[go: up one dir, main page]

CN101221330B - 液晶显示装置 - Google Patents

液晶显示装置 Download PDF

Info

Publication number
CN101221330B
CN101221330B CN2007103081778A CN200710308177A CN101221330B CN 101221330 B CN101221330 B CN 101221330B CN 2007103081778 A CN2007103081778 A CN 2007103081778A CN 200710308177 A CN200710308177 A CN 200710308177A CN 101221330 B CN101221330 B CN 101221330B
Authority
CN
China
Prior art keywords
data line
test
electrode
sweep trace
lead
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN2007103081778A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101221330A (zh
Inventor
石井裕满
中村弥生
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toppan Inc
Original Assignee
Casio Computer Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Casio Computer Co Ltd filed Critical Casio Computer Co Ltd
Publication of CN101221330A publication Critical patent/CN101221330A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101221330B publication Critical patent/CN101221330B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136204—Arrangements to prevent high voltage or static electricity failures
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136254—Checking; Testing
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S345/00—Computer graphics processing and selective visual display systems
    • Y10S345/904—Display with fail/safe testing feature

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)

Abstract

本发明的显示装置具有：基板(1)、多个象素电极(4、4R、4G、4B)、多个切换用薄膜晶体管(5)、多个扫描线(6)、和多个数据线(7)。另外，在所述基板(1)的非显示区域内，形成扫描线用的静电保护兼测试用电路(14)及数据线用的静电保护兼测试电路(22)的至少一个。所述扫描线用的静电保护兼测试用电路(14)具备：连接于所述扫描线(6)、包含因产生的静电而导通的保护元件(18)的静电保护电路、及用于检查所述扫描线(6)的导通状态的检查电路；所述数据线用的静电保护兼测试电路(22)具备：连接于所述数据线(7)、包含因产生的静电而导通的保护元件(27)的静电保护电路及用于检查所述数据线(7)的导通状态的检查电路。

