DE2941123C2 - - Google Patents

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zum Testen von elektronischen Bauelementen vor dem Einsetzen in einen Schaltungsträger.

Elektrische und elektronische Bauelemente werden derzeit von einer Vielzahl verschiedener Hersteller in steigenden Zahlen hergestellt. Diese Hersteller unter­ werfen ihre Produkte häufig strengen Qualitätskontroll­ normen während der Produktion und im Anschluß daran. Trotz der Anwendung dieser Qualitätskontrollnormen zei­ gen die betreffenden elektrischen und elektronischen Bau­ elemente dennoch verschiedene Ausfallraten bei ihren Endverbrauchern bzw. bei den Endabnehmern.

Die Endabnehmer setzen mehrere dieser elektronischen oder elektrischen Bauelemente in einer speziellen Schaltungs­ konfiguration zusammen, die eine oder mehrere Funktionen innerhalb einer elektrischen oder elektronischen Gesamt­ einrichtung ausführt. Diese spezielle Schaltungskonfigu­ ration wird in den meisten Fällen durch eine gedruckte Schaltungsplatte festgelegt, die die betreffenden Bau­ elemente aufnimmt. Die betreffenden bestimmten Bau­ elemente können dabei automatisch in die gedruckte Schal­ tungsplatte eingefügt bzw. eingesetzt werden, und zwar ggfs. durch Verwendung einer Bauelement-Einsetzmaschine. Diese zuletzt erwähnte Lösung wird häufig von einem Einrichtungshersteller angewandt, der mit der Massen­ produktion befaßt ist.

Es sei darauf hingewiesen, daß es bedeutsam ist, jeg­ liches Problem auszuschalten, welches mit der automati­ schen Bauelementbeschickung in einer Produktionsanlage mit einer hohen Massenproduktion verknüpft ist. Dies würde jede fehlerhafte Beschickung der Bauelement- Einsetzmaschine mit falschen Bauelementen einschließen. Damit würde überdies die Beschickung bzw. Zuführung der richtigen Bauelemente in einer falschen Weise eingeschlos­ sen sein, d. h. durch fehlerhafte Ausrichtung der be­ treffenden Bauelemente, so daß sie in der falschen Rich­ tung für das Einsetzen ausgerichtet sind. Dies würde überdies die Ermittelung eines Bauelementes einschließen, welches entweder vom ursprünglichen Bauelementhersteller her bereits defekt oder durch anschließende Verarbeitung bzw. Handhabung durch den Einrichtungshersteller beschädigt worden war.

Der Forderung nach Überprüfung der elektrischen Bauelemen­ te aus den vorstehend erwähnten Gründen sind stets die Forderungen nach einem zweckmäßigen Handhaben und Ein­ setzen der Bauelemente durch den Hersteller der elektri­ schen oder elektronischen Einrichtung entgegengestanden. Dieser Umstand hat bisher zu dem Nachteil geführt, daß ein umfangreicher Test zum Zeitpunkt der Bauelement­ einführung vorzunehmen war. In diesem Zusammenhang ist anzumerken, daß der Test üblicherweise auf eine Über­ prüfung der Ausrichtung eines gegebenen Bauelements be­ schränkt war, indem ein Ausschnitt bzw. eine Aussparung am vorderen Ende des Bauelements ermittelt wurde. Das Bauelement wurde danach eingesetzt, wenn die richtige Ausrichtung angegeben wurde.

Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, eine Bau­ element-Einsetzmaschine zu schaffen, mit der die Bauelemente vor ihrer Einführung in den Schaltungsträger elektrisch getestet werden können.

Diese Aufgabe wird durch eine Testvorrichtung mit den Merk­ malen des Patentanspruchs 1 gelöst.

Zweckmäßige Weiterbildungen gehen aus den Unteransprüchen hervor.

Die Erfindung besteht in einem System zum Testen von Bau­ elementen, die in einer Bauelement-Einsetzmaschine verwen­ det werden. Dabei werden die Bauelemente vor dem Einsetzen in den Schaltungsträger auf ihre Funktionsfähigkeit geprüft. Da es sich um verschiedene Bauelemente handeln kann, ist es notwendig, zuerst zu ermitteln, welches Bauelement gerade eingesetzt werden soll. Daraufhin wird ein bestimmter Test für das jeweilige Bauelement ausgewählt und ein Testsignal an mindestens einen Signaleingang des Bauelements angelegt. Das Ausgangssignal des Bauelements wird mit einem Referenz­ signal verglichen, um zu entscheiden, ob das jeweilige Bau­ element funktionsfähig ist.

Aus der US 36 29 702 ist eine automatische Test­ vorrichtung für mehrere diskrete elektrische Bauelemente be­ kannt. Der Durchlauf der Bauelemente wiederholt sich in vor­ bestimmter Folge. Außer dem Förderband mit den zu testenden Bauelementen wird die Prüfstation von einem zweiten Förder­ band durchlaufen, das eine Folge von Vergleichselementen ent­ hält. Ein Schaltkreis vergleicht jeweils paarweise das Test­ element und das Referenzelement und erkennt einen zu großen Unterschied in der getesteten elektrischen Eigenschaft.

Aus der DE 24 07 963 A1 ist eine Schaltungsanordnung zur Aufnahmeprüfung von einzelnen Bauele­ menten oder auch von Gesamtschaltungen bekannt. Es werden Analogmessungen vorgenommen, bei denen Testsignale mit Hilfe einer Speiseschaltung eingespeist werden. Die zu prüfenden Schaltungskomponenten sind über eine Abtastvorrichtung an Informationsermittlungsvorrichtungen gekoppelt, deren Ausgangssignale mit Sollwerten verglichen werden. Die Ansprechempfindlichkeit der Informationsermittlungsvor­ richtungen ist steuerbar. Die Veränderung der Ansprech­ empfindlichkeit erfolgt über ein Steuersignal, das von der Verarbeitungs- und Vergleichseinheit stammt.

Demgegenüber hat die erfindungsgemäße Bauelementeinsetz­ maschine die vorteilhafte Fähigkeit, die Ansprechcharakteri­ stik des jeweiligen Bauelements vor dem Einsetzen in einen Schaltungsträger messen zu können.

Überdies hat die neu zu schaffende Bauelementeinsetzma­ schine den Vorteil, das jeweilige elektrische Bauelement eindeutigen Testbedingungen unterziehen zu können, bevor das betreffende Bauelement in den Schaltungs­ träger eingesetzt wird.

Schließlich zeigt die erfindungsgemäße Bauelement-Einsetz­ maschine die vorteilhafte Fähigkeit, das jeweilige elektrische Bauelement während einer bestimmten Zeitspanne vor dem Einsetzen in einen Aufzeichnungsträger eindeutigen Test­ bedingungen aussetzen zu können.

Es wird insbesondere eine Vielzahl von elektrischen Kontakten mittels eines Paares von Fingergreifern fest­ gelegt, die normalerweise das Bauelement unmittelbar vor dessen Einsetzen in den Aufzeichnungsträger festhalten. Das Bauelement wird in bezug auf diese elektrischen Kon­ takte ausgerichtet, wenn es zunächst mittels des Paares der Fingergreifer erfaßt wird. Ein oder mehrere elektrische Kontakte werden dazu herange­ zogen, Testsignale an das Bauelement zu übertragen. Mit Hilfe unterschiedlicher elektrischer Kontakte wird das Ansprechverhalten des betreffenden Bauelementes auf diese Testsignale hin überwacht. Die Zuführung der Testsignale und die Überwachung des Ansprechverhaltens des Bau­ elements auf diese Testsignale werden durch eine selek­ tive Teststeuereinrichtung festgelegt. Diese selektive Teststeuereinrichtung wird derart betrieben, daß ein oder mehrere unterschiedliche Tests festgelegt werden, die unterschiedliche Ansprechverhalten seitens des jeweili­ gen Bauelements erfordern.

Bei einer bevorzugten Ausführungsform umfassen die Tests die Zuführung von Verknüpfungspegelsignalen zu ausge­ wählten Stiften eines vorgegebenen integrierten Schal­ tungsbauelements. Jeder Test umfaßt darüber hinaus die augenblickliche bzw. kurzzeitige Zuführung von aus­ gewählten Speisungs- und Erdungspegeln zu dem integrier­ ten Schaltungsbauelement. Die Ansprechverhaltensweisen der integrierten Schaltung durch die Ansteuerung an den betreffenden Stiften werden mit einer für das jeweilige integrierte Schaltungsbauelement vorgesehenen bestimmten Wertetabelle verglichen.

