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JP2007125783A - 電子部品の樹脂封止成形装置 - Google Patents

電子部品の樹脂封止成形装置 Download PDF

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Abstract

【課題】樹脂封止成形時に用いられる樹脂材料41を金型(キャビティ空間部9)内に供給する際に、キャビティ空間部9内の樹脂材料41が樹脂流動を極力発生させないようにする電子部品35の樹脂封止成形装置50を提供することを目的とする。
【解決手段】本装置50に含まれる樹脂供給機構40に備えた供給部46において、樹脂トレイ42にはシャッター42Aが開く方向と垂直方向に開口したトレイ用のスリット部材42Bを備えると共に、スリット部材42Bの開口部分に投入された所要量の樹脂材料41をシャッター42Aが開くのと略同時にキャビティ空間部9内に供給するように構成されていることを特徴とする。
【選択図】図1

Description

本発明は、IC等の電子部品(半導体チップ)の搭載した基板が樹脂封止成形用金型に供給された樹脂材料によって電子部品を浸漬内包させて封止成形する、電子部品の樹脂封止成形装置に関し、特に、金型(電子部品を封止成形するために少なくとも下型に形成されたキャビティ)へ樹脂材料を供給する樹脂供給機構に関するものである。
従来から、電子部品の樹脂封止成形用金型を用いて、前記金型における上型の所定位置に電子部品を搭載した基板を装着固定した状態で、前記金型における少なくとも下型に形成されたキャビティに樹脂供給機構で供給された樹脂材料を加熱溶融化して、前記金型を型締めすることで加熱溶融化された前記樹脂材料に前記電子部品を浸漬内包する電子部品の樹脂封止成形装置が用いられている。
この装置として、三型(上型・下型・中間型)構造で、少なくとも下型側に設けたキャビティ面(下型キャビティ面)を含む成形金型面を被覆する離型フィルムを用いるものが挙げられる(例えば、特許文献1参照。)。
即ち、図6(1)及び図6(2)に示すように、下型101と中間型102とを上下方向へ嵌装させて、下型キャビティ面103の上面側と中間型102の下面側とに離型フィルム104を張設し、更に、この状態で、少なくとも下型キャビティ面103とキャビティ部材105により構成されるキャビティ面106とを含むキャビティの全面を離型フィルム104で被覆することにより、キャビティ空間部107を形成する。このキャビティ空間部107の形成された状態が、特許文献1に開示された金型に対応する概略断面図(図6(1)参照。)、及び、概略斜視図(図6(2)参照。)となる。
なお、図6(1)及び図6(2)には、説明を明解にするために上型を省いている。
また、図6(2)においては、図6(1)に対応する樹脂供給状態を明解にするために、キャビティ空間部107と後述する収容治具109とを離間状態で誇張して示す。
ここで、図6(1)及び図6(2)に示すように、樹脂材料ユニット100(樹脂供給機構)に少なくとも備えた収納部、調整部にてキャビティ空間部107内に所要量の樹脂材料108を供給するように構成されている。
まず、収納部では、樹脂材料108を収納する。
次に、調整部では、収納部にて収納された樹脂材料108を計量フィーダにて予め設定された樹脂材料108となるように計量し、次に、計量されて予め設定された樹脂材料108を樹脂投入シュートを経て収容治具109内に所要量の樹脂材料108となるように投入する。例えば、収容治具109内への樹脂材料108投入方法として、一ヶ所にまとめて収容治具109の略全面に開口された開口部材110に投入する(切り出す)と、キャビティ空間部107へ樹脂を供給する際に、均一に供給することができないので、所要複数回(この場合、四回)に分けて、収容治具109の開口部材110内に計量・投入を断続的に行う。最終的に、図6(1)及び図6(2)に示すように、投入された所要量の樹脂材料108を収納治具109に備えたシャッター111を開くことにより前述したキャビティ空間部107内に供給するように構成されているものである。
特開2005−225133号公報(第5頁、図4)
ところで、近年の基板の大型化・薄型化や、電子部品(半導体チップ)の極小化・極薄化や、一枚の基板上に複数個の該チップを装着して一括モールドすることから、キャビティ(キャビティ空間部107)の鉛直方向の厚みが非常に薄くなるうえに、キャビティ水平面(下型キャビティ面103)が非常に広範囲に形成されているので、樹脂材料108として用いる粉粒状樹脂には、例えば、顆粒樹脂を採用している。
しかしながら、従来の金型(キャビティ空間部107内)への樹脂材料ユニット100によれば、後述するような樹脂封止成形上の諸問題が発生することがわかった。
第一に、図6(1)及び図6(2)に示すように、キャビティ空間部107内における所要量の樹脂材料108において、シャッター111を開くのと略同時に落下する樹脂材料108よりも、シャッター111に載置された樹脂材料108がそのまま、シャッター111が開く方向に移動して、収容治具109内の両サイドに沿って自由落下する樹脂材料108のほうが多くなるので、キャビティ空間部107内の外周部分が盛り上がった状態で供給される。
つまり、キャビティ空間部107内の外周部分に極端に盛り上がった状態、或は、キャビティ空間部107の厚み方向より高く盛り上がった状態で供給された樹脂材料108が溶融状態となると、キャビティ空間部107外部への漏出が生じ、不均一な樹脂投入によって、フラッシュ・ワイヤフロー・未充填等の成形不良を発生させることがわかった。
また、基板の樹脂成形体(パッケージ)部分が大型化・薄型化することによって、溶融状態となった樹脂材料108が、外周部分から中央部分に満遍なく行き渡らず、外周部分が盛り上がった状態のまま電子部品が浸漬内包されて封止成形され、不均一な樹脂投入によって、フラッシュ・ワイヤフロー・未充填等の成形不良も発生させることがわかった。
第二に、収容治具109内に数回に分けて所要量の樹脂材料108を断続的に計量・投入を繰り返し行った状態の樹脂材料108では、図6(2)における上下方向に断続的な波状となって供給されるので、前述したような不均一な樹脂投入によって、フラッシュ・ワイヤフロー・未充填等の成形不良をより一層発生させることもわかった。
