JP2022075922A - 発光装置 - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 144
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 61
- 239000011368 organic material Substances 0.000 claims description 17
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 abstract description 121
- 239000011347 resin Substances 0.000 abstract description 121
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 18
- 238000005192 partition Methods 0.000 abstract description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 332
- 239000010408 film Substances 0.000 description 102
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 52
- 238000000034 method Methods 0.000 description 49
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 39
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 30
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 30
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 30
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 23
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 22
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 22
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 22
- 230000000116 mitigating effect Effects 0.000 description 21
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 21
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 21
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 20
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 19
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 19
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 19
- 230000006870 function Effects 0.000 description 18
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 18
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 17
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 15
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- -1 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 14
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 14
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 13
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- KPUWHANPEXNPJT-UHFFFAOYSA-N disiloxane Chemical class [SiH3]O[SiH3] KPUWHANPEXNPJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 13
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 13
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 12
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 12
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 11
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 11
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 11
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 10
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 9
- 150000002484 inorganic compounds Chemical class 0.000 description 9
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 9
- 229920005668 polycarbonate resin Polymers 0.000 description 9
- 239000004431 polycarbonate resin Substances 0.000 description 9
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 9
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 8
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 8
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 8
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 8
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 8
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 8
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 8
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 8
- 239000000047 product Substances 0.000 description 8
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 8
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 7
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 7
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 7
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 7
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 7
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 6
- UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N benzocyclobutene Chemical compound C1=CC=C2CCC2=C1 UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 6
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 6
- 239000002274 desiccant Substances 0.000 description 6
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 6
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 6
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 6
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 6
- 229920001225 polyester resin Polymers 0.000 description 6
- 239000004645 polyester resin Substances 0.000 description 6
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 6
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 6
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 6
- 239000013585 weight reducing agent Substances 0.000 description 6
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 5
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 5
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000004760 aramid Substances 0.000 description 5
- 229920003235 aromatic polyamide Polymers 0.000 description 5
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 5
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 5
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004695 Polyether sulfone Substances 0.000 description 4
- 239000004721 Polyphenylene oxide Substances 0.000 description 4
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011231 conductive filler Substances 0.000 description 4
- 238000002788 crimping Methods 0.000 description 4
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 4
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 4
- 229920006122 polyamide resin Polymers 0.000 description 4
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 4
- 229920006393 polyether sulfone Polymers 0.000 description 4
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 4
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 4
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004962 Polyamide-imide Substances 0.000 description 3
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 3
- 150000001925 cycloalkenes Chemical class 0.000 description 3
- 230000006355 external stress Effects 0.000 description 3
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 3
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 3
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000002825 nitriles Chemical class 0.000 description 3
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 3
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 3
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 3
- 229920003207 poly(ethylene-2,6-naphthalate) Polymers 0.000 description 3
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 3
- 229920002312 polyamide-imide Polymers 0.000 description 3
- 229920000570 polyether Polymers 0.000 description 3
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 3
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 3
- 229920005990 polystyrene resin Polymers 0.000 description 3
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 3
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 3
- 239000002759 woven fabric Substances 0.000 description 3
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004641 Diallyl-phthalate Substances 0.000 description 2
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M Fluoride anion Chemical compound [F-] KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920000877 Melamine resin Polymers 0.000 description 2
- 239000004640 Melamine resin Substances 0.000 description 2
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 2
- 229930182556 Polyacetal Natural products 0.000 description 2
- 239000004734 Polyphenylene sulfide Substances 0.000 description 2
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 2
- 229910002808 Si–O–Si Inorganic materials 0.000 description 2
- 125000005376 alkyl siloxane group Chemical group 0.000 description 2
- QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N barium oxide Chemical compound [Ba]=O QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- QUDWYFHPNIMBFC-UHFFFAOYSA-N bis(prop-2-enyl) benzene-1,2-dicarboxylate Chemical compound C=CCOC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCC=C QUDWYFHPNIMBFC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 2
- 239000006258 conductive agent Substances 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- AJNVQOSZGJRYEI-UHFFFAOYSA-N digallium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Ga+3].[Ga+3] AJNVQOSZGJRYEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 239000007849 furan resin Substances 0.000 description 2
