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JP6512971B2 - 電子写真用部材、現像装置及び画像形成装置 - Google Patents

電子写真用部材、現像装置及び画像形成装置 Download PDF

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JP6512971B2 JP2015138018A JP2015138018A JP6512971B2 JP 6512971 B2 JP6512971 B2 JP 6512971B2 JP 2015138018 A JP2015138018 A JP 2015138018A JP 2015138018 A JP2015138018 A JP 2015138018A JP 6512971 B2 JP6512971 B2 JP 6512971B2
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Description

本発明は電子写真法を利用した電子写真用部材、現像装置及び画像形成装置に関する。
近年、電子写真法を用いた画像形成装置に対しては、長期間に亘る使用によっても形成される電子写真画像の品位が低下し難いこと、及び、画像品位の経時的な変化が少ないことがユーザーから求められている。ところで、高品位な電子写真画像を得るためには、非画像部へのトナー付着(以下、「カブリ」と称する)を抑制することが重要である。「カブリ」とは、現像剤が本来の帯電極性とは逆の極性に帯電されることにより、本来現像されるべきではない非画像部に現像剤が付着する現象をいう。なお、以降、本来の帯電極性とは逆の極性に帯電した現像剤を「反転現像剤」とも称する。
このような「カブリ」を抑制するために、現像部材に求められる特性としては、反転現像剤の発生を抑制するための高い帯電付与性を有すること、及び、帯電した現像剤の電荷を現像するまでに減衰させない高い電気抵抗値を有することである。また、「カブリ」の抑制に関して、帯電部材に求められる特性としては、転写工程終了後に、感光体上に残る反転現像剤を、感光体上から現像器内へ戻すべく、反転した極性を本来の極性に帯電させ得る帯電性を有することである。このような帯電部材の特性は、感光体のクリーニング機構がない場合、特に有用である。なぜなら、感光体のクリーニング機構がない場合は、転写されずに感光体上に残った現像剤のすべてが帯電部材を通過することになり、現像器内へ現像剤を戻すことができない。その結果、次の現像工程での非画像部に現像剤が残ってしまい、カブリが発生することになるためである。
また、上記したような現像部材や帯電部材への要求特性から、これらの部材の表面への現像剤の付着は、これらの部材が果たすべき効果を発揮させにくくするものである。そのため、これらの部材の表面への現像剤の付着を抑える高潤滑性という特性も必要とされる。ここで、特許文献1には、Si−O−Sr結合やSi−O−Ta結合を有する高分子化合物を表層に用いることで緻密な架橋構造を有し、高潤滑性を有する現像部材が開示されている。
特開2012−83595号公報
しかしながら、本発明者らの検討によれば、特許文献1に係る現像部材は、現像剤に対する帯電付与性が十分ではなく、未だ改善の余地があるものであった。本発明は、カブリの発生を抑制し、長期間にわたって高品位な画像を出力することが可能な電子写真用部材の提供に向けたものである。また、本発明は、高品位な電子写真画像の形成が可能な現像装置および画像形成装置の提供に向けたものである。
本発明の一態様によれば、基体と、この基体の外周に直接もしくは他の層を介して形成された最外層とを有する電子写真用部材であって、該最外層は少なくともSi−O−Al結合を有している高分子化合物を含み、該高分子化合物は、下記一般式(1)で示される構成単位および下記一般式(2)で示される構成単位を有している電子写真用部材が提供される。
Figure 0006512971
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一般式(1)中、R及びRは各々独立に以下の一般式(3)〜(6)の何れかを示す。
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一般式(3)〜(6)中、R〜R、R10〜R14、R19、R20、R25及びR26は、各々独立に水素、炭素数1〜4のアルキル基、水酸基、カルボキシル基、またはアミノ基を示す。R、R、R15〜R18、R23、R24及びR29〜R32は、各々独立に水素又は炭素数1〜4のアルキル基を示す。R21、R22、R27及びR28は、各々独立に水素、炭素数1〜4のアルコキシル基または炭素数1〜4のアルキル基を示す。n、m、l、q、s及びtは、各々独立に1以上8以下の整数を示し、p及びrは、各々独立に4以上12以下の整数を示し、x及びyは、各々独立に0もしくは1を示す。*及び**は、各々一般式(1)中のケイ素原子及び酸素原子との結合位置を示す。
また、本発明の他の態様によれば、現像部材として前記電子写真用部材を有する現像装置、およびこの現像装置を有する画像形成装置が提供される。
本発明によれば、カブリの発生を抑制し、長期間にわたって高品位な画像を出力することが可能な電子写真用部材を得ることができる。また、本発明によれば、高品位な電子写真画像の形成に資する現像装置および画像形成装置を得ることができる。
本発明に係る現像部材の一例を示す概略構成図である。 本発明に係る現像部材の別の一例を示す概略構成図である。 本発明に係る電子写真用部材を使用した現像装置の一例を示す概略構成図である。 本発明に係る電子写真用部材を使用した画像形成装置の一例を示す概略構成図である。
本発明者らは、上記特許文献1に係る現像部材の有する課題に鑑み、更なる検討を行った。その結果、帯電付与性の高いアルミナ構造を構造中に有する化合物を含む層が、現像剤への帯電付与性が高く、また、高い電気抵抗値を有するため、帯電した現像剤の電荷の減衰を抑制できることを見出した。また、シロキサン構造に由来する高分子構造を有するため、当該層の表面の潤滑性が高く、現像剤の融着を良く抑制し得ることを見出した。本発明は、かかる知見に基づきなされたものである。
〔電子写真用部材〕
本発明に係る電子写真用部材は、電子写真方式を利用した画像形成装置に用いる部材として使用することができる。具体的には、感光ドラム上に形成された潜像を現像して顕像化するための現像部材、あるいは、感光ドラムに当接して帯電させるための帯電部材として好適に用いることができる。また、転写部材、除電部材や搬送部材としても使用可能である。本発明の電子写真用部材の形状は、例えば、ローラ形状やベルト形状とすることができる。
以下、本発明の電子写真用部材の実施形態として、ローラ形状の現像部材を例に挙げて説明を行うが、本発明はその用途をこれに限定するものではない。本発明に係る現像部材は、図1あるいは図2に示すように、基体と、基体の外周に直接もしくは他の層を介して形成された最外層から成る。
〔基体〕
基体は、現像部材の電極および支持部材として機能する部材であって、アルミニウム、銅合金、ステンレス鋼の如き金属または合金、クロム、又はニッケルで鍍金処理を施した鉄、導電性を有する合成樹脂の如き導電性の材質で構成される。
〔他の層〕
電子写真装置に用いられる現像方式は、現像部材が感光ドラムと当接して現像する接触現像方式と、現像部材が感光ドラムと数百μmのすき間を設けて配置されて電界の作用のみで現像する非接触現像方式とに大別される。接触現像方式では基体の外周に他の層を介して最外層を形成した構成の現像部材が好適に用いられ、非接触現像方式では基体の外周に直接最外層を形成した構成の現像部材が好適に用いられる。他の層としては、例えば弾性層および凹凸付与層が挙げられる。
[弾性層]
弾性層は、現像部材と感光ドラムとの当接部において、所定の幅のニップを形成するために必要な弾性を現像部材に与えるものである。弾性層は、通常ゴム材の成型体により形成されることが好ましい。ゴム材料としては以下のものが挙げられる。エチレン−プロピレン−ジエン共重合ゴム(EPDM)、アクリロニトリル−ブタジエンゴム(NBR)、クロロプレンゴム(CR)、天然ゴム(NR)、イソプレンゴム(IR)、スチレン−ブタジエンゴム(SBR)、フッ素ゴム、シリコーンゴム、エピクロロヒドリンゴム、NBRの水素化物、ウレタンゴム。これらは単独であるいは2種以上を組み合わせて用いることができる。
これらの中でも、特に、長期間にわたり他の部材(現像剤規制ブレード等)が当接した場合にも圧縮永久歪みを弾性層に生じさせにくいシリコーンゴムが好ましい。シリコーンゴムとしては、付加硬化型のシリコーンゴムの硬化物などが挙げられる。更に言えば、後述する表面層との接着性が優れることから、付加硬化型ジメチルシリコーンゴムの硬化物であることが特に好ましい。
弾性層中には、導電性付与剤、非導電性充填剤、導電性充填剤、架橋剤、触媒の如き各種添加剤が適宜配合される。導電性付与剤としては、カーボンブラック、アルミニウム、銅の如き導電性金属、酸化亜鉛、酸化錫、酸化チタンの如き導電性金属酸化物の微粒子を用いることができる。このうち、カーボンブラックは比較的容易に入手でき、良好な導電性が得られるので特に好ましい。導電性付与剤としてカーボンブラックを用いる場合は、ゴム材料100質量部に対してカーボンブラック2〜50質量部が配合される。非導電性充填剤としては、シリカ、石英粉末、酸化チタン、酸化亜鉛又は炭酸カルシウムが挙げられる。架橋剤としては、ジ−t−ブチルパ−オキサイド、2,5−ジメチル−2,5−ジ(t−ブチルパ−オキシ)ヘキサン又はジクミルパーオキサイドが挙げられる。
[凹凸付与層]
凹凸付与層は、現像部材の最表面に凹凸を付与し、必要な量の現像剤を現像部材の表面に担持させる役割を有する。この層は、例えば、後述する最外層の厚みが薄い構成の現像部材であって、最外層の表面に凹凸を付与することが困難な場合に設けることが好ましい。
凹凸を付与する手段としては、球状の粒子が好適に用いられ、該球状粒子の体積平均粒径は3〜20μmであることが好ましい。球状粒子の例としては、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリエーテル樹脂、ポリアミド樹脂、アクリル樹脂、フェノール樹脂の微粒子が挙げられる。この凹凸を付与する球状粒子を結着させる樹脂としては、例えば以下の樹脂が挙げられる。フェノール系樹脂、エポキシ系樹脂、ポリアミド系樹脂、ポリエステル系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、ポリオレフィン系樹脂、シリコーン系樹脂、フッ素系樹脂、スチレン系樹脂、ビニル系樹脂、セルロース系樹脂、メラミン系樹脂、尿素系樹脂、ポリウレタン系樹脂、ポリイミド系樹脂、アクリル樹脂。また、凹凸付与層に、最外層の体積抵抗値を調整するために導電性粒子を添加することもできる。好適に用いられる導電性粒子としては、例えば以下の材料の粒子が挙げられる。アルミニウム、銅、ニッケル、銀の如き金属粉体;酸化アンチモン、酸化インジウム、酸化スズの如き金属酸化物;カーボンファイバー、カーボンブラック、グラファイトの如き炭素物。
〔最外層〕
本発明に係る現像部材の最外層は、少なくともSi−O−Al結合を有している高分子化合物を含み、該高分子化合物は、下記一般式(1)で示される構成単位および下記一般式(2)で示される構成単位を有していることが特徴である。
Figure 0006512971
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一般式(1)中、R及びRは、各々独立に以下の一般式(3)〜(6)の何れかを示す。
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一般式(3)〜(6)中、R〜R、R10〜R14、R19、R20、R25及びR26は、各々独立に水素、炭素数1〜4のアルキル基、水酸基、カルボキシル基、またはアミノ基を示す。R、R、R15〜R18、R23、R24及びR29〜R32は、各々独立に水素又は炭素数1〜4のアルキル基を示す。R21、R22、R27及びR28は、各々独立に水素、炭素数1〜4のアルコキシル基または炭素数1〜4のアルキル基を示す。n、m、l、q、s及びtは、各々独立に1以上8以下の整数を示し、p及びrは、各々独立に4以上12以下の整数を示し、x及びyは、各々独立に0もしくは1を示す。*及び**は、各々一般式(1)中のケイ素原子及び酸素原子との結合位置を示す。
前記高分子化合物における一般式(1)のR及びRとしては、各々独立に下記一般式(7)〜(10)で示される構造から選ばれる何れかであることが好ましい。この場合、高分子化合物中に有機鎖が存在することで、最外層の弾性率の制御、あるいは最外層の膜特性としてのもろさや柔軟性の制御が可能となる。また有機鎖の構造として、特にエーテル部位が存在すると、最外層の弾性層への密着性が向上するため好ましい。
Figure 0006512971
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一般式(7)〜(10)において、N、M、L、Q、SおよびTは、各々独立に1以上、8以下の整数を示す。x’およびy’は、各々独立に0又は1を示す。*は一般式(1)中のケイ素原子への結合位置を示し、**は酸素原子への結合位置を示す。
本発明に係る高分子化合物の一例として、一般式(1)中のRが一般式(3)で示す構造であり、Rが一般式(4)で示す構造であるときの高分子化合物の構造の一部を一般式(11)に示す。
