CN116403497A - 一种显示面板、显示装置及显示面板的测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板、显示装置及显示面板的测试方法，包括第一测试电路位于第一周边电路区；信号线至少部分位于显示区，信号线的第一端与第一测试电路电连接；连接线位于第二周边电路区，连接线的第一端与信号线的第二端电连接；第二测试电路位于第二周边电路区，包括开关单元组和第一开关控制线，开关单元组包括多个开关单元，多个开关单元的控制端与第一开关控制线电连接，被配置为在开关单元导通时，电性连通至少两条连接线。本发明提供的技术方案，以提高检测效率，提升显示面板的可靠性和产品良率。

Description

一种显示面板、显示装置及显示面板的测试方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板、显示装置及显示面板的测试方法。

背景技术

随着的显示技术的要求越来越高，人们对显示面板的要求也越来越高，其中对显示面板的边框要求是越来越窄，以提高显示面板的屏占比。由此，显示面板的下台阶越来越紧凑，IC宽度越来越小，进而使得放置于IC下方的检测电路不得不减小尺寸。即便如此，将检测电路放置于显示面板的下台阶仍会导致边框过大。

为了减小对下台阶的占用，可以利用上边框的空间设置检测电路，由于上边框的布线空间充足，不会明显增加显示面板的边框。然而在对显示面板进行显示测试时，无法对显示区内的信号线以及扇形区域内的连接线同时进行检测，进而不能保证显示面板的可靠性工作，降低显示面板的产品良率，并且现有技术的检测效率低。

发明内容

本发明提供一种显示面板、显示装置及显示面板的测试方法，以提高检测效率，提升显示面板的可靠性和产品良率。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括第一周边电路区、显示区和第二周边电路区；

第一测试电路，位于所述第一周边电路区；

信号线，至少部分位于所述显示区，所述信号线的第一端与所述第一测试电路电连接；

连接线，位于所述第二周边电路区，所述连接线的第一端与所述信号线的第二端电连接；

第二测试电路，位于所述第二周边电路区，包括开关单元组和第一开关控制线，所述开关单元组包括多个开关单元，多个所述开关单元的控制端与所述第一开关控制线电连接，被配置为在所述开关单元导通时，电性连通至少两条所述连接线。

第二方面，本发明实施例提供了一种基于第一方面所述显示面板的测试方法，包括：

第一开关控制线控制开关单元截止，第二测试电路处于关闭状态，第一测试电路输入测试信号，进行显示测试；

所述第一开关控制线控制所述开关单元导通，第二测试电路处于开启状态，第一测试电路输入测试信号，进行显示测试。

第三方面，本发明实施例提供了一种显示装置，包括第一方面所述的显示面板，以及驱动芯片，所述驱动芯片绑定于所述第二周边电路区。

本发明提供的方案，通过在第一周边电路区设置第一测试电路，信号线至少部分位于显示区，且信号线的第一端与第一测试电路电连接，使得第一测试电路可向信号线输入测试信号。连接线位于第二周边电路区，连接线的第一端与信号线的第二端电连接，同时，在第二周边电路区设置第二测试电路包括开关单元组和第一开关控制线，开关单元组中的多个开关单元的控制端与第一开关控制线电连接，使得第一开关控制线可以控制多个开关单元导通或截止，并在在开关单元导通时，电性连通至少两条连接线。因此，在通过第一测试电路和第二测试电路对显示面板内的信号线和连接线进行检测时，可先通过第一开关控制线控制开关单元截止，此时第二检测电路处于关闭状态，然后由第一测试电路向信号线输入测试信号，并进行显示测试，根据每条信号线对应的显示区中的子像素发光显示情况可以检测出信号线是否存在断路，若存在断路便于技术人员及时进行检修。然后通过第一开关控制线控制开关单元导通，此时第二测试电路处于开启状态，即开关单元两端的连接线电性连通，根据多个开关单元与连接线的具体连接方式，由第一测试电路向部分信号线输入测试信号，再根据显示区中的子像素发光显示情况可以检测出连接线是否存在断路，若存在断路便于技术人员及时进行检修。如此，可通过第二测试电路中第一开关控制线控制开关单元导通或截止，对显示面板进行显示测试，快速检测出信号线和连接线是否存在断路，不仅可以提高显示板的检测效率，还可以提高显示面板的良率，保证显示面板的可靠性。

应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图虽然是本发明的一些具体的实施例，对于本领域的技术人员来说，可以根据本发明的各种实施例所揭示和提示的器件结构，驱动方法和制造方法的基本概念，拓展和延伸到其它的结构和附图，毋庸置疑这些都应该是在本发明的权利要求范围之内。

