JP4707364B2 - 電子部品の樹脂封止成形方法及び装置 - Google Patents
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Description
そこで、樹脂封止成形装置には、金型の型開き時において、キャビティに樹脂材料を供給するための樹脂材料供給機構(樹脂材料供給ユニット)が設けられており、この樹脂材料供給機構の主な方式には、全ストローク方式(例えば、特許文献1参照。)、或は、ピッチ送り方式(例えば、特許文献2参照。)、等が挙げられている。
この場合、まず、開閉部が枠体部底面の貫通部分を閉じた状態で、所要量の樹脂材料を樹脂供給空間部に供給し、次に、樹脂供給空間部にある樹脂材料を加圧手段にて鉛直方向へ下動することにより樹脂材料を均一に加圧すると共に、金型の型開き時において、加圧手段にて均一に加圧した状態の樹脂材料をキャビティ内に供給する。
従って、全ストローク方式によれば、樹脂材料供給機構の樹脂供給空間部を構成する開閉部が、完全に水平方向にスライドすることにより、所要量の樹脂材料を供給する。
この場合、まず、シャッタ板により貯留箱の開口が閉鎖された状態で、キャビティの容積に合わせて計量された所要量の樹脂材料を貯留箱に供給し、次に、シャッタ板を水平移動させ、貯留箱の開口とシャッタ板の開口とが重なるようにして、キャビティ内に樹脂材料を落下させて供給する。
従って、ピッチ送り方式によれば、樹脂材料供給機構のシャッタ板が、貯留箱の開口とシャッタ板の開口とが重なるようにして、水平方向に部分的に移動する(ピッチ送りする)ことにより、所要量の樹脂材料を供給する。
しかし、全ストローク方式、ピッチ送り方式等によって、樹脂材料供給機構からキャビティに顆粒樹脂をそのまま自然落下させて供給した場合には、キャビティ外周囲である型面(この場合、下型面)であるキャビティ外に、顆粒樹脂が飛散するという問題が発生するおそれがある。
このことから、特許文献1に開示されているように、均一に加圧した状態の顆粒樹脂をキャビティ内に供給することで、顆粒樹脂がキャビティ外へ飛散する問題を防止できるかを検討したが、依然として顆粒樹脂の飛散問題を解決するに至らなかった。
また、均一に加圧した状態の顆粒樹脂を、全ストローク方式でなくピッチ送り方式によって、自然落下させてキャビティ内に供給した場合、顆粒樹脂が加圧状態であることからも、貯留箱の開口とシャッタ板の開口とからうまく落下せずに、樹脂材料供給機構に樹脂材料が残存すると云う致命的な問題が発生することとなった。この致命的な問題を解決するために、樹脂材料供給機構を振動させて、加圧した状態の顆粒樹脂を貯留箱の開口とシャッタ板の開口とから落下させる場合、顆粒樹脂の加圧状態を解消させる程度の強い振動を付与しないと、開口から顆粒樹脂を落下させることは困難であった。仮に、樹脂材料供給機構の顆粒樹脂を貯留箱の開口とシャッタ板の開口とから落下させることができたとしても、顆粒樹脂に強い振動が付与されているので、キャビティ外への顆粒樹脂が飛散すると云う問題がより一層発生しやすくなった。
ところで、キャビティの鉛直方向の厚みが非常に薄くなるうえに、キャビティ内底面が非常に広くなることから、樹脂の粒径をより小さくして用いる、例えば、粉末状樹脂・破砕状樹脂、或いは、粉末よりも粒径が大きく顆粒よりも粒径の小さい微粒状樹脂、その他に、液状樹脂等のような種々な樹脂材料(加圧状態、或は、未加圧状態の樹脂材料)に対しても柔軟に対応することが求められている。この状況の下で、キャビティ外への樹脂材料の飛散を防止すること、及び、キャビティ内(少なくとも、キャビティ内底面)に所要量の樹脂材料を均一に満遍なく供給させることという二点については、全ストローク方式やピッチ送り方式等の樹脂材料供給機構を設けた従来の樹脂封止成形装置の機能では対応に限界があった。これらの二点について対応に限界があることが、基板浸漬成形の課題として挙げられている。
また、本発明によれば、樹脂封止成形上の諸問題を効率良く解決することによって、樹脂封止成形(基板浸漬成形)上の作業時間(サイクルタイム)の短縮、及び、自動化するメリットを格段に向上させる、電子部品の樹脂封止成形方法及び装置を提供することができると云う優れた効果を奏する。
