JP2015052797A - 結像光学系及びこの種の結像光学系を備えたマイクロリソグラフィ用の投影露光装置 - Google Patents
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 93
- 238000001393 microlithography Methods 0.000 title claims description 8
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 claims abstract description 77
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 72
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 7
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 239000002086 nanomaterial Substances 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B17/00—Systems with reflecting surfaces, with or without refracting elements
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- G02B17/06—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system using mirrors only, i.e. having only one curved mirror
- G02B17/0647—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system using mirrors only, i.e. having only one curved mirror using more than three curved mirrors
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- G02B17/00—Systems with reflecting surfaces, with or without refracting elements
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- G02B17/06—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system using mirrors only, i.e. having only one curved mirror
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- G—PHYSICS
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- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/0025—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for optical correction, e.g. distorsion, aberration
- G02B27/0037—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for optical correction, e.g. distorsion, aberration with diffracting elements
- G02B27/0043—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for optical correction, e.g. distorsion, aberration with diffracting elements in projection exposure systems, e.g. microlithographic systems
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
- G03F7/7015—Details of optical elements
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
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- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70216—Mask projection systems
- G03F7/70233—Optical aspects of catoptric systems, i.e. comprising only reflective elements, e.g. extreme ultraviolet [EUV] projection systems
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- Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
【解決手段】結像光学系(7)は、物体平面(5)の物体視野(4)を像平面(9)の像視野(8)内に結像する複数のミラー(M1からM6)を有する。物体視野(4)と像視野(8)の間の結像ビーム経路には瞳平面(17)が配置される。瞳平面(17)には絞り(20)が配置される。瞳平面(17)は傾斜され、言い換えれば、物体平面(5)に対して0.1°よりも大きい角度(α)を取る。
【選択図】図2
Description
5 物体平面
7 投影光学系
8 像視野
9 像平面
15 個別ビーム
Claims (13)
- 物体平面(5)の物体視野(4)を像平面(9)内の像視野(8)に結像する複数のミラー(M1からM6)を備えた結像光学系(7)であって、
物体視野(4)と像視野(8)の間の結像ビーム経路に配置された瞳平面(17)を備え、
前記瞳平面(17)に配置された絞り(20)を備え、
前記瞳平面(17)は、物体平面(5)に対して傾斜され、言い換えれば、該物体平面(5)に対して0.1°よりも大きい角度(α)を取り、
結像光学系(7)が、4つよりも多いミラー(M1からM6)を有する、
ことを特徴とする結像光学系。 - 前記像平面(9)は、前記物体平面(5)と平行に延びることを特徴とする請求項1に記載の結像光学系。
- 前記傾斜瞳平面(17)内の瞳が、厳密に1回の通過を受けることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の結像光学系。
- 前記瞳平面(17)は、中心物体視野点に属する主光線(16z)に対して傾斜され、言い換えれば、該中心物体視野点に属する該主光線(16z)に対して90°よりも小さい角度(β)を取る、
ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の結像光学系(7)。 - 前記傾斜瞳平面(17)の前の最後のミラー(M2)の前の第1の結像部分ビーム(21)、及び
前記傾斜瞳平面(17)の後の最初のミラー(M3)の後の第2の結像部分ビーム(22)が、
前記絞り(20)の対向する外縁を通る、
ことを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の結像光学系。 - 前記傾斜瞳平面(17)は、前記物体視野(4)の後の前記結像ビーム経路内の第2のミラー(M2)と第3のミラー(M3)の間に配置されることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 前記ミラー(M1からM6)のうちの少なくとも1つの反射面が、自由曲面として構成されることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 結像光学系(7)が、マイクロリソグラフィのための投影光学系として構成されることを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 請求項8に記載の投影光学系を備え、かつ
照明光(3)を結像光学系(7)の物体視野(4)に向けて誘導するための照明光学系(6)を備える、
ことを特徴とする光学系。 - マイクロリソグラフィのための投影露光装置であって、
請求項9に記載の光学系を備え、かつ
照明及び結像光(3)のための光源(2)を備える、
ことを特徴とする投影露光装置。 - 照明光(3)を生成するための前記光源(2)は、5と30nmの間の波長を用いて構成されることを特徴とする請求項10に記載の投影露光装置。
- 構造化構成要素を生成する方法であって、
レチクル(10)及びウェーハ(11)を準備する段階と、
請求項10又は請求項11に記載の投影露光装置を用いて、前記レチクル(10)上の構造を前記ウェーハ(11)の感光層上に投影する段階と、
前記ウェーハ(11)上に構造を生成する段階と、
を有することを特徴とする方法。 - 請求項12に記載の方法によって生成された構造化構成要素。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US16452209P | 2009-03-30 | 2009-03-30 | |
US61/164522 | 2009-03-30 | ||
DE102009014953 | 2009-03-30 | ||
DE102009014953.8 | 2009-03-30 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012502554A Division JP2012522275A (ja) | 2009-03-30 | 2010-03-16 | 結像光学系及びこの種の結像光学系を備えたマイクロリソグラフィ用の投影露光装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015052797A true JP2015052797A (ja) | 2015-03-19 |
Family
ID=42675122
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012502554A Pending JP2012522275A (ja) | 2009-03-30 | 2010-03-16 | 結像光学系及びこの種の結像光学系を備えたマイクロリソグラフィ用の投影露光装置 |
JP2014216144A Pending JP2015052797A (ja) | 2009-03-30 | 2014-10-23 | 結像光学系及びこの種の結像光学系を備えたマイクロリソグラフィ用の投影露光装置 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012502554A Pending JP2012522275A (ja) | 2009-03-30 | 2010-03-16 | 結像光学系及びこの種の結像光学系を備えたマイクロリソグラフィ用の投影露光装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20120069314A1 (ja) |
JP (2) | JP2012522275A (ja) |
KR (1) | KR20120003914A (ja) |
CN (1) | CN102378935B (ja) |
DE (1) | DE102009034028A1 (ja) |
WO (1) | WO2010112328A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101787762B1 (ko) | 2011-08-09 | 2017-10-18 | 엘지이노텍 주식회사 | 드라이버 ic 입력단의 방전 경로 회로 |
DE102014217612A1 (de) | 2014-09-03 | 2016-03-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungoptik für die Projektonslithograpfie |
DE102014223811B4 (de) | 2014-11-21 | 2016-09-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik für die EUV-Projektionslithographie, Projektionsbelichtungsanlage und Verfahren zur Herstellung eines strukturierten Bauteils |
CN106646839B (zh) * | 2017-01-24 | 2022-08-05 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 深紫外谱段离轴四反光学成像系统 |
DE102022206112A1 (de) | 2022-06-20 | 2023-12-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende EUV-Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld |
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-
2009
- 2009-07-21 DE DE102009034028A patent/DE102009034028A1/de not_active Withdrawn
-
2010
- 2010-03-16 WO PCT/EP2010/053341 patent/WO2010112328A1/en active Application Filing
- 2010-03-16 KR KR1020117025528A patent/KR20120003914A/ko not_active Ceased
- 2010-03-16 JP JP2012502554A patent/JP2012522275A/ja active Pending
- 2010-03-16 CN CN201080015414.1A patent/CN102378935B/zh active Active
-
2011
- 2011-09-19 US US13/235,866 patent/US20120069314A1/en not_active Abandoned
-
2014
- 2014-10-23 JP JP2014216144A patent/JP2015052797A/ja active Pending
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN102378935B (zh) | 2013-11-06 |
US20120069314A1 (en) | 2012-03-22 |
KR20120003914A (ko) | 2012-01-11 |
DE102009034028A1 (de) | 2010-10-07 |
WO2010112328A1 (en) | 2010-10-07 |
CN102378935A (zh) | 2012-03-14 |
JP2012522275A (ja) | 2012-09-20 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150925 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150930 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20151225 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20160824 |