图1为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种显示面板的局部结构示意图；

图3为本发明实施例提供的另一种显示面板的局部结构示意图；

图4为本发明实施例提供的又一种显示面板的局部结构示意图；

图5为本发明实施例提供的又一种显示面板的局部结构示意图；

图6为本发明实施例提供的又一种显示面板的局部结构示意图；

图7为本发明实施例提供的又一种显示面板的局部结构示意图；

图8为本发明实施例提供的又一种显示面板的局部结构示意图；

图9为本发明实施例提供的又一种显示面板的局部结构示意图；

图10为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图；

图11为本发明实施例提供的一种显示面板的测试方法的流程图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，以下将参照本发明实施例中的附图，通过实施方式清楚、完整地描述本发明的技术方案，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例所揭示和提示的基本概念，本领域的技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图1为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图，图2为本发明实施例提供的一种显示面板的局部结构示意图，结合图1和图2所示，显示面板100包括第一周边电路区01、显示区02和第二周边电路区03。第一测试电路10位于第一周边电路区01。信号线20至少部分位于显示区02，即，信号线20可以全部位于显示区02，或者，信号线20的部分位于显示区02内，信号线20的其余部分由显示区02内延伸到显示区02外。信号线20的第一端与第一测试电路10电连接。连接线30位于第二周边电路区03，连接线30的第一端与信号线20的第二端电连接。信号线20连接第一测试电路10与连接线30。第二测试电路40位于第二周边电路区03，第二测试电路40包括开关单元组41和第一开关控制线42。开关单元组41包括多个开关单元410。多个开关单元410的控制端与第一开关控制线42电连接，同一条第一开关控制线42连接多个开关单元410的控制端。开关单元410被配置为在开关单元410导通时，电性连通至少两条连接线30。

其中，显示面板100可以为有机发光显示面板或者液晶显示面板，此处不做具体限定，显示面板100的显示区02用于图像的显示。

继续参考图1和2，信号线20至少部分位于显示区02，信号线20的第一端与第一测试电路10电连接，信号线20的第二端与连接线30电连接，连接线30位于第二周边电路区03，当第一测试电路10和第二测试电路40位于显示区02的相对两侧时，信号线20可以穿过显示区02设置，信号线20可以是数据线或者触控线等，此处不做限定。连接线30可以为位于第二周边电路区03内的扇形走线区04，连接线30的主要作用是将信号线20与位于第二周边电路区03内的驱动芯片进行连接，连接线30的数量与信号线20的数量相同且一一对应。

其中，信号线20可以是数据线、触控线或者其他用于通过传输电信号驱动显示区02进行显示的线路，本发明实施例对此不做具体限定。

继续参考图2，第二周边电路区03内设置的第二测试电路40与连接线30的第二端电连接，开关单元组41中的开关单元410的数量可根据实际需求进行设置，此处不做具体限定。开关单元410可以电连接在任意两条连接线30之间，多个开关单元410的控制端与第一开关控制线42电连接，在第一开关控制线42传输的信号控制多个开关单元410导通时，其中任意一条连接线30上的信号都可以通过导通的开关单元410传输到其他连接线30上，实现至少两条连接线30的电性连通。

进一步的，第一测试电路10通过向信号线20输入测试信号，同时通过第一开关控制线42控制第二测试电路40内开关单元410的导通或截止，可根据显示区02的显示情况，检测信号线20或者连接线30是否出现断路。

具体的，图2示例性的示出了每个开关单元410电连接在相邻两条连接线30之间，被配置为在开关单元410导通时，电性连通两条连接线30。当第一开关控制线42控制第二测试电路40内开关单元410截止时，开关单元410两端分别电连接的两条连接线30之间处于断路状态，第一测试电路10向与其中一条连接线30(例如图2中第一连接线31)电连接的信号线20(例如图2中第一信号线21)输入测试信号，该测试信号将无法通过第一连接线31和开关单元410传输至其他连接线30(例如图2中第二连接线32)上，若此时被写入测试信号的第一信号线21驱动显示区02部分区域进行正常显示，可说明该条信号线20是完好的，不存在断路情况。接下来，可使第一开关控制线42控制第二测试电路40内开关单元410导通，第一测试电路10继续向第一信号线21输入测试信号，使得第一信号线21上的测试信号会通过第一连接线31和导通的开关单元410传输至第二连接线32上，进而传输至其他信号线20(例如图2中第二信号线22)上，若此时显示区02的显示情况发生了变化，即被写入测试信号的第二信号线22驱动显示区02的其他部分区域进行正常显示，可以确定第一连接线31、第二连接线32和第二信号线22均是完好的，不存在断路情况。相反的，若此时显示区02的显示情况未发生任何变化，即被写入测试信号的第二信号线22未能驱动显示区02的其他部分区域进行正常显示，可以确定第一连接线31、第二连接线32和第二信号线22中的至少一个线路存在断路。可继续通过第一开关控制线42控制第二测试电路40内开关单元410关闭，第一测试电路10向第二信号线22输入测试信号，若被写入测试信号的第二信号线22驱动显示区02部分区域进行正常显示，可说明该条信号线20是完好的，不存在断路情况，由此，可确定第一连接线31和第二连接线32可能存在断路情况，并进行进一步的检查，例如利用探针对测试信号进行检测，实现精准定位到断路位置。

