JPH05314544A - 光記録媒体 - Google Patents
光記録媒体Info
- Publication number
- JPH05314544A JPH05314544A JP11759192A JP11759192A JPH05314544A JP H05314544 A JPH05314544 A JP H05314544A JP 11759192 A JP11759192 A JP 11759192A JP 11759192 A JP11759192 A JP 11759192A JP H05314544 A JPH05314544 A JP H05314544A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- metal film
- resist layer
- layer
- metal
- master
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 354
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 694
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 694
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 229
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 107
- 238000011161 development Methods 0.000 claims description 65
- 239000005300 metallic glass Substances 0.000 claims description 58
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 claims description 57
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 40
- 238000011282 treatment Methods 0.000 claims description 33
- 238000005323 electroforming Methods 0.000 claims description 32
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 32
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 32
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 20
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 15
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims description 13
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 claims description 9
- 238000009281 ultraviolet germicidal irradiation Methods 0.000 claims description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 10
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 description 581
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 101
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 80
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 68
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 60
- 238000000034 method Methods 0.000 description 56
- 238000003698 laser cutting Methods 0.000 description 39
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 39
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 33
- FFUAGWLWBBFQJT-UHFFFAOYSA-N hexamethyldisilazane Chemical compound C[Si](C)(C)N[Si](C)(C)C FFUAGWLWBBFQJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 25
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 22
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 22
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 19
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 17
- NEIHULKJZQTQKJ-UHFFFAOYSA-N [Cu].[Ag] Chemical compound [Cu].[Ag] NEIHULKJZQTQKJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 14
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 14
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 13
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 11
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 6
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- SWXQKHHHCFXQJF-UHFFFAOYSA-N azane;hydrogen peroxide Chemical compound [NH4+].[O-]O SWXQKHHHCFXQJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 4
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 4
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 4
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 4
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 4
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 4
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 4
- KGWYICAEPBCRBL-UHFFFAOYSA-N 1h-indene-1-carboxylic acid Chemical compound C1=CC=C2C(C(=O)O)C=CC2=C1 KGWYICAEPBCRBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- QVEIBLDXZNGPHR-UHFFFAOYSA-N naphthalene-1,4-dione;diazide Chemical class [N-]=[N+]=[N-].[N-]=[N+]=[N-].C1=CC=C2C(=O)C=CC(=O)C2=C1 QVEIBLDXZNGPHR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N Magnesium oxide Chemical compound [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000748 compression moulding Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 2
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- -1 sialon Chemical compound 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 2
- 229910017743 AgSi Inorganic materials 0.000 description 1
- 101100269850 Caenorhabditis elegans mask-1 gene Proteins 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000861 Mg alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- WHNWPMSKXPGLAX-UHFFFAOYSA-N N-Vinyl-2-pyrrolidone Chemical compound C=CN1CCCC1=O WHNWPMSKXPGLAX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 208000030331 Posterior urethral valve Diseases 0.000 description 1
- 229910000676 Si alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001297 Zn alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- XNRNVYYTHRPBDD-UHFFFAOYSA-N [Si][Ag] Chemical compound [Si][Ag] XNRNVYYTHRPBDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 239000012670 alkaline solution Substances 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SNAAJJQQZSMGQD-UHFFFAOYSA-N aluminum magnesium Chemical compound [Mg].[Al] SNAAJJQQZSMGQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FJMNNXLGOUYVHO-UHFFFAOYSA-N aluminum zinc Chemical compound [Al].[Zn] FJMNNXLGOUYVHO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003945 anionic surfactant Substances 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 238000004380 ashing Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 238000005562 fading Methods 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 239000012943 hotmelt Substances 0.000 description 1
- 230000002209 hydrophobic effect Effects 0.000 description 1
- 125000001165 hydrophobic group Chemical group 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 1
- 230000005381 magnetic domain Effects 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000013081 microcrystal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 150000002815 nickel Chemical class 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoceriooxy)cerium Chemical compound [Ce]=O.O=[Ce]=O BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 235000013855 polyvinylpyrrolidone Nutrition 0.000 description 1
- 229920000036 polyvinylpyrrolidone Polymers 0.000 description 1
- 239000001267 polyvinylpyrrolidone Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 1
- 229920002803 thermoplastic polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 1
Landscapes
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
- Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
Abstract
形成することが可能になり、高密度化した光記録媒体に
用いる基板を作成できるので、光記録媒体の高密度化が
可能とする。 【効果】 光記録媒体に用いるスタンパのトラック溝の
幅を従来のものより細く、ピットを従来のものより小さ
くできるので、光記録媒体の記録密度を増加させる短波
長記録のための記録膜を用いた系に必要な基板を提供す
ることができるようになり、それによって光記録媒体の
記録密度を増加させることが可能になるという効果と、
従来の光学系を用いて、従来より細い溝や小さいピット
を形成できるという効果がある。
Description
再生または消去を行なう光記録媒体に関する。
リングにおいて溝やピットを形成するには、ガラス製の
原盤上に塗布されたポジ型のレジストを、HeCdレー
ザーやArレーザーを用いて露光し、アルカリ性の現像
液によって現像し、露光された部分のレジストを除去す
る方式がとられる。
トの形状は、レジスト表面に照射されるレーザーのスポ
ット径、レーザーの強度分布、レジスト材料の感度特性
によってきまる。一般に、レジストの低面部が狭く、表
面部が広くなった逆台形状の断面を有するようになる。
これはレジストの露光に用いるレーザー光の強度分布が
ガウス分布をなしていることによるもので、強度分布の
すその広がりが表面部のピット幅を広げる要因となって
いる。
の直径に略等しく対物レンズの開口数NA及びレーザー
光の波長λによって決まる。これは0.82×λ/NA
なる式で与えられ、マスタリングに用いられるレーザー
の中で波長が短いHeCdレーザー(λ=442nm)
を用い、最も高いNA(0.9)を用いてもスポット径
は0.4μmまでにしかならない。例えば現在の光学式
ディスクの場合、波長が830nmまたは780nm程
度のレーザーを用い、NAが0.5程度のものを用いて
いるので、再生レーザーの光のスポット径はそれほど小
さくなく、およそ1.2μm程度になる。従って、記録
ピットは磁区の収縮を伴うので0.5〜0.6μm程度
の大きさになり、これで記録再生を行なっている。
は、小型軽量で、比較的高パワーの短波長レーザーや、
SHG素子を用いた短波長レーザーが開発されてきてい
る。それらの短波長レーザーを用いた光学系が実用化さ
れると記録には0.2〜0.3μmオーダーの記録技術
が必要になり、現在の光記録媒体の製造プロセスでは対
応できない。
るため光学系に300nm未満の波長の光を用いること
は難かしく、従って光を用いた系におけるレジストの解
像度には限界があった。従来のプロセスで形成される
0.4μmより細い線を描くために、半導体プロセスに
おいては電子線やX線を用いることが考えられている
が、これを光記録媒体に応用するためには真空系が必要
であったり、反射光学系により収差を生じやすく、さら
に装置が大がかりになってしまうという課題があった。
従って、上記の結果として、0.4μmより細い線の解
像ができず、光記録媒体の記録密度を高めることに限界
があった。
もので、その目的とするところは以下のところにある。
光学系の回折限界以下の幅の溝やピットを形成できるの
で、従来作成が非常に困難とされた幅が0.4μmより
細い溝やピットを形成することができる。それによっ
て、従来より細いグルーブおよび小さいピットを形成す
ることが可能になり、現在主に用いられている半導体レ
ーザーより波長の短い短波長レーザーを用いた高密度記
録に用いる基板を作成でき、光記録媒体の記憶容量の増
大が可能となる。
る光記録媒体は原盤9の上にポジ型のレジスト層10を
塗布し、そのレジスト層10の上に有機シリカ層11を
形成し、その有機シリカ層11の上にさらにポジ型のレ
ジスト層12を塗布し、レーザー光を集光して前述の原
盤9を回転させながら前述のレジスト層12の特定領域
を露光し、前述のレジスト層12の露光部分を現像した
後、前述のレジスト層12の現像部分に開いた前述の有
機シリカ層11をエッチングし、現像されなかった前述
のレジスト層12および前述の有機シリカ層11の前記
エッチング部分に開いた前述のレジスト層10をエッチ
ングし、1回目のエッチングでエッチングされなかった
前述の有機シリカ層11をエッチングし、金属膜19を
成膜し、さらに金属膜20を成膜し、その金属膜19お
よび金属膜20を電極にしてその金属膜20と同種また
は異種の金属層21を電鋳し、前述の原盤9から剥離
し、前述の金属膜19を除去することによって作成さた
スタンパを用いることを特徴とする (課題を解決するための手段2)本発明の請求項2にな
る光記録媒体は原盤30の上にポジ型のレジスト層31
を塗布し、そのレジスト層31の上に有機シリカ層32
を形成し、その有機シリカ層32の上にさらにポジ型の
レジスト層33を塗布し、レーザー光を集光して前述の
原盤30を回転させながら前述のレジスト層33の特定
領域を露光し、前述のレジスト層33の露光部分を現像
した後、前述のレジスト層33現像部分に開いた前述の
有機シリカ層32をエッチングし、前述の有機シリカ層
32の前述のエッチング部分に開いた前述のレジスト層
31をエッチングし、金属膜39を成膜し、前述の原盤
30の上に残っている前述のレジスト31、前述の有機
シリカ層32および前述のレジスト層33を除去し、さ
らに金属膜40を成膜し、その金属膜40を電極にして
その金属膜40と同種または異種の金属層41を電鋳
し、前述の原盤30から剥離して金属板とし、その金属
板に残っている前述の金属膜30を除去して金属膜42
を成膜し、前述の金属膜40と同種または異種の金属層
43を電鋳した後、前述の金属板から剥離することによ
って作成されることによって作製されたスタンパを用い
ることを特徴とする。
請求項3になる光記録媒体は原盤53の上に金属膜54
を成膜し、その金属膜54を電極にしてその金属膜54
と同種または異種の金属層55を電鋳し、その金属層5
5の上にポジ型のレジスト層56を塗布し、そのレジス
ト56の上に有機シリカ層57を形成し、その有機シリ
カ層57の上にさらにポジ型のレジスト層58を塗布
し、レーザー光を集光して前述の原盤53を回転させな
がら前述のレジスト58の特定領域を露光し、前述のレ
ジスト58の露光部分を現像した後、前述のレジスト5
8の現像部分に開いた前述の有機シリカ層57をエッチ
ングし、前述の有機シリカ層57の前述のエッチング部
分に開いた前述のレジスト層56をエッチングし、前述
の金属層55と同種の金属膜64を成膜し、前述の原盤
53上に残っている前述のレジスト層56、前述の有機
シリカ層57および前述のレジスト層58を除去するこ
とによって作成されたスタンパ用いることを特徴とす
る。
請求項4になる光記録媒体は原盤76の上にポジ型のレ
ジスト層77を塗布し、レーザー光を集光して前述の原
盤76を回転させながら前述のレジスト77の特定領域
を露光し、前述のレジスト77の前述の露光部分を現像
し、その現像部分および非現像部分に金属膜83を成膜
し、その金属膜83と同種または異種の金属層84を電
鋳することによって作成する光記録媒体用スタンパにお
いて、前述のレジスト77を露光する前に、そのレジス
ト77全面に紫外光照射またはDeepUV照射あるい
はオゾン処理または加熱処理をすることによって作成さ
れたスタンパを用いることを特徴とする。
請求項5になる光記録媒体は原盤90の上にポジ型のレ
ジスト層91を塗布し、レーザー光を集光して前述の原
盤90を回転させながら前述のレジスト層91の特定領
域を露光し、前述のレジスト層91の露光部分を現像し
た後、その現像部分および非現像部分に金属膜96を成
膜し、その金属膜96を電極にしてその金属膜96と同
種または異種の金属層97を電鋳することによって作成
する光記録媒体用スタンパにおいて、前述のレジスト層
91の上に水溶性樹脂層92を形成した後前述のレジス
ト層91の特定領域の露光を行なう工程を含み、前述の
水溶性樹脂層92が熱により透過率が増加する性質を有
するもの、または光によりカチオンを発生し、そのカチ
オンにより前述の露光に用いる光の透過率が上昇する性
質を有するものであることによって作成されたスタンパ
を用いることを特徴とする。
請求項6になる光記録媒体は原盤104の上にネガ型の
レジスト層105を塗布し、レーザー光を集光して前述
の原盤104を回転させながら前述のレジスト層105
の特定領域を露光し、非露光部分を現像した後、その現
像部分および非現像部分に金属膜108を成膜し、その
非現像部分およびその非現像部分に成膜された前記金属
膜108を除去し、金属膜109を成膜し、その金属膜
109を電極にして金属層110を電鋳して前述の原盤
104から剥離してマザースタンパとし、その金属板を
型としてさらに金属層111を電鋳し、前述のマザース
タンパから剥離することによって作成されたスタンパを
用いることを特徴とする。
請求項7になる光記録媒体は原盤118の上に金属膜1
19を成膜し、その金属膜119と同種または異種の金
属層120を電鋳し、その120の金属層の上にネガ型
のレジスト層121を塗布し、レーザー光を集光してそ
のレジスト層121の特定領域を露光し、その露光した
部分を現像した後、金属層120と同種の金属膜124
を成膜し、前述の原盤118上に残っている前述のレジ
スト層121及びそのレジストの上に成膜された金属膜
124を除去することによって形成されたスタンパを用
いることを特徴とする。
請求項8になる光記録媒体は原盤133上にポジ型のレ
ジスト層134を塗布し、そのレジスト層134の上に
非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性金属膜13
5を成膜し、その非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微
結晶性金属膜135の上にさらにポジ型のレジスト層1
36を塗布し、レーザー光を集光してそのレジスト層1
36の特定領域を露光し、その露光部分を現像し、その
現像部分に開いた前述の非晶性珪素膜、非晶性金属膜ま
たは微結晶性金属膜の途中までエッチングし、全面に光
を照射して前述の非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微
結晶性金属膜の途中までエッチングされた部分の前述の
レジスト層134を露光し、現像されずに残った前述の
レジスト層134および前述の非晶性珪素膜、非晶性金
属膜または微結晶性金属膜135を除去したのち金属膜
142を成膜し、その金属膜142と同種または異種の
金属層143を電鋳し、前述の原盤133から剥離し、
前述の非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性金属
膜および前述の金属膜142を除去することによって作
成されたスタンパを用いることを特徴とする。
請求項9になる光記録媒体は原盤153の上に非晶性珪
素膜、非晶性金属膜または微結晶性金属膜154を成膜
し、その非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性金
属膜154の上にポジ型のレジスト層155を塗布し、
光記録媒体の溝やピットに応じたマスクを用いて露光し
た後、その露光部分を現像し、その現像部分に開いた非
晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性金属膜154
をエッチングし、現像されなかった前述のレジスト層1
55を除去し、金属膜160を成膜し、その金属膜16
0と同種または異種の金属層161膜を電鋳し、前記原
盤153から剥離することによって作成されたスタンパ
を用いることを特徴とする。
の請求項10になる光記録媒体は原盤169の上にポジ
型のレジスト層170を塗布し、該レジスト層170の
上に金属膜171を極薄く成膜し、レーザー光を集光し
てその金属膜171上から前述のレジスト層170の特
定領域を露光し、前記金属膜171および前記露光部分
を現像し、その現像部分および非現像部分に金属膜17
4を成膜し、その金属膜174と同種または異種の29
の金属を電鋳することによって作成されたスタンパを用
いることを特徴とする。
の請求項11になる光記録媒体は原盤182の上にポジ
型のレジスト層183を塗布し、そのレジスト183の
上に金属膜184を成膜し、その金属膜184を光記録
媒体のパターンに応じたマスクを用いてエッチングを行
ない、前述のレジスト層183の感光波長の光を前述の
エッチング部全面に照射し、前述のエッチング部分に開
いた前述のレジスト層183を感光させ、その感光部分
を現像し、エッチングされなかった前述の金属膜184
を除去し、金属膜189を成膜し、その金属膜189を
電極にして金属層190を電鋳することによって作成さ
れたスタンパを用いることを特徴とする。
の請求項12になる光記録媒体は原盤197の上にポジ
型のレジスト層198を塗布し、そのレジスト層198
の上に金属膜199膜を形成し、その金属膜199膜の
上にさらにポジ型のレジスト層200を塗布し、レーザ
ー光を集光してそのレジスト層200の特定領域を露光
し、その露光部分を現像し、その現像部分に開いた前述
の金属膜199をエッチングし、前述のレジスト層19
8の感光波長の光を該エッチング部分全面に照射し、そ
のエッチング部分に開いた前記レジスト層198を露光
し、現像液を用いてそのレジスト層198の露光部分お
よび前述のレジスト層200を現像し、エッチングされ
なかった前述の金属膜199膜を除去し、金属膜204
を成膜し、その金属膜204を電極にして金属層205
を電鋳することによって作成されたスタンパを用いるこ
とを特徴とする。
の請求項13になる光記録媒体は原盤214の上にポジ
型のレジスト層215を塗布し、レーザー光を集光して
前述の原盤214を回転させながら前述のレジスト層2
15の特定領域を露光し、前述のレジスト層215の前
述の露光部分を現像し、その現像部分および非現像部分
に金属膜219を成膜し、その金属膜219と同種また
は異種の金属層220を電鋳することによって作成する
光記録媒体用スタンパにおいて、前述の金属膜219を
成膜する前に、前述のレジスト層215を現像した後L
B膜を形成して、前述の現像部分の溝を細く浅くする行
程を含むことによって作成されたスタンパを用いること
を特徴とする。
の請求項14になる光記録媒体は原盤227の上に金属
膜228を成膜し、その金属膜228を電極にして金属
層229を電鋳し、その金属層229の上にポジ型のレ
ジスト層230を塗布し、レーザー光を集光してそのレ
ジスト層230の特定領域を露光し、その露光部分を現
像し、その現像部分に露出した前述の金属層229膜を
エッチングし、現像されなかった前述のレジスト層23
0を除去し、金属膜234を成膜し、その金属膜234
の上に金属層235を電鋳し、前述の原盤227から剥
離し、前述の金属膜234を除去することによって作成
されたスタンパを用いることを特徴とする。
の請求項15になる光記録媒体は原盤242の上に金属
膜243を成膜し、その金属膜243の上にレジスト層
244を塗布し、レーザー光を用いてそのレジスト層2
44の特定領域を露光し、その露光部分を現像した後酸
化珪素層を形成し、前述のレジスト層244の非現像部
分をエッチングで除去し、その除去部分に現れた前述の
金属膜243をエッチングし、前述の酸化珪素層を除去
した後、金属膜250を成膜し、その金属膜250の上
に金属層251を電鋳して前記原盤242から剥離し、
前述の金属膜243を除去することによって形成される
スタンパを用いることを特徴とする。
を露光および現像することによって有機シリカの面が露
出する。この場合レジスト層12の上面が広く、下面が
狭くなるようにパワーを調節することによって次のエッ
チングによる幅がレジスト層12の上面の幅より狭くす
ることができる。その後1回目の乾式エッチングにより
前述のレジスト層12の現像部分に開いた有機シリカ層
11をエッチングする。この場合も有機シリカ層の上面
より下面が狭くなるようにパワーを調節することによっ
て、次のエッチングによる幅が有機シリカ層の上面に開
いた幅より狭くすることができる。そして、たとえば酸
素を用いた乾式エッチング法によって、現像されなかっ
たレジスト層12の部分および有機シリカ層11のエッ
チング部分に開いたレジスト層10をエッチングする。
その後ベークすることによってレジスト層10の反応性
をなくす。そこで、さらに2回目の乾式エッチングによ
り、1回目のエッチングでエッチングされなかった有機
シリカ層11をエッチングする。そして、その上に金属
膜19を成膜し、さらに金属膜20を成膜し、それら金
属膜19および金属膜20を電極にしてその金属膜20
と同種または異種の金属層21を電鋳し、前述の原盤9
から剥離して前述の金属膜19を除去することによって
スタンパを作成する。そのスタンパを用いることによっ
て従来より細い溝や小さいピット形成できるので、光記
録媒体の記録容量を増大させることができる。
ジスト層33の特定領域を露光および現像すると有機シ
リカ層32が露出する。その場合レジスト層33の表面
に回折限界で露光すると有機シリカ層32上ではその回
折限界の幅より狭くなる。そしてさらに有機シリカ層3
2をドライエッチングしていくと、レジスト層31が露
出してくる。その場合も2の有機ソリカ層の底部の方が
上部より狭くなる傾向になる。そしてさらに光を照射し
てレジスト層31を露光および現像すると、その幅は光
学系の回折限界より細い線となって原盤30面が露出す
る。そして後で溶解可能な4の金属を成膜することによ
って光学系の回折限界より細い線の型が形成される。そ
の後3およびレジスト層33や有機シリカ層32を溶剤
によって除去し、5の金属を成膜してそれを電極にし、
金属層41を電鋳し、原盤30から剥離する。それから
4の金属を溶解することによってマスタリングに用いた
光学系の回折限界より溝幅は細くすることができ、ピッ
トは小さいものを形成することが可能になる。そしてこ
のスタンパを用いることによって光記録媒体の容量を増
大させることができる。
ジスト層58の特定領域を露光および現像すると有機シ
リカ層57が露出する。その場合レジスト層58の表面
に回折限界で露光すると有機シリカ層57上ではその回
折限界の幅より狭くなる。そしてさらに有機シリカ層5
7をドライエッチングしていくと、レジスト層56が露
出してくる。その場合も有機シリカ層57の底部の方が
上部より狭くなる傾向になる。そしてさらに光を照射し
てレジスト層56を露光および現像すると、その幅は光
学系の回折限界より細い線となり、金属層55の面が露
出する。そしてその金属層55と同種の金属膜64を成
膜することによって光学系の回折限界より細い線が形成
される。その後レジスト層56およびレジスト層58や
有機シリカ層57を溶剤によって除去することによって
マスタリングに用いた光学系の回折限界より溝幅は細く
することができ、ピットは小さいものを形成することが
可能になる。そしてこのスタンパを用いることによって
光記録媒体の容量を増大させることができる。
ジ型のレジスト77層を塗布しレーザーカッティングす
る前に、レジスト77全面に紫外光照射またはDeep
UV照射あるいはオゾン処理または加熱処理をすること
によって、レジスト77の表面性が変化する。紫外線照
射場合、紫外線がレジスト77の表面のみに作用する程
度にとどめることによって、表面のみがアルカリ可溶と
なり、現像のとき除かれることによって、溝幅が狭くす
ることが可能になる。DeepUV処理の場合、レジス
トの表面のみに作用する程度に処理することによって、
レジスト表面の反応性が低下し、これによって溝幅を狭
くすることが可能になる。オゾン処理の場合、レジスト
の表面のみに作用する程度に処理することによって、レ
ジスト表面の反応性が低下し、これによって溝幅を狭く
することが可能になる。加熱処理の場合、たとえば赤外
線ランプ等を用いてレジストの表面のみに作用する程度
に処理することによって、レジスト表面の反応性を低下
させ、これによって溝幅を狭くすることが可能になる。
レジストの表面の反応性を低下させると、露光に用いる
集光したレーザービームの強度分布がガウス分布をして
いるので、端の部分にあたるレジストの反応性が低下し
やすくなり、見かけ上従来より細く現像される。このよ
うにして作成することによってマスタリングに用いた光
学系の回折限界より溝幅は細くすることができ、ピット
は小さいものを形成することが可能になる。そしてこの
スタンパを用いることによって光記録媒体の容量を増大
させることができる。
ジスト層91の上に水溶性樹脂層92を形成して特定領
域の露光を行ない、その水溶性樹脂層92が熱により透
過率が増加する性質を有するものまたは光によりカチオ
ンを発生し、そのカチオンにより前述の露光に用いる光
の透過率が上昇する性質を有するものを用いる。この場
合アルカリ可溶性樹脂層92は現像時に溶解するので、
V形状に現像される上部が現像時に溶解することにな
る。また、露光による熱またはカチオン発生によって露
