JP4165511B2 - 情報記録装置 - Google Patents
情報記録装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4165511B2 JP4165511B2 JP2005002007A JP2005002007A JP4165511B2 JP 4165511 B2 JP4165511 B2 JP 4165511B2 JP 2005002007 A JP2005002007 A JP 2005002007A JP 2005002007 A JP2005002007 A JP 2005002007A JP 4165511 B2 JP4165511 B2 JP 4165511B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recording
- layer
- information recording
- electrode
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 104
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 63
- 238000004040 coloring Methods 0.000 claims description 15
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 13
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 11
- 230000009471 action Effects 0.000 claims description 7
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 304
- 239000010408 film Substances 0.000 description 75
- 230000008859 change Effects 0.000 description 40
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 29
- 238000000034 method Methods 0.000 description 27
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 26
- YTPLMLYBLZKORZ-UHFFFAOYSA-N Thiophene Chemical compound C=1C=CSC=1 YTPLMLYBLZKORZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 20
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 19
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 14
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 13
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 13
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 12
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 12
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 11
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 11
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 11
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 10
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 10
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 10
- 229930192474 thiophene Natural products 0.000 description 10
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 9
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 9
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 9
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 8
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 8
- 229920000123 polythiophene Polymers 0.000 description 8
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 7
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 7
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 6
- QDOXWKRWXJOMAK-UHFFFAOYSA-N dichromium trioxide Chemical compound O=[Cr]O[Cr]=O QDOXWKRWXJOMAK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 6
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 6
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 6
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 5
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 5
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 5
- 239000007784 solid electrolyte Substances 0.000 description 5
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 5
