DE3230208C2 - - Google Patents

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Schaltungsanordnung zur Auswertung eines von einem Prüfling, z. B. einer Flachbaugruppe, abgegebenen Testsignals, das bezüglich der innerhalb eines Meßzeitfensters auftretenden als Wechselistwert bezeichneten Anzahl von Pegelwechseln und des am Ende des Meßzeitfensters gegebenen als Zustandsistwert bezeichneten Pegelzustandes jeweils mit einem Sollwert verglichen wird.

Prüflinge mit einer Vielzahl von elektronischen Bauelementen, z. B. Flachbaugruppen, müssen vor dem Einbau z. B. in ein Datenverarbeitungssystem auf Fehlerfreiheit geprüft werden. Dazu werden sie mit Hilfe eines Prüfautomaten, der die zur Prüfung der Flachbaugruppe erforderlichen Prüfsignale erzeugt und die von der Flachbaugruppe abgegebenen Ausgangssignale überprüft, getestet. Wird dabei festgestellt, daß der Prüfling einen Fehler enthält, muß der Fehlerort gefunden werden. Dazu kann das sog. Fehlerpfadverfahren verwendet werden. Ausgehend vom gestörten Ausgangsstift des Prüflings wird mit Hilfe eines Tastkopfes, mit dem der elektrische Zustand einer elektrischen Leitung abgetastet werden kann, der Fehlerpfad auf dem Prüfling bis zum gestörten Leitungsknoten verfolgt. Das dem elektrischen Zustand auf der Leitung proportionale Ausgangssignal des Tastkopfes, im folgenden Testsignal genannt, wird in einer Auswerteschaltung mit einem Sollwert verglichen und dadurch festgestellt, ob das vom Tastkopf abgenommene Testsignal mit dem Sollwert über­ einstimmt oder nicht. Dieser Vorgang wiederholt sich solange, bis bei einem Schaltkreis auf dem Prüfling alle Eingänge richtige Signalfolgen aufweisen, der Ausgang aber gestört ist. In diesem Falle ist der Fehlerort auf dem Prüfling gefunden worden.

Die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe besteht darin, eine Schaltungsanordnung zur Auswertung eines von einem Prüfling abgegebenen Testsignals anzugeben, mit der festgestellt werden kann, ob die Anzahl der Pegelwechsel des Testsignals in einem Meßzeitfenster und der Pegelzustand des Testsignals am Ende des Meßzeitfensters mit vorgegebenen Sollwerten übereinstimmen. Diese Aufgabe wird bei einer Schaltungsanordnung der eingangs angegebenen Art dadurch gelöst, daß mindestens ein erster Komparator mit einer ersten Referenzspannung und ein zweiter Komparator mit einer zweiten gegenüber der ersten Referenzspannung positiveren Referenzspannung vorgesehen sind, die jeweils das Testsignal mit der Referenzspannung ver­ gleichen und ein erstes und zweites Komparatorsignal abgeben, wenn das Testsignal die jeweilige Referenz­ spannung überschreitet, daß eine Anordnung vorgesehen ist, die aus digitalkodierten Werten die Referenzspan­ nungen erzeugt, daß ein Wechselzähler vorgesehen ist, der bei einem Pegelwechsel, bei dem das Testsignal entweder die beiden Referenzspannungen überschreitet oder unterschreitet, jeweils um einen Schritt weitergeschaltet wird, daß ein Sollwertspeicher vorgesehen ist, in dem die Soll­ werte für die Pegelwechsel im Meßzeitfenster und die Zustände des Pegels des Testsignals am Ende des Meßzeitfensters gespeichert sind, und daß eine Vergleichseinrichtung vorgesehen ist, die den Wechselistwert und den Zustandsistwert mit den zugeordneten Sollwerten vergleicht.

Mit Hilfe einer weiteren Anordnung, die mit dem Ausgang des Wechselzählers verbunden ist, kann festgestellt werden, ob die Anzahl der Pegelwechsel des Testsignals im Meßzeit­ fenster größer Null ist. Damit kann festgestellt werden, ob das Testsignal innerhalb des Meßzeitfensters Pegel­ wechsel ausführte, obwohl dies nicht der Fall sein sollte.

Der erste und der zweite Komparator kann durch einen drit­ ten und einen vierten Komparator ergänzt werden. Dem drit­ ten Komparator wird dann eine dritte Referenzspannung zu­ geführt, die negativer ist als die erste Referenzspannung. Dem vierten Komparator wird eine vierte Referenzspannung zugeführt, die positiver ist als die zweite Referenzspan­ nung. Dadurch können Spannungsbereiche geschaffen werden, die zur Auswertung des Pegelzustandes des Testsignales am Ende des Meßzeitfensters vorteilhaft sind.

