JPH11202970A - Clock skew preventing circuit - Google Patents
Clock skew preventing circuitInfo
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- JPH11202970A JPH11202970A JP10007780A JP778098A JPH11202970A JP H11202970 A JPH11202970 A JP H11202970A JP 10007780 A JP10007780 A JP 10007780A JP 778098 A JP778098 A JP 778098A JP H11202970 A JPH11202970 A JP H11202970A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、クロックスキュー
が発生した複数のクロック信号を入力して、同一周期の
複数のクロック信号を出力するクロックスキュー防止回
路に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a clock skew prevention circuit which receives a plurality of clock signals having a clock skew and outputs a plurality of clock signals having the same period.
【0002】[0002]
【従来の技術】例えばLSI等の集積回路においては、
1つのクロックラインを複数のクロックラインに分割
し、各クロックラインに設けるクロックバッファをでき
るだけ小さくするようにした構成が採用されている。こ
の構成の場合、各クロックラインに接続した負荷の大き
さや各クロックラインの配線の長さの相違などによっ
て、各クロックラインに流れるクロック信号の周期が少
しずつずれる現象、即ち、いわゆるクロックスキューが
発生することがある。2. Description of the Related Art For example, in an integrated circuit such as an LSI,
A configuration is adopted in which one clock line is divided into a plurality of clock lines, and a clock buffer provided for each clock line is made as small as possible. In the case of this configuration, a phenomenon in which the cycle of the clock signal flowing through each clock line slightly shifts due to a difference in the size of the load connected to each clock line or the length of the wiring of each clock line, that is, a so-called clock skew occurs. May be.
【0003】このようなクロックスキューをなくして、
同一周期の複数のクロック信号を出力させるクロック出
力回路として、従来より、図6に示すような構成があ
る。この構成では、例えば3つのクロック信号Sa、S
b、Scを入力する3つの入力線1a、1b、1cにバ
ッファ2a、2b、2cを接続すると共に、これらバッ
ファ2a、2b、2cに出力線3a、3b、3cを接続
している。そして、上記3つの出力線3a、3b、3c
間を短絡線4により短絡する、即ち、3つのバッファ2
a、2b、2cの出力をショートするように構成されて
いる。[0003] Eliminating such clock skew,
As a clock output circuit for outputting a plurality of clock signals of the same cycle, there is a conventional configuration as shown in FIG. In this configuration, for example, three clock signals Sa and S
Buffers 2a, 2b, 2c are connected to three input lines 1a, 1b, 1c for inputting b and Sc, and output lines 3a, 3b, 3c are connected to these buffers 2a, 2b, 2c. Then, the three output lines 3a, 3b, 3c
Are short-circuited by the short-circuit line 4, that is, three buffers 2
The outputs of a, 2b, and 2c are configured to be short-circuited.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】上記従来構成におい
て、例えば図7に示すようなクロックスキューが生じた
3つのクロック信号Sa、Sb、Scが入力線1a、1
b、1cに入力されたとする。この場合、クロック信号
Saの立上がりは早いが、クロック信号Sb、Scの立
上がりは遅い。このため、バッファ2aから出力される
信号がハイレベルであっても、バッファ2b、2cから
出力される信号はロウレベルとなる。この結果、短絡線
4により短絡された3つの出力線3a、3b、3cから
出力されるクロック信号Saout、Sbout、Sc
outは、図7に示すように、波形がなまってしまうと
いう問題点がある。そして、クロック信号Saout、
Sbout、Scoutの波形がなまると、種々の不具
合が発生する。In the above-mentioned conventional configuration, for example, three clock signals Sa, Sb, Sc having a clock skew as shown in FIG.
It is assumed that b and 1c are input. In this case, the rising of the clock signal Sa is fast, but the rising of the clock signals Sb and Sc are slow. Therefore, even if the signal output from the buffer 2a is at a high level, the signals output from the buffers 2b and 2c are at a low level. As a result, the clock signals Saout, Sbout, Sc output from the three output lines 3a, 3b, 3c short-circuited by the short-circuit line 4
Out has a problem that the waveform is distorted as shown in FIG. Then, the clock signal Saout,
When the waveforms of Sbout and Scout are rounded, various problems occur.
【0005】具体的には、バッファ2a、2b、2cが
例えばCMOS集積回路で構成されている場合、貫通電
流が流れてしまう。また、出力線3a、3b、3cに接
続される次段の回路が例えばCMOS集積回路で構成さ
れている場合には、この回路にも貫通電流が流れると共
に、回路の動作が遅くなるという欠点があった。更に、
上述した構成では、クロックスキューが生じた3つのク
ロック信号Sa、Sb、Scを入力する場合について説
明したが、入力するクロック信号の数が更に増えると、
出力されるクロック信号の波形のなまりがより一層ひど
くなるという傾向があった。More specifically, when the buffers 2a, 2b and 2c are composed of, for example, CMOS integrated circuits, a through current flows. Further, when the next-stage circuit connected to the output lines 3a, 3b, 3c is formed of, for example, a CMOS integrated circuit, a drawback is that a through current flows through this circuit and the operation of the circuit is slowed down. there were. Furthermore,
In the above-described configuration, the case where three clock signals Sa, Sb, and Sc in which clock skew has occurred has been described. However, if the number of input clock signals further increases,
There is a tendency that the rounding of the waveform of the output clock signal becomes even worse.
【0006】そこで、本発明の目的は、クロックスキュ
ーが生じた複数のクロック信号を入力して同一周期のク
ロック信号を出力させる構成において、出力されるクロ
ック信号に波形のなまりが発生することを防止できるク
ロックスキュー防止回路を提供するにある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a configuration in which a plurality of clock signals having a clock skew are input and a clock signal having the same cycle is output, thereby preventing the output clock signal from becoming distorted. A clock skew prevention circuit is provided.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】本発明のクロックスキュ
ー防止回路(図1参照)は、複数のクロック信号を入力
する複数の入力線と、前記複数のクロック信号を入力
し、そのうちの最も遅いクロック信号に同期したクロッ
ク信号を出力する論理回路と、この論理回路から出力さ
れたクロック信号をバッファに入力して複数のクロック
信号を出力する出力線とを備えて成るところに特徴を有
する。A clock skew prevention circuit according to the present invention (see FIG. 1) has a plurality of input lines for inputting a plurality of clock signals, and a plurality of input lines for inputting the plurality of clock signals, and a slowest clock among the input lines. It is characterized by comprising a logic circuit that outputs a clock signal synchronized with a signal, and an output line that inputs a clock signal output from the logic circuit to a buffer and outputs a plurality of clock signals.