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本発明に係る高分子化合物は、分子内に、有機鎖部分を有すると共に、Al−O−Si結合を有する。このことにより、非常に緻密な架橋構造を有するものと考えられる。この緻密な架橋構造によって、高分子化合物の電気抵抗値が高くなり、現像部材の最外層の表面から内部への電荷の流れが抑制される。そのため、帯電した現像剤の電荷が現像部材の表面に留まりやすくなり、感光体へ現像するまでの現像部材上の電荷の減衰を抑制することができる。
このような最外層の体積抵抗率の好ましい範囲は、1010Ω・cm以上1015Ω・cm以下である。この範囲内であると、現像部材の表面の現像剤の電荷が保持され、カブリの抑制を効果的に発現させることができる。
本発明に係る高分子化合物は、金属元素としてアルミニウムを含有する。アルミニウムは、ストロンチウムやタンタルなど従来このような高分子化合物に含有されていた金属元素に比べて現像剤への帯電付与能が非常に高い。アルミニウムが高分子化合物中に存在することから、現像剤への帯電付与能が劇的に向上し、反転現像剤の発生が抑えられカブリが良化することになる。
さらに、本発明に係る高分子化合物は、シロキサン結合に有機基を持つオルガノシロキサン構造を有する。このようなオルガノシロキサン構造によって、高分子化合物の潤滑性が高まり、現像部材の表面の摩擦係数を低く抑えることができる。これによって、長期間の使用によっても現像部材への現像剤の融着が抑えられ、安定した帯電付与性を得ることができる。
前記高分子化合物に含有されるアルミニウムとケイ素の原子数比Al/Siは0.10以上12.5以下であることが好ましい。この範囲内であると、アルミニウムに由来する効果である帯電付与性とシロキサン構造に由来する高潤滑性を十分に発揮することができる。
前記高分子化合物を有する最外層の膜厚としては0.1μm以上10.0μm以下であることが好ましい。最外層の膜厚が凹凸を付与する粒子を保持できる厚みである場合、最外層中に凹凸付与粒子を添加して最外層の表面に凹凸を付与することもできる。
〔最外層に用いられる高分子化合物の製造方法〕
上記高分子化合物を製造する方法の一例として、以下の工程(1)〜(3)による方法を挙げることができる。
工程(1):加水分解反応及び縮合反応により縮合物を調製する工程。
工程(2):前記縮合物を含む液中に光重合開始剤を添加して最外層形成用塗料を調製する工程。
工程(3):最外層形成用塗料の塗膜を形成し、縮合物を架橋硬化させて高分子化合物を生成する工程。
以下、これらの工程(1)〜(3)を順次説明する。
工程(1):
下記一般式(12)で示される第1の加水分解性シラン化合物、下記一般式(13)で示される第2の加水分解性シラン化合物及び下記一般式(14)で示される加水分解性アルミニウム化合物と水、アルコールを加熱還流させて、加水分解縮合反応の生成物である縮合物を含有する反応液を得る。ここで、一般式(13)で示される第2の加水分解性シラン化合物は、必須成分ではなく、任意成分として用いられる。
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一般式(12)中、R33は活性エネルギー線により架橋を形成し得るカチオン重合可能な基を有する下記一般式(15)〜(18)で示される構造から選ばれる何れかを示す。また、R34は炭素数1〜4のアルキル基を示し、一般式(12)中R34は3つ存在するが、同一化合物においてこれらは同一でも、異なっていてもよい。
Figure 0006512971
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一般式(15)〜(18)中、R42〜R44、R47〜R49、R54、55、R60およびR61は、各々独立して水素、炭素数1〜4のアルキル基、水酸基、カルボキシル基またはアミノ基を示す。R45、R46、R50〜R53、R58、R59およびR64〜R67は、各々独立して水素、炭素数1〜4の直鎖状若しくは分岐状のアルキル基を示す。R56、R57、R62およびR63は、各々独立して水素、炭素数1〜4のアルコキシル基または炭素数1〜4の直鎖状若しくは分岐状のアルキル基を示す。
また、CR4546、CR5051、CR5253、CR5859、CR6465及びCR6667はカルボニル基でもよい。更に、R42、R43、R44、及び(CR4546)n’中の炭素の少なくともいずれか2つ、R47、R48、R49、若しくは(CR5051)m’中の炭素の少なくともいずれか2つは共同してシクロアルカンを形成してもよい。また、R54とR55、または、R60とR61は共同してシクロアルカンを形成してもよい。
n’、m’、l’、q’、s’およびt’は各々独立して1以上、8以下の整数を示す。p’およびr’は、各々独立して4以上、12以下の整数を示す。また、*は、一般式(12)のケイ素原子との結合位置を示す。n’、m’、l’、q’、s’およびt’は、各々独立して1以上、8以下の整数を示し、p’およびr’は、各々独立して4以上、12以下の整数を示す。
一般式(12)で示される第1の加水分解性シラン化合物として、具体的には以下のものを用いることができる。4−(1,2−エポキシブチル)トリメトキシシラン、5,6−エポキシヘキシルトリエトキシシラン、8−オキシラン−2−イルオクチルトリメトキシシラン、8−オキシラン−2−イルオクチルトリエトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、1−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、1−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリエトキシシラン、3−(3,4−エポキシシクロヘキシル)メチルオキシプロピルトリメトキシシラン、3−(3,4−エポキシシクロヘキシル)メチルオキシプロピルトリエトキシシラン。
一般式(13)で示される第2の加水分解性シラン化合物は、加水分解縮合反応において、一般式(12)又は一般式(14)の加水分解性化合物の溶解性を向上させ、加水分解縮合物の塗工性を向上させ、加水分解縮合物の硬化物の電気特性を向上させ得る。一般式(13)中、R35は炭素数1〜4のアルキル基、またはフェニル基を示し、R36は炭素数1〜6のアルキル基を示す。式中、R36は3つ存在するが、一つの化合物においてこれらは同一でも、異なっていてもよい。特に、R35がアルキル基の場合、加水分解性化合物の溶解性、塗工性が良好であり、また、R35がフェニル基の場合は、加水分解縮合物の硬化物の電気特性、特に体積抵抗率が向上する。また、R35がフェニル基である加水分解性シラン化合物を含む場合、R35がアルキル基を有する加水分解性シラン化合物と併用することが、加水分解縮合反応を通して化合物の構造が変化しても、生成物は溶媒との相溶性が良好であることから、好ましい。
