JP6715241B2 - マイクロリソグラフィ投影露光装置の光学系 - Google Patents
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Description
ここで、D(SA)は、部分開口直径を表し、D(CR)は、関連平面内の光学面M上での最大主光線距離(全ての視野点からのもの又は光学使用視野の全ての視野点にわたって定義されるもの)を表している。部分開口直径は、与えられた視野点から発するビームの光線によって照明される光学要素の一部分の最大直径によって与えられる。その結果、視野平面(0という部分開口直径を有する)に位置する要素に対してP(M)=0が適用され、瞳平面(0という主光線距離を有する)に位置する要素に対してP(M)=1が適用される。上述のフライアイコンデンサーは、好ましくは、パラメータP(M)が少なくとも0.8、特に少なくとも0.9である平面に位置する。
200 フライアイコンデンサー
210 第1の配置
F1 視野平面
OA 光学系軸
Claims (14)
- 少なくとも150nmの動作波長に向けて設計されたマイクロリソグラフィ投影露光装置の光学系であって、
光学系の作動中に入射する光に対する角度分布を生成する要素(11、21)と、
前記光の伝播方向に連続し、かつ多数の光学チャネルを生成するためのビーム偏向光学要素(211〜213、221〜223、411〜413、421〜423、511〜513、521〜523)からなる2つの配置(210、220、410、420、510、520)を含むフライアイコンデンサー(200、400、500)と、
を含み、
角度分布を生成する前記要素(11、21)と前記フライアイコンデンサー(200、400、500)の間のビーム経路には、屈折力を有する光学要素は配置されず、
前記光の伝播方向に連続するビーム偏向光学要素からなる前記2つの配置(210、220、410、420、510、520)は、それらの周期長さ(「ピッチ」)に関して互いから異なっている
ことを特徴とする光学系。 - 少なくとも150nmの動作波長に向けて設計されたマイクロリソグラフィ投影露光装置の光学系であって、
光学系の作動中に入射する光に対する角度分布を生成する要素(11、21)と、
前記光の伝播方向に連続し、かつ多数の光学チャネルを生成するためのビーム偏向光学要素(211〜213、221〜223、411〜413、421〜423、511〜513、521〜523)からなる2つの配置(210、220、410、420、510、520)を含むフライアイコンデンサー(200、400、500)と、
を含み、
角度分布を生成する前記要素(11、21)と前記フライアイコンデンサー(200、400、500)の間のビーム経路には、屈折力を有する光学要素は配置されず、
ビーム偏向光学要素からなる両方の配置(410、420、510、520)内の該ビーム偏向光学要素の少なくとも一部が、光学系の作動中に関連の前記光学チャネルのそれぞれの該ビーム偏向光学要素(411〜413、421〜423、511〜513、521〜523)を各場合に中心で通過する主光線が該関連のビーム偏向光学要素上に垂直に入射するように配置される
ことを特徴とする光学系。 - 少なくとも150nmの動作波長に向けて設計されたマイクロリソグラフィ投影露光装置の光学系であって、
光学系の作動中に入射する光に対する角度分布を生成する要素(11、21)と、
前記光の伝播方向に連続し、かつ多数の光学チャネルを生成するためのビーム偏向光学要素(211〜213、221〜223、411〜413、421〜423、511〜513、521〜523)からなる2つの配置(210、220、410、420、510、520)を含むフライアイコンデンサー(200、400、500)と、
を含み、
角度分布を生成する前記要素(11、21)と前記フライアイコンデンサー(200、400、500)の間のビーム経路には、屈折力を有する光学要素は配置されず、
ビーム偏向光学要素からなる両方の配置(410、420、510、520)内の該ビーム偏向光学要素(411〜413、421〜423、511〜513、521〜523)の少なくとも一部が、少なくとも1つの円弧上にタンジェンシャルに配置される
ことを特徴とする光学系。 - 少なくとも150nmの動作波長に向けて設計されたマイクロリソグラフィ投影露光装置の光学系であって、
光学系の作動中に入射する光に対する角度分布を生成する要素(11、21)と、
前記光の伝播方向に連続し、かつ多数の光学チャネルを生成するためのビーム偏向光学要素(211〜213、221〜223、411〜413、421〜423、511〜513、521〜523)からなる2つの配置(210、220、410、420、510、520)を含むフライアイコンデンサー(200、400、500)と、
を含み、
角度分布を生成する前記要素(11、21)と前記フライアイコンデンサー(200、400、500)の間のビーム経路には、屈折力を有する光学要素は配置されず、
両方の配置(510、520)内の前記ビーム偏向光学要素の少なくとも一部が、該2つの配置(510、520)のうちの少なくとも一方に対して、該ビーム偏向光学要素(511〜513、521〜523)のそれぞれの中心点が光学系軸(OA)と垂直に延びる共通平面に位置するように配置される
ことを特徴とする光学系。 - 前記フライアイコンデンサー(200、400、500)は、前記光学チャネルの少なくとも一部に対して、光学系の作動中に関連の該光学チャネルの前記ビーム偏向光学要素(211〜213、221〜223、411〜413、421〜423、511〜513、521〜523)を各場合に中心で通過する主光線が発散するように配置されることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の光学系。
- 少なくとも150nmの動作波長に向けて設計されたマイクロリソグラフィ投影露光装置の光学系であって、
光学系の作動中に入射する光に対する角度分布を生成する要素(11、21)と、
前記光の伝播方向に連続し、かつ多数の光学チャネルを生成するためのビーム偏向光学要素(211〜213、221〜223、411〜413、421〜423、511〜513、521〜523)からなる2つの配置(210、220、410、420、510、520)を含むフライアイコンデンサー(200、400、500)と、
を含み、
前記フライアイコンデンサー(200、400、500)は、前記光学チャネルの少なくとも一部に対して、光学系の作動中に関連の該光学チャネルの前記ビーム偏向光学要素を各場合に中心で通過する主光線が発散するように配置され、
前記光の伝播方向に連続するビーム偏向光学要素からなる前記2つの配置(210、220、410、420、510、520)は、それらの周期長さ(「ピッチ」)に関して互いから異なっている
ことを特徴とする光学系。 - 光学系軸(OA)を有し、
前記フライアイコンデンサー(200、400、500)は、前記光学系軸(OA)からの最大角度が、光学系の作動中に前記ビーム偏向光学要素(211〜213、221〜223、411〜413、421〜423、511〜513、521〜523)を各場合に中心で通過する前記主光線に対して少なくとも5mradであるように配置される、
ことを特徴とする請求項5又は請求項6に記載の光学系。 - 角度分布を生成する前記要素(21)は、互いに独立に調節可能である複数のミラー要素を有するミラー装置であることを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の光学系。
- 角度分布を生成する前記要素(11)は、回折光学要素(DOE)であることを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の光学系。
- 前記ビーム偏向光学要素(211〜213、221〜223、411〜413、421〜423、511〜513、521〜523)のうちの少なくとも1つが、屈折レンズ要素として具現化されることを特徴とする請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の光学系。
- 前記フライアイコンデンサー(200、400、500)は、瞳平面の少なくとも直近に配置されることを特徴とする請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の光学系。
- マイクロリソグラフィ投影露光装置の照明デバイスであって、
請求項1から請求項11のいずれか1項に記載の光学要素、
を含むことを特徴とする照明デバイス。 - 照明デバイスと投影レンズとを含み、該照明デバイスが投影露光装置の作動中に該投影レンズの物体平面を照明し、該投影レンズが該物体平面を像平面上に結像するマイクロリソグラフィ投影露光装置であって、
前記照明デバイスは、請求項1から請求項11のいずれか1項に記載の光学系を含む、
ことを特徴とするマイクロリソグラフィ投影露光装置。 - 微細構造化構成要素をマイクロリソグラフィで生成する方法であって、
感光材料からなる層が少なくとも部分的に塗布された基板を与える段階と、
結像される構造を含むマスクを与える段階と、
請求項13に記載のマイクロリソグラフィ投影露光装置を与える段階と、
前記投影露光装置を用いて前記マスク(16、26)の少なくとも一部を前記層の領域上に投影する段階と、
を含むことを特徴とする方法。
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DE2803277A1 (de) | 1978-01-26 | 1979-08-02 | Bosch Gmbh Robert | Vorrichtung zur belichtung einer auf eine oberflaeche eines substrats aufgebrachten fotolackschicht |
JP3339593B2 (ja) * | 1993-04-22 | 2002-10-28 | 株式会社ニコン | 投影露光装置、及び該装置を用いた素子製造方法 |
US7006595B2 (en) | 1998-05-05 | 2006-02-28 | Carl Zeiss Semiconductor Manufacturing Technologies Ag | Illumination system particularly for microlithography |
US6069739A (en) | 1998-06-30 | 2000-05-30 | Intel Corporation | Method and lens arrangement to improve imaging performance of microlithography exposure tool |
DE19829612A1 (de) * | 1998-07-02 | 2000-01-05 | Zeiss Carl Fa | Beleuchtungssystem der Mikrolithographie mit Depolarisator |
US6583937B1 (en) * | 1998-11-30 | 2003-06-24 | Carl-Zeiss Stiftung | Illuminating system of a microlithographic projection exposure arrangement |
DE19856575A1 (de) | 1998-12-08 | 2000-09-14 | Zeiss Carl Fa | Projektions-Mikrolithographiegerät |
US6445442B2 (en) | 1998-12-08 | 2002-09-03 | Carl-Zeiss-Stiftung | Projection-microlithographic device |
US7186004B2 (en) * | 2002-12-31 | 2007-03-06 | Karlton David Powell | Homogenizing optical sheet, method of manufacture, and illumination system |
US7339737B2 (en) | 2004-04-23 | 2008-03-04 | Microvision, Inc. | Beam multiplier that can be used as an exit-pupil expander and related system and method |
WO2007093433A1 (de) * | 2006-02-17 | 2007-08-23 | Carl Zeiss Smt Ag | Beleuchtungssystem für die mikro-lithographie, projektionsbelichtungsanlage mit einem derartigen beleuchtungssystem |
KR101254843B1 (ko) | 2006-02-17 | 2013-04-15 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 마이크로리소그래피 투영 노광 장치의 조명 시스템용 광 인터그레이터 |
TWI456267B (zh) * | 2006-02-17 | 2014-10-11 | Zeiss Carl Smt Gmbh | 用於微影投射曝光設備之照明系統 |
DE102006042452A1 (de) * | 2006-02-17 | 2007-08-30 | Carl Zeiss Smt Ag | Beleuchtungssystem für die Mikro-Lithographie, Projektionsbelichtungsanlage mit einem derartigen Beleuchtungssystem, mikrolithographisches Herstellungsverfahren für Bauelemente sowie mit diesem Verfahren hergestelltes Bauelement |
EP1930771A1 (en) | 2006-12-04 | 2008-06-11 | Carl Zeiss SMT AG | Projection objectives having mirror elements with reflective coatings |
US8587764B2 (en) * | 2007-03-13 | 2013-11-19 | Nikon Corporation | Optical integrator system, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method |
EP2073061A3 (de) | 2007-12-22 | 2011-02-23 | LIMO Patentverwaltung GmbH & Co. KG | Vorrichtung zur Ausleuchtung einer Fläche sowie Vorrichtung zur Beaufschlagung eines Arbeitsbereichs mit Licht |
JP5197227B2 (ja) * | 2008-08-19 | 2013-05-15 | キヤノン株式会社 | 照明光学系及び画像投射装置 |
DE102009032939A1 (de) | 2009-07-14 | 2011-01-20 | Carl Zeiss Smt Ag | Wabenkondensor, insbesondere für eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage |
DE102012202057B4 (de) | 2012-02-10 | 2021-07-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsobjektiv für EUV-Mikrolithographie, Folienelement und Verfahren zur Herstellung eines Projektionsobjektivs mit Folienelement |
WO2014063719A1 (en) * | 2012-10-27 | 2014-05-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Illumination system of a microliteographic projection exposure apparatus |
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