KR101254345B1 - 배선기판 내장용 콘덴서, 그 제조방법 및 배선기판 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (24)
- 적층된 복수의 유전체층과, 서로 다른 상기 유전체층간에 배치된 내부전극층을 가지는 콘덴서 본체를 구비한 배선기판 내장용 콘덴서를 내장한 배선기판으로서,상기 콘덴서 본체의 적어도 1개소의 측면에서, 상기 콘덴서 본체의 제1 주면 및 이 제1 주면과 상대하는 측에 위치하는 제2 주면의 적어도 한쪽으로부터 상기 콘덴서 본체의 두께방향으로 연재하도록 하여 오목부가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 배선기판 내장용 콘덴서를 내장한 배선기판.
- 제 1항에 있어서,코어기판을 포함하고, 상기 배선기판 내장용 콘덴서는 상기 콘덴서 본체에 형성된 상기 오목부내에 충전된 수지재를 통하여 상기 코어기판에 고정되어 내장하도록 구성된 것을 특징으로 하는 배선기판.
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서,상기 오목부가 형성된 상기 콘덴서 본체의 상기 제1 주면 및 상기 제2 주면의 적어도 한쪽에 있어서, 그 외주면을 따르도록 하여 형성된 절결부를 포함하는 것을 특징으로 하는 배선기판.
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서,상기 오목부는 적어도 상기 콘덴서 본체의 제1의 측면 및 상기 제1의 측면과 서로 인접하는 제3의 측면에 형성되고, 상기 제1의 측면에 형성된 상기 오목부는 상기 콘덴서 본체의 제1 주면 측에 형성되며, 상기 제3의 측면에 형성된 상기 오목부는 상기 콘덴서 본체의 상기 제2 주면 측에 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 배선기판.
- 제 4항에 있어서.상기 오목부는, 상기 제1의 측면과 대향하는 제2의 측면 및 상기 제3의 측면과 대향하는 제4의 측면에 형성되고, 상기 제2의 측면에 형성된 상기 오목부는 상기 콘덴서 본체의 제1 주면 측에 형성되며, 상기 제4의 측면에 형성된 상기 오목부는 상기 콘덴서 본체의 상기 제1 주면과 반대의 제2 주면 측에 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 배선기판.
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서,상기 오목부는 상기 콘덴서 본체의 상기 제1 주면 및 상기 제2 주면의 적어도 한쪽의 단면측으로부터 상기 콘덴서 본체의 두께의 20% 이상 70% 이하의 위치까지 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 배선기판.
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서,상기 오목부는 상기 콘덴서 본체의 상기 제1 주면 및 상기 제2 주면의 적어도 한쪽의 단면으로부터 상기 콘덴서 본체를 두께방향으로 관통하도록 하여 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 배선기판.
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서,상기 유전체층은 세라믹을 주체로 하여 이루어지고, 상기 오목부는 상기 콘덴서 본체의 측면에서 상기 유전체층을 구성하는 세라믹이 노출되어 있는 것을 특징으로 하는 배선기판.
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서,상기 오목부는 상기 콘덴서 본체의 측면에서 소정의 간격을 두어 복수 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 배선기판.
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서,상기 콘덴서 본체는, 상기 내부전극층으로부터 상기 유전체층의 외주측에 상기 내부전극층과 소정의 간격을 두고 배치된 더미(dummy)전극층을 더 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 배선기판.
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서,상기 내부전극층의 적어도 일부는, 상기 콘덴서 본체의 측면에서 노출되어 있는 것을 특징으로 하는 배선기판.
- 적층된 복수의 유전체층과, 서로 다른 상기 유전체층간에 배치된 복수의 내부전극층을 구비한 콘덴서의 제조방법으로서,적층되고, 또 상기 유전체층으로 된 복수의 세라믹 그린 시트와, 서로 다른 상기 세라믹 그린시트 사이에 배치되며, 또한, 상기 내부전극층으로 이루어진 복수의 내부전극패턴을 가지는 미소성의 적층체를 형성하는 공정과,상기 적층체에서의 상기 콘덴서로 이루어진 부분의 외주면에 절결공을 형성하는 공정과,상기 절결공이 형성된 상기 적층체를 소성하는 공정을 구비하는 것을 특징으 로 하는 콘덴서의 제조방법.
- 제 12항에 있어서,상기 절결공의 형성은, 상기 적층체에 상기 적층체의 두께방향으로 관통하는 구멍부 및 상기 적층체의 외주면에 상기 두께방향으로 뻗는 홈의 적어도 어느 하나를 형성함으로써 이루어진 것을 특징으로 하는 콘덴서의 제조방법.
