JP6650368B2 - 低反射コーティング付ガラス板、低反射コーティング付基材を製造する方法、及び低反射コーティング付基材の低反射コーティングを形成するためのコーティング液 - Google Patents
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Description
ガラス板と、
シリカを主成分とするバインダー、前記バインダーによって固定されたシリカ微粒子、及び前記バインダーによって固定されたチタニア微粒子を含み、前記ガラス板の一方の主面の少なくとも一部に形成された低反射コーティングと、を備え、
前記低反射コーティングにおける、前記シリカ微粒子の含有率、前記チタニア微粒子の含有率、及び前記バインダーにおけるシリカの含有率を、それぞれ、CSP質量%、CTP質量%、及びCBinder質量%と定義したとき、前記低反射コーティングは以下の関係を満たし、
30質量%<CSP<68質量%、
12質量%≦CTP<50質量%、
20質量%<CBinder<43.75質量%、
CTP/CBinder≧0.6、
CSP≧55質量%であるときにCBinder<25質量%、及び
CSP<55質量%であるときにCTP>20質量%
当該低反射コーティング付ガラス板における380nm〜850nmの範囲の波長の光の平均透過率から前記低反射コーティングが形成されていない前記ガラス板における380nm〜850nmの範囲の波長の光の平均透過率を差し引いた透過率ゲインが2.0%以上である、
低反射コーティング付ガラス板を提供する。
低反射コーティング付基材を製造する方法であって、
前記低反射コーティング付基材は、
基材と、
シリカを主成分とするバインダー、前記バインダーによって固定されたシリカ微粒子、及び前記バインダーによって固定されたチタニア微粒子を含み、前記基材の一方の主面の少なくとも一部に形成された低反射コーティングと、を備え、
前記低反射コーティングにおける、前記シリカ微粒子の含有率、前記チタニア微粒子の含有率、及び前記バインダーにおけるシリカの含有率を、それぞれ、CSP質量%、CTP質量%、及びCBinder質量%と定義したとき、前記低反射コーティングは以下の関係を満たし、
30質量%<CSP<68質量%、
12質量%≦CTP<50質量%、
20質量%<CBinder<43.75質量%、
CTP/CBinder≧0.6、
CSP≧55質量%であるときにCBinder<25質量%、及び
CSP<55質量%であるときにCTP>20質量%
当該低反射コーティング付基材における380nm〜850nmの範囲の波長の光の平均透過率から前記低反射コーティングが形成されていない前記基材における380nm〜850nmの範囲の波長の光の平均透過率を差し引いた透過率ゲインが2.0%以上であり、
コーティング液を前記基材に塗布してコーティング膜を形成し、前記コーティング膜を乾燥及び硬化させて前記低反射コーティングを形成し、
前記コーティング膜を乾燥及び硬化させるときの前記基材の表面の最高温度が120℃以上350℃以下である、
方法を提供する。
低反射コーティング付基材の低反射コーティングを形成するためのコーティング液であって、
前記低反射コーティングは、シリカを主成分とするバインダー、前記バインダーによって固定されたシリカ微粒子、及び前記バインダーによって固定されたチタニア微粒子を含み、前記基材の一方の主面の少なくとも一部に形成されており、
前記低反射コーティングにおける、前記シリカ微粒子の含有率、前記チタニア微粒子の含有率、及び前記バインダーにおけるシリカの含有率を、それぞれ、CSP質量%、CTP質量%、及びCBinder質量%と定義したとき、前記低反射コーティングは以下の関係を満たし、
30質量%<CSP<68質量%、
12質量%≦CTP<50質量%、
20質量%<CBinder<43.75質量%、
CTP/CBinder≧0.6、
CSP≧55質量%であるときにCBinder<25質量%、及び
CSP<55質量%であるときにCTP>20質量%