【0008】上記構成においては、論理回路により、入
力された複数のクロック信号のうちの最も遅いクロック
信号に同期したクロック信号が出力される。そして、こ
のクロック信号がバッファの入力となり出力線から複数
のクロック信号として出力される。この構成の場合、ク
ロックスキューが生じた複数のクロック信号を入力し
て、クロックスキューがゼロのクロック信号を出力させ
ることができ、しかも、この処理を論理回路により実行
するから、出力されるクロック信号に波形のなまりが発
生することがなくなる。In the above configuration, the logic circuit outputs a clock signal synchronized with the slowest clock signal among the plurality of input clock signals. Then, this clock signal is input to the buffer and output from the output line as a plurality of clock signals. In the case of this configuration, a plurality of clock signals with clock skew can be input and a clock signal with zero clock skew can be output. Further, since this processing is executed by a logic circuit, the output clock signal No rounding of the waveform occurs.
【0009】また、上記バッファから出力される信号の
レベルを自己保持する帰還回路を設けることがより一層
好ましい構成(図3参照)である。It is more preferable to provide a feedback circuit for self-holding the level of the signal output from the buffer (see FIG. 3).
【0010】[0010]
【発明の実施の形態】以下、本発明の第1の実施例につ
いて図1及び図2を参照しながら説明する。図1は本実
施例のクロックスキュー防止回路の電気回路図である。
この図1において、複数である例えば3つのクロック信
号Sa、Sb、Scを入力する3つの入力線11a、1
1b、11cは、3入力のNAND回路12の入力端子
に接続されていると共に、3入力のNOR回路13の入
力端子に接続されている。この場合、上記NAND回路
12と上記NOR回路13とから論理回路14が構成さ
れている。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is an electric circuit diagram of the clock skew prevention circuit of the present embodiment.
In FIG. 1, three input lines 11a, 11a, 1c for inputting a plurality of, for example, three clock signals Sa, Sb, Sc.
1 b and 11 c are connected to the input terminals of the three-input NAND circuit 12 and to the input terminals of the three-input NOR circuit 13. In this case, the NAND circuit 12 and the NOR circuit 13 constitute a logic circuit 14.
【0011】また、NAND回路12の出力端子は、P
チャネルMOSトランジスタ15のゲートに接続されて
いる。NOR回路13のの出力端子は、NチャネルMO
Sトランジスタ16のゲートに接続されている。Pチャ
ネルMOSトランジスタ15のソースは直流電圧端子V
DDに接続され、NチャネルMOSトランジスタ16の
ソースはグランドVSSに接続されている。そして、P
チャネルMOSトランジスタ15のドレインと、Nチャ
ネルMOSトランジスタ16のドレインとが接続され、
更に、この接続点に3つの出力線17a、17b、17
cが接続されている。この場合、PチャネルMOSトラ
ンジスタ15とNチャネルMOSトランジスタ16とか
らなるCMOS回路により、バッファ18が構成されて
いる。The output terminal of the NAND circuit 12 is connected to P
It is connected to the gate of the channel MOS transistor 15. The output terminal of the NOR circuit 13 is an N-channel MO
Connected to the gate of S transistor 16. The source of the P-channel MOS transistor 15 is a DC voltage terminal V
It is connected to the DD, the source of the N-channel MOS transistor 16 is connected to the ground V SS. And P
The drain of the channel MOS transistor 15 and the drain of the N-channel MOS transistor 16 are connected,
Further, three output lines 17a, 17b, 17
c is connected. In this case, the buffer 18 is configured by a CMOS circuit including a P-channel MOS transistor 15 and an N-channel MOS transistor 16.
【0012】次に、上記した回路の動作を図2を参照し
て説明する。この場合、3つのクロック信号Sa、S
b、Scには、図2(a)、(b)、(c)に示すよう
なクロックスキューが存在しているとする。Next, the operation of the above circuit will be described with reference to FIG. In this case, three clock signals Sa, S
It is assumed that clock skews shown in FIGS. 2A, 2B, and 2C exist in b and Sc.
【0013】まず、時刻t1までの期間Taにおいて
は、3つのクロック信号Sa、Sb、Scはすべてロウ
レベルであるから、NAND回路12の出力信号Sdは
ハイレベルとなり、NOR回路13の出力信号Seはハ
イレベルとなる。従って、PチャネルMOSトランジス
タ15がオフし、NチャネルMOSトランジスタ16が
オンすることにより、出力線17a、17b、17cか
らロウレベルの出力信号Saout、Sbout、Sc
outが出力される。First, in a period Ta until time t1, the three clock signals Sa, Sb, Sc are all at low level, so that the output signal Sd of the NAND circuit 12 becomes high level, and the output signal Se of the NOR circuit 13 becomes High level. Therefore, when the P-channel MOS transistor 15 is turned off and the N-channel MOS transistor 16 is turned on, the low-level output signals Saout, Sbout, Sc from the output lines 17a, 17b, 17c.
out is output.
【0014】そして、時刻t1(最も早いクロック信号
Saがハイレベルに立上がる時点)から時刻t2(最も
遅いクロック信号Scがハイレベルに立上がる時点)ま
での期間Tbにおいては、NAND回路12の出力信号
Sdはハイレベルとなり、NOR回路13の出力信号S
eはロウレベルとなる。従って、PチャネルMOSトラ
ンジスタ15及びNチャネルMOSトランジスタ16は
いずれもオフ(ダイナミック期間)になり、出力線17
a、17b、17cの出力信号Saout、Sbou
t、Scoutは現在の状態、即ち、ロウレベルを維持
する。In a period Tb from time t1 (the time when the earliest clock signal Sa rises to the high level) to time t2 (the time when the latest clock signal Sc rises to the high level), the output of the NAND circuit 12 is output. The signal Sd becomes high level, and the output signal S
e becomes low level. Accordingly, the P-channel MOS transistor 15 and the N-channel MOS transistor 16 are both turned off (dynamic period), and the output line 17
a, 17b, 17c output signals Saout, Sbout
t and Scout maintain the current state, that is, the low level.
【0015】次に、時刻t2(最も遅いクロック信号S
cがハイレベルに立上がる時点)から時刻t3(最も早
いクロック信号Saがロウレベルに立下がる時点)まで
の期間Tcにおいては、NAND回路12の出力信号S
dはロウレベルとなり、NOR回路13の出力信号Se
はロウレベルとなる。従って、PチャネルMOSトラン
ジスタ15がオンし、NチャネルMOSトランジスタ1
6がオフすることにより、出力線17a、17b、17
cからハイレベルの出力信号Saout、Sbout、
Scoutが出力される。Next, at time t2 (the latest clock signal S
During a period Tc from the time point when c rises to the high level to the time t3 (the time point when the earliest clock signal Sa falls to the low level), the output signal S of the NAND circuit 12 is output.
d goes low, and the output signal Se of the NOR circuit 13
Becomes low level. Therefore, the P-channel MOS transistor 15 turns on, and the N-channel MOS transistor 1
6 are turned off, the output lines 17a, 17b, 17
c to output signals Saout, Sbout,
Scout is output.