- 제 12항 또는 제 13항에 있어서,상기 절결공의 형성은 레이저에 의해 실행되는 것을 특징으로 하는 콘덴서의 제조방법.
- 제 12항 또는 제 13항 중 어느 한 항에 있어서,상기 절결공은 모따기부 및 라운딩부의 적어도 어느 하나인 것을 특징으로 하는 콘덴서의 제조방법.
- 제 12항 또는 제 13항에 있어서,상기 적층체는 상기 콘덴서로 이루어진 부분을 복수 구비하고,상기 적층체를 소성한 후에 상기 적층체를 상기 콘덴서로 이루어진 부분마다 분할하는 공정을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 콘덴서의 제조방법.
- 적층된 복수의 유전체층과, 서로 다른 상기 유전체층간에 배치된 복수의 내부전극층을 구비하는 콘덴서로서,상기 콘덴서의 외주면의 적어도 1개소의 각부(角部)에 모따기치수가 0.6㎜ 이상의 모따기부 및 곡률반경이 0.6㎜ 이상의 라운딩부의 적어도 어느 하나가 형성되고, 상기 콘덴서의 구부림량이 100㎛ 미만이며, 상기 모따기부에서 또는 상기 라운딩부에서의 상기 유전체층의 치핑(chipping)량이 길이, 폭, 깊이가 모두 0.5㎜ 이하인 것을 특징으로 하는 콘덴서.
- 적층된 복수의 유전체층 및 서로 다른 상기 유전체층간에 배치된 복수의 내부전극층을 가지는 콘덴서 본체와, 상기 콘덴서 본체상에 형성된 외부전극층을 구비하는 배선기판 내장용 콘덴서의 제조방법으로서,복수의 콘덴서 형성영역을 포함하여 적층되고 또한 소성됨으로써 상기 유전체층으로 이루어진 복수의 세라믹 그린시트와, 상기 각 콘덴서 형성영역내 또한 서로 다른 상기 세라믹 그린시트 사이에 배치되며, 또한 소성됨으로써 상기 내부전극 층으로 이루어진 복수의 내부전극패턴을 가지는 적층체를 형성하는 공정과,상기 적층체상에 복수의 상기 콘덴서 형성영역에 걸쳐서 상기 각 콘덴서 형성영역 내에서 상기 내부전극패턴과 전기적으로 접속되며, 또한, 소성됨으로써 상기 외부전극층으로 이루어진 외부전극패턴을 형성하는 공정과,상기 외부전극패턴이 형성된 상기 적층체에 상기 각 콘덴서 형성영역의 경계의 적어도 일부를 따라서 상기 외부전극패턴을 관통하는 미싱바느질눈금형상의 제1의 브레이크 홈을 형성하는 공정과,상기 제1의 브레이크 홈을 형성한 후, 상기 외부전극패턴이 형성된 상기 적층체를 소성하는 공정과,상기 외부전극패턴이 형성된 상기 적층체를 소성한 후, 상기 외부전극층에 전류를 공급하여 전해도금에 의해 상기 외부전극층상에 도금막을 형성하는 공정과,상기 외부전극층상에 상기 도금막이 형성된 상기 적층체를 상기 제1의 브레이크 홈을 따라서 분할하는 공정을 구비하는 것을 특징으로 하는 배선기판 내장용 콘덴서의 제조방법.
- 제 18항에 있어서,상기 적층체는 상기 적층체의 두께방향에 위치하는 제1주면과, 상기 제1주면과 반대 측의 제2주면을 더 가지며,상기 외부전극층은 상기 적층체의 상기 제1주면상 및 상기 제2주면상에 각각 형성되는 것을 특징으로 하는 배선기판 내장용 콘덴서의 제조방법.
- 제 19항에 있어서,상기 제1의 브레이크 홈은, 상기 적층체에서의 상기 제1주면측 및 상기 제2주면측의 부분에 각각 형성되고,상기 외부전극패턴을 형성한 후, 또한 상기 외부전극패턴이 형성된 상기 적층체를 소성하기 전에, 상기 적층체에서의 상기 제1주면측 및 상기 제2주면측의 부분에 상기 경계의 일부를 따라서 상기 제1의 브레이크 홈과 직교하는 연속선상의 제2의 브레이크 홈을 형성하는 공정과,상기 도금막을 형성한 후, 상기 외부전극층상에 상기 도금막이 형성된 상기 적층체를 상기 제2의 브레이크 홈을 따라서 분할하는 공정을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 배선기판 내장용 콘덴서의 제조방법.
