置し、前記導電膜が前記画素電極に接続されていろこ
とを特徴とするアクティブマトリクスパネル。 - (2)前記導電膜の導電型が前記TFTと同じであるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のアクティブ
マトリクスパネル。 - (3)前記データ線と前記画素電極の間のすき間の一部
を前記導電膜または走査線の一部を用いて覆うような配
置としたことを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の
アクティブマトリクスパネル。 - (4)前記導電膜の導電型が前記TFTと異なることを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載のアクティブマト
リクスパネル。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP61215418A JPH0823640B2 (ja) | 1986-09-12 | 1986-09-12 | 液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP61215418A JPH0823640B2 (ja) | 1986-09-12 | 1986-09-12 | 液晶表示装置 |
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JP23270795A Division JP2626638B2 (ja) | 1995-09-11 | 1995-09-11 | アクティブマトリクスパネル |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPS6370832A true JPS6370832A (ja) | 1988-03-31 |
JPH0823640B2 JPH0823640B2 (ja) | 1996-03-06 |
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ID=16672007
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP61215418A Expired - Lifetime JPH0823640B2 (ja) | 1986-09-12 | 1986-09-12 | 液晶表示装置 |
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JP (1) | JPH0823640B2 (ja) |
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