一般式(13)で示される第2の加水分解性シラン化合物として、具体的には以下のものを用いることができる。メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、メチルトリプロポキシシラン、エチルトリメトキシシラン、エチルトリエトキシシラン、エチルトリプロポキシシラン、プロピルトリメトキシシラン、プロピルトリエトキシシラン、プロピルトリプロポキシシラン、ヘキシルトリメトキシシラン、ヘキシルトリエトキシシラン、ヘキシルトリプロポキシシラン、デシルトリメトキシシラン、デシルトリエトキシシラン、デシルトリプロポキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、フェニルトリプロポキシシラン。
一般式(14)で示される加水分解性アルミニウム化合物において、R37は炭素数1〜9のアルキル基を示す。同一式中3つのR37を有するが、これらは同一でも、異なっていてもよい。具体的には、アルミニウムイソプロポキシド、アルミニウムメトキシド等を用いることができる。
上記加水分解性化合物の加水分解縮合反応に用いる水の量(Wモル)は、反応系に存在する上記加水分解性化合物の加水分解部位の全モル数をZモルとしたとき、モル比W/Zの値が、0.20以上3.0以下となる範囲内であることが好ましい。W/Zの値は、より好ましくは0.40以上2.0以下である。W/Zの値が0.20以上であれば、縮合反応が十分行われ、未反応のモノマーが残存するのを抑制できる。W/Zの値が3.0以下であれば、縮合反応を適正に制御し、加水分解性化合物とアルコールとの相溶性を向上させ、一般式(12)中のエポキシ基の開環を抑制し、また、反応生成物とアルコールとの相溶性が低下するのを抑制し、白濁化や沈殿の発生を抑制することができる。
上記加水分解性化合物の加水分解縮合反応に用いるアルコールは、加水分解縮合反応の縮合物を相溶させるために用いられる。アルコールとしては、第1級アルコール、第2級アルコール、第3級アルコール、第1級アルコールと第2級アルコールの混合系、又は第1級アルコールと第3級アルコールの混合系を用いることが好ましい。特に、エタノール、メタノールと2−ブタノールの混合系、エタノールと2−ブタノールの混合系が、使用する加水分解性化合物の溶解性がよいことから、好ましい。これらの加水分解性化合物を混合し、適宜加熱して加水分解縮合反応を進行させて、反応生成物としての縮合物を含有する反応液を得ることができる。
工程(2):
工程(2)は、工程(1)により得られた縮合物を含有する反応液中に、光重合開始剤を添加して最外層形成用塗料を調製する工程である。
光重合開始剤は、得られた縮合物を光照射により効率よく架橋させるものであることが好ましい。光重合開始剤としては、カチオン重合開始剤を用いることが好ましい。例えば、活性エネルギー線によって賦活化されるルイス酸のオニウム塩に対してエポキシ基は高い反応性を示す。よって、上記のカチオン重合可能な基がエポキシ基である場合、カチオン重合開始剤としては、ルイス酸のオニウム塩を用いることが好ましい。その他のカチオン重合開始剤としては、例えば、ボレート塩、イミド構造を有する化合物、トリアジン構造を有する化合物、アゾ化合物、過酸化物が挙げられる。
各種カチオン重合開始剤の中でも、感度、安定性および反応性の観点から、芳香族スルホニウム塩や芳香族ヨードニウム塩が好ましい。特に、ビス(4−tert−ブチルフェニル)ヨードニウム塩や、下記一般式(19)で示される構造を有する化合物(商品名:アデカオプトマ−SP150、旭電化工業株式会社製)が好ましい。また、下記一般式(20)で示される化合物(商品名:イルガキュア261、チバスペシャルティーケミカルズ社製)も好適に用いることができる。
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Figure 0006512971
光重合開始剤の使用量は、一般式(12)〜(14)で示される加水分解性化合物から得られる縮合物100質量部に対して、1.0質量部以上、5.0質量部以下の範囲内であることが好ましい。光重合開始剤の使用量が1.0質量部以上であれば紫外線による硬化を充分に行うことができ、5.0質量部以下であれば光重合開始剤の縮合反応液への溶解を容易に行うことができる。
最外層形成用塗料には、その他、表面に凹凸を形成する粒子等、必要に応じて添加剤を添加することができる。これらの添加剤は工程(1)により得られた縮合物を含有する反応液に添加し、ボールミル、サンドミル、アトライター、ビーズミル等の分散装置や、衝突型微粒化法や薄膜旋回法を利用した分散装置を利用して分散させることができる。
工程(3):
工程(3)は、最外層形成用塗料の塗膜を形成し、縮合物を架橋硬化させて本発明に係る高分子化合物を生成する工程である。塗膜を形成する方法としては、スプレー塗布、ロールコーターを用いた塗布等の公知の方法を使用することができる。
上記方法により基体の外周に直接、若しくは他の層が存在している上に最外層形成用塗料を塗布して形成した塗膜中で、縮合物間に架橋を形成する。架橋は、熱硬化や活性エネルギー線照射により形成することができるが、活性エネルギー線照射により光重合開始剤の存在下で縮合物中のエポキシ環を開環し、架橋反応を進行させることが好ましい。縮合物の架橋反応によって本発明に係る高分子化合物が生成される。使用する活性エネルギー線としては、紫外線が、低温で光重合開始剤のラジカルを発生させ、架橋反応を進行させることができることから、好ましい。低温で架橋反応を進行させることにより、塗膜から溶剤が急速に揮発するのを抑制し、塗膜に相分離、シワが発生するのを抑制し、基材との密着強度が高い最外層を形成することができる。
紫外線の供給源としては、高圧水銀ランプ、メタルハライドランプ、低圧水銀ランプ、エキシマUVランプ等を用いることができ、これらのうち、150nm以上480nm以下の波長の紫外線を供給するものが好ましい。紫外線は、照射時間、ランプ出力、ランプと塗膜層との間の距離によって、供給量を調整して照射することができ、また、照射時間内で紫外線の照射量に勾配をつけることもできる。紫外線の積算光量は、適宜選択することができる。紫外線の積算光量は以下の式から求めることができる。
紫外線積算光量[mJ/cm]=紫外線強度[mW/cm]×照射時間[s]
低圧水銀ランプを用いる場合、紫外線の積算光量は、ウシオ電機(株)製の紫外線積算光量計UIT−150−AやUVD−S254(いずれも商品名)を用いて測定することができる。また、エキシマUVランプを用いる場合、紫外線の積算光量は、ウシオ電機(株)製の紫外線積算光量計UIT−150−AやVUV−S172(いずれも商品名)を用いて測定することができる。
AlとSiの原子数比の測定は、測定装置として電子顕微鏡(商品名:S4800;日立製作所製)に付属のエネルギー分散型X線分析装置(EDAX社製)を用い、加速電圧10kV、取り込み時間100秒でAlとSiの原子比率(Atomic%)から算出することができる。
最外層の高分子化合物が一般式(1)の構造を有していること、及び、エポキシ基を有する加水分解性シラン化合物が縮合していることは、29Si−NMR測定、13C−NMR測定(使用装置:JMN−EX400、JEOL社)によって確認することができる。29Si−NMR測定で得られるスペクトルで−64ppm〜−74ppm付近に有機官能基との結合を1つ持つSiが、Oを介して他の原子との結合を3つ持つ状態、つまり−SiO3/2の状態であることが分かる。このことは、加水分解性シラン化合物が縮合し、−SiO3/2の状態で存在する種であることを示す。また13C−NMR測定で得られたスペクトルで開環前のエポキシ基を示すピークは44ppm、51ppm付近に現れ、開環重合後のピークは69ppm、72ppm付近に現れる。このことから、未開環のエポキシ基がほとんど残存せずに重合していることを確認できる。以上の29Si−NMR、13C−NMRの測定から、高分子化合物が一般式(1)の構造を有していることを確認できる。
また、最外層の高分子化合物が、一般式(2)で示される構成単位を有していることは、走査型X線光電子分光装置(使用装置:Quantum2000、アルバック・ファイ株式会社)を用い、525eV以上540eV以下に現れる酸素原子の1S軌道のメインピークの低エネルギー側にAl−Oのショルダーピークが現れることによって確認することができる。なお、下記に測定条件を示す。
X線源;モノクロAlKα
X線源の直径:100μm(25W(15KV))
光電子取り出し角:45度
中和条件:中和銃とイオン銃の併用
分析領域:300×1500μm
Pass Energy:11.75eV
ステップサイズ:0.05eV 。
〔現像装置および画像形成装置〕
本発明に係る現像装置及び画像形成装置について、図を用いて詳細に説明するが、本発明はこれらに限定されない。図3は、現像部材として本発明に係る電子写真部材を使用した現像装置の一例を示す概略構成図である。また、図4は、前記現像装置が組み込まれた画像形成装置の一例を示す概略構成図である。
図3又は図4において、静電潜像が形成された像担持体である静電潜像担持体5は、矢印R1方向に回転される。現像部材7は矢印R2方向に回転することによって、現像部材7と静電潜像担持体5とが対向している現像領域に現像剤19を搬送する。また、現像部材には現像剤供給部材8が接しており、現像部材7の表面に現像剤19を供給している。
静電潜像担持体5の周囲には帯電ローラ6、転写部材(転写ローラ)10、クリーナー容器11、クリーニングブレード12、定着器13、ピックアップローラ14等が設けられている。静電潜像担持体5は帯電ローラ6によって帯電される。そして、レーザー発生装置16によりレーザー光を静電潜像担持体5に照射することによって露光が行われ、目的の画像に対応した静電潜像が形成される。静電潜像担持体5上の静電潜像は現像器9内の現像剤で現像されて画像を得る。画像は転写材を介して静電潜像担持体5に当接された転写部材(転写ローラ)10により転写材(紙)15上へ転写される。画像を載せた転写材(紙)15は定着器13へ運ばれ転写材(紙)15上に定着される。また、静電潜像担持体5上に残された現像剤19はクリーニングブレード12によりかき落とされ、クリーナー容器11に収納される。
現像剤規制部材17が現像剤を介して現像部材7に当接する事によって現像部材上の現像剤層厚を規制する事が好ましい。現像部材に当接する現像剤規制部材としては、規制ブレードが一般的であり、本発明においても好適に使用できる。
上記規制ブレードを構成する材料としては、シリコーンゴム、ウレタンゴム、NBRの如きゴム弾性体;ポリエチレンテレフタレートの如き合成樹脂弾性体、リン青銅板、SUS板等の金属弾性体が使用でき、さらに、それらの複合体であっても良い。更に、現像剤の帯電性をコントロールする目的で、ゴム、合成樹脂、金属弾性体の如き弾性支持体に、樹脂、ゴム、金属酸化物、金属の如き帯電コントロール材料を貼り合わせた構造とすることもできる。この場合、規制ブレードは、帯電コントロール材料の部分が現像部材との当接部分となるように使用される。このような規制ブレードとしては、金属弾性体に樹脂またはゴムを貼り合わせたものが特に好ましい。これらの樹脂またはゴムとしては、ウレタンゴム、ウレタン樹脂、ポリアミド樹脂、ナイロン樹脂の如き正極性に帯電しやすいものが好ましい。
本発明の電子写真用部材は感光ドラムと当接して現像する接触型現像、感光ドラムと当接せずに現像する非接触型現像のいずれのシステムにおいても現像部材として使用することができる。さらに帯電部材としても良好に使用することができる。また、転写部材、除電部材や搬送部材としても使用可能である。
以下に具体的な製造例、実施例、比較例を挙げて本発明を説明する。尚、製造例1は現像剤Aの作製例、製造例2は弾性層1の作製例、製造例3は、中間層ローラの作製例である。製造例11〜17は、縮合物中間体C−1〜C−7の調製例であり、製造例21〜45は最外層用縮合物G−1〜G−25の調製例である。
実施例1〜17は、本発明の電子写真用部材を接触現像方式用現像部材として使用した例であり、実施例21〜24は、本発明の電子写真用部材を非接触現像方式用現像部材として使用した例である。また、実施例31〜34は本発明の電子写真用部材を帯電部材として使用した例である。
[1.膜厚の測定]
最外層、弾性層及び凹凸付与層の厚みの測定方法は以下の通りである。電子写真用部材の長手方向の両端から各20mm内側の位置および、中央位置の合計3箇所において、電子写真用部材を長手方向に対して垂直に切断する。その後、その断面を光学顕微鏡によって観察し、各層の厚みをランダムに10点測定する。これら測定によって得られた10点×3箇所の厚みを相加平均し、その値を厚みとする。
[2.AlとSiの原子数比の測定]
測定装置として電子顕微鏡(商品名:S4800;日立製作所製)に付属のエネルギー分散型X線分析装置(EDAX社製)を用い、加速電圧10kV、取り込み時間100秒でAlとSiの原子比率(Atomic%)から算出する。
[3.一般式(1)の構造の測定]
最外層の高分子化合物が、一般式(1)で示される構成単位を有していることは、29Si−NMR測定、及び、13C−NMR測定(使用装置:JMN−EX400、JEOL社)によって確認する。
[4.一般式(2)の構造の測定]
最外層の高分子化合物が、一般式(2)で示される構成単位を有していることは、走査型X線光電子分光装置(使用装置:Quantum2000、アルバック・ファイ株式会社)によって確認する。
〔製造例1〕現像剤Aの作製
下記表1に示す材料を含む混合物を還流(温度:146℃〜156℃)しているクメン200質量部中に4時間かけて滴下し、クメン還流下で溶液重合を完了させ、減圧下で200℃まで昇温させながらクメンを除去した。
Figure 0006512971