第三に、樹脂封止成形時に用いる樹脂材料108、例えば、粉粒状樹脂(顆粒樹脂)には、粉状・粒状における樹脂径の異なる様々な樹脂が含まれている。その樹脂材料108の中にも、非常に粉径・粒径の小さく飛散しやすいものが混在していることがある。
この場合、飛散しやすい樹脂によって、キャビティ空間部107内へ供給される前に溶融状態となり、樹脂同士を固着させることがある。
つまり、このような固着状態の樹脂が樹脂材料ユニット100内で発生すると、樹脂材料108の目詰まりや樹脂材料108の滞留等を引き起こし、キャビティ空間部107内へ樹脂材料108をスムーズに供給できなくなるので、樹脂供給効率が低下する問題を発生させることもわかった。
以上のことから、樹脂封止成形時に用いられる樹脂材料108を金型(キャビティ空間部107)内に供給する際に、キャビティ空間部107内の樹脂材料108が不均一な樹脂投入によって、フラッシュ・ワイヤフロー・未充填等の成形不良を効率良く防止することを目的とする。また、樹脂封止成形時に用いられる樹脂材料108の中に含まれる非常に粉径・粒径の小さく飛散しやすい不要な樹脂材料108を樹脂材料ユニット100内にて効率良く除去させることを目的とする。更に、従来の金型(キャビティ空間部107内)への樹脂材料ユニット100内において、それぞれの樹脂材料108がお互いに固着しないようにすることを目的とする。
そこで、前記した技術的課題を解決するための本発明の請求項1に係わる電子部品35の樹脂封止成形装置50とは、電子部品35の樹脂封止成形用金型を用いて、金型における上型1の所定位置に電子部品35を搭載した基板36(31)を装着固定した状態で、金型における少なくとも下型2に形成されたキャビティ(9)に樹脂供給機構40で供給された樹脂材料41を加熱溶融化して、金型を型締めすることで加熱溶融化された樹脂材料41に電子部品35を浸漬内包する電子部品35の樹脂封止成形装置50であって、
キャビティ(9)内に所要量の樹脂材料41を供給する樹脂供給機構40には、
樹脂材料41を貯蔵する貯蔵部43と、貯蔵部43にて貯蔵された樹脂材料41を予め設定された樹脂材料41となるように計量する計量部44と、計量部44にて予め設定された樹脂材料41を所要量の樹脂材料41となるように樹脂トレイ42内に投入する樹脂投入シュート45Aを備えた投入部45と、投入部45にて投入された所要量の樹脂材料41をキャビティ(9)内に供給するシャッター42A付の樹脂トレイ42を備えた供給部46とを含み、
更に、供給部46において、樹脂トレイ42にはシャッター42Aが開く方向と垂直方向に開口したトレイ用のスリット部材42Bを備えると共に、スリット部材42Bの開口部分に投入された所要量の樹脂材料41をシャッター42Aが開くのと略同時にキャビティ(9)内に供給するように構成されていることを特徴とする。
また、前記した技術的課題を解決するための本発明の請求項2に係わる電子部品35の樹脂封止成形装置50とは、投入部45において、樹脂投入シュート45Aには前記スリット部材42Bの開口部分に略合致するように開口したシュート用のスリット部材45Bを更に備えると共に、予め設定された樹脂材料41を樹脂トレイ42に投入する投入量に対応して樹脂トレイ42を連続的に移動させた状態で、トレイ用のスリット部材42Bの開口部分にシュート用のスリット部材45Bを介して所要量の樹脂材料41を投入するように構成されていることを特徴とする。
また、前記した技術的課題を解決するための本発明の請求項3に係わる電子部品35の樹脂封止成形装置50とは、計量部44において、樹脂材料41に含まれる微細な不要樹脂41Xを除去する除去部47を更に備えると共に、投入部45に到達するまでに、不要樹脂41Xを除去部47にて除去するように構成されていることを特徴とする。
また、前記した技術的課題を解決するための本発明の請求項4に係わる電子部品35の樹脂封止成形装置50とは、貯蔵部43、計量部44、投入部45、供給部46、除去部47の少なくとも一つ以上における樹脂材料41に対して、摂氏15℃以下の温度雰囲気下で用いるように構成されていることを特徴とする。
なお、前記した符号は、説明の便宜上付したものであり、本発明を図面に示される実施の形態に限定するものではない。
本発明によれば、樹脂封止成形時に用いる樹脂材料を金型(キャビティ空間部)内に供給する際に、不均一な樹脂投入によるフラッシュ・ワイヤフロー・未充填等の成形不良を効率良く防止すること、並びに、樹脂供給効率を格段に高めることにより、基板に搭載された電子部品を浸漬内包して封止成形された樹脂封止済基板(製品)の生産性を格段に向上させる、電子部品の樹脂封止成形装置を提供すると云う優れた効果を奏する。
以下、図1から図5に基づいて、最良の実施形態を説明する。
図1には、本発明に係わる電子部品の樹脂封止成形装置の概略図を示す。
図2から図5には、図1に対応する前記金型へ樹脂材料を供給する樹脂供給機構要部の概略断面図、及び、概略斜視図を示す。
即ち、図1に示すように、前記金型を搭載した前記装置50とは、三型(上型1・下型2・中間型3)の構成を備えた前記金型を搭載したプレス機構10と、少なくとも前記下型2側に設けた下型キャビティ面4とキャビティ面5とで形成されるキャビティを少なくとも被覆する離型フィルム6を張設して供給するフィルム供給機構(図示なし)と、封止前基板31や所要量の樹脂材料41を各別に且つ略同時的に金型内に供給する機能、並びに、樹脂封止済基板32を金型外に取り出す機能を兼ね備えた供給取出機構20と、供給取出機構20にて封止前基板31を移送する前に封止前基板31を収納するインマガジン33、並びに、供給取出機構20にて取り出した樹脂封止済基板32(製品)を収納するアウトマガジン34を兼ね備えた基板収納機構30と、樹脂トレイ42内に投入された所要量の樹脂材料41を供給取出機構20にて移送することにより所要量の樹脂材料41を金型における前記キャビティ内に供給する樹脂供給機構40とを含み構成されている。
