DE4004750A1 - Verfahren zum ermitteln einer ueber eine kurzschlussbruecke mit einer bereits identifizierten signalleitung verbundenen zweiten signalleitung - Google Patents
Verfahren zum ermitteln einer ueber eine kurzschlussbruecke mit einer bereits identifizierten signalleitung verbundenen zweiten signalleitungInfo
- Publication number
- DE4004750A1 DE4004750A1 DE4004750A DE4004750A DE4004750A1 DE 4004750 A1 DE4004750 A1 DE 4004750A1 DE 4004750 A DE4004750 A DE 4004750A DE 4004750 A DE4004750 A DE 4004750A DE 4004750 A1 DE4004750 A1 DE 4004750A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- value
- signal line
- bit pattern
- logic operator
- values
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 18
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 19
- 239000013598 vector Substances 0.000 claims description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 13
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 3
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims 1
- 230000003466 anti-cipated effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 2
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 2
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 2
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 description 1
- 238000005352 clarification Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002372 labelling Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
- G06F11/273—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G06F11/2733—Test interface between tester and unit under test
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/52—Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/58—Testing of lines, cables or conductors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren gemäß dem Oberbegriff des
Patentanspruchs 1.
Bei der Entwicklung von komplexen digitalen Schaltungen wird
die Funktion eines Schaltungsentwurfes in allen Einzelheiten
auf einer Datenverarbeitungsanlage simuliert, bevor überhaupt
an eine erste hardwaremäßige Realisierung der Schaltung gedacht
wird.
Für eine Simulation muß die Struktur der betreffenden Schal
tung in der Datenverarbeitungsanlage erfaßt werden. Dazu wird
in einer sogenannten Schaltungsliste jede Signalleitung und
sämtliche mit ihr verbundenen Bauteileanschlüsse angegeben. Die
Funktionsweisen der angegebenen Bauteile sind in der Datenver
arbeitungsanlage in der Regel bereits bekannt.
Bei der Simulation kann die Funktionsweise der gesamten Schal
tung durch eine entsprechende Darstellung schrittweise beobach
tet werden. Ein erkanntes Fehlverhalten der Schaltung läßt auf
einen Schaltungsfehler schließen, der sofort durch eine Ände
rung in der Schaltungsliste behoben werden kann.
Neben den die Entwicklung von Schaltungen unterstützenden
Fähigkeiten stellt die Datenverarbeitungsanlage außerdem Hilfs
mittel zur Verfügung, um für eine durch eine Schaltungsliste
definierte Schaltung ein sogenanntes Prüfbitmuster zu erstellen
und in einer Prüfwerteliste zusammenzufassen bzw. in einem
Prüfwertespeicher zu hinterlegen.
Ein solches Prüfbitmuster kann von einer rechnergesteuerten
Prüfeinrichtung zu einer Funktionsprüfung einer in Hardware
entsprechend den Einträgen in der Schaltungsliste realisierten
Schaltung verwendet werden. Bei einer solchen Funktionsprüfung
werden Vergleiche angestellt, ob die zu prüfende in Hardware
realisierte Schaltung auf gewisse Vorgaben hin die gleiche
Reaktionen zeigt, wie die in der Datenverarbeitungsanlage simu
lierte Schaltung.
Vorgaben und Reaktionen werden in einem Prüfbitmuster in Form
von Binärwerten wiedergegeben, die digitale Signalpegel an den
Eingangs- und Ausgangsanschlüssen der Schaltung repräsentieren
sollen.
So besteht ein Prüfbitmuster aus einer Vielzahl, oftmals mehre
ren tausend von Bitmustersätzen, die sich ihrerseits zunächst
aus jeweils einem Eingangs- und einem Ausgangsvektor zusammen
setzen.
Ein Eingangsvektor beinhaltet für jeden Eingangsanschluß der
Schaltung einen Vorgabewert, und der Ausgangsvektor für jeden
Ausgangsanschluß einen als Reaktion auf die Vorgabewerte erwar
teten Ausgabewert.