【0016】続いて、時刻t3(最も早いクロック信号
Saがロウレベルに立下がる時点)から時刻t4(最も
遅いクロック信号Scがロウレベルに立下がる時点)ま
での期間Tdにおいては、NAND回路12の出力信号
Sdはハイレベルとなり、NOR回路13の出力信号S
eはロウレベルとなる。従って、PチャネルMOSトラ
ンジスタ15及びNチャネルMOSトランジスタ16は
いずれもオフ(ダイナミック期間)になり、出力線17
a、17b、17cの出力信号Saout、Sbou
t、Scoutは現在の状態、即ち、ハイレベルを維持
する。Subsequently, during a period Td from time t3 (the time when the earliest clock signal Sa falls to the low level) to time t4 (the time when the latest clock signal Sc falls to the low level), the output signal of the NAND circuit 12 is output. Sd goes high, and the output signal S of the NOR circuit 13
e becomes low level. Accordingly, the P-channel MOS transistor 15 and the N-channel MOS transistor 16 are both turned off (dynamic period), and the output line 17
a, 17b, 17c output signals Saout, Sbout
t and Scout maintain the current state, that is, the high level.
【0017】この後、時刻t4(最も遅いクロック信号
Scがロウレベルに立下がる時点)より後の期間Teに
おいては、NAND回路12の出力信号Sdはハイレベ
ルとなり、NOR回路13の出力信号Seはハイレベル
となる。従って、PチャネルMOSトランジスタ15が
オフし、NチャネルMOSトランジスタ16がオンする
ことにより、出力線17a、17b、17cからロウレ
ベルの出力信号Saout、Sbout、Scoutが
出力される。Thereafter, in a period Te after time t4 (the point at which the latest clock signal Sc falls to a low level), the output signal Sd of the NAND circuit 12 becomes high and the output signal Se of the NOR circuit 13 becomes high. Level. Accordingly, when the P-channel MOS transistor 15 is turned off and the N-channel MOS transistor 16 is turned on, low-level output signals Saout, Sbout, and Scout are output from the output lines 17a, 17b, and 17c.
【0018】即ち、上記したクロックスキュー防止回路
においては、クロックスキューが生じた3つのクロック
信号Sa、Sb、Scが入力されると、そのうちの最も
遅いクロック信号Scに同期したクロック信号(同一周
期のクロック信号)が、出力信号Saout、Sbou
t、Scoutとして出力線17a、17b、17cか
ら出力されるように構成されている。That is, in the above-described clock skew prevention circuit, when three clock signals Sa, Sb, Sc having a clock skew are input, a clock signal synchronized with the slowest clock signal Sc (of the same period) is input. Clock signals) are output signals Saout, Sbout
It is configured to be output from output lines 17a, 17b, and 17c as t and Scout.
【0019】このような回路構成にすることによって、
クロックスキューが生じた3つのクロック信号Sa、S
b、Scを入力して、クロックスキューがゼロの3つの
クロック信号Saout、Sbout、Scoutを出
力させることができる。しかも、この構成の場合、論理
回路14によって、3つのクロック信号Sa、Sb、S
cのうちの最も遅いクロック信号Scに同期したクロッ
ク信号Saout、Sbout、Scoutを出力する
ことができる。出力されるクロック信号Saout、S
bout、Scoutは、論理回路によるバッファ18
のスイッチングを行なうため図7のような波形のなまり
が発生することはない。これにより、出力線17a、1
7b、17cに接続される次段の回路を例えばCMOS
集積回路で構成した場合には、この回路に貫通電流が流
れることを防止できると共に、次段回路の動作を早くす
ることができる。With such a circuit configuration,
Three clock signals Sa and S with clock skew
By inputting b and Sc, three clock signals Saout, Sbout and Scout having zero clock skew can be output. Moreover, in the case of this configuration, the three clock signals Sa, Sb, S
The clock signals Saout, Sbout, and Scout synchronized with the slowest clock signal Sc of c can be output. Output clock signals Saout, S
bout and Scout are buffers 18 by a logic circuit.
Therefore, the rounding of the waveform as shown in FIG. 7 does not occur. Thereby, the output lines 17a, 1
The next stage circuit connected to 7b, 17c is, for example, CMOS
When an integrated circuit is used, a through current can be prevented from flowing through this circuit, and the operation of the next-stage circuit can be accelerated.
【0020】また、上記実施例では、論理回路14の出
力側にバッファ18を設けるように構成したので、出力
線17a、17b、17cから出力されるクロック信号
Saout、Sbout、Scoutに必要とする駆動
力(接続された負荷を駆動するための駆動力)を付与す
ることができる。更に、上記実施例では、バッファ18
を論理回路14で制御するため、PチャネルMOSトラ
ンジスタ15及びNチャネルMOSトランジスタ16を
共にオンする期間をなくした。このため、バッファ18
に貫通電流が流れることを防止でき、ひいては消費電力
を低減することができる。In the above embodiment, since the buffer 18 is provided on the output side of the logic circuit 14, the driving signals required for the clock signals Saout, Sbout, and Scout output from the output lines 17a, 17b, 17c are provided. A force (a driving force for driving a connected load) can be applied. Further, in the above embodiment, the buffer 18
Is controlled by the logic circuit 14, the period during which both the P-channel MOS transistor 15 and the N-channel MOS transistor 16 are turned on is eliminated. Therefore, the buffer 18
Can be prevented from flowing through, and power consumption can be reduced.
【0021】図3及び図4は本発明の第2の実施例を示
すものであり、第1の実施例と異なるところを説明す
る。尚、第1の実施例と同一部分には、同一符号を付し
ている。第2の実施例では、図3に示すように、NAN
D回路12の出力端子とPチャネルMOSトランジスタ
15のゲートとの間に、インバータ19及びクロックド
インバータ20を図示するように接続すると共に、NO
R回路13の出力端子とNチャネルMOSトランジスタ
16のゲートとの間に、インバータ21及びクロックド
インバータ22を図示するように接続している。尚、ク
ロックドインバータ20、22は、2個のPチャネルM
OSトランジスタと2個のNチャネルMOSトランジス
タを図示するように接続して構成されている。FIGS. 3 and 4 show a second embodiment of the present invention. Differences from the first embodiment will be described. The same parts as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals. In the second embodiment, as shown in FIG.
