JP4970924B2 - 光素子用パッケージとこれを用いた光半導体装置 - Google Patents
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Description
情報電子機器の主要部品である半導体レーザ装置においても、高い出力で、効率の高いレーザ発振が可能で、安価な半導体レーザ装置が求められている。
高速で大容量の記憶装置の一つとしてDVD−R/RW装置の需要が最近高くなっている。DVD−R/RW装置には高出力の半導体レーザが使用され、情報の高速処理には出力が高く、効率の高いAlGaInP/GaAs系材料を用いた半導体レーザの開発が進められている。このような半導体レーザを含む光半導体装置は高出力動作時における安定性能が求められるとともに、安価で効率の高い光半導体装置の開発が要請されている。
キャンパッケージの本体はステムと呼ばれ、そのステムはアイレットと呼ばれる金属製の円盤とこのアイレットに設けられた複数の透し孔に封止ガラスによって封止された電気信号を伝播するための棒状の数本のリード電極とアイレットの円盤面上に載置され光素子が接着されるブロックと呼ばれるマウントとで構成されている。
このようなキャンパッケージを用いた半導体レーザ装置に対して、さらに製造コストが低く、形状の自由度の高い樹脂モールド型の半導体レーザ装置が提案されてきている。
また、樹脂モールド型の半導体レーザ装置の第2の公知例としては、円筒形状の樹脂基台の平坦面中央部からレーザ素子を実装するリードフレームが垂直に突出し、このリードフレームの側面を上下対称な形状の樹脂材料で補強された半導体レーザ装置が開示されている。この半導体レーザ装置の構成は、設計の自由度が高め、コストが低減されるとともに、熱変形が少なくレーザ駆動時の発光点移動が小さいことが開示されている(例えば、特許文献2 [0010]、[0021]、[0035]及び図1参照)。
第2の公知例の場合では形成が容易な樹脂モールドを用いて従来のキャンパッケージのアイレットに相当する樹脂基台が形成されている。しかし金属のアイレットに比べてモールド樹脂は熱伝導率が著しく小さく、近年普及しつつある高出力タイプのLDでは放熱性に劣り、高温での変形に基づく光点移動などにより光学特性が低下する場合がある。
また、実施の形態としては光素子用パッケージにLDチップを装着したLD装置を例として説明する。
実施の形態1.
図1はこの発明の一実施の形態に係るLD装置の平面図である。図2は図1に示されたLD装置のII−II断面における矢視の断面図である。図3は図1の矢印IIIから見たLD装置の正面図である。図4は図1の矢印IVから見たLD装置の底面図である。図5はこの発明の一実施の形態に係るLD装置の金属基台とリード電極との位置関係を示す斜視図である。図6はこの発明の一実施の形態に係るLD装置の斜視図である。図において同じ符号は、同じものか相当のものであることを示す。
図1に示されるように、LD装置10はLDパッケージ12、このLDパッケージ12にサブマウント14を介して実装されたLDチップ16、このLDチップ16の電極(記載せず)とLDパッケージ12のリードピン18,20とを接続するワイヤ、例えばAuワイヤ22などから構成されている。
メタルフレーム24は0.4mmCu板が使用され外装は、例えばAgメッキされている。Agメッキの他に、Ni/AuやNi/Pd/Auなどの外装メッキでもかまわない。
図2、および図3に示されるように、このメタルフレーム24は外周が所定の形状、例えば円形をした基板26とこの基板26の第1の主面26aから所定の角度、例えば90度折り曲げて起立させた矩形状のダイパッド部28を有している。
ダイパッド部28を起立する際にこの実施の形態では一度に90度曲げることにより起立させているが複数回の曲げ加工を行うことにより、最終的に所定の角度、例えば90度まで起立させてもよい。
このようにアースリードピン20が基板26と同一のリードフレーム材から形成されることにより、メタルフレーム24の基板26とダイパッド部28とアースリードピン20とが、同一板材からプレス加工によって、一体的に型取り及び曲げ加工がなされて形成されているので(図5も参照)、コストの低減が可能となる。
さらに後に述べるようにアースリードピン20を埋め込む樹脂層の厚みは高々1.2mm程度である。アースリードピン20を埋め込む樹脂層の厚みを厚くとることができない場合には、切欠き部26bにおいて基板26とアースリードピン20とを溶接または接着により固着しておくことが必要となる。これに対してアースリードピン20を基板26と同一板材から曲げ加工により形成することは、メタルフレーム24が単に安価に形成されるに止まらず、アースリードピン20が必要とされる引き抜き強度をも確保することができる。
