[go: up one dir, main page]

SA516371041B1 - طريقة وجهاز للكشف عن مادة - Google Patents

طريقة وجهاز للكشف عن مادة Download PDF

Info

Publication number
SA516371041B1
SA516371041B1 SA516371041A SA516371041A SA516371041B1 SA 516371041 B1 SA516371041 B1 SA 516371041B1 SA 516371041 A SA516371041 A SA 516371041A SA 516371041 A SA516371041 A SA 516371041A SA 516371041 B1 SA516371041 B1 SA 516371041B1
Authority
SA
Saudi Arabia
Prior art keywords
light
light source
transmitted
analyzing apparatus
source
Prior art date
Application number
SA516371041A
Other languages
English (en)
Inventor
ديرك بالثاسار
دونجلاس اليكسندار ريد
جون مكجلويلين
توبيس هارتمان
Original Assignee
تومرا سورتينج ان فى.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by تومرا سورتينج ان فى. filed Critical تومرا سورتينج ان فى.
Publication of SA516371041B1 publication Critical patent/SA516371041B1/ar

Links

Classifications

    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34—Sorting according to other particular properties
    • B07C5/3416—Sorting according to other particular properties according to radiation transmissivity, e.g. for light, x-rays, particle radiation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85—Investigating moving fluids or granular solids
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C2501/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material to be sorted
    • B07C2501/009—Sorting of fruit
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85—Investigating moving fluids or granular solids
    • G01N2021/8592—Grain or other flowing solid samples

Landscapes

  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Abstract

يتعلق الاختراع الحالي بجهاز للكشف عن مادة يتضمن وسيلة تغذية كلية bulk feeding means (3؛ 3') مهيأة لتغذية مجموعة من الأشياء (2؛ 2') في منطقة كشف detecting region (D)؛ مصدر ضوء واحد على الأقل (8؛ 10، 20؛ 40) له عنصر تركيز focusing element ومهيأ لإضاءة شيء واحد على الأقل (2؛ 2') متحرك في مستوى الشيء (P-P) في منطقة الكشف (D)؛ وجهاز تحليل ضوء light-analyzing apparatus أول (4) مجهز لاستشعار الضوء الذي تم بثه عبر المادة. في الطريقة المصاحبة، يتم تحريك الشيء في المستوى وتتم إضاءة الشيء بضوء ساقط incident light. يتم الكشف عن الضوء الذي تم بثه خلال الشيء والساقط في مستوى قياس measuring plane (T)، ويتم تحديد متغير انتقائي للشيء قائم على أساس الضوء الذي تم بثه والمكشوف عنه. شكل 2