Description

液晶显示装置
技术领域
本发明涉及一种液晶显示装置，更具体地涉及一种具备静电保护电路及测试用电路的液晶显示装置。
背景技术
现有的有源矩阵型液晶显示装置必需防止静电引起的切换用薄膜晶体管的特性移位或绝缘破坏等的不良。在日本特开2005-93459号公报中公开了一种具有这种静电保护电路的液晶显示装置。在上述现有文献中，静电保护电路在设置成矩阵状的多个扫描线和多个数据线的各交点附近、设置象素电极及连接于该象素电极的切换用薄膜晶体管的显示区域的外侧，由扫描线用的静电保护线以及设置在该扫描线用的静电保护线与各扫描线之间的扫描线用的静电保护用薄膜晶体管；和数据线用的静电保护线及设置在该数据线用的静电保护线与各数据线之间的数据线用的静电保护用薄膜晶体管构成。
可是，在上述现有的液晶显示装置中，存在以下问题：由于在显示区域的外侧设置扫描线用的静电保护线及扫描线用的静电保护用薄膜晶体管和数据线用的静电保护线及数据线用的静电保护用薄膜晶体管，所以为了确保这些配置区域，画框尺寸变大。这里，所谓画框尺寸，换言之，是液晶显示装置的显示板中非显示区域的尺寸，这是因为液晶显示装置的显示板中除去显示区域的区域是存放绘画的画框形状。
另外，在现有的这种液晶显示装置中，在进行线缺陷等的检查时，考虑在显示区域的外侧、于扫描线用的静电保护用薄膜晶体管及数据线用的静电保护用薄膜晶体管的各配置区域的相反侧设置测试端子。这时，存在以下问题：为了选择性地驱动扫描线及数据线，必需在测试端子和各扫描线及各数据线之间配置扫描线用的测试用薄膜晶体管及数据线用的测试用薄膜晶体管，由于确保这些配置区域，故画框面积更进一步增大。
发明内容
因此，本发明的目的在于提供一种液晶显示装置，可使画框面积变小。
本发明的一种显示装置，其特征在于，具备：基板(1)，具有显示区域(3)和非显示区域；多个显示用电极(4R，4G，4B)，排列在所述基板上的所述显示区域(3)；多个切换元件(5)，连接于所述各显示用电极，具有控制用电极和数据用电极；多个扫描线(6)，连接于所述各切换元件的控制用电极；多个数据线(7)，连接于所述各切换元件的数据用电极；以及扫描线用静电保护兼测试电路(14)，具有：静电保护电路以及检查电路，所述静电保护电路包含多个扫描线用静电保护兼测试用薄膜晶体管(18)，该扫描线用静电保护兼测试用薄膜晶体管(18)与所述各扫描线连接、具有因产生的静电而成为导通状态的保护元件的功能；所述检查电路通过所述多个扫描线用静电保护兼测试用薄膜晶体管检查所述各扫描线的导通状态；所述多个切换元件的每一个和所述多个扫描线用静电保护兼测试用薄膜晶体管的每一个具有：形成在所述基板上的栅极电极、覆盖所述栅极电极而形成在所述基板上的栅极绝缘膜、形成在所述栅极绝缘膜的上表面的半导体薄膜、以及隔着电阻接触层形成在所述半导体薄膜两端侧的源漏极电极，所述扫描线用静电保护兼测试电路设置在所述非显示区域中的、搭载扫描线驱动用驱动器的扫描线驱动用驱动器搭载区域(9)内，所述扫描线用静电保护兼测试电路具有第一扫描线用测试端子(15)、第二扫描线用测试端子(16)以及第三扫描线用测试端子(17)，所述多个扫描线用静电保护兼测试用薄膜晶体管(18)各自的所述源漏极电极的一方连接在所述多个扫描线的各个扫描线，所述第一扫描线用测试端子(15)通过第一扫描线测试用引线(19)，连接在所述各扫描线用静电保护兼测试用薄膜晶体管的所述栅极电极，所述第二扫描线用测试端子(16)通过第二扫描线测试用引线(20)，连接在从所述多个扫描线中的一方侧数、在第偶数个所述扫描线上连接有所述源漏极电极的所述一方的所述各扫描线用静电保护兼测试用薄膜晶体管(18)的、所述源漏极电极的另一方，所述第三扫描线用测试端子(17)通过第三扫描线测试用引线(21)，连接在从所述多个扫描线中的一方侧数、在第奇数个所述扫描线上连接有所述源漏极电极的所述一方的所述各扫描线用静电保护兼测试用薄膜晶体管(18)的、所述源漏极电极的另一方，所述第一扫描线用测试端子(15)及所述第一扫描线测试用引线(19)以与所述栅极电极相同的金属材料形成在与所述栅极电极相同的层，所述第二扫描线用测试端子(16)以与所述栅极电极相同的金属材料形成在与所述栅极电极相同的层，所述第二扫描线测试用引线(20)具有第一布线层(20b)和第二布线层(20a)，该第一布线层(20b)以与所述源漏极电极相同的金属材料形成在与所述源漏极电极相同的层，该第二布线层(20a)以与所述栅极电极相同的金属材料形成在与所述栅极电极相同的层，通过形成在所述栅极绝缘膜上的接触孔与所述第一布线层电连接，所述第三扫描线用测试端子(17)及所述第三扫描线测试用引线(21)以与所述源漏极电极相同的金属材料形成在与所述源漏极电极相同的层，所述第二扫描线测试用引线中的所述第二布线层被设置成，平面观察所述第二扫描线测试用引线(20)和所述第三扫描线测试用引线(21)时，与所述第三扫描线测试用引线(21)在列方向上延伸的部分交叉。
附图说明
图1是作为本发明第1实施方式的液晶显示装置的主要部分的等效电路的平面图。
图2是图1示出的切换用薄膜晶体管及象素电极的部分截面图。
图3是从图1示出的扫描线驱动用驱动器搭载区域内的左侧数第奇数个扫描用输出端子及与其连接的扫描线测试用薄膜晶体管等的部分截面图。
图4是从图1示出的扫描线驱动用驱动器搭载区域内的左侧数第偶数个扫描用输出端子及与其连接的扫描线测试用薄膜晶体管等的部分截面图。
图5是从图1示出的数据线驱动用驱动器搭载区域内的左侧数第(1+3n)个数据用输出端子及与其连接的数据线测试用薄膜晶体管等的部分截面图。
图6是从图1示出的数据线驱动用驱动器搭载区域内的左侧数第(2+3n)个数据用输出端子及与其连接的数据线测试用薄膜晶体管等的部分截面图。
图7是从图1示出的数据线驱动用驱动器搭载区域内的左侧数第(3+3n)个数据用输出端子及与其连接的数据线测试用薄膜晶体管等的部分截面图。
图8是作为本发明第2实施方式的液晶显示装置的扫描线驱动用驱动器搭载区域的部分等效电路的平面图。
图9是作为该第2实施方式的液晶显示装置的与图3相同的截面图。
图10是为了说明图8示出的情况的变形例而表示的同样的等效电路的平面图。
图11是从正面前侧观看图1示出的液晶显示装置的侧面图。
符号说明
1有源基板
2对置基板
3显示区域
44R、4G、4B象素电极
5切换用薄膜晶体管
6扫描线
7数据线
8扫描用引线
9扫描线驱动用驱动器搭载区域
10扫描用输出端子
11数据用引线
12数据线驱动用驱动器搭载搭载区域
13数据用输出端子
14扫描线用的静电保护兼测试用电路
15～17第1～第3扫描线用测试端子
18扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管
19～21第1～第3扫描线测试用引线
22数据线用的静电保护兼测试用电路
23～26第1～第4数据线用测试端子
27数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管
28～31第1～第4数据线测试用引线
具体实施方式
(实施形态1)
图1示出作为本发明第1实施方式的液晶显示装置的主要部分的等效电路的平面图。该液晶显示装置通过几乎方形框状的密封件(未图示)粘贴有源基板1和位于该有源基板1上方的对置基板2，在密封件的内侧的两基板1、2间封入液晶(未图未)。这时，有源基板1的下边部从对置基板2突出。下面，将该突出部分称为突出部1a。另外，图1中以点划线包围的方形区域为显示区域3。
在有源基板1上的显示区域3中设置：配置成矩阵状的多个红、绿、蓝各色显示用象素电极(显示用电极)4R、4G、4G；具有连接于各象素电极4R、4G、4B的一个源漏极电极的切换用薄膜晶体管5；沿行方向延伸、用于将扫描信号供给到各切换用薄膜晶体管5的栅极电极(控制用电极)的扫描线6；以及用于将数据信号供给到各切换用薄膜晶体管5的另一源漏极电极(数据用电极)的数据线7。
在这里，在图1中，为了图面的明确化，仅仅只图示了4个×6个象素电极4R、4G、4B，实际上，排列了几百个×几百个或其以上的个数。这时，将红色显示用象素电极4R配置在第(1+3n)列(n是包括0的正整数)，将绿色显示用象素电极4G配置在第(2+3n)列，将蓝色显示用象素电极4B配置在第(3+3n)列。
扫描线6的右端部通过设置在显示区域3的右侧及下侧的扫描用引线8，连接于有源基板1的突出部1a上的右侧以虚线示出的扫描线驱动用驱动器搭载区域9内上侧设置的扫描用输出端子10。数据线7的下端部通过设置在显示区域3下侧的数据用引线11，连接于有源基板1的突出部1a上的左侧以虚线示出的数据线驱动用驱动器搭载区域12内上侧设置的数据用输出端子13。
在扫描线驱动用驱动器搭载区域9内设置扫描线用的静电保护兼测试用电路14。即，在扫描线驱动用驱动器搭载搭载区域9内的左侧设置第1、第2、第3扫描线用测试端子15、16、17。在扫描线驱动用驱动器搭载区域9内的各扫描用输出端子10的下侧设置扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18。扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18的一个源漏极电极连接于其上侧的扫描用输出端子10。扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管(保护元件)18的栅极电极通过第1扫描线测试用引线19，连接于第1扫描线用测试15端子。