In dem Fall, daß sich bezüglich des getesteten Bau­ elements keine sichere Funktionsfähigkeit ergibt, wird die selektive Bauelementteststeuerung derart wirksam, daß die Hauptsteuerung der Bauelementeinsatzmaschine in Alarm gesteuert wird. Die Hauptsteuerung wird daraufhin jegliche weitere Maß­ nahme unterbrechen und überdies der Bedienperson Kennt­ nis von dem unrichtigen Testergebnis geben.

Anhand von Zeichnungen wird die Erfindung nachstehend beispielsweise näher erläutert.

Fig. 1 zeigt in einem Blockdiagramm eine Bauelement­ einsetzmaschine gemäß der vorliegenden Erfindung.

Fig. 2 zeigt in einem Blockdiagramm eine selektive Bauelement-Teststeuereinrichtung.

Fig. 3 zeigt in einem detaillierten Blockdiagramm die selektive Bauelement-Teststeuereinrichtung gemäß Fig. 2.

Fig. 4 zeigt in einem Flußdiagramm die Operationen, die von einer Zentraleinheit innerhalb der selektiven Bau­ element-Teststeuereinrichtung gemäß Fig. 3 ausgeführt werden.

Fig. 5a, 5b und 5c veranschaulichen elektrisch empfind­ liche Fingergreifer innerhalb der selektiven Bauelement- Teststeuereinrichtung gemäß Fig. 3.

Fig. 6 zeigt eine Testsignal-Torschaltung innerhalb der selektiven Bauelement-Teststeuereinrichtung gemäß Fig. 2 und 3.

Fig. 7 veranschaulicht eine Vergleicherschaltung, wie sie in der selektiven Bauelement-Teststeuereinrich­ tung gemäß Fig. 3 verwendet ist.

Fig. 8 veranschaulicht den Aufbau eines Stromgenerators, wie er in der selektiven Bauelement-Teststeuereinrichtung gemäß Fig. 3 verwendet ist.

Fig. 9 veranschaulicht eine Erdungs- und Strom-Kontakt­ auswahlschaltung für die selektive Bauelement-Teststeuer­ einrichtung gemäß Fig. 3.

In Fig. 1 ist eine Bauelement-Einsetzmaschine gemäß der vorliegenden Erfindung generell in Blockdiagrammform ver­ anschaulicht. Dabei ist eine Hauptsteuereinrichtung 20 vorgesehen, die derart betrieben wird, daß sie eine Bau­ element-Auswahl- und Einsetzvorrichtung 22 über zwei Steuerverbindungsn 24 und 26 steuert. Es sei darauf hin­ gewiesen, daß die Hauptsteuereinrichtung 20 und die Aus­ wahl- und Einsetzvorrichtung 22 generelle Elemente dar­ stellen, die in jeder derzeit modernen Bauelementeinsetz­ maschine zu finden sind. Dies wird beispielsweise durch die Bauelement-Einsetzmaschine nach der US 40 63 347 veranschaulicht. Die in der betreffenden US-Patentschrift angegebene Maschine wird derart betrieben, daß sie Bau­ elemente in einer durch das Hauptsteuersystem festgelegten sequentiellen Weise auswählt. Die jeweils ausgewählten Bauelemente werden in jedem Falle zu einem Bauelement- Einsetzmechanismus der Maschine übertragen. Das jeweilige Bauelement wird anschließend in einen Aufnahmeträger, wie in eine gedruckte Schaltungsplatte, eingesetzt. Der Hauptsteuerteil der betreffenden Maschine ist danach in der Weise wirksam, daß er das nächste auszuwählende Bauelement auswählt.

Gemäß der vorliegenden Erfindung wird die Auswahl des nächsten Bauelements durch die Hauptsteuereinrichtung der Bauelement-Einsetzmaschine zu einer selektiven Bau­ element-Teststeuereinrichtung 28 hin übertragen. Diese selektive Bauelement-Teststeuereinrichtung legt danach einen oder mehrere digitale Tests für das jeweilige be­ stimmte Bauelement fest. Diese Tests werden an dem aus­ gewählten Bauelement durchgeführt, welches für das Ein­ setzen ergriffen worden ist, und zwar innerhalb der Bau­ element-Auswahl- und Einsetzvorrichtung 22. Die Ansprech­ verhaltensweisen des jeweiligen Bauelements auf die be­ stimmten Tests werden innerhalb der selektiven Bau­ element-Teststeuereinrichtung überprüft. Die selektive Bauelement-Teststeuereinrichtung wird derart betrieben, daß sie die Ergebnisse des Tests zu der Hauptsteuerein­ richtung 20 hin überträgt.

Die Hauptsteuereinrichtung 20 wird daraufhin in der Weise betrieben, daß sie ein Einsetzen des Bauelements für den Fall freigibt, daß die Testergebnisse positiv sind. Im anderen Fall unterbricht die Hauptsteuerein­ richtung 20 das Einsetzen des ergriffenen Bauelements und signalisiert der Bedienperson das relative Tester­ gebnis.

In Fig. 2 ist in Blockdiagrammform die selektive Bau­ element-Teststeuereinrichtung 28 veranschaulicht. Das Bauelement-Auswahlsignal von der Hauptsteuereinrichtung 20 her wird einer Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 zuge­ führt. Die Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 ist derart betrieben, daß sie einen oder mehrere digitale Tests auf das Auftreten des Bauelement-Auswahlsignals hin auswählt und festlegt. Jeder Test wird durch eine Vielzahl von 2-Pegel-Signalen gesondert festgelegt, die von der Test­ programm-Auswahleinrichtung 30 erzeugt werden. Bestimmte dieser Testsignale werden einer Testsignal-Torschaltung 32 zugeführt. Diese Testsignal-Torschaltung 32 leitet die Eingangstestsignalzustände zu zwei elektrisch empfind­ lichen Fingergreifern 34 hin. Wie weiter unten noch im einzelnen erläutert werden wird, sind die elektrisch empfindlichen Fingergreifer 34 derart wirksam, daß sie das jeweils ergriffene Bauelement diesen Eingangstest­ signalbedingungen unterwerfen.

Die Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 gibt ferner eine Reihe von 2-Pegel-Zustandssignalen an eine Vergleicher­ schaltung 36 ab. Die Vergleicherschaltung 36 erhält ferner eine Anzeige bezüglich des Typs des elektrischen Bauelements, welches zu testen ist, direkt von der Test­ programm-Auswahleinrichtung 30 über eine Leitung 38 zuge­ führt. Dieses zuletzt erwähnte Signal bewirkt in Ver­ bindung mit dem 2-Pegel-Zustandssignal von der Test­ programm-Auswahleinrichtung, daß die Vergleicherschal­ tung 36 in den Stand versetzt ist, schließlich einen Vergleich mit den Ausgangssignalen von dem dem Test unterzogenen Bauelement vorzunehmen.

Die Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 erzeugt ferner eine Gruppe von 2-Pegel-Signalen, die die bestimmten Speisungs- und Erdungsbedingungen für das Bauelement fest­ legen, welches von den elektrisch empfindlichen Finger­ greifern 34 ergriffen ist. Diese 2-Pegel-Signale werden einer Speisequelle 40 zugeführt. Die Speisequelle 40 ist derart wirksam, daß sie eine bestimmte Reihe von Spei­ sungs- und Erdungs-Zustandssignalen erzeugt, die den elektrisch empfindlichen Fingergreifern 34 zugeführt werden. Die Zuführung von Speise- und Erdungssignalen zu dem jeweiligen Bauelement wird auf eine vorher fest­ gelegte Zeitspanne begrenzt, die durch die Testprogramm- Auswahleinrichtung 30 festgelegt ist. Die verschiedenen Aus­ gangssignale bzw. Verhaltensweisen des so gespeisten Bauelements werden mit einer erwarteten Reihe von 2-Pegel-Zustandssignalen in der Vergleicherschaltung 36 verglichen. Dies wird ebenfalls auf einer zeitlich fest­ gelegten Grundlage vorgenommen, was durch ein Signal festgelegt wird, welches von der Testprogramm-Auswahl­ einrichtung 30 über eine Leitung 42 zugeführt wird. Die Ergebnisse dieses zeitlichen Vergleichs werden über eine Leitung 44 zu der Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 zu­ rückübertragen. Die Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 überträgt danach entweder die Ergebnisse des Tests zu der Hauptsteuereinrichtung 20 hin, oder aber sie fährt das nächstfolgende Testprogramm bezüglich des bestimmten Bauelementes durch.

