KR101152491B1 - 액정표시소자 - Google Patents

Abstract

본 발명은 액정패널의 불량 검사시에 사이드효과가 발생하는 것을 효과적으로 방지할 수 있는 액정표시소자에 관한 것이다.

본 발명에 따른 액정표시소자는, 복수의 게이트배선 및 데이터배선에 의해 정의되는 복수의 화소를 포함하는 액정패널; 상기 액정패널의 외곽영역에 형성되어 게이트배선에 신호를 인가하는 복수의 게이트패드; 상기 게이트패드에 연결되어 게이트 테스트신호를 인가하는 게이트 테스트패드; 상기 게이트 테스트패드에 공통으로 연결되는 게이트 오토프로브패드; 상기 게이트패드와 게이트 테스트패드 사이에 설치되어 게이트 테스트신호가 인가됨에 따라 게이트 테스트신호를 게이트패드로 공급하는 트랜지스터; 상기 액정패널의 외곽영역에 형성되어 데이터배선에 신호를 인가하는 복수의 데이터패드; 상기 데이터패드에 연결되어 데이터 테스트신호를 인가하는 데이터 테스트패드; 상기 데이터 테스트패드에 공통으로 연결되는 데이트 오토프로브패드; 및 상기 데이터패드와 데이터 테스트패드 사이에 설치되어 데이터 테스트신호가 인가됨에 따라 데이터 테스트신호를 데이터패드로 공급하는 트랜지스터를 포함하여 구성된다.

액정표시소자, 패드부 트랜지스터, 테스트패드, 인에이블패드, 사이드효과

Description

액정표시소자{LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE}

도 1은 종래 액정패널의 개략적인 구조를 나타내는 평면도.

도 2는 종래 액정패널의 불량 검사시 사용되는 게이트 패드부의 구조를 도식적으로 나타내는 도면

도 3은 본 발명에 따른 액정패널의 개략적인 구조를 나타내는 평면도.

도 4는 본 발명에 따른 액정패널의 불량검사시 사용되는 패드부의 구조를 도식적으로 나타내는 도면

도 5는 본 발명에 따른 액정패널의 테스트패드와 오토프로브패드의 연결구조를 도식적으로 나타내는 도면

도 6은 본 발명에 따른 액정패널의 데이터패드부를 나타내는 평면도

도 7은 본 발명에 따른 액정패널의 데이터패드부를 나타내는 단면도

도 8은 본 발명에 따른 액정패널의 게이트패드부를 나타내는 평면도

도 9은 본 발명에 따른 액정패널의 게이트패드부를 나타내는 단면도

** 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 **

114: 게이트패드

115: 데이터패드

124: 게이트 테스트패드

125: 데이터 테스트패드

130: 인에이블패드

135: 패드부 트랜지스터

140a, 140b: 오토프로브패드

141: 단락패턴

본 발명은 액정표시소자에 관한 것으로, 특히 점등검사를 위하여 패드부에 트랜지스터를 적용하는 방식에서 게이트패드 및 데이터패드의 단락단자를 AlNd 합금으로 구성하여 점등 검사시에 사이드효과(side effect)의 발생을 방지할 수 있는 액정표시소자에 관한 것이다.

최근 디스플레이소자는 시각정보 전달매체로서 그 중요성이 한층 더 강조되고 있으며, 여러 가지 종류의 경쟁력 있는 디스플레이소자들이 많이 개발되어지고 있다. 그러한 여러 가지 종류의 디스플레이소자 중에서 향후 주요한 위치를 점하기 위해서는 저소비전력화, 박형화, 경량화, 고화질화 등의 요건을 충족시켜야 한다.

현재 평판 디스플레이(FPD: Flat Panel Display)의 주력 제품인 액정표시소자(LCD: Liquid Crystal Display)는 디스플레이의 이러한 조건들을 만족시킬 수 있는 성능뿐만 아니라 양산성까지 갖추었기 때문에, TV나 자동차용 네비게이션시스템 등 여러 응용분야에 널리 사용되고 있으며, 기존의 음극선관(Cathode Ray Tube; CRT)이 지배하고 있던 시장을 대체할 수 있는 핵심 디스플레이소자로서 자리 잡고 있다.