Für eine Funktionsprüfung einer Schaltung, die z. B. auf einer
Flachbaugruppe realisiert sein kann, wird diese an ihren Ein
gangs- und Ausgangsanschlüssen mit der Prüfeinrichtung verbun
den. Nacheinander werden die im Prüfwertespeicher hinterlegten
Bitmustersätze ausgewertet, indem die Eingangsanschlüsse ent
sprechend den Vorgabewerten beaufschlagt und die sich an den
Ausgangsanschlüssen daraufhin einstellenden digitalen Pegeln
mit den Ausgabewerten des zugehörigen Ausgangsvektors auf
Gleichheit überprüft werden. Nur dann, wenn bei allen Bitmu
stersätzen die erwarteten Ausgabewerte bestätigt werden, ist
die geprüfte Schaltung bzw. Flachbaugruppe ohne Fehler. Die
Forderung möglichst jeden Fehler zu erkennen erklärt die hohe
Anzahl von Bitmustersätzen bei komplexeren Schaltungen.
Bei einer als defekt erkannten Flachbaugruppe wird im weiteren
eine sogenannte Fehlerdiagnose durchgeführt, mit der die Ur
sache eines Abweichens von den erwarteten Ausgabewerten ge
funden werden soll.
Für diese Fehlerdiagnose ist für jeden Bitmustersatz ein Innen
vektor vorgesehen, in dem die auf allen Signalleitungen im
Inneren der Schaltung als Reaktion auf den zugehörigen Ein
gangsvektor erwarteten Werte, im folgenden Sollwerte genannt,
enthalten sind.
Die Prüfeinrichtung ist für die Fehlerdiagnose mit einer Tast
spitze versehen, die sich rechnergesteuert auf jeden beliebigen
Bausteinanschluß der betreffenden Flachbaugruppe absenken läßt,
um dort digitale Pegel bzw. deren zugehörige digitalen Werte zu
erfassen.
Bei der Fehlerdiagnose werden ausgehend von einem Ausgangsan
schluß, auf dem eine Abweichung von Ausgabewerten erkannt wur
de, schrittweise entgegen der Signalflußrichtung die für den
betreffenden Ausgangsanschluß relevanten Bauelementeanschlüsse
von der Tastspitze kontaktiert und beim Durchlaufen der Bit
mustersätze die erfaßten Werte mit den der betreffenden Si
gnalleitung zugeordneten Sollwerten verglichen. Auf diese Wei
se läßt sich gewissermaßen durch Rückschluß ein sogenannter
Fehlerpfad nachvollziehen, der z. B. innerhalb eines Bauelemen
tes seinen Ursprung haben kann, oder aufgrund einer Unterbre
chung einer Signalleitung oder auch durch Kurzschluß zweier
oder mehrerer Signalleitungen entstanden sein kann.
Eine unterbrochene Signalleitung ist mit Hilfe dieser Fehler
diagnose problemlos zu identifizieren, stellt sich jedoch der
Ursprung eines zurückverfolgen Fehlerpfades lediglich als ge
stört identifizierte Signalleitung dar, kann in den meisten
Fällen nur durch Oszillografieren der sich beim Durchlaufen der
Bitmustersätze auf der als gestört identifizierten Signallei
tung einstellenden Signalform entschieden werden, ob die Feh
lerursache in einem defekten Baustein oder aber in einer ver
borgenen Kurzschlußbrücke zwischen der als gestört identifi
zierten Signalleitung und einer oder mehreren anderen Signal
leitungen liegt.
Im Falle einer verborgenen Kurzschlußbrücke mußte die defekte
Flachbaugruppe trotz ihres hohen Wertes bisher verworfen wer
den, da es mit den zur Verfügung stehenden Mitteln nicht mög
lich war, die über die Kurzschlußbrücke mit der als gestört
identifizierten Signalleitung verbundenen Signalleitungen zu
identifizieren. Diese Signalleitungen müssen nämlich für eine
Reparatur der Flachbaugruppe unbedingt bekannt sein.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher ein Verfahren
zur Ermittlung dieser über eine Kurzschlußbrücke mit der be
reits als gestört identifizierten Signalleitung verbundenen
zweiten Signalleitungen anzugeben.
Gelöst wird die Aufgabe erfindungsgemäß durch die im kennzeich
nenden Teil des Patentanspruchs 1 angegebenen Merkmale.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteran
sprüchen angegeben.
Im folgenden wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung anhand
der Zeichnung näher erläutert.
Die Zeichnung soll lediglich als Orientierungshilfe zur Er
klärung der erfindungswesentlichen Verfahrensschritte verstan
den werden, da die schematische und stark abstrahierte Darstel
lungsweise der Zeichnung nur bedingt eine Unterscheidung zwi
schen gegenständlichen und programmtechnisch realisierten Ele
menten so wie deren Verbindungen erlaubt.