In Fig. 3 ist die selektive Bauelement-Teststeuereinrich­ tung 28 in weiteren Einzelheiten veranschaulicht. Die ver­ schiedenen Verknüpfungselemente, die in Fig. 2 zuvor be­ trachtet worden sind, sind in Fig. 3 in entsprechender Weise bezeichnet. Die Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 und die Speisequelle 40 gemäß Fig. 2 sind darüber hinaus mit gestrichelten Linien eingerahmt. Zunächst sei auf die Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 eingegangen, bezüglich der ersichtlich ist, daß sie eine Zentraleinheit bzw. einen zentralen Prozessor 46 enthält, der mit verschiedenen weiteren Verknüpfungselementen verbunden ist bzw. mit diesen in Schnittstellenverbindung steht. Die Zentral­ einheit 46 ist vorzugsweise ein Mikroprozessor.

Die Zentraleinheit 46 erhält das jeweilige Bauelement- Auswahlsignal von der Hauptsteuereinrichtung 20 gemäß Fig. 1 her. Auf das Auftreten dieses Signales hin adressiert die Zentraleinheit einen Speicher 48 über einen Adreßbus 50. Der Speicher 48 ist in einer solchen Art und Weise adressiert, daß er eine Testinformation enthält, welche dem Bauelement zugehörig ist. Diese Testinformation ist in einer Gruppe von aufeinander­ folgend adressierbaren Speicherplätzen untergebracht. Das Adressieren dieser Speicherplätze beginnt mit der Adresse, die von der Zentraleinheit 46 auf das Auftreten des Bauelement-Auswahlsignals hin erzeugt wird. Der Zu­ griff zu der Testinformation erfolgt durch aufeinander­ folgendes Adressieren dieser Speicherplätze über den Adreßbus 50. Das Auslesen der in den betreffenden Speicherplätzen gespeicherten Testinformation erfolgt über einen Speicherbus 52. Ein Teil der Testinformation, zu der ein Zugriff hin erfolgt ist, wird in ein Eingabe- Zuteilungsregister 54 über einen Ausgabebus 56 geladen. Ein weiterer Teil der Testinformation, zu der hin ein Zugriff erfolgt ist, wird über den Ausgabebus 56 in ein Wertetabellenregister 58 geladen. Das Laden der Testin­ formation in die betreffenden Register 54 und 58 wird durch Ladesignale freigegeben, die von einem Adressen­ decoder 60 her abgegeben werden und die auf zwei Lei­ tungen 62 und 64 auftreten.

Die 2-Pegel-Zustandsausgangssignale von dem somit ge­ ladenen Eingabe-Zuteilungsregister 54 werden über eine Busleitung 68 an die Testsignal-Torschaltung 32 abge­ geben, während die Ausgangszustandssignale von dem so­ mit geladenen Wertetabellenregister 58 über eine Buslei­ tung 66 an die Testsignal-Torschaltung 32 abgegeben wer­ den. Die Testsignal-Torschaltung wird derart betrieben, daß die verschiedenen 2-Pegel-Zustandssignale an die elektrisch empfindlichen Fingergreifer 34 über eine Bus­ leitung 70 übertragen werden. Die elektrisch empfind­ lichen Fingergreifer 34 sind ihrerseits derart wirksam, daß sie diese 2-Pegel-Zustandssignale an ein festge­ haltenes Bauelement anlegen bzw. abgeben.

Im Hinblick auf die Zentraleinheit 46 ist ersichtlich, daß deren rechte Seite eine Anzahl von Anschlüssen aufweist. Diese Anschlüsse, die auch als Ports be­ zeichnet werden, sind für Mikroprozessoren üblich. Gemäß der Erfindung wird die Zentraleinheit 46 derart betrie­ ben, daß sie eine gewisse von dem Speicher 48 her er­ haltene Testinformation zu diesen Anschlüssen hin über­ trägt. Diese Information wird ihrerseits weitgehend an die Speisequelle 40 abgegeben, und zwar über eine Reihe von Anschluß-Busleitungen 74, 76 und 78. Ein Bit dieser Information wird außerdem dazu herangezogen, ein "Bau­ element-Bezeichnungs"-Signal festzulegen, welches auf der Leitung 38 auftritt. Dieses "Bauelement-Bezeichnungs"- Signal wird der Vergleicherschaltung 36 zugeführt.

Die auf der Anschluß-Busleitung 74 auftretende Testin­ formation wird einem Stromgenerator 80 zugeführt, Der Stromgenerator wird derart betrieben, daß er nachfolgend einen bestimmten ausgewählten Strom während einer festge­ legten Zeitspanne erzeugt, wie dies durch die Testinforma­ tion auf der Busleitung 74 festgelegt ist. Dieser Strom wird über eine Leitung 84 einer Erd- und Stromeingangs- Zuteilungsschaltung 82 zugeführt. Diese zuletzt genannte Schaltung erhält außerdem die Testinformation von der Zentraleinheit 46 über die Anschluß-Busleitungen 76 und 78 zugeführt. Die Erdungs- und Strom-Eingangszuteilungsschal­ tung 82 wird anschließend derart betrieben, daß bestimmte elektrische Kontakte an den elektrisch empfindlichen Fingergreifern 34 bezeichnet werden, die die Erdungs- bzw. Stromzustandssignale zu erhalten haben. Diese Zu­ standssignale werden den betreffenden bezeichneten elektrischen Kontakten über eine Busleitung 86 zugeführt. Das ergriffene Bauelement spricht auf die ihm somit zu­ geführten Erdungs- und Strom-Eingangszustandssignale an (und auf die 2-Pegel-Testzustandssignale, die von der Testsignal-Torschaltung 323 zugeführt werden) und er­ zeugt auf einer Busleitung 88 eine entsprechende Reihe von 2-Pegel-Ausgangssignalen. Diese auf der Busleitung 88 auftretenden 2-Pegel-Ausgangssignale werden der Verglei­ cherschaltung 36 zugeführt. Die Vergleicherschaltung 36 erhält außerdem eine Reihe von erwarteten Testergebnissen von dem Wertetabellen-Register 58 über eine Busleitung 59. Diese zuletzt erwähnten 2-Pegel-Zustandssignale werden für die Vergleicherschaltung 36 dann verfügbar gemacht, wenn das Wertetabellen-Register 58 geladen wurde. Die er­ warteten 2-Pegel-Zustandssignale von der Busleitung 89 werden mit den tatsächlichen 2-Pegel-Zustandssignalen ver­ glichen, die auf der Busleitung 88 auftreten. Dies erfolgt zu einem solchen Zeitpunkt, daß ein Vergleichs-Freigabe­ signal von dem Adressendecoder 60 über die Leitung 42 auf­ genommen wird. Die Ergebnisse des Vergleichs werden über die Leitung 44 zu der Zentraleinheit 46 zurückübertragen. Wenn das Vergleichsergebnis günstig ist, führt die Zentral­ einheit 46 entweder einen weiteren Test durch, oder sie übermittelt eine positive Testergebnis-Bestätigung zu der Hauptsteuereinrichtung 20.

In Fig. 4 ist in einem Flußdiagramm die Arbeitsweise der Zentraleinheit 46 veranschaulicht. Das Flußdiagramm be­ ginnt mit einer Entscheidung darüber, ob ein Bauelement ausgewählt worden ist oder nicht. Wie zuvor angedeutet worden ist, wird dies der Zentraleinheit 46 von der Haupt­ steuereinrichtung 20 gemeldet. Die Auswahl eines Bau­ elements von der Hauptsteuereinrichtung 20 zeigt überdies das somit ausgewählte bestimmte Bauelement an. Damit ver­ bunden ist die vorherige Zuteilung einer bestimmten Nummer für das jeweilige Bauelement. Mit anderen Worten ausge­ drückt heißt dies, daß jedes Bauelement zuvor mit "0" bis "k-1" numeriert wird, wobei "k" kennzeichnend ist für die Nummer bzw. Anzahl einzelner Bauelemente, die auszuwählen, zu testen und einzusetzen sind. Diese Nummer wird in dem Bauelement-Signal erscheinen, das der Zentral­ einheit 46 zugeführt wird.

Auf die Auswahl eines Bauelementes hin wird die Zentral­ einheit 46 derart betrieben, daß eine Test-Zählerstellung von "m" eingestellt wird. Dies ermöglicht die anschließende Durchführung von mehr als einem Test. Es hat sich heraus­ gestellt, daß zumindest zwei Tests üblicherweise erforder­ lich sind, um in angemessener Weise ein Bauelement vor dem Einsetzen zu testen.

Auf das Festlegen einer Test-Zählerstellung von "m" hin besteht der nächste Schritt darin, das ausgewählte Bau­ element-Signal in eine Speicheradresse umzusetzen, welche den Speicherplatz für das erste Wort der Information für den ersten Test kennzeichnet. Dies wird vorzugsweise da­ durch vorgenommen, daß die Bauelement-Nummer mit der maximalen Zahl von Speicherplätzen multipliziert sind, die zur Speicherung der Test-Information für irgendein gegebenes Bauelement erforderlich sind. Mit anderen Worten heißt dies, daß dann, wenn es erforderlich wäre, ein Maximum von 16 Speicherplätzen zur Durchführung von "m" Tests bezüglich eines oder mehrerer Bauelemente bereitzu­ stellen, die Zahl 16 den Multiplikationsfaktor darstellen würde. Es dürfte einzusehen sein, daß der tatsächliche Multiplikationsfaktor von der Wortbreite des Speichers 48 sowie von der Gesamtzahl von Wörtern abhängen wird, die erforderlich sind, um die "m" Tests auszuführen. Es sei ferner darauf hingewiesen, daß dann, wenn die erste Speicheradresse des mit "0" numerierten Bauelements von Null verschieden ist, diese Adresse ebenfalls zu den zuvor erwähnten Multiplikationsergebnissen hinzuzuaddieren ist.

Nachdem die erste Adresse somit festgelegt ist, arbeitet die Zentraleinheit nunmehr in der Weise, daß sie einen Zugriff zu der Testinformation unter dieser Adresse aus­ führt. Gemäß einem vorher festgelegten Laden der Testin­ formation in den Speicher 48 gehört die in der ersten Speicheradresse vorhandene Information zu den Eingabe- Zuteilungen für das betreffende bestimmte Bauelement. Der nächste Schritt in dem Flußdiagramm gemäß Fig. 4 besteht somit im Lesen und Schreiben dieser Eingabe-Zuteilungen in das Register 54 gemäß Fig. 3. Gemäß Fig. 3 wird dies da­ durch bewirkt, daß der Bus bzw. die Busleitung 54 mit den bestimmten Eingabe-Zuteilungen beschickt wird und daß da­ nach eine Adresse abgegeben wird, die den Adressendeco­ der 60 derart triggert, daß dieser ein Ladesignal an die Leitung 62 abgibt, wodurch die Eingabe-Zuteilungsinforma­ tion in das Eingabe-Zuteilungsregister 54 geladen wird. Die Eingabe-Zuteilungen bestehen aus 2-Pegel-Zustands­ signalen, die parallel in das Eingabe-Zuteilungsregister 54 zu einem solchen Zeitpunkt geladen werden, zu dem das Ladesignal auf der Leitung 62 auftritt.

In entsprechender Weise besteht der nächste Schritt in dem Flußdiagramm gemäß Fig. 4 darin, daß das Lesen und Schrei­ ben der Wertetabelle für den Test in das Register 58 durch­ geführt wird. Zu diesem Zweck wird die Wertetabellen-Informa­ tion ausgelesen, die in den nächstfolgenden adressierbaren Speicherplätzen innerhalb des Speichers 48 gespeichert ist, und danach wird die betreffende Information parallel in das Wertetabellen-Register 58 geladen. Das eigentliche Laden wird dadurch vorgenommen, daß ein Adressensignal an die Adressen-Busleitung 50 abgegeben wird und daß die betreffende Adresse durch den Adressendecoder 60 decodiert wird, der seinerseits ein Ladesignal an die Leitung 64 ab­ gibt.

Der nächste Schritt in dem Flußdiagramm gemäß Fig. 4 be­ steht darin, daß das Lesen und Einschreiben der Strom- Auswahl in einem bezeichneten Anschluß erfolgt. Der be­ treffende bestimmte bezeichnete Anschluß wird dabei der­ jenige Anschluß sein, der der Anschluß-Busleitung 74 zuge­ hörig ist. Daraufhin erfolgt das Lesen und Einschreiben der Strom-Eingabezuteilung in einen dem Anschluß-Bus 76 zugehörigen bezeichneten Anschluß. Die Bauelement-Bezei­ chnungsinformation wird danach in einen der Leitung 38 gemäß Fig. 3 zugehörigen Anschluß geschrieben. Der nächste Informationsteil, der in einen Anschluß einzuschreiben ist, stellt die Erdungs-Zuteilung dar. Dieser Informa­ tionsteil wird in den dem Anschluß-Bus 78 zugehörigen Anschluß eingeschrieben.

Es dürfte einzusehen sein, daß die gesamte Information, die an den den Anschluß-Busleitungen 74, 76 und 78 zuge­ hörigen Anschlüssen eingeschrieben wird, unmittelbar ver­ fügbar gemacht wird für das signalmäßig aufnehmende Ver­ knüpfungselement. In diesem Zusammenhang sei angemerkt, daß der Stromgenerator 80 derart betrieben wird, daß er einen ausgewählten Strom erzeugt, kurz nachdem die In­ formation in den dem Anschlußbus 74 zugehörigen Anschluß eingeschrieben worden ist. Dieser Strom wird anschließend einem bestimmten Kontakt innerhalb der elektrisch empfind­ lichen Fingergreifer 34 zugeführt, und zwar kurz nachdem die Strom-Eingangszuteilung in den dem Anschlußbus 76 zuge­ hörigen Anschluß eingeschrieben worden ist. Schließlich wird ein bestimmter Kontakt innerhalb der elektrisch empfindlichen Fingergreifer 34 dem Erdungszustand ausge­ setzt, kurz nachdem die Erdungs-Eingangszuteilung in den dem Anschlußbus 78 zugehörigen Anschluß eingeschrieben worden ist. Es sei darauf hingewiesen, daß das festge­ haltene Bauelement einem bestimmten Speisepegel ausgesetzt wird, der durch den ausgewählten Strom festgelegt ist, sobald der Erdungszustand ausgeübt wird bzw. das Bauelement diesem ausgesetzt ist. Das so gespeiste Bauelement wird einer relativ kurzen Einschwingzeit bzw. Einstellzeit aus­ gesetzt werden. Diese Einschwingzeit wird dadurch bereitge­ stellt, daß eine bestimmte Zeitspanne festgelegt wird, während der dem dem Test unterzogenen Bauelement ermög­ licht ist, sich zu stabilisieren. Dies ist in Fig. 4 als gesonderter Schritt auf das Lesen und Einschreiben der Erdungs-Zuteilung in den dem Anschlußbus 78 zugehörigen Anschluß veranschaulicht.

Im Hinblick auf Fig. 4 sei darauf hingewiesen, daß der nächste Schritt darin besteht, einen Vergleich innerhalb der Vergleicherschaltung 36 einzuleiten, und zwar auf den Ablauf der betreffenden bestimmten Zeitspanne. Dies wird mit der in Fig. 3 dargestellten Verknüpfungsanordnung be­ wirkt, indem ein Adressensignal an die Adressenbuslei­ tung 50 abgegeben wird. Dieses Signal wird durch den Adressendecoder 60 decodiert, der seinerseits ein Ver­ gleicherfreigabesignal über die Leitung 62 an die Ver­ gleicherschaltung 36 abgibt.

