JP2642615B2 - ４分割センサの取付位置調整方法 - Google Patents
４分割センサの取付位置調整方法Info
- Publication number
- JP2642615B2 JP2642615B2 JP10720584A JP10720584A JP2642615B2 JP 2642615 B2 JP2642615 B2 JP 2642615B2 JP 10720584 A JP10720584 A JP 10720584A JP 10720584 A JP10720584 A JP 10720584A JP 2642615 B2 JP2642615 B2 JP 2642615B2
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- Japan
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- sensor
- intersection
- divided
- mounting position
- cross
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （イ） 産業上の利用分野 本発明は、光学式デイスクプレーヤに採用する４分割
センサの取付位置調整方法に関する。
センサの取付位置調整方法に関する。
（ロ） 従来技術 光学式ビデオデイスクプレーヤやコンパクトデイスク
プレーヤは、レーザービームをデイスクレコードに形成
した記録トラックのビットに集光照射することにより得
られる反射ビームをセンサに集光照射し受光出力を再生
信号としている。
プレーヤは、レーザービームをデイスクレコードに形成
した記録トラックのビットに集光照射することにより得
られる反射ビームをセンサに集光照射し受光出力を再生
信号としている。
これら光学式デイスクプレーヤは、再生に際しデイス
クレコードのピットにレーザービームを集光照射する必
要があり、デイスクレコードの変位に追随して対物レン
ズを合焦点位置に変位せしめねばならない。
クレコードのピットにレーザービームを集光照射する必
要があり、デイスクレコードの変位に追随して対物レン
ズを合焦点位置に変位せしめねばならない。
そこで、従来の光学式デイスクプレーヤの多くは、特
公昭53−37722号に詳しく開示されている焦点制御方法
を採用している。この焦点制御方法は、第４図にも図示
する様にレーザ光源（１）の光を集光レンズ（４）にて
ビドオデイスク（５）のトラック（６）に集光照射し、
反射光をビームスプリッタ（３）により分光しシリンド
リカルレンズ（７）を介して集光した光を、第５図に図
示する４分割センサ（11）によつて受光するものであ
り、対向するエリア（11a）（11c）と（11b）（11d）の
各光電変換出力を別々の加算回路（12）と（13）に入力
し、加算出力を差動アンプ（14）に入力し、差動出力に
基いて駆動回路を作動せしめることにより前記集光レン
ズを合焦点位置に変位せしめるものである。尚図は、原
理図に付き、レンズを２枚しか示していないが、通常は
レーザ光源の前方に拡大レンズを配し、ディスクレコー
ドに面して対物レンズを配すると共にビームスプリッタ
とシリンドリカルレンズの間に集光レンズを配してい
る。また、図示するシリンドリカルレンズ（７）は、ト
ラッキング方向と45゜の角度を形成しており、トラッキ
ングが外れると、右側のエリア（11a）（11d）と左側の
エリア（11b）（11c）の受光出力レベルに差が生じる。
この原理を利用して反射ビームの集光スポットのセンタ
が４分割センサ（11）のセンタに一致する様にトラッキ
ングミラーを変位させればトラッキング制御も可能にな
る。
公昭53−37722号に詳しく開示されている焦点制御方法
を採用している。この焦点制御方法は、第４図にも図示
する様にレーザ光源（１）の光を集光レンズ（４）にて
ビドオデイスク（５）のトラック（６）に集光照射し、
反射光をビームスプリッタ（３）により分光しシリンド
リカルレンズ（７）を介して集光した光を、第５図に図
示する４分割センサ（11）によつて受光するものであ
り、対向するエリア（11a）（11c）と（11b）（11d）の
各光電変換出力を別々の加算回路（12）と（13）に入力
し、加算出力を差動アンプ（14）に入力し、差動出力に
基いて駆動回路を作動せしめることにより前記集光レン
ズを合焦点位置に変位せしめるものである。尚図は、原
理図に付き、レンズを２枚しか示していないが、通常は
レーザ光源の前方に拡大レンズを配し、ディスクレコー
ドに面して対物レンズを配すると共にビームスプリッタ
とシリンドリカルレンズの間に集光レンズを配してい
る。また、図示するシリンドリカルレンズ（７）は、ト
ラッキング方向と45゜の角度を形成しており、トラッキ
