JP4725358B2 - カラー液晶表示パネル - Google Patents

Description

本発明は、カラー画像を表示するカラー液晶表示パネルに係り、特に、カラー液晶表示パネルを駆動する半導体チップ搭載前の配線検査を効率よく簡単にできるようにしたカラー液晶表示パネルに関するものである。

近年、情報通信機器のみならず一般の電気機器においても表示パネルとしてカラー液晶表示パネルが広く使用されている。このカラー液晶表示パネルは、一対の透明基板を枠状のシール材を介して接合し、この一対の基板とシール材とで囲まれた空間内に液晶が封入された構成を有している。一対の基板のうち、一方の基板は、その内面に複数本のデータライン及び走査ライン（ゲートライン）がマトリクス状に配列され、各ラインの交点に薄膜トランジスタが接続されるとともに画素電極が設けられたアレイ基板であり、他の基板は、その内面に前記画素電極に対向した対向電極及びＲ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）からなる３色のカラーフィルタが形成されたカラーフィルタ基板となっている。

アレイ基板は、それぞれのデータライン及び走査ラインの端部がシール材の外側に延出されて、その延出された端部に液晶駆動用半導体素子（以下、ＩＣチップという）を実装する実装用端子が形成されて、これらの実装用端子にＩＣチップが接続されている。そして、このＩＣチップを介してそれぞれの走査ラインに順次走査信号を供給するとともに、これに同期してデータラインにデータ信号を供給して薄膜トランジスタをオンさせてカラー画像を表示するようになっている。

このようなカラー液晶表示パネルにおいては、ＩＣチップを搭載する前にそれぞれのラインの配線状態、例えば断線及び短絡等の有無をチェックする中間検査が行なわれている（例えば、下記特許文献１参照）。

図１０は下記特許文献１に記載されたカラー液晶表示パネルの検査ラインの一部を拡大した平面図である。
このカラー液晶表示パネル２０は、シール枠２１の一側面まで引出され、さらに赤（Ｒ）、緑（Ｇ）及び青（Ｂ）の各色ごとに異なる長さＬ_１〜Ｌ_３（Ｌ_１>Ｌ_２>Ｌ_３）引出されたデータライン２２と、同様にシール材２１の他側面からも異なる長さＬ_４、Ｌ_５（Ｌ_４>Ｌ_５）の走査ライン２３が引出されて、これらの引出し線にＩＣチップを実装する実装用端子２２ａ、２３ａが設けられるともに、その延長端が検査用データライン（以下、検査ラインという）２２Ｒ、２２Ｇ、２２Ｂとなって、これらの検査ラインにコネクタを接触させることにより中間検査、すなわち画素の点灯検査を行なうようになっている。

この点灯検査は、２個の第１、第２コネクタ（図示省略）を使用し、一方の第１コネクタを各走査ライン２３上のＤポジションに配置して、各走査ライン２３をこのコネクタで接続して、以下の方法で行なわれる。
先ず、他方の第２コネクタ（図示省略）をＡポジションに配置する。このポジションにコネクタを配置すると、このコネクタが全ての検査ライン２２に接触して、全ての画素が点灯される。このとき点灯しない画素があれば、いずれかのデータラインが断線していることを検知できる。次に、第２コネクタをＢポジションへ移動させると、このコネクタは検査ライン２２Ｂ、２２Ｇに接触し、青及び緑の画素が点灯される。このとき、赤の画素が点灯すると各検査ライン２２Ｂ、２２Ｒに接続されたデータライン間、或いは各検査ライン２２Ｇ、２２Ｒに接続されたデータラインが短絡していることになる。さらに、第２コネクタをＢポジションからＣポジションへ移動させると、このコネクタは検査ライン２２Ｂのみに接触し、青の画素のみが点灯し、緑の画素および赤の画素が点灯しない。このとき、緑あるいは赤の画素が点灯すると、各検査ライン２２Ｂ、２２Ｇに接続されたデータライン間に短絡が生じていることになる。
特開平８−２０１８４３号公報（図１、段落［００３１］〜［００３８］）

上記特許文献１に記載されているカラー液晶表示パネルは、シール枠２１から引出された引出線からなる検査ライン２２Ｒ、２２Ｇ、２２Ｂを赤（Ｒ）、緑（Ｇ）及び青（Ｂ）の各色ごとにその長さを異ならせ、第２コネクタを３つの異なるＡ〜Ｃポジションへ移動させて全灯及び個別色の点灯検査をすることにより、それぞれのデータラインの配線状態をチェックするようになっている。ところが、このように検査ラインを色ごとにその長さを変えてしまうと、カラーフィルタの数が増え、例えば、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）及びシアン（Ｃ）の４色となると、検査ラインは、図１１に示すように、シール枠２１から赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）及びシアン（Ｃ）の各色ごとに長さの異なる４本の検査ライン２２Ｒ、２２Ｇ、２２Ｂ、２２Ｃが必要となり、シール枠２１から引出される最長の検査ライン（図１１ではシアンの検査ライン２２Ｃ）が従来の最長の検査ラインより突出してしまい、その結果、検査ラインを設ける領域のスペースが３色のときに比べてこの突出した部分だけその面積を拡張しなければならない。また、その検査方法もコネクタをこれまでのＡ〜ＣポジションからさらにＤポジションを１箇所増やして合計４箇所となる。このため、従来技術を採用した検査法ではカラーフィルタの数が増えると、検査ラインを設ける領域のスペース拡張が必須になるとともに検査工数が増え、しかもその検査時間も掛かることになる。

近年、この種のカラー液晶表示パネル、特に携帯電話機に使用されるものは、小型・高精細化が要求されている。このうち、小型化に対しては、様々な工夫、例えば、フレームの狭額縁化、周辺配線の積層化或いはＩＣチップの小型化を図ることによって対応されているので、上記のように検査ライン領域のスペースを拡張することが難しくなってきている。また、検査工数及び検査時間が掛かるとパネルの生産性が低下してしまう課題も付随して発生することになる。

本発明は、このような従来技術の課題を解決するためになされたものであって、本発明の目的は、１画素当たりのカラーフィルタ数が増えても表示パネル上の配線状態を検査する検査用配線を設けるスペースが増大しないようにしたカラー液晶表示パネルを提供することにある。

また、本発明の他の目的は、検査に要する時間を短縮することができるカラー液晶表示パネルを提供することにある。

（１）本発明のカラー液晶表示パネルは、マトリクス状に配置されたデータライン及び走査ラインを有する第１基板と、１画素が４つのサブ画素からなる４色カラーフィルタを有する第２基板と、前記第１、第２基板を枠状のシール材を介して接合し、前記第１、第２基板と前記シール材とで囲まれた空間内に液晶を封入するとともに前記データラインを前記シール材の外側に引き出して所定長さの検査用データラインとして配列したカラー液晶表示パネルにおいて、前記４色カラーフィルタに対応するそれぞれの前記検査用データラインは、１色の前記検査データラインを挟んだ他の２色の前記検査用データラインの長さを同じにし、該同じ長さの２色の検査用データラインのペアが少なくとも１ペア配列されており、前記検査用データラインのペアは、最も長い検査用データラインと最も短い検査用データラインとの間に位置している検査用データライン同士で形成されていることを特徴とする。

（２）前記検査用データラインのペアは、最も長い検査用データラインと最も短い検査用データラインとの間に位置している検査用データライン同士で形成されていることを特徴とする。