在图1中，从扫描线用的静电保护兼测试用电路14的左侧数第奇数个扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18的另一源漏极电极通过第2扫描线测试用引线20，连接于第2扫描线用测试端子16。从扫描线用的静电保护兼测试用电路14的左侧数第偶数个扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18的另一源漏极电极通过第3扫描线测试用引线21，连接于第3扫描线用测试端子17。
在数据线驱动用驱动器搭载区域12内设置数据线用的静电保护兼测试用电路22。即，在数据线驱动用驱动器搭载区域12内的左侧设置第1～第4数据用测试端子23～26。在数据线驱动用驱动器搭载区域12内的各数据用输出端子13的下侧设置数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管(保护元件)27。数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27的一个源漏极电极连接于其上侧的数据用输出端子13。数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27的栅极电极通过第1数据线测试用引线28，连接于第1数据线用测试端子23。
在图1中，从数据线用的静电保护兼测试用电路22的左侧数第(1+3n)个数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27的另一源漏极电极通过第2数据线测试用引线29，连接于第2数据线用测试端子24。从数据线用的静电保护兼测试用电路22的左侧数第(2+3n)个数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27的另一源漏极电极通过第3数据线测试用引线30，连接于第3数据线用测试端子25。从数据线用的静电保护兼测试用电路22的左侧数第(3+3n)个数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27的另一源漏极电极通过第4数据线测试用引线31，连接于第4数据线用测试端子26。
在扫描线驱动用驱动器搭载区域9内的下侧设置扫描用输入端子32。扫描用输入端子32通过设置在其下侧的扫描用引线33，连接于设置在其下侧的扫描用外部连接端子34。在数据线驱动用驱动器搭载区域12内的下侧设置数据用输入端子35。数据用输入端子35通过设置在其下侧的数据用引线36，连接于设置在其下侧的数据用外部连接端子37。
另外，为了图面的明确化，在图1中省略，但如图11图示，在有源基板1的扫描线驱动用驱动器搭载区域9上搭载内置扫描线驱动电路部的扫描线驱动用驱动器芯片101。利用焊锡球101a，用COG(Chip On Glass)法将扫描线驱动用驱动器芯片101的外部电极焊接至扫描用输出端子10、第1～第3的扫描线用测试端子15～17及扫描用输入端子32。焊接方法不限于焊锡，也可以使用基于各向异性导电粘着剂等其他粘合剂的方法。
另外，在有源基板1的数据线驱动用驱动器搭载区域12上搭载内置数据线驱动电路部的数据线驱动用驱动器芯片102。利用焊锡球102a，由COG法将数据线驱动用驱动器芯片102的外部电极焊接至数据用输出端子13、第1～第4的数据线用测试端子23～26及数据用输入子35。这时，焊接方法也不限于付带焊锡的方法，也可以使用基于各向异性导电粘着剂等其他粘合剂的方法。另外，在上述中，扫描线驱动用驱动器芯片和数据线驱动用驱动器芯片也可以是各自不离散地一体化两者的一个芯片。
下面，说明该液晶显示装置一部分的具体构造。首先，图2表示图1示出的切换用薄膜晶体管5及象素电极4(4R、4G、4B)的部分截面图。在由玻璃等组成的有源基板1上面的规定部位设置由铬等组成的栅极电极41、连接于该栅极电极41的扫描线6及连接于该扫描线6的扫描用引线8(参照图1)。
在含有栅极电极41及扫描线6等的有源基板1的上面设置由氮化硅组成的栅极绝缘膜42。在栅极电极41上的栅极绝缘膜42上面的规定部位设置由纯非晶硅组成的半导体薄膜43。在半导体薄膜43上面几乎中央部设置由氮化硅组成的沟道保护膜44。
在沟道保护膜44的上面两侧及其两侧的半导体薄膜43的上面设置由n型非晶硅组成的电阻接触层45、46。在一个电阻接触层45的上面及其附近的栅极绝缘膜42上面的规定部位设置由铬等组成的一个源漏极电极47。在另一电阻接触层46的上面及栅极绝缘膜42上面的规定部位设置由铬等组成的另一源漏极电极48、连接于该另一源漏极电极48的数据线7及连接于该数据线7的数据用引线11(参照图1)。
这里，切换用薄膜晶体管5由栅极电极41、栅极绝缘膜42、半导体薄膜43、沟道保护膜44、电阻接触层46、46及源漏极电极47、48构成。
在包含切换用薄膜晶体管5及数据线7等的栅极绝缘膜42的上面设置由氮化硅组成的外敷层膜49。在外敷层膜49上面的规定部位设置由ITO等透明导电材料组成的象素电极4。象素电极4通过设置在外敷层膜49的规定部位的接触孔50，连接于一个源漏极电极47。
下面，图3表示从图1示出的扫描线驱动用驱动器搭载区域9内的左侧数第奇数个扫描用输出10端子及与其连接的扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18等的部分截面图。扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18和图2示出的切换用薄膜晶体管5的构造几乎相同，由栅极电极41、栅极绝缘膜42、半导体薄膜43、沟道保护膜44、电阻接触层45、46及源漏极电极47、48组成。
扫描用输出端子10成为由设置在有源基板1上面的铬等组成的下层金属层10a、和由通过设置在栅极绝缘膜42上的接触孔51露出的下层金属层10a的上面及其周围的栅极绝缘膜42的上面设置的铬等组成的上层金属层10b的2层构造，通过设置在外敷层膜49的开口部52露出。
第1扫描线用测试端子15由设置在有源基板1上面的铬等金属层组成，通过设置在栅极绝缘膜42及外敷层膜49的开口部53、54露出。第2扫描线用测试端子16由设置在有源基板1上面的铬等金属层组成，通过设置在栅极绝缘膜42及外敷层膜49的开口部55、56露出。
第2扫描线测试用引线20由设置在有源基板1上面的铬等组成的下层引线20a(图1中沿行方向延伸的线)和设置在栅极绝缘膜42上面的铬等组成的上层引线20b(图1中沿列方向延伸的线)组成，上层引线20b的一端部通过设置于栅极绝缘膜42的接触孔57，连接于下层引线20a。
然后，扫描用输出端子10的下层金属层10b连接于设置在有源基板1上面的由铬等组成的扫描用引线8。扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18的栅极电极41通过由设置在有源基板1上面的铬等组成的第1扫描线测试用引线19，连接于第1扫描线用测试端子15，将一个源漏极电极47连接于扫描用输出端子10的上层金属层10b，另一源漏极电极48通过由上层引线20b及下层引线20a组成的第2扫描线测试用引线20连接于第2扫描线用测试端子16。
下面，图4表示从图1示出的扫描线驱动用驱动器搭载区域9内的左侧数第偶数个扫描用输出端子10及与其连接的扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18等的部分截面图。在图4中，仅说明与图3示出情况的不同点，第3扫描线用测试端子17由设置在栅极绝缘膜42的上面的铬等金属层组成。然后，扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18的另一源漏极电极48通过设置在栅极绝缘膜42的上面的铬等组成的第3扫描线测试用引线21连接于第3扫描线用测试用端子17。
这时，第3扫描线测试用引线21在图1中沿行方向延伸的部分21a和沿列方向延伸的部分21b都形成于栅极绝缘膜42的正上方。其中，沿列方向延伸的部分21b与第2扫描线测试用引线20中、在图1中沿行方向延伸的部分(下层引线20a)交叉，但由于栅极绝缘膜42介于其间，所以不产生短路。
下面，图5表示从图1示出的数据线驱动用驱动器搭载区域12内的左侧数第(1+3n)个数据用输出端子13及与其连接的数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27等的部分截面图。数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27与图2示出的切换用薄膜晶体管5的构造几乎相同，由栅极电极41、栅极绝缘膜42、半导体薄膜43、沟道保护膜44、电阻接触层45、46及源漏极电极47、48组成。
数据用输出端子13由设置在栅极绝缘膜42的上面的铬等金属层组成，通过设置在外敷层膜49的开口部61露出。第1数据线用测试端子23由设置在有源基板1的上面的铬等金属层组成，通过设置在栅极绝缘膜42及外敷层膜49的开口部62、63露出。第2数据线用测试端子24由设置在有源基板1的上面的铬等金属层组成，通过设置在栅极绝缘膜42及外敷层膜49的开口部64、645露出。
第2数据线测试用引线29由设置在有源基板1的上面的铬等组成的下层引线29a(图1中沿行方向延伸的线)和由设置在栅极绝缘膜42的上面的铬等组成的上层引线29b(图1中沿列方向延伸的线)组成，上层引线29b的一端部通过设置在栅极绝缘膜42的接触孔66连接于下层引线29a。
然后，数据用输出端子13连接于设置在有源基板1上面的铬等组成的数据用引线11。数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27的栅极电极41通过设置在有源基板1的上面的铬等组成的第1数据线测试用引线28，连接于第1数据线用测试端子23，将一个源漏极电极47连接于数据用输出端子13，另一个源漏极电极48通过由上层引线29b及下层引线29a组成的第2数据线测试用引线29连接于第2数据线用测试用端子24。
