JPS5973704A - 多座標−感知ヘツド - Google Patents
多座標−感知ヘツドInfo
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- JPS5973704A JPS5973704A JP58169493A JP16949383A JPS5973704A JP S5973704 A JPS5973704 A JP S5973704A JP 58169493 A JP58169493 A JP 58169493A JP 16949383 A JP16949383 A JP 16949383A JP S5973704 A JPS5973704 A JP S5973704A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000003754 machining Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 230000001012 protector Effects 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
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- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
- G01B11/005—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines
- G01B11/007—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines feeler heads therefor
-
- G—PHYSICS
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- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/004—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points
- G01B5/008—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
- G01B5/012—Contact-making feeler heads therefor
-
- G—PHYSICS
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- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/004—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points
- G01B7/008—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
- G01B7/012—Contact-making feeler heads therefor
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、特許請求の範囲第1項の上位概念による多座
標−感知ヘッドに関する。
標−感知ヘッドに関する。
加工片を多方向で感知するための多座標−感知ヘッドが
知られている。この場合、感知ヘッドを二つのカテゴリ
ーに分類することができる。
知られている。この場合、感知ヘッドを二つのカテゴリ
ーに分類することができる。
一方のカテゴリーでは、感知ピンがその軸線に対し垂直
に偏位したときに角度運動をする。他方のカテゴリーで
は、感知ピンが直線案内を介して運動可能に支承されて
いる。DI−PS 2242355には、個々の特徴の
結合により特色を示す電子的多座標センサが記載されて
いる。ねじり剛性のある配列の、隙間や摩擦のない直線
案内系が、区画された平面のまたは立体的な座標系を形
成している。この配置の直線案内系は、上記の刊行物の
明細書導入部に詳細に述べられているように公知技術を
改善する。しかしながら、そこに提案された解決はなお
欠点を有する。なぜなら、そこの実施例に対応する配列
のばね平行四辺形の場合、一方の直線案内系が、以前に
設けられた直線案内系の精度の上に構成されるからであ
る。このような配列の直線案内□それは十字形テーブル
も示すように−の場合に、要求に相応する精度をなしと
げるために、個々の直線案内系を法外な精度で製造しな
ければならない。このため非常に高い構造上および製造
技術上の費用を必要とする。さらに、偏位したときに、
平行に互に運動する板の間隔が変るのは、ばね平行四辺
形として実施された直線案内系の特色である。この影響
は、偏位が非常に小さいときにのみ無視できるほど小さ
い。
に偏位したときに角度運動をする。他方のカテゴリーで
は、感知ピンが直線案内を介して運動可能に支承されて
いる。DI−PS 2242355には、個々の特徴の
結合により特色を示す電子的多座標センサが記載されて
いる。ねじり剛性のある配列の、隙間や摩擦のない直線
案内系が、区画された平面のまたは立体的な座標系を形
成している。この配置の直線案内系は、上記の刊行物の
明細書導入部に詳細に述べられているように公知技術を
改善する。しかしながら、そこに提案された解決はなお
欠点を有する。なぜなら、そこの実施例に対応する配列
のばね平行四辺形の場合、一方の直線案内系が、以前に
設けられた直線案内系の精度の上に構成されるからであ
る。このような配列の直線案内□それは十字形テーブル
も示すように−の場合に、要求に相応する精度をなしと
げるために、個々の直線案内系を法外な精度で製造しな
ければならない。このため非常に高い構造上および製造
技術上の費用を必要とする。さらに、偏位したときに、
平行に互に運動する板の間隔が変るのは、ばね平行四辺
形として実施された直線案内系の特色である。この影響
は、偏位が非常に小さいときにのみ無視できるほど小さ
い。
本発明は、公知技術による感知ヘッドの周知の欠点をも