なお、図1(1)・(2)は、本発明に係る電子部品の樹脂封止成形装置に搭載された金型の概略縦断面図であって、図1(1)は、金型に樹脂材料を供給した状態、図1(2)は、供給した樹脂材料が溶融樹脂になった状態を示す。図2(1)・(2)は、図1に対応する金型の概略縦断面図であって、図2(1)は、金型を型締めした状態、図2(2)は、樹脂成形済基板が成形されて型開きした状態を示す。図3(1)は、図1に対応する樹脂封止成形装置に設けられた全ストローク方式の樹脂材料供給機構の拡大概略断面図を示す。図3(2)・(3)は、図3(1)に対応する樹脂材料供給機構から図1に対応する金型に樹脂材料を供給する工程を示す。図4(1)は、図1に対応する樹脂封止成形装置に設けられたピッチ送り方式の樹脂材料供給機構の拡大概略断面図を示す。図4(2)・(3)は、図4(1)に対応する樹脂材料供給機構から図1に対応する金型に樹脂材料を供給する工程を示す。また、図3・図4においては、金型に樹脂材料を供給する工程を明解に示すために、上型を省略している。
図1(1)に示すように、基板9には、複数個の半導体チップ10(電子部品)が装着されている。半導体チップ10と基板9とは、ワイヤ11によって電気的に接続されている。基板9は任意の形状を有しており、基板9においてマトリクス状(格子状)に配列された領域における所定個所に半導体チップ10が装着されている。図1(1)、(2)には、複数個の半導体チップ10とワイヤ11とを樹脂封止する際に溶融樹脂15が硬化して硬化樹脂16(図2(2)参照)が形成される部分が、樹脂成形部12として仮想的に示されている。基板9における半導体チップ10が装着された面において、硬化樹脂16(図2(2)参照)が形成されない部分は、基板外周部13を構成する。
また、図1(1)に示すように、キャビティ6の内部に供給される樹脂材料は、基板9の樹脂成形部12において一括して樹脂封止するために必要な所要量の顆粒樹脂14である。顆粒樹脂14は、金型が型開きしている状態において樹脂材料供給機構7(図3、図4参照)からキャビティ6の内部に供給される。
また、図1(1)に示すように、金型加熱機構8は、キャビティ6の内底面18のほぼ下方に配置され適宜に埋設された複数本の加熱ヒータ(例えば、カートリッジヒータ・フレキシブルヒータ等)である。金型加熱機構8は、キャビティ6の内部に供給された所要量の顆粒樹脂14(樹脂材料)を溶融させるために必要な設定温度にまで、下型2の温度を上昇させる。顆粒樹脂14が溶融することによって溶融樹脂15が生成され、溶融樹脂15に複数個の半導体チップ10が浸漬した状態で溶融樹脂15が硬化することによって硬化樹脂16が形成される(図2(2)参照)。このことにより、樹脂成形部12において、複数個の半導体チップ10が一括して樹脂封止される。
次に、金型の型開き時において、金型加熱機構8における加熱ヒータを用いて下型2を加熱してキャビティ6の内部にある所要量の顆粒樹脂14を溶融させて、溶融樹脂15を生成する(図1(2)参照)。
次に、金型を型締めすることによって、基板外周部13と下型面4とを当接させる。
金型を型締めすることによって、樹脂成形部12における複数個の半導体チップ10とワイヤ11とをキャビティ6の内部にある溶融樹脂15に浸漬する(図2(1)参照)。
次に、溶融樹脂15を硬化させるために必要な所要時間を経過させて、溶融樹脂15を硬化させて硬化樹脂16を形成する。これにより、基板9に装着された複数個の半導体チップ10が樹脂封止された樹脂成形済基板17が完成する(図2(2)参照)。
次に、金型を型開きする。これにより、上型面3の所定位置に樹脂成形済基板17が固定された状態で、硬化樹脂16とキャビティ6における型面とを離型させる(図2(2)参照)。
つまり、全ストローク方式とは、樹脂材料供給機構7の樹脂収納空間部19を構成する開閉部21が、完全に水平方向にスライドすることにより、所要量の顆粒樹脂14を供給するように構成されているものである。
更に、樹脂材料供給機構7には、キャビティ6外に顆粒樹脂14を飛散させることを防止する目的で、次の構成要素が設けられている。カーテン22とネスト23とが、枠体部20の下方に着脱自在に取付・取外することができるようにして設けられている。顆粒樹脂14をキャビティ6の内部に供給する際に、顆粒樹脂14がカーテン22の内側とネスト23とを通って落下する。ネスト23は、顆粒樹脂14をキャビティ6の内部に分散させて供給する。
カーテン22の先端部分(下端部)は、顆粒樹脂14がキャビティ6外に飛散しないように、キャビティ6の形成面(内底面18を含む)に接触しない程度にキャビティ6の内部に入り込むように構成されている。仮に、キャビティ6の形成面を含む下型面4に、カーテン22の先端部分が接触した場合であっても、下型面4が損傷しないように配慮して、カーテン22の先端部分を構成する材料が選ばれている。
ネスト23は、所要量の顆粒樹脂14を分散させるために格子(網の目)状に形成されており、種々の樹脂材料に応じて、適宜に格子の形成状態を変更して実施できるように構成されている。図3と図4との例は、ネスト23がカーテン22に嵌入した状態を示している。
次に、金型を型開きする。この状態において、所要量の顆粒樹脂14を収納した状態の樹脂材料供給機構7を、キャビティ6の所定位置における直上部まで進入させて待機させる(図3(2)に示された右向きの矢印を参照)。
次に、金型を型開きした状態において、樹脂材料供給機構7のカーテン22の先端部分がキャビティ6の形成面(内底面18を含む)に接触しない程度に、カーテン22の先端部分をキャビティ6の内部に入り込ませる。そして、開閉部21を水平方向に開き、図3における左方向に開閉部21を完全にスライドさせて、樹脂収納空間部19を下に向かって開放する。これにより、顆粒樹脂14をキャビティ6の内部に供給する(図3(3)参照)。この開閉部21をスライドさせて顆粒樹脂14を供給する間(図3(2)の状態から図3(3)の状態までの間)において、開閉部20とキャビティ6との間に介在したネスト23により、顆粒樹脂14が分散される。このことにより、少なくともキャビティ6の内底面18に顆粒樹脂14を均一に満遍なく供給することができる。好ましくは、キャビティ6の内部に所要量の顆粒樹脂14を均一に満遍なく供給し、且つ、過不足なく樹脂収納空間部19やネスト23に顆粒樹脂14を残存させないように、前述した振動手段(図示なし)を用いるとよい。振動手段を用いて、樹脂材料供給機構7全体、或は、ネスト23のみ、或は、ネスト23と枠体部20、というような振動させる対象を適宜に変更して実施することができる。
次に、樹脂材料供給機構7を、図3(3)の状態から図3(2)に示された位置を経て金型の外へ退出させる。その後、図1(1)に示すように、所要量の顆粒樹脂14がキャビティ6の内部に均一に満遍なく供給され、かつ、半導体チップ10が装着された基板9が上型面3に固定された状態にする。次に、図1(2)の状態、図2(1)の状態、図2(2)の状態の順に、基板浸漬成形(基板圧縮成形)の各工程を順次実施する。このことによって、基板9に装着された半導体チップ10を一括して樹脂封止して、樹脂成形済基板17を完成させる。
つまり、ピッチ送り方式によれば、樹脂材料供給機構7のシャッタ板25が、貯留箱24の開口26とシャッタ板25の開口27とが重なるようにして、水平方向に部分的に移動する(ピッチ送りされる)。このことにより、所要量の顆粒樹脂14を供給するように構成されている。
更に、ピッチ送り方式における樹脂材料供給機構7にも、前述した全ストローク方式における樹脂材料供給機構7(図3参照)と同様に、カーテン22とネスト23とが設けられている。ここでは、カーテン22とネスト23とについての詳細な説明は省くこととする。
次に、金型を型開きする。この状態において、所要量の顆粒樹脂14を収納した状態の樹脂材料供給機構7を、キャビティ6の所定位置における直上部まで進入させて待機させる(図4(2)に示された右向きの矢印を参照)。
次に、金型を型開きした状態において、樹脂材料供給機構7のカーテン22の先端部分がキャビティ6の形成面(内底面18を含む)に接触しない程度に、カーテン22の先端部分をキャビティ6の内部に入り込ませる。そして、シャッタ板25を水平移動させる(図4(3)に示された左向きの矢印を参照)。この状態において、貯留箱24の開口26とシャッタ板25の開口27とが重なる。このことによって、顆粒樹脂14がキャビティ6の内部に供給される(図4(3)参照)。このシャッタ板25をスライドさせて顆粒樹脂14を供給する間(図4(2)の状態から図4(3)の状態までの間)、シャッタ板25とキャビティ6との間に介在したネスト23により、顆粒樹脂14が分散される。このことにより、少なくともキャビティ6の内底面18に顆粒樹脂14を均一に満遍なく供給することができる。好ましくは、キャビティ6の内部に所要量の顆粒樹脂14を均一に満遍なく供給し、且つ、過不足なく樹脂収納空間部19やネスト23に顆粒樹脂14を残存させないように、前述した振動手段(図示なし)を用いるとよい。振動手段を用いて、樹脂材料供給機構7全体、或は、ネスト23のみ、或は、ネスト23と貯留箱24、というような振動させる対象を適宜に変更して実施することができる。
次に、樹脂材料供給機構7を、図4(3)の状態から図4(2)に示された位置を経て金型の外へ退出させる。その後、図1(1)に示すように、所要量の顆粒樹脂14がキャビティ6の内部に均一に満遍なく供給され、かつ、半導体チップ10が装着された基板9が上型面3に固定された状態にする。次に、図1(2)の状態、図2(1)の状態、図2(2)の状態の順に、基板浸漬成形(基板圧縮成形)の各工程を順次実施する。このことによって、基板9に装着された半導体チップ10を一括して樹脂封止して、樹脂成形済基板17を完成させる。
従って、全ストローク方式とピッチ送り方式とのいずれかの方式の樹脂材料供給機構7が設けられた樹脂封止成形装置によれば、次の効果が得られる。まず、キャビティ6の鉛直方向の厚みが非常に薄くなるうえに、キャビティ6の内底面18が非常に広くなることから、樹脂の粒径をより小さくして用いる傾向に対して、例えば、粉末状樹脂・破砕状樹脂、或いは、粉末よりも粒径が大きく顆粒よりも粒径の小さい微粒状樹脂、更には、液状樹脂等、の種々な樹脂材料(加圧状態、或は、未加圧状態の樹脂材料)であっても柔軟に対応することができる。また、キャビティ6外への樹脂材料の飛散を防止することができる。また、基板浸漬成形の課題として挙げられるキャビティ6の内部(少なくとも、キャビティ6の内底面18)に所要量の樹脂材料を均一に満遍なく供給させることに限界があることについても、解消することができる。
また、ここまで説明した実施の形態においては、ワイヤボンディングによって基板9に対して電気的に接続された電子部品を対象として樹脂封止成形する構成について説明してきた。これに限らず、ワイヤ11の無い電子部品が装着されたフリップチップ基板等においても前述の樹脂封止成形を適用することができる。
また、本発明が適用される基板9は、格子状の複数の領域に分割され、基板9の主面における各領域には、半導体チップ10がそれぞれ装着されているものとした。この基板9としては、半導体チップ10がそれぞれ装着されるべき領域が列状又は格子状に設けられていればよい。また、基板9の形状としては、円形,正方形、長方形(短冊状)、その他の多角形のいずれであってもよい。そして、円形は、完全な円形の他に、完全な円形の一部が切り落とされて除去された形状や、切り欠き部(ノッチ)等が設けられている形状であってもよい。
また、一枚の基板9を対象として一括して樹脂封止することについて説明した。これに限らず、例えば、短冊状の基板9を複数枚配置して、それらの基板9を対象として一括して樹脂封止してもよい。また、短冊状の基板9を配置できる専用治具等の任意の治具を用いて、その治具に基板9を固定して、その治具を樹脂封止成形装置における基板固定手段5に固定するように実施してもよい。
また、ここまで説明した実施の形態においては、金型として上型1と下型2とからなる構成(二枚型)のみを図例にて説明してきた。これに限らず、上型1と下型2とにおいて、一括して樹脂封止する対象である基板9に対応して、上型1と下型2とを分割型構造にして実施してもよい。更には、上型1と下型2との間に中間型(図示なし)を設ける三型の金型構造において、中間型と下型2とを型締めすることによってキャビティ6を形成して、或は、下型2のみによってキャビティ6を形成して、実施してもよい。この場合、中間型と下型2との間に離型フィルムを供給して、キャビティ6の内底面18(或は、形成面)を離型フィルムによって被覆して一括して樹脂封止する離型フィルム成形を実施してもよい。また、溶融樹脂15又は液状樹脂においてボイド等の発生をより一層効率良く防止するために、少なくとも樹脂材料が接触する型面を含む空間をシール部材を用いて外気遮断範囲として、外気遮断範囲の空気等を強制的に吸引して真空引き状態とする真空引き成形を、実施してもよい。離型フィルム成形と真空引き成形とについては、一方のみ、或は、両方の成形を併用して実施してもよい。
そして、このような離型フィルム成形や真空引き成形を、ここまで説明した実施の形態において適宜に選択して実施してもよい。
2 下型
3 上型面
4 下型面
5 基板固定手段
6 キャビティ
7 樹脂材料供給機構
8 金型加熱機構
9 基板
10 半導体チップ(電子部品)
11 ワイヤ
12 樹脂成形部
13 基板外周部
14 顆粒樹脂(固形状樹脂、樹脂材料)
15 溶融樹脂
16 硬化樹脂
17 樹脂成形済基板
18 内底面
19 樹脂収納空間部
20 枠体部(収容部)
21 開閉部
22 カーテン
23 ネスト
24 貯留箱(収容部)
25 シャッタ板(開閉部)
26・27 開口
Claims (4)
- 電子部品の樹脂封止成形用の金型であって上型と該上型に相対向して配置された下型とを少なくとも有する金型を用いて、前記電子部品が装着された基板を前記上型における所定位置に固定する工程と、前記下型に形成されたキャビティに樹脂材料供給機構を用いて固形状樹脂又は液状樹脂からなる樹脂材料を供給する工程と、前記固形状樹脂を加熱して溶融させることにより生成した溶融樹脂によって又は前記液状樹脂によって前記キャビティを満たされた状態にする工程と、前記金型を型締めすることによって前記溶融樹脂又は前記液状樹脂に前記電子部品を浸漬する工程と、前記溶融樹脂又は前記液状樹脂を硬化させることによって硬化樹脂を形成する工程とを備え、前記硬化樹脂によって前記電子部品を樹脂封止する電子部品の樹脂封止成形方法であって、
前記樹脂材料供給機構が有する収容部の内側に前記樹脂材料を供給する工程と、
前記金型を型開きする工程と、
前記樹脂材料供給機構を前記上型と前記下型との間に進入させる工程と、
前記収容部の下部において下方に延びるようにして設けられたカーテンの下端部を前記キャビティの内部に入り込ませる工程と、
前記樹脂材料供給機構における前記収容部と前記下端部との間において設けられた開閉部を開ける工程と、
前記樹脂材料供給機構における前記開閉部と前記下端部との間において設けられたネストを経由して、前記収容部から前記樹脂材料を落下させる工程とを備え、
前記樹脂材料を前記カーテンの内側を通って落下させ、かつ、前記ネストによって分散させて落下させることによって、前記キャビティの内部に前記樹脂材料を均一に満遍なく供給するようにしたことを特徴とする電子部品の樹脂封止成形方法。 - 請求項1に記載された電子部品の樹脂封止成形方法において、
前記樹脂材料供給機構が有する振動手段を用いて、前記樹脂材料を振動させて前記収容部の内側に供給する工程、又は、前記樹脂材料を振動させて前記キャビティの内部に供給する工程のうち少なくとも一方を更に含むことを特徴とする電子部品の樹脂封止成形方法。 - 電子部品の樹脂封止成形用の金型であって上型と該上型に相対向して配置された下型とを少なくとも有する金型と、前記電子部品が装着された基板を前記上型における所定位置に固定する基板固定手段と、前記下型に形成されたキャビティと、金型が型開きしている状態において固形状樹脂又は液状樹脂からなる樹脂材料を前記キャビティに供給する樹脂材料供給機構とを備え、前記キャビティにおいて前記固形状樹脂が加熱され溶融して生成された溶融樹脂又は前記液状樹脂に前記電子部品が浸漬した状態で硬化樹脂が形成され、前記硬化樹脂によって前記電子部品を樹脂封止する際に用いられる電子部品の樹脂封止成形装置であって、
前記樹脂材料供給機構に設けられた収容部と、
前記収容部の下部において下方に延びるようにして設けられたカーテンと、
前記収容部と前記カーテンの下端部との間において設けられた開閉部と、
前記開閉部と前記下端部との間において設けられたネストとを備え、
前記キャビティに前記樹脂材料が供給される際には前記下端部が前記キャビティの内部に入り込んでおり、
前記開閉部を開けることにより前記樹脂材料が前記収容部から前記カーテンの内側を通って落下し、かつ、前記ネストによって分散されて落下することによって、前記キャビティの内部に前記樹脂材料が均一に満遍なく供給されることを特徴とする電子部品の樹脂封止成形装置。 - 請求項3に記載された電子部品の樹脂封止成形装置において、
前記樹脂材料供給機構は、前記樹脂材料を振動させて前記収容部の内側又は前記キャビティの内部のうち少なくとも一方に供給する振動手段を更に含むことを特徴とする電子部品の樹脂封止成形装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2004307625A JP4707364B2 (ja) | 2004-10-22 | 2004-10-22 | 電子部品の樹脂封止成形方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004307625A JP4707364B2 (ja) | 2004-10-22 | 2004-10-22 | 電子部品の樹脂封止成形方法及び装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006120880A JP2006120880A (ja) | 2006-05-11 |
JP4707364B2 true JP4707364B2 (ja) | 2011-06-22 |
Family
ID=36538472
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004307625A Expired - Lifetime JP4707364B2 (ja) | 2004-10-22 | 2004-10-22 | 電子部品の樹脂封止成形方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4707364B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010162710A (ja) * | 2009-01-13 | 2010-07-29 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 樹脂封止装置及び樹脂封止方法 |
JP5336974B2 (ja) * | 2009-08-06 | 2013-11-06 | 住友重機械工業株式会社 | 樹脂封止装置及び樹脂封止方法 |
JP5792681B2 (ja) * | 2012-06-20 | 2015-10-14 | Towa株式会社 | 樹脂供給方法、樹脂供給装置及び圧縮成形装置 |
JP6310773B2 (ja) | 2014-05-22 | 2018-04-11 | Towa株式会社 | 樹脂成形装置及び樹脂成形方法 |
JP6039750B1 (ja) * | 2015-06-10 | 2016-12-07 | Towa株式会社 | 圧縮成形装置の樹脂材料供給装置及び圧縮成形装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001030295A (ja) * | 1999-07-27 | 2001-02-06 | Nec Corp | 樹脂封入方法とその装置 |
JP2004174801A (ja) * | 2002-11-26 | 2004-06-24 | Towa Corp | 樹脂封止装置 |
JP2004216558A (ja) * | 2003-01-09 | 2004-08-05 | Towa Corp | 電子部品の樹脂封止成形方法及び装置 |
-
2004
- 2004-10-22 JP JP2004307625A patent/JP4707364B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001030295A (ja) * | 1999-07-27 | 2001-02-06 | Nec Corp | 樹脂封入方法とその装置 |
JP2004174801A (ja) * | 2002-11-26 | 2004-06-24 | Towa Corp | 樹脂封止装置 |
JP2004216558A (ja) * | 2003-01-09 | 2004-08-05 | Towa Corp | 電子部品の樹脂封止成形方法及び装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006120880A (ja) | 2006-05-11 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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