ングが外れると、右側のエリア（11a）（11d）と左側の
エリア（11b）（11c）の受光出力レベルに差が生じる。
この原理を利用して反射ビームの集光スポットのセンタ
が４分割センサ（11）のセンタに一致する様にトラッキ
ングミラーを変位させればトラッキング制御も可能にな
る。
従つて、正確なフオーカス制御やトラッキング制御を
為すには集光スポットのセンターと４分割センサーのセ
ンターとが一致する様に４分割センサの取付位置を規定
しなければならないが、従来は、対物レンズを強制振動
せしめて各エリアの光電変換出力のうち対向するエリア
の光電変換出力が一致する様に４現像オシロスコープの
出力波形を見乍ら取付調整を為さねばならず、作業が面
倒であつた。
為すには集光スポットのセンターと４分割センサーのセ
ンターとが一致する様に４分割センサの取付位置を規定
しなければならないが、従来は、対物レンズを強制振動
せしめて各エリアの光電変換出力のうち対向するエリア
の光電変換出力が一致する様に４現像オシロスコープの
出力波形を見乍ら取付調整を為さねばならず、作業が面
倒であつた。
（ハ） 発明の目的 そこで、本発明は上述する点に鑑み取付調整作業を容
易且迅速に為した４分割センサの取付調整方法を提案す
るものである。
易且迅速に為した４分割センサの取付調整方法を提案す
るものである。
（ニ） 発明の構成 本発明は、対物レンズを強制振動せしめた両端に於て
対向するエリアの受光出力レベルが等しくなる様に４分
割センサの取付位置を調整することを特徴とするもので
ある。
対向するエリアの受光出力レベルが等しくなる様に４分
割センサの取付位置を調整することを特徴とするもので
ある。
（ホ） 実施例 以下、本発明を図示せる一実施例に従い説明する。第
２図は、本実施例に於て調整する４分割センサ（11）を
内蔵するピックアップ（Ｐ）であり、半導体レーザ
（１）より発せられるレーザービームはコリメーターレ
ンズ（21）によりほぼ平行ビームとされ、ビームスプリ
ッタ（３）、トラッキングミラー（22）、対物レンズ
（23）を経てピックアップ（Ｐ）外にレーザービームを
集光照射している。本実施例の調整に際しては、デイス
クレコードに代えて反射ミラー（26）をビーム照射位置
に配設するためレーザービームは前記反射ミラー（26）
を介して反射される。反射ビームは、前記対物レンズ
（23）、前記トラッキングミラー（22）を介して前記ビ
ームスプリッタ（３）に入射されて光路を変更されるこ
とにより、集光レンズ（24）シリンドリカルレンズ
（７）によつて４分割センサ（11）上に集光照射され
る。
２図は、本実施例に於て調整する４分割センサ（11）を
内蔵するピックアップ（Ｐ）であり、半導体レーザ
（１）より発せられるレーザービームはコリメーターレ
ンズ（21）によりほぼ平行ビームとされ、ビームスプリ
ッタ（３）、トラッキングミラー（22）、対物レンズ
（23）を経てピックアップ（Ｐ）外にレーザービームを
集光照射している。本実施例の調整に際しては、デイス
クレコードに代えて反射ミラー（26）をビーム照射位置
に配設するためレーザービームは前記反射ミラー（26）
を介して反射される。反射ビームは、前記対物レンズ
（23）、前記トラッキングミラー（22）を介して前記ビ
ームスプリッタ（３）に入射されて光路を変更されるこ
とにより、集光レンズ（24）シリンドリカルレンズ
（７）によつて４分割センサ（11）上に集光照射され
る。
調整に際しては、まず前記反射ミラー（26）をピック
アップ（Ｐ）上に固定する。次に前記対物レンズ（23）
を駆動する駆動コイル（27）に調整装置の発振回路（2
8）の出力端子を接続する。更に前記４分割センサ（1
1）の各エリア出力端子と調整装置の各サンプルホール
ド回路（29）（30）（31）（32）を接続する。また図示
省略したが、４分割センサ（11）を取付ける支持台に
は、前記４分割センサ（11）を第１図の矢印Ｘ方向とＹ
方向にそれぞれ変位せしめる調整螺子を配しており、各
調節螺子に対して第１調整手段（23）と第２調整手段
（34）の各ドライバ（33a）（34a）を係合せしめる。当
然のこと乍ら、半導体レーザ（１）にも駆動電圧が印加
される。尚、本実施例の調整装置はピックアップ（Ｐ）
を装着するだけで、上述する電気的な接続や機械的な係
合がワンタッチで実現できる様に構成されている。
アップ（Ｐ）上に固定する。次に前記対物レンズ（23）
を駆動する駆動コイル（27）に調整装置の発振回路（2
8）の出力端子を接続する。更に前記４分割センサ（1
1）の各エリア出力端子と調整装置の各サンプルホール
ド回路（29）（30）（31）（32）を接続する。また図示
省略したが、４分割センサ（11）を取付ける支持台に
は、前記４分割センサ（11）を第１図の矢印Ｘ方向とＹ
方向にそれぞれ変位せしめる調整螺子を配しており、各
調節螺子に対して第１調整手段（23）と第２調整手段
（34）の各ドライバ（33a）（34a）を係合せしめる。当
然のこと乍ら、半導体レーザ（１）にも駆動電圧が印加
される。尚、本実施例の調整装置はピックアップ（Ｐ）
を装着するだけで、上述する電気的な接続や機械的な係
合がワンタッチで実現できる様に構成されている。
上述する要領で調整装置にピックアップ（Ｐ）が取付
けられて調整動作が開始されると、発振回路（28）の発
振出力（ａ）が駆動コイル（27）に入力され対物レンズ
（23）が強制振動せしめられる。この強制振動は、発振
位相が０゜のときに対物レンズ（23）を反射ミラー（2
6）より最も遠く離し、180゜のとき最も近付ける。従つ
て４分割センサ（11）に対する照射ビーム形状は、発振
位相が０゜のときＸ方向に伸び、180゜のときＹ方向に
伸びる。そこで、本実施例では、発振位相が０゜のとき
第２、第４エリア（11b）（11d）の受光出力レベルを比
較し、発振位相が180゜のとき第１、第３エリア（11a）
（11c）の受光出力レベルを比較し、第１、第２調整手
段（33）（34）をコントロールする必要がある。そこ
で、本実施例は、サンプリングを実現するため、まず発
振出力を波形整形回路（35）に入力して、発振位相の０
゜で立上り、180゜で立下る整形出力（ｂ）を導出す
る。この整形出力（ｂ）を入力するサンプリングパルス
発生回路（36）は、入力の立上りに同期して第１サンプ
リングパルス（ｃ）を発し立下りに同期して第２サンプ
リングパルス（ｄ）を発する。第１、第２サンプルホー
ルド回路（29）（30）は第２エリア（11b）と第４エリ
ア（11d）の各受光出力を入力して第１サンプリングパ
ルス（ｃ）に同期してサンプリングを為している。即
ち、本実施例は、Ｙ方向にビームの照射形状が伸び切つ
たとき、Ｙ方向に配設したエリアの受光出力レベルの差
が大きくなり、Ｙ方向のセンターずれが明確になると云
う原理を利用するものである。一方第１第３エリア（11
a）（11c）の各受光出力を入力する第３、第４サンプル
ホールド回路（31）（32）は第２サンプリングパルス
（ｄ）に同期してサンプリングを為している。従つて、
第3.第４サンプルホールド回路（31）（32）は、照射ビ
ームがＹ方向に伸び切つたときの第１、第３エリア（11
a）（11c）の受光出力を比較することになる。
けられて調整動作が開始されると、発振回路（28）の発
振出力（ａ）が駆動コイル（27）に入力され対物レンズ
（23）が強制振動せしめられる。この強制振動は、発振
位相が０゜のときに対物レンズ（23）を反射ミラー（2
6）より最も遠く離し、180゜のとき最も近付ける。従つ
て４分割センサ（11）に対する照射ビーム形状は、発振
位相が０゜のときＸ方向に伸び、180゜のときＹ方向に
伸びる。そこで、本実施例では、発振位相が０゜のとき
第２、第４エリア（11b）（11d）の受光出力レベルを比
較し、発振位相が180゜のとき第１、第３エリア（11a）
（11c）の受光出力レベルを比較し、第１、第２調整手
段（33）（34）をコントロールする必要がある。そこ
で、本実施例は、サンプリングを実現するため、まず発
振出力を波形整形回路（35）に入力して、発振位相の０
゜で立上り、180゜で立下る整形出力（ｂ）を導出す
る。この整形出力（ｂ）を入力するサンプリングパルス
発生回路（36）は、入力の立上りに同期して第１サンプ
リングパルス（ｃ）を発し立下りに同期して第２サンプ
リングパルス（ｄ）を発する。第１、第２サンプルホー
ルド回路（29）（30）は第２エリア（11b）と第４エリ
ア（11d）の各受光出力を入力して第１サンプリングパ
ルス（ｃ）に同期してサンプリングを為している。即
ち、本実施例は、Ｙ方向にビームの照射形状が伸び切つ
たとき、Ｙ方向に配設したエリアの受光出力レベルの差
が大きくなり、Ｙ方向のセンターずれが明確になると云
う原理を利用するものである。一方第１第３エリア（11
a）（11c）の各受光出力を入力する第３、第４サンプル
ホールド回路（31）（32）は第２サンプリングパルス
（ｄ）に同期してサンプリングを為している。従つて、
第3.第４サンプルホールド回路（31）（32）は、照射ビ
ームがＹ方向に伸び切つたときの第１、第３エリア（11
a）（11c）の受光出力を比較することになる。
第１第２サンプルホールド出力を入力する第１比較回
路（37）はＹ方向のセンターずれに比例する第１比較出
力を発して第１駆動回路（39）を制御して第１調整手段
（33）を作動せしめ、４分割センサ（11）のＹ方向の位
置調整を為す。
路（37）はＹ方向のセンターずれに比例する第１比較出
力を発して第１駆動回路（39）を制御して第１調整手段
（33）を作動せしめ、４分割センサ（11）のＹ方向の位
置調整を為す。
また、第３、第４サンプルホールド出力を入力する第
２比較回路（38）はＸ方向のセンターずれに比例する第
２比較出力を発して第２駆動回路（40）を制御して第２
調整手段（34）を作動せしめ、４分割センサ（11）のＸ
方向の位置調整を為す。
２比較回路（38）はＸ方向のセンターずれに比例する第
２比較出力を発して第２駆動回路（40）を制御して第２
調整手段（34）を作動せしめ、４分割センサ（11）のＸ
方向の位置調整を為す。
更に、両比較出力を入力する表示手段（41）は、セン
タずれの方向と量を視覚的に表示しており、調整の完了
の確認も容易である。
タずれの方向と量を視覚的に表示しており、調整の完了
の確認も容易である。
（ヘ） 発明の効果 よつて、本発明によれば、複雑な調整作業が自動的に
然も迅速に実現でき、その効果は大である。
然も迅速に実現でき、その効果は大である。
第１図は本発明の一実施例回路ブロック図、第２図は同
ピックアップの構成説明図、第３図は同要部波形説明
図、第４図は従来の光学系説明図、第５図は同要部回路
ブロック図をそれぞれ示す。 （23）……対物レンズ、（24）……集光レンズ、（７）
……シリドリカルレンズ、（11）……４分割センサ。
ピックアップの構成説明図、第３図は同要部波形説明
図、第４図は従来の光学系説明図、第５図は同要部回路
ブロック図をそれぞれ示す。 （23）……対物レンズ、（24）……集光レンズ、（７）
……シリドリカルレンズ、（11）……４分割センサ。
Claims (1)
- 【請求項１】集光レンズとシリンドリカルレンズを経た
反射ビームを十文字の分割線にて４分割された４分割セ
ンサに照射し、照射形状の変化を前記４分割センサの各
エリアに於ける受光出力レベルの変化として検出し、デ
イスクレコードに対する対物レンズの距離を一定に保つ
光学式デイスクプレーヤにおける４分割センサの取付位
置調整方法に於て、 前記対物レンズを焦点調整方向において強制振動せし
め、 該強制振動の振幅の上限位置において、前記十文字の分
割線の交点に関して点対称の位置にあり、該交点を挟ん
で対向すると共に、前記４分割センサに照射される略楕
円形状の反射ビームの短軸方向に沿う２つのエリアの受
光出力レベルが互いに等しくなる様に、 且つ、 前記強制振動の振幅の下限位置において、前記十文字の
分割線の交点に関して点対称の位置にあって該交点を挟
んで対向し、さらに前記４分割センサに照射される略楕
円形状の反射ビームの短軸方向に沿う前記２つのエリア
とは異なる２つのエリアの受光出力レベルが互いに等し
くなる様に、 前記４分割センサの取り付け位置を変位せしめることを
特徴とする４分割センサの取付位置調整方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10720584A JP2642615B2 (ja) | 1984-05-25 | 1984-05-25 | ４分割センサの取付位置調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10720584A JP2642615B2 (ja) | 1984-05-25 | 1984-05-25 | ４分割センサの取付位置調整方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60251527A JPS60251527A (ja) | 1985-12-12 |
| JP2642615B2 true JP2642615B2 (ja) | 1997-08-20 |
Family
ID=14453141
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10720584A Expired - Lifetime JP2642615B2 (ja) | 1984-05-25 | 1984-05-25 | ４分割センサの取付位置調整方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2642615B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63142533A (ja) * | 1986-12-03 | 1988-06-14 | Fujitsu Ltd | 光学的記録再生装置 |
-
1984
- 1984-05-25 JP JP10720584A patent/JP2642615B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60251527A (ja) | 1985-12-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |