JP5081436B2 - 質量分析装置及び質量分析方法 - Google Patents
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Description
非特許文献1の場合においてイオントラップ動作時にはイオンはFringing Fieldを用いて軸方向に排出される。Fringing Fieldは四重極ロッド電極の終端付近にのみ存在するので四重極ロッド電極の終端付近のイオンしか排出されない。そのためトラップの長さが長くなると排出効率が低下する。一方で四重極質量フィルター動作時には高分解能を得るために長いロッドが必要でありその両立が不可能であった。
そして、質量選択的に通過させる動作の場合には、第2の電極と多重極ロッド電極との間の電位差を無くすように制御する。また、多重極ロッド電極への電圧の高さを変化させることにより、検出部にて質量スペクトルを取得することができる。
図1は、本方式の質量分析装置の構成図である。図1(A)は装置全体図、図1(B)は径方向装置断面図、図1(C)はリニアトラップ部の軸方向断面図である。また、図中1A,1B,1C,1Dは、矢印方向から見た場合の断面図であることを示す。エレクトロスプレーイオン源、大気圧化学イオン源、大気圧光イオン源、大気圧マトリックス支援レーザー脱離イオン源、マトリックス支援レーザー脱離イオン源などのイオン源1で生成されたイオンは細孔2を通過して差動排気部5に導入される。差動排気部はポンプ20で排気される。差動排気からイオンは細孔3を通過して分析部6へと導入される。分析部はポンプ21で排気され、10-4Torr以下(1.3×10-2Pa以下)に維持される。細孔17を通過したイオンは質量分析部7へと導入される。質量分析部は、リニアトラップ部を構成する電極の電圧を制御する制御部19を有する。質量分析部から排出されたイオンは出口側端電極12等により加速され、細孔18を通過し、検出器8により検出される。検出器としては、電子増倍管やシンチレーターと光電子増倍管との組み合わせたタイプのものなどが一般に用いられる。
トラップRF電圧振幅VRFと質量数m/zとの間には〔数1〕の関係がある。
このときr0は、ロッド電極10と四重極中心との距離である。また、qejは、トラップRF電圧の角周波数Ωと補助交流電圧周波数ωの比から一義的に算出できる数値であり、この関係を図3に表示する。以上のようにVRFとm/zを関連付けることにより、質量スペクトルを得ることができる。1次の共鳴のみを考慮すれば、補助交流周波数の周波数が高いほど低質量、低いほど高質量のイオンに対応する。質量スキャン時間の長さは10msから200ms程度であり、検出したい質量範囲にほぼ比例する。最後に、排除時間ではすべての電圧を0にして、トラップ外へとすべてのイオンを排出する。また、上記3つのシーケンスを繰り返し行うことにより、S/Nの良い質量スペクトルを積算することもある。排除時間の長さは1ms程度である。なお、上述した3つのシーケンス以外にも各シーケンス間に数ms程度のイオンクーリング時間を設置して良い。イオンクーリング時間では次のシーケンスの開始条件と同じ値に設定しておくことによりイオンの初期状態を安定化することができる。
一般的に四重極質量フィルターの質量分解能は四重極ロッド10の長さが長いほど高くなる。本方式では四重極ロッドの一部にイオンをトラップするためリニアトラップ動作時の排出効率は四重極ロッドの長さに依存しない。そのため四重極ロッドの長さを十分長くとることが出来、四重極質量フィルター動作時の質量分解能が従来方式より大幅に向上する。
(実施例2)
図7は、本方式質量分析装置の構成図である。また、図7Aに断面図を記載した。質量分析部に到るまでの装置構成および質量分析部以降の装置構成については、実施例1と同様であり、省略する。
はじめにリニアトラップとして動作させる場合について説明する。リニアトラップとして動作させる場合、質量分析部7はバッファーガスが導入され、10-4Torr〜10-2Torr(1.3×10-2Pa〜1.3Pa)に維持されている。トラップ電極14は薄板状の電極を用いても良いし、ワイヤ状電極を使用しても良い。ワイヤ状の電極を用いた方がイオン透過率のロスが小さくなるが電極の形状の加工性は低くなる。
(実施例3)
図9は、本方式質量分析装置の構成図である。また、図9Aに断面図を記載した。質量分析部に到るまでの装置構成および質量分析部以降の装置構成については、実施例1と同様であり、省略する。
(実施例4)
図10(a)は、本方式を実施した質量分析装置の構成図である。また、図10(b)に断面図を記載した。また図10(c)に羽根電極50への電圧印加の様子を示した。質量分析部に到るまでの装置構成および質量分析部以降の装置構成については、実施例1と同様であり、省略する。
トラップ時間には、四重極ロッド電極10にトラップRF電圧(振幅 100V〜5000V、周波数500kHz-2MHz)を印加する。また羽根電極50に10-100Vの直流電圧を印加する。他の電極への印加電圧の一例として入口側端電極11を5-20V、出口側端端電極12を10-100Vに設定する。四重極電界の径方向にはトラップRF電圧により擬ポテンシャルが、四重極電界の中心軸方向には羽根電極50と四重極ロッド電極10間のDCバイアスによって調和擬ポテンシャルが形成される。このため実施例4では導入されたイオンは羽根電極50、四重極ロッド電極10に囲まれた領域100にトラップされる。
(実施例5)
図12は、本方式を実施した質量分析装置の構成図である。また、図12Aに断面図を記載した。質量分析部に到るまでの装置構成および質量分析部以降の装置構成については、実施例1と同様であり、省略する。
トラップ時間には、四重極ロッド電極10にトラップRF電圧(振幅 100V〜5000V、周波数500kHz-2MHz)を印加する。他の電極への印加電圧の一例としてトラップ電極14を5-20V、出口側端電極12を10-50Vに設定する。四重極電界の径方向にはトラップRF電圧により擬ポテンシャルが、四重極電界の中心軸方向にはトラップ電極14と出口側端電極12の間にDCポテンシャルが形成される。このため実施例5では導入されたイオンはトラップ電極14、四重極ロッド電極10出口側端電極12に囲まれた領域100にトラップされる。
(実施例6)
図14は、本方式を実施した質量分析装置の構成図である。イオン源から質量分析部7に到るまでの過程および質量分析部7から質量選択的にイオンを排出する過程においては実施例1と同様であり省略する。
Claims (18)
- イオン化されたイオンが導入される入口側電極、出口側電極、多重極ロッド電極を備えたイオントラップと、
前記多重極ロッド電極の一端と他端との間に設けられ、前記導入されたイオンを制御する第2の電極と、
前記電極にかける電圧を制御する制御部と、
前記イオントラップから排出されたイオンを検出する検出器又は質量分析計とを備え、
前記制御部は、前記第2の電極の電圧を制御することにより、導入されたイオンを前記多重極ロッド電極の一部にトラップして、前記トラップされたイオンのうちある質量範囲のイオンのみを前記検出器又は前記質量分析計の方向に質量選択的に排出し、前記イオンのうち排出されなかった質量のイオンはトラップされた状態に保持する動作と、質量フィルタ動作とを切替えることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1に記載の質量分析装置において、前記制御部は、前記第2の電極の電圧制御により、導入されたイオンを、前記多重極ロッド電極の一方の端と前記第2の電極との間にトラップすることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記制御部は、前記第2の電極と前記出口側電極の電圧制御により、導入されたイオンを、前記出口側電極と前記第2の電極との間にトラップすることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記制御部は、前記第2の電極と前記多重極ロッド電極との間の電位差をなくすように制御して、導入されたイオンを質量選択的に通過させることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記制御部は、前記多重極ロッド電極への電圧の高さを変化させることにより、前記検出部にて質量スペクトルを取得することを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記第2の電極は、前記多重極ロッドの隣合うロッド間に径方向に向けて設けられ、薄板状又はワイヤ状であることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記多重極ロッド電極の一端と前記第2の電極の間又は前記多重極ロッド電極の他端と前記第2の電極の間の少なくともいずれか一方に位置し、前記多重極ロッド電極の隣り合うロッド間に設けられた羽電極を有し、前記制御部は、前記羽電極へ補助交流電圧を印加することを特徴とする質量分析装置。
- 請求項7に記載の質量分析装置において、前記制御部は、前記羽電極への電圧制御により、導入されたイオンを、前記羽電極と前記多重極ロッド電極に囲まれた部分にトラップすることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記イオントラップと前記質量分析計との間に、前記イオントラップから排出されたイオンを解離させる解離部を有することを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記制御部は、前記イオントラップに導入するガスを制御するものであって、導入されたイオンを前記多重極ロッド電極の一部にトラップする動作の場合にはガス導入を行い、質量選択的に通過させる動作の場合にはガス導入を行わないよう制御することを特徴とする質量分析装置。
- イオン源で生成されたイオンを導入し、導入された前記イオンを高周波電圧を印加した多重極ロッド電極を有するイオントラップ中で、前記多重極ロッド電極の一端と他端との間に設けられた第2の電極を用いて制御する質量分析方法であって、
1)導入されたイオンを、前記多重極ロッド電極の一部にトラップして振動させ、振動した前記イオンを、前記第2の電極の電圧制御により、前記トラップされたイオンのうちある質量範囲のイオンのみを前記検出器又は前記質量分析計の方向に質量選択的に排出し、前記イオンのうち排出されなかった質量のイオンはトラップされた状態に保持する工程と、
2)導入されたイオンを、質量ごとにフィルタリングする工程とを切り替え制御する工程と、
前記排出又はフィルタリングされたイオンを分析部において分析する工程と
を有することを特徴とする質量分析方法。 - 請求項11に記載の質量分析方法において、前記1)の工程において、前記多重極ロッド電極の間に挿入された羽電極へ交流電圧を印加し、前記イオントラップに導入されたイオンの一部を振動させることを特徴とする質量分析方法。
- 請求項11に記載の質量分析方法において、前記1)の工程において、前記多重極ロッド電極へ交流電圧を印加することにより、前記イオントラップに導入されたイオンの一部を振動させることを特徴とする質量分析方法。
- 請求項11に記載の質量分析方法において、前記2)の工程において、前記多重極ロッド電極と前記第2の電極との電位差をなくすように制御して、導入されたイオンを質量選択的に通過させることを特徴とする質量分析方法。
- 請求項11に記載の質量分析方法において、前記2)の工程において、前記多重極ロッド電極の電圧の高さを変化させ、質量スペクトルを取得することを特徴とする質量分析方法。
- 請求項11に記載の質量分析方法において、前記分析する工程は、排出又はフィルタリングされたイオンを解離する工程と、解離したイオンを質量分離して検出する工程とを有することを特徴とする質量分析方法。
- 請求項11に記載の質量分析方法において、前記工程1)の場合には前記イオントラップへバッファーガスを導入し、前記工程2)の場合には前記イオントラップへバッファーガスを導入しないことを特徴とする質量分析方法。
- イオン源で生成されたイオンを導入し、導入された前記イオンを高周波電圧を印加した多重極ロッド電極を有するイオントラップ中で前記多重極ロッド電極の一端と他端との間に設けられた第2の電極を用いて制御するイオントラップの操作方法であって、
1)導入されたイオンを、前記多重極ロッド電極の一部にトラップして振動させ、振動した前記イオンを、前記第2の電極の電圧制御により、前記トラップされたイオンのうちある質量範囲のイオンのみを前記検出器又は前記質量分析計の方向に質量選択的に排出し、前記イオンのうち排出されなかった質量のイオンはトラップされた状態に保持する工程と、
2)導入されたイオンに対し、前記第2の電極と前記多重極ロッド電極との間の電位差を無くすように制御して、質量ごとにフィルタリングする工程との切替えを操作することを特徴とするイオントラップの操作方法。
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