もちろんアースリードピン20を別部材で形成し、基板26の切欠き部26bに電気的に導通するように溶接などで接合してもかまわない。
リード電極挿入溝32は、基板26と交差するダイパッド部28の両側面に沿って二つ配設され、第1の開口部としてのダイパッド溝32aと、このダイパッド溝32aに連続し基板26に設けられた第2の開口部としての基板孔32bとで構成されている。
図1、図2及び図5に示されるように、リード電極挿入溝32にはシグナルリードピン18の一端が挿入される。この実施の形態ではシグナルリードピン18のダイパッド部28側の一部がリード電極挿入溝32に挿入され、メタルフレーム24の基板26の第1の主面26aから少し突出した状態に配設される。
シグナルリードピン18の、基板26の第1の主面26aから少し突出した部分が、Auワイヤ22のボンディングパッド18aとなる。またダイパッド部28とは反対側に位置するリードピン18は長く延長され、実装基板であるフイルム基板の電極に挿入される基板挿入部18bとなる。またアースリードピン20もリードピン18の基板挿入部18bに隣接する部分が基板挿入部20bとなる。
また一直線状のシグナルリードピン18に替えて一部段付き形状に曲がった部分を有する形状、すなわちクランク形状にしたり、リードピンに突起を形成したりすることにより、リードピンの引き抜き強度を増大することができる。
さらにリード電極挿入溝32にダイパッド溝32aを形成せず、基板孔32bのみを設け、この基板孔32bにシグナルリードピン18を挿入し、基板孔32bから突出した部分をボンディングパッド18aとする構成であってもかまわない。
さらにダイパッド部28の両側面に開口部としてのダイパッド溝32aも基板孔32bも形成せずに、基板26の下を潜ってダイパッド部28の側面に並行して、シグナルリードピン18の一部を基板26から突出させ、突出した部分をボンディングパッド18aとする構成であってもかまわない。
さらに図2に示されるチップ載置面28aの裏側をチップ載置面とし、このチップ載置面に沿ってシグナルリードピン18を突出させ、突出した部分をボンディングパッド18aとする構成であってもかまわない。
また、このこの実施の形態では、2本のシグナルリードピン18と1本のアースリードピン20とを含む3本のリードピンを有する構成について説明したが、メタルフレーム24と同一部材で構成したアースリードピン20やメタルフレーム24と別部材で構成し溶接などで接合したアースリードピン20を設けないで、シグナルリードピン18を2本とし、一方をシグナルリードピンとし他方をアースリードピンとする構成にしても良い。
図1に示されるように、樹脂基台40は一方の面がメタルフレーム24の基板26の第2の主面26c、すなわち第1の主面26aの裏側の主面、に密着するとともに他方の表面40aが平らになった板状で、所定の外形形状、例えば円弧を含む形状を呈し、樹脂基台40は円盤状をしている。基板26と樹脂基台40とを合わせた厚みW1はおおよそ1.2mm程度である。
この樹脂基台40の表面40aからシグナルリードピン18の基板挿入部18bおよびアースリードピン20の基板挿入部20bが突出している。
そしてこの実施の形態では基板26の外周円の半径と樹脂基台40の外周円の半径とを同じにしているが、基板26の外周円の半径が樹脂基台40の外周円の半径より大きくなってもかまわない。
また樹脂基台40の外周円の半径が基板26の外周円の半径よりも大きくなったとしても樹脂基台40の熱変形によるLD発光点の光点移動に影響を及ぼさない程度であれば、樹脂基台40の外周円の半径が基板26の外周円の半径よりも大きくなってもかまわない。
なおこの実施の形態ではメタルフレーム24の基板26及び樹脂基台40の外周形状を円弧を含む形状として説明したが、他の形状でもかまわない。この場合樹脂基台の外周がメタルフレームの基板の外周からはみ出たとしても、樹脂基台の熱変形によるLD発光点の光点移動に影響を及ぼさない程度であればかまわない。
また切欠き部などの限定された箇所が互換の対称となるキャンパッケージのステムと同様の箇所に形成されるだけでもかまわない。
またこの実施の形態では樹脂基台40は基板26の第2の主面26cと密着するように構成されているが、基板26の第1の主面26aに密着するように樹脂基台40を配置してもかまわない。
このダイパッド部28の中央部にチップ載置面28a(図2、図3も参照)が設けられ、チップ載置面28aにはサブマウント14を介してLDチップ16が搭載されている。サブマウント14の寸法は0.6mm×1.47mm×0.24mm程度で、例えば窒化アルミニウム(AlN)により形成される。ダイパッド部28へのサブマウント14の接合およびLDチップ16のサブマウント14へのダイボンドは、例えばAuSnはんだ(融点280℃)が用いられる。この他SnAgCuやSnPbなどの他のはんだや、Agペースト等の導電性接着剤を用いてもよい。
またこの実施の形態では樹脂モールド部25の一部として保護壁42を設けたが、樹脂モールド部25に保護壁を設けずに、ダイパッド部28の両側面をチップ載置面28a側に起立させることにより保護壁としてもかまわない。
またこの実施の形態では保護壁42はダイパッド部28の両側面を表裏から埋め込むように形成されているが、ダイパッド部28の裏面すなわちチップ載置面28aでない方の面を完全に露呈することにより放熱性を向上させることが可能となる。
またこの実施の形態では、液晶ポリマーを用いたが、この他にPPSなどのインジェクションモールド用熱可塑性樹脂、トランスファモールド樹脂、封着用低融点ガラスなどを用いてもかまわない。
図7に示されるメタルフレーム50のリード電極挿入溝32はダイパッド部28の両側面に沿って配設された二つのダイパッド溝32aと、このダイパッド溝32aに連続し基板26に設けられた第2の開口部としてのスリット32cが設けられている。先に説明したメタルフレーム24においては、ダイパッド溝32aに連続して基板26に貫通孔である基板孔32bが設けられていたのに対して、メタルフレーム50では基板26の外周面から直接にダイパッド溝32aに達する、ダイパッド溝32aと同じ幅の切欠き形状をしたスリット32cが設けられている。メタルフレーム50をこのような形状にすることにより、リード電極挿入溝32に挿入されるシグナルリードピン18とメタルフレーム50とを一枚の板材で型取りすることができるので、さらにコスト低減を図ることが可能となる。
図8に示されるメタルフレーム70は、リード電極挿入溝が設けられていない。ダイパッド部28から基板26側に、樹脂基台40の厚みに相当する幅を有するダイパッド延長部72がダイパッド部28と同じ平面を共有して連続して設けられている。このダイパッド延長部72の両側には翼端(ウイング)72aが設けられている。この翼端72aはダイパッド延長部72の両側においてチップ載置面28aの側に折り曲げられて、チップ載置面28aの側に起立している。基板26はダイパッド延長部72の翼端72a各々に対向してチップ載置面28aの側に起立している。基板26の中央部は外周面からダイパッド延長部72の表面まで、大きく切り込まれた切欠き部26dとなっている。
この切欠き部26dにおけるダイパッド延長部72の中央部にアースリードピン20がダイパッド部28およびダイパッド延長部72と同じ平面を共有して連続して同じ板材で一体的に形成されている。アースリードピン20は基板26に対してダイパッド部28とは逆の方向に一直線状に延長されている。
ダイパッド延長部72を構成する板材の断面であるアースリードピン20の両側部は、樹脂基台40がダイパッド延長部72の表裏を埋めるようにモールドされたとしても、外部に露呈される箇所として残される。この幅(W2)はアースリードピン20の幅の約150%以上であり、放熱性を高めることが可能となるので、リードピンの引き抜き強度を増大させることが可能となる。
またアースリードピン20の両側に沿ってシグナルリードピン18が配設され、アースリードピン20に隣接して延長されている。二本のシグナルリードピン18の一端はダイパッド延長部72とダイパッド部28の一部の上方に重なるように配設されている。なおシグナルリードピン18はダイパッド延長部72およびダイパッド部28と離隔されて配設されている。またシグナルリードピン18は一直線状ではなく、一部段付き形状に曲がった部分を有する形状、すなわちクランク形状にすることにより、リードピンの引き抜き強度を増大させている。
図9において、LD装置76におけるLDパッケージ77は図8に示されたメタルフレーム70、およびシグナルリードピン18が使用されている。樹脂モールド部25は樹脂基台40と保護壁42を有し、これらを介してメタルフレーム70とシグナルリードピン18とを機械的に安定して固定することは、LDパッケージ12の場合と同様である。
樹脂基台40は、基板26の第1の主面26aの側に配設され、第1の主面26aに密着し、ダイパッド延長部72の表裏面および2本のシグナルリードピン18を埋め込むように形成される。但し先に述べたように突出したアースリードピン20の根元の両側部はモールド樹脂には埋め込まれず露呈している。
ダイパッド延長部72の最大幅W3(図8参照)は翼端72aの幅W4(図8参照)と基板26の厚みW5(図8参照)との和にほぼ等しく、これはまた樹脂基台40の最大幅W6(図9参照)にほぼ等しい。このような構成であるので円盤状の樹脂基台40の両主面から翼端72aの側面と基板26とを露呈させることが可能となり、これにより樹脂基台40の変形を防止することができる。