Der nächste von der Zentraleinheit 46 nach dem Flußdia­ gramm gemäß Fig. 4 auszuführende Schritt besteht darin, das Ergebnis des Vergleichs zu erhalten, der somit durch die Vergleicherschaltung 36 vorgenommen worden ist. Dies wird dadurch erreicht, daß das 2-Pegel-Signal gelesen wird, welches von der Vergleicherschaltung 36 zu der Zentralein­ heit 46 über die Leitung 44 übertragen wird.

Der nächste Schritt in dem Flußdiagramm gemäß Fig. 4 besteht darin, die Anschlüsse der Zentraleinheit 46 zu nullen. Dadurch wird die Speisung für das Bauelement auf die Beendigung des Testes hin wirksam abgeschaltet. Es sei darauf hingewiesen, daß diese Speisungsabschaltung für das Bauelement zu einem Zeitpunkt auftreten wird, der kurz nach der Abgabe des Vergleicherfreigabesignals liegt. In diesem Zusammenhang sei bemerkt, daß dem Testen jedes Bauelements eine zeitliche Gesamtbeschränkung dadurch auf­ erlegt wird, daß die Zeitspanne begrenzt wird, während der das jeweilige Bauelement der tatsächlichen Speisung aus­ gesetzt ist. Diese zeitliche Beschränkung begrenzt jeg­ liche Beschädigung des festgehaltenen Bauelements in dem Fall, daß dieses während des Tests fehlerhaft funktioniert.

Der nächste auf die Nullung der Anschlüsse hin folgende Schritt besteht darin, daß festgelegt wird, ob das Vergleichsergebnis von der Leitung 44 zutrifft. Wenn dies im negativen Sinne beantwortet wird, dann wird die Zentraleinheit 46 in der Weise wirksam, daß ein "Fehler" in die Hauptsteuereinrichtung 20 als Testergebnis einge­ schrieben wird. Wenn hingegen die Antwort positiv aus­ fällt, dann wird die Test-Zählerstellung vermindert, und ferner wird die Frage gestellt, ob die Test-Zählerstellung gleich Null ist oder nicht. Wenn diese Antwort bejaht wird, dann wird der als Zentraleinheit bezeichnete Zentralpro­ zessor 46 derart betrieben, daß ein Weiterleitungssignal zu der Hauptsteuereinrichtung 20 geschrieben wird. Wenn die Test-Zählerstellung nicht gleich Null ist, dann führt der Zentralprozessor 46 einen Übergang im Zyklus zu Punkt A in dem Flußdiagramm aus. An dieser Stelle ent­ hält die nächstfolgende Adresse für den Speicher 48 das erste Informationswort für den nächsten Test. Dieses be­ stimmte Informationswort wird entweder vollständig oder teilweise die Eingangszuteilungen für den bestimmten Test enthalten, der auszuführen ist. Die Organisation der Testinformation innerhalb des Speichers 48 ist dabei dieselbe wie für den ersten Test, so daß lediglich eine sequentielle Adressierung vorzunehmen ist, wenn die ver­ schiedenen Schritte unterhalb des Punktes A ausgeführt werden. Diese Durchführung nachfolgender Tests wird so­ lange fortgesetzt, bis entweder ein Fehler bezüglich eines vorgegebenen Tests festgestellt wird oder bis eine Test­ zählerstellung von Null erreicht ist. Im zuletzt erwähn­ ten Fall wird der Zentralprozessor derart betrieben, daß ein "Durchlaßsignal" in die Hauptsteuereinrichtung 20 über die Leitung geschrieben wird, die die Testergebnisse überträgt.

Es sei darauf hingewiesen, daß die Hauptsteuereinrich­ tung 20 gemäß Fig. 1 derart betrieben wird, daß sie in geeigneter Weise entweder auf die "Umgehungs"- oder "Fehler"-Signale von dem Zentralprozessor 46 her an­ spricht. In diesem Zusammenhang sei angemerkt, daß die Hauptsteuereinrichtung 20 vorzugsweise ein digitaler Rechner ist, der so programmiert ist, daß er die normalen Auswahl- und Einsetzfunktionen einer Bauelement-Einsetz­ maschine ausführt. Dies stellt die normale Konfigura­ tion einer Hauptsteuereinrichtung innerhalb einer der­ zeit modernen Bauelement-Einsetzmaschine dar. Eine zur Fortführung des Einsetzens dienende Freigabe wird in der Hauptsteuereinrichtung programmiert. Diese Freigabe wird von der Aufnahme des "Umgehungs"-Signals von dem Zentral­ prozessor 46 her abhängig gemacht. Diese Freigabe wird niemals im Falle eines Bauelementausfalls erteilt. Die Hauptsteuereinrichtung oder eine gesondert zugeteilte Alarmschaltung sprechen auf ein "Ausfall"- bzw. "Fehler"- Signal an, um einen Alarm auszulösen, der der Bedien­ person der Maschine gemeldet wird.

In Fig. 5A ist ein festgehaltenes bzw. ergriffenes Bau­ element 90 als innerhalb zweier elektrisch empfindlicher Fingergreifer 92 und 94 festgehalten dargestellt. Die elektrisch empfindlichen Fingergreifer 92 und 94 stellen eine bevorzugte Konfiguration der elektrisch empfindlichen Fingergreifer 34 gemäß Fig. 2 und 3 dar. Das festgehaltene Bauelement 90 stellt ein an sich bekanntes Bauelement mit einer sogenannten Dual-In-Line-Stiftbelegung dar; ein derartiges Bauelement wird üblicherweise auch als DIP- Bauelement bezeichnet. Das betreffende DIP-Bauelement weist längs jeder Seite zehn gesonderte Anschlußstifte auf. Es dürfte einzusehen sein, daß jeder dieser Anschluß­ stifte entweder einen Eingang oder einen Ausgang bezüglich der in dem betreffenden Bauelement enthaltenen bestimmten elektrischen Schaltung darstellt.

Es dürfte ferner einzusehen sein, daß zumindest zwei die­ ser Anschlußstifte Speise- und Masse- bzw. Erdungs-Zustands­ signale für die betreffende bestimmte elektrische Schal­ tung innerhalb des Bauelements erfordern können. Diese Anschlußstift-Festlegungen ändern sich von einem DIP-Bau­ element zum nächsten DIP-Bauelement. Es ist daher er­ forderlich, daß jeder Anschlußstift gesondert und in­ dividuell zum Zwecke der Erzeugung der geeigneten bzw. in Frage kommenden Zustandssignalbedingungen für den je­ weiligen Anschlußstift berührt wird.

Ein erfolgreiches Testen des jeweiligen festgehaltenen elektrischen Bauelements 90 führt dazu, daß die Anschlußstifte des betreffenden Bau­ elements in einen Aufzeichnungsträger, wie in eine ge­ druckte Schaltungsplatte 96 gemäß Fig. 5a eingeführt bzw. eingesetzt werden. Daraufhin folgt ein Abschneiden und Umstauchen dieser Anschlußstifte mittels zweier beweg­ licher Messer 98 und 100. Dies wird durch die Haupt­ steuereinrichtung 20 im Anschluß an einen erfolgreichen Test des jeweiligen Bauelements festgelegt.

In Fig. 5b ist der Fingergreifer 92 im einzelnen veran­ schaulicht. Der Fingergreifer 92 ist an seinem oberen Ende durch eine Reihe von konzentrischen Löchern gelenkig ge­ lagert, wie dies dargestellt ist. Das gegenüberliegende Ende des Fingergreifers 92 umfaßt eine Vielzahl von einzelnen elektrischen Kontakten, wie den Kontakt 102, die die An­ schlußstifte eines festgehaltenen Bauelements gesondert berühren. Es dürfte einzusehen sein, daß die tatsächliche Anzahl der elektrischen Kontakte in Abhängigkeit von der maximalen Bauelementgröße variieren wird, die aufzunehmen ist. Der Fingergreifer 92 enthält zehn gesonderte elektri­ sche Kontakte, die eine Seite eines zwanzig Anschlußstifte aufweisenden DIP-Bauelements gemäß Fig. 5a aufnehmen können. Die Anzahl der an einem Paar von elektrisch empfindlichen Fingergreifern vorhandenen Kontakte wird hier mit "n" be­ zeichnet. Es dürfte einzusehen sein, daß diese Anzahl je nach der Größe der maximal aufzunehmenden DIP-Bauelemente variieren kann.