このようにして得られたスチレン−アクリル系共重合体30質量部を、下記表2に示す他の6種の材料からなる混合物中に溶解し混合溶液とした。
Figure 0006512971
上記混合溶液に、ポリビニルアルコール部分ケン化物0.15質量部を溶解した水170質量部を加え、激しく撹拌しながら懸濁分散液とした。更に、水100質量部を加え、窒素雰囲気に置換した反応器内に懸濁分散液を添加し、約80℃で8時間重合した。重合終了後、濾別し、充分に水洗して後、脱水乾燥し、結着樹脂Bを得た。次いで下記表3に示す材料をヘンシェルミキサー内で混合した後、115℃に加熱された2軸エクストルーダ内で溶融混練した。この溶融混練物を冷却した後、ハンマーミルで粗粉砕して現像剤粗粉砕物を得た。
Figure 0006512971
得られた現像剤粗粉砕物を、ターボミルを用いて、機械的に微粉砕し、コアンダ効果を利用したエルボジェット分級機を用いて、微粉及び粗粉を同時に分級除去した。以上の工程を経て、コールターカウンター法で測定される重量平均粒径(D4)6.5μm、平均円形度が0.945の負帯電性現像剤粒子を得た。この現像剤粒子100質量部と、ヘキサメチルジシラザン処理し次いでジメチルシリコーンオイル処理を行った疎水性シリカ微粉体1.2質量部とを、ヘンシェルミキサー内で混合して現像剤Aを調製した。
〔製造例2〕弾性層1の作製
外径10mmで算術平均粗さRa0.2μmの研削加工したアルミニウム製円筒管にプライマー(商品名、DY35−051;東レダウコーニング社製)を塗布し、焼付けして、基体を得た。この基体を金型内に配置し、下記表4に示す材料を混合した付加型シリコーンゴム組成物を該金型内に形成されたキャビティに注入した。
Figure 0006512971
続いて、金型を加熱してシリコーンゴムを温度150℃で15分間加硫して硬化させた。周面に硬化したシリコーンゴム層が形成された基体を金型から脱型した後、当該基体を、さらに温度180℃で1時間加熱して、シリコーンゴム層の硬化反応を完了させた。このようにして、基体の外周に膜厚0.7mm、直径11.4mmのシリコーンゴム弾性層が形成された弾性層1を作成した。
〔製造例3〕中間層ローラの作製
凹凸付与層の材料として、下記表5に示す材料を混合した。
Figure 0006512971
その後、総固形分比が30質量%になるようにメチルエチルケトン(Aldrich社製)を加え、サンドミルにて均一に分散した。得られた分散液に、メチルエチルケトンを加えて、固形分を25質量%に調整した。次いで、ポリウレタン樹脂粒子(商品名:アートパールC400、根上工業社製)を15質量部加え、ボールミルで攪拌分散して、凹凸付与層用塗料1を得た。得られた凹凸付与層用塗料1をスプレー塗工方法を用いて、弾性層1の表面に塗布し、温度130℃で60分加熱硬化を行い、凹凸付与層1を作製した(以降、これを「中間層ローラ1」と称する)。得られた凹凸付与層の膜厚は10μmであった。
〔製造例11〕縮合物中間体C−1の調製
下記表6に示す材料を300mLのナスフラスコ内にスターラーとともに入れ、室温(25℃)で30分間撹拌した。続いて、オイルバス中に上記ナスフラスコを置き、120℃で20時間、加熱還流を行うことによって、第一段階反応を行い、各加水分解性シラン化合物の縮合中間体C−1を得た。
Figure 0006512971
〔製造例12〜17〕縮合物中間体C−2〜C−7の調製
下記表7に示す原料を用いた以外は製造例4の縮合物中間体C−1の調製の場合と同様にして、縮合物中間体C−2〜C−7を得た。尚、表7中の符号は、下記表8のものを示す。
Figure 0006512971
Figure 0006512971
〔製造例21〕最外層用縮合物G−1の調製
室温に戻した縮合中間体C−1 57.3gに対して、アルミニウムイソプロポキシド(加水分解性アルミニウム化合物、東京化成株式会社製、以降「Al−1」と略す。)22.7gを添加し、室温で3時間撹拌した。次いで、光カチオン重合開始剤として、芳香族スルホニウム塩(商品名、アデカオプトマーSP―150、旭電化工業株式会社製)をメタノールで濃度が10質量%となるように希釈したものを、前記撹拌液の固形分100質量部に対して、3.0質量部添加した。その後、更に、メタノールを添加し、固形分が20質量%の最外層用縮合物G−1を得た。Al/Si=1.0であった。
〔製造例22〜45〕最外層用縮合物G−2〜G−25の調製
下記表9に示す原料を用いた以外は製造例21の最外層用縮合物G−1の調製の場合と同様にして、最外層用縮合物G−2〜G−25を得た。尚、表9中の符号は、下記表10のものを示す。
Figure 0006512971
Figure 0006512971
〔実施例1〕
1.接触現像方式用現像部材D−1の作製
最外層用縮合物G−1をスプレー塗工方法を用いて、中間層ローラ1の表面に塗布した。これに254nmの波長の紫外線を積算光量が9000mJ/cmになるように照射し、硬化(架橋反応による硬化)させることによって、最外層を形成した。紫外線の照射には低圧水銀ランプ(ハリソン東芝ライティング株式会社製)を用いた。最外層の膜厚は1μmであった。これによって接触現像方式用現像部材D−1を得た。
2.最外層の高分子化合物の構造の測定
最外層の高分子化合物が一般式(1)で示される構成単位および一般式(2)で示される構成単位を有していることを確認した。
3.現像部材の評価
評価には、レーザープリンタ(商品名:LaserJet Pro P1606、ヒューレット・パッカード社製)の改造機を用いた。レーザープリンタは、現像バイアスをAC現像からDC現像へと変更した。レーザープリンタに使用されるカートリッジは磁性非接触型現像装置であるが、磁性接触型現像装置へと改造した。また、現像バイアスを−500V、感光体ドラム上の明部の電位を−300V、感光体ドラム上の暗部の電位を−800Vとなるように別途、高圧電源を接続した。つまり、本評価のVcontrastは200V、Vbackは300Vになる。この実施例の接触現像方式用現像部材は外径10mmの基体に厚み1.4mmの弾性層を積層して外径11.4mmとしたサイズであり、これを感光体ドラムへ当接した。また、当該現像装置は、現像剤層厚規制部材として、弾性ブレードを具備している接触現像式現像装置である。また、本実施例に係る現像部材の内部には、マグローラを配置した。
現像部材D−1をプロセスカートリッジに装着し、現像剤Aを充填した。このプロセスカートリッジを、上記レーザープリンタに装填し、画像評価を行った。画像評価は10枚目印刷時(初期)および2000枚目印刷時(耐久後)に実施した。温度32℃、相対湿度85%の高温/高湿環境(H/H)下の環境で以下の評価1、評価2及び評価3を行った。また、現像剤の融着に関する評価4を行った。評価結果を表12に示す。
[評価1]帯電量
白をプリントした直後の現像部材上に担持された現像剤を、金属円筒管と円筒フィルターにより吸引捕集し、その際金属円筒管を通じてコンデンサーに蓄えられた電荷量Q、捕集された現像剤の質量Mを測定した。これらの値から、単位質量当たりの電荷量Q/M(mC/kg)を算出した。
[評価2]反転現像剤の割合
白をプリントした直後の現像部材上に担持された現像剤のうち、帯電極性が反転している成分(反転現像剤)の個数の割合(%)を現像剤帯電量分布測定装置(E−SPART Analyzer MODELEST−III ver.03(製品名)、ホソカワミクロン社製)を用いて測定した。なお、測定粒子個数は3000個程度とし、温度23℃、相対湿度50%の環境下で測定した。
[評価3]カブリ
白をプリントした直後の現像部材1周分でプリントされたベタ白部の反射率をランダムに10箇所測定し、その最悪値rから未使用の転写紙の反射率(10箇所の平均値r)を差し引いた値「r―r」をカブリ濃度とした。なお、反射率は反射率計「TC−6DS」(商品名、東京電色株式会社製)によって測定した。
[評価4]現像剤の融着
2000枚プリント後の現像部材の表面をエアーガンで清掃し肉眼で観察すると共に、超深度形状測定顕微鏡(商品名:VK−X100、株式会社キーエンス製)で200倍の対物レンズを用いて観察し、現像剤汚染の程度を以下の基準にて評価し、A〜Eにランク付けした。
A:ほとんど汚染が観察されない。肉眼でも顕微鏡200倍でも汚染が観察されない。
B:肉眼では観察できないが、顕微鏡200倍で観測できる軽微な汚染が部分的に発生している。
C:肉眼では観察できないが、顕微鏡200倍で観測できる軽微な汚染が全体的に発生している。
D:肉眼でもはっきり観察できる融着が部分的に発生している。
E:肉眼でもはっきり観察できる融着が全面に発生している。
〔実施例2〜17、比較例1〜9〕
実施例1において、最外層用縮合物G−1に代えて、表11に示す最外層用縮合物G−2〜G−25を用いたこと以外は、実施例1と同様にして、接触現像方式用現像部材D−2〜D−17及びd−1〜d−9を得た。尚、比較例1においては、最外層用縮合物を使用しなかった。得られた各現像部材を用いて、実施例1と同様にして性能評価を行った。評価結果を表12に示す。実施例2〜17において、最外層の高分子化合物が一般式(1)で示される構成単位および一般式(2)で示される構成単位を有していることを確認した。
Figure 0006512971
Figure 0006512971
〔評価結果の考察1〕
実施例1〜17では良好な結果が得られた。比較例1では最外層が存在しないため、帯電付与性が十分でなく、反転現像剤の個数が多かった。また耐久性が十分ではなかった。その結果、カブリが悪く、現像剤の融着が著しかった。比較例2では最外層の高分子化合物中にアルミニウム元素が存在しないため、帯電付与性が十分でなく、反転現像剤の個数が多く、カブリが悪かった。比較例3では最外層の高分子化合物中にオルガノシロキサン構造が存在しないため、耐久性が十分ではなく、耐久後のカブリが悪く、現像剤の融着が著しかった。比較例4〜9では最外層の高分子化合物中にアルミニウム元素が存在しないため、帯電付与性が十分でなく、反転現像剤の個数が多く、カブリが悪かった。
〔実施例21〕
1.非接触現像方式用現像部材S−1の作製
縮合物G−1の固形分100質量部に対してポリウレタン樹脂粒子(商品名:アートパールC400、根上工業社製)15質量部を加え、更にメタノールを添加して、固形分濃度を30質量%に調整した後、サンドミルを用いて均一に分散した。得られた液を、外径10mm、長さ250mmで算術平均粗さRa0.2μmの研削加工したアルミニウム製円筒管の表面にスプレー塗布法によって塗布した。これに254nmの波長の紫外線を積算光量が9000mJ/cmになるように照射し、硬化(架橋反応による硬化)させることによって、最外層を形成した。紫外線の照射には低圧水銀ランプ(ハリソン東芝ライティング株式会社製)を用いた。最外層の膜厚は6μmであった。これによって非接触現像方式用現像部材S−1を得た。
2.最外層の高分子化合物の構造の測定
最外層の高分子化合物が一般式(1)で示される構成単位および一般式(2)で示される構成単位を有していることを確認した。
3.現像部材の評価
評価には、レーザープリンタ(商品名:LaserJet Pro P1606、ヒューレット・パッカード社製)を用いた。本実施例に係る現像部材の内部には、マグローラを配置して非接触現像方式現像部材S−1をプロセスカートリッジに装着し、現像剤Aを充填した。このプロセスカートリッジを、上記レーザープリンタに装填し、実施例1と同様にして、画像評価を行った。評価結果を表14に示す。
〔実施例22〜24、比較例11、12〕
実施例21において、最外層用縮合物G−1に代えて、表13に示す最外層用縮合物G−2〜G−4、G−18またはG−19を用いたこと以外は、実施例21と同様にして、非接触現像方式用現像部材S−2〜S−4、s−11、s−12を得た。得られた各現像部材を用いて、実施例21と同様にして性能評価を行った。評価結果を表14に示す。実施例22〜24において、最外層の高分子化合物が一般式(1)で示される構成単位および一般式(2)で示される構成単位を有していることを確認した。
Figure 0006512971
Figure 0006512971
〔評価結果の考察2〕
実施例21〜24では良好な結果が得られた。比較例11では最外層の高分子化合物中にアルミニウム元素が存在しないため、帯電付与性が十分でなく、反転現像剤の個数が多く、カブリが悪かった。比較例12では最外層の高分子化合物中にオルガノシロキサン構造が存在しないため、耐久性が十分ではなく、耐久後のカブリが悪く、現像剤の融着が著しかった。
〔実施例31〕
1.帯電部材A−1の作製
下記表15に示す材料を容量6Lの加圧ニーダー(使用装置:TD6−15MDX、トーシン社製)内で20分間混練し、次いで加硫促進剤としてのテトラベンジルチウラムスルフィド(商品名:サンセラーTBzTD、三新化学工業株式会社製)4.5質量部、加硫剤としての硫黄1.2質量部を加え、ロール径12インチのオープンロールでさらに8分間混練することよって未加硫ゴムを得た。
Figure 0006512971
次に、直径6mm、長さ252mmの円柱形の鋼製の支持体(表面をニッケルメッキ加工したもの)の円柱面軸方向中央を挟んで両側115.5mmまでの領域(あわせて軸方向幅231mmの領域)に、金属およびゴムを含む熱硬化性接着剤(商品名:メタロックN−33、(株)東洋化学研究所製)を塗布し、これを温度80℃で30分間乾燥させた後、さらに温度120℃で1時間乾燥させた。
次にクロスヘッド押出機を使用して、上記接着層付き支持体上に未加硫ゴム組成物を同軸状に外径8.75〜8.90mmの円筒形に押出し、その端部を切断して、支持体の外周に未加硫ゴム組成物の層(長さ242mm)を形成した。押出機はシリンダー径70mm、L/D=20の押出機を使用し、押出時の温度条件はヘッドの温度を90℃とし、シリンダーの温度を90℃とし、スクリューの温度を90℃とした。
