JPH09212898A - 光ピツクアツプ装置及び光デイスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】光ピツクアツプ装置がもつている非点収差が所
定の値以上である場合には、当該光ピツクアツプ装置を
光デイスク装置に使用することができなかつた。 【解決手段】光源（１１）及び光デイスク（２）間にお
ける光ビームの光路上に、光ビームに対して光デイスク
（２）の信号記録面に垂直な方向に非点収差を与える光
学手段（１３）を配置する。これにより、光ピツクアツ
プ装置（４）がもつている非点収差を補正し得るので、
非点収差の大きい光ピツクアツプ装置でも、光デイスク
（２）の径方向及びトラツク方向の双方に対してほぼ最
適となるように光ビームを照射し得るようにすることが
でき、かくして信頼性を向上し得る光ピツクアツプ装置
を実現することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【目次】以下の順序で本発明を説明する。 発明の属する技術分野 従来の技術 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段 発明の実施の形態（図１〜図８） （１）光デイスク装置の全体構成（図１） （２）光ピツクアツプの構成（図２〜図７） （３）実施例の動作及び効果（図６及び図８） （４）他の実施例 発明の効果

【０００２】

【発明の属する技術分野】本発明は光ピツクアツプ装置
及び光デイスク装置に関し、特にコンパクトデイスクプ
レイヤ、レーザデイスクプレイヤや光磁気デイスク装置
等、光記録媒体に光ビームを照射して所望の情報を記録
し及び又は再生するようになされた光デイスク装置に用
いられる光ピツクアツプ装置及び光デイスク装置に適用
して好適なものである。

【０００３】

【従来の技術】従来、この種の光ピツクアツプ装置にお
いては、レーザダイオードから射出された射出光束はコ
リメータレンズ及びビームスプリツタを通つて平行光線
に変換された後、１／４波長板において円偏光に変換さ
れ、ミラーによつて対物レンズに導かれて当該対物レン
ズで集光される。その後、この集光された光は光デイス
クで強度変調を受け、反射して再び対物レンズに入射す
る。

【０００４】そして再び１／４波長板を透過して直線偏
光に変換され、ビームスプリツタで直角に反射し、マル
チレンズを通過してフオトダイオードに入射する。この
フオトダイオードは入射光を電気信号に変換して再生信
号を得ると共に、フオーカスエラー信号及びトラツキン
グエラー信号を得る。このフオーカスエラー信号及びト
ラツキングエラー信号に基づいて各種サーボ機構により
補正がなされる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところでこの種の光ピ
ツクアツプ装置は、レーザダイオード等の光学部品にば
らつきがあり、またこれら光学部品の調整度合いによつ
て非点収差が発生する。従つてレーザダイオードから射
出されたレーザ光は対物レンズによつて光デイスク上に
集光されたとき、光デイスクの径方向とトラツク方向と
で焦点を結ぶ位置が異なる。

【０００６】ここで対物レンズの位置を光デイスクのト
ラツク方向に対して最適になるようにフオーカスサーボ
によつて対物レンズを制御すると、Ｓ／Ｎ比の良いＲＦ
信号を得ることができるが、光デイスクにレーザ光が照
射された際のレーザ光の光スポツトが光デイスクのトラ
ツク方向に拡がつてしまうため、トラツキングエラー信
号の解像度が劣化し、トラツキングサーボに悪影響を与
えることになる。これとは逆に、対物レンズの位置を光
デイスクの径方向に対して最適になるようにフオーカス
サーボによつて対物レンズを制御すると、高解像度のト
ラツキングエラー信号を得ることができるが、レーザ光
の光スポツトが光デイスクの径方向に拡がつてしまうた
めＲＦ信号の解像度が低下する。

【０００７】従つて非点収差が大きいために、トラツキ
ングエラー信号が最大となる対物レンズの位置と、ＲＦ
信号が最大となる対物レンズの位置とが、フオーカスの
引込み範囲、すなわちフオーカスエラー信号のピークピ
ーク（peak to peak）値に対して所定の値以上になる場
合には、このような光ピツクアツプ装置を光デイスク装
置に用いることができず、不良品として扱われていた。
この結果光学系のコストも高くなる問題があつた。

