JP4494390B2 - チップ及びシステム - Google Patents
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 13
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 8
- 230000006870 function Effects 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
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Description
スリープモードの間に、ロジックブロック104内の全てのゲートの入力をセット又はリセットすることは不可能であり得る。しかし、少なくとも一部はセット/リセットされ、全体の漏れを低減し得る。いくつかの実施例では、例えば設計段階の間、接続形態及び/又は回路形式は、例えばドモルガンの定理を用いNANDゲートをNORゲートに又は逆に置き換え、変更され得る。従って、スリープモードでは、可能な入力組合せが与えられると、更に低い漏れが達成され得る。リセット/セットラッチ回路102は、全て、ロジックブロック104の「前」に示される。しかしながら、いくつかの実施例では、リセット及びセット回路はまた(又は別に)、ロジックブロック104内に配置され、場合により良好な漏れの低減を達成するため、より多くのゲート入力を適切にセット又はリセットさせて良い。
102 リセット/セットロジック
104 ロジック
702 マイクロプロセッサー
704 電源
706 無線インターフェース
708 メモリー
Claims (10)
- チップであって、
ゲート入力を備えた複数のゲートを有する論理回路、及び
前記論理回路のゲート入力と結合されたラッチ出力、ラッチ入力、該ラッチ入力と結合されたラッチデータ端子、及び該ラッチデータ端子の値を格納するリストア回路を有し、動作モードの場合に該ラッチデータ端子の値を該ラッチ出力に供給し、スリープモード中に前記ラッチデータ端子の値にかかわらず所定の値を該ラッチ出力に出力する1又は複数のラッチ回路、
を有するチップ。 - 前記ラッチ回路は、
前記ラッチ入力と前記ラッチデータ端子との間に結合されたパスゲート、
前記ラッチデータ端子と前記リストア回路との間に結合され、クロックにより制御されるトライステートインバーター、
を更に有し、
前記リストア回路は、
前記ラッチデータ端子に結合された第1の入力、スリープモードイネーブル端子と結合された第2の入力及びラッチ出力端子と結合された出力を有するNAND又はNORゲート、
を有する、
ことを特徴とする請求項1記載のチップ。 - 前記トライステートインバーターは、前記ラッチデータ端子と結合され、スリープモードに入った場合にディスエーブルされる、請求項2記載のチップ。
- 前記ラッチ回路は、スリープモードでない場合に、前記トライステートインバーターに電源を供給し、スリープモード中に前記電源を供給しないよう制御する第1のトランジスターを更に有する、請求項3記載のチップ。
- 前記リストア回路は、インバーターを有する、請求項4記載のチップ。
- 前記リストア回路は、NORゲートの対を有する、請求項4記載のチップ。
- 前記ラッチ回路は、低位電力基準及び前記ラッチデータ端子の間に結合され、スリープモードに入った場合に前記ラッチデータ端子を低位状態に引き下げる第2のトランジスターを更に有するセットラッチ回路である、請求項6記載のチップ。
- 前記リストア回路は、NANDゲートの対を有する、請求項4記載のチップ。
- 前記ラッチ回路は、高位電力基準及び前記ラッチデータ端子の間に結合され、スリープモードに入った場合に前記ラッチデータ端子を高位状態に引き上げる第3のトランジスターを更に有するリセットラッチ回路である、請求項8記載のチップ。
- システムであって、
(a)(i)ゲート入力を備えた複数のゲートを有する論理回路、及び
(ii)該論理回路のゲート入力と結合されたラッチ出力、ラッチ入力、該ラッチ入力と結合されたラッチデータ端子、及び該ラッチデータ端子の値を格納するリストア回路を有し、動作モードの場合に該ラッチデータ端子の値をラッチ出力に供給し、スリープモード中に前記ラッチデータ端子の値にかかわらず所定の値を該ラッチ出力に出力する1又は複数のラッチ回路、
を有するマイクロプロセッサー、
(b)アンテナ、並びに
(c)前記マイクロプロセッサー及び前記アンテナと結合され、前記マイクロプロセッサーを無線ネットワークと通信接続する無線インターフェース、
を有するシステム。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/270,912 US8421502B2 (en) | 2005-11-10 | 2005-11-10 | Power reducing logic and non-destructive latch circuits and applications |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007172587A JP2007172587A (ja) | 2007-07-05 |
JP4494390B2 true JP4494390B2 (ja) | 2010-06-30 |
Family
ID=38003132
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006303994A Active JP4494390B2 (ja) | 2005-11-10 | 2006-11-09 | チップ及びシステム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US8421502B2 (ja) |
JP (1) | JP4494390B2 (ja) |
CN (2) | CN101030766B (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7996695B2 (en) * | 2008-02-15 | 2011-08-09 | Qualcomm Incorporated | Circuits and methods for sleep state leakage current reduction |
US8234554B2 (en) * | 2008-07-10 | 2012-07-31 | International Business Machines Corporation | Soft error correction in sleeping processors |
KR101025734B1 (ko) * | 2009-07-02 | 2011-04-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 집적장치의 커맨드 제어회로 |
US8307226B1 (en) * | 2011-12-20 | 2012-11-06 | Intel Corporation | Method, apparatus, and system for reducing leakage power consumption |
KR101934433B1 (ko) * | 2012-05-31 | 2019-01-02 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 블럭 보호가 가능한 반도체 장치 |
US10338558B2 (en) * | 2014-10-17 | 2019-07-02 | 21, Inc. | Sequential logic circuitry with reduced dynamic power consumption |
CN104635589B (zh) * | 2015-02-03 | 2017-08-29 | 成都秦川物联网科技股份有限公司 | 一种不同电源主体间的低功耗通信系统及其方法 |
US10491217B2 (en) * | 2018-08-09 | 2019-11-26 | Intel Corporation | Low-power clock gate circuit |
TWI674754B (zh) | 2018-12-28 | 2019-10-11 | 新唐科技股份有限公司 | 資料保持電路 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4749991A (en) * | 1986-07-05 | 1988-06-07 | Motorola, Inc. | Turn off protection circuit |
JP2799278B2 (ja) * | 1992-12-25 | 1998-09-17 | 三菱電機株式会社 | 2線式入出力装置 |
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EP0713292A3 (en) * | 1994-11-21 | 1997-10-01 | Motorola Inc | Feedback interlock circuit and its operating method |
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JP3587299B2 (ja) * | 2000-07-12 | 2004-11-10 | 沖電気工業株式会社 | 半導体集積回路 |
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JP2005086215A (ja) | 2003-09-04 | 2005-03-31 | Sony Corp | 半導体集積回路、回路設計装置および方法、記録媒体、並びにプログラム |
US6965261B2 (en) | 2003-11-13 | 2005-11-15 | Texas Instruments Incorporated | Ultra low-power data retention latch |
KR100539254B1 (ko) * | 2004-03-13 | 2005-12-27 | 삼성전자주식회사 | 테스트용 스캔 체인을 이용한 반도체 장치의 슬립모드에서의 데이터 보존 회로 및 그 보존 방법 |
EP1745344A1 (en) * | 2004-05-05 | 2007-01-24 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | A mobile apparatus comprising integrated circuit and method of powering down such circuit |
US20070024322A1 (en) * | 2005-08-01 | 2007-02-01 | Yibin Ye | Leakage current reduction scheme for domino circuits |
-
2005
- 2005-11-10 US US11/270,912 patent/US8421502B2/en active Active
-
2006
- 2006-11-09 CN CN2006100641152A patent/CN101030766B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2006-11-09 JP JP2006303994A patent/JP4494390B2/ja active Active
- 2006-11-09 CN CN201110391763.XA patent/CN102497192B/zh not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-07-30 US US12/847,248 patent/US8305112B2/en active Active
-
2012
- 2012-05-09 US US13/467,171 patent/US9490807B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101030766A (zh) | 2007-09-05 |
US20120223741A1 (en) | 2012-09-06 |
JP2007172587A (ja) | 2007-07-05 |
CN102497192A (zh) | 2012-06-13 |
US20070103201A1 (en) | 2007-05-10 |
US9490807B2 (en) | 2016-11-08 |
US8305112B2 (en) | 2012-11-06 |
US8421502B2 (en) | 2013-04-16 |
CN101030766B (zh) | 2012-01-11 |
US20100289528A1 (en) | 2010-11-18 |
CN102497192B (zh) | 2015-01-07 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090612 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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|
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|
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130416 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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