次に、この未加硫ゴム層付きのローラを、異なる温度設定にした2つのゾーンをもつ連続加熱炉中に供給した。第1ゾーンを温度80℃に設定して30分間で通過させ、第2ゾーンを温度160℃に設定して30分間で通過させ、未加硫ゴム組成物の層を加硫し、弾性層とした。次に、この弾性層の両端を切断し、弾性層の軸方向幅を232mmとした。その後、弾性層の表面を回転砥石で研磨することによって、端部直径8.26mm、中央部直径8.50mmのクラウン形状を有する弾性ローラ1を得た。
次に、弾性ローラ1の弾性層の外周部に固形分濃度が1.0質量%になるようにエタノール:2−ブタノール=1:1(質量比)の混合溶媒で希釈した最外層用縮合物G−1をリング塗布した。これに、254nmの波長の紫外線を積算光量が9000mJ/cmになるように照射し、硬化(架橋反応による硬化)させることによって最外層を形成した。紫外線の照射には低圧水銀ランプ[ハリソン東芝ライティング(株)製]を用いた。このようにして帯電部材A−1を得た。
2.最外層の高分子化合物の構造の測定
最外層の高分子化合物が一般式(1)で示される構成単位および一般式(2)で示される構成単位を有していることを確認した。
3.帯電部材の評価
評価には、レーザープリンタ(商品名:LaserJet Pro P1606、ヒューレット・パッカード社製)を用いた。純正CRG(ヒューレット・パッカード社製、プロセスカートリッジ)に帯電部材A−1を取り付けた。またクリーニングブレードを取り外した。現像剤Aを充てんした。このプロセスカートリッジを、上記レーザープリンタに装填し、温度32℃、相対湿度85%の高温/高湿環境(H/H)下で画像評価を行った。2000枚目印刷時(耐久後)に、下記に示す評価5を行った。また画像評価は10枚目印刷時(初期)および2000枚目印刷時(耐久後)に下記に示す評価6を行った。評価結果を表17に示す。
[評価5]現像剤の融着
2000枚プリント後の帯電部材の表面をエアーガンで清掃し肉眼で観察すると共に、超深度形状測定顕微鏡(商品名:VK−X100、株式会社キーエンス製)で200倍の対物レンズを用いて観察し、現像剤汚染の程度を以下の基準にて評価し、A〜Eにランク付けした。
A:ほとんど汚染が観察されない。肉眼でも顕微鏡200倍でも汚染が観察されない。
B:肉眼では観察できないが、顕微鏡200倍で観測できる軽微な汚染が部分的に発生している。
C:肉眼では観察できないが、顕微鏡200倍で観測できる軽微な汚染が全体的に発生している。
D:肉眼でもはっきり観察できる融着が部分的に発生している。
E:肉眼でもはっきり観察できる融着が全面に発生している。
[評価6]現像剤の回収性
帯電してない現像剤1.0gを帯電部材の表面に塗布し、純正CRG(プロセスカートリッジ)に組み込んだ状態で、白画像のプリントを10枚行った。その後の帯電部材を取り出し、帯電部材に残っている現像剤量を測定し、下記の基準で評価し、A〜Dにランク付けした。なお、耐久後の帯電部材の評価は、エアーガンで帯電部材を清掃した後に本評価を行った。
A:0.1g未満
B:0.1g以上0.3g未満
C:0.3g以上0.5g未満
D:0.5g以上。
[実施例32〜実施例34、比較例21、22]
実施例31の帯電部材の作製において、最外層用縮合物G−1に代えて、下記表16に示す最外層用縮合物G−2〜G−4、G−18またはG−195を用いたこと以外は、実施例31と同様にして、帯電部材A−2〜A−4、a−1、a−2を得た。また、実施例31と同様にして評価を行った。評価結果を表17に示す。実施例32〜34において、最外層の高分子化合物が一般式(1)で示される構成単位および一般式(2)で示される構成単位を有していることを確認した。
Figure 0006512971
Figure 0006512971
〔評価結果の考察3〕
実施例31〜34では良好な結果が得られた。比較例21では最外層の高分子化合物中にアルミニウム元素が存在しないため、帯電付与性が十分ではなく、現像器へ反転現像剤を十分に回収させることができず、現像剤の融着が発生した。比較例22では最外層の高分子化合物中にオルガノシロキサン構造が存在しないため、耐久性が十分ではなく、耐久後の現像剤の回収性が十分ではなく、現像剤の融着が著しかった。
1:基体
2:弾性層
3:凹凸付与層
4:最外層
5:静電潜像担持体
6:帯電部材
7:現像部材
8:現像剤供給部材
9:現像器
10:転写部材(転写ローラ)
11:クリーナー容器
12:クリーニングブレード
13定着器
14:ピックアップローラ
15:転写材(紙)
16:レーザー発生装置
17:トナー規制部材
18:金属板
19:トナー

Claims (6)

  1. 基体と、この基体の外周に直接もしくは他の層を介して形成された最外層とを有する電子写真用部材であって、
    該最外層は少なくともSi−O−Al結合を有している高分子化合物を含み、
    該高分子化合物は、下記一般式(1)で示される構成単位および下記一般式(2)で示される構成単位を有していることを特徴とする電子写真用部材:
    Figure 0006512971
    Figure 0006512971
    [一般式(1)中、R及びRは各々独立に以下の一般式(3)〜(6)の何れかを示す:
    Figure 0006512971
    Figure 0006512971
    Figure 0006512971
    Figure 0006512971
    [一般式(3)〜(6)中、R〜R、R10〜R14、R19、R20、R25及びR26は、各々独立に水素、炭素数1〜4のアルキル基、水酸基、カルボキシル基、またはアミノ基を示す。R、R、R15〜R18、R23、R24及びR29〜R32は、各々独立に水素又は炭素数1〜4のアルキル基を示す。R21、R22、R27及びR28は、各々独立に水素、炭素数1〜4のアルコキシル基または炭素数1〜4のアルキル基を示す。n、m、l、q、s及びtは、各々独立に1以上8以下の整数を示し、p及びrは、各々独立に4以上12以下の整数を示し、x及びyは、各々独立に0もしくは1を示す。*及び**は、各々一般式(1)中のケイ素原子及び酸素原子との結合位置を示す。]]。
  2. 前記高分子化合物におけるアルミニウムとケイ素の原子数比Al/Siが0.10以上12.5以下である請求項1に記載の電子写真用部材。
  3. 前記電子写真用部材は、現像部材である請求項1または2に記載の電子写真用部材。
  4. 前記電子写真用部材は、帯電部材である請求項1または2に記載の電子写真用部材。
  5. 現像部材として請求項1または2に記載の電子写真用部材を有する現像装置。
  6. 請求項5に記載の現像装置を有する画像形成装置。
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