下面，图6表示从图1示出的数据线驱动用驱动器搭载区域12内的左侧数第(2+3n)个数据用输出端子13及与其连接的数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27等的部分截面图。在图6中，仅说明与图5示出情况的不同点，第3数据线用测试端子25由设置在有源基板1上面的铬等金属层组成，通过设置在栅极绝缘膜42及外敷层膜49的开口部67、68露出。
第3数据线测试用引线30由设置在有源基板1上面的铬等组成的下层引线30a(图1中沿行方向延伸的线)和设置在栅极绝缘膜42上面的铬等组成的上层引线30b(图1中沿列方向延伸的线)组成，上层引线30b的一端部通过设置在栅极绝缘膜42的接触孔69连接于下层引线30a。
然后，将数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27的另一源漏极电极48通过由上层引线30b及下层引线30a组成的第3数据线测试用引线30，连接于第3数据线用测试端子25。这时，第3数据线测试用引线30中、在图1中沿列方向延伸的部分(上层引线30b)和第2数据线测试用引线29中、在图1中沿行方向延伸的部分(下层引线29a)交叉，但由于栅极绝缘膜24介于其间，所以不产生短路。
下面，图7表示从图1示出的数据线驱动用驱动器搭载区域12内的左侧数第(3+3n)个数据用输出端子13及与其连接的数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27等的部分截面图。在图7中，仅说明与图5示出情况的不同点，第4数据线用测试端子26由设置在栅极绝缘膜42上面的铬等金属层组成，通过设置在外敷层膜49的开口部70露出。第4数据线测试用引线31由设置在栅极绝缘膜42上面的铬等金属层组成。
然后，将数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27的另一源漏极电极48通过第4数据线测试用引线31连接于第4数据线用测试端子26。这时，第4数据线测试用引线31中、在图1中沿列方向延伸的部分31b与第2数据线测试用引线29中、在图1中沿行方向延伸的部分(下层引线29a)及第3数据线测试用引线30中、在图1中沿行方向延伸的部分(下层引线30a)交叉，但由于栅极绝缘膜42介于其间，所以不产生短路。
下面，说明上述构成的液晶显示装置中有源基板1的制造工序中的静电保护动作。根据实验结果，在上述构成的液晶显示装置中，正的静电侵入，负的静电未侵入。根据这种状况，对静电的保护对策针对正的静电侵入的情况。因此，以下动作说明正的静电侵入的情况。另外，有源基板1的制造工序中，测试用探针(未图示)不接触第1扫描线用测试端子15及第1数据线用测试端子23。因此，扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18及数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27为浮动(非导通)状态。
并且，设因某种原因，正的静电从外部侵入图1中从下侧数第奇数个扫描线61+2n中某1个扫描线61。此时，通过扫描用引线8及扫描用输出端子10连接于该扫描线61的扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18为On(导通)状态，电流从该扫描线61通过与其连接的扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18流向第2扫描线测试用引线20，第2扫描线测试用引线20变成高电位。
一旦第2扫描线测试用引线20变成高电位，则连接于图1中从下侧数第奇数个扫描线61+2n中其他全部扫描线61+2n的扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18变成导通状态，电流从第2扫描线测试用引线20通过扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18流向其他全部的扫描线61+2n，图1中从下侧数第奇数个扫描61+2n的全部变成同电位。由此，缓和施加在连接于第奇数个扫描线61+2n的各切换用薄膜晶体管5上的电荷，可防止各切换用薄膜晶体管5及各绝缘膜的特征变动或破坏。
因某种原因、正的静电从外部侵入图1中从下侧数第偶数个扫描线62+2n中某1个扫描线62时，通过与上述同样的静电保护动作，第3扫描线测试用引线21变为高电位，图1中从下侧数第偶数个扫描线62+2n全部变成同电位。由此，缓和施加在连接于第奇数个扫描线62+2n的各切换用薄膜晶体管5上的电荷。这样，即便因某种原因正的静电从外部侵入扫描线6，也防止切换用薄膜晶体管5及各绝缘膜因静电引起的特性变动及破坏等的不良。
另外，设因某种原因、正的静电从外部侵入图1中从左侧数第(1+3n)个红色显示用数据线71+3n中某1个数据线71。此时，连接于该数据线71的数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27变成导通状态，电流从该数据线71通过与其连接的数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27流向第2数据线测试用引线29，第2数据线测试用引线29变成高电位。
一旦第2数据线测试用引线29变成高电位，则连接于红色显示用数据线7中其他全部的数据线771+3n的数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27变成导通状态，电流从第2数据线测试用引线29通过数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27流向该残留的数据线71+3n，红色显示用数据线71+3n全部变成同电位。
因某种原因、正的静电从外部侵入图1中从左侧数第(2+3n)个(或第(3+3n)个)绿色显示用(或蓝色显示用)数据线72+3n(73+3n)中某1个数据线72(73)时，通过与上述同样的静电保护动作，第3数据线测试用引线30(或第4数据线测试用引线31)变成高电位，绿色显示用(或蓝色显示用)数据线7全部变成同电位。这样，即便因某种原因正的静电从外部侵入数据线72+3n(73+3n)，也防止切换用薄膜晶体管5及各绝缘膜因静电引起的特性变动或破坏等的不良。
下面，说明上述构成的液晶显示装置的点亮检查方法。首先，使连接于检查装置的测试用探针(未图示)接触全部测试端子15～17、23～26。然后，第1，例如将驱动电压供给到第2扫描线用测试端子16，并且，将驱动电压供给到第2～第4数据线用测试端子24～26的状态中，如果将栅极电压供给到第1扫描线用测试端子15及第1数据线用测试端子23，则在图1中，对应于从下侧数第奇数行的象素电极4R、4G、4B的象素点亮。这时，在相邻接的扫描线6之间产生短路时，从对应于该短路产生的部分的的下侧数第偶数行的象素电极4R、4G、4B所对应的象素点亮，检测相邻接的扫描线6之间的短路不良。另外，这时，在从下侧数第奇数个的某行的象素电极4R、4G、4B至少一部分未点亮时，与其对应的行的扫描线6变成断路，检测扫描线6的断路不良。同样地，通过不将驱动电压供给到第2扫描线用测试端子16，而供给第2扫描线用测试端子17，可检测从下侧数第偶数行与相邻接的扫描线6是否短路，及从下侧数第偶数行的扫描线6是否断路。
第2，例如将驱动电压供给到第1、第2扫描线用测试端子16、17，并且，将驱动电压供给到第2数据线用测试端子24的状态中，如果将栅极电压供给到第1扫描线用测试端子15及第1数据线用测试端子23，则对应于全部红色显示用象素电极4R的象素点亮。这时，在相邻接的数据线7之间产生短路时，对应于该短路产生的部分的绿色显示用象素电极4G或蓝色显示用4B所对应的象素点亮，检测相邻接的数据线7之间的短路不良。另外，这时，在某列的红色显示用象素电极4R至少一部分没点亮时，与其对应的数据线71+3n变成断路，检测数据线71+3n的断路不良。就绿色显示用象素电极4G及蓝色显示用象素电极4B而言，还可通过不将驱动电压供给到第2数据线用测试端子24，而供给第2数据线用测试端子25或26，可与红色显示用象素电极4R同样，检测相邻接的数据线间7的短路及连接该显示色的显示用象素电极4的数据线72+3n或73+3n的断路不良。
可是，在该液晶显示装置中，如图1所示，由于在有源基板1上的显示区域3外侧的突出部1a上的扫描线驱动用驱动器搭载区域9内，设置扫描线用的静电保护兼测试用电路14，即扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18、第1～第3扫描线测试用引线19～21及第1～第3扫描线用测试端子15～17，所以不必用于配置这些专用的配置区域，相应地，可缩小画框面积。
另外，在该液晶显示装置中，如图1所示，由于在有源基板1的显示区域3外侧的突出部1a上的数据线驱动用驱动器搭载区域12内，设置数据线用的静电保护兼测试用电路22，即数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27、第1～第4数据线测试用引线28～31及第1～第4数据线用测试端子23～26，所以不必用于配置其的专用的配置区域，相应地可缩小画框面积。