일반적으로, 액정표시소자는 매트릭스(matrix) 형태로 배열된 액정셀들에 화상정보에 따른 데이터신호를 개별적으로 공급하여, 상기 액정셀들의 광투과율을 조절함으로써 원하는 화상을 표시할 수 있도록 한 표시장치이다. 상기 액정표시소자는 복수의 화소가 매트릭스형태로 배열되는 액정패널과, 상기 화소를 구동시키는 게이트구동부와 데이터구동부를 포함하여 이루어진다.

상기 액정패널은 균일한 셀-갭이 유지되도록 합착된 박막트랜지스터 어레이 기판, 컬러필터 기판 및 상기 두 기판 사이에 충진된 액정층으로 구성된다.

그리고, 상기 박막트랜지스터 어레이 기판과 컬러필터기판이 합착된 액정패널에는 공통전극과 화소전극이 형성되어 상기 액정층에 전계를 인가한다.

따라서, 상기 공통전극에 전압이 인가된 상태에서 상기 화소전극에 인가되는 화상정보의 전압을 제어하게 되면, 상기 액정층의 액정은 상기 공통전극과 화소전극 사이의 전계에 따라 유전이방성에 의해 회전함으로써, 화소별로 빛을 선택적으로 투과시키거나 차단시켜 문자나 화상을 표시하게 된다.

상기한 바와 같은 액정표시소자는 상기 게이트구동부 및 데이터구동부가 결합되기 전의 액정패널 상태에서 검사를 실시하여 불량여부를 확인하고 있다. 이와 같은 검사를 통상 오토프로브(auto-probe) 검사라 한다.

도 1은 상기와 같은 액정패널의 개략적인 구조를 나타내는 평면도이다.

도 1에 도시된 바와 같이, 액정패널은 복수의 화소가 매트릭스형태로 배열되 는 화상표시부(13)와, 패드영역에 형성되어 상기 화상표시부(13)에 형성된 복수의 게이트배선과 접속되는 복수의 게이트패드(14) 및 복수의 데이터배선과 접속되는 복수의 데이터패드(15)로 구성된다. 이때, 게이트패드(14)와 데이터패드(15)는 컬러필터기판(2)과 중첩되지 않는 박막트랜지스터 어레이 기판(1)의 외곽에 형성되며, 상기 게이트패드(14)는 게이트구동부로부터 공급되는 주사신호를 화상표시부(13)의 게이트배선에 공급하고, 상기 데이터패드(15)는 데이터구동부로부터 공급되는 화상정보를 화상표시부(13)의 데이터배선에 공급한다.

도면에는 도시하지 않았지만, 상기 박막트랜지스터 어레이 기판(1)과 컬러필터기판(2)은 상기 화상표시부(13)의 외곽에 형성된 실패턴(seal pattern)에 의해 일정한 셀-갭(cell-gap)이 유지되도록 합착되어 액정패널을 형성하게 된다.

전술한 바와 같이, 액정 표시소자는 상기 게이트구동부 및 데이터구동부가 결합되기 전에 액정패널 상태에서 검사를 실시하여 불량발생 여부를 확인해야만 한다.

상기 액정패널을 검사하기 위해서는 모든 게이트패드(14)와 데이터패드(15)를 통해 액정패널의 게이트배선과 데이터배선에 테스트신호를 인가함으로써, 액정패널의 이상 여부를 검사한다.

테스트신호의 인가는 게이트패드(14)와 데이터패드(15)에 연결된 게이트 테스트패드(24)와 데이터 테스트패드(25)를 통해 이루어진다. 상기 게이트 테스트패드(24)와 데이터 테스트패드(25)는 니들(도면표시하지 않음)이 접촉함에 따라 테스트신호(즉, 구동신호)가 인가되며, 이 신호가 각각 게이트패드(14) 및 데이터패드 (15)를 통해 게이트배선과 데이터배선에 인가된다.

도 2는 도 1에 도시된 게이트패드 영역의 게이트 테스트패드부의 구조를 나타내는 도면이다. 이때, 액정패널의 불량 검사 방식은 패드부에 트랜지스터가 구비된 방식이다. 도 2에 도시된 바와 같이, 게이트 테스트패드(24)는 게이트패드(14)와 연결되어 있고, 상기 게이트 테스트패드(24)와 게이트패드(14) 사이에는 각각 패드부 트랜지스터(35)가 구비되어 있다. 이때, 상기 패드부 트랜지스터(35)의 소스는 게이트 테스트패드(24)와 연결되고 드레인은 게이트패드(14)와 연결된다.