【０００８】このような状況において、非点収差が大き
いために光デイスク装置に使用し得なかつた光ピツクア
ツプの信頼性を向上させて光デイスク装置に使用し得る
ようにすることができれば、好ましいと考えられる。

【０００９】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、信頼性を向上し得る光ピツクアツプ装置及び光デイ
スク装置を提案しようとするものである。

【００１０】

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め第１の発明においては、光源及び光デイスク間におけ
る光ビームの光路上に、光ビームに対して光デイスクの
信号記録面に垂直な方向に非点収差を与える光学手段を
配置する。これにより、光ピツクアツプ装置がもつてい
る非点収差を補正し得るので、非点収差の大きい光ピツ
クアツプ装置でも光デイスクの径方向及びトラツク方向
の双方に対してほぼ最適となるように光ビームを照射し
得るようにすることができる。

【００１１】また第２の発明においては、光デイスクに
所望のデータを記録し及び又は上記光デイスクより上記
データを再生する光デイスク装置において、光源より射
出された光ビームを、ビームスプリツタ及び対物レンズ
を通じて光デイスクに照射し、当該光デイスクからの反
射光をビームスプリツタで分離して光検出部に導く光ピ
ツクアツプ手段の光源及び光デイスク間における光ビー
ムの光路上に、光ビームに対して光デイスクの信号記録
面に垂直な方向に非点収差を与える光学手段を配置す
る。これにより、光デイスクの径方向及びトラツク方向
の双方に対してほぼ最適となるようにレーザ光を照射し
得るので、高解像度のトラツキングエラー信号及びＲＦ
信号を得ることができる。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下図面について、本発明の一実
施例を詳述する。

【００１３】（１）光デイスク装置の全体構成 図１において、１は全体として本発明を適用した光デイ
スク装置を示し、光デイスク２はスピンドルモータ３に
よつて規定の線速度を満たすように回転駆動される。光
ピツクアツプ４は、レーザダイオード駆動回路５の制御
に応じて光デイスク２に対してレーザ光を照射し、所定
強度の光スポツトを照射する。

【００１４】光ピツクアツプ４は、光デイスク２からの
反射光を当該光ピツクアツプ４に内蔵された所定のフオ
トダイオード（図示せず）で受光し光電変換してＲＦア
ンプ６に送出する。ＲＦアンプ６はフオトダイオードか
らの電気信号を電流−電圧変換した後、所定の加算処理
及び減算処理を実行することにより、ＲＦ信号ＲＦ、ト
ラツキングエラー信号ＴＥ及びフオーカスエラー信号Ｆ
Ｅを生成し、それぞれ信号処理回路７、トラツキングサ
ーボ回路８及びフオーカスサーボ回路９に送出する。

【００１５】信号処理回路７は、ＲＦ信号ＲＦに対して
ＰＬＬ（phase locked loop ）で同期をとり、データを
再生した後にＥＦＭ（Eight To Fourteen Moduration）
復調、サブコード抽出、ＣＩＲＣ（Cross Interleave R
eed Solomon Code）デコード及び補間処理等を行つてデ
イジタルデータを出力する。また信号処理回路７はＥＦ
Ｍ信号から抽出したクロツク信号と電圧制御発振器（Ｖ
ＣＯ）からの基準クロツク信号との周波数を比較し、そ
の結果をＰＷＭ（パルス幅変調）信号として回転サーボ
回路１０に送出する。

【００１６】トラツキングサーボ回路８はトラツキング
エラー信号ＴＥに基づいて光ピツクアツプ４を制御し、
これにより光ピツクアツプ４は光デイスク２に対するト
ラツキングを制御し、フオーカスサーボ回路９はフオー
カスエラー信号ＦＥに基づいて光ピツクアツプ４を制御
し、これにより光ピツクアツプ４は光デイスク２に対す
るフオーカスを制御する。回転サーボ回路１０はＰＷＭ
（パルス幅変調）信号に基づいてスピンドルモータ３を
制御して光デイスク２を線速度一定に回転させるように
制御する。