下面，说明在该液晶显示装置中，在扫描线驱动用驱动器搭载区域9上搭载扫描线驱动用驱动器(未图示)，通过倒装焊接等适宜的方法将数据线驱动用驱动器(未图示)COG安装在数据线驱动用驱动器搭载区域12上，执行实际驱动时的一部分。这时，扫描线驱动用驱动器的外部电极通过焊锡、各向异性导电性材料、金属共晶等适宜的连接材料，分别连接于对应的扫描用输出端子10、第1～第3扫描线用测试端子15～17及扫描用输入端子32，数据线驱动用驱动器的外部电极分别连接于对应的数据用输出端子13、第1～第4数据线用测试端子23～26及数据用输入端子35。
然后，在将电压Vg1(例如，Vg1＝-20～-15V)通过过扫描用输出端子10，从扫描线驱动用驱动器供给到非选择状态的扫描线6时，电压Vg1还从扫描线驱动用驱动器供给到第1扫描线用测试端子15，全部的扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18保持成截止状态。另外，电压Vg1还从扫描线驱动用驱动器供给到第2、第3扫描线用测试端子16、17，扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18的另一源漏极电极的电位保持成Vg1。
在这种状态下，从扫描线驱动用驱动器，通过扫描用输出端子10及扫描用引线8，依次供给电压Vgh，扫描各扫描线6。
可是，在实际驱动中，切换用薄膜晶体管5变成导通状态的时间仅是一瞬间，大部分的时间为截止状态。所以，大部分时间电压Vg1供给到非选择状态的扫描线6。其结果是，通过第1扫描线用测试端子15供给到扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18的栅极电极的电压Vg1与供给到非选择状态的扫描线6的电压Vg1相同，可降低来自扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18的泄漏电流。
另外，通过第2、第3扫描线用测试端子16、17供给到扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18的另一源漏极电极的电压Vg1与通过连接于非选择状态的扫描线6的扫描用输出端子10连接于扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18的一个源漏极电极的电压Vg1相同，可降低来自扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18的泄漏电流。另外，供给到第2、第3扫描线用测试端子16、17的电压也可以是GND电位或不足其的负电位。
另外，电压Vg1从数据线驱动用驱动器供给到第1数据线用测试端子23，全部的数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27保持成截止状态。另外，将其基准电压(设为LSI-GND)从数据线驱动用驱动器供给到第2～第4数据线用测试端子24～26，第2～第4数据线测试用引线29～31的电位保持成LSI-GND。
在这种状态下，在扫描线6的扫描计时从数据线驱动用驱动器同期输出图像数据，通过数据用输出端子13及数据用引线11，供给到各数据线7。
这时，如果全部的数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27保持成截止状态，则可利用高电阻使数据线7彼此分离，通过数据用输出端子13供给到数据线7的数据信号不相互干扰，另外，可降低来自数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27的泄漏电流。
这里，如图5及图6所示，第2、第3数据线测试用引线29、30是通过接触孔66、69使上层引线29b、30b的一端部连接于下层引线29a、30a的构造，使用外敷层膜49覆盖接触孔66、69的局部。可是，在接触孔66、69局部的外敷层膜49上容易产生缺陷。
另外，由于接触孔66、69局部的外敷层膜49上被数据线驱动用驱动器覆盖，所以接触孔66、69局部的外敷层膜49上存在缺陷，并且，如果接触孔66、69局部的上层引线29b、30b和数据线驱动用驱动器之间存在电位差，则离子的移动成为导致接触孔66、69局部的上层引线29b、30b腐蚀的原因。
相反，若将电压LSI-GND从数据线驱动用驱动器供给到第2～第4数据线用测试端子24～26，第2～第4数据线测试用引线29～31的电位保持成LSI-GND，则由于接触孔66、69局部的上层引线29b、30b和数据线驱动用驱动器之间未产生电位差，所以即便接触孔66、69局部的外敷层膜49存在缺陷，也可不产生上述的引线腐蚀。
可是，如图3所示，如果将第2扫描线用测试端子16设置在有源基板1的上面，则第2扫描线测试用引线20必需构造成通过设置在栅极绝缘膜42的接触孔57，使设置在有源基板1上面的下层引线20a的一端部连接至设置在栅极绝缘膜42上面的下层引线20a。所以，必需存在接触孔27。下面说明的第2实施方式不需设接触孔57。
(第2实施方式)
图8表示作为本发明第2实施方式的液晶显示装置的扫描线驱动用驱动器搭载区域9局部的等效电路的平面图，图9表示作为该第2实施方式的液晶显示装置的图3同样的截面图。在该液晶显示装置中，首先，如图8所示，第2扫描线用测试端子16配置在第1扫描线用测试端子15的上侧，第2扫描线测试用引线20中沿行方向延伸的共同部分配置在扫描线驱动用驱动器搭载区域9的上方侧，即扫描用输出端子10侧。
另外，在图8中，扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18配置成锯齿状，这是为了使从左侧数第偶数个扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18和其上侧的第2扫描线测试用引线20的一部分在附图上变得明确。所以，扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18如图8所示，也可以配置成锯齿状，但最好如图1所示，配置在同一直线上。
下面，如图9所示，第2扫描线用测试端子16由设置在栅极绝缘膜42上面的铬等金属层组成，通过设置在外敷层膜49的接触孔56露出。然后，扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18的另一源漏极电极19通过由设置在栅极绝缘膜42上面的铬等组成的第2扫描线测试用引线20，连接于第2扫描线用测试端子16。所以，不需图3示出的接触孔57。
另外，如图10所示，第2扫描线用测试端子16配置在第1扫描线用测试端子15和第3扫描线用测试端子17之间，第2扫描线测试用引线20配置成通过第1扫描线用测试端子15的左侧，也可以第2扫描线测试用引线20中沿行方向延伸的共同部分配置在扫描线驱动用驱动器搭载区域9内的扫描用输出端子10的上侧。
(其他的实施方式)
在图1中，在扫描线驱动用驱动器搭载区域9中，将扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18划分成从左侧数第奇数个和第偶数个，这是为了可如上所述检测相邻按扫描线6之间的短路不良。在不进行这种短路检查时，也可以将全部扫描线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管18的另一源漏极电极通过第3扫描线测试用引线21，连接于第3扫描线用测试端子17，省略第2扫描线测试用引线20及第2扫描线用测试端子16。
在这样的情况下，由于可将静电侵入某1个扫描线6时的电荷分散对象作为残留的全部扫描线6，所以可提高静电耐性。另外，由于不需图3示出的接触孔57，所以可不产生该接触孔引起的引线的腐蚀。
另外，在图1中，在数据线驱动用驱动器搭载区域12中，将数据线测试用薄膜晶体管18划分成红、绿、蓝各色显示用，这是为了如上所述可按红、绿、蓝各色来检查。在不进行这种各色的检查时，或通过切换用薄膜晶体管5将多色象素电极连接于1个数据线6时，也可以将全部的数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27的另一源漏极电极通过第4数据线测试用引线31，连接于第4数据线用测试端子26，省略第2、第3数据线测试用引线29、30及第2、第3数据线用测试端子23、24。
在这种情况下，由于静电侵入某1个数据线7时的电荷分散对象作为残留的全部数据线6，所以可提高静电耐性。另外，由于不需图5及图6示出的接触孔66、69，所以可不产生这种接触孔引起的引线腐蚀。这时，在实际驱动中，供给到第4数据线用测试端子26的电压除LSI-GND电位外，也可以设为Vsig中心或Vcom中心电位。在实际驱动中，在将供给到第4数据线用测试端子26的电压设为Vsig中心或Vcom中心电位时，由于数据线用的静电保护兼测试用薄膜晶体管27的两源漏极电极间的电位差变小，所以可进一步降低泄漏电流。
另外，在图1中，将扫描线驱动用驱动器搭载区域9和数据线驱动用驱动器搭载区域12分离，但市场销售的是将扫描线驱动用驱动器和数据线驱动用驱动器单芯片化，也可以在使用这样的单芯片驱动器时，连续形成扫描线驱动用驱动器搭载区域和数据线驱动用驱动器搭载区域。
另外，在图1中，将扫描线驱动用驱动器搭载区域9和数据线驱动用驱动器搭载区域12形成在作为有源基板1的一边的突出部1a中，但也可以将有源基板的多个边设为突出部，在各突出部中形成扫描线驱动用驱动器搭载区域和数据线驱动用驱动器搭载区域。
根据本申请的第一发明，由于在基板上的非显示区域内设置扫描线用的静电保护兼测试用电路，所以不必配置扫描线用的静电保护兼测试用电路的专用的配置区域，可相应地缩小画框面积。
根据本申请的第十三发明，由于在基板上的非显示区域内设置数据线用的静电保护兼测试用电路，所以不必配置数据线用的静电保护兼测试用电路的专用的配置区域，可相应地缩小画框面积。

