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JP2003101194A - プリント配線板の製造方法 - Google Patents

プリント配線板の製造方法

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Publication number
JP2003101194A
JP2003101194A JP2001289246A JP2001289246A JP2003101194A JP 2003101194 A JP2003101194 A JP 2003101194A JP 2001289246 A JP2001289246 A JP 2001289246A JP 2001289246 A JP2001289246 A JP 2001289246A JP 2003101194 A JP2003101194 A JP 2003101194A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thin metal
metal layer
substrate
wiring
pattern
Prior art date
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Pending
Application number
JP2001289246A
Other languages
English (en)
Inventor
Susumu Naoyuki
進 直之
Kenji Takai
健次 高井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Resonac Corp
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Chemical Co Ltd filed Critical Hitachi Chemical Co Ltd
Priority to JP2001289246A priority Critical patent/JP2003101194A/ja
Publication of JP2003101194A publication Critical patent/JP2003101194A/ja
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  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 絶縁基板表面に薄手の金属層を付加し、電気
めっきにより配線パターンを形成後、基板表面の薄手金
属層を除去して微細配線を形成するセミアデイテイブ
(FAM:Foil Additive Metho
d)工法において、薄手金属層のエッチング時に既に成
形した微細配線をもエッチングして、配線精度の低下を
招くことを防止する。 【解決手段】 FAM工法において、あらかじめ、表面
が平滑な銅箔1の片面に、厚み5μm以下の粗化したN
iまたはTiなど銅以外の薄手金属層2を付加し、薄手
金属面2を基板3に樹脂を介してラミネート後、銅箔1
を除去することにより基板表面に厚み5μm以下の粗化
した薄手金属層2を付加し、パターン電気めっきレジス
ト5を形成した後にパターン電気めっきを行いレジスト
5を除去し、パターン部以外の薄手金属層2をエッチン
グ除去する工程を少なくとも有することを特徴とするプ
リント配線板の製造方法。

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は、配線精度の高い微
細配線を有する配線板の製造方法に関する。 【0002】 【従来の技術】近年、電子機器の小型,軽量,高速化の
要求から、プリント配線板の高密度化が進んでいる。従
来、主に粗化付銅箔をエッチングすることで配線を形成
するプリント配線板は、サイドエッチングの影響で配線
の微細化が困難であり、基板の高密度化には限界があっ
た。そこで近年は、パターン電気めっきを用いたセミア
ディティブ法であるFAM工法によるプリント配線板の
製造方法が注目されている。このFAM工法は、特許番
号第3142270号にあるように、薄手銅箔層にパタ
ーン電気めっきレジストを形成した後、パターン電気め
っきを施し、めっきレジストを除去後パターン部以外の
薄手銅箔層をエッチング除去する手法であるが、この時
のエッチングにより既に形成した微細配線もエッチング
し、配線精度を低下させるなどの問題があった。 【0003】 【発明が解決しようとする課題】本発明は、FAM工法
において絶縁基材表面にNi,Tiなど銅以外の薄手金
属層を付加することにより、配線形成後の薄手金属層の
エッチング時に、選択的に銅以外の金属をエッチングす
る液を使用することにより、既に形成した微細配線のエ
ッチングを防止することを特徴とし、従来技術の問題点
を解決しようとするものである。 【0004】 【課題を解決するための手段】本発明は、次のものに関
する。 (1)絶縁基板表面に薄手の金属層を付加し、電気めっ
きにより配線パターンを形成後、基板表面の薄手金属層
を除去して微細配線を形成するセミアデイテイブ(FA
M:Foil Additive Method)工法
において、あらかじめ、表面が平滑な銅箔の片面に、厚
み5μm以下の粗化したNiまたはTiなど銅以外の薄
手金属層を付加し、薄手金属面を基板に樹脂を介してラ
ミネート後、銅箔を除去することにより基板表面に厚み
5μm以下の粗化した薄手金属層を付加し、パターン電
気めっきレジストを形成した後にパターン電気めっきを
行いレジストを除去し、パターン部以外の薄手金属層を
エッチング除去する工程を少なくとも有することを特徴
とするプリント配線板の製造方法。 【0005】 【発明の実施の形態】本発明のFAM工法配線板の製造
は、 A.あらかじめ、表面が平滑な銅箔の片面に、厚み5μ
m以下の粗化したNiまたはTiなど銅以外の金属を付
加する。銅以外の金属の付加方法は、電気めっきなどの
方法による。銅以外の金属の厚みは1から5μmが好ま
しい。この薄手金属の粗化面にはクロメート処理等密着
促進の為の異種金属処理が施されていてもよい。 【0006】B.薄手金属面を基板に樹脂を介してラミ
ネートする。樹脂としてはエポキシ系樹脂やポリイミド
系樹脂を主成分として含むものであり、他にもアクリル
樹脂,ポリイミド樹脂,ベンゾシクロブテン樹脂,フッ
素樹脂,シアネート樹脂,PPEなどや、その含有物で
もよい。 【0007】C.銅箔を除去して基板表面に薄手の金属
層を付加する。銅箔の除去は薄手金属がNiの場合、ア
ルカリエッチング液が好ましく、薄手金属がTiの場合
は、塩化第二銅あるいは塩化第二鉄液が好ましい。 【0008】D.穴明後、デスミアおよび導電化処理す
る。薄手金属層付基板に穴を形成する。穴形状は、スル
ーホールまたはブラインドスルーホール即ち層間接続の
ためのIVH(インタースティシャルバイアホール)と
なる。穴を形成する方法としては、ドリルまたはレーザ
を用いるのが好ましい。ここで用いることが出来るレー
ザとしては、CO2,エキシマ等の気体レーザおよびY
AG等の固体レーザがある。CO2レーザは、容易に大
出力を得られる事からφ50μm以上のIVHの加工に
適している。φ50μm以下の微細なIVHを加工する
場合は、より短波長で集光性のよいYAGレーザが適し
ている。 【0009】次に、過マンガン酸塩,クロム酸塩,クロ
ム酸のような酸化剤を用いて穴内部の樹脂残さを除去す
る。次に、薄手金属上及び穴内部に触媒核を付与する。
触媒核の付与には、貴金属イオンやパラジウムコロイド
を使用する。特にパラジウムコロイドを使用するのが安
価で好ましい。次に、触媒核を付与した薄手金属上及び
穴内部に薄付けの無電解めっき層を形成する。この無電
解めっきには、CUST2000(日立化成工業株式会
社製、商品名)やCUST201(日立化成工業株式会
社製、商品名)等の市販の無電解銅めっきが使用出来
る。これらの無電解銅めっきは硫酸銅,ホルマリン,錯
化剤,水酸化ナトリウムを主成分とする。めっきの厚さ
は次の電気めっきが行なえる厚さであれば良く、0.1
〜1μm程度である。 【0010】E.無電解めっきを行った上にめっきレジ
ストで配線パターンを形成する。めっきレジストの膜厚
は、その後めっきする導体の厚さと同程度かより厚くす
るのが好ましい。めっきレジストに使用できる樹脂に
は、PMER P−LA900PM(東京応化株式会社
製、商品名)のような液状レジストや、HW−425
(日立化成工業株式会社,商品名),RY−3025
(日立化成工業株式会社,商品名)等のドライフィルム
がある。スルーホールまたはIVH上と導体回路となる
べき個所は、めっきレジストを形成しない。 【0011】F.電気めっきによりパターンめっきを施
す。電気めっきには、通常プリント配線板で使用される
硫酸銅電気めっきやピロリン酸電気めっきが使用でき
る。めっきの厚さは、配線導体として使用できれば良
く、1〜100μmの範囲が好ましく、5〜50μmの
範囲がより好ましい。 【0012】G.めっきレジストを除去後、絶縁基板上