また翼端72aが樹脂基台40の外周面を覆っていることにより、樹脂基台40の外周面の変形を防止することができる。さらに樹脂基台40の外周面の外側に金属部分が露呈されることにより、位置決め基準となる面精度を向上させることが可能となる。
基板26の第2の主面26cとこの基板26の第2の主面26cに隣接する樹脂基台40の表面40bとはほぼ同じ平面を共有し、樹脂基台40の平らな表面40bからシグナルリードピン18およびアースリードピン20が突出し、シグナルリードピン18の基板挿入部18bおよびアースリードピン20の基板挿入部20bを形成している。
樹脂基台40のもう一方の表面である、ダイパッド部28側の表面40cからは、シグナルリードピン18の一端が突出し、この突出した部分がボンディングパッド18aとなっている。
ダイパッド部28の中央部にチップ載置面28aが設けられ、チップ載置面28aにはサブマウント14を介してLDチップ16が搭載され、LDチップ16の電極とアースリードピン20につながるチップ載置面28aやボンディングパッド18aとがAuワイヤ22により接続されていることはLD装置10と同様である。
図11に示されるメタルフレーム90はダイパッド部28の両側のほぼ全長にわたって突起部としての翼端(ウイング)92が設けられている。この翼端92はチップ載置面28aの側に折り曲げられて、例えばチップ載置面28aから90度の角度でチップ載置面28aの側に起立している。
アースリードピン20はダイパッド部28と同じ平面を共有して同じ板材で一体的に形成されており、ダイパッド部28のほぼ中央線上に延在している。
ダイパッド部28の両側部は一部切り欠かれており、翼端92がダイパッド部28に接続している接続長は、ダイパッド部28の幅方向の中央部におけるダイパッド部28の先端からアースリードピン20の取り付け部までの長さよりも短い。しかし翼端92の全長はダイパッド部28の先端からアースリードピン20の取り付け部までの長さと同程度の長さを有しているので、翼端92の一部はアースリードピン20の延長方向にオーバーハングしている。
このオーバーハングしている両翼端92の先端部にそれぞれ、基板26が一体的に接続され、ダイパッド部28の外側の方向に起立している。翼端92の外側面92aと基板26の第1の主面26aとの角度は、たとえば90度である。
これに対して、図11に示されたメタルフレーム90においては、基板26は翼端92の先端において、翼端92と一体的に接続され、基板26は翼端92を介してダイパッド部28と一体的に接続されている。
またアースリードピン20は、基板26に対してダイパッド部28とは逆の方向に一直線状に延長されている。そしてアースリードピン20の両側に沿ってシグナルリードピン18が配設され、アースリードピン20に隣接して延長されている。
二本のシグナルリードピン18の一端はダイパッド部28の一部の上方に重なるように配設され、翼端92の内側面92bに沿って配置されている。すなわち二本のシグナルリードピン18は基板26の両主面から突出している。
なおシグナルリードピン18はダイパッド部28と離隔されて配設されている。またシグナルリードピン18は図11では一直線状であるが、必ずしも一直線状でなくてもよく、図8に示されたシグナルリードピン18と同様に、一部段付き形状に曲がった部分を有する形状、すなわちクランク形状にすることにより、リードピンの引き抜き強度を増大させることができる。
このように構成されたメタルフレーム90においては、ダイパッド部28、両翼端92、および基板26を一枚の金属板材から切り抜き、両翼端92、および基板26を折り曲げることによって形成することができる。このため鋳造や鍛造によってメタルフレームを形成するよりも安価に形成することができる。
しかもダイパッド部28の両側部は一部切り欠かれており、この切欠き部分を含めてアースリードピン20に沿ってシグナルリードピン18の型取りをすれば、原料板材をより効率的に利用することができる。
また、ダイパッド部28の両側に起立した翼端92を有しているのでダイパッド部28の曲げ剛性が高められ、加熱時におけるダイパッド部28の熱変形を抑制することができる。
図12において、LD装置96におけるLDパッケージ98は図11に示されたメタルフレーム90、およびシグナルリードピン18が使用されている。
樹脂モールド部25は樹脂基台40と保護壁42を有し、樹脂基台40と保護壁42は翼端92を覆うように形成されている。ダイパッド部28の裏面、すなわちチップ載置面28aの裏側も樹脂により覆われ、樹脂モールド部25に含まれている。これらを介してメタルフレーム90とシグナルリードピン18とを機械的に安定して固定することは、LDパッケージ12の場合と同様である。
この実施の形態におけるLD装置96では、ダイパッド部28の裏面、すなわちチップ載置面28aの裏側も樹脂により覆われているが、ダイパッド部28の両側に翼端92が形成されているので、ダイパッド部28の曲げ剛性が高められ、必ずしもダイパッド部28の裏面に樹脂による突起部を設ける必要がないから、ダイパッド部28の裏面を露呈させてもかまわない。ダイパッド部28の裏面を露呈させることにより放熱性を高めることができる。
またこの実施の形態におけるLD装置96では、翼端92が樹脂により覆われているが、一部を露呈させることにより、LDチップ16の発熱を効率よく放熱することが可能になる。
またこの実施の形態におけるLD装置96では、ダイパッド部28は長方形領域であるが、基板26側に拡がった台形形状にすることにより放熱性の向上を図ることができる。
樹脂基台40は、基板26の第1の主面26aの側に配設され、第1の主面26aに密着し、翼端92の一部および2本のシグナルリードピン18を埋め込むように形成される。但し先に述べたように突出したアースリードピン20の根元の両側部はモールド樹脂には埋め込まれず露呈している。
樹脂基台40のもう一方の表面である、ダイパッド部28側の表面40cからは、シグナルリードピン18の一端が突出し、この突出した部分がボンディングパッド18aとなっている。
ダイパッド部28の中央部にチップ載置面28aが設けられ、チップ載置面28aにはサブマウント14を介してLDチップ16が搭載され、LDチップ16の電極とアースリードピン20につながるチップ載置面28aやボンディングパッド18aとがAuワイヤ22により接続されていることはLD装置10と同様である。
基板26の第2の主面26cは外部に露呈しており、この実施の形態におけるLD装置96では、基板26は翼端92の先端において、翼端92と一体的に接続され、基板26は翼端92を介してダイパッド部28と一体的に接続されているので、この経路を経由してLDチップ16の発熱がダイパッド部28から基板26に伝導され、基板26から効率よく放熱される。
図10において、LD装置10のシグナルリードピン18とアースリードピン20が実装基板、例えばフレキシブル基板54に装着されている。フレキシブル基板54の基板本体56は、例えばポリイミドからなるフィルムで、表面には配線層(図示せず)が設けられている。フレキシブル基板54の部分が断面図で示されている。
この配線層と接続されているスルーホール58が基板本体56に設けられ、このスルーホール58にシグナルリードピン18とアースリードピン20が挿入され、はんだ60によりシグナルリードピン18またはアースリードピン20とスルーホール58とが接合されている。
シグナルリードピン18やアースリードピン20とスルーホール58とが半田により接合された後、フレキシブル基板54の裏面から突出しているリードピンは切断し除去される。
このように実装されたLD装置10においては、LDパッケージ12を構成する樹脂基台40は円盤状であるので平らな表面40aを有している。
この平らな表面40aからシグナルリードピン18およびアースリードピン20が直接突出している。このためにフレキシブル基板54は樹脂基台40の表面40aに密着させることができる。
従ってLD装置10のLDチップ16からフレキシブル基板54の配線層までの距離を短くすることができるので、インダクタンスが小さくなりこの部分でのインピーダンスを最適化することが容易になる。したがってこのLDパッケージ12を使用したLD装置10においては高周波特性の向上を図ることが可能となる。
なお図10において、一例としてLD装置10について説明したが、LD装置76およびLD装置96でも同様の効果を奏する。
また、メタルフレーム24,或いは50は、基板26とこの基板から90度に折り曲げて起立させたダイパッド部28とを一枚の金属板を用いて、プレス加工により形成することができる。従って鋳造や鍛造に比べてメタルフレームを安価に製造することが可能となる。
メタルフレーム24,或いは50はダイパッド部28にダイボンドされるLDチップ16からの発熱を効果的に放熱するための冷却面積を広く確保することができるので、LD装置10の温度上昇を低く抑えることができる。
また樹脂モールド部25は樹脂基台40と保護壁42を介してメタルフレーム24とアースリードピン20およびシグナルリードピン18とを機械的に安定して固定するとともに、メタルフレーム24のリード電極挿入溝32にシグナルリードピン18を挿入して樹脂成形されているので、メタルフレーム24とシグナルリードピン18とを強固に固定することができる。延いては高温での引き抜き強度の高い電極リードを形成することができる。
またこのLDパッケージ12は樹脂モールドにより成型されるのでより安価に、また設計の自由度の高い形状に構成することができる。