当該低反射コーティング付ガラス板における380nm〜850nmの範囲の波長の光の平均透過率から前記低反射コーティングが形成されていない前記ガラス板における380nm〜850nmの範囲の波長の光の平均透過率を差し引いた透過率ゲインが2.0%以上であり、
当該コーティング液は、シリカ微粒子、チタニア微粒子、前記バインダーの原料、及び溶媒を含み、
前記バインダーの原料は、シリコンアルコキシドを含み、
前記溶媒は、水と混和し、かつ、150℃以下の沸点を有する有機溶媒を主成分として含む、
コーティング液を提供する。
分光光度計(島津製作所社製、UV−3100PC)を用いて、各実施例及び各比較例に係る低反射コーティング付ガラス板の透過率スペクトルを測定した。この透過率スペクトルにおいて、波長380nm〜850nmの範囲における透過率を平均化して、平均透過率を算出した。透過率スペクトルの測定のための入射光は、各実施例及び各比較例に係る低反射コーティング付ガラス板の低反射コーティングに入射させた。また、各実施例及び各比較例に用いられたガラス板について、低反射コーティングが形成されていない状態で、透過率スペクトルを測定して平均透過率を算出した。各実施例及び各比較例において、往復摩耗試験前の低反射コーティング付ガラス板の平均透過率から低反射コーティングが形成されていないガラス板の平均透過率を差し引いて、透過率ゲインを算出した。結果を表1に示す。
各実施例及び各比較例に係る低反射コーティング付ガラス板について、ブラックライトを用いて低反射コーティングに紫外線(主波長:351nm、エネルギー密度:1mW/cm2)を16時間照射した。その後、接触角計(協和界面科学社製、製品名:ドロップマスター300)を用いて低反射コーティング表面における水滴の接触角を測定した。結果を表1に示す。なお、紫外線の照射前に、メタノールを含ませた布帛によって低反射コーティングの表面を拭いた。
JIS R 1703-1:2007に準拠して、各実施例の低反射コーティングにオレイン酸を塗布した後に1.0mW/cm2の強度の紫外線を照射したときに、紫外線の照射開始から低反射コーティングにおける水の接触角が5°になるまでの時間tcを計測した。低反射コーティングにおける水の接触角の測定には、接触角計(協和界面科学社製、製品名:ドロップマスター300)を用いた。結果を表1に示す。
実施例及び比較例に係る低反射コーティング付ガラス板の低反射コーティングを電界放射型走査型電子顕微鏡)(FE−SEM)(日立製作所社製、型式:S−4500)によって観察した。低反射コーティングの平均膜厚として、低反射コーティングの30°斜め上方からの断面におけるFE−SEM写真から、測定点5点での低反射コーティングの厚みの平均値を求めた。結果を表1に示す。
シリカ微粒子分散液(扶桑化学工業社製、製品名:クォートロンPL−7、シリカ微粒子の一次粒子の平均粒径:125nm、固形分濃度:23重量%)30.1質量部、1−メトキシ−2−プロパノール(溶媒)58.2質量部、及び1N塩酸(加水分解触媒)1.0質量部を攪拌混合し、さらに攪拌しながらテトラエトキシシラン(正珪酸エチル、バインダーにおけるシリカの供給源)(多摩化学工業社製)10.6質量部を添加して40℃に保温しながら8時間攪拌してテトラエトキシシランを加水分解させ、実施例1に係る原液を得た。原液47.7g、プロピレングリコール(溶媒)1.0g、1−メトキシ−2−プロパノール47.2g、及びチタニア微粒子分散液(石原産業社製、製品名:光触媒酸化チタンSTS−01、固形分濃度:30質量%、チタニア微粒子の一次粒子の平均粒径:7nm、硝酸酸性の水分散体)4.1gを攪拌混合して、実施例1に係るコーティング液を得た。コーティング液における固形分の質量を、テトラエトキシシラン(バインダーにおけるシリカ、の供給源)をSiO2に換算した質量と、シリカ微粒子分散液の固形分の質量と、チタニア微粒子分散液の固形分の質量と、任意で添加するアルミニウム化合物をAl2O3に換算した質量と、任意で添加するその他の添加物を金属酸化物に換算した質量との和と定義すると、実施例1に係るコーティング液全体に対する固形分の濃度は6.0質量%であった。なお、実施例1に係るコーティング液には、アルミニウム化合物及びその他の添加物は添加されなかった。実施例1に係るコーティング液の固形分において、シリカ微粒子が55.1質量%含まれ、チタニア微粒子が20.5質量%含まれ、SiO2に換算したテトラエトキシシランが24.4質量%含まれていた。