【００１７】（２）光ピツクアツプの構成 この実施例における光ピツクアツプ４の構成を図２
（Ａ）及び（Ｂ）に示す。光ピツクアツプ４は、レーザ
ダイオード駆動回路５の制御に基づいてレーザダイオー
ド１１から射出したレーザ光をコリメータレンズ１２に
よつて平行光に変換した後、非点収差補正レンズ（以
下、単に補正レンズと呼ぶ）１３において、光デイスク
２の信号記録面に垂直な方向に非点収差を与えてこの光
ピツクアツプ４がもつている非点収差を補正するように
なされている。

【００１８】光ピツクアツプ４は、補正レンズ１３を通
つたレーザ光をビームスプリツタ１４を透過させて１／
４波長板１５に入射させ、この１／４波長板１５におい
て円偏光に変換した後、ミラー１６によつて対物レンズ
１７に導いて対物レンズ１７によつて光デイスク２の信
号記録面（図示せず）に集光させる。光ピツクアツプ４
は光デイスク２からの反射光を再び対物レンズ１７及び
ミラー１６を介して１／４波長板１５に導き、１／４波
長板１５において直線偏光に変換した後、ビームスプリ
ツタ１４によつて直角に反射させてマルチレンズ１８に
入射させる。光ピツクアツプ４はこのマルチレンズ１８
において非点収差法によるフオーカスサーボ信号用に非
点収差をもたせてフオトデイテクタ１９に集光させる。

【００１９】ここで補正レンズ１３の構成を図３に示
す。この補正レンズ１３は、当該補正レンズ１３の出射
面１３Ａの中心軸Ｃ₁ における最下中心点を原点（０、
０、０）とした場合、この原点（０、０、０）を通るｚ
軸方向の中心部分の厚みは同じであり、この補正レンズ
１３の最大厚みｄに設定されている。図３において、ｘ
軸はレーザ光の光軸方向を示し、ｙ軸は補正レンズ１３
の幅（ｗ）方向を示し、ｚ軸は補正レンズ１３の高さ
（ｈ）方向を示し、以下同様である。

【００２０】補正レンズ１３の出射面１３Ａは原点
（０、０、０）からｚ軸方向に向かうに従つて曲率が大
きくなるように形成されている。すなわち出射面１３Ａ
の下端辺Ｌ₀ の曲率半径をｒ₀ 、上端辺Ｌ₁ の曲率半径
をｒ₁ とすると、出射面１３Ａは次式（１）

【数１】 で表されるような面形状を有するように形成されてい
る。この場合、−ｗ／２＜ｙ＜ｗ／２、０＜ｚ＜ｈであ
る。

【００２１】ここでこの出射面１３Ａの形状を表す
（１）式の算出方法について説明する。図４に示すよう
に、出射面１３Ａの下端辺Ｌ₀ の座標点を（ｘ₀ 、
ｙ₀ 、ｚ₀）、上端辺Ｌ₁ の座標点を（ｘ₁ 、ｙ₁ 、ｚ
₁ ）で表すと、下端辺Ｌ₀ 上の点（ｘ₀ 、ｙ₀ 、ｚ₀ ）
は曲率半径ｒ₀ 上に位置し、上端辺Ｌ₁ 上の点（ｘ₁ 、
ｙ₁、ｚ₁ ）は曲率半径ｒ₁ 上に位置することになる。

【００２２】従つて下端辺Ｌ₀ 上の点（ｘ₀ 、ｙ₀ 、ｚ
₀ ）のｘ₀ 及びｙ₀ はそれぞれ次式（２）及び（３）

【数２】

【数３】 によつて表され、上端辺Ｌ₁ 上の点（ｘ₁ 、ｙ₁ 、
ｚ₁ ）のｘ₁ 及びｙ₁ はそれぞれ次式（４）及び（５）

【数４】

【数５】 によつて表される。またｚ₀ ＝０、ｚ₁ ＝ｈとなる。こ
こでθ₀ は原点（０、０、０）を通るｘ軸方向の中心線
Ｃ₂ と曲率半径ｒ₀ とがなす角度を表し、θ₁ は中心線
Ｃ₂ と曲率半径ｒ₁ とがなす角度を表す。