またメタルフレーム24の基板26の外形や樹脂基台40の外形を円弧を含む形状とすることにより、従来の構造であるパッケージの金属ステムとの互換性を保持することができる。
また樹脂モールドだけでアイレットに相当する部分を構成する場合では、樹脂基台を介して加熱を行いダイパッド部のはんだダイボンドを行うダイボンド装置を使用する場合などでは、樹脂基台の熱伝導率が低いために伝熱の不足からダイパッド部の温度上昇が阻害され、良好なはんだ付に時間がかかる場合があるが、LDパッケージ12においては金属製の基板26を備えているので、ダイパッド部の加熱を効率的に行うことができるので、はんだダイボンディングに要する時間を短くすることができる。
また同様に樹脂モールドだけでアイレットに相当する部分を構成する場合では、樹脂基台を介して超音波を伝播させワイヤボンドを行う際には、樹脂基台における超音波の減衰が激しく良好なワイヤボンドを行うことが困難な場合があるが、LDパッケージ12においては金属製の基板26を備えているので、超音波を効率的に伝播させてワイヤボンドを行うことができ、ワイヤボンド工程を効率よく実施することができる。
また樹脂モールドだけでアイレットに相当する部分を構成する場合では、樹脂基台の成型の際に金型の抜き方向によっては切欠き部が自由に形成できない場合があるが、LDパッケージ12においては金属製の基板26を備えており、この基板26にサイド切欠き34を設けることができるので、金型の抜き方向に対する自由度を高くすることができる。
このように、樹脂モールドだけでアイレットに相当する部分を構成する場合に比べて、LDパッケージ12ではメタルフレーム24の基板26と樹脂基台40とにより従来のアイレットに相当する部分を構成しているので、LDパッケージ12の製造コストの低減を図ることが可能となる。
ここでは、LDパッケージ12について説明したが、LDパッケージ77およびLDパッケージ98でも同様の効果を奏する。
またさらに、金属基台のダイパッド部がその両側部に沿って延在する突起部を有するとともに、この突起部を介してダイパッド部と金属基台の基板とが一体的に結合されたので、ダイパッド部の曲げ剛性が高くなり加熱によるダイパッド部の変形を抑制することができ、ダイパッド部から基板への効率よい熱伝導経路を確保することができる。
またさらに、金属基台の基板または樹脂封止部の基部の一方の外周の形状が円弧を含むので、従来構造である金属ステムとの互換性を確保することができる。
またさらに、樹脂封止部の基部の外周が金属基台の基板の外周形状に沿った形状を有するとともに、樹脂封止部の基部の外周が金属基台の基板の外周と並行して位置するかまたは基板の外周よりも内側に位置するので、外部光学系に対して動作時の温度上昇に基づく熱変形による光素子の位置変動を少なくすることができる。
またさらに、樹脂封止部の基部と一体的に構成された側壁部をさらに有するとともに、この側壁部が金属基台のダイパッド部中央表面を露呈したまま残してダイパッド部側面に沿って所定の厚みで延在し、その表面の一部に金属基台の基板の主面から突出した第1のリード電極の表面が露呈されたので、樹脂封止部と金属基台とがより強固に固着され、第1のリード電極を含めてより確実な機械的な固定が実現される。
またさらに第2のリード電極が金属基台の基板と連続する金属板で一体的に構成されたので、金属基台と第2のリード電極とをより強固に固定することができるとともに、より安価な構成とすることができる。
またこの実施の形態に係る光半導体装置においては、上述のいずれかの光素子用パッケージと、この光素子用パッケージのダイパッド部表面上に台座を介して配設されるとともに第1のリード電極と、もしくは第1のリード電極または第2のリード電極と、電気的に接続された所定の電極を有する半導体レーザ素子と、を備えたので、上述の光素子用パッケージの特性を備えるとともに高周波伝播損失が少なく高周波特性のよい安価な光半導体装置を構成することができる。
Claims (6)
- 主面を有する金属板で構成され所定の外形を有する基板、この基板と連続する金属板で一体的に構成されるとともに上記基板の主面に対して所定の角度で屈曲されたダイパッド部、およびこのダイパッド部の両側に、上記ダイパッド部の光素子載置面の側に所定の角度で起立する突起部を有する金属基台と、
この金属基台の上記基板の主面と所定の角度で交差し、両端が上記基板の両主面より突出するとともに上記金属基台と離隔して配設された第1のリード電極と、
前記金属基台の前記基板の主面と所定の角度で交差し、前記基板に対して前記金属基台の前記ダイパッド部と逆方向に延在し、前記基板の主面よりも突出した部分を有するとともに上記金属基台と電気的に接続されたアースリード電極と、