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001195 gallium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004678 hydrides Chemical class 0.000 description 2
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 2
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 2
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 2
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 2
- 238000005121 nitriding Methods 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004745 nonwoven fabric Substances 0.000 description 2
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 2
- 125000000962 organic group Chemical group 0.000 description 2
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 2
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 2
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 2
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 2
- 229920006324 polyoxymethylene Polymers 0.000 description 2
- 229920000069 polyphenylene sulfide Polymers 0.000 description 2
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 2
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 2
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 2
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000003384 small molecules Chemical class 0.000 description 2
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 2
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 2
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 2
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 2
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 2
- JYEUMXHLPRZUAT-UHFFFAOYSA-N 1,2,3-triazine Chemical compound C1=CN=NN=C1 JYEUMXHLPRZUAT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XQUPVDVFXZDTLT-UHFFFAOYSA-N 1-[4-[[4-(2,5-dioxopyrrol-1-yl)phenyl]methyl]phenyl]pyrrole-2,5-dione Chemical compound O=C1C=CC(=O)N1C(C=C1)=CC=C1CC1=CC=C(N2C(C=CC2=O)=O)C=C1 XQUPVDVFXZDTLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017073 AlLi Inorganic materials 0.000 description 1
- VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N Ammonium hydroxide Chemical compound [NH4+].[OH-] VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 description 1
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004261 CaF 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000049 Carbon (fiber) Polymers 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017911 MgIn Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001182 Mo alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920012266 Poly(ether sulfone) PES Polymers 0.000 description 1
- 229920001665 Poly-4-vinylphenol Polymers 0.000 description 1
- 239000004697 Polyetherimide Substances 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006087 Silane Coupling Agent Substances 0.000 description 1
- 229910000577 Silicon-germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001080 W alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021536 Zeolite Inorganic materials 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 description 1
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N ammonia Natural products N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Chemical compound [O-2].[Ca+2] BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000292 calcium oxide Substances 0.000 description 1
- ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Inorganic materials [Ca]=O ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004917 carbon fiber Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000003851 corona treatment Methods 0.000 description 1
- 239000007822 coupling agent Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- XLJMAIOERFSOGZ-UHFFFAOYSA-M cyanate Chemical compound [O-]C#N XLJMAIOERFSOGZ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000007865 diluting Methods 0.000 description 1
- HNPSIPDUKPIQMN-UHFFFAOYSA-N dioxosilane;oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Si]=O.O=[Al]O[Al]=O HNPSIPDUKPIQMN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003618 dip coating Methods 0.000 description 1
- 208000028659 discharge Diseases 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 1
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 1
- 239000007850 fluorescent dye Substances 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 238000005338 heat storage Methods 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 239000002346 layers by function Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- PNHVEGMHOXTHMW-UHFFFAOYSA-N magnesium;zinc;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[Mg+2].[Zn+2] PNHVEGMHOXTHMW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002923 metal particle Substances 0.000 description 1
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013081 microcrystal Substances 0.000 description 1
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N nonaoxidotritungsten Chemical compound O=[W]1(=O)O[W](=O)(=O)O[W](=O)(=O)O1 QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AHLBNYSZXLDEJQ-FWEHEUNISA-N orlistat Chemical compound CCCCCCCCCCC[C@H](OC(=O)[C@H](CC(C)C)NC=O)C[C@@H]1OC(=O)[C@H]1CCCCCC AHLBNYSZXLDEJQ-FWEHEUNISA-N 0.000 description 1
- 229910052762 osmium Inorganic materials 0.000 description 1
- SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N osmium atom Chemical compound [Os] SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 229920003192 poly(bis maleimide) Polymers 0.000 description 1
- 229920003217 poly(methylsilsesquioxane) Polymers 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920001601 polyetherimide Polymers 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920013716 polyethylene resin Polymers 0.000 description 1
- 229920006380 polyphenylene oxide Polymers 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 239000003870 refractory metal Substances 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005060 rubber Substances 0.000 description 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 1
- SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N selenium;zinc Chemical compound [Se]=[Zn] SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002027 silica gel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000741 silica gel Substances 0.000 description 1
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical class [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000009751 slip forming Methods 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001930 tungsten oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920006337 unsaturated polyester resin Polymers 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 1
- 239000002966 varnish Substances 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
- 239000010457 zeolite Substances 0.000 description 1
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Abstract
Description
た、その発光装置を部品として搭載した電子機器に関する。
置が求められており、この要求を満たすための表示装置として、自発光型である発光素子
を利用した表示装置が注目されている。自発光型の発光素子の一つとして、エレクトロル
ミネッセンス(Electro Luminescence)を利用する発光素子があり
、この発光素子は、発光材料を一対の電極で挟み、電圧を印加することにより、発光材料
からの発光を得ることができるものである。
ライトが不要である等の利点があり、フラットパネルディスプレイ素子として好適である
。また、このような自発光型の発光素子は、薄膜化が可能なこと、または非常に応答速度
が速いことも特徴の一つである。
おり、薄型化技術や小型化製品の使用範囲が急速に広まっている。例えば、特許文献1で
は、剥離および転写技術を用いたフレキシブルなエレクトロルミネッセンス発光装置を提
案されている。
とする。また、本発明の一態様は、可撓性を有する基板上に発光素子が設けられた発光装
置を歩留まり良く製造することを目的とする。
覆う樹脂膜と、を有する。また、その発光素子は、第1の電極と、第1の電極の端部を覆
い、且つ凸状部を有する絶縁層と、第1の電極に接するEL層と、EL層に接する第2の
電極と、を少なくとも含み、発光素子を覆う樹脂膜は、凸状部を埋没させている。すなわ
ち、樹脂膜は絶縁層と第2の電極の全面を覆っている。
素子と、発光素子を覆う樹脂膜と、樹脂膜上に設けられた可撓性を有する第2の基板と、
を有する。また、その発光素子は、第1の電極と、第1の電極の端部を覆い、且つ凸状部
を有する絶縁層と、第1の電極に接するEL層と、EL層に接する第2の電極と、を少な
くとも含み、発光素子を覆う樹脂膜は、凸状部を埋没させている。すなわち、樹脂膜は絶
縁層と第2の電極の全面を覆っている。
素子と、発光素子を覆う樹脂膜と、樹脂膜上に設けられた可撓性を有する第2の基板と、
を有する。また、その発光素子は、第1の電極と、第1の電極の端部を覆う第1の絶縁層
と、第1の絶縁層に接し、その接触面積が前記第1の絶縁層の上面積より小さい第2の絶
縁層と、第1の電極に接するEL層と、EL層に接する第2の電極と、を少なくとも含み
、発光素子を覆う樹脂膜は、第2の絶縁層を埋没させている。すなわち、樹脂膜は第2の
絶縁層と第2の電極の全面を覆っている。
双方は、繊維体に有機樹脂が含浸された構造体であってもよい。
その範疇に含んでおり、具体的には有機EL(Electro Luminescenc
e)素子、無機EL素子等が含まれる。
トリクス型でもよい。
源(照明装置含む)を含む。また、パネルにコネクター、例えばFPC(Flexibl
e printed circuit)もしくはTAB(Tape Automated
Bonding)テープもしくはTCP(Tape Carrier Package
)が取り付けられたモジュール、TABテープやTCPの先にプリント配線板が設けられ
たモジュール、または発光素子にCOG(Chip On Glass)方式によりIC
(集積回路)が直接実装されたモジュールも全て発光装置に含むものとする。
最終結果が顕著には変化しないように幾分変更された用語の合理的な逸脱の程度を意味す
る。これらの用語は、幾分変更された用語の少なくともプラスマイナス5%の逸脱を含む
