JP6127561B2 - 半導体受光装置 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 73
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 12
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 11
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 6
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical group [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 4
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 4
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 claims description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 claims description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 21
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 21
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 6
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012466 permeate Substances 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
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-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/0204—Compact construction
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
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- H10F77/50—Encapsulations or containers
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48135—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
- H01L2224/48137—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/484—Connecting portions
- H01L2224/48463—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
- H01L2224/48465—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
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- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
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Description
[実施の形態の装置の構成]
図1は、本発明の実施の形態にかかる半導体受光装置10の外観構成を示す図である。半導体受光装置10は、いわゆるCANパッケージであり、キャップ12と、ヘッダ20と、キャップ12でカバーされたヘッダ20内の実装部品を備えている。キャップ12は、ガラス製の窓14を備えており、窓14を介して内部の半導体受光素子APDで受光する。キャップ12は金属製のキャップである。ヘッダ20とキャップ12は、キャップ12の鍔部とヘッダ20の鍔部20aとが電気溶接により固着され、キャップ12に覆われた内部は気密封止されている。封止ガスは、空気、ドライガス又は窒素などである。なお、キャップ12が樹脂製である場合は、ヘッダ20に接着剤で接着される。
また、本実施の形態では高周波アンプAMPとサブマウントSBの上面高さがほぼ同じである。このため、サブマウントSB上に2ndボンドを形成することで、高周波GND用のワイヤ53を非常に短くできる。その結果、ワイヤ53のインピーダンス(特にインダクタンス)を低減でき高速応答が可能となる。
図6は、本発明の実施の形態にかかる半導体受光装置10の変形例の構成を示す図である。サブマウントSBと高周波アンプAMPの高さが異なる場合であっても、第2の差hは第1の差Hよりも小さいことが好ましい。H>hであるため、上面20cにボンディングするよりも小さな高低差である第2の差hでワイヤボンディングできるようになり、ワイヤボンディング時におけるボンディング位置の高低差を抑制できる。結果、ワイヤボンド作業の難易度が下がるという利点がある。
図14のように、電極パッド66をより大面積な電極パッド200に変更しても良い。これに応じて、電極パッド67を電極パッド202に変更し、半導体受光素子APDを電極パッド202の高周波アンプAMP寄りの端にボンディングしてもよい。
図15のように、2つの電極パッド204、206を、ともに長さLA方向に伸びる長方形に形成したものとしても良い。そして、2つの電極パッド204、206を長さLB方向に平行に並べても良い。図15では高周波アンプAMP側に電極パッド206を設けている。
例えば、図16のように、平面視で、折れ曲がり部208cを備える電極パッド208を設けても良い。電極パッド208は、長さLB方向に伸びる第1部分208aと、長さLA方向に伸びる第2部分208bとを備え、これらの部分が折れ曲がり部208cにおいて角度90度で連結されている。また、電極パッド67に代えて電極パッド210が一回り小さく形成されている。
また、図17に示すように、平面視で、凹型の電極パッド212を設けても良い。電極パッド212は、サブマウントSBの図面左側端に配置された長さLB方向に伸びる第1部分212aと、サブマウントSBの高周波アンプAMP側と反対側の端に配置された長さLA方向に伸びる第2部分212bと、サブマウントSBの図面右側端に配置された長さLB方向に伸びる第3部分212eと、を備えている。第3部分212eは、第1部分212aと比べて、LB方向の長さが短く、かつLA方向の幅が太い。これらの3つの部分が折れ曲がり部212cおよび212dを介してそれぞれ角度90度で連結されている。この凹部の凹んだ位置に入り込むように電極パッド214が形成されており、電極パッド214はちょうど電極パッド212で囲まれるようにサブマウントSBの中央付近に配置された主部214aを備えている。この主部214aに半導体受光素子APDがボンディングされている。また、電極パッド214は第3部分212e側に突き出た凸部214bを備えている。
なお、上記変形例では、ワイヤ53を介して高周波グランドパッド62と電気的に接続される電極パッド66を、折れ曲がり部を備えるL字型や凹型の電極パッドに変更した。しかしながら、折れ曲がり部以外にも、電極パッドの一部を部分的に突き出た形状とした凸部を設けてもよい。この折れ曲がり部と凸部の両方を設けても良い。
図22乃至24は、本発明の実施の形態にかかる半導体受光装置に対する比較例を示す図である。この比較例は、ワイヤ53に代えてワイヤ353が設けられている点およびサブマウントSBに電極パッド66が設けられていない点を除き、実施の形態の変形例にかかる半導体受光装置90と同様の構成を備えている。ワイヤ353は、高周波アンプAMPの高周波グランドパッド62にその一端がファーストボンドされ、その他端がヘッダ20の上面20cにセカンドボンドされている。
Claims (7)
- 導電性材料で形成されたヘッダと、
前記ヘッダ上に設けられ、上面を有しこの上面に高周波グランドパッドが備えられた高周波アンプと、
前記ヘッダ上に設けられ、誘電体材料で形成され、上面を有するサブマウントと、
前記サブマウントの上面に設けられ、前記サブマウントの上面よりも小さな平面寸法を有する半導体受光素子と、
を備え、
前記サブマウントの上面は、前記半導体受光素子がボンディングされた第1電極パッドと、前記第1電極パッドの隣に前記第1電極パッドから離れて設けられた第2電極パッドを有し、
前記第2電極パッド、前記ヘッダ、および前記第2電極パッドと前記ヘッダとで挟まれた前記サブマウントにより、キャパシタが構成され、
前記高周波グランドパッドと前記第2電極パッドとがワイヤで接続されたことを特徴とする半導体受光装置。 - 前記ヘッダの上面に垂直な方向を高さ方向とした場合に、前記ヘッダの上面と前記高周波グランドパッドの上面との間の高さの差を第1の差とし、前記高周波グランドパッドの上面と前記第2電極パッドとの間の高さを第2の差とし、前記第2の差は前記第1の差よりも小さいことを特徴とする請求項1に記載の半導体受光装置。
- 前記高周波アンプと前記サブマウントが接するように、前記高周波アンプと前記サブマウントは前記ヘッダ上に隣接して配置されたことを特徴とする請求項1または2に記載の半導体受光装置。
- 前記ヘッダは、凹部を備え、
前記凹部は、底面および前記底面を囲む側面を備え、前記底面と前記側面とが成す角度が90度を超えるように前記底面と前記側面とが連結しており、
前記底面上に、前記高周波アンプおよび前記サブマウントが設けられており、
前記ヘッダの上面の平面視において、前記凹部の外周の縁と前記高周波グランドパッド上において前記ワイヤが接続された接続点との間の距離を第1距離とし、前記接続点と前記第2電極パッド上において前記ワイヤが接続された接続点との間の距離を第2距離とし、前記第2距離は前記第1距離よりも小さいことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の半導体受光装置。 - 前記ヘッダは表面に金メッキが施されており、
前記高周波アンプおよび前記サブマウントの少なくとも一方は、銀およびバインダー樹脂を含む銀ペーストにより、前記ヘッダ上にボンディングされていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の半導体受光装置。 - 前記第2電極パッドの平面形状は、前記サブマウントの上面の平面視で、折れ曲がり部と凸部の少なくとも一方を備えることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の半導体受光装置。
- 前記第2電極パッドは、導電体パターン部と抵抗パターン部とを有することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の半導体受光装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013025660A JP6127561B2 (ja) | 2013-02-13 | 2013-02-13 | 半導体受光装置 |
US14/065,477 US9329077B2 (en) | 2013-02-13 | 2013-10-29 | Semiconductor photodetector device |
CN201310614577.7A CN103985768B (zh) | 2013-02-13 | 2013-11-28 | 半导体光接收装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013025660A JP6127561B2 (ja) | 2013-02-13 | 2013-02-13 | 半導体受光装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014154823A JP2014154823A (ja) | 2014-08-25 |
JP2014154823A5 JP2014154823A5 (ja) | 2016-01-21 |
JP6127561B2 true JP6127561B2 (ja) | 2017-05-17 |
Family
ID=51277667
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013025660A Active JP6127561B2 (ja) | 2013-02-13 | 2013-02-13 | 半導体受光装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9329077B2 (ja) |
JP (1) | JP6127561B2 (ja) |
CN (1) | CN103985768B (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017126949A (ja) * | 2016-01-15 | 2017-07-20 | 国立研究開発法人情報通信研究機構 | 光電変換器 |
CN106024649A (zh) * | 2016-07-12 | 2016-10-12 | 希睿(厦门)科技有限公司 | 一种超薄环境光与接近传感器的晶圆级封装及其封装方法 |
JP1624076S (ja) * | 2018-04-16 | 2019-02-12 | ||
CN111146296A (zh) * | 2018-11-05 | 2020-05-12 | 上海集耀电子有限公司 | 一种改进的光敏接收管 |
CN111952705A (zh) * | 2020-08-28 | 2020-11-17 | 中国电子科技集团公司第九研究所 | 一种通讯用小型化隔离器的封装外壳及其制作方法 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH054534U (ja) | 1991-02-18 | 1993-01-22 | 三菱電機株式会社 | レーザダイオードチツプキヤリア |
JP2002289956A (ja) * | 2001-03-22 | 2002-10-04 | Kyocera Corp | 半導体レーザ装置 |
JP2003134051A (ja) * | 2001-10-25 | 2003-05-09 | Opnext Japan Inc | 光受信モジュール、光受信器及び光ファイバ通信機器 |
KR100575950B1 (ko) * | 2003-06-20 | 2006-05-02 | 삼성전자주식회사 | 티오 캔 구조의 광수신 모듈 |
JP2006114635A (ja) * | 2004-10-13 | 2006-04-27 | Sharp Corp | 半導体装置 |
JP2006253676A (ja) * | 2005-03-08 | 2006-09-21 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光アセンブリ |
MY157744A (en) * | 2006-02-17 | 2016-07-15 | Finisar Corp | Discrete bootstrapping in an optical receiver to prevent signal feedback |
JP4970924B2 (ja) * | 2006-03-28 | 2012-07-11 | 三菱電機株式会社 | 光素子用パッケージとこれを用いた光半導体装置 |
CN100592585C (zh) * | 2006-03-28 | 2010-02-24 | 三菱电机株式会社 | 光学元件用组件及使用该组件的光学半导体器件 |
JP2010251570A (ja) * | 2009-04-16 | 2010-11-04 | Mitsubishi Electric Corp | 光受信モジュール |
-
2013
- 2013-02-13 JP JP2013025660A patent/JP6127561B2/ja active Active
- 2013-10-29 US US14/065,477 patent/US9329077B2/en active Active
- 2013-11-28 CN CN201310614577.7A patent/CN103985768B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9329077B2 (en) | 2016-05-03 |
JP2014154823A (ja) | 2014-08-25 |
CN103985768A (zh) | 2014-08-13 |
CN103985768B (zh) | 2016-10-26 |
US20140224967A1 (en) | 2014-08-14 |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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