- 229910001316 Ag alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 4
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 4
- YBMRDBCBODYGJE-UHFFFAOYSA-N germanium dioxide Chemical compound O=[Ge]=O YBMRDBCBODYGJE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 4
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 4
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 238000001953 recrystallisation Methods 0.000 description 4
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 4
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- JFDZBHWFFUWGJE-UHFFFAOYSA-N benzonitrile Chemical compound N#CC1=CC=CC=C1 JFDZBHWFFUWGJE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 3
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 3
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 3
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 3
- JKQOBWVOAYFWKG-UHFFFAOYSA-N molybdenum trioxide Chemical compound O=[Mo](=O)=O JKQOBWVOAYFWKG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 3
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 3
- PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N tantalum pentoxide Inorganic materials O=[Ta](=O)O[Ta](=O)=O PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- IMSODMZESSGVBE-UHFFFAOYSA-N 2-Oxazoline Chemical compound C1CN=CO1 IMSODMZESSGVBE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QENGPZGAWFQWCZ-UHFFFAOYSA-N 3-Methylthiophene Chemical compound CC=1C=CSC=1 QENGPZGAWFQWCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 2
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 2
- 229910001020 Au alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000618 GeSbTe Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920001609 Poly(3,4-ethylenedioxythiophene) Polymers 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- -1 SiO2 Chemical class 0.000 description 2
- 229910011208 Ti—N Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000003848 UV Light-Curing Methods 0.000 description 2
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 2
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 2
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 2
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 2
- GNTDGMZSJNCJKK-UHFFFAOYSA-N divanadium pentaoxide Chemical compound O=[V](=O)O[V](=O)=O GNTDGMZSJNCJKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- VRIVJOXICYMTAG-IYEMJOQQSA-L iron(ii) gluconate Chemical compound [Fe+2].OC[C@@H](O)[C@@H](O)[C@H](O)[C@@H](O)C([O-])=O.OC[C@@H](O)[C@@H](O)[C@H](O)[C@@H](O)C([O-])=O VRIVJOXICYMTAG-IYEMJOQQSA-L 0.000 description 2
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 2
- MCVFFRWZNYZUIJ-UHFFFAOYSA-M lithium;trifluoromethanesulfonate Chemical compound [Li+].[O-]S(=O)(=O)C(F)(F)F MCVFFRWZNYZUIJ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 2
- ZKATWMILCYLAPD-UHFFFAOYSA-N niobium pentoxide Chemical compound O=[Nb](=O)O[Nb](=O)=O ZKATWMILCYLAPD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 2
- 239000012782 phase change material Substances 0.000 description 2
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 2
- 229920001197 polyacetylene Polymers 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 2
- 239000013589 supplement Substances 0.000 description 2
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001845 yogo sapphire Inorganic materials 0.000 description 2
- BCMCBBGGLRIHSE-UHFFFAOYSA-N 1,3-benzoxazole Chemical compound C1=CC=C2OC=NC2=C1 BCMCBBGGLRIHSE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XJGZGUSMZSXHJI-UHFFFAOYSA-N 1-heptyl-4-(1-heptylpyridin-1-ium-4-yl)pyridin-1-ium Chemical compound C1=C[N+](CCCCCCC)=CC=C1C1=CC=[N+](CCCCCCC)C=C1 XJGZGUSMZSXHJI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HPGNGICCHXRMIP-UHFFFAOYSA-N 2,3-dihydrothieno[3,4-b][1,4]dithiine Chemical compound S1CCSC2=CSC=C21 HPGNGICCHXRMIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UOCMXZLNHQBBOS-UHFFFAOYSA-N 2-(1,3-benzoxazol-2-yl)phenol zinc Chemical compound [Zn].Oc1ccccc1-c1nc2ccccc2o1.Oc1ccccc1-c1nc2ccccc2o1 UOCMXZLNHQBBOS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DIVZFUBWFAOMCW-UHFFFAOYSA-N 4-n-(3-methylphenyl)-1-n,1-n-bis[4-(n-(3-methylphenyl)anilino)phenyl]-4-n-phenylbenzene-1,4-diamine Chemical compound CC1=CC=CC(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)=C1 DIVZFUBWFAOMCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- NLZUEZXRPGMBCV-UHFFFAOYSA-N Butylhydroxytoluene Chemical compound CC1=CC(C(C)(C)C)=C(O)C(C(C)(C)C)=C1 NLZUEZXRPGMBCV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SOVWEMYVHOLFAD-UHFFFAOYSA-J C(C(=O)[O-])(=O)[O-].[W+4].C(C(=O)[O-])(=O)[O-] Chemical compound C(C(=O)[O-])(=O)[O-].[W+4].C(C(=O)[O-])(=O)[O-] SOVWEMYVHOLFAD-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 description 1
- 241000284156 Clerodendrum quadriloculare Species 0.000 description 1
- 229910018916 CoOOH Inorganic materials 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical group [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910016978 MnOx Inorganic materials 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002640 NiOOH Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910005855 NiOx Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910018487 Ni—Cr Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001252 Pd alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002668 Pd-Cu Inorganic materials 0.000 description 1
- 240000004050 Pentaglottis sempervirens Species 0.000 description 1
- 235000004522 Pentaglottis sempervirens Nutrition 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 229910001260 Pt alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910019603 Rh2O3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910007991 Si-N Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000006087 Silane Coupling Agent Substances 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910006294 Si—N Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910006360 Si—O—N Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910006398 SnNx Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L Sulfate Chemical compound [O-]S([O-])(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 1