の無電解銅めっき及び薄手金属層を除去する。めっきレ
ジストの剥離は、アルカリ性剥離液や硫酸あるいは市販
のレジスト剥離液を用いて行う。次に硫酸/過酸化水素
を主成分とするエッチング液で無電解銅めっきを除去
し、パターン部以外のNi層を硝酸/過酸化水素を主成
分とするエッチング液を用いて選択除去する。以上で配
線形成が終了する。 【0013】さらに本発明の具体的実施形態を図面を用
いて説明する。但し、本発明はこれに限定されるもので
はない。 【0014】18μm厚の表面平滑銅箔1(a)に3μ
m厚のNi粗化めっきを施した後(b)、Ni面を介し
厚さ0.2mmのプリプレグ3(ガラス布をエポキシ樹
脂に含浸積層したもの)に170℃3MPaの条件で6
0分加熱加圧積層熱圧着し、アルカリエッチングにより
銅箔を除去して基板表面に3μm厚のNi層を形成した
(d)。 【0015】次に、ドリル穴明機ND−6P160/1
0P(日立ビアメカニクス株式会社製,商品名)によ
り、直径300μmの貫通穴をあけ、過マンガン酸カリ
ウム65g/リットルと水酸化ナトリウム40g/リッ
トルの混合水溶液に、液温70℃で20分間浸漬し、ス
ミアの除去を行なった。その後、パラジウム溶液である
HS−202B(日立化成工業株式会社製,商品名)
に、25℃で15分間浸漬し、触媒を付与した後、CU
ST−201(日立化成工業株式会社製,商品名)を使
用し、液温25℃,30分の条件で無電解銅めっきを行
ない、厚さ0.3μmの無電解銅めっき層を形成した
(e)。 【0016】ドライフィルムフォトレジストであるRY
−3025(日立化成工業株式会社製,商品名)を無電
解めっき層の表面にラミネートし、電気銅めっきを施す
箇所をマスクしたフォトマスクを介して紫外線を露光
し、現像してめっきレジストを形成した(f)。硫酸銅
浴を用いて、液温25℃、電流密度1.0A/dm
条件で、電気銅めっきを20μm程度施し、回路導体幅
/回路導体間隔(L/S)=20/20μmとなるよう
に電気銅めっき層を形成した(g)。 【0017】次に、レジスト剥離液であるHTO(ニチ
ゴー・モートン株式会社製,商品名)でドライフィルム
の除去を行った。その後硫酸/過酸化水素を主成分とす
るエッチング液により無電解銅めっきを除去し、さらに
硝酸/過酸化水素の組成であるNi選択エッチング液N
−950A(メルテックス株式会社製、商品名)を用い
てパターン部以外のNiをエッチング除去することによ
り配線板を製作した(h)。 【0018】 【発明の効果】基板上の薄手導体層をエッチングで除去
する際、既に形成した配線のエッチングを防止すること
が出来、精度の高い配線を得ることが出来た。
【図面の簡単な説明】 【図1】本発明の実施例を説明するための各工程におけ
る断面図である。 【符号の説明】 1.平滑銅箔 2.Ni粗化層 3.プリプレグ 4.無電解銅めっき 5.めっきレジスト 6.電気銅めっき
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4E351 AA03 AA04 AA05 BB01 BB33 BB35 CC06 CC19 DD04 DD11 DD19 DD56 GG20 5E343 AA02 AA13 AA15 AA17 AA18 AA19 BB16 BB24 BB35 BB44 BB67 CC34 CC50 CC62 CC73 DD44 DD51 EE54 ER02 ER16 ER18 ER26 GG08

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 絶縁基板表面に薄手の金属層を付加し、
    電気めっきにより配線パターンを形成後、基板表面の薄
    手金属層を除去して微細配線を形成するセミアデイテイ
    ブ(FAM:Foil Additive Metho
    d)工法において、あらかじめ、表面が平滑な銅箔の片
    面に、厚み5μm以下の粗化したNiまたはTiなど銅
    以外の薄手金属層を付加し、薄手金属面を基板に樹脂を
    介してラミネート後、銅箔を除去することにより基板表
    面に厚み5μm以下の粗化した薄手金属層を付加し、パ
    ターン電気めっきレジストを形成した後にパターン電気
    めっきを行いレジストを除去し、パターン部以外の薄手
    金属層をエッチング除去する工程を少なくとも有するこ
    とを特徴とするプリント配線板の製造方法。
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