実施例2〜8に係るコーティング液の固形分における、シリカ微粒子、チタニア微粒子、及びSiO2に換算したテトラエトキシシラン(バインダーにおけるシリカ、の供給源)のそれぞれの含有率が、表1に示す通りになるように、各原料の添加量を調整した以外は、実施例1と同様にして、実施例2〜8に係るコーティング液を調製した。なお、実施例2〜8に係るコーティング液における固形分濃度は、5質量%であった。また、実施例1に係るコーティング液の代わりに実施例2〜8に係るコーティング液を用いた以外は、実施例1と同様にして実施例2〜8に係る低反射コーティング付ガラス板を作製した。
比較例1〜3に係るコーティング液の固形分における、シリカ微粒子、チタニア微粒子、及びSiO2に換算したテトラエトキシシラン(バインダーにおけるシリカ、の供給源)のそれぞれの含有率が、表1に示す通りになるように、各原料の添加量を調整した以外は、実施例1と同様にして、比較例1〜3に係るコーティング液を調製した。なお、比較例1〜3に係るコーティング液における固形分濃度は、5質量%であった。また、実施例1に係るコーティング液の代わりに比較例1〜3に係るコーティング液を用いた以外は、実施例1と同様にして比較例1〜3に係る低反射コーティング付ガラス板を作製した。
Claims (12)
- ガラス板と、
シリカを主成分とするバインダー、前記バインダーによって固定されたシリカ微粒子、及び前記バインダーによって固定されたチタニア微粒子を含み、前記ガラス板の一方の主面の少なくとも一部に形成された低反射コーティングと、を備え、
前記低反射コーティングにおける、前記シリカ微粒子の含有率、前記チタニア微粒子の含有率、及び前記バインダーにおけるシリカの含有率を、それぞれ、CSP質量%、CTP質量%、及びCBinder質量%と定義したとき、前記低反射コーティングは以下の関係を満たし、
30質量%<CSP<68質量%、
12質量%≦CTP<50質量%、
20質量%<CBinder<43.75質量%、
CTP/CBinder≧0.6、
CSP≧55質量%であるときにCBinder<25質量%、及び
CSP<55質量%であるときにCTP>20質量%
当該低反射コーティング付ガラス板における380nm〜850nmの範囲の波長の光の平均透過率から前記低反射コーティングが形成されていない前記ガラス板における380nm〜850nmの範囲の波長の光の平均透過率を差し引いた透過率ゲインが2.0%以上である、
低反射コーティング付ガラス板。 - 前記低反射コーティングは、CTP/CBinder>0.8の関係をさらに満たす、請求項1に記載の低反射コーティング付ガラス板。
- 前記低反射コーティングは、以下の関係をさらに満たす、請求項1又は2に記載の低反射コーティング付ガラス板。
30質量%<CSP≦65質量%、
15質量%≦CTP≦40質量%、及び
20質量%<CBinder≦30質量% - 前記低反射コーティングは、以下の関係をさらに満たす、請求項1〜3のいずれか1項に記載の低反射コーティング付ガラス板。
35質量%≦CSP≦60質量%、
15質量%≦CTP≦40質量%、及び
20質量%<CBinder<25質量% - 前記低反射コーティングの、日本工業規格(JIS)R 1703-1:2007に定められた水に対する限界接触角が5°以下である、請求項1〜4のいずれか1項に記載の低反射コーティング付ガラス板。
- JIS R 1703-1:2007に準拠して、前記低反射コーティングにオレイン酸を塗布した後に1.0mW/cm2の強度の紫外線を照射したときに、前記紫外線の照射開始から前記低反射コーティングにおける水の接触角が5°になるまでの時間が40時間以下である、請求項1〜5のいずれか1項に記載の低反射コーティング付ガラス板。
- 低反射コーティング付基材を製造する方法であって、
前記低反射コーティング付基材は、
基材と、
シリカを主成分とするバインダー、前記バインダーによって固定されたシリカ微粒子、及び前記バインダーによって固定されたチタニア微粒子を含み、前記基材の一方の主面の少なくとも一部に形成された低反射コーティングと、を備え、
前記低反射コーティングにおける、前記シリカ微粒子の含有率、前記チタニア微粒子の含有率、及び前記バインダーにおけるシリカの含有率を、それぞれ、CSP質量%、CTP質量%、及びCBinder質量%と定義したとき、前記低反射コーティングは以下の関係を満たし、
30質量%<CSP<68質量%、
12質量%≦CTP<50質量%、
20質量%<CBinder<43.75質量%、
CTP/CBinder≧0.6、
CSP≧55質量%であるときにCBinder<25質量%、及び
CSP<55質量%であるときにCTP>20質量%
当該低反射コーティング付基材における380nm〜850nmの範囲の波長の光の平均透過率から前記低反射コーティングが形成されていない前記基材における380nm〜850nmの範囲の波長の光の平均透過率を差し引いた透過率ゲインが2.0%以上であり、
コーティング液を前記基材に塗布してコーティング膜を形成し、前記コーティング膜を乾燥及び硬化させて前記低反射コーティングを形成し、
前記コーティング膜を乾燥及び硬化させるときの前記基材の表面の最高温度が120℃以上350℃以下である、
方法。 - 前記コーティング膜を乾燥及び硬化させるときの前記基材の表面の温度が200℃以上である時間が5分以下である、請求項7に記載の方法。
- 前記コーティング膜を乾燥及び硬化させるときの前記基材の表面の温度が120℃以上である時間が3分以下である、請求項7に記載の方法。
- 前記コーティング液は、シリカ微粒子、チタニア微粒子、前記バインダーの原料、及び溶媒を含み、
前記バインダーの原料は、シリコンアルコキシドを含み、
前記溶媒は、水と混和し、かつ、150℃以下の沸点を有する有機溶媒を主成分として含む、請求項7〜9のいずれか1項に記載の方法。 - 低反射コーティング付基材の低反射コーティングを形成するためのコーティング液であって、
前記低反射コーティングは、シリカを主成分とするバインダー、前記バインダーによって固定されたシリカ微粒子、及び前記バインダーによって固定されたチタニア微粒子を含み、前記基材の一方の主面の少なくとも一部に形成されており、
前記低反射コーティングにおける、前記シリカ微粒子の含有率、前記チタニア微粒子の含有率、及び前記バインダーにおけるシリカの含有率を、それぞれ、CSP質量%、CTP質量%、及びCBinder質量%と定義したとき、前記低反射コーティングは以下の関係を満たし、
30質量%<CSP<68質量%、
12質量%≦CTP<50質量%、
20質量%<CBinder<43.75質量%、
CTP/CBinder≧0.6、
CSP≧55質量%であるときにCBinder<25質量%、及び
CSP<55質量%であるときにCTP>20質量%
当該低反射コーティング付ガラス板における380nm〜850nmの範囲の波長の光の平均透過率から前記低反射コーティングが形成されていない前記ガラス板における380nm〜850nmの範囲の波長の光の平均透過率を差し引いた透過率ゲインが2.0%以上であり、
当該コーティング液は、シリカ微粒子、チタニア微粒子、前記バインダーの原料、及び溶媒を含み、
前記バインダーの原料は、シリコンアルコキシドを含み、
前記溶媒は、水と混和し、かつ、150℃以下の沸点を有する有機溶媒を主成分として含む、
コーティング液。 - 前記シリコンアルコキシドの加水分解触媒として酸解離定数pKaが2.5以下である酸をさらに含む、請求項11に記載のコーティング液。
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