- 238000005280 amorphization Methods 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- GHPGOEFPKIHBNM-UHFFFAOYSA-N antimony(3+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Sb+3].[Sb+3] GHPGOEFPKIHBNM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 1
- UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);selenium(2-) Chemical compound [Se-2].[Cd+2] UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 1
- 150000004770 chalcogenides Chemical class 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 125000004093 cyano group Chemical group *C#N 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 150000001988 diarylethenes Chemical class 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 1
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 230000005283 ground state Effects 0.000 description 1
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 230000005661 hydrophobic surface Effects 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N iron Substances [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PANJMBIFGCKWBY-UHFFFAOYSA-N iron tricyanide Chemical compound N#C[Fe](C#N)C#N PANJMBIFGCKWBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DCYOBGZUOMKFPA-UHFFFAOYSA-N iron(2+);iron(3+);octadecacyanide Chemical compound [Fe+2].[Fe+2].[Fe+2].[Fe+3].[Fe+3].[Fe+3].[Fe+3].N#[C-].N#[C-].N#[C-].N#[C-].N#[C-].N#[C-].N#[C-].N#[C-].N#[C-].N#[C-].N#[C-].N#[C-].N#[C-].N#[C-].N#[C-].N#[C-].N#[C-].N#[C-] DCYOBGZUOMKFPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 229910001416 lithium ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001496 lithium tetrafluoroborate Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000008204 material by function Substances 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 229910052752 metalloid Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N nonaoxidotritungsten Chemical compound O=[W]1(=O)O[W](=O)(=O)O[W](=O)(=O)O1 QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000006911 nucleation Effects 0.000 description 1
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 description 1
- 239000012788 optical film Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- IEQIEDJGQAUEQZ-UHFFFAOYSA-N phthalocyanine Chemical compound N1C(N=C2C3=CC=CC=C3C(N=C3C4=CC=CC=C4C(=N4)N3)=N2)=C(C=CC=C2)C2=C1N=C1C2=CC=CC=C2C4=N1 IEQIEDJGQAUEQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000058 polyacrylate Polymers 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 1
- 238000001955 polymer synthesis method Methods 0.000 description 1
- 229940116357 potassium thiocyanate Drugs 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 229960003351 prussian blue Drugs 0.000 description 1
- 239000013225 prussian blue Substances 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000027756 respiratory electron transport chain Effects 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000010944 silver (metal) Substances 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 150000003384 small molecules Chemical class 0.000 description 1