Es ist zweckmäßig, die Referenzspannungen für die Kompara­ toren aus digital kodierten Werten zu erzeugen. Dann ist es möglich, die Referenzspannungen ohne großen Aufwand zu ändern und den Gegebenheiten eines neuen Prüflings anzu­ passen.

Um den Aufwand für die Realisierung des Wechselzählers möglichst gering zu halten, wird dieser mehrstufig ausge­ führt. Dabei kann die erste Stufe des Wechselzählers in ECL-Technik ausgeführt sein, die übrigen Stufen dagegen in TTL-Technik. Mit einem derart aufgebauten Wechselzähler kön­ nen auch Testsignale hoher Frequenz gezählt werden.

Die Sollwerte für den Vergleich mit den Istwerten werden in einem Sollwertspeicher gespeichert. Um die Kapazität des Sollwertspeichers möglichst gering zu halten, ist der Adres­ senzähler für den Sollwertspeicher mit einem Vergleicher ver­ bunden, der den Inhalt eines den Starttakt des Meßzeitfen­ sters zählenden Zählers mit einem im Sollwertspeicher ab­ gespeicherten Wert vergleicht und bei Gleichheit einen Zählimpuls für den Adreßzähler abgibt. Damit ist es mög­ lich, einen im Sollwertspeicher gespeicherten Sollwert mehrmals hintereinander zur Auswertung des Testsignals zu verwen­ den, ohne daß die Speicherkapazität erhöht werden müßte.

Andere Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.

An Hand eines Ausführungsbeispiels, das in den Figuren dargestellt ist, wird die Erfindung weiter erläutert. Es zeigt

Fig. 1 ein Blockschaltbild der erfindungsgemäßen Anordnung,

Fig. 2 einen Wechselzähler,

Fig. 3 eine Eingangsstufe für den Wechselzähler zur Er­ zeugung der Zählimpulse für den Wechselzähler,

Fig. 4 einen Teil der Vergleichseinrichtung, mit dem das Ergebnis des Wechselzählers mit dem Sollwert ver­ glichen wird,

Fig. 5 einen anderen Teil der Vergleichseinrichtung, mit dem der Zustand des Pegels des Testsignals am Ende des Meßzeitfensters festgestellt wird,

Fig. 6 ein Spannungsdiagramm, in dem die Referenzspannungen und der Verlauf des Testsignals über der Zeit t auf­ getragen sind und aus dem der Verlauf des ersten und zweiten Komparatorsignals ersichtlich ist,

Fig. 7 eine Tabelle, aus der sich ergibt, wenn der Pegel des Testsignals am Ende des Meßzeitfensters fehler­ haft ist oder nicht fehlerhaft ist.

Nach Fig. 1 wird der Anordnung ein Testsignal TS, z. B. von einem Tastkopf bekannten Aufbaues, zur Auswertung zugeführt. Dieses Testsignal TS wird an vier Komparatoren 10, 12, 14, 16 angelegt. Dem ersten Komparator 10 wird eine erste Re­ ferenzspannung ULX, dem zweiten Komparator 12 eine zweite Referenzspannung UHN, dem dritten Komparator 14 eine dritte Referenzspannung ULN und dem vierten Komparator 16 eine vierte Referenzspannung UHX zugeführt. Aus Fig. 6 ergibt sich, daß die erste Referenzspannung ULX positiver ist als die dritte ReferenzspannungULN, aber negativer als die zweite Referenzspannung UHN. Die vierte Referenzspannung UHX ist dagegen positiver als die zweite Referenzspannung UHN. Die Komparatoren 10 bis 16 geben jeweils dann Kom­ paratorsignale ab, wenn das Testsignal TS die jeweiligen Referenzspannungen überschreitet.

Die Komparatorsignale von den Komparatoren 10 bis 16 wer­ den zugeordneten D-Kippgliedern 18, 20, 22, 24 zugeführt. Dabei liegen die Ausgänge der Komparatoren 10 bis 16 an den D-Eingängen der zugeordneten D-Kippglieder 18 bis 24. An die C-Eingänge der D-Kippglieder wird das Meßzeitfen­ stersignal MZ angelegt. Dieses wird mit Hilfe eines bistabi­ len Kippgliedes 26 gebildet, dessen S-Eingang das Startsignal T 0 für das Meßzeitfenster und dessen R-Eingang das Ende- Signal TB für das Meßzeitfenster zugeführt wird. Das Start­ signal T 0 und das Ende-Signal TB können z. B. von einem Prüf­ automaten geliefert werden.

