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CN103713410A - 阵列基板及显示装置 - Google Patents

阵列基板及显示装置 Download PDF

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CN103713410A CN201310752787.2A CN201310752787A CN103713410A CN 103713410 A CN103713410 A CN 103713410A CN 201310752787 A CN201310752787 A CN 201310752787A CN 103713410 A CN103713410 A CN 103713410A
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宋泳锡
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Abstract

本发明提供一种阵列基板及显示装置,属于显示技术领域,其可解决现有的阵列基板无法对各条引线进行单独检测、故障定位不准确的问题。本发明的阵列基板中,阵列基板包括展开区、边缘区和用于进行显示的显示区,展开区和边缘区与显示区相连、且分别位于显示区不相邻的两侧;阵列基板上设置有多条引线,引线穿过显示区且伸入边缘区中;引线一端为用于连接驱动芯片的输入端,引线输入端位于展开区中;阵列基板还包括:设于各引线远离输入端一侧的、用于与检测探针接触的接头,接头位于边缘区。

Description

阵列基板及显示装置
技术领域
本发明属于显示技术领域,具体涉及一种阵列基板及显示装置。
背景技术
对于具有液晶显示面板、有机发光二极管(OLED)显示面板等显示面板的显示装置,先要对显示面板进行检测后才会进行绑定驱动芯片(Driver IC)、组装等后续操作。
现有显示面板的检测方法如图1所示,在阵列基板上具有用于进行显示的显示区92,显示区92中设有大量引线(以数据线为例,栅极线可用类似检测方法),显示区92一侧设有展开区91(FanOut),引线1在该展开区91中展开后进入显示区92,展开区91外的切割区931中设有与多条引线1连接的短路条8;这样,即可通过短路条8向多条引线1输入信号,并根据显示面板的显示状况检测出引线1是否存在问题;检测完成后,再将切割区931及其中的短路条8切掉,展开区91中剩余的引线输入端11则用于连接驱动芯片。
现有的使用短路条的检测方法虽然便捷,但其检测信号却必然同时输入到多条数据线中,故无法实现对各条引线的单独检测,也无法准确定位故障。
发明内容
本发明所要解决的技术问题包括,针对现有的阵列基板无法对各条引线进行单独检测、故障定位不准确的问题,提供一种可对各条引线进行单独检测、故障定位准确的阵列基板及显示装置。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种阵列基板,其中,
所述阵列基板包括展开区、边缘区和用于进行显示的显示区,所述展开区和边缘区与显示区相连、且分别位于显示区不相邻的两侧;
所述阵列基板上设置有多条引线,所述引线穿过显示区且伸入边缘区中;
所述引线一端为用于连接驱动芯片的输入端,所述引线输入端位于所述展开区中;
所述阵列基板还包括:设于所述各引线远离输入端一侧的、用于与检测探针接触的接头,所述接头位于边缘区。
本发明的阵列基板中,各引线(数据线、栅极线等)上直接设有接头(Pad),因此可用检测探针(Pin)分别与不同的接头接触,分别向不同引线中通入不同信号,即各引线中的信号是相互独立的,从而其可对各条引线进行单独检测,进而准确定位故障;其中,由于展开区中引线排布很密集,引线间的距离很短,没有设置接头的位置,因此本发明的阵列基板中,接头是设在远离引线输入端一侧(即设在远离展开区的一侧)的,该位置的引线间距离较大,故可容易的设置接头。
优选的是,所述阵列基板还包括:设于边缘区的引线中的、能导通和关断的开关单元,所述接头比开关单元更远离引线输入端。
进一步优选的是,所述边缘区远离显示区的部分为切割区,所述切割区用于在检测后被切掉;所述接头设于切割区中,所述开关单元设于切割区与显示区之间的边缘区中。
进一步优选的是,所述开关单元为薄膜晶体管,每个所述薄膜晶体管的第一极、第二极与同一根引线相连,所述薄膜晶体管的栅极与用于传递控制信号的控制线相连。
进一步优选的是,所述控制线位于所述边缘区中。
进一步优选的是,所述控制线连接用于输出控制信号的控制信号端口;或所述控制线上设有用于引入控制信号的控制信号接头。
进一步优选的是,所述控制信号端口或控制信号接头位于所述边缘区中。
优选的是,所述边缘区远离显示区的部分为切割区,所述切割区用于在检测后被切掉;所述接头设于切割区中。
优选的是,所述引线包括栅极线和/或数据线。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是提供一种显示装置,其包括上述的阵列基板。
本发明的显示装置中包括上述的阵列基板,因此其可对各条数据线进行单独检测,且可准确定位故障。
附图说明
图1为现有的阵列基板的俯视结构示意图;
图2为本发明的实施例1的一种阵列基板的俯视结构示意图;
图3为本发明的实施例1的一种阵列基板的在切割掉切割区后的俯视结构示意图;
图4为本发明的实施例1的另一种阵列基板的俯视结构示意图;
其中附图标记为:1、引线;11、引线输入端;2、接头;3、开关单元;31、控制线;311、控制信号接头;8、短路条;91、展开区;92、显示区;93、边缘区;931、切割区。
具体实施方式
为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。
实施例1:
如图2至图4所示,本实施例提供一种阵列基板。
优选的,该阵列基板可为液晶显示装置的阵列基板、有机发光二极管显示装置的阵列基板等不同形式。依照类型的不同,阵列基板上可相应的具有薄膜晶体管、像素电极、公共电极线、阴极、阳极、有机发光层等不同结构,在此不再详细描述。
阵列基板优选包括展开区91、显示区92、边缘区93。在阵列基板上设有多条引线1,各引线1一端为用于与驱动芯片相连的输入端11,而在各引线1远离输入端11的一侧,还设有用于与检测探针接触的接头2。
其中,显示区92用于进行显示,引线1穿过该显示区92,在显示区92中,还设有薄膜晶体管阵列、像素单元(包括像素电极、有机发光二极管等)等其他已知结构,在此不再详细描述。
展开区91位于显示区92的一侧外部,如图2至图4所示,引线输入端11位于该展开区91中。由于在显示区92中引线1间的距离等于像素单元的宽度(或长度),故其间距较大,而驱动芯片的端口间距离很小,因此多条引线1需要先在展开区91中“收窄”,之后引线输入端11再与驱动芯片的端口相连。
在显示区92远离展开区91一侧的外部则为边缘区93,引线1伸入该边缘区93中,且接头2设于该边缘区93中。
如前所述,在展开区91中,各引线1间的距离很短,故无法在每根引线1上设置接头2,而只能采取“短路条”检测结构,而这种检测结构中各引线1相互电连接,故所有引线1中的信号必然相同,这样就无法实现对各引线1的单独检测,不能准确定位故障。而在本实施例的阵列基板中,接头2设在各引线1远离输入端11的一侧(即边缘区93中),在边缘区93中,各引线1间的距离较大,有足够的空间设置接头2,从而可用检测探针经过接头2向不同引线1单独输入不同数据,实现了对各引线1的单独检测,提高了检测准确度。
进一步优选的,如图2、图3所示,在边缘区93的引线1中还设有能导通和关断的开关单元3,且接头2比开关单元3更远离引线输入端11。
如图1所示,在现有的阵列基板中,引线1一直延伸到阵列基板边缘,即其远离输入端11一侧的端头是暴露在外的,且在显示时,整条引线1上都会带电,在电压作用下,引线1暴露的端头会迅速发生腐蚀,当腐蚀延伸到显示区92中时就会对正常显示造成影响。而在本实施例的阵列基板中,在边缘区93中设有开关单元3,在检测时,将该开关单元3导通,其对检测无影响;而在检测完成后,则断开该开关单元3,并切掉切割区931,这样,如图3所示,在进行正常显示时,其引线1的暴露端并不带电(因电压被开关单元3阻断),因此引线1的腐蚀速度明显降低;另外,即使引线1发生腐蚀,则腐蚀延伸到开关单元3时也往往就会被阻断(因为断开的开关单元3中必然包括不连接的部分),故引线1的腐蚀不会延伸到显示区92,不会对正常显示造成影响。
更优选的,在边缘区93中远离显示区92的部分为切割区931,切割区931在检测完成后会被切掉,而上述的接头2设于切割区931中,但开关单元3则位于切割区931与显示区92之间的边缘区93中。
显然,接头2部分的宽度远大于引线1其他部分的宽度,因此接头2的存在不可避免的会对引线1的性能造成一定影响(如电性能、抗腐蚀性能等),因此优选将接头2设在切割区931中,在检测完成后切掉,以免其影响正常显示。
优选的,上述开关单元3为薄膜晶体管,每个薄膜晶体管的第一极、第二极与同一根引线1相连,而栅极则与用于传递控制信号的控制线31相连。
也就是说,可用薄膜晶体管作为开关单元3,即将薄膜晶体管串联在引线1中,其第一极、第二极(也就是源极和漏极)均与引线1相连,而且栅极则与控制线31相连,从而可受控制线31的控制而导通/关断。薄膜晶体管是在阵列基板上最常用的开关单元3,其技术成熟、结构简单、容易控制、可靠性高、成本低,且可与显示区92中的薄膜晶体管同步制造,因此优选用薄膜晶体管作为开关单元3。
当然,如果选用其它能起到开关作用的结构作为开关单元3,也是可行的。
优选的,上述控制线31位于边缘区93中,
显然,在显示区92中,还具有其他引线1、用于进行驱动的薄膜晶体管阵列、像素电极(或阳极)等其他显示结构,因此,在显示区92中设置控制线31难度较高;同时,上述薄膜晶体管(即开关单元3)是设在显示区92中的,故将控制线31也设在显示区92中也便于对薄膜晶体管进行控制。
优选的,如图2、图3所示,控制线31上可设置用于引入控制信号的控制信号接头311。
也就是说,可在控制线31上设置控制信号接头311,并在检测时用控制探针接触该控制信号接头311,输入控制信号而使薄膜晶体管导通。
优选的,作为本实施例的另一种方式,控制线31也可与用于产生连接控制信号的控制信号端口相连。
也就是说,也可在阵列基板上设有能产生控制信号的控制信号端口,并使控制线31与该控制信号端口相连。
显然,优选的,从方便的角度考虑,上述控制信号接头311或控制信号端口也可设在边缘区93中。
优选的,所述边缘区93远离显示区92的部分为切割区931,所述切割区931用于在检测后被切掉;所述接头2设于切割区931中。
当然,应当理解,以上的开关单元3、切割区931等都不是必须的,例如,可如图4所示,没有开关单元3,而接头2直接位于切割区931中;或者,有开关单元3,但没有切割区931,在检测完成后开关单元3、接头2均保留在阵列基板上;再或者,也可既没有开关单元3,也没有切割区931,即接头2单独保留在检测完成后的阵列基板中。
优选的,引线1包括栅极线和/或数据线,即本实施例优选用于栅极线和数据线。当然,如果阵列基板还包括其他要进行测试的引线1,也可使用本发明的结构。
当然,应当理解,在本实施例和相应的附图中,均是以一种线(如数据线)作为引线1例子,而当引线1包括多种线时(例如数据线和栅极线),每种线可有各自的输入端11,由此它们各自的展开区91、边缘区93等可分别位于不同位置。
实施例2:
本实施例提供一种显示装置,其包括上述的阵列基板。
所述显示装置可以为:液晶面板、电子纸、OLED面板、手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。
本实施的显示装置中包括上述的阵列基板,因此其可对各条数据线进行单独检测,且可准确定位故障。
可以理解的是,以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式,然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言,在不脱离本发明的精神和实质的情况下,可以做出各种变型和改进,这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种阵列基板,其特征在于,
所述阵列基板包括展开区、边缘区和用于进行显示的显示区,所述展开区和边缘区与显示区相连、且分别位于显示区不相邻的两侧;
所述阵列基板上设置有多条引线,所述引线穿过显示区且伸入边缘区中;
所述引线一端为用于连接驱动芯片的输入端,所述引线输入端位于所述展开区中;
所述阵列基板还包括:设于所述各引线远离输入端一侧的、用于与检测探针接触的接头,所述接头位于边缘区。
2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,还包括:
设于边缘区的引线中的、能导通和关断的开关单元,所述接头比开关单元更远离引线输入端。
3.根据权利要求2所述的阵列基板,其特征在于,
所述边缘区远离显示区的部分为切割区,所述切割区用于在检测后被切掉;
所述接头设于切割区中,所述开关单元设于切割区与显示区之间的边缘区中。
4.根据权利要求2所述的阵列基板,其特征在于,
所述开关单元为薄膜晶体管,每个所述薄膜晶体管的第一极、第二极与同一根引线相连,所述薄膜晶体管的栅极与用于传递控制信号的控制线相连。
5.根据权利要求4所述的阵列基板,其特征在于,
所述控制线位于所述边缘区中。
6.根据权利要求4所述的阵列基板,其特征在于,
所述控制线连接用于输出控制信号的控制信号端口;
所述控制线上设有用于引入控制信号的控制信号接头。
7.根据权利要求6所述的阵列基板,其特征在于,
所述控制信号端口或控制信号接头位于所述边缘区中。
8.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,
所述边缘区远离显示区的部分为切割区,所述切割区用于在检测后被切掉;
所述接头设于切割区中。
9.根据权利要求1至8中任意一项所述的阵列基板,其特征在于,
所述引线包括栅极线和/或数据线。
10.一种显示装置,其特征在于,包括:
权利要求1至9中任意一项所述的阵列基板。
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