光に用いる光の透過率が上昇するが、その透過率の上昇
領域は光のスポットとずれ、領域も狭くなる傾向にある
ので、この領域は露光に用いる光のスポット系より細く
小さくなる。従って、この方式を用いることによってマ
スタリングに用いた光学系の回折限界より溝幅は細くす
ることができ、ピットは小さいものを形成することが可
能になる。そしてこのスタンパを用いることによって光
記録媒体の容量を増大させることができる。
盤104の上に塗布されたネガ型のレジスト層105は
非露光部分を露光部分より狭くとることが可能になる。
その非露光部分は現像されるが、その現像部分と非現像
部分に金属膜108を成膜し、その非現像部分およびそ
の非現像部分に成膜された金属膜108を除去し、金属
膜109を成膜し、その17の金属膜を電極にして金属
層110を電鋳して前述の原盤104から剥離してマス
タースタンパとし、その金属板を型としてさらに金属層
111を電鋳し前述のマスタースタンパから剥離するこ
とによってマスタリングに用いた光学系の回折限界より
溝幅は細くすることができ、ピットは小さいものを形成
することが可能になる。そしてこのスタンパを用いるこ
とによって光記録媒体の容量を増大させることができ
る。
らかじめスタンパの土台となる金属層120を金属膜1
19を電極にして形成しておく。そして、その金属膜1
19の上にネガ型のレジスト層121を塗布し、レーザ
ー光を集光してそのレジスト層121の特定領域を露光
することによって、非露光部分は露光部分より狭くとる
ことが可能になる。その後、金属層120と同種の金属
膜124を成膜し、原盤118上に残っているレジスト
層121及びそのレジストの上に成膜された金属膜12
4を溶剤を用いて除去することによって作成されたスタ
ンパを用いることによってマスタリングに用いた光学系
の回折限界より溝幅は細くすることができ、ピットは小
さいものを形成することが可能になる。そしてこのスタ
ンパを用いることによって光記録媒体の容量を増大させ
ることができる。
盤133上にポジ型のレジスト層134を塗布し、その
レジスト層134の上に非晶性珪素膜、非晶性金属膜ま
たは微結晶性金属膜135を成膜し、その非晶性珪素
膜、非晶性金属膜または微結晶性金属膜135の上にさ
らにポジ型のレジスト層136を塗布し、レーザー光を
集光してそのレジスト層136の特定領域を露光し、現
像液を用いてその露光部分を現像し、その現像部分に開
いた前述の非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性
金属膜135の途中までドライエッチングする。これは
光の透過率の分布をもたせ、ドライエッチングによりレ
ーザー光分布の中心部の透過率を端部より強め、解像度
を向上させるためである。そして、全面に光を照射して
非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性金属膜の途
中までドライエッチングされた部分のレジスト層134
を露光し、現像されずに残ったレジスト層134および
非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性金属膜13
5を除去したのち金属膜142を成膜し、その金属膜1
42と同種または異種の金属層143膜を電鋳し、原盤
133から剥離し、非晶性珪素膜、非晶性金属膜または
微結晶性金属膜135および金属膜142を除去するこ
とによってマスタリングに用いた光学系の回折限界より
溝幅は細くすることができ、ピットは小さいものを形成
することが可能になる。そしてこのスタンパを用いるこ
とによって光記録媒体の容量を増大させることができ
る。
盤153の上に非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結
晶性金属膜154を成膜し、その非晶性珪素膜、非晶性
金属膜または微結晶性金属膜154の上にポジ型のレジ
スト層155を塗布し、光記録媒体の溝やピットに応じ
たマスクを用いて露光した後、その露光部分を現像液を
用いて現像する。その現像部分は上部が広く、下部が狭
い台形状になる傾向があるので、そこに開いた非晶性珪
素膜、非晶性金属膜または微結晶性金属膜154はその
部分をドライエッチングすることによって、従来より細
い線を解像することが可能になる。その後、現像されな
かった前述のレジスト層155を溶剤を用いて除去し、
金属膜160を成膜し、その金属膜160と同種または
異種の金属層161膜を電鋳し、前述の原盤153から
剥離することによってマスタリングに用いた光学系の回
折限界より溝幅は細くすることができ、ピットは小さい
ものを形成することが可能になる。そしてこのスタンパ
を用いることによって光記録媒体の容量を増大させるこ
とができる。
て、原盤169の上にポジ型のレジスト層170を塗布
し、そのレジスト層170の上に金属膜171を極薄く
成膜し、レーザー光を集光してその金属膜171上から
レジスト層170の特定領域を露光する。ここで、金属
膜171が極薄く成膜されているのでレジストの感光波
長の光が透過することができるので、下のレジスト層1
70を感光させることができる。このレジスト層170
を感光させる光はガウス分布をなしているので、中心部
の光強度が端部より強いことや、この極薄い金属膜は除
去される、すなわち光の端部が影響するは除去されるの
で解像度を向上させることが可能になる。その後、現像
液を用いて金属膜171および前述の露光部分を現像
し、その現像部分および非現像部分に金属膜174を成
膜し、その金属膜174と同種または異種の金属層17
5を電鋳することによってマスタリングに用いた光学系
の回折限界より溝幅は細くすることができ、ピットは小
さいものを形成することが可能になる。そしてこのスタ
ンパを用いることによって光記録媒体の容量を増大させ
ることができる。
て、原盤182の上にポジ型のレジスト層183を塗布
し、そのレジストの上に金属膜184を成膜し、その金
属膜184を光記録媒体のパターンに応じたマスクを用
いて反応性イオンエッチングを行なう。この場合、エッ
チング部の上部は下部より広い逆台形状をなす傾向にあ
り、これにより解像度を向上させることが可能になる。
その後レジスト層183の感光波長の光を前述のイオン
エッチング部全面に照射し、イオンエッチング部分に開
いた前述のレジスト層183を感光させ、その感光させ
た部分を現像し、エッチングされなかった前述の金属膜
184を除去し、金属膜189を成膜し、その金属膜1
89を電極にして金属層190を電鋳することによって
マスタリングに用いた光学系の回折限界より溝幅は細く
することができ、ピットは小さいものを形成することが
可能になる。そしてこのスタンパを用いることによって
光記録媒体の容量を増大させることができる。
て、原盤197の上にポジ型のレジスト層198を塗布
し、そのレジスト層198の上に金属膜199膜を形成
し、その金属膜199膜の上にさらにポジ型のレジスト
層200を塗布し、レーザー光を集光してそのレジスト
層200の特定領域を露光し、現像液を用いてその露光
部分を現像する。この場合、その現像部分は上部が下部
より幅が広い逆台形状になる傾向がある。そして、その
現像部分に開いた金属膜199膜をエッチングする。こ
の場合もエッチングされた上部が下部より幅が広い逆台
形状になる傾向があるので解像度を向上させることが可
能になる。その後、レジスト層198の感光波長の光を
そのエッチング部分全面に照射してそのエッチング部分
に開いたレジスト層198を露光し、現像液を用いてそ
のレジスト層198の露光部分およびレジスト層200
を現像する。その後、エッチングされなかった金属膜1
99膜を除去し、金属膜204を成膜し、その金属膜2
04を電極にして金属層205を電鋳することによって
マスタリングに用いた光学系の回折限界より溝幅は細く
することができ、ピットは小さいものを形成することが
可能になる。そしてこのスタンパを用いることによって
光記録媒体の容量を増大させることができる。
て、原盤214の上にポジ型のレジスト層215を塗布
し、レーザー光を集光して原盤214を回転させながら
レジスト層215の特定領域を露光し、現像液によって
レジスト層215の前述の露光部分を現像し、その現像
部分および非現像部分に金属膜219を成膜し、その金
属膜219と同種または異種の金属層220を電鋳する
ことによって作成する光記録媒体用スタンパにおいて、
金属膜219を成膜する前に、前述のレジスト層215
を現像した後LB膜を形成する。この場合、LB膜が現
像されたレジスト層215の溝を均一の膜厚に埋めるの
で、その溝は細くすることができ、解像度を向上させる
ことができる。そしてこれによってマスタリングに用い
た光学系の回折限界より溝幅は細くすることができ、ピ
ットは小さいものを形成することが可能になる。そして
このスタンパを用いることによって光記録媒体の容量を
増大させることができる。
て、原盤227の上に金属膜228を成膜し、その金属
膜228を電極にして金属層229を電鋳し、その金属
層229の上にポジ型のレジスト層230を塗布し、レ
ーザー光を集光してそのレジスト層230の特定領域を
露光し、現像液を用いてその露光部分を現像し、ドライ
エッチングでその現像部分に露出した金属膜228をエ
ッチングする。この場合、レジストの現像は上部が下部
より幅の広い逆台形状になる傾向があり、これによって
従来より解像度を向上させることが可能になる。その
後、溶剤を用いて現像されなかったレジスト層230を
除去し、金属層229膜を成膜し、その金属層229膜
の上に金属層235膜を電鋳し、原盤227から剥離
し、金属膜234を除去することによってマスタリング
に用いた光学系の回折限界より溝幅は細くすることがで
き、ピットは小さいものを形成することが可能になる。
そしてこのスタンパを用いることによって光記録媒体の
容量を増大させることができる。
て、原盤242の上に金属膜243を成膜し、その金属
層229膜の上にレジスト層244を塗布し、レーザー
光を用いてそのレジスト層244の特定領域を露光し、
現像液を用いてその露光部分を現像した後酸化珪素層2
47を形成し、前述のレジスト層244の非現像部分を
ドライエッチングで除去する。この場合、レジストの非
露光部分を狭くとることによって、その部分を後からエ
ッチングするので解像度を自由にとることができ、それ
によって高解像度のものが実現できる。そして、その除
去部分に現れた金属膜243をエッチングし、酸化珪素
層247を除去した後、金属膜250を成膜し、その金
属膜250の上に金属層251を電鋳して原盤242か
ら剥離し、金属膜243を除去することによってマスタ
リングに用いた光学系の回折限界より溝幅は細くするこ
とができ、ピットは小さいものを形成することが可能に
なる。そしてこのスタンパを用いることによって光記録
媒体の容量を増大させることができる。
いて説明する。図2(a)から図2(c)および図3
(a)から図3(c)は本発明になる請求項1に示す光
記録媒体を作成するために用いるスタンパの製造方法の
概念図である。
スト層、11は有機シリカ層、12はポジ型のレジスト
層、13はレジストの露光部分、14はレジストの現像
部分、15は有機シリカ層のエッチング予定部分、16
は有機シリカ層のエッチング部分、17はレジストの現
像予定部分、18はレジストの現像部分、19は金属
膜、20は金属膜、21は金属膜20を電極にして電鋳
される金属層、22は光記録媒体用スタンパである。
(a)から図3(c)に示す光記録媒体を作成するため
に用いるスタンパの製造方法は以下のようになる。
ジシラザン(HMDS)のベーパー処理をしてレジスト
との密着性を向上させる処理を施す。
ト10をスピンコート法によって塗布する。
1を形成する。
型のレジスト層12をスピンコート法によって塗布す
る。
シリカ層11およびレジスト層12をプリベークする。
た対物レンズの開口数NAが0.9の光学系を用いてほ
ぼ回折限界に集光して原盤9を回転させながらレジスト
層12の特定領域を光記録媒体のパターンに応じて露光
する。そうすると、レジストの露光部分13が形成さ
れ、図2(a)に示すようになる。
ト層13の露光部分を現像するとレジスト12の現像部
分14が形成される。そうすると、有機シリカ層11の
エッチング予定部分15が現れ、図2(b)に示すよう
になる。
ト12の現像部分に開いた有機シリカ層11をエッチン
グし、有機シリカ層11のエッチング部分16が形成さ
れ、レジスト10の現像予定部分17が現れ、図2
(c)に示すようになる。
て、レジスト12の現像されなかった部分および有機シ
リカ層11のエッチング部分16に開いたレジスト層1
0をエッチングする。そうすることによってレジストの
現像部分18が形成され、図3(a)に示すようにな
る。
の反応性を低下させ、さらに2回目の乾式エッチングを
すると1回目のエッチングでエッチングされなかった有
機シリカ層11がエッチングされる。
として銀銅を用い、スパッタリング法による真空成膜に
よって形成した。
膜20としてニッケルを用い、金属膜19と同様にスパ
ッタリング法による真空成膜によって形成した。
膜20と同種または異種の金属層21を電鋳すると図3
(b)に示すようになる。この金属層21としてニッケ
ル電鋳した。
の剥離液を用いて除去する。
体用スタンパを作成すると図3(c)に示すように光記
録媒体用スタンパ22が形成される。
3(a)から図3(c)に示す光記録媒体用スタンパの
作成原理を説明するための図である。
系の回折限界によって決まる幅である。24は現像する
ことによって形成されるレジスト層12の下部の幅であ
り、23より狭くなる。25は有機シリカ層11をエッ
チングすることによって形成される下部の幅であり、2
4より狭くなる。26はガラス製の原盤であり原盤9に
同じ、27はレジスト層10の非現像部、28は有機シ
リカ層11の非エッチング部、29はレジスト層12の
非現像部である。
布し、その上に有機シリカ層11を形成し、さらにその
上にレジスト層12層を形成し、レーザー光を集光して
特定領域の露光および現像すると、レジスト層10が現
像された部分の上部が広く下部が狭い逆台形状になり、
29の非現像部が残る。この逆台形の上部である23は
露光に用いる光学系によってきまり、24はそれより細
くなる。そしてこの23と24の差は用いるレジスト層
12の性質や露光条件によって変わる。その後24の幅
で開いた有機シリカ層11を乾式エッチングすると、そ
の下部の幅である25は24より狭くなる性質があり、
28の非エッチング部が残る。その後25の幅で開いた
レジスト層10を更にエッチングすると27の非現像部
が残り、25の幅の溝が形成され、用いる光学系の回折
限界より細い線を形成することが可能になる。
19膜であるAgCuを成膜し、さらに金属層20とし
てNiを真空成膜し、金属層21としてNiを電鋳し原
盤9から剥離し、金属層19であるAgCuを過酸化水
素アンモニア系の銀剥離液で除去および洗浄して、内外
型を加工することによって、従来より細い溝や小さいピ
ットを有する光記録媒体用スタンパを形成することが可
能になる。そして、こうしてできた光記録媒体用スタン
パを用いることによって光記録媒体の記憶容量を増大さ
せることができる。
て図面に基づいて説明する。図5(a)から図5(c)
および図6(a)から図6(d)は本発明になる請求項
2に示す光記録媒体を作成するために用いるスタンパの
製造方法の概念図である。
ジスト層、32は有機シリカ層、33はポジ型のレジス
ト層、34はレジスト層33の露光部分、35はレジス
ト層33の現像部分、36は有機シリカ層32のエッチ
ング予定部分、37はレジスト層33の現像部分、38
はレジスト層31の現像予定部分、39は金属膜、40
は金属膜、41は金属層、42は金属膜、43は金属
層、44は光記録媒体用スタンパである。
(a)から図6(d)に示す光記録媒体用スタンパの作
成方法は以下のようになる。
理をしてレジストとの密着性を向上させる処理を施す。
ンコート法によって塗布する。
を形成する。
レジスト層33を塗布する。
層31層、有機シリカ層32およびレジスト層33をプ
リベークする。
たNAが0.9の光学系を用いてほぼ回折限界に集光し
て、原盤30を回転させながらレジスト層33の特定領
域を光記録媒体のパターンに応じて露光する。そうする
と、レジスト層33の露光部分34が形成され、図5
(a)に示すようになる。
ト層33の露光部分34を現像するとレジスト層33の
現像部分35が現れ、図5(b)に示すようになる。
る。
ング予定部分36の有機シリカ層32を乾式エッチング
法によりエッチングすると図5(c)に示すようにな
り、レジスト層33の現像部分37が現れる。
レジスト層33および有機シリカ層32のエッチング部
分に開いたレジスト層31の現像予定部分38をエッチ
ングする。
すようになる。ここで金属膜39として、銀銅合金をス
パッタリング法によって真空成膜した。
および有機シリカ層32を溶剤を用いて除去する。
0として銀銅合金をスパッタリング法によって真空成膜
した。
40と同種または異種の金属層41を電鋳すると図6
(b)に示すようになる。ここで金属層41としてニッ
ケルを電鋳した。金属膜40をニッケル膜とし、金属膜
41もニッケルとして同種の金属を用いることもでき
る。
する。
9を除去する。
42として、銀銅合金を用いた。
層43を電鋳する。ここで、金属層43としてニッケル
を用いた。金属膜42をニッケルとし、金属層43もニ
ッケルとして同種の金属を用いることも可能である ・マザースタンパから剥離して内外型を加工するするこ
とによって図6(d)に示すように光記録媒体用スタン
パ44が形成される。
6(a)から図6(d)に示す光記録媒体用スタンパの
作成原理を説明するための図である。
系の回折限界によって決まる幅である。46は現像する