An inverter 19 and a clocked inverter 20 are connected between the output terminal of the D circuit 12 and the gate of the P-channel MOS transistor 15 as shown in FIG.
An inverter 21 and a clocked inverter 22 are connected between the output terminal of the R circuit 13 and the gate of the N-channel MOS transistor 16 as shown. Note that the clocked inverters 20 and 22 have two P-channel M
An OS transistor and two N-channel MOS transistors are connected as shown.
【0022】また、PチャネルMOSトランジスタ15
のゲートと、NチャネルMOSトランジスタ16のゲー
トとが接続されている。更に、これらゲート同士の接続
点(以下、この点をBufferInと称す)と、Pチ
ャネルMOSトランジスタ15のドレインとNチャネル
MOSトランジスタ16のドレインとが接続された接続
点(即ち、3つの出力線17a、17b、17cの共通
接続点)との間に、帰還インバータ23が図示するよう
に接続されている。この構成の場合、上記したように接
続された帰還インバータ23により本発明の帰還回路2
4が構成されている。The P-channel MOS transistor 15
And the gate of the N-channel MOS transistor 16 are connected. Further, a connection point between these gates (hereinafter, this point is referred to as BufferIn) and a connection point where the drain of the P-channel MOS transistor 15 and the drain of the N-channel MOS transistor 16 are connected (that is, three output lines 17a) , 17b, 17c), a feedback inverter 23 is connected as shown. In the case of this configuration, the feedback circuit 23 of the present invention is provided by the feedback inverter 23 connected as described above.
4 are configured.
【0023】次に、上記した回路の動作を図4を参照し
て説明する。この場合、3つのクロック信号Sa、S
b、Scには、図4(a)、(b)、(c)に示すよう
なクロックスキューが存在しているとする。Next, the operation of the above circuit will be described with reference to FIG. In this case, three clock signals Sa, S
It is assumed that clock skews as shown in FIGS. 4A, 4B, and 4C exist in b and Sc.
【0024】まず、期間Ta´においては、NAND回
路12の出力信号Sdがハイレベルとなり、インバータ
19の出力信号Sfがロウレベルとなるから、クロック
ドインバータ20は閉じる(ハイインピーダンスとな
る)。これと共に、NOR回路13の出力信号Seがハ
イレベルとなり、インバータ21の出力信号Sgがロウ
レベルとなるから、クロックドインバータ22がアクテ
ィブとなり、クロックドインバータ22はNOR回路1
3の出力信号Seを、即ち、ハイレベル信号をBuff
erInへ出力する。First, in the period Ta ', the output signal Sd of the NAND circuit 12 goes high and the output signal Sf of the inverter 19 goes low, so that the clocked inverter 20 closes (high impedance). At the same time, the output signal Se of the NOR circuit 13 goes high and the output signal Sg of the inverter 21 goes low, so that the clocked inverter 22 becomes active and the clocked inverter 22
3 output signal Se, that is, the high-level signal is
Output to erIn.
【0025】このとき、出力線17a、17b、17c
の出力信号Saout、Sbout、Scoutの一つ
前の値であるハイレベルが、帰還インバータ23を通っ
てロウレベルとなると共に、このロウレベル信号が上記
BufferInへ与えられる。このため、帰還インバ
ータ23からのロウレベル信号とクロックドインバータ
22からのハイレベル信号がけんかする。しかし、この
場合、帰還インバータ23のトランジスタサイズを、ク
ロックドインバータ20、22が共に閉じて(オフし
て)いるときにBufferInのレベルを保持できる
だけの最小のサイズに設定している。従って、クロック
ドインバータ22からのハイレベル信号が勝ち、Pチャ
ネルMOSトランジスタ15がオフし、NチャネルMO
Sトランジスタ16がオンすることにより、ロウレベル
の出力信号Saout、Sbout、Scoutが出力
線17a、17b、17cから出力される。At this time, the output lines 17a, 17b, 17c
Of the output signals Saout, Sbout, and Scout, which are the previous values, go to the low level through the feedback inverter 23, and this low level signal is supplied to the BufferIn. Therefore, the low-level signal from the feedback inverter 23 and the high-level signal from the clocked inverter 22 quarrel. However, in this case, the transistor size of the feedback inverter 23 is set to the minimum size that can maintain the level of BufferIn when both the clocked inverters 20 and 22 are closed (turned off). Therefore, the high-level signal from the clocked inverter 22 wins, the P-channel MOS transistor 15 turns off, and the N-channel
When the S-transistor 16 is turned on, low-level output signals Saout, Sbout, and Scout are output from the output lines 17a, 17b, and 17c.
【0026】続いて、期間Tb´においては、NAND
回路12の出力信号Sdはハイレベルとなり、インバー
タ19の出力信号Sfがロウレベルとなるから、クロッ
クドインバータ20は閉じる(ハイインピーダンスとな
る)。これと共に、NOR回路13の出力信号Seがロ
ウレベルとなり、インバータ21の出力信号Sgがハイ
レベルとなるから、クロックドインバータ22は閉じる
(ハイインピーダンスとなる)。そして、この場合、出
力線17a、17b、17cの出力信号Saout、S
bout、Scoutの現在の値であるロウレベルが、
帰還インバータ23を通ってハイレベルとなり、このハ
イレベル信号が上記BufferInへ与えられる。Subsequently, in the period Tb ', the NAND
Since the output signal Sd of the circuit 12 becomes high level and the output signal Sf of the inverter 19 becomes low level, the clocked inverter 20 closes (becomes high impedance). At the same time, the output signal Se of the NOR circuit 13 goes low, and the output signal Sg of the inverter 21 goes high, so that the clocked inverter 22 closes (becomes high impedance). In this case, the output signals Saout, S of the output lines 17a, 17b, 17c are output.
The low level, which is the current value of bout, Scout,
It goes high through the feedback inverter 23, and this high level signal is provided to the BufferIn.
【0027】従って、PチャネルMOSトランジスタ1
5がオフし、NチャネルMOSトランジスタ16がオン
することにより、出力線17a、17b、17cの出力
信号Saout、Sbout、Scoutは現在の状
態、即ち、ロウレベルを維持するようになる。即ち、上
記期間Tb´においては、帰還回路24の帰還インバー
タ23により、バッファ18から出力される出力信号S
aout、Sbout、Scoutの状態が自己保持さ
れるように構成されている。Therefore, P-channel MOS transistor 1
5 is turned off and the N-channel MOS transistor 16 is turned on, so that the output signals Saout, Sbout, Scout of the output lines 17a, 17b, 17c maintain the current state, that is, the low level. That is, in the period Tb ', the output signal S output from the buffer 18 by the feedback inverter 23 of the feedback circuit 24.
The state of aout, Sbout, and Scout is configured to be self-held.
【0028】次に、期間Tc´においては、NAND回
路12の出力信号Sdはロウレベルとなり、インバータ
19の出力信号Sfがハイレベルとなるから、クロック
ドインバータ20がアクティブとなる。これと共に、N
OR回路13の出力信号Seはロウレベルとなり、イン
バータ21の出力信号Sgがハイレベルとなるから、ク
ロックドインバータ22は閉じている(ハイインピーダ
ンスとなっている)。そして、上記クロックドインバー
タ20がアクティブとなるから、該クロックドインバー
タ20はNAND回路12の出力信号Sdを、即ち、ロ
ウレベル信号をBufferInへ出力する。Next, in the period Tc ', the output signal Sd of the NAND circuit 12 becomes low level and the output signal Sf of the inverter 19 becomes high level, so that the clocked inverter 20 becomes active. With this, N
Since the output signal Se of the OR circuit 13 becomes low level and the output signal Sg of the inverter 21 becomes high level, the clocked inverter 22 is closed (has high impedance). Then, since the clocked inverter 20 becomes active, the clocked inverter 20 outputs the output signal Sd of the NAND circuit 12, that is, outputs a low level signal to BufferIn.
【0029】このとき、出力線17a、17b、17c
の出力信号Saout、Sbout、Scoutの現在
の値であるロウレベルが、帰還インバータ23を通って
ハイレベルとなると共に、このハイレベル信号が上記B
ufferInへ与えられる。このため、帰還インバー
タ23からのハイレベル信号とクロックドインバータ2
0からのロウレベル信号がけんかする。しかし、この場
合、上述したように帰還インバータ23のトランジスタ
サイズがクロックドインバータ20、22が共に閉じて
(オフして)いるときにBufferInのレベルを保
持できるだけの最小のサイズに設定されているため、ク
ロックドインバータ20からのロウレベル信号が勝つ。
従って、PチャネルMOSトランジスタ15がオンし、
NチャネルMOSトランジスタ16がオフすることによ
り、ハイレベルの出力信号Saout、Sbout、S
coutが出力線17a、17b、17cから出力され
るようになる。At this time, the output lines 17a, 17b, 17c
Of the output signals Saout, Sbout, and Scout of FIG. 2 go to the high level through the feedback inverter 23, and the high-level signal
provided to uufferIn. Therefore, the high-level signal from the feedback inverter 23 and the clocked inverter 2
The low level signal from 0 fights. However, in this case, as described above, the transistor size of the feedback inverter 23 is set to the minimum size that can maintain the level of BufferIn when the clocked inverters 20 and 22 are both closed (off). , The low level signal from the clocked inverter 20 wins.
Therefore, the P-channel MOS transistor 15 turns on,
When the N-channel MOS transistor 16 is turned off, the high-level output signals Saout, Sbout, S
cout is output from the output lines 17a, 17b, 17c.
【0030】そして、期間Td´においては、NAND
回路12の出力信号Sdはハイレベルとなり、インバー
タ19の出力信号Sfがロウレベルとなるから、クロッ
クドインバータ20は閉じる(ハイインピーダンスとな
る)。これと共に、NOR回路13の出力信号Seがロ
ウレベルとなり、インバータ21の出力信号Sgがハイ
レベルとなるから、クロックドインバータ22は閉じる
(ハイインピーダンスとなる)。そして、この場合、出
力線17a、17b、17cの出力信号Saout、S
bout、Scoutの現在の値であるハイレベルが、
帰還インバータ23を通ってロウレベルとなり、このロ
ウレベル信号が上記BufferInへ与えられる。In the period Td ', the NAND
Since the output signal Sd of the circuit 12 becomes high level and the output signal Sf of the inverter 19 becomes low level, the clocked inverter 20 closes (becomes high impedance). At the same time, the output signal Se of the NOR circuit 13 goes low, and the output signal Sg of the inverter 21 goes high, so that the clocked inverter 22 closes (becomes high impedance). In this case, the output signals Saout, S of the output lines 17a, 17b, 17c are output.
The high level which is the current value of bout, Scout is
It goes low through the feedback inverter 23, and this low level signal is provided to the BufferIn.
【0031】従って、PチャネルMOSトランジスタ1
5がオンし、NチャネルMOSトランジスタ16がオフ
することにより、出力線17a、17b、17cの出力
信号Saout、Sbout、Scoutは現在の状
態、即ち、ハイレベルを維持する。即ち、上記期間Td
´においては、帰還回路24の帰還インバータ23によ
りバッファ18から出力される出力信号Saout、S
bout、Scoutの状態が自己保持されるように構
成されている。Therefore, P-channel MOS transistor 1
5 is turned on and the N-channel MOS transistor 16 is turned off, so that the output signals Saout, Sbout, Scout of the output lines 17a, 17b, 17c maintain the current state, that is, the high level. That is, the above period Td
′, Output signals Saout, S output from the buffer 18 by the feedback inverter 23 of the feedback circuit 24.
The state of bout and Scout is self-held.
【0032】続いて、期間Te´においては、NAND
回路12の出力信号Sdはハイレベルとなり、インバー
タ19の出力信号Sfがロウレベルとなるから、クロッ
クドインバータ20は閉じる(ハイインピーダンスとな
る)。これと共に、NOR回路13の出力信号Seがハ
イレベルとなり、インバータ21の出力信号Sgがロウ
レベルとなるから、クロックドインバータ22がアクテ
ィブとなり、クロックドインバータ22はNOR回路1
3の出力信号Seを、即ち、ハイレベル信号をBuff
erInへ出力する。Subsequently, in the period Te ', the NAND
Since the output signal Sd of the circuit 12 becomes high level and the output signal Sf of the inverter 19 becomes low level, the clocked inverter 20 closes (becomes high impedance). At the same time, the output signal Se of the NOR circuit 13 goes high and the output signal Sg of the inverter 21 goes low, so that the clocked inverter 22 becomes active and the clocked inverter 22
3 output signal Se, that is, the high-level signal is
Output to erIn.
【0033】このとき、出力線17a、17b、17c
の出力信号Saout、Sbout、Scoutの現在
の値であるハイレベルが、帰還インバータ23を通って
ロウレベルとなると共に、このロウレベル信号が上記B
ufferInへ与えられる。このため、帰還インバー
タ23からのロウレベル信号とクロックドインバータ2
2からのハイレベル信号がけんかする。しかし、この場
合、帰還インバータ23のトランジスタサイズが上述し
たように最小のサイズに設定されているため、クロック
ドインバータ22からのハイレベル信号が勝つ。これに
より、PチャネルMOSトランジスタ15がオフし、N
チャネルMOSトランジスタ16がオンすることによ
り、ロウレベルの出力信号Saout、Sbout、S
coutが出力線17a、17b、17cから出力され
るようになる。At this time, the output lines 17a, 17b, 17c
Of the output signals Saout, Sbout, and Scout of the above-mentioned output signal go to the low level through the feedback inverter 23, and the low-level signal
provided to uufferIn. Therefore, the low-level signal from the feedback inverter 23 and the clocked inverter 2
The high level signal from 2 fights. However, in this case, since the transistor size of the feedback inverter 23 is set to the minimum size as described above, the high-level signal from the clocked inverter 22 wins. As a result, the P-channel MOS transistor 15 is turned off,
When the channel MOS transistor 16 is turned on, the low-level output signals Saout, Sbout, S
cout is output from the output lines 17a, 17b, 17c.
【0034】尚、上述した以外の第2の実施例の構成
は、第1の実施例の構成と同じ構成となっている。従っ
て、第2の実施例においても、第1の実施例とほぼ同じ
作用効果を得ることができる。特に、第2の実施例で
は、帰還インバータ23、インバータ19、21、クロ
ックドインバータ20、22を設け、期間Tb´及び期
間Td´において、バッファ18から出力される出力信
号Saout、Sbout、Scoutのレベル状態を
帰還をかけて自己保持するように構成した。これによっ
て、第1の実施例において存在したダイナミック期間
(具体的には、期間Tb及び期間Td)をなくすことが
でき、ノイズ等に強くて安定動作する回路を実現するこ
とができる。The configuration of the second embodiment other than that described above is the same as the configuration of the first embodiment. Therefore, in the second embodiment, substantially the same operation and effect as in the first embodiment can be obtained. In particular, in the second embodiment, the feedback inverter 23, the inverters 19 and 21, and the clocked inverters 20 and 22 are provided, and the output signals Saout, Sbout, and Scout output from the buffer 18 are provided in the periods Tb 'and Td'. The level state is self-held by feedback. As a result, the dynamic period (specifically, the period Tb and the period Td) existing in the first embodiment can be eliminated, and a circuit that is stable against noise and the like and operates stably can be realized.
【0035】ちなみに、第1の実施例では、期間Tb及
び期間Tdにおいて、PチャネルMOSトランジスタ1
5及びNチャネルMOSトランジスタ16が共にオフす
る状態となり、出力線17a、17b、17cの出力信
号Saout、Sbout、Scoutがダイナミック
保持される状態となる。この状態では、ノイズ等が出力
線17a、17b、17cに作用することがあると、出
力信号Saout、Sbout、Scoutのレベルが
変動するおそれがあった。Incidentally, in the first embodiment, in the period Tb and the period Td, the P-channel MOS transistor 1
5 and the N-channel MOS transistor 16 are both turned off, and the output signals Saout, Sbout, and Scout of the output lines 17a, 17b, and 17c are dynamically held. In this state, if noise or the like acts on the output lines 17a, 17b, and 17c, the levels of the output signals Saout, Sbout, and Scout may fluctuate.
【0036】尚、第1の実施例には、インバータ19、
21、クロックドインバータ20、22が存在しなた
め、回路の動作は速いという長所がある。従って、ノイ
ズ等の影響を受け難い場合、例えば上記ダイナミック期
間(期間Tb及び期間Td)がかなり短い時間である場
合(即ち、クロック信号Sa、Sb、Scのクロックス
キューが小さい場合)には、第1の実施例の回路構成で
十分である。これに対して、クロックスキューが大きく
なって、ダイナミック期間が長くなる場合には、ノイズ
等の影響を受け易くなるので、第2の実施例のように構
成することが好ましい。The first embodiment includes an inverter 19,
21, since the clocked inverters 20 and 22 do not exist, the circuit operates quickly. Therefore, when the influence of noise or the like is hardly affected, for example, when the dynamic period (the period Tb and the period Td) is a very short time (that is, when the clock skew of the clock signals Sa, Sb, Sc is small), The circuit configuration of the first embodiment is sufficient. On the other hand, when the clock skew becomes large and the dynamic period becomes long, it is liable to be affected by noise or the like. Therefore, it is preferable to configure as in the second embodiment.
【0037】また、上記各実施例では、3つのクロック
信号Sa、Sb、Scを入力する構成としたが、これに
限られるものではなく、4つ以上のクロック信号を入力
するように構成しても良く、その場合には、4入力以上
のNAND回路及び4入力以上のNOR回路を用いれば
良い。ここで、NAND回路及びNOR回路の入力数が
多くなる場合には、設計上妥当な入力数に固定し、複数
のクロック信号を上記固定した入力数毎に分けて同期を
とると共に、これら分けて得られた出力信号の同期を再
びとるように構成しても良い。以下、このような構成の
一例として、図5に示す第3の実施例について説明す
る。In each of the above embodiments, three clock signals Sa, Sb, and Sc are input. However, the present invention is not limited to this configuration. Four or more clock signals are input. In that case, a NAND circuit having four inputs or more and a NOR circuit having four inputs or more may be used. Here, when the number of inputs of the NAND circuit and the NOR circuit increases, the number of inputs is fixed to an appropriate number in design, a plurality of clock signals are divided for each fixed number of inputs, and synchronization is established. The obtained output signal may be synchronized again. Hereinafter, a third embodiment shown in FIG. 5 will be described as an example of such a configuration.
【0038】この第3の実施例では、例えば100個の
クロック信号を入力すると共に、これら100個のクロ
ック信号を例えば10個ずつ10組に分けて信号処理し
ながら、同一周期の100個のクロック信号を出力する
ように構成している。具体的には、まず、100個のク
ロック信号S001〜S100を10個ずつ10組に分
け、この分けたうちの最初の10個のクロック信号S0
01〜S010を第1のクロックスキュー防止回路25
−1に入力させ、次の10個のクロック信号S011〜
S020を第2のクロックスキュー防止回路25−2に
入力させ、………、最後の10個のクロック信号S09
1〜S100を第10のクロックスキュー防止回路25
−10に入力させている。In the third embodiment, for example, 100 clock signals are input, and while these 100 clock signals are signal-processed into ten sets of ten signals, for example, 100 clock signals of the same period are processed. It is configured to output a signal. Specifically, first, the 100 clock signals S001 to S100 are divided into 10 groups of 10 clock signals, and the first 10 clock signals S0 out of the divided groups are divided into 10 groups.
01 to S010 to the first clock skew prevention circuit 25
-1 and the next ten clock signals S011 to S011
S020 is input to the second clock skew prevention circuit 25-2,..., And the last ten clock signals S09.
1 to S100 are replaced by a tenth clock skew prevention circuit 25.
-10.
【0039】上記10個のクロックスキュー防止回路2
5−1〜25−10は、すべて同じ回路構成であり、第
1の実施例または第2の実施例のクロックスキュー防止
回路において、NAND回路12及びNOR回路13の
代わりに10入力のNAND回路及び10入力のNOR
回路を設け、更に出力線を1つにした回路である。The above ten clock skew prevention circuits 2
5-1 to 25-10 all have the same circuit configuration. In the clock skew prevention circuit of the first embodiment or the second embodiment, instead of the NAND circuit 12 and the NOR circuit 13, a 10-input NAND circuit and 10-input NOR
This is a circuit in which a circuit is provided and an output line is further integrated.
【0040】そして、第1のクロックスキュー防止回路
25−1からの出力信号Smot1と、第2のクロック
スキュー防止回路25−2からの出力信号Smot2
と、………、第10のクロックスキュー防止回路25−
10からの出力信号Smot10とを、第11のクロッ
クスキュー防止回路26−1に入力させている。また、
第1のクロックスキュー防止回路25−1からの出力信
号Smot1と、第2のクロックスキュー防止回路25
−2からの出力信号Smot2と、………、第10のク
ロックスキュー防止回路25−10からの出力信号Sm
ot10とを、第12のクロックスキュー防止回路26
−2に入力させている。The output signal Smot1 from the first clock skew prevention circuit 25-1 and the output signal Smot2 from the second clock skew prevention circuit 25-2.
,..., The tenth clock skew prevention circuit 25-
The output signal Smot10 from the tenth clock is input to the eleventh clock skew prevention circuit 26-1. Also,
The output signal Smot1 from the first clock skew prevention circuit 25-1 and the second clock skew prevention circuit 25
-2, and the output signal Sm from the tenth clock skew prevention circuit 25-10.
ot10 and the twelfth clock skew prevention circuit 26.
-2.
【0041】以下、同様にして、第1のクロックスキュ
ー防止回路25−1からの出力信号Smot1〜第10
のクロックスキュー防止回路25−10からの出力信号
Smot10を、第13のクロックスキュー防止回路2
6−3、………、第20のクロックスキュー防止回路2
6−10に入力させている。Hereinafter, similarly, the output signals Smot1 to S10 from the first clock skew prevention circuit 25-1 are output.
The output signal Smot10 from the clock skew prevention circuit 25-10 of FIG.
6-3,..., Twentieth clock skew prevention circuit 2
6-10.
【0042】ここで、上記10個のクロックスキュー防
止回路26−1〜26−10は、すべて同じ回路構成で
あり、第1の実施例または第2の実施例のクロックスキ
ュー防止回路において、NAND回路12及びNOR回
路13の代わりに10入力のNAND回路及び10入力
のNOR回路を設け、更に出力線を10個にした回路で
ある。Here, the ten clock skew prevention circuits 26-1 to 26-10 all have the same circuit configuration. In the clock skew prevention circuit of the first embodiment or the second embodiment, a NAND circuit is used. This circuit is provided with a 10-input NAND circuit and a 10-input NOR circuit in place of the 12 and the NOR circuit 13, and further has 10 output lines.
【0043】これにより、10個のクロックスキュー防
止回路26−1〜26−10から100個のクロック信
号Sout001〜Sout100が出力されると共
に、これら100個のクロック信号Sout001〜S
out100は同一周期のクロック信号となる。この場
合、出力されるクロック信号Sout001〜Sout
100は、入力された100個のクロック信号S001
〜S100のうちの最も遅いクロック信号に同期し、か
つ、クロックスキューがゼロのクロック信号となってい
る。As a result, 100 clock signals Sout001 to Sout100 are output from the ten clock skew prevention circuits 26-1 to 26-10, and these 100 clock signals Sout001 to Sout100 are output.
out100 is a clock signal of the same cycle. In this case, the output clock signals Sout001 to Sout
100 is the input 100 clock signals S001
The clock signal is synchronized with the slowest clock signal of S100 and has zero clock skew.
【0044】上記第3の実施例では、100個のクロッ
ク信号を入力する構成に適用したが、99個以下或いは
101個以上のクロック信号を入力する構成に適用して
も良い。また、上記第3の実施例では、クロック信号を
10組に分ける構成に適用したが、9組以下或いは11
組以上に分ける構成に適用しても良い。更に、上記第3
の実施例では、分けたクロック信号を2段階で同期をと
るように構成したが、3段階以上で同期をとるように構
成しても良い。Although the third embodiment is applied to a configuration in which 100 clock signals are input, it may be applied to a configuration in which 99 or less or 101 or more clock signals are input. In the third embodiment, the present invention is applied to the configuration in which the clock signal is divided into ten sets.
You may apply to the structure divided into sets or more. Further, the third
In the embodiment, the divided clock signal is configured to be synchronized in two stages. However, the divided clock signal may be configured to be synchronized in three or more stages.
【0045】[0045]
【発明の効果】本発明は、以上の説明から明らかなよう
に、複数のクロック信号を入力して、そのうちの最も遅
いクロック信号に同期したクロック信号を出力する論理
回路を備えるように構成したので、クロックスキューが
生じた複数のクロック信号を入力してクロックスキュー
がゼロのクロック信号を出力させることが可能でありな
がら、出力されるクロック信号に波形のなまりが発生す
ることを防止できるという優れた効果を奏する。As is apparent from the above description, the present invention has a logic circuit which receives a plurality of clock signals and outputs a clock signal synchronized with the slowest clock signal among them. It is possible to input a plurality of clock signals with clock skew and output a clock signal with zero clock skew, while preventing the output clock signal from being distorted. It works.
【図1】本発明の第1の実施例を示す電気回路図FIG. 1 is an electric circuit diagram showing a first embodiment of the present invention.
【図2】タイムチャートFIG. 2 is a time chart
【図3】本発明の第2の実施例を示す図1相当図FIG. 3 is a view corresponding to FIG. 1, showing a second embodiment of the present invention;
【図4】図2相当図FIG. 4 is a diagram corresponding to FIG. 2;
【図5】本発明の第3の実施例を示すブロック図FIG. 5 is a block diagram showing a third embodiment of the present invention.
【図6】従来構成を示す図1相当図FIG. 6 is a diagram corresponding to FIG. 1 showing a conventional configuration.
【図7】図2相当図FIG. 7 is a diagram corresponding to FIG. 2;
11a、11b、11cは入力線、12はNAND回
路、13はNOR回路、14は論理回路、15はPチャ
ネルMOSトランジスタ、16はNチャネルMOSトラ
ンジスタ、17a、17b、17cは出力線、18はバ
ッファ、19はインバータ、20はクロックドインバー
タ、21はインバータ、22はクロックドインバータ、
23は帰還インバータ、24は帰還回路、25−1〜2
5−10はクロックスキュー防止回路、26−1〜26
−10はクロックスキュー防止回路を示す。11a, 11b and 11c are input lines, 12 is a NAND circuit, 13 is a NOR circuit, 14 is a logic circuit, 15 is a P-channel MOS transistor, 16 is an N-channel MOS transistor, 17a, 17b and 17c are output lines, and 18 is a buffer. , 19 is an inverter, 20 is a clocked inverter, 21 is an inverter, 22 is a clocked inverter,
23 is a feedback inverter, 24 is a feedback circuit, and 25-1 and 25-2
5-10 is a clock skew prevention circuit, 26-1 to 26
-10 indicates a clock skew prevention circuit.
Claims (3)
力線と、 前記複数のクロック信号を入力し、そのうちの最も遅い
クロック信号に同期したクロック信号を出力する論理回
路と、 この論理回路から出力されたクロック信号をバッファに
入力して複数のクロック信号を出力する出力線とを備え
て成るクロックスキュー防止回路。1. A plurality of input lines for inputting a plurality of clock signals, a logic circuit receiving the plurality of clock signals and outputting a clock signal synchronized with the slowest clock signal among the input lines, and an output from the logic circuit An output line for inputting the clock signal to a buffer and outputting a plurality of clock signals.
たことを特徴とする請求項1記載のクロックスキュー防
止回路。2. The clock skew prevention circuit according to claim 1, wherein a buffer is provided on an output side of said logic circuit.
ルを自己保持する帰還回路を設けたことを特徴とする請
求項2記載のクロックスキュー防止回路。3. The clock skew prevention circuit according to claim 2, further comprising a feedback circuit for self-holding a level of a signal output from said buffer.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10007780A JPH11202970A (en) | 1998-01-19 | 1998-01-19 | Clock skew preventing circuit |
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---|---|---|---|
JP10007780A JPH11202970A (en) | 1998-01-19 | 1998-01-19 | Clock skew preventing circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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ID=11675200
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11202970A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100498453B1 (en) * | 2002-11-04 | 2005-07-01 | 삼성전자주식회사 | Output buffer circuit capable of reducing skew of output data |
US7210052B2 (en) * | 2003-01-15 | 2007-04-24 | Benq Corporation | Method and system for synchronizing all clock sources of semiconductor devices |
US7768867B2 (en) | 2006-06-13 | 2010-08-03 | Elpida Memory, Inc. | Stacked semiconductor device |
Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62274919A (en) * | 1986-05-23 | 1987-11-28 | Hitachi Ltd | Semiconductor integrated circuit device |
JPH01135224A (en) * | 1987-11-20 | 1989-05-26 | Nec Corp | Latch circuit |
JPH022710A (en) * | 1988-06-17 | 1990-01-08 | Mitsubishi Electric Corp | Noise reduction circuit |
JPH04263514A (en) * | 1991-02-19 | 1992-09-18 | Toshiba Corp | Logic circuit |
JPH0555906A (en) * | 1991-08-21 | 1993-03-05 | Mitsubishi Denki Eng Kk | Semiconductor integrated circuit device |
JPH05145385A (en) * | 1991-11-20 | 1993-06-11 | Olympus Optical Co Ltd | Cmos output buffer circuit |
JPH05235736A (en) * | 1992-02-18 | 1993-09-10 | Hitachi Ltd | Semiconductor integrated circuit device |
JPH0677807A (en) * | 1991-12-19 | 1994-03-18 | Hyundai Electron Ind Co Ltd | Output buffer circuit |
JPH06237158A (en) * | 1993-02-09 | 1994-08-23 | Sony Corp | Cmos drive circuit |
JPH0786897A (en) * | 1993-09-09 | 1995-03-31 | Nec Corp | Buffer circuit |
JPH088716A (en) * | 1994-06-20 | 1996-01-12 | Fujitsu Ltd | Gate circuit |
JPH0884057A (en) * | 1994-09-13 | 1996-03-26 | Toshiba Corp | Output circuit device and its design method |
-
1998
- 1998-01-19 JP JP10007780A patent/JPH11202970A/en active Pending
Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62274919A (en) * | 1986-05-23 | 1987-11-28 | Hitachi Ltd | Semiconductor integrated circuit device |
JPH01135224A (en) * | 1987-11-20 | 1989-05-26 | Nec Corp | Latch circuit |
JPH022710A (en) * | 1988-06-17 | 1990-01-08 | Mitsubishi Electric Corp | Noise reduction circuit |
JPH04263514A (en) * | 1991-02-19 | 1992-09-18 | Toshiba Corp | Logic circuit |
JPH0555906A (en) * | 1991-08-21 | 1993-03-05 | Mitsubishi Denki Eng Kk | Semiconductor integrated circuit device |
JPH05145385A (en) * | 1991-11-20 | 1993-06-11 | Olympus Optical Co Ltd | Cmos output buffer circuit |
JPH0677807A (en) * | 1991-12-19 | 1994-03-18 | Hyundai Electron Ind Co Ltd | Output buffer circuit |
JPH05235736A (en) * | 1992-02-18 | 1993-09-10 | Hitachi Ltd | Semiconductor integrated circuit device |
JPH06237158A (en) * | 1993-02-09 | 1994-08-23 | Sony Corp | Cmos drive circuit |
JPH0786897A (en) * | 1993-09-09 | 1995-03-31 | Nec Corp | Buffer circuit |
JPH088716A (en) * | 1994-06-20 | 1996-01-12 | Fujitsu Ltd | Gate circuit |
JPH0884057A (en) * | 1994-09-13 | 1996-03-26 | Toshiba Corp | Output circuit device and its design method |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100498453B1 (en) * | 2002-11-04 | 2005-07-01 | 삼성전자주식회사 | Output buffer circuit capable of reducing skew of output data |
US7030643B2 (en) | 2002-11-04 | 2006-04-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Output buffer circuits including logic gates having balanced output nodes |
US7210052B2 (en) * | 2003-01-15 | 2007-04-24 | Benq Corporation | Method and system for synchronizing all clock sources of semiconductor devices |
US7768867B2 (en) | 2006-06-13 | 2010-08-03 | Elpida Memory, Inc. | Stacked semiconductor device |
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