ものとして解釈されるべきであるが、この逸脱が幾分変更される用語の意味を否定しない
ことを条件とする。
あり、工程順又は積層順を示すものではない。また、本明細書において発明を特定するた
めの事項として固有の名称を示すものではない。
る。また、本発明の一態様は、発光装置の製造工程においても、形状や特性の不良を防ぐ
ことが可能であり、歩留まり良く発光装置を製造することができる。
の説明に限定されず、本発明の趣旨及びその範囲から逸脱することなくその形態及び詳細
を様々に変更し得ることは当業者であれば容易に理解される。従って、以下に示す実施の
形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。なお、以下に説明する実施の形態の
構成において、同一部分又は同様な機能を有する部分には同一の符号を異なる図面間で共
通して用い、その繰り返しの説明は省略する。
本実施の形態では、発光装置の一例を図1を用いて詳細に説明する。
は、基板200上に形成された素子部170を有している。また、素子部170は、樹脂
膜130によって覆われている。
レフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)等のポリエステル樹脂、
ポリアクリルニトリル樹脂、ポリイミド樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂、ポリカー
ボネート樹脂(PC)、ポリエーテルスルフォン樹脂(PES)、ポリアミド樹脂、シク
ロオレフィン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂など
を好適に用いることができる。または、基板200として、繊維体に有機樹脂が含浸され
た構造体を用いることができる。ただし、基板200側から光を取り出す場合には、透光
性を有する基板を用いるものとする。
その発光素子140に電位をかけるためのスイッチング素子とを少なくとも有する。スイ
ッチング素子としては、トランジスタ(例えば、バイポーラトランジスタ、MOSトラン
ジスタなど)、ダイオード(例えば、PNダイオード、PINダイオード、ショットキー
ダイオード、MIM(Metal Insulator Metal)ダイオード、MI
S(Metal Insulator Semiconductor)ダイオード、ダイ
オード接続のトランジスタなど)、サイリスタなどを用いることが出来る。または、これ
らを組み合わせた論理回路をスイッチング素子として用いることが出来る。本実施の形態
では、スイッチング素子として薄膜トランジスタ106を用いるものとする。また、発光
装置をドライバ一体型として素子部170に駆動回路部を含めても良い。なお、封止され
た基板の外部に駆動回路を形成することもできる。
34、及び第2の電極136を有している。第1の電極122及び第2の電極136は、
一方が陽極として用いられ、他方が陰極として用いられる。
、発光層の他に、正孔注入層、正孔輸送層、電子輸送層、電子注入層などを有する積層構
造とすることもできる。EL層134には、低分子系材料および高分子系材料のいずれを
用いることもできる。なお、EL層134を形成する材料には、有機化合物材料のみから
成るものだけでなく、無機化合物を含む構成も含めるものとする。
発光が得られる材料を用いて選択的にEL層134を形成すればよく、モノカラー表示と
する場合、少なくとも一つの色を呈する材料を用いてEL層134を形成すればよい。ま
た、EL層と、カラーフィルタ(図示しない)を組み合わせて用いてもよい。カラーフィ
ルタにより、単色発光層(例えば白色発光層)を用いる場合であっても、フルカラー表示
が可能となる。例えば、白色(W)の発光が得られる材料を用いたEL層と、カラーフィ
ルタを組み合わせる場合、カラーフィルタを設けない画素とRGBのそれぞれの画素の4
つのサブピクセルでフルカラー表示を行っても良い。
層137aと第2の絶縁層137bの2層が積層された構造を示す。また、絶縁層137
は、珪素の酸化物や珪素の窒化物等の無機材料、ポリイミド、ポリアミド、ベンゾシクロ
ブテン、アクリル、エポキシ等の有機材料やシロキサン材料等により形成されている。な
お、絶縁層137を構成する第1の絶縁層137a及び第2の絶縁層137bは、同じ材
料を用いて形成しても、又は別々の材料を用いて形成しても構わない。
130としては、例えば、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、メラミン樹脂、ポリエステル
樹脂、ポリカーボネート樹脂、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、ポリアセタール、ポリエ
ーテル、ポリウレタン、ポリアミド(ナイロン)、フラン樹脂、ジアリルフタレート樹脂
等の有機化合物、シリカガラスに代表されるシロキサンポリマー系材料を出発材料として
形成された珪素、酸素、水素からなる化合物のうちSi-O-Si結合を含む無機シロキ
サンポリマー、又はアルキルシロキサンポリマー、アルキルシルセスキオキサンポリマー
、水素化シルセスキオキサンポリマー、水素化アルキルシルセスキオキサンポリマーに代
表される珪素に結合される水素がメチルやフェニルのような有機基によって置換された有
機シロキサンポリマー等を用いることができる。または、樹脂膜130として繊維体に有
機樹脂が含浸された構造体を用いることもできる。
は、少なくとも発光装置の表示面においては、透光性を有する材料を用いて形成する、又
は、光を透過する膜厚で形成するものとする。発光素子140の第1の電極122側から
のみ発光を取り出す場合には、透光性を有する樹脂膜130としなくても構わない。
能する絶縁層137は、凸状部を有する絶縁層とする。なお、図1においては、第1の絶
縁層137aと、第1の絶縁層137a上に1つ設けられた第2の絶縁層137bを有す
る絶縁層137を図示したが、絶縁層の形状はこれに限られるものではなく、2つ以上の
凸状部を有していても構わない。絶縁層137が凸状部を有し、この凸状部が樹脂膜13
0に埋め込まれることで、絶縁層137と、樹脂膜130との密着性を向上させることが
できるため、製造された発光装置を信頼性の高い発光装置とすることができる。また、絶
縁層137と、樹脂膜130との密着性を向上すると、発光装置の製造工程において、発
光素子内部での剥離を生じさせることなく、発光素子を可撓性基板へ転写することが可能
となる。よって、信頼性の高い発光装置を歩留まり良く製造することができる。
従って、本実施の形態の発光装置を様々な基材に接着することができ、曲面を有する基材
に貼りつければ、曲面を有するディスプレイ、または曲面を有する照明等が実現できる。
また、素子部170の厚さを薄くすることで、発光装置を軽量化させることができる。
本実施の形態では、発光装置の別の一例を、図2を用いて詳細に説明する。なお、実施の
形態1と準じ重複する構成については、説明を省略或いは簡略化する。
は、第1の基板132及び第2の基板133との間に挟持された素子部170を有してい
る。また、素子部170と第2の基板133との間には、樹脂膜130が形成されている
。図2において、樹脂膜130は、実施の形態1で示した樹脂膜130と同様の材料を用
いて形成することができる。
き、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PE
N)等のポリエステル樹脂、ポリアクリルニトリル樹脂、ポリイミド樹脂、ポリメチルメ
タクリレート樹脂、ポリカーボネート樹脂(PC)、ポリエーテルスルフォン樹脂(PE
S)、ポリアミド樹脂、シクロオレフィン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリアミドイミド樹
脂、ポリ塩化ビニル樹脂などを好適に用いることができる。ただし、少なくとも発光素子
の光の取り出し方向に位置する基板には、透光性を有する基板を用いるものとする。
度の熱膨張係数を有する材料を用いるのが好ましい。また、第1の基板132と第2の基
板133とが同じ材料で構成されているのがより好ましい。なお、第1の基板132及び
第2の基板133の有する熱膨張係数が20ppm/℃以下であると、発光装置の耐熱性
が向上するため好ましい。
aに有機樹脂132bが含浸された構造体を用いるものとする。第1の基板132及び第
2の基板133として用いる構造体は、弾性率13GPa以上、破断係数は300MPa
未満の材料を用いるのが好ましい。また、第1の基板132及び第2の基板133は、5
μm以上50μm以下の膜厚であることが好ましく、第1の基板132と第2の基板13
3が同じ膜厚を有していることが好ましい。第1の基板132と第2の基板133が同じ
膜厚を有していることで、素子部170を発光装置の中央部に配置することができる。ま
た、第1及び第2の基板の膜厚を5μm以上50μm以下とすると、素子部の膜厚と比べ
て第1の基板及び第2の基板の膜厚が厚いので、素子部がほぼ中央部に配置され、曲げス
トレスに強い発光装置を提供することができる。
る繊維体132aは、一定間隔をあけた経糸と、一定間隔をあけた緯糸とで織られている
。このような経糸及び緯糸を用いて製織された繊維体には、経糸及び緯糸が存在しない領
域を有する。このような繊維体132aは、有機樹脂132bが含浸される割合が高まり
、繊維体132aと発光素子との密着性を高めることができる。
合が低いものでもよい。
い。例えば、繊維表面を活性化させるためのコロナ放電処理、プラズマ放電処理等がある
。また、シランカップリング剤、チタネートカップリング剤を用いた表面処理がある。
層の繊維体に有機樹脂が含浸された構造体を複数積層させることで構造体を形成してもよ
いし、複数の積層された繊維体に有機樹脂を含浸させた構造体を第1の基板132又は第
2の基板133として用いても良い。また、単層の繊維体に有機樹脂が含浸された構造体
を複数積層させる際、各構造体間に別の層を挟むようにしても良い。
40と、その発光素子140に電位をかけるためのスイッチング素子とを少なくとも有す
る。本実施の形態では、スイッチング素子として薄膜トランジスタ106を用いるものと
する。また、発光装置をドライバ一体型として素子部170に駆動回路部を含めても良い
。なお、封止された基板の外部に駆動回路を形成することもできる。
34、及び第2の電極136を有している。第1の電極122及び第2の電極136は、
一方が陽極として用いられ、他方が陰極として用いられる。図2の発光素子140は、実
施の形態1で示した発光素子140と同様の構成とすることができる。
層137aと第2の絶縁層137bの2層が積層された構造を示す。また、絶縁層137
は、珪素の酸化物や珪素の窒化物等の無機材料、ポリイミド、ポリアミド、ベンゾシクロ
ブテン、アクリル、エポキシ等の有機材料やシロキサン材料等により形成されている。な
お、絶縁層137を構成する第1の絶縁層137a及び第2の絶縁層137bは、同じ材
料を用いて形成しても、又は別々の材料を用いて形成しても構わない。
37と、樹脂膜130との密着性を向上させることができる。よって、製造された発光装
置を信頼性の高い発光装置とすることができる。また、絶縁層137と、樹脂膜130と
の密着性を向上すると、発光装置の製造工程において、発光素子内部での剥離を生じさせ
ることなく、発光素子を可撓性基板へ転写することが可能となる。よって、信頼性の高い
発光装置を歩留まり良く製造することができる。
132aは高強度繊維で形成されており、高強度繊維は、引っ張り弾性率が高い、または
ヤング率が高い。このため、発光装置に点圧や線圧等の局所的な押圧がかかっても高強度
繊維は延伸せず、押圧された力が繊維体132a全体に分散され、発光装置全体で湾曲す
るようになる。この結果、局所的な押圧が加えられても、発光装置で生じる湾曲は曲率半
径の大きなものとなり、一対の構造体によって挟持された発光素子、配線等に亀裂が生じ
ず、発光装置の破壊を低減することができる。
従って、本実施の形態の発光装置を様々な基材に接着することができ、曲面を有する基材
に貼りつければ、曲面を有するディスプレイ、照明が実現できる。また、素子部170の
厚さを薄くすることで、発光装置を軽量化させることができる。
本実施の形態では、実施の形態2に示す発光装置の製造方法の一例について図面を参照し
て詳細に説明する。
3(A)参照)。剥離層102、絶縁層104は、連続して形成することができる。連続
して形成することにより、大気に曝されないため不純物の混入を防ぐことができる。
る。例えば、1辺が1メートル以上の矩形状のガラス基板を用いることにより、生産性を
格段に向上させることができる。
に応じて、基板100の全面に剥離層102を設けた後に当該剥離層102を選択的に除
去し、所望の領域にのみ剥離層を設けてもよい。また、基板100に接して剥離層102
を形成しているが、必要に応じて、基板100に接するように酸化珪素膜、酸化窒化珪素
膜、窒化珪素膜、窒化酸化珪素膜等の絶縁層を形成し、当該絶縁層に接するように剥離層
102を形成してもよい。
30nm~200nmのタングステン(W)、モリブデン(Mo)、チタン(Ti)、タ
ンタル(Ta)、ニオブ(Nb)、ニッケル(Ni)、コバルト(Co)、ジルコニウム
(Zr)、亜鉛(Zn)、ルテニウム(Ru)、ロジウム(Rh)、パラジウム(Pd)
、オスミウム(Os)、イリジウム(Ir)、及び珪素(Si)の中から選択された元素
、又は元素を主成分とする合金材料、又は元素を主成分とする化合物材料からなる層を、
単層または複数の層を積層させて形成する。珪素を含む層の結晶構造は、非晶質、微結晶
、多結晶のいずれの場合でもよい。ここでは、なお、塗布法は、溶液を被処理物上に吐出
させて成膜する方法であり、例えばスピンコーティング法や液滴吐出法を含む。また、液
滴吐出法とは微粒子を含む組成物の液滴を微細な孔から吐出して所定の形状のパターンを
形成する方法である。
テンとモリブデンの混合物を含む層を形成する。又は、タングステンの酸化物若しくは酸
化窒化物を含む層、又はタングステンとモリブデンの混合物の酸化物若しくは酸化窒化物
を含む層を形成する。なお、タングステンとモリブデンの混合物とは、例えば、タングス
テンとモリブデンの合金に相当する。
て金属酸化物層を形成する。例えば、1層目の金属層として、タングステン、モリブデン
、又はタングステンとモリブデンの混合物を含む層を形成し、2層目として、タングステ
ン、モリブデン、又はタングステンとモリブデンの混合物の酸化物、タングステン、又は
タングステンとモリブデンの混合物の窒化物、タングステン、又はタングステンとモリブ
デンの混合物の酸化窒化物、又はタングステン、又はタングステンとモリブデンの混合物
の窒化酸化物を含む層を形成する。
する場合、金属層としてタングステンを含む層を形成し、その上層に酸化物で形成される
絶縁層を形成することで、タングステンを含む層と絶縁層との界面に、金属酸化物層とし
てタングステンの酸化物を含む層が形成されることを活用してもよい。さらには、金属層
の表面を、熱酸化処理、酸素プラズマ処理、オゾン水等の酸化力の強い溶液での処理等を
行って金属酸化物層を形成してもよい。
剥離が容易となるように、又は後の剥離工程において半導体素子や配線に亀裂やダメージ
が入るのを防ぐために設ける。例えば、絶縁層104として、スパッタリング法やプラズ
マCVD法、塗布法、印刷法等により、無機化合物を用いて単層又は多層で形成する。無
機化合物の代表例としては、酸化珪素、窒化珪素、酸化窒化珪素、窒化酸化珪素等がある
。なお、絶縁層104として、窒化珪素、窒化酸化珪素、酸化窒化珪素等を用いることに
より、外部から後に形成される素子層へ水分や、酸素等の気体が侵入することを防止する
ことができる。保護層として機能する絶縁層の厚さは10nm以上1000nm以下、さ
らには100nm以上700nm以下が好ましい。
ランジスタ106は、少なくともソース領域、ドレイン領域及びチャネル形成領域を有す
る半導体層108、ゲート絶縁層110、ゲート電極112で構成される。
nm以上70nm以下で形成される。半導体層108を形成する材料は、シランやゲルマ
ンに代表される半導体材料を用いて気相成長法やスパッタリング法で作製される非晶質半
導体、該非晶質半導体を光エネルギーや熱エネルギーを利用して結晶化させた多結晶半導
体、或いは微結晶半導体、有機材料を主成分とする半導体などを用いることができる。半
導体層に結晶性半導体層を用いる場合、その結晶性半導体層の作製方法は、レーザ光の照
射、瞬間熱アニール(RTA)やファーネスアニール炉を用いた熱処理、又はこれらの方
法を組み合わせた方法を適用することができる。加熱処理においては、シリコン半導体の
結晶化を助長する作用のあるニッケルなどの金属元素を用いた結晶化法を適用することが
できる。
GaAs、InP、SiC、ZnSe、GaN、SiGeなどのような化合物半導体も用
いることができる。また酸化物半導体である酸化亜鉛(ZnO)、酸化スズ(SnO2)
、酸化マグネシウム亜鉛、酸化ガリウム、インジウム酸化物、及び上記酸化物半導体の複
数より構成される酸化物半導体などを用いることができる。例えば、酸化亜鉛とインジウ
ム酸化物と酸化ガリウムとから構成される酸化物半導体なども用いることができる。なお
、酸化亜鉛を半導体層に用いる場合、ゲート絶縁層をY2O3、Al2O3、TiO2、
それらの積層などを用いるとよく、ゲート電極層、ソース電極層、ドレイン電極層として
は、ITO、Au、Tiなどを用いるとよい。また、ZnOにInやGaなどを添加する
こともできる。
nm以下の酸化珪素及び酸化窒化珪素などの無機絶縁物で形成する。
とができる。金属を用いる場合は、タングステン(W)、モリブデン(Mo)、チタン(
Ti)、タンタル(Ta)、アルミニウム(Al)などを用いることができる。また、金
属を窒化させた金属窒化物を用いることができる。或いは、当該金属窒化物からなる第1
層と当該金属から成る第2層とを積層させた構造としても良い。このとき第1層を金属窒
化物とすることで、バリアメタルとすることができる。すなわち、第2層の金属が、ゲー
ト絶縁層やその下層の半導体層に拡散することを防ぐことができる。また、積層構造とす
る場合には、第1層の端部が第2層の端部より外側に突き出した形状としても良い。
膜トランジスタ106は、シングルドレイン構造、LDD(低濃度ドレイン)構造、ゲー
トオーバーラップドレイン構造など各種構造を適用することができる。ここでは、ゲート
電極112の側面に接する絶縁層(「サイドウォール」ともよばれる)を用いて低濃度不
純物領域が設けられたLDD構造の薄膜トランジスタを示している。さらには、等価的に
は同電位のゲート電圧が印加されるトランジスタが直列に接続された形となるマルチゲー
ト構造、半導体層の上下をゲート電極で挟むデュアルゲート構造等で形成される薄膜トラ
ンジスタ等を適用することができる。なお、図面においては、トップゲート構造の薄膜ト
ランジスタの一例を示したが、もちろんその他、ボトムゲート構造や公知の他の構造の薄
膜トランジスタを用いても構わない。