- 125000005504 styryl group Chemical group 0.000 description 1
- BDHFUVZGWQCTTF-UHFFFAOYSA-M sulfonate Chemical compound [O-]S(=O)=O BDHFUVZGWQCTTF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 1
- 239000003115 supporting electrolyte Substances 0.000 description 1
- 239000012756 surface treatment agent Substances 0.000 description 1
- PCCVSPMFGIFTHU-UHFFFAOYSA-N tetracyanoquinodimethane Chemical compound N#CC(C#N)=C1C=CC(=C(C#N)C#N)C=C1 PCCVSPMFGIFTHU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 125000003396 thiol group Chemical group [H]S* 0.000 description 1
- 150000003577 thiophenes Chemical class 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 238000000844 transformation Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- ITMCEJHCFYSIIV-UHFFFAOYSA-M triflate Chemical compound [O-]S(=O)(=O)C(F)(F)F ITMCEJHCFYSIIV-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 229910001930 tungsten oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Holding Or Fastening Of Disk On Rotational Shaft (AREA)
Description
例えば、特開2001―344807号に記載されている通り、これら相変化光ディスクの場合の基本構成は基板上に保護層、GeSbTe系等の記録膜、保護層、反射層という構成からなる。
本発明の構成は、具体的には、以下のとおりである。
(1)基板上に、第1の電極、エレクトロクロミック材料、第2の電極が設けられ、第1の領域ではエレクトロクロミック材料層が発色し、第2の領域ではエレクトロクロミック材料層が発色しない構成とする。ここで、第1の領域はランド部、第2の領域はグルーブ部に相当し、第1または第2の領域だけに光吸収することから、記録されやすい範囲が特定される。従って、光スポットの位置や集光度が多少変わっても同じように記録され、AF,トラッキングのズレに寛容で、高速記録が可能となる。さらに、高密度記録を達成できる。
従来の媒体では、実効的記録密度(実効的面密度)を高めるには多層化が望ましいが、3層以上では各層の透過率と記録感度とがトレードオフの関係にあり、再生信号品質か記録感度か、どちらかが犠牲にならざるを得なかった。透明有機材料に厚さ方向も含めて3次元記録するものも知られているが、2光子吸収を利用するものでは記録感度が非常に悪く、光重合を利用するものでは保存安定性と記録感度が悪い。
また、従来より大幅に多層化可能であり、実効的記録密度を上げ、記録媒体1枚あたりの記録容量を大幅に大容量化できる。
(構成、製法)
図4と図5は、この発明の第1実施例のディスク状情報記録媒体の構造を示す図である。図4はディスクの1/4の構造図を示し、図5は、さらにその1部分の拡大図を示す。図4の上部の放射状透明電極は、同じ形状のものがディスク面を埋め尽くすように多数有るが、そのうち2本だけを描いている。記録・再生光は上方から基板を通して入射するが、図では最上部の基板は省略している。図5にはディスクの一部の拡大図を示す。図5でも、わかりやすくするために最上部の基板と絶縁物層を省略して描いている。図5中、符号45は反射型電極、符号43は記録層、符号44は絶縁層、符号42は光導電体層、符号41は透明電極である。なお、符号46と50は光スポット、47はグルーブ部、48はランド部である。通常は光スポットから見て凸の、グルーブと呼ばれる部分に記録・再生する場合が多いが、本実施例ではランド部に記録する場合を示す。図5の手前に見えている切り口は、図4のA−A’ 断面の1部であり、図5の上部の電極の切れ目は、図4の放射状電極の間の隙間に対応している。A−A’ 断面の全体は、既に示した図3のようになっている。
ただし、分離した方が電極間容量が小さくなるので、電圧の立上り、立下りが早くなって好ましい。発色、消色に要する時間と電流が実用的な範囲であるために電極間容量は0.1F以下が特に望ましいが、素子の特性が良好であるためには、0.01F以上となる構造とするのが良い。透明電極は複数の扇形電極に分離せず、金属電極の方を分離してもよい。また、上下の両電極を分離してもよい。
この場合、上下の電極の切れ目の位置は一致していても良いが、一致していなくてもよい。
前記のようにして製作したディスクの相変化記録層には次のようにして初期結晶化を行った。ディスクを回転させ、スポット形状が媒体の半径方向に長い長円形の半導体レーザ(波長約810nm)のレーザ光パワーを800mWにして基板28を通して記録層24に照射した。スポットの移動は、媒体の半径方向のスポット長の1/4ずつずらした。こうして、初期結晶化を行った。この初期結晶化は1回でもよいが2回繰り返すと初期結晶化によるノイズ上昇を少し低減できた。
上記記録媒体に対して、情報の記録再生を行った。以下に、図9を用いて、本情報記録再生の動作を説明する。まず、記録再生を行う際のモーター制御方法としては、記録再生を行うゾーン毎にディスクの回転数を変化させるZCAV(Zoned Constant Linear Ve1ocity)方式を採用したものについて述べる。
また、本記録装置はグルーブとランドのうちランドに情報を記録する方式(いわゆるイングルーブ記録方式の変則版)に対応している。
以上の条件でマークエッジ記録を行った場合、最短マークである3Tマークのマーク長は約0.20μm、最長マークである14Tマークのマーク長は約1.96μmとなる。記録信号には、情報信号の始端部、終端部に4Tマークと4Tスペースの繰り返しのダミーデータが含まれている。始端部にはVFOも含まれている。
DVD−RAMおよびDVD−RWには高密度記録が実現できるマークエッジ記録方式が採用されている。マークエッジ記録とは、記録膜に形成する記録マークの両端の位置をディジタルデータの1に対応させるもので、これにより、最短記録マークの長さを基準クロック1個でなく2〜3個分に対応させて高密度化することもできる。DVD−RAMでは8−16変調方式を採用しており、基準クロック3個分に対応させている。マークエッジ記録方式は、円形記録マークの中心位置をディジタルデータの1に対応させるマークポジション記録に比べると、記録マークを極端に小さくしなくても高密度記録できるという長所がある。ただし、記録マークの形状歪みが小さいことが記録媒体に要求される。
相変化記録媒体では、記録波形を変えない場合、良好な記録再生特性を得るのに結晶化速度に対応した最適線速度で記録するのが望ましい。しかし、ディスク上の半径の異なる記録トラック間をアクセスする時、線速度を同じにするために回転数を変えるのには時間がかかる。そこでDVD−RAMでは、アクセス速度が小さくならないようにディスクの半径方向を24のゾーンに分け、ゾーン内では一定回転数とし、別のゾーンにアクセスしなければならない時だけ回転数を変えるZCLV(Zoned Constant Linear Velocity)方式を採用している。この方式では、ゾーン内の1番内周のトラックと一番外周のトラックで線速度が少し異なるので記録密度も少し異なるが、ディスク全域にわたってほぼ最大の密度で記録することができる。
(トラッキング余裕)
本実施例では、ランド部では上部電極と記録膜が直接接しており、グルーブ部では間に絶縁層であるSiO2層が入っているので、ランド部とグルーブ部の電極間距離の比は60:180、すなわち1:3である。通常はディスクの内径、外径の偏心によりトラッキングオフセットが発生し、回転数を上げるほどオフセットが大きくなるが、本発明の場合、ランド領域だけで電極・記録膜が接するか、発色が起き、発熱が大きくなる構造であるから、記録のオフセットは縮小された。電極との間に界面層を設ける場合は、例えば界面層の厚さを5nmとすると、ランド部とグルーブ部の電極間距離の比は、65:145である。距離の比と、トラッキングオフセットが通常の上限値を越えてトラックピッチの1/10のとき、隣接トラックの既記録領域が部分的に消去されて信号レベルが低下してしまうクロスイレーズとの関係は、図10に示したように以下の通りである。
電極間距離の比 信号レベル低下量
1:3 −0.1dB
1:1.5 −0.5dB
1:1.4 −1dB
1:1.3 −2dB
1:1.1 −3dB
1:1.05 −4dB
上記から、距離の比は1:1.1以上であるのが好ましく、1:1.4以上であればさらに好ましい。また、電圧印加を行わず高パワーの光照射だけで記録する場合も同様な効果が有った。
記録層材料としては、Ge2Sb2Te5,Ge4Sb2Te7、Ge5Sb70Te25などの組成のGe−Sb−Te系材料や、Ag4In6Sb65Te25などの組成のAg−In−Sb−Te系材料など、光ディスクで知られている各種材料が、要求される記録速度や他の特性に応じて使用可能である。記録メカニズムは、相変化のほか、多数回書換え可能ではなくなるが、記録層(エレクトロクロミック材料層や相変化材料層など)自身の穴形成や、発色能の破壊、色の変化、隣接する光導電体層や基板の変化・変形でも良い。
光導電体層としては、上記のAs−Se系材料のほか、高温熱処理が必要なため基板材質が制約されるがCdTe,CdS,CdSeなどの既知の無機光導電性材料、実施例2で詳しく述べるポリチオフェンなどの既知の各種有機導電性材料も、着色した状態で光導電材料として使用することができる。
(界面層)
結晶核形成速度と結晶成長速度を増大させ、結晶化速度を速くさせるために、好ましくは、記録膜と電極との間に、界面層を設ける。界面層の材料としては,下記より成るグループ、すなわち、Ta2O5などのTa酸化物、Cr2O3などのCr酸化物、Al2O3などのAl酸化物,SiO2などのSi酸化物,GeO2などのGe酸化物,SnO2などのSn酸化物,ZrO2などのZr酸化物,Co,Niの酸化物、Cr,Ge,Ti,Al,Si,Ta,Zr,B,Hfの窒化物うちの、単独、または2者以上の混合物,が好ましい。この中で、Cr2O3は多数回書き換え時の反射率レベルの変動を5%以下に押さえられ、ジッターを減少でき、より好ましい。CoO,Cr2O,NiOは初期結晶化時の結晶粒径が均一になり、書き換え初期のジッター上昇が小さくより好ましい。また,A1N,TaN,TiN,ZrN,BN,CrN,Cr2N,GeN,HfN,あるいはSi3N4、A1−Si−N系材料(例えばA1SiN2)、Al−Ti−N系材料,Si−Ti−N系材料,Si−O−N系材料や、これら窒化物の混合物も接着カが大きくなり、外部衝撃による情報記録媒体の劣化が小さく、より好ましい。また、Cr80Ge20などのCr−Ge系材料や、CrとGeの酸化物あるいは窒化物が60mo1%以上含まれていると保存寿命が向上し、高温高湿の環境におかれても高性能の記録媒体を維持できる。
電極材料として好ましいものは、用途によって異なる。多数回書換えを要求される場合は、タングステン、またはモリブデン、あるいはその少なくともいずれかを含み、チタンなどの他の金属元素を50原子%未満含むものが好ましい。
反射率と熱伝導率が高い金属層は,AlあるいはAl合金の場合,Cr,Tiなどの添加元素が4原子%以下の高熱伝導率材料であるのが,基板表面の温度上昇を防止する効果があって好ましい。次いで,Au,Ag,Cu,Ni,Fe,Co,Cr,Ti,Pd,Pt,W,Ta,Mo,Sb,Bi,Dy,Cd,Mn,Mg,Vの元素単体、またはAu合金,Ag合金,Cu合金,Pd合金,Pt合金,Sb−Bi,SUS,Ni−Cr,などこれらを主成分とする合金、あるいはこれら同志の合金よりなる層を用いてもよい。このように、電極兼反射層は、金属元素、半金属元素、これらの合金、混合物、からなる。この中で、Cu,Ag,Au単体あるいはCu合金、Ag合金、特にPd,Cuなどの添加元素が8原子%以下のもの、Au合金等のように熱伝導率が大きいものは、有機材料の熱劣化を抑制する。透明電極の材料としては、(In2O3)x(SnO2)1−xの組成で、xが5%から99%の範囲の材料、抵抗値の面でより好ましくは、xが90%から98%の範囲の材料、これにモル%で50%以下のSiO2を添加したもの、SnO2にモル%で2から5%のSb2O3などの他の酸化物を添加したもの、などの既知の透明電極材料、および実施例2で詳しく述べるポリチオフェン、ポリアセチレンなどの導電性有機材料が使用可能である。
記録層の周辺の絶縁物層の融点は600℃以上であることが好ましい。600℃より融点が低い材料を絶縁物層として用いた場合、記録時に記録層で発生した熱及び絶縁物層自体による発熱により劣化し、光学特性が変化してS/Nが低下する場合がある。前記各層の膜厚,材料についてはそれぞれ単独の好ましい範囲をとるだけでも記録・再生特性等が向上するが,それぞれの好ましい範囲を組み合わせることにより,さらに効果が上がる。絶縁物層の材料としては、SiO2,Al2O3,Cr2O3,Ta2O5,GeO2、GeN,Si3N4、これらの組成比が異なるものなど、多くの酸化物、窒化物が使用可能である。絶縁性の有機材料を用いても良い。
本実施例では、表面に直接、トラッキング用の溝を有するポリカーボネート基板77を用いているが、トラッキング用の溝を有する基板とは、基板表面全面または一部に、記録・再生波長をλとしたとき、λ/15n(nは基板材料の屈折率)以上の深さの溝を持つ基板である。溝は一周で連続的に形成されていても、途中分割されていてもよい。溝深さが約λ/12nの時、トラッキングとノイズのバランスの面で好ましいことがわかった。また、その溝幅は場所により異なっていてもよい。溝部とランド部の両方に記録・再生が行えるフォーマットを有する基板でも、どちらか一方に記録を行うフォーマットの基板でも良い。グルーブのみに記録するタイプでは、トラックピッチが波長/絞込みレンズのNAの0.7倍付近、グルーブ幅がその1/2付近のものが好ましい。
本実施例の記録媒体では、記録時に電流を流すことによって、記録媒体に低いレーザーパワーで記録できる。例えば、記録線速度15m/s以上の条件では、通常の記録媒体では記録レーザーパワーが10mWを越えるが、記録レーザーパワーを0.2mW以上2mW以下に設定することができる。最適記録パワーは、流す電流の値によって異なる。
一方、本発明では、レーザーのパワーには余裕が有り、記録密度を高めても良好な再生信号S/Nを得たい場合には読出し時に読出しレーザパワーを高くしてレーザーノイズやシステムノイズの影響を受けにくくすることもできる。本実施例の記録媒体では、記録時に電流を流すことによって、記録層の光吸収が少ない、あるいは熱拡散が大きくて低い記録感度の記録媒体に記録できるので、読出し時に読出しレーザパワーを高くしても記録状態の読出し破壊が起きにくいためである。例えば、記録レーザーパワー2mWで読出しレーザーパワーを3mWにすることもできる。
本実施例は多層構造記録媒体およびそれを用いる記録装置に関するものである。
発色、消色に要する時間を短くすることができる。同一グループ内では上記のように光入射側から遠い層の方の光吸収率が高くなるように電圧や、エレクトロクロミック材料のアクリル系ポリマーなどでの希釈程度を調整すると、より良好な記録特性が得られる。
これら有機物を用いる場合も、ディスクの他の部分は上記実施例と同様とした。
本実施例では、図14に示したように、レーザー91の光93をミラー駆動モーター95の回転軸に対し直角より少し傾いた面で取り付けられ、高速回転するミラー94で方向が円または楕円運動するように反射され、MEMS技術の一つであるシリコン単結晶から形成した4×6の反射鏡アレー97によって光スポットを形成し、記録媒体を高速で移動させることなく高速度の記録を行う。なお、図中92はレンズ、96は列選択ミラー、98はSiウエハー、99は記録積層膜の断面である。全体の形状は円板状ではなく、長方形の形状とした。各ミラーは、その下部のトランジスタアレーにより、静電力または電磁力により駆動される。
2: UV樹脂レプリカ層
3: 保護層
4: 記録層
5: 保護層
6: 電極
7: 基板
8: 絞込みレンズ
9: レーザー光
10:DC電源
11:保護層
12:透明電極層(電極1)
13:エレクトロクロミック材料層
14:電極1
15:紫外線硬化樹脂層
16:張り合せ基板
17:基板
18:グルーブ部
19:ランド部
20:入射レーザー光
21:保護層
22:透明電極
23:光導電体層
24:記録層
25:絶縁体層
26:第1の電極
27:張り合せ基板
28:基板
29:グルーブ部
30:ランド部
31:張り合せ基板
32:積層膜
33,34:透明電極
35,36:透明電極からの引出し電極
37:ディスク中心
38:電極間スペース
39,40:細い金属電極
41:透明電極
42:光導電体層
43:記録層
44:絶縁体層
45:第1の電極
46:光スポット
47:グルーブ部
48:ランド部
49:電極間スペース
50:マルチビーム記録の場合の第2の光スポット
51:絶縁体層
52:透明電極
53:光導電体層
54:記録層
55:絶縁体層
56:塗布有機材料層
57:基板
58:ランド部の塗布が薄い部分
59:ランド部
60:グルーブ部
61:回転軸
62:第1のスリップリング
63:第2のスリップリング
64:第3のスリップリング
65:第1の接触電極
66:第2の接触電極
67:第3の接触電極
68:ディスク受け部品
69:絶縁体
70:位置決め用凸部
61:回転軸
62:第1のスリップリング
63:第2のスリップリング
64:第3のスリップリング
65:第1の接触電極
66:第2の接触電極
67:第3の接触電極
68:ディスク受け部品
69:絶縁体
70:位置決め用凸部
81:透明電極
82:薄いAg合金反射層
83:エレクトロクロミック層
84:プリアンプ回路
86:記録波形発生回路
87:レーザー駆動回路
88:8−16変調器
89:サーボ回路
90:8−16復調器
91:レーザー
92:レンズ
93:レーザービーム
94:回転ミラー
95:ミラー駆動モーター
96:列選択ミラー
97:行選択ミラー
98:Siウェハー
99:記録積層膜の断面。
Claims (3)
- 基板上に形成された複数の記録層と、当該複数の記録層の各々を両側から挟む第1の透明電極と第2の透明電極とを有し、前記複数の記録層の少なくとも1層は、電圧の印加で着色するエレクトロクロミック作用を有するエレクトロクロミック材料により構成される情報記録媒体に対し、集光した光を照射して情報の記録を行う情報記録装置であって、
前記エレクトロクロミック材料は、前記電圧の印加中に所定の強度の光を照射されることで前記エレクトロクロミック作用を失い、
更に、前記情報記録装置は、
前記情報記録媒体を回転させるための回転軸と、
前記回転軸を回転させるためのモーターと、
前記回転軸に取付けられたディスク受け部品と、
当該ディスク受け部品と前記情報記録媒体の中心穴とが接する部分に配置された複数の電極とを有することを特徴とする情報記録装置。 - 中心穴を有する基板上に形成された複数の記録層と、当該複数の記録層の各々を両側から挟む電極とを有し、更に、前記中心穴に設けられた前記電極からの引出し電極を有する情報記録媒体に対し、集光した光を照射して情報の記録を行う情報記録装置であって、
前記複数の記録層の少なくとも1層は、電圧の印加で着色するエレクトロクロミック作用を有するエレクトロクロミック材料により構成され、当該エレクトロクロミック材料は、前記電圧の印加中に所定の強度の光を照射することで前記エレクトロクロミック作用を失い、
更に、前記情報記録装置は、
前記情報記録媒体を回転させるための回転軸と、
前記回転軸を回転させるためのモーターと、
前記回転軸に取付けられたディスク受け部品と、
当該ディスク受け部品と前記情報記録媒体の前記引出し電極とが接する部分に配置された複数の電極とを有することを特徴とする情報記録装置。 - 請求項1または2に記載の情報記録装置において、