ことによって形成されるレジスト層33の下部の幅であ
り、45より狭くなる。47は有機シリカ層32をエッ
チングすることによって形成される溝の下部の幅であ
り、46より狭くなる。48はレジスト層31を露光お
よび現像することによってガラス製の原盤30上に開く
現像部、49はガラス製の原盤であり原盤30に同じ、
50はレジスト層31の非現像部、51は有機シリカ層
32の非エッチング部、52はレジスト層33の非現像
部である。
機シリカ層32、レジスト層33と順次形成し、光学系
の回折限界で露光および現像すると、52の部分が現像
されずに残る。そして現像部分は逆台形状になる性質が
ある。この逆台形になる具合いは用いるレジスト層33
の性質や露光条件によって変わる。そうするとレジスト
層33の表面部が回折限界の45の幅であると、エッチ
ングされた有機シリカ層32の低面部である46はそれ
以下になり、有機シリカ層32の非エッチング部51が
できる。この部分をさらに露光および現像するとさらに
レジスト層31部では47のように狭い幅とすることが
でき、原盤49上では48の幅ができる。そして、レジ
スト層31の非現像部50ができる。
するとその幅は48の幅となり、露光に用いる光学系の
回折限界より狭くなる。その後原盤49上に残ったレジ
スト層31、有機シリカ層32、およびレジスト層33
層は溶剤によって剥離する。そして、光記録媒体用スタ
ンパの土台になるニッケル等の金属を真空成膜し、その
真空成膜部を電極にしてさらに電鋳して厚さをかせい
で、原盤49から剥離することによって、従来より細い
溝や小さいピットを有する光記録媒体用スタンパを形成
することが可能になる。そしてこの光記録媒体用スタン
パを用いることによって光記録媒体の容量を増大させる
ことができる。
て図面に基づいて説明する。図8(a)から図8(c)
および図9(a)から図9(c)は本発明になる請求項
3に示す光記録媒体を作成するために用いるスタンパの
製造方法の概念図である。
5は金属層、56はポジ型のレジスト層、57は有機シ
リカ層、58はポジ型のレジスト層、59はレジスト層
56の露光部分、60はレジスト層56の現像部分、6
1は有機シリカ層57のエッチング予定部分、62は有
機シリカ層57のエッチング部分、63はレジスト層5
6の現像予定部分、64は金属膜、65は完成した光記
録媒体用スタンパである。
(a)から図9(c)に示す光記録媒体用スタンパの製
造方法は以下のようになる。
ー処理を施した後、金属膜54を成膜する。この場合、
後で原盤53から剥離が容易なように、金属膜54を成
膜する前に54’の金属膜またはセラミックス膜を成膜
してもかまわない。ここでは金属膜54としてニッケル
を用い、54’の金属膜として銀銅合金を用いた。
と同種または異種の金属層55を電鋳して金属層55層
を形成する。ここでは金属層55層として金属膜54と
同種のニッケルを用いたが、この金属膜54と金属層5
5とは異なっていてもかまわない。
してニッケルを成膜して表面性の改善を行なう。この場
合、酸化セリウムを用いて鏡面研磨することによる表面
性の改善でもよい。
にポジ型のレジスト層56をスピンコート法によって塗
布する。
カ層57を形成する。
ト層58をスピンコート法によって塗布する。
6の特定領域を光記録媒体のパターンに応じて、集光し
たレーザー光により露光すると図8(a)に示すように
なりレジスト層56の露光部分59ができる。
ト層56の露光部分59を現像する。そうすると現像部
分の上部が下部より広い形状になり、レジスト層56の
現像部分60および有機シリカ層57のエッチング予定
部分61ができて図8(b) に示すようになる。
ング予定部分61の有機シリカ層32を乾式エッチング
法によりエッチングすると図8(c)に示すようにな
り、有機シリカ層57のエッチング部分62およびレジ
スト層56の現像予定部分63が現れる。
レジスト層58および有機シリカ層57のエッチング部
分62に開いたレジスト層56の現像予定部分63をエ
ッチングすると金属層55が露出する。
リカ層57の非エッチング部分に金属層55と同種の金
属膜64を真空成膜すると図9(a)に示すようにな
る。ここでは金属膜64として金属層55と同種のニッ
ケルを用いた。
7、その有機シリカ層57の上に成膜された金属膜64
およびレジスト層56の非現像部分を除去すると図9
(b)に示すようになる。
加工することによって図9(d)に示すように光記録媒
体用スタンパ65が形成される。
図9(a)から図9(b)に示す光記録媒体用スタンパ
の作成原理を説明するための図である。
系の回折限界によって決まる幅である。67は現像する
ことによって形成されるレジスト層58の下部の幅であ
り、66より狭くなる。68は有機シリカ層57をエッ
チングすることによって形成される溝の下部の幅であ
り、67より狭くなる。69はレジスト層56を露光お
よび現像することによってガラス製の原盤71上に開く
現像部、70はレジスト層56をエッチングすることに
よって露出した金属層55に成膜された金属膜64、7
1はガラス製の原盤であり原盤53に同じ、72は電鋳
によって形成された金属層であり金属層55に同じ、7
3はレジスト層56の非現像部、74は有機シリカ層5
7の非エッチング部、75はレジスト層58の非現像部
である。
機シリカ層57、レジスト層58と順次形成し、光学系
の回折限界で露光および現像すると、75の部分が現像
されずに残る。そして現像部分は逆台形状になる性質が
ある。この逆台形になる具合いは用いるレジスト層58
の性質や露光条件によって変わる。そうするとレジスト
層58の表面部が回折限界の66の幅であると、現像さ
れたレジスト層58の下部の幅である67はそれ以下に
なる。そしてその部分をエッチングすると、有機シリカ
層57の非エッチング部74ができ、そのエッチングさ
れた有機シリカ層57の低面部である68はそれ以下に
なる。そして、この部分をさらに露光および現像すると
レジスト層56の非現像部73ができ、その現像部分の
低面部では67の幅が達成できる。
真空成膜するとその幅は70の幅となり、露光に用いる
光学系の回折限界より狭くなる。その後原盤71上に残
ったレジスト層56、有機シリカ層57、およびレジス
ト層58層は溶剤によって剥離すると金属膜64は直接
金属層72上に形成される。そして、原盤71から剥離
することによって、従来より細い溝や小さいピットを有
する光記録媒体用スタンパを形成することが可能にな
る。これによって、従来より細い溝や小さいピットを有
する光記録媒体用スタンパを形成することが可能にな
り、これを用いることによって光記録媒体の容量を増大
させることができる。
て図面に基づいて説明する。図11(a)から図11
(c)および図12(a)から図12(c)は本発明に
なる請求項4に示す光記録媒体を作成するために用いる
スタンパの製造方法の概念図である。
ジスト層、78はレジスト層77の表面処理部分、79
はレジスト層77の露光部分、80は表面処理をしない
場合の現像部分、81はDeepUV処理または加熱処
理による表面処理をする場合の現像部分、82は紫外線
照射またはオゾン処理により現像とともに表面処理部が
除去されたときのレジスト層77の現像部分、83は金
属膜、84は金属層、85は光記録媒体用スタンパであ
る。
2(a)から図12(c)に示す光記録媒体用スタンパ
の作成方法は以下のようになる。
ベーパー処理をしてレジストとの密着性を向上させる処
理を施す。
コート法によって塗布する。
層77をプリベークする。
eepUV処理、オゾン処理ま たは加熱処理を施し、
レジスト77層の表面処理部分78を形成する。
オゾン処理または加熱処理はレジスト層77の極表面の
みに作用する程度に行なう。紫外線照射およびオゾン処
理の場合はレジスト層77の表面部を反応させてアルカ
リ可溶とする。DeepUV処理または加熱処理の場合
はレジスト層77の表面の反応性を低下させる。
た対物レンズのNAが0.9の光学系を用いてほぼ回折
限界に集光して、原盤76を回転させながらレジスト層
77の特定領域を光記録媒体のパターンに応じて露光す
る。そうすると、レジスト層77の露光部分79が形成
され、図11(a)に示すようになる。
77の露光部分を現像すると、DeepUV処理または
加熱処理による表面処理をする場合の本発明になる現像
部分81ができ、図11(b)に示すように、表面処理
をしない場合の現像部分80より狭くなる。また、紫外
線照射またはオゾン処理により現像とともに表面処理部
が除去されたときのレジスト層77の現像部分82が形
成され、図11(c)に示すようになる。以後図11
(c)を用いた例について説明する。
る。
ところに金属膜83を成膜すると図12(a)に示すよ
うになる。ここでは金属膜83として銀銅合金をスパッ
タリング法によって真空成膜した。
属層84を電鋳すると図12(b)に示すようになる。
ここでは金属層84としてニッケル層を電鋳した。
ることによって図12(c)に示すように光記録媒体用
スタンパ85が形成される。
よび図12(a)から図12(c)に示す光記録媒体用
スタンパの作成原理を説明するための図である。
系の回折限界によって決まる幅である。87は現像する
ことによって形成されるレジスト層77の幅であり、8
6より狭くなる。88はガラス製の原盤であり原盤76
に同じ、89はレジスト層77の非現像部である。
布し、そのレジスト層77の表面に紫外線照射、Dee
pUV処理、オゾン処理または加熱処理を施す。これら
の処理はレジストの極表面のみに作用する程度にするた
め、原盤76を冷却しながら行なう。そうするとレジス
ト層77の表面の反応性が低下し、用いる集光されたレ
ーザーが示すガウス分布の中心部の寄与が大きくなり、
端部の影響がでにくくなるため、レーザーカッティング
に用いる光学系の回折限界によって決まる幅86より細
い線を現像することができる。その後現像することによ
って、87の幅で現像されて、レジスト層77の非現像
部89が形成される。そして、金属膜83を成膜し、そ
の金属膜83を電極にして金属膜84を電鋳し、原盤7
6から剥離する。そうすると、従来より細い溝や小さい
ピットを有する光記録媒体用スタンパを形成することが
可能になり、これを用いることによって光記録媒体の容
量を増大させることができる。
て図面に基づいて説明する。図14(a)から図14
(c)および図15(a)から図15(c)は本発明に
なる光記録媒体を作成するために用いるスタンパの製造
方法の概念図である。
ジスト層、92はレーザー光照射によってカッティング
に用いるレーザー光の透過率が上昇する性質を有する水
溶性樹脂層、93は水溶性樹脂層92およびレジスト層
91の露光部分、94は水溶性樹脂層の現像部分、95
はレジスト層91の現像部分、96は金属膜、97は9
6の金属膜を電極にして電鋳される金属層、98は光記
録媒体用スタンパである。
5(a)から図15(c)に示す光記録媒体用スタンパ
の作成方法は以下のようになる。
ベーパー処理をしてレジストとの密着性を向上させる処
理を施す。
ンコート法によって塗布する。
ト層91をプリベークする。
用いるレーザー光の透過率が上昇する性質を有する水溶
性樹脂層92をスピンコート法によって200Å形成す
る。これは、ポリビニルピロリドンに光カチオン発生剤
とカチオンにより退色する性質を有する物質を分散させ
たものを用いた。
レーザー(442nm)を用いたNAが0.9の光学系
を用いてほぼ回折限界で、光記録媒体のパターンに応じ
て露光する。そうすると、水溶性樹脂層93およびレジ
スト層91の露光部分ができ、図14(a)に示すよう
になる。
液で、原盤90を回転させながらリンスする。
と、水溶性樹脂層93の現像部分、レジスト層91の現
像部分94ができ、図14(b)を経て図14(c)に
示すようになる。もっとも、水溶性樹脂層93の現像部
分はリンスしたときに除去されてしまうので、実在しな
いが説明にために挙げてある。
反応性を低下させる。
1の現像部分の上に金属膜96を成膜すると図15
(a)に示すようになる。ここでは金属膜96としてニ
ッケル膜をスパッタリング法を用いて真空成膜した。
7を電鋳すると図15(b)に示すようになる。ここで
は金属層97としてニッケル層を電鋳し た。
ことによって図15(c)に示すように光記録媒体用ス
タンパ98ができる。
よび図15(a)から図15(c)に示す光記録媒体用
スタンパの作成原理を説明するための図である。
系の回折限界によって決まる幅である。100は現像に
よって形成される幅であり、99より狭くなる。101
はガラス製の原盤であり原盤90に同じ、102はレジ
スト層91部分、103は除去される水溶性樹脂層であ
る。
を塗布し102のレジスト層91部分を形成する。その
上にさらに水溶性樹脂層を形成し、それを水でリンスま
たは現像すると、除去された水溶性樹脂層103となる
ので、その分だけ溝幅は浅くしかも細くなる。この場
合、水溶性樹脂層がカッティングに用いるレーザー光に
よりカチオンを発生し、pHが変わりそれによって透過
率が上昇する性質を有すると、レーザー光によって透過
率が上昇する領域と、光スポットの領域がずれ、それら
の重なった部分だけ、レジストが露光されることにな
り、レーザーカッティングに用いる光学系の回折限界に
よって決まる幅99より狭い、現像によって形成される
幅100が達成される。これによって、従来より細い溝
や小さいピットを有する光記録媒体用スタンパを形成す
ることが可能になり、これを用いることによって光記録
媒体の容量を増大させることができる。
光カチオン発生剤およびpHによって少なくともHeC
dレーザーの442nmの波長の光の透過率が向上する
物質を含有した。水溶性樹脂の母剤としてN−ビニルピ
ロリドンを用いた。また、本実施例5においては、レジ
スト層の上に形成される水溶性樹脂の中に水溶性変成ナ
フトキノンジアジドを用いることもできたが、従来のレ
ジストとの反応性を合致させるためである。また、レジ
スト層は表面が疎水性であり、その上に水溶性樹脂を薄
く塗布することは非常に困難であるので、レジスト層表
面を活性化した後に行なうことが必要になる。その活性
化の方法としては、界面活性剤を塗布したり、プラズマ
処理したりすることなどが考えられる。また、レジスト
層の上に形成する水溶性樹脂層は非常に薄く形成しなけ
ればならないので、光に対する光学特性をレジストと合
わせたLB膜により形成してもよい。この場合、LB膜
は1から数分子層形成できるように、分子中に親水基と
疎水基を導入しなければならない。
1の現像部分95に直接金属膜96であるニッケル膜を
成膜したが、後で溶解可能なAgSiのような金属膜を
形成した後に、金属膜96を成膜してもよい。この場
合、この後で溶解可能な金属膜を溶解する工程が増える
ことになる。これは、金属層97を電鋳するとき、原盤
90から剥離することを防ぐため、あるいは原盤90か
ら完成したスタンパを剥離するときにレジスト残りを除
去するために用いられる場合である。また、アルカリ可
溶性樹脂として、レジストの露光したものを用いること
もできる。すなわち、レジスト中のナフトキノンジアジ
ドを露光することによってすべてインデンカルボン酸に
して、レジスト層91の上に塗布するようにすることも
可能である。
て図面に基づいて説明する。図17(a)から図17
(c)および図18(a)から図18(c)は本発明に
なる光記録媒体を作成するために用いるスタンパの製造
方法の概念図である。
のレジスト層、106はレジスト層105の露光部分、
107はレジスト層105の現像部分、108は金属
膜、109は金属膜、110は10金属膜54を電極に
して電鋳される金属層、111はマザースタンパを型と
して電鋳した金属層、112は光記録媒体用スタンパで
ある。
8(a)から図18(c)に示す光記録媒体用スタンパ
の作成方法は以下のようになる。
HMDSのベーパー処理をしてレジストとの密着性を向
上させる処理を施す。
スト層105をスピンコート法によって塗布する。
0.9の対物レンズを用いたHeCdレーザーの光をほ
ぼ回折限界まで集光して、レジスト層105の特定領域
を光記録媒体のパターンに応じて露光すると、レジスト
層105の露光部分106が形成され図17(a)に示
すようになる。
像液で現像するとレジストの現像部107が形成され、
その現像部分107および非現像部分に金属膜108を
成膜すると図17(b)に示すようになる。ここでは、
この金属膜108としてスパッタリング法によって銀銅
合金を真空成膜した。
のレジスト層105の非現像部分に成膜された金属膜1
08を溶剤を用いて除去する。
を成膜すると図17(c)に示すようになる。ここで
は、この金属膜109としてニッケルをスパッタリング
法によって真空成膜した。
10を電鋳すると図18(a)に示すようになる。ここ
ではこの金属層110として金属膜109と同種のニッ
ケルを電鋳した。この金属膜109と金属膜110は異
なっていても構わない。
スタンパとする。
用いてマザースタンパに残っている金属膜108を除去
する。
属層111を電鋳すると図18(b)に示すようにな
る。ここではニッケルを電鋳したが、このニッケルNi
を電鋳する前にさらにAgCu合金を真空成膜したり、
アッシング処理等を施して、金属板との剥離を容易にす
る方法をとることも可能である。
加工することによって図18(c)に示すように光記録
媒体用スタンパ112が形成される。
よび図18(a)から図18(c)に示す光記録媒体用
スタンパの作成原理を説明するための図である。
学系の回折限界によって決まる幅である。114は現像
部分の下部の幅であり、113より狭くなる。115は
レジスト層105の非現像部、116はレジスト層10
5の現像部に成膜された金属膜で金属膜108に同じ、
117はガラス製の原盤であり原盤104に同じであ
る。
105形成し、光学系の回折限界で露光および現像する