Das untere Ende jedes elektrischen Kontaktes gemäß Fig. 5c weist eine Aussparung auf, um einen Umfangsteil eines An­ schlußstiftes aufzunehmen. Jeder elektrische Kontakt ist im übrigen so konstruiert, daß er geeignete Belastungs­ drucke zu tragen vermag, die während des Einsetzens eines festgehaltenen Bauelements in eine gedruckte Schaltungs­ platte auftreten. Das obere Ende des jeweiligen elektri­ schen Kontaktes, wie des Kontaktes 102, weist eine ent­ gegengerichtete Ausnehmung auf, die über einen isolierten Vorsprung 104 eines Gesamtisolationsblocks 106 paßt. Die isolierenden Vorsprünge sind in Abstand an dem Isola­ tionsblock 106 vorgesehen, um für einen Luftspalt zwischen jedem elektrischen Kontakt zu sorgen, der darüber in Stellung bringbar ist bzw. paßt. Auf diese Art und Weise ist jeder elektrische Kontakt von seinen benachbarten elektrischen Kontakten elektrisch isoliert.

Jeder elektrische Kontakt weist ein Gewindeloch auf, welches eine elektrisch leitende Schraube 108 durch den Isolationsblock 106 aufnimmt. Der Isolationsblock 106 ist seinerseits an einem Hauptbauteil 110 des Fingergreifers 92 angeschraubt. Eine Vielzahl von federnd vorgespannten Kontakten, wie der Kontakt 112, sind innerhalb des Bau­ teiles 110 in entsprechender Stellung angebracht. Die federnd vorgespannten Kontakte werden aufgrund einer inneren Federvorspannung so bezeichnet, die ein elektrisch leitendes Ende nach außen drückt. Im Falle des federnd vorgespannten Kontaktes 112 handelt es sich dabei um ein elektrisch leitendes Ende 114, welches den Kopf der elektrisch leitenden Schraube 108 berührt.

Der federnd vorgespannte Kontakt 112 weist drei gesonderte elektrische Leitungen 118, 120 und 122 auf, die von einem freien Anschlußende nach außen abstehen. Jede dieser elektrischen Leitungen ist üblicherweise mit dem elektrisch leitenden Ende 114 innerhalb des federnd vorgespannten Kontaktes 112 verbunden. Jede dieser elektrischen Leitungen ist überdies mit einer bestimmten Schaltung in Fig. 3 verbunden. Die elektrische Leitung 118 ist speziell mit der Testsignal-Torschaltung 32 verbunden. Die elektrische Leitung 120 ist mit der Vergleicherschal­ tung 36 verbunden, während die elektrische Leitung 122 mit Erde bzw. Masse und der Strom-Eingangszuteilungsschal­ tung 82 verbunden ist. In jedem Falle bildet die bestimmte elektrische Leitung einen Teil der Busleitung, welche zwischen dem Schaltungselement und den elektrisch empfind­ lichen Fingergreifern 34 gemäß Fig. 3 verläuft. Die elektrische Leitung 118 bildet einen Teil der Busleitung 70, welche die Testsignal-Torschaltung 32 mit den elektrisch empfindlichen Fingergreifern 34 verbindet. Die elektrische Leitung 120 bildet einen Teil der Busleitung 88, welche die Vergleicherschaltung 36 mit den elektrisch empfind­ lichen Fingergreifern 34 verbindet. Die elektrische Lei­ tung 122 bildet einen Teil der Busleitung 86, welche die Erdungs- und Stromeingangs-Zuteilungsschaltung 82 mit den elektrisch empfindlichen Fingergreifern 34 verbindet. In jedem Falle fährt die bestimmte Busleitung "n" Lei­ tungen, die individuell mit den entsprechenden federnd vorgespannten Kontakten innerhalb der elektrisch empfind­ lichen Fingergreifer verbunden sind. Auf diese Art und Weise ist jeder Anschlußstift eines festgehaltenen Bau­ elements individuell mit der Testsignal-Torschaltung 32, der Vergleicherschaltung 36 und der Erdungs- und Strom- Eingabe-Zuteilungsschaltung 82 verbunden. Dies ermöglicht die Abgabe bzw. das Einprägen eines 2-Pegel-Testzustands­ signals oder die Festlegung eines Erdungs- oder Stromzu­ stands an einem vorgegebenen Anschlußstift eines festge­ haltenen Bauelements. Dadurch ist darüber hinaus die Ermittelung eines Zustandssignals ermöglicht, welches an dem Anschlußstift zu irgendeinem gegebenen Zeitpunkt vorhanden ist.

In Fig. 6 ist die Testsignal-Torschaltung 32 im einzelnen veranschaulicht. Es sei daran erinnert, daß die Testsig­ nal-Torschaltung 32 derart betrieben ist, daß sie eine Reihe von 2-Pegel-Testzustandssignalen über eine Bus­ leitung 66 von dem Wertetabellen-Register 58 her auf­ nimmt. Es sei ferner daran erinnert, daß die Testsignal- Torschaltung ferner eine Reihe von Eingangs-Zuteilungs­ signalen von dem Eingangs-Zuteilungsregister 54 über die Busleitung 68 aufnimmt. Die einzelnen Leitungen innerhalb der Busleitungen 66 und 68 sind in Fig. 6 mit durch Binde­ striche an vorangestellten Zahlen angefügten Bezeichnungen bezeichnet, wobei die betreffenden vorangestellten Zahlen die jeweilige Busleitung bezeichnen. Diese durch Binde­ striche nachgestellten Zeichen weisen im übrigen die Anhangzeichen von "1" bis "n" auf. Dies ist kennzeichnend für die Anzahl von Leitungen in der jeweiligen Busleitung, die benötigt werden, um die "n" 2-Pegel-Signale von den entsprechenden oben liegenden Registern 54 und 58 zu über­ tragen. In diesem Zusammenhang sei angemerkt, daß jedes 2-Pegel-Signal von dem Wertetabellen-Register 58 einen Eingabe- oder Ausgabezustand für einen bestimmten Anschluß­ stift des DIP-Bauelements festlegt, welches zu testen ist. Diese Eingabe- oder Ausgabezustände sind von binärer Natur, so daß sie entweder eine binäre 1 oder eine binäre 0 anzei­ gen. Die besondere Kombination all dieser binärer Zustände stellt die bestimmte Wertetabelle für den bestimmten Test dar. Jedes 2-Pegel-Signal von dem Eingangs- bzw. Eingabe- Zuteilungsregister 54 her legt fest, ob der betreffende bestimmte Anschlußstift als Eingangsstift zu behandeln ist. Auf diese Art und Weise wird jeder Anschlußstift eines festgehaltenen Bauelements innerhalb der elektrisch empfindlichen Fingergreifer mit den geeigneten bzw. in Frage kommenden 2-Pegel-Signalen in Verbindung stehen, die von den Registern 54 und 58 abgegeben werden. Die in Fig. 6 dargestellte Testsignal-Torschaltung umfaßt eine Vielzahl von Tor- bzw. Tastverstärkern, die mit 124-1 bis 124-n bezeichnet sind. Jeder dieser Tastverstärker arbeitet in der Weise, daß er ein auf einer entsprechenden Eingangsleitung 68-1 bis 68-n auftretendes Testsignal in dem Fall weiterleitet, daß er durch ein Eingabe-Zuteilungs­ signal in geeigneter Weise freigegeben ist, welches auf einer entsprechenden Eingangsleitung 66-1 bis 66-n auf­ tritt. Die resultierenden Testsignale treten auf den ent­ sprechenden Ausgangsleitungen 70-1 bis 70-n auf. Es dürfte einzusehen sein, daß jede der Ausgangsleitungen 70-1 bis 70-n eine der Leitungen der Busleitung 70 gemäß Fig. 3 dar­ stellt. Jede dieser Ausgangsleitungen wird überdies als eine Leitung entsprechend der zu dem federnd vorgespannten Kontakt 112 gemäß Fig. 5c führenden Leitung 118 erscheinen.

In Fig. 7 ist die Vergleicherschaltung 36 im einzelnen dar­ gestellt. Die Vergleicherschaltung nimmt insbesondere die Eingangssignale von den elektrisch empfindlichen Finger­ greifern 34 über die Eingangsleitungen 88-1 bis 88-n auf. Diese Leitungen bilden die Busleitung 88 gemäß Fig. 6, und überdies entsprechen sie den Leitungen 120, die von den bestimmten federnd vorgespannten Kontakten gemäß Fig. 5c angesteuert werden.

Die Vergleicherschaltung erhält außerdem von dem Zentral­ prozessor über die Eingangsleitung 38 das sogenannte Bau­ element-Konfigurationssignal zugeführt. Dieses Bauelement- Konfigurationssignal tritt verknüpfungsmäßig mit einem niedrigen Pegel dann auf, wenn das dem Test unterzogene Bauelement offene Kollektorausgänge aufweist. Das mit einem niedrigen Verknüpfungspegel auftretende Verknüpfungs­ signal wird durch einen Verstärker 126 invertiert, um die Basis eines Transistors 128 anzusteuern, wodurch ein Strom­ fluß durch einen Widerstand 130 und eine Diode 132 hervor­ gerufen wird. Dies ermöglicht die Ermittlung von offenen Kollektorausgängen mittels der Operationsverstärker 134-1 bis 134-n. Es dürfte einzusehen sein, daß die zuvor er­ wähnte Schaltungsanordnung dann nicht aktiviert werden wird, wenn das dem Test unterzogene Bauelement keine offenen Kollektorausgänge aufweist. In jedem Fall wird das Aus­ gangszustandssignal des jeweiligen Operationsverstärkers 134-1 bis 134-n der einen Seite eines Standard-Verglei­ chers 136 zugeführt. Die andere gegenüberliegende Seite des Vergleichers 136 erhält eine Reihe von erwarteten 2-Pegel-Zustandstestsignalen über eine Reihe von Ein­ gangsleitungen 89-1 bis 89-n zugeführt. Diese zuletzt erwähnten Eingangsleitungen bilden die internen Lei­ tungen innerhalb der Busleitung 89 gemäß Fig. 3. Die erwarteten 2-Pegel-Testzustandssignale auf diesen Lei­ tungen stimmen mit den binären Zuständen der Werteta­ belle überein, die bezüglich des bestimmten Tests zuvor beschrieben worden sind, der somit durchgeführt wird. Wie oben im Zusammenhang mit Fig. 3 bereits erläutert, arbeitet die Vergleicherschaltung 136 in der Weise, daß ein Vergleich in Abhängigkeit von einem Vergleicherfrei­ gabesignal durchgeführt wird, welches auf der Leitung 42 auftritt. Das Vergleichsergebnis ist ein auf der Lei­ tung 44 auftretendes 2-Pegel-Ausgangssignal. Dieses Signal wird dem Zentralprozessor 46 als Vergleichs- Ergebnissignal zugeführt.

In Fig. 8 ist der Stromgenerator 80 im einzelnen darge­ stellt. Der Stromgenerator erhält drei gesonderte 2-Pegel- Signale über die Leitungen 74-1, 74-2 und 74-3 zugeführt, die Teil der Anschluß-Busleitung 74 gemäß Fig. 3 bilden. Ein mit niedrigem Verknüpfungspegel auftretendes Ver­ knüpfungszustandssignal, das an einem der 2-Pegel-Sig­ naleingänge auftritt, wird mittels eines entsprechenden Verstärkers 138-1, 138-2 bzw. 138-3 invertiert, um die Basis eines entsprechenden Transistors 140-1, 140-2 bzw. 140-3 anzusteuern. Der Transistor, der auf diese Art und Weise in den leitenden Zustand überführt wird, zieht einen Strom aus einer Spannungsquelle Vs durch seinen Vorschalt­ widerstand. Es sei darauf hingewiesen, daß der somit fließende bestimmte Strom durch den Wert des Vorschalt­ widerstandes 142-1, 142-2 oder 142-3 festgelegt ist. In jedem Falle wird der so festgelegte Strom über die Leitung 84 abgegeben, die mit der Erdungs- und Strom­ eingabe-Zuteilungsschaltung verbunden ist.

In Fig. 9 ist die Erdungs- und Stromeingabe-Zuteilungs­ schaltung 82 im einzelnen dargestellt. Der von dem Strom­ generator ausgewählte Strom tritt auf der Leitung 84 auf, die mit einer Vielzahl von Stromeingabe-Zuteilungsschal­ tungen 144-1 bis 144-n verbunden ist. Jede der betreffen­ den Stromeingabe-Zuteilungsschaltungen 144-1 bis 144-n erhält ein 2-Pegel-Eingangssignal über eine entsprechende Leitung 76-1 bis 76-n zugeführt. Jede dieser Eingangs­ leitungen 76-1 bis 76-n bildet einen Teil der Anschluß- Busleitung 76 gemäß Fig. 3. Dabei wird lediglich eine dieser bestimmten Leitungen einen hohen Verknüpfungs­ pegel führen, so daß die betreffende bestimmte Stromein­ gabe-Zuteilungsschaltung 144-1 bis 144-n freigegeben wird. Dieses mit hohem Verknüpfungspegel auftretende Signal steuert die Basis eines Transistors, wie des Transistors 146 in der Stromeingabe-Zuteilungsschaltung 144-1 an. Der von der Eingangs- bzw. Eingabeleitung 84 her geliefer­ te Strom fließt somit über die Ausgabeleitung 86-1, die einen Teil der Busleitung 86 gemäß Fig. 3 bildet. Wie oben im Zusammenhang mit Fig. 5c bereits erläutert, sind die verschiedenen Leitungen innerhalb der Busleitung 86 mit den entsprechenden federnd vorgespannten Kontakten, wie dem Kontakt 112, über Leitungen, wie über die Lei­ tung 122 verbunden. Auf diese Art und Weise wird ein ausgewählter Strom einem bestimmten Eingangsanschluß des festgehaltenen Bauelements 90 gemäß Fig. 5c aufgeprägt.

Im Hinblick auf Fig. 9 sei noch bemerkt, daß dort eine Vielzahl von Erdungs-Eingangsauswahlschaltungen 148-1 bis 148-n ebenfalls im allgemeinen mit den entsprechen­ den Ausgangsleitungen 86-1 bis 86-n verbunden ist. Jede dieser Erdungs-Eingangszuteilungsschaltungen erhält außerdem ein 2-Pegel-Eingangssignal über eine entsprechen­ de Eingangsleitung 78-1 bis 78-n zugeführt. Dabei tritt lediglich eines dieser 2-Pegel-Eingangssignale mit einem hohen Verknüpfungspegel auf, so daß auf diese Art und Weise das Fließen eines genügenden Stromes durch eine Diode, wie die Diode 150, und damit die Ansteuerung der Basis eines Transistors, wie des Transistors 152, be­ wirkt wird, der daraufhin das Potential der entsprechenden Ausgangsleitung, wie der Ausgangsleitung 86-1, auf Erd­ potential zieht. Die somit geerdete Ausgangsleitung prägt einer bestimmten Anschlußstiftleitung des festge­ haltenen Bauelements 90 den Erdungszustand auf. Dies führt dazu, daß das festgehaltene Bauelement für den unmittelbar folgenden Bauelementtest gespeist wird.

Durch die Erfindung ist also ein Testsystem in einer Bauelement-Einsetzmaschine geschaffen, um ein Bauelement unmittelbar vor dessen Einsetzen in eine gedruckte Schal­ tungsplatte zu testen. Das Einsetzen des Bauelements er­ folgt unter der Bedingung, daß ein oder mehrere Tests erfolgreich durchlaufen sind, die für das bestimmte Bau­ element festgelegt sind. Jeder Test umfaßt die selektive Abgabe eines oder mehrerer Testsignale an vorher festge­ legte Eingänge des betreffenden Bauelements. Jeder Test umfaßt ferner eine begrenzte Abgabe eines bestimmten Zustandsspeisesignals. Ein erfolgreiches Durchlaufen der vorgeschriebenen Tests führt zu einer Freigabe des Einsetzens des betreffenden Bauelements in die gedruckte Schaltungsplatte.