또한, 패드부 트랜지스터(35)의 게이트는 인에이블패드(30)에 연결되어 있다. 상기 인에이블패드(30)는 니들이 접촉함에 따라 인에이블신호가 입력되어 상기 트랜지스터(35)를 턴온시킴으로써 액정표시소자를 오토프로브로 검사하기 위한 것이다.

상기와 같은 구조의 액정표시소자에서, 니들이 인에이블패드(30) 및 게이트 테스트패드(24)에 접촉하여 인에이블신호와 테스트신호를 공급하면, 상기 인에이블신호에 의해 트랜지스터(35)가 턴온되어 테스트신호가 상기 트랜지스터를 거쳐 게이트패드(14)에 인가되어 게이트배선에 테스트신호가 공급된다. 이 테스트신호가 공급됨에 따라 각 화소의 점등상태를 파악하여 액정패널의 불량여부를 검사하게 된다.

도 2에서는 게이트패드부의 게이트 테스트패드의 구조와 검사방법에 대해서만 설명하였지만, 데이터패드부의 데이터 테스트패드의 구조와 검사방법도 게이트패드부와 동일하므로 그 설명을 생략한다.

그런데, 상기와 같은 구조의 액정패널에서는 점등검사를 포함한 불량 검사를 위하여 상기 게이트패드와 데이터패드의 갯 수만큼의 오토프로브 니들이 필요하다.

이렇게 많은 갯 수의 오토프로브 니들이 사용되게 되면, 검사 장비의 제조비용이 증가하고, 니들이 패드에 접촉하며 패드부에 찍힘 불량이 발생할 확률이 함께 증가하는 문제점을 가지고 있다.

본 발명의 다른 목적 및 특징들은 후술되는 발명의 구성 및 특허청구범위에서 설명될 것이다.

본 발명은 상기한 점을 감안하여 이루어진 것으로, 패드부에 트랜지스터가 구비된 방식의 오토프로브 검사를 위하여 인에이블패드에 연결된 패드부 트랜지스터를 구비하고, 개개의 게이트패드와 개개의 데이터패드를 단락시켜 공통으로 신호를 인가함으로써 불량 검사에 사용되는 오토프로브 니들의 갯 수를 감소시키는 것을 목적으로 한다.

또한 상기 개개의 게이트패드와 개개의 데이터패드를 단락시키기 위한 단락 단자를, 박막트랜지스터 어레이 기판을 구성하는 게이트전극의 구성물질인 AlNd로 구성하여 전압강하에 의한 사이드효과를 방지하는 것을 또 다른 목적으로 한다.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정표시소자는, 복수의 게이트배선 및 데이터배선에 의해 정의되는 복수의 화소를 포함하는 액정패널; 상기 액정패널의 외곽영역에 형성되어 게이트배선에 신호를 인가하는 복수의 게이트패드; 상기 게이트패드에 연결되어 게이트 테스트신호를 인가하는 게이트 테스트패드; 상기 게이트 테스트패드에 공통으로 연결되는 게이트 오토프로브패드; 상기 게이트패드와 게이트 테스트패드 사이에 설치되어 게이트 테스트신호가 인가됨에 따라 게이트 테스트신호를 게이트패드로 공급하는 트랜지스터; 상기 액정패널의 외곽영역에 형성되어 데이터배선에 신호를 인가하는 복수의 데이터패드; 상기 데이터패드에 연결되어 데이터 테스트신호를 인가하는 데이터 테스트패드; 상기 데이터 테스트패드에 공통으로 연결되는 데이트 오토프로브패드; 및 상기 데이터패드와 데이터 테스트패드 사이에 설치되어 데이터 테스트신호가 인가됨에 따라 데이터 테스트신호를 데이터패드로 공급하는 트랜지스터를 포함하여 구성된다.

본 발명에서는 액정패널의 불량 검사시에 사용되는 오토프로브 니들의 갯 수를 줄이기 위하여 테스트패드들을 공통으로 오토프로브패드에 연결시킨다.

이때, 상기 테스트패드들을 공통으로 오토프로브패드에 연결시키기 위한 도전체의 저항이 크면, 상기 오토프로브패드에 가까운 화소의 휘도가 먼 화소의 휘도보다 높아지는 사이드효과가 발생할 수 있다. 상기 사이드효과가 발생하는 조건에서는 점등불량 외의 다양한 현상의 불량을 판단하는 것에 어려움이 발생한다.