Claims (9)

1.一种显示装置，其特征在于，具备：
基板(1)，具有显示区域(3)和非显示区域；
多个显示用电极(4R，4G，4B)，排列在所述基板上的所述显示区域(3)；
多个切换元件(5)，连接于所述各显示用电极，具有控制用电极和数据用电极；
多个扫描线(6)，连接于所述各切换元件的控制用电极；
多个数据线(7)，连接于所述各切换元件的数据用电极；以及
扫描线用静电保护兼测试电路(14)，具有：静电保护电路以及检查电路，所述静电保护电路包含多个扫描线用静电保护兼测试用薄膜晶体管(18)，该扫描线用静电保护兼测试用薄膜晶体管(18)与所述各扫描线连接、具有因产生的静电而成为导通状态的保护元件的功能；所述检查电路通过所述多个扫描线用静电保护兼测试用薄膜晶体管检查所述各扫描线的导通状态；
所述多个切换元件的每一个和所述多个扫描线用静电保护兼测试用薄膜晶体管的每一个具有：形成在所述基板上的栅极电极、覆盖所述栅极电极而形成在所述基板上的栅极绝缘膜、形成在所述栅极绝缘膜的上表面的半导体薄膜、以及隔着电阻接触层形成在所述半导体薄膜两端侧的源漏极电极，
所述扫描线用静电保护兼测试电路设置在所述非显示区域中的、搭载扫描线驱动用驱动器的扫描线驱动用驱动器搭载区域(9)内，
所述扫描线用静电保护兼测试电路具有第一扫描线用测试端子(15)、第二扫描线用测试端子(16)以及第三扫描线用测试端子(17)，
所述多个扫描线用静电保护兼测试用薄膜晶体管(18)各自的所述源漏极电极的一方连接在所述多个扫描线的各个扫描线，
所述第一扫描线用测试端子(15)通过第一扫描线测试用引线(19)，连接在所述各扫描线用静电保护兼测试用薄膜晶体管的所述栅极电极，
所述第二扫描线用测试端子(16)通过第二扫描线测试用引线(20)，连接在从所述多个扫描线中的一方侧数、在第偶数个所述扫描线上连接有所述源漏极电极的所述一方的所述各扫描线用静电保护兼测试用薄膜晶体管(18)的、所述源漏极电极的另一方， 
所述第三扫描线用测试端子(17)通过第三扫描线测试用引线(21)，连接在从所述多个扫描线中的一方侧数、在第奇数个所述扫描线上连接有所述源漏极电极的所述一方的所述各扫描线用静电保护兼测试用薄膜晶体管(18)的、所述源漏极电极的另一方，
所述第一扫描线用测试端子(15)及所述第一扫描线测试用引线(19)以与所述栅极电极相同的金属材料形成在与所述栅极电极相同的层，
所述第二扫描线用测试端子(16)以与所述栅极电极相同的金属材料形成在与所述栅极电极相同的层，
所述第二扫描线测试用引线(20)具有第一布线层(20b)和第二布线层(20a)，该第一布线层(20b)以与所述源漏极电极相同的金属材料形成在与所述源漏极电极相同的层，该第二布线层(20a)以与所述栅极电极相同的金属材料形成在与所述栅极电极相同的层，通过形成在所述栅极绝缘膜上的接触孔与所述第一布线层电连接，
所述第三扫描线用测试端子(17)及所述第三扫描线测试用引线(21)以与所述源漏极电极相同的金属材料形成在与所述源漏极电极相同的层，
所述第二扫描线测试用引线中的所述第二布线层被设置成，平面观察所述第二扫描线测试用引线(20)和所述第三扫描线测试用引线(21)时，与所述第三扫描线测试用引线(21)在列方向上延伸的部分交叉。
2.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于：
在所述扫描线驱动用驱动器搭载区域(9)内设置连接扫描线驱动用驱动器芯片的多个扫描用输出端子(10)及多个扫描用输入端子(32)，
所述多个扫描线(6)的每一个及所述多个扫描线用静电保护兼测试用薄膜晶体管的每一个的源漏极电极的所述一方，连接于设置在所述扫描线驱动用驱动器搭载区域内的所述多个扫描用输出端子(10)的每一个。
3.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于：
在所述基板上的所述扫描线驱动用驱动器搭载区域上搭载扫描线驱动用驱动器，在实际驱动中，使所述各扫描线用静电保护兼测试用薄膜晶体管为截止状态的电压Vg1被从所述扫描线驱动用驱动器供给到所述第一扫描线用测试端子(15)。
4.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于： 
所述基板上的所述非显示区域中具备数据线用静电保护兼测试用电路，其具备：数据线用静电保护电路，连接于所述数据线，因产生的静电而导通；以及数据线用检查电路，检查所述数据线的导通状态及所述显示用电极的点亮状态。
5.根据权利要求4所述的显示装置，其特征在于：
将设置在所述基板上的所述数据线用静电保护兼测试用电路设置在搭载数据线驱动用驱动器的数据线驱动用驱动器搭载区域(12)内。
6.根据权利要求5所述的显示装置，其特征在于：
在所述数据线驱动用驱动器搭载区域内设置连接数据线驱动用驱动器芯片的多个数据用输出端子(13)及多个数据用输入端子(37)。
7.一种显示装置，其特征在于，具备：
基板(1)，具有显示区域(3)和非显示区域；
多个显示用电极(4R，4G，4B)，排列在所述基板上的所述显示区域(3)；
多个切换元件(5)，连接于所述各显示用电极，具有控制用电极和数据用电极；
多个扫描线(6)，连接于所述各切换元件的控制用电极；
多个数据线(7)，连接于所述各切换元件的数据用电极；以及
数据线用静电保护兼测试电路(14)，具有：静电保护电路以及检查电路，所述静电保护电路包含多个数据线用静电保护兼测试用薄膜晶体管(27)，该数据线用静电保护兼测试用薄膜晶体管(27)与所述各数据线连接、具有因产生的静电而成为导通状态的保护元件的功能；所述检查电路通过所述各数据线用静电保护兼测试用薄膜晶体管检查所述各数据线的导通状态；
所述多个切换元件的每一个和所述多个数据线用静电保护兼测试用薄膜晶体管的每一个具有：形成在所述基板上的栅极电极、覆盖所述栅极电极而形成在所述基板上的栅极绝缘膜、形成在所述栅极绝缘膜的上表面的半导体薄膜、以及隔着电阻接触层形成在所述半导体薄膜两端侧的源漏极电极，
所述数据线用静电保护兼测试电路设置在所述非显示区域中的、搭载数据线驱动用驱动器的数据线驱动用驱动器搭载区域(12)内，
所述数据线用静电保护兼测试电路具有第一数据线用测试端子(23)、第二数据线用测试端子(24)、第三数据线用测试端子(25)以及第四数据线用测试 端子(26)，
所述各数据线用静电保护兼测试用薄膜晶体管(27)的所述源漏极电极的一方连接在所述多个数据线的各个数据线，
所述第一数据线用测试端子(23)通过第一数据线测试用引线(28)，连接在所述各数据线用静电保护兼测试用薄膜晶体管(27)的所述栅极电极，
所述第二数据线用测试端子(24)通过第二数据线测试用引线(29)，连接在所述多个数据线中的第一色显示用的数据线上连接有所述源漏极电极的所述一方的所述各数据线用静电保护兼测试用薄膜晶体管(27)的、所述源漏极电极的另一方，所述第一色显示用的数据线是在所述数据线驱动用驱动器搭载区域内从所述数据线驱动用驱动器搭载区域内的一侧数，第(1+3n)个，其中n为整数；
所述第三数据线用测试端子(25)通过第三数据线测试用引线(30)，连接在所述多个数据线中的第二色显示用的数据线上连接有所述源漏极电极的所述一方的所述各数据线用静电保护兼测试用薄膜晶体管(27)的、所述源漏极电极的另一方，所述第二色显示用的数据线是在所述数据线驱动用驱动器搭载区域内从所述数据线驱动用驱动器搭载区域内的所述一侧数，第(2+3n)个，其中n为整数；
所述第四数据线用测试端子(26)通过第四数据线测试用引线(31)，连接在所述多个数据线中的第三色显示用的数据线上连接有所述源漏极电极的所述一方的所述各数据线用静电保护兼测试用薄膜晶体管(27)的、所述源漏极电极的另一方，所述第三色显示用的数据线是在所述数据线驱动用驱动器搭载区域内从所述数据线驱动用驱动器搭载区域内的所述一侧数，第(3+3n)个，其中n为整数；
所述第一数据线用测试端子(23)及所述第一数据线测试用引线(28)以与所述栅极电极相同的金属材料形成在与所述栅极电极相同的层，
所述第二数据线用测试端子(24)以与所述栅极电极相同的金属材料形成在与所述栅极电极相同的层，
所述第二数据线测试用引线(29)及所述第三数据线测试用引线(30)具有第一布线层(29b，30b)和第二布线层(29a，30a)，该第一布线层(29b，30b)以与所述源漏极电极相同的金属材料形成在与所述源漏极相同的层，该第 二布线层(29a，30a)以与所述栅极电极相同的金属材料形成在与所述栅极电极相同的层，通过形成在所述栅极绝缘膜上的接触孔与所述第一布线层电连接，
所述第四数据线用测试端子(26)及所述第四数据线测试用引线(31)以与所述源漏极电极相同的金属材料形成在与所述源漏极电极相同的层，
所述第二数据线测试用引线以及所述第三数据线测试用引线中的所述第二布线层被设置成，平面观察所述第二数据线测试用引线、所述第三数据线测试用引线以及所述第四数据线测试用引线时，与在所述第四数据线测试用引线上延伸的部分交叉。
8.根据权利要求7所述的显示装置，其特征在于：
在所述数据线驱动用驱动器搭载区域(12)内设置连接数据线驱动用驱动器芯片的多个数据用输出端子(13)及多个数据用输入端子(35)，
所述多个数据线(7)的每一个及所述多个数据线用静电保护兼测试用薄膜晶体管的每一个的源漏极电极的所述一方，连接于设置在所述基板上的所述数据线驱动用驱动器搭载区域内的所述多个数据用输出端子(13)的每一个数据用输出端子。
9.根据权利要求7所述的显示装置，其特征在于：
在所述基板上的所述数据线驱动用驱动器搭载区域上，搭载数据线驱动用驱动器，在实际驱动中，使所述各数据线用静电保护兼测试用薄膜晶体管为截止状态的电压Vg1被从所述数据线驱动用驱动器供给到所述第一数据线用测试端子。 
CN2007103081778A 2006-11-22 2007-11-22 液晶显示装置 Expired - Fee Related CN101221330B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP315152/2006 2006-11-22
JP2006315152A JP5140999B2 (ja) 2006-11-22 2006-11-22 液晶表示装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101221330A CN101221330A (zh) 2008-07-16
CN101221330B true CN101221330B (zh) 2012-11-14