上記基板のダイパッド部側の主面に密着し、上記基板のもう一方の主面を露呈し、少なくとも上記突起部の一部を覆い、上記基板に沿って配設された板状の基部を有し、この基部から上記基板に対して上記ダイパッド部と同方向に突出した上記第1のリード電極の表面の一部を露呈する露呈部と上記ダイパッド部の光素子載置部分の表裏と上記基板の外周とを残して上記第1のリード電極の周囲を埋設し、上記金属基台と第1のリード電極とを固着した樹脂封止部とを備え、
上記樹脂封止部の基部の外周が上記金属基台の上記基板の外周形状に沿った形状を有するとともに、上記樹脂封止部の上記基部の外周が上記金属基台の上記基板の外周と並行して位置するかまたは上記基板の外周よりも内側に位置することを特徴とした光素子用パッケージ。 - 前記基板が前記ダイパッド部と直接に一体的に結合されたことを特徴とする請求項1記載の光素子用パッケージ。
- 前記突起部を介して前記ダイパッド部と前記金属基台の前記基板とが一体的に結合されたことを特徴とする請求項1記載の光素子用パッケージ。
- 前記樹脂封止部の前記突起部の一部を覆う部分である側壁部が前記金属基台の前記ダイパッド部中央表面を露呈したまま残して前記ダイパッド部の側部に沿って所定の厚みで延在し、その表面の一部に前記金属基台の前記基板の主面から突出した前記第1のリード電極の表面が露呈されたことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の光素子用パッケージ。
- 前記アースリード電極が前記金属基台の前記基板と連続する金属板で一体的に構成されたことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の光素子用パッケージ。
- 請求項1乃至5のいずれか1項に記載の光素子用パッケージと、
この光素子用パッケージの前記ダイパッド部表面上に台座を介して配設されるとともに前記第1のリード電極または前記アースリード電極と、電気的に接続された所定の電極を有する半導体レーザ素子と、
を備えた光半導体装置。
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US20080303127A1 (en) * | 2007-06-05 | 2008-12-11 | Mitsubishi Electric Corporation | Cap-less package and manufacturing method thereof |
JP5355867B2 (ja) * | 2007-07-10 | 2013-11-27 | ローム株式会社 | 集積回路素子 |
JP2009302431A (ja) * | 2008-06-17 | 2009-12-24 | Panasonic Corp | 光半導体装置用パッケージと製造方法および光半導体装置 |
CN101673722A (zh) * | 2008-09-10 | 2010-03-17 | 日月光半导体制造股份有限公司 | 导线架 |
DE102010046088A1 (de) | 2010-09-20 | 2012-03-22 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Gehäuse und Verfahren zum Herstellen eines Gehäuses |
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JP5787557B2 (ja) * | 2011-03-08 | 2015-09-30 | シチズンホールディングス株式会社 | 光装置 |
JP6127561B2 (ja) * | 2013-02-13 | 2017-05-17 | 三菱電機株式会社 | 半導体受光装置 |
US9300112B2 (en) * | 2013-12-18 | 2016-03-29 | Lumentum Operations Llc | Packaged laser diode and method of packaging a laser diode |
JP6430160B2 (ja) * | 2014-07-07 | 2018-11-28 | 日本オクラロ株式会社 | 光モジュール及び光モジュールの製造方法 |
JP6319257B2 (ja) * | 2015-09-30 | 2018-05-09 | ウシオ電機株式会社 | 半導体レーザ装置 |
JP6572803B2 (ja) * | 2016-03-09 | 2019-09-11 | 三菱電機株式会社 | 半導体レーザ装置 |
US10295768B2 (en) * | 2016-07-08 | 2019-05-21 | Finisar Corporation | Chip on leadframe optical subassembly |
