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CN101999095B - 有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法 - Google Patents

有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法、和显示装置的检查方法。包括：第一检查配线(70、75)，该第一检查配线(70、75)能够向第一开关元件(69、74)中的互不相邻的第一开关元件输入检查信号，并且能够向第二开关元件(69、74)中的互不相邻的第二开关元件输入检查信号；和第二检查配线(72、77)，该第二检查配线(72、77)能够向第一开关元件(69、74)中的不连接第一检查配线且互不相邻的第一开关元件输入检查信号，并且能够向第二开关元件(69、74)中的不连接第一检查配线且互不相邻的第二开关元件(69、74)输入检查信号。

Description

有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法
技术领域
本发明涉及有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法，该有源矩阵基板具有2层以上的层、且在每一层形成有多根第一连接配线，该多根第一连接配线分别连接相互平行地形成在显示区域的多根第一配线和配置在端子配置区域的多个第一端子。
背景技术
近年来，在便携式电话、PDA、汽车导航系统、个人计算机等各种电子设备中广泛应用液晶面板。液晶面板有薄而轻、消耗电力少这样的优点。作为对这种液晶面板安装驱动器的方式，已知有在夹着液晶材料相对设置的一对基板的一个基板(有源矩阵基板)上直接安装驱动器的方式、所谓的COG(Chip On Glass：玻璃基芯片)方式(例如参照日本特开2003-172944号公报、日本特开2005-301308号公报、日本特开2003-241217号公报、日本特开2004-325956号公报、日本特开2005-241988号公报、国际公开第2008/015808号小册子)。通过采用该COG方式，能够实现液晶面板的薄型化、小型化、轻量化、配线间和端子间的高精细化。
另外，近年来，用于便携式电话、PDA等的小型电子设备的液晶面板正在从显示画面的纵横像素数为160×120的QQVGA(QuarterQuarter Video Graphics Array)和176×144的QCIF(Quarter CommonIntermediate Format)向320×240的QVGA(Quarter Video GraphicsArray)、进而向640×480的VGA(Video Graphics Array)过渡。伴随于此，要在构成液晶面板的有源矩阵基板上形成的配线和端子的数量将会增加。但是，近年来，为了应对液晶面板的小型化、高精细化的要求，无法增大有源矩阵基板的尺寸。
因此，公知有将分别连接形成在显示区域的多根扫描配线和配置在端子配置区域的多个扫描端子的多根连接配线分别形成在2层以上的层(多层)上的有源矩阵基板(例如参照日本特开2004-53702号公报、日本特开2005-91962号公报)。具体而言，将多根连接配线中规定数量的连接配线形成在与形成有扫描配线的层相同的层(第一层)，并且将剩余的连接配线形成在与形成有扫描配线的层不同的层(第二层)。另外，在形成于第一层的连接配线与形成于第二层的连接配线之间插入有绝缘材料。由此，例如能够将形成于第一层的连接配线和形成于第二层的连接配线相互重叠而形成在有源矩阵基板上，所以不会增大有源矩阵基板的尺寸，能够实现液晶面板的小型化、高精细化。
发明内容
然而，由于在形成于第一层的连接配线与形成于第二层的连接配线之间插入有绝缘材料，所以在形成于第一层的连接配线与形成于第二层的连接配线之间很难发生短路(泄漏)。但是，在形成于相同层的相邻的连接配线间，有可能由于制造有源矩阵基板时等的光刻工序中的灰尘或蚀刻时的膜残余等原因而发生短路。尤其是近年来如上所述那样希望液晶面板的小型化、高精细化，配线间的间隔近年来正逐渐变窄，所以形成在相同层的相邻的连接配线间的短路也容易发生。因此，在制造有源矩阵基板时等的检查工序中，检查连接配线间的短路变得重要。即，这是因为在安装工序中在发生配线的短路的不良情况的有源矩阵基板上安装驱动器会成为部件成本和操作成本的损耗。
但是，尽管检查连接配线间的短路很重要，却没有确立在具有2层以上的层的有源矩阵基板中，对多个层的每一层检测形成于相同层的相邻的连接配线间的短路的结构。另外，上述专利文献(例如参照日本特开2003-172944号公报、日本特开2005-301308号公报、日本特开2003-241217号公报、日本特开2004-325956号公报、日本特开2005-241988号公报、国际公开第2008/015808号小册子、日本特开2004-53702号公报、日本特开2005-91962号公报)中，也没有公开在具有2层以上的层的有源矩阵基板中对多个层的每一层检测形成于相同层的相邻的连接配线间的短路的构成。
本发明鉴于上述问题而完成，其目的在于提供一种能够针对多个层的每一层以简单的构成可靠地检测形成于相同层的相邻的连接配线间的短路的有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法。
为了达成上述目的，本发明的有源矩阵基板包括：相互平行地形成在显示区域的多根第一配线；在上述显示区域以与上述多根第一配线交叉的方式且相互平行地形成的多根第二配线；配置在端子配置区域的多个第一端子和多个第二端子；分别连接上述多根第一配线和上述多个第一端子的多根第一连接配线；和分别连接上述多根第二配线和上述多个第二端子的多根第二连接配线，上述有源矩阵基板的特征在于：上述多根第一连接配线包括多根第三连接配线和多根第四连接配线，上述第三连接配线形成于与形成有上述第一配线的层相同的层，上述第四连接配线的至少一部分形成于与形成有上述第一配线的层不同的层，且与该形成有上述第一配线的层夹着绝缘材料，上述有源矩阵基板还包括：与上述多根第三连接配线的每一根连接的多个第一开关元件；与上述多根第四连接配线的每一根连接的多个第二开关元件；第一共用配线，该第一共用配线与上述多个第一开关元件中的互不相邻的第一开关元件连接，并且与上述多个第二开关元件中的互不相邻的第二开关元件连接；和第二共用配线，该第二共用配线与上述多个第一开关元件中的不连接上述第一共用配线且互不相邻的第一开关元件连接，并且与上述多个第二开关元件中的不连接上述第一共用配线且与互不相邻的第二开关元件连接。
根据本发明的有源矩阵基板，在制造有源矩阵基板时等的检查工序中，如果使第一开关元件为导通状态，并且向第一共用配线和第二共用配线输入相互独立的检查信号，则能够经由第一开关元件向第三连接配线输入检查信号。即，能够向相邻的第三连接配线输入相互独立的检查信号。由此，能够检测相邻的第三连接配线间的短路。第三连接配线是形成于与形成有第一配线的层相同的层的配线。
另外，如果使第二开关元件为导通状态，并且向第一共用配线和第二共用配线输入相互独立的检查信号，则能够经由第二开关元件向第四连接配线输入检查信号。即，能够向相邻的第四连接配线输入相互独立的检查信号。由此，能够检测相邻的第四连接配线间的短路。第四连接配线是下述这样的配线，即，在该第四连接配线的至少一部分形成于与形成有第一配线的层不同的层，且与该形成有第一配线的层夹着绝缘材料。
另外，用于检查相邻的第三连接配线间的短路的检查配线和用于检查相邻的第四连接配线间的短路的检查配线都是第一共用配线和第二共用配线。因此，与将用于检查相邻的第三连接配线间的短路的检查配线和用于检查相邻的第四连接配线间的短路的检查配线分别构成为单独的检查配线的方式相比，能够减少要在有源矩阵基板上形成的检查配线的数量。进而，由于能够减少检查配线的数量，所以还能够减少检查信号的输入系统，能够用简单的检查装置实施检查。
其结果，能够实现如下这样的有源矩阵基板：能够针对多个层的每一层以简单的构成可靠地检测形成于相同层的相邻的连接配线间的短路。
为了达成上述目的，本发明的显示装置包括本发明的有源矩阵基板。上述显示装置优选为液晶显示装置。
为了达成上述目的，本发明的有源矩阵基板或者显示装置的检查方法是权利要求1所述的有源矩阵基板或者包括权利要求1所述的有源矩阵基板的显示装置的检查方法，其特征在于，包括以下工序：使上述第一开关元件为导通状态，并且向上述第一共用配线和上述第二共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行上述第三连接配线的检查；和使上述第二开关元件为导通状态，并且向上述第一共用配线和上述第二共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行上述第四连接配线的检查。
根据本发明的有源矩阵基板或者显示装置的检查方法，通过使第一开关元件为导通状态，并且向第一共用配线和第二共用配线输入相互独立的检查信号，能够检测形成于与形成有第一配线的层相同的层的第三连接配线的短路。另外，通过使第二开关元件为导通状态，并且向第一共用配线和第二共用配线输入相互独立的检查信号，能够检测在至少一部分形成于与形成有第一配线的层不同的层的第四连接配线的短路。进行第三连接配线的检查的工序既可以在进行第四连接配线的检查的工序之前，也可以在进行第四连接配线的检查的工序之后。
如以上那样，采用本发明的有源矩阵基板、显示装置、和有源矩阵基板的检查方法，能够获得针对多个层的每一层以简单的构成可靠地检测形成在相同层的相邻的连接配线间的短路这样的效果。
附图说明
图1是表示本实施方式的液晶面板的概略构成的俯视图。
图2是沿着图1中所示的切割线a-a’切割的剖视图。
图3是表示本实施方式的其他液晶面板的概略构成的剖视图，是表示与图2所示的位置相同的位置的剖视图。
图4是表示本实施方式的其他液晶面板的概略构成的俯视图。
图5是将图1中所示的E部分放大示出的说明图。
图6示出了本实施方式的其他有源矩阵基板的一部分，其是与图5所示的位置相同的位置的说明图。
图7示出了本实施方式的其他有源矩阵基板的一部分，其是与图5所示的位置相同的位置的说明图。
图8示出了本实施方式的其他有源矩阵基板的一部分，其是与图5所示的位置相同的位置的说明图。
图9示出了本实施方式的其他有源矩阵基板的一部分，其是与图5所示的位置相同的位置的说明图。
具体实施方式
在本发明的实施方式中，优选的是，上述多根第一配线包括在一端侧具有信号的输入端的多根第三配线和在另一端侧具有信号的输入端的多根第四配线，并且在上述显示区域中按每一根交替地形成上述第三配线和上述第四配线，上述多根第三连接配线包括多根第五连接配线和多根第六连接配线，上述多根第五连接配线分别连接上述多根第三配线中的互不相邻的第三配线的输入端和上述多个第一端子，上述多根第六连接配线分别连接上述多根第四配线中的互不相邻的第四配线的输入端和上述多个第一端子，上述多根第四连接配线包括多根第七连接配线和多根第八连接配线，上述多根第七连接配线分别连接上述多根第三配线中的不连接上述第五连接配线且互不相邻的第三配线的输入端和上述多个第一端子，上述多根第八连接配线分别连接上述多根第四配线中的不连接上述第六连接配线且互不相邻的第四配线的输入端和上述多个第一端子，上述第一开关元件包括：与上述多根第五连接配线的每一根连接的多个第三开关元件；和与上述多根第六连接配线的每一根连接的多个第四开关元件，上述第二开关元件包括与上述多根第七连接配线的每一根连接的多个第五开关元件；和与上述多根第八连接配线的每一根连接的多个第六开关元件，上述第一共用配线包括第三共用配线和第四共用配线，上述第三共用配线与上述多个第三开关元件中的互不相邻的第三开关元件连接，并且与上述多个第五开关元件中的互不相邻的第五开关元件连接，上述第四共用配线与上述多个第四开关元件中的互不相邻的第四开关元件连接，并且与上述多个第六开关元件中的互不相邻的第六开关元件连接，上述第二共用配线包括第五共用配线和第六共用配线，上述第五共用配线与上述多个第三开关元件中的不连接上述第三共用配线且互不相邻的第三开关元件连接，并且与上述多个第五开关元件中的不连接上述第三共用配线且互不相邻的第五开关元件连接，上述第六共用配线与上述多个第四开关元件中的不连接上述第四共用配线且互不相邻的第四开关元件连接，并且与上述多个第六开关元件中的不连接上述第四共用配线且互不相邻的第六开关元件连接。