ンジスタを用いることが可能である。金属酸化物の代表的には酸化亜鉛や亜鉛ガリウムイ
ンジウムの酸化物等がある。
膜トランジスタを形成する場合には、モリブデン(Mo)、モリブデンを主成分とする合
金材料、又はモリブデン元素を主成分とする化合物材料からなる層を単層、又は複数積層
させて剥離層102を形成するのが好ましい。
8を形成し、当該配線118に電気的に接続する第1の電極122を形成する(図3(C
)参照)。
116上にソース電極、ドレイン電極としても機能しうる配線118を形成する。その後
、配線118上に絶縁層120を形成し、当該絶縁層120上に第1の電極122を形成
する。
法、スパッタ法、SOG法、液滴吐出法、スクリーン印刷法等により、珪素の酸化物や珪
素の窒化物等の無機材料、ポリイミド、ポリアミド、ベンゾシクロブテン、アクリル、エ
ポキシ等の有機材料やシロキサン材料等により、単層または積層で形成する。ここでは、
1層目の絶縁層114として窒化酸化珪素膜で形成し、2層目の絶縁層116として酸化
窒化珪素膜で形成することができる。
とアルミニウム(Al)との積層構造など、アルミニウム(Al)のような低抵抗材料と
、チタン(Ti)やモリブデン(Mo)などの高融点金属材料を用いたバリアメタルとの
組み合わせで形成することが好ましい。
より、珪素の酸化物や珪素の窒化物等の無機材料、ポリイミド、ポリアミド、ベンゾシク
ロブテン、アクリル、エポキシ等の有機材料やシロキサン材料等により、単層または積層
で形成する。ここでは、絶縁層120として、スクリーン印刷法を用いてエポキシで設け
る。
用いる場合には、仕事関数の大きい材料を用いることが望ましい。例えば、インジウム錫
酸化物膜、珪素を含有したインジウム錫酸化物膜、酸化インジウムに2~20wt%の酸
化亜鉛(ZnO)を混合したターゲットを用いてスパッタ法により形成した透光性を有す
る導電膜、酸化亜鉛(ZnO)膜、窒化チタン膜、クロム膜、タングステン膜、Zn膜、
Pt膜などの単層膜の他、窒化チタンとアルミニウムを主成分とする膜との積層、窒化チ
タン膜とアルミニウムを主成分とする膜と窒化チタン膜との3層構造等を用いることがで
きる。なお、陽極を積層構造とすると、配線としての抵抗も低く、良好なオーミックコン
タクトがとれる。
たはこれらの合金MgAg、MgIn、AlLi、CaF2、または窒化カルシウム)を
用いることが好ましい。なお、陰極として用いる第1の電極122を透光性とする場合に
は、電極として、膜厚を薄くした金属薄膜と、透光性を有する導電膜(インジウム錫酸化
物膜、珪素を含有したインジウム錫酸化物膜、酸化インジウムに2~20wt%の酸化亜
鉛(ZnO)を混合したターゲットを用いてスパッタ法により形成した透光性を有する導
電膜、酸化亜鉛(ZnO)等)との積層を用いるのが良い。
(D)参照)。本実施の形態においては、ポジ型の感光性アクリル樹脂膜を用いることに
より、第1の絶縁層137aを形成する。第1の絶縁層137aの被覆性を良好なものと
するため、その上端部または下端部に曲率を有する曲面が形成されるように設けるのが好
ましい。例えば、第1の絶縁層137aの材料としてポジ型の感光性アクリルを用いた場
合、第1の絶縁層137aの上端部のみに曲率半径(0.2μm~3μm)を有する曲面
を持たせることが好ましい。第1の絶縁層137aとしては、感光性の光によってエッチ
ャントに不溶解性となるネガ型、或いは光によってエッチャントに溶解性となるポジ型の
いずれも使用することができる。他にも、第1の絶縁層137aとして珪素の酸化物や珪
素の窒化物等の無機材料、エポキシ、ポリイミド、ポリアミド、ポリビニルフェノール、
ベンゾシクロブテン等の有機材料やシロキサン樹脂等のシロキサン材料からなる単層また
は積層構造で設けることができる。
37bは、第1の絶縁層137aと同様に、珪素の酸化物や珪素の窒化物等の無機材料、
ポリイミド、ポリアミド、ベンゾシクロブテン、アクリル、エポキシ等の有機材料やシロ
キサン材料等により形成されている。なお、第1の絶縁層137a及び第2の絶縁層13
7bは、同じ材料を用いて形成しても、又は別々の材料を用いて形成しても構わない。ま
た、第2の絶縁層137bと第1の絶縁層137aとの接触面積は、第1の絶縁層137
aの上面積よりも小さく、第2の絶縁層137bが、第1の絶縁層137a上に収まるよ
うに形成するのが好ましい。なお、第2の絶縁層137bは、フォトリソグラフィ法の他
、スクリーン印刷法、又はインクジェット法等により形成することができる。これによっ
て、第1の絶縁層137aと第2の絶縁層137bの2層よりなる絶縁層137が形成さ
れる。
によって、絶縁層137の表面を改質して緻密な膜を得ることも可能である。絶縁層13
7の表面を改質することによって、当該絶縁層137の強度が向上し開口部等の形成時に
おけるクラックの発生やエッチング時の膜減り等の物理的ダメージを低減することが可能
となる。
料および高分子系材料のいずれを用いることもできる。なお、EL層134を形成する材
料には、有機化合物材料のみから成るものだけでなく、無機化合物を一部に含む構成も含
めるものとする。EL層134は、少なくとも発光層を有し、発光層一層でなる単層構造
であっても、各々異なる機能を有する層からなる積層構造であっても良い。例えば、発光
層の他に、正孔注入層、正孔輸送層、キャリアブロッキング層、電子輸送層、電子注入層
等、各々の機能を有する機能層を適宜組み合わせて構成することができる。なお、それぞ
れの層の有する機能を2つ以上同時に有する層を含んでいても良い。
コート法、ノズルプリンティング法など、湿式、乾式を問わず、用いることができる。
22、第1の電極122の端部を覆う絶縁層137、EL層134、第2の電極136が
積層された発光素子140を形成することができる。なお、第1の電極122及び第2の
電極136は、一方を陽極として用い、他方を陰極として用いる。
電極122側から順に、正孔注入層、正孔輸送層、発光層、電子注入層が積層された構造
とする。発光層としては種々の材料を用いることができる。例えば、蛍光を発光する蛍光
性化合物や燐光を発光する燐光性化合物を用いることができる。
トランジスタ106は、nチャネル型トランジスタであることが好ましい。
図4(A)参照)。これによって、薄膜トランジスタ106及び発光素子140を含む素
子部170を形成することができる。絶縁層138は、発光素子140の保護層として機
能し、後の第2の基板の圧着工程等においてEL層134に水分やダメージが入るのを防
ぐために設ける。また、後の第2の基板を圧着させた場合にEL層134が加熱されるの
を低減させるための断熱層としても機能する。例えば、絶縁層138として、スパッタリ
ング法やプラズマCVD法、塗布法、印刷法等により、無機化合物を用いて単層又は多層
で形成する。無機化合物の代表例としては、酸化珪素、窒化珪素、酸化窒化珪素、窒化酸
化珪素等がある。また、カバレッジの良い膜を絶縁層138として用いることが好ましい
。また、絶縁層138を有機化合物と無機化合物の積層膜としても良い。なお、絶縁層1
38として、窒化珪素、窒化酸化珪素、酸化窒化珪素等を用いることにより、外部から後
に形成される素子層へ水分や、酸素等の気体が侵入することを防止することができる。保
護層として機能する絶縁層の厚さは10nm以上1000nm以下、さらには100nm
以上700nm以下が好ましい。
0は、例えば、塗布法を用いて組成物を塗布し、乾燥加熱して形成することができる。樹
脂膜130は後の剥離工程において発光素子の保護層として機能するため、表面の凹凸の
少ない膜であることが好ましい。また、絶縁層138と密着性の良好な材料を用いるもの
とする。具体的には、塗布法を用いて樹脂膜130を形成する場合、例えば、アクリル樹
脂、ポリイミド樹脂、メラミン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリカーボネート樹脂、フェノ
ール樹脂、エポキシ樹脂、ポリアセタール、ポリエーテル、ポリウレタン、ポリアミド(
ナイロン)、フラン樹脂、ジアリルフタレート樹脂等の有機化合物、シリカガラスに代表
されるシロキサンポリマー系材料を出発材料として形成された珪素、酸素、水素からなる
化合物のうちSi-O-Si結合を含む無機シロキサンポリマー、又はアルキルシロキサ
ンポリマー、アルキルシルセスキオキサンポリマー、水素化シルセスキオキサンポリマー
、水素化アルキルシルセスキオキサンポリマーに代表される珪素に結合される水素がメチ
ルやフェニルのような有機基によって置換された有機シロキサンポリマー等を用いること
ができる。または、樹脂膜130として繊維体に有機樹脂が含浸された構造体を用いるこ
ともできる。
は、少なくとも発光装置の表示面においては、透光性を有する材料を用いて形成する、又
は、光を透過する膜厚で形成するものとする。発光素子140の第1の電極122側から
のみ発光を取り出す場合には、透光性を有する樹脂膜130としなくても構わない。
、光または熱により剥離可能なシートを適用する。粘着シート131を貼り合わせること
により、剥離が容易に行えると共に剥離の前後において素子部170に加わる応力を低減
し、薄膜トランジスタ106及び発光素子140の破損を抑制することが可能となる。な
お、1枚の基板から複数の発光装置のパネルを形成する(多面取りする)場合には、粘着
シート131を設ける前に、パネルを形成する各々の領域の端部においてエッチングし、
それぞれのパネルを構成する素子部毎に分離することができる。または、第1の基板及び
第2の基板で挟持した後に、ダイシング等によって素子部毎に分離しても良い。
剥離する(図4(C)参照)。剥離方法としては、様々な方法を用いることができる。例
えば、剥離層102として絶縁層104に接する側に金属酸化層を形成した場合には、当
該金属酸化層を結晶化により脆弱化して、素子部170を基板100から剥離することが
できる。また、基板100として透光性を有する基板を用い、剥離層102として窒素、
酸素や水素等を含む膜(例えば、水素を含む非晶質珪素膜、水素含有合金膜、酸素含有合
金膜など)を用いた場合には、基板100から剥離層102にレーザ光を照射して、剥離
層内に含有する窒素、酸素や水素を気化させて、基板100と剥離層102との間で剥離
する方法を用いることができる。または、剥離層102をエッチングにより除去すること
で、素子部170を基板100から剥離しても良い。
ClF3等のフッ化ハロゲンガスまたはHFによるエッチングで除去する方法等を用いる
ことができる。この場合、剥離層102を用いなくともよい。また、剥離層102として
絶縁層104に接する側に金属酸化層を形成し、当該金属酸化膜を結晶化により脆弱化し
、さらに剥離層102の一部を溶液やNF3、BrF3、ClF3等のフッ化ハロゲンガ
スによりエッチングで除去した後、脆弱化された金属酸化層において剥離することができ
る。
を用いて、剥離層102を露出させる溝を形成し、溝をきっかけとして剥離層102と保
護層として機能する絶縁層104の界面において素子部170を基板100から剥離する
こともできる。剥離方法としては、例えば、機械的な力を加えること(人間の手や把治具
で引き剥がす処理や、ローラーを回転させながら分離する処理等)を用いて行えばよい。
また、溝に液体を滴下し、剥離層102及び絶縁層104の界面に液体を浸透させて剥離
層102から素子部170を剥離してもよい。また、溝にNF3、BrF3、ClF3等
のフッ化ガスを導入し、剥離層をフッ化ガスでエッチングし除去して、絶縁表面を有する
基板から素子部170を剥離する方法を用いることができる。また、剥離を行う際に水な
どの液体をかけながら剥離してもよい。
水と過酸化水素水の混合溶液により剥離層をエッチングしながら剥離を行うことができる
。
常に低く、剥離工程においてEL層と第2の電極との界面で膜剥がれが生じることがある
。しかしながら、本実施の形態で示す発光素子140は、絶縁層137が凸状部を有して
おり、樹脂膜130が絶縁層137(または、絶縁層137の凸状部)を埋没させている
。この絶縁層137が樹脂膜130内においてくさびのような働きをする(いわゆるアン
カー効果を有する)ため、樹脂膜130と絶縁層137との密着性が高くなる。従って、
剥離工程においてEL層134と第2の電極136の界面では剥離しにくくなり、歩留ま
り良く素子部170を基板100から剥離することができる。
1の基板132を設ける。本実施の形態においては、第1の基板132として、繊維体1
32aに有機樹脂132bが含浸された第1の構造体を設ける(図5(A)参照)。この
ような構造体は、プリプレグとも呼ばれる。
乾燥して有機溶剤を揮発させてマトリックス樹脂を半硬化させたものである。構造体の厚
さは、10μm以上100μm以下、さらには10μm以上30μmが好ましい。このよ
うな厚さの構造体を用いることで、薄型で湾曲することが可能な発光装置を製造すること
ができる。
的には、エポキシ樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、ポリイミド樹脂、ビスマレイミドトリ
アジン樹脂又はシアネート樹脂等を用いることができる。また、ポリフェニレンオキシド
樹脂、ポリエーテルイミド樹脂又はフッ素樹脂等の熱可塑性樹脂を用いてもよい。上記有
機樹脂を用いることで、熱処理により繊維体を半導体集積回路に固着することができる。
なお、有機樹脂132bはガラス転移温度が高いほど、局所的押圧に対して破壊しにくい
ため好ましい。
い。高熱伝導性フィラーとしては、窒化アルミニウム、窒化ホウ素、窒化珪素、アルミナ
等が挙げられる。また、高熱伝導性フィラーとしては、銀、銅等の金属粒子がある。導電
性フィラーが有機樹脂または繊維糸束内に含まれることにより発熱を外部に放出しやすく
なるため、発光装置の蓄熱を抑制することが可能であり、発光装置の破壊を低減すること
ができる。
であり、部分的に重なるように配置する。高強度繊維としては、具体的には引張弾性率ま
たはヤング率の高い繊維である。高強度繊維の代表例としては、ポリビニルアルコール系
繊維、ポリエステル系繊維、ポリアミド系繊維、ポリエチレン系繊維、アラミド系繊維、
ポリパラフェニレンベンゾビスオキサゾール繊維、ガラス繊維、または炭素繊維が挙げら
れる。ガラス繊維としては、Eガラス、Sガラス、Dガラス、Qガラス等を用いたガラス
繊維が挙げられる。なお、繊維体132aは、一種類の上記高強度繊維で形成されてもよ
い。また、複数の上記高強度繊維で形成されてもよい。なお、繊維体132aと有機樹脂
132bとは、同程度の屈折率を有する材料を用いるのが好ましい。
て製織した織布、または複数種の繊維の糸束をランダムまたは一方向に堆積させた不織布
であってもよい。織布の場合、平織り、綾織り、しゅす織り等を適宜用いることができる
。
高周波の振動、連続超音波の振動、ロールによる押圧等によって、開繊加工をした繊維糸
束を用いてもよい。開繊加工をした繊維糸束は、糸束幅が広くなり、厚み方向の単糸数を
削減することが可能であり、糸束の断面が楕円形または平板状となる。また、繊維糸束と
して低撚糸を用いることで、糸束が扁平化やすく、糸束の断面形状が楕円形状または平板
形状となる。このように、断面が楕円形または平板状の糸束を用いることで、繊維体13
2aを薄くすることが可能である。このため、構造体を薄くすることが可能であり、薄型
の発光装置を製造することができる。
樹脂132bを可塑化、半硬化、又は硬化する。第1の基板132を加熱する場合、加熱
温度は100℃以下とするのが好ましい。なお、有機樹脂132bが可塑性有機樹脂の場
合、この後、室温に冷却することにより可塑化した有機樹脂を硬化する。又は、第1の構
造体に紫外光を照射し圧着して有機樹脂132bを半硬化、又は硬化しても良い。有機樹
脂132bは加熱若しくは紫外光照射、及び圧着により、素子形成層124の表面に有機
樹脂132bが均一に広がり硬化する。第1の構造体を圧着する工程は、大気圧下または
減圧下で行うことができる。
で、樹脂膜130上に、第2の基板133を設ける(図5(B)参照)。本実施の形態に
おいては、第2の基板133も第1の基板132と同様、繊維体に有機樹脂が含浸された
第2の構造体を用いる。その後、第2の構造体を加熱し圧着して、第2の構造体の有機樹
脂132bを可塑化、又は硬化する。又は、第2の構造体に紫外光を照射し圧着して有機
樹脂132bを硬化しても良い。なお、樹脂膜130を、第2の基板133として機能さ
せることも可能である。この場合、新たに第2の基板133を設けなくとも良い。
発光装置を形成することができる。
aと第1の絶縁層137a上に1層形成された第2の絶縁層137bからなる凸状部を有
する構造としたが、本発明の実施の形態はこれに限られない。隔壁として機能する絶縁層
は、樹脂膜130中に埋め込まれて、樹脂膜130との密着性を向上させるために表面積
が大きく形成されており、凸状部を有していれば良い。例えば、図6(A)に図示する発
光素子のように、第1の絶縁層137a上に、2つの第2の絶縁層137bを設けた凸状
部を有する絶縁層137を形成してもよい。第2の絶縁層137bは、フォトリソグラフ
ィ法、スクリーン印刷法、インクジェット法等によって形成することが可能である。また
、図6(B)に図示する発光素子のように、第1の絶縁層137a上に、3つの第2の絶
縁層137bを設けた凸状部を有する絶縁層137を形成しても良い。絶縁層137の表
面積を大きくするほど、アンカー効果をより増大し、絶縁層137と樹脂膜130の密着
性を向上させることができるため好ましい。なお、第1の電極の端部を覆う一対の絶縁層
137において、それぞれの絶縁層137の有する凸状部の個数が異なっていても構わな
い。なお、第1の絶縁層137a上に複数の第2の絶縁層137bを設ける場合、複数の
第2の絶縁層137bと第1の絶縁層137aとの接触面積は、第1の絶縁層137aの
上面積よりも小さく、複数の第2の絶縁層137bが、第1の絶縁層137a上に収まる
ように形成するのが好ましい。
も良い。ただし、絶縁層137の膜厚(絶縁層120表面から絶縁層137の最表面まで
の高さ)は、300nm以上5μm以下とするのが好ましい。絶縁層の膜厚を300nm
以上とすることで絶縁性が良好となる。また、5μm以下とすることで生産性良く絶縁層
137を形成することができる。
に有機樹脂が含浸された構造体(いわゆるプリプレグ)を用いた例を示したが、本発明の
実施の形態はこれに限られない。例えば、第1の基板132又は第2の基板133として
、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)等のポ
リエステル樹脂、アクリル樹脂、ポリアクリルニトリル樹脂、ポリイミド樹脂、ポリメチ
ルメタクリレート樹脂、ポリカーボネート樹脂(PC)、ポリエーテルスルフォン樹脂(
PES)、ポリアミド樹脂、シクロオレフィン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリアミドイミ
ド樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂等からなる可撓性を有する基板若しくはフィルムなどを用い
、接着剤によって絶縁層104又は樹脂膜130と貼り合わせることができる。接着剤の
材料としては、反応硬化型接着剤、熱硬化型接着剤、紫外線硬化型接着剤など光硬化型の
接着剤や嫌気型接着剤など各種硬化型接着剤を用いることができる。これらの接着剤の材
質としてはエポキシ樹脂やアクリル樹脂、シリコーン樹脂、フェノール樹脂などを用いる
ことができる。ただし、少なくとも発光素子140の光の取り出し方向に位置する基板に
は、透光性を有する基板を用いるものとする。
板は可撓性を得るためにその膜厚は10μm以上200μm以下のものを用いるのが好ま
しい。なお、膜厚が20μm以上100μm以下のものが可撓性が高いためより好ましい
。金属基板を構成する材料としては、特に限定はないが、アルミニウム、銅、ニッケル等
の金属や、アルミニウム合金若しくはステンレスなどの金属の合金などを好適にもちいる
ことができる。これらの金属基板は、接着剤によって絶縁層104又は樹脂膜130と貼
り合わせることができる。なお、金属基板は、接着剤を用いて接着する前に、真空中での
ベークやプラズマ処理を行うことによって、その表面に付着した水を取り除いておくこと
が好ましい。
の水分の侵入を防ぐことができ、寿命の長い発光装置とすることが可能となる。なお、こ
れらの金属基板は、透水性の低さと可撓性とを同時に持ち合わせているが、可視光に対す
る透光性が低いため、発光装置においては発光素子を挟持する一対の基板のうち、どちら
か一方にのみ使用するのが好ましい。
142を設けてもよい。乾燥剤142を封入することで、水分などによる発光素子の劣化
を防ぐことができる。乾燥剤としては、酸化カルシウムや酸化バリウム等のアルカリ土類
金属の酸化物のような化学吸着によって水分を吸収する物質を用いることが可能である。
その他の乾燥剤として、ゼオライトやシリカゲル等の物理吸着によって水分を吸着する物
質を用いてもよい。なお、発光素子140の第2の電極136側から発光を取り出す場合
には、画素領域と重ならない箇所(例えば、画素領域の周辺部)に乾燥剤を配置すると、
開口率を下げることがないため好ましい。
素子140と反対側)に、それぞれ第1の衝撃緩和層144及び第2の衝撃緩和層146
を設けた構成としてもよい。
(B)に示すように、発光装置に外部から与えられる力(外部ストレスともいう)を拡散
する衝撃緩和層を設けることによって、局所的にかかる力を軽減することができるため、
発光装置の強度を高め、破損や特性不良などを防止することが可能となる。
2GPa以下、破断係数300MPa以上のゴム弾性を有する膜を用いることができる。
なお、第1の基板132及び第2の基板133より弾性率が低く、かつ破断強度が高い材
料を用いるのが好ましい。
とが好ましい。高強度材料の代表例としては、ポリビニルアルコール樹脂、ポリエステル
樹脂、ポリアミド樹脂、ポリエチレン樹脂、アラミド樹脂、ポリパラフェニレンベンゾビ
スオキサゾール樹脂、ガラス樹脂等がある。弾性を有する高強度材料で形成される第1の
衝撃緩和層144及び第2の衝撃緩和層146を設けると局所的な押圧などの荷重を層全
体に拡散し吸収するために、発光装置の破損を防ぐことができる。
樹脂、ポリエチレンナフタレート(PEN)樹脂、ポリエーテルサルフォン(PES)樹
脂、ポリフェニレンサルファイド(PPS)樹脂、ポリイミド(PI)樹脂、ポリエチレ
ンテレフタレート(PET)樹脂などを用いることができる。本実施の形態では、第1の
衝撃緩和層144及び第2の衝撃緩和層146としてアラミド樹脂を用いたアラミドフィ
ルムを用いる。
層146とは、接着剤(図示しない)等によって接着することができる。なお、第1の基
板132または第2の基板133として、繊維体に有機樹脂が含浸された構造体を用いる
と、接着剤を介さず直接加熱及び加圧処理によって接着することができる。
側に設けた例を示したが、衝撃緩和層は、第1の基板132又は第2の基板133のどち
らか一方のみの外側に設けても構わない。但し、図7(B)に示すように素子部170に
対して一対の衝撃緩和層を対称に設けると、発光装置にかかる力を均一に拡散できるため
、曲げや反りなどに起因する素子部170の破損を防止できるため好ましい。また、一対
の基板同士、または一対の衝撃緩和層同士をそれぞれ同材料及び同じ膜厚で作製すると、
同等な特性を付与できるために、力の拡散効果はより高まる。
0に埋め込まれることで、絶縁層137と、樹脂膜130との密着性を向上させることが
できるため、発光装置の製造工程において、発光素子内部での剥離を生じさせることなく
、発光素子を可撓性基板へ転写することが可能となる。よって、歩留まりよく発光装置を
製造することが可能となる。また、製造された発光装置を信頼性の高い発光装置とするこ
とができる。
よって、局所的にかかる力を軽減することができるため、外部ストレスによる発光装置の
破損や特性不良などを防止することが可能となる。よって、薄型化及び小型化を達成しな
がら耐性を有する信頼性の高い発光装置を提供することができる。また、製造工程におい
ても外部ストレスに起因する形状や特性の不良を防ぎ、歩留まり良く発光装置を製造する
ことができる。
本実施の形態では、モジュール型の発光装置(ELモジュールとも表記する)の一例を図
8の上面図及び断面図を用いて示す。
、図8(B)は図8(A)をA-A’で切断した断面図である。図8(A)において、第
1の基板132上に、画素部502、ソース側駆動回路504、及びゲート側駆動回路5
03を形成されている。
伝送するための配線であり、画素部のスイッチング素子に含まれる配線と同時に形成する
ことができる。配線508は、外部入力端子となるFPC402(フレキシブルプリント
サーキット)からビデオ信号、クロック信号、スタート信号、リセット信号等を受け取る
。なお、ここではFPC402しか図示されていないが、このFPCにはプリント配線基
盤(PWB)が取り付けられていても良い。本明細書における発光装置には、発光装置本
体だけでなく、それにFPCもしくはPWBが取り付けられた状態をも含むものとする。
部502、ゲート側駆動回路503が形成されており、画素部502は薄膜トランジスタ
106とそのドレインに電気的に接続された第1の電極を含む複数の画素により形成され
る。外部入力端子となるFPC402は、第1の基板132に設けられた配線508上に
異方性導電剤等を介して貼りつけられている。異方性導電剤に含まれる導電性粒子により
、配線508とFPC402に形成された配線とが電気的に接続する。図8において、F
PC402は、第1の基板132及び第2の基板133によって挟持されている。
上記実施の形態で示した発光装置は、電子機器の表示部として用いることができる。本実
施の形態で示す電子機器は、上記実施の形態で示した発光装置を有する。上記実施の形態
で示した発光装置の製造方法によって、歩留まり良く、かつ信頼性の高い発光装置を得る
ことが可能になり、結果として、最終製品としての電子機器をスループット良く、良好な
品質で製造することが可能になる。
ラ等のあらゆる電子機器の表示部に用いることができる。上記実施の形態で示した発光装
置を表示部に用いることで、薄型化及び軽量化され、かつ信頼性の高い電子機器を提供す
ることが可能である。
ーカー部9104、ビデオ入力端子9105等を含む。このテレビ装置の表示部9103
は、上記実施の形態に示した発光装置を用いることによって製造される。フレキシブル且
つ長寿命で簡便に製造できる上記実施の形態に記載の発光装置を搭載したテレビ装置は、
表示部9103において、曲面の表示が可能かつ軽量化を実現しながら信頼性の高い商品
とすることが可能となる。
ボード9204、外部接続ポート9205、ポインティングデバイス9206等を含む。
このコンピュータの表示部9203は、上記実施の形態に示した発光装置を用いることに
よって製造される。フレキシブル且つ長寿命で簡便に製造できる上記実施の形態に記載の
発光装置を搭載したコンピュータは、表示部9203において、曲面の表示が可能かつ軽
量化を実現しながら信頼性の高い商品とすることが可能となる。
部9404、音声出力部9405、操作キー9406、外部接続ポート9407等を含む
。この携帯電話の表示部9403は、上記実施の形態に示した発光装置を用いることによ
って製造される。フレキシブル且つ長寿命で簡便に製造できる上記実施の形態に記載の発
光装置を搭載した携帯電話は、表示部9403において、曲面の表示が可能かつ軽量化を
実現しながら信頼性の高い商品とすることが可能となる。また軽量化が図られた本実施の
形態における携帯電話には、様々な付加価値を備えても携帯に適した、重量に止めること
ができ、当該携帯電話は高機能な携帯電話としても適した構成となっている。
ート9504、リモコン受信部9505、受像部9506、バッテリー9507、音声入
力部9508、操作キー9509、接眼部9510等を含む。このカメラの表示部950
2は、上記実施の形態に示した発光装置を用いることによって製造される。フレキシブル
且つ長寿命で簡便に製造できる上記実施の形態に記載の発光装置を搭載したカメラは、表
示部9502において、曲面の表示が可能かつ軽量化を実現しながら信頼性の高い商品と
することが可能となる。
603、スピーカー部9604、操作キー9605等を含む。本体9601には他にテレ
ビ受像アンテナや外部入力端子、外部出力端子、バッテリーなどが搭載されていても良い
。このディスプレイの表示部9602は上記実施の形態に示した発光装置を用いることに
よって製造される。フレキシブルな表示部9602は本体9601内に巻き取ることで収
納することが可能であり、携帯に好適である。フレキシブルな形状とすることが可能な上
記実施の形態に記載の発光装置を搭載したディスプレイは、表示部9602において、携
帯好適性かつ軽量化を実現しながら信頼性の高い商品とすることが可能となる。
極めて広く、この発光装置をあらゆる分野の電子機器に適用することが可能である。
置として用いる一態様を、図10を用いて説明する。
00、及び室内の照明装置3001、3002として用いた例である。図10に示す電気
スタンド3000は、光源として、上記実施の形態で一例を示した発光装置が用いられて
いる。従って、軽量化を実現し、且つ信頼性の高い電気スタンドとすることができる。ま
た、上記実施の形態に示す発光装置を用いることで、軽量化され、且つ信頼性の高い照明
装置3001、3002を提供することができる。また、この発光装置は、フレキシブル
化が可能であるため、例えば、照明装置3002のように、ロール型の照明とすることが
可能である。
じめ、様々な形態の照明装置として応用することができる。このような場合において、上
記実施の形態で示した発光装置を用いた照明装置は、発光媒体が薄膜状であるので、デザ
インの自由度が高く、様々な意匠を凝らした商品を市場に提供することができる。
102 剥離層
104 絶縁層
106 薄膜トランジスタ
108 半導体層
110 ゲート絶縁層
112 ゲート電極
114 絶縁層
116 絶縁層
118 配線
120 絶縁層
122 電極
124 素子形成層
130 樹脂膜
131 粘着シート
132 基板
132a 繊維体
132b 有機樹脂
133 基板
134 EL層
136 電極
137 絶縁層
137a 絶縁層
137b 絶縁層
138 絶縁層
140 発光素子
142 乾燥剤
144 衝撃緩和層
146 衝撃緩和層
170 素子部
200 基板
402 FPC
502 画素部
503 ゲート側駆動回路
504 ソース側駆動回路
508 配線
3000 電気スタンド
3001 照明装置
3002 照明装置
9101 筐体
9102 支持台
9103 表示部
9104 スピーカー部
9105 ビデオ入力端子
9201 本体
9202 筐体
9203 表示部
9204 キーボード
9205 外部接続ポート
9206 ポインティングデバイス
9401 本体
9402 筐体
9403 表示部
9404 音声入力部
9405 音声出力部
9406 操作キー
9407 外部接続ポート
9501 本体
9502 表示部
9503 筐体
9504 外部接続ポート
9505 リモコン受信部
9506 受像部
9507 バッテリー
9508 音声入力部
9509 操作キー
9510 接眼部
9601 本体
9602 表示部
9603 外部メモリ挿入部
9604 スピーカー部
9605 操作キー
Claims (6)
- 第1の基板と、
前記第1の基板上に設けられたトランジスタと、
前記トランジスタ上の第1の絶縁層と、
前記第1の絶縁層上の、第1の電極と、前記第1の電極の端部を覆う第2の絶縁層と、前記第1の電極上及び前記第2の絶縁層の上面の第1の領域と接するEL層と、前記EL層上の第2の電極と、を含む発光素子と、
前記第2の絶縁層の上面の第2の領域の上に接触している第3の絶縁層と、
前記発光素子を覆う有機材料層と、を有し、
前記トランジスタは、第3の電極と電気的に接続され、
前記第1の電極は、前記第1の絶縁層に設けられたコンタクトホールを介して、前記第3の電極と電気的に接続され、
前記第2の絶縁層は、前記コンタクトホールと重なる領域を有し、
前記第3の絶縁層は、前記コンタクトホールと重ならず、
前記第3の絶縁層は有機材料を含み、
前記EL層は、前記第3の絶縁層の上にあり、前記第3の絶縁層の頭頂部と接触し、
前記第2の絶縁層および前記第3の絶縁層は、前記有機材料層に埋め込まれ、
前記有機材料層は、透光性を有し、
前記EL層で発光した光を前記第2の電極を介して取り出す発光装置。 - 請求項1において、
前記第2の絶縁層および前記第3の絶縁層は同じ材料を含む発光装置。 - 第1の基板と、
前記第1の基板上に設けられたトランジスタと、
前記トランジスタ上の第1の絶縁層と、
前記第1の絶縁層上の、第1の電極と、前記第1の電極の端部を覆う第2の絶縁層と、前記第1の電極上及び前記第2の絶縁層の上面の第1の領域と接するEL層と、前記EL層上の第2の電極と、を含む発光素子と、
前記第2の絶縁層の上面の第2の領域の上に接触している第3の絶縁層と、
前記第2の絶縁層の上面の第3の領域の上に接触している第4の絶縁層と、
前記発光素子を覆う有機材料層と、を有し、
前記トランジスタは、第3の電極と電気的に接続され、
前記第1の電極は、前記第1の絶縁層に設けられたコンタクトホールを介して、前記第3の電極と電気的に接続され、
前記第2の絶縁層は、前記コンタクトホールと重なる領域を有し、
前記第3の絶縁層および前記第4の絶縁層は、前記コンタクトホールと重ならず、
前記第3の絶縁層および前記第4の絶縁層は、それぞれ有機材料を含み、
前記EL層は、前記第3の絶縁層および前記第4の絶縁層の上にあり、且つ前記第3の絶縁層の頭頂部および前記第4の絶縁層の頭頂部と接触し、
前記第2の絶縁層、前記第3の絶縁層および前記第4の絶縁層は、前記有機材料層に埋め込まれ、
前記有機材料層は、透光性を有し、
前記EL層で発光した光を前記第2の電極を介して取り出す発光装置。 - 請求項3において、
前記第2の絶縁層、前記第3の絶縁層および前記第4の絶縁層は同じ材料を含む発光装置。 - 請求項1乃至請求項4のいずれか一において、
前記第1の基板は可撓性基盤である発光装置。 - 請求項1乃至請求項5のいずれか一において、
前記有機材料層上に第2の基板を有する発光装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009002567 | 2009-01-08 | ||
JP2009002567 | 2009-01-08 | ||
JP2020177251A JP7048699B2 (ja) | 2009-01-08 | 2020-10-22 | 発光装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020177251A Division JP7048699B2 (ja) | 2009-01-08 | 2020-10-22 | 発光装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022075922A true JP2022075922A (ja) | 2022-05-18 |
Family
ID=42311122
Family Applications (7)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010000904A Withdrawn JP2010182668A (ja) | 2009-01-08 | 2010-01-06 | 発光装置及び電子機器 |
JP2014131202A Active JP5823576B2 (ja) | 2009-01-08 | 2014-06-26 | 発光装置 |
JP2015199096A Active JP6101769B2 (ja) | 2009-01-08 | 2015-10-07 | 発光装置 |
JP2017034969A Active JP6537545B2 (ja) | 2009-01-08 | 2017-02-27 | 発光装置 |
JP2019104616A Expired - Fee Related JP6783901B2 (ja) | 2009-01-08 | 2019-06-04 | 発光装置 |
JP2020177251A Active JP7048699B2 (ja) | 2009-01-08 | 2020-10-22 | 発光装置 |
JP2022047729A Withdrawn JP2022075922A (ja) | 2009-01-08 | 2022-03-24 | 発光装置 |
Family Applications Before (6)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010000904A Withdrawn JP2010182668A (ja) | 2009-01-08 | 2010-01-06 | 発光装置及び電子機器 |
JP2014131202A Active JP5823576B2 (ja) | 2009-01-08 | 2014-06-26 | 発光装置 |
JP2015199096A Active JP6101769B2 (ja) | 2009-01-08 | 2015-10-07 | 発光装置 |
JP2017034969A Active JP6537545B2 (ja) | 2009-01-08 | 2017-02-27 | 発光装置 |
JP2019104616A Expired - Fee Related JP6783901B2 (ja) | 2009-01-08 | 2019-06-04 | 発光装置 |
JP2020177251A Active JP7048699B2 (ja) | 2009-01-08 | 2020-10-22 | 発光装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9929220B2 (ja) |