TWI669029B (zh) * | 2016-11-11 | 2019-08-11 | 日商京瓷股份有限公司 | Package for mounting an electric component, array package, and electrical device |
CN110651405B (zh) * | 2017-05-17 | 2021-06-11 | 三菱电机株式会社 | 光模块 |
US11309680B2 (en) * | 2017-09-28 | 2022-04-19 | Nichia Corporation | Light source device including lead terminals that cross space defined by base and cap |
CN107919338A (zh) * | 2017-12-20 | 2018-04-17 | 苏州市悠文电子有限公司 | Pcb板led晶片插件组件 |
CN108390255A (zh) * | 2018-02-22 | 2018-08-10 | 青岛海信宽带多媒体技术有限公司 | 光学次模块及光模块 |
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JP7166874B2 (ja) * | 2018-10-25 | 2022-11-08 | 古河電気工業株式会社 | 光モジュール実装基板および容器実装基板 |
US20200136611A1 (en) | 2018-10-30 | 2020-04-30 | Excelitas Canada, Inc. | High Speed Switching Circuit Configuration |
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JP6784793B2 (ja) * | 2019-04-12 | 2020-11-11 | 株式会社フジクラ | レーザモジュール及びその製造方法 |
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JP7382872B2 (ja) * | 2020-03-24 | 2023-11-17 | 新光電気工業株式会社 | 半導体パッケージ用ステム、半導体パッケージ |
JP7124987B2 (ja) * | 2020-07-30 | 2022-08-24 | 日本電信電話株式会社 | 高周波パッケージの製造方法 |
EP3965147A1 (en) * | 2020-09-03 | 2022-03-09 | Schott Ag | Header for an electronic or opto-electronic component and process for manufacturing of such |
CN117458256B (zh) * | 2023-10-25 | 2024-05-07 | 无锡市博精电子有限公司 | To管座以及to管座的制备方法 |
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US6274924B1 (en) * | 1998-11-05 | 2001-08-14 | Lumileds Lighting, U.S. Llc | Surface mountable LED package |
JP2000357839A (ja) * | 1999-06-16 | 2000-12-26 | Sanyo Electric Co Ltd | レーザ装置 |
JP2001332799A (ja) * | 2000-05-19 | 2001-11-30 | Rohm Co Ltd | モールド型半導体レーザ |
KR100542336B1 (ko) * | 2000-07-17 | 2006-01-11 | 산요덴키가부시키가이샤 | 반도체 레이저장치 |
JP3712623B2 (ja) * | 2001-02-01 | 2005-11-02 | シャープ株式会社 | 半導体レーザパッケージ、その製造方法および光ピックアップ装置 |
JP3607220B2 (ja) * | 2001-06-06 | 2005-01-05 | 松下電器産業株式会社 | 半導体レーザ装置 |
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KR100526504B1 (ko) * | 2003-06-04 | 2005-11-08 | 삼성전자주식회사 | 광소자 모듈 패키지 및 그 제조 방법 |
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