需要说明的是，第一测试电路10可以向一条信号线20输入测试信号，也可以同时向多条信号线20输入测试信号，本发明实施例对此不做具体限定，可根据实际需求设置。

可选的，先通过第一开关控制线42控制所有的开关单元410截止，然后由第一测试电路10同时向所有的信号线20输入测试信号，根据每条信号线20对应的显示区02中的子像素发光显示情况可以检测出存在断路的信号线20，并进行进一步的检修或者丢弃不合格的产品。然后通过第一开关控制线42控制所有的开关单元410导通，根据多个开关单元410与连接线30的具体连接方式，由第一测试电路10向部分信号线20输入测试信号，再根据显示区02中的子像素发光显示情况可以检测出存在断路的连接线30。

需要说明的是，根据多个开关单元410与连接线30的具体连接方式的不同，一条信号线20上输入的测试信号可在开关单元410导通时，同时向其他连接线30和其他信号线20传输的具体情况也会不同，本发明实施例在此不再一一详细列举说明，可采用前文描述的检测方法进行检测，以确定信号线20和连接线30是否存在断路，并进行精准定位，保证显示面板的正常工作，提高检测效率和产品良率。

本发明实施例中，通过在第一周边电路区设置第一测试电路，信号线至少部分位于显示区，且信号线的第一端与第一测试电路电连接，使得第一测试电路可向信号线输入测试信号。连接线位于第二周边电路区，连接线的第一端与信号线的第二端电连接，同时，在第二周边电路区设置第二测试电路包括开关单元组和第一开关控制线，开关单元组中的多个开关单元的控制端与第一开关控制线电连接，使得第一开关控制线可以控制多个开关单元导通或截止，并在在开关单元导通时，电性连通至少两条连接线。因此，在通过第一测试电路和第二测试电路对显示面板内的信号线和连接线进行检测时，可先通过第一开关控制线控制所有的开关单元截止，然后由第一测试电路向所有的信号线输入测试信号，根据每条信号线对应的显示区中的子像素发光显示情况可以检测出存在断路的信号线。然后通过第一开关控制线控制所有的开关单元导通，根据多个开关单元与连接线的具体连接方式，由第一测试电路向部分信号线输入测试信号，再根据显示区中的子像素发光显示情况可以检测出存在断路的连接线。如此，可通过第二测试电路中第一开关控制线控制开关单元导通或截止，对显示面板进行显示测试，以检测信号线和连接线是否存在断路，提高检测效率的同时，还可以提高显示面板的良率，保证显示面板的可靠性。

第一周边电路区01和第二周边电路区03可以围绕显示区02设置，也可以位于显示区02任意两侧，此处不做具体限定。继续参考图1，可选的，第一周边电路区01和第二周边电路区03分别位于显示区02相对的两侧，使得第一周边电路区01的第一测试电路10和第二周边电路区03的第二测试电路40位于显示区02的相对两侧，相较于将第一测试电路10和第二测试电路40位于显示区02的同一侧，利于显示面板100的窄边框设计。

需要说明的是，第一测试电路10位于第一周边电路区01，第一测试电路10被配置为检测信号线20是否断线，第一周边电路区01为显示面板100的上边框区域。第二测试电路40位于第二周边电路区03，第二测试电路40被配置为检测连接线30是否断线，第二周边电路区03为显示面板100的下边框区域(即显示面板100的下台阶)。第二周边电路区03设置有连接线30。第二周边电路区03为用于绑定驱动芯片(即IC)的区域。电性连通测试信号线设置于第一周边电路区01，第二周边电路区03不设置电性连通测试信号线，减小了第二周边电路区03的占用空间，从而可以减小显示面板100的下边框区域的面积，又由于上边框区域的布线空间充足，电性连通测试信号线设置于第一周边电路区01，不会明显增加上边框区域的面积。故而，第一测试电路10位于第一周边电路区01，第二测试电路40位于第二周边电路区02，整体上而言，减小了显示面板100的边框。

可选的，继续参考图2所示，显示面板100还包括绑定焊盘50，位于第二周边电路区03；连接线30的第二端与绑定焊盘50电连接。

具体的，绑定焊盘50可实现驱动芯片与连接线30的电连接，电连接不同连接线30的绑定焊盘50之间设置有绝缘层或者屏蔽金属层，避免相邻连接线30之间出现短路。

需要说明的是，图2中连接线30的第二端与开关单元410的第一端或第二端的耦接点与绑定焊盘50存在交叠，但并不表示耦接点与绑定焊盘50存在直接电连接关系，可以是相互绝缘设置的，也可以是电连接设置，本发明实施例不做具体限定。可以理解的是，连接线30的第一端可以通过绑定焊盘50与信号线20的第二端电连接，可以通过第一测试电路10和第二测试电路40对绑定焊盘50的通断进行检测，以保证显示面板100的可靠性。连接线30的第一端也可以直接与信号线20的第二端电连接，使得耦接点与绑定焊盘50之间相互绝缘，可根据实际情况进行设置。

可选的，图3为本发明实施例提供的另一种显示面板的局部结构示意图，如图3所示，显示区02包括不同发光颜色的第一子像素P1和第二子像素P2；信号线20包括数据线D，多条数据线D包括第一数据线D1和第二数据线D2，第一数据线D1与第一子像素P1电连接，第二数据线D2与第二子像素P2电连接；连接线30包括数据连接线d，多条数据连接线d包括第一数据连接线d1和第二数据连接线d2，第一数据连接线d1与第一数据线D1电连接，第二数据连接线d2与第二数据线D2电连接；多个开关单元410包含第一开关单元411和第二开关单元412，第一开关单元411包括第一晶体管T1，第一晶体管T1的栅极与第一开关控制线42电连接，第一晶体管T1的第一端与第一数据连接线d1直接电连接，第一晶体管T1的第二端与第二数据连接线d2直接电连接。

其中，第一子像素P1和第二子像素P2的发光颜色可以是红色、绿色、蓝色、白色、黄色或者品红色等，本发明实施例对此不做具体限定，可根据实际需求进行设置。

继续参考图1和图3，位于显示区02内的信号线20可以为数据线D，每条数据线D均与子像素电连接，可以是与同一列或同一行的子像素电连接，此处不做具体限定。第一数据线D1与第一子像素P1电连接，第二数据线D2与第二子像素P2电连接，第一数据线D1可向第一子像素P1写入数据信号以驱动第一子像素P1发光显示，第二数据线D2可向第二子像素P2写入数据信号以驱动第二子像素P2发光显示。如此，在第一测试电路10向第一数据线D1(或第二数据线D2)输入测试信号后，可驱动对应的第一子像素P1(或第二子像素P2)发光显示，以检测第一数据线D1(或第二数据线D2)是否出现断路。

进一步的，第一数据线D1与第一数据连接线d1电连接，第二数据线D2与第二数据连接线d2，第一开关单元411中第一晶体管T1的第一端与第一数据连接线d1直接电连接，第二端与第二数据连接线d2直接电连接，第一晶体管T1栅极与第一开关控制线42电连接，使得第一开关控制线42控制第一晶体管T1导通时，第一数据连接线d1和第二数据连接线d2电性连通。

具体的，在第一测试电路10向第一数据线D1(或第二数据线D2)输入测试信号后，测试信号可通过导通的第一晶体管T1传输至第二数据线D2(或第一数据线D1)，以进一步检测第一数据连接线d1和第二数据连接线d2是否存在断路，若与第二数据线D2(或第一数据线D1)电连接的子像素发光显示，可确定第一数据连接线d1和第二数据连接线d2不存在断路，相反的，若第二数据线D2(或第一数据线D1)电连接的子像素不发光显示，则确定第一数据连接线d1、第二数据连接线d2和第二数据线D2(或第一数据线D1)可能存在断路，进一步的，可通过第一测试电路10向第二数据线D1(或第一数据线D1)输入测试信号，同时第一开关控制线42控制第一晶体管T1关闭，可进一步检测第二数据线D1(或第一数据线D1)是否断路，若第二数据线D1(或第一数据线D1)未出现断路，则说明第一数据连接线d1和第二数据连接线d2存在断路，进而进一步检查，如此可实现对数据线D和数据连接线d的通断均能进行检测，提高检测效率的同时，提高了显示面板100的良品率。

需要说明的是，第一晶体管T1可以是N沟道薄膜晶体管，也可以是P沟道薄膜晶体管，本发明对此不做具体限定，可根据实际需求进行设置。

可选的，继续参考图3，显示区02还包括第三子像素P3，第一子像素P1、第二子像素P2和第三子像素P3中任意两者的发光颜色不同；数据线D还包括第三数据线D3，第三数据线D3与第三子像素P3电连接；数据连接线d还包括第三数据连接线d3，第三数据连接线d3与第三数据线D3电连接；第二开关单元412包括第二晶体管T2，第二晶体管T2的栅极与第一开关控制线42电连接，第二晶体管T2的第一端与第二数据连接线d2直接电连接，第二晶体管T2的第二端与第三数据连接线d3直接电连接。

其中，第三子像素P3的发光颜色包括但不限于红色、绿色、蓝色、白色、黄色或者品红色等，可根据实际需求进行设置。

第二晶体管T2和第一晶体管T1的沟道类型相同，可以是N沟道薄膜晶体管，也可以是P沟道薄膜晶体管，可根据实际需求进行设置，如此，可以由同一第一开关控制线42控制导通或截止，以减少线路数量，利于窄边框设计。

具体的，第三数据线D3可向第三子像素P3写入数据信号以驱动第三子像素P3发光显示。在第一开关控制线42控制第二开关单元412的第二晶体管T2截止时，通过第一测试电路10向第三数据线D3输入测试信号，来驱动对应的第三子像素P3发光显示，可根据第三子像素P3的明暗情况来确定第三数据线D3是否出现断路。

继续参考图3，第二晶体管T2的栅极与第一开关控制线42电连接，可在第一开关控制线42的控制下导通或截止，第二晶体管T2的第一端与第二数据连接线d2直接电连接，第二晶体管T2的第二端与第三数据连接线d3直接电连接，第三数据连接线d3与第三数据线D3电连接，如此，在第一开关控制线42控制第一晶体管T1和第二晶体管T2导通时，第一数据连接线d1、第二数据连接线d2和第三数据连接线d3中任意两条连接线保持电性连通，进一步的，在第一测试电路10向第一数据线D1、第二数据线D2或第三数据线D3中的任意一条数据线D输入测试信号后，该测试信号都能通过数据连接线d和导通的第一晶体管T1和第二晶体管T2传输至另外两条数据线D，如此，可以根据显示区02内的显示情况来检测第一数据连接线d1、第二数据连接线d2和第三数据连接线d3是否存在断路，提高检测效率。具体的工作过程，此处不再详细赘述，可参考上文描述。

在另一可选的实施例中，图4为本发明实施例提供的又一种显示面板的局部结构示意图，如图4所示，与图3不同的是，第二晶体管T2的第一端与第一数据连接线d1直接电连接。可以理解的是，在第一开关控制线42控制第一晶体管T和第二晶体管T2导通时，第一数据连接线d1分别与第二数据连接线d2和第三数据连接线d3电性连通，而第二数据连接线d2和第三数据连接线d3之间互不连通，即相互绝缘。如此，在第一测试电路10向第一数据线D1输入测试信号后，该测试信号可以通过第一数据连接线d1和导通的第一晶体管T1传输至第二数据连接线d2和第二数据线D2，同时还可以通过第一数据连接线d1和导通的第二晶体管T2传输至第三数据连接线d3和第三数据线D3。然而，当第一测试电路10向第二数据线D2或第三数据线D3中的任意一条数据线D输入测试信号后，该测试信号仅能通过数据连接线d和导通的晶体管传输至第一数据连接线d1和第一数据线D1，而不能传输至第三数据连接线d3或者第二数据连接线d2。

进一步的，继续参考图3和图4，在第一开关控制线42控制第二测试电路40内各个开关单元410截止的情况下，可以对每条数据线D的通断情况进行检测。而在第一开关控制线42控制第二测试电路40内各个开关单元410导通的情况下，无论第二晶体管T2的第一端与第一数据连接线d1直接电连接，还是与第二数据连接线d2电连接，都能通过调整第一测试电路10向多条数据线D输入测试信号的顺序，来检测每条数据连接线d是否存在断路，以提高检测效率，保证显示面板的正常工作，提高显示面板100的良品率。

需要说明的是，图3和图4中显示区02内第一子像素P1、第二子像素P2和第三子像素P3的像素排布方式包括但不限于此，具体排布方式可根据实际需求进行设置。

可选的，继续参考图2至图4所示，显示面板100包括连接线组301，连接线组301包括多条连接线30，不同连接线组301中的连接线30电绝缘。

具体的，连接线组301可以由至少两条连接线30组成，图2示例性示出了连接线组301中包括两条连接线30，图3和图4示例性示出了连接线组301中包括三条连接线30，但不限于此，可根据实际需求进行设置。不同连接线组301中的连接线30电绝缘，即其中一个连接线组301中的连接线30与另一个连接线组301中的连接线30不存在任何电连接关系，如此，在对连接线30的通断进行检测时，便于通过较少次数的测试快速精准的对存在断路情况的连接线30的位置进行定位，提高检测效率。此外，不同连接线组301中的连接线30电绝缘，还可以减少开关单元410的设置数量，进而利于显示面板100的窄边框设计。

可选的，图5为本发明实施例提供的又一种显示面板的局部结构示意图，如图5所示，多个开关单元410还包含第三开关单元413，第三开关单元413包含第三晶体管T3，第三晶体管T3的栅极与第一开关控制线42电连接，第三晶体管T3的第一端与第三数据连接线d3直接电连接，第三晶体管T3的第二端与第一数据连接线d1直接电连接。

其中，第一晶体管T1、第二晶体管T2和第三晶体管T3的沟道类型相同，可以是N沟道薄膜晶体管，也可以是P沟道薄膜晶体管，可根据实际需求进行设置。

具体的，第三晶体管T3的串联在第三数据连接线d3和第一数据线d1之间，在第一开关控制线42控制第一晶体管T1、第二晶体管T2和第三晶体管T3均导通时，可以使得多条数据连接线d存在电性连通，通过向其中一条数据连接线d电连接的数据线D输入检测信号，就可以通过多个导通的晶体管传输至多条数据连接线d和数据线D，以便于根据多条数据线D电连接的子像素的发光显示情况确定数据连接线d是否存在断路情况，进一步提高检测效率。

可选的，图6为本发明实施例提供的又一种显示面板的局部结构示意图，如图6所示，信号线20包括数据线D和触控线TP，连接线30包括数据连接线d和触控连接线tp，数据线D与数据连接线d电连接，触控线TP与触控连接线tp电连接；多个开关单元410中包含第四开关单元414，第四开关单元414包括第四晶体管T4，第四晶体管T4的栅极与第一开关控制线42电连接，第四晶体管T4的第一端与数据连接线d直接电连接，第四晶体管T4的第二端与触控连接线tp直接电连接。

可以理解的，触控线TP可以用于传输触控驱动信号和触控感应信号至触控芯片，便于触控芯片了解触控位置和/或触控压力大小，从而实现显示面板100的触控功能。触控线TP可以复用为显示面板100内的公共电极，数据线D提供的数据线信号可以写入至子像素，当数据线D提供的数据信号的电压与公共电极上的电压(即触控线TP提供的触控信号)存在压差时，可以驱动对应的子像素进行发光，显示图像画面，而当数据线D提供的数据信号的电压与公共电极上的电压相同时，显示区02内与该数据线D电连接的子像素将成现黑画面。

继续参考图6所示，在对触控线TP和触控连接线tp进行检测之前，可先确定与第四晶体管T4的第一端电连接的数据连接线d和数据线D没有断路，具体测试过程可参考上文描述，此处不做详细赘述。然后在对触控线TP和触控连接线tp进行检测，可通过第一开关控制线42控制第四晶体管T4截止，第一测试电路10向触控线TP输入变化的测试信号，由于与第四晶体管T4的第一端电连接的数据线D上存在不确定的数据电压信号，在该数据线D上的电压信号与变化的测试信号之间具有一定的压差，并驱动与该数据线D电连接的子像素发光显示时，确定触控线TP不存在断路，若无论第一测试电路10向触控线TP输入的测试信号如何变化，都无法驱动对应的子像素发光显示，可确定触控线TP存在断路。再然后通过第一开关控制线42控制第四晶体管T4导通，使得与第四晶体管T4第一端电连接的数据连接线d和与第四晶体管T4的第二端电连接的触控连接线tp之间电性连通，继续控制第一测试电路10向触控线TP输入变化的测试信号，该变化的测试信号可通过导通的第四晶体管T4传输至数据连接线d和数据线D，若与该数据线D电连接的子像素对应的显示区域始终保持为黑画面，可确定触控连接线tp不存在断路，否则，若显示区02出现竖线或者其他画面，可确定触控连接线tp存在断路。由此可知，无论当信号线20为触控线TP时，仍可以通过第一测试电路10和第二测试电路40的配合工作，检测触控线TP和触控连接线tp是否存在断路，提高测试效率，同时提高显示面板100的良率。

示例性的，图6示出了多个开关单元410包括第一开关单元411、第二开关单元412和第四开关单元414的结构示意图，但不限于此。其中，第一开关单元411包括第一晶体管T1，第二开关单元412包括第二晶体管T2；数据线D包括第一数据线D1、第二数据线D2和第三数据线D3，且第一数据线D1与显示区02内第一子像素P1电连接，第二数据线D2与第二子像素P2电连接，第三数据线D3与第三子像素P3电连接；数据连接线d包括第一数据连接线d1、第二数据连接线d2和第三数据连接线d3，第一数据连接线d1与第一数据线D电连接，第二数据连接线d2和第二数据线D电连接，第三数据连接线d3和第三数据线D电连接。在第一开关控制线42控制第一晶体管T1、第二晶体管T2和第四晶体管T4均截止时，第一测试电路10向触控线TP输入变化的测试信号，若显示面板100可根据测试信号的变化显示不同的画面，可确定触控线TP不存在断路，若显示面板100显示的画面始终保持不变，可确定触控线TP存在断路。然后，第一开关控制线42控制第一晶体管T1、第二晶体管T2和第四晶体管T4均导通，使得第一数据连接d1、第二数据连接线d2、第三数据连接线d3和触控连接线tp之间电性连通，即第一测试电路10向触控线TP输入的变化的测试信号可通过导通的晶体管依次传输至第三数据连接线d3、第二数据连接线d2和第一数据连接d1，进而传输至第三数据线D3、第二数据线D2和第一数据线D1，可使得触控线TP与第一数据线D1、第二数据线D2和第三数据线D3保持同电位，无法驱动第一子像素P1、第二子像素P2和第三子像素P3发光显示，显示面板100始终保持为黑画面。若显示区02显示的画面并不是黑画面，而是灰色或者浅色画面，可认为触控连接线tp存在断路，进而需要进行进一步的检修，提高显示面板100的可靠性。