Family

ID=39416560

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2007103081778A Expired - Fee Related CN101221330B (zh) 2006-11-22 2007-11-22 液晶显示装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8063865B2 (zh)
JP (1) JP5140999B2 (zh)
KR (1) KR100867307B1 (zh)
CN (1) CN101221330B (zh)
TW (1) TWI385453B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9520715B2 (en) 2012-09-25 2016-12-13 Shanghai Tianma Micro-electronics Co., Ltd. ESD protection device of touch panel

Families Citing this family (59)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101458910B1 (ko) * 2008-03-28 2014-11-10 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
TWI370310B (en) * 2008-07-16 2012-08-11 Au Optronics Corp Array substrate and display panel thereof
CN101630072B (zh) * 2008-07-18 2012-01-11 群康科技(深圳)有限公司 液晶显示面板
KR101592013B1 (ko) * 2008-10-13 2016-02-05 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법
TWI393946B (zh) * 2009-05-21 2013-04-21 Au Optronics Corp 顯示裝置
JP5433309B2 (ja) * 2009-06-03 2014-03-05 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
JP5029670B2 (ja) * 2009-09-28 2012-09-19 カシオ計算機株式会社 表示装置
JP5585102B2 (ja) * 2010-02-01 2014-09-10 カシオ計算機株式会社 アクティブマトリクス型表示パネル用基板とこれを用いた液晶表示パネル
KR101113476B1 (ko) * 2010-03-10 2012-03-02 삼성모바일디스플레이주식회사 액정표시장치
CN102455553B (zh) * 2010-10-22 2016-05-04 京东方科技集团股份有限公司 Tft-lcd、阵列基板及其制造方法
TWI431388B (zh) 2010-12-15 2014-03-21 E Ink Holdings Inc 顯示裝置結構、電泳顯示器之顯示面板結構，以及顯示裝置製造方法
CN102540525B (zh) * 2010-12-30 2015-02-25 上海天马微电子有限公司 一种液晶显示装置
CN102692774A (zh) * 2012-05-23 2012-09-26 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示面板
CN103294251B (zh) * 2012-09-25 2016-05-18 上海天马微电子有限公司 一种触摸屏的esd保护装置
US9348182B2 (en) * 2012-11-08 2016-05-24 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate and display device
WO2014073483A1 (ja) * 2012-11-08 2014-05-15 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板、及びこれを用いた表示装置
CN103871354B (zh) * 2012-12-17 2016-03-02 上海中航光电子有限公司 一种用于显示器的切换装置、显示器
CN103018991B (zh) 2012-12-24 2015-01-28 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板及其制造方法、显示装置
JP2014149429A (ja) * 2013-02-01 2014-08-21 Japan Display Inc 液晶表示装置および液晶表示装置の製造方法
JP6173705B2 (ja) * 2013-02-07 2017-08-02 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
CN103345914B (zh) * 2013-07-19 2016-04-13 深圳市华星光电技术有限公司 一种用于显示面板的检测电路
KR102105369B1 (ko) * 2013-09-25 2020-04-29 삼성디스플레이 주식회사 표시 기판용 모기판, 이의 어레이 검사 방법 및 표시 기판
CN103926717B (zh) 2013-12-31 2016-09-14 上海中航光电子有限公司 显示面板的检测电路、显示面板及其检测方法
CN103913863B (zh) * 2014-03-18 2016-08-17 京东方科技集团股份有限公司 显示面板检测结构、显示面板及显示装置
CN103871341A (zh) * 2014-03-19 2014-06-18 深圳市华星光电技术有限公司 一种测试电路及显示面板
CN104021747A (zh) * 2014-05-23 2014-09-03 京东方科技集团股份有限公司 面板功能测试电路、显示面板及功能测试、静电防护方法
CN104280970B (zh) 2014-11-06 2017-12-22 上海天马微电子有限公司 阵列基板及液晶显示面板
TW201636690A (zh) 2015-04-01 2016-10-16 中華映管股份有限公司 主動元件陣列基板
CN104732947B (zh) * 2015-04-16 2017-02-22 京东方科技集团股份有限公司 一种驱动芯片、驱动板及其测试方法、显示装置
TWI588694B (zh) * 2015-06-12 2017-06-21 群創光電股份有限公司 觸控顯示裝置
KR102412456B1 (ko) * 2015-08-26 2022-06-27 엘지디스플레이 주식회사 표시장치
CN105261317B (zh) * 2015-09-17 2018-05-29 京东方科技集团股份有限公司 数据线短接不良的检测方法和检测装置
CN105425492B (zh) * 2016-01-06 2018-12-11 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及其制备方法
KR102409881B1 (ko) * 2016-03-21 2022-06-17 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 쇼트 검사 방법
CN105789220B (zh) * 2016-03-24 2019-05-14 京东方科技集团股份有限公司 一种双栅线阵列基板、测试方法、显示面板和显示装置
US10777587B2 (en) 2016-09-02 2020-09-15 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate and display device provided with active matrix substrate
CN106444107B (zh) * 2016-10-27 2019-08-20 武汉华星光电技术有限公司 一种液晶盒测试电路、显示面板和装置
CN106601162B (zh) * 2016-12-23 2019-09-24 上海天马有机发光显示技术有限公司 显示面板及包含其的显示装置
KR102628756B1 (ko) * 2016-12-27 2024-01-24 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널 및 표시 패널 크랙 검출 방법
CN106611089B (zh) * 2016-12-28 2019-11-19 北京华大九天软件有限公司 一种平行端口之间奇偶相间等电阻布线方法
CN106842749B (zh) * 2017-03-29 2019-11-15 武汉华星光电技术有限公司 液晶显示面板及液晶显示装置
CN107315293B (zh) * 2017-05-22 2020-08-11 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板及其制造方法、显示装置
JP7159536B2 (ja) * 2017-05-30 2022-10-25 凸版印刷株式会社 液晶表示装置
CN107402674B (zh) * 2017-07-28 2020-06-26 上海天马微电子有限公司 压力触控检测电路、方法和显示面板
WO2019064342A1 (ja) * 2017-09-26 2019-04-04 シャープ株式会社 表示デバイス、表示デバイスの製造方法、表示デバイスの製造装置
US10777107B2 (en) 2017-10-31 2020-09-15 Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Array substrate, testing method and display apparatus
CN107578735A (zh) * 2017-10-31 2018-01-12 武汉华星光电技术有限公司 一种阵列基板、测试方法及显示装置
CN108766373B (zh) * 2018-05-08 2020-11-24 昆山龙腾光电股份有限公司 一种检测电路和液晶显示装置
CN108807492B (zh) * 2018-06-29 2021-12-28 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其制作方法、检测方法和显示装置
CN109584802B (zh) * 2019-01-04 2021-09-21 京东方科技集团股份有限公司 一种驱动电路及其工作方法、显示装置
CN109841535B (zh) * 2019-01-31 2022-04-15 合肥鑫晟光电科技有限公司 阵列基板及其制备方法、显示面板、显示装置
CN110111738B (zh) 2019-05-31 2022-02-22 京东方科技集团股份有限公司 像素电路、显示基板、显示装置及驱动方法
WO2021102971A1 (zh) * 2019-11-29 2021-06-03 京东方科技集团股份有限公司 显示基板和显示装置
CN111505854B (zh) * 2020-04-29 2023-07-11 京东方科技集团股份有限公司 显示基板及显示装置
CN111489662B (zh) * 2020-05-15 2022-06-10 武汉华星光电技术有限公司 一种驱动基板、显示面板、显示屏及电子设备
CN111638617A (zh) * 2020-06-05 2020-09-08 武汉华星光电技术有限公司 一种静电防护线路、静电防护线路制程方法及显示面板
GB2618009A (en) * 2021-07-20 2023-10-25 Boe Technology Group Co Ltd Array substrate, display panel, and method of testing array substrate
CN113690153B (zh) * 2021-08-10 2023-10-31 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 防止esd破坏tft的方法、tft的制备方法
CN115113446B (zh) 2022-06-13 2023-08-08 武汉华星光电技术有限公司 显示模组、驱动方法及显示装置

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2792634B2 (ja) * 1991-06-28 1998-09-03 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板の検査方法
JP3247799B2 (ja) * 1994-06-09 2002-01-21 シャープ株式会社 液晶表示パネルおよびその検査方法
JPH09329796A (ja) * 1996-06-10 1997-12-22 Hitachi Ltd 液晶表示基板
KR100244182B1 (ko) * 1996-11-29 2000-02-01 구본준 액정표시장치
US5973658A (en) 1996-12-10 1999-10-26 Lg Electronics, Inc. Liquid crystal display panel having a static electricity prevention circuit and a method of operating the same
JP3667548B2 (ja) * 1998-03-27 2005-07-06 シャープ株式会社 アクティブマトリクス型液晶表示パネル及びその検査方法
JP3087730B2 (ja) * 1998-08-07 2000-09-11 株式会社日立製作所 液晶表示装置の製造方法
JP3718355B2 (ja) * 1998-11-26 2005-11-24 株式会社 日立ディスプレイズ 液晶表示装置
JP4141696B2 (ja) * 2002-01-31 2008-08-27 東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社 画像表示パネルとその製造方法、画像表示装置
JP4006304B2 (ja) * 2002-09-10 2007-11-14 株式会社 日立ディスプレイズ 画像表示装置
KR100956345B1 (ko) * 2003-07-02 2010-05-06 삼성전자주식회사 박막 트랜지스터 표시판
JP4385691B2 (ja) 2003-09-12 2009-12-16 カシオ計算機株式会社 表示パネルの静電気保護構造及び液晶表示パネル
JP2005115049A (ja) * 2003-10-08 2005-04-28 Sharp Corp アクティブマトリクス基板
JP4547957B2 (ja) 2004-03-24 2010-09-22 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置および電子機器

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9520715B2 (en) 2012-09-25 2016-12-13 Shanghai Tianma Micro-electronics Co., Ltd. ESD protection device of touch panel

Also Published As

Publication number Publication date
US8063865B2 (en) 2011-11-22
US20080117345A1 (en) 2008-05-22
CN101221330A (zh) 2008-07-16
TWI385453B (zh) 2013-02-11
JP5140999B2 (ja) 2013-02-13
TW200832028A (en) 2008-08-01
KR20080046603A (ko) 2008-05-27
KR100867307B1 (ko) 2008-11-10
JP2008129374A (ja) 2008-06-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101221330B (zh) 液晶显示装置
JP7244429B2 (ja) 表示パネル及びその割れ検出方法、並びに表示装置
US8582068B2 (en) Active matrix substrate with connections of switching elements and inspecting wirings, display device, method for inspecting active matrix substrate, and method for inspecting display device
KR100298995B1 (ko) 액정 표시 장치 및 그 검사 방법
JP2715936B2 (ja) 薄膜トランジスタ型液晶表示装置とその製造方法
KR20100130548A (ko) 표시 장치
KR100528697B1 (ko) 액정표시장치의 검사방법 및 장치
WO2013011855A1 (ja) アクティブマトリクス型表示装置
US20070046883A1 (en) In-plane-switching liquied crystal display
CN102566167A (zh) 一种阵列基板
US9405162B2 (en) Active matrix display device with auxiliary repair line
CN100370343C (zh) 液晶显示装置
KR20040060047A (ko) 액정표시장치의 게이트 라인 오픈 리페어 방법
JP4725358B2 (ja) カラー液晶表示パネル
US7692753B2 (en) Flat panel display device
KR20100041429A (ko) 씨오지 타입 액정표시장치용 어레이 기판
JP2003322874A (ja) 液晶表示素子
KR20050030158A (ko) 전기 광학 장치 및 전자 기기
JPWO2005083452A1 (ja) アレイ基板の検査方法およびアレイ基板の製造方法
CN113611235A (zh) 栅极检查部和包括栅极检查部的显示装置
JP2002277896A (ja) 液晶表示装置及び画面表示応用装置
KR20120121586A (ko) 표시장치
KR101192072B1 (ko) 액정표시장치
JP4566677B2 (ja) 液晶パネル
KR20030053186A (ko) 액정표시장치

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20151022

Address after: Tokyo, Japan

Patentee after: ORTUS TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Address before: Tokyo, Japan

Patentee before: CASIO COMPUTER Co.,Ltd.

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20121114