たず、それにもかかわらず比較的簡単に構成され、多方
面に使用可能であシかつ頑丈である多座標−感知ヘッド
を創造することを課題の基礎としている。
たず、それにもかかわらず比較的簡単に構成され、多方
面に使用可能であシかつ頑丈である多座標−感知ヘッド
を創造することを課題の基礎としている。
この課題は、特許請求の範囲第1項の特徴事項によシ特
色を示す感知ヘッドによシ解決される。
色を示す感知ヘッドによシ解決される。
本発明による感知ヘッドの特別な利点は、感知ピンが一
平面に二つの自由度で案内されていることと、従って個
々に配列された二つの直線案内系のそれぞれの精度に相
互に依存しないことと、それにもかア・わらず同じ自由
度があることとにある。直線案内系はほとんど配列され
ないで、一平面に置かれる。別の有利な効果は、この手
段により構造高さが減少することである。
平面に二つの自由度で案内されていることと、従って個
々に配列された二つの直線案内系のそれぞれの精度に相
互に依存しないことと、それにもかア・わらず同じ自由
度があることとにある。直線案内系はほとんど配列され
ないで、一平面に置かれる。別の有利な効果は、この手
段により構造高さが減少することである。
本発明の別の有利な発展例は実施態様項から明らかにな
る。
る。
以下、本発明を実施例について図面によりなお詳細に説
明する。
明する。
多座標−感知ヘッド1が、測定−または加工機械(図示
省略)のスピンドルに感知ヘッド1を受は入れるために
アーバー2を有する。感知ヘッド1は、そのハウジング
3の内部に、ハウジング3から突出する感知ピン4を含
み、この感知ピンは立体的な座標系の全ての座標におい
て偏位可能である。この場合、2一方向の偏位として、
感知ピン4の軸方向偏位が理解される。
省略)のスピンドルに感知ヘッド1を受は入れるために
アーバー2を有する。感知ヘッド1は、そのハウジング
3の内部に、ハウジング3から突出する感知ピン4を含
み、この感知ピンは立体的な座標系の全ての座標におい
て偏位可能である。この場合、2一方向の偏位として、
感知ピン4の軸方向偏位が理解される。
感知ピン4がその軸でホルダ5内を長さ方向に移動可能
にかつきわめて隙間や摩擦なく支承されている。
にかつきわめて隙間や摩擦なく支承されている。
実際の隙間や摩擦のない軸受は精密球案内6によシ可能
となる。ハウジング3に存在する感知ピン4の端部には
、感知ピン4の中心軸線の延長部に、直線格子7が、デ
ジタルな電気的長さ測定装置8のための測定スケールと
して配置されている。従って、この2一方向において、
多座標−感知ヘッドが周知のアツベの原理ま□たはコン
パレータの原理に従って作動する。ばね(図示省略)の
作用を受けて感知ピン4が偏位後宮に再びその出発位置
−これは2座標軸のゼロ点位置に相当する□に復帰する
。その場合、精密ストッパー9として形成された球がゼ
ロ点ストッパーとして、および感知ピン4のねじυ安全
装置として働く。
となる。ハウジング3に存在する感知ピン4の端部には
、感知ピン4の中心軸線の延長部に、直線格子7が、デ
ジタルな電気的長さ測定装置8のための測定スケールと
して配置されている。従って、この2一方向において、
多座標−感知ヘッドが周知のアツベの原理ま□たはコン
パレータの原理に従って作動する。ばね(図示省略)の
作用を受けて感知ピン4が偏位後宮に再びその出発位置
−これは2座標軸のゼロ点位置に相当する□に復帰する
。その場合、精密ストッパー9として形成された球がゼ
ロ点ストッパーとして、および感知ピン4のねじυ安全
装置として働く。
X −Y座標系により決められる、2一方向に対し垂直
な平面で感知ピン4が偏位すると、その偏位が、第2図
に見えるデ、ジタルな電気的長さ測定装置10と11に
よシ検出される。長さ測定装置10と11の測定スケー
ルが平面の格子12および13として形成されている。
な平面で感知ピン4が偏位すると、その偏位が、第2図
に見えるデ、ジタルな電気的長さ測定装置10と11に
よシ検出される。長さ測定装置10と11の測定スケー
ルが平面の格子12および13として形成されている。
それにより、光電センサ14と15が常に測定スケール
12または13の領域に存在することが確保される。す
なわち、たとえ感知ピン4がX一方向に偏位しても、Y
−軸のための光電センサ15がY−軸のだめの測定スケ
ール13との整合から外れない。相応することがY一方
向の感知ピンの偏位にも云える。
12または13の領域に存在することが確保される。す
なわち、たとえ感知ピン4がX一方向に偏位しても、Y
−軸のための光電センサ15がY−軸のだめの測定スケ
ール13との整合から外れない。相応することがY一方
向の感知ピンの偏位にも云える。
感知ピン4の偏位が、互に直角な関係にある座標軸にお
いて正確に行われない場合、その方向成分がセンサ14
と15によシ探知されるので、その偏位の座標が決定さ
れる。
いて正確に行われない場合、その方向成分がセンサ14
と15によシ探知されるので、その偏位の座標が決定さ
れる。
X−Y一平面で偏位したときに感知ピン4が、実際に2
方向と全く同様に隙間や摩擦なく案内される。これは、
感知ピン4について二つの自由度の運動を許す1千面案
内”によりなしとけられる。第三の自由度である回転は
、十字形に配置された二つのリンク案内16を有する中
間部片によシ周知のように阻止される。
方向と全く同様に隙間や摩擦なく案内される。これは、
感知ピン4について二つの自由度の運動を許す1千面案
内”によりなしとけられる。第三の自由度である回転は
、十字形に配置された二つのリンク案内16を有する中
間部片によシ周知のように阻止される。
感知ピン4のだめのホルダ5がハウジング6の中央から
外側領域へ盤状に広がっている。その盤の下側面5aに
は、光学表面の加工方法により1例えばラップ仕上によ
り、非常に平坦で正確な、感知ピン軸線に対し垂直な面
が作られており、この面が精密球17のための球走行面
5aとして役立つ。ハウジング6内の円板18が球軸受
17のための支持面を形成している。
外側領域へ盤状に広がっている。その盤の下側面5aに
は、光学表面の加工方法により1例えばラップ仕上によ
り、非常に平坦で正確な、感知ピン軸線に対し垂直な面
が作られており、この面が精密球17のための球走行面
5aとして役立つ。ハウジング6内の円板18が球軸受
17のための支持面を形成している。
この支持面18aは同様にラップ仕上によシ加工される
。球軸受17がホルダ5の球走行面5日、と支持面18
aの間をばねの初期応力により実際に隙間なく走る。そ
れで、X−Y−座標によシ定義される平面において感知
ピン4が隙間や摩擦なく偏位することが保証される。感
知ピン4がそのホルダ5によりこの平面における任意の
方向に偏位可能であるが、感知ピン4は十字り 4ン
ク6によシねじれないように阻止されている。
。球軸受17がホルダ5の球走行面5日、と支持面18
aの間をばねの初期応力により実際に隙間なく走る。そ
れで、X−Y−座標によシ定義される平面において感知
ピン4が隙間や摩擦なく偏位することが保証される。感
知ピン4がそのホルダ5によりこの平面における任意の
方向に偏位可能であるが、感知ピン4は十字り 4ン
ク6によシねじれないように阻止されている。
偏位運動が前述した長さ測定装置10と11によシ検出
され、そして場合によっては2一方向の偏位と共に−こ
れは測定装置8により記録される一ケーブル19を介し
て、周知の、それ故図示してない分析装置に伝送され、
そして盛会の場合には機械のための制御装置で処理され
る。
され、そして場合によっては2一方向の偏位と共に−こ
れは測定装置8により記録される一ケーブル19を介し
て、周知の、それ故図示してない分析装置に伝送され、
そして盛会の場合には機械のための制御装置で処理され
る。
偏位信号のだめの引出しケーブル19の代りに、当業者
であれば、無線伝送装置も設けることもできる。
であれば、無線伝送装置も設けることもできる。
X−Y一平面における偏位の正確な彷帰は、弾性状態に
取りつけられた球20[よシ行うことができ、球20は
円板18の下側面18bの円錐形の対向軸受21で自動
的に心出しされる。
取りつけられた球20[よシ行うことができ、球20は
円板18の下側面18bの円錐形の対向軸受21で自動
的に心出しされる。
それによシ、感知ピン4がそのホルダ5でX−Y−座標
系のゼロ点位置に常に正確に復帰する。
系のゼロ点位置に常に正確に復帰する。
当業者に周知の他の復帰装置を設けることができるのは
自明である。
自明である。
第1図値概略的に示した感知ヘッドの断面図、第2図は
第1図の線1−Iに沿って切断した断面図である。 1・・・感知ヘッド 4・・・感知ピン 5・・・ホルタ− 5a・・・ホルダの下側面 18・・・円板 18a・・・支持面
第1図の線1−Iに沿って切断した断面図である。 1・・・感知ヘッド 4・・・感知ピン 5・・・ホルタ− 5a・・・ホルダの下側面 18・・・円板 18a・・・支持面
Claims (10)
- (1) 多座標方向に偏位可能な少なくとも一つの感
知ピンと、感知ピンを座標ゼロ点位置に復帰させるため
の装置と、感知ピンの偏位を検出するだめの少なくとも
、一つの信号発生器とを有する多座標−感知ヘッドにお
いて、感知ピン(4)がホルダ(5,5a)と支持面(
18、18a)によシねじυ剛性をもってかつ非常に隙
間と阜擦がなく少なくとも一つの案内(5a、 I B
a )を二つの自由度(平面の案内)で案内されている
ことを特徴とする多座標−感知ヘッド。 - (2) 感知ピン(4)のために、平面の案内(5a
。 18a)と、これに対し垂直に配置された直線案内(6
)との組合わせが設けられている、特許請求の範囲第1
項記載の多座標−感知ヘッド。 - (3) 多座標装置について感知ピンの偏位を検出す
るために電気的な信号発生器(8,10,11)が設け
られている、特許請求の範囲第1項記載の多座標−感知
ヘッド。 - (4) 電気的信号発生器(8,10,11)が光電
的長さ測定装置として形成されている、特許請求の範囲
第1項から第3項までのうちのいずれか一つに記載の多
座標−感知ヘッド。 - (5)光電的長さ測定装置(10,11)の測定スケ−
JV(12,15)が平面の格子として形成されている
1%許請求の範囲第4項記載の多座標−感知ヘッド。 - (6) 感知ピン(4)のねじυ保護装置がリンク案
内(16)により形成される。特許請求の範囲第1項記
載の多座標−感知ヘッド。 - (7) ホルダ(5)と支持面(18Jの間に応力下
に存在する球07)によシ隙間と摩擦をなくした1、特
許請求の範囲第1項記載の多座標−感知ヘッド。 - (8)ホルダ(5)の球走行面(5a)と支持面(IO
2,)が光学表面を加工する方法によシ作られる、特許
請求の範囲第1項まだは第7項記載の多座標−感知ヘッ
ド。 - (9)直線案内(6)が精密球案内である、特許請求の
範囲第2項記載の多座標−感知ヘッド。 - (10) X −Y平面における復帰装置が、ばねで
相互に負荷された二つの要素の円錐形の部分面の間に存
在する球(2のにより形成される、特許請求の範囲第1
項に記載の多座標−感知ヘッド。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3234471A DE3234471C1 (de) | 1982-09-17 | 1982-09-17 | Mehrkoordinaten-Tastkopf |
DE32344716 | 1982-09-17 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5973704A true JPS5973704A (ja) | 1984-04-26 |
Family
ID=6173453
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58169493A Pending JPS5973704A (ja) | 1982-09-17 | 1983-09-16 | 多座標−感知ヘツド |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4530159A (ja) |
EP (1) | EP0106033A3 (ja) |
JP (1) | JPS5973704A (ja) |
DE (1) | DE3234471C1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60183809U (ja) * | 1984-05-16 | 1985-12-06 | 本田技研工業株式会社 | 位置検出器 |
Families Citing this family (45)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IT1164275B (it) * | 1983-06-09 | 1987-04-08 | Mecof Spa | Tastatore tridimensionale |
JPS617402A (ja) * | 1984-06-21 | 1986-01-14 | Sotsukishiya:Kk | 位置検出装置 |
DE3427413C1 (de) * | 1984-07-25 | 1986-01-02 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Tasteinrichtung |
DE3546889C2 (de) * | 1984-08-18 | 1994-05-11 | Mitutoyo Mfg Co Ltd | Tastervorrichtung für Oberflächen |
JPS6150007A (ja) * | 1984-08-18 | 1986-03-12 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | 表面形状測定用トレ−サ |
JPH0617766B2 (ja) * | 1984-08-23 | 1994-03-09 | 株式会社ミツトヨ | タッチ信号プロ−ブ |
DE3523188A1 (de) * | 1985-06-28 | 1987-01-08 | Zeiss Carl Fa | Steuerung fuer koordinatenmessgeraete |
US4752166A (en) * | 1987-01-02 | 1988-06-21 | Manuflex Corp. | Probing device |
US5154002A (en) * | 1987-02-26 | 1992-10-13 | Klaus Ulbrich | Probe, motion guiding device, position sensing apparatus, and position sensing method |
US4778313A (en) * | 1987-05-18 | 1988-10-18 | Manuflex Corp. | Intelligent tool system |
US4882848A (en) * | 1987-07-30 | 1989-11-28 | Carl-Zeiss-Stiftung, Heidenheim/Brenz | Probe head for a coordinate-measuring instrument |
GB2208934B (en) * | 1987-08-24 | 1991-05-15 | Mitutoyo Corp | Surface contour measuring tracer |
CH674485A5 (ja) * | 1988-03-11 | 1990-06-15 | Saphirwerk Ind Prod | |
WO1990004149A1 (en) * | 1988-10-11 | 1990-04-19 | Renishaw Plc | Measurement probe for position determining apparatus |
JPH0789045B2 (ja) * | 1988-12-15 | 1995-09-27 | 富山県 | 三次元変位量測定器 |
JPH0289311U (ja) * | 1988-12-28 | 1990-07-16 | ||
US5390424A (en) * | 1990-01-25 | 1995-02-21 | Renishaw Metrology Limited | Analogue probe |
GB9001682D0 (en) * | 1990-01-25 | 1990-03-28 | Renishaw Plc | Position sensing probe |
US5491904A (en) * | 1990-02-23 | 1996-02-20 | Mcmurtry; David R. | Touch probe |
DE59104989D1 (de) * | 1990-10-05 | 1995-04-27 | Ferag Ag | Dickenmessung an Druckprodukten in einem Schuppenstrom. |
DE4038698C2 (de) * | 1990-12-05 | 1994-02-10 | Widia Heinlein Gmbh | Meßvorrichtung |
US5390423A (en) * | 1991-01-22 | 1995-02-21 | Renishaw Plc | Analogue probe |
GB9111382D0 (en) * | 1991-05-25 | 1991-07-17 | Renishaw Metrology Ltd | Improvements in measuring probes |
DE4216215A1 (de) * | 1992-05-06 | 1994-01-20 | Max Hobe | Tastfühler |
DE4225533A1 (de) * | 1992-08-01 | 1994-02-03 | Hottinger Messtechnik Baldwin | Elektrischer Wegsensor |
DE4308823C2 (de) * | 1993-03-19 | 2002-11-07 | Zeiss Carl | Messender Tastkopf für Koordinatenmeßgeräte |
DE4325744C1 (de) * | 1993-07-31 | 1994-12-15 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Mehrkoordinaten-Tastkopf |
JPH07151520A (ja) * | 1993-11-30 | 1995-06-16 | Juki Corp | 厚み検出装置 |
DE4439578C1 (de) * | 1994-11-05 | 1996-02-08 | Leitz Mestechnik Gmbh | Verfahren zum Auswerten von Sensorsignalen sowie Tastkopf zur Durchführung des Verfahrens |
JP3474402B2 (ja) * | 1997-07-17 | 2003-12-08 | 株式会社ミツトヨ | 測定器 |
DE19816827B4 (de) | 1998-04-16 | 2009-06-18 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Vormontierte Winkelmeßvorrichtung |
EP0978708B1 (de) | 1998-08-01 | 2005-10-05 | Dr. Johannes Heidenhain GmbH | Rotatorische Positionsmesseinrichtung |
US6178653B1 (en) * | 1998-11-20 | 2001-01-30 | Lucent Technologies Inc. | Probe tip locator |
US6425189B1 (en) * | 1998-11-20 | 2002-07-30 | Agere Systems Guardian Corp. | Probe tip locator having improved marker arrangement for reduced bit encoding error |
DE19904471B4 (de) | 1999-02-04 | 2011-03-31 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Drehgeber |
DE19907326B4 (de) | 1999-02-20 | 2013-04-04 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Winkelmeßsystem |
GB9907643D0 (en) * | 1999-04-06 | 1999-05-26 | Renishaw Plc | Measuring probe |
DE19929557B4 (de) | 1999-06-18 | 2006-01-19 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Verfahren und Schaltkreis zur Einstellung einer Schaltschwelle eines Tastschalters |
DE10108774A1 (de) * | 2001-02-23 | 2002-09-05 | Zeiss Carl | Koordinatenmessgerät zum Antasten eines Werkstücks, Tastkopf für ein Koordinatenmessgerät und Verfahren zum Betrieb eines Koordinatenmessgerätes |
FR2829571A1 (fr) * | 2001-09-11 | 2003-03-14 | Ms Mesure | Systeme et procede de metrologie tridimensionnelle, et micro-machine de mesure mise en oeuvre dans ce systeme |
GB0228368D0 (en) * | 2002-12-05 | 2003-01-08 | Renishaw Plc | Probe for high speed scanning |
DE10312789A1 (de) | 2003-03-21 | 2004-10-07 | Stephan Huber | Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen einer Länge oder Form eines Werkstücks |
FR3021106B1 (fr) * | 2014-05-16 | 2016-05-13 | Sa Ateliers Cini | Dispositif de controle d'une position d'un trou realise dans une piece. |
CN105509606B (zh) * | 2015-12-25 | 2018-03-09 | 辽宁辽旭汽车自动化装备有限公司 | 一种零件开口尺寸及位置度的检测装置 |
CN110405249A (zh) * | 2019-09-03 | 2019-11-05 | 朗美(厦门)健身器材有限公司 | 自动寻位钻孔机及其自动寻位钻孔方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58124902A (ja) * | 1982-01-22 | 1983-07-25 | Osaka Kiko Co Ltd | 三軸変位検出器 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE8210960U1 (de) * | 1982-09-16 | A. Rohé GmbH, 6050 Offenbach | Drehuntersatz für Achsmeßgeräte | |
DE908350C (de) * | 1951-08-19 | 1954-04-05 | Hanns Fickert | Selbsttaetige Einrichtung zum Abtsten und Nachformen eines Modells |
BE531422A (ja) * | 1953-09-08 | |||
US2880958A (en) * | 1954-01-15 | 1959-04-07 | United Tool & Die Company | Tracer controlled hydraulic valve |
DE1548326A1 (de) * | 1966-02-04 | 1970-07-02 | Erhard Staedele | Null-Tasteinrichtung fuer Werkzeugmaschinen |
US3571934A (en) * | 1968-06-24 | 1971-03-23 | Lockheed Aircraft Corp | Three-axis inspection probe |
US3673695A (en) * | 1970-05-22 | 1972-07-04 | Rohr Corp | Non-tilting probe |
DE2242355C2 (de) * | 1972-08-29 | 1974-10-17 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Elektronischer Mehrkoordinatentaster |
US3922791A (en) * | 1974-09-16 | 1975-12-02 | Westinghouse Electric Corp | Profile indicating apparatus displaceable either along an axis or in a plane perpendicular thereto |
US3957378A (en) * | 1974-11-25 | 1976-05-18 | The Bendix Corporation | Two-axis moire fringe displacement transducer |
US3991477A (en) * | 1975-07-22 | 1976-11-16 | The Bendix Corporation | Probe for a coordinate measuring machine |
DE2535249A1 (de) * | 1975-08-07 | 1977-02-24 | Ver Flugtechnische Werke | Messkopf fuer eine messmaschine |
GB1597842A (en) * | 1977-02-07 | 1981-09-09 | Rolls Royce | Indexing mechanism |
DE2712181C3 (de) * | 1977-03-19 | 1981-01-22 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Tastsystem |
GB1599758A (en) * | 1978-02-10 | 1981-10-07 | Lk Tool Co Ltd | Measuring machine |
DD141197A1 (de) * | 1978-12-27 | 1980-04-16 | Horst Donat | Koordinatentastkopf zum antasten mehrdimensionaler werkstuecke |
DE7900134U1 (de) * | 1979-01-04 | 1979-04-26 | Schnabel, Walter, 7141 Schwieberdingen | Dochttraeger |
JPS5920642Y2 (ja) * | 1979-08-28 | 1984-06-15 | 株式会社 三豊製作所 | タツチ信号プロ−ブ |
DE2946271A1 (de) * | 1979-11-16 | 1981-05-27 | Vereinigte Flugtechnische Werke Gmbh, 2800 Bremen | Messkopf fuer eine messmaschine |
DE3149278C2 (de) * | 1981-05-30 | 1984-04-19 | Daimler-Benz Ag, 7000 Stuttgart | "Kampakte Meßtasteinrichtung" |
-
1982
- 1982-09-17 DE DE3234471A patent/DE3234471C1/de not_active Expired
-
1983
- 1983-07-21 EP EP83107130A patent/EP0106033A3/de not_active Withdrawn
- 1983-09-12 US US06/531,422 patent/US4530159A/en not_active Expired - Fee Related
- 1983-09-16 JP JP58169493A patent/JPS5973704A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58124902A (ja) * | 1982-01-22 | 1983-07-25 | Osaka Kiko Co Ltd | 三軸変位検出器 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60183809U (ja) * | 1984-05-16 | 1985-12-06 | 本田技研工業株式会社 | 位置検出器 |
JPH0346327Y2 (ja) * | 1984-05-16 | 1991-09-30 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3234471C1 (de) | 1983-08-25 |
EP0106033A3 (de) | 1985-09-25 |
EP0106033A2 (de) | 1984-04-25 |
US4530159A (en) | 1985-07-23 |
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