【００２３】この下端辺Ｌ₀ 上の点（ｘ₀ 、ｙ₀ 、
ｚ₀ ）及び上端辺Ｌ₁ 上の点（ｘ₁ 、ｙ₁ 、ｚ₁ ）の２
点間においてｙが等しいとき、すなわちｙ₀ ＝ｙ₁ のと
き、下端辺Ｌ₀ 上の点（ｘ₀ 、ｙ₀ 、ｚ₀ ）及び上端辺
Ｌ₁ 上の点（ｘ₁ 、ｙ₁ 、ｚ₁ ）間を結ぶ線ｌ上に位置
する点（ｘ、ｙ、ｚ）において、ｘはｚの関数となり、
ｘは次式（６）

【数６】 によつて表される。この関係から（１）式を導くことが
できる。

【００２４】他方、入射面１３Ｂは凹状に形成されてお
り、その曲率半径は出射面１３Ａの最大値と最小値の中
間値（（ｒ₀ ＋ｒ₁ ）／２）に選定されており、次式
（７）

【数７】 で表される。ここで−ｗ／２＜ｙ＜ｗ／２、０＜ｚ＜ｈ
である。従つてこの補正レンズ１３は、（１）式で表さ
れるような形状を有する出射面１３Ａと、（７）式で表
されるような形状を有する入射面１３Ｂとを有し、かつ
中心軸Ｃ₁ において均一に最大厚さｄを有するように形
成されている。

【００２５】また図２（Ｂ）に示すように、補正レンズ
１３のｚ軸方向と反対方向の下端部にはねじ２０が取り
付けられており、当該ねじ２０を調整ドライバ（図示せ
ず）によつて回すことにより、ｚ軸方向及びこれとは反
対方向、すなわち入射光に対する補正レンズ４の高さ方
向の位置を調整し得るようになされている。

【００２６】ここで補正レンズ１３による非点収差の補
正原理について説明する。補正レンズ１３は、当該補正
レンズ１３の中心軸Ｃ₁ の厚さｄが均一であるので、図
５に示すように、入射光Ｌにおけるｚ軸方向に対しては
集光又は発散させずに入射光Ｌを通過させるようになさ
れているのに対して、入射光Ｌのｙ軸方向に対しては、
補正レンズ１３に対する高さ方向（ｚ軸方向）における
入射光Ｌの入射位置によつて入射光Ｌを集光又は発散さ
せるようになされている。

【００２７】すなわち図６（Ａ）に示すように、入射面
１３Ｂの曲率と出射面１３Ａの曲率が一致する点よりも
ｚ軸方向に上側の入射位置ｚ_A に入射光Ｌの中心が入射
するように入射光Ｌに対する補正レンズ１３の高さ位置
が調整されている場合、補正レンズ１３は入射光Ｌのｙ
軸方向を、入射面１３Ｂにおける入射光Ｌの入射位置に
応じた出射面１３Ａの出射位置における曲率に応じて集
光させて出射面１３Ａから出射させ、図６（Ｂ）に示す
ように、入射面１３Ｂの曲率と出射面１３Ｂの曲率が一
致する点よりもｚ軸方向とは反対方向の入射位置ｚ_B に
入射光Ｌの中心が入射するように入射光Ｌに対する補正
レンズ１３の高さ位置が調整されている場合、補正レン
ズ１３は入射光Ｌのｙ軸方向を、入射面１３Ｂにおける
入射光Ｌの入射位置に応じた出射面１３Ａの出射位置に
おける曲率に応じて拡散させて出射面１３Ａから出射さ
せるようになされている。

【００２８】ここで入射光Ｌの中心部分はそのままの状
態で出射面１３Ａから出射されるが、入射光Ｌの外周部
はｚ軸方向に歪みが生じた状態で出射面１３Ａから出射
される。すなわち補正レンズ１３の出射面１３Ａが最下
辺Ｌ₀ から最上辺Ｌ₁ に向かつて曲率が大きくなるよう
に形成されているので、図７（Ａ）より分かるように、
出射面１３Ａのｙ軸方向における外周部の上方部側（最
上辺Ｌ₁ 側）と下方部側（最下辺Ｌ₀ 側）の曲率の変化
量は、出射面１３Ａのｙ軸方向における中心部の上方部
側と下方部側の曲率の変化量に比して大きくなる。

【００２９】このため出射面１３Ａのｙ軸方向における
外周部側に位置する出射位置ｙ_A からの出射方向は、図
７（Ｂ）に示すように、出射面１３Ａの中心部に位置す
る出射位置ｙ₀ におけるｙ軸方向からの出射方向に対し
てｚ軸方向にずれ、出射面１３Ａから出射される出射光
Ｌ′の外周部はｚ軸方向にに歪みが発生する。

【００３０】従つて補正レンズ１３の出射面１３Ａの上
方部側と下方部側の曲率の変化が大き過ぎると、出射面
１３Ａから出射される出射光Ｌ′の外周部におけるｚ軸
方向の歪みが大きくなつて悪影響を与えるので、この実
施例においては、出射光Ｌ′の外周部における出射方向
が、出射面１３Ａから出射する際のｘ軸とのなす角度が
所定の値以内になるように、補正レンズ１３の最下辺Ｌ
₀ から最上辺Ｌ₁ までの曲率の変化量が設定されてい
る。

【００３１】（３）実施例の動作及び効果 以上の構成において、光ピツクアツプ４の非点収差の調
整は、図１との対応部分に同一符号を付して図８に示す
光ピツクアツプ調整装置３０を用いて以下のようにして
行われる。 すなわち補正レンズ１３の入射光Ｌに対す
る高さ位置の調整時、光ピツクアツプ４より光デイスク
２にレーザ光を照射して得られる反射光はフオトデイテ
クタで受光されて光電変換される。光電変換された電気
信号のうち、ＲＦ信号はＲＦヘツドアンプ３１によつて
電流電圧変換された後、オシロスコープ３２に送出され
る。

【００３２】また光電変換された電気信号のうち、トラ
ツキングエラー信号及びフオーカスエラー信号はサーボ
信号ヘツドアンプ３３によつて電流電圧変換された後、
トラツキングエラー信号はオシロスコープ３２に送出さ
れ、フオーカスエラー信号は減算器３４に送出される。
減算器３４はフオーカスエラー信号と基準信号発生器３
５からの基準信号との差分である差分信号を位相補償回
路３６に送出し、位相補償回路３６はこの差分信号の位
相を補償しフオーカスサーボ信号としてフオーカスドラ
イブ３７に送出する。フオーカスドライブ回路３７はフ
オーカスサーボ信号を光ピツクアツプ４に送出し、これ
によりフオーカス制御がなされる。

【００３３】この場合このフオーカスサーボループには
基準信号発生器３５の電圧が印加されているので、フオ
ーカスサーボをかけながらも光デイスク２及び対物レン
ズ１７間の距離は基準信号発生器３５の波形周期によつ
て変動し、これに伴つてＲＦ信号及びトラツキングエラ
ー信号も変動する。従つて調整者は、オシロスコープ３
２の表示画面に表示されるＲＦ信号及びトラツキングエ
ラー信号の波形を観測し、同じ地点でそれぞれの波形が
最大となるように、調整ドライバ３８を用いて補正レン
ズ１３の入射光に対する高さ位置を調整する。

【００３４】ここで実際上、光デイスク２のトラツク方
向に対するレーザ光の焦点位置が光デイスク２の径方向
に対する焦点位置より対物レンズ１７に対して遠い場合
には、レーザ光の中心が補正レンズ１３の高さ方向にお
ける中心より上側にある例えば位置ｚ_A （図６）を通る
ように補正レンズ１３の位置を調整する。この場合、図
６（Ａ）に示すようにレーザ光はｙ軸方向に集光するの
で、光デイスク２のトラツク方向に対するレーザ光の焦
点位置を対物レンズ１７に近接する方向に移動させるこ
とができる。

