DE2219395C3 - Elektrisches Prüfgerät - Google Patents

Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein elektrisches Prüfgerät gemäß dem Oberbegriff des Patenanspruchs 1.

Da elektronische und elektrische Einrichtungen, in Computern, automatischen Fernsprechvermittlungsanlagen und anderen automatischen Steuergeräten verwendet werden, immer komplizierter werden, müssen zu ihrem Aufbau sehr viele elektrische Verbindungen hergestellt werden, die dann einzeln auf ihre Funktionsfähigkeit überprüft werden müssen. Wenn beispielsweise eine Verbindung zwischen zwei Punkten oder Klemmen infolge einer fehlerhaften Verbindungsstelle unterbrochen ist, muß dieser Fehler festgestellt werden. Eine andere Fehlerart, die festgestellt werden muß, ist eine Verbindung zwischen Punkten, die nicht verbunden sein dürfen.

Aus der DE-OS 16 16 386 ist ein elektrisches Prüfgerät bekannt, mit dessen Hilfe Fehler eines Prüflings festgestellt werden können, die in Form von unerwünschten Kurzschlüssen oder Unterbrechungen zwischen auswählbaren Kontaktpunkten oder Anschlußklemmen am Prüfling in Erscheinung treten. Dieses bekannte Prüfgerät enthält Register, die in Adressierschaltungen benutzt werden und dazu dienen, die Adressen der Prüfpunkte zeitweilig zu speichern, damit beim Feststellen eines Fehlers der gerade adressierte Prüfpunkt genau identifiziert werden kann. Das bekannte Prüfgerät ist jedoch nicht dafür ausgelegt, einen Prüfvorgang jeweils automatisch in Abhängigkeit von der gerade zu prüfenden Anlage durchzuführen.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Prüfgerät der eingangs geschilderten Art so auszugestalten, daß es äußerst flexibel eine schnelle und zuverlässige Fehlerprüfung an Prüflingen durchführen kann. Diese Aufgabe wird mit den im Kennzeichen des Patentanspruchs 1 angegebenen Merkmalen gelöst. Beim erfindungsgemäßen Prüfgerät dient die Datenspeichereinrichtung der Speicherung eines vorbestimmten Programms, das praktisch von vornherein angibt, welche Signale an den einzelnen Prüfpunkten auftreten müssen, wenn kein Fehler vorhanden ist. Das Programm ist also in Abhängigkeit von der zu prüfenden Anlage

^ri5 vorbestimmt. Dieser Aufbau des Prüfgeräts ermöglicht nicht nur eine sehr schnelle Durchführung der Prüfarbeit, sondern er gestattet auch eine äußerst große Flexibilität hinsichtlich der Art der zu prüfenden Anlage. Es können einfach für verschiedene Anlagen verschiedene Programme auf Vorrat bereit gehalten werden, so daß als einzige Änderung bei einer Änderung der zu prüfenden Anlage ein neues Programm in der Datenspeichereinrichtung verwendet werden muß.

Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt, deren einzige Figur das Blockschaltbild eines Prüfgeräts nach der Erfindung zeigt.

Die Zeichnung zeigt eine zu prüfende Anlage 1, die über ein vieladriges Kabel 3 mit einer adressierbaren Kurzschlußvorrichtung 2 verbunden ist Ein Kurzschluß bzw. eine Masseverbindung zu einem Punkt oder einer Klemme der zu prüfenden Anlage 1 wird von der adressierbaren Kurzschlußvorrichtung 2 aufgrund von Signalen hergestellt, die der Vorrichtung 2 zugeführt werden und von Daten abgeleitet werden, die in einem zuvor aufgezeichneten Programm einer Datenspeichereinrichtung 4 enthalten sind, die als Speicherorgan sine Bandkassette enthalten kann. Die einzelnen Schalter der Kurzschlußvorrichtung 2, welche die Kurzschlüsse herstellen, sind durch Halbleiter-Schaltglieder gebildet die aus den bipolaren Transistorelementen einer integrierten TTL- Logikschaltung bestehen.

Nachdem in der adressierbaren Kurzschlußvorrichtung 2 ein vorbestimmter Punkt oder eine vorbestimmte Klemme der zu prüfenden Anlage mit Masse verbunden worden ist, werden alle anderen Klemmen oder ausgewählte Klemmen der zu prüfenden Anlage von einer elektrischen Abtastschaltung 5 abgetastet, die einen binär codierten Dezimalzähler mit TTL-Logikschaltungen enthält, damit das Vorhandensein eines Kurzschlusses zwischen der an Masse gelegten adressierten Klemme und irgendeiner anderen Klemme überprüft wird. Die elektronische Abtastschaltung 5 arbeitet unter der Steuerung durch Signale aus einer Taktimpulsgeneratoranordnung 11, die einen Impulsgenerator 11a enthält, der einen vierstufigen dekadischen Zähler lib speist. Obgleich bei der hier beschriebenen Ausführungsform die Abtastschaltung 5 einen binär codierten Dezimalzähler enthält, kann auch in manchen Anwendungsfällen ein umlaufender Ringzähler für die Zwecke der Abtastung verwendet werden.

Die Ausgangssignale der Taktimpulsgeneratoranordnung 11 werden über eine Leitung 7 einer Koinzidenzschaltung 6 zugeführt, die an ihrem anderen Eingang über eine Direktverbindung 8 voraufgezeichnete Signale empfängt, die in dem in der Datenspeichereinrichtung 4 enthaltenen Programm erzeugt werden, und die ein Ausgangssignal erzeugt, wenn die programmierte Adresse mit der von der Taktimpulsgeneratoranordnung 11 angegebenen Adresse übereinstimmt; die Koinzidenzschaltung 6 kann daher herkömmliche Koinzidenzgatter enthalten. Die Ausgangssignale werden von der Koinzidenzschaltung 6 also jedesmal dann abgegeben, wenn ein vom Programm bezeichneter Punkt unter der Steuerung der Taktimpulsgeneratoranordnung abgetastet wird.

Die Ausgangssignale der Koinzidenzschaltung 6 werden über eine Leitung 10 einer Vergleichseinrichtung 9 zugeführt, die einfach Gatterschaltungen enthält und an ihrer anderen Eingangsklemme Signale aus der Abtastschaltung 5 empfängt Wenn ein von der Koinzidenzschaltung 6 abgegebenes Signal gleichzeitig mit einem Ausgangssignal der elektronischen Abtastschaltung 5 an die Vergleichseinrichtung 9 angelegt wird, wird von dieser an der Leitung 12 ein Ausgangssignal erzeugt das die Weiterschaltung der Taktimpulsgeneratoranordnung 11 verhindert und ein Anzeigegerät 13 sowie ein von einem Schnelldrucker gebildetes Aufzeichnungsgerät 14 betätigt, damit der Fehler angezeigt und aufgezeichnet wird. Somit kann entsprechend einem in der Bandkassette der Datenspeichereinrichtung 4 enthaltenen vorbestimmten Programm jede Klemme einer zu prüfenden Anlage der Reihe nach mit Masse verbunden und jede andere Klemme abgetastet werden, damit das Vorhandensein von unerwünschten Verbindungen zwischen den Klemmen festgestellt wird. Natürlich werden das Anzeigegerät 13 und das Aufzeichnungsgerät 14 ebenfalls unter Steuerung durch die Taktimpulsgeneratoranordnurig betrieben, wie es bei synchronen Systemen üblich ist, jedoch sind die entsprechenden Verbindungen in der Zeichnung nicht gezeigt.

Es ist offensichtlich, daß das beschriebene Gerät sich insbesondere für die Verdrahtung von Schalttafeln und gedruckten Schaltungsplatten eignet. Durch die Anwendung der elektronischen Abtastung in der zuvor beschriebenen Weise wird eine schnelle Prüfung erleichtert, und es kann die elektrische Verbindung zwischen einem bestimmten Punkt und einem weiteren Punkt geprüft werden; ebenso kann die Beziehung eines bestimmten Punktes mit einer größeren Anzahl von anderen Punkten im Hinblick auf elektrische Verbindungen überprüft werden, so daß sowohl fehlerhafte Querverbindungen als auch Unterbrechungen festgestellt werden können.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (4)

Patentansprüche:

1. Elektrisches Prüfgerät mit einer mit Schaltgliedern ausgestatteten Schaltungsanordnung zum Abtasten einer Anzahl von Punkten oder Klemmen in einer zu prüfenden elektrischen Anlage in bezug auf einen anderen Punkt oder eine andere Klemme der Anlage zum Feststellen des Vorhandenseins oder des Fehlens von elektrisch leitenden Verbindungen zwischen den einen Punkten oder Klemmen und dem anderen Punkt bzw. der anderen Klemme, dadurch gekennzeichnet, daß eine Datenspeichereinrichtung (4) vorgesehen ist, in der ein vorbestimmtes Programm gespeichert ist, daß eine Vergleichseinrichtung (9) vorgesehen ist, die Signale, die einem vorbestimmten Punkt bzw. einer vorbestimmten Klemme der zu prüfenden Anlage (1) zugeordnet und entsprechend dem gespeicherten Programm abgeleitet sind, mit Signalen vergleicht, die dem anderen Punkt bzw. der anderen Klemme angehören und während eines Abtastvorgangs so erzeugt werden, daß ein Verbindungsfeliler zwischen dem einen Punkt bzw. der einen Klemme und dem anderen Punkt bzw. der anderen Klemme in Abhängigkeit von der Feststellung des Vorhandenseins oder des Fehlens einer leitenden Verbindung dazwischen angezeigt wird, und daß die zum Abtasten verwendeten Schaltglieder Halbleiterschalter sind.

2. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Signale, die von der Vergleichseinrichtung (9) abgeleitet werden und einem Punkt bzw. einer Klemme zugeordnet sind, für den bzw. die ein Verbindungsfehler angezeigt wird, einem Aufzeich- J5 nungsgerät (14) zugeführt werden.

3. Gerät nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch eine Kurzschlußvorrichtung (2) zum Anlegen eines vorbestimmten elektrischen Potentials an eine von mehreren Klemmen der zu prüfenden Anlage (1), wobei die Datenspeichereinrichtung (4) ein Programm enthält, nach dem die Klemmen der Reihe nach auf die Abtastschaltung (5) umgeschaltet werden, damit die Klemmen der zu prüfenden Anlage (1) der Reihe nach in bezug auf die Klemme umgeschaltet werden, an die gerade das vorbestimmte Potential angelegt ist, und damit ein Ausgangssignal geliefert wird, das eine fehlerhafte oder unerwünschte elektrische Verbindung zwischen diesen Klemmen anzeigt, eine Taktimpulsgeneratoranordnung (11) für den synchronen Betrieb der Abtastschaltung (5), eine Koinzidenzschaltung (6), welche vom Programm abgeleitete Signale mit Signalen vergleicht, die von einer Zähleinrichtung (11 b) erzeugt werden, und die beim Auftreten einer Übereinstimmung ein Ausgangssignal liefert, das eine bestimmte Klemme identifiziert, und durch eine Fehleranzeigeeinrichtung (13), die auf das Ausgangssignal der Vergleichseinrichtung (9) anspricht und die Feststellung eines Fehlers anzeigt, wobei das Ausgangssignal der Vergleichseinrichtung (9) auch zur Sperrung des weiteren Betriebs des Taktimpulsgenerators (11) verwendet wird.

4. Gerät nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Abtastschaltung (5) einen binär codierten Dezimalzähler mit TTL-Logikschaltungen enthält, und daß die Kurzschlußvorrichtung (2) die bipolaren Transistorelemente von integrierten TTL-Logikschaltungen enthält.