Der Ausgang des D-Kippgliedes 18 gibt ein Signal LX ab, wenn das Testsignal TS die erste Referenzspannung ULX über­ schreitet, das D-Kippglied 20 gibt ein Signal HN ab, wenn das Testsignal TS die zweite Referenzspannung UHN über­ schreitet. In entsprechender Weise gibt das D-Kippglied 22 ein Signal LN ab, wenn das Testsignal TS die dritte Re­ ferenzspannung ULN überschreitet und das D-Kippglied 24 gibt ein Signal HX ab, wenn das Testsignal TS die vierte Referenzspannung UHX überschreitet.

Die vier Referenzspannungen für die Komparatoren 10 bis 16 sind in ihren Werten einstellbar. Dies erfolgt mit Hilfe einer Anordnung, die pro Referenzspannung aus einem Regi­ ster 28, einem Digital-Analog-Wandler 30, einem Impedanz­ wandler 32 und einem Filter 34 besteht. Dem Register 28 wird über einen Eingangsbus 36, der z. B. von einem Prüfauto­ maten kommt, der digitale Wert DU der zugeordneten Referenz­ spannung zugeführt und dort gespeichert. Durch den Digi­ tal-Analog-Wandler 30 wird der digitale Wert der Referenz­ spannung in eine analoge Spannung umgewandelt. Der analoge Wert der Referenzspannung wird über den Impedanzwandler 32 und das Filter 34 dem zugeordneten Komparator zugeleitet. Dabei dient der Impedanzwandler 32 zur Trennung des rela­ tiv niederohmigen Komparatoreingangs vom Digital-Analog- Wandler-Ausgang. Das Filter 32 ist deswegen zweckmäßig, um mögliche Nebensprechstörungen aus dem digitalen Teil der Anordnung zu dämpfen. Der Impedanzwandler 32 gibt weiter­ hin die Möglichkeit, Offset-Fehler auf der Übertragungs­ strecke zu kompensieren, während der Digital-Analog-Wandler die Möglichkeit gibt, Spannungsabfälle auf der Übertra­ gungsstrecke für das Testsignal TS und Fehler im Tastkopf zu kompensieren.

Der Aufbau der Anordnung zur Erzeugung der Referenzspannung ist für alle Referenzspannungen gleich, unterschiedlich ist nur der digitale Wert, der im zugeordneten Register 28 ge­ speichert wird und dementsprechend die daraus entwickelte analoge Referenzspannung. Die Einspeicherung der digitalen Werte der Referenzspannung in die Register 28 erfolgt über den Eingangsbus 36 mit Hilfe von Steuersignalen F 2 bis F 5, die von einem Funktionsdecoder 38 geliefert werden. Der Funktionsdecoder 38 ist ebenfalls mit dem Eingangsbus 36 verbunden und entnimmt diesen bei Anliegen eines Signals ADR vom Prüfautomaten das Steuerwort zur Erzeugung der Steu­ ersignale F.

Durch Änderung der digitalen Werte für die Referenzspan­ nungen in den Registern 28 ist es somit möglich, die Refe­ renzspannungen zu ändern, um die Anordnung an ver­ schieden aufgebaute Prüflinge anpassen zu können.

Am Eingangsbus 36 ist weiterhin ein Sollwertspeicher 40 angeschlossen. Im Sollwertspeicher 40 werden die Sollwerte abgespeichert, die zur Auswertung der Testsignale TS er­ forderlich sind. Diese Sollwerte können z. B. aus 20 Bit S 1 bis S 20 bestehen. Dabei können die Bit S 1 bis S 14 für den Vergleich der Pegelwechsel des Testsignals verwendet wer­ den, das Bit S 16 für den Zustandsvergleich herangezogen werden, und die Bits S 17 bis S 20 zur Erzeugung der Zähl­ signale für einen Adreßzähler 42 benutzt werden. Der Soll­ wertspeicher 40 kann in üblicher Weise aus einem oder meh­ reren RAM-Bausteinen aufgebaut sein.

Soll der Sollwertspeicher 40 über den Eingangsbus 36 mit den Sollwerten geladen werden, dann wird dem Adreßzähler 42 vom Funktionsdecoder 38 das Steuersignal F 6 zugeführt und zu­ nächst der Adreßzähler mit der ersten Adresse geladen. An­ schließend wird dem Sollwertspeicher 40 vom Funktionsde­ coder 38 das Steuersignal F 1 zugeführt und der erste Soll­ wert über den Eingangsbus 36 unter der im Adreßzähler 42 stehenden Adresse abgespeichert. Das Steuersignal F 1 wird ebenfalls dem Zähleingang des Adreßzählers 42 zugeführt und damit die Adresse um eine Einheit erhöht. Unter dieser neuen Adresse wird dann der nächste Sollwert abgespeichert.

Sollen Sollwerte S aus dem Sollwertspeicher 40 entnommen werden, dann wird zunächst der Adreßzähler 42 über das Steuersignal F 7 vom Funktionsdecoder 38 auf 0 zurückge­ setzt. Die Erzeugung der Zählimpulse für den Adreßzähler 42 kann nun mit Hilfe eines Vergleichers 44 und eines Zählers 46 erfolgen. Dem Zähler 46 wird der Starttakt T 0 am Zähl­ eingang zugeführt, d. h. immer dann, wenn ein Meßzeitfen­ ster beginnt, wird der Zähler 46 um eine Einheit erhöht. Der Inhalt des Zählers 46 wird mit den Bits S 17 bis S 20 des vom Adreßzähler 42 adressierten Sollwertes verglichen. Ergibt sich Identität, dann gibt der Vergleicher 44 ein Signal ab, das dem Adreßzähler 42 als Zählimpuls zugeführt wird. Mit Hilfe des Zählers 46 und des Vergleichers 44 ist es somit möglich, einen Sollwert im Sollwertspeicher 40 mehrmals für die Auswertung des Testsignals TS zu ver­ wenden, ohne daß die Kapazität des Sollwertspeichers 40 erhöht werden müßte. Die Anzahl der Wiederholungen wird durch die Bit S 17 bis S 20 des Sollwertes festgelegt.

Um die Anzahl der Pegelwechsel des Testsignals TS inner­ halb des Meßzeitfensters mit dem Sollwert vergleichen zu können, ist ein Wechselzähler 48 vorgesehen. Der Wechsel­ zähler 48 besteht aus einer Eingangsstufe, die in Fig. 3 dargestellt ist und der eigentlichen Zähleinheit, die sich aus Fig. 2 ergibt. Dem Wechselzähler 48 werden die Signale LX und HN zugeführt. Das Signal LX tritt auf, wenn das Test­ signal TS die erste Referenzspannung ULX überschreitet und das Signal HN tritt auf, wenn das Testsignal TS die Refe­ renzspannung UHN überschreitet. Die Zähleinheit des Wechsel­ zählers 48 erhält dann einen Zählimpuls von der Eingangs­ stufe, wenn das Testsignal die beiden Referenzspannungen ULX und UHN in einer der beiden Richtungen überschritten hat. Diese Verhältnisse können aus Fig. 6 entnommen wer­ den. Dort ist der Verlauf der Signale HN und LX in Abhängig­ keit des Verlaufs des Testsignals TS gezeigt. Die Eingangs­ stufe nach Fig. 3 erzeugt aus den Signalen LX und HN die Zählimpulse Z für die Zähleinheit des Wechselzählers 48. Die Eingangsstufe besteht aus einem D-Kippglied 50, einem RS-Kippglied 52 und einem Exklusiv-Oder Glied 54. Das Si­ gnal HN wird in nicht invertierter Form, das Signal LX in invertierter Form zugeführt. Vor Beginn des Meßzeitfensters also bevor der Starttakt T 0 auftritt, wird durch ein Vor­ bereitungssignal DU 1, das z. B. über den Eingangsbus 36 ge­ liefert wird, das Signal HN in das Kippglied 50 übernommen. Das Signal HN wird weiterhin dem S-Eingang des Kippgliedes 52 zugeführt. Am R-Eingang des Kippgliedes 52 liegt das Signal LX in invertierter Form. Die invertierenden Aus­ gänge der beiden Kippglieder 50 und 52 sind mit dem Exklu­ siv-Oder Glied 54 verbunden, an dessen invertierenden Aus­ gang der Zählimpuls für die Zähleinheit des Wechselzählers abgegeben wird.

Die Funktion der Eingangsstufe wird in Verbindung mit Fig. 6 kurz erläutert. Zu Beginn des Spannungsverlaufes des Testsignals TS befindet sich dieses zwischen den Refe­ renzspannungen ULN und ULX, so daß sowohl HN als auch LX binär Null ist. Das Kippglied 50 wird somit bei Auftreten des Vorbereitungssignals DU 1 zurückgesetzt und sein inver­ tierender Ausgang ist binär 1. Das Kippglied 52 ist zu­ rückgesetzt, sein invertierender Ausgang ist ebenfalls bi­ när 1. Das Exklusiv-Oder Glied 54 gibt an seinem Ausgang das Signal binär 0 ab. Überschreitet das Testsignal TS die Referenzspannung ULX, dann wird das Signal LX binär 1 und es verliert seinen Einfluß auf das Kippglied 52. Überschrei­ tet das Testsignal TS auch die Referenzspannung UHN, dann wird das Signal HN binär 1 und dadurch das Kippglied 52 gesetzt. Damit wird der invertierende Ausgang des Kipp­ gliedes 52 binär 0, während der invertierende Ausgang des Kippgliedes 50 binär 1 bleibt und ds Exklusiv-Oder Glied 54 gibt einen Zählimpuls Z ab. Es ist also zu sehen, daß das Exklusiv-Oder Glied 54 nur dann den Zählimpuls Z ab­ gibt, wenn das Testsignal TS beide Referenzspannungen ULX und UHN entweder in der einen oder in der anderen Richtung überschritten hat.

Die Zählimpulse Z werden in invertierter Form der Zählein­ heit des Wechselzählers 48 zugeführt. Die Zähleinheit ist in Fig. 2 dargestellt. Das Ausführungsbeispiel besteht aus zwei Zählstufen, wobei die erste Zählstufe 56 in ECL-Tech­ nik ausgeführt ist, die zweite Zählstufe 58 in TTL-Technik. An die zweite Zählstufe 58 können weitere Zählstufen in TTL-Technik angefügt werden. Die beiden Zählstufen 56, 58 werden zunächst mit Hilfe des Vorbereitungssignals DU 1 in ihre Ausgangslage zurückgesetzt. Dazu wird das Vorberei­ tungssignal DU 1 dem R-Eingang der Zählstufe 58 direkt und dem R-Eingang der Zählstufe 56 über einen TTL/ECL Pegelum­ setzer 60 zugeführt. Die Zählstufe 56 zählt die invertier­ ten Zählimpulse Z. Damit bildet der Zählimpuls gleichzei­ tig das niederwertigste Bit des Wechselzählers, das über einen ECL/TTL Pegelumsetzer 62 geführt wird und ein Bit IS 1 des Istsignals IS bildet. Am Ausgang A 1 der Zählstufe 56 wird das zweithöhere Bit, am Ausgang A 2 des dritthöhere Bit und am Ausgang A 3 das vierthöhere Bit des Wechselzählers abgenommen, die jeweils wieder über den ECL/TTL Umsetzer geführt werden und dann die Bit IS 2, IS 3 und IS 4 des Ist­ wertes bilden. Das Signal am Ausgang A 3 der Zählstufe 56 wird nach Pegelumsetzung dem Zähleingang der zweiten Zähl­ stufe 58 zugeführt. An deren Ausgängen A 4 bis A 7 werden die weiteren Bit IS 5 bis IS 8 des Istwertes abgegeben.

Da die Zähleinheit als erste Stufe eine ECL Zählstufe hat, können Zählimpulse Z hoher Frequenz gezählt werden. Für die weiteren Zählstufen sind jedoch keine Zählstufen in ECL- Technik erforderlich, hier genügen Zählstufen in TTL-Technik. Im Ausführungsbeispiel ist eine Zähleinheit gezeigt, bei der der Istwert 8 Bit aufweist. Durch Anhängen von wei­ teren Zählstufen an den A 7 der Zählstufe 58 kann die Kapa­ zität des Wechselzählers erhöht werden.

Der Vergleich des Istwertes vom Wechselzähler 48 mit dem Sollwert vom Sollwertspeicher 40 erfolgt in einem Schal­ tungsteil 60, der Bestandteil der Vergleichseinrichtung ist. In diesem Schaltungsteil 60 wird der Istwert IS Bit für Bit mit dem Sollwert S verglichen. Wenn der Istwert IS und der Sollwert S nicht übereinstimmt, gibt der Schal­ tungsteil 60 ein Signal ab, das angibt, daß die Anzahl der Pegelwechsel innerhalb des Meßzeitfensters beim Testsi­ gnal TS nicht mit dem vorgegebenen Sollwert übereinstimmt.

Eine mögliche Realisierung des Schaltungsteils 60 ist in Fig. 4 dargestellt. Es besteht aus zwei Bausteinen 62, 64, die den Vergleich des Istwertes mit dem Sollwert durchfüh­ ren und einem Oder-Glied 66. Es werden jeweils 4 Bit des Istwertes IS und des Sollwertes S miteinander verglichen. Besteht Ungleichheit, dann geben die Bausteine 62 oder 64 ein Signal ab, das nach dem Oder Glied 66 als Fehlersignal FW anzeigt, daß die Anzahl der Pegelwechsel des Testsi­ gnals innerhalb des Meßzeitfensters nicht mit dem Sollwert übereinstimmt.

Mit Hilfe eines weiteren Schaltungsteils 68, der ebenfalls Teil der Vergleichseinrichtung ist, wird festgestellt, ob der Pegel des Testsignals am Ende des Meßzeitfensters mit dem gewünschten Sollwert übereinstimmt. Als Sollwert wird hier lediglich ein Bit S 16 verwendet. Dem Schaltungsteil 68 wird das Signal HN, das auftritt, wenn das Testsignal TS die Referenzspannung UHN überschreitet und das Signal LX, das auftritt, wenn das Testsignal TS die Referenzspannung ULX überschreitet, direkt zugeführt. Das Signal LN, das auf­ tritt, wenn das Testsignal TS die Referenzspannung ULN überschreitet, wird dem Schaltungsteil 68 über ein Und- Glied 72 zugeführt, das Signal HX, das auftritt, wenn das Testsignal TS die Referenzspannung UHX überschreitet, wird dem Schaltungsteil 68 über ein Und-Glied 70 zugeführt. Mit Hilfe von Sperrsignalen VX und VN können die Und-Glieder 70 und 72 für die Signale HX und VN gesperrt werden, so daß diese vom Schaltungsteil 68 nicht ausgewertet werden.

Eine Realisierung des Schaltungsteils 68 zeigt Fig. 5. Diese besteht aus den Und-Gliedern 70 und 72, Äquivalenz­ gliedern 74 und 76 und einem Oder-Glied 78. Die Auswer­ tung der Signale HX, HN, LX und LN erfolgt nach der Ta­ belle in Fig. 7. Die Signale LN, LX, HN und HX werden mit dem Sollwert S 16 verglichen. Ein Fehler FZ tritt dann auf, wenn nach Fig. 6 der Pegel des Testsignales TS zum Zeit­ punkt TB unterhalb der dritten Referenzspannung ULN liegt oder zwischen den Referenzspannungen ULX und UHN oder über der Referenzspannung UHX liegt. Bei diesen Fällen liegt ein Fehler vor, gleichgültig welchen Wert S 16 hat. Weiter­ hin ist ein Fehlerfall gegeben, wenn der Sollwert S 16 bi­ när 1 ist, das Testsignal TS jedoch unterhalb der Refe­ renzspannung ULX liegt. Entsprechend liegt ein Fehlerfall vor, wenn der Sollwert S 16 binär 0 ist, das Testsignal TS jedoch über der Referenzspannung UHN liegt.

Die Fehlerfälle der Zeile 1 und der Zeile 7 der Tabelle werden ausschließlich mit Hilfe der Signale HX und LN fest­ gelegt. Die übrigen Fehlerfälle werden mit Hilfe der Äqui­ valenzglieder 74 und 76 festgestellt, denen der Sollwert S 16 zugeführt wird. Dem Äquivalenzglied 74 wird weiterhin das Signal LX invertiert, dem Äquivalenzglied 76 das Si­ gnal HN invertiert zugeleitet.

Mit Hilfe eines RS-Kippgliedes 80 und eines Oder-Gliedes 82 in Fig. 1 kann festgestellt werden, ob innerhalb eines Meß­ zeitfensters die Anzahl der Pegelwechsel des Testsignales TS größer 0 ist oder nicht. Dazu werden die vier niederwer­ tigsten Ausgänge des Wechselzählers 48 herangezogen und über ein Oder-Glied 82 zusammengefaßt und dem S-Eingang des Kippgliedes 80 zugeführt. Immer wenn ein Pegelwechsel auf­ tritt, wird das bistabile Kippglied 80 gesetzt und zeigt damit an, daß ein derartiger Wechsel im Meßzeitfenster vor­ gekommen ist. Mit Hilfe des Vorbereitungssignals DU 1 kann das Kippglied 80 wieder zurückgesetzt werden. Durch Zu­ sammenfassung von 4 Bits des Wechselzählers 48 in dem Oder- Glied 82 erfolgt ein sicheres Setzen des Kippgliedes 80.

Wie bereits oben ausgeführt worden ist, kann ein und der­ selbe Sollwert S mit Hilfe des Vergleichers 44 und des Zäh­ lers 46 mehrmals der Vergleichseinrichtung bestehend aus dem Schaltungsteil 60 und 68 und zu verschiedenen Meßzeitfenstern zugeführt werden. Dabei ist es möglich, daß z. B. im ersten Meßzeitfenster die Anzahl der Pegelwechsel des Testsignals TS überprüft wird, in den weiteren Meßzeit­ fenstern mit dem gleichen Sollwert der Zustand des Pegels des Testsignales am Ende des Meßzeitfensters mehrmals über­ prüft wird.

Mit Hilfe einer Auswahlschaltung 84 können die Fehlersi­ gnale FW vom Schaltungsteil 60 oder FZ vom Schaltungsteil 80 oder FN vom Kippglied 80 zum Ausgang durchgeschaltet wer­ den. Der Zeitpunkt der Durchschaltung eines der Fehlersi­ gnale zum Ausgang wird durch das Taktsignal TB festgelegt. Mit diesem Taktsignal TB wird auch das Meßzeitfenster zeit­ lich begrenzt. Das Fehlersignal FN wird dann zum Ausgang durchgeschaltet, wenn der Sollwert S 15 binär 1 ist und das Taktsignal TB vorliegt. Dieses Taktsignal TB wird einem C-Eingang eines D-Kippgliedes 86 verzögert als Signal TB 1 zugeführt. Mit Hilfe von Steuersignalen WT und ZT kann ent­ weder das Fehlersignal FW oder das Fehlersignal FZ zum Aus­ gang der Auswahlschaltung 84 durchgeschaltet werden.

Claims (14)

1. Schaltungsanordnung zur Auswertung eines von einem Prüfling, z. B. einer Flachbaugruppe, abgegebenen Test­ signals, das bezüglich der innerhalb eines Meßzeitfen­ sters auftretenden als Wechselistwert bezeichneten Anzahl von Pegelwechseln und des am Ende des Meßzeitfensters gegebenen als Zustandsistwert bezeichneten Pe­ gels jeweils mit einem Sollwert vergli­ chen wird, dadurch gekennzeichnet,
daß mindestens ein erster Komparator (10) mit einer er­ sten Referenzspannung (ULX) und ein zweiter Komparator (12) mit einer zweiten gegenüber der ersten Referenzspan­ nung positiveren Referenzspannung (UHN) vorgesehen sind, die jeweils das Testsignal (TS) mit der Referenzspannung vergleichen und ein erstes und zweites Komparatorsignal (LX, HN) abgeben, wenn das Testsignal die jeweilige Re­ ferenzspannung überschreitet, daß eine Anordnung (28, 30, 32, 34) vorgesehen ist, die aus digitalcodierten Werten die Referenzspannungen erzeugt, daß ein Wechselzähler (48) vorgesehen ist, der bei einem Pegelwechsel, bei dem das Testsignal (TS) entweder die bei­ den Referenzspannungen (ULX, UHN) überschreitet oder un­ terschreitet, jeweils um einen Schritt weiterge­ schaltet wird,
daß ein Sollwertspeicher (40) vorgesehen ist, in dem die Sollwerte für die Pegelwechsel im Meßzeitfenster und die Zustände des Pegels des Testsi­ gnals am Ende des Meßzeitfensters gespeichert sind, und
daß eine Vergleichseinrichtung (60, 68) vorgesehen ist, die den Wechselistwert und den Zustandsistwert mit den zugeordneten Sollwerten vergleicht.

2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine weitere Anord­ nung (80, 82) vorgesehen ist, die mit dem Wechselzähler (48) verbunden ist und die am Ausgang ein Signal (FN) ab­ gibt, wenn die Anzahl der Pegelwechsel des Signals (TS) im Meßzeitfenster größer Null ist.

3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1 oder 2, da­ durch gekennzeichnet, daß ein drit­ ter Komparator (14) mit einer dritten Referenzspannung (ULN) und ein vierter Komparator (16) mit einer vierten Referenzspannung (UHX) vorgesehen ist, daß die dritte Re­ ferenzspannung (ULN) negativer ist als die erste Referenz­ spannung (ULX) und die vierte Referenzspannung (UHX) po­ sitiver ist als die zweite Referenzspannung (UHN).

4. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden An­ sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Anordnung (28, 30, 32, 34) zur Erzeugung der Re­ ferenzspannungen, pro Referenzspannung ein Register (28) zur Aufnahme des digitalcodierten Wertes der Referenz­ spannung, einen Digitalanalogwandler (30), einen Impedanz­ wandler (32) und ein Filter (34) das am Ausgang die Re­ ferenzspannung abgibt, vorsieht.

5. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden An­ sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Wechselzähler aus einer Eingangsstufe zur Erzeu­ gung von Zählimpulsen und aus einer Zähleinheit besteht, daß die Eingangsstufe ein D-Kippglied (50) enthält, des­ sen C-Eingang ein vor dem Beginn des Meßzeitfensters auf­ tretendes Vorbereitungssignal (DU 1) und dessen D-Eingang das zweite Komparatorsignal (HN) zugeführt wird, daß die Eingangsstufe ein weiteres bistabiles Kippglied (52) ent­ hält, an dessen S-Eingang das zweite Komparatorsignal (HN) und an dessen R-Eingang das erste Komparatorsignal (LX) anliegt, daß die Eingangsstufe ein Exclusiv/Oder-Glied (54) enthält, die einerseits mit dem invertierenden Aus­ gang des D-Kippgliedes (50) und die andererseits mit dem invertierenden Ausgang des weiteren bistabilen Kippglie­ des (52) verbunden ist und die am Ausgang die Zählimpulse (Z) abgibt.

6. Schaltungsanordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Zähleinheit des Wechselzählers (48) mehrstufig ausgeführt ist, daß die erste Stufe (56) in ECL-Technik und die weiteren Stufen (58) in TTL-Technik ausgeführt sind und daß zwischen der ersten Stufen (56) und den weiteren Stufen ein ECL/TTL-Pe­ gel-Umsetzer (62) angeordnet ist.

7. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden An­ sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Vergleichseinrichtung (60, 68) einen ersten Schal­ tungsteil (68) zur Überprüfung des Zustandsistwerts auf­ weist, der ein Fehlersignal (FZ) abgibt, wenn das zweite Komparatorsignal (HN) auftritt und der Sollwert (S 16) bi­ när null ist oder wenn nur das erste Komparatorsignal (LX) auftritt und der Sollwert (S 16) binär 1 ist.

8. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Schaltungsteil (68) aus einem ersten Äquivalenzglied (74), dem inver­ tiert das erste Komparatorsignal (LX) und der Sollwert (S 16) zugeführt wird, aus einem zweiten Äquivalenzglied (76), dem das invertierte zweite Komparatorsignal (HN) und der Sollwert (S 16) zugeführt wird und aus einem ODER- Glied (78), das mit den Ausgängen des ersten und zweiten Äquivalenzgliedes (74, 76) verbunden ist, besteht.

9. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Schaltungsteil (68) ein Fehlersignal (FZ) abgibt, wenn das dritte Kompa­ ratorsignal (LN) nicht auftritt, wenn das vierte Kompara­ torsignal (HX) auftritt, wenn das dritte Komparatorsignal (LN) auftritt, das erste Komparatorsignal (LX) dagegen nicht auftritt und der Sollwert (S 16) binär 1 ist, wenn das zweite Komparatorsignal (HN) auftritt, das vierte Kom­ paratorsignal (HX) nicht auftritt und der Sollwert (S 16) binär 0 ist oder wenn das erste Komparatorsignal (LX) auf­ tritt, das zweite Komparatorsignal (HN) aber nicht auf­ tritt.

10. Schaltungsanordnung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß dem ODER-Glied (78) das invertierte dritte Komparatorsignal (LN) und das vier­ te Komparatorsignal (HX) zuführbar ist.

11. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Vergleichseinrichtung einen zweiten Schaltungs­ teil (60) enthält, der den Wechselistwert (IS) mit dem zugeordneten Sollwert (S) vom Sollwertspeicher (40) ver­ gleicht.

12. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 2 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß die weitere Anordnung aus einem ODER-Glied (82) und einem RS- Kippglied (80) besteht, daß das ODER-Glied (82) mit den niedrigstwertigen Ausgängen des Wechselzählers (48) ver­ bunden ist, und daß der S-Eingang des Kippgliedes (80) mit dem Ausgang des ODER-Gliedes (82) verbunden ist und am R-Eingang des Kippgliedes (80) das Vorbereitungssignal (DU 1) anliegt.

13. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß als Adreßzähler (42) für den Sollwertspeicher (40) ein Binärzähler vorgesehen ist, dessen Zähleingang mit einem Vergleicher (44) verbunden ist, der dem Inhalt eines den Starttakt (T 0) des Meßzeitfensters zählenden Zählers (46) mit einem im Sollwertspeicher (40) abgespei­ cherten Wert vergleicht und bei Gleichheit einen Zählim­ puls für den Adreßzähler (42) abgibt.

14. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden An­ sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eine Auswahlschaltung (84) vorgesehen ist, die ent­ weder den Ausgang des einen oder anderen Schaltungsteils (60, 68) der Vergleichseinrichtung oder den Ausgang der weiteren Anordnung (80) zum Ausgang durchschaltet.