Description

طربقة وجهاز للكشف عن ‎Bala‏ ‎METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING MATTER‏ الوصف الكامل خلفية الاختراع يتعلق الاختراع بأنظمة وطرق للتقييم غير الهدام. بشكل أكثر تحديداء يتعلق الاختراع بأنظمة بصرية؛ ‎Beal‏ وطرق للكشف عن شيء وتحديد واحد أو ‎AST‏ من متغيرات شيء. الاختراع مفيد تحديدا لتحديد خواص واحد أو أكثر من الأشياء النصف شفافة ‎translucent objects‏ هناك العديد من التقنيات الموجودة لتحديد جودة الخضروات والفاكهة. في مجال الزراعة؛ من المهم ‎Zyl‏ على أساس متغيرات داخلية ‎die‏ تركيز السكرء الحمضية؛ النضج؛ العفن والتلف؛ والخواص الخارجية مثل الحجم؛ الشكل الهندسي واللون» ولتنفيذ عمليات تصنيف معينة على أساس هذه المتغيرات والخواص. تعد عملية استخدام التحليل الطيفي ‎spectroscopy‏ القريب من الأشعة تحت الحمراء ‎near-‏ ‎(NIR) infrared 0‏ وتحليل طيفي للضوء المرئي ‎(VIS) visible light‏ في تحديد العديد من خواص الفاكهة والخضروات. يتم تحديد إشعاع آشعة تحت الحمراء بشكل عام بأنه نطاق الطيف الكهرومغناطيسي ‎electromagnetic spectrum‏ ما بين 780 و2500 نانومتر؛ بينما تتم الإشارة إلى الطيف ما بين 400 نانومتر و780 نانومتر بإشعاع طيف الضوءٍ المرئي. في التحليل الطيفي ‎dad]‏ تحت الحمراء أو طيف الضوء المرئي؛ يتم تسليط الشعاع على الشيء المستهدف؛ وبتم قياس 5 الآشعة المعكوسة ‎reflected radiation‏ أو الأشعة التي تم بثها ‎transmitted radiation‏ يتم تحليل التغيرات في الضوء المعكوس ‎reflected light‏ لتحديد العديد من خواص سطح الشيء. الضوء الذي تم بثه؛ مثلا الإشعاع الذي يخترق الشيء؛ يخضع للتشتيت و/أو الامتصاص الذي يؤثر على ‎wavelength asd) sk‏ تعتمد هذه التغيرات على تشتيت الضوم» بالإضافة إلى التركيبة الكيماوية ‎.chemical composition‏ تتضمن حالة الفن براءة الاختراع اليابانية رقم 210355 2010 أ؛ التي تصف طريقة وجهاز لتنفيذ قياس غير هدام ‎SSA‏ مكون مستهدف. في الطريقة؛ يتم تسليط ‎plat]‏ على عنصر غذائي؛ مثل خضار؛ فاكهة؛ لحم؛ مع ضوءٍ ذو طول موجي في نطاق 400 إلى 2500 نانومتر. يتم الحصول على طيف امتصاص ‎absorbance spectrum‏ بواسطة الكشف عن الضوء الذي .تم بثه
‎transmitted light‏ و/أو الضوء المعكوس» وبتم تحديد تركيز مكون مستهدف لعنصر قياس باستخدام منحنى معايرة من امتصاص كل الأطوال الموجية للقياس أو طول موجي معين. تتضمن ‎Ala‏ الفن براءة الاختراع الصينية رقم 2733343 واي؛ التي تصف آلة تحليلية مدمجة ‎integral analytical equipment‏ داخلية غير هدامة ‎fie‏ فاكهة والخضروات»؛ يتضمن مصدر ضوءٍ نظام ؛ مرشح ونظام تصوير .يمكن أن تقوم الآلة بإضاءة منتجات زراعية مختلفة في مختلف الزواياء ويمكن أن يدخل ‎esa‏ الذي يخترق العينات مطياف ‎spectrometer‏ (مصدر ضوءٍ ملون) أو جهاز كشف ‎detector‏ (مصدر ‎gga‏ أحادي اللون) قدر الإمكان عبر وظيفة تصوير عدسة ‎lens‏ تعمل على استخدام طيف ‎dail‏ تحت حمراء شبه مرئية لتحليل جزدة المنتجات الزراعية. 0 في الأنظمة والطرق المعروفة؛ يتم تشعيع الأشياء وتحليلها واحدة تلو الأخرى»؛ والتي تتطلب أن يتم وضع كل عنصر داخل جهاز الكشف إما يدويا أو على سير ناقل ‎conveyor belt‏ له مستلمات محددة لكل عنصر. وبالتالي من المطلوب زيادة معدل إدخال الأشياء في الأجهزة المذكورة أعلاه. الوصف العام للاختراع تم وصف وتحديد خواص الاختراع في عناصر الحماية الأساسية؛ بينما تصف عناصر الحماية 5 الاعتمادية خواص أخرى للاختراع. بالتالي تم توفير جهاز للكشف عن شيء؛ يتسم ب: - وسيلة تغذية كلية ‎bulk feeding means‏ مهيأة لتغذية مجموعة من الأشياء في منطقة كشف ‎¢tdetecting region‏ - مصدر ضوءٍ واحد على الأقل له عنصر تركيز ‎focusing element‏ ومهياً لإضاءة شيء واحد 0 على الأقل متحرك في مستوى الشيء في منطقة الكشف؛ و - جهاز تحليل ‎light-analyzing apparatus seca‏ أول مجهز لاستشعار الضوءٍ الذي تم بثه خلال الشيء. وفقا لأحد الأمثلة تم توفير جهاز للكشف عن شيء؛ يتسم بأن: - وسيلة تغذية كلية مهيأة لتغذية مجموعة من الأشياء في منطقة كشف؛ 5 - مصدر ضوء واحد على الأفل كل له عنصر تركيز ومهياً لإرسال الضوء في إتجاه أول مناظر لإضاءة شيء واحد على الأقل متحرك في مستوى الشيء في منطقة الكشف؛ و
- جهاز تحليل ‎sgn‏ أول مجهز لاستشعار الضوء الذي تم بثه خلال الشيء؛ ولتحديد مقدار الضوء الذي تم تلقيه من مصدر الضوءٍ المذكور الواحد على الأقل؛ حيث جهاز تحليل الضوءٍ الأول المذكور مجهز لاستشعار الضوءٍ له إتجاه داخل مجال رؤية جهاز تحليل الضوءٍ الأول المذكور؛ و حيث الإتجاه الأول المناظر المذكور مختلف عن الاتجاهات داخل مجال رؤية جهاز تحليل ‎spall‏ ‏الأول المذكور. بمعنى ‎AT‏ عندما لا يكون هناك شيء في منطقة الكشف؛ لن يتم استشعار الضوءٍ المنبعث أو المرسل بواسطة مصدر الضوء المذكور الواحد على الأقل بشكل عام بواسطة جهاز تحليل الضوء الأول المذكور. أو بمعنى ‎AT‏ أيضاء عندما لا يكون هناك شيء في منطقة الكشف؛ سوف يتم 0 إرسال ‎spall‏ المنبعث أو المرسل بواسطة مصدر الضوء المذكور الواحد على الأقل خالرج مجال ‎les‏ تحليل الضوءٍ الأول المذكور. بشكل أكثر ‎Shain‏ بشكل عام لا يوجد أو هناك القلي فقط من الضوءٍ المرسل من مصدر الضوء المذكور الواحد على الأقل سوف يتم استشعاره بواسطة جهاز تحليل الضوء الأول المذكور بسبب مثلا التشتيت في الجو المحيط أو السطح؛ عندما لا يتم إرسال شيء مسبقا في منطقة الكشف. وفقا لأحد الأمثلة؛ يتم تحديد على الأكثر 10 7 أو على 5 الأكثر 5 #7 أو على الأكثر 1 7 أو على الأكثر 0.5 7 أو على الأكثر 0.1 #7 أو على الأكثر 5 7 من الضوء المرسل من مصدر الضوء الواحد على الأقل؛ عندما لا يتم إرسال شيء مسبقا في منطقة الكشف؛ بواسطة جهاز تحليل ‎equal)‏ الأول المذكور. وفقا لأحد الأمثلة؛ عندما يتم إرسال شيء مسبقا في ‎dilate‏ الكشف وتم تشعيعه بواسطة مصدر الضوء المذكور الواحد على الأقل؛ يتم بث الضوءء من مصدر الضوء المذكور الواحد على الأقل 0 بشكل منتشر خلال أو انحرافه بواسطة الشيء المذكور قبل وصوله إلى المستشعر ‎sensor‏ الخاص بجهاز تحليل الضوء. بشكل أكثر تفصيلاء أكثر من 75 #7 أو أكثر من 90 7 من هذا الضوءء من مصدر الضوءٍ المذكور الواحد على الأقل الضوءٍ الذي يصل إلى المستشعر الخاصة بجهاز تحليل الضوء الأول المذكور؛ والذي تم بشكل منتشر خلال أو انحرف بواسطة الشيء المذكور قبل أن يصل إلى مستشعر جهاز تحليل الضوء. 5 كما هو مذكور أعلاه؛ جهاز تحليل الضوءٍ الأول المذكور مجهز لتحديد الضوء الذي تم تلقيه من مصدر الضوء المذكور الواحد على الأقل؛ بمعنى آخر جهاز تحليل الضوء الأول المذكور مجهز
لتمييز بين الضوء المحيط والضوء الذي يتم تلقيه من مصدر الضوءٍ الواحد على الأقل. بمعنى آخر ‎clad‏ مقدار الضوءٍ الذي يتم تلقيه من جهاز تحليل ‎spall‏ الأول المذكور أعلى بشكل واضح من مستوى الضوضاء؛ والتي تم إرسالها سلفا عندما لا يتم إغلاق مصدر الضوء الواحد على الأقل.
وفقا لأحد الأمثلة. مصدر ‎spall‏ وعنصر التركيز له محور بصري ناتج موجه في إتجاه أول. الإتجاه الأول المذكور موجود خارج مجال رؤية جهاز تحليل الضوءٍ الأول المذكور؛ بمعنى ‎DAT‏ ‏الضوءٍ المنبعث غير المنحرف على طول المحور البصري الأول المذكور؛ خارج مجال جهاز تحليل الضوءٍ الأول المذكور ولن يتم استشعاره بواسطة جهاز تحليل الضوءٍ الأول المذكور. في أحد النماذج؛ مصدر الضوء الواحد على الأقل مجهز لإرسال ضوءٍ ساقط ‎incident light‏ تجاه
0 مجموعة الأشياء المتحركة في مستوى الشيء؛ وحيث جهاز تحليل الضوء الأول مجهز بحيث لا يكون مستوى قياس الضوء الذي تم بثه والضوء الساقط في نفس المستوى. في أحد النماذج؛ وسيلة التغذية الكلية مهيأة لتغذية الأشياء في منطقة الكشف بطريقة عشوائية. مصدر الضوء الواحد على الأقل في أحد النماذج مجهز في البؤرة الأول لوسيلة عاكسة على شكل إهليلجي مقطوع ‎truncated ellipsoid-shaped reflector‏ والوسيلة العاكسة مجهز بحيث تكون 5 البؤرة من00؟ الثانية للوسيلة العاكسة على شكل إهليلجي مقطوع متطابقة مع مستوى الشيء. بمعنى آخرء سوف يكون الضوءٍ المنبعث من مصدر الضوء الواحد على الأقل المتقارب من البؤرة؛ حيث سيتباعد. جهاز تحليل الضوء مجهز بشكل مفيد بحيث لا ‎diay‏ الضوء المتباعد إلى مستشعراته. يمكن أن يتضمن مصدر الضوء الواحد على الأقل واحد أو أكثر من الديودات الباعثة للضوء ‎(Sag ٠» (LEDs) light emitting diodes 0‏ أن يتضمن أيضا عدسة واحدة على ‎(JN‏ قادرة على تركيز الضوء في مستوى الشيء. في أحد النماذج» مصدر الضوء وجهاز تحليل الضوءٍ الأول مجهزين على الجانبين المتقابلين لمستوى الشيء. في أحد ‎riled‏ مصدر الضوءٍ الأول مجهز بشكل متناظر مع مصدر ضوءٍ ثاني حول محور مركزي.
جهاز تحليل الضوء الثاني في أحد النماذج مجهز على الجانب المقابل لمستوى الشيء نسبة إلى
‎lea‏ تحليل الضوء الأول ومهياً لتلقي الضوء المعكوس من الشيء الناتج من الضوءٍ المرسل من
‏مصدري الضوء المناظرين الأول والثاني.
‏في أحد النماذج؛ على الأقل مصدر ضوء ثالث مجهز على نفس جانب مستوى الشيء ‎die‏ جهاز
‏5 تحليل الضوء الأول ومهيأة لإضاءة الشيء بالضوء المعكوس إلى جهاز تحليل الضوء الأول.
‏يمكن أن يتضمن جهاز تحليل الضوءٍ نظام مطياف ‎spectroscopy system‏ أو نظام كاميرا فوق
‎.hyperspectral camera system ‏طيفية‎
‏مصدر الضوء الواحد على الأقل في أحد النماذج ‎Ble‏ عن مصدر ضوءٍ نبضي ‎pulsed light‏
‎¢source‏ مجهز لإرسال نبضات ‎pulsated light sgn‏ في منطقة الكشف. يمكن تجهيز وسيلة 0 التحكم في الضوء ‎Light control means‏ وتهيئتها لإرسال نبضات ضوءٍ في منطقة الكشف بشكل
‏يمكن أن تتضمن وسيلة التغذية الكلية جهاز تغذية هزاز ‎vibration feeder‏ أو سير ناقل؛ اختياريا
‏في توليفة مع ‎janie‏ يتم بواسطته إسقاط الأشياء خلال منطقة الكشف. تتضمن وسيلة التغذية
‏الكلية سير ناقل نصف شفاف ‎translucent conveyor belt‏ يمتد في منطقة الكشف ومجهز لدعم الشيء ‎Wha‏ على الأقل في منطقة الكشف.
‏في أحد النماذج؛ السير الناقل يتضمن سير ناقل من سلك شبكي ‎ewire mesh conveyor belt‏ أو
‏اثنين من السيور ‎conveyor belts All‏ منفصلين بواسطة فجوة تدخل.
‏تم أيضا توفير نظام لتصنيف الأشياء ‎٠‏ حيث الجهاز المخترع مدمج بجهاز إخراج ‎expulsion‏
‎soll ‏مهياً لاستبعاد الشيء بشكل انتقائي ومتحكم فيه من نظام قائم على أساس خواص‎ device ‏المستلم بواسطة جهاز تحليل الضوء الأول.‎ 0
‏تم أيضا توفير طريقة تحديد متغير شيء واحد على ‎(JI‏ يتضمن الخطوات التالية
‏) تحريك الشيء في مستوى في منطقة كشف؛
‎(ii‏ إضاءة الشيء بضوءٍ ساقط؛
‎(ii‏ الكشف عن الضوء الذي تم بثه خلال الشيء والساقط في مستوى قياس ‎‘measuring plane‏ و ‎(iv 5‏ تحديد متغير انتقائي للشيء قائم على أساس الضوء الذي تم بثه والمكشوف ‎die‏ الساقط في
‏مستوى القياس.
علاوة على ذلك؛ تم ‎Lad‏ توفير طريقة تحديد متغير شيء واحد على ‎(JY)‏ يتضمن الخطوات التالية ) تحريك الشيء في مستوي ‎(PP)‏ في منطقة كشف (0)؛ ‎(i‏ إضاءة الشيء بضوء ساقط له ‎a‏ إتجاه ‎Jl‏ حيث يتم بث الضوءء من مصدر ضوء واحد على الأقل؛ ‎(iii‏ الكشف عن وتحديد الضوء المنبعث من مصدر الضوء المذكور الواحد على الأقل والذي تم بثه خلال الشيء؛ الضوء المذكور له إتجاه ثاني مختلف من الإتجاه الأول المذكور؛ و ‎(iv‏ تحديد متغير انتقائي للشيء قائم على أساس الضوء الذي تم بثه والمكشوف عنه. 0 في أحد النماذج؛ لا يكون مستوى القياس للضوءٍ الذي تم بثه والضوء الساقط في نفس المستوى. يتضمن التحريك في الخطوة ‎(i‏ السقوط الحر أو يمكن أن يتأثر بسير ناقل. في أحد نماذج الطريقة المخترعة؛ تتضمن خطوة الإضاءة إرسال ضوء نابض ‎pulsating light‏ تجاه منطقة الكشف؛ وخطوة الكشف عن تتضمن اختياريا الكشف عن الضوء المحيط أثناء فواصل زمنية حيث لا يوجد ضوءٍ مرسل تجاه منطقة الكشف. يمكن أن يتضمن المتغير الانتقائي للشيء واحد أو أكثر من المتغيرات على قائمة يتضمن: 55 السكرء الحمضية؛ النضجء العفن؛ التلف الميكانيكي؛ وجود شيء أجنبي؛ وجود عظم. في أحد النماذج؛ يتم تصنيف الشيء قائم على أساس المتغير ‎SEY)‏ للشيء المحدد في الخطوة ‎(iv‏ ‏الاختراع غير مقيد بالطيف القريب من الآشعة تحت الحمراء أو طيف الضوء المرئي؛ ولكن يمكن 0 استخدامه بشكل عام مع طريقة طيفية؛ تتضمن أيضاء ولكن لا تقتصر بالضرورة على طيف الأشعة فوق البنفسجية ‎(UV) ultraviolet‏ وطيف شبيه بالأشعة تحت الحمراء ‎mid-infrared‏ ‎.(MIR)‏ ‏أيضاء ما تم ذكره أعلاه فيما يتعلق بالجهاز» يمكن بشكل طبيعي تطبيقه على الطرق. شرح مختصر للرسومات 5 سوف تتضح هذه الخواص وغيرها من خواص الاختراع من الوصف التالي لأحد النماذج المفضلة؛ المحددة كمثال غير مقيد؛ مع الإشارة إلى الأشكال التخطيطية الملحقة؛ حيث:
الأشكال ‎TT‏ و1[ب عبارة عن منظر جانبي ومنظر علوي؛ على التوالي؛ وفقا لنموذج أول للنظام ‎Lad‏ للاختراع؛ الشكل 2 عبارة عن منظر جانبي لنموذج ثاني للنظام وفقا للاختراع؛ الشكل 3 عبارة عن منظر جانبي لنموذج ثالث للنظام وفقا للاختراع؛ الشكل 4 عبارة عن منظر جانبي لنموذج رابع للنظام وفقا للاختراع؛ الشكل 5 عبارة عن منظر جانبي لنموذج خامس للنظام وفقا للاختراع؛ الشكل 6 عبارة عن منظر جانبي يوضح صورة أخرى مختلفة للاختراع؛ و الشكل 7 يبين تجهيزة حيث يتم نبض الضوء من مبيت المصباح . الوصف التفصيلي:
0 يقوم الوصف التفصيلي للنموذج المفضل التالي باستخدام المصطلحات مثل فقي" 'رأسي"؛ 'جانبي"؛ "خلفي وأمامي"؛ "أعلى وأسفل”» "علوي" "سفلي”» ‎SI‏ "خارجي؛ ‎EA‏ ‏تشير هذه المصطلحات بشكل عام إلى المناظر والاتجاهات كما هو مبين في الأشكال وتلك المصاحبة للاستخدام الطلعي للاختراع. سوف يتم استخدام المصطلحات لراحة القارئ فقط ولكنها لن تكون مقيدة.
5 الأشكال 1أ و1ب عبارة عن تمثيل تخطيطي للنظام وفقا للاختراع. نظام إضاءة 8 يبث الضوء ‎L‏ ‏تجاه نظام مطياف ‎spectroscopy system‏ 4. تقوم وسيلة نقل ‎conveyor‏ 3 بتغذية مجموعة من الأشياء 2 (مثلا فاكهة أو خضروات محصودة) في الاتجاه المشار إليه بواسطكةم السهم 14 بحيث تسقط الأشياء 2 بالتتابع و(في مسار قطعي بشكل ‎(ple‏ بعد المنطقة المضاءة ‎illuminated‏ ‏0ع المحددة بين نظام الإضاءة ونظام المطياف. يشير الحرف المرجعي 5 إلى خط مسح ‎scan‏
‎dine 0‏ تشير الأحرف المرجعية ‎PoP‏ إلى مستوى الشيء؛ والأحرف تشير الحروف المرجعية ‎SR‏ ‏إلى نطاق المسح ‎scanning range‏ بالتالي تتم إضاءة الأشياء 2 من الخلف بينما تقع في مستوى الشيء في منطقة الكشف © وبتم الكشف عن الضوء الذي تم بثه وتحليله بواسطة نظام المطياف 4 يمكن أن يتضمن نظام الإضاءة واحد أو أكثر من مصادر الضوءٍ وأجهزة ملحقة (مثلا وسائل
‏5 عاكسة ‎reflectors‏ عدسات ‎(lenses‏ قادرة على تركيز الضوء في مستوى الشيء ‎PP‏ بالتالي؛ يمكن أن تتضمن مصادر الضوء المناسبة أنوار ليزر فائقة الاستمرارية ‎«supercontinuum lasers‏
مصادر الضوء واسعة النطاق مثل مصابيح الهالوجين اللبية ‎chalogen bulbs‏ أو واحد أو ‎AST‏ من الديودات الباعثة للضوء؛ في توليفة مع عدسات مناسبة أو غيرها من عناصر البؤرة ‎focusing‏ ‎elements‏ تم الكشف عن مثال على عنصر التركيز هذا في براءة الاختراع الأوربية رقم 498 2 0 ب1 ؛ ‎Chay‏ نظام فحص بصري له عدسات للكشف عن الضوءٍ من وحدات مصدرء مثل ديودات الباعثة للضوء» على المنتجات المارة خلال منطقة فحص ‎«inspection region‏ يمكن مثلا أن يكون مصدر ‎spell‏ عبارة عن ديود باعث ‎spall‏ واحد واسع النطاق؛ أو مصفوفة من عدة ديودات الباعثة للضوء»؛ كل له مختلف نطاقات طيفية مختلفة. يتضمن نظام المطياف 4 في النموذج المبين مرآة دوارة ‎rotating mirror‏ 6 ومستشعر 7. هذه التجهيزة تنتج طيف واحد لكل نقطة على خط المسح 8. يجب فهم أن المستشعر يمكن أن يتضمن 0 مثلا مقياس طيف أو نظام كاميرا فوق طيفية. يمكن أيضا أن يقوم نظام المطياف باستخدام أنظمة قياس طيف شديد الحساسية لها مثلا ديودات ضوئية تعمل بالانهمار الالكتروني ‎avalanche-‏ ‎(APD) photodiodes‏ أو أنابيب المضاعفة الضوئية ‎«(PMT) photomultiplier tubes‏ وهي معروفة في المجال. الشكل 2 عبارة عن تمثيل تخطيطي لنموذج ثاني للنظام وفقا للاختراع. يشير الرقم المرجعي 3 إلى 5 جهاز تغذية كلية ‎(Jie bulk feeding device‏ سير ناقل أو جهاز تغذية هزاز ‎vibration feeder‏ ومنحدر؛ ووظيفته تغذية مجموعة من الأشياء بحيث تقع في منطقة الكشف 0. لتوضيح الوصف؛ تم توضيح شيء واحد فقط في الشكل 2. مع ذلك؛ يجب فهم أن هناك العديد من الأشياء التي يمكن أن تقع في منطقة الكشف © في الوقت ذاته؛ بشكل مشابه للحالة المبينة في الأشكال ‎dl‏ ‏ب. يبين الشكل 2 ‎Ala‏ حيث سقط شيء 2 (مثلا فاكهة أو خضار) خارج جهاز التغذية 3 0 والساقط في منطقة الكشف ‎LSD‏ هو مشار ‎ad)‏ بواسطة السهم 6. مصدر ‎spall‏ 10 مجهز لإرسال شعاع ضوء ساقط ‎incident light beam‏ 11 تجاه الشيء 2 الذي يسقط في مستوى الشيء ‎PP‏ يشير الخط 7 إلى الضوءٍ الذي تم بثه والساقط في مستوى القياس (مرئي على طول المستوى)؛ مثلا الضوءٍ الذي تم بثه 7 الذي تم الكشف ‎die‏ بواسطة نظام المطياف 4. بمعنى آخرء جزءِ من شعاع الضوءٍ الساقط 11 تم بثه خلال الشيء وبالتالي تم 5 الكشف عنه/ تحديده بواسطة نظام المطياف ‎of‏ تمت الإشارة إلى هذا الجزء الذي تم بثه والضوء المكشوف عنه. كما هو موضح في الشكل 2؛ إتجاه الضوءٍ الساقط 11 مختلف عن إتجاه الضوء
الذي تم بثه والمكشوف ‎TD die‏ بشكل أكثر تفصيلاء يمكن أن يكون إتجاه الضوء الساقط مساويا لإتجاه المحور المركزي للضوء الساقط؛ وإتجاه ‎gual)‏ الذي تم بثه والكشف ‎die‏ مساويا للمحور المركزي للضوء الذي تم بثه والكشف عنه. عندما لا يكون هناك شيء في منطقة الكشف؛ لن يتم استشعار الضوء المنبعث أو المرسل بواسطة مصدر ‎spall‏ 10 بواسطة نظام مطياف 4؛ حيث سيتم إرسال الضوء المنبعث بواسطة مصدر الضوءء 10 خارج مجال رؤية نظام المطياف 4 المذكور. بشكل أكثر تفصيلاء بشكل عام لا يتم استشعار أو سيتم استشعار أكثر من ‎on‏ صغير من ‎spall‏ المرسل من مصدر الضوءٍ بواسطة نظام مطياف 4 بسبب مثلا التشتيت في ‎gall‏ المحيط» عندما لا يتم إرسال شيء مسبقا في منطقة الكشف. وفقا لأحد ‎AY)‏ سوف يتم تحديد على الأكثر 10 7 أو على الأكثر 5 7 أو على 0 الأكثر 1 7 أو على الأكثر 0.5 7 أو على الأكثر 0.1 7 أو على الأكثر 0.05 7 من الضوء المرسل من مصدر الضوء 10؛ عندما لا يتم إرسال شيء مسبقا في منطقة الكشف؛ بواسطة نظام مطياف 4. عندما يتم إرسال شيء مسبقا في منطقة الكشف وبتم تشعيعه بواسطة مصدر الضوءٍ 10 المذكورء يتم بث ‎spall‏ من مصدر الضوء بشكل منتشر خلال أو اتحرافه بواسطة الشيء المذكور قبل أن 5 يصل إلى مستشعر نظام المطياف 4. بشكل أكثر تفصيلاء تم بث أكثر من 75 #7 أو أكثر من 0 #7 من هذا الضوء من مصدر الضوءٍ الذي ‎dear‏ إلى مستشعر نظام مطياف ‎sensor‏ ‎spectroscopy system‏ 4« بشكل منتشر الذي تم ‎ay‏ خلال أو انحرافه بواسطة الشيء المذكور قبل أن يصل إلى مستشعر جهاز تحليل الضوء. وفقا لأحد ‎AY)‏ مصدر ‎spall‏ 10 وعنصر التركيز 12 له ناتج محور بصري ‎optical axis‏ ‎(OA) 0‏ موجه في إتجاه أول. الإتجاه الأول المذكور موجود خارج مجال رؤية نظام المطياف 4 المذكورء بمعنى ‎AT‏ الضوءٍ المنبعث غير المنحرف على طول المحور البصري الأول المذكور؛ عبارة عن مجال جانبي خارجي لنظام المطياف 4 المذكور ولن يتم استشعاره بواسطة نظام المطياف 4. في نظام المطياف؛ يتم تحليل الضوء الذي تم بثه والكشف ‎die‏ لتحديد خواص الشيء الداخلية. إذا 5 كانت هذه الخواص الداخلية خارج قيم التحمل المحددة سلفاء مثلا إذا كان الشيء له مناطق داخلية متعفنة أو ‎Ail‏ سوف يتم إرسال إشارة أمر (خطوط تحكم غير موضحة) إلى جهاز إخراج
‎ejection device‏ 9 (مجهز بعد منطقة الكشف ‎(D‏ والتي تزيل الشيء من النظام. يمكن أن يكون جهاز الإخراج 9 الاختياري» عبارة عن جهاز إزالة ‎removing device‏ أو جهاز إخراج ميكانيكي ‎Jie mechanical ejection device‏ جهاز رفرفة ‎«flap‏ أصابع ميكانيكية ‎mechanical‏ ‎fingers‏ فوهات هواء ‎cair nozzles‏ إلخ. لا تتم محاذاة مصدر الضوءء 10 ونظام المطياف 4 مجهزين بحيث تكون الضوءٍ الساقط 11
ومستوى القياس 1. المنطقة دي بي ‎DB‏ على الجانب الآخر من الشيء 2 نسبة إلى نظام المطياف 4؛ إما فارغ أو يتضمن عنصر مرجعي داكم اختياري 61. هذا العنصر المرجعي يضمن أن نظام المطياف غير معمي إذا وعندما لا يكون هناك أشياء في منطقة الكشف. لتحسين شدة الضوء في مستوى الشيء؛ يتضمن مصدر ‎spall‏ 10 في النموذج المبين مصدر
0 ضوء ذو نطاق واسع؛ مثل مصباح هالوجين لبي ‎halogen bulb‏ مجهز داخل وسيلة عاكسة 12 كما هو مبين في الشكل 2. بالتالي؛ بالإشارة إلى الأشكال 1أءب؛ نظام الإضاءة 8 يتضمن في النموذج المبين في الشكل 2 مصدر الضوءٍ 10 والوسيلة العاكسة 12 في مبيت مصباح 42. الوسيلة العاكسة 12 لها شكل إهليلجي مقطوع (مقطوع بالتوازي مع محور صغير إهليليجي)؛ ومصدر الضوء 10 مجهز عند البؤرة الأولى للشكل ‎allay)‏ المقطوع 21. ‎Cua‏ يتم عكس كل
5 شعاع ضوء تم بثه من البؤرة الأولى 1 للشكل الإهليلجي المقطوع بواسطة الوسيلة العاكسة للتحويل عند البؤرة الثانية 1]» تم تصميم النظام بحيث يكون مستوى الشيء ‎PoP‏ متقاطع مع البؤرة الثانية ‎LP]‏ هذا يضمن أن الشيء 2 يتم تشعيعه بضوءٍ مركز عندما يكون الضوء المركز ساقط خلال منطقة الكشف ©. بمعنى آخرء سوف يتم تحويل الضوءٍ المنبعث من مصدر الضوء 0 أولا إلى نقطة البؤرة ‎Cus of]‏ يتم تشتيته. جهاز تحليل الضوء مجهز بشكل طبيعي بحيث لا
0 يصل ‎squall‏ المتباعد إلى مستشعراته. يجب فهم أنه على الرغم من أن الشكل 2 يبين الشيء 2 الساقط رأسياء على طول مستوى الشيء ‎PP‏ إلا أن هذا لا يعد شرطا للاختراع. من المناسب أن يتقاطع هذا الشيء مع البؤرة الثانية 71 ومستوى الشيء في منطقة الكشف ©؛ مثلا يمكن أن يكون الشيء ذو مسار غير رأسي ‎non-‏ ‎.vertical trajectory‏
الشكل 3 عبارة عن تمثيل تخطيطي لنموذج ثالث للنظام وفقا للاختراع. سوف تتم مناقشة جوانب تختلف عن تلك الموضحة أعلاه بالإشارة إلى الشكل 2 في ما يلي. في هذا النموذج الثالث؛
مصدر ضوءٍ ثاني 20 و وسيلة عاكسة ثانية مناظرة على شكل إهليلجي مقطوع 22 مجهزين بشكل مشابه لمصدر الضوءٍ الأول 10 ووسيلة عاكسة أولى 12 كما هو موضح أعلاه؛ ‎Jah‏ مبيت مصباح 42 مع مصدر الضوء الثاني 20 عند 550 الأولى للشكل ‎allay)‏ المقطوع £2 الوسيلة العاكسة الثانية 20 والوسيلة العاكسة الأولى 10 مجهزين بشكل متناظر حول محور مركزي © مشترك» والوسيلة العاكسة الثانية 20 مجهزة (مثل الوسيلة العاكسة الأولى 10) بحيث يتقطاع مستوى الشيء ‎PoP‏ مع البؤرة الثانية 72 للوسيلة العاكسة الثانية. بالتالي؛ تتطابق البؤر الثانية 71 22 وتقع في في نفس مستوى الشيء ‎PoP‏ كما هو مبين في الشكل 3. يقوم هذا النموذج بمضاعفة شدة الإشعاع على الشيء 2 مقارنة بالنموذج الموضح في الشكل 2. يقوم مصدري الضوء الأول والثاني ¢10 20 بإرسال أشعة الضوءٍ الأول والثاني ‎oll‏ 12 تجاه 0 الشيء 2 الساقط في مستوى الشيء ‎LPP‏ يتم الكشف عن الضوء الذي تم بثه الساقط في مستوى القياس ‎T‏ بواسطة نظام المطياف 4 كما هو موضح أعلاه. بمعنى ‎«AT‏ سوف يتم بث جزءِ من شعاع الضوءٍ الساقط 11 وجزءِ من شعاع الضوء الساقط 12 الذي تم بثه خلال الشيء وبالتالي تم الكشف ‎die‏ بواسطة نظام المطياف 4؛ هذه الأجزاء مشار إيها بالضوء الذي تم بثه والكشف عنه. كما هو موضح في الشكل 3 اتجاهات آشعة الضوء الساقط 11؛ 12 مختلفة من إتجاه الضوء الذي 5 .تم بثه والكشف عنه 1012. بشكل أكثر تفصيلاء إتجاه أشعة ضوء ساقط ‎incident light beams‏ مساويا لإتجاه المحور المركزي لشعاع الضوء الساقط؛ وإتجاه الضوء الذي تم بثه والكشف عنه مساويا للمحور المركزي الضوءٍ الذي تم بثه والكشف عنه. هناك عنصر مرجعي معتم 61 مجهز بين الوسائل العاكسة 12 22 يضمن أن نظام المطياف غير معمي إذا وعندما لا تكون هناك أشياء في منطقة الكشف 0. في نموذج عملي؛ يمكن دمج 0 الوسائل العاكسة ومصادر الضوءٍ المناظرة في مبيت مصباح فردي 42. بالتالي؛ بالإشارة إلى الأشكال ‎cul‏ نظام الإضاءة 8 يتضمن في النموذج الموضح في الشكل 2 مصدر الضوءٍ 10؛ الوسائل العاكسة 12؛ 22 والعنصر المرجعي 61 في المبيت 42. تبين الأشكال 2 و3 أيضا عنصر مرجعي أبيض اختياري 43 مجهز داخل مبيت المصباح 42 ولكن داخل نطاق مسح نظام المطياف 4. يجعل العنصر المرجعي الأبيض 43 من الممكن معايرة 5 النظام أثناء العمل؛ وهو ما يمكن أن يحسن دقة القياس. يمكن أن يكون العنصر المرجعي الأبيض عبارة عن هرم باريوم ‎barium‏ صغير موضوع بحيث تتم إضاءتها بواسطة مصدر الضوء.
الشكل 4 عبارة عن تمثيل تخطيطي لنموذج رابع للنظام وفقا للاختراع. تم استبعاد مبيت المصباح في هذا الشرح. سوف يتم شرح الجوانب التي تختلف عن تلك الموضحة أعلاه بالإشارة إلى الشكل 3 في ما يلي. في هذا النموذج ‎call‏ تم استبدال العنصر المرجعي المعتم (الرقم المرجعي 61 في الشكل 3( بواسطة فتحة (أو موجه ضوء ‎(light guide‏ 62 بين الوسائل العاكسة 12( 22 ونظام مطياف ثاني 5 مجهز بشكل ‎ad‏ مشترك مع نظام المطياف الأول 4. مع سقوط آشعة الضوء الساقط الأول والثاني 11 يتم إرسال 11 تجاه الشيء 2 يتم بث ‎ea‏ 7 وإرساله إلى نظام المطياف 4. مع ذلك؛ أيضا يتم انعكاس جزءٍ من الضوء الساقط (المشار إليه بواسطة 81,2) تجاه نظام المطياف الثاني 5. هذه التهيئة بالتالي تسمح باستخدام كل من مطياف البث ‎transmission spectroscopy‏ 0 (في نظام المطياف الأول 4(« ومطياف الانعكاس ‎reflection spectroscopy‏ (في نظام المطياف الثاني 5). يتضمن النموذج الرابع ‎Lad‏ مصدر ضوء ثالث 30 ومرشح بصري ‎optical filter‏ 63 مجهز لإرسال شعاع ضوءٍ ساقط ثالث 13 تجاه الشيء 2. المرشح البصري 63 ‎Lge‏ لإعاقة ضوءء ذو أطوال موجية قد تتداخل مع الضوء الذي تم بثه الساقط في مستوى القياس 7. بالتالي؛ يتم انعكاس 5 شعاع الضوء الثالث الساقط (المرشح) 13 بواسطة الشيء 2 وبتم توجيه الضوءٍ المعكوس ‎R3‏ إلى نظام المطياف الأول 4. يسمح مصدر الضوء الثالث 30 بقياس وتقييم خواص سطح الشيء. يجب فهم أنه يمكن تضمين مجموعة من مصادر ‎soll‏ مشابهة لمصدر الضوء الثالث 30 مثلا بشكل متناظر على الجانب الآخر من نظام المطياف الأول 4. الشكل 5 عبارة عن تمثيل تخطيطي لنموذج خامس للنظام وفقا للاختراع. هذا النموذج بشكل 0 أساسي عبارة عن توليفة من النماذج الثالث والخامس. تم استبعاد مبيت المصباح في هذا الشرح. تم تجهيز العنصر المرجعي المعتم 61 بين الوسائل العاكسة الأول والثاني 12 22 كما هو موضح أعلاه بالإشارة إلى الشكل 3 ومصدر الضوء الثالث 30 والمرشح البصري 63 مجهزين كما هو موضح أعلاه بالإشارة إلى الشكل 4. يبين الشكل 6 صورة مختلفة حيث النظام المخترع مجهز بحيث يكون الشيء 2 غير ساقط في 5 مستوى الشيء ‎WS)‏ في نماذج الاختراع الموضحة أعلاه)؛ ولكن يتم تنفيذه خلال منطقة الكشف ‎D‏ ‏على سير ناقل 3 متحرك في الإتجاه 8. السير الناقل 3 والتي تتحاذى مع مستوى الشيء ‎“P‏
‎Pp‏ شفاف و/أو شبه شفاف بحيث يتم السماح لآشعة الضوءٍ 11,2 بالمرور خلال السير وعلى الشيء. يمكن بالتالي أن يكون السير الناقل 3: عبارة عن سير ناقل من سلك شبكي؛ سير ناقل نصف شفاف» أو اثنين من السيور النقالة مجهز مع فجوة تدخل ‎intervening gap‏ تسمح التجهيزة المبينة في الشكل 6 للنظام المخترع ‎ob‏ يتم استخدامه لتحديد وتصنيف الأشياء التي لا تسقط مثلا منتجات اللحوم. تتضمن أمثلتها الدجاج ولحم بطن الخنزير واللحم المفروم. التجهيزة مناسبة أيضا للكشف عن؛ وتحليل وتصنيف الأشياء التي لها أشكال أقل تحديدا وقادرة على تكوين طبقة أو مصابيح على السير الناقل 3 مثل اللحم المطحون؛ اللحم المفروم؛ لحم الحشوء إلخ. هذا النوع من الأشياء مشار إليه بواسطة الرقم المرجعي 2 في الشكل 6. بجب فهم أن التجهيزة وفقا للشكل
‏6 يمكن عكسهاء؛ مثلا أن تكون مصادر الضوءٍ فوق السير الناقل 3 ونظام المطياف تحت.
‏0 عند ‎plana)‏ يمكن تركيب أي من نماذج النظام والجهاز المخترع بشكل مثالي في البيئة الصناعية؛ مثلا بشكل مجاور لماكينة تعبئة أو في مصنع تجهيز لحوم؛ حيث تكون ظروف تنفيذ الكشف البصري أقل من المثالية. ‎Oli‏ الضوءٍ المكشوف ‎die‏ بواسطة نظام المطياف بشكل عام هو مجموع ‎(i)‏ الضوء المولد بواسطة مصادر الضوء الذي تم بثه خلال الشيء؛ و(نن) الضوء المحيط. تم شرح ذلك في الشكل 7؛ حيث السهم ذات العلامة م" تشير إلى الضوء المحيط» و17
‏5 تمثل الضوء النابض القادم من مصدر ‎sgn‏ نبضي 40 في مبيت مصباح 42. يمكن أن يشكل الضوءٍ المحيط ‎gin‏ ملحوظ من ‎squall‏ المكشوف ‎die‏ ويمكن أن يؤثر على عملية الكشف بطريقة معاكسة. وبالتالي سوف تكون قادرة على استبعاد الضوء المحيط من عملية الكشف والقياس. بالتالي يتضمن الاختراع طريقة وطريقة مصاحبة لتبديل مصدر الضوءٍ لمدة من الزمن بحيث يقوم نظام المطياف بقياس الضوء المحيط فقط. عند إطفاء مصدر الضوء؛ لا يتم بث الضوءٍ بثه خلال
‏20 الشيء. يقوم جهاز ‎processing device dallas‏ (غير مبين) في نظام المطياف 4 باستبعاد قياس الضوء المحيط من القياس الذي تم بواسطة نظام المطياف عند توليد الضوء بواسطة نظام الإضاءة (مصادر الضوء) الذي تم بثه خلال الشيء. الأشياء متحركة بشكل مثالي (مثلا ساقطة) خلال منطقة الكشف بسرعة عالية؛ والمززد الزمنية التي يضيء فيها مصدر الضوءٍ وبطفاً يجب أن تناسب هذه السرعة. ويمكن الحصول على ذلك
‏5 بواسطة ديودات الباعثة للضوء النبضية المركزة؛ ‎Allg‏ تسمح بدورة إطفاء/تشغيل سريعة. تسمح تجهيزة ديود باعث للضوء نبضية بالكشف عن الضوء المستلم من البكسلات المجاورة عندما يتم
إطفاء الضوء (فقط الضوءٍ المحيط) ‎eg‏ (الضوء المولد + الضوءٍ المحيط). إذا كان مصدر الضوء مثلا ‎Ble‏ عن مصباح هالوجين لبي (له وقت استجابة أطول)؛ يمكن الحصول على نبضات الضوءٍ 17 بواسطة تجهيز وسيلة تحكم في ‎coll‏ 45 أمام مصدر الضوء؛ كما هو مبين في الشكل 7. يمكن أن تكون وسيلة تحكم في ‎spall‏ 45 مثلا عبارة عن جهاز غلق ميكانيكي ‎mechanical shutter 5‏ أو ما يسمى بالزجاج القابل للغلق. الزجاج القابل للغلق معروف ‎das‏ ثمة مثال عليه هو 502:161858111؛ الذي يتم تسويقه ‎dang‏ بواسطة ‎.Schott AG‏ هذه القدرة على قياس واستبعاد الضوءٍ المحيط أثناء عملية الكشف تحسن تعددية النظام. ‎Ole‏ لا تحتاج منطقة الكشف إلى أن تكون في كابينة متضمنة؛ ولكن في مكان مفتوح ومكشوف للضوء المحيط. يجب فهم أن ديودات الباعثة للضوء النبضية ‎(Sa‏ دمجها بوسيلة تحكم في الضوء 45. 0 على الرغم من وصف الاختراع بالإشارة إلى الكشف عن شيء في الفواكه؛. الخضروات واللحم؛ يجب فهم أن الاختراع مطبق بالمثل على الكشف عن شيء في الأشياء النتصف شفافة بشكل ‎ple‏ ‏شاملة دون حصر المواد الغذائية. قائمة التتابع: ‎SRT‏ ‏15 ب" ™ نج ‎0A‏

Claims (1)

  1. عناصر الحماية
    1. جهاز للكشف عن مادة؛ يتسم ب: - وسيلة تغذية كلية ‎bulk feeding means‏ (3؛ 3) مهيأة لتغذية مجموعة من الأشياء (2؛ 2) في منطقة كشف ‎¢(D) detecting region‏ بطريقة عشوائية؛ ‎Cus‏ تشتمل وسيلة التغذية الكلية ‎bulk‏ ‎feeding means‏ على جهاز تغذية هزاز ‎vibration feeder‏ أو سير ناقل ‎conveyor belt‏ بالاشتراك اختياريا مع منحدر ‎cchute‏ يتم بواسطته إسقاط الأشياء خلال منطقة الكشف ‎detecting region‏ ‎¢(D) ‏- مصدر ضوءٍ واحد على الأقل )¢8 10« 20؛ 40( كل له عنصر تركيز ‎focusing element‏ ومهياً ‏لإرسال ‎egal)‏ في إتجاه أول مناظر (11؛ 12) لإضاءة شيء واحد على الأقل (2؛ 2 ) متحرك في ‏مستوى. الشيء ‎(PP)‏ في منطقة الكشف ‎4D) detecting region‏ و ‏0 - جهاز تحليل ‎light-analyzing apparatus sea‏ أول )4( مجهز لاستشعار الضوءٍ المنبعث من مصدر الضوء المذكور الواحد على الأقل والذي تم بثه خلال الشيء؛ ولتحديد مقدار ‎gall‏ الذي تم تلقيه من مصدر الضوء المذكور الواحد على الأقل بعد بثه خلال الشيء؛ وإضافة لذلك للتمييز بين الضوء المحيط والضوء المذكور الذي تم تلقيه من مصدر الضوء الواحد على الأقل المذكور بعد بثه خلال الشيء؛ و ‏5 - وسيلة لتحديد متغير للأشياء بناء على الكمية المحدد المذكورة للضوء الذي يتم تلقليه من مصدر الضوء الواحد على الأقل المذكور بعد بثه خلال الشيء حيث جهاز تحليل الضوء ‎light-analyzing‏ ‎apparatus‏ الأول المذكور (4) مجهز لاستشعار ضوءٍ (111؛ 1012) له إتجاه داخل مجال رؤية جهاز تحليل الضوء ‎light-analyzing apparatus‏ الأول المذكور (4)؛ و حيث الإتجاه الأول المناظر المذكور مختلف عن الاتجاهات داخل مجال رؤية جهاز تحليل ‎spall‏ ‎light-analyzing apparatus 0‏ الأول المذكور (4).
    2. الجهاز وفقا لعنصر الحماية 1؛ حيث مصدر الضوء الواحد على الأقل (10؛ 20) مجهز في البؤرة ‎focus‏ الأولى ‎¢f1)‏ 2]) لوسيلة عاكسة على شكل إهليلجي مقطوع ‎truncated ellipsoid-‏ ‎shaped reflector 5‏ (12؛ 22) والوسيلة العاكسة ‎reflector‏ مجهزة بحيث تكون البؤرة ‎focus‏ الثانية
    للوسيلة العاكسة على شكل إهليلجي مقطوع ‎(f2 ¢f1) truncated ellipsoid-shaped reflector‏ متطابقة مع مستوى الشيء (0-0).
    3. الجهاز وفقا لعنصر الحماية 1 حيث مصدر الضوءٍ الواحد على الأقل يتضمن واحد أو أكثر من الديودات الباعتة للضوء ‎.(LEDs) light emitting diodes‏ 4 الجهاز ‎Gy‏ لعنصر الحماية 1؛ حيث مصدر ‎squall‏ الواحد على الأقل (40) يتضمن أيضا ‎lens due‏ واحدة على الأقل » قادرة على تركيز الضوء في مستوى الشيء ‎(PP)‏
    0 5. الجهاز ‎pawl Wy‏ الحماية 1 حيث مصدر ‎squall‏ وجهاز تحليل الضوء ‎light-analyzing‏ ‎apparatus‏ الأول مجهزين على جانبين متقابلين لمستوى الشيء ‎(PP)‏ ‏6 الجهاز وفقا لعنصر الحماية 1 ؛ حيث مصدر الضوءٍ الأول (10) مجهز بشكل متناظر مع مصدر ضوءٍ ثاني (20) حول محور مركزي ‎central axis‏ (©).
    7. الجهاز وفقا لعنصر الحماية 6 حيث جهاز تحليل الضوء ‎light-analyzing apparatus‏ الثاني (5) مجهز على الجانب المقابل لمستوى الشيء ‎(PP)‏ نسبة إلى جهاز تحليل الضوء ‎light-‏ ‎analyzing apparatus‏ الأول )4( ‎Las‏ لتلقي الضوء المعكوس ‎(R1,2) reflected light‏ من الشيء الناتج من الضوء (11؛ 12( المرسل من مصدري الضوء المناظرين الأول والثاني.
    8. الجهاز وفقا لعنصر الحماية 1؛ يتضمن ‎Lad‏ على الأقل مصدر ‎ppm‏ ثالث (30؛ 63) مجهز على نفس جانب مستوى الشيء ‎Jie (PP)‏ جهاز تحليل الضوء ‎light-analyzing apparatus‏ الأول )4( ومهياً لإضاءة الشيء بالضوء (13) المعكوس ‎(R3)‏ إلى جهاز تحليل الضوء ‎light-analyzing‏ ‎apparatus‏ الأول (4).
    9. الجهاز وفقا لعنصر الحماية 1؛ حيث جهاز تحليل ‎light-analyzing apparatus spall‏ )4 5( يتضمن نظام مطياف ‎spectroscopy system‏ أو نظام كاميرا فوق طيفية ‎hyperspectral camera‏ ‎-System‏
    — 8 1 —
    0. الجهاز وفقا لعنصر الحماية 1 ؛ حيث مصدر ‎cell‏ الواحد على الأقل ‎Ble‏ عن مصدر ضوء نبضي ‎pulsed light source‏ (40)؛ مجهز لإرسال نبضات ضوءٍ ‎light‏ 00188160 (1) في منطقة الكشف ‎.detecting region‏
    11. الجهاز وفقا لأي من عناصر الحماية 10-1 يتضمن أيضا وسيلة تحكم في الضوء ‎light‏ ‎control means‏ )45( مجهزة ومهيأة لإرسال نبضات ضوءٍ ‎pulsated light‏ (17) بشكل متحكم فيه في منطقة الكشف ‎.detecting region‏
    2. الجهاز وفقا لعنصر الحماية 1؛ حيث تتضمن وسيلة التغذية الكلية ‎bulk feeding means‏ سير 0 ناقل نصف شفاف ‎translucent conveyor belt‏ )3( يمتد في منطقة الكشف ‎detecting region‏ () ومجهز لدعم الشيء (2؛ 2( جزئيا على الأقل في منطقة الكشف ‎.detecting region‏
    3. الجهاز وفقا لعنصر الحماية 12؛ حيث السير الناقل ‎conveyor belt‏ )73( يتضمن سير ناقل ‎conveyor belt‏ من سلك شبكي ‎wire mesh‏ أو اثنين من السيور النقالة ‎conveyor belts‏ منفصلين 5 بواسطة فجوة تدخل ‎.intervening gap‏
    4. نظام لتصنيف الأشياء؛ يتسم بأن الجهاز المحدد وفقا لأي من عناصر الحماية 13-1؛ وجهاز إخراج ‎expulsion device‏ )9( مهيا لإخراج الشيء بشكل انتقائي متحكم فيه من نظام قائم على أساس خواص الضوءٍ المستلم بواسطة جهاز تحليل الضوء ‎light-analyzing apparatus‏ الأول.
    5. طريقة تحديد متغير شيء واحد على الأقل (2؛ 2( يتضمن الخطوات التالية ‎(i‏ توفير جهاز تحليل ضوءٍ ‎light-analyzing apparatus‏ ذي مجال-رؤية؛ 0 تغذية» بوسيلة تغذية كلية ‎bulk feeding means‏ الأشياء في منطقة كشف ‎detecting region‏ ‎(D)‏ بطريقة عشوائية لتحربك الشيء في مستوى ‎(P-P)‏ في منطقة الكشف ‎¢(D) detecting region‏ 5 حيث تشتمل وسيلة التغذية ‎bulk feeding means‏ الكلية على جهاز تغذية هزاز ‎vibration feeder‏ أو سير ناقل ‎conveyor belt‏ بالاشتراك اختياريا مع منحدر ‎chute‏ يتم بواسطته إسقاط الأشياء خلال منطقة الكشف ‎¢(D) detecting region‏
    — 9 1 — ‎(iii‏ إضاءة الشيء بضوء ساقط ‎incident light‏ ذي اتجاه أول ؛ يتم بعث الضوءٍ من مصدر ضوء واحد على ‎JE)‏ حيث يكون الاتجاه الأول المذكور للضوء الساقط ‎incident light‏ مختلفا عن اتجاهات مجال- الرؤية المذكورة لجهاز تحليل الضوء ‎light-analyzing apparatus‏ الأول المذكور؛ ‎(iv‏ كشف وتمييز الضوءٍ الناشئ من مصدر الضوء الواحد على الأقل المذكور والذي تم بثه خلال الشىء؛ للضوء المذكور اتجاه ثان مختلف عن الاتجاه الأول المذكور ‎(v‏ تمبيز الضوء الذي تم كشفه وتمبيزه المذكور عن الضوء المحيط؛ و ‎(vi‏ تحديد متغير انتقائي للشيء قائم على أساس الضوءٍ الذي تم كشفه وتمييزه الناشئ من مصدر الضوء الواحد على الأقل المذكور والذي تم بثه خلال الشيء. 0 16. طريقة وفقا لعنصر الحماية 15 ‎Cus‏ تشتمل التحريك في الخطوة ‎(ii‏ على سقوط حر .
    7. الطريقة وفقا لعنصر الحماية 15؛ حيث إحداث التحريك في الخطوة ‎(ii‏ بواسطة سير ناقل ‎conveyor belt‏ )3’(. 5 18. الطريقة وفقا لعنصر الحماية 15( حيث تتضمن خطوة الإضاءة إرسال ضوءٍ نابض ‎pulsating‏ ‎light‏ (1) تجاه منطقة الكشف ‎tdetecting region‏ وخطوة الكشف تتضمن إضافيا الكشف عن الضوءٍ المحيط ‎(A)‏ أثناء فواصل زمنية حيث لا ‎sgn dag‏ مرسل تجاه منطقة الكشف ‎detecting‏
    ‎.region‏ ‏20 19. الطريقة وفقا لعنصر الحماية 15؛ حيث المتغير الانتقائي للشيء يتضمن واحد أو أكثر من المتغيرات على قائمة تتضمن: بؤّرة السكرء الحمضية؛ النتضج » العفن» التلف الميكانيكى ؛ وجود شىء أجنبي؛ وجود عظم.
    0. الطريقة وفقا لعنصر الحماية 15؛ حيث يتم تصنيف الشيء على أساس المتغير الانتقائي للشيء المحدد في ا لخطوة ‎(vi‏ .
    — 2 0 — eV ‏صعب‎ v ! ‏م‎ Sale” ¢ of 0" lS A ‏حر‎ £ i 3 SAN 0 ‏ل‎ q ‏ع‎ Y =e c ١١ ‏شكل‎ ‎EAE ‎LL On LL J Fr ‏يق كا‎ Ac AX AT AY A = ISIE ‏كج وتان اداع‎ IE ‏ع لوعن‎ A 1 IE & » ب١ ‏شكل‎
    — 2 1 — ‏ذا رضي‎ 0 0 A ‏ع الال‎ - EY Ah vw ON ARE YE CU Iga ‏خضل‎ ‏أي ا الا ل‎ ّ ‏جُ‎ wd 3 ~~ ca : ‏د ان‎ ‏ذا ار‎ ١٠ + ‏إٍْ‎ ‎\ te (dd Qo [Ie 1 2
    المج" لل , | ‎DY “TAs‏ ‎BETIS‏ \ ل ال كنا ‎Behr‏ كب ‎ev EAT TAN‏ “سا ا راي ‎Be‏ \ ‎Pa‏ ا ا ‎FERN‏ ‎J A‏ ب 1 1 ا كينا \ ‎be -‏ ا ‎Yap)‏ ‏2
    — 2 3 — + 2 $ \ * ١ ¥ + 0 1 ‏بن‎ § iy : Y 2 ob 0 ‏لاي‎ ١ A 0 / I 5 : } 0. 3 ys ay LA A 0 | SNORT ORY ‏حا‎ ‎CA AEE \ ay 4 ‏ذا‎ hy ‏أ‎ ‏ذه‎ tv Yb Tap YY Fara ‏الم اله‎ ‏ا‎
    ‎. Va ‏شكل ؛‎ : ‏يتم‎ ‏لتحا‎ F ¢ ١ N \Y BEY | ‏سل‎ ‎pra | od iy YA a ; x) \ | Y La AR ‏ار‎ a - VAT eT ٠ SAVES I sel So» Se ٠١ ‏حب‎ ‏ع‎ ‏ضّ 5 | م‎
    — 2 4 — ‏الل‎ ‎¢ + 1
    : . 2 ty 4 so) : ‏حرجا ء‎ Ue ‏ب‎ ‎= | 1 ‏ل‎ Ee Bad i MIE SN H Tres SE ‏ا‎ 0" VY [TY y & dM \ y 1 a - ‏شكل‎ ‎2 ‏و‎ ‏الها تاف‎ : ‏م ض & مسا‎ ‏ا‎ ‎i ‏شكل ل‎
    لاله الهيلة السعودية الملضية الفكرية ا ‎Sued Authority for intallentual Property‏ ‎RE‏ .¥ + \ ا 0 § 8 ‎Ss o‏ + < م ‎SNE‏ اج > عي كي الج ‎TE I UN BE Ca‏ ‎a‏ ةا ‎ww‏ جيثة > ‎Ld Ed H Ed - 2 Ld‏ وذلك بشرط تسديد المقابل المالي السنوي للبراءة وعدم بطلانها ‎of‏ سقوطها لمخالفتها ع لأي من أحكام نظام براءات الاختراع والتصميمات التخطيطية للدارات المتكاملة والأصناف ع النباتية والنماذج الصناعية أو لائحته التنفيذية. ‎Ad‏ ‏صادرة عن + ب ب ‎٠.‏ ب الهيئة السعودية للملكية الفكرية > > > فهذا ص ب ‎101١‏ .| لريا ‎1*١ v=‏ ؛ المملكة | لعربية | لسعودية ‎SAIP@SAIP.GOV.SA‏
SA516371041A 2013-11-01 2016-05-01 طريقة وجهاز للكشف عن مادة SA516371041B1 (ar)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP13191270 2013-11-01
PCT/EP2014/073577 WO2015063299A1 (en) 2013-11-01 2014-11-03 Method and apparatus for detecting matter

