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JPS6010492A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

Info

Publication number
JPS6010492A
JPS6010492A JP58115881A JP11588183A JPS6010492A JP S6010492 A JPS6010492 A JP S6010492A JP 58115881 A JP58115881 A JP 58115881A JP 11588183 A JP11588183 A JP 11588183A JP S6010492 A JPS6010492 A JP S6010492A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
driver
word line
word
bit
memory cell
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58115881A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsuya Nakajima
哲也 中嶋
Masaki Nagahara
長原 雅樹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP58115881A priority Critical patent/JPS6010492A/ja
Priority to US06/625,674 priority patent/US4747083A/en
Priority to KR1019840003688A priority patent/KR910003595B1/ko
Priority to DE8484304379T priority patent/DE3486082T2/de
Priority to EP84304379A priority patent/EP0130793B1/en
Publication of JPS6010492A publication Critical patent/JPS6010492A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B61RAILWAYS
    • B61BRAILWAY SYSTEMS; EQUIPMENT THEREFOR NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B61B1/00General arrangement of stations, platforms, or sidings; Railway networks; Rail vehicle marshalling systems
    • B61B1/02General arrangement of stations and platforms including protection devices for the passengers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/14Word line organisation; Word line lay-out
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/06Arrangements for interconnecting storage elements electrically, e.g. by wiring
    • G11C5/063Voltage and signal distribution in integrated semi-conductor memory access lines, e.g. word-line, bit-line, cross-over resistance, propagation delay
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/08Word line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, for word lines