【００３５】これに対して、光デイスク２のトラツク方
向に対するレーザ光の焦点位置が光デイスク２の径方向
に対する焦点位置より対物レンズ１７に対して近い場合
には、レーザ光の中心が補正レンズ１３の高さ方向にお
ける中心より下側にある例えば位置ｚ_B （図６）を通る
ように補正レンズ１３の位置を調整する。この場合、図
６（Ｂ）に示すようにレーザ光は発散するので、光デイ
スク２のトラツク方向に対するレーザ光の焦点位置を対
物レンズ１７から離反する方向、すなわち光デイスク２
に近接する方向に移動させることができる。

【００３６】ここで出射面１３Ａの最下辺Ｌ₀ と最上辺
Ｌ₁ との曲率の差が光デイスク２の信号記録面に垂直な
方向におけるレーザ光の焦点位置の移動量（すなわち補
正量）になるので、次式（８）

【数８】 のような関係式を得ることができる。

【００３７】従つて例えば光デイスク２の信号記録面に
垂直な方向におけるレーザ光の焦点位置の補正量を10
〔μｍ〕に設定する場合には、曲率半径ｒ₀ 及びｒ₁ の
差が10〔μｍ〕になるように補正レンズ１３の出射面１
３Ａを形成すればよい。また（８）式より曲率半径ｒ₀
及びｒ₁ の値は任意に設定し得ることが分かる。

【００３８】ここで例えば曲率半径ｒ₀ 及びｒ₁ の差が
10〔μｍ〕になるように補正レンズ１３の出射面１３Ａ
が形成され、補正レンズ１３の高さｈを10〔mm〕に選定
した場合、補正レンズ１３の高さ位置を１〔mm〕移動さ
せることにより、レーザ光の光デイスク２の信号記録面
に対する焦点位置を１〔μｍ〕移動させることができ
る。

【００３９】従つてこの光ピツクアツプ４では、光ピツ
クアツプ４がもつている非点収差を補正し得るので、非
点収差の大きい光ピツクアツプでも光デイスク２の径方
向及びトラツク方向の双方に対してほぼ最適となるよう
にレーザ光を照射し得るようにすることができる。この
結果、非点収差が大きいために使用できない光ピツクア
ツプでも光デイスク装置に用いることができるようにす
ることができる。またこの光ピツクアツプ４では、コリ
メータレンズ１２とビームスプリツタ１４との間に補正
レンズ１３だけを配置させただけなので、光ピツクアツ
プ４の構成を複雑かつ大型化させずに光ピツクアツプの
信頼性を向上させることができる。

【００４０】さらに非点収差の大きい光ピツクアツプで
も、当該光ピツクアツプに補正レンズ１３を配置するだ
けで、従来では光デイスク装置に使用することかできな
かつた光ピツクアツプを使用し得るようにすることがで
きるので、光学系のコストを格段的に低減することがで
きる。さらに光デイスク装置１では、光ピツクアツプと
して光ピツクアツプ４を用いたことにより、光デイスク
２の径方向及びトラツク方向の双方に対してほぼ最適と
なるようにレーザ光を照射し得るので、高解像度のトラ
ツキングエラー信号ＴＥ及びＲＦ信号ＲＦを得ることが
できる。

【００４１】以上の構成によれば、（１）式で表される
ような形状を有する出射面１３Ａと、（７）式で表され
るような形状を有する入射面１３Ｂとを有し、かつ中心
軸Ｃ₁ において均一に最大厚さｄを有する補正レンズ１
３をコリメータレンズ１２とビームスプリツタ１４との
間に配置し、光ピツクアツプ４の非点収差の大きさに応
じて補正レンズ１３のレーザ光に対する高さ位置を調整
することにより、光ピツクアツプ４がもつている非点収
差を補正し得るので、非点収差の大きい光ピツクアツプ
でも光デイスク２の径方向及びトラツク方向の双方に対
してほぼ最適となるようにレーザ光を照射し得るように
することができ、かくして信頼性を向上し得る光ピツク
アツプを実現することができる。

【００４２】また上述の構成によれば、光デイスク装置
１に光ピツクアツプ４を用いたことにより、光デイスク
２の径方向及びトラツク方向の双方に対してほぼ最適と
なるようにレーザ光を照射し得るので、高解像度のトラ
ツキングエラー信号及びＲＦ信号を得ることができ、か
くして信頼性を向上し得る光デイスク装置を実現するこ
とができる。

【００４３】（４）他の実施例 なお上述の実施例においては、光源より射出された光ビ
ームを、ビームスプリツタ及び対物レンズを通じて光デ
イスクに照射し、当該光デイスクからの反射光をビーム
スプリツタで分離して光検出部に導く光ピツクアツプ装
置として、図２に示すような構成を有する光ピツクアツ
プ４に本発明を適用した場合について述べたが、本発明
はこれに限らず、光ピツクアツプ装置としてこの他種々
の構成を有する光ピツクアツプ装置に本発明を適用し得
る。

【００４４】また上述の実施例においては、光源及び光
デイスク間における光ビームの光路上に配置され、光ビ
ームに対して光デイスクの信号記録面に垂直な方向に非
点収差を与える光学手段として補正レンズ１３を用いた
場合について述べたが、本発明はこれに限らず、要は光
ビームに対して光デイスクの信号記録面に垂直な方向に
非点収差を与えることができれば、光学手段としてこの
他種々の光学手段を適用し得る。

【００４５】さらに上述の実施例においては、光ピツク
アツプ４を光デイスク装置１に適用した場合について述
べたが、本発明はこれに限らず、光デイスクに光記録に
よつて記録再生し得るようになされた光デイスク装置や
光磁気デイスクに光磁気によつて記録再生し得るように
なされた光磁気デイスク装置にも適用し得る。さらに上
述の実施例においては、補正レンズ１３をコリメータレ
ンズ１２及びビームスプリツタ１４間に配置した場合に
ついて述べたが、本発明はこれに限らず、補正レンズ１
３をレーザダイオード１１及びコリメータレンズ１２間
に配置してもよく、要は光ビームに対して光デイスク２
の信号記録面に垂直な方向に非点収差を与えることがで
きれば、光源及び光デイスク間における光ビームの光路
上のどこに配置してもよい。

【００４６】

【発明の効果】上述のように第１の発明によれば、光源
及び光デイスク間における光ビームの光路上に、光ビー
ムに対して光デイスクの信号記録面に垂直な方向に非点
収差を与える光学手段を配置したことにより、光ピツク
アツプ装置がもつている非点収差を補正し得るので、非
点収差の大きい光ピツクアツプ装置でも光デイスクの径
方向及びトラツク方向に対してほぼ最適となるように光
ビームを照射し得ようにすることができ、かくして信頼
性を向上し得る光ピツクアツプ装置を実現し得る。

【００４７】また第２の発明によれば、光デイスクに所
望のデータを記録し及び又は上記光デイスクより上記デ
ータを再生する光デイスク装置において、光源より射出
された光ビームを、ビームスプリツタ及び対物レンズを
通じて光デイスクに照射し、当該光デイスクからの反射
光をビームスプリツタで分離して光検出部に導く光ピツ
クアツプ手段の光源及び光デイスク間における光ビーム
の光路上に、光ビームに対して光デイスクの信号記録面
に垂直な方向に非点収差を与える光学手段を配置するこ
とにより、光デイスクの径方向及びトラツク方向の双方
に対してほぼ最適となるようにレーザ光を照射し得るの
で、高解像度のトラツキングエラー信号及びＲＦ信号を
得ることができ、かくして信頼性を向上し得る光デイス
ク装置を実現し得る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用した光デイスク装置の概略構成を
示すブロツク図である。

【図２】本発明の実施例による光ピツアアツプの構成を
示す側面図（Ａ）及び上面図（Ｂ）である。

【図３】補正レンズの構成の説明に供する略線的斜視図
である。

【図４】補正レンズの構成の説明に供する正面図、上面
図及び側面図である。

【図５】補正レンズの動作の説明に供する側面図であ
る。

【図６】補正レンズの動作の説明に供する上面図であ
る。

【図７】出射光における外周部の歪みの説明に供する上
面図（Ａ）及び側面図（Ｂ）である。

【図８】補正レンズの入射光に対する高さ調整の説明に
供するブロツク図である。

【符号の説明】

１……光デイスク装置、２……光デイスク、３……スピ
ンドルモータ、４……光ピツクアツプ、５……レーザダ
イオード駆動回路、６……ＲＦアンプ、７……信号処理
回路、８……トラツキングサーボ回路、９……フオーカ
スサーボ回路、１０……回転サーボ回路、１１……レー
サダイオード、１２……コリメータレンズ、１３……非
点収差補正レンズ、１３Ａ……出射面、１３Ｂ……入射
面、１４……ビームスプリツタ、１５……１／４波長
板、１６……ミラー、１７……対物レンズ、１８……マ
ルチレンズ、１９……フオトデイテクタ、２０……ね
じ、３０……光ピツクアツプ調整装置、３１……ＲＦヘ
ツドアンプ、３２……オシロスコープ、３３……サーボ
信号ヘツドアンプ、３４……減算器、３５……基準信号
発生器、３６……位相補償回路、３７……フオーカスド
ライブ、３８……調整ドライバ。

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】光源より射出された光ビームを、ビームス
   プリツタ及び対物レンズを通じて光デイスクに照射し、
   当該光デイスクからの反射光を上記ビームスプリツタで
   分離して光検出部に導く光ピツクアツプ装置において、 上記光源及び光デイスク間における上記光ビームの光路
   上に配置され、上記光ビームに対して上記光デイスクの
   信号記録面に垂直な方向に非点収差を与える光学手段を
   具えることを特徴とする光ピツクアツプ装置。
2. 【請求項２】上記光学手段は、 上記光ビームと交差する第１の面の曲率が変化するよう
   に形成されていることを特徴とする請求項１に記載の光
   ピツクアツプ装置。
3. 【請求項３】上記光学手段は、 上記第１の面と対向する第２の面の曲率が上記第１の面
   の最大曲率と最小曲率の中間の曲率を有するように形成
   されていることを特徴とする請求項２に記載の光ピツク
   アツプ装置。
4. 【請求項４】上記光学手段は、 上記光ビームの光軸と交差する部分の厚さが均一に形成
   されていることを特徴とする請求項２に記載の光ピツク
   アツプ装置。
5. 【請求項５】上記光学手段を駆動する駆動手段を具え、
   上記駆動手段は、上記光学手段の上記第１の面の曲率が
   上記光ビームに対して変化する方向に上記光学手段を駆
   動することを特徴とする請求項２に記載の光ピツクアツ
   プ装置。
6. 【請求項６】光デイスクに所望のデータを記録し及び又
   は上記光デイスクより上記データを再生する光デイスク
   装置において、 光源より射出された光ビームを、ビームスプリツタ及び
   対物レンズを通じて光デイスクに照射し、当該光デイス
   クからの反射光を上記ビームスプリツタで分離して光検
   出部に導く光ピツクアツプ手段と、 上記光源及び光デイスク間における上記光ビームの光路
   上に配置され、上記光ビームに対して上記光デイスクの
   信号記録面に垂直な方向に非点収差を与える光学手段と
   を具えることを特徴とする光デイスク装置。
7. 【請求項７】上記光学手段は、 上記光ビームと交差する第１の面の曲率が変化するよう
   に形成されていることを特徴とする請求項６に記載の光
   デイスク装置。
8. 【請求項８】上記光学手段は、 上記第１の面と対向する第２の面の曲率が上記第１の面
   の最大曲率と最小曲率の中間の曲率を有するように形成
   されていることを特徴とする請求項７に記載の光デイス
   ク装置。
9. 【請求項９】上記光学手段は、 上記光ビームの光軸と交差する部分の厚さが均一に形成
   されていることを特徴とする請求項７に記載の光デイス
   ク装置。
10. 【請求項１０】上記光学手段を駆動する駆動手段を具
    え、上記駆動手段は、上記光学手段の上記第１の面の曲
    率が上記光ビームに対して変化する方向に上記光学手段
    を駆動することを特徴とする請求項７に記載の光デイス
    ク装置。