と、114の部分が現像されずに残る。そして現像部分
は逆台形状になる性質がある。この台形になる具合いは
用いるレジスト層105の性質や露光条件によって変わ
る。そうするとレジスト層105の表面部が回折限界の
113の幅であっても、レジスト層105がネガ型であ
るので115の非現像部はいくらでも狭くとることがで
きる。すなわち、現像部は光学系の回折限界以下の11
4の幅が達成できる。
空成膜するとその幅は114の幅となり、露光に用いる
光学系の回折限界より狭くなる。その後原盤117上に
残ったレジスト層105を溶剤によって除去する。そし
て、光記録媒体用スタンパの土台になるニッケル等の金
属を真空成膜し、その真空成膜部を電極にしてさらに電
鋳して厚さをかせいで、原盤117から剥離してマスタ
ースタンパとし、さらにそのマスタースタンパを型とし
て電鋳することによって、従来より細い溝や小さいピッ
トを有する光記録媒体用スタンパを形成することが可能
になる。そしてこの光記録媒体用スタンパを用いること
によって光記録媒体の容量を増大させることが可能にな
る。
て図面に基づいて説明する。図20(a)から図20
(c)および図21(a)から図21(c)は本発明に
なる光記録媒体を作成するために用いるスタンパの製造
方法の概念図である。
膜、120は金属層、121はネガ型のレジスト層、1
22はレジスト層121の露光部分、123はレジスト
層121の現像部分、124は123の上に成膜された
金属膜、125はレジスト層121の現像されなかった
部分に成膜された金属膜124、126は光記録媒体用
スタンパである。
1(a)から図21(c)に示す光記録媒体用スタンパ
の作成方法は以下のようになる。
9を成膜する。ここではガラス原盤118との剥離を容
易にするため、銀珪素合金をスパッタリング法によって
真空成膜した。
120を電鋳した。この金属層120としてニッケルを
電鋳した。
ト層121をスピンコート法によって塗布すると図20
(a)に示すようになる。
0.9の対物レンズを用いたHeCdレーザーの光をほ
ぼ回折限界まで集光してレジスト層121の特定領域を
光記録媒体のパターンに応じて露光すると、122のレ
ジスト層121の露光部分が122形成され、図20
(b)に示すようになる。
分を溶剤系の現像液で現像すると、レジスト層121の
現像部分123ができ、図20(c)に示すようにな
る。
膜124を成膜すると図21(a)に示すようになる。
ここでは金属層120と同種のニッケルをスパッタリン
グ法によって真空成膜した。
21及びそのレジストの上に成膜された金属膜124お
よび金属膜125を溶剤または乾式エッチング法を用い
て除去すると図20(b)に示すようになる。
て、光記録媒体用スタンパ126ができ、 図21
(c)に示すようになる。
よび図21(a)から図21(c)に示す光記録媒体用
スタンパの作成原理を説明するための図である。
学系の回折限界によって決まる幅である。128は現像
部分の下部の幅であり、127より狭くなる。129は
レジスト層121の非現像部、130はレジスト層12
1の現像部に成膜された金属膜124、131はガラス
製の原盤132上に形成された金属層120、132は
ガラス製の原盤であり118に同じである。
成し、その金属膜119を電極にして金属層120を電
鋳し、その電鋳した上にネガ型のレジスト層121層形
成し、光学系の回折限界で露光し現像すると、129の
部分が現像されずに残る。そして現像部分は逆台形状に
なる性質がある。この逆台形になる具合いは用いるレジ
スト層121の性質や露光条件によって変わる。そうす
るとレジスト層121の表面部が回折限界の127の幅
であっても、レジスト層121がネガ型であるので12
9の非現像部はいくらでも狭くとることができる。すな
わち、現像部は光学系の回折限界以下の128の幅が達
成でき、ガラス製の原盤132上に形成された金属層1
20が露出する。そしてその128の幅で金属膜124
をガラス製の原盤132上に形成された金属層120の
上に成膜すると、この幅は128の幅となり光学系の回
折限界より狭い幅が達成できる。その後原盤132から
剥離して内外型を加工することによって、従来より細い
溝や小さいピットを有する光記録媒体用スタンパを形成
することが可能になり、これを用いることによって光記
録媒体の容量を増大させることができる。
て図面に基づいて説明する。図23(a)から図23
(c)および図24(a)から図24(c)は本発明に
なる光記録媒体を作成するために用いるスタンパの製造
方法の概念図である。
のレジスト層、135は非晶性珪素膜、非晶性金属膜ま
たは微結晶性金属膜、136はポジ型のレジスト層、1
37はレジスト層136の露光部分、138はレジスト
層136の現像部分、139は非晶性珪素膜、非晶性金
属膜または微結晶性金属膜のエッチング部分、140は
レジスト層134の露光部分、141はレジスト層13
4の現像部分、142は金属膜、143は金属膜142
を電極にして電鋳される金属層、144は光記録媒体用
スタンパである。
4(a)から図24(c)に示す光記録媒体用スタンパ
の作成方法は以下のようになる。
のベーパー処理をしてレジストとの密着性を向上させる
処理を施す。
4をスピンコート法によって塗布する。
膜、非晶性金属膜または微結晶性金属膜135を成膜す
る。ここではスパッタリング法を用いて真空成膜した。
微結晶性金属膜135の上にさらにポジ型のレジスト層
136をスピンコート法によって塗布する。
0.9の対物レンズを用いたHeCdレーザーの光をほ
ぼ回折限界まで集光してレジスト層136の特定領域を
光記録媒体のパターンに応じて露光すると、レジスト層
136の露光部分137が形成され、図23(a)に示
すようになる。
光部分を現像するとレジスト層136の現像部分138
が形成され図23(b)に示すようになる。
晶性金属膜または 微結晶性金属膜135の途中までド
ライエッチングすると非晶性珪素膜、非晶性金属膜また
は微結晶性金属膜のエッチング部分139ができる。
性金属膜または微結晶性金属膜135の途中までドライ
エッチングされた部分の下部のレジスト層136を露光
するとレジスト層134の露光部分140ができ、図1
2(c)に示すようになる。
することによって、レジスト層136の現像部分が14
1形成される。
よび非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性金属膜
135を除去すると図13(a)に示すようになる。
非晶性金属膜または微結晶性金属膜135を除去した後
に金属膜142を成膜する。ここでは金属膜142とし
て、銀銅合金をスパッタリング法によって真空成膜し
た。
43膜を電鋳すると図13(b)に示すようになる。こ
こで金属層143としてニッケルを電鋳した。
非晶性金属膜または微結晶性金属膜135および金属膜
142を除去する。
て、光記録媒体用スタンパ144ができ、 図24
(c)に示すようになる。
よび図24(a)から図24(c)に示す光記録媒体用
スタンパの作成原理を説明するための図である。
学系の回折限界によって決まる幅である。146は現像
することによって形成されるレジスト層33の下部の幅
であり、145より狭くなる。147は非晶性珪素膜、
非晶性金属膜または微結晶性金属膜135をエッチング
することによって形成される溝の下部の幅であり、14
6より狭くなる。148はレジスト層136を露光およ
び現像することによって形成される現像部、149はガ
ラス製の原盤であり原盤133に同じ、150はレジス
ト層134の非現像部、151は非晶性珪素膜、非晶性
金属膜または微結晶性金属膜135の非エッチング部、
152はレジスト層136の非現像部である。
ト層134、非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶
性金属膜135、ポジ型のレジスト層136の順に順次
形成する。そして、レーザー光を集光してレジスト層1
36の特定領域を光記録媒体のパターンに応じて露光し
現像するとレジスト層136を露光および現像すること
によって形成される現像部148およびレジスト層13
6の非現像部152が形成される。この場合レジスト層
136の現像部148は上部がレーザーカッティングに
用いる光学系の回折限界145によって決まる幅である
と、下部が146の幅となり、光学系の回折限界以下に
なる。そして、146の幅で開いたところの非晶性珪素
膜、非晶性金属膜または微結晶性金属膜135をドライ
エッチングによって途中までエッチングすると147の
幅が達成され、非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結
晶性金属膜の非エッチング部151ができる。そしてそ
のエッチング部では中心部が透過率が上昇し、端部の透
過率はそれほど上昇しない構造となる。すなわち透過率
の分布をもたせることが可能になる。そこで、この透過
率の分布を利用して、その下に形成してあるレジスト層
134を露光および現像するとレジスト層134の非現
像部150が形成され、現像部ではレーザーカッティン
グに用いる光学系の回折限界によって決まる幅145よ
り狭い146の幅が達成される。これによって、従来よ
り細い溝や小さいピットを有する光記録媒体用スタンパ
を形成することが可能になり、これを用いることによっ
て光記録媒体の容量を増大させることができる。
て図面に基づいて説明する。図26(a)から図26
(c)および図27(a)から図27(c)は本発明に
なる光記録媒体を作成するために用いるスタンパの製造
方法の概念図である。
珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性金属膜、155は
ポジ型のレジスト層、156はマスク、157はレジス
ト層155の露光部分、158はレジスト層155の現
像部分、159は非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微
結晶性金属膜のエッチング部分、160は金属膜、16
1は金属層、162は光記録媒体用スタンパである。
7(a)から図27(c)に示す光記録媒体用スタンパ
の作成方法は以下のようになる。
膜、非晶性金属膜または微結晶性金属膜154を成膜す
る。ここではスパッタリング法により真空成膜した。
微結晶性金属膜154の上に155のポジ型のレジスト
層155をスピンコート法によって塗布する。
をプリベークする。
ットに応じたマスク156を用いて露光するとレジスト
層155の露光部分157が形成され図26(a)に示
すようになる。
いて現像するとレジスト層155の現像部分158が形
成され、図26(b)に示すようになる。
たレジスト層155をアフターベークする。
晶性金属膜または微結晶性金属膜154をドライエッチ
ングするとそのエッチング部分159が形成され、図2
6(c)に示すようになる。
剤を用いて除去すると図27(a)に示すようになる。
膜160として銀銅合金を真空成膜した。
属層161を電鋳すると図27(b)に示すようにな
る。ここでは金属層161としてニッケルを電鋳したの
で、金属膜160と異なる金属を用いたことになる。し
かし、金属膜160をニッケルとし、金属層161もニ
ッケルとする同種の金属をもちいることも可能である。
することによって図27(c)に示すように光記録媒体
用スタンパ162が形成される。
よび図27(a)から図27(c)に示す光記録媒体用
スタンパの作成原理を説明するための図である。
学系の回折限界によって決まる幅である。164は現像
することによって形成されるレジスト層155の下部の
幅であり、163より狭くなる。165はレジスト層1
55を露光および現像することによって現れる下の非晶
性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性金属膜、166
はガラス製の原盤であり原盤153に同じ、167は非
晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性金属膜の非エ
ッチング部、168はレジスト層155の非現像部であ
る。
非晶性金属膜または微結晶性金属膜154、ポジ型のレ
ジスト層155の順に順次形成する。そして、マスク1
56を用いてレジスト層155の特定領域を光記録媒体
のパターンに応じて露光し現像するとレジスト層155
の非現像部168が形成される。この場合レジスト層1
55の現像部は上部がレーザーカッティングに用いる光
学系の回折限界によって決まる幅163であると、下部
が164の幅となり、光学系の回折限界以下になる。そ
して、164の幅で開いた非晶性珪素膜、非晶性金属膜
または微結晶性金属膜165をドライエッチングによっ
てエッチングする。そうすると非晶性珪素膜、非晶性金
属膜または微結晶性金属膜の非エッチング部167がで
きる。そしてそのエッチング部を利用して、金属膜16
0を成膜し、その金属膜160を電極にして金属層16
1を電鋳し、ガラス製の原盤166から剥離することに
よって、従来より細い溝や小さいピットを有する光記録
媒体用スタンパを形成することが可能になり、これを用
いることによって光記録媒体の容量を増大させることが
できる。
ついて図面に基づいて説明する。図29(a)から図2
9(c)および図30(a)から図30(c)は本発明
になる光記録媒体を作成するために用いるスタンパの製
造方法の概念図である。
のレジスト層、171は金属膜、172はレジスト層1
70の露光部分、173はレジスト層170の現像部
分、174は金属膜、175は174を電極にして電鋳
される金属層、176は光記録媒体用スタンパである。
0(a)から図30(c)に示す光記録媒体用スタンパ
の作成方法は以下のようになる。
のベーパー処理をしてレジストとの密着性を向上させる
処理を施す。
70をスピンコート法によって塗布する。
1を極薄く成膜すると図29(a)に示すようになる。
ここではアルミニウム亜鉛合金を15nmの厚さに成膜
したが、これに限定されるものではなく無機系のアルカ
リ現像液に溶解し、極薄い場合透過率がある程度確保で
きるものであれば何ら問題ない。
0.9の対物レンズを用いたHeCdレーザーの光をほ
ぼ回折限界まで集光してレジスト層170の特定領域を
光記録媒体のパターンに応じて露光すると、レジスト層
170の露光部分172が形成され、図29(b)に示
すようになる。
171および露光部分を現像するとレジスト層170の
現像部分173が形成され、図29(c)に示すように
なる。
174を成膜すると図30(a)に示すようになる。こ
こでは金属膜174として銀銅合金をスパッタリング法
によって真空成膜した。
属層175を電鋳すると図30(b)に示すようにな
る。ここでは金属層175としてニッケルを電鋳した
が、金属膜174もニッケル膜として同種のものを用い
ることができる。
ることによって図30(c)に示すように光記録媒体用
スタンパ167が形成される。
よび図30(a)から図30(c)に示す光記録媒体用
スタンパの作成原理を説明するための図である。
学系の回折限界によって決まる幅である。178は現像
することによって形成されるレジスト層170の幅であ
り、177より狭くなる。179はレジスト層170を
露光および現像することによって形成される現像部、1
80はガラス製の原盤であり169に同じ、181はレ
ジスト層170の非現像部である。
0を塗布し、そのレジスト層170の上に金属膜171
を極薄く成膜し、レーザー光を集光してその金属膜17
1上からレジスト層170の特定領域を露光し、現像液
を用いて金属膜171および露光部分を現像することに
よって、レジスト層170を露光および現像することに
よって形成される現像部179とレジスト層170の非
現像部181が形成されるが、レーザー光の強度分布の
端の部分は金属膜171に吸収されてレジスト層170
まで達しない。したがって、レーザー光の強度が強い中
心部の影響だけがレジスト層170上に現れ、現像する
ことによって形成されるレジスト層170の幅178が
達成され、これは177のレーザーカッティングに用い
る光学系の回折限界によって決まる幅より狭くなる。そ
の現像部分および非現像部分に金属膜174を成膜し、
その金属膜174と同種または異種層175を電鋳する
ことによって、従来より細い溝や小さいピットを有する
光記録媒体用スタンパを形成することが可能になり、こ
れを用いることによって光記録媒体の容量を増大させる
ことができる。
ついて図面に基づいて説明する。図32(a)から図3
2(c)および図33(a)から図33(c)は本発明
になる光記録媒体を作成するために用いるスタンパの製
造方法の概念図である。
のレジスト層、184は金属膜、185はマスク、18
6は金属膜184のエッチング部分、187はレジスト
層183の露光部分、188はレジスト層183の現像
部分、189は金属膜、190は金属層、191は光記
録媒体用スタンパである。
3(a)から図33(c)に示す光記録媒体用スタンパ
の作成方法は以下のようになる。
のベーパー処理をしてレジストとの密着性を向上させる
処理を施す。
83をスピンコート法によって塗布する。
する。ここではアルミニウム−マグネシウム合金をスパ
ッタリング法によって真空成膜した。
ンに応じたマスク185を用いて反応性イオンエッチン
グを行なうと金属膜184のエッチング部分186が形
成され、図32(a)に示すようになる。
ンエッチング部全面に照射してイオンエッチング部分に
開いたレジスト層183を感光させるとレジスト層18
3の露光部分187が形成され、図32(b)に示すよ
うになる。
像ずるとレジスト層183の現像部分188が形成され
る。
除去すると図32(c)に示すようになる。
に示すようになる。
90を電鋳すると図33(b)に示すようになる。ここ