따라서, 본 발명에서는 상기 사이드효과의 발생을 방지하기 위하여 게이트전극층의 구성물질인 AlNd와 같은 금속물질을 사용하여 상기 테스트패드들을 단락시킨다.

한편, 액정패널의 불량 검사시 트랜지스터를 온오프하여 테스트신호를 인가하는 방식은 주로 소형 액정패널에 적용된다. 소형 액정패널은 액정패널의 크기가 작아서, 액정패널 외곽부에 형성되는 패드부의 구조가 대형 액정패널의 경우와 다른 것이 일반적이다.

도 3은 소형 액정패널의 구조를 나타내는 평면도로서, 본 발명에서 설명하는 액정패널의 불량 검사방법이 실제 적용된 액정패널(110)의 일례를 나타내는 도면이다.

도 3에 도시된 바와 같이, 소형 액정패널(110)에서는 복수의 게이트배선과 데이터배선에 정의되는 복수의 화소가 형성된 화상표시부(113)의 좌우 및 하부에 패드부가 형성되어, 화상표시부(113)의 좌우에는 게이트배선에 신호를 인가하는 게이트패드(114l1,114l2...114l2n,114r1,114r2...114r2n)가 형성되고 화상표시부(113)의 하부에는 각각 R(Red)화상신호, G(Green)화상신호 및 B(Blue)화상신호를 인가하는 데이터패드(115R,115G,115B)가 형성되어 있다.

이와 같이, 게이트패드(114l1...114l2n,114r1...114r2n)를 좌우에 설치하고 게이트배선의 양측면에서 신호를 인가하는 것은 소형 액정패널(110)에 패드영역의 면적이 증가하는 것을 방지하기 위한 것이다. 또한, 데이터패드(115R,115G,115B)를 화상표시부(113)의 하부영역에 형성하는 것은 구동부(도면표시하지 않음)가 상기 화상표시부(113)의 하부에 장착되기 때문이다. 통상적으로 휴대용 전자기기에 적용되는 소형 액정표시소자는 게이트구동부와 데이터구동부가 일체로 형성되어 화상표시부(113)에 실장된다.

이와 같이, 구동부가 화상표시부(113)의 하부에 형성됨으로써 액정패널(110)의 패드부가 커지는 것을 방지할 수 있게 된다.

한편, 상기 구동부가 실장되기전, 액정패널의 불량 검사를 위한 테스트패드(124,125) 역시 화상표시부(113)의 하부에 형성된다. 이때 데이터 테스트패드(125)는 데이터패드(115R,115G,115B)의 근처에 형성되고, 게이트 테스트패드(124)는 데이터패드(115R,115G,115B)의 양측면에 형성되어 화상표시부(113) 좌우에 각각 형성된 게이트패드(114l1...114l2n,114r1...114r2n)에 테스트신호를 인가한다.

도 4는 상기와 같은 액정패널(110)에 형성된 테스트패드부의 구조를 도식적으로 나타내는 도면이다. 이 도면의 테스트패드 구조는 주로 소형 액정패널에 적용되지만 대형 패널에도 물론 동일하게 적용될 수 있을 것이다.

도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 액정패널(110)에는 4개의 게이트 테스트패드(124a,124b,124c,124d)와 3개의 데이터 테스트패드(125a,125b,125c)가 형성된다. 제1게이트 테스트패드(124a)는 화상표시영역(113)의 좌측에 설치된 게이트패드중 복수의 홀수번째 게이트패드(114l1...114l(2n-1))에 연결되고, 제2게이트패드(124b)는 화상표시영역(113)의 우측에 설치된 게이트패드중 복수의 짝수번째 게이트패드(114l2...114l2n)에 연결된다. 또한, 제3게이트 테스트패드(124c)는 화상표시영역(113)의 우측에 설치된 게이트패드중 복수의 홀수번째 게이트패드(114r1...114r(2n-1))에 연결되고, 제4게이트패드(124d)는 화상표시영역(113)의 우측에 설치된 게이트패드중 복수의 짝수번째 게이트패드(114r2...114r2n)에 연결된다.

상기와 같이, 화상표시부(113)의 좌우측에 형성된 게이트패드(114l1...114l2n,114r1...114r2n)의 홀수번째 게이트배선과 짝수번째 게이트배선을 다른 테스트패드와 연결하여 테스트신호를 인가하는 것은 본 발명의 소형 액정패널이 라인인버젼(line inversion)방식으로 구동하기 때문이다. 이러한 관점에서 본다면, 본 발명에서는 굳이 테스트패드를 홀수번째 게이트배선으로의 신호인가용 테스트패드와 짝수번째 게이트배선으로의 신호인가용 테스트패드로 구분할 필요는 없을 것이다. 다시 말해서, 액정패널의 구동방식에 따라 테스트신호를 인가하는 방식은 달라질 수 있을 것이다.

3개의 데이터 테스트패드(125a,125b,125c)는 각각 R,G,B화소의 데이터배선에 화상신호를 인가하는 데이터패드(115R,115G,115B)에 연결되어 테스트신호를 인가한다.

한편, 상기 테스트패드(124a,124b,124c,124d,125R,125G,125B)와 패드(114ll(2n-1),114l2n,114r(2n-1),114r2n,115R,115G,115B) 사이에는 각각 트랜지스터(135)가 배치된다. 상기 트랜지스터(135)는 박막트랜지스터로서, 화상표시영역(113)내의 화소영역에 형성되는 박막트랜지스터와 동일한 공정에 의해 형성될 것이다.

그리고, 각각의 테스트패드(124a,124b,124c,124d,125R,125G,125B)는 대응하는 패드(114ll(2n-1),114l2n,114r(2n1-1),114r2n,115R,115G,115B)에 동시에 신호를 인가하여 해당하는 패드에 연결된 복수의 라인의 불량 검사를 한꺼번에 할 수 있게 하기 위하여 하나의 오토프로브패드(도 4에 나타내지 않음)에 연결된다. 소형 액정패널(110)에서의 액정패널 불량 검사는 화면표시부에 일정한 형상의 테스트패턴을 띄우는 것이 아니라 단순하게 해당 화소의 점등 여부 및 이상 화소 유무만을 검사 하는 것이므로, 상기와 같이 대응하는 라인들을 한꺼번에 검사하는 것이 신속한 검사를 위해 바람직하게 된다.

게이트 테스트패드와 오토프로브패드의 연결 구조에 대하여 도 5를 참조하여 좀더 자세히 설명한다.

도 5는 도 4에 도시된 테스트패드부 중 게이트 테스트패드부를 오토프로브패드와의 연결 구조를 포함하여 도식적으로 나타낸 것으로, 다른 테스트패드부도 이와 동일하다.

도 5에 도시된 바와 같이, 복수 개의 게이트패드(114l1...114l(2n-1))들이 복수 개의 트랜지스터(135)에 의하여 게이트 테스트패드(124a1...124a(2n-1))에 연결된다. 이때 상기 트랜지스터의 게이트단자는 공통으로 연결된 인에이블패드(130)에 연결되어, 상기 복수 개의 게이트 테스트패드(124a1...124a(2n-1))에 인가되는 신호를 동시에 제어한다. 그리고 상기 게이트 테스트패드(124a1...124a(2n-1))도 오토프로브패드(130)에 공통으로 연결되는데, 이때 상기 오토프로브패드(130)는 공통으로 연결된 게이트 테스트패드(124a)의 양 끝단에 병렬식으로 연결될 수도 있다.

상기와 같이 오토프로브패드(130)를 공통으로 연결된 게이트 테스트패드(124)의 양 끝단에 병열식으로 연결하는 것은, 공통으로 연결된 게이트 테스트패드(124)들의 저항으로 인하여 오토프로브패드(130)에 가까운 부분의 게이트 테스트패드(124a1)와 먼 부분의 게이트 테스트패드(124a(2n-1))간에 인가되는 신호의 전압강하가 발생하여 액정패널의 불량 검사시에 사이드효과가 발생하는 것을 방지하기 위함이다.

상기에서 설명한 트랜지스터를 포함하는 테스트패드부는 화소부의 형성공정과 동일한 공정을 통하여 형성되므로, 상기의 기능을 하기 위한 게이트 테스트패드부와 데이터 테스트패드부의 구성에 대하여 도 6 ~도 9를 참조하여 설명한다.

도 6과 도 7은 데이터 테스트패드부(특히 Red에 대하여)의 구성을 나타내는 평면도와 단면도이다.

먼저 데이터 테스트패드부에 대하여 살펴보면, 도 6에 도시된 바와 같이, 데이터 테스트패드(125R1...125Rm)은 그 하부에 형성된 게이트전극층 구성물질로 이루어진 단락패턴(141)에 의하여 공통으로 연결된다. 상기 단락패턴(141)의 일측에는 오토프로브패드(140b)가 연결되어 있고, 상기 오토프로브패드(140a)가 연결된 일측의 반대측에는 화소전극층 구성물질로 이루어진 패턴(150b)이 오토프로브패드(140b)와 연결된다.

이때, 상기 게이트전극층 구성물질은 AlNd와 같은 금속일 수 있으며, 상기 금속은 화소전극층 구성물질인 인듐 틴 옥사이드보다 전기저항이 매우 작아서 전압강하에 의한 사이드효과의 발생을 효과적으로 방지할 수 있다. 그리고, 상기 화소전극층 구성물질로 이루어진 패턴(150b)은 본 발명의 선택적 구성요소로서, 비록 게이트전극층을 구성하는 금속보다는 전기저항이 큰 인듐 틴 옥사이드로 이루어지지만, 게이트전극층 구성물질과 함께 오토프로브패드(140b)와 단락패턴(141)를 병렬적으로 연결하여 사이드효과의 발생을 더욱 억제하는 역할을 한다.

도 7에 도시된 바와 같이, 상기 게이트전극층 구성물질로 이루어진 단락패턴 (141)과 데이터 테스트패드(125R1...125Rm)가 연결되기 위해서는, 그 사이의 게이트절연층(136)과 층간절연층(137)이 제거되고 화소전극층을 구성하는 인듐 틴 옥사이드(142)로 연결되어야 한다. 상기 게이트절연층(136)과 층간절연층(137)의 제거는 화소부의 컨택트홀 형성공정에서 동시에 진행된다. 그리고, 비록 도 7에는 도시되지 아니하였지만, 상기 단락패턴과 병렬적으로 연결되는 화소전극층 구성물질로 이루어진 패턴도 게이트절연층(136)과 층간절연층(137)에 형성된 컨택트홀을 통하여 하부의 단락패턴(141)과 연결된다.

다음으로, 게이트 테스트패드부에 대하여 살펴본다.

도 8과 도 9는 게이트 테스트패드부의 구성을 나타내는 평면도와 단면도이다.

도 8과 도 9에 도시된 바와 같이, 게이트 테스트패드(124a)는 게이트전극층 구성물질로 이루어지고, 하나의 공통된 전극으로 형성된다. 그리고 그 일측 끝단에는 오토프로브패드(140a)가 동일한 물질로 형성되어 있으며, 게이트절연층(136)과 층간절연층(137)에 형성된 컨택트홀(140a, 140b)을 통하여 반대쪽 끝단과 연결된 화소전극층 구성물질로 이루어진 패턴(150a)과 병열로 연결된다.

상기한 바와 같이, 본 발명의 액정표시소자는 게이트 테스트패드 및 데이터 테스트패드가 게이트전극층 구성물질로 공통으로 연결되어, 하나의 오토프로브패드에 신호를 인가하여 해당하는 패드에 연결된 복수의 라인의 불량 검사를 한꺼번에 할 수 있다. 그리고, 상기 테스트패드를 공통으로 연결하는 게이트전극층 구성물질이 저항이 작은 AlNd와 같은 금속이며, 추가적으로 테스트패드의 끝단을 인듐 틴 옥사이드와 같은 화소전극층 구성물질로 오토프로브패드와 병렬적으로 연결할 수도 있으므로 오토프로브패드에 인가되는 신호에 전압강하가 발생하여 사이드효과가 발생하는 것을 효과적으로 방지할 수 있는 효과를 가진다.

상술한 설명에서는 본 발명을 주로 소형 액정패널에의 적용에 대하여 설명하였다. 그러나, 본 발명이 이러한 소형 액정패널에 대해서만 한정되는 것은 아니다. 상술한 구조는 단지 본 발명의 일례를 설명하기 위한 것으로, 본 발명의 범위를 한정하는 것은 아니다. 즉, 본 발명은 테스트신호의 인가를 위해 트랜지스터를 사용하는 모든 종류의 액정패널(대형 액정패널을 포함하여)에 적용될 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명이 상술한 설명에서 개시되어 있는 구체적인 구조(소형 액정패널에 적용되는 구조)에 한정되는 것이 아니라, 본 발명의 기본적인 개념을 기초로 이 기술에 종사하는 사람이 용이하게 적용할 수 있는 구조(대형 액정패널의 구조 포함해서)는 물론 본 발명의 권리범위에 포함되어야만 할 것이다.

상술한 바와 같이, 본 발명의 액정표시소자는 게이트 테스트패드 및 데이터 테스트패드가 게이트전극층 구성물질로 공통으로 연결된다. 따라서, 하나의 오토프로브패드에 신호를 인가하여 해당하는 패드에 연결된 복수의 라인의 불량 검사를 한꺼번에 할 수 있는 유리한 효과를 가진다.

또한, 상기 테스트패드를 공통으로 연결하는 게이트전극층 구성물질이 저항이 작은 AlNd와 같은 금속이며, 추가적으로 테스트패드의 끝단을 인듐 틴 옥사이드와 같은 화소전극층 구성물질로 오토프로브패드와 병렬적으로 연결할 수도 있으므 로, 오토프로브패드에 인가되는 신호에 전기저항으로 인한 전압강하가 발생하여 불량 검사시에 사이드효과가 발생하는 것을 효과적으로 방지할 수 있는 유리한 효과를 가진다.

Claims (9)

1. 복수의 게이트배선 및 데이터배선에 의해 정의되는 복수의 화소를 포함하는 액정패널;

   상기 액정패널의 외곽영역에 형성되어 게이트배선에 신호를 인가하는 복수의 게이트패드;

   상기 게이트패드에 연결되어 게이트 테스트신호를 인가하는 게이트 테스트패드;

   상기 게이트 테스트패드에 공통으로 연결되는 게이트 오토프로브패드;

   상기 게이트패드와 게이트 테스트패드 사이에 설치되어 게이트 테스트신호가 인가됨에 따라 게이트 테스트신호를 게이트패드로 공급하는 트랜지스터;

   상기 액정패널의 외곽영역에 형성되어 데이터배선에 신호를 인가하는 복수의 데이터패드;

   상기 데이터패드에 연결되어 데이터 테스트신호를 인가하는 데이터 테스트패드;

   상기 데이터 테스트패드에 공통으로 연결되는 데이트 오토프로브패드; 및

   상기 데이터패드와 데이터 테스트패드 사이에 설치되어 데이터 테스트신호가 인가됨에 따라 데이터 테스트신호를 데이터패드로 공급하는 트랜지스터를 포함하여 구성되는 액정표시소자.
2. 제 1항에 있어서,

   상기 게이트 테스트패드는,

   게이트전극층의 구성물질에 의하여 공통으로 연결되는 것을 특징으로 하는 액정표시소자.
3. 제 2항에 있어서,

   상기 게이트 오토프로브패드는,

   상기 게이트전극층의 구성물질에 의하여 상기 게이트 테스트패드의 일측 끝단에 연결되는 것을 특징으로 하는 액정표시소자.
4. 제 3항에 있어서,

   상기 게이트 오토프로브패드가 연결된 게이트 테스트패드의 일측 끝단의 반대쪽 끝단은,

   화소전극층의 구성물질에 의하여 상기 게이트 오토프로브패드에 병렬로 연결되는 것을 특징으로 하는 액정표시소자.
5. 제 1항에 있어서,

   상기 데이터 테스트패드는,

   게이트전극층의 구성물질에 의하여 공통으로 연결되는 것을 특징으로 하는 액정표시소자.
6. 제 5항에 있어서,

   상기 데이터 오토프로브패드는,

   상기 게이트전극층의 구성물질에 의하여 상기 데이터 테스트패드의 일측 끝단에 연결되는 것을 특징으로 하는 액정표시소자.
7. 제 6항에 있어서,

   상기 데이터 오토프로브패드가 연결된 데이터 테스트패드의 일측 끝단의 반대쪽 끝단은,

   화소전극층의 구성물질에 의하여 상기 데이터 오토프로브패드에 병렬로 연결되는 것을 특징으로 하는 액정표시소자.
8. 제 2항 ~ 제 7항 중 어느 한 항에 있어서,

   상기 게이트전극층의 구성물질은,

   AlNd와 같은 금속으로 이루어진 것을 특징으로 하는 액정표시소자.
9. 제 4항 또는 제 7항에 있어서,

   상기 화소전극층의 구성물질은,

   인듐 틴 옥사이드와 같은 투명한 도전물질로 구성된 것을 특징으로 하는 액정표시소자.

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