可选的，图7为本发明实施例提供的又一种显示面板的局部结构示意图，如图7所示，显示面板100包括连接线组301，连接线组301包括多条连接线30，连接线30包括数据连接线d；信号线20包括数据线D，数据线D与数据连接线d电连接；多个连接线组301包括第一连接线组3011和第二连接线组3012，沿第一方向，第一连接线组3011中数据连接线d与第二连接线组3012中数据连接线d交替排列。

可以理解的是，显示面板100可以是液晶显示面板，相邻两帧显示画面数据线D提供的数据信号通常是相反的，如此，可以控制液晶旋转的电场的方向也会发生反转，此外，设置相邻两列子像素接收到的数据信号的电压极性相反，例如奇数列的像素接收到的数据信号的电压极性为正极性(用+表示)，偶数列子像素接收到的数据信号的电压极性为负极性(用-表示)，可以防止液晶出现极化而引起残影等问题。

继续参考图7，第一连接线组3011中的每条数据连接线d电连接的数据线D传输的数据信号均为正极性数据信号，而第二连接线组3012中的每条数据连接线d电连接的数据线D传输的数据信号均为负极性数据信号，第一连接线组3011中数据连接线d与第二连接线组3012中数据连接线d交替排列，使得第一测试电路10和第二测试电路40可对传输同一极性数据信号的数据线D和数据连接线d进行同时检测，在提高检测效率的同时，保证显示面板100工作的可靠性。

需要说明的是，第一连接线组3011和第二连接线组3012中连接线30的刷数量可以是两条或者多条，本发明实施例对此不做具体限定，可根据实际需求进行设置，图7仅为示例性的示出，但不限于此。

可选的，图8为本发明实施例提供的又一种显示面板的局部结构示意图，结合参考图1和图8所示，第一测试电路10包括第五开关单元11、第二开关控制线12和测试信号线13，第五开关单元11的控制端与第二开关控制线12电连接，被配置为在第五开关单元11导通时，电性连通测试信号线13与信号线20。

其中，测试信号线13可以是一条或者多条，根据信号线20的类型对应测试信号线的数量也会不同，本发明实施例对此不做具体限定，可根据实际需求进行设置。

具体的，在第二开关控制线12控制第五开关单元11导通时，可使得测试信号线13与信号线20电性连通，即测试信号线13上的测试信号可通过导通的第五开关单元11传输至信号线20。

可选的，第五开关单元11可以为开关晶体管，开关晶体管的栅极与开关控制线12电连接，开关晶体管的第一端与测试信号线13电连接，第二端与信号线20电连接。进一步的，第五开关单元11可以是N沟道薄膜晶体管，也可以是P沟道薄膜晶体管，本发明对此不做具体限定，可根据实际需求进行设置。

示例性的，参考图8，图8中信号线20可以是数据线D，其中，第一数据线D1电连接第一子像素P1，第二数据线D2电连接第二子像素P2，第三数据线D3电连接第三子像素P3，如此，显示区02内的第一数据线D1、第二数据线D2和第三数据线D3可通过第五开关单元11分别与不同的测试信号线13电连接，使得测试信号线13可对于相同发光颜色子像素电连接的数据线D同时输入测试信号，以便于对该数据线D及与其电连接的连接线30能够进行同时检测，提高检测效率。

在其他实施例中，图9为本发明实施例提供的又一种显示面板的局部结构示意图，结合参考图1和图9所示，信号线20还可以是触控线TP，显示区02内的所有触控线TP均通过第五开关单元11与同一测试信号线13电连接，以减少测试信号线13的数量，利于显示面板100的窄边框设计，具体工作过程可参考上文描述，此处不再详细赘述。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示装置，图10为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图，如图10所示，该显示装置200包括上述任一实施例提供的显示面板100以及驱动芯片60，驱动芯片60绑定于第二周边电路区03。

具体的，驱动芯片60可通过焊盘与第二周边电路区03内的连接线30以及其他线路进行绑定连接，以实现接收或者发送信号，从而驱动显示装置200的正常工作。

本发明实施例提供的显示装置200可以手机，也可以为任何具有显示功能的电子产品，包括但不限于以下类别：电视机、笔记本电脑、桌上型显示器、平板电脑、数码相机、智能手环、智能眼镜、车载显示器、医疗设备、工控设备、触摸交互终端等，本发明实施例对此不作特殊限定。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示面板的测试方法，图11为本发明实施例提供的一种显示面板的测试方法的流程图，结合图1、图2好图11所示，该方法包括以下步骤：

S101、第一开关控制线控制开关单元截止，第二测试电路处于关闭状态，第一测试电路输入测试信号，进行显示测试。

S102、第一开关控制线控制开关单元导通，第二测试电路处于开启状态，第一测试电路输入测试信号，进行显示测试。

本实施例中，在通过第一测试电路和第二测试电路对显示面板内的信号线和连接线进行检测时，可先通过第一开关控制线控制开关单元截止，此时第二检测电路处于关闭状态，然后由第一测试电路向信号线输入测试信号，并进行显示测试，根据每条信号线对应的显示区中的子像素发光显示情况可以检测出信号线是否存在断路，若存在断路便于技术人员及时进行检修。然后通过第一开关控制线控制开关单元导通，此时第二测试电路处于开启状态，即开关单元两端的连接线电性连通，根据多个开关单元与连接线的具体连接方式，由第一测试电路向部分信号线输入测试信号，再根据显示区中的子像素发光显示情况可以检测出连接线是否存在断路，若存在断路便于技术人员及时进行检修。如此，可通过第二测试电路中第一开关控制线控制开关单元导通或截止，对显示面板进行显示测试，快速检测出信号线和连接线是否存在断路，不仅可以提高显示板的检测效率，还可以提高显示面板的良率，保证显示面板的可靠性。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整、相互结合和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (12)

1.一种显示面板，其特征在于，包括第一周边电路区、显示区和第二周边电路区；

第一测试电路，位于所述第一周边电路区；

信号线，至少部分位于所述显示区，所述信号线的第一端与所述第一测试电路电连接；

连接线，位于所述第二周边电路区，所述连接线的第一端与所述信号线的第二端电连接；

第二测试电路，位于所述第二周边电路区，包括开关单元组和第一开关控制线，所述开关单元组包括多个开关单元，多个所述开关单元的控制端与所述第一开关控制线电连接，被配置为在所述开关单元导通时，电性连通至少两条所述连接线。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示区包括不同发光颜色的第一子像素和第二子像素；

所述信号线包括数据线，多条所述数据线包括第一数据线和第二数据线，所述第一数据线与所述第一子像素电连接，所述第二数据线与所述第二子像素电连接；

所述连接线包括数据连接线，多条所述数据连接线包括第一数据连接线和第二数据连接线，所述第一数据连接线与所述第一数据线电连接，所述第二数据连接线与所述第二数据线电连接；

多个所述开关单元包含第一开关单元和第二开关单元，所述第一开关单元包括第一晶体管，所述第一晶体管的栅极与所述第一开关控制线电连接，所述第一晶体管的第一端与所述第一数据连接线直接电连接，所述第一晶体管的第二端与所述第二数据连接线直接电连接。

3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述显示区还包括第三子像素，所述第一子像素、所述第二子像素和所述第三子像素中任意两者的发光颜色不同；

所述数据线还包括第三数据线，所述第三数据线与所述第三子像素电连接；

所述数据连接线还包括第三数据连接线，所述第三数据连接线与所述第三数据线电连接；

所述第二开关单元包括第二晶体管，所述第二晶体管的栅极与所述第一开关控制线电连接，所述第二晶体管的第一端与所述第一数据连接线直接电连接或者所述第二数据连接线直接电连接，所述第二晶体管的第二端与所述第三数据连接线直接电连接。

4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，多个所述开关单元还包含第三开关单元，所述第三开关单元包含第三晶体管，所述第三晶体管的栅极与所述第一开关控制线电连接，所述第三晶体管的第一端与所述第三数据连接线直接电连接，所述第三晶体管的第二端与所述第一数据连接线直接电连接。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述信号线包括数据线和触控线，所述连接线包括数据连接线和触控连接线，所述数据线与所述数据连接线电连接，所述触控线与所述触控连接线电连接；

多个所述开关单元中包含第四开关单元，所述第四开关单元包括第四晶体管，所述第四晶体管的栅极与所述第一开关控制线电连接，所述第四晶体管的第一端与所述数据连接线直接电连接，所述第四晶体管的第二端与所述触控连接线直接电连接。

6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，包括连接线组，所述连接线组包括多条所述连接线，不同所述连接线组中的所述连接线电绝缘。

7.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，包括连接线组，所述连接线组包括多条所述连接线，所述连接线包括数据连接线；

所述信号线包括数据线，所述数据线与所述数据连接线电连接；

多个所述连接线组包括第一连接线组和第二连接线组，沿第一方向，所述第一连接线组中所述数据连接线与所述第二连接线组中所述数据连接线交替排列。

8.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括绑定焊盘，位于所述第二周边电路区；

所述连接线的第二端与所述绑定焊盘电连接。

9.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一测试电路和所述第二测试电路位于所述显示区的相对两侧。

10.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一测试电路包括第五开关单元、第二开关控制线和测试信号线，所述第五开关单元的控制端与所述第二开关控制线电连接，被配置为在所述第五开关单元导通时，电性连通所述测试信号线与所述信号线。

11.一种基于权利要求1-10任一项所述显示面板的测试方法，其特征在于，包括：

第一开关控制线控制开关单元截止，第二测试电路处于关闭状态，第一测试电路输入测试信号，进行显示测试；

所述第一开关控制线控制所述开关单元导通，第二测试电路处于开启状态，第一测试电路输入测试信号，进行显示测试。

12.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1-10任一项所述的显示面板，以及驱动芯片，所述驱动芯片绑定于所述第二周边电路区。

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