では金属層190としてニッケルを電鋳した。
ることによって図33(c)に示すように光記録媒体用
スタンパ191が形成される。
よび図33(a)から図33(c)に示す光記録媒体用
スタンパの作成原理を説明するための図である。
幅である。193は現像することによって形成されるレ
ジスト層183の幅であり、192より狭くなる。19
4はガラス製の原盤であり182に同じ、195は金属
膜184の非エッチング部、196はレジスト層183
の非現像部である。
3を塗布し、そのレジストの上に金属膜184を成膜
し、その金属膜を光記録媒体のパターンに応じたマスク
を用いて反応性イオンエッチングを行なう。このときマ
スクが光学系の回折限界の192の幅で形成されている
と、それによって形成されるエッチング部分は192の
幅になるが、そのエッチングすることによってその部分
は台形状となる性質があるため、その部分の下部は19
3の幅となる。そして、金属膜184の非エッチング部
195が形成される。次に、レジスト層183の感光波
長の光をイオンエッチング部全面に照射し、イオンエッ
チング部分に開いたレジスト層183を感光させ、金属
膜184の非エッチング部195に残った金属膜184
を除去し、現像するとレジスト層183の非現像部19
6が形成される。その後、金属膜189を成膜し、その
金属膜189を電極にして金属層190を電鋳すること
によって、従来より細い溝や小さいピットを有する光記
録媒体用スタンパを形成することが可能になり、これを
用いることによって光記録媒体の容量を増大させること
ができる。
ついて図面に基づいて説明する。図35(a)から図3
5(c)および図36(a)から図36(c)は本発明
になる光記録媒体を作成するために用いるスタンパの製
造方法の概念図である。
ト層、199は金属膜、200はポジ型のレジスト層、
201はレジスト層200の露光部分、202は金属膜
199のエッチング部分、203はレジスト層198の
現像部分、204は金属膜、205は金属膜204を電
極にして電鋳される金属層、206は光記録媒体用スタ
ンパである。
6(a)から図36(c)に示す光記録媒体用スタンパ
の作成方法は以下のようになる。
のベーパー処理をしてレジストとの密着性を向上させる
処理を施す。
98をスピンコート法によって塗布する。
9膜を形成する。ここでは銀銅合金をスパッタリング法
による真空成膜によって形成した。
のレジスト層200をスピンコート法によって塗布す
る。
0.9の対物レンズを用いたHeCdレーザーの光をほ
ぼ回折限界まで集光してレジスト層200の特定領域を
光記録媒体のパターンに応じて露光すると、レジスト層
200の露光部分201が形成され、図35(a)に示
すようになる。
る。
エッチングすると金属膜199のエッチング部202が
形成され、図35(b)に示すようになる。
エッチング部202全面に照射して、そのエッチング部
分に開いたレジスト層198を露光する。
露光部分およびレジスト層200を現像すると、図35
(c)に示すようにレジスト層198の現像部分203
が形成される。
を除去する。
に示すようになる。
05を電鋳すると図36(b)に示すようになる。ここ
では金属層205としてニッケルを電鋳した。
ることによって図36(c)に示すように光記録媒体用
スタンパ206が形成される。
よび図36(a)から図36(c)に示す光記録媒体用
スタンパの作成原理を説明するための図である。
学系の回折限界によって決まる幅である。208は現像
することによって形成されるレジスト層200の下部の
幅であり、207より狭くなる。209は金属膜199
膜をエッチングすることによって形成される溝の下部の
幅であり、208より狭くなる。210はガラス製の原
盤であり原盤197に同じ、211はレジスト層198
の非現像部、212は金属膜199の非エッチング部、
213はレジスト層200の非現像部である。原盤21
0の上にポジ型のレジスト層198を塗布し、そのレジ
スト層198の上に金属膜199膜を形成し、その金属
膜199膜の上にさらにポジ型のレジスト層200を塗
布し、レーザー光を集光してそのレジスト層200の特
定領域を露光し、現像液を用いてその露光部分を現像す
ることによって、レジスト層198の非現像部211が
形成されるが、この場合現像部分の上部はレーザーカッ
ティングに用いる光学系の回折限界によって決まる幅2
07であるが、下部は207の幅となる。また、その現
像部分に開いた金属膜199膜をエッチングすると、金
属膜199膜の非エッチング部212が形成されるが、
そのときエッチング形状は台形状となるため上部は20
8の幅であるが、下部は209の幅となる。その後レジ
スト層198の感光波長の光をそのエッチング部分全面
に照射し、そのエッチング部分に開いたレジスト層19
8を露光し、現像液を用いてそのレジスト層198の露
光部分およびレジスト層200の非現像部213を除去
し、金属膜199の非エッチング部を除去し、金属膜2
04を成膜し、その金属膜204を電極にして金属層2
05を電鋳することによって、従来より細い溝や小さい
ピットを有する光記録媒体用スタンパを形成することが
可能になり、これを用いることによって光記録媒体の容
量を増大させることができる。
ついて図面に基づいて説明する。図38(a)から図3
8(c)および図39(a)から図39(c)は本発明
になる光記録媒体を作成するために用いるスタンパの製
造方法の概念図である。
のレジスト層、216はレジスト層215の露光部分、
217はレジスト層215の現像部分、218はLB
(ラングミュアーブロジェット)膜、219は金属膜、
220は金属膜219を電極にして電鋳される金属層、
221は光記録媒体用スタンパである。
9(a)から図39(c)に示す光記録媒体用スタンパ
の作成方法は以下のようになる。
のベーパー処理をしてレジストとの密着性を向上させる
処理を施す。
15を塗布する。
させながらレジスト層215の特定領域を、光記録媒体
のパターンに応じて露光するとレジスト層215の露光
部216が形成され、図38(a)に示すようになる。
部分を現像するとレジストの現像部分217が形成され
図38(b)に示すようになる。
18を形成して現像部分の溝を細く浅くすると図38
(c)に示すようになる。
成膜すると図39(a)に示すようになる。ここでは金
属膜219として銀銅合金をスパッタリング法によって
真空成膜した。
属層220を電鋳すると図39(b)に示すようにな
る。ここでは金属層220としてニッケルを電鋳した。
ることによって図39(c)に示すように光記録媒体用
スタンパ221が形成される。
よび図39(a)から図39(c)に示す光記録媒体用
スタンパの作成原理を説明するための図である。
学系の回折限界によって決まる幅である。223はLB
膜によって狭められた幅であり、222より狭くなる。
224はガラス製の原盤であり原盤214に同じ、22
5はレジスト層215の非現像部、226はLB膜があ
った部分である。
5を塗布し、レーザー光を集光して原盤224を回転さ
せながらレジスト層215の特定領域を露光し、現像液
によってレジスト層215の露光部分を現像すると、レ
ジスト層215の非現像部225が形成される。その後
LB膜を形成して、前述の現像部分の溝を細く浅くす
る。そうすると、レーザーカッティングに用いる光学系
の回折限界によって決まる幅222より狭い223の幅
が達成される。その後、金属膜219を成膜し、その金
属膜219と同種または異種の金属層220を電鋳し、
原盤224から剥離することによって、226のLB膜
にあった分だけ溝は細く浅くなる。そして、これによっ
て、従来より細い溝や小さいピットを有する光記録媒体
用スタンパを形成することが可能になり、これを用いる
ことによって光記録媒体の容量を増大させることができ
る。
明したが、これに限定されるものではない。LB膜のよ
うに厚さが均一に形成できるものであればよいので、有
機膜をスパッタリング、CVD等の方法によって形成す
る場合でも同様の結果が得られる。
ついて図面に基づいて説明する。図41(a)から図4
1(c)および図42(a)から図42(c)は本発明
になる光記録媒体を作成するために用いるスタンパの製
造方法の概念図である。
膜、229は金属膜228を電極にして電鋳される金属
層、230はポジ型のレジスト層、231はレジスト層
230の露光部分、232はレジスト層230の現像部
分、233は金属層229のエッチング部分、234は
金属膜、235は金属膜234を電極にして電鋳される
金属層、236は光記録媒体用スタンパである。
2(a)から図42(c)に示す光記録媒体用スタンパ
の作成方法は以下のようになる。
のベーパー処理をしてレジストとの密着性を向上させる
処理を施す。
る。ここでは金属膜228として銀銅合金をスパッタリ
ング法によって真空成膜した。
29を電鋳する。ここでは金属層229としてニッケル
層を電鋳した。
ト層230を塗布する。
30の特定領域を、光記録媒体のパターンに応じて露光
すると、図41(a)に示すように、レジスト層230
の露光部分231が形成される。
と、図41(b)に示すようにのレジスト層230の現
像部分232が形成される。この場合、レジストの現像
は上部が下部より幅の広い台形状になる傾向があり、こ
れによって従来より細い線を描くことが可能になる。
した金属膜228をエッチングすると図41(c)に示
すように、金属層229のエッチング部分233が形成
される。
層230を除去する。
に示すようになる。ここでは金属膜234として銀銅合
金をスパッタリング法によって真空成膜した。
電鋳すると図42(b)のようになる。 ここでは金属
層235としてニッケルを電鋳した。
を除去し、内外型を加工することによって図42(c)
に示すように236の光記録媒体用スタンパが形成され
る。図43は図41(a)から図41(c)および図4
2(a)から図42(c)に示す光記録媒体用スタンパ
の作成原理を説明するための図である。
学系の回折限界によって決まる幅である。238は現像
することによって形成されるレジスト層230の下部の
幅であり、237より狭くなる。239はガラス製の原
盤であり原盤227に同じ、240はレジスト層230
の非現像部、241は金属層229の非エッチング部で
ある。
その金属膜228を電極にして金属層229を電鋳し、
その金属層229の上にポジ型のレジスト層230を塗
布し、レーザー光を集光してそのレジスト層230の特
定領域を露光し、現像液を用いてその露光部分を現像す
ると、レジスト層230の非現像部240が形成され、
その現像部分は上部が広い台形状になる性質があるた
め、その現像部分の上部はレーザーカッティングに用い
る光学系の回折限界によって決まる幅237となり、下
部は238の幅となる。そして、ドライエッチングでそ
の現像部分に露出した金属膜228をエッチングする
と、レジスト層230の非現像部240が形成される。
その後レジスト層230の非現像部240を溶剤を用い
て除去し、金属膜234を成膜し、その金属膜234の
上に金属層235を電鋳し、原盤239から剥離し、金
属膜234を除去することによって、従来より細い溝や
小さいピットを有する光記録媒体用スタンパを形成する
ことが可能になり、これを用いることによって光記録媒
体の容量を増大させることができる。
ついて図面に基づいて説明する。図44(a)から図4
4(c)および図45(a)から図45(c)は本発明
になる光記録媒体を作成するために用いるスタンパの製
造方法の概念図である。
膜、244はポジ型のレジスト層、245はレジスト層
244の露光部分、246はレジスト層244の現像部
分、247は酸化珪素層、248はレジスト層244の
非現像部分、249は金属膜243のエッチング部分、
250は金属膜、251は250の金属膜を電極にして
電鋳される金属層、252は光記録媒体用スタンパであ
る。
5(a)から図45(c)に示す光記録媒体用スタンパ
の作成方法は以下のようになる。
3を成膜する。
パッタリング法によって真空成膜した。
4をスピンコート法によって塗布する。
限界まで集光したHeCdレーザーを用いて、そのレジ
スト層244の特定領域を露光すると245の20のレ
ジストの露光部分が形成され、図44(a)に示すよう
になる。
光部分を現像するとレジスト層244の現像部分246
が形成される。
図44(b)に示すようになる。
エッチングで除去すると、図44(c) に示すように
なる。この場合、レジスト層244の非露光部分を狭く
とること によって、その部分を後からエッチングする
ので解像度を自由にとることがで き、それによって高
解像度のものが実現できる。
た金属膜243をエッチングすると金属膜243のエッ
チング部分249が形成される。
て除去すると図45(a)に示すようになる。
膜250としてニッケルをスパッタリング法によって真
空成膜した。
電鋳すると図45(b)に示すようになる。ここでは金
属膜250としてニッケルを電鋳した。
を除去し、内外型を加工することによって図45(c)
に示すように252の光記録媒体用スタンパが形成され
る。図46は図44(a)から図44(c)および図4
5(a)から図45(c)に示す光記録媒体用スタンパ
の作成原理を説明するための図である。
学系の回折限界によって決まる幅である。254はエッ
チングすることによって形成される金属膜243の溝の
幅である。255はガラス製の原盤であり原盤242に
同じ、256は酸化珪素層、257は酸化珪素層の非エ
ッチング部である。
を成膜し、その金属膜243の上にレジスト層244を
塗布し、レーザー光を用いてそのレジスト層244の特
定領域を露光し、現像液を用いてその露光部分を現像す
ると254の幅が形成され、レジスト層244の非現像
部が形成される。そして、酸化珪素層を形成し、レジス
ト層244の非現像部分をドライエッチングで除去す
る。このときレジスト層244の非現像部分は現像部分
に挟まれた格好になるので狭くとることが可能である。
そして、その除去部分に現れた金属膜243をエッチン
グすると、そのエッチング部分は光学系の回折限界であ
る253より狭くとりことができる。それから金属膜2
43の上に残っている酸化珪素層247を除去すると酸
化珪素層247の非エッチング部257ができる。そし
て、金属膜250を成膜し、その金属膜250の上に金
属層251を電鋳して原盤255から剥離し、金属膜2
43を除去することによって、従来より細い溝や小さい
ピットを有する光記録媒体用スタンパを形成することが
可能になり、これを用いることによって光記録媒体の容
量を増大させることができる。
た方法により作製した光記録媒体用スタンパを用いた光
記録媒体の概念図を図1に示す。1はポリカーボネート
の基板、2および4はSiAlNのセラミックス層、3
は記録層、5は反射層、6は保護コート層、7はハード
コート層、8はハブである。本実施例の各項に示した方
法で作製した光記録媒体用スタンパを用い、ポリカーボ
ネートの基板を成形し、415nmの短波長レーザーを
用いて記録および再生を行なったところ、記録密度が従
来より3から4倍増加させることが可能であった。
項に述べた方法によって作成したスタンパを用いた射出
圧縮成形によって作成した。この基板作成方法は射出圧
縮成形に限らす、紫外線硬化樹脂を用いたフォトポリマ
ー法を用いてもよい。SiAlNのセラミック層2およ
び4はSiAlの焼結ターゲットを用いて窒素とアルゴ
ンの混合ガスを導入することによるRF反応マグネトロ
ンスパッタ法によって成膜した。このセラミックス層は
光記録媒体の記録再生に用いる光に対して透明なもので
あればほとんどのものを用いることができるので、Si
N、AlN等を用いても構わない。これらの実施例の各
項に示した光記録媒体用のスタンパは溝幅を0.25μ
mとし、トラック溝ピッチを0.9μmとした。記録膜
3には400nm付近でカー回転角の大きくとれるよう
にPt/Co系の周期多層膜を用いた。このPt/Co
系の周期多層膜はCoとPtを多層交互に成膜したもの
である。この記録膜にはTbFeCoCr/NdCo/
TbFeCoの多層膜やNdDyFeCo/NdCo/
NdDyFeCo、NdDyTbFeCo/NdCo/
NdDyTbFeCoを用いても同様な結果が得られ
た。反射層5にはアルミニウムとチタンの合金ターゲッ
トを用いてアルゴンガスを導入することによるDCマグ
ネトロンスパッタ法によって成膜した。保護コート層6
には紫外線硬化樹脂をスピンコート法によって塗布し硬
化させたものを用いた。ハードコート層7にも紫外線硬
化樹脂を用いたが、保護コート層6より薄くて硬化後の
表面硬度が高くなるものを用いた。
の比較について説明する。従来の方法はまず、ガラス製
の原盤にHMDSのベーパー処理をしてポジ型のレジス
トを塗布してレジスト層を約1500Å形成する。44
2nm波長のHeCdガスレーザーを焦光し、塗布しプ
リベークしたレジスト層の特定領域を光記録媒体のパタ
ーンに応じて露光する。その後水でリンスして露光した
部分のレジスト中のナフトキノンジアジドをインデンカ
ルボン酸にする反応を促す。そして、無機または有機ア
ルカリ系の現像液を用いてその露光部分のレジスト層を
現像する。現像が終わったレジストはアフターベークし
た後、表面にニッケル層をスパッタ法によって約100
0Å成膜する。そしてこの形成したニッケル層を電極に
してさらにニッケルを電鋳する。その後、電鋳したニッ
ケル層をガラス製の原盤から剥離し、外周部及び内周部
を加工して光記録媒体用スタンパを形成する。この場合
HeCdレーザーを用いて、対物レンズのNAをほぼ最
大の0.9にしても、レーザー光のスポットの直径が
0.4μmより小さくならないため得られる溝の幅やピ
ット径は略0.4μmであった。
略0.4μmであり、形成された溝やピットの幅は0.
