JPS6376444A - チツプキヤリア - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電子装置等に使用される配線基板1cLS!チ
ツプを実装したチップキャリアに関するものである。
ツプを実装したチップキャリアに関するものである。
従来この種のチップキャリアは、第2図に示すように、
セラミック基板21上の金属層22にLSIテップ23
を固着し、ワイヤー24でLSIテップ23と基板21
上のパッド25とを電気的に接続した後、キャップ26
で封止して構成されている(例えば特開昭57−126
151公報)。
セラミック基板21上の金属層22にLSIテップ23
を固着し、ワイヤー24でLSIテップ23と基板21
上のパッド25とを電気的に接続した後、キャップ26
で封止して構成されている(例えば特開昭57−126
151公報)。
上述した従来のチップキャリアでは、LSI テップ1
がフェイスアップ実装のために上部にヒートシンク等の
放熱部品を配設しても放熱効果が少なく、マた、下部に
はチップキャリアを搭載する基板が配設されるので、放
熱部品が取付けられず、消費電力の多いLSIチップの
実装には適さないという欠点があった。
がフェイスアップ実装のために上部にヒートシンク等の
放熱部品を配設しても放熱効果が少なく、マた、下部に
はチップキャリアを搭載する基板が配設されるので、放
熱部品が取付けられず、消費電力の多いLSIチップの
実装には適さないという欠点があった。
本発明は、前述した従来の問題に鑑みてなされたもので
あシ、その目的はLSIチップの放熱性を向上させるこ
とができるチップキャリアラ提供することにある。
あシ、その目的はLSIチップの放熱性を向上させるこ
とができるチップキャリアラ提供することにある。
本発明のチップキャリアは、LSIチップと、内面に前
記LSI チップのリードと接続されるす−ド用パッド
および外面に前記リード用パッドと接層される入出力用
パッドを形成したセラミック基板と、前記LSI チッ
プをセラミック基板にフェイスダウンで実装するスペー
サーと、前記LSIチップに接着配置した熱伝導性プレ
ートと、前記プレートと前記セラミック基板との間を封
止する金属枠体とを有している。
記LSI チップのリードと接続されるす−ド用パッド
および外面に前記リード用パッドと接層される入出力用
パッドを形成したセラミック基板と、前記LSI チッ
プをセラミック基板にフェイスダウンで実装するスペー
サーと、前記LSIチップに接着配置した熱伝導性プレ
ートと、前記プレートと前記セラミック基板との間を封
止する金属枠体とを有している。
本発明におけるチップキャリアは、LSI チップが熱
伝導性プレート、と接層配置されるので、LSIチップ
の放熱れ路が形成される。
伝導性プレート、と接層配置されるので、LSIチップ
の放熱れ路が形成される。
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明によるチップ中ヤリアの一実施例を示す
縦断面図である。同図において、セラミック基板1の内
面には、リード用パッド2が、外面には入出力用パッド
3が、内部にはリード用パッド2と入出力用パッド3と
を接続する導体配線層4がそれぞれ設けられている。ま
た、このセラミック基板1の内面側周辺部にはシーム溶
接に適した例えば、コバールなどからなる第1の金属枠
5が例えば銀ろうなどの接着剤6によシ固漕されている
。また、このセラミック基板1の中央部には例えばシリ
コーンゴムなどからなるスペーサ7が例えばシリコン系
の接層剤8によシ接層配置されている。さらにこのスペ
ーサT上にはLSIチップ9がフェイスダウンで前記同
様の接着剤8によシli!!漕され、LSIテップ9の
リード10がセラミック基板1上のリード用パッド2に
接続されている。また、このLSIテップ9上には、熱
伝導性の良好な例えばCu、/M/ 、 B @ 0材
等からなるプレート11と、その周辺部に例えば銀ろう
などの接層剤12により接層された第2の金属枠13と
からなるキャップ14が、熱伝導性の良好な例えば、銀
粉式ジェポキシ系の接着剤15により接着配置され、キ
ャップ14の第2の金属枠13はセラミック基板1上の
第1の金属枠5上にシーム溶接されて固着され、封止さ
れる。この場合、この第1の金属枠5の高さはスペーサ
7およプレート10の高さを考慮に入れて可能な限り低
く設定される。
縦断面図である。同図において、セラミック基板1の内
面には、リード用パッド2が、外面には入出力用パッド
3が、内部にはリード用パッド2と入出力用パッド3と
を接続する導体配線層4がそれぞれ設けられている。ま
た、このセラミック基板1の内面側周辺部にはシーム溶
接に適した例えば、コバールなどからなる第1の金属枠
5が例えば銀ろうなどの接着剤6によシ固漕されている
。また、このセラミック基板1の中央部には例えばシリ
コーンゴムなどからなるスペーサ7が例えばシリコン系
の接層剤8によシ接層配置されている。さらにこのスペ
ーサT上にはLSIチップ9がフェイスダウンで前記同
様の接着剤8によシli!!漕され、LSIテップ9の
リード10がセラミック基板1上のリード用パッド2に
接続されている。また、このLSIテップ9上には、熱
伝導性の良好な例えばCu、/M/ 、 B @ 0材
等からなるプレート11と、その周辺部に例えば銀ろう
などの接層剤12により接層された第2の金属枠13と
からなるキャップ14が、熱伝導性の良好な例えば、銀
粉式ジェポキシ系の接着剤15により接着配置され、キ
ャップ14の第2の金属枠13はセラミック基板1上の
第1の金属枠5上にシーム溶接されて固着され、封止さ
れる。この場合、この第1の金属枠5の高さはスペーサ
7およプレート10の高さを考慮に入れて可能な限り低
く設定される。
このよりなW成によれば、LSI テップ9の上面に
は熱伝導性の高いキャップ14のプレート11が熱伝導
性の良好な接着剤15を介して接着配置されているので
、このプレート11上にヒートシンクなどの放熱部品が
容易に取シ付けることができるとともに、LSIチップ
9で発生した熱がプレート11に良好に伝導されて放熱
される。
は熱伝導性の高いキャップ14のプレート11が熱伝導
性の良好な接着剤15を介して接着配置されているので
、このプレート11上にヒートシンクなどの放熱部品が
容易に取シ付けることができるとともに、LSIチップ
9で発生した熱がプレート11に良好に伝導されて放熱
される。
以上説明したように本発明は、フェイスダウン実装され
たLSIチップと、熱伝導率の良いプレートとが接層さ
れることによfi、LSIチップの発生する熱が効率良
くプレート上に取付けられるヒートシンク等の放熱部品
に伝導することができるのて、放熱性を向上させること
ができる。また、セラミック基板に接層された金属枠の
高さを低くしたことによシ、セラミック基板の幅を小さ
くすることができるのでチップキャリア全体の大きさも
小さくすることができる。さらにセラミック基板とプレ
ートとの間に金属枠体を介在させたことkよシ金属枠を
シーム溶接によ)封止を行なうことができるので、封止
時KLSIチップに与える熱が少なく、LSIチップの
信頼性が向上できるなどの極めて優れた効果が得られる
。
たLSIチップと、熱伝導率の良いプレートとが接層さ
れることによfi、LSIチップの発生する熱が効率良
くプレート上に取付けられるヒートシンク等の放熱部品
に伝導することができるのて、放熱性を向上させること
ができる。また、セラミック基板に接層された金属枠の
高さを低くしたことによシ、セラミック基板の幅を小さ
くすることができるのでチップキャリア全体の大きさも
小さくすることができる。さらにセラミック基板とプレ
ートとの間に金属枠体を介在させたことkよシ金属枠を
シーム溶接によ)封止を行なうことができるので、封止
時KLSIチップに与える熱が少なく、LSIチップの
信頼性が向上できるなどの極めて優れた効果が得られる
。
第1図は本発明のチップキャリアの縦断面図、第2図は
従来のチップキャリアの縦断面図である。 1・・壷・セラミック基板、2・・・・リード用パッド
、3・嚇・・入出力用パッド、4・・・・導体配線層、
5・・・・第1の金属枠、6・・・・接5f剤、7・・
・・スペ−1−18・・・・接着剤、9・・争・LSI
テップ、1o−・・・!J−)”、11 ・・働・プレ
ート、12・・・・接層剤、13・・・・第1の金属枠
、14・・・・キャップ、15Φ・@Φ接溜剤。
従来のチップキャリアの縦断面図である。 1・・壷・セラミック基板、2・・・・リード用パッド
、3・嚇・・入出力用パッド、4・・・・導体配線層、
5・・・・第1の金属枠、6・・・・接5f剤、7・・
・・スペ−1−18・・・・接着剤、9・・争・LSI
テップ、1o−・・・!J−)”、11 ・・働・プレ
ート、12・・・・接層剤、13・・・・第1の金属枠
、14・・・・キャップ、15Φ・@Φ接溜剤。
Claims (1)
- LSIチップと、内面に前記LSIチップのリードと
接続されるリード用パッドおよび外面に前記リード用パ
ッドと接続される入出力用パッドを形成したセラミック
基板と、前記セラミック基板にLSIチップをフエース
ダウン実装するスペーサと、前記LSIチップに接着配
置させる熱伝導性プレートと、前記プレートと前記セラ
ミック基板との周辺部を封止する金属枠体とを備えたこ
とを特徴とするチップキャリア。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61219414A JPS6376444A (ja) | 1986-09-19 | 1986-09-19 | チツプキヤリア |
EP87308232A EP0260969A1 (en) | 1986-09-19 | 1987-09-17 | Chip carrier |
US07/098,218 US4855869A (en) | 1986-09-19 | 1987-09-18 | Chip carrier |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61219414A JPS6376444A (ja) | 1986-09-19 | 1986-09-19 | チツプキヤリア |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6376444A true JPS6376444A (ja) | 1988-04-06 |
Family
ID=16735021
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61219414A Pending JPS6376444A (ja) | 1986-09-19 | 1986-09-19 | チツプキヤリア |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4855869A (ja) |
EP (1) | EP0260969A1 (ja) |
JP (1) | JPS6376444A (ja) |
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- 1986-09-19 JP JP61219414A patent/JPS6376444A/ja active Pending
-
1987
- 1987-09-17 EP EP87308232A patent/EP0260969A1/en not_active Withdrawn
- 1987-09-18 US US07/098,218 patent/US4855869A/en not_active Expired - Lifetime
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EP0488783A2 (en) * | 1990-11-30 | 1992-06-03 | Shinko Electric Industries Co. Ltd. | Lead frame for semiconductor device comprising a heat sink |
Also Published As
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