プレス機構10は、上下方向へ嵌装自在となるように構成された上型1と下型2との型締め・型開き動作を実施する、例えば、任意の水圧・油圧・気体等の作動流体を使用した機構や電動プレス機構による適宜なプレス手段(図示なし)を設けて構成されると共に、上下型1・2とは別に、中間型3には独立した別の適宜なプレス手段を設けて構成される。つまり、この各プレス手段が、単動・連動に制御することで、金型が上下方向へ嵌装自在に型締め・型開きできるように構成されている。
上型1に形成された上型面1Aには、図1に示すように、基板36(31・32)を装着固定する基板装着部7を備えると共に、例えば、基板36には、複数個の電子部品35(半導体チップ)を搭載され、該チップと基板36とを電気的に接続するワイヤ(図示なし)とを含む所定個所にマトリックス状に配列された任意の形状のものである。そして、複数個の該チップとワイヤとを加熱溶融化された樹脂材料41(溶融樹脂)にて一括モールドする樹脂成形体37(パッケージ)と一括モールドされない電子部品装着側に形成された基板外周部38と前記基板装着部7に当接する電子部品35の非搭載面39とで構成されている。
なお、本実施形態においては、ワイヤボンデングされた電子部品35を樹脂封止成形する構成にしているが、ワイヤの無い電子部品35を搭載されたフリップチップ基板等、或は、ウェーハレベルパッケージ等においても適応可能である。
下型2に少なくとも形成されるキャビティ内に供給される樹脂材料41とは、図1に示すように、基板36の樹脂成形体37を一括モールドするために必要な所要量の樹脂材料41(粉粒状樹脂)、例えば、顆粒樹脂を示していると共に、樹脂供給機構40からキャビティ内に金型の型開き時に当該樹脂材料41を供給するように構成されている。
このキャビティ、即ち、キャビティ空間部9とは、特許文献1に開示されるように、下型2と中間型3とを上下方向へ嵌装させて、下型キャビティ面4の上面側と中間型3の下面側とに離型フィルム6を張設し、更に、この状態で、少なくとも下型キャビティ面4とキャビティ部材8により構成されるキャビティ面5とを含むキャビティの全面を離型フィルム6で被覆することにより形成するように構成されている。
つまり、このキャビティ(キャビティ空間部9)の形成された状態が、特許文献1に開示された金型に対応する概略断面図(図2(1)参照。)及び概略斜視図(図2(2)参照。)となる。
なお、図2(1)及び図2(2)には、説明を明解にするために上型1を省いており、図2(2)においては、図2(1)に対応する樹脂供給状態を明解にするために、キャビティ空間部9と後述する樹脂トレイ42とを離間状態で誇張して示している。
また、金型には、図示していないが、キャビティ(キャビティ空間部9)内に供給された所要量の樹脂材料41を加熱溶融化する設定温度にまで上昇させて、キャビティの水平面(下型キャビティ面4)のほぼ下部に配置された複数本の加熱ヒータ(例えば、カートリッジヒータ・フレキシブルヒータ等)を適宜に埋設されていると共に、樹脂材料41を加熱溶融化して溶融樹脂として基板36における樹脂成形体37部分を一括モールドして溶融樹脂を硬化して硬化樹脂を形成するように構成される。なお、上型1及び中間型3にも前記加熱ヒータを適宜に埋設するように構成されている。
供給取出機構20は、上型1と中間型3との間である上型面1A側と中間型3の上面側との間に、図の略水平方向に進入・退出できるように、例えば、メカチャック搬送機構やロボットアーム搬送機構等の適宜な搬送手段(この場合、メカチャック搬送機構)を設けて構成されると共に、搬送手段の上側部分では、封止前基板31の供給及び樹脂封止済基板32の取出を実施し、並びに、下側部分では、所要量の樹脂材料41を樹脂トレイ42と一緒にそのまま供給することを実施する、一体型の搬送手段で構成されている。
基板収納機構30は、収納するものは封止前基板31と樹脂封止済基板32との差異はあるが、どちらも対象とするものは基板36であるので、基本的な構成要素は、同様に備えている。
なお、図1に示す配置構成は、鉛直方向に配置されているが、左右方向に並列の構成にすることもできる。この鉛直方向に配置構成する場合、インマガジン33を上段とアウトマガジン34を下段、或いは、逆の配置構成でもよい。
また、イン・アウトマガジン33・34の両方に、所要複数枚の基板36(31・32)を離間した状態で載置するスリット型のマガジンカセット(図示なし)を採用している。そして、マガジンカセットに収納される基板36の載置状態は、金型の樹脂封止成形時に対応して、電子部品35部分(樹脂成形体37)を下方に向けた状態で載置するように構成されている。
樹脂供給機構40は、図1に示すように、キャビティ(キャビティ空間部9)内に所要量の樹脂材料41を供給する際に、樹脂材料41を貯蔵する貯蔵部43と、貯蔵部43にて貯蔵された樹脂材料41を予め設定された樹脂材料41となるように計量する計量部44と、計量部44にて予め設定された樹脂材料41を所要量の樹脂材料41となるように樹脂トレイ42内に投入する樹脂投入シュート45Aを備えた投入部45と、投入部45にて投入された所要量の樹脂材料41をキャビティ空間部9内に供給するシャッター42A付の樹脂トレイ42を備えた供給部46と、を含む構成となる。
供給部46において、図2(1)及び図2(2)に示すように、シャッター42A付の樹脂トレイ42には、シャッター42Aが開く方向と垂直方向に開口したトレイ用のスリット部材42Bを更に備えると共に、前記スリット部材42Bの開口部分(この場合、三箇所の開口)に投入された所要量の樹脂材料41をシャッター42Aが開くのと略同時に供給するように構成されている。
つまり、キャビティ(キャビティ空間部9)内に供給された所要量の樹脂材料41の樹脂供給状態は、図2(1)に示すように、従来のようなキャビティ外周部分が盛り上がった状態(図6(1)参照。)とはならず、これに加えて、シャッター42Aに開く方向に樹脂材料41も移動することなく、シャッター42Aが開くのと略同時に、スリット部材42Bの開口部分からそのまま樹脂材料41が自然落下するので、非常に均整状態で所要量の樹脂材料41を供給することができるように構成されている。
トレイ用のスリット部材42Bにおいては、一括したキャビティ(キャビティ空間部9)内に所要量の樹脂材料41を供給するので、図2(2)では、上下方向に三箇所の略直線状態で開口している。