4μmより大きくなったのに対し、本実施例1から12
に示す本発明による方法を用いると0.3μmから0.
2μmの幅の溝やピットを形成することが可能であっ
た。
フターベークの方法として、ホットプレート上に原盤を
乗せて加熱する方法、温風循環乾燥機を用いる方法、赤
外線加熱、オーブンベーク法などを用いることができ
る。また、本実施例の各項で用いたポジ型のレジストは
ナフトキノンジアジド−ノボラックノ樹脂系を用いた。
尚、本発明はこれらの実施例に限定されると考えるべき
ではなく、本発明の主旨を逸脱しない限り種々の変更は
可能である。
ラス製の原盤を用いたが、ガラスに限らずアルミナ、シ
リカ、マグネシア、サイアロン、シリコンカーバイト、
シリコンウエハー、窒化珪素、窒化アルミニウムなどの
セラミックスや半金属物質を用いてもよい。
で溶解される金属膜には2つの条件が必要になる。一つ
は真空成膜したときにグレインサイズが小さいこと、も
う一つは光記録媒体用スタンパの材質となる金属と異な
る条件で分離できるものでなければならない。すなわ
ち、特殊な溶液によって溶解できることが必要になる。
従って、本実施例のように真空成膜したときにグレイン
サイズが小さくなるように銀に珪素、銅、ゲルマニウ
ム、アルミニウム、マグネシウム、亜鉛などの金属を含
むものを過酸化水素−アンモニア系の銀剥離液で剥離す
ること、あるいはアルミニウム、マグネシウム、亜鉛な
どの両性金属に種々の不純物を添加してグレインサイズ
を小さくして、後でアルカリ溶液によって溶解させるこ
となど、反応性の違いを利用することもできる。
体について説明したが、単板構造のものをホットメルト
型の接着剤、エポキシ樹脂あるいはウレタン樹脂等から
なる接着剤で接着した構造についてもなんら問題なく応
用できる。
学系の回折限界以下の解像方法は、半導体をはじめとす
るレジストを用いた多くの解像方法に応用できる。
媒体に用いるスタンパのトラック溝の幅を従来のものよ
り細く、ピットを従来のものより小さくできるので、光
記録媒体の記録密度を増加させる短波長記録のための記
録膜を用いた系に必要な基板を提供することができるよ
うになり、それによって光記録媒体の記録密度を増加さ
せることが可能になるという効果を有する。また、従来
の光学系を用いて、従来より細い溝や小さいピットを形
成できるので、半導体をはじめとするレジストを用いた
解像において高解像度化が可能になるという効果も有す
る。
項1に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の概念図で
ある。
項1に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の概念図で
あり、図2のつづきである。
作成するために用いるスタンパの作成原理を説明するた
めの図である。
項2に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の概念図で
ある。
項2に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の概念図で
あり、図5のつづきである。
を作成するために用いるスタンパの作成原理を説明する
ための図である。
項3に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の概念図で
ある。
項3に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の概念図で
あり、図8のつづきである。
媒体を作成するために用いるスタンパの作成原理を説明
するための図である。
る請求項4に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の概
念図である。
る請求項4に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の概
念図であり、図11のつづきである。
媒体を作成するために用いるスタンパの作成原理を説明
するための図である。
る請求項5に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の概
念図である。
る請求項5に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の概
念図であり、図14のつづきである。
媒体を作成するために用いるスタンパの作成原理を説明
するための図である。
る請求項6に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の概
念図である。
る請求項6に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の概
念図であり、図17のつづきである。
媒体を作成するために用いるスタンパの作成原理を説明
するための図である。
る請求項7に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の概
念図である。
る請求項7に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の概
念図であり、図20のつづきである。
媒体を作成するために用いるスタンパの作成原理を説明
するための図である。
る請求項8に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の概
念図である。
る請求項8に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の概
念図であり、図23のつづきである。
媒体を作成するために用いるスタンパの作成原理を説明
するための図である。
る請求項9に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の概
念図である。
る請求項9に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の概
念図であり、図26のつづきである。
媒体を作成するために用いるスタンパの作成原理を説明
するための図である。
る請求項10に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の
概念図である。
る請求項10に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の
概念図であり、図29のつづきである。
録媒体を作成するために用いるスタンパの作成原理を説
明するための図である。
る請求項11に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の
概念図である。
る請求項11に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の
概念図であり、図32のつづきである。
録媒体を作成するために用いるスタンパの作成原理を説
明するための図である。
る請求項12に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の
概念図である。
る請求項12に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の
概念図であり、図35のつづきである。
録媒体を作成するために用いるスタンパの作成原理を説
明するための図である。
る請求項13に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の
概念図である。
る請求項13に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の
概念図であり、図38のつづきである。
録媒体を作成するために用いるスタンパの作成原理を説
明するための図である。
る請求項14に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の
概念図である。
る請求項14に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の
概念図であり、図41のつづきである。
録媒体を作成するために用いるスタンパの作成原理を説
明するための図である。
る請求項15に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の
概念図である。
る請求項15に示す光記録媒体用スタンパの製造方法の
概念図であり、図44のつづきである。
録媒体を作成するために用いるスタンパの作成原理を説
明するための図である。
界によって決まる幅 24・・現像することによって形成されるレジスト層1
2の下部の幅 25・・有機シリカ層11をエッチングすることによっ
て形成される下部の幅 26・・ガラス製の原盤であり原盤9に同じ 27・・レジスト層10の非現像部 28・・有機シリカ層11の非エッチング部 29・・レジスト層12の非現像部 30・・ガラス製の原盤 31・・ポジ型のレジスト層 32・・有機シリカ層 33・・ポジ型のレジスト層 34・・レジスト層33の露光部分 35・・レジスト層33の現像部分 36・・有機シリカ層32のエッチング予定部分 37・・レジスト層33の現像部分 38・・レジスト層31の現像予定部分 39・・金属膜 40・・金属膜 41・・金属層 42・・金属膜 43・・金属層 44・・光記録媒体用スタンパ 45・・レーザーカッティングに用いる光学系の回折限
界によって決まる幅 46・・現像することによって形成されるレジスト層3
3の下部の幅 47・・有機シリカ層32をエッチングすることによっ
て形成される溝の下部の幅 48・・レジスト層31を露光および現像することによ
ってガラス製の原盤30上に開く現像部 49・・ガラス製の原盤であり原盤30に同じ 50・・レジスト層31の非現像部 51・・有機シリカ層32の非エッチング部 52・・レジスト層33の非現像部 53・・ガラス製の原盤 54・・金属膜 55・・金属層 56・・ポジ型のレジスト層 57・・有機シリカ層 58・・ポジ型のレジスト層 59・・レジスト層56の露光部分 60・・レジスト層56の現像部分 61・・有機シリカ層57のエッチング予定部分 62・・有機シリカ層57のエッチング部分 63・・レジスト層56の現像予定部分 64・・金属膜 65・・完成した光記録媒体用スタンパ 66・・レーザーカッティングに用いる光学系の回折限
界によって決まる幅 67・・現像することによって形成されるレジスト層5
8の下部の幅 68・・有機シリカ層57をエッチングすることによっ
て形成される溝の下部の幅 69・・レジスト層56を露光および現像することによ
ってガラス製の原盤71上に開く現像部 70・・レジスト層56をエッチングすることによって
露出した金属層55に成膜された金属膜64 71・・ガラス製の原盤であり原盤53に同じ 72・・電鋳によって形成された金属層であり金属層5
5に同じ 73・・レジスト層56の非現像部 74・・有機シリカ層57の非エッチング部 75・・レジスト層58の非現像部 76・・ガラス製の原盤 77・・ポジ型のレジスト層 78・・レジスト層77の表面処理部分 79・・レジスト層77の露光部分 80・・表面処理をしない場合の現像部分 81・・DeepUV処理または加熱処理による表面処
理をする場合の現像部分 82・・紫外線照射またはオゾン処理により現像ととも
に表面処理部が除去されたときのレジスト層77の現像
部分 83・・金属膜 84・・金属層 85・・光記録媒体用スタンパ 86・・レーザーカッティングに用いる光学系の回折限
界によって決まる幅 87・・現像することによって形成されるレジスト層7
7の幅 88・・ガラス製の原盤であり原盤76に同じ 89・・レジスト層77の非現像部レーザーカッティン
グに用いる光学系の回折限界によって決まる幅 90・・ガラス製の原盤 91・・ポジ型のレジスト層 92・・レーザー光照射によってカッティングに用いる
レーザー光の透過率が上昇する性質を有する水溶性樹脂
層 93・・水溶性樹脂層92およびレジスト層91の露光
部分 94・・水溶性樹脂層の現像部分 95・・レジスト層91の現像部分 96・・金属膜 97・・96の金属膜を電極にして電鋳される金属層 98・・光記録媒体用スタンパ 99・・レーザーカッティングに用いる光学系の回折限
界によって決まる幅 100・現像によって形成される幅 101・ガラス製の原盤であり原盤90に同じ 102・レジスト層91部分 103・除去される水溶性樹脂層レーザーカッティング
に用いる光学系の回折限界によって決まる幅 104・ガラス製の原盤 105・ネガ型のレジスト層 106・レジスト層105の露光部分 107・レジスト層105の現像部分 108・金属膜 109・金属膜 110・金属膜109を電極にして電鋳される金属層 111・マザースタンパを型として電鋳した金属層 112・光記録媒体用スタンパ 113・レーザーカッティングに用いる光学系の回折限
界によって決まる幅 114・現像部分の下部の幅 115・レジスト層105の非現像部 116・レジスト層105の現像部に成膜された金属膜
で金属膜108に同じ 117・ガラス製の原盤であり原盤104に同じ 118・ガラス製の原盤 119・金属膜 120・金属層 121・ネガ型のレジスト層 122・レジスト層121の露光部分 123・レジスト層121の現像部分 124・123の上に成膜された金属膜 125・レジスト層121の現像されなかった部分に成
膜された金属膜124 126・光記録媒体用スタンパ 127・レーザーカッティングに用いる光学系の回折限
界によって決まる幅 128・現像部分の下部の幅 129・レジスト層121の非現像部 130・レジスト層121の現像部に成膜された金属膜
124 131・ガラス製の原盤132上に形成された金属層1
20 132・ガラス製の原盤であり118に同じ 133・ガラス製の原盤 134・ポジ型のレジスト層 135・非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性金
属膜 136・ポジ型のレジスト層 137・レジスト層136の露光部分 138・レジスト層136の現像部分 139・非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性金
属膜のエッチング部分 140・レジスト層134の露光部分 141・レジスト層134の現像部分 142・金属膜 143・金属膜142を電極にして電鋳される金属層 144・光記録媒体用スタンパ 145・レーザーカッティングに用いる光学系の回折限
界によって決まる幅 146・現像することによって形成されるレジスト層3
3の下部の幅 147・非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性金
属膜135をエッチングすることによって形成される溝
の下部の幅 148・レジスト層136を露光および現像することに
よって形成される現像部 149・ガラス製の原盤であり原盤133に同じ 150・レジスト層134の非現像部 151・非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性金
属膜135の非エッチング部 152・レジスト層136の非現像部 153・ガラス製の原盤 154・非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性金
属膜 155・ポジ型のレジスト層 156・マスク 157・レジスト層155の露光部分 158・レジスト層155の現像部分 159・非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性金
属膜のエッチング部分 160・金属膜 161・金属層 162・光記録媒体用スタンパ 163・レーザーカッティングに用いる光学系の回折限
界によって決まる幅 164・現像することによって形成されるレジスト層1
55の下部の幅 165・レジスト層155を露光および現像することに
よって現れる下の非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微
結晶性金属膜 166・ガラス製の原盤であり原盤153に同じ 167・非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性金
属膜の非エッチング部 168・レジスト層155の非現像部 169・169はガラス製の原盤 170・ポジ型のレジスト層 171・金属膜 172・レジスト層170の露光部分 173・レジスト層170の現像部分 174・金属膜 175・174を電極にして電鋳される金属層 176・光記録媒体用スタンパ 177・レーザーカッティングに用いる光学系の回折限
界によって決まる幅 178・現像することによって形成されるレジスト層1
70の幅 179・レジスト層170を露光および現像することに
よって形成される現像部 180・ガラス製の原盤であり169に同じ 181・レジスト層170の非現像部 182・ガラス製の原盤 183・ポジ型のレジスト層 184・金属膜 185・マスク 186・金属膜184のエッチング部分 187・レジスト層183の露光部分 188・レジスト層183の現像部分 189・金属膜 190・金属層 191・光記録媒体用スタンパ 192・光学系の回折限界によって決まる幅 193・現像することによって形成されるレジスト層1
83の幅 194・ガラス製の原盤であり182に同じ 195・金属膜184の非エッチング部 196・レジスト層183の非現像部 197・ガラス製の原盤 198・レジスト層 199・金属膜 200・ポジ型のレジスト層 201・レジスト層200の露光部分 202・金属膜199のエッチング部分 203・レジスト層198の現像部分 204・金属膜 205・金属膜204を電極にして電鋳される金属層 206・光記録媒体用スタンパ 207・レーザーカッティングに用いる光学系の回折限
界によって決まる幅 208・現像することによって形成されるレジスト層2
00の下部の幅 209・金属膜199膜をエッチングすることによって
形成される溝の下部の幅 210・ガラス製の原盤であり原盤197に同じ 211・レジスト層198の非現像部 212・金属膜199の非エッチング部 213・レジスト層200の非現像部 214・ガラス製の原盤 215・ポジ型のレジスト層 216・レジスト層215の露光部分 217・レジスト層215の現像部分 218・LB(ラングミュアーブロジェット)膜 219・金属膜 220・金属膜219を電極にして電鋳される金属層 221・光記録媒体用スタンパ 222・レーザーカッティングに用いる光学系の回折限
界によって決まる幅 223・LB膜によって狭められた幅 224・ガラス製の原盤であり原盤214に同じ 225・レジスト層215の非現像部 226・LB膜があった部分 227・ガラス製の原盤 228・金属膜 229・金属膜228を電極にして電鋳される金属層 230・ポジ型のレジスト層 231・レジスト層230の露光部分 232・レジスト層230の現像部分 233・金属層229のエッチング部分 234・金属膜 235・金属膜234を電極にして電鋳される金属層 236・光記録媒体用スタンパ 237・レーザーカッティングに用いる光学系の回折限
界によって決まる幅 238・現像することによって形成されるレジスト層2
30の下部の幅 239・ガラス製の原盤であり原盤227に同じ 240・レジスト層230の非現像部 241・金属層229の非エッチング部 242・ガラス製の原盤 243・金属膜 244・ポジ型のレジスト層 245・レジスト層244の露光部分 246・レジスト層244の現像部分 247・酸化珪素層 248・レジスト層244の非現像部分 249・金属膜243のエッチング部分 250・金属膜 251・250の金属膜を電極にして電鋳される金属層 252・光記録媒体用スタンパ 253・レーザーカッティングに用いる光学系の回折限
界によって決まる幅 254・エッチングすることによって形成される金属膜
243の溝の幅 255・ガラス製の原盤であり原盤242に同じ 256・酸化珪素層 257・酸化珪素層の非エッチング部
Claims (15)
- 【請求項1】 原盤9の上にポジ型のレジスト層10を
塗布し、 該レジスト層10の上に有機シリカ層11を形成し、 該有機シリカ層11の上にさらにポジ型のレジスト層1
2を塗布し、 レーザー光を集光して前記原盤9を回転させながら前記
レジスト層12の特定領域を露光し、 前記レジスト層12の露光部分を現像した後、 前記レジスト層12の現像部分に開いた前記有機シリカ
層11をエッチングし、 現像されなかった前記レジスト層12および前記有機シ
リカ層11の前記エッチング部分に開いた前記レジスト
層10をエッチングし、 1回目のエッチングでエッチングされなかった前記有機
シリカ層11をエッチングし、 金属膜19を成膜し、 さらに金属膜20を成膜し、該金属膜19および金属膜
20を電極にして該金属膜20と同種または異種の金属
層21を電鋳し、 前記原盤9から剥離し、 前記金属膜19を除去することによって作成さたスタン
パを用いることを特徴とする光記録媒体。 - 【請求項2】 原盤30の上にポジ型のレジスト層31
を塗布し、 該レジスト層31の上に有機シリカ層32を形成し、 該有機シリカ層32の上にさらにポジ型のレジスト層3
3を塗布し、 レーザー光を集光して前記原盤30を回転させながら前
記レジスト層33の特定領域を露光し、 前記レジスト層33の露光部分を現像した後、 前記レジスト層33現像部分に開いた前記有機シリカ層
32をエッチングし、 前記有機シリカ層32の前記エッチング部分に開いた前
記レジスト層31をエッチングし、 金属膜39を成膜し、前記原盤30の上に残っている前
記レジスト31、前記有機シリカ層32および前記レジ
スト層33を除去し、 さらに金属膜40を成膜し、該金属膜40を電極にして
該金属膜40と同種または異種の金属層41を電鋳し、
前記原盤30から剥離して金属板とし、 該金属板に残っている前記金属膜30を除去して金属膜
42を成膜し、 前記金属膜40と同種または異種の金属層43を電鋳し
た後、 前記金属板から剥離することによって作成されることに
よって作製されたスタンパを用いることを特徴とする光
記録媒体。 - 【請求項3】 原盤53の上に金属膜54を成膜し、 該金属膜54を電極にして該金属膜54と同種または異
種の金属層55を電鋳し、 該金属層55の上にポジ型のレジスト層56を塗布し、
該レジスト56の上に有機シリカ層57を形成し、 該有機シリカ層57の上にさらにポジ型のレジスト層5
8を塗布し、 レーザー光を集光して前記原盤53を回転させながら前
記レジスト58の特定領域を露光し、 前記レジスト58の露光部分を現像した後、 前記レジスト58の現像部分に開いた前記有機シリカ層
57をエッチングし、 前記有機シリカ層57の前記エッチング部分に開いた前
記レジスト層56をエッチングし、 前記金属層55と同種の金属膜64を成膜し、前記原盤
53上に残っている前記レジスト層56、前記有機シリ
カ層57および前記レジスト層58を除去することによ
って作成されたスタンパ用いることを特徴とする光記録
媒体。 - 【請求項4】 原盤76の上にポジ型のレジスト層77
を塗布し、 レーザー光を集光して前記原盤76を回転させながら前
記レジスト77の特定領域を露光し、 前記レジスト77の前記露光部分を現像し、 該現像部分および非現像部分に金属膜83を成膜し、 該金属膜83と同種または異種の金属層84を電鋳する
ことによって作成する光記録媒体用スタンパにおいて、 前記レジスト77を露光する前に、該レジスト77全面
に紫外光照射またはDeepUV照射あるいはオゾン処
理または加熱処理をすることによって作成されたスタン
パを用いることを特徴とする光記録媒体。 - 【請求項5】 原盤90の上にポジ型のレジスト層91
を塗布し、 レーザー光を集光して前記原盤90を回転させながら前
記レジスト層91の特定領域を露光し、 前記レジスト層91の露光部分を現像した後、 該現像部分および非現像部分に金属膜96を成膜し、 該金属膜96を電極にして該金属膜96と同種または異
種の金属層97を電鋳することによって作成する光記録
媒体用スタンパにおいて、 前記レジスト層91の上に水溶性樹脂層92を形成した
後前記レジスト層91の特定領域の露光を行なう工程を
含み、 前記水溶性樹脂層92が熱により透過率が増加する性質
を有するもの、または光によりカチオンを発生し、該カ
チオンにより前記露光に用いる光の透過率が上昇する性
質を有するものであることによって作成されたスタンパ
を用いることを特徴とする光記録媒体。 - 【請求項6】 原盤104の上にネガ型のレジスト層1
05を塗布し、 レーザー光を集光して前記原盤104を回転させながら
前記レジスト層105の特定領域を露光し、 非露光部分を現像した後、該現像部分および非現像部分
に金属膜108を成膜し、 該非現像部分および該非現像部分に成膜された前記金属
膜108を除去し、 金属膜109を成膜し、該金属膜109を電極にして金
属層110を電鋳して前記原盤104から剥離してマザ
ースタンパとし、 該金属板を型としてさらに金属層111を電鋳し、前記
マザースタンパから剥離することによって作成されたス
タンパを用いることを特徴とする光記録媒体。 - 【請求項7】 原盤118の上に金属膜119を成膜
し、 該金属膜119と同種または異種の金属層120を電鋳
し、 該120の金属層の上にネガ型のレジスト層121を塗
布し、 レーザー光を集光して該レジスト層121の特定領域を
露光し、 該露光した部分を現像した後、 金属層120と同種の金属膜124を成膜し、 前記原盤118上に残っている前記レジスト層121及
び該レジストの上に成膜された金属膜124を除去する
ことによって形成されたスタンパを用いることを特徴と
する光記録媒体。 - 【請求項8】 原盤133上にポジ型のレジスト層13
4を塗布し、 該レジスト層134の上に非晶性珪素膜、非晶性金属膜
または微結晶性金属膜135を成膜し、 該非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性金属膜1
35の上にさらにポジ型のレジスト層136を塗布し、 レーザー光を集光して該レジスト層136の特定領域を
露光し、 該露光部分を現像し、 該現像部分に開いた前記非晶性珪素膜、非晶性金属膜ま
たは微結晶性金属膜の途中までエッチングし、 全面に光を照射して前記非晶性珪素膜、非晶性金属膜ま
たは微結晶性金属膜の途中までエッチングされた部分の
前記レジスト層134を露光し、 現像されずに残った前記レジスト層134および前記非
晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性金属膜135
を除去したのち金属膜142を成膜し、 該金属膜142と同種または異種の金属層143を電鋳
し、 前記原盤133から剥離し、 前記非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性金属膜
および前記金属膜142を除去することによって作成さ
れたスタンパを用いることを特徴とする光記録媒体。 - 【請求項9】 原盤153の上に非晶性珪素膜、非晶性
金属膜または微結晶性金属膜154を成膜し、 該非晶性珪素膜、非晶性金属膜または微結晶性金属膜1
54の上にポジ型のレジスト層155を塗布し、 光記録媒体の溝やピットに応じたマスクを用いて露光し
た後、 該露光部分を現像し、 該現像部分に開いた非晶性珪素膜、非晶性金属膜または
微結晶性金属膜154をエッチングし、 現像されなかった前記レジスト層155を除去し、 金属膜160を成膜し、 該金属膜160と同種または異種の金属層161膜を電
鋳し、 前記原盤153から剥離することによって作成されたス
タンパを用いることを特徴とする光記録媒体。 - 【請求項10】 原盤169の上にポジ型のレジスト層
170を塗布し、 該レジスト層170の上に金属膜171を極薄く成膜
し、 レーザー光を集光して該金属膜171上から前記レジス
ト層170の特定領域を露光し、 前記金属膜171および前記露光部分を現像し、 該現像部分および非現像部分に金属膜174を成膜し、 該金属膜174と同種または異種の29の金属を電鋳す
ることによって作成されたスタンパを用いることを特徴
とする光記録媒体。 - 【請求項11】 原盤182の上にポジ型のレジスト層
183を塗布し、 該レジスト183の上に金属膜184を成膜し、 該金属膜184を光記録媒体のパターンに応じたマスク
を用いてエッチングを行ない、 前記レジスト層183の感光波長の光を前記エッチング
部全面に照射し、 前記エッチング部分に開いた前記レジスト層183を感
光させ、 該感光部分を現像し、 エッチングされなかった前記金属膜184を除去し、 金属膜189を成膜し、 該金属膜189を電極にして金属層190を電鋳するこ
とによって作成されたスタンパを用いることを特徴とす
る光記録媒体。 - 【請求項12】 原盤197の上にポジ型のレジスト層
198を塗布し、 該レジスト層198の上に金属膜199膜を形成し、 該金属膜199膜の上にさらにポジ型のレジスト層20
0を塗布し、 レーザー光を集光して該レジスト層200の特定領域を
露光し、 該露光部分を現像し、 該現像部分に開いた前記金属膜199をエッチングし、 前記レジスト層198の感光波長の光を該エッチング部
分全面に照射し、 該エッチング部分に開いた前記レジスト層198を露光
し、 現像液を用いて該レジスト層198の露光部分および前
記レジスト層200を現像し、 エッチングされなかった前記金属膜199膜を除去し、 金属膜204を成膜し、 該金属膜204を電極にして金属層205を電鋳するこ
とによって作成されたスタンパを用いることを特徴とす
る光記録媒体。 - 【請求項13】 原盤214の上にポジ型のレジスト層
215を塗布し、 レーザー光を集光して前記原盤214を回転させながら
前記レジスト層215の特定領域を露光し、 前記レジスト層215の前記露光部分を現像し、 該現像部分および非現像部分に金属膜219を成膜し、 該金属膜219と同種または異種の金属層220を電鋳
することによって作成する光記録媒体用スタンパにおい
て、 前記金属膜219を成膜する前に、前記レジスト層21
5を現像した後LB膜を形成して、前記現像部分の溝を
細く浅くする行程を含むことによって作成されたスタン
パを用いることを特徴とする光記録媒体。 - 【請求項14】 原盤227の上に金属膜228を成膜
し、 該金属膜228を電極にして金属層229を電鋳し、 該金属層229の上にポジ型のレジスト層230を塗布
し、 レーザー光を集光して該レジスト層230の特定領域を
露光し、 該露光部分を現像し、 該現像部分に露出した前記金属層229膜をエッチング
し、 現像されなかった前記レジスト層230を除去し、 金属膜234を成膜し、 該金属膜234の上に金属層235を電鋳し、 前記原盤227から剥離し、 前記金属膜234を除去することによって作成されたス
タンパを用いることを特徴とする光記録媒体。 - 【請求項15】 原盤242の上に金属膜243を成膜
し、 該金属膜243の上にレジスト層244を塗布し、 レーザー光を用いて該レジスト層244の特定領域を露
光し、 該露光部分を現像した後酸化珪素層を形成し、 前記レジスト層244の非現像部分をエッチングで除去
し、 該除去部分に現れた前記金属膜243をエッチングし、 前記酸化珪素層を除去した後、金属膜250を成膜し、 該金属膜250の上に金属層251を電鋳して前記原盤
242から剥離し、 前記金属膜243を除去することによって形成されるス
タンパを用いることを特徴とする光記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11759192A JP3136759B2 (ja) | 1992-05-11 | 1992-05-11 | スタンパ、その製造方法、及び光記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11759192A JP3136759B2 (ja) | 1992-05-11 | 1992-05-11 | スタンパ、その製造方法、及び光記録媒体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05314544A true JPH05314544A (ja) | 1993-11-26 |
JP3136759B2 JP3136759B2 (ja) | 2001-02-19 |
Family
ID=14715614
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11759192A Expired - Lifetime JP3136759B2 (ja) | 1992-05-11 | 1992-05-11 | スタンパ、その製造方法、及び光記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3136759B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0917043A (ja) * | 1995-06-28 | 1997-01-17 | Nec Corp | 情報記録媒体の製造方法 |
US6228562B1 (en) * | 1995-10-13 | 2001-05-08 | Nec Corporation | Method for manufacturing recording original disc for optical information recording media |
-
1992
- 1992-05-11 JP JP11759192A patent/JP3136759B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0917043A (ja) * | 1995-06-28 | 1997-01-17 | Nec Corp | 情報記録媒体の製造方法 |
US6228562B1 (en) * | 1995-10-13 | 2001-05-08 | Nec Corporation | Method for manufacturing recording original disc for optical information recording media |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3136759B2 (ja) | 2001-02-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3006199B2 (ja) | 光ディスクの製造方法 | |
JP3104699B1 (ja) | 細溝付き成形基板の製造方法 | |
US20050167867A1 (en) | Method and apparatus for making a stamper for patterning CDs and DVDs | |
US7223505B2 (en) | Method for forming micropatterns | |
JPH11296918A (ja) | 光情報記録媒体用スタンパの製造方法 | |
JP3136759B2 (ja) | スタンパ、その製造方法、及び光記録媒体 | |
JP2004062981A (ja) | 光ディスク製造用スタンパーの製造方法、光ディスク製造用スタンパー及び光ディスクの製造方法 | |
JP3227742B2 (ja) | スタンパの製造方法及び光記録媒体の製造方法 | |
JP3235620B2 (ja) | スタンパの製造方法 | |
JP4087119B2 (ja) | 光ディスク用基盤、光ディスク用スタンパ、光ディスク、および光ディスク用原盤の製造方法 | |
JP2002184045A (ja) | 光ディスク用ネガ型レジスト層付き基材、光ディスク用スタンパの製造方法 | |
JPH10312585A (ja) | 光学記録媒体作製用スタンパ、スタンパ用原盤、および光学記録媒体の製造方法 | |
JP2002367240A (ja) | 微細パターンの形成方法 | |
US20040051052A1 (en) | Method for manufacturing original disk for recording medium, and stamper manufacturing method | |
JPH117662A (ja) | 光ディスク用スタンパの製造方法 | |
JP2005032281A (ja) | 光ディスク原盤の製造方法と光ディスク原盤とスタンパの製造方法とスタンパ及び光ディスク | |
JPS6045956A (ja) | 光ディスク原盤作成方法 | |
JP2002251799A (ja) | 光情報記録媒体用スタンパの製造方法 | |
JP2001060343A (ja) | 情報記録担体用基体の製造方法及び情報記録担体用基体 | |
JPS60182031A (ja) | 情報記録原盤とその製造方法 | |
JP2002245686A (ja) | 微細パターンの形成方法 | |
JPH0660440A (ja) | 光ディスク用スタンパの製造方法 | |
JPH04184727A (ja) | 光ディスク用スタンパーの作製方法 | |
JPH0917043A (ja) | 情報記録媒体の製造方法 | |
JP2002334483A (ja) | 光ディスク用原盤の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 8 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081208 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 8 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081208 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 9 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091208 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 10 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101208 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 10 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101208 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111208 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111208 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 12 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121208 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 12 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121208 |