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SA516371041B1 true SA516371041B1 (ar) 2020-12-24

Family

ID=49546262

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SA516371041A SA516371041B1 (ar) 2013-11-01 2016-05-01 طريقة وجهاز للكشف عن مادة

Country Status (16)

Country Link
US (1) US11724286B2 (ar)
EP (1) EP3063531B1 (ar)
JP (2) JP6711755B2 (ar)
CN (1) CN105874322B (ar)
AU (1) AU2014343596B2 (ar)
BR (1) BR112016009483B1 (ar)
CA (1) CA2928875C (ar)
CL (1) CL2016001042A1 (ar)
ES (1) ES2940563T3 (ar)
MX (1) MX366016B (ar)
PE (1) PE20161079A1 (ar)
PL (1) PL3063531T3 (ar)
RU (1) RU2664261C2 (ar)
SA (1) SA516371041B1 (ar)
UA (1) UA121201C2 (ar)
WO (1) WO2015063299A1 (ar)

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3757545B1 (en) 2016-02-24 2023-03-01 TOMRA Sorting NV Method and apparatus for the detection of acrylamide precursors in raw potatoes
FR3048369B1 (fr) * 2016-03-01 2018-03-02 Pellenc Selective Technologies Machine et procede d'inspection d'objets defilant en flux
EP3242124A1 (en) * 2016-05-03 2017-11-08 TOMRA Sorting NV Detection of foreign matter in animal products
NL2017071B1 (nl) * 2016-06-29 2018-01-05 De Greef's Wagen- Carrosserie- En Machb B V Meetinrichting voor het meten van producten en werkwijze daarvoor
CN106872362B (zh) * 2017-01-18 2023-12-12 浙江大学 用于可见近红外光谱检测的led光源装置及其应用
FR3063542B1 (fr) * 2017-03-01 2024-08-09 Maf Agrobotic Procede et dispositif d'analyse optique de fruits ou legumes et dispositif de tri automatique
US11731171B2 (en) 2017-05-11 2023-08-22 6511660 Canada Inc. Systems and methods for spectral identification and optical sorting of materials
IL285767B (en) * 2017-11-21 2022-09-01 Fulfil Solutions Inc Product handling and packaging system
EP3914902A4 (en) * 2019-01-24 2022-11-09 Blue Cube Technology (Pty) Ltd OBTAINING DATA FROM A MOVING PARTICULATE PRODUCT
US11275069B2 (en) 2019-07-10 2022-03-15 Mettler-Toledo, LLC Detection of non-XR/MD detectable foreign objects in meat
CN111097718B (zh) * 2020-01-07 2025-02-28 华东交通大学 一种基于漫反射与漫透射的水果自动分选装置
CA3181055A1 (en) 2020-06-08 2021-12-16 Dirk BALTHASAR Apparatus for detecting matter
WO2022025195A1 (ja) 2020-07-30 2022-02-03 キヤノン株式会社 画像形成装置及び画像形成システム
JP7603696B2 (ja) * 2020-08-26 2024-12-20 三菱電機株式会社 検出装置および検出方法
CN113390834B (zh) * 2021-06-23 2023-04-28 长江师范学院 一种基于视觉识别的脆李成熟度检测方法
US12083560B2 (en) * 2021-11-01 2024-09-10 Tianjin University Of Commerce Sorting-based garbage classification method and device
JP2023069314A (ja) * 2021-11-05 2023-05-18 ウシオ電機株式会社 光測定方法および光測定装置
US20250018433A1 (en) * 2021-12-07 2025-01-16 Tomra Sorting Gmbh Apparatus for illuminating matter
US12211259B2 (en) * 2022-06-07 2025-01-28 Hefei University Of Technology Quickly extraction of morphology characterization parameters of recycled concrete sand particles based on deep learning technology
WO2024231351A1 (en) * 2023-05-05 2024-11-14 Tomra Sorting Gmbh Single point analyzer