在本发明的实施方式中，优选的是，上述多个第三开关元件和上述多个第五开关元件形成在上述第三配线的输入端附近的边缘配线区域，上述多个第四开关元件和上述多个第六开关元件形成在上述第四配线的输入端附近的边缘配线区域。
在本发明的实施方式中，优选的是，上述第三共用配线以与上述多根第五连接配线的每一根交叉且与上述多根第七连接配线的每一根交叉的方式形成在边缘配线区域，上述第五共用配线以与上述多根第五连接配线的每一根交叉且与上述多根第七连接配线的每一根交叉的方式形成在边缘配线区域，上述第四共用配线以与上述多根第六连接配线的每一根交叉且与上述多根第八连接配线的每一根交叉的方式形成在边缘配线区域，上述第六共用配线以与上述多根第六连接配线的每一根交叉且与上述多根第八连接配线的每一根交叉的方式形成在边缘配线区域。
在本发明的实施方式中，优选的是，上述第三共用配线与上述第五共用配线相互相邻，上述第四共用配线与上述第六共用配线相互相邻，上述多个第三开关元件中的至少一个形成在上述第三共用配线与上述第五共用配线之间，上述多个第五开关元件中的至少一个形成在上述第三共用配线与上述第五共用配线之间，上述多个第四开关元件中的至少一个形成在上述第四共用配线与上述第六共用配线之间，上述多个第六开关元件中的至少一个形成在上述第四共用配线与上述第六共用配线之间。
在本发明的实施方式中，优选的是，上述多个第三开关元件全部形成在上述第三共用配线与上述第五共用配线之间，上述多个第五开关元件全部形成在上述第三共用配线与上述第五共用配线之间，上述多个第四开关元件全部形成在上述第四共用配线与上述第六共用配线之间，上述多个第六开关元件全部形成在上述第四共用配线与上述第六共用配线之间。
在本发明的实施方式中，优选的是，在上述第三共用配线与上述第五共用配线之间形成有与上述第三开关元件和上述第五开关元件的栅极电极连接的第一栅极共用配线，上述第三开关元件夹着上述第一栅极共用配线地形成在两侧，上述第五开关元件夹着上述第一栅极共用配线地形成在两侧，在上述第四共用配线与上述第六共用配线之间形成有与上述第四开关元件和上述第六开关元件的栅极电极连接的第二栅极共用配线，上述第四开关元件夹着上述第二栅极共用配线地形成在两侧，上述第六开关元件夹着上述第二栅极共用配线地形成在两侧。
在本发明的实施方式中，优选的是，还包括：多根第一延长配线，该多根第一延长配线从分别连接有上述多根第五连接配线的多个第一端子和分别连接有上述多根第七连接配线的多个第一端子分别延长；与上述多根第一延长配线的每一根连接的第七共用配线；多根第二延长配线，该多根第二延长配线从分别连接有上述多根第六连接配线的多个第一端子和分别连接有上述多根第八连接配线的多个第一端子分别延长；和与上述多根第二延长配线的每一根连接的第八共用配线。
在本发明的实施方式中，优选的是，上述多根第二配线在一端侧具有信号的输入端，还包括：与上述第二配线的另一端侧连接的多个第七开关元件；与上述多个第七开关元件中的互不相邻的第七开关元件连接的第九共用配线；和与上述多个第七开关元件中的不连接上述第九共用配线且互不相邻的第七开关元件连接的第十共用配线。
在本发明的实施方式中，优选的是，上述多根第一配线包括：相互相邻且在一端侧具有信号的输入端的第一组第一配线；和相互相邻且在另一端侧具有信号的输入端的第二组第一配线，上述多根第一连接配线分别连接上述第一组第一配线的输入端和上述多个第一端子，且分别连接上述第二组第一配线的输入端和上述多个第一端子。
在本发明的实施方式中，优选的是，上述第一配线是扫描配线，上述第二配线是数据配线。
在本发明的实施方式中，优选的是，一种实施方式涉及的有源矩阵基板、或者包括本实施方式涉及的有源矩阵基板的显示装置的检查方法包括以下工序：使上述第三开关元件为导通状态，并且向上述第三共用配线和上述第五共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行上述第五连接配线的检查；使上述第五开关元件为导通状态，并且向上述第三共用配线和上述第五共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行上述第七连接配线的检查；使上述第四开关元件为导通状态，并且向上述第四共用配线和上述第六共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行上述第六连接配线的检查；和使上述第六开关元件为导通状态，并且向上述第四共用配线和上述第六共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行上述第八连接配线的检查。
在本发明的实施方式中，优选的是，一种实施方式涉及的有源矩阵基板、或者包括本实施方式涉及的有源矩阵基板的显示装置的检查方法包括以下工序：通过从上述第七共用配线输入检查信号，进行上述第三配线的检查；通过从上述第八共用配线输入检查信号，进行上述第四配线的检查；切割上述多根第一延长配线和上述多根第二延长配线；使上述第三开关元件为导通状态，并且向上述第三共用配线和上述第五共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行上述第五连接配线的检查；使上述第五开关元件为导通状态，并且向上述第三共用配线和上述第五共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行上述第七连接配线的检查；使上述第四开关元件为导通状态，并且向上述第四共用配线和上述第六共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行上述第六连接配线的检查；和使上述第六开关元件为导通状态，并且向上述第四共用配线和上述第六共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行上述第八连接配线的检查。
在本发明的实施方式中，优选的是，一种实施方式涉及的有源矩阵基板、或者包括本实施方式涉及的有源矩阵基板的显示装置的检查方法包括以下工序：通过从上述第七共用配线输入检查信号，进行上述第三配线的检查；通过从上述第八共用配线输入检查信号，进行上述第四配线的检查；使上述第七开关元件为导通状态，并且向上述第九共用配线和上述第十共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行上述第二配线的检查；切割上述多根第一延长配线和上述多根第二延长配线；使上述第三开关元件为导通状态，并且向上述第三共用配线和上述第五共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行上述第五连接配线的检查；使上述第五开关元件为导通状态，并且向上述第三共用配线和上述第五共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行上述第七连接配线的检查；使上述第四开关元件为导通状态，并且向上述第四共用配线和上述第六共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行上述第六连接配线的检查；和使上述第六开关元件为导通状态，并且向上述第四共用配线和上述第六共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行上述第八连接配线的检查。
以下，参照附图说明本发明的实施方式。
以下参照的各图是为了便于说明而仅将本发明一个实施方式的构成部件中的说明本发明所需要的主要部件简化示出的图。因此，本发明的有源矩阵基板能够具有在本说明书参照的各图中没有示出的任意构成部件。另外，各图中的部件的尺寸不是如实表示实际的构成部件的尺寸和各部件的尺寸比率等。
另外，上述第一共用配线～第十共用配线在本实施方式中作为第一检查配线～第十检查配线来说明。进而，上述第一栅极共用配线和第二栅极共用配线在本实施方式中作为第一控制配线和第二控制配线来说明。
图1是表示本实施方式的液晶面板1的概略构成的俯视图。如图1所示，液晶面板1包括有源矩阵基板2和与有源矩阵基板2相对的对置基板3。在有源矩阵基板2与对置基板3之间夹持有未图示的液晶材料。在本实施方式的对置基板3上形成有R(红)、G(绿)、B(蓝)的彩色滤光片和包含用于防止这些彩色滤光片间漏光的黑矩阵的彩色滤光片层。另外，在彩色滤光片层上形成有共用电极。
在此，本实施方式的液晶面板1被用于例如便携式电话、PDA(Personal Digital Assistant：个人数码助理)、PHS(Personal Handy-phone System：个人手持式电话系统)、HHT(Hand Held Terminal：手提式终端)等便携终端用的电子设备。另外，除了便携终端用的电子设备以外，本实施方式的液晶面板1还被用于游戏终端、汽车导航系统、个人计算机、电视机、摄像机、数码相机等的电子设备。在此，具有液晶面板1的电子设备成为本发明的液晶显示装置的一个实施方式。此外，也可以将本实施方式的有源矩阵基板2设置为场致发射显示器、等离子体显示器、有机EL显示器等的液晶面板1以外的面板(显示装置)。
有源矩阵基板2具有显示区域4、端子配置区域5、和位于显示区域4的外侧且包围显示区域4的边缘配线区域6。以下，将液晶面板1的一个边设为第一边S1(图1中为下边)，将夹着该第一边S1的左右两边分别设为第二边S2、第三边S3，将与第一边S1相对的边设为第四边S4。
在此，如图1所示，有源矩阵基板2的第二边S2(第三边S3)的长度H比对置基板3的第二边S2(第三边S3)的长度L长。因此，在将有源矩阵基板2和对置基板3隔着未图示的液晶材料而相互粘合的情况下，有源矩阵基板2的端子配置区域5位于比对置基板3靠近第一边S1的一侧的位置。
显示区域4形成有第一扫描配线(第一配线、第三配线)401～407、第二扫描配线(第一配线、第四配线)411～416、和数据配线(第二配线)421、422、423、…42i。在此，第一扫描配线401～407在一端侧分别具有扫描信号的输入端431～437。另外，第二扫描配线411～416在另一端侧分别具有扫描信号的输入端441～446。进而，数据配线421、422、423、…42i在一端侧分别具有数据信号的输入端451、452、453、…45i。在图1中，仅将数据配线421、422、423、…42i表示为42，且仅将数据信号的输入端451、452、453、…45i表示为45。
在图1中，为了简化说明，图示了7根第一扫描配线401～407和6根第二扫描配线411～416，但实际上要形成在显示区域4的第一扫描配线和第二扫描配线的数量比该数量多。但是，第一扫描配线和第二扫描配线的数量是任意的，在此不特别限定。
以下，仅在需要区别每个配线和开关元件时，例如像数据配线421那样，标记用于区别每一个的小数字来说明，在不需要特别区别时或者统称时，例如像数据配线42那样，不标记小数字来说明。另外，以下，在不需要区别第一扫描配线401～407和第二扫描配线411～416时或者统称时，仅称为扫描配线40、41来说明。
在此，在本实施方式中，第一扫描配线401～407和第二扫描配线411～416以按每1根交替且相互平行的方式形成在显示区域4。即，在显示区域4中，从第四边S4侧向第一边S1侧，如成为第一扫描配线401、第二扫描配线411、第一扫描配线402、第二扫描配线412、第一扫描配线403、第二扫描配线413…那样，形成有扫描配线40、41。另外，数据配线421、422、423、…42i以与扫描配线40、41交叉的方式且相互平行地形成在显示区域4。在本实施方式中，数据配线42按每个RGB形成在显示区域4。即，在显示区域4形成有R用的数据配线42、G用的数据配线42、B用的数据配线42。但是，在单色用的液晶面板1的情况下不限于此。进而，除了扫描配线40、41和数据配线42以外，在显示区域4中还形成有未图示的存储电容配线。存储电容配线以与扫描配线40、41平行的方式形成在显示区域4。
在扫描配线40、41与数据配线42的交叉部分形成有未图示的TFT(Thin Film Transistor)、MIM(Metal Insulator Metal)等的开关元件和与该开关元件连接的未图示的像素电极(R、G、或者B)等。
端子配置区域5是在有源矩阵基板2中配置有多个扫描端子(第一端子)51和多个数据端子(第二端子)52的区域。在端子配置区域5中，驱动器或者设置有驱动器的挠性配线基板与扫描端子51和数据端子52电连接。因此，扫描端子51成为能够从驱动器输入扫描信号的端子。另外，数据端子52成为能够从驱动器输入数据信号的端子。驱动器能够以COG(Chip On Glass)方式与端子配置区域5连接。另外，设置有驱动器的挠性配线基板能够以TCP(Tape Carrier Package)方式与端子配置区域5连接。对连接的方式，在此没有特别限定。
在图1中示出了能够在端子配置区域5配置1个驱动器的例子，但不限于此。例如，能够在有源矩阵基板2上设置多个端子配置区域5，由此能够在多个端子配置区域5的每一个分别配置多个驱动器。
在边缘配线区域6形成有分别连接在第一扫描配线401～407的一端侧具有的扫描信号的输入端431～437和扫描端子51的右侧扫描连接配线(第一连接配线)611～617。即，右侧扫描连接配线611～617从扫描信号的输入端431～437向第三边S3侧引出，沿着第三边S3形成在边缘配线区域6，然后连接至扫描端子51。
在此，右侧扫描连接配线611～617包括第一右侧扫描连接配线(第三连接配线、第五连接配线)611、613、615、617和第二右侧扫描连接配线(第四连接配线、第七连接配线)612、614、616。第一右侧扫描连接配线611、613、615、617是形成于与形成有第一扫描配线401～407的层相同的层的配线。在以下，将形成有扫描配线40、41的层称为“第一层”。另外，第二右侧扫描连接配线612、614、616是在该第二右侧扫描连接配线612、614、616的至少一部分与形成有第一扫描配线401～407的层(第一层)夹着绝缘材料地形成于不同的层的配线。以下，将与形成有扫描配线40、41的层不同的层称为“第二层”。也就是说，在第二层上形成有数据配线42。
在此，第二右侧扫描连接配线612、614、616分别具有连接部分622、624、626。在本实施方式中，第二右侧扫描连接配线612、614、616中的第一扫描配线402、404、406的输入端432、434、436与连接部分622、624、626之间的配线形成在第一层，连接部分622、624、626与扫描端子51之间的配线形成在第二层。即，在连接部分622、624、626形成在第一层的配线与形成在第二层的配线电连接。另外，作为电连接的方法，既可以通过形成在绝缘材料的接触孔使形成在第一层的配线与形成在第二层的配线直接接触，还可以通过形成在另一层的电极使形成在第一层的配线与形成在第二层的配线电连接。即，作为电连接的方法，能够使用多种任意的方法，在此不特别限定。另外，连接部分622、624、626的位置也不限定于图1所示的位置，可以是任意的。
图2是沿着图1中所示的切割线a-a’切割的剖视图。如图2所示，在有源矩阵基板2上形成有第一右侧扫描连接配线611、613、615、617作为第一层。另外，绝缘膜(绝缘材料)7覆盖第一右侧扫描连接配线611、613、615、617而形成在有源矩阵基板2上。另外，在绝缘膜7上形成有第二右侧扫描连接配线612、614、616作为第二层。进而，保护膜8覆盖第二右侧扫描连接配线612、614、616而形成在绝缘膜7上。即，在第一右侧扫描连接配线611、613、615、617与第二右侧扫描连接配线612、614、616之间隔着绝缘膜7。
如此，在本实施方式中，第一右侧扫描连接配线611、613、615、617形成在第一层，第二右侧扫描连接配线612、614、616的至少一部分形成在第二层。因此，与在一个层形成所有的右侧扫描连接配线611～617的方式相比，能够实现有源矩阵基板的小型化、高精细化。
在上述中，对在图1中所示的切割线a-a’的位置从第三边S3侧向第二边S2侧按照右侧扫描连接配线611～617的顺序形成在第一层或者第二层的例子进行了说明，但不限于此。例如如图3所示，第一右侧扫描连接配线611和第二右侧扫描连接配线612、第一右侧扫描连接配线613和第二右侧扫描连接配线614、第一右侧扫描连接配线615和第二右侧扫描连接配线616也可以以相互重叠的方式形成在第一层或者第二层。在这种情况下，与图2所示的方式相比，能够进一步实现有源矩阵基板2的小型化、高精细化。
返回到图1，在连接右侧扫描连接配线611～617的多个扫描端子51上，连接有从该多个扫描端子51的每一个向第一边S1侧延长的多根第一延长配线53。另外，在多根第一延长配线53上连接有扫描配线用第一检查配线(第七检查配线)63。即，扫描配线用第一检查配线63与多根第一延长配线53的每一根连接。另外，在扫描配线用第一检查配线63上还连接有扫描配线用第一检查垫64。扫描配线用第一检查垫64是能够输入扫描检查信号的垫。扫描检查信号是作为扫描信号发挥作用的检查信号。
在本实施方式中，由于扫描配线用第一检查配线63与多根第一延长配线53的每一根连接，所以能够从扫描配线用第一检查垫64向第一扫描配线401～407一并输入扫描检查信号。另外，由于扫描配线用第一检查配线63分别与多根第一延长配线53的每一根连接，所以能够从扫描配线用第一检查配线63和扫描配线用第一检查垫64去除或者分散在有源矩阵基板2产生的静电。由于能够去除或者分散在有源矩阵基板2产生的静电，所以能够抑制由该静电引起的配线的短路或断线、TFT或MIM的特性变化等。
另外，在边缘配线区域6形成有分别连接在第二扫描配线411～416的另一端侧具有的扫描信号的输入端441～446和扫描端子51的左侧扫描连接配线(第一连接配线)651～656。即，左侧扫描连接配线651～656从扫描信号的输入端441～446向第二边S2侧引出，沿着第二边S2形成在边缘配线区域6，然后连接至扫描端子51。
在此，左侧扫描连接配线651～656包括第一左侧扫描连接配线(第三连接配线、第六连接配线)651、653、655和第二左侧扫描连接配线(第四连接配线、第八连接配线)652、654、656。第一左侧扫描连接配线651、653、655是形成在第一层的配线。第二左侧扫描连接配线652、654、656是在该第二左侧扫描连接配线652、654、656的至少一部分形成在第二层的配线。
在此，第二左侧扫描连接配线652、654、656与第二右侧扫描连接配线612、614、616同样地，分别具有连接部分662、664、666。在本实施方式中，第二左侧扫描连接配线652、654、656中，第二扫描配线412、414、416的输入端442、444、446与连接部分662、664、666之间的配线形成在第一层，连接部分662、664、666与扫描端子51之间的配线形成在第二层。即，在连接部分662、664、666，形成在第一层的配线与形成在第二层的配线电连接。与在第二右侧扫描连接配线612、614、616的位置说明过的相同，电连接的方法是任意的，对连接部分662、664、666的位置，也不特别限定。
在连接有左侧扫描连接配线64的多个扫描端子51上连接有从该多个扫描端子51的每一个向第一边S1侧延长的多根第二延长配线54。另外，在多根第二延长配线54上连接有扫描配线用第二检查配线(第八检查配线)67。即，扫描配线用第二检查配线67与多根第二延长配线54的每一根连接。另外，在扫描配线用第二检查配线67上还连接有扫描配线用第二检查垫68。扫描配线用第二检查垫68是能够输入扫描检查信号的垫。
在本实施方式中，扫描配线用第二检查配线67与多根第二延长配线54的每一根连接，所以能够从扫描配线用第二检查垫68向第二扫描配线411～416一并输入扫描检查信号。另外，由于扫描配线用第二检查配线67与多根第二延长配线54的每一根连接，所以能够从扫描配线用第二检查配线67和扫描配线用第二检查垫68去除或者分散在有源矩阵基板2产生的静电。
另外，在边缘配线区域6形成有与右侧扫描连接配线611～617的每一根连接的右侧扫描开关元件691～697。具体而言，右侧扫描开关元件691～697形成在扫描信号的输入端431～437的附近的边缘配线区域6。在此，右侧扫描开关元件691～697包括与第一右侧扫描连接配线611、613、615、617的每一根连接的第一右侧扫描开关元件(第一开关元件、第三开关元件)691、693、695、697和与第二右侧扫描连接配线612、614、616的每一根连接的第二右侧扫描开关元件(第二开关元件、第五开关元件)692、694、696。
在此，在第一右侧扫描开关元件691、第二右侧扫描开关元件694、和第一右侧扫描开关元件695上还连接有右侧扫描连接配线用第一检查配线(第一检查配线、第三检查配线)70。即，右侧扫描连接配线用第一检查配线70是能够向第一右侧扫描开关元件691、693、695、697中互不相邻的第一右侧扫描开关元件691、695输入扫描检查信号、并且能够向第二右侧扫描开关元件692、694、696中互不相邻的第二右侧扫描开关元件694输入扫描检查信号的检查配线。右侧扫描连接配线用第一检查配线70与右侧扫描连接配线611～617的每一根交叉而形成在边缘配线区域6。
另外，在右侧扫描连接配线用第一检查配线70上还连接有右侧扫描连接配线用第一检查垫71。右侧扫描连接配线用第一检查垫71是能够输入扫描检查信号的垫。由此，能够从右侧扫描连接配线用第一检查垫71向第一右侧扫描连接配线611、第二右侧扫描连接配线614、和第一右侧扫描连接配线615输入扫描检查信号。
另外，在第二右侧扫描开关元件692、第一右侧扫描开关元件693、第二右侧扫描开关元件696、和第一右侧扫描开关元件697上还连接有右侧扫描连接配线用第二检查配线(第二检查配线、第五检查配线)72。即，右侧扫描连接配线用第二检查配线72是能够向第一右侧扫描开关元件691、693、695、697中不连接右侧扫描连接配线用第一检查配线70且互不相邻的第一右侧扫描开关元件693、697输入扫描检查信号、并且能够向第二右侧扫描开关元件692、694、696中不连接右侧扫描连接配线用第一检查配线70且互不相邻的第二右侧扫描开关元件692、696输入扫描检查信号的检查配线。右侧扫描连接配线用第二检查配线72与右侧扫描连接配线611～617的每一根交叉而形成在边缘配线区域6。
另外，在右侧扫描连接配线用第二检查配线72上还连接有右侧扫描连接配线用第二检查垫73。右侧扫描连接配线用第二检查垫73是能够输入扫描检查信号的垫。由此，能够从右侧扫描连接配线用第二检查垫73向第二右侧扫描连接配线612、第一右侧扫描连接配线613、第二右侧扫描连接配线616、和第一右侧扫描连接配线617输入扫描检查信号。
即，在边缘配线区域6上，如上述那样形成有右侧扫描连接配线用第一检查配线70、右侧扫描连接配线用第一检查垫71、右侧扫描连接配线用第二检查配线72和右侧扫描连接配线用第二检查垫73，所以能够向相邻的第一右侧扫描连接配线611、613、615、617的每一个输入不同的扫描检查信号。由此，能够检测形成在第一层的相邻的第一右侧扫描连接配线611、613、615、617间的短路。另外，能够向相邻的第二右侧扫描连接配线612、614、616的每一个也输入不同的扫描检查信号。由此，也能够检测形成在第二层的相邻的第二右侧扫描连接配线612、614、616间的短路。
另外，在边缘配线区域6形成有与左侧扫描连接配线651～656的每一根连接的左侧扫描开关元件741～746。具体而言，左侧扫描开关元件741～746形成在扫描信号的输入端441～446的附近的边缘配线区域6。在此，左侧扫描开关元件741～746包括与第一左侧扫描连接配线651、653、655的每一根连接的第一左侧扫描开关元件(第一开关元件、第四开关元件)741、743、745和与第二左侧扫描连接配线652、654、656的每一根连接的第二左侧扫描开关元件(第二开关元件、第六开关元件)742、744、746。
在此，在第一左侧扫描开关元件741、第二左侧扫描开关元件744和第一左侧扫描开关元件745上还连接有左侧扫描连接配线用第一检查配线(第一检查配线、第四检查配线)75。即，左侧扫描连接配线用第一检查配线75是能够向第一左侧扫描开关元件741、743、745中互不相邻的第一左侧扫描开关元件741、745输入检查信号、且能够向第二左侧扫描开关元件742、744、746中互不相邻的第二左侧扫描开关元件744输入扫描检查信号的检查配线。左侧扫描连接配线用第一检查配线75与左侧扫描连接配线651～656的每一根交叉而形成在边缘配线区域6。
另外，在左侧扫描连接配线用第一检查配线75上还连接有左侧扫描连接配线用第一检查垫76。左侧扫描连接配线用第一检查垫76是能够输入扫描检查信号的垫。由此，能够从左侧扫描连接配线用第一检查垫76向第一左侧扫描连接配线651、第二左侧扫描连接配线654和第一左侧扫描连接配线655输入扫描检查信号。
另外，在第二左侧扫描开关元件742、第一左侧扫描开关元件743、和第二左侧扫描开关元件746上还连接有左侧扫描连接配线用第二检查配线(第二检查配线、第六检查配线)77。即，左侧扫描连接配线用第二检查配线77能够向第一左侧扫描开关元件741、743、745中不连接左侧扫描连接配线用第一检查配线75且互不相邻的第一左侧扫描开关元件743输入检查信号、并且能够向第二左侧扫描开关元件742、744、746中不连接左侧扫描连接配线用第一检查配线75且互不相邻的第二左侧扫描开关元件742、746输入检查信号的检查配线。左侧扫描连接配线用第二检查配线77与左侧扫描连接配线651～656的每一根交叉而形成在边缘配线区域6。
另外，在左侧扫描连接配线用第二检查配线77上还连接有左侧扫描连接配线用第二检查垫78。左侧扫描连接配线用第二检查垫78是能够输入扫描检查信号的垫。由此，能够从左侧扫描连接配线用第二检查垫78向第二左侧扫描连接配线652、第一左侧扫描连接配线653、和第二左侧扫描连接配线616输入扫描检查信号。
即，在边缘配线区域6，如上述那样形成有左侧扫描连接配线用第一检查配线75、左侧扫描连接配线用第一检查垫76、左侧扫描连接配线用第二检查配线77、和左侧扫描连接配线用第二检查垫78，所以能够向相邻的第一左侧扫描连接配线651、653、655的每一个输入不同的扫描检查信号。由此，能够检测形成在第一层的相邻的第一左侧扫描连接配线651、653、655间的短路。另外，能够向相邻的第二左侧扫描连接配线652、654、656的每一个也输入不同的扫描检查信号。由此，也能够检测形成在第二层的相邻的第二左侧扫描连接配线652、654、656间的短路。
在此，在边缘配线区域6，如上述那样，右侧扫描连接配线用第一检查配线70和右侧扫描连接配线用第二检查配线72与右侧扫描连接配线611～617的每一根交叉而形成。另外，在边缘配线区域6，如上述那样，左侧扫描连接配线用第一检查配线75和左侧扫描连接配线用第二检查配线77与左侧扫描连接配线651～656的每一根交叉而形成。如此，对右侧扫描连接配线611～617和左侧扫描连接配线651～656都交叉着相同根数的检查配线，所以施加到右侧扫描连接配线611～617的负载和施加到左侧扫描连接配线651～656的负载相等。因此，与右侧扫描连接配线611～617连接的第一扫描配线401～407的到达电位和与左侧扫描连接配线651～656连接的第二扫描配线411～416的到达电位相同。因此，在将本实施方式的有源矩阵基板2装入显示装置时，在该显示装置的显示画面上显示亮度均匀的图像。
另外，在边缘配线区域6的比各检查配线70、72、75、77更靠近显示区域4侧的位置形成有存储电容主干配线79。存储电容主干配线79以从左右两侧夹着显示区域4的方式沿着第二边S2和第三边S3形成在边缘配线区域6。在存储电容主干配线79上连接有形成于显示区域4的未图示的存储电容配线。另外，在存储电容主干配线79上经由端子配置区域5还连接有存储电容配线用检查垫80。存储电容配线用检查垫80是能够输入存储电容检查信号的垫。由此，能够从存储电容配线用检查垫80向存储电容配线输入存储电容检查信号。存储电容检查信号是用于检测存储电容配线的断线和与扫描配线40、41的泄漏的检查信号。
但是，在本实施方式中，如上述那样，右侧扫描开关元件691～697形成在扫描信号的输入端431～437的附近的边缘配线区域6，且左侧扫描开关元件741～746形成在扫描信号的输入端441～446的附近的边缘配线区域6。在此，假设考虑如下情况：与其相反地，右侧扫描开关元件691～697形成在扫描信号的末端侧(即，第一扫描配线401～407的另一端侧)的边缘配线区域6，且左侧扫描开关元件741～746形成在扫描信号的末端侧(即，第二扫描配线411～416的一端侧)的边缘配线区域6。
图4是表示在右侧扫描开关元件691～697和左侧扫描开关元件741～746形成在扫描信号的末端侧的边缘配线区域6时的液晶面板1a的概略构成的俯视图。在图4中，为了简化说明，仅对主要的部件标记附图标记。如图4所示，由于右侧扫描开关元件691～697形成在扫描信号的末端侧的边缘配线区域6，所以从第一扫描配线401～407的另一端侧向第二边S2侧引出的第一引出配线40a新形成在边缘配线区域6。即，第一引出配线40a连接第一扫描配线401～407的另一端侧和右侧扫描开关元件691～697。另外，由于左侧扫描开关元件741～746形成在扫描信号的末端侧的边缘配线区域6，所以从第二扫描配线411～416的另一端侧向第三边S3侧引出的第二引出配线41a新形成在边缘配线区域6。即，第二引出配线41a连接第二扫描配线411～416的另一端侧和左侧扫描开关元件741～746。
即，在图4所示的D1的部分，存储电容主干配线79与第一引出配线40a交叉。由于存储电容主干配线79与第一引出配线40a交叉，所以对第一扫描配线401～407施加很大的负载。另外，在图4所示的D2的部分，存储电容主干配线79与第二引出配线41a交叉。由于存储电容主干配线79与第二引出配线41a交叉，所以对第二扫描配线411～416施加很大的负载。即，由于对扫描配线40、41施加很大的负载，所以输入到扫描配线40、41的扫描信号延迟。由于扫描信号延迟，所以来自数据配线42的数据信号难以被充电至存储电容。其结果是，在将图4所示的液晶面板1a装入电子设备时，在该电子设备的显示画面中例如显示不能得到所希望的亮度的图像。即，液晶面板1a的显示品质降低。
对应于此，在本实施方式的液晶面板1中，如图1所示，由于右侧扫描开关元件691～697和左侧扫描开关元件741～746形成在扫描信号的输入端的附近的边缘配线区域6，所以也可以将上述第一引出配线40a和第二引出配线41a形成在边缘配线区域6。因此，存储电容主干配线79与第一引出配线40a不会交叉，存储电容主干配线79与第二引出配线41a不会交叉。其结果是，本实施方式的液晶面板1不会产生上述那样的问题。
另外，在图4所示的液晶面板1a中，第一引出配线40a新形成在边缘配线区域6，所以在第一引出配线40a与左侧扫描连接配线651～656之间容易发生短路。另外，由于第二引出配线41a新形成在边缘配线区域6，所以在第二引出配线41a与右侧扫描连接配线611～617之间容易发生短路。进而，由于第一引出配线40a和第二引出配线41a新形成在边缘配线区域6，所以用于在边缘配线区域6形成其他配线和开关元件的空间变窄。因此，配线和开关元件的短路不良情况增加。
对应于此，在本实施方式的液晶面板1中，如图1所示，右侧扫描开关元件691～697和左侧扫描开关元件741～746形成在扫描信号的输入端的附近的边缘配线区域6，所以也可以不将上述第一引出配线40a和第二引出配线41a形成在边缘配线区域6。其结果，在本实施方式的液晶面板1中，不会产生如上述那样的问题。
根据以上，与将右侧扫描开关元件691～697和左侧扫描开关元件741～746形成在扫描信号的末端侧的边缘配线区域6的方式(参照图4)相比，优选将右侧扫描开关元件691～697和左侧扫描开关元件741～746形成在扫描信号的输入端的附近的边缘配线区域6的方式(参照图1)。即，与图4所示的液晶面板1a相比，图1所示的液晶面板1提高显示品质，并且还提高成品率。
返回到图1，在边缘配线区域6形成有分别连接在数据配线421、422、423、…42i的一端侧具有的数据信号的输入端451、452、453、…45i和数据端子52的数据连接配线(第二连接配线)811、812、813、…81i。即，数据连接配线81从数据信号的输入端44向第一边S1侧引出，然后连接至数据端子52。在图1中，仅将数据连接配线811、812、813、…81i表示为81。
另外，在边缘配线区域6形成有与数据配线421、422、423、…42i的另一端侧连接的数据配线用开关元件(第七开关元件)821、822、823、…82i。在图1中，仅将数据配线用开关元件821、822、823、…82i表示为82。
在此，在数据配线用开关元件821、824、827、…82i-2上还连接有数据配线用第一检查配线(第九检查配线)83。即，数据配线用第一检查配线83是能够向数据配线用开关元件82中互不相邻的数据配线用开关元件821、824、827、…82i-2输入数据检查信号的检查配线。数据配线用第一检查配线83形成在第四边S4侧和第二边侧S2的边缘配线区域6。另外，在数据配线用第一检查配线83上还连接有数据配线用第一检查垫84。数据配线用第一检查垫84是能够输入数据检查信号的垫。数据检查信号是作为数据信号发挥作用的检查信号。由此，能够从数据配线用第一检查垫84向数据配线421、424、427、…42i-2输入数据检查信号。
另外，在数据配线用开关元件822、825、828、…82i-1上还连接有数据配线用第二检查配线(第十检查配线)85。即，数据配线用第二检查配线85是能够向数据配线用开关元件82中不连接数据配线用第一检查配线83且互不相邻的数据配线用开关元件822、825、828、…82i -1输入数据检查信号的检查配线。数据配线用第二检查配线85与数据配线用第一检查配线83相同，形成在第四边S4侧和第二边S2侧的边缘配线区域6。另外，在数据配线用第二检查配线85上还连接有数据配线用第二检查垫86。数据配线用第二检查垫86是能够输入数据检查信号的垫。由此，能够从数据配线用第二检查垫86向数据配线422、425、428、…42i-1输入数据检查信号。
进而，在数据配线用开关元件823、826、829、…82i上还连接有数据配线用第三检查配线(第十检查配线)87。即，数据配线用第三检查配线87是能够向数据配线用开关元件82中不连接数据配线用第一检查配线83和数据配线用第二检查配线85且互不相邻的数据配线用开关元件823、826、829、…82i输入数据检查信号的检查配线。数据配线用第三检查配线87与数据配线用第一检查配线83和数据配线用第二检查配线85相同，形成在第四边S4侧和第二边S2侧的边缘配线区域6。在数据配线用第三检查配线87上还连接有数据配线用第三检查垫88。数据配线用第三检查垫88是能够输入数据检查信号的垫。由此，能够从数据配线用第三检查垫88向数据配线423、426、429、…42i输入数据检查信号。
即，如上述那样，在边缘配线区域6形成有数据配线用第一检查配线83、数据配线用第一检查垫84、数据配线用第二检查配线85、数据配线用第二检查垫86、数据配线用第三检查配线87和数据配线用第三检查垫88，所以能够向相邻的数据配线42和相邻的数据连接配线81的每一个输入不同的数据检查信号。由此，能够检测数据配线42和数据连接配线81的短路。
进而，在边缘配线区域6形成有与右侧扫描开关元件691～697、左侧扫描开关元件741～746、和数据配线用开关元件821、822、823、…82i连接的开关元件控制配线(第一控制配线、第二控制配线)89。开关元件控制配线89形成为比右侧扫描连接配线用第一检查配线70、右侧扫描连接配线用第二检查配线72、左侧扫描连接配线用第一检查配线75、和左侧扫描连接配线用第二检查配线77靠近显示区域4侧。在开关元件控制配线89上连接有控制垫90。控制垫90是能够输入用于将开关元件导通/断开的控制信号的垫。由此，能够从控制垫90向右侧扫描开关元件691～697、左侧扫描开关元件741～746、和数据配线用开关元件821、822、823、…82i输入控制信号。
但是，在本实施方式中，如图1所示，右侧扫描连接配线用第一检查配线70与右侧扫描连接配线用第二检查配线72相互相邻，右侧扫描开关元件691～697全部形成在右侧扫描连接配线用第一检查配线70与右侧扫描连接配线用第二检查配线72之间。另外，左侧扫描连接配线用第一检查配线75与左侧扫描连接配线用第二检查配线77相互相邻，左侧扫描开关元件741～746全部形成在左侧扫描连接配线用第一检查配线75与左侧扫描连接配线用第二检查配线77之间。如此构成时，详细情况如后述那样，能够减少用于将形成在第一层的配线与形成在第二层的配线电连接的连接部分的数量。即，当形成连接部分时，由于连接部分的不良情况等会引起形成在第一层的配线与形成在第二层的配线没有电导通。另外，有时由于连接部分而使电阻增大。在这样的情况下，无法正确地进行扫描配线40、41的检查。进而，需要用于形成连接部分的空间，所以容易与相邻的配线发生短路，并且有源矩阵基板2的尺寸增大。因此，连接部分的数量优选为尽量少。