（３）前記検査用データラインのペアは、最も長い検査用データライン同士で形成されていることを特徴とする。

（４）前記検査用データラインのペアは、前記シール材に近接した最も短い検査用データライン同士で形成されていることを特徴とする。

（５）前記検査用データラインのペアは、最も長い検査用データライン同士及び最も短い検査用データライン同士で形成されていることを特徴とする。

（６）前記検査用データラインには検査プローブが接触される検査用端子が設けられていることを特徴とする。

（７）前記検査用データラインには液晶を駆動する半導体素子を実装する実装用端子が設けられていることを特徴とする。

（１）〜（３）によれば、４色のカラーフィルタに対応するそれぞれの検査用データラインは、１色の検査用データラインを挟んで他の２色の検査用データラインの長さを同じにし、この同じ長さの検査用データラインのペアを少なくとも１ペア設けることにより、１画素当たりのカラーフィルタ数が増えても検査用データラインを配設するスペースを増大しないで対応できることになる。また、これらの検査ラインを用いたデータラインの検査に要する時間が増大することがない。

（４）によれば、同じ長さの検査用データラインのペアをシール材に近接した検査用データライン同士で形成することにより、検査用データラインに接触させるコネクタを移動させる回数が少なくなり検査時間を短縮できる。

（５）によれば、同じ長さの検査用データラインペアは、長い検査用データライン同士及び短長の検査用データライン同士で形成することにより、検査用データラインに接触させるコネクタを移動させる回数が少なくなり検査時間を短縮できる。

（６）によれば、各検査用データラインに検査端子を設けることにより、この検査端子に接触させる端子を有する検査プローブの使用が可能になり、検査時間をさらに短縮できる。

（７）によれば、１画素当たりのカラーフィルタ数が増えても、半導体素子を実装するスペースを増大しないで液晶駆動用半導体素子を実装できる。

以下、図面を参照して本発明の最良の実施形態を説明する。但し、以下に示す実施形態は、本発明の技術思想を具体化するためのカラー液晶表示パネルを例示するものであって、本発明をこのカラー液晶表示パネルに特定することを意図するものではなく、特許請求の範囲に含まれるその他の実施形態のものも等しく適応するものである。

図１は本発明の一実施例に係るカラー液晶表示パネルであって、積層されたカラーフィルタ基板からアレイ基板の配線が透視して見えるように図示した平面図、図２は図１のII−II線の断面図、図３は図１の１画素領域を拡大して示した概略平面図、図４は図３のIV−IV線の断面図である。

カラー液晶表示パネル１は、アクティブマトリクス方式を採用したものであって、図１及び図２に示すように、互いに対向配置される矩形状の透明材料、例えばガラス板からなる一対のアレイ基板２及びカラーフィルタ基板１０を有し、アレイ基板２は、カラーフィルタ基板１０と対向配置させたときに張出し部２ａが形成されるようにカラーフィルタ基板１０よりサイズが大きいものが使用され、これらアレイ基板２及びカラーフィルタ基板１０の外周囲に枠状のシール材８が貼付されて、内部にスペーサ１４及び液晶９が封入された構成となっている。

アレイ基板２及びカラーフィルタ基板１０上の対向面側には、種々の配線等が形成されている。このうち、カラーフィルタ基板１０には、図４に示すように、アレイ基板２の画素領域に合わせてマトリクス状に設けられたブラックマトリクス１１と、このブラックマトリクス１１で囲まれた領域に設けた４色、すなわち赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）及びシアン（Ｃ）のカラーフィルタ１２と、アレイ基板２側の電極に電気的に接続されカラーフィルタ１２を覆うように設けた共通電極１３とが設けられている。

アレイ基板２は、図１に示すように、その表面、すなわち液晶が封入される面に、図１の行方向（横方向）に所定間隔をあけて配列された複数本の走査ラインＧＷ_１〜ＧＷ_ｎ（ｎ＝２、３、４、…）と、これらの走査ラインと絶縁されて列方向（縦方向）に配列された複数本のデータラインＳＷ_１〜ＳＷ_ｎとを有し、これらのデータラインＳＷ_１〜ＳＷ_ｎと走査ラインＧＷ_１〜ＧＷ_ｎとがマトリクス状に配線され、互いに交差する走査ラインＧＷ_１〜ＧＷ_ｎとデータラインＳＷ_１〜ＳＷ_ｎとで囲まれる各領域に、走査ラインＧＷ_１〜ＧＷ_ｎからの走査信号によってオンするスイッチング素子Ｔｒ及びデータラインＳＷ_１〜ＳＷ_ｎからの映像信号がスイッチング素子Ｔｒを介して供給される画素電極が形成されている（図３参照）。

スイッチング素子Ｔｒには、例えば薄膜トランジスタ（ＴＦＴ：Thin Film Transistor）が使用される。それぞれの走査ライン及びデータラインのうち、走査ラインＧＷ_１〜ＧＷ_ｎはアレイ基板２上に所定幅長及び長さを有する導電パターンにより形成され、データラインＳＷ_１〜ＳＷ_ｎは各走査ラインＧＷ_１〜ＧＷ_ｎ上に層間絶縁膜３、３ａ（図４参照）を設け、この絶縁膜３、３ａ上に所定幅長及び長さを有する導電パターンにより形成されている。すなわち、マトリクス状に形成された走査ラインＧＷ_１〜ＧＷ_ｎ及びデータラインＳＷ_１〜ＳＷ_ｎのうち、例えば２本の走査ラインＧＷ_Ｘ、ＧＷ_Ｘ＋１とデータラインＳＷ_Ｘ、ＳＷ_Ｘ＋１とで囲まれた画素には、図３、図４に示すように、各走査ラインＧＷ_Ｘ、ＧＷ_Ｘ＋１間にこれらと略平行な補助容量線と、ソース電極Ｓ、ゲート電極Ｇ、ドレイン電極Ｄ及びシリコン層からなるスイッチング素子Ｔｒと、走査ラインＧＷ_Ｘ〜ＧＷ_Ｘ＋１とデータラインＳＷ_Ｘ、ＳＷ_Ｘ＋１とで囲まれた領域を覆う画素電極とが設けられている。

各走査ラインＧＷ_１〜ＧＷ_ｎ及びデータラインＳＷ_１〜ＳＷ_ｎは、表示領域ＤＡの外へ延出されて表示領域外の外周辺の領域に引回されて各ＩＣチップ搭載領域ＳＤＲ、ＧＤＲ_１、ＧＤＲ_２内でそれぞれのＩＣチップに接続されるようになっている。これらの各走査ラインＧＷ_１〜ＧＷ_ｎ及びデータラインＳＷ_１〜ＳＷ_ｎのうち、走査ラインＧＷ_１〜ＧＷ_ｎはアレイ基板２の表示領域ＤＡの外、すなわち表示領域ＤＡの両側周辺の領域ＷＡ_１、ＷＡ_２へ延出されて、図１の列方向（縦方向）に設けた走査ラインＧＷ_１〜ＧＷ_ｎ用の引回し線ＧＬ_１〜ＧＬ_ｎ（ｎ＝２、３、４…）に接続される。このとき、奇数行の走査ライン、例えばＧＷ_１、ＧＷ_３、…は、図１の左側の領域ＷＡ_１に延出されてそれぞれ引回し線ＧＬ_１、ＧＬ_２、…、ＧＬ_ｍにそれぞれ接続される。一方、偶数行の走査ライン、例えばＧＷ_２、ＧＷ_４、…は、図１の右側の領域ＷＡ_２に延出されてそれぞれ引回し線ＧＬ_ｍ＋１、ＧＬ_ｍ＋２、…ＧＬ_ｎにそれぞれ接続される。このように、奇数行の走査ラインを一方の領域ＷＡ_１に、偶数行の走査ラインを領域ＷＡ_２に振分けて配線することにより、基板上にバランスよく配線することが可能になる。

これらの走査ラインＧＷ_１〜ＧＷ_ｎとデータラインＳＷ_１〜ＳＷ_ｎとで囲まれる各領域は、いわゆるサブ画素を構成し、これらの画素が形成されたエリアが表示領域ＤＡ、すなわち画像表示部となっている。なお、このアレイ基板２と対向するカラーフィルタ基板１０は、ブラックマトリクス１１で囲まれた領域が画素領域となり、この領域に４色（赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）及びシアン（Ｃ））のカラーフィルタが形成されている。

アレイ基板２は、また、図１に示すように、その張出し部２ａにソースドライバ用半導体チップ及び２個のゲートドライバ用半導体チップが搭載されるＩＣチップ搭載領域ＳＤＲ、ＧＤＲ_１、ＧＤＲ_２がそれぞれ設けられている。これらのＩＣチップ搭載領域ＳＤＲ、ＧＤＲ_１、ＧＤＲ_２は、ＩＣチップの形状に合わせた形状、例えば矩形状のスペースとなっている。そして、各引回し線ＧＬ_１〜ＧＬ_ｍは、それぞれＩＣチップ搭載領域ＧＤＲ_１、ＧＤＲ_２内へ導入されて実装用端子が設けられるとともに、これらの実装用端子の先端が延長されて検査用ラインとなっている。これらの引回し線のうち、各引回し線ＳＬ_１〜ＳＬ_ｍは、シール材８の一側面から外側へ４色赤（Ｒ）、緑（Ｇ）青（Ｂ）、シアン（Ｃ）のデータラインが引出されて引出し線となり、これらの引出し線に実装用端子が設けられるともに、これらの実装用端子からさらに引出し線が延長されてこれらの延長部が検査用データライン（以下、検査ラインという）となっている。

以下、引回し線ＳＬ_１〜ＳＬ_ｍに接続された検査ラインは、説明を簡潔にするために、４色の各検査ライン、すなわち、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）及びシアン（Ｃ）検査ラインをＬ_Ｒ、Ｌ_Ｇ、Ｌ_Ｂ、Ｌ_Ｃとして説明する。また、以下の検査においてはゲートラインへの電圧は常にオン状態とし、ゲートラインに関する検査についてはその説明を省略する。図５は図１のＶ部分を拡大した平面図である。なお、各検査ラインＬ_Ｒ、Ｌ_Ｇ、Ｌ_Ｂ、Ｌ_Ｃには、液晶駆動半導体素子を搭載する実装用端子が設けられるが、図５では省略されている。

赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）及びシアン（Ｃ）検査ラインＬ_Ｒ、Ｌ_Ｇ、Ｌ_Ｂ、Ｌ_Ｃは、いずれかの２本を同じ長さにした検査ラインのペアが少なくとも１つ形成されるようになっている。すなわち、図５に示すように、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）及びシアン（Ｃ）検査ラインＬ_Ｒ、Ｌ_Ｇ、Ｌ_Ｂ、Ｌ_Ｃのうち、赤（Ｒ）検査ラインＬ_Ｒ及び青（Ｂ）検査ラインＬ_Ｂは同じ長さにし、緑（Ｇ）検査ラインＬ_Ｇを前記検査ラインのペアより短く、シアン（Ｃ）検査ラインＬ_Ｃを前記検査ラインのペアより長く形成、すなわちＬ_Ｇ<Ｌ_Ｒ＝Ｌ_Ｂ<Ｌ_Ｃとして、赤（Ｒ）及び青（Ｂ）検査ラインＬ_Ｒ、Ｌ_Ｂが緑（Ｇ）検査ラインＬ_Ｇとシアン（Ｃ）検査ラインＬ_Ｃとの間にあって、これらが同じ長さの検査ラインペアを形成している。

