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TW201515812A - 預發泡粒子之總體密度測量裝置及預發泡粒子之製造方法 - Google Patents

預發泡粒子之總體密度測量裝置及預發泡粒子之製造方法 Download PDF

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Abstract

本發明提供一種總體密度測量裝置及測量方法，上述總體密度測量裝置之特徵在於，其係測量預發泡粒子之總體密度者，且包括：容器A，其可將容器內壓設為未達大氣壓之減壓狀態而使收縮之預發泡粒子膨脹而自收縮恢復；容器B，其可於容器內壓未達大氣壓之減壓狀態下填充於容器A中膨脹後之預發泡粒子而進行固定體積分取；減壓機構8，其可將容器A與容器B之容器內壓調整為未達大氣壓；及重量計6，其可測量填充於容器B之預發泡粒子之重量。根據該總體密度測量裝置及測量方法，可於製造後短時間內穩定地測量容易於製造後立即收縮之預發泡粒子原來之總體密度，從而可立即向下一生產之運轉條件反饋。

Description

預發泡粒子之總體密度測量裝置及預發泡粒子之製造方法
本發明係關於一種用以測量預發泡粒子尤其是二段發泡粒子之總體密度的裝置及使用該裝置之預發泡粒子之製造方法。而且，上述裝置及方法於使用聚烯烴系樹脂發泡粒子作為上述預發泡粒子之情形時更合適。
包含預發泡粒子之模內發泡成形體係藉由使用預發泡裝置或洩壓發泡裝置等使成為原料之樹脂粒子(原料粒子)發泡而製造特定之總體密度之預發泡粒子，並將該預發泡粒子填充於模內成形機之模具進行模內發泡成形而獲得，用於多種多樣的形狀、用途(緩衝材、隔熱材、汽車內裝構件、汽車保險杠用芯材、緩衝包裝材、周轉箱等)。
尤其作為高發泡倍率之預發泡粒子之製造方法，於通常之預發泡裝置或洩壓發泡裝置等中獲得高發泡倍率之預發泡粒子的方法自不待言，亦已知於獲得發泡倍率暫時低之預發泡粒子之後，使用二段發泡機使該預發泡粒子進而發泡而獲得發泡倍率更大之預發泡粒子(二段發泡粒子)的二段發泡方法。
此時，重要的是使二段發泡粒子之總體密度為固定，藉此可使供於成形機之二段發泡粒子之量穩定化，從而可使成形體之品質穩定化。
一般而言，作為製造二段發泡粒子之方法，例如，已知有將預先賦予0.50MPa以下之內壓之預發泡粒子(一段發泡粒子)投入至二段 發泡機中，利用水蒸氣等加熱介質使上述預發泡粒子發泡至特定之總體密度的批次式之方法。於此情形時，作為調整二段發泡粒子之總體密度的方法，必須採取經二段發泡之二段發泡粒子，測量其總體密度，基於與目標值之背離而變更下一批之二段發泡機之運轉條件(例如，預發泡粒子之內壓、二段發泡時之加熱水蒸氣壓力等)，為了成形體品質之穩定化，頻繁地進行藉由此種二段發泡機之運轉條件之變更而調整二段發泡粒子之總體密度。
關於二段發泡粒子自身不會於二段發泡後立即發生體積收縮的低發泡倍率之二段發泡粒子，揭示有針對二段發泡粒子之總體密度測量裝置及其測量方法(參照專利文獻1、專利文獻2)。於該等中揭示之總體密度測量裝置及測量方法係藉由於大氣壓下，於一定體積(V)之容器中採取二段發泡粒子，並測量採取之二段發泡粒子之重量(W)而計算總體密度(=W/V)者。
另一方面，亦揭示有如下方法：藉由將容易在預發泡時之乾燥步驟中收縮之預發泡粒子於乾燥步驟前在樣品採取容器內保持一定時間之後供於乾燥步驟而極力抑制預發泡粒子之收縮，之後測定預發泡粒子之總體密度(參照專利文獻3)。
作為收縮之預發泡粒子自收縮恢復之情形之總體密度測量方法，已知有如下方法：藉由測量預發泡粒子之重量w並且將上述預發泡粒子之總量投入至量筒中，並使量筒內減壓而使上述預發泡粒子自收縮恢復，讀取量筒之刻度而測量預發泡粒子之體積v，從而測量w/v之總體密度(參照專利文獻4及5)。
先前技術文獻 專利文獻
專利文獻1：日本專利特開平6-80816號公報
專利文獻2：國際公開第2005/087475號
專利文獻3：日本專利特開2007-218588號公報
專利文獻4：國際公開第2011/086938號
專利文獻5：日本專利特開2006-96805號公報
利用上述先前公知之針對二段發泡粒子之總體密度測量裝置，只要是具有30g/L以上之總體密度的低發泡倍率之二段發泡粒子之情形，則可穩定地測量總體密度。與此相對，於製造具有未達30g/L之總體密度的高發泡倍率之預發泡粒子(例如二段發泡粒子)之情形時，剛經過二段發泡後之預發泡粒子(二段發泡粒子)會收縮而無法測量原來之預發泡粒子(二段發泡粒子)之總體密度，故存在必須進行長時間乾燥而使上述預發泡粒子自收縮恢復，之後測量其總體密度，基於與目標值之背離而變更二段發泡條件的問題。
關於現狀，實際情況為：根據過去之目視觀察之經驗決定生產條件，從而製造二段發泡粒子。
另一方面，雖然如專利文獻3所示亦提出極力抑制預發泡粒子之收縮的方法，但於無法較佳地抑制收縮而出現收縮之情形時，依然必須在如以上所述採取長時間乾燥等方法而使上述預發泡粒子自收縮恢復之後測量其總體密度。
本發明之目的在於提供一種於測量預發泡粒子之總體密度時，尤其可於短時間內測量具有未達30g/L之總體密度的高發泡倍率之預發泡粒子(二段發泡粒子)之總體密度的裝置、及使用該裝置之總體密度之測量方法。進而，本發明之目的在於藉由將獲得之預發泡粒子(二段發泡粒子)之總體密度之測量結果反饋至二段發泡機等發泡裝置之運轉條件而穩定地製造總體密度一致之預發泡粒子(二段發泡粒子)，無需有經驗者根據預發泡粒子(二段發泡粒子)之形狀之目視判定 等選定生產條件。
本發明者等人發現：藉由於使暫時收縮之預發泡粒子於減壓下膨脹之狀態下進行固定體積分取，可於短時間內穩定地測量原來之(即收縮前之)預發泡粒子之總體密度，從而完成本發明。
本發明之預發泡粒子之總體密度測量裝置如下所述。
[1]一種總體密度測量裝置，其特徵在於：其係測量預發泡粒子之總體密度之裝置，且包括：容器A，其可將容器內壓設為未達大氣壓之減壓狀態而使收縮之預發泡粒子膨脹而自收縮恢復，容器B，其可於容器內壓未達大氣壓之減壓狀態下填充容器A中膨脹後之預發泡粒子而進行固定體積分取，減壓機構8，其可將容器A及容器B之容器內壓調整為未達大氣壓，重量計6，其可測量填充於容器B之預發泡粒子之重量。
[2]如[1]中記載之總體密度測量裝置，其於容器A與容器B之間包括可將收納於容器A之預發泡粒子以自由落下之形式排出並且向容器B填充預發泡粒子的容器A排出閥3。
[3]如[1]或[2]中記載之總體密度測量裝置，其包括可將填充於容器B之預發泡粒子向重量計6排出的容器B排出閥4。
[4]如[1]至[3]中任一項所記載之總體密度測量裝置，其包括可使容器A與容器B之內壓不同的機構。
[5]如[1]至[4]中任一項所記載之總體密度測量裝置，其中容器A具有圓錐形狀部分，圓錐部分之角度α為60°以上且120°以下。
[6]如[1]至[5]中任一項所記載之總體密度測量裝置，其於連結容器A與減壓機構8之配管及/或連結容器B與減壓機構8之配管配置至少 一個用以控制容器內壓之閥。
[7]如[1]至[6]中任一項所記載之總體密度測量裝置，其於容器B包括可將填充於其中之預發泡粒子強制排出的強制排出機構9。
[8]如[1]至[7]中任一項所記載之總體密度測量裝置，其於容器A包括可控制所收納之預發泡粒子之收納量的水平開關。
[9]一種預發泡粒子之總體密度測量方法，其特徵在於：其係測量收縮之預發泡粒子之總體密度的方法，且包括：(a)採取收縮之預發泡粒子之一部分或全部並移送至容器A中的步驟，(b)將容器A之內壓設為未達大氣壓之減壓狀態而使收縮之預發泡粒子膨脹而自收縮恢復的步驟，(c)將容器B之內壓設為未達大氣壓之減壓狀態的步驟，(d)打開容器A與容器B之間之閥3而將於容器A中膨脹後之預發泡粒子於容器內壓未達大氣壓之減壓狀態下填充於容器B而進行固定體積分取的步驟，(e)使容器B之內壓恢復為大氣壓並且將填充於容器B之預發泡粒子排出而利用重量計6測量預發泡粒子之重量的步驟。
[10]如[9]所記載之預發泡粒子之總體密度測量方法，其中於(c)步驟中將容器B之內壓設定為高於容器A之內壓。
[11]如[9]所記載之預發泡粒子之總體密度測量方法，其中於(c)步驟中將容器B之內壓設定為低於容器A之內壓。
[12]如[9]所記載之預發泡粒子之總體密度測量方法，其中於(c)步驟中設定容器A與容器B之內壓均等。
[13]如[9]至[12]中任一項所記載之預發泡粒子之總體密度測量方法，其中容器A及容器B之內壓為10×103Pa以上且90×103Pa以下。
[14]如[9]至[13]中任一項所記載之預發泡粒子之總體密度測量方 法，其中於(a)步驟中，移送至容器A中之收縮之預發泡粒子之總體積為容器A之內容積之20%以上且80%以下。
[15]如[9]至[14]中任一項所記載之預發泡粒子之總體密度測量方法，其中(d)步驟係以自由落下進行預發泡粒子對容器B之填充者，(e)步驟係至少使用強制排出機構9將預發泡粒子自容器B排出者。
[16]如[9]至[15]中任一項所記載之預發泡粒子之總體密度測量方法，其中預發泡粒子為聚烯烴系樹脂預發泡粒子。
[17]一種預發泡粒子之製造方法，其特徵在於：其係製造預發泡粒子之方法，於利用如[9]至[16]中任一項所記載之測量方法測量預發泡粒子之總體密度之後，將該測量結果與目標之總體密度比較，使其結果反饋至預發泡裝置而對預發泡裝置中之預發泡粒子之發泡條件進行調整。
[18]如[17]所記載之預發泡粒子之製造方法，其中預發泡裝置為二段發泡機。
[19]如[17]或[18]所記載之預發泡粒子之製造方法，其中預發泡粒子為總體密度為8g/L以上且未達30g/L的聚烯烴系樹脂預發泡粒子。
容易收縮之預發泡粒子，例如總體密度為8g/L以上且未達30g/L的高發泡倍率之二段發泡粒子於製造後立即(於二段發泡後立即)收縮，從而無法於製造後在短時間內測量原來之總體密度，於針對下一生產之條件設定上耗費時間。然而，根據本發明之預發泡粒子之總體密度測量裝置及測量方法，可於製造後在短時間內穩定地測量原來之總體密度。
進而，藉由將上述總體密度之測量結果反饋至預發泡裝置例如 二段發泡機之運轉條件，容易製造具有特定之原來之總體密度的二段發泡粒子。
1、21‧‧‧投入料斗
2、22‧‧‧投入閥
3‧‧‧容器A排出閥
4‧‧‧容器B排出閥
5、25‧‧‧排出接受盤
6、26‧‧‧重量計
7‧‧‧三通閥
8‧‧‧減壓機構(真空泵)
9‧‧‧強制排出機構(配管)
10‧‧‧設於強制排出機構之閥
11‧‧‧設於三通閥7與容器A之間之配管的閥
12‧‧‧設於三通閥7與容器B之間之配管的閥
24‧‧‧容器2B排出閥
A‧‧‧容器A
B‧‧‧容器B
2B‧‧‧容器2B
α‧‧‧角度
圖1係本發明之總體密度測量裝置之一實施形態之整體流程圖。於本實施形態中，可驅動減壓機構8(真空泵)而經由三通閥7使容器A與容器B之罐內壓力(內壓)成為均壓狀態。
圖2係本發明之總體密度測量裝置之另一實施形態之整體流程圖。於本實施形態中，由於配有自動閥11及12，故可容易地使容器A及容器B之內壓不同。又，由於設有可向容器B中吹送空氣之強制排出機構9，故於排出收容於容器B之二段發泡粒子之時，可容易地排出全部量。