また、その他のスリット部材42Cとして、図3に示すように、マップ型に分割したキャビティ(この場合、四個のキャビティ空間部9)内に所要量の樹脂材料41を個別に供給する場合、図例における上下方向に四分割、左右方向に三分割して、計十二箇所の開口部分を形成されて構成されているものである。この場合も同様に、非常に均整状態で樹脂材料41を個々のキャビティ(四個のキャビティ空間部9)に効率良く供給することができるように構成されている。
なお、図3には、説明を明解にするために上型1を省いており、図2(2)と同様に、樹脂供給状態を明解にするために、キャビティ空間部9と樹脂トレイ42(供給部46)とを離間状態で誇張して示している。
従って、図2及び図3に示すように、非常に均整された状態の樹脂材料41によって、キャビティ空間部9の外部への樹脂漏出、並びに、キャビティ空間部9内での樹脂流動も極力低減されるので、すぐさま、キャビティ空間部9内の樹脂材料41を加熱溶融化して溶融樹脂としても従来の不均一な樹脂投入によって、フラッシュ・ワイヤフロー・未充填等の成形不良を効率良く防止することができる。
投入部45において、図4(1)及び図4(2)に示すように、樹脂投入シュート45Aにはトレイ用のスリット部材42Bの開口部分に略合致するように開口したシュート用のスリット部材45Bを更に備えると共に、予め設定された樹脂材料41を樹脂トレイ42に投入する投入量に対応して樹脂トレイ42を連続的に移動させた状態で、トレイ用のスリット部材42Bの開口部分にシュート用のスリット部材45Bを介して所要量の樹脂材料41を連続的に投入するように構成されている。
更に、樹脂トレイ42のトレイ用スリット部材42Bの開口部分にシュート用のスリット部材45Bを略合致させる場合、図4(2)に示すシュート用スリット部位の形状に丸みを持たせることにより、予め設定された樹脂材料41を効率良く樹脂トレイ42のトレイ用スリット部材42Bの開口部分に連続的に投入することができるように構成される。
つまり、図4(1)及び図4(2)に示すように、連続的に樹脂を投入部45から供給部46の樹脂トレイ42内に投入するのであれば、供給部46における樹脂トレイ42のシャッター42Aを開くことにより金型におけるキャビティ(キャビティ空間部9)内に供給する際、従来の上下方向に断続的な波状となって供給される(図6(2)参照。)ことを効率良く防止することができると共に、図2(1)に示すような非常に均整状態で所要量の樹脂材料41をキャビティ空間部9内により一層効率良く供給することができるように構成される。
なお、図4(2)においては、図4(1)に対応する樹脂投入状態を明解にするために、樹脂投入シュート45A(投入部45)と後述する樹脂トレイ42(供給部46)とを離間状態で誇張して示している。
従って、図2及び図3に加えて図4に示すように、非常に均整状態の樹脂材料41を供給部46(トレイ用スリット部材42B)に連続的に投入する投入部45(シュート用スリット部材45B)によって、キャビティ(キャビティ空間部9)の外部への樹脂漏出、並びに、キャビティ空間部9内での樹脂流動も極力低減されるので、すぐさま、キャビティ空間部9内の樹脂材料41を加熱溶融化して溶融樹脂としても、従来の不均一な樹脂投入によるフラッシュ・ワイヤフロー・未充填等の成形不良をより一層、効率良く防止することができる。
少なくとも、貯蔵部43、計量部44、投入部45において、図5(1)及び図5(2)に示すように、樹脂封止成形時に用いる樹脂材料41、例えば、粉粒状樹脂(顆粒樹脂)には、粉状・粒状における樹脂径の異なる様々な樹脂が含まれている。その樹脂材料41の中にも、非常に粉径・粒径の小さく飛散しやすい樹脂が混在していることがある。
この場合、飛散しやすい樹脂によって、キャビティ(キャビティ空間部9)内へ供給される前に溶融状態となり、樹脂同士を固着させることがあるので、この飛散しやすい樹脂材料41、即ち、不要樹脂41Xを除去する除去部47を更に樹脂供給機構40における計量部44に備えられている。
ここで、不要樹脂41Xを除去部47にて除去する場合、樹脂供給機構40内、特に、図5(1)に示す計量部44におけるトラフ44A出口部分で不要樹脂41Xによる目詰まりや滞留等を引き起こしやすいので、例えば、図5(2)に示すP−P断面線を通過する樹脂材料41に不要樹脂41Xが除去した状態で、投入部45の樹脂投入シュート45Aに樹脂材料41が到達するように構成される。この不要樹脂41Xの除去手段としては、トラフ44Aの下面をメッシュ状にすることによって、微細で且つ飛散しやすい不要樹脂41Xを、図5(1)及び図5(2)に示すように、ふるいにかけてトラフ44Aの下面へ(図例の破線矢印下方向へ)落下除去するように構成される。
その他の除去部47の不要樹脂41Xの除去手段としては、除去部47の破線部分における貯蔵部43、計量部44、投入部45の領域内を強制的に不要樹脂41Xのみを除去することのできる吸引力にて吸引排出除去することも可能である。
更に、不要樹脂41Xを除去された樹脂材料41が、投入部45に到達するまでに、スムーズに樹脂材料41が移動するように、トラフ44Aの樹脂移動面44Bをフラット形状とするように構成されている。
つまり、図5(1)及び図5(2)に示すように、この除去部47を備えれば、不要樹脂41Xを除去された樹脂材料41が、樹脂供給機構40における貯蔵部43から計量部44、計量部44から投入部45、投入部45から供給部46における樹脂トレイ42に備えたトレイ用のスリット部材42Bの開口部分に所要量の樹脂材料41が連続的に且つスムーズに投入することができるように構成されている。
従って、図5に示すように、従来のような固着状態の樹脂が、樹脂供給機構40内で樹脂材料41の目詰まりや滞留等を引き起こすことを効率良く防止すると共に、キャビティ(キャビティ空間部9)内へ不要樹脂41Xを除去された樹脂材料41をスムーズに供給できるので、樹脂供給効率を格段に高めることができる。
ここで、従来のような樹脂同士の固着状態とする樹脂材料41の要因は、微細で且つ飛散しやすい樹脂材料41(不要樹脂41X)に加えて、樹脂材料41を溶融状態とするために金型全体を加熱することからプレス機構10に限らず、本装置50内における樹脂供給機構40においても、加熱作用による樹脂同士の固着を促進させることがある。
また、本装置50内における加熱作用によって、樹脂供給機構40(貯蔵部43・計量部44・投入部45・供給部46・除去部47)においても、本装置50外の外気温度と同じか或は高い温度で設定されていることが一般的である。
本発明者らは、樹脂供給効率を格段に高めることを主眼とし、外気温度よりも低い温度雰囲気下、好ましくは、貯蔵部43、計量部44、投入部45、供給部46、除去部47の少なくとも一つ以上における樹脂材料41に対して、摂氏15℃以下の温度雰囲気下で用いることが最適条件であることを発見した。当然のことながら、摂氏0℃をより低くなると、加熱作用に反して冷却作用によって、樹脂同士が凍結状態となって樹脂同士の固着を促進することがない温度雰囲気下において、樹脂材料41を用いるように構成されている。
つまり、外気温度よりも低く且つ凍結状態を促進しない摂氏温度以上にする、即ち、この摂氏15℃以下の温度雰囲気下で、いずれか一つの以上の各部領域内全体或は各部の部材等にスポット的に冷却作用を施すことができるように構成されている。
従って、金型への樹脂供給機構40内において、それぞれの樹脂材料41がお互いに固着すること効率良く防止すると共に、前述した不要樹脂41Xを除去された樹脂材料41を用いることも加えて、より一層、樹脂供給効率を格段に高めることができる。
なお、本実施形態においては、上型1と下型2と中間型3との三型構造の金型にて図例を説明してきたが、上下型1・2の二型構造の金型にも当然のことながら適応可能である。更には、三型(1・2・3)構造の金型において、キャビティ(キャビティ空間部9)内における加熱溶融化された樹脂材料41に対して、より一層、ボイド等の発生を効率良く防止するために、少なくとも樹脂材料41が接触する型面を外気遮断範囲として外気遮断範囲の空気等を強制的に吸引して真空引き状態とするシール部材(図示なし)を有する真空引き成形を併用して実施してもよい。
以上のことから、本実施形態によれば、樹脂封止成形時に用いる樹脂材料41を金型(キャビティ、即ち、キャビティ空間部9)内に供給する際に、不均一な樹脂投入によるフラッシュ・ワイヤフロー・未充填等の成形不良を効率良く防止すること、並びに、樹脂供給効率を格段に高めるために、前述したトレイ用スリット部材42B・42Cによる均整状態の樹脂供給(図2又は図3参照。)、シュート用のスリット部材45Bによる連続投入(図4参照。)、除去部47による不要樹脂41Xの除去(図5参照。)、樹脂供給機構40内の摂氏15℃以下設定による樹脂固着防止を適宜に取捨選択して実施するか、或は、全てを組み合わせて実施することよって、基板36に搭載された電子部品35を浸漬内包して封止成形された樹脂封止済基板32(製品)の生産性を格段に向上させることができる。
図1は、本発明に係る電子部品の樹脂封止成形装置の概略図を示す。 図2は、図1に対応する装置の樹脂供給機構の供給部を概略断面図及び概略斜視図で示す。 図3は、図2に対応する別の供給部を概略斜視図で示す。 図4は、図1に対応する樹脂供給機構の投入部を概略断面図及び概略斜視図で示す。 図5は、図1に対応する樹脂供給機構の除去部を概略側面図及び概略断面図で示す。 図6は、従来の電子部品の樹脂封止成形装置における金型へ樹脂材料ユニットにて樹脂材料を供給する状態を概略断面図及び概略斜視図で示す。
符号の説明
1 上型
1A 上型面
2 下型
3 中間型
4 下型キャビティ面
5 キャビティ面
6 離型フィルム
7 基板装着部
8 キャビティ部材
9 キャビティ空間部(キャビティ)
10 プレス機構
20 供給取出機構
30 基板収納機構
31 封止前基板
32 樹脂封止済基板(製品)
33 インマガジン
34 アウトマガジン
35 電子部品(半導体チップ)
36 基板
37 樹脂成形体(パッケージ)
38 基板外周部
39 非搭載面
40 樹脂供給機構
41 樹脂材料(粉粒状樹脂)
41X 不要樹脂
42 樹脂トレイ
42A シャッター
42B・42C トレイ用のスリット部材
43 貯蔵部
44 計量部
44A トラフ
44B 樹脂移動面
45 投入部
45A 樹脂投入シュート
45B シュート用のスリット部材
46 供給部
47 除去部
50 樹脂封止成形装置
100 樹脂材料ユニット
101 下型
102 中間型
103 下型キャビティ面
104 離型フィルム
105 キャビティ部材
106 キャビティ面
107 キャビティ空間部
108 樹脂材料
109 樹脂トレイ
110 開口部材
111 シャッター

Claims (4)

  1. 電子部品の樹脂封止成形用金型を用いて、前記金型における上型の所定位置に電子部品を搭載した基板を装着固定した状態で、前記金型における少なくとも下型に形成されたキャビティに樹脂供給機構で供給された樹脂材料を加熱溶融化して、前記金型を型締めすることで加熱溶融化された前記樹脂材料に前記電子部品を浸漬内包する電子部品の樹脂封止成形装置であって、
    前記したキャビティ内に所要量の樹脂材料を供給する樹脂供給機構には、
    前記樹脂材料を貯蔵する貯蔵部と、前記貯蔵部にて貯蔵された樹脂材料を予め設定された樹脂材料となるように計量する計量部と、前記計量部にて予め設定された樹脂材料を所要量の樹脂材料となるように樹脂トレイ内に投入する樹脂投入シュートを備えた投入部と、前記投入部にて投入された所要量の樹脂材料をキャビティ内に供給するシャッター付の前記樹脂トレイを備えた供給部とを含み、
    更に、前記した供給部において、前記樹脂トレイにはシャッターが開く方向と垂直方向に開口したトレイ用のスリット部材を備えると共に、前記したスリット部材の開口部分に投入された所要量の樹脂材料を前記シャッターが開くのと略同時に前記キャビティ内に供給するように構成されていることを特徴とする電子部品の樹脂封止成形装置。
  2. 前記した投入部において、前記樹脂投入シュートには前記したスリット部材の開口部分に略合致するように開口したシュート用のスリット部材を更に備えると共に、前記した予め設定された樹脂材料を前記樹脂トレイに投入する投入量に対応して前記樹脂トレイを連続的に移動させた状態で、前記したトレイ用のスリット部材の開口部分に前記シュート用のスリット部材を介して所要量の樹脂材料を投入するように構成されていることを特徴とする請求項1に記載の電子部品の樹脂封止成形装置。
  3. 前記した計量部において、前記樹脂材料に含まれる微細な不要樹脂を除去する除去部を更に備えると共に、前記投入部に到達するまでに、前記不要樹脂を除去部にて除去するように構成されていることを特徴とする請求項1、又は、請求項2に記載の電子部品の樹脂封止成形装置。
  4. 前記した貯蔵部、計量部、投入部、供給部、除去部の少なくとも一つ以上における樹脂材料に対して、摂氏15℃以下の温度雰囲気下で用いるように構成されていることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の電子部品の樹脂封止成形装置。
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WO (1) WO2007052467A1 (ja)

Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009025402A1 (en) * 2007-08-20 2009-02-26 Secron Co., Ltd. Tray for epoxy molding compound powder and apparatus for providing epoxy molding compound powder having the tray
JP2009234000A (ja) * 2008-03-27 2009-10-15 Sumitomo Heavy Ind Ltd 樹脂供給機構
KR100988629B1 (ko) 2008-07-28 2010-10-18 세크론 주식회사 에폭시 몰딩 혼합물 트레이
KR101042689B1 (ko) 2008-10-24 2011-06-20 세크론 주식회사 에폭시 몰딩 컴파운드를 공급하기 위한 트레이
JP2012146790A (ja) * 2011-01-11 2012-08-02 Apic Yamada Corp 圧縮成形方法及び圧縮成形装置並びに樹脂供給ハンドラ
JP2012187902A (ja) * 2011-03-14 2012-10-04 Apic Yamada Corp 樹脂封止方法および樹脂封止装置
JP2013021199A (ja) * 2011-07-13 2013-01-31 Apic Yamada Corp 樹脂吸着搬送方法及び樹脂吸着搬送装置並びに樹脂封止方法
JP2013039693A (ja) * 2011-08-12 2013-02-28 Apic Yamada Corp 樹脂供給装置、樹脂モールド装置および樹脂供給方法
WO2013069496A1 (ja) * 2011-11-08 2013-05-16 アピックヤマダ株式会社 樹脂封止装置
KR20160117157A (ko) 2015-03-31 2016-10-10 토와 가부시기가이샤 압축 성형 장치의 수지 재료 공급 방법 및 공급 장치 및 압축 성형 방법 및 압축 성형 장치
KR20160145488A (ko) 2015-06-10 2016-12-20 토와 가부시기가이샤 압축 성형 장치의 수지 재료 공급 장치 및 방법, 그리고 압축 성형 장치 및 방법
KR20160145504A (ko) 2015-06-10 2016-12-20 토와 가부시기가이샤 압축 성형 장치의 수지 재료 공급 장치 및 압축 성형 장치
KR20170001590A (ko) 2015-06-25 2017-01-04 토와 가부시기가이샤 압축 성형 장치의 수지 재료 공급 장치 및 방법, 그리고 압축 성형 장치 및 방법
US9580827B2 (en) 2014-07-18 2017-02-28 Towa Corporation Method for producing electronic component, bump-formed plate-like member, electronic component, and method for producing bump-formed plate-like member
US9728426B2 (en) 2014-04-24 2017-08-08 Towa Corporation Method for producing resin-encapsulated electronic component, bump-formed plate-like member, resin-encapsulated electronic component, and method for producing bump-formed plate-like member
JP2018020445A (ja) * 2016-08-01 2018-02-08 Towa株式会社 樹脂成形装置及び樹脂成形品製造方法
KR20180020884A (ko) 2016-08-19 2018-02-28 토와 가부시기가이샤 수지 성형 장치 및 수지 성형품 제조 방법
KR20180040086A (ko) 2016-10-11 2018-04-19 토와 가부시기가이샤 수지 재료 공급 장치, 수지 재료 공급 방법, 수지 성형 장치, 및 수지 성형품 제조 방법
KR20180044933A (ko) 2015-08-28 2018-05-03 토와 가부시기가이샤 수지 성형 장치 및 수지 성형품 제조 방법
JP2018089916A (ja) * 2016-12-07 2018-06-14 Towa株式会社 圧縮成形装置の樹脂材料供給装置及び方法、並びに圧縮成形装置及び樹脂成形品製造方法
KR20180098134A (ko) 2017-02-24 2018-09-03 토와 가부시기가이샤 수지 성형 장치, 수지 성형 방법, 및 수지 성형품의 제조 방법
JP2019024032A (ja) * 2017-07-24 2019-02-14 アサヒ・エンジニアリング株式会社 樹脂封止装置用の封止型

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6071869B2 (ja) * 2013-12-27 2017-02-01 Towa株式会社 樹脂成形装置及び樹脂成形方法
JP6282564B2 (ja) * 2014-09-16 2018-02-21 東芝メモリ株式会社 半導体装置の製造方法
JP6491508B2 (ja) * 2015-03-23 2019-03-27 Towa株式会社 樹脂封止装置及び樹脂成形品の製造方法
CN104875313A (zh) * 2015-04-23 2015-09-02 昆山群悦精密模具有限公司 脱气式电子封装模具
JP6654994B2 (ja) * 2016-10-31 2020-02-26 Towa株式会社 回路部品の製造方法
JP6774865B2 (ja) * 2016-12-13 2020-10-28 アピックヤマダ株式会社 枠体治具、樹脂供給治具及びその計量方法、モールド樹脂の計量装置及び方法、樹脂供給装置、樹脂供給計量装置及び方法、並びに樹脂モールド装置及び方法
WO2018211743A1 (ja) * 2017-05-16 2018-11-22 株式会社ブリヂストン 発泡成形型、および発泡成形体の製造方法
CN109935536A (zh) * 2017-12-19 2019-06-25 均华精密工业股份有限公司 布胶装置及其方法
JP6876637B2 (ja) * 2018-01-22 2021-05-26 Towa株式会社 成形型、樹脂成形装置及び樹脂成形品の製造方法
KR102337659B1 (ko) * 2018-02-21 2021-12-09 삼성전자주식회사 금형 검사 장치 및 금형 검사 방법
CN109049461B (zh) * 2018-08-09 2023-09-01 深圳鼎晶科技有限公司 一种全自动精密模压封装线
CN110815686A (zh) * 2019-11-27 2020-02-21 苏州均华精密机械有限公司 载板热压模封设备及其方法
JP7470983B2 (ja) * 2020-11-17 2024-04-19 アピックヤマダ株式会社 樹脂供給装置、樹脂封止装置、及び樹脂封止品の製造方法
TWI790808B (zh) * 2021-11-04 2023-01-21 日月光半導體製造股份有限公司 模封治具

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08309753A (ja) * 1995-03-14 1996-11-26 Sumitomo Electric Ind Ltd 摩擦材原料混合物の投入装置
JP2001062858A (ja) * 1999-08-27 2001-03-13 Nisshinbo Ind Inc 粉末状原料の投入装置、燃料電池セパレータの製造方法、及び燃料電池セパレータ
JP2003223901A (ja) * 2002-01-30 2003-08-08 Dainippon Ink & Chem Inc 燃料電池用セパレータの製造方法、燃料電池セパレータおよび燃料電池
JP2005225133A (ja) * 2004-02-13 2005-08-25 Towa Corp 半導体チップの樹脂封止成形方法および樹脂封止成形用金型

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2332938A (en) * 1939-05-02 1943-10-26 Schmidberger Heinrich Automatic mold filling device
US2572771A (en) * 1948-04-08 1951-10-23 Regal Molding Co Inc Stenciling apparatus for charging molds
US4407987A (en) * 1981-10-27 1983-10-04 Synergistics Chemicals Limited Polymeric resins and blends with high packing densities
JP2767018B2 (ja) * 1993-02-26 1998-06-18 株式会社村田製作所 電子部品の組立方法および組立装置
JP3257340B2 (ja) * 1995-05-24 2002-02-18 松下電器産業株式会社 液体塗布方法、液体塗布装置およびスリットノズル
KR100195513B1 (ko) * 1996-10-04 1999-06-15 윤종용 반도체 칩 패키지
JP3062192B1 (ja) * 1999-09-01 2000-07-10 松下電子工業株式会社 リ―ドフレ―ムとそれを用いた樹脂封止型半導体装置の製造方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08309753A (ja) * 1995-03-14 1996-11-26 Sumitomo Electric Ind Ltd 摩擦材原料混合物の投入装置
JP2001062858A (ja) * 1999-08-27 2001-03-13 Nisshinbo Ind Inc 粉末状原料の投入装置、燃料電池セパレータの製造方法、及び燃料電池セパレータ
JP2003223901A (ja) * 2002-01-30 2003-08-08 Dainippon Ink & Chem Inc 燃料電池用セパレータの製造方法、燃料電池セパレータおよび燃料電池
JP2005225133A (ja) * 2004-02-13 2005-08-25 Towa Corp 半導体チップの樹脂封止成形方法および樹脂封止成形用金型

Cited By (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009025402A1 (en) * 2007-08-20 2009-02-26 Secron Co., Ltd. Tray for epoxy molding compound powder and apparatus for providing epoxy molding compound powder having the tray
KR100889261B1 (ko) * 2007-08-20 2009-03-17 세크론 주식회사 분말 emc 트레이 및 이를 갖는 분말 emc 공급 장치
JP2009234000A (ja) * 2008-03-27 2009-10-15 Sumitomo Heavy Ind Ltd 樹脂供給機構
KR100988629B1 (ko) 2008-07-28 2010-10-18 세크론 주식회사 에폭시 몰딩 혼합물 트레이
KR101042689B1 (ko) 2008-10-24 2011-06-20 세크론 주식회사 에폭시 몰딩 컴파운드를 공급하기 위한 트레이
JP2012146790A (ja) * 2011-01-11 2012-08-02 Apic Yamada Corp 圧縮成形方法及び圧縮成形装置並びに樹脂供給ハンドラ
JP2012187902A (ja) * 2011-03-14 2012-10-04 Apic Yamada Corp 樹脂封止方法および樹脂封止装置
JP2013021199A (ja) * 2011-07-13 2013-01-31 Apic Yamada Corp 樹脂吸着搬送方法及び樹脂吸着搬送装置並びに樹脂封止方法
JP2013039693A (ja) * 2011-08-12 2013-02-28 Apic Yamada Corp 樹脂供給装置、樹脂モールド装置および樹脂供給方法
WO2013069496A1 (ja) * 2011-11-08 2013-05-16 アピックヤマダ株式会社 樹脂封止装置
KR20140092381A (ko) * 2011-11-08 2014-07-23 아피쿠 야마다 가부시키가이샤 수지 밀봉 장치
JPWO2013069496A1 (ja) * 2011-11-08 2015-04-02 アピックヤマダ株式会社 樹脂封止装置および樹脂供給装置
KR101950894B1 (ko) * 2011-11-08 2019-04-22 아피쿠 야마다 가부시키가이샤 수지 밀봉 장치
US9728426B2 (en) 2014-04-24 2017-08-08 Towa Corporation Method for producing resin-encapsulated electronic component, bump-formed plate-like member, resin-encapsulated electronic component, and method for producing bump-formed plate-like member
US9580827B2 (en) 2014-07-18 2017-02-28 Towa Corporation Method for producing electronic component, bump-formed plate-like member, electronic component, and method for producing bump-formed plate-like member
KR20160117157A (ko) 2015-03-31 2016-10-10 토와 가부시기가이샤 압축 성형 장치의 수지 재료 공급 방법 및 공급 장치 및 압축 성형 방법 및 압축 성형 장치
JP2016190393A (ja) * 2015-03-31 2016-11-10 Towa株式会社 圧縮成形装置の樹脂材料供給方法及び供給装置並びに圧縮成形方法及び圧縮成形装置
KR20160145488A (ko) 2015-06-10 2016-12-20 토와 가부시기가이샤 압축 성형 장치의 수지 재료 공급 장치 및 방법, 그리고 압축 성형 장치 및 방법
KR20160145504A (ko) 2015-06-10 2016-12-20 토와 가부시기가이샤 압축 성형 장치의 수지 재료 공급 장치 및 압축 성형 장치
KR20170001590A (ko) 2015-06-25 2017-01-04 토와 가부시기가이샤 압축 성형 장치의 수지 재료 공급 장치 및 방법, 그리고 압축 성형 장치 및 방법
KR20180044933A (ko) 2015-08-28 2018-05-03 토와 가부시기가이샤 수지 성형 장치 및 수지 성형품 제조 방법
KR102154538B1 (ko) 2015-08-28 2020-09-10 토와 가부시기가이샤 수지 성형 장치 및 수지 성형품 제조 방법
US10814532B2 (en) 2015-08-28 2020-10-27 Towa Corporation Resin-molding device and method for producing resin-molded product
KR20180014660A (ko) 2016-08-01 2018-02-09 토와 가부시기가이샤 수지 성형 장치 및 수지 성형품 제조 방법
JP2018020445A (ja) * 2016-08-01 2018-02-08 Towa株式会社 樹脂成形装置及び樹脂成形品製造方法
KR20180020884A (ko) 2016-08-19 2018-02-28 토와 가부시기가이샤 수지 성형 장치 및 수지 성형품 제조 방법
KR102053968B1 (ko) 2016-08-19 2019-12-10 토와 가부시기가이샤 수지 성형 장치 및 수지 성형품 제조 방법
KR20180040086A (ko) 2016-10-11 2018-04-19 토와 가부시기가이샤 수지 재료 공급 장치, 수지 재료 공급 방법, 수지 성형 장치, 및 수지 성형품 제조 방법
KR102007566B1 (ko) 2016-10-11 2019-08-05 토와 가부시기가이샤 수지 재료 공급 장치, 수지 재료 공급 방법, 수지 성형 장치, 및 수지 성형품 제조 방법
JP2018089916A (ja) * 2016-12-07 2018-06-14 Towa株式会社 圧縮成形装置の樹脂材料供給装置及び方法、並びに圧縮成形装置及び樹脂成形品製造方法
KR20180098134A (ko) 2017-02-24 2018-09-03 토와 가부시기가이샤 수지 성형 장치, 수지 성형 방법, 및 수지 성형품의 제조 방법
JP2019024032A (ja) * 2017-07-24 2019-02-14 アサヒ・エンジニアリング株式会社 樹脂封止装置用の封止型

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