検査法は、各検査ラインにコネクタ（図示省略）を接触させて以下の方法で行なう。なお、全ての走査ラインをコネクタで接続することは、従来技術と同じである。
先ず、不図示のコネクタをＡポジションに配置する。このポジションにコネクタが位置すると、コネクタが全ての検査ラインＬ_Ｒ、Ｌ_Ｇ、Ｌ_Ｂ、Ｌ_Ｃに接触して、全ての画素が点灯される。このとき点灯しない画素があれば、いずれかのデータラインが断線していることになるので、この全灯検査でデータラインの断線の有無を検知できる。次に、コネクタをＢポジションへ移動させると、コネクタは赤（Ｒ）検査ラインＬ_Ｒ、青（Ｂ）検査ラインＬ_Ｂ及びシアン（Ｃ）検査ラインＬ_Ｃに接触して、赤、青及びシアンの画素が点灯される。このとき、緑の画素が点灯すると、緑のデータラインは、赤又は／及び青画素のデータラインと短絡していることになる。さらに、コネクタをＢポジションからＣポジションへ移動させると、コネクタはシアン（Ｃ）検査ラインＬ_Ｃのみに接触し、シアン画素のみが点灯し、その他の画素が点灯しない。このとき、他の画素、すなわち赤または青画素が点灯すると、赤または青画素のデータラインとシアン画素のデータラインとが短絡していることになる。

この構成によると、カラーフィルタ数が増えても表示パネル上のデータラインの配線状態を検査する検査ラインを設けるスペースが増大することがない。また、コネクタの移動もＡ〜Ｃの３ポジションでよいことになり、検査に要する時間を短縮することができる。

図６は図５に示す検査ラインの第１の変形例を示したもので、各検査ラインＬ_Ｒ、Ｌ_Ｇ、Ｌ_Ｂ、Ｌ_Ｃのうち、緑（Ｇ）検査ラインＬ_Ｇ及びシアン（Ｃ）検査ラインＬ_Ｃを同じ長さの検査ラインペアに形成し、青（Ｂ）検査ラインＬ_Ｂを前記検査ラインのぺアよりも短く、赤（Ｒ）検査ラインＬ_Ｒを青（Ｂ）検査ラインＬ_Ｂよりも短く形成、すなわちＬ_Ｒ<Ｌ_Ｂ<Ｌ_Ｇ＝Ｌ_Ｃとし、この検査ラインペアが他の検査ラインより最も延びて高位にしたものである。

検査法は、先ず、コネクタをＡポジションに配置する。このポジションＡにコネクタがあると、コネクタが全ての検査ラインＬ_Ｒ、Ｌ_Ｇ、Ｌ_Ｂ、Ｌ_Ｃに接触して、全ての画素が点灯される。このとき点灯しない画素があれば、いずれかのデータラインが断線していることになる。次に、コネクタをＢポジションへ移動させると、コネクタは緑（Ｇ）検査ラインＬ_Ｇ、青（Ｂ）検査ラインＬ_Ｂ及びシアン（Ｃ）検査ラインＬ_Ｃに接触して、緑、青及びシアンの画素が点灯する。このとき、赤の画素が点灯すると、赤（Ｒ）画素のデータラインと緑又はシアン画素のデータラインとが短絡していることになる。さらに、コネクタをＣポジションへ移動させると、コネクタは緑（Ｇ）及びシアン（Ｃ）検査ラインＬ_Ｇ、Ｌ_Ｃに接触し、緑及びシアン画素が点灯し、その他の画素が点灯しない。このとき、青の画素が点灯すると、この青画素のデータラインと緑又は／及びシアン画素のデータラインとが短絡していることになる。

図７は図５に示す検査ラインの第２の変形例を示し、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）及びシアン（Ｃ）検査ラインＬ_Ｒ、Ｌ_Ｇ、Ｌ_Ｂ、Ｌ_Ｃのうち、赤（Ｒ）検査ラインＬ_Ｒ及び青（Ｂ）検査ラインＬ_Ｂの長さを同じにして検査ラインペアを形成し、他の緑（Ｇ）検査ラインＬ_Ｇとシアン（Ｃ）検査ラインＬ_Ｃとを前記検査ラインペアに対して順に長く形成、すなわち、Ｌ_Ｒ＝Ｌ_Ｂ<Ｌ_Ｇ<Ｌ_Ｃとし、この検査ラインペアを他の検査ラインより最も短長にしたものである。

検査法は、先ず、コネクタをＡポジションに配置する。このポジションにコネクタがあると、コネクタが全ての検査ラインＬ_Ｒ、Ｌ_Ｇ、Ｌ_Ｂ、Ｌ_Ｃに接触して、全ての画素が点灯される。このとき点灯しない画素があれば、いずれかのデータラインが断線していることになる。次に、コネクタをＢポジションへ移動させると、コネクタは緑（Ｇ）検査ラインＬ_Ｇ、シアン（Ｃ）検査ラインＬ_Ｃに接触して緑及びシアンの画素を点灯させる。このとき、赤、青の画素が点灯すると、赤又は青画素のデータラインと緑又はシアン画素のデータラインとが短絡していることになる。その後、コネクタをＣポジションへ移動させると、シアンが点灯される。このとき赤又は青画素が点灯すると、シアン画素のデータラインと赤又は青画素のデータラインとが短絡していることを検知でき、また、Ｂポジションにおいて点灯した赤又は青画素のデータラインであって、Ｃポジションでは点灯しなかったものは緑画素のデータラインと短絡していることとなる。ただし、実際の検査の際には、Ｂポジションにおいて赤又は青画素の点灯が確認された時点でこの基板を不良品として選別するので、不良品か否かを検査する際にはＣポジションでの検査は必要ない。

図８は図５に示す検査ラインの第３の変形例を示したもので、各検査ラインＬ_Ｒ、Ｌ_Ｇ、Ｌ_Ｂ、Ｌ_Ｃのうち、赤（Ｒ）及び青（Ｂ）の検査ラインＬ_Ｒ、Ｌ_Ｂ、緑（Ｇ）及びシアン（Ｃ）の検査ラインＬ_Ｇ、Ｌ_Ｃをそれぞれ同じ長さの２つの検査ラインペアに形成するとともに、この２つの検査ラインペアのうち、緑（Ｇ）及びシアン（Ｃ）の検査ラインＬ_Ｂ、Ｌ_Ｃからなる検査ラインペアを他の検査ラインペアよりも長く形成、すなわち、Ｌ_Ｒ＝Ｌ_Ｂ<Ｌ_Ｇ＝Ｌ_Ｃとしたものである。

この検査法は、先ず、コネクタをＡポジションに配置する。このポジションにコネクタがあると、コネクタが全ての検査ラインＬ_Ｒ、Ｌ_Ｇ、Ｌ_Ｂ、Ｌ_Ｃに接触して、全ての画素が点灯される。このとき点灯しない画素があれば、いずれかのデータラインが断線していることになる。次に、コネクタをＢポジションへ移動させると、コネクタは緑（Ｇ）検査ラインＬ_Ｇ、シアン（Ｃ）検査ラインＬ_Ｃに接触して緑及びシアンの画素を点灯させる。このとき、赤、青の画素が点灯すると、赤又は青画素のデータラインと緑又はシアン画素のデータラインとが短絡していることになる。この方法によると、コネクタの移動は２つのポジションへの移動でよくなる。

図９は図５に示す検査ラインの第４の変形例を示し、図８の各検査ラインＬ_Ｒ、Ｌ_Ｇ、Ｌ_Ｂ、Ｌ_Ｃの先端部に検査端子を形成したものである。
それぞれの検査ラインＬ_Ｒ、Ｌ_Ｇ、Ｌ_Ｂ、Ｌ_Ｃの先端部に検査端子Ｔ_Ｒ、Ｔ_Ｇ、Ｔ_Ｂ、Ｔ_Ｃを設けると、これらの検査端子に接触する端子を有する検査プローブ１５を使用することができる。この検査プローブは、各検査端子と同じ間隔に設けた端子ｔ_Ｒ、ｔ_Ｇ、ｔ_Ｂ、ｔ_Ｃを有する帯状の導電体で形成されている。この検査法は、先ず、全ての検査ラインＬ_Ｒ、Ｌ_Ｇ、Ｌ_Ｂ、Ｌ_Ｃにコネクタを接触させることで各データラインの断線を検査し、次いで、検査プローブ１５を赤（Ｒ）及び青（Ｂ）検査ラインＬ_Ｒ、Ｌ_Ｂ、Ｌ_Ｒ、Ｌ_Ｂに接触させる。このとき緑或いはシアン画素が点灯すると、緑又はシアンのデータラインと赤又は青のデータラインとが短絡していることになる。なお、検査プローブ１５を緑（Ｇ）及びシアン（Ｃ）検査ラインＬ_Ｇ、Ｌ_Ｃ、Ｌ_Ｇ、Ｌ_Ｃに接触して点灯検査を行なうこともできる。このとき赤或いは青画素が点灯すると、同じく短絡が生じていることになる。なお、この検査は、先の検査で結果が判明しているので省くことができるが、両方の検査を行うことでより正確な検査結果とすることができる。

図１は本発明の一実施例に係るカラー液晶表示パネルであって、積層されたカラーフィルタ基板からアレイ基板の配線が透視して見えるように図示した平面図である。 図２は図１のII−II線の断面図である。 図３は図１の１画素領域を拡大して示した概略平面図である。 図４は図３のIV−IV線の断面図である。 図５は図１のＶ部分を模式して拡大した平面図である。 図６は図５の配線構造の第１の変形例を模式して拡大した平面図である。 図７は図５の配線構造の第２の変形例を模式して拡大した平面図である。 図８は図５の配線構造の第３の変形例を模式して拡大した平面図である。 図９は図５の配線構造の第４の変形例を模式して拡大した平面図である。 図１０は従来技術の液晶表示パネルの端子部分の拡大平面図である。 図１１は図１０の要部を説明する概略平面図である。

符号の説明

１ カラー液晶表示パネル
２ アレイ基板
３、３ａ （層間）絶縁膜
４ 保護絶縁膜
８ シール材
９ 液晶
１０ カラーフィルタ基板
１５ 検査プローブ
ＳＷ_１〜ＳＷ_ｎ データライン
ＧＷ_１〜ＧＷ_ｎ 走査ライン
Ｌ_Ｒ、Ｌ_Ｇ、Ｌ_Ｂ、Ｌ_Ｃ 検査用データライン

Claims (2)

1. マトリクス状に配置されたデータライン及び走査ラインを有する第１基板と、１画素が４つのサブ画素からなる４色カラーフィルタを有する第２基板と、前記第１、第２基板を枠状のシール材を介して接合し、前記第１、第２基板と前記シール材とで囲まれた空間内に液晶を封入するとともに前記データラインを前記シール材の外側に引き出して所定長さの検査用データラインとして配列したカラー液晶表示パネルにおいて、
   前記４色カラーフィルタに対応するそれぞれの前記検査用データラインは、１色の前記検査用データラインを挟んだ他の２色の前記検査用データラインの長さを同じにし、該同じ長さの２色の検査用データラインのペアが少なくとも１ペア配列されており、
   前記検査用データラインのペアは、最も長い検査用データラインと最も短い検査用データラインとの間に位置している検査用データライン同士で形成されていることを特徴とするカラー液晶表示パネル。
2. 前記検査用データラインには液晶を駆動する半導体素子を実装する実装用端子が設けられていることを特徴とする請求項１に記載のカラー液晶表示パネル。

Images