- 제 20항에 있어서,상기 제2주면 측에 형성되는 상기 제1의 브레이크 홈은, 상기 제1주면 측에 형성되는 상기 제2의 브레이크 홈과 대응하는 위치에, 또한 상기 제1주면 측에 형성되는 상기 제2의 브레이크 홈을 따라서 형성되고,상기 제2주면 측에 형성되는 상기 제2의 브레이크 홈은, 상기 제1주면 측에 형성되는 상기 제1의 브레이크 홈과 대응하는 위치에 또한, 상기 제1주면 측에 형성되는 상기 제1의 브레이크 홈을 따라서 형성되며,상기 적층체는 상기 적층체의 두께방향에서 상기 제1의 브레이크 홈 부근의 부분이 상기 제2의 브레이크 홈 부근의 부분보다도 먼저 분리되도록 분할되는 것을 특징으로 하는 배선기판 내장용 콘덴서의 제조방법.
- 제 18항 또는 제 19항에 있어서,상기 내부전극패턴은 제1의 내부전극패턴과, 상기 세라믹 그린시트의 적층방향에서 상기 제1의 내부전극패턴과 상기 세라믹 그린시트를 통하여 교대로 배치된 제2의 내부전극패턴으로 구성되고,상기 외부전극패턴은 상기 제1의 내부전극패턴에 전기적으로 접속되는 제1의 외부전극패턴과, 상기 제1의 외부전극패턴에 대하여 이간하고, 또한 상기 제2의 내부전극패턴에 전기적으로 접속되는 제2의 외부전극패턴으로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 배선기판 내장용 콘덴서의 제조방법.
- 제 18항 또는 제 19항에 있어서,상기 제1의 브레이크 홈의 깊이는, 상기 적층체의 두께가 20% 이상 70% 이하인 것을 특징으로 하는 배선기판 내장용 콘덴서의 제조방법.
- 적층된 복수의 유전체층과, 상기 유전체층간에 배치된 제1의 내부전극층과, 상기 유전체층의 적층방향에서 상기 제1의 내부전극층과 상기 유전체층을 통하여 교대로 배치된 제2의 내부전극층을 구비한 콘덴서 본체와,상기 콘덴서 본체상에 형성되고, 상기 제1의 내부전극층에 전기적으로 접속되는 제1의 외부전극층과,상기 콘덴서 본체상, 또한 상기 제1의 외부전극층과 동일평면으로 형성되고, 상기 제1의 외부전극층에 대하여 이간하며, 상기 제2의 내부전극층에 전기적으로 접속되는 제2의 외부전극층과,상기 제1의 외부전극층상 및 상기 제2의 외부전극층상에 전해도금에 의해 형성된 도금막을,구비하는 배선기판 내장용 콘덴서로서,배선기판 내장용 콘덴서의 구부림량이 100㎛ 미만이고, 상기 제1의 외부전극상에 형성된 상기 도금막과 상기 제2의 외부전극층상에 형성된 상기 도금막은, 상기 제1의 외부전극층과 상기 제2의 외부전극층과의 사이의 거리가 30~300㎛로 되어 있는 부분에서 이간하고 있는 것을 특징으로 하는 배선기판 내장용 콘덴서.
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US8810002B2 (en) * | 2009-11-10 | 2014-08-19 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Vertical metal insulator metal capacitor |
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KR20150004118A (ko) * | 2013-07-02 | 2015-01-12 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치용 기판, 상기 표시 장치용 기판의 제조 방법, 및 상기 표시 장치용 기판을 포함하는 표시 장치 |
JP6319013B2 (ja) * | 2014-09-24 | 2018-05-09 | 富士通株式会社 | 電子装置及び電子装置の製造方法 |
CN209015904U (zh) * | 2016-12-28 | 2019-06-21 | 株式会社村田制作所 | 薄膜器件 |
KR102402798B1 (ko) * | 2017-07-13 | 2022-05-27 | 삼성전기주식회사 | 커패시터 및 이를 포함하는 실장기판 |
DE102018217001B4 (de) | 2018-10-04 | 2020-06-25 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren zur Herstellung von Halbleiterkondensatoren unterschiedlicher Kapazitätswerte in einem Halbleitersubstrat |
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JP7314001B2 (ja) * | 2019-09-20 | 2023-07-25 | 株式会社東芝 | コンデンサ |
WO2021146284A1 (en) * | 2020-01-17 | 2021-07-22 | Kemet Electronics Corporation | Structural lead frame |
JP7645647B2 (ja) * | 2021-01-27 | 2025-03-14 | 太陽誘電株式会社 | セラミック電子部品、回路基板およびセラミック電子部品の製造方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0641123U (ja) * | 1992-10-29 | 1994-05-31 | 京セラ株式会社 | 積層型部品 |
JP2005039201A (ja) | 2003-06-27 | 2005-02-10 | Kyocera Corp | コンデンサ及びその実装構造 |
KR20050089493A (ko) * | 2004-03-05 | 2005-09-08 | 삼성전기주식회사 | 적층형 세라믹 캐패시터 |
JP2005347648A (ja) | 2004-06-04 | 2005-12-15 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 積層電子部品及びその製造方法 |
Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5442644A (en) | 1977-09-09 | 1979-04-04 | Nippon Electric Co | Method of positioning electrodes of laminated condenser |
JPS56110220A (en) | 1980-02-05 | 1981-09-01 | Tdk Electronics Co Ltd | Method of manufacturing porcelain laminated layer zone |
JPS5713791A (en) | 1980-06-30 | 1982-01-23 | Konishiroku Photo Ind | Printed circuit board |
JPS61276396A (ja) | 1985-05-31 | 1986-12-06 | 東京プリント工業株式会社 | プリント配線板の製造方法 |
JPH087649Y2 (ja) | 1986-10-30 | 1996-03-04 | 日立エーアイシー株式会社 | プリント配線板 |
JPH0766076A (ja) | 1993-08-26 | 1995-03-10 | Tokin Corp | 積層チップ部品の製造方法と積層チップ部品 |
JPH07335473A (ja) | 1994-06-10 | 1995-12-22 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミックコンデンサ |
JP2612844B2 (ja) | 1994-07-25 | 1997-05-21 | 北陸電気工業株式会社 | プリント基板 |
JP2000012367A (ja) | 1998-06-19 | 2000-01-14 | Sony Corp | 電子チップ部品およびその製造方法 |
JP2000195720A (ja) | 1998-10-22 | 2000-07-14 | Taiyo Yuden Co Ltd | 積層電子部品 |
KR20070101408A (ko) | 1999-09-02 | 2007-10-16 | 이비덴 가부시키가이샤 | 프린트배선판 및 프린트배선판의 제조방법 |
JP4641589B2 (ja) | 2000-05-19 | 2011-03-02 | イビデン株式会社 | コンデンサおよび多層プリント配線板 |
JP2002025852A (ja) * | 2000-07-07 | 2002-01-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子部品 |
JP4674397B2 (ja) | 2000-11-09 | 2011-04-20 | パナソニック株式会社 | セラミック素体の製造方法 |
US6787884B2 (en) * | 2002-05-30 | 2004-09-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Circuit component, circuit component package, circuit component built-in module, circuit component package production and circuit component built-in module production |
US6606237B1 (en) * | 2002-06-27 | 2003-08-12 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Multilayer capacitor, wiring board, decoupling circuit, and high frequency circuit incorporating the same |
JP2004134575A (ja) | 2002-10-10 | 2004-04-30 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 積層セラミックコンデンサ集合体及び積層セラミックコンデンサ製造方法 |
JP2004172305A (ja) | 2002-11-19 | 2004-06-17 | Kyocera Corp | 多層配線基板 |
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JP2005039243A (ja) * | 2003-06-24 | 2005-02-10 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 中間基板 |
JP2005033559A (ja) * | 2003-07-14 | 2005-02-03 | Fuji Xerox Co Ltd | 故障診断装置 |
JP4238659B2 (ja) | 2003-07-14 | 2009-03-18 | トヨタ自動車株式会社 | 演算増幅器 |
JP2005123288A (ja) * | 2003-10-15 | 2005-05-12 | Tdk Corp | 積層電子部品の製造方法 |
CN100367491C (zh) * | 2004-05-28 | 2008-02-06 | 日本特殊陶业株式会社 | 中间基板 |
JP2005340663A (ja) * | 2004-05-28 | 2005-12-08 | Kyocera Corp | コンデンサ |
US7573697B2 (en) * | 2005-08-31 | 2009-08-11 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Method of manufacturing capacitor for incorporation in wiring board, capacitor for incorporation in wiring board, and wiring board |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0641123U (ja) * | 1992-10-29 | 1994-05-31 | 京セラ株式会社 | 積層型部品 |
JP2005039201A (ja) | 2003-06-27 | 2005-02-10 | Kyocera Corp | コンデンサ及びその実装構造 |
KR20050089493A (ko) * | 2004-03-05 | 2005-09-08 | 삼성전기주식회사 | 적층형 세라믹 캐패시터 |
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