圖3係先前方法之總體密度測量裝置之整體流程圖。
圖4係表示實施例與比較例之每一發之二段發泡粒子之總體密度變化的曲線圖，上述實施例係基於使用本發明之總體密度測量裝置之二段發泡粒子之總體密度測量結果而向二段發泡製造條件作出反饋，藉此調整每批(每發)之二段發泡粒子之總體密度而製造，上述比較例係基於使用先前公知之總體密度測量裝置之二段發泡粒子之總體密度測量結果而向二段發泡製造條件作出反饋，藉此調整二段發泡粒子之總體密度而製造。又，比較例中獲得之二段發泡粒子經加熱處理之後的總體密度亦一併表示。
以下，基於圖1或圖2對本發明之總體密度測量裝置進行說明。
再者，以下主要對二段發泡粒子之情形進行說明，但本發明之預發泡粒子並不限定於二段發泡粒子。
圖1及圖2係作為本發明之實施形態之一例而模式性地表示對剛自二段發泡機排出之二段發泡粒子之總體密度進行測量的總體密度測 量裝置整體之流程者。
本發明之總體密度測量裝置係包括以下之裝置：投入二段發泡粒子之投入料斗1，可將容器內壓設為未達大氣壓之減壓狀態而使收縮之二段發泡粒子膨脹而自收縮恢復的容器A，可於容器內壓未達大氣壓之減壓狀態下填充容器A中膨脹後之預發泡粒子而進行固定體積分取的容器B，可將容器A與容器B之容器內壓調整為未達大氣壓的減壓機構8，可測量填充於容器B之預發泡粒子之重量的重量計6。
投入料斗1係用以將自二段發泡機排出之二段發泡粒子投入至容器A者。
投入料斗1之形狀只要為二段發泡粒子不會滯留於料斗內之構造即可，並無特別限定，但就二段發泡粒子不滯留之方面而言，尤佳為圓錐型。
對投入料斗1之容量並無特別限定，但較佳為下述之容器B之容量之0.5倍以上且5倍以下，更佳為1.5倍以上且4倍以下。
若投入料斗之容量未達容器B之容量之0.5倍時，則存在二段發泡粒子量較少，總體密度之測量精度下降的傾向，若超過5倍，則存在機器自身成為大型而變得昂貴的傾向。
容器A係可將容器內壓設為未達大氣壓之減壓狀態而使收縮之二段發泡粒子膨脹而自收縮恢復的容器。
容器A之形狀只要為經膨脹之二段發泡粒子之測量樣品於排出時不會滯留於容器A內之構造即可，較佳為圓錐型(conical type)，再者，更佳為無直體。
容器A之圓錐部分之角度α(參照圖2)較佳為60°以上且120°以下，更佳為80°以上且100°以下。
若容器A之圓錐部分之角度α未達60°時，則於未達大氣壓之壓力下使二段發泡粒子膨脹之時，二段發泡粒子相互擠壓並且亦被壓至容器A之內壁，於容器A內塞得過密而變得容易堵塞，從而存在變得難以向容器B排出的傾向。另一方面，若角度α超過120°，則上述發泡粒子變得不易於容器A中滑動或滾動而變得容易滯留，從而存在同樣變得難以自容器A向容器B排出的傾向。
作為容器A之容量，並無特別限定，但較佳為下述容器B之容量之1倍以上且5倍以下，更佳為2倍以上且4倍以下。若容器A之容量未達容器B之容量之1倍，則存在二段發泡粒子量較少，總體密度之測量精度下降的傾向，若容器A之容量超過容器B之容量之5倍，則存在機器自身成為大型而變得昂貴的傾向。
容器A可於上端部及下端部分別設有容器A投入閥2及容器A排出閥3。
容器A投入閥2之口徑只要為不會使二段發泡粒子堵塞之大小即可，並無特別限定。例如，若二段發泡粒子之直徑為5mm左右，則上述口徑只要設為20 A(內徑約20mm)以上，則可於不堵塞之情況下進行採取。又，若二段發泡粒子之直徑為10mm左右，則上述口徑只要設為50 A(內徑約50mm)以上，則可於不堵塞之情況下進行採取。
容器A排出閥3可設於容器A與容器B之間。
容器A排出閥3之口徑只要具有不會使經膨脹之二段發泡粒子堵塞之大小即可，例如，若經膨脹之二段發泡粒子之直徑為8mm左右，則上述口徑只要設為20 A(內徑約20mm)以上即可。又，例如，若經膨脹之二段發泡粒子之直徑為13mm左右，則以50 A(內徑約50mm)以上之口徑可於不堵塞之情況下進行移送。
再者，雖然以上說明了具備用以將自二段發泡機排出之二段發泡粒子投入至容器A之投入料斗1的例，但投入料斗1不一定為必需， 例如，亦可預先將移送軟管連接於容器A投入閥2，經由移送軟管對二段發泡粒子進行空送等，而不經由投入料斗1將二段發泡粒子投入至容器A中。
較佳為預先於容器A包括可控制所收納之二段發泡粒子之收納量的水平開關。藉由水平開關而控制之收納量取決於投入之二段發泡粒子之收縮率，此外亦取決於容器A之形狀等，只要適當進行調整即可，但較佳為預先設定為以容器A之容量之20%以上且80%以下之容量收納。若收納量未達容器A之容量之20%，則存在達不到足以填滿容器B之量的情形，若超過80%，則存在於減壓而使二段發泡粒子膨脹之時，容器A中容易堵塞的傾向。
容器B係用以於容器內壓未達大氣壓之減壓狀態下填充容器A中膨脹後之二段發泡粒子而進行固定體積分取之容器。容器B可經由例如容器A排出閥3與容器A連接。
容器B之形狀只要為可儘可能最密填充經膨脹之二段發泡粒子的構造即可，並無特別限定，但較佳為直體型。
對容器B之容量並無限定，但較佳為0.1L以上、30L以下，更佳為0.5L以上、20L以下。
於容器B之容量未達0.1L之情形時，存在所測量之總體密度之精度下降的傾向。
若容器B之容量超過30L，則存在機器自身成為大型而變得昂貴，並且需要較大之設置空間，若無較寬之用地則無法設置的傾向。
再者，容器B之容積只要以水裝入至容器B內而測量當時之水之體積即可，將容器B之容積設為V(L)。
容器B之上端部可經由容器A排出閥3與容器A連接，下端部可設置容器B排出閥4。容器B排出閥4之口徑只要具有二段發泡粒子不會堵塞之大小即可，若二段發泡粒子之直徑例如為8mm左右，則上述 口徑只要設為20 A(內徑約20mm)以上即可。又，若二段發泡粒子之直徑例如為13mm左右，則以50 A(內徑約50mm)以上之口徑可於不堵塞之情況下進行移送。
再者，若於容器A及容器B之側面包括視窗，則可確認二段發泡粒子之膨脹、收縮狀態、給出狀態之狀況，故而較佳。
減壓機構8只要為可將容器A及容器B之內壓調節為未達大氣壓(≒105Pa)者即可，並無特別限定。
再者，作為減壓機構8之極限壓力，較佳為1Pa以上且20×103Pa以下。若減壓機構8之極限壓力未達1Pa，則存在雖然容器A及容器B內之真空度會上升，但機器自身會變得昂貴的傾向，若上述極限壓力超過20×103Pa，則存在於容器之氣密性下降時，變得無法使收縮之二段發泡粒子之測量樣品充分地膨脹，總體密度之測量精度下降的傾向。
容器A及容器B與減壓機構8(例如真空泵)係利用配管連結，連接於容器A與容器B之各配管之合流部與減壓機構8之間可設置閥7(例如三通閥)。該配管之容器A側與容器B側之連接孔設有篩網。該篩網只要為二段發泡粒子無法通過、僅真空泵所抽吸之空氣能通過者即可，對線徑以及網眼並無特別限定。
再者，雖然於上述例中記載了利用一個減壓機構8使容器A及容器B減壓的方法，但容器A及容器B之各者亦可設置獨立之減壓機構8。
於本發明之測量收縮之預發泡粒子之總體密度的方法中，容器A及容器B之內壓設為未達大氣壓之減壓狀態。
於本發明中，只要容器A及容器B之內壓未達大氣壓即可，並無特別限定，但作為絕對壓力，較佳為10×103Pa以上、90×103Pa以下，更佳為10×103Pa以上、60×103Pa以下，最佳為10×103Pa以上、 30×103Pa以下。
若容器A及容器B之內壓未達10×103Pa，則存在雖然容器A及容器B內之內壓降低，但減壓裝置變得昂貴的傾向，若上述內壓超過90×103Pa，則存在內壓上升而變得無法使收縮之二段發泡粒子之測量樣品充分地膨脹，總體密度之精度下降的傾向。
於本發明中，該容器A與容器B之內壓可設定為不同，亦可設定為相同。於將容器A與容器B之內壓設定為不同之情形時，容器B之內壓可高於容器A之內壓，或亦可低於容器A之內壓。
此處，於將容器B之內壓設定為高於容器A之內壓的情形時，為了將容器A中膨脹而自收縮恢復之二段發泡粒子移至容器B中而打開容器A排出閥3之時，即便暫時自容器B側向容器A側噴出空氣而暫時於容器A之底部附近二段發泡粒子有點堵塞，堵塞亦會由於壓力差(空氣之噴出)而消除，其後，變得容易由於自由落下而填充於容器B，容器B中之填充狀態穩定，故而測量誤差變小而為較佳之態樣。
於容器A與容器B之內壓設置壓力差之情形時，作為提高容器B之壓力之情形之壓力差，較佳為5×103Pa以上、30×103Pa以下，更佳為7×103Pa以上、15×103Pa以下。若壓力差在該範圍內，則就於容器A之底部附近二段發泡粒子之堵塞容易消除，且於打開容器A排出閥3之後之預發泡粒子之再收縮難以發生，從而可以較佳之精度測量總體密度之方面而言較佳。
相反，將容器B之內壓設定為低於容器A之內壓的情形，就即便暫時於容器A之底部附近二段發泡粒子有點堵塞，堵塞亦會由於壓力差(空氣之噴出)而消除之方面而言亦為較佳之態樣。但存在獲得之總體密度與原來之總體密度相比變重的傾向。因此，將容器B之內壓設定為高於容器A之內壓的情形為更佳之態樣。
於容器A與容器B之內壓設置壓力差之情形時，作為提高容器A 之壓力之情形之壓力差，較佳為5×103Pa以上、30×103Pa以下，更佳為5×103Pa以上、10×103Pa以下。若壓力差在該範圍內，則就於容器A之底部附近二段發泡粒子之堵塞容易消除，且於打開容器A排出閥3之後之預發泡粒子之再收縮難以發生，從而可以較佳之精度測量總體密度而言較佳。
另一方面，關於將容器A與容器B之內壓設為相同(設為均壓)之態樣，如圖1所示，就由於可於閥2、3、4處於關之狀態下，驅動減壓機構8而經由三通閥7將容器A與容器B之內壓設為相同(設為均壓)，故無需設置使容器A與形器B之內壓不同之機構，從而設備設計變得容易之方面而言為較佳之態樣。
但於將容器A與容器B之內壓設為相同(設為均壓)之情形時，必須充分地研究容器A之形狀、或容器A排出閥3之口徑等，而以可充分地抑制於容器A之底部附近之二段發泡粒子之堵塞的方式進行調整。
於本發明之總體密度測量裝置中，作為調整容器A與容器B之內壓的機構，並無特別限制，例如，可列舉：(A)如圖2所示，預先於容器A及容器B安裝壓力計及/或壓力感測器(未圖示)，於達到所期望之壓力之時點將設於三通閥7與容器A之間之配管的閥11、設於三通閥7與容器B之間之配管的閥12關閉的方法；(B)如圖2所示，預先將下述之強制排出機構9(配管)及閥10連接於容器B，預先使容器B減壓至某一壓力，其後，適當打開閥10藉此調整容器B之內壓的方法，(C)如圖2所示，預先使容器A減壓至某一壓力，其後，適當打開閥2藉此調整容器A之內壓的方法，(D)如圖2所示，預先使容器A減壓至某一壓力，其後，適當打開閥11及閥7藉此調整容器A之內壓的方法等。
關於方法(A)，較佳為使用會於容器A與B達到所期望之壓力的時 點閥自動地關閉之自動閥的方法。
重量計6係測量通過容器B排出閥4自容器B排出之二段發泡粒子之重量的設備，設置排出接受盤5等而無遺漏地捕集排出之二段發泡粒子，測量其重量。
再者，於二段發泡粒子之重量測量中，較佳之態樣為以二段發泡粒子可完全地自容器B排出之方式設置強制排出機構9。
作為強制排出機構9，例如，可採用如下方法：將配管連接於容器B，於將二段發泡粒子自容器B排出閥4排出時，使空氣自該配管噴出，利用空氣將二段發泡粒子自容器B強制性地排出。利用該方法，即便於二段發泡粒子帶電而不易自容器B排出之狀態下，亦可高效率地排出二段發泡粒子。
使用本發明之總體密度測量裝置之預發泡粒子尤其是二段發泡粒子之總體密度測量可經由以下之步驟進行。
即，使用本發明之總體密度測量裝置之預發泡粒子之總體密度測量方法係經由以下步驟者：(a)採取收縮之預發泡粒子之一部分或全部並移送至容器A中的步驟，(b)將容器A之內壓設為未達大氣壓之減壓狀態而使收縮之預發泡粒子膨脹而自收縮恢復的步驟，(c)將容器B之內壓設為未達大氣壓之減壓狀態的步驟，(d)打開容器A與容器B之間的閥3，將容器A中膨脹後之預發泡粒子於容器內壓未達大氣壓之減壓狀態下填充於容器B而進行固定體積分取的步驟，(e)使容器B之內壓恢復為大氣壓，並且將填充於容器B之預發泡粒子排出而利用重量計6測量預發泡粒子之重量的步驟。
於使用本發明之總體密度測量裝置之預發泡粒子(二段發泡粒子) 之總體密度測量操作中，存在由於靜電等，二段發泡粒子附著於投入料斗‧容器A‧容器B之內壁部，或粒子彼此排斥，而無法測量出準確之總體密度的情形。
於此情形時，可藉由於測量操作前預先實施如以下之靜電去除而正常地測量總體密度。作為靜電去除方法之具體對策，例如，可列舉向二段發泡粒子添加(噴霧)抗靜電劑之方法，預先將總體密度測量裝置接地(earth)之方法，或藉由壓縮空氣之噴射等強制地進行排除之方法(例如，上述強制排出機構9)等。
再者，作為抗靜電劑，可使用市售之抗靜電劑、界面活性劑等。
如上所述，使用本發明之總體密度測量裝置，使剛自二段發泡機排出之二段發泡粒子於未達大氣壓下膨脹，於一定體積之容器內採取樣品，測量一定體積之二段發泡粒子之重量，藉此可計算原來之總體密度。
將藉由本發明之總體密度測量裝置測量之總體密度之結果作為電氣信號輸入至個人電腦、定序器等中，使用總體密度比較運算軟體，進行與目標總體密度值的比較運算，藉此可活用於預發泡粒子或二段發泡粒子之製造條件之控制。
例如，若為日本專利特開2009-161738號公報中記載之預發泡粒子製造方法，則可於有時向低於密閉容器之內壓的壓力域釋放之時間(發泡時間)達數分鐘以上，某一時點之總體密度測量結果與目標之總體密度不同之情形時，向控制密閉容器內之壓力或溫度等之壓力設定器或溫度設定器等以成為目標之總體密度之方式傳送新的壓力或溫度設定值之信號，於向較低之壓力域釋放而發泡之期間連續地控制總體密度。
另一方面，若為日本專利特開2009-263639號公報記載之預發泡 粒子製造方法或二段發泡粒子之製造方法，則可於某一批(發)之總體密度測量結果與目標之總體密度不同之情形時，向控制預發泡機或二段發泡機之罐內加熱蒸氣壓的壓力設定器以成為目標之總體密度之方式傳送新的壓力設定值之信號，向下一批製造條件反饋，從而連續地控制總體密度。
具體而言，於某一時點所獲得之預發泡粒子或二段發泡粒子之總體密度相對於目標總體密度較重之情形時，以減輕總體密度之方式，於下一批傳送高於前一批中之加熱蒸氣壓的設定值信號，相反，於上述總體密度相對於目標總體密度較輕之情形時，傳送低於前一批中之加熱蒸氣壓的設定值信號，從而可獲得與目標總體密度近似之一定範圍之總體密度之預發泡粒子或二段發泡粒子。
再者，作為總體密度比較運算軟體，可使用公知之軟體。
作為製造供於本發明之總體密度測量裝置之預發泡粒子的方法，可採用先前公知之製造方法。
例如，可列舉如上述日本專利特開2009-161738號公報所記載之於密閉容器內使熱塑性樹脂粒子分散於水系分散介質，加熱、加壓至熱塑性樹脂粒子之軟化溫度以上之溫度，之後向低於密閉容器之內壓的壓力域釋放之將水系分散介質中包含之水及/或二氧化碳等作為發泡劑之熱塑性樹脂發泡粒子(預發泡粒子)之製造方法，於此情形時，上述方法尤其於製造聚烯烴系樹脂預發泡粒子之情形時較佳。
又，可列舉如上述日本專利特開2009-263639號公報所記載之於聚合容器內使聚合而成之熱塑性樹脂粒子含浸有發泡劑而獲得發泡性熱塑性樹脂粒子，之後使用預發泡機等，利用水蒸氣等加熱媒體加熱，從而製造特定之總體密度之預發泡粒子的方法。於此情形時，上述方法尤其於製造聚苯乙烯系樹脂預發泡粒子或苯乙烯改質聚烯烴系樹脂預發泡粒子之情形時較佳。
另一方面，亦可使用二段發泡機將以如此之方式獲得之預發泡粒子製成更高倍率的預發泡粒子(二段發泡粒子)。
作為供於本發明之總體密度測量裝置之二段發泡粒子之製造方法，例如，存在將預先對另外獲得之預發泡粒子賦予內壓而成者投入至二段發泡機之罐內而與加熱水蒸氣接觸之方法等，利用該等方法，可獲得發泡倍率較預發泡粒子更高之二段發泡粒子。
再者，關於對預發泡粒子賦予內壓，可利用將預發泡粒子填充於耐壓密閉容器內，利用空氣等進行加壓處理等先前公知之方法容易地實施。又，亦可重複製造二段發泡粒子之方法而獲得三段發泡粒子等多段發泡粒子。
作為成為本發明所使用之預發泡粒子之基材的樹脂，可列舉聚丙烯系樹脂、聚乙烯系樹脂、乙烯-乙酸乙烯酯共聚物系樹脂、聚苯乙烯系樹脂、耐衝擊性聚苯乙烯系樹脂、苯乙烯-(甲基)丙烯酸共聚物系樹脂、丙烯腈-苯乙烯共聚物系樹脂、甲基丙烯酸酯系樹脂、偏二氯乙烯系樹脂、聚苯醚系樹脂等，亦可為該等之混合物。作為混合物，例如，可列舉聚苯醚與聚苯乙烯之混合樹脂、乙烯基單體與聚烯烴之一部分接枝共聚而成之複合樹脂(苯乙烯改質聚烯烴系樹脂)等。
就更發揮可獲得本發明之總體密度一致之預發泡粒子之效果之方面而言，較佳為於使用聚丙烯系樹脂或聚乙烯系樹脂等聚烯烴系樹脂作為預發泡粒子之基材樹脂而製造該等二段發泡粒子時，使用本發明之總體密度測量裝置。於聚丙烯系樹脂預發泡粒子或聚乙烯系樹脂預發泡粒子等聚烯烴系樹脂預發泡粒子之二段發泡中，根據二段發泡設定壓力，總體密度相對較為敏感地發生變化，必須頻繁且適當地調整每批之二段發泡設定壓力，而根據本發明可容易地控制該等，從而可獲得總體密度一致之二段發泡粒子。
對此種聚烯烴系樹脂預發泡粒子之總體密度並無特別限制，但 藉由二段發泡等多段發泡而使總體密度成為8g/L以上且未達30g/L的聚烯烴系樹脂預發泡粒子因多段發泡而容易收縮，總體密度之不均容易變大，而根據本發明，可於使此種收縮膨脹、恢復之後測量總體密度，且可使其結果向下一批製造條件反饋而連續地控制總體密度，故可成為總體密度一致之穩定之多段發泡，就此而言為較佳之態樣。
作為獲得此種聚丙烯系樹脂預發泡粒子或聚乙烯系樹脂預發泡粒子之方法，具體而言，可採用上述日本專利特開2009-161738號公報記載之方法。
例如，上述發泡粒子可藉由將包含聚丙烯系樹脂或聚乙烯系樹脂之聚烯烴系樹脂組合物作為聚烯烴系樹脂粒子，使該聚烯烴系樹脂粒子發泡而獲得。
聚烯烴系樹脂組合物係以聚烯烴樹脂為主原料，且視需要而調配有如聚乙二醇、甘油或三聚氰胺等親水性物質等而成之樹脂組合物，使用擠出機等進行熔融而製成圓柱狀等所期望之粒子形狀的聚烯烴系樹脂粒子。
將於耐壓容器內使上述聚烯烴系樹脂粒子連同二氧化碳等發泡劑一起分散於水中而成之分散物加熱至聚烯烴系樹脂粒子之熔點-20℃至熔點+20℃之範圍之溫度，使聚烯烴系樹脂粒子含浸發泡劑，於發泡劑之所示之蒸氣壓以上之加壓下，一面將容器內之溫度、壓力保持為固定，一面使聚烯烴系樹脂粒子於與容器內相比壓力較低之環境下釋放，藉此獲得成為本發明之對象之原來之聚烯烴系樹脂預發泡粒子。
作為聚烯烴系樹脂，可列舉均丙烯樹脂、丙烯-乙烯無規共聚物、丙烯-丁烯無規共聚物、丙烯-乙烯-丁烯三元共聚物等聚丙烯系樹脂、高密度聚乙烯系樹脂、中密度聚乙烯系樹脂、低密度聚乙烯系樹脂、直鏈狀低密度聚乙烯系樹脂等聚乙烯系樹脂。
實施例
以下，藉由實施例進而說明本發明，但本發明並不限定於該等實施例。
(實施例1)
<樹脂粒子之製作>
相對於直鏈狀低密度聚乙烯系樹脂[MI=2.0g/10分鐘，熔點122℃]100重量份，乾摻甘油[Lion股份有限公司製造，精製甘油D]0.2重量份、滑石0.03重量份。以40kg/小時之噴出量向50單軸擠出機供給該摻合物，於220℃之樹脂溫度下進行熔融混練之後，於水冷後，使用製粒機切斷而獲得圓柱狀之直鏈狀低密度聚乙烯系樹脂粒子(4.5mg/粒)。
<一段發泡粒子之製作>
將獲得之直鏈狀低密度聚乙烯系樹脂粒子100重量份、純水200重量份、第3磷酸鈣0.5重量份及正鏈烷磺酸鈉0.05重量份加入至耐壓密閉容器中，一面攪拌一面向耐壓密閉容器內導入二氧化碳7.5重量份，加熱至122℃，保持30分鐘。此時之耐壓密閉容器內之壓力為3.5MPa(表壓)。
其後，打開密閉容器下部之閥，經由孔口板向大氣壓釋放，藉此獲得總體密度為60g/L之聚乙烯系樹脂預發泡粒子。
<二段發泡粒子之製作>
將獲得之聚乙烯系樹脂預發泡粒子進行乾燥之後投入至耐壓容器內，使用加壓空氣，使內壓為0.39MPa(絕對壓)之後，投入至二段發泡機之罐內，於0.07MPa(表壓)之加熱蒸氣中接觸加熱30秒而製造二段發泡粒子。獲得之二段發泡粒子收縮。
<二段發泡粒子之總體密度測量>
自二段發泡機排出之二段發泡粒子之總體密度係使用圖1所示之 本發明之總體密度測量裝置進行測量。
(a)於容器A投入閥2關閉之狀態下投入正在收縮之二段發泡粒子，直至投入料斗1(容量3L)幾乎變滿。
繼而，將容器A投入閥2(內徑50mm)設為開，而於使容器A排出閥3為關之狀態下向容器A(容量4L，圓錐部分之角度α=90°)加入二段發泡粒子，將容器A投入閥2設為關。
(b)其後，於確認容器B排出閥4為關之後，驅動減壓機構8(真空泵)而經由三通閥7使容器A及容器B之罐內壓力於均壓狀態下減壓至30×103Pa，從而使容器A內之二段發泡粒子膨脹。
(c)操作三通閥7，將容器A及容器B之內壓保持為30×103Pa，且於阻斷與減壓機構8之連接之後，將容器A排出閥3設為開，將於容器A內膨脹後之二段發泡粒子藉由自由落下進行移送而填充於容積V=1L之容器B中，將容器A排出閥3設為關。
(d)其後，操作三通閥7使容器A及容器B之內壓恢復為大氣壓，使於容器B內膨脹後之二段發泡粒子收縮為原來之二段發泡粒子。
其後，將容器B排出閥4設為開，向排出接受盤5給出二段發泡粒子全部量，使用重量計6測量給出粒子之重量[W(g)]而算出總體密度[W/V(g/L)]。
<向二段發泡機之反饋>
繼而，對上述算出結果使用包含內置有模擬信號輸入輸出端子之個人電腦之總體密度比較運算裝置，將測量結果與目標值比較。
二段發泡第1批(發)之總體密度之測量值為與作為目標之10~14g/L之中央值的12g/L相比較重之14g/L。此處，將提高二段發泡機之加熱水蒸氣壓之設定壓力的信號傳送至壓力設定器，其後，以對每個第偶數發測量二段發泡粒子之總體密度，以總體密度接近目標之中央值之方式，傳送修正信號而繼續調整，直至第80發。
實施80發之二段發泡，結果總體密度自1發至80發收斂於目標之10~14g/L而穩定。然而，於容器A內，二段發泡粒子之堵塞產生一次，此時，中斷總體密度測量，使容器A內之二段發泡粒子之堵塞消除並再次起動。
將此時之每10發之總體密度測量結果及二段發泡之狀況示於表1、表2及圖4。
(比較例1)
使用先前已知之圖3所示之公知之總體密度測量裝置對實施例1中試製而成之二段發泡粒子進行總體密度測量。此處，所謂公知之總體密度測量裝置，係包含容器B經由投入閥22連接於投入料斗21之構成，於大氣壓下分取二段發泡粒子之裝置。
於使用先前之總體密度裝置之情形時，二段發泡第1發之總體密度為16g/L，與目標之10~14g/L相比為較重之總體密度。此處，向壓力設定器傳送提高二段發泡機之加熱水蒸氣壓之信號，對每個第10發測量二段發泡粒子之總體密度，以使總體密度接近目標之中央值之方式傳送修正信號而繼續調整，直至第80發。
將其總體密度測量結果示於表1、表2及圖4。
(參考例1)
於實施例1中，以使採取之二段發泡粒子自收縮恢復為目的，於調整為80℃之乾燥機中靜置4小時，之後使用圖3所示之公知之總體密度測量裝置測量其總體密度。
將其總體密度測量結果示於表1。
於調整為80℃之乾燥機中靜置4小時而自收縮恢復之二段發泡粒子之總體密度表示與利用本發明之總體密度測量裝置測量之總體密度(實施例1)相同之值而獲得目標內之總體密度。即可知：關於利用本發明之總體密度測量裝置測量之總體密度，可測量原來之二段發泡粒子之總體密度。
(參考例2)
以使比較例1中採取之二段發泡粒子自收縮恢復為目的，於調整為80℃之乾燥機中靜置4小時，之後使用圖3所示之公知之總體密度測量裝置測量其總體密度。
將其總體密度測量結果示於表1及圖4。
於調整為80℃之乾燥機中靜置4小時而自收縮恢復之二段發泡粒子之總體密度相對於保持收縮之狀態而利用先前之總體密度測量裝置測量之總體密度(比較例1)為較輕之總體密度。即可知：利用先前之方法測量之二段發泡粒子之總體密度(比較例1)與原來之二段發泡粒子之總體密度(參考例2)背離。進而，偏離目標之總體密度，偏差較大。
亦由表1中之第1發之測量結果明確，相對於利用先前公知之總體密度測量裝置由於收縮而測量值變重，本發明之總體密度測量裝置中於減壓下膨脹而恢復為原來之發泡粒子狀態，因此可再現性良好地測量原來之總體密度。
進而，亦關於基於總體密度之測量結果的反饋結果，如表1及圖4所示，於使用本發明之總體密度測量裝置之情形時的二段發泡粒子 之總體密度，自1發至80發為止，收斂於目標之10~14g/L而穩定。
相對於此，於使用先前公知之總體密度測量裝置之情形時，自二段發泡機排出之二段發泡粒子收縮而無法測量原來之總體密度，每一發之變動較大。又，藉由加熱處理而自收縮恢復之二段發泡粒子之總體密度亦僅獲得偏差較大者。
(實施例2)
於<二段發泡粒子之總體密度測量>中，使用圖2所示之本發明之總體密度測量裝置按如下方式進行測量，除此以外藉由與實施例1相同之操作進行二段發泡並進行評價。將評價結果示於表2。
(1)於容器A投入閥2關之狀態下，投入收縮之二段發泡粒子，直至投入料斗1(容量3L)幾乎變滿。
繼而，將容器A投入閥2(內徑50mm)設為開，於容器A排出閥3關之狀態下將二段發泡粒子加入至容器A(容量4L，圓錐部分之角度α=90°)中，將容器A投入閥2設為關。
(2)其後，於確認容器B排出閥4及閥10為關之後，打開設於連接三通閥7與容器A之配管的閥11(自動閥)及設於連接三通閥7與容器B之配管的閥12(自動閥)，驅動減壓機構8(真空泵)而經由三通閥7對容器A及容器B之內壓進行減壓(容器A之內壓為20×103Pa，容器B之內壓為30×103Pa)。此時，以於容器A及容器B達到表2記載之內壓之時點，自動閥11、12分別關閉之方式進行設定。藉此，使容器A內之二段發泡粒子膨脹而自收縮恢復。
(3)將容器A排出閥3(內徑50mm)設為開，使於容器A內膨脹之二段發泡粒子藉由自由落下而被移送、填充於容量V=1L之容器B，將容器A排出閥3設為關。
(4)其後，將容器B排出閥4(內徑50mm)設為開，向排出接受盤5給出全部量之二段發泡粒子，使用重量計6測量給出粒子之重量[W(g)]，算出總體密度[W/V(g/L)]。於向排出接受盤5給出之時，打開閥10，經由強制排出機構9(配管)自外部向容器B內噴附空氣而使容器B內不存留有二段發泡粒子。
(5)於總體密度測量之後，打開閥2、閥3及閥4而將殘留於投入料斗1及容器A之二段發泡粒子排出。
如上所述，實施80發之二段發泡，結果關於總體密度，自1發至80發收斂於目標之10~14g/L而穩定。又，於裝置內完全未發生二段發泡粒子堵塞等問題。
(實施例3)
設為容器A之圓錐部分之角度α為60°之總體密度測量裝置，除此以外藉由與實施例2相同之操作進行二段發泡並進行評價。將評價結果示於表2。
實施80發之二段發泡，結果關於總體密度，自1發至80發收斂於目標之10~14g/L而亦無堵塞之問題。
(實施例4)
設為容器A之圓錐部分之角度α為50°之總體密度測量裝置，除此以外藉由與實施例2相同之操作進行二段發泡並進行評價。將評價結果示於表2。
實施80發之二段發泡，結果關於總體密度，自1發至80發收斂於目標之10~14g/L而穩定。然而，於容器A內發生兩次二段發泡粒子之堵塞，每次均中斷總體密度測量，消除容器A內之二段發泡粒子之堵塞並再次起動。
(實施例5)
設為容器A之圓錐部分之角度α為130°之總體密度測量裝置，除此以外藉由與實施例2相同之操作進行二段發泡並進行評價。將評價結果示於表2。
實施80發之二段發泡，結果關於總體密度，1發至80發收斂於目標之10~14g/L而穩定。然而，於總體密度測量之後，在欲排出、清潔容器A內之二段發泡粒子之時，於容器A之圓錐部殘留二段發泡粒子而需要清潔之時間。
(實施例6)
設為容器A之圓錐部分之角度α為60°之總體密度測量裝置，且將容器A及容器B設定為表2所記載之內壓(設為容器A與容器B一併在30×103Pa之均壓下)，除此以外藉由與實施例1相同之操作進行二段發泡並進行評價。將評價結果示於表2。
實施80發之二段發泡，結果關於總體密度，自1發至80發收斂於目標之10~14g/L而穩定。然而，於容器A內發生兩次二段發泡粒子之堵塞，每次均中斷總體密度測量，消除容器A內之二段發泡粒子之堵塞並再次起動。
(實施例7)
設為容器A之圓錐部分之角度α為50°之總體密度測量裝置，且將容器A及容器B設定為表2所記載之內壓(設為容器A與容器B一併在30×103Pa之均壓下)，除此以外藉由與實施例1相同之操作進行二段發泡並進行評價。將評價結果示於表2。
實施80發之二段發泡，結果關於總體密度，自1發至80發收斂於目標之10~14g/L而穩定。然而，於容器A內發生4次二段發泡粒子之堵塞，每次均中斷總體密度測量，消除容器A內之二段發泡粒子之堵塞並再次起動。
(實施例8)
設為容器A之圓錐部分之角度α為60°之總體密度測量裝置，且將容器A及容器B設定為表2所記載之內壓(容器A之內壓為30×103Pa，容器B之內壓為20×103Pa)，除此以外藉由與實施例2相同之操作進行二段發泡並進行評價。將評價結果示於表2。
實施80發之二段發泡，結果關於總體密度，自1發至80發收斂於目標之10~14g/L，但與實施例1相比，整體上以稍重之總體密度發展。一般認為，自容器A向容器B填充時，一部分之二段發泡粒子並非以自由落下之形式而是被強制性地填充，而以稍微過密之趨勢被填 充於容器B。再者，裝置內完全未發生二段發泡粒子堵塞等問題。
1‧‧‧投入料斗
2‧‧‧投入閥
3‧‧‧容器A排出閥
4‧‧‧容器B排出閥
5‧‧‧排出接受盤
6‧‧‧重量計
7‧‧‧三通閥
8‧‧‧減壓機構(真空泵)
9‧‧‧強制排出機構(配管)
10‧‧‧設於強制排出機構之閥
11‧‧‧設於三通閥7與容器A之間之配管的閥
12‧‧‧設於三通閥7與容器B之間之配管的閥
A‧‧‧容器A
B‧‧‧容器B
α‧‧‧角度

Claims (19)

  1. 一種總體密度測量裝置，其特徵在於，其係測量預發泡粒子之總體密度者，且包括：容器A，其可將容器內壓設為未達大氣壓之減壓狀態而使收縮之預發泡粒子膨脹而自收縮恢復；容器B，其可於容器內壓未達大氣壓之減壓狀態下填充容器A中膨脹後之預發泡粒子而進行固定體積分取；減壓機構8，其可將容器A與容器B之容器內壓調整為未達大氣壓；及重量計6，其可測量填充於容器B之預發泡粒子之重量。
  2. 如請求項1之總體密度測量裝置，其於容器A與容器B之間包括可將收納於容器A之預發泡粒子以自由落下之形式排出並且向容器B填充預發泡粒子的容器A排出閥3。
  3. 如請求項1或2之總體密度測量裝置，其包括可使填充於容器B之預發泡粒子向重量計6排出的容器B排出閥4。
  4. 如請求項1至3中任一項之總體密度測量裝置，其包括可使容器A與容器B之內壓不同的機構。
  5. 如請求項1至4中任一項之總體密度測量裝置，其中容器A具有圓錐形狀部分，圓錐部分之角度α為60°以上且120°以下。
  6. 如請求項1至5中任一項之總體密度測量裝置，其於連結容器A與減壓機構8之配管及/或連結容器B與減壓機構8之配管配置至少一個控制容器內壓的閥。
  7. 如請求項1至6中任一項之總體密度測量裝置，其於容器B包括可將填充於其中之預發泡粒子強制排出的強制排出機構9。
  8. 如請求項1至7中任一項之總體密度測量裝置，其於容器A包括可 控制所收納之預發泡粒子之收納量的水平開關。
  9. 一種預發泡粒子之總體密度測量方法，其特徵在於，其係測量收縮之預發泡粒子之總體密度者，且包括：(a)採取收縮之預發泡粒子之一部分或全部並移送至容器A中的步驟，(b)將容器A之內壓設為未達大氣壓之減壓狀態而使收縮之預發泡粒子膨脹而自收縮恢復的步驟，(c)將容器B之內壓設定為未達大氣壓之減壓狀態的步驟，(d)打開容器A與容器B之間之閥3而於容器內壓未達大氣壓之減壓狀態下向容器B填充容器A中膨脹後之預發泡粒子而進行固定體積分取的步驟，及(e)使容器B之內壓恢復為大氣壓並且將填充於容器B之預發泡粒子排出，利用重量計6測量預發泡粒子之重量的步驟。
  10. 如請求項9之預發泡粒子之總體密度測量方法，其中於(c)步驟中，將容器B之內壓設定為高於容器A之內壓。
  11. 如請求項9之預發泡粒子之總體密度測量方法，其中於(c)步驟中，將容器B之內壓設定為低於容器A之內壓。
  12. 如請求項9之預發泡粒子之總體密度測量方法，其中於(c)步驟中，設定容器A與容器B之內壓均等。
  13. 如請求項9至12中任一項之預發泡粒子之總體密度測量方法，其中容器A及容器B之內壓為10×103Pa以上且90×103Pa以下。
  14. 如請求項9至13中任一項之預發泡粒子之總體密度測量方法，其中於(a)步驟中，移送至容器A中之收縮之預發泡粒子之總體積為容器A之內容積之20%以上且80%以下。
  15. 如請求項9至14中任一項之預發泡粒子之總體密度測量方法，其中(d)步驟係以自由落下進行預發泡粒子對容器B之填充者，(e) 步驟係至少使用強制排出機構9使預發泡粒子自容器B排出者。
  16. 如請求項9至15中任一項之預發泡粒子之總體密度測量方法，其中預發泡粒子係聚烯烴系樹脂預發泡粒子。
  17. 一種預發泡粒子之製造方法，其特徵在於：其係製造預發泡粒子之方法，且於利用如請求項9至16中任一項之測量方法測量預發泡粒子之總體密度之後，將該測量結果與目標之總體密度比較，將其結果反饋至預發泡裝置，從而調整預發泡裝置中之預發泡粒子之發泡條件。
  18. 如請求項17之預發泡粒子之製造方法，其中預發泡裝置為二段發泡機。
  19. 如請求項17或18之預發泡粒子之製造方法，其中預發泡粒子為總體密度8g/L以上且未達30g/L之聚烯烴系樹脂預發泡粒子。
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