Claims (18)

1. Vorrichtung zum Testen von elektronischen Bauelementen vor dem Einsetzen in einen Schaltungsträger, gekennzeichnet durch
eine Identifizierungseinrichtung (20), die automatisch jedes Bauelement identifiziert,
eine Auswahleinrichtung (30), die auf die Identifizierung des Bauelementes hin automatisch zumindest einen Test für das Bauelement auswählt,
eine Signalabgabeeinrichtung (46), die auf die Auswahl des Tests hin zumindest ein Signal an einen bestimmten Eingang des Bauelementes anlegt, und
eine Vergleichseinrichtung (36), die die Antwort des Bauelementes mit einem erwarteten Ergebnis vergleicht.

2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Signalabgabeeinrichtung (46) eine Greifeinrichtung (92, 94) zum Ergreifen des Bauelementes aufweist, die eine Vielzahl von Kontakteinrichtungen (102) umfaßt, welche die Eingänge und Ausgänge des jeweiligen Bauelementes berühren.

3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Vergleichseinrichtung (36) Einrichtungen (58, 44, 46) zur Verarbeitung des Vergleichsergebnisses aufweist, die das Einsetzen des Bauelementes unterbinden, wenn das Vergleichsergebnis negativ ist.

4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Auswahleinrichtung (30) eine Speicher­ einrichtung (48) und eine Adressierungseinrichtung aufweist, daß die Speichereinrichtung (48) eine das Testen des je­ weiligen Bauelementes betreffende Testinformation speichert, die bezüglich des jeweiligen Bauelementes in einer Viel­ zahl von adressierbaren Speicherplätzen gespeichert ist, und daß die Adressierungseinrichtung auf die automatische Identifizierung eines Bauelementes hin die Speicherplätze adressiert, die die Testinformation bezüglich des Testes des identifizierten, in einen Schaltungsträger einzusetzenden Bauelementes enthalten.

5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei durch die auf das Testen des jeweiligen Bauelementes sich be­ ziehende Testinformation zumindest zwei Tests je Bauele­ ment festgelegt sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Sig­ nalabgabeeinrichtung (46), die einen Zugriff zu der ge­ speicherten Testinformation auszuführen imstande ist, derart betrieben ist, daß ein sequentieller Zugriff zu dem zweiten Test in dem Fall erfolgt, daß das Bauelement den ersten Test durchläuft.

6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die zumindest ein Signal an einen ge­ kennzeichneten Eingang des jeweiligen Bauelementes ab­ gebende Signalabgabeeinrichtung (46) eine Signalerzeugungs­ einrichtung (48, 60), welche eine Vielzahl von durch den jeweils ausgewählten Test festgelegten Testsignalen er­ zeugt, und eine Eingangs-Festlegeeinrichtung (54) umfaßt, die selektiv zumindest einen Eingang des jeweiligen Bauelementes selektiv festlegt, der zumindest ein Signal aus einer Vielzahl von erzeugten Testsignalen aufnimmt.

7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die zumindest ein Signal an einen ge­ kennzeichneten Eingang abgebende Signalabgabeeinrichtung (46) eine Vielzahl von Torschaltungseinrichtungen (32) umfaßt, die Testsignalzustände an das jeweils festgehaltene Bauelement weiterzuleiten gestatten und die individuell mit der Vielzahl von das jeweilige Bauelement berührenden Kontakteinrichtungen (102) verbunden sind.

8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß eine Auswahleinrichtung (38, 74) vor­ gesehen ist, die einen Speisungszustand aus einer Viel­ zahl von Speisungszuständen für das jeweilige Bauelement auswählt, und daß eine Speisungszustands-Abgabeeinrichtung (80, 82, 84, 86) vorgesehen ist, die den jeweils ausge­ wählten Speisungszustand an eine der in einer Vielzahl vorgesehenen Kontakteinrichtungen (102) abgibt, welche mit den Eingängen und Ausgängen des jeweiligen Bauelements in Berührung stehen.

9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch ge­ kennzeichnet, daß Einrichtungen (80) vorgesehen sind, die die Größe der Speisung bzw. Speisespannung für die Abgabe an das dem Test unterzogene Bauelement festlegen, und daß eine Abgabeeinrichtung (34) vorgesehen ist, die die festgelegte Größe der Speisung bzw. Speisespannung an das dem Test unterzogene jeweilige Bauelement abgibt.

10. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die die Größe der jeweiligen Speisung bzw. Speisespannung festlegenden Einrichtungen eine Auswahleinrichtung (82) umfassen, mittels der ein Speisungszustand aus einer Viel­ zahl von Speisungszuständen für das dem Test unterzogene Bauelement auswählbar ist.

11. Vorrichtung nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Abgabeeinrichtung (34), die eine festgelegte Speisegröße an das dem Test unterzogene jeweilige Bauelement abgibt, eine Einrichtung (54) umfaßt, die selektiv einen Eingang des betreffenden Bauelements festlegt, welches die ausgewählte Speisegröße aufzunehmen hat.

12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Abgabeeinrichtung (34), die die festgelegte Speisegröße an das dem Test unterzogene Bauelement abgibt, eine Begrenzungseinrichtung (70) umfaßt, welche die Zeitspanne begrenzt, während der die festgelegte Speisegröße an das jeweilige Bauelement abgegeben wird.

13. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß die das jeweilige Bauelement ergrei­ fende Greifeinrichtung zwei gelenkig gelagerte Finger­ greifer (92, 94) aufweist, die jeweils eine Vielzahl von festen elektrischen Kontakten (102) aufweisen, welche an den Enden der betreffenden Fingergreifer (92, 94 nach unten abstehen, und daß die in einer Vielzahl vorgesehenen festen elektrischen Kontakte (102) derart betrieben sind, daß sie ein elek­ trisches Bauelement (90) für das Einsetzen in einen Schaltungsträger zu erfassen vermögen.

14. Vorrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß das Paar der Fingergreifer (92, 94) ferner eine Isolations­ einrichtung (104) enthält, die jeden elektrischen Kontakt (102) von benachbarten elektrischen Kontakten derart iso­ liert, daß eine Vielzahl von isolierten elektrischen Kontakten festgelegt ist.

15. Vorrichtung nach Anspruch 13, oder 14, dadurch gekennzeich­ net, daß die in einer Vielzahl vorgesehenen festen elek­ trischen Kontakte (102) jeweils an einem Anschlußstift anliegen, der von dem jeweiligen Bauelement (90) absteht, welches zwischen den beiden gelenkig gelagerten Finger­ greifern (92, 94) positioniert ist.

16. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß die zur Verarbeitung des Ergebnisses der Vergleiche vorgesehene Verarbeitungseinrichtung eine Einrichtung (98), welche die Anzahl der auf das jeweilige Bauelement anzuwendenden Tests festlegt, eine Einrichtung (28), die festlegt, ob die festgelegte Anzahl von Tests abgeschlossen worden ist, und eine Einrichtung (46) umfaßt, die den nächsten Test in dem Fall durchführt, daß die fest­ gelegte Anzahl von Tests nicht abgeschlossen ist.

17. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 16, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Verarbeitungseinrichtung zur Ver­ arbeitung des Vergleichsergebnisses ferner eine Sperr­ einrichtung (20) umfaßt, die die Ausführung jeglicher wei­ terer Tests in dem Fall sperrt, daß ein Fehler in dem Vergleichstest auftritt.

18. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 17, dadurch gekennzeichnet, daß Einrichtungen (48) vorgesehen sind, die zumindest einen Test für jedes Bauelement festlegen, daß der Test eine Wertetabelle (58) umfaßt, die für das jeweilige Bauelement aus binären Eingangs- und Ausgangs­ zuständen besteht, daß eine Einrichtung (34) vorgesehen ist, die die binären Eingangszustandssignale vorher fest­ gelegten Eingängen des jeweiligen Bauelementes aufprägt, daß eine Vergleichseinrichtung (36) die Reaktionssignale des betreffenden Bauelements mit den erwarteten binären Zustandssignalen vergleicht und daß eine Verarbeitungs­ einrichtung (58, 44, 46) das Ergebnis des Vergleichs der­ art verarbeitet, daß das Einsetzen des betreffenden Bau­ elements in dem Fall gesperrt ist, daß in dem Vergleichstest ein Fehler aufgetreten ist.