In der Fig. sind im wesentlichen eine zu prüfende Flachbaugruppe
FBG, ein Blockschaltbild für eine rechnergesteuerte Prüfein
richtung sowie ein durch eine tabellenartige Anordnung von Bi
närwerten symbolisierter Prüfwertespeicher PS dargestellt. Der
Prüfwertespeicher PS beinhaltet eine Vielzahl von Bitmuster
sätzen B1, ..., Bn, von denen in der Zeichnung lediglich einige
jeweils in Form einer Tabellenspalte veranschaulicht sind. Je
der Bitmustersatz B1, ..., Bn weist einen Ausgangsvektor AV,
einen Eingangsvektor EV und einen Innenvektor IV auf, deren
Elemente im folgenden als Ausgabewerte AW, Vorgabewerte VW bzw.
Sollwerte SW bezeichnet werden. Jedem Ausgabewert AW ist in
eindeutiger Weise ein Ausgangsanschluß AA, jedem Vorgabewert
VW, ein Eingangsanschluß EA und jedem Sollwert SW eine Signal
leitung SL der Flachbaugruppe FBG zugeordnet.
Die Flachbaugruppe FBG besteht aus einer mehrlagigen Leiter
platte, die mit einer Vielzahl von digitalen Bauelementen be
stückt ist. Es wird davon ausgegangen, daß auf der Flachbau
gruppe FBG eine erste Signalleitung SLy als gestört identifi
ziert ist und über eine verborgene Kurzschlußbrücke K mit einer
zweiten Signalleitung (im Ausführungsbeispiel ist es die Si
gnalleitung SLx) verbunden ist, deren Identität ermittelt wer
den soll.
An einer Kante der Leiterplatte ist ein Steckverbinder ange
ordnet, auf dem die Eingangs- und Ausgangsanschlüsse EA, AA der
Flachbaugruppe FBG herausgeführt sind. Im Regelfall sind sowohl
die Eingangs- als auch die Ausgangsanschlüsse EA, AA mit der
Prüfeinrichtung verbunden, im Ausführungsbeispiel jedoch kann
zur Vereinfachung auf eine Verbindung der Ausgangsanschlüsse
AA verzichtet werden, weshalb auch auf die Ausgangsvektoren AV
der Bitmustersätze B1, ..., Bn im folgenden nicht weiter einge
gangen wird.
Die Prüfeinrichtung ist mit dem Prüfwertespeicher PS verbunden
und weist als wesentliche Elemente eine Anzeigeeinheit AE, eine
über eine Getriebesteuerung GS positionierbare Tastspitze TS,
einen ersten und einen diesem nachgeschalteten zweiten Logik
operator L1, L2, einen Zähler ZS für jede Signalleitung SL der
Flachbaugruppe FBG, sowie eine Recheneinheit RE auf.
An dieser Stelle sei noch einmal darauf hingewiesen, daß der
Prüfeinrichtung ein programmgesteuertes System zugrundeliegt,
so daß z. B. die Logikoperatoren, die Zähler oder die Rechen
einheit als programmtechnisch realisierte Funktionseinheiten
zu verstehen sind.
Für die Ermittlung der gesuchten zweiten Signalleitung SLx
wird die Tastspitze TS zuerst mit der als gestört identifi
zierten Signalleitung SLy kontaktiert, indem die Getriebe
steuerung GS die Tastspitze TS auf einen mit dieser Signallei
tung SLy verbundenen Bauteileanschluß absenkt.
Danach wird der erste Bitmustersatz B1 aus dem Prüfwertespei
cher PS ausgewählt und die Eingangsanschlüsse EA der Flachbau
gruppe FBG werden entsprechend den ihnen zugeordneten Vorgabe
werten VW mit digitalen Pegeln beaufschlagt. Nach einer gerin
gen Wartezeit wird an der Tastspitze TS der sich daraufhin auf
der gestört identifizierten Signalleitung SLy einstellende
digitale Pegel in Form eines ihn repräsentierenden Istwertes
erfaßt. Dieser Istwert wird in einem Istwerte-Speicher IS dem
jeweiligen ausgewählten Bitmustersatz (zunächst Bitmustersatz
B1) zugeordnet abgespeichert.
Aus demselben Bitmustersatz wird der, der gestörten Signallei
tung SLy zugeordnete Sollwert SW ausgelesen und zusammen mit
dem eben erfaßten Istwert einem ersten Logikoperator L1 zuge
führt. Der erste Logikoperator L1 vergleicht beide Werte mit
einander und bildet als Vergleichsergebnis einen Referenzwert.
Sind die auf der Flachbaugruppe FBG befindlichen digitalen Bau
elemente aus einer Schaltkreisfamilie, bei der sich bei einem
Kurzschluß zweier Signalleitungen ein durch einen binären "1"-
Wert repräsentierter digitaler Pegel gegenüber einem durch
einen "0"-Wert repräsentierten digitalen Pegel durchsetzt (wie
z. B. bei der ECL-Technologie), wird der Referenzwert entspre
chend nachstehender Wertetafel gebildet.
Dabei stellt ein Sollwert "X" einen unbestimmten Wert und der
Referenzwert "·" ein im weiteren nicht verwertbares Vergleichs
ergebnis dar.
Der entsprechend dieser Wertetafel gebildete Referenzwert wird
an einen zweiten Logikoperator L2 und an einen Summenzähler SZ
weitergeleitet, dessen Zählerstand auf Null voreingestellt ist
und der sich bei jedem ausgewählten Bitmustersatz (zunächst
Bitmustersatz B1) um eine Stelle erhöht, falls der Referenzwert
entweder den "0"- oder den "1"-Wert aufweist.
Zusätzlich zum Referenzwert werden dem zweiten Logikoperator L2
über eine Selektiereinheit SE nacheinander sämtliche Sollwerte,
bis auf den der gestörten Signalleitung SLy zugeordneten Soll
wert des zum ausgewählten Bitmustersatz (zunächst Bitmustersatz
B1) gehörenden Innenvektors IV zugeleitet. Der zweite Logikope
rator L2 vergleicht diese Sollwerte nacheinander mit dem Refe
renzwert und verändert, d. h. erhöht (+) oder verringert (-) bei
jedem Sollwert SW den Zählerstand des diesem Sollwert und damit
der zugehörigen Signalleitung zugeordneten Zählers entsprechend
folgender Wertetafel um eine oder eine halbe Stelle.
Dabei waren die Zählerstände sämtlicher Zähler ZS eingangs auf
Null voreingestellt.
Für den Fall, daß der momentan ausgewählte Bitmustersatz der
erste ist, der einen "1" Wert als Referenzwert hat, wird bei
jedem "0"-Wert eines Sollwertes aus diesem Bitmustersatz vom
zweiten Logikoperator L2 eine Abbruchmeldung ABM ausgegeben,
die in der Selektiereinheit SE und in der Recheneinheit RE
dafür sorgt, daß die zu diesen Sollwerten gehörende Signallei
tungen von der Ermittlung ausgeschieden werden und deren zuge
ordnete Sollwerte sämtlicher Bitmustersätze B1,..,Bn im weite
ren nicht mehr ausgelesen und dem zweiten Logikoperator L2 zu
geführt werden. Mit dieser Abbruchmeldung ABM lassen sich
Signalleitungen SL, die nicht als gesuchte Signalleitung in
Frage kommen, sofort ausscheiden, wodurch sich der Ermittlungs
aufwand erheblich reduzieren läßt.
Dem dargelegten Abbruchskriterium liegt die Überlegung zugrunde,
daß der erstmalig auftretende "1"-Wert als Referenzwert von dem
Kurzschluß K verursacht wird, weshalb die laufenden Untersuchung
für eine jeweilige Signalleitung, die bei dem ausgewählten
Bitmustersatz einen "0"-Wert als Sollwert aufweist, die Unter
suchung abgebrochen werden kann.
Nachdem der erste Bitmustersatz B1 auf diese Weise ausgewertet
wurde, wird der nächste Bitmustersatz B2 im Prüfwertespeicher
PS ausgewählt. Ganz analog zum vorhergehenden wird wiederum ein
Istwert erfaßt und im Istwertspeicher IS hinterlegt. Der erste
Logikoperator L1 bildet wiederum einen Referenzwert und der
zweite Logikoperator L2 verstellt die Zähler ZS entsprechend.
So werden nacheinander sämtliche Bitmustersätze B1,...Bn ausge
wertet, und nachdem der letzte Sollwert SW verglichen und der
zugehörige Zähler ZS verstellt wurde, werden die Zählerstände
normiert. Dazu werden die Zählerstände derjenigen Zähler ZS,
deren zugeordnete Signalleitung durch eine Abbruchmeldung ABM
noch nicht ausgeschieden ist, durch den Zählerstand des Summen
zählers SZ dividiert.
In der Recheneinheit RE werden dann die normierten Zählerstände
der Größe nach sortiert und beginnend mit dem größten Zähler
stand in einer Reihenfolge vermerkt, wobei jeder Zählerstand
mit einer Bezeichnung b, x, a, c, der ihm zugeordneten Signal
leitung SL versehen ist.
Die Zählerstände samt ihrer Bezeichnungen werden in dieser
Reihenfolge auf der Anzeigeeinheit AE dargestellt, um eine
Bedienperson vom Ergebnis der bisherigen Ermittlungen in
Kenntnis zu setzen. Denn je höher ein Zählerstand ist, desto
wahrscheinlicher ist es für die zugehörige Signalleitung SL,
daß sie die gesuchte, über eine Kurzschlußbrücke K verbundene
zweite Signalleitung ist.
Zum Nachweis, daß die an erster Stelle der Reihenfolge bezeich
nete Signalleitung SL tatsächlich die gesuchte ist, wird die
Tastspitze TS mit dieser Signalleitung kontaktiert. Dazu wird
die Getriebesteuerung GS veranlaßt, die Tastspitze TS auf einen
mit dieser Signalleitung verbundenen Bauteileanschluß abzusen
ken.
Dann wird der erste Bitmustersatz B1 ausgewählt, und die Ein
gangsanschlüsse EA der Flachbaugruppe FBG werden entsprechend
den zugeordneten Vorgabewerten VW mit digitalen Pegeln beauf
schlagt. An der Tastspitze TS wird ein binärer Vergleichswert
erfaßt, der zusammen mit dem im Istwert-Speicher IS diesem Bit
mustersatz (zunächst Bitmustersatz B1) zugehörig abgespeicher
ten Istwert einem Vergleicher VG zugeführt wird. Nur wenn der
Istwert und der Vergleichswert gleich sind, wird der nächste
Bitmustersatz (also Bitmustersatz B2) ausgewählt und in analo
ger Weise wird wieder ein Vergleichswert erfaßt, der dann mit
dem, dem momentan ausgewählten Bitmustersatz zugeordneten Ist
wert verglichen wird.
Tritt bei der Überprüfung der Ist- und Vergleichswerte eine Un
gleichheit auf, wird die an erster Stelle der Reihenfolge be
zeichnete Signalleitung aus der Reihenfolge gelöscht und die
Tastspitze TS wird mit der daraufhin an erster Stelle bezeich
neten Signalleitung kontaktiert. Dann werden die Bitmustersätze
wieder nacheinander ausgewählt und die jeweiligen Vergleichs
werte mit den gespeicherten Istwerten, wie bereits bereits be
schrieben, verglichen.
Wird während der Überprüfung der Ist- und Vergleichswerte bei
allen Bitmustersätzen Gleichheit erkannt, ist nachgewiesen, daß
die momentan an erster Stelle der Reihenfolge bezeichnete Sig
nalleitung SLx tatsächlich über eine Kurzschlußbrücke K mit der
als gestört identifizierten Signalleitung SLy verbunden ist.
Auf der Anzeigeeinheit AE wird in diesem Falle die an erster
Stelle der Reihenfolge bezeichnete Signalleitung SLx durch eine
Kennzeichnung bestätigt.
Obwohl bei dem vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispiel die
zur Ermittlung der gesuchten Signalleitung erforderlichen Ver
fahrensschritte in einer eindeutigen Reihenfolge beschrieben
sind, ist diese Reihenfolge für das Verfahren gemäß der Erfin
dung nicht bindend. So kann es aufgrund der bestehenden Daten
organisationen in einer Datenverarbeitungsanlage z. B. bedeu
tend effektiver sein, in einem ersten Schritt die Ermittlung
der Istwerte für alle Bitmustersätze durchzuführen und in dem
Istwerte-Speicher IS zu hinterlegen; in einem zweiten Schritt
für alle Bitmustersätze die Referenzwerte zu bilden und sie
als Referenzwertefolge in einem Referenzwertespeicher zu
hinterlegen und danach in einem dritten Schritt für alle Signal
leitungen nacheinander die Referenzwertefolge mit den zuge
hörigen Sollwerten der jeweiligen Signalleitung zu vergleichen.
Auch für den Nachweis, daß die an erster Stelle der Reihenfolge
bezeichnete Signalleitung SL tatsächlich die gesuchte ist,
kann z. B. der Verfahrensweg günstiger sein, zuerst für alle
Bitmustersätze die binären Vergleichswerte zu erfassen und in
einem Vergleichswertespeicher zu hinterlegen und danach in
einem zweiten Schritt die Inhalte des Istwerte-Speichers IS
und des Vergleichswertespeichers dem Vergleicher VG zuzufüh
ren.
Claims (8)
1. Verfahren zum Ermitteln einer jeweiligen, auf einer Flach
baugruppe mit einer als gestört identifizierten ersten Signal
leitung über eine Kurzschlußbrücke verbundenen zweiten Signal
leitung,
mit einer rechnergesteuerten Prüfeinrichtung,
- - die wenigstens mit Eingangsanschlüssen der Flachbaugruppe verbunden ist,
- - die eine Anzeigeeinheit aufweist,
- - die mit einer Tastspitze zum Erfassen von digitalen Pegeln versehen ist und
- - die mit einem Prüfwertespeicher verbunden ist, in dem eine
Sequenz von jeweils wenigstens einen Eingangs- und einen
Innenvektor aufweisenden Bitmustersätzen abgespeichert ist,
bei denen der Eingangsvektor den Eingangsanschlüssen der
Flachbaugruppe zugeordnete, digitale Pegel repräsentierende
Vorgabewerte und der Innenvektor als Reaktion auf den jewei
ligen Eingangsvektor auf den Signalleitungen der Flachbau
gruppe erwartete Sollwerte beinhaltet,
dadurch gekennzeichnet,
daß zuerst die Tastspitze (TS) mit der als gestört identifi zierten ersten Signalleitung (SLy) kontaktiert wird,
daß die Eingangsanschlüsse (EA) der Flachbaugruppe (FBG) nach einander entsprechend den Vorgabewerten (VW) aus einem jeweili gen Bitmustersatz (B1, ..., Bn) mit digitalen Pegeln beauf schlagt werden,
daß zu jedem Bitmustersatz (B1, ..., Bn) mittels der Tastspitze (TS) ein Istwert erfaßt wird,
daß der Istwert mit dem auf der als gestört identifizierten ersten Signalleitung (SLy) erwarteten Sollwert über einen er sten Logikoperator (L1) verglichen wird, der als Vergleichser gebnis einen Referenzwert bildet,
daß der Referenzwert mit den auf den verbleibenden Signallei tungen erwarteten Sollwerten über einen zweiten Logikoperator (L2) verglichen wird,
daß jeder Signalleitung (SL) ein mit dem zweiten Logikoperator (L2) verbundener Zähler (ZS) zugeordnet ist, dessen Zählerstand in Abhängigkeit des vom zweiten Logikoperator (L2) gebildeten Vergleichsergebnisses verändert wird und
daß nach Durchlauf der Bitmustersätze (B1,...,Bn) die Signal leitungen (SL) in der Reihenfolge der Zählerstände ihrer zuge ordneten Zähler (ZS) als vermeintliche zweite Signalleitung (SLx) vermerkt werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß zur Identifikation der zweiten Signalleitung (SLx) die mit tels der Tastspitze (TS) erfaßten Istwerte dem jeweiligen Bit mustersatz zugeordnet in einen Istwert-Speicher (IS) abgespei chert werden, daß die Tastspitze (TS) mit der an erster Stelle in der Reihenfolge vermerkten Signalleitung kontaktiert wird,
daß die Eingangsanschlüsse (EA) der Flachbaugruppe (FBG) nach einander entsprechend den Vorgabewerten (VW) aus den Bitmuster sätzen mit digitalen Pegeln beaufschlagt werden,
daß an der Tastspitze (TS) zu jedem Bitmustersatz ein binärer Vergleichswert abgelesen wird, der mit dem, dem betreffenden Bitmustersatz zugeordneten Istwert auf Gleichheit überprüft wird,
daß bei fehlender Gleichheit diese Signalleitung aus der Reihen folge gelöscht wird und
daß für den Fall, daß bei jedem Bitmustersatz Gleichheit festge stellt wird, diese Signalleitung als tatsächliche zweite Sig nalleitung an der Anzeigeeinheit (AE) bestätigt wird.
daß zur Identifikation der zweiten Signalleitung (SLx) die mit tels der Tastspitze (TS) erfaßten Istwerte dem jeweiligen Bit mustersatz zugeordnet in einen Istwert-Speicher (IS) abgespei chert werden, daß die Tastspitze (TS) mit der an erster Stelle in der Reihenfolge vermerkten Signalleitung kontaktiert wird,
daß die Eingangsanschlüsse (EA) der Flachbaugruppe (FBG) nach einander entsprechend den Vorgabewerten (VW) aus den Bitmuster sätzen mit digitalen Pegeln beaufschlagt werden,
daß an der Tastspitze (TS) zu jedem Bitmustersatz ein binärer Vergleichswert abgelesen wird, der mit dem, dem betreffenden Bitmustersatz zugeordneten Istwert auf Gleichheit überprüft wird,
daß bei fehlender Gleichheit diese Signalleitung aus der Reihen folge gelöscht wird und
daß für den Fall, daß bei jedem Bitmustersatz Gleichheit festge stellt wird, diese Signalleitung als tatsächliche zweite Sig nalleitung an der Anzeigeeinheit (AE) bestätigt wird.
3. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß für eine Flachbaugruppe, auf der sich bei einem Kurzschluß
zweier Signalleitungen ein durch einen ersten binären Wert re
präsentierter digitaler Pegel gegenüber einem durch einen zwei
ten binären Wert repräsentierten digitalen Pegel durchsetzt,
der erste Logikoperator (L1) für den Fall, daß der Istwert den
ersten binären Wert und der Sollwert den zweiten binären Wert
aufweist, als Vergleichsergebnis einen ersten binären Wert
bildet und
für den Fall, daß der Istwert den zweiten binären Wert auf
weist als Vergleichsergebnis den zweiten binären Wert bildet.
4. Verfahren nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß in den die Fällen, in denen der Istwert den ersten binären
Wert und der Sollwert entweder den ersten oder einen unbestimm
ten Wert aufweist, ein nicht verwertetes Vergleichsergebnis ge
bildet wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß der zweite Logikoperator (L2) bei einer Übereinstimmung
zwischen Referenzwert und Sollwert den Zählerstand des zugeord
neten Zählers (ZS) in eine erste Richtung und bei komplementä
ren Werten in eine zweite Richtung jeweils um eine Zähleinheit
verstellt.
6. Verfahren nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet,
daß für den Fall, daß der Sollwert einen unbestimmten Wert und
der Referenzwert einen ersten oder zweiten binären Wert auf
weist, der zweite Logikoperator (L2) den Zählerstand um eine
halbe Zähleinheit in die erste Richtung verstellt.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 3 bis 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß für den Fall, daß der Referenzwert den ersten und ein Soll
wert den zweiten binären Wert aufweist und der diesem Referenz
wert zugeordnete Bitmustersatz in der Sequenz der Bitmuster
sätze der erste mit einem ersten binären Wert als Referenzwert
ist, der zweite Logikoperator (L2) eine Abbruchmeldung (ABM)
bildet, aufgrund der die diesem Sollwert zugehörige Signallei
tung von einer weiteren Ermittlung ausgeschieden wird.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 3 bis 7,
dadurch gekennzeichnet,
daß dem ersten Logikoperator (L1) ein Summenzähler (SZ) zuge
ordnet ist, dessen Zählerstand mit jedem ersten oder zweiten
vom ersten Logikoperator (L1) gebildeten binären Wert in die
gleiche Richtung und um jeweils eine Zähleinheit verstellt wird
und daß zur Bildung von normierten Zählerständen nach Durchlauf
der Bitmustersätze die Zählerstände der Zähler durch den Zäh
lerstand des Summenzählers dividiert werden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4004750A DE4004750A1 (de) | 1989-05-31 | 1990-02-15 | Verfahren zum ermitteln einer ueber eine kurzschlussbruecke mit einer bereits identifizierten signalleitung verbundenen zweiten signalleitung |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3917708 | 1989-05-31 | ||
DE4004750A DE4004750A1 (de) | 1989-05-31 | 1990-02-15 | Verfahren zum ermitteln einer ueber eine kurzschlussbruecke mit einer bereits identifizierten signalleitung verbundenen zweiten signalleitung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4004750A1 true DE4004750A1 (de) | 1990-12-13 |
DE4004750C2 DE4004750C2 (de) | 1991-06-06 |
Family
ID=25881441
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4004750A Granted DE4004750A1 (de) | 1989-05-31 | 1990-02-15 | Verfahren zum ermitteln einer ueber eine kurzschlussbruecke mit einer bereits identifizierten signalleitung verbundenen zweiten signalleitung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4004750A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8901946B2 (en) | 2010-05-24 | 2014-12-02 | International Business Machines Corporation | Identifying a signal on a printed circuit board under test |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3625462A1 (de) * | 1985-07-29 | 1987-01-29 | Fluke Mfg Co John | Rechnerunterstuetzte fehlerisolation beim pruefen von gedruckten schaltungen |
-
1990
- 1990-02-15 DE DE4004750A patent/DE4004750A1/de active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3625462A1 (de) * | 1985-07-29 | 1987-01-29 | Fluke Mfg Co John | Rechnerunterstuetzte fehlerisolation beim pruefen von gedruckten schaltungen |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
DE-Z.: Universeller Funktionsprüfautomat für elektronische Baugruppen. In: messen prüfen automatisieren, Nov. 1984, S. 586-590 * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8901946B2 (en) | 2010-05-24 | 2014-12-02 | International Business Machines Corporation | Identifying a signal on a printed circuit board under test |
US9146271B2 (en) | 2010-05-24 | 2015-09-29 | Lenovo Enterprise Solutions (Singapore) Pte. Ltd. | Identifying a signal on a printed circuit board under test |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4004750C2 (de) | 1991-06-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2311034C2 (de) | Verfahren zum Prüfen eines integrierte logische Verknüpfungs- und Speicherglieder enthaltenden Halbleiterchips | |
DE2941123C2 (de) | ||
DE1524175C3 (de) | Prüfeinrichtung in elektronischen Datenverarbeitungsanlagen | |
DE3702408C2 (de) | ||
EP0507168B1 (de) | Verfahren zum Testen von auf Platinen eingelöteten integrierten Halbleiterschaltkreisen und Verwendung eines Transistortesters für dieses Verfahren | |
DE2121330C3 (de) | Verfahren und Schaltungsanordnung zum Prüfen digital arbeitender elektronischer Geräte und ihrer Bauteile | |
DE2952631C2 (de) | Schaltungsanordnung zur Diagnose einer Datenverarbeitungsanlage | |
DE4302908C2 (de) | Verfahren zur Ermittlung kritischer Fehler insbesondere für ein Kommunikationssystem und eine nach diesem Verfahren arbeitende Schaltungsanordnung | |
DE4004750C2 (de) | ||
DE3005872A1 (de) | Pruefeinrichtung fuer eingabebaugruppen und ausgabebaugruppen einer programmierbaren steuerung | |
EP0762246B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Überprüfung einer Steuereinheit | |
DE4309842C1 (de) | Verfahren zum Testen von Platinen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE10303654A1 (de) | Integrierte Halbleiterschaltung mit eingebauter Selbsttestfunktion und zugehöriges System | |
DE10048144A1 (de) | Anordnung zur Überwachung eines Bussystems | |
DE2025864C2 (de) | Verfahren zur elektrischen Funktionsprüfung von elektrischen Grundbausteinen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE19622009A1 (de) | Testverfahren zur Prüfung von Baugruppenverbindungen | |
DE3230208C2 (de) | ||
DE19510990B4 (de) | Fehleranalysator für ein IC-Testgerät und Verfahren zur Fehleranalyse | |
DE2910236A1 (de) | Verfahren zur pruefung von elektronischen baueinheiten einer vermittlungsanlage, insbesondere fernsprechanlage | |
DE10337350B3 (de) | Verfahren und Einrichtung zur Entdeckung und Lokalisierung eines Defektes in einer logischen elektronischen Leiterplatte | |
DE2646081C2 (de) | Verfahren mit einem binären Logik- oder Verdrahtungs-Testgerät, zur seriellen Zustandsabfrage der jeweils noch nicht aktiviert gewesenen Anschlüsse eines Prüflings | |
DE10129625A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum Testen einer Einrichtung zum Speichern von Daten | |
DE1953785B2 (de) | Verfahren und vorrichtung zur pruefung von verdrahtungen | |
DE10143455A1 (de) | Verfahren zum Testen von zu testenden Schaltungseinheiten mit erhöhter Datenkompression für Burn-in | |
DE3708506A1 (de) | Verfahren zur fehlerlokalisierung in digitalen schaltungen mit busstruktur |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |