[go: up one dir, main page]

JP6023196B2 - Inspection head, working device, and electronic component mounting line - Google Patents

Inspection head, working device, and electronic component mounting line Download PDF

Info

Publication number
JP6023196B2
JP6023196B2 JP2014525605A JP2014525605A JP6023196B2 JP 6023196 B2 JP6023196 B2 JP 6023196B2 JP 2014525605 A JP2014525605 A JP 2014525605A JP 2014525605 A JP2014525605 A JP 2014525605A JP 6023196 B2 JP6023196 B2 JP 6023196B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
head
work
substrate
control unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2014525605A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPWO2014013572A1 (en
Inventor
光孝 稲垣
光孝 稲垣
博史 大池
博史 大池
和美 星川
和美 星川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Corp
Original Assignee
Fuji Machine Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Machine Manufacturing Co Ltd filed Critical Fuji Machine Manufacturing Co Ltd
Publication of JPWO2014013572A1 publication Critical patent/JPWO2014013572A1/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6023196B2 publication Critical patent/JP6023196B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08Monitoring manufacture of assemblages
    • H05K13/081Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
    • H05K13/0812Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines the monitoring devices being integrated in the mounting machine, e.g. for monitoring components, leads, component placement
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08Monitoring manufacture of assemblages
    • H05K13/081Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
    • H05K13/0815Controlling of component placement on the substrate during or after manufacturing
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/16Inspection; Monitoring; Aligning
    • H05K2203/163Monitoring a manufacturing process
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/12Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns
    • H05K3/1216Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns by screen printing or stencil printing
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3457Solder materials or compositions; Methods of application thereof
    • H05K3/3485Applying solder paste, slurry or powder

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Operations Research (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Description

本明細書は、検査ヘッド、作業装置および電子部品実装ラインに関する。   The present specification relates to an inspection head, a working device, and an electronic component mounting line.

特開2011−243884号公報には、電子部品実装ラインに組み込まれた一つの作業装置を、表面実装機として動作させたり、検査機として動作させることが可能な技術が記載されている。この技術では、作業装置の作業ヘッドとして実装ヘッドを取り付け、さらに作業装置にフィーダ装置を取り付けることで、作業装置を表面実装機として動作させることができる。また、この技術では、作業装置に取り付けられた作業ヘッドを実装ヘッドから検査ヘッドに取り換え、さらに作業装置に取り付けられたフィーダ装置を検査用コンピュータに取り換えることで、作業装置を検査機として動作させることができる。この技術によれば、一つの作業装置を、表面実装機として使用することもできるし、検査機として使用することもできるため、電子部品実装ラインの組み換えを容易に行うことができる。   Japanese Patent Application Laid-Open No. 2011-243484 describes a technique that allows one working device incorporated in an electronic component mounting line to operate as a surface mounter or as an inspection machine. In this technique, the work device can be operated as a surface mounter by attaching a mounting head as a work head of the work device and further attaching a feeder device to the work device. In this technique, the work head attached to the work device is replaced from the mounting head to the inspection head, and the feeder device attached to the work device is replaced with an inspection computer, thereby operating the work device as an inspection machine. Can do. According to this technique, since one working device can be used as a surface mounter or an inspection machine, the electronic component mounting line can be easily recombined.

特開2011−243884号公報に記載の技術では、作業装置を表面実装機から検査機に組み換える際に、実装ヘッドを検査ヘッドに取り換え、さらにフィーダ装置を検査用コンピュータに取り換える作業が必要となり、組み換え作業に時間と労力を必要とする。作業装置を検査機から表面実装機に組み換える際にも、検査ヘッドを実装ヘッドに取り換え、さらに検査用コンピュータをフィーダ装置に取り換える作業が必要となり、組み換え作業に時間と労力を必要とする。表面実装機から検査機への組み換え作業、および検査機から表面実装機への組み換え作業を、より少ない労力で行うことが可能な技術が期待されている。   In the technique described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2011-243484, when rearranging the working device from the surface mounter to the inspection machine, it is necessary to replace the mounting head with the inspection head and further replace the feeder device with the inspection computer. Recombination work requires time and effort. Even when the work device is recombined from the inspection machine to the surface mounting machine, it is necessary to replace the inspection head with the mounting head, and further to replace the inspection computer with the feeder device, which requires time and labor for the recombination work. A technology that can perform the recombination work from the surface mounter to the inspection machine and the recombination work from the inspection machine to the surface mounter with less effort is expected.

本明細書は、基板に対して作業を行うための作業装置に作業ヘッドとして取り付け可能な基板の表面状態を検査する検査ヘッドを開示する。その検査ヘッドは、基板を撮影して画像データを取得するカメラと、検査処理プログラムと検査基準データを記憶可能な記憶媒体と、検査処理プログラムに従って、カメラから取得される画像データと検査基準データに基づいて検査処理を実行する制御部とを搭載している。   The present specification discloses an inspection head for inspecting a surface state of a substrate that can be attached as a work head to a working device for performing work on the substrate. The inspection head captures image data and inspection reference data acquired from the camera in accordance with a camera that shoots a substrate and acquires image data, a storage medium that can store an inspection processing program and inspection reference data, and an inspection processing program. And a control unit that executes an inspection process based on the control unit.

上記のような検査ヘッドを作業装置に作業ヘッドとして取り付けることで、検査用コンピュータを別途取り付けることなく、作業装置を検査機として動作させることができる。従って、作業装置を表面実装機から検査機へ組み換える際に、フィーダ装置を検査用コンピュータへ取り換える作業が不要となる。さらに、作業装置を検査機から表面実装機へ組み換える際には、検査用コンピュータを取り外す作業が不要となる。上記のような検査ヘッドを使用することで、作業装置の表面実装機から検査機への組み換え作業、および検査機から表面実装機への組み換え作業を、より少ない労力で行うことが可能となる。   By attaching the inspection head as described above to the work apparatus as a work head, the work apparatus can be operated as an inspection machine without separately attaching an inspection computer. Therefore, when the work device is rearranged from the surface mounter to the inspection machine, the work of replacing the feeder device with the inspection computer is not required. Furthermore, when the work device is rearranged from the inspection machine to the surface mounter, the work of removing the inspection computer is not required. By using the inspection head as described above, the recombination work from the surface mounting machine to the inspection machine and the recombination work from the inspection machine to the surface mounting machine can be performed with less effort.

上記の検査ヘッドは、前記制御部が、前記作業装置の外部のコンピュータと通信可能であって、検査結果を示す検査結果データを前記作業装置の外部のコンピュータへ出力するように構成することもできる。   The inspection head may be configured such that the control unit can communicate with a computer external to the work device and output inspection result data indicating the inspection result to a computer external to the work device. .

上記の検査ヘッドは、基板に撮影用の光を照射する撮影用照明をさらに搭載するように構成することもできる。   The inspection head may be configured to further include photographing illumination that irradiates the substrate with photographing light.

本明細書は、上記の検査ヘッドが作業ヘッドとして取り付けられた作業装置も開示する。さらに、本明細書は、基板に電子部品を実装する実装ヘッドが作業ヘッドとして取り付けられた作業装置の下流側に、上記の作業装置が配置された電子部品実装ラインも開示する。   The present specification also discloses a working device in which the inspection head is attached as a working head. Furthermore, the present specification also discloses an electronic component mounting line in which the above-described working device is arranged on the downstream side of a working device in which a mounting head for mounting an electronic component on a substrate is attached as a working head.

本明細書が開示する技術の詳細は、以下の発明の実施の形態で説明する。   Details of the technology disclosed in this specification will be described in the following embodiments of the invention.

実施例の電子部品実装ライン2の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the electronic component mounting line 2 of an Example. 実施例の作業装置6の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the working device 6 of an Example. 実施例の作業装置6の機械的な構成の概略を示す横断面図である。It is a cross-sectional view which shows the outline of the mechanical structure of the working device 6 of an Example. 実施例の作業装置10の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the working apparatus 10 of an Example.

(実施例)
図1に示す電子部品実装ライン2は、主にスクリーン印刷機4と、複数の作業装置6,8,10と、リフロー炉12と、メインコントローラ14を備えている。スクリーン印刷機4は、基板にクリーム状はんだをスクリーン印刷する。作業装置6,8,10は、基板への電子部品の実装や、基板の表面状態の検査を行う。リフロー炉12は、基板を加熱してクリーム状はんだを溶融させる。メインコントローラ14は、スクリーン印刷機4と、作業装置6,8,10と、リフロー炉12を含む電子部品実装ライン2の各装置の動作を制御する。
(Example)
The electronic component mounting line 2 shown in FIG. 1 mainly includes a screen printing machine 4, a plurality of work devices 6, 8, 10, a reflow furnace 12, and a main controller 14. The screen printer 4 screen-prints cream solder on the substrate. The work devices 6, 8, and 10 perform mounting of electronic components on the substrate and inspection of the surface state of the substrate. The reflow furnace 12 heats the substrate to melt the cream solder. The main controller 14 controls the operation of each device of the electronic component mounting line 2 including the screen printing machine 4, the work devices 6, 8, 10 and the reflow furnace 12.

作業装置6,8,10は、モジュール化されており、作業ヘッドの種類を変更することによって、表面実装機として動作させることもできるし、検査機として動作させることもできる。一例として、本実施例では、作業装置6,8が基板に電子部品を実装する表面実装機として動作し、作業装置10が基板の表面状態を検査する検査機として動作する場合について説明する。   The work devices 6, 8, and 10 are modularized, and can be operated as a surface mounter or an inspection machine by changing the type of the work head. As an example, in this embodiment, a case will be described in which the working devices 6 and 8 operate as a surface mounter that mounts electronic components on a substrate, and the working device 10 operates as an inspection machine that inspects the surface state of the substrate.

図2に示すように、表面実装機である作業装置6は、実装ヘッド30と、ホルダ20と、ホルダ駆動装置22と、フィーダ装置24と、基板搬送装置26と、モジュールコントローラ28を備えている。基板搬送装置26は、上流側の生産装置(作業装置6の場合、スクリーン印刷機4)からの基板を搬入して、作業位置に基板を保持した後、下流側の生産装置(作業装置6の場合、作業装置8)へ基板を搬出する。フィーダ装置24は、基板に実装する電子部品を供給する。フィーダ装置24は、作業装置6に対して着脱可能である。ホルダ20には、実装ヘッド30や後述する検査ヘッド32などの作業ヘッドを取り付け可能である。本実施例では、作業装置6は表面実装機として動作するため、ホルダ20には実装ヘッド30が取り付けられている。   As shown in FIG. 2, the working device 6 that is a surface mounting machine includes a mounting head 30, a holder 20, a holder driving device 22, a feeder device 24, a substrate transfer device 26, and a module controller 28. . The substrate transfer device 26 carries in the substrate from the upstream production device (screen printer 4 in the case of the work device 6) and holds the substrate at the work position, and then the downstream production device (of the work device 6). In this case, the substrate is carried out to the working device 8). The feeder device 24 supplies electronic components to be mounted on the board. The feeder device 24 is detachable from the working device 6. A working head such as a mounting head 30 or an inspection head 32 described later can be attached to the holder 20. In the present embodiment, since the working device 6 operates as a surface mounter, a mounting head 30 is attached to the holder 20.

実装ヘッド30は、ノズル34と、ノズル駆動装置36と、着脱切換装置38と、ヘッドコントローラ40を備えている。ノズル34は、その先端に負圧を発生させることで電子部品を吸着し、その先端に正圧を発生させることで電子部品の吸着を解除する。ノズル駆動装置36は、ホルダ20に対するノズル34の相対的な位置および姿勢を調整する。着脱切換装置38は、ノズル34の先端に負圧経路が連通する状態と、ノズル34の先端に正圧経路が連通する状態の間で切り換わることで、ノズル34に対する電子部品の着脱を切り換える。ヘッドコントローラ40は、ノズル駆動装置36および着脱切換装置38の動作を制御する。   The mounting head 30 includes a nozzle 34, a nozzle driving device 36, an attachment / detachment switching device 38, and a head controller 40. The nozzle 34 sucks an electronic component by generating a negative pressure at its tip, and releases the suction of the electronic component by generating a positive pressure at its tip. The nozzle driving device 36 adjusts the relative position and posture of the nozzle 34 with respect to the holder 20. The attachment / detachment switching device 38 switches between attachment / detachment of electronic components to / from the nozzle 34 by switching between a state in which the negative pressure path communicates with the tip of the nozzle 34 and a state in which the positive pressure path communicates with the tip of the nozzle 34. The head controller 40 controls the operation of the nozzle driving device 36 and the attachment / detachment switching device 38.

図3に示すように、ホルダ駆動装置22は、ホルダ20をフィーダ装置24と基板搬送装置26の間で往復動作させる。実装ヘッド30をフィーダ装置24の上方へと移動させ、部品供給位置にある電子部品をノズル34の先端に吸着し、その後に実装ヘッド30を基板搬送装置26の上方へ移動させ、部品取付位置でノズル34の先端から電子部品を離脱させることで、基板への電子部品の実装を行うことができる。   As shown in FIG. 3, the holder driving device 22 reciprocates the holder 20 between the feeder device 24 and the substrate transfer device 26. The mounting head 30 is moved above the feeder device 24, the electronic component at the component supply position is attracted to the tip of the nozzle 34, and then the mounting head 30 is moved above the substrate transport device 26 to be at the component mounting position. By detaching the electronic component from the tip of the nozzle 34, the electronic component can be mounted on the substrate.

図2のモジュールコントローラ28は、実装ヘッド30、ホルダ駆動装置22、フィーダ装置24、基板搬送装置26の動作を制御する。モジュールコントローラ28は、シリアルバスや有線LAN、無線LANなどの通信回線を介して、ヘッドコントローラ40と通信可能である。ヘッドコントローラ40は、有線LANまたは無線LANなどの通信回線を介して、メインコントローラ14と通信可能である。モジュールコントローラ28は、メインコントローラ14から生産ジョブを読み出し、読み出した生産ジョブに従って作業装置6の動作を制御する。また、モジュールコントローラ28は、メインコントローラ14に、作業装置6における作業の状況等を送信する。   The module controller 28 in FIG. 2 controls operations of the mounting head 30, the holder driving device 22, the feeder device 24, and the substrate transfer device 26. The module controller 28 can communicate with the head controller 40 via a communication line such as a serial bus, a wired LAN, or a wireless LAN. The head controller 40 can communicate with the main controller 14 via a communication line such as a wired LAN or a wireless LAN. The module controller 28 reads a production job from the main controller 14 and controls the operation of the work device 6 according to the read production job. Further, the module controller 28 transmits the work status and the like in the work device 6 to the main controller 14.

図4に示すように、検査機である作業装置10は、検査ヘッド32と、ホルダ20と、ホルダ駆動装置22と、基板搬送装置26と、モジュールコントローラ28を備えている。ホルダ20、ホルダ駆動装置22、基板搬送装置26、モジュールコントローラ28の構成は、作業装置6と同様である。本実施例では、作業装置10は検査機として動作するため、ホルダ20には作業ヘッドとして検査ヘッド32が取り付けられている。   As shown in FIG. 4, the working device 10 that is an inspection machine includes an inspection head 32, a holder 20, a holder driving device 22, a substrate transport device 26, and a module controller 28. The configurations of the holder 20, the holder driving device 22, the substrate transfer device 26, and the module controller 28 are the same as those of the work device 6. In the present embodiment, since the working device 10 operates as an inspection machine, an inspection head 32 is attached to the holder 20 as a work head.

検査ヘッド32は、カメラ42と、撮影用照明44と、ヘッドコントローラ46(制御部に相当する)を備えている。カメラ42は、基板搬送装置26により作業位置に保持された基板を撮影して、画像データをヘッドコントローラ46へ出力する。撮影用照明44は、基板搬送装置26により作業位置に保持された基板に撮影用の光を照射する。ヘッドコントローラ46は、カメラ42および撮影用照明44の動作を制御する。   The inspection head 32 includes a camera 42, a photographing illumination 44, and a head controller 46 (corresponding to a control unit). The camera 42 images the substrate held at the work position by the substrate transfer device 26 and outputs image data to the head controller 46. The photographing illumination 44 irradiates the substrate held at the work position by the substrate transport device 26 with photographing light. The head controller 46 controls the operation of the camera 42 and the photographing illumination 44.

ヘッドコントローラ46は、CPU、ROM、RAM、フラッシュメモリ等を備えている。ヘッドコントローラ46のROM、RAM、フラッシュメモリ等(記憶媒体に相当する)には、検査処理プログラムと、検査基準データが予め記憶されている。ヘッドコントローラ46は、シリアルバスや有線LAN、無線LANなどの通信回線を介して、モジュールコントローラ28と通信可能である。また、ヘッドコントローラ46は、有線LANまたは無線LANなどの通信回線を介して、メインコントローラ14(作業装置10の外部のコンピュータに相当する)と通信可能である。モジュールコントローラ28は、メインコントローラ14から生産ジョブを読み出し、読み出した生産ジョブに従って作業装置10の動作を制御する。ヘッドコントローラ46は、カメラ42および撮影用照明44を制御して画像データを取得し、取得された画像データと検査基準データに基づいて基板の検査処理を実施する。ヘッドコントローラ46が行う検査処理では、例えばカメラ42で取得された画像データと、良品である基板の画像を示す検査基準データを比較して、基板に印刷されたはんだのずれや欠損の有無、基板に実装された電子部品の欠品や位置・角度のずれの有無、異物の有無等についての判定を行うことができる。ヘッドコントローラ46は、検査結果を示す検査結果データを、メインコントローラ14へ送信する。なお、ヘッドコントローラ46は、それぞれの基板に対する検査結果データをその都度送信するように構成してもよいし、複数の基板に対する検査結果を集計して、集計処理された検査結果データを送信するように構成してもよい。   The head controller 46 includes a CPU, ROM, RAM, flash memory, and the like. An inspection processing program and inspection reference data are stored in advance in the ROM, RAM, flash memory, and the like (corresponding to a storage medium) of the head controller 46. The head controller 46 can communicate with the module controller 28 via a communication line such as a serial bus, a wired LAN, or a wireless LAN. Further, the head controller 46 can communicate with the main controller 14 (corresponding to a computer outside the work apparatus 10) via a communication line such as a wired LAN or a wireless LAN. The module controller 28 reads a production job from the main controller 14 and controls the operation of the work apparatus 10 according to the read production job. The head controller 46 controls the camera 42 and the photographing illumination 44 to acquire image data, and performs substrate inspection processing based on the acquired image data and inspection reference data. In the inspection process performed by the head controller 46, for example, image data acquired by the camera 42 is compared with inspection reference data indicating an image of a non-defective substrate, and whether or not the solder printed on the substrate is shifted or missing, the substrate It is possible to determine whether there is a shortage of electronic components mounted on the device, the presence / absence of a position / angle shift, the presence / absence of foreign matter, and the like. The head controller 46 transmits inspection result data indicating the inspection result to the main controller 14. The head controller 46 may be configured to transmit the inspection result data for each substrate each time. Alternatively, the head controller 46 may aggregate the inspection results for a plurality of substrates and transmit the totaled inspection result data. You may comprise.

本実施例の検査ヘッド32は、ヘッドコントローラ46が検査処理プログラムと検査基準データを記憶しており、カメラ42から得られる画像データと検査基準データに基づいて検査処理を実施し、検査結果データをメインコントローラ14へ送信する。従って、検査ヘッド32とメインコントローラ14の間、あるいは検査ヘッド32とモジュールコントローラ28の間で、大容量の画像データを送受信する必要がない。このため、検査ヘッド32とメインコントローラ14の間、あるいは検査ヘッド32とモジュールコントローラ28の間の通信回線の負荷を軽減することができる。また、メインコントローラ14やモジュールコントローラ28における通信処理の負荷を軽減して、これらのコントローラの動作を安定させることができる。さらに、画像データの伝送経路が短くて済むため、検査処理の対象となる画像データがノイズや信号劣化の影響を受けにくく、検査処理の信頼性を向上することができる。ヘッドコントローラ46に記憶されている検査処理プログラムおよび検査基準データは、メインコントローラ14から書き換えることができる。   In the inspection head 32 of the present embodiment, the head controller 46 stores an inspection processing program and inspection reference data, performs inspection processing based on image data and inspection reference data obtained from the camera 42, and outputs inspection result data. Transmit to the main controller 14. Therefore, it is not necessary to transmit / receive large-capacity image data between the inspection head 32 and the main controller 14 or between the inspection head 32 and the module controller 28. For this reason, the load on the communication line between the inspection head 32 and the main controller 14 or between the inspection head 32 and the module controller 28 can be reduced. Further, it is possible to reduce the load of communication processing in the main controller 14 and the module controller 28 and to stabilize the operation of these controllers. Furthermore, since the transmission path of the image data is short, the image data to be inspected is hardly affected by noise and signal deterioration, and the reliability of the inspection process can be improved. The inspection processing program and inspection reference data stored in the head controller 46 can be rewritten from the main controller 14.

なお、ヘッドコントローラ46がメインコントローラ14から生産ジョブを読み出し、ヘッドコントローラ46がモジュールコントローラ28を介して生産装置10の各部の動作を制御するように構成してもよい。   The head controller 46 may read the production job from the main controller 14, and the head controller 46 may be configured to control the operation of each unit of the production apparatus 10 via the module controller 28.

電子部品実装ライン2において、表面実装機と検査機の配置を変更したい場合がある。このような場合に、本実施例の作業装置6,8,10では、表面実装機から検査機への組み換えや、検査機から表面実装機への組み換えを容易に行うことができる。   In the electronic component mounting line 2, there are cases where it is desired to change the arrangement of the surface mounting machine and the inspection machine. In such a case, in the working devices 6, 8, and 10 of this embodiment, recombination from the surface mounter to the inspection machine and recombination from the inspection machine to the surface mounter can be easily performed.

例えば、作業装置8を表面実装機から検査機へ変更する場合には、ホルダ20に取り付けられている実装ヘッド30を検査ヘッド32に取り替える。これによって、作業装置8を検査機として動作させることができる。なお、作業装置8を表面実装機として動作させる際に取り付けられたフィーダ装置24は、検査機としての動作には影響を及ぼさないため、作業装置8に取り付けたままとしてもよいし、取り外してもよい。あるいは、フィーダ装置24の置き台や調整台として利用してもよい。本実施例によれば、簡単な取替え作業によって、作業装置8を表面実装機から検査機に組み換えることができる。   For example, when the work device 8 is changed from a surface mounter to an inspection machine, the mounting head 30 attached to the holder 20 is replaced with an inspection head 32. Thereby, the working device 8 can be operated as an inspection machine. Note that the feeder device 24 attached when the working device 8 is operated as a surface mounter does not affect the operation as an inspection machine, and therefore may be left attached to the working device 8 or removed. Good. Or you may utilize as a stand of the feeder apparatus 24, or an adjustment stand. According to the present embodiment, the working device 8 can be rearranged from the surface mounter to the inspection machine by a simple replacement work.

作業装置10を検査機から表面実装機へ変更する場合には、ホルダ20に取り付けられている検査ヘッド32を実装ヘッド30に取り替える。また、基板へ実装すべき電子部品を供給するフィーダ装置24を作業装置10に新たに取り付ける。本実施例によれば、簡単な取替え作業によって、作業装置10を検査機から表面実装機に組み換えることができる。   When the work apparatus 10 is changed from an inspection machine to a surface mounting machine, the inspection head 32 attached to the holder 20 is replaced with the mounting head 30. In addition, a feeder device 24 for supplying electronic components to be mounted on the substrate is newly attached to the work device 10. According to the present embodiment, the working device 10 can be rearranged from the inspection machine to the surface mounting machine by a simple replacement work.

本発明の代表的かつ非限定的な具体例について、図面を参照して詳細に説明した。この詳細な説明は、本発明の好ましい例を実施するための詳細を当業者に示すことを単純に意図しており、本発明の範囲を限定することを意図したものではない。また、開示された追加的な特徴ならびに発明は、さらに改善された検査ヘッド、作業装置および電子部品実装ラインを提供するために、他の特徴や発明とは別に、又は共に用いることができる。   Representative and non-limiting specific examples of the present invention have been described in detail with reference to the drawings. This detailed description is intended merely to present those skilled in the art with the details for practicing the preferred embodiments of the present invention and is not intended to limit the scope of the invention. In addition, the disclosed additional features and inventions can be used separately from or in conjunction with other features and inventions to provide further improved inspection heads, work devices, and electronic component mounting lines.

また、上記の詳細な説明で開示された特徴や工程の組み合わせは、最も広い意味において本発明を実施する際に必須のものではなく、特に本発明の代表的な具体例を説明するためにのみ記載されるものである。さらに、上記の代表的な具体例の様々な特徴、ならびに、独立及び従属クレームに記載されるものの様々な特徴は、本発明の追加的かつ有用な実施形態を提供するにあたって、ここに記載される具体例のとおりに、あるいは列挙された順番のとおりに組合せなければならないものではない。   Further, the combinations of features and steps disclosed in the above detailed description are not indispensable when practicing the present invention in the broadest sense, and are only for explaining representative specific examples of the present invention. It is described. Moreover, various features of the representative embodiments described above, as well as various features of those set forth in the independent and dependent claims, are described herein in providing additional and useful embodiments of the invention. They do not have to be combined in the specific examples or in the order listed.

本明細書及び/又はクレームに記載された全ての特徴は、実施例及び/又はクレームに記載された特徴の構成とは別に、出願当初の開示ならびにクレームされた特定事項に対する限定として、個別に、かつ互いに独立して開示されることを意図するものである。さらに、全ての数値範囲及びグループ又は集団に関する記載は、出願当初の開示ならびにクレームされた特定事項に対する限定として、それらの中間の構成を開示する意図を持ってなされている。   All features described in this specification and / or claims, apart from the configuration of the features described in the examples and / or claims, are individually disclosed as limitations on the original disclosure and claimed specific matters. And are intended to be disclosed independently of each other. Further, all numerical ranges and group or group descriptions are intended to disclose intermediate configurations thereof as a limitation to the original disclosure and claimed subject matter.

以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示に過ぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成し得るものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。   Specific examples of the present invention have been described in detail above, but these are merely examples and do not limit the scope of the claims. The technology described in the claims includes various modifications and changes of the specific examples illustrated above. The technical elements described in this specification or the drawings exhibit technical usefulness alone or in various combinations, and are not limited to the combinations described in the claims at the time of filing. In addition, the technology exemplified in this specification or the drawings can achieve a plurality of objects at the same time, and has technical usefulness by achieving one of the objects.

Claims (5)

基板に対して作業を行うための作業装置に作業ヘッドとして取り付け可能な基板の表面状態を検査する検査ヘッドであって、
基板を撮影して画像データを取得するカメラと、
検査処理プログラムと検査基準データを記憶可能な記憶媒体と、
検査処理プログラムに従って、カメラから取得される画像データと検査基準データに基づいて検査処理を実行する第1の制御部と、を備えており、
前記作業装置は、該作業装置の基板に対する動作を制御する第2の制御部を有しており、
前記第1の制御部は、前記作業装置の外部のコンピュータ及び前記第2の制御部と通信可能であり、
前記第1の制御部は、前記作業装置の外部のコンピュータを介することなく前記第2の制御部と通信可能であり、
前記第1の制御部は、前記作業装置の外部のコンピュータに記憶されている前記作業装置の生産プログラムを読み出し、前記作業装置の生産プログラムに基づいた出力情報を、前記作業装置の外部のコンピュータを介することなく前記第2の制御部に出力することで、前記作業装置の動作を制御するように構成されている、検査ヘッド。
An inspection head for inspecting a surface state of a substrate that can be attached as a work head to a working device for performing work on the substrate,
A camera that captures image data by photographing the substrate;
A storage medium capable of storing an inspection processing program and inspection reference data;
A first control unit that executes inspection processing based on image data acquired from the camera and inspection reference data in accordance with the inspection processing program;
The working device has a second control unit for controlling the operation with respect to the substrate of this the working device,
The first control unit can communicate with a computer outside the work device and the second control unit,
The first control unit can communicate with the second control unit without going through a computer outside the work device,
The first control unit reads a production program for the work device stored in a computer outside the work device, and outputs output information based on the production program for the work device to a computer outside the work device. An inspection head configured to control the operation of the working device by outputting to the second control unit without intervention.
前記第1の制御部は、検査結果を示す検査結果データを前記作業装置の外部のコンピュータへ出力する請求項1の検査ヘッド。   The inspection head according to claim 1, wherein the first control unit outputs inspection result data indicating an inspection result to a computer outside the work apparatus. 基板に撮影用の光を照射する撮影用照明をさらに搭載した請求項1の検査ヘッド。   The inspection head according to claim 1, further comprising a photographing illumination for irradiating the substrate with photographing light. 請求項1から3の何れか一項の検査ヘッドが作業ヘッドとして取り付けられた作業装置。   A working apparatus to which the inspection head according to claim 1 is attached as a working head. 基板に電子部品を実装する実装ヘッドが作業ヘッドとして取り付けられた作業装置の下流側に、請求項4の作業装置が配置された電子部品実装ライン。
An electronic component mounting line in which the working device according to claim 4 is arranged downstream of a working device in which a mounting head for mounting an electronic component on a substrate is attached as a working head.
JP2014525605A 2012-07-18 2012-07-18 Inspection head, working device, and electronic component mounting line Active JP6023196B2 (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2012/068231 WO2014013572A1 (en) 2012-07-18 2012-07-18 Inspection head, work apparatus, and electronic-component mounting line

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2014013572A1 JPWO2014013572A1 (en) 2016-06-30
JP6023196B2 true JP6023196B2 (en) 2016-11-09

Family

ID=49948427

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014525605A Active JP6023196B2 (en) 2012-07-18 2012-07-18 Inspection head, working device, and electronic component mounting line

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP6023196B2 (en)
CN (1) CN104472031B (en)
WO (1) WO2014013572A1 (en)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018220788A1 (en) * 2017-06-01 2018-12-06 ヤマハ発動機株式会社 Inspection result notification method, inspection result notification apparatus, and component mounting system
WO2019180861A1 (en) * 2018-03-22 2019-09-26 株式会社Fuji Constitutive device quality determination server, inspection system, inspection system terminal device, and inspection device
JP7149456B2 (en) * 2018-05-30 2022-10-07 パナソニックIpマネジメント株式会社 Component mounter
EP3846604A4 (en) * 2018-08-28 2021-09-15 Fuji Corporation Control program checking device

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6375503A (en) * 1986-09-19 1988-04-05 Toshiba Corp Positioning device for parts with lead
WO2003015491A1 (en) * 2001-08-08 2003-02-20 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Apparatus and method for mounting electronic parts
JP4163452B2 (en) * 2002-05-31 2008-10-08 松下電器産業株式会社 Component mounting board production equipment
JP3903910B2 (en) * 2002-11-21 2007-04-11 松下電器産業株式会社 Image reading apparatus and image reading method
JP2006214820A (en) * 2005-02-02 2006-08-17 Yamaha Motor Co Ltd Device and method for inspecting substrate
JP4986760B2 (en) * 2007-08-01 2012-07-25 Juki株式会社 Surface mount equipment
JP4852516B2 (en) * 2007-11-22 2012-01-11 パナソニック株式会社 Substrate inspection method and substrate inspection apparatus
JP4998485B2 (en) * 2009-01-23 2012-08-15 パナソニック株式会社 Component mounting line and component mounting method
JP2011082243A (en) * 2009-10-05 2011-04-21 Panasonic Corp Component mounting device, and mounting-state inspection method in the same
JP5117479B2 (en) * 2009-12-03 2013-01-16 パナソニック株式会社 Component mounting system
JP5773474B2 (en) * 2010-05-20 2015-09-02 富士機械製造株式会社 Component mounting system
JP5787504B2 (en) * 2010-10-15 2015-09-30 富士機械製造株式会社 Component mounting system and component inspection method in component mounting system

Also Published As

Publication number Publication date
CN104472031A (en) 2015-03-25
CN104472031B (en) 2017-08-15
JPWO2014013572A1 (en) 2016-06-30
WO2014013572A1 (en) 2014-01-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10112269B2 (en) Screen printer, component mounting line, and screen printing method
JP4767995B2 (en) Component mounting method, component mounting machine, mounting condition determining method, mounting condition determining apparatus, and program
WO2015122272A1 (en) Quality control device, quality control method, and program
JP6023196B2 (en) Inspection head, working device, and electronic component mounting line
CN106104195B (en) Image processing apparatus and substrate production system
JP2011082376A (en) Part mounting system
CN110268814B (en) Production management device
JP2013018123A (en) Screen printing machine and screen printing method
JPWO2016117017A1 (en) Inspection support apparatus and inspection support method
JP5978399B2 (en) Pressure control device, surface mounter and pressure control method
JP7311608B2 (en) Board-to-board work system
JP5662875B2 (en) Screen printing device
JP5980944B2 (en) Production monitoring system and production monitoring method for component mounting line
CN104869797A (en) Component mounting line and component mounting method
JP2006287062A (en) Mounting substrate manufacturing apparatus
JPWO2014041624A1 (en) On-board work system, work procedure optimization program, work quantity determination program
JP6715714B2 (en) Inspection support apparatus and inspection support method
JP5316594B2 (en) Component mounting system and component mounting method
JP6064168B2 (en) Mark imaging method and component mounting line
JP5384085B2 (en) Component mounting method and component mounting system
JP6804653B2 (en) Parts allocation device
WO2012165277A1 (en) Substrate-processing assistance device
JP2014029961A (en) Component mounting system
JP6334544B2 (en) Mounting line
JP7061667B2 (en) Image data storage device and image data storage method

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160802

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160810

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160927

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20161006

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6023196

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250