前記回転軸には、前記情報記録媒体と前記複数の電極との相対位置を固定するための位置決め手段が設けられたことを特徴とする情報記録装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005002007A JP4165511B2 (ja) | 2005-01-07 | 2005-01-07 | 情報記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005002007A JP4165511B2 (ja) | 2005-01-07 | 2005-01-07 | 情報記録装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002151713A Division JP4120268B2 (ja) | 2002-05-27 | 2002-05-27 | 情報記録媒体および情報記録方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005166254A JP2005166254A (ja) | 2005-06-23 |
JP4165511B2 true JP4165511B2 (ja) | 2008-10-15 |
Family
ID=34737506
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005002007A Expired - Fee Related JP4165511B2 (ja) | 2005-01-07 | 2005-01-07 | 情報記録装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4165511B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101160627A (zh) * | 2005-04-13 | 2008-04-09 | 日本先锋公司 | 记录介质、记录装置和方法、以及重放装置和方法 |
CN116337784B (zh) * | 2023-05-18 | 2023-08-18 | 深圳豪威显示科技有限公司 | 一种用于场致变色功能薄膜的光电测试系统 |
-
2005
- 2005-01-07 JP JP2005002007A patent/JP4165511B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005166254A (ja) | 2005-06-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4120268B2 (ja) | 情報記録媒体および情報記録方法 | |
US6821596B2 (en) | Information recording medium, information recording method, and information reproducing method | |
KR100506553B1 (ko) | 광정보 기록매체, 그 기록 및 재생방법, 및 광정보 기록 및 재생장치 | |
JP3250989B2 (ja) | 光学情報記録媒体、その記録再生方法、その製造法及び光学情報記録再生装置 | |
JPH10302310A (ja) | 光学記録媒体及び光学ディスク装置 | |
JP4079068B2 (ja) | 情報記録媒体および情報記録方法 | |
US7349319B2 (en) | Information recording apparatus, recording media and recording method | |
US20070077522A1 (en) | Optical recording medium, method for reproducing information and optical information reproducing apparatus | |
US20050276211A1 (en) | Information recording medium and manufacturing process | |
JP2006031889A (ja) | 情報記録媒体、情報記録装置および情報記録方法 | |
US7263053B2 (en) | Information recording method and information recording apparatus | |
JP2003109217A (ja) | 光記録媒体および光記録方法 | |
JP4165511B2 (ja) | 情報記録装置 | |
JP4100398B2 (ja) | 情報記録媒体 | |
JP2001023236A (ja) | 光学情報記録媒体およびその初期化方法 | |
JP2006228358A (ja) | 情報記録媒体およびその製造方法 | |
US20050232129A1 (en) | Optical storage medium | |
JP2006268888A (ja) | 情報記録装置、情報記録媒体及び情報記録方法 | |
JP2005203046A (ja) | 情報記録媒体、情報記録方法及び記録装置 | |
JP5321175B2 (ja) | 光学的情報記録媒体及びその製造方法 | |
JP2006012224A (ja) | 情報記録媒体およびその製造方法 | |
JP2001273674A (ja) | 光学情報記録媒体、その記録再生方法、その製造法及び光学情報記録再生装置 | |
JPH113538A (ja) | 相変化型光ディスク及び相変化型光ディスクの製造方法 | |
JP2003006930A (ja) | 光学記録媒体 | |
JPH10199039A (ja) | 光ディスク |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20060421 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080408 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080606 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080708 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080721 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110808 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120808 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120808 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130808 Year of fee payment: 5 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |