JPH05145385A - Cmos output buffer circuit - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、低消費電力で且つノ
イズの発生を少なくしたCMOS出力バッファ回路に関
する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a CMOS output buffer circuit which consumes less power and produces less noise.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年CMOSデバイスの微細化による高
速化、並びに駆動能力の向上により、大電流を駆動する
CMOS出力バッファ回路においては、出力論理レベル
が“L”から“H”レベルへ、又は“H”から“L”レ
ベルへのスイッチング時に、Pチャネル及びNチャネル
MOSトランジスタが同時にオンする期間内で、電源か
ら接地側へ電流が流れることによる消費電流の増大、更
にはこの貫通電流と外部負荷によりリンギングが発生
し、回路の誤動作、更にはスイッチングノイズによる他
機器への悪影響等が問題となっている。2. Description of the Related Art In recent years, in CMOS output buffer circuits that drive large currents due to speeding up due to miniaturization of CMOS devices and improvement in driving capability, the output logic level is changed from "L" to "H" level or "H" level. At the time of switching from "H" to "L" level, current consumption increases due to current flowing from the power supply to the ground side within the period in which the P-channel and N-channel MOS transistors are simultaneously turned on. As a result, ringing occurs, which causes problems such as circuit malfunction and adverse effects on other equipment due to switching noise.
【0003】これらの問題点を解決するために、特開平
2−101817号において従来技術として示している
ような手段により、貫通電流を低減し、消費電流及びス
イッチングノイズの低減を計ることが提案されている。
この提案手段の原理は、図6に示すように、2入力NA
ND素子104 と、2入力NOR素子105 と、NOT素子
103 と、電源と接地間に直列に接続されたPチャネルM
OSトランジスタ106とNチャネルMOSトランジスタ1
07 とを備え、NOR素子105 の一方の入力端を接地レ
ベルに固定し、NAND素子104 の一方の入力端をNO
T素子103 により電源レベルに固定し、また出力バッフ
ァ回路の入力端子101 はNAND素子104 及びNOR素
子105 の他方の入力端に接続し、出力端子102 はPチャ
ネルMOSトランジスタ106 とNチャネルMOSトラン
ジスタ107 の接続点より導出するように構成されてい
る。In order to solve these problems, it has been proposed to reduce the through current and the consumption current and the switching noise by means as disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2-101817 as a prior art. ing.
The principle of this proposed means is as shown in FIG.
ND element 104, 2-input NOR element 105, NOT element
103 and a P-channel M connected in series between the power supply and ground
OS transistor 106 and N-channel MOS transistor 1
07, and one input end of the NOR element 105 is fixed to the ground level, and one input end of the NAND element 104 is NO.
The power supply level is fixed by the T element 103, the input terminal 101 of the output buffer circuit is connected to the other input terminal of the NAND element 104 and the NOR element 105, and the output terminal 102 is the P channel MOS transistor 106 and the N channel MOS transistor 107. It is configured to derive from the connection point of.
【0004】そして図7に示すような入力信号INが印
加されると、NAND素子104 の論理スレシホールド電
圧をVb 、NOR素子105 の論理スレシホールド電圧を
Va としたとき、同一サイズのMOSトランジスタでN
AND素子及びNOR素子を構成した場合には、Va <
Vb となる関係を利用して、NAND素子104 及びNO
R素子105 の各出力端、すなわちノードA,Bの信号波
形を図7に示すように生成し、PチャネルMOSトラン
ジスタ106 及びNチャネルMOSトランジスタ107 が同
時にONしないようにするものである。なお図7におい
て、OUTは出力信号波形である。When an input signal IN as shown in FIG. 7 is applied, assuming that the logical threshold voltage of the NAND element 104 is V b and the logical threshold voltage of the NOR element 105 is V a , they have the same size. N of MOS transistor
When an AND element and a NOR element are configured, V a <
Using the relationship of V b , the NAND element 104 and the NO
The signal waveforms at the output terminals of the R element 105, that is, at the nodes A and B, are generated as shown in FIG. 7 so that the P-channel MOS transistor 106 and the N-channel MOS transistor 107 are not turned on at the same time. In FIG. 7, OUT is an output signal waveform.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記提案の
CMOS出力バッファ回路においては、デバイスの微細
化により素子のスピードが向上し、更に微細化による駆
動能力の向上により、図7に示す入力信号INの立ち上
がり時間及び立ち下がり時間が短くなった場合、ノード
A,Bにおける信号はほぼ同時に変化し、NAND素子
104 の“H”から“L”レベルへのスイッチング時間並
びに“L”から“H”レベルへのスイッチング時間と、
NOR素子105 スイッチング時間の差による、Pチャネ
ル及びNチャネルMOSトランジスタ106 ,107 が同時
にONしない期間が得にくくなるだけでなく、素子の微
細化による高速化によって、その時間差は極めて短くな
り、素子のバラツキ等により十分な効果が達成できなく
なるという問題点があった。However, in the CMOS output buffer circuit proposed above, the device speed is improved due to the miniaturization of the device, and the driving capability is improved due to the further miniaturization, so that the input signal IN shown in FIG. When the rising time and the falling time of the NAND element become short, the signals at the nodes A and B change almost at the same time, and the NAND element
104 switching time from “H” to “L” level and switching time from “L” to “H” level,
NOR element 105 Not only is it difficult to obtain a period in which the P-channel and N-channel MOS transistors 106 and 107 are not turned on at the same time due to the difference in switching time, but also the time difference is extremely shortened due to the speedup due to the miniaturization of the element. There is a problem that a sufficient effect cannot be achieved due to variations and the like.
【0006】本発明は、従来のCMOS出力バッファ回
路における上記問題点を解消するためになされたもの
で、素子スピードが向上しても確実に出力バッファ用の
Pチャネル及びNチャネルMOSトランジスタが同時に
ONする期間をなくし、貫通電流による消費電流及びス
イッチングノイズの低減を計ったCMOS出力バッファ
回路を提供することを目的とする。The present invention has been made to solve the above-mentioned problems in the conventional CMOS output buffer circuit. Even if the element speed is improved, the P-channel and N-channel MOS transistors for the output buffer are surely turned on at the same time. It is an object of the present invention to provide a CMOS output buffer circuit that eliminates the period of time for which the current is consumed and reduces the consumption current and switching noise due to the through current.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段及び作用】上記問題点を解
決するため、本発明は、図1の概念図に示すように、P
チャネルMOSトランジスタ3及びNチャネルMOSト
ランジスタ4で構成されるCMOS出力バッファ回路最
終段のPチャネルMOSトランジスタ3のゲートをNA
ND素子5を介して駆動し、NチャネルMOSトランジ
スタ4のゲートをNOR素子6を介して駆動するように
したCMOS出力バッファ回路において、NAND素子
5及びNOR素子6の一方の入力端には入力信号INを
入力し、NAND素子5及びNOR素子6の他方の入力
端には、入力信号INを遅延回路7を通して得られる遅
延入力信号IN′を入力するように構成するものであ
る。In order to solve the above-mentioned problems, according to the present invention, as shown in the conceptual diagram of FIG.
The gate of the P-channel MOS transistor 3 at the final stage of the CMOS output buffer circuit composed of the channel MOS transistor 3 and the N-channel MOS transistor 4 is NA
In the CMOS output buffer circuit which is driven through the ND element 5 and the gate of the N-channel MOS transistor 4 is driven through the NOR element 6, one input terminal of each of the NAND element 5 and the NOR element 6 receives an input signal. IN is input, and the delayed input signal IN ′ obtained through the delay circuit 7 is input to the other input ends of the NAND element 5 and the NOR element 6.
【0008】このように構成したCMOS出力バッファ
回路においては、入力信号INを遅延回路7に入力する
ことにより、図2のタイミングチャートに示すような遅
延入力信号IN′が生成される。そして入力信号INと
遅延入力信号IN′をNAND素子5及びNOR素子6
に入力することにより、NAND素子5及びNOR素子
6からの出力信号A,Bが生成され、それぞれPチャネ
ルMOSトランジスタ3及びNチャネルMOSトランジ
スタ4に入力される。これにより出力バッファ回路最終
段のPチャネルMOSトランジスタ3及びNチャネルM
OSトランジスタ4が同時にONしない期間は、NAN
D素子5及びNOR素子6の“H”から“L”レベル又
は“L”から“H”レベルへの伝播遅延時間に加え、入
力信号INと遅延回路7による遅延入力信号IN′の時
間差分の期間だけ確保でき、確実に両方のトランジスタ
3,4がONする期間をなくし、これにより貫通電流及
びスイッチングノイズの低減化を実現することができ
る。In the CMOS output buffer circuit configured as described above, by inputting the input signal IN to the delay circuit 7, a delayed input signal IN 'as shown in the timing chart of FIG. 2 is generated. The input signal IN and the delayed input signal IN 'are transferred to the NAND element 5 and the NOR element 6
To the P-channel MOS transistor 3 and the N-channel MOS transistor 4, respectively, by generating the output signals A and B from the NAND element 5 and the NOR element 6, respectively. As a result, the P-channel MOS transistor 3 and the N-channel M at the final stage of the output buffer circuit
When the OS transistors 4 are not turned on at the same time, NAN
In addition to the propagation delay time from “H” to “L” level or “L” to “H” level of the D element 5 and the NOR element 6, the time difference between the input signal IN and the delay input signal IN ′ by the delay circuit 7 Only the period can be secured, and the period in which both the transistors 3 and 4 are turned on can be surely eliminated, thereby reducing the through current and the switching noise.
【0009】[0009]
【実施例】次に実施例について説明する。図3は、本発
明に係るCMOS出力バッファ回路の第1実施例を示す
回路構成図で、図1に示した概念図と同一又は対応部材
には同一符号を付して示している。図において、1は出
力バッファ回路への入力信号INへの入力端子、2は出
力バッファ回路の出力信号OUTの出力端子、11及び12
はCMOSトランジスタからなるトランスミッションゲ
ート、5は2入力NAND素子、6は2入力NOR素子
であり、3はPチャネルMOSトランジスタ、4はNチ
ャネルMOSトランジスタで、電源と接地間に直列に接
続されている。そして入力端子1は図示のように、NA
ND素子5及びNOR素子6の一方の入力端、並びにト
ランスミッションゲート11,12の一方の入出力端子に接
続され、またトランスミッションゲート11の他方の入出
力端子はNAND素子5の他方の入力端に接続され、ト
ランスミッションゲート12の他方の入出力端子はNOR
素子6の他方の入力端に接続されている。またNAND
素子5の出力端子はPチャネルMOSトランジスタ3の
ゲート及びトランスミッションゲート11の各ゲート入力
端子へ接続され、NOR素子6の出力端子はNチャネル
MOSトランジスタ4のゲート及びトランスミッション
ゲート12の各ゲート入力端子にそれぞれ接続されてい
る。EXAMPLES Next, examples will be described. FIG. 3 is a circuit configuration diagram showing a first embodiment of a CMOS output buffer circuit according to the present invention, and the same or corresponding members as those in the conceptual diagram shown in FIG. 1 are designated by the same reference numerals. In the figure, 1 is an input terminal for an input signal IN to the output buffer circuit, 2 is an output terminal for an output signal OUT of the output buffer circuit, 11 and 12
Is a transmission gate formed of a CMOS transistor, 5 is a 2-input NAND element, 6 is a 2-input NOR element, 3 is a P-channel MOS transistor, 4 is an N-channel MOS transistor, and they are connected in series between the power supply and ground. .. And the input terminal 1 is, as shown in the figure, NA
It is connected to one input terminal of the ND element 5 and the NOR element 6 and one input / output terminal of the transmission gates 11 and 12, and the other input / output terminal of the transmission gate 11 is connected to the other input terminal of the NAND element 5. And the other input / output terminal of the transmission gate 12 is NOR
It is connected to the other input terminal of the element 6. Also NAND
The output terminal of the element 5 is connected to the gate of the P-channel MOS transistor 3 and each gate input terminal of the transmission gate 11, and the output terminal of the NOR element 6 is connected to the gate of the N-channel MOS transistor 4 and each gate input terminal of the transmission gate 12. Each is connected.
【0010】次に、このように構成されたCMOS出力
バッファ回路の動作を、図4に示したタイミングチャー
トに基づいて説明する。なお回路の状態は、出力は
“L”レベル、入力も“L”レベルとして説明する。ま
ず入力信号INが“L”レベルで出力信号OUTが
“L”レベルのとき、NAND素子5の出力Cは“H”
レベル、NOR素子6の出力Dも“H”レベルになって
いる。このとき、入力信号INが“H”レベルに変化す
ると、NOR素子6の出力Dが図4に示すように、直ち
に“L”レベルとなり、NチャネルMOSトランジスタ
4をOFFする。更にトランスミッションゲート11にお
いては、NAND素子5の出力Cが“H”レベルである
ことから、トランスミッションゲート11を構成している
NチャネルMOSトランジスタのみがONとなり、この
MOSトランジスタのON抵抗と、NAND素子5のゲ
ート容量による遅延により、その出力Aは入力信号IN
の変化に遅れて、図4に示すように“L”から“H”レ
ベルへ変化し、これによりNAND素子5の出力Cは
“L”レベルとなり、PチャネルMOSトランジスタ3
がONとなって、出力信号OUTが“H”レベルとな
る。一方、トランスミッションゲート12は、NOR素子
6の出力Dが“L”レベルのため、トランスミッション
ゲート12を構成しているPチャネルMOSトランジスタ
のみがONとなり、図4に示すように入力信号INの変
化に遅れて、その出力Bは“H”レベルとなる。Next, the operation of the CMOS output buffer circuit thus configured will be described based on the timing chart shown in FIG. The state of the circuit will be described assuming that the output is "L" level and the input is "L" level. First, when the input signal IN is at "L" level and the output signal OUT is at "L" level, the output C of the NAND element 5 is "H".
The level and the output D of the NOR element 6 are also at "H" level. At this time, when the input signal IN changes to "H" level, the output D of the NOR element 6 immediately becomes "L" level as shown in FIG. 4, and the N-channel MOS transistor 4 is turned off. Further, in the transmission gate 11, since the output C of the NAND element 5 is at the “H” level, only the N-channel MOS transistor forming the transmission gate 11 is turned on, and the ON resistance of this MOS transistor and the NAND element Due to the delay due to the gate capacitance of 5, the output A of the input signal IN
4, the output C of the NAND element 5 goes to the "L" level and the P channel MOS transistor 3
Is turned on, and the output signal OUT becomes "H" level. On the other hand, in the transmission gate 12, since the output D of the NOR element 6 is at the “L” level, only the P-channel MOS transistor forming the transmission gate 12 is turned on, and the input signal IN changes as shown in FIG. After a delay, its output B becomes "H" level.
【0011】次に入力信号INが“L”レベルに変化す
ると、NAND素子5の出力Cは直ちに“H”レベルと
なり、PチャネルMOSトランジスタ3はOFFする。
更にトランスミッションゲート12においては、NOR素
子6の出力Dが“L”レベルであることから、トランス
ミッションゲート12を構成しているPチャネルMOSト
ランジスタがONし、その出力Bは入力信号INの変化
に遅れて、図4に示すように“L”レベルとなり、NO
R素子6の出力Dは“H”レベルとなってNチャネルM
OSトランジスタ4がONし、出力信号OUTが“L”
レベルとなる。一方、トランスミッションゲート11は、
NAND素子5の出力Cが“H”レベルのため、該トラ
ンスミッションゲート11を構成しているNチャネルMO
SトランジスタがONとなり、その出力Aは図4に示す
ように入力信号INの変化に遅れて“L”レベルとな
る。Next, when the input signal IN changes to "L" level, the output C of the NAND element 5 immediately becomes "H" level and the P-channel MOS transistor 3 is turned off.
Further, in the transmission gate 12, since the output D of the NOR element 6 is at "L" level, the P channel MOS transistor forming the transmission gate 12 is turned on, and its output B is delayed with respect to the change of the input signal IN. Then, as shown in FIG. 4, it becomes "L" level and NO.
The output D of the R element 6 becomes "H" level and the N channel M
The OS transistor 4 is turned on and the output signal OUT is "L".
It becomes a level. On the other hand, the transmission gate 11
Since the output C of the NAND element 5 is at the "H" level, the N-channel MO which constitutes the transmission gate 11 is
The S transistor is turned on, and its output A becomes "L" level after the change of the input signal IN, as shown in FIG.
【0012】このように、トランスミッションゲート1
1,12は、NAND素子5及びNOR素子6のスイッチ
ング時には、トランスミッションゲート11ではNチャネ
ルMOSトランジスタがONし、トランスミッションゲ
ート12ではPチャネルMOSトランジスタがONして、
そのON抵抗と、NAND素子5及びNOR素子6のゲ
ート容量により遅延を生成しているが、スイッチング後
の定常状態においては、トランスミッションゲート11で
はPチャネルMOSトランジスタにより、トランスミッ
ションゲート12ではNチャネルMOSトランジスタによ
り、その出力であるノードA,Bの電位を保つように動
作する。Thus, the transmission gate 1
When switching the NAND element 5 and the NOR element 6, 1 and 12 turn on the N-channel MOS transistor in the transmission gate 11 and turn on the P-channel MOS transistor in the transmission gate 12,
A delay is generated by the ON resistance and the gate capacitances of the NAND element 5 and the NOR element 6, but in a steady state after switching, the transmission gate 11 is a P channel MOS transistor and the transmission gate 12 is an N channel MOS transistor. Thus, it operates so as to keep the potentials of its outputs, the nodes A and B.
【0013】次に第2実施例を図5に基づいて説明す
る。上記第1実施例では、NAND素子及びNOR素子
として2入力素子を用いたものを示したが、この第2実
施例は、図に示すように、多入力のNAND素子15及び
NOR素子16を用い、それらの1つの入力端にはそれぞ
れ入力信号INを入力し、残りの入力端には各トランス
ミッションゲート11,12の他方の入出力端子を共通に接
続して構成したものである。Next, a second embodiment will be described with reference to FIG. In the first embodiment described above, the two-input element is used as the NAND element and the NOR element, but the second embodiment uses the multi-input NAND element 15 and the NOR element 16 as shown in the figure. The input signal IN is input to one of these input terminals, and the other input / output terminals of the transmission gates 11 and 12 are commonly connected to the remaining input terminals.
【0014】このように構成したCMOS出力バッファ
回路においては、NAND素子及びNOR素子を多入力
として遅延を増加させるだけでなく、トランスミッショ
ンゲートを構成するMOSトランジスタのON抵抗と、
NAND素子及びNOR素子のゲート容量により、各ト
ランスミッションゲートの出力であるノードA,Bの波
形になまりをもたせ、NAND素子とNOR素子の論理
反転電圧の差異を利用して、入力信号INから遅延波形
を生成し、同様の効果を得ることができる。In the CMOS output buffer circuit configured as described above, not only the delay is increased by using the NAND element and the NOR element as multiple inputs, but also the ON resistance of the MOS transistor forming the transmission gate,
The gate capacitances of the NAND element and the NOR element make the waveforms of the nodes A and B which are the outputs of the transmission gates round, and the difference in the logical inversion voltage between the NAND element and the NOR element is used to delay the waveform from the input signal IN. Can be generated and a similar effect can be obtained.
【0015】[0015]
【発明の効果】以上実施例に基づいて説明したように、
本発明によれば、CMOS出力バッファ回路の最終段の
PチャネルMOSトランジスタとNチャネルMOSトラ
ンジスタが同時にONしない期間は、入力信号と遅延回
路による遅延入力信号の時間差分の期間だけ確保できる
ので、確実に両方のトランジスタがONする期間をなく
し、貫通電流及びスイッチングノイズの低減化を計るこ
とができる。As described above on the basis of the embodiments,
According to the present invention, the period in which the P-channel MOS transistor and the N-channel MOS transistor at the final stage of the CMOS output buffer circuit are not simultaneously turned on can be ensured only during the time difference between the input signal and the delay input signal by the delay circuit. In addition, it is possible to reduce the through current and the switching noise by eliminating the period in which both transistors are turned on.
【図1】本発明のCMOS出力バッファ回路の原理を示
す概念図である。FIG. 1 is a conceptual diagram showing the principle of a CMOS output buffer circuit of the present invention.
【図2】図1に示したCMOS出力バッファ回路の動作
を説明するためのタイミングチャートである。FIG. 2 is a timing chart for explaining the operation of the CMOS output buffer circuit shown in FIG.
【図3】本発明の第1実施例を示す回路構成図である。FIG. 3 is a circuit configuration diagram showing a first embodiment of the present invention.
【図4】第1実施例の動作を説明するためのタイミング
チャートである。FIG. 4 is a timing chart for explaining the operation of the first embodiment.
【図5】本発明の第2実施例を示す回路構成図である。FIG. 5 is a circuit configuration diagram showing a second embodiment of the present invention.
【図6】従来のCMOS出力バッファ回路の構成例を示
す回路構成図である。FIG. 6 is a circuit configuration diagram showing a configuration example of a conventional CMOS output buffer circuit.
【図7】図6に示した従来例の動作を説明するためのタ
イミングチャートである。FIG. 7 is a timing chart for explaining the operation of the conventional example shown in FIG.
1 入力端子 2 出力端子 3 PチャネルMOSトランジスタ 4 NチャネルMOSトランジスタ 5 NAND素子 6 NOR素子 7 遅延回路 1 Input Terminal 2 Output Terminal 3 P Channel MOS Transistor 4 N Channel MOS Transistor 5 NAND Element 6 NOR Element 7 Delay Circuit
Claims (4)
ャネルMOSトランジスタで構成されるCMOS出力バ
ッファ回路最終段のPチャネルMOSトランジスタのゲ
ートをNAND素子を介して駆動し、NチャネルMOS
トランジスタのゲートをNOR素子を介して駆動するよ
うにしたCMOS出力バッファ回路において、NAND
素子及びNOR素子の一方の入力端には入力信号を入力
し、NAND素子及びNOR素子の他方の入力端には入
力信号を遅延回路を介して入力するように構成したこと
を特徴とするCMOS出力バッファ回路。1. A CMOS output buffer circuit composed of a P-channel MOS transistor and an N-channel MOS transistor, wherein the gate of the P-channel MOS transistor at the final stage is driven through a NAND element to produce an N-channel MOS transistor.
In a CMOS output buffer circuit in which a gate of a transistor is driven through a NOR element, a NAND
A CMOS output characterized in that an input signal is input to one input terminal of the element and the NOR element, and an input signal is input to the other input terminal of the NAND element and the NOR element via a delay circuit. Buffer circuit.
ミッションゲートで構成し、第1のCMOSトランスミ
ッションゲートの一方の入出力端子には入力信号を入力
し他方の入出力端子は前記NAND素子の他方の入力端
に接続し、ゲート入力端子には該NAND素子の出力を
入力するようにし、第2のCMOSトランスミッション
ゲートの一方の入出力端子には入力信号を入力し他方の
入出力端子は前記NOR素子の他方の入力端に接続し、
ゲート入力端子には該NOR素子の出力を入力するよう
に構成したことを特徴とする請求項1記載のCMOS出
力バッファ回路。2. The delay circuit is composed of two CMOS transmission gates, an input signal is input to one input / output terminal of the first CMOS transmission gate, and the other input / output terminal is the other input of the NAND element. The output of the NAND element is input to the gate input terminal, the input signal is input to one input / output terminal of the second CMOS transmission gate, and the other input / output terminal is connected to the NOR element. Connect to the other input,
2. The CMOS output buffer circuit according to claim 1, wherein the gate input terminal is configured to input the output of the NOR element.
は、該CMOSトランスミッションゲートを構成するP
チャネルMOSトランジスタ及びNチャネルMOSトラ
ンジスタのいずれか一方をオン状態として動作させるよ
うに構成されていることを特徴とする請求項2記載のC
MOS出力バッファ回路。3. The CMOS transmission gate comprises P that constitutes the CMOS transmission gate.
3. The C according to claim 2, wherein one of the channel MOS transistor and the N-channel MOS transistor is configured to be operated in an ON state.
MOS output buffer circuit.
力素子で構成し、該NAND素子及びNOR素子の1つ
の入力端にそれぞれ入力信号を入力し、残りの入力端に
前記各CMOSトランスミッションゲートの他方の入出
力端子を接続していることを特徴とする請求項2又は3
記載のCMOS出力バッファ回路。4. The NAND element and the NOR element are composed of multi-input elements, an input signal is input to one input terminal of each of the NAND element and the NOR element, and the other of the CMOS transmission gates is input to the remaining input terminal. The input and output terminals of are connected.
CMOS output buffer circuit described.
Priority Applications (1)
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JP3329647A JPH05145385A (en) | 1991-11-20 | 1991-11-20 | Cmos output buffer circuit |
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JP3329647A JPH05145385A (en) | 1991-11-20 | 1991-11-20 | Cmos output buffer circuit |
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JPH05145385A true JPH05145385A (en) | 1993-06-11 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3329647A Withdrawn JPH05145385A (en) | 1991-11-20 | 1991-11-20 | Cmos output buffer circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05145385A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11202970A (en) * | 1998-01-19 | 1999-07-30 | Toshiba Microelectronics Corp | Clock skew preventing circuit |
KR20020057294A (en) * | 2000-12-30 | 2002-07-11 | 박종섭 | CMOS driver with low switching noise |
-
1991
- 1991-11-20 JP JP3329647A patent/JPH05145385A/en not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11202970A (en) * | 1998-01-19 | 1999-07-30 | Toshiba Microelectronics Corp | Clock skew preventing circuit |
KR20020057294A (en) * | 2000-12-30 | 2002-07-11 | 박종섭 | CMOS driver with low switching noise |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990204 |