图5是将图1中所示的E的部分放大示出的说明图。在图5中，为了便于说明，省略了绝缘膜7和保护膜8等。在此，以下，以图5所示的位置为中心，对左侧扫描连接配线用第一检查配线75、左侧扫描连接配线用第二检查配线77、开关元件控制配线89、和左侧扫描开关元件741～746的配置关系进行说明。右侧扫描连接配线用第一检查配线70、右侧扫描连接配线用第二检查配线72、开关元件控制配线89、和右侧扫描开关元件691～697的配置关系也与其相同，所以在此省略其详细的说明。
在本实施方式中，左侧扫描连接配线用第一检查配线75、左侧扫描连接配线用第二检查配线77和开关元件控制配线89形成在第二层。另外，第一左侧扫描连接配线651、653、655形成在第一层。另外，第二扫描配线412、414、416的输入端442、444、446与连接部分662、664、666之间的第二左侧扫描连接配线652、654、656形成在第一层。进而，左侧扫描开关元件741～746的栅极电极G形成在第一层。另外，左侧扫描开关元件741～746的源极电极S和漏极电极D形成在第二层。
在这种情况下，如图5所示，需要用于将第一左侧扫描开关元件741的栅极电极G和开关元件控制配线89电连接的连接部分J1。另外，需要用于将第一左侧扫描开关元件741的源极电极S和左侧扫描连接配线651电连接的连接部分J2。另外，同样地，需要用于将第二左侧扫描开关元件742的栅极电极G和开关元件控制配线89电连接的连接部分J3、和用于将第二左侧扫描开关元件742的源极电极S和左侧扫描连接配线652电连接的连接部分J4。即，在边缘配线区域6形成第一左侧扫描开关元件741和第二左侧扫描开关元件742时，用于将形成在第一层的配线与形成在第二层的配线电连接的连接部分的数量变成连接部分J1～J4这4个。
在此，假设考虑左侧扫描开关元件741～746全部形成在左侧扫描连接配线用第二检查配线77与开关元件控制配线89之间的情况。在这种情况下，如图6所示，连接部分的数量变成连接部分J1～J6这6个。另外，假设考虑左侧扫描开关元件741～746全部形成为比左侧扫描连接配线用第一检查配线75、左侧扫描连接配线用第二检查配线77、和开关元件控制配线89靠近显示区域4侧的情况。在这种情况下，如图7所示，连接部分的数量变成连接部分J1～J8这8个。
根据以上，如本实施方式那样，如果右侧扫描开关元件691～697全部形成在右侧扫描连接配线用第一检查配线70与右侧扫描连接配线用第二检查配线72之间，且左侧扫描开关元件741～746全部形成在左侧扫描连接配线用第一检查配线75与左侧扫描连接配线用第二检查配线77之间，则与其他方式(图6、图7)相比，能够减少连接部分的数量。其结果，本实施方式的有源矩阵基板2能够有助于液晶面板1的成品率的提高，并且还能够减小尺寸。
即使是与左侧扫描连接配线用第一检查配线75连接的左侧扫描开关元件形成在左侧扫描连接配线用第一检查配线75与开关元件控制配线89之间、且与左侧扫描连接配线用第二检查配线77连接的左侧扫描开关元件形成在左侧扫描连接配线用第二检查配线77与开关元件控制配线89之间的方式，也与图5所示的情况相同，能够减少连接部分的数量。即，如图8所示，在开关元件控制配线89的左侧形成有第一左侧扫描开关元件741，在开关元件控制配线89的右侧形成有第二左侧扫描开关元件742。在这种情况下，连接部分的数量与图5所示的情况相同，成为连接部分J1～J4这4个。
另外，即使是与左侧扫描连接配线用第一检查配线75连接的左侧扫描开关元件形成在左侧扫描连接配线用第一检查配线75和开关元件控制配线89的左侧、且与左侧扫描连接配线用第二检查配线77连接的左侧扫描开关元件形成在左侧扫描连接配线用第二检查配线77和开关元件控制配线89的右侧的方式，也能够与图5所示的情况相同，能够减少连接部分的数量。即，如图9所示，在左侧扫描连接配线用第一检查配线75和开关元件控制配线89的左侧形成有第一左侧扫描开关元件741，在左侧扫描连接配线用第二检查配线77和开关元件控制配线89的右侧形成有第二左侧扫描开关元件742。在这种情况下，连接部分的数量与图5所示的情况相同，变成连接部分J1～J4这4个。
返回到图1，在第二边S2侧的边缘配线区域6形成有共用检查配线91。在共用检查配线91上连接有共用电极垫92。另外，在共用检查配线91上还连接有转接(transfer)垫93。转接垫93连接在形成于对置基板3的未图示的共用电极。由此，能够从共用电极垫92向形成于对置基板3的共用电极施加共用电压。
接着，说明本实施方式的液晶面板1的制造方法。以下，详细说明特别是检查液晶面板1的电连接状态的检查工序。
即，在透明的玻璃基板上层叠导电膜、绝缘膜、保护膜、取向膜等的薄膜，制造要作为有源矩阵基板2切出的形成有多个有源矩阵基板区域的有源矩阵基板用的基底基板。另外，在透明的玻璃基板上层叠黑矩阵、彩色滤光片、导电膜、取向膜等的薄膜，制造要作为对置基板3切出的形成有多个对置基板区域的对置基板用的基底基板。在两个基底基板中的一个基底基板上涂敷密封剂。然后，在涂敷密封剂之后，将两个基底基板粘合。粘合后的两个基底基板切割为形成规定张数的具有有源矩阵基板2和对置基板3的液晶面板1的母基板。通过使用例如真空注入法，经由形成在有源矩阵基板2和对置基板3之间的注入口向切割为母基板的液晶面板1的每一个注入液晶材料。代替真空注入法，也可以通过使用滴下注入法注入液晶材料。在这种情况下，不需要上述注入口，也不需要密封注入口部分的工序。另外，图1所示的液晶面板1表示注入液晶材料后的切割为母基板的液晶面板之一。因此，虽然省略了图示，但在图1的液晶面板1的例如上下左右存在其他的液晶面板。
然后，在端子配置区域5安装驱动器之前，进行用于检查液晶面板1的电连接状态的检查工序。即，检查工序用于检查液晶面板1的有源矩阵基板2中的配线的断线、短路和像素的缺陷。另外，详细情况如后述那样，作为检查工序，分成第一检查工序和第二检查工序进行。
作为检查方法，在第一检查工序中，例如使检查用探针接触扫描配线用第一检查垫64、扫描配线用第二检查垫68、存储电容配线用检查垫80、数据配线用第一检查垫84、数据配线用第二检查垫86、数据配线用第三检查垫88、控制垫90、和共用电极垫92，并施加电压。另外，在第二检查工序中，例如使检查用探针接触右侧扫描连接配线用第一检查垫71、右侧扫描连接配线用第二检查垫73、左侧扫描连接配线用第一检查垫76、左侧扫描连接配线用第二检查垫78、存储电容配线用检查垫80、数据配线用第一检查垫84、数据配线用第二检查垫86、数据配线用第三检查垫88、控制垫90、和共用电极垫92，并施加电压。对于使检查用探针接触各垫的顺序，在此不特别限定。
由此，向扫描配线40、41输入作为扫描信号发挥作用的扫描检查信号。在此，扫描检查信号是例如至少在一定期间内使例如各像素具有的开关元件导通这样的信号。另外，向数据配线42输入作为数据信号发挥作用的数据检查信号。在此，数据检查信号是例如使各像素区域的液晶在所希望的方向取向这样的信号。因此，通过各像素的开关元件变成导通状态，并对各像素电极施加数据信号，控制液晶的分子排列方向，例如当用如背光源那样的照射装置从液晶面板1的背面进行照射时，就在与有源矩阵基板2的显示区域4对应的液晶面板1的显示画面(以下，称为“液晶面板1的显示画面”)上显示图像。因此，在液晶面板1的显示画面上，例如通过检查员的目视检查，能够检查液晶面板1的有源矩阵基板2中的配线的断线、短路。代替检查员的目视检查、或者除此之外，既可以使用图像识别处理装置，还可以使用用于电检测配线的断线、短路的检测装置等进行检查。
在此，详细叙述第一检查工序。
以下，首先说明扫描配线40、41、右侧扫描连接配线611～617、和左侧扫描连接配线651～656的断线的检测方法。
即，向数据配线42输入数据检查信号，且从扫描配线用第一检查垫64和扫描配线用第二检查垫68向扫描配线40、41、右侧扫描连接配线611～617、和左侧扫描连接配线651～656输入扫描检查信号。因此，当扫描配线40、41发生断线时，在液晶面板1的显示画面中不显示与发生了断线的位置以后的扫描配线40、41对应的线(line)的像素。因此，检查员能够检测扫描配线40、41发生断线的情况。
另外，当右侧扫描连接配线611～617发生断线时，在液晶面板1的显示画面中不显示所有的与发生了断线的右侧扫描连接配线611～617所连接的第一扫描配线401～407对应的每1根线。因此，检查员能够检测右侧扫描连接配线611～617发生断线的情况。进而，当左侧扫描连接配线651～656发生断线时，在液晶面板1的显示画面中不显示所有的与发生了断线的左侧扫描连接配线651～656所连接的第二扫描配线411～416对应的每1根线。因此，检查员能够检测左侧扫描连接配线651～656发生断线的情况。
接着，说明扫描配线40、41间的短路的检测方法。
即，不向第二扫描配线411～416输入扫描检查信号，而从扫描配线用第一检查垫64向第一扫描配线401～407输入扫描检查信号。此时，当第一扫描配线401～407和第二扫描配线411～416发生短路时，在液晶面板1的显示画面中，不仅显示与第一扫描配线401～407对应的线，还显示与发生了短路的第二扫描配线对应的线。因此，检查员能够检测第一扫描配线401～407与第二扫描配线411～416之间发生短路的情况。也可以不向第一扫描配线401～407输入扫描检查信号，而从扫描配线用第二检查垫68向第二扫描配线411～416输入扫描检查信号。
在上述中，从扫描配线用第一检查垫64向右侧扫描连接配线611～617一并输入扫描检查信号。即，向形成在第一层的相邻的第一右侧扫描连接配线611、613、615、617的每一个输入相同的扫描检查信号。即，相邻的第一右侧扫描连接配线611、613、615、617的每一个成为同电位。另外，向形成在第二层的相邻的第二右侧扫描连接配线612、614、616的每一个输入相同的扫描检查信号。即，相邻的第二右侧扫描连接配线612、614、616的每一个成为同电位。因此，在上述第一检查工序中，无法检测形成在第一层的相邻的第一右侧扫描连接配线611、613、615、617之间的短路、和形成在第二层的相邻的第二右侧扫描连接配线612、614、616间的短路。因此，在后述的第二检查工序中检查有无发生这些短路。
另外，与其相同地，在上述第一检查工序中，无法检测形成在第一层的相邻的第一左侧扫描连接配线651、653、655间的短路和形成在第二层的相邻的第二左侧扫描连接配线652、654、656间的短路。因此，在后述的第二检查工序中检查有无发生这些短路。
接着，说明数据配线42的断线的检测方法。
即，向扫描配线40、41输入扫描检查信号，从数据配线用第一检查垫84、数据配线用第二检查垫86、数据配线用第三检查垫88向数据配线42输入数据检查信号。因此，当数据配线42发生断线时，在液晶面板1的显示画面中，与发生了断线的位置以后的数据配线42对应的线的像素进行与正常的行的像素不同的显示。因此，检查员能够检测数据配线42发生断线的情况。
接着，说明数据配线42和数据连接配线81的短路的检测方法。
即，从控制垫90向数据配线用开关元件82输入使该数据配线用开关元件82导通的控制信号。由此，数据配线用开关元件82导通。在此，例如仅向多根数据配线42中的数据配线421、424、427、…42i- 2输入数据检查信号，而不向该数据配线421、424、427、…42i-2以外的数据配线422、423、425、…42i-1、42i输入数据检查信号。例如，仅使检查用探针接触数据配线用第一检查垫84，而不使检查用探针接触数据配线用第二检查垫86和数据配线用第三检查垫88。
如此构成时，当数据配线421、424、427、…42i-2发生短路时，不仅显示与该数据配线421、424、427、…42i-2对应的线，还显示与发生短路的数据配线对应的线。因此，检查员能够检测数据配线421、424、427、…42i-2发生短路的情况。另外，当数据连接配线811、814、817、…81i-2发生短路时，不仅显示与该数据连接配线811、814、817、…81i-2连接的数据配线421、424、427、…42i-2对应的线，还显示与发生了短路的数据连接配线所连接的数据配线对应的线。因此，检查员能够检测数据连接配线811、814、817、…81i-2发生短路的情况。
与其相同，当仅使检查用探针接触数据配线用第二检查垫86，而不使检查用探针接触数据配线用第一检查垫84和数据配线用第三检查垫88时，检查员能够检测数据配线422、425、428、…42i-1和数据连接配线812、815、818、…81i-1的短路。另外，当仅使检查用探针接触数据配线用第三检查垫88，而不使检查用探针接触数据配线用第一检查垫84和数据配线用第二检查垫86时，检查员能够检测数据配线423、426、429、…42i和数据连接配线813、816、819、…81i的短路。
如以上那样，在第一检查工序中无法检测右侧扫描连接配线611～617和左侧扫描连接配线651～656的短路。因此，为了检查右侧扫描连接配线611～617和左侧扫描连接配线651～656有无短路，进行接下来的第二检查工序。
在此，在第二检查工序之前进行切割第一延长配线53和第二延长配线54的切割工序。具体而言，沿着例如图1所示的切割线C切割第一延长配线53和第二延长配线54。作为切割方法，例如使用激光来切割。由此，连接有右侧扫描连接配线611～617的扫描端子51间被电切割。另外，连接有左侧扫描连接配线651～656的扫描端子51间被电切割。如果多个扫描端子51间被电切割，则代替切割线C，也可以沿着其他线进行切割。
接着，详细叙述第二检查工序。
以下，说明右侧扫描连接配线611～617和左侧扫描连接配线651～656的短路的检测方法。扫描配线40、41的短路的检测方法、数据配线42的断线的检测方法、数据配线42和数据连接配线81的短路的检测方法与在第一检查工序中已说明的相同，所以在此省略其详细说明。另外，扫描配线40、41的断线的检测方法中，代替第一检查工序中的扫描配线用第一检查垫64和扫描配线用第二检查垫68，通过使用右侧扫描连接配线用第一检查垫71、右侧扫描连接配线用第二检查垫73、左侧扫描连接配线用第一检查垫76、和左侧扫描连接配线用第二检查垫78，能够与第一检查工序同样地实施。
即，从控制垫90向右侧扫描开关元件691～697输入使该右侧扫描开关元件691～697导通的控制信号。由此，右侧扫描开关元件691～697导通。在此，例如仅向第一右侧扫描连接配线611、613、615、617中的第一右侧扫描连接配线611、615输入扫描检查信号，而不向该第一右侧扫描连接配线611、615以外的第一右侧扫描连接配线613、617输入扫描检查信号。另外，仅向第二右侧扫描连接配线612、614、616中的第二右侧扫描连接配线614输入扫描检查信号，而不向该第二右侧扫描连接配线614以外的第二右侧扫描连接配线612、616输入扫描检查信号。例如，仅使检查用探针接触右侧扫描连接配线用第一检查垫71，而不使检查用探针接触右侧扫描连接配线用第二检查垫73。
如此构成时，当形成在第一层的第一右侧扫描连接配线611、615发生短路时，不仅显示与该第一右侧扫描连接配线611、615所连接的第一扫描配线401、405对应的线，还显示与发生了短路的第一右侧扫描连接配线所连接的第一扫描配线对应的线。因此，检查员能够检测形成在第一层的第一右侧扫描连接配线611、615发生短路的情况。另外，当形成在第二层的第二右侧扫描连接配线614发生短路时，不仅显示与该第二右侧扫描连接配线614所连接的第一扫描配线404对应的线，还显示与发生了短路的第二右侧扫描连接配线所连接的第一扫描配线对应的线。因此，检查员能够检测形成在第二层的第二右侧扫描连接配线614发生短路的情况。
与其相同，例如，当仅使检查用探针接触右侧扫描连接配线用第二检查垫73，而不使检查用探针接触右侧扫描连接配线用第一检查垫71时，检查员能够检测形成在第一层的第一右侧扫描连接配线613、617的短路、和形成在第二层的第二右侧扫描连接配线612、616的短路。
另外，从控制垫90向左侧扫描开关元件741～746输入使该左侧扫描开关元件741～746导通的控制信号。由此，左侧扫描开关元件741～746导通。在此，例如仅向第一左侧扫描开关元件741、743、745中的第一左侧扫描开关元件741、745输入扫描检查信号，而不向该第一左侧扫描开关元件741、745以外的第一左侧扫描开关元件743输入扫描检查信号。另外，仅向第二左侧扫描开关元件742、744、746中的第二左侧扫描开关元件744输入扫描检查信号，而不向该第二左侧扫描开关元件744以外的第二左侧扫描开关元件742、746输入扫描检查信号。例如，仅使检查用探针接触左侧扫描连接配线用第一检查垫76，而不使检查用探针接触左侧扫描连接配线用第二检查垫78。
如此构成时，当形成在第一层的第一左侧扫描连接配线651、655发生短路时，不仅显示与该第一左侧扫描连接配线651、655所连接的第二扫描配线411、415对应的线，还显示与发生了短路的第一左侧扫描连接配线所连接的第二扫描配线对应的线。因此，检查员能够检测形成在第一层的第一左侧扫描连接配线651、655发生短路的情况。另外，当形成在第二层的第二左侧扫描连接配线654发生短路时，不仅显示与该第二左侧扫描连接配线654所连接的第二扫描配线414对应的线，还显示与发生了短路的第二左侧扫描连接配线所连接的第二扫描配线对应的线。因此，检查员能够检测形成在第二层的第二左侧扫描连接配线654发生短路的情况。
与其相同，例如当仅使检查用探针接触左侧扫描连接配线用第二检查垫78，而不使检查用探针接触左侧扫描连接配线用第一检查垫76时，检查员能够检测形成在第一层的第一左侧扫描连接配线653的短路、和形成在第二层的第二左侧扫描连接配线652、656的短路。
但是，在上述切割工序中，当切割第一延长配线53和第二延长配线54时，有时不去除该延长配线53、54的一部分而将其残留。另外，由于切割废料飞散在端子配置区域5上，也有扫描端子51与延长配线53、54发生短路的情况。因此，优选的是，检查连接有右侧扫描连接配线611～617和左侧扫描连接配线651～656的扫描端子51间是否被电切割。即，使扫描检查信号从扫描配线用第一检查垫64和扫描配线用第二检查垫68输入到右侧扫描连接配线611～617和左侧扫描连接配线651～656。因而，当不去除第一延长配线53和第二延长配线54的一部分而将其残留，或者扫描端子51与延长配线53、54发生短路等时，在液晶面板1的显示画面上显示图像。由此，能够检查在上述切割工序中产生的不良情况。
然后，当在上述第一检查工序或者第二检查工序中检测配线的断线或短路时，将检测出配线的断线或短路的液晶面板1作为不良品去除。由此，不需要对液晶面板1的不良品安装驱动器，所以能够提高驱动器安装工序的成品率，能够谋求成本降低。代替去除检测出配线的断线或短路的液晶面板1，也可以通过向发生配线的断线或短路的位置照射激光等来修复断线或短路。
接着，在上述检查工序(第一检查工序、第二检查工序)之后进行安装工序。安装工序是在例如有源矩阵基板2的端子配置区域5安装用于驱动控制扫描配线40、41和数据配线42的驱动器的工序。然后，从母基板切出各个液晶面板1。然后，在切出的液晶面板1上粘贴偏光板等的光学薄膜。由此，制造出液晶面板1。制造液晶面板1的方法不限于上述方法。例如，在单色用的液晶面板中，也可以在对置基板上层叠彩色滤光片。另外，也可以在切出各液晶面板之后进行检查工序、安装工序。
如以上所述那样，根据本实施方式的有源矩阵基板2，能够实现如下这样的有源矩阵基板：针对多个层的每一层，能够以简单的构成可靠地检测形成在相同层的相邻的连接配线间(第一右侧扫描连接配线间、第二右侧扫描连接配线间、第一左侧扫描连接配线间、第二左侧扫描连接配线间)的短路。
在本实施方式中，说明了第一扫描配线和第二扫描配线按每1根交替且相互平行地形成在显示区域的有源矩阵基板，但不限于此。例如，在显示区域形成有相互相邻且在一端侧具有扫描信号的输入端的第一组扫描配线和相互相邻且在另一端侧具有扫描信号的输入端的第二组扫描配线的有源矩阵基板(例如，在背景技术中说明的国际公开第2008/015808号小册子所记载的有源矩阵基板)中，当然也能够应用本发明。在这种有源矩阵基板中，右侧扫描连接配线分别连接第一组扫描配线的输入端和扫描端子，左侧扫描连接配线分别连接第二组扫描配线的输入端和扫描端子。另外，例如在仅形成有在一端侧具有扫描信号的输入端的扫描配线来作为扫描配线的有源矩阵基板、或者仅形成有在另一端侧具有扫描信号的输入端的扫描配线来作为扫描配线的有源矩阵基板中，当然也能够应用本发明。
另外，在本实施方式中，说明了在对置基板形成共用电极并向对置基板的共用电极施加共用电压的例子，但不限于此。例如，对在有源矩阵基板形成共用电极的IPS(In Plane Switching)模式的液晶面板，当然也能够应用本发明。在此，也可以不在IPS模式的液晶面板的有源矩阵基板上形成转接垫。另外，对MVA(Multi-Domain VerticalAligned)模式的液晶面板、OCB(Optically Compensated Bend)模式的液晶面板等，当然也能够应用本发明。
另外，在本实施方式中，说明了将独立的存储电容配线形成在显示区域并利用该存储电容配线形成存储电容的CsonCommon型液晶面板的例子，但不限于此。即，对利用相邻的扫描配线来形成存储电容的CsonGate型的液晶面板，当然也能够应用本发明。在此，在CsonGate型的液晶面板中，不需要将独立的存储电容配线形成在显示区域。因此，CsonGate型的液晶面板能够实现高开口率。
另外，在本实施方式中，说明了在显示区域形成有R用数据配线、G用数据配线、B用数据配线的例子，但不限于此。即，也可以在显示区域形成R用扫描配线、G用扫描配线、B用扫描配线。在这种情况下，数据配线不需要按每个RGB来设置。
另外，在本实施方式中，说明了在边缘配线区域针对右侧扫描开关元件、左侧扫描开关元件、和数据配线用开关元件分别形成有共用的开关元件控制配线的例子，但不限于此。例如，也可以在边缘配线区域针对右侧扫描开关元件、左侧扫描开关元件、和数据配线用开关元件分别形成单独的开关元件控制配线。
另外，在本实施方式中，说明了形成在有源矩阵基板上的各检查垫不与形成在其他有源矩阵基板上的各检查垫连接的例子，但不限于此。即，形成在有源矩阵基板上的各检查垫也可以与形成在其他有源矩阵基板上的各检查垫连接。特别是，如果扫描配线用第一检查垫和扫描配线用第二检查垫与形成在其他有源矩阵基板上的检查垫连接，则在有源矩阵基板上产生的静电的去除和分散效果进一步提高。
进而，在本实施方式中，说明了在有源矩阵基板上形成有各检查垫的例子，但不限于此。例如，也可以在与有源矩阵基板不同的基板上形成各检查垫，并在该有源矩阵基板上仅形成能够输入从各检查垫提供的检查信号的检查配线。
即，本发明不限于上述实施方式，能够在权利要求所表示的范围内进行各种变更。即，对于通过组合在权利要求所表示的范围内进行了适当的变更的技术手段而得到的实施方式，也包含在本发明的技术范围内。
产业上的可利用性
如以上那样，本发明作为能够针对多个层的每一层以简单的构成可靠地检测形成在相同层的相邻的连接配线彼此的短路的有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法、和显示装置的检查方法是有用的。

Claims (23)

1.一种有源矩阵基板，包括：
相互平行地形成在显示区域的多根第一配线；
在所述显示区域以与所述多根第一配线交叉的方式且相互平行地形成的多根第二配线；
配置在端子配置区域的多个第一端子和多个第二端子；
分别连接所述多根第一配线和所述多个第一端子的多根第一连接配线；和
分别连接所述多根第二配线和所述多个第二端子的多根第二连接配线，
所述有源矩阵基板的特征在于：
所述多根第一连接配线包括多根第三连接配线和多根第四连接配线，所述第三连接配线形成于与形成有所述第一配线的层相同的层，所述第四连接配线的至少一部分形成于与形成有所述第一配线的层不同的层，且与该形成有所述第一配线的层夹着绝缘材料，
所述有源矩阵基板还包括：
与所述多根第三连接配线的每一根连接的多个第一开关元件；
与所述多根第四连接配线的每一根连接的多个第二开关元件；
第一共用配线，该第一共用配线与所述多个第一开关元件中的互不相邻的第一开关元件连接，并且与所述多个第二开关元件中的互不相邻的第二开关元件连接；和
第二共用配线，该第二共用配线与所述多个第一开关元件中的不连接所述第一共用配线且互不相邻的第一开关元件连接，并且与所述多个第二开关元件中的不连接所述第一共用配线且与互不相邻的第二开关元件连接，
所述第一配线是扫描配线，所述第二配线是数据配线。
2.如权利要求1所述的有源矩阵基板，其特征在于：
所述多根第一配线包括在一端侧具有信号的输入端的多根第三配线和在另一端侧具有信号的输入端的多根第四配线，并且在所述显示区域中按每一根交替地形成所述第三配线和所述第四配线，
所述多根第三连接配线包括多根第五连接配线和多根第六连接配线，所述多根第五连接配线分别连接所述多根第三配线中的互不相邻的第三配线的输入端和所述多个第一端子，所述多根第六连接配线分别连接所述多根第四配线中的互不相邻的第四配线的输入端和所述多个第一端子，
所述多根第四连接配线包括多根第七连接配线和多根第八连接配线，所述多根第七连接配线分别连接所述多根第三配线中的不连接所述第五连接配线且互不相邻的第三配线的输入端和所述多个第一端子，所述多根第八连接配线分别连接所述多根第四配线中的不连接所述第六连接配线且互不相邻的第四配线的输入端和所述多个第一端子，
所述第一开关元件包括：与所述多根第五连接配线的每一根连接的多个第三开关元件；和与所述多根第六连接配线的每一根连接的多个第四开关元件，
所述第二开关元件包括：与所述多根第七连接配线的每一根连接的多个第五开关元件；和与所述多根第八连接配线的每一根连接的多个第六开关元件，
所述第一共用配线包括第三共用配线和第四共用配线，所述第三共用配线与所述多个第三开关元件中的互不相邻的第三开关元件连接，并且与所述多个第五开关元件中的互不相邻的第五开关元件连接，所述第四共用配线与所述多个第四开关元件中的互不相邻的第四开关元件连接，并且与所述多个第六开关元件中的互不相邻的第六开关元件连接，
所述第二共用配线包括第五共用配线和第六共用配线，所述第五共用配线与所述多个第三开关元件中的不连接所述第三共用配线且互不相邻的第三开关元件连接，并且与所述多个第五开关元件中的不连接所述第三共用配线且互不相邻的第五开关元件连接，所述第六共用配线与所述多个第四开关元件中的不连接所述第四共用配线且互不相邻的第四开关元件连接，并且与所述多个第六开关元件中的不连接所述第四共用配线且互不相邻的第六开关元件连接。
3.如权利要求2所述的有源矩阵基板，其特征在于：
所述多个第三开关元件和所述多个第五开关元件形成在所述第三配线的输入端附近的边缘配线区域，
所述多个第四开关元件和所述多个第六开关元件形成在所述第四配线的输入端附近的边缘配线区域。
4.如权利要求2所述的有源矩阵基板，其特征在于：
所述第三共用配线以与所述多根第五连接配线的每一根交叉且与所述多根第七连接配线的每一根交叉的方式形成在边缘配线区域，
所述第五共用配线以与所述多根第五连接配线的每一根交叉且与所述多根第七连接配线的每一根交叉的方式形成在边缘配线区域，
所述第四共用配线以与所述多根第六连接配线的每一根交叉且与所述多根第八连接配线的每一根交叉的方式形成在边缘配线区域，
所述第六共用配线以与所述多根第六连接配线的每一根交叉且与所述多根第八连接配线的每一根交叉的方式形成在边缘配线区域。
5.如权利要求3所述的有源矩阵基板，其特征在于：
所述第三共用配线以与所述多根第五连接配线的每一根交叉且与所述多根第七连接配线的每一根交叉的方式形成在边缘配线区域，
所述第五共用配线以与所述多根第五连接配线的每一根交叉且与所述多根第七连接配线的每一根交叉的方式形成在边缘配线区域，
所述第四共用配线以与所述多根第六连接配线的每一根交叉且与所述多根第八连接配线的每一根交叉的方式形成在边缘配线区域，
所述第六共用配线以与所述多根第六连接配线的每一根交叉且与所述多根第八连接配线的每一根交叉的方式形成在边缘配线区域。
6.如权利要求2～5中的任一项所述的有源矩阵基板，其特征在于：
所述第三共用配线与所述第五共用配线相互相邻，
所述第四共用配线与所述第六共用配线相互相邻，
所述多个第三开关元件中的至少一个形成在所述第三共用配线与所述第五共用配线之间，
所述多个第五开关元件中的至少一个形成在所述第三共用配线与所述第五共用配线之间，
所述多个第四开关元件中的至少一个形成在所述第四共用配线与所述第六共用配线之间，
所述多个第六开关元件中的至少一个形成在所述第四共用配线与所述第六共用配线之间。
7.如权利要求6所述的有源矩阵基板，其特征在于：
所述多个第三开关元件全部形成在所述第三共用配线与所述第五共用配线之间，
所述多个第五开关元件全部形成在所述第三共用配线与所述第五共用配线之间，
所述多个第四开关元件全部形成在所述第四共用配线与所述第六共用配线之间，
所述多个第六开关元件全部形成在所述第四共用配线与所述第六共用配线之间。
8.如权利要求2～5中的任一项所述的有源矩阵基板，其特征在于：
在所述第三共用配线与所述第五共用配线之间形成有与所述第三开关元件和所述第五开关元件的栅极电极连接的第一栅极共用配线，
所述第三开关元件夹着所述第一栅极共用配线地形成在两侧，
所述第五开关元件夹着所述第一栅极共用配线地形成在两侧，
在所述第四共用配线与所述第六共用配线之间形成有与所述第四开关元件和所述第六开关元件的栅极电极连接的第二栅极共用配线，
所述第四开关元件夹着所述第二栅极共用配线地形成在两侧，
所述第六开关元件夹着所述第二栅极共用配线地形成在两侧。
9.如权利要求2～5中的任一项所述的有源矩阵基板，其特征在于，还包括：
多根第一延长配线，该多根第一延长配线从分别连接有所述多根第五连接配线的多个第一端子和分别连接有所述多根第七连接配线的多个第一端子分别延长；
与所述多根第一延长配线的每一根连接的第七共用配线；
多根第二延长配线，该多根第二延长配线从分别连接有所述多根第六连接配线的多个第一端子和分别连接有所述多根第八连接配线的多个第一端子分别延长；和
与所述多根第二延长配线的每一根连接的第八共用配线。
10.如权利要求6所述的有源矩阵基板，其特征在于，还包括：
多根第一延长配线，该多根第一延长配线从分别连接有所述多根第五连接配线的多个第一端子和分别连接有所述多根第七连接配线的多个第一端子分别延长；
与所述多根第一延长配线的每一根连接的第七共用配线；
多根第二延长配线，该多根第二延长配线从分别连接有所述多根第六连接配线的多个第一端子和分别连接有所述多根第八连接配线的多个第一端子分别延长；和
与所述多根第二延长配线的每一根连接的第八共用配线。
11.如权利要求7所述的有源矩阵基板，其特征在于，还包括：
多根第一延长配线，该多根第一延长配线从分别连接有所述多根第五连接配线的多个第一端子和分别连接有所述多根第七连接配线的多个第一端子分别延长；
与所述多根第一延长配线的每一根连接的第七共用配线；
多根第二延长配线，该多根第二延长配线从分别连接有所述多根第六连接配线的多个第一端子和分别连接有所述多根第八连接配线的多个第一端子分别延长；和
与所述多根第二延长配线的每一根连接的第八共用配线。
12.如权利要求8所述的有源矩阵基板，其特征在于，还包括：
多根第一延长配线，该多根第一延长配线从分别连接有所述多根第五连接配线的多个第一端子和分别连接有所述多根第七连接配线的多个第一端子分别延长；
与所述多根第一延长配线的每一根连接的第七共用配线；
多根第二延长配线，该多根第二延长配线从分别连接有所述多根第六连接配线的多个第一端子和分别连接有所述多根第八连接配线的多个第一端子分别延长；和
与所述多根第二延长配线的每一根连接的第八共用配线。
13.如权利要求9所述的有源矩阵基板，其特征在于：
所述多根第二配线在一端侧具有信号的输入端，
还包括：
与所述第二配线的另一端侧连接的多个第七开关元件；
与所述多个第七开关元件中的互不相邻的第七开关元件连接的第九共用配线；和
与所述多个第七开关元件中的不连接所述第九共用配线且互不相邻的第七开关元件连接的第十共用配线。
14.如权利要求10所述的有源矩阵基板，其特征在于：
所述多根第二配线在一端侧具有信号的输入端，
还包括：
与所述第二配线的另一端侧连接的多个第七开关元件；
与所述多个第七开关元件中的互不相邻的第七开关元件连接的第九共用配线；和
与所述多个第七开关元件中的不连接所述第九共用配线且互不相邻的第七开关元件连接的第十共用配线。
15.如权利要求11所述的有源矩阵基板，其特征在于：
所述多根第二配线在一端侧具有信号的输入端，
还包括：
与所述第二配线的另一端侧连接的多个第七开关元件；
与所述多个第七开关元件中的互不相邻的第七开关元件连接的第九共用配线；和
与所述多个第七开关元件中的不连接所述第九共用配线且互不相邻的第七开关元件连接的第十共用配线。
16.如权利要求12所述的有源矩阵基板，其特征在于：
所述多根第二配线在一端侧具有信号的输入端，
还包括：
与所述第二配线的另一端侧连接的多个第七开关元件；
与所述多个第七开关元件中的互不相邻的第七开关元件连接的第九共用配线；和
与所述多个第七开关元件中的不连接所述第九共用配线且互不相邻的第七开关元件连接的第十共用配线。
17.如权利要求1所述的有源矩阵基板，其特征在于：
所述多根第一配线包括：相互相邻且在一端侧具有信号的输入端的第一组第一配线；和相互相邻且在另一端侧具有信号的输入端的第二组第一配线，
所述多根第一连接配线分别连接所述第一组第一配线的输入端和所述多个第一端子，并且分别连接所述第二组第一配线的输入端和所述多个第一端子。
18.一种显示装置，其特征在于：
包括权利要求1～17中的任一项所述的有源矩阵基板。
19.如权利要求18所述的显示装置，其特征在于：
所述显示装置是液晶显示装置。
20.一种有源矩阵基板或者显示装置的检查方法，其是权利要求1所述的有源矩阵基板或者包括权利要求1所述的有源矩阵基板的显示装置的检查方法，其特征在于，包括以下工序：
使所述第一开关元件为导通状态，并且向所述第一共用配线和所述第二共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行所述第三连接配线的检查；和
使所述第二开关元件为导通状态，并且向所述第一共用配线和所述第二共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行所述第四连接配线的检查。
21.一种有源矩阵基板或者显示装置的检查方法，其是权利要求2～8中的任一项所述的有源矩阵基板、或者包括权利要求2～8中的任一项所述的有源矩阵基板的显示装置的检查方法，其特征在于，包括以下工序：
使所述第三开关元件为导通状态，并且向所述第三共用配线和所述第五共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行所述第五连接配线的检查；
使所述第五开关元件为导通状态，并且向所述第三共用配线和所述第五共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行所述第七连接配线的检查；
使所述第四开关元件为导通状态，并且向所述第四共用配线和所述第六共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行所述第六连接配线的检查；和
使所述第六开关元件为导通状态，并且向所述第四共用配线和所述第六共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行所述第八连接配线的检查。
22.一种有源矩阵基板或者显示装置的检查方法，其是权利要求9～12中任一项所述的有源矩阵基板、或者包括权利要求9～12中任一项所述的有源矩阵基板的显示装置的检查方法，其特征在于，包括以下工序：
通过从所述第七共用配线输入检查信号，进行所述第三配线的检查；
通过从所述第八共用配线输入检查信号，进行所述第四配线的检查；
切割所述多根第一延长配线和所述多根第二延长配线；
使所述第三开关元件为导通状态，并且向所述第三共用配线和所述第五共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行所述第五连接配线的检查；
使所述第五开关元件为导通状态，并且向所述第三共用配线和所述第五共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行所述第七连接配线的检查；
使所述第四开关元件为导通状态，并且向所述第四共用配线和所述第六共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行所述第六连接配线的检查；和
使所述第六开关元件为导通状态，并且向所述第四共用配线和所述第六共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行所述第八连接配线的检查。
23.一种有源矩阵基板或者显示装置的检查方法，其是权利要求13～16中任一项所述的有源矩阵基板、或者包括权利要求13～16中任一项所述的有源矩阵基板的显示装置的检查方法，其特征在于，包括以下工序：
通过从所述第七共用配线输入检查信号，进行所述第三配线的检查；
通过从所述第八共用配线输入检查信号，进行所述第四配线的检查；
使所述第七开关元件为导通状态，并且向所述第九共用配线和所述第十共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行所述第二配线的检查；
切割所述多根第一延长配线和所述多根第二延长配线；
使所述第三开关元件为导通状态，并且向所述第三共用配线和所述第五共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行所述第五连接配线的检查；
使所述第五开关元件为导通状态，并且向所述第三共用配线和所述第五共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行所述第七连接配线的检查；
使所述第四开关元件为导通状态，并且向所述第四共用配线和所述第六共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行所述第六连接配线的检查；和
使所述第六开关元件为导通状态，并且向所述第四共用配线和所述第六共用配线输入相互独立的检查信号，从而进行所述第八连接配线的检查。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102099847B (zh) * 2008-07-23 2013-03-13 夏普株式会社 有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法
JP2011186216A (ja) * 2010-03-09 2011-09-22 Hitachi Displays Ltd 液晶表示装置及びその製造方法
WO2012002199A1 (ja) * 2010-06-28 2012-01-05 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板、表示装置、およびこれらの検査方法
WO2012147962A1 (ja) * 2011-04-28 2012-11-01 シャープ株式会社 液晶表示装置
KR101947163B1 (ko) * 2012-02-10 2019-02-13 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치
CN104246860B (zh) * 2012-04-25 2016-08-17 夏普株式会社 矩阵基板和显示装置
KR101981531B1 (ko) 2012-10-19 2019-05-23 엘지디스플레이 주식회사 터치 스크린 패널
JP6051011B2 (ja) * 2012-10-22 2016-12-21 株式会社ジャパンディスプレイ 液晶表示装置およびその製造方法
KR101992273B1 (ko) * 2012-10-22 2019-10-01 삼성디스플레이 주식회사 유기전계발광 표시장치 및 그 검사방법
KR102043624B1 (ko) * 2012-12-17 2019-11-12 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치 및 그 구동방법
CN103713410A (zh) 2013-12-31 2014-04-09 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及显示装置
TWI571989B (zh) * 2014-01-28 2017-02-21 友達光電股份有限公司 顯示基板結構
JP6403796B2 (ja) * 2014-11-21 2018-10-10 シャープ株式会社 表示装置
CN107003580B (zh) * 2014-11-21 2020-11-10 夏普株式会社 显示装置
KR102349282B1 (ko) * 2015-03-27 2022-01-11 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 이의 제조 방법
KR102387786B1 (ko) * 2015-07-28 2022-04-15 엘지디스플레이 주식회사 백플레인 기판 및 이를 이용한 플렉서블 디스플레이
KR20170028464A (ko) * 2015-09-03 2017-03-14 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR102403234B1 (ko) 2016-06-20 2022-05-27 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
JP6152464B1 (ja) 2016-11-05 2017-06-21 株式会社セレブレクス 狭額縁ディスプレイモジュール及びデータ出力装置
JP2018128487A (ja) * 2017-02-06 2018-08-16 セイコーエプソン株式会社 電気光学パネル、電気光学装置および電子機器
WO2019031395A1 (ja) * 2017-08-10 2019-02-14 シャープ株式会社 Ｔｆｔモジュール、ｔｆｔモジュールを備えた走査アンテナ、ｔｆｔモジュールを備えた装置の駆動方法、およびｔｆｔモジュールを備えた装置の製造方法
US10852591B2 (en) * 2018-06-29 2020-12-01 Sharp Kabushiki Kaisha Image display device
WO2020039554A1 (ja) * 2018-08-23 2020-02-27 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板、表示装置及び母基板
KR102720692B1 (ko) * 2018-11-08 2024-10-23 삼성디스플레이 주식회사 표시장치
CN110649045B (zh) * 2019-10-31 2022-08-26 京东方科技集团股份有限公司 有机发光显示面板及显示装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1485666A (zh) * 2002-07-17 2004-03-31 株式会社日立显示器 液晶显示装置
CN1495477A (zh) * 2002-09-16 2004-05-12 ���ǵ�����ʽ���� 显示器基板、液晶显示器和制造该液晶显示器的方法
JP2004226931A (ja) * 2003-01-27 2004-08-12 Kyocera Corp 液晶表示装置

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3247799B2 (ja) * 1994-06-09 2002-01-21 シャープ株式会社 液晶表示パネルおよびその検査方法
JP3276557B2 (ja) * 1996-05-23 2002-04-22 三菱電機株式会社 液晶表示装置
JPH11119683A (ja) * 1997-10-13 1999-04-30 Fujitsu Ltd 液晶表示パネルの検査方法
KR100276442B1 (ko) * 1998-02-20 2000-12-15 구본준 액정표시장치 제조방법 및 그 제조방법에 의한 액정표시장치
JP3634138B2 (ja) * 1998-02-23 2005-03-30 株式会社 日立ディスプレイズ 液晶表示装置
GB2342213B (en) * 1998-09-30 2003-01-22 Lg Philips Lcd Co Ltd Thin film transistor substrate with testing circuit
RU2173909C1 (ru) 2000-06-15 2001-09-20 Научно-исследовательский институт "Волга" Катодолюминесцентный матричный экран
JP2002098992A (ja) 2000-09-22 2002-04-05 Toshiba Corp 液晶表示装置
JP4006012B2 (ja) 2001-09-28 2007-11-14 株式会社日立製作所 表示装置および液晶表示装置
JP3909572B2 (ja) 2001-09-28 2007-04-25 株式会社日立製作所 表示装置
JP2003241217A (ja) 2002-02-15 2003-08-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示パネル及びそれを用いた液晶表示装置
JP2004325956A (ja) 2003-04-25 2004-11-18 Sharp Corp 表示装置及びその製造方法
JP4178090B2 (ja) 2003-09-19 2008-11-12 シャープ株式会社 電極配線基板および表示装置
JP2005241988A (ja) 2004-02-26 2005-09-08 Alps Electric Co Ltd 表示装置
JP2005266529A (ja) * 2004-03-19 2005-09-29 Sharp Corp 表示装置の製造方法及び表示装置
JP2006317763A (ja) * 2005-05-13 2006-11-24 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 液晶表示装置
KR101129618B1 (ko) * 2005-07-19 2012-03-27 삼성전자주식회사 액정 표시 패널 및 이의 검사 방법과 이의 제조방법
CN101443700B (zh) 2006-07-31 2011-05-04 夏普株式会社 有源矩阵基板、显示装置、和有源矩阵基板的检查方法
JP2008064961A (ja) * 2006-09-06 2008-03-21 Mitsubishi Electric Corp 配線構造、及び表示装置
JP4813621B2 (ja) * 2008-03-14 2011-11-09 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板、表示装置、アクティブマトリクス基板の検査方法、および表示装置の検査方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1485666A (zh) * 2002-07-17 2004-03-31 株式会社日立显示器 液晶显示装置
CN1495477A (zh) * 2002-09-16 2004-05-12 ���ǵ�����ʽ���� 显示器基板、液晶显示器和制造该液晶显示器的方法
JP2004226931A (ja) * 2003-01-27 2004-08-12 Kyocera Corp 液晶表示装置

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Publication number Publication date
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