Family Cites Families (68)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE788990A (fr) * 1971-09-23 1973-03-19 Lilly Co Eli Systeme optique de controle de capsules
US4558786A (en) * 1983-06-15 1985-12-17 Marvin M. Lane Electro-optical sorter
GB2142426B (en) * 1983-06-30 1986-09-17 Gunsons Sortex Ltd Sorting machine and method
JPS61136473A (ja) * 1984-12-08 1986-06-24 林　福治 透明度による米の選別装置
JPH0799326B2 (ja) * 1986-08-30 1995-10-25 株式会社マキ製作所 球塊状物品の外観検査方法と装置
US5206699A (en) * 1988-05-06 1993-04-27 Gersan Establishment Sensing a narrow frequency band of radiation and gemstones
JPH0276528A (ja) * 1988-09-13 1990-03-15 Fujitsu Autom Kk 魚類の雌雄選別装置及びその選別方法
JPH04369439A (ja) * 1991-06-17 1992-12-22 Fujitsu Ltd 黒体
JPH05133883A (ja) 1991-11-12 1993-05-28 Shizuoka Seiki Co Ltd 籾米の品質判定方法
JP3248635B2 (ja) * 1993-01-22 2002-01-21 サンクス株式会社 半透明シート状物体の検査装置
US5352888A (en) * 1993-04-26 1994-10-04 Esm International, Inc. Method and apparatus for detecting and utilizing frame fill information in a sorting machine having a background and a color sorting band of light
IES940593A2 (en) 1994-07-25 1996-02-07 Oseney Ltd Optical inspection system
JPH0929184A (ja) * 1995-07-18 1997-02-04 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd ガラス瓶の色識別装置
JPH09196854A (ja) 1996-01-24 1997-07-31 Iseki & Co Ltd 穀粒の検出装置
JP3109728B2 (ja) * 1996-05-22 2000-11-20 東洋製罐株式会社 林檎の内部品質検査装置
US5884775A (en) * 1996-06-14 1999-03-23 Src Vision, Inc. System and method of inspecting peel-bearing potato pieces for defects
US5808305A (en) 1996-10-23 1998-09-15 Src Vision, Inc. Method and apparatus for sorting fruit in the production of prunes
US6191859B1 (en) * 1996-10-28 2001-02-20 Sortex Limited Optical systems for use in sorting apparatus
US6056127A (en) * 1996-10-28 2000-05-02 Sortex Limited Delivery system for sorting apparatus
JPH10154794A (ja) 1996-11-26 1998-06-09 Sony Corp 半導体集積回路素子
JPH1190346A (ja) 1997-09-24 1999-04-06 Kubota Corp 不良検出装置及び不良物除去装置
AU3930000A (en) * 1999-03-29 2000-10-16 Src Vision, Inc. Multi-band spectral sorting system for light-weight articles
JP2000292359A (ja) 1999-04-02 2000-10-20 Hisaichi Shibazaki 青果物の内部品質検査方法及びその装置
KR19990083882A (ko) * 1999-08-25 1999-12-06 조래영 비파괴 과실선별기
US6512577B1 (en) * 2000-03-13 2003-01-28 Richard M. Ozanich Apparatus and method for measuring and correlating characteristics of fruit with visible/near infra-red spectrum
WO2001092873A1 (en) * 2000-05-29 2001-12-06 Fps Food Processing Systems B.V. Detection system for sorting apparatus
FR2822235B1 (fr) 2001-03-19 2004-10-22 Pellenc Sa Dispositif et procede d'inspection automatique d'objets defilant en flux sensiblement monocouche
US7041439B2 (en) * 2001-04-17 2006-05-09 Embrex, Inc. Methods and apparatus for selectively processing eggs having identified characteristics
DE10128557A1 (de) * 2001-06-14 2002-12-19 Nexpress Solutions Llc Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung eines lichtundurchlässigeren Gebietes oder Objektes mittels einer Lichtschranke
US7041926B1 (en) * 2002-05-22 2006-05-09 Alan Richard Gadberry Method and system for separating and blending objects
US6936784B2 (en) * 2002-05-28 2005-08-30 Satake Usa, Inc. Illumination source for sorting machine
US7763820B1 (en) * 2003-01-27 2010-07-27 Spectramet, Llc Sorting pieces of material based on photonic emissions resulting from multiple sources of stimuli
JP4438358B2 (ja) * 2003-09-04 2010-03-24 株式会社サタケ 表示調整機構を具えた粒状物色彩選別機
GB0322043D0 (en) * 2003-09-20 2003-10-22 Qinetiq Ltd Apparatus for,and method of,classifying objects in waste stream
US7564943B2 (en) * 2004-03-01 2009-07-21 Spectramet, Llc Method and apparatus for sorting materials according to relative composition
CN2733343Y (zh) 2004-05-12 2005-10-12 严衍禄 果蔬类农产品内部非破坏性整体分析装置
JP2006170669A (ja) * 2004-12-13 2006-06-29 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 青果物の品質検査装置
JP2007033273A (ja) 2005-07-27 2007-02-08 Mayekawa Mfg Co Ltd 白色系食品の異物検出装置
JP2007171027A (ja) 2005-12-22 2007-07-05 Toshiba Corp 光学検査方法およびこれに用いる光学検査装置
FR2895688B1 (fr) * 2005-12-30 2010-08-27 Pellenc Selective Technologies Procede et machine automatiques d'inspection et de tri d'objets non metalliques
UA15857U (en) 2006-02-03 2006-07-17 Kyiv Polytechnical Institute Device for measuring parameters of sheet materials
JP4746449B2 (ja) 2006-03-08 2011-08-10 株式会社東芝 紙葉類検査装置
US7851722B2 (en) * 2006-06-15 2010-12-14 Satake Corporation Optical cracked-grain selector
JP5007933B2 (ja) 2006-06-15 2012-08-22 株式会社サタケ 光学式胴割選別機
US20130056398A1 (en) * 2006-12-08 2013-03-07 Visys Nv Apparatus and method for inspecting and sorting a stream of products
EP2664916B1 (en) * 2007-04-02 2017-02-08 Acoustic Cytometry Systems, Inc. Method for manipulating a fluid medium within a flow cell using acoustic focusing
JP4906583B2 (ja) * 2007-05-15 2012-03-28 株式会社日本自動車部品総合研究所 燃料性状検出装置
EP2200758B1 (en) * 2007-09-03 2014-01-08 TOMRA Sorting NV Sorting device with a supercontinuum radiation source and according method
US7830504B2 (en) * 2007-11-20 2010-11-09 Monsanto Technology Llc Automated systems and assemblies for use in evaluating agricultural products and methods therefor
JP2009226248A (ja) * 2008-03-19 2009-10-08 Naohiro Tanno プラスチックペレット選別機
JP5093061B2 (ja) * 2008-11-10 2012-12-05 三菱電機株式会社 プラスチックの選別方法およびプラスチックの選別装置
JP2010210355A (ja) 2009-03-09 2010-09-24 Kobe Univ 近赤外線分光法を用いた野菜等の成分の非破壊計測法および非破壊計測装置
US20100230330A1 (en) * 2009-03-16 2010-09-16 Ecullet Method of and apparatus for the pre-processing of single stream recyclable material for sorting
CA2760026C (en) 2009-05-01 2018-03-20 Xtralis Technologies Ltd Improvements to particle detectors
US8253054B2 (en) * 2010-02-17 2012-08-28 Dow Agrosciences, Llc. Apparatus and method for sorting plant material
US8687055B2 (en) * 2010-03-16 2014-04-01 Eli Margalith Spectral imaging of moving objects with a stare down camera
WO2011153133A1 (en) * 2010-06-01 2011-12-08 Ackley Machine Corporation Inspection system
AT12076U1 (de) * 2010-07-27 2011-10-15 Evk Di Kerschhaggl Gmbh Verfahren, sensoreinheit und maschine zum detektieren von ''zuckerspitzen''-defekten in kartoffeln
DE102010046433B4 (de) 2010-09-24 2012-06-21 Grenzebach Maschinenbau Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Detektieren von Fehlstellen in kontinuierlich erzeugtem Float-Glas
US8941062B2 (en) * 2010-11-16 2015-01-27 1087 Systems, Inc. System for identifying and sorting living cells
US8829396B2 (en) * 2010-11-30 2014-09-09 Tp Solar, Inc. Finger drives for IR wafer processing equipment conveyors and lateral differential temperature profile methods
US8283589B2 (en) * 2010-12-01 2012-10-09 Key Technology, Inc. Sorting apparatus
JP2012242340A (ja) 2011-05-24 2012-12-10 Mitsubishi Engineering Plastics Corp 赤外線フィルター用ポリカーボネート樹脂の良否判定方法
GB2492359A (en) 2011-06-28 2013-01-02 Buhler Sortex Ltd Inspection apparatus with alternate side illumination
GB2492358A (en) * 2011-06-28 2013-01-02 Buhler Sortex Ltd Optical sorting and inspection apparatus
NO336441B1 (no) 2012-01-24 2015-08-17 Tomra Sorting As Anordning, system og fremgangsmåte for optisk detektering av materie
JP6088770B2 (ja) * 2012-04-20 2017-03-01 国立大学法人広島大学 穀粒成分分析装置および穀粒成分分析方法
NO2700456T3 (ar) * 2012-08-24 2018-02-24

Also Published As

Publication number Publication date
JP2016537646A (ja) 2016-12-01
US11724286B2 (en) 2023-08-15
BR112016009483B1 (pt) 2021-07-06
RU2016119150A (ru) 2017-12-06
CA2928875C (en) 2023-06-20
UA121201C2 (uk) 2020-04-27
EP3063531A1 (en) 2016-09-07
RU2016119150A3 (ar) 2018-05-25
CN105874322B (zh) 2019-12-10
CN105874322A (zh) 2016-08-17
EP3063531B1 (en) 2022-12-21
PL3063531T3 (pl) 2023-06-19
JP7091388B2 (ja) 2022-06-27
AU2014343596A1 (en) 2016-05-12
CA2928875A1 (en) 2015-05-07
WO2015063299A1 (en) 2015-05-07
MX366016B (es) 2019-06-24
PE20161079A1 (es) 2016-11-17
ES2940563T3 (es) 2023-05-09
JP2020129008A (ja) 2020-08-27
US20160263624A1 (en) 2016-09-15
CL2016001042A1 (es) 2016-11-25
RU2664261C2 (ru) 2018-08-15
BR112016009483A2 (ar) 2017-08-01
JP6711755B2 (ja) 2020-06-17
AU2014343596B2 (en) 2019-04-04
MX2016005635A (es) 2016-10-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SA516371041B1 (ar) طريقة وجهاز للكشف عن مادة
CN111163873B (zh) 分类方法和设备
KR20070026501A (ko) 온라인 내부품질 검사방법과 장치
US20250146937A1 (en) Material identification apparatus and method
US11249030B2 (en) Product inspection and characterization device
GB2498086A (en) Non-destructive detection of defects in fruits and vegetables
KR20190010589A (ko) 벌크재 검사장치 및 방법
CN106415250B (zh) 容器检查
WO2018044327A1 (en) Food inspection systems and methods
US20240280504A1 (en) Method and apparatus for inspecting full containers
JP5502437B2 (ja) 非破壊品質判定装置
US12222296B2 (en) Inspection system for quality analysis of a product to be inspected
CN109313077B (zh) 包括多个光导的检测器系统和包括检测器系统的光谱仪
US11982616B2 (en) Spectrally resolved imaging for agricultural product assessment
CA2718201C (en) Device and method for the contactless detection of characteristics of continuously delivered translucent products
NL2035040B1 (nl) Eierenbeoordelingsinrichting
KR102375581B1 (ko) 비침습적 광학측정 기반의 계란 선별장비
AT13875U1 (de) Vorrichtung zur Klassifizierung von Objekten