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KR920001552A - 반도체 메모리 장치의 다중 비트 병렬 테스트방법 - Google Patents

반도체 메모리 장치의 다중 비트 병렬 테스트방법 Download PDF

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KR920001552A
KR920001552A KR1019900008924A KR900008924A KR920001552A KR 920001552 A KR920001552 A KR 920001552A KR 1019900008924 A KR1019900008924 A KR 1019900008924A KR 900008924 A KR900008924 A KR 900008924A KR 920001552 A KR920001552 A KR 920001552A
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Abstract

내용 없음.

Description

반도체 메모리 장치의 다중 비트 병렬 테스트방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1 도는 종래의 방법을 보여주는 회로구성도.
제 2 도는 본 발명에 따른 방법을 보여주는 회로구성도.
제 3 도는 메모리셀블럭과 입출력선간의 연결을 보여주는 회로도.
제 4 도는 입출력선프리차아지회로도.

Claims (4)

  1. 데이타출력버퍼와 소정갯수의 데이타버스쌍 및 메모리셀군을 구비하는 반도체메모리장치의 다중비트병렬테스트방법에 있어서, 상기 메로리셀군으로부터 공급되는 데이터쌍을 감지하는 데이터감지부와, 상기 데이터감지부와 상기 소정갯수의 데이터버스쌍들의 사이에 연결된 구동부와, 상기 데이터감지부와 하나의 데이터버스쌍사이에 연결되어 상기 데이터 감지부로부터 출력되는 데이터쌍들의 일군을 입력하여 상기 하나의 데이터버스쌍으로 단일의 데이터쌍을 출력하는 하나의 제 1 비교기와, 상기 데이타감지부와 다른하나의 데이터쌍 사이에 연결되어 데이터감지부로부터 출력되는 데이터쌍들의 타군을 입력하는 상기 다른하나의 데이터쌍으로 단일의 데이터쌍을 출력하는 다른하나의 제 1 비교기와, 상기 데이터버스쌍들에 입력이 연결되고 상기 데이타출력버퍼에 출력이 연결되어 상기 데이타버스쌍들에 있는 소정갯수의 데이터쌍을 입력하여 단일의 데이터쌍을 출력하는 제 2 비교기와, 상기 데이터버스쌍들에 입력이 연결되어 상기 데이터출력버퍼에 출력이 연결되어 상기 데이터버스쌍들에 있는 소정갯수의 데이터쌍을 입력하여 단일의 데이터쌍을 출력하는 데이터선택회로를 구비하여, 상기 데이터감지부가 상기 메모리셀군으로부터 공급되는 복수개의 데이터쌍을 노멀모드에서는 상기 구동부를 통하여 상기 데이터버스쌍들로 보내고 테스트모드에서는 상기 제 1 비교기로 보냄을 특징으로 하는 반도체메모리장치의 다중비트병렬테스트방법.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 비교기가 노멀모드에서는 동작하지 않음을 특징으로 하는 반도체메모리장치의 다중비트병렬테스트방법.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 제 1 비교기가 입력단을 소정레벨로 프리차아지하는 회로를 구비하여, 노멀모드에서 상기 피리차아지회로에 의해 입력이 프리차아지됨을 특징으로 하는 반도체메모리장치의 다중비트병렬테스트방법.
  4. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 제 2 비교기가 출력단에 스위칭회로를 구비하여, 상기 스위칭회로가 노멀모드에서 턴오프됨을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 다중비트병렬 테스트방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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