JP (7) | JP2010182668A (ja) |
KR (8) | KR101681038B1 (ja) |
TW (1) | TWI607670B (ja) |
Families Citing this family (58)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI460851B (zh) | 2005-10-17 | 2014-11-11 | Semiconductor Energy Lab | 半導體裝置及其製造方法 |
TWI607670B (zh) * | 2009-01-08 | 2017-12-01 | 半導體能源研究所股份有限公司 | 發光裝置及電子裝置 |
US9136286B2 (en) * | 2009-08-07 | 2015-09-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display panel and electronic book |
WO2012046428A1 (ja) * | 2010-10-08 | 2012-04-12 | シャープ株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
US8735874B2 (en) * | 2011-02-14 | 2014-05-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device, display device, and method for manufacturing the same |
KR102010429B1 (ko) * | 2011-02-25 | 2019-08-13 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 발광 장치 및 발광 장치를 사용한 전자 기기 |
US20120295376A1 (en) * | 2011-05-16 | 2012-11-22 | Korea Advanced Institute Of Science And Technology | Method for manufacturing a led array device, and led array device manufactured thereby |
KR101879831B1 (ko) * | 2012-03-21 | 2018-07-20 | 삼성디스플레이 주식회사 | 플렉시블 표시 장치, 유기 발광 표시 장치 및 플렉시블 표시 장치용 원장 기판 |
JP6302186B2 (ja) | 2012-08-01 | 2018-03-28 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置 |
US20140061610A1 (en) * | 2012-08-31 | 2014-03-06 | Hyo-Young MUN | Organic light emitting device and manufacturing method thereof |
KR20140031003A (ko) * | 2012-09-04 | 2014-03-12 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 |
JP6076683B2 (ja) | 2012-10-17 | 2017-02-08 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
JP6204012B2 (ja) | 2012-10-17 | 2017-09-27 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
CN103794625B (zh) * | 2012-10-30 | 2017-04-12 | 乐金显示有限公司 | 有机发光二极管显示装置及其制造方法 |
KR102065364B1 (ko) * | 2012-10-30 | 2020-01-13 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기발광다이오드 표시장치 및 그 제조방법 |
US9586291B2 (en) | 2012-11-28 | 2017-03-07 | Globalfoundries Inc | Adhesives for bonding handler wafers to device wafers and enabling mid-wavelength infrared laser ablation release |
US20140144593A1 (en) * | 2012-11-28 | 2014-05-29 | International Business Machiness Corporation | Wafer debonding using long-wavelength infrared radiation ablation |
JP6155020B2 (ja) | 2012-12-21 | 2017-06-28 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置及びその製造方法 |
JP6216125B2 (ja) | 2013-02-12 | 2017-10-18 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
KR20140107036A (ko) * | 2013-02-27 | 2014-09-04 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법, 그리고 도너 기판 |
JP6104649B2 (ja) | 2013-03-08 | 2017-03-29 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
KR20140120427A (ko) * | 2013-04-02 | 2014-10-14 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치의 제조 방법 |
KR102064392B1 (ko) * | 2013-06-04 | 2020-01-10 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기발광표시장치 및 그 제조방법 |
US9818763B2 (en) * | 2013-07-12 | 2017-11-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and method for manufacturing display device |
KR102080008B1 (ko) * | 2013-07-12 | 2020-02-24 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기발광표시장치 및 그 제조방법 |
US9269914B2 (en) * | 2013-08-01 | 2016-02-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device, electronic device, and lighting device |
TWI576190B (zh) | 2013-08-01 | 2017-04-01 | Ibm | 使用中段波長紅外光輻射燒蝕之晶圓剝離 |
KR20150021000A (ko) | 2013-08-19 | 2015-02-27 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 표시 장치 |
GB2521000A (en) * | 2013-12-07 | 2015-06-10 | Ct De Inova Μes Csem Brasil | Electroluminescent device and manufacturing method thereof |
KR102107456B1 (ko) * | 2013-12-10 | 2020-05-08 | 삼성디스플레이 주식회사 | 플렉시블 표시 장치 및 이의 제조 방법 |
KR102244722B1 (ko) * | 2013-12-24 | 2021-04-26 | 엘지디스플레이 주식회사 | 점등 패드부 및 이를 포함하는 유기발광표시장치 |
KR20150075367A (ko) * | 2013-12-25 | 2015-07-03 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 표시 장치 및 전자 기기 |
WO2015125046A1 (en) * | 2014-02-19 | 2015-08-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device and peeling method |
KR102203447B1 (ko) | 2014-05-27 | 2021-01-18 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기발광 표시패널 및 그 제조방법 |
CN110176482B (zh) | 2014-07-25 | 2023-08-08 | 株式会社半导体能源研究所 | 显示装置及电子设备 |
CN104779269B (zh) * | 2015-04-13 | 2017-06-27 | 深圳市华星光电技术有限公司 | Oled显示器件 |
CN104779268B (zh) * | 2015-04-13 | 2016-07-06 | 深圳市华星光电技术有限公司 | Oled显示器件 |
US9467190B1 (en) | 2015-04-23 | 2016-10-11 | Connor Sport Court International, Llc | Mobile electronic device covering |
JP2017009725A (ja) * | 2015-06-19 | 2017-01-12 | ソニー株式会社 | 表示装置 |
KR102516054B1 (ko) | 2015-11-13 | 2023-03-31 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기발광표시장치 및 유기발광표시장치의 제조 방법 |
KR102642198B1 (ko) * | 2016-04-04 | 2024-03-05 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기발광 디스플레이 장치 |
CN106601779A (zh) * | 2016-12-29 | 2017-04-26 | 深圳市华星光电技术有限公司 | Oled基板及其制作方法 |
TWI692002B (zh) * | 2017-02-28 | 2020-04-21 | 財團法人國家實驗研究院 | 可撓式基板結構、可撓式電晶體及其製造方法 |
US20190363304A1 (en) * | 2017-03-30 | 2019-11-28 | Sharp Kabushiki Kaisha | El device producing method and el device producing device |
US20190013370A1 (en) * | 2017-07-07 | 2019-01-10 | Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. | Woled display panel and display device |
CN109166968B (zh) * | 2018-08-31 | 2020-10-16 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 有机半导体器件的制备方法 |
US11917858B2 (en) * | 2018-09-06 | 2024-02-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Display device including molybdenum and polyphenylenew sulfide containing thermal insulation layer |
KR102573780B1 (ko) * | 2018-09-28 | 2023-08-31 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
KR102724703B1 (ko) * | 2018-10-23 | 2024-11-01 | 삼성디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치 및 디스플레이 장치를 제조하기 위한 마스크 |
JP7464335B2 (ja) * | 2018-11-28 | 2024-04-09 | ソニーグループ株式会社 | 表示装置および電子機器 |
KR102178463B1 (ko) * | 2019-01-24 | 2020-11-13 | 국민대학교산학협력단 | 섬유형 발광소자 및 그 제조방법 |
CN110707232A (zh) * | 2019-09-12 | 2020-01-17 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 显示装置 |
CN111403623A (zh) * | 2020-03-26 | 2020-07-10 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 一种显示面板及其制备方法 |
CN111430428B (zh) * | 2020-04-10 | 2023-02-07 | 京东方科技集团股份有限公司 | 柔性显示面板及其制作方法、显示装置 |
JPWO2022214904A1 (ja) * | 2021-04-08 | 2022-10-13 | ||
CN113285046B (zh) * | 2021-05-21 | 2023-07-04 | 京东方科技集团股份有限公司 | 衬底基板、衬底基板制造方法与显示面板 |
KR20240127991A (ko) * | 2021-12-29 | 2024-08-23 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 전자 기기 |
US11906133B2 (en) | 2022-03-31 | 2024-02-20 | Alliance Sports Group, L.P. | Outdoor lighting apparatus |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003017244A (ja) * | 2001-07-05 | 2003-01-17 | Sony Corp | 有機電界発光素子およびその製造方法 |
JP2004103502A (ja) * | 2002-09-12 | 2004-04-02 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | 有機el表示装置 |
JP2006147528A (ja) * | 2004-10-22 | 2006-06-08 | Seiko Epson Corp | 有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法、及び有機エレクトロルミネッセンス装置 |
JP2007095611A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-04-12 | Seiko Epson Corp | 表示装置および電子機器、表示装置の製造方法 |
Family Cites Families (128)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6045219A (ja) | 1983-08-23 | 1985-03-11 | Toshiba Corp | アクテイブマトリクス型表示装置 |
US4653864A (en) | 1986-02-26 | 1987-03-31 | Ovonic Imaging Systems, Inc. | Liquid crystal matrix display having improved spacers and method of making same |
US7362093B2 (en) | 1995-10-31 | 2008-04-22 | Texas Instruments Incorporated | IC selectively connecting logic and bypass conductors between opposing pads |
US6166557A (en) | 1996-10-31 | 2000-12-26 | Texas Instruments Incorporated | Process of selecting dies for testing on a wafer |
US6046600A (en) | 1995-10-31 | 2000-04-04 | Texas Instruments Incorporated | Process of testing integrated circuit dies on a wafer |
US5994912A (en) | 1995-10-31 | 1999-11-30 | Texas Instruments Incorporated | Fault tolerant selection of die on wafer |
JP4041550B2 (ja) | 1995-10-31 | 2008-01-30 | テキサス インスツルメンツ インコーポレイテツド | 集積回路 |
US5760643A (en) | 1995-10-31 | 1998-06-02 | Texas Instruments Incorporated | Integrated circuit die with selective pad-to-pad bypass of internal circuitry |
US7230447B2 (en) | 2003-10-31 | 2007-06-12 | Texas Instruments Incorporated | Fault tolerant selection of die on wafer |
US5969538A (en) | 1996-10-31 | 1999-10-19 | Texas Instruments Incorporated | Semiconductor wafer with interconnect between dies for testing and a process of testing |
US6326801B1 (en) | 1996-10-31 | 2001-12-04 | Texas Instruments Incorporated | Wafer of semiconductor material with dies, probe areas and leads |
JP3361029B2 (ja) | 1997-03-19 | 2003-01-07 | 株式会社東芝 | 表示装置 |
JP3570857B2 (ja) | 1997-05-20 | 2004-09-29 | パイオニア株式会社 | 有機elディスプレイパネルとその製造方法 |
US6465268B2 (en) | 1997-05-22 | 2002-10-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of manufacturing an electro-optical device |
US6175345B1 (en) | 1997-06-02 | 2001-01-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Electroluminescence device, electroluminescence apparatus, and production methods thereof |
DE69829458T2 (de) * | 1997-08-21 | 2005-09-29 | Seiko Epson Corp. | Anzeigevorrichtung mit aktiver matrix |
JP3580092B2 (ja) | 1997-08-21 | 2004-10-20 | セイコーエプソン株式会社 | アクティブマトリクス型表示装置 |
KR100608543B1 (ko) | 1998-03-17 | 2006-08-03 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 표시장치의 제조방법 및 박막발광소자의 제조방법 |
JPH11339958A (ja) | 1998-05-22 | 1999-12-10 | Casio Comput Co Ltd | 電界発光素子の製造方法 |
US6274887B1 (en) | 1998-11-02 | 2001-08-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method therefor |
JP4186289B2 (ja) | 1998-12-24 | 2008-11-26 | 凸版印刷株式会社 | 有機エレクトロルミネッセンス表示素子用基板の製造方法および有機エレクトロルミネッセンス表示素子の製造方法 |
US6680487B1 (en) | 1999-05-14 | 2004-01-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor comprising a TFT provided on a substrate having an insulating surface and method of fabricating the same |
US6952020B1 (en) | 1999-07-06 | 2005-10-04 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
TW459275B (en) | 1999-07-06 | 2001-10-11 | Semiconductor Energy Lab | Semiconductor device and method of fabricating the same |
US6833668B1 (en) | 1999-09-29 | 2004-12-21 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Electroluminescence display device having a desiccant |
US20020024356A1 (en) | 1999-10-12 | 2002-02-28 | Whetsel Lee D. | Method and apparatus for parallel die testing on wafer |
JP3809758B2 (ja) | 1999-10-28 | 2006-08-16 | ソニー株式会社 | 表示装置及び表示装置の製造方法 |
EP1096568A3 (en) | 1999-10-28 | 2007-10-24 | Sony Corporation | Display apparatus and method for fabricating the same |
US6384427B1 (en) | 1999-10-29 | 2002-05-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electronic device |
JP4776769B2 (ja) | 1999-11-09 | 2011-09-21 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置の作製方法 |
JP2001148291A (ja) | 1999-11-19 | 2001-05-29 | Sony Corp | 表示装置及びその製造方法 |
JP4076720B2 (ja) | 1999-12-28 | 2008-04-16 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
TW473800B (en) | 1999-12-28 | 2002-01-21 | Semiconductor Energy Lab | Method of manufacturing a semiconductor device |
JP4132528B2 (ja) | 2000-01-14 | 2008-08-13 | シャープ株式会社 | 液晶表示装置の製造方法 |
US6559594B2 (en) | 2000-02-03 | 2003-05-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device |
TWI226205B (en) | 2000-03-27 | 2005-01-01 | Semiconductor Energy Lab | Self-light emitting device and method of manufacturing the same |
TW484238B (en) | 2000-03-27 | 2002-04-21 | Semiconductor Energy Lab | Light emitting device and a method of manufacturing the same |
US20010030511A1 (en) | 2000-04-18 | 2001-10-18 | Shunpei Yamazaki | Display device |
US6736993B1 (en) * | 2000-04-18 | 2004-05-18 | Advanced Technology Materials, Inc. | Silicon reagents and low temperature CVD method of forming silicon-containing gate dielectric materials using same |
JP2002025767A (ja) | 2000-07-03 | 2002-01-25 | Sharp Corp | 有機el素子の製造方法 |
US6739931B2 (en) | 2000-09-18 | 2004-05-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and method of fabricating the display device |
JP2002164181A (ja) | 2000-09-18 | 2002-06-07 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 表示装置及びその作製方法 |
US6924594B2 (en) | 2000-10-03 | 2005-08-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device |
TW522752B (en) | 2000-10-20 | 2003-03-01 | Toshiba Corp | Self-luminous display panel and method of manufacturing the same |
JP2002151252A (ja) | 2000-11-16 | 2002-05-24 | Stanley Electric Co Ltd | 有機el表示装置 |
JP2005135929A (ja) | 2001-02-19 | 2005-05-26 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置の作製方法 |
SG143944A1 (en) | 2001-02-19 | 2008-07-29 | Semiconductor Energy Lab | Light emitting device and method of manufacturing the same |
JP4101529B2 (ja) | 2001-02-22 | 2008-06-18 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置及びその作製方法 |
US6992439B2 (en) | 2001-02-22 | 2006-01-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device with sealing structure for protecting organic light emitting element |
JP2002289347A (ja) | 2001-03-27 | 2002-10-04 | Sanyo Electric Co Ltd | エレクトロルミネッセンス表示装置、その製造方法、被着マスク及びその製造方法 |
JP4027740B2 (ja) | 2001-07-16 | 2007-12-26 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
US8415208B2 (en) | 2001-07-16 | 2013-04-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and peeling off method and method of manufacturing semiconductor device |
JP3858637B2 (ja) * | 2001-07-30 | 2006-12-20 | 株式会社豊田自動織機 | 有機エレクトロルミネッセンスディスプレイパネル及びその製造方法 |
JP2003059671A (ja) | 2001-08-20 | 2003-02-28 | Sony Corp | 表示素子及びその製造方法 |
US7351300B2 (en) * | 2001-08-22 | 2008-04-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Peeling method and method of manufacturing semiconductor device |
JP2003123969A (ja) | 2001-10-17 | 2003-04-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 蒸着用マスクおよび有機エレクトロルミネッセンスディスプレイの製造方法 |
JP3705264B2 (ja) | 2001-12-18 | 2005-10-12 | セイコーエプソン株式会社 | 表示装置及び電子機器 |
US6815723B2 (en) | 2001-12-28 | 2004-11-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device, method of manufacturing the same, and manufacturing apparatus therefor |
KR100488953B1 (ko) | 2001-12-31 | 2005-05-11 | 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 | 액정표시장치의 지주 스페이서 형성방법 |
US7109653B2 (en) | 2002-01-15 | 2006-09-19 | Seiko Epson Corporation | Sealing structure with barrier membrane for electronic element, display device, electronic apparatus, and fabrication method for electronic element |
SG143063A1 (en) | 2002-01-24 | 2008-06-27 | Semiconductor Energy Lab | Light emitting device and method of manufacturing the same |
JP4094863B2 (ja) | 2002-02-12 | 2008-06-04 | 三星エスディアイ株式会社 | 有機el表示装置 |
JP2003243171A (ja) | 2002-02-18 | 2003-08-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンスディスプレイパネルおよびその製造方法 |
JP3481232B2 (ja) | 2002-03-05 | 2003-12-22 | 三洋電機株式会社 | 有機エレクトロルミネッセンスパネルの製造方法 |
GB2391686B (en) * | 2002-07-31 | 2006-03-22 | Dainippon Printing Co Ltd | Electroluminescent display and process for producing the same |
JP4748986B2 (ja) | 2002-11-01 | 2011-08-17 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
JP2004165067A (ja) | 2002-11-14 | 2004-06-10 | Sanyo Electric Co Ltd | 有機電界発光パネル |
WO2004068446A1 (ja) * | 2003-01-27 | 2004-08-12 | Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. | 有機elディスプレイの製造方法 |
KR100628074B1 (ko) | 2003-02-06 | 2006-09-27 | 대영산업개발 주식회사 | 보호막과 보호캡슐을 갖는 유기전계발광표시패널 |
KR101061396B1 (ko) * | 2003-02-28 | 2011-09-02 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 표시 장치, 폴더형 휴대 단말 |
JP4322814B2 (ja) | 2003-04-15 | 2009-09-02 | 富士フイルム株式会社 | 有機el表示装置の製造方法 |
US7397592B2 (en) * | 2003-04-21 | 2008-07-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Beam irradiation apparatus, beam irradiation method, and method for manufacturing a thin film transistor |
TWI255153B (en) * | 2003-10-20 | 2006-05-11 | Hitachi Displays Ltd | Organic EL display device |
JP4233433B2 (ja) | 2003-11-06 | 2009-03-04 | シャープ株式会社 | 表示装置の製造方法 |
JP2005158494A (ja) | 2003-11-26 | 2005-06-16 | Seiko Epson Corp | 薄膜の形成方法、電気光学装置の製造方法及び電気光学装置並びに電子機器 |
CN100583193C (zh) | 2003-11-28 | 2010-01-20 | 株式会社半导体能源研究所 | 制造显示设备的方法 |
KR100565745B1 (ko) | 2003-12-22 | 2006-03-29 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 유기 전계발광 소자 및 그의 제조방법 |
US7792489B2 (en) | 2003-12-26 | 2010-09-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device, electronic appliance, and method for manufacturing light emitting device |
JP3994998B2 (ja) | 2004-03-03 | 2007-10-24 | セイコーエプソン株式会社 | 発光装置、発光装置の製造方法及び電子機器 |
US7619258B2 (en) | 2004-03-16 | 2009-11-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
JP4496828B2 (ja) | 2004-04-09 | 2010-07-07 | 住友ベークライト株式会社 | 透明複合基板の製造方法 |
JP2005322564A (ja) | 2004-05-11 | 2005-11-17 | Sony Corp | 表示装置の製造方法および表示装置 |
US8350466B2 (en) | 2004-09-17 | 2013-01-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and manufacturing method thereof |
JP2006100043A (ja) | 2004-09-28 | 2006-04-13 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | 表示装置及び表示装置の製造方法 |
US7753751B2 (en) | 2004-09-29 | 2010-07-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of fabricating the display device |
JP4879541B2 (ja) | 2004-09-29 | 2012-02-22 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置の作製方法 |
US8772783B2 (en) | 2004-10-14 | 2014-07-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
KR100683695B1 (ko) | 2004-11-11 | 2007-02-15 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기전계 발광표시장치 |
US7582904B2 (en) | 2004-11-26 | 2009-09-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, display device and method for manufacturing thereof, and television device |
US7517791B2 (en) | 2004-11-30 | 2009-04-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing semiconductor device |
US7696625B2 (en) | 2004-11-30 | 2010-04-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for manufacturing the same |
BRPI0405799B1 (pt) * | 2004-12-21 | 2018-06-12 | Petroleo Brasileiro S.A. - Petrobras | Estaca torpedo com poder de garra aumentado e com abas para ancoragem permanente ou temporária de estruturas flutuantes e método de instalação |
CN101090887B (zh) | 2004-12-28 | 2010-09-29 | 株式会社半导体能源研究所 | 蒽衍生物、使用它的发光元件和使用它的发光器件 |
JP4742626B2 (ja) | 2005-03-09 | 2011-08-10 | セイコーエプソン株式会社 | 発光装置、及びこれを備えた電子機器 |
JP2006259049A (ja) | 2005-03-16 | 2006-09-28 | Seiko Epson Corp | 中吊り広告用情報表示装置 |
JP2007005138A (ja) | 2005-06-23 | 2007-01-11 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | 有機el素子およびそれを用いた薄型有機elパネル |
JP2007005173A (ja) | 2005-06-24 | 2007-01-11 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | 表示装置 |
EP1760776B1 (en) * | 2005-08-31 | 2019-12-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Manufacturing method for semiconductor device with flexible substrate |
JP2007123240A (ja) * | 2005-09-28 | 2007-05-17 | Sony Corp | 表示装置の製造方法および表示装置 |
TWI460851B (zh) | 2005-10-17 | 2014-11-11 | Semiconductor Energy Lab | 半導體裝置及其製造方法 |
KR101157263B1 (ko) * | 2005-12-13 | 2012-06-15 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기전계발광표시장치 및 그 제조 방법 |
JP5301080B2 (ja) * | 2005-12-26 | 2013-09-25 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 液晶表示装置 |
KR20070051620A (ko) * | 2006-02-03 | 2007-05-18 | 주식회사 대우일렉트로닉스 | 오엘이디 디스플레이 소자 |
JP2007213999A (ja) | 2006-02-10 | 2007-08-23 | Seiko Epson Corp | 有機el装置の製造方法及び有機el装置 |
JP2007250520A (ja) | 2006-02-16 | 2007-09-27 | Toyota Industries Corp | 有機エレクトロルミネッセンスディスプレイパネル |
JP2007225716A (ja) | 2006-02-21 | 2007-09-06 | Toppan Printing Co Ltd | 膜厚を平坦化する隔壁 |
JP2007280866A (ja) | 2006-04-11 | 2007-10-25 | Seiko Epson Corp | 薄膜デバイス、有機el装置および液晶表示装置、電子機器、薄膜デバイスの製造方法、有機el装置の製造方法および液晶表示装置の製造方法 |
US7892059B2 (en) | 2006-05-10 | 2011-02-22 | Casio Computer Co., Ltd. | Manufacturing method for organic electroluminescent display device including etching partition wall after imparting lyophilicity to partion wall and pixel electrode |
JP4415971B2 (ja) | 2006-05-10 | 2010-02-17 | カシオ計算機株式会社 | 表示装置及びその製造方法 |
JP2008010402A (ja) * | 2006-06-02 | 2008-01-17 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光素子及び表示装置 |
KR100822204B1 (ko) * | 2006-06-07 | 2008-04-17 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기 발광 디스플레이 장치 |
WO2008018137A1 (en) | 2006-08-10 | 2008-02-14 | Pioneer Corporation | Optical device and optical device manufacturing method |
GB0618698D0 (en) | 2006-09-22 | 2006-11-01 | Cambridge Display Tech Ltd | Molecular electronic device fabrication methods and structures |
JP2008080581A (ja) * | 2006-09-26 | 2008-04-10 | Matsushita Electric Works Ltd | 扉パネルとその製造方法 |
JP5354884B2 (ja) | 2006-10-19 | 2013-11-27 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
WO2008047928A1 (en) | 2006-10-19 | 2008-04-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for manufacturing the same |
JP2008112649A (ja) | 2006-10-31 | 2008-05-15 | Optrex Corp | 有機el装置の製造方法 |
KR20080048840A (ko) * | 2006-11-29 | 2008-06-03 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기전계발광소자 및 제조방법 |
US8304982B2 (en) | 2006-11-30 | 2012-11-06 | Lg Display Co., Ltd. | Organic EL device and method for manufacturing the same |
JP4503586B2 (ja) | 2006-12-21 | 2010-07-14 | 株式会社 日立ディスプレイズ | 有機el表示装置 |
KR101452370B1 (ko) * | 2007-04-25 | 2014-10-21 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 유기 el 장치 |
TWI470325B (zh) | 2007-04-26 | 2015-01-21 | Semiconductor Energy Lab | 液晶顯示裝置及其製造方法 |
KR101443580B1 (ko) * | 2007-05-11 | 2014-10-30 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | Soi구조를 갖는 기판 |
JP2009238456A (ja) | 2008-03-26 | 2009-10-15 | Casio Comput Co Ltd | エレクトロルミネッセンスパネル |
CN102007585B (zh) | 2008-04-18 | 2013-05-29 | 株式会社半导体能源研究所 | 薄膜晶体管及其制造方法 |
WO2009128522A1 (en) | 2008-04-18 | 2009-10-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Thin film transistor and method for manufacturing the same |
WO2010033518A1 (en) * | 2008-09-16 | 2010-03-25 | Plextronics, Inc. | Integrated organic photovoltaic and light emitting diode device |
TWI607670B (zh) | 2009-01-08 | 2017-12-01 | 半導體能源研究所股份有限公司 | 發光裝置及電子裝置 |
-
2009
- 2009-12-24 TW TW098144795A patent/TWI607670B/zh active
-
2010
- 2010-01-04 US US12/651,734 patent/US9929220B2/en active Active
- 2010-01-06 JP JP2010000904A patent/JP2010182668A/ja not_active Withdrawn
- 2010-01-07 KR KR1020100001110A patent/KR101681038B1/ko active IP Right Grant
-
2014
- 2014-06-26 JP JP2014131202A patent/JP5823576B2/ja active Active
-
2015
- 2015-10-07 JP JP2015199096A patent/JP6101769B2/ja active Active
-
2016
- 2016-11-22 KR KR1020160155579A patent/KR101819447B1/ko active IP Right Grant
-
2017
- 2017-02-27 JP JP2017034969A patent/JP6537545B2/ja active Active
-
2018
- 2018-01-10 KR KR1020180003093A patent/KR101893337B1/ko active Application Filing
- 2018-03-21 US US15/927,436 patent/US10361258B2/en active Active
- 2018-08-20 KR KR1020180096703A patent/KR102025062B1/ko active IP Right Grant
-
2019
- 2019-06-04 JP JP2019104616A patent/JP6783901B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2019-09-17 KR KR1020190113865A patent/KR102094132B1/ko active IP Right Grant
-
2020
- 2020-03-19 KR KR1020200033515A patent/KR20200033819A/ko active Application Filing
- 2020-10-22 JP JP2020177251A patent/JP7048699B2/ja active Active
- 2020-11-23 KR KR1020200157687A patent/KR20200134196A/ko active Application Filing
-
2022
- 2022-03-24 JP JP2022047729A patent/JP2022075922A/ja not_active Withdrawn
- 2022-09-13 KR KR1020220114932A patent/KR20220130060A/ko not_active Ceased
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003017244A (ja) * | 2001-07-05 | 2003-01-17 | Sony Corp | 有機電界発光素子およびその製造方法 |
JP2004103502A (ja) * | 2002-09-12 | 2004-04-02 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | 有機el表示装置 |
JP2006147528A (ja) * | 2004-10-22 | 2006-06-08 | Seiko Epson Corp | 有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法、及び有機エレクトロルミネッセンス装置 |
JP2007095611A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-04-12 | Seiko Epson Corp | 表示装置および電子機器、表示装置の製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20180212006A1 (en) | 2018-07-26 |
US10361258B2 (en) | 2019-07-23 |
JP2017092051A (ja) | 2017-05-25 |
JP2010182668A (ja) | 2010-08-19 |
JP6537545B2 (ja) | 2019-07-03 |
JP7048699B2 (ja) | 2022-04-05 |
KR101681038B1 (ko) | 2016-11-30 |
JP2014170760A (ja) | 2014-09-18 |
KR20160137482A (ko) | 2016-11-30 |
KR102025062B1 (ko) | 2019-09-25 |
JP2016026405A (ja) | 2016-02-12 |
TWI607670B (zh) | 2017-12-01 |
US9929220B2 (en) | 2018-03-27 |
KR20180097172A (ko) | 2018-08-30 |
JP5823576B2 (ja) | 2015-11-25 |
KR20180006626A (ko) | 2018-01-18 |
KR20200033819A (ko) | 2020-03-30 |
JP6101769B2 (ja) | 2017-03-22 |
JP2021007111A (ja) | 2021-01-21 |
KR20200134196A (ko) | 2020-12-01 |
KR20190109353A (ko) | 2019-09-25 |
KR101893337B1 (ko) | 2018-08-31 |
KR20220130060A (ko) | 2022-09-26 |
JP2019145527A (ja) | 2019-08-29 |
TW201031258A (en) | 2010-08-16 |
JP6783901B2 (ja) | 2020-11-11 |
KR102094132B1 (ko) | 2020-03-30 |
US20100171138A1 (en) | 2010-07-08 |
KR20100082311A (ko) | 2010-07-16 |
KR101819447B1 (ko) | 2018-01-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220421 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220421 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20230118 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20230725 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20231017 |