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Transportation (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の技術分野 本発明は半導体記憶装置(以下単にメモリとも称す)に
関する。
技術の背景 メモリとして現在多種の形式のものが提案され実用にも
供されている。この多種のメモリにおいて現在共通の課
題は微細化である。つまシ高集積度ICメモリの実現で
ある。然し微細化と言っても、単に各素子、各配線を縮
小するだけでは実現されない。このような縮小化に伴う
弊害を併せて除去することが必要だからである。
従来技術と問題点 第1図は一般的な半導体記憶装置の一例を示す回路図で
あシ、例えばS−RAM(5tatic random
access memory)について示す。本図にお
いて、MCはメモリセルであシ、1のワード線対WL(
W+、W−)に多数個接続される。又、同様のワ−ド線
対WLおよびメモリセルMCが、ピット線BLおよびi
[の方向に多数配列される。これらメモリセルMCの群
がメモリセルアレイMCAを形成する。S −RAMの
場合、各ワード線WL(W+)と対をなしてワード線W
L(W−)が布線され、各々1保持亀流源HIに接続さ
れる。これによル各メモリセルMCの“l”、@0#の
内容を保持する。各ワード線はアドレスADに応じて選
択され、駆動サレル。この駆動のためにワードドライバ
Qwdが設けられる。なお、各ピット線対BL、丁τに
はビットドライバ(後述)が設けられる。
ところで、第1図に示したメモリを微細化する場合、各
種の弊害が生ずるが、その1つにエレクトロマイグレー
ションが挙げられる。エレクトロマイグレーションとは
、アルミ配線にある一定値以上の電流密度の一流を流す
と、そのアルミが熱によって溶融状態になることをいう
。このエレクトロマイグレーションは、第1図で言えば
アルミからなるワード線WL(W+)に顕著である。な
ぜなら、ここには当該ワード線WLにつながる全メモリ
セルへ通電すべき保持電流が流れ、加えて、ワード線の
選択から非選択時の立下シを速くするために通電される
放!電流(放電電流源DI)も重畳されるからである。
なお1上述ノ諸電流はパイ、39−ラのS −RAMに
おいて最大である。
このような大′屯流が通電されるようなメモリに対し微
細化を図9、各種配線の線幅を狭くすれば・電流密度の
増大は避けられず、アルミ配線にあっては前記エレクト
ロマイグレーションを生じてしまうという問題がある。
アルミ配線でなくても、そのような過大な電流密度は避
けなければならない。
発明の目的 上記問題点に鑑み本発明は、特に前記電流密度の増大を
引起し易いワード線に着目し、このワード線での電流密
度を大幅に低減できる半導体記憶装置を提供することを
目的とするものである。
発明の構成 上記目的に従い本発明は、メモリセルアレイ、駆動用電
流源および各ワード線対、ピッド線対を[iK分割して
プロ、り化し、各プロ、りでのワード線電流をその分割
数に反比例して低減せしめるようにしたことを%徴とす
るものである〇発明の実施例 第2図(、)は第1図のメモリを簡略に示す図・第2図
(b)は第2図(、)におけるワード線WL(W+)上
の電流密度分布を示す図である。第2図(a)少よび(
b)から明らかなように、ワード線の電流併給側におけ
る電流密度のピーク値は図示のIyyBucの如く過大
である。
第3図(、)は本発明に基づくメモリを簡略に示す図、
第3図(b)は第3図(、)におけるワード線WLI・
WL2上の′電流密度分布を示す図でbる。第3図(、
)に示す如く、本発明では、メモリセルアレイル駆動用
電流源および各ワード線対、ビット線対を複数に分割し
プロ、り化する。このブロック化のための分割数は2以
上であシ、第3図(a) 、 (b)では2分割の場合
を示している。すなわち、既述のワード線対WLは、W
LIとWL2に分割され、既述のメモリセルアレイMC
AはMCAlとMCA2に分割され翫第2図(、)の駆
動用電流源Is(第1図の保持電流源HI、放i!電流
源DI等を総称したもの)はISIとIS2に分割され
る。そして第1のブロックにはワードドライバQwd 
1が、第2のブロックにはワードドライバQwd 2が
接続する。これによシ、分割された各ワード線WLI 
、WL2は第3図(b)の−流密度分布が現われ、その
ピーク値は約Imax/2と、従来の場合に比し略半減
する〇この場合、ワードドライバQwdZをオン(選択
時)、オフ(非選択時)制御するために、そのペースに
加える信号(制御入力)は、ワード線WLIの他端よシ
与えられるのが好ましい。WL2の選択時には必ずWL
Iも選択時であってそのレベルが“H”になるからであ
る。これによシ、ワードドライバWD2へ特別の制御線
を布線する必要がなくなる。
ところで第3図(、)の如く、ワードドライバQwd 
2を介在させてワード線対を2分割した場合、ワード線
対WL2の電位はワード線対WLIの電位に対し、該ワ
ードドライバQwd 2のペースエミ、り電圧V□分だ
けレベルダウンする。このため、単に2分割しただけで
はメモリセルアレイMCA2の動作に不都合を生ずる。
このことを説明するために第4図を参照する。第4図は
第1図のメモリセルMCの具体例を示す回路図であシ、
本図において、WL(W+)。
WL(W−)、BL、n−Lは既に説明したとおシであ
る。
図示するように各メモリセルMCは、iルテエミッタト
ランジスタQ1およびQ2と、各負荷LlおよびB2を
なす並列接続の抵抗およびシ目ットキーパリャダイオー
ドを含んでなる。今仮にトランジスタQ1がオンしてい
るものとすると(トランジスタQ鵞がオンの場合も同じ
)、このオンを描該ワード線対の選択時において維持す
るためには、ワード線(W+)と七、ト線BLの間の電
圧vwlは所定値以上でなければならない。ここに所定
値VWIは負荷L2の電位降下とトランジスタQlのペ
ースエミ、り電圧の和に等しい。このような所定値以上
の電圧vwBがメモリセルアレイMCA l内の選択メ
モリセルにおいて確保されても、メモリセルアレイMC
A 2内の選択メモリセルでは確保されずvWBに低減
してしまう。ここにVWBはV↓B=vWB−■□であ
h、v□は前述したようにワードドライバQwd 2の
ペースエミッタ電圧である。
そうすると・、ピット線BL(BLについても同じ)の
電圧を規定するピットドライバ(後述)の出力電圧が相
対的に上昇し、該ピットドライバに接続するビットドラ
イバトランジスタ(後述)が飽和してしまう。このよう
な飽和状態下では、特に読出し動作が極端に遅くなシ、
実用的なメモリとしての使用に耐えない。そこで、メモ
リセルアレイMCA 21C連係する前記ビットドライ
バ内にレベルシフ)手段4−設ケ、前記電圧VQi+(
=vwi+ Vgg)tV□だけ持ち上げ、メモリセル
アレイMCAl内において確保される前記電圧vwBを
、メモリセルアレイMCAl内においても確保しなけれ
ばならない。
第5図は本発明に基づく半導体記憶装置のさ゛らに詳細
な一例を示す図であル、前述したピットドライバはBD
11〜BD1n 、BD21〜B2nとして示され、前
述したビットドライバトランジスタはQoとして示され
、又前述したレベルシフト手段は、メモリセルアレイM
CA 2に連係するブロック中においてLSとして示さ
れる。なお、本図では2ブロツクの場合を例示し、一点
鎖線で囲まれたB1は第1ブロツク、B2は第2プロ、
りである。前記ビットドライバは二点鎖線で囲まれてお
シ、BDI 1〜BDI n Fi第1ピ、トドライパ
、BD21〜BD2nは薗2ビットドライバである。い
ずれのビ、トドライバも抵抗R,)ランジスタQ1ダイ
オードDおよび定電流回路lからなる。
既述のように、第2ブロツクB2内のピット線電圧は選
択ワード線電圧に対し前記電圧■WB(vWl ”” 
VWl −VIE )の電圧差を有しているので、これ
を正規の電圧vw11まで回復するため、レベルシフト
手段LS(図ではダイオードで構成し、v0相当の電圧
分だけピット線篭位を下げる)を設ける。もし第3プロ
、り(図示せず)が第2てロックB2に引続く場合には
、該第320.り内の各ピットドライバには、2つのダ
イオードを直列接続したレベルシフト手段を設ける必要
があるO発明の詳細 な説明したように本発明によれば、ワード線の電流密度
を低減でき、その分その線幅を狭くしてメモリの高集積
化を図ることができる0なお・新たなワードドライバ(
Qwd2 )の挿入はその高集積化にそれ程支障とはな
らない。なぜなら1各ワード線は長尺に亘シ布線される
ものでアシ、長尺に亘シその線幅を半減若しくはこれ以
下にしたことによシ節約されたスペースによって、その
ワードドライバの(Qwd2 )の増分を十分吸収でき
るからである。
【図面の簡単な説明】
第1図は一般的な半導体記憶装置の一例を示す回路図、
第2図(、)は第1図のメモリを簡略に示す図、第2図
(b)は第2図(&)におけるワード線WL(W十)上
の′−流密度分布を示す図、第3図(a)は本発明に基
づくメモリを簡略に示す図、第3図(b)は第3図(、
)におけるワード線WLI、WLZ上の電流密度分布を
示す図、第4図は第1図のメモリセルMeの具体例を示
す回J第5図は本発明に基づく半導体記憶装置のさらに
詳細な一例を示す図である。 WL(W+、W )−’7−P線対、WLI、WL2パ
・ワード線、BL、BL、・・ビット線対、Mc・・・
メモリセk、MCA 、 MCAl 、 MCA2−・
・メモリセルアレイ、Qwd r Qwdl 、Qwd
2”’ワードドライバ、I S ・・・駆動用電流源、
BDII 、BDln 、BD21゜BD2n・・・ビ
ットドライバ、LS・・・レベル’y7 )手段O 特許出願人 富士通株式会社 特許出願代理人 弁理士 青 木 朗 弁理士 西 舘 和 之 弁理士 内 1)幸 男 第3図 (G) (b) 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、複数のワード線対と、複数のビット線対と、これら
    ワード線対およびビット線対の各交点毎に接続されるメ
    モリセh手からなるメモリセルアレイと、各該ワード線
    対に接続されるワードドライバおよび駆動用電流源と、
    各該ビット綜対を駆動するビットドライ・々とを有し、
    各前記ワード線対は、各該ワード線対の伸びる方向に沿
    って複数に分割され且つ分割された各該ワード線対毎に
    前記ワードドライバを設け、ここに分割された各該ワー
    ド線対にそれぞれ対応して前記ビット線対、前記ビット
    ドライバ、前記メモリセルおよび前記駆動用′電流源を
    複数に分割してプロ、り化し、さらに各前記ワードドラ
    イバの制御入力を各前段の前記ワード線対から直接受け
    るように接続し、該ワードドライバの介在によシ生ずる
    前段および後段の各ワード線対間の電圧降下を補償する
    ためのレベルシフト手段を前記ビットドライバ内に設け
    ることを特徴とする半導体記憶装置。
JP58115881A 1983-06-29 1983-06-29 半導体記憶装置 Pending JPS6010492A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58115881A JPS6010492A (ja) 1983-06-29 1983-06-29 半導体記憶装置
US06/625,674 US4747083A (en) 1983-06-29 1984-06-28 Semiconductor memory with segmented word lines
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Applications Claiming Priority (1)

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JP58115881A JPS6010492A (ja) 1983-06-29 1983-06-29 半導体記憶装置

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JPS6010492A true JPS6010492A (ja) 1985-01-19

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ID=14673481

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EP (1) EP0130793B1 (ja)
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KR (1) KR910003595B1 (ja)
DE (1) DE3486082T2 (ja)

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