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JP2008010618A - 電力用半導体装置 - Google Patents

電力用半導体装置 Download PDF

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JP2008010618A
JP2008010618A JP2006179175A JP2006179175A JP2008010618A JP 2008010618 A JP2008010618 A JP 2008010618A JP 2006179175 A JP2006179175 A JP 2006179175A JP 2006179175 A JP2006179175 A JP 2006179175A JP 2008010618 A JP2008010618 A JP 2008010618A
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徹夫 溝尻
Masuo Koga
万寿夫 古賀
Yukimasa Hayashida
幸昌 林田
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Abstract

【課題】電極と回路パターン部とのハンダ付け部分における熱ストレスや機械的ストレスによる歪みを無くし、信頼性が高く長寿命の電力用半導体装置を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明の電力用半導体装置には、絶縁基板における回路パターン部の配置面から回路パターン部の厚みより高く立ち上がるよう形成され弾性を有する立上部と、回路パターン形成面から所定距離を有して配置され立上部により支持された平坦面を有する接合部とを有する段差部が設けられており、電極端子が接合部の平坦面にハンダにより電気的に接続されて構成されている。
【選択図】図1

Description

本発明は絶縁基板上に形成された金属製の回路パターン部と電極がハンダを用いて接続された構成を有する電力用半導体装置に関する。
絶縁基板上の回路パターン部と電極がハンダにより接続されて構成された従来の電力用半導体装置において、回路パターン部と電極とのハンダ付け部分に実使用時に熱的ストレスや機械的ストレスにより歪みが発生し、クラックが生じる場合がある。その結果、ハンダ付け部分の接触抵抗が増大し、特性不良となっていた。最悪の場合にはハンダ付け部分において破断に至ることがあった。したがって、ハンダ付け部分の歪みは製品の寿命を左右する重要な問題であった。
従来の電力用半導体装置において、電極と金属製の回路パターン部とのハンダ付け部分に生じる歪みを解消するために、電極の一部を薄く形成して、電極と絶縁基板との間に電極の厚みより薄い隙間を形成する方法を提案したものがある(特許文献1参照。)。
また、電極に接続される接続端子に湾曲部を形成して接続端子を伸縮可能に構成した電力用半導体装置(特許文献2参照)や、金属製の回路パターン部にスリットを形成して歪みを解消する構成とした電力用半導体装置(特許文献3参照)が提案されている。
特開平6−005763号公報 特開平7−094623号公報 特開平4−343287号公報
産業機器の高機能化等に伴い、さらなる大電力で高性能・高信頼性の電力用半導体装置が求められており、そのような電力用半導体装置においては、電極と回路パターン部とのハンダ付け部分における熱ストレスや機械的ストレスによる歪みの発生をさらに確実に抑制し、高い信頼性と長寿命化が強く要望されている。
本発明においては、電極と回路パターン部とのハンダ付け部分における熱ストレスや機械的ストレスによる歪みを無くし、信頼性が高く寿命の長い電力用半導体装置を提供することを目的とする。
本発明の電力用半導体装置は、絶縁基板上に接合され電気回路パターンが形成された回路パターン部、
前記絶縁基板における前記電気回路パターンの形成面から前記回路パターン部の厚みより高く立ち上がるよう形成され弾性を有する板状の立上部と、前記電気回路パターンの形成面から所定距離を有して配置され前記立上部により支持された平坦面を有する接合部とを有する段差部、及び
前記接合部の平坦面にハンダにより電気的に接合された電極端子を有する電極、を具備する。このように構成された電力用半導体装置は、電極端子と回路パターン部との間に段差部を設け、この段差部によりハンダ付け部分における熱ストレスや機械的ストレスによる歪みを無くし、信頼性が高く寿命の長い装置となる。
本発明によれば、電極と金属製の電気回路パターンとのハンダ付け部分における熱ストレスや機械的ストレスにより生じる歪みを無くし、信頼性が高く長寿命の電力用半導体装置を提供することができる。
以下、本発明の電力用半導体装置に係る好適な実施例を添付の図面を参照して説明する。
実施例1.
図1は本発明に係る実施例1の電力用半導体装置の構成を示す構造図である。図1において、(A)は平面図であり、(B)は(A)の平面図におけるB−B線による断面図であり、(C)は(A)の平面図におけるC−C線による断面図である。図2は実施例1の電力用半導体装置における絶縁基板上の金属製の回路パターン部に電極端子が接合された状態を示す図である。図2において、(A)が平面図であり、(B)が側面図である。
実施例1の電力用半導体装置はパワーモジュールである。図1において、ケース内には絶縁基板の両面に電気回路パターンを有する金属製の回路パターン部2,5が形成された絶縁回路基板10が設けられている。ケース外部に露出したコレクタ電極とエミッタ電極のそれぞれの電極は、一方の回路パターン部2の所定位置に電極端子3を介して電気的に接続されている。
図2は回路パターン部2と電極端子3との接合状態を示す図である。図2に示すように、回路パターン部2には段差部20が形成されており、この段差部20に電極端子3の屈曲端部3aがハンダ4により接合されている。段差部20はその上端面が平坦な接合部20aと、絶縁基板1に接合された基部から立ち上がる部位に相当する立上部20bとより構成されている。すなわち、平坦な接合部20aの両側に立上部20bが形成されている。図2の(B)に示すように、接合部20aの両側に形成された立上部20bは、対向する方向に斜行しており、段差部20の接合部20aが段差部20の基部部分より狭くなっている。このように構成された段差部20は、バネ性を有しており、絶縁基板1と回路パターン部2とを有する絶縁回路基板10の実動作時の収縮によるストレスを吸収できる構造を有している。例えば、段差部20の具体的な形状は、基部部分から接合部20aまで高さが約1.0mmであり、回路パターン部2の厚み(約0.3mm)に対して、約3倍に形成されている。段差部20の接合部20aは電極端子3の屈曲端部3aの接合面より大きく形成されており、電極端子3の接合面が段差部20の接合部20aの平坦部分のみとハンダ4により接合されている。電極端子3における段差部20との接合部分近傍は、実質的なL字状に形成されており、その先端部分である屈曲端部3aの平坦部分が段差部20の接合部20aに対向して配置され、ハンダ4により確実に接合されている。
実施例1の電力用半導体装置において、絶縁基板1の両面には、例えば銅板や銅合金にエッチング処理により所望の電気回路が形成された回路パターン部2が接合されている。この回路パターン部2には、プレス加工により段差部20が所定位置に形成されており、コレクタ電極とエミッタ電極のそれぞれに接続された電極端子3が接合されている。絶縁基板1としては、例えば熱伝導性に優れた窒化アルミニウム基板が用いられている。この絶縁基板1に対して活性金属製ロウ材として、例えばAg−Cu−Ti系ロウ材をスクリーン印刷により塗布し、所望の電気回路パターンが形成された回路パターン部2が絶縁基板1上に配置されて、約1×10Torrの真空中で約850℃、約10分間加熱して、絶縁回路基板10が作成される。なお、この絶縁回路基板10には、その裏面に所望の電気回路が形成された金属製の別の回路パターン部5が接合されている。
上記ように構成された実施例1の電力用半導体装置において、電極端子3は回路パターン部2に形成された段差部20の接合部20aにハンダ4により接合されているため、当該電力用半導体装置がオンオフ動作を繰り返すことにより絶縁回路基板10において生じる熱的ストレス、機械的ストレス及び振動等のストレスは、バネ性を有する段差部20において確実に吸収され、段差部20の接合部20aと電極端子3の屈曲端部3aとのハンダ付け部分におけるクラックや破断等の発生を大幅に抑制することができる。
実施例2.
図3は実施例2の電力用半導体装置における絶縁基板上の金属製の回路パターン部に電極端子が接合された状態を示す図である。図3において、(A)が平面図であり、(B)が側面図である。実施例2において、実施例1の電力用半導体装置における要素と同じ機能、構成を有するものには同じ符号を付し、その説明は実施例1の説明を適用する。実施例2の電力用半導体装置においては、絶縁回路基板が有する回路パターン部に段差部21が形成されており、その段差部21に接合部21aと立上部であるベンド部21bが形成されている。実施例2におけるその他の構成は、実施例1の電力用半導体装置の構成と実質的に同じである。
図3に示すように、回路パターン部2には段差部21が形成されており、この段差部21に電極端子3の屈曲端部3aがハンダ4により接合されている。段差部21はその上端面が平坦な接合部21aと、絶縁基板1に接合された基部から立ち上がるように階段状に形成されたベンド部21bとより構成されている。すなわち、平坦な接合部21aの両側に屈曲部分を持つベンド部21bが形成されている。ベント部21bは回路パターン部2の回路パターン形成面と平行な屈曲線を有している。図3の(B)に示すように、接合部21aの両側に形成されたベンド部21bは、裾が広くなる階段状に形成されている。このように構成された段差部21は、バネ性を有しており、絶縁基板1と回路パターン部2を有する絶縁回路基板の実動作時の収縮によるストレスを吸収できる構造を有している。段差部21の接合部21aは電極端子3の屈曲端部3aの接合面より大きく形成されており、電極端子3の屈曲端部3aの接合面が段差部21の接合部21aのみとハンダ4により接合されている。
実施例2の電力用半導体装置は、前述の実施例1の電力用半導体装置と同様に、絶縁基板1の両面に所望の電気回路パターンが形成された回路パターン部2、5が接合されている。
上記ように構成された実施例2の電力用半導体装置においては、電極端子3が回路パターン部2に形成された段差部21の接合部21aにハンダ4により接合されているため、当該電力用半導体装置がオンオフ動作を繰り返すことにより絶縁回路基板において生じる熱的ストレス、機械的ストレス及び振動等のストレスは、バネ性を有する段差部21において確実に吸収され、段差部21の接合部21aと電極端子3の屈曲端部3aとのハンダ付け部分におけるクラックや破断等の発生を大幅に抑制することができる。
さらに、実施例2の電力用半導体装置においては、実施例1と比較して段差部21の高さを低く構成することができ、装置の薄型化を図ることができる。
実施例3.
図4は実施例3の電力用半導体装置における絶縁基板上の金属製の回路パターン部に電極端子が接合された状態を示す図である。図4において、(A)が平面図であり、(B)が側面図である。実施例3において、実施例1の電力用半導体装置における要素と同じ機能、構成を有するものには同じ符号を付し、その説明は実施例1の説明を適用する。実施例3の電力用半導体装置においては、絶縁回路基板が有する金属製の回路パターン部に段差部22が形成されており、その段差部22に接合部22aと立上部である薄肉部22bが形成されている。実施例3におけるその他の構成は、実施例1の電力用半導体装置の構成と実質的に同じである。
図4に示すように、回路パターン部2には段差部22が形成されており、この段差部22に電極端子3の屈曲端部3aがハンダ4により接合されている。段差部22はその上端面が平坦な接合部22aと、絶縁基板1に接合された基部から立ち上がるように厚みの薄い部分で形成された薄肉部22bとより構成されている。図4の(B)に示すように、接合部22aの両側に形成された薄肉部22bは、裾が広くなるよう形成されている。このように構成された段差部22は、バネ性を有しており、絶縁基板1と回路パターン部2を有する絶縁回路基板の実動作時の収縮によるストレスを吸収できる構造を有している。段差部22の接合部22aは電極端子3の屈曲端部3aの接合面より大きく形成されており、電極端子3の屈曲端部3aの接合面が段差部22の接合部22aのみとハンダ4により接合されている。
実施例3の電力用半導体装置は、前述の実施例1の電力用半導体装置と同様に、絶縁基板1の両面に所望の電気回路が形成された回路パターン部2が接合されている。
上記ように構成された実施例3の電力用半導体装置においては、電極端子3が回路パターン部2に形成された段差部22の接合部22aにハンダ4により接合されているため、当該電力用半導体装置がオンオフ動作を繰り返すことにより絶縁回路基板において生じる熱的ストレス、機械的ストレス及び振動等のストレスは、バネ性を有する段差部22において確実に吸収され、段差部22の接合部22aと電極端子3の屈曲端部3aとのハンダ付け部分におけるクラックや破断等の発生を確実に抑制することができる。
さらに、実施例3の電力用半導体装置においては、実施例1と比較して段差部22の高さを低く且つ小さく構成することができ、装置の薄型化、小型化を図ることができる。
実施例4.
図5は実施例4の電力用半導体装置における絶縁基板上の金属製の回路パターン部に電極端子が接合された状態を示す図である。図5において、(A)が平面図であり、(B)が側面図である。実施例4において、実施例1の電力用半導体装置における要素と同じ機能、構成を有するものには同じ符号を付し、その説明は実施例1の説明を適用する。実施例4の電力用半導体装置においては、絶縁回路基板が有する金属製の回路パターン部2に段差部23が形成されており、その段差部23には、前述の実施例1と同様に、接合部23aと、その両側に立上部23bが形成されている。また、実施例3においては、段差部23にはスリット部23cが形成されている。スリット部23cは段差部23の両側に複数本形成されており、立上部23bは細い板状の帯材を複数平行に配置した構成となっている。
実施例4におけるその他の構成は、実施例1の電力用半導体装置の構成と実質的に同じである。
図5に示すように、回路パターン部2には段差部23が形成されており、この段差部23に電極端子3の屈曲端部3aがハンダ4により接合されている。段差部23はその上端面が平坦な接合部23aと、絶縁基板1に接合された基部から立ち上がるように形成された立上部23bとより構成されている。接合部23aの両側に形成された立上部23bにはスリット部23cが形成されており、かつ裾が広くなるよう形成されている。このように構成された段差部23は、バネ性を有しており、絶縁基板1と回路パターン部2を有する絶縁回路基板の実動作時の収縮のストレスや振動等を吸収できる構造を有している。段差部23の接合部23aは電極端子3の屈曲端部3aの接合面より大きく形成されており、電極端子3の屈曲端部3aの接合面が段差部23の接合部23aのみとハンダ4により接合されている。
実施例4の電力用半導体装置は、前述の実施例1の電力用半導体装置と同様に、絶縁基板1の両面に所望の電気回路パターンが形成された回路パターン部2、5が接合されている。
上記ように構成された実施例4の電力用半導体装置においては、電極端子3が回路パターン部2に形成された段差部23の接合部23aにハンダ4により接合されているため、当該電力用半導体装置がオンオフ動作を繰り返すことにより絶縁回路基板において生じる熱的ストレス、機械的ストレス及び振動等のストレスは、バネ性を有する段差部23において確実に吸収され、段差部23の接合部23aと電極端子3の屈曲端部3aとのハンダ付け部分におけるクラックや破断等の発生を確実に抑制することができる。
さらに、実施例4の電力用半導体装置においては、実施例3と同様に実施例1と比較して段差部23の高さを低く且つ小さく構成することができ、装置の薄型化、小型化を図ることができる。そして、金属製の段差部23を通常の孔開け加工によりスリット部23cを形成して製造することができるため、優れた効果を奏する段差部23を容易に加工することができる。
実施例5.
図6は実施例5の電力用半導体装置における絶縁基板上の金属製の回路パターン部に電極端子が接合された状態を示す図である。図6において、(A)が平面図であり、(B)が側面図である。実施例5において、実施例1の電力用半導体装置における要素と同じ機能、構成を有するものには同じ符号を付し、その説明は実施例1の説明を適用する。実施例5の電力用半導体装置においては、前述の実施例1と同様に、絶縁回路基板が有する回路パターン部2に段差部24が形成されており、その段差部24に接合部24aと立上部24bが形成されている。実施例5の電力用半導体装置において、絶縁基板1の電極端子3が接合される表面側には第1の回路パターン部2が接合されており、その裏面側には第2の回路パターン部6が接合されている。第1の回路パターン部2における段差部24に対応する絶縁基板1の裏面位置、すなわち第1の回路パターン部2と絶縁基板1とが接合されていない絶縁基板1の裏面位置には、第2の回路パターン部6が形成されていない構造を有している。したがって、実施例5の電力用半導体装置では、絶縁基板1の表裏両面において回路パターン部が接合されていない領域が一致している構成である。
実施例5におけるその他の構成は、実施例1の電力用半導体装置の構成と実質的に同じである。
上記ように構成された実施例5の電力用半導体装置においては、回路パターン部2に段差部24が形成されているため、当該電力用半導体装置がオンオフ動作を繰り返すことにより絶縁回路基板において生じる熱的ストレス、機械的ストレス及び振動等のストレスは、バネ性を有する段差部24において確実に吸収され、段差部24の接合部24aと電極端子3の屈曲端部3aとのハンダ付け部分におけるクラックや破断等の発生を確実に抑制することができる。
さらに、実施例5の電力用半導体装置においては、絶縁基板1の両面に回路パターン部が同様に接合されているため、絶縁基板1におけるストレスが大幅に低減されてクラックを抑制でき、電力用半導体装置の長寿命化を図ることが可能となる。
実施例6.
図7は実施例6の電力用半導体装置における絶縁基板上の金属製の回路パターン部に電極端子が接合された状態を示す図である。図7において、(A)が平面図であり、(B)が側面図である。実施例6において、実施例1の電力用半導体装置における要素と同じ機能、構成を有するものには同じ符号を付し、その説明は実施例1の説明を適用する。
実施例6の電力用半導体装置においては、絶縁基板1の両側に所望の電気回路パターンを有する回路パターン部7,8が接合されており、表面側(図7の(B)における上面側)の回路パターン部7には屈曲部分で形成された電極部材25がハンダ4により接合されている。電極部材25は、その上面に平坦な接合部25aが形成されており、両側には立上部である階段状のベンド部25bが形成されている。上記のように、実施例6の電力用半導体装置においては、前述の実施例における段差部が回路パターン部と別体で構成された電極部材25により構成されている。
図7の(B)に示すように、電極部材25におけるベント部25bの端部にある回路パターン部7との対向部分は、実質的にL字状に屈曲して平坦に形成された取付面25cとなっている。この取付面25cが回路パターン部7の所定位置に配置され、ハンダにより電気的に接合される。
実施例6におけるその他の構成は、実施例1の電力用半導体装置の構成と実質的に同じである。
図7に示すように、実施例6の電力用半導体装置においては、回路パターン部7に別体の電極部材25が段差部としてハンダ4により接合されており、この電極部材25に電極端子3の屈曲端部3aがハンダ4により接合されている。電極部材25は上端面が平坦な接合部25aと、絶縁基板1に接合された基部から立ち上がるように形成されたベント部25bとより構成されている。電極部材25の接合部25aは電極端子3の屈曲端部3aの接合面より大きく形成されており、電極端子3の屈曲端部3aの接合面が接合部25aとハンダ4により接合されている。
実施例6の電力用半導体装置における電極部材は、図7に示す構成に限定されるものではない。図8は電極部材のその他の構成例を示す図である。図8の(A)は断面が実質的なコ字状である電極部材25Aと、図8の(B)は断面が実質的なロ字状の電極部材25Bを示す側面図である。これらの電極部材25A,25Bにおいても、その上面が接合部25aとなり屈曲端部3aがハンダ4により接合され、その下面が回路パターン部7の所定の位置にハンダ4により接合される構成である。
上記ように構成された実施例6の電力用半導体装置においては、電極端子3が回路パターン部7上の電極部材25の接合部25aにハンダ4により接合されているため、当該電力用半導体装置がオンオフ動作を繰り返すことにより絶縁回路基板において生じる熱的ストレス、機械的ストレス及び振動等のストレスは、バネ性を有する電極部材25において確実に吸収され、電極部材25の接合部25aと電極端子3の屈曲端部3aとのハンダ付け部分におけるクラックや破断等の発生を確実に抑制することができる。
さらに、実施例6の電力用半導体装置においては、段差部を有さない従来構造の絶縁基板がそのまま使用でき、また電極部材25の標準化を図ることができるので、製造コストの低減を図ることができる。
実施例7.
図9は実施例7の電力用半導体装置における絶縁基板上の回路パターン部に電極端子が接合された状態を示す図である。図9において、(A)が平面図であり、(B)が側面図である。実施例7において、実施例1の電力用半導体装置における要素と同じ機能、構成を有するものには同じ符号を付し、その説明は実施例1の説明を適用する。
実施例7の電力用半導体装置においては、絶縁基板1の両側に所望の電気回路パターンを有する回路パターン部7,8が接合されており、表面側(図9の(B)における上面側)の回路パターン部7には屈曲部分で形成された電極部材26が超音波接合により接合されている。電極部材26は、その上面に平坦な接合部26aが形成されており、両側には立上部である階段状のベンド部26bが形成されている。上記のように、実施例7の電力用半導体装置においては、段差部が回路パターン部と別体で構成された電極部材26により構成されている。
図9の(B)に示すように、電極部材26におけるベント部26bの端部にある回路パターン部7との対向部分は、実質的にL字状に屈曲して平坦に形成された取付面26cとなっている。この取付面26cが回路パターン部7の所定位置に配置され、超音波接合により電気的に接続状態である。
実施例7におけるその他の構成は、実施例1の電力用半導体装置の構成と実質的に同じである。
図9に示すように、実施例7の電力用半導体装置においては、回路パターン部7に別体の電極部材26が段差部として超音波接合により接合されており、この電極部材26に電極端子3の屈曲端部3aがハンダ4により接合されている。電極部材26は上端面が平坦な接合部26aと、絶縁基板1に接合された基部から立ち上がるように形成されたベント部26bとより構成されている。電極部材26の接合部26aは電極端子3の屈曲端部3aの接合面より大きく形成されており、電極端子3の屈曲端部3aの接合面が接合部26aとハンダ4により接合されている。
上記のように、実施例7の電力用半導体装置においては、実施例6の電力用半導体装置における電極部材25と基本的に同じ構造を有しており、電極部材と回路パターン部との接合方法が異なっている。実施例7の電力用半導体装置においては、実施例6の構成による効果を有すると共に、回路パターン部7に電極部材26を超音波接合により固着しているため、精度高く配置し接合することができる。また、超音波接合を用いることにより接合部分の信頼性が高くなり寿命が長くなるという優れた効果を有する。
なお、実施例7においては、回路パターン部7と電極部材26とを超音波接合により固着した構成を示したが、活性金属製ロウ材を用いて接合しても、接合部分の信頼性が高くなり寿命の長い電力用半導体装置となる。
本発明は絶縁基板上の金属製の回路パターンと電極がハンダを用いて接合される構成の電力用半導体装置において有用である。
本発明に係る実施例1の電力用半導体装置の構成を示す構造図である。 実施例1の電力用半導体装置における絶縁基板上の回路パターン部に電極端子が接合された状態を示す図であり、(A)が平面図であり、(B)が側面図である。 実施例2の電力用半導体装置における絶縁基板上の回路パターン部に電極端子が接合された状態を示す図であり、(A)が平面図であり、(B)が側面図である。 実施例3の電力用半導体装置における絶縁基板上の回路パターン部に電極端子が接合された状態を示す図であり、(A)が平面図であり、(B)が側面図である。 実施例4の電力用半導体装置における絶縁基板上の回路パターン部に電極端子が接合された状態を示す図であり、(A)が平面図であり、(B)が側面図である。 実施例5の電力用半導体装置における絶縁基板上の回路パターン部に電極端子が接合された状態を示す図であり、(A)が平面図であり、(B)が側面図である。 実施例6の電力用半導体装置における絶縁基板上の回路パターン部に電極端子が接合された状態を示す図であり、(A)が平面図であり、(B)が側面図である。 実施例6の電力用半導体装置における別の構成の絶縁基板上の回路パターン部に電極端子が接合された状態を示す側面図である。 実施例7の電力用半導体装置における絶縁基板上の回路パターン部に電極端子が接合された状態を示す図であり、(A)が平面図であり、(B)が側面図である。
符号の説明
1 絶縁基板、2 回路パターン部、3 電極端子、4 ハンダ、5 回路パターン部、6 回路パターン部、7 回路パターン部、8 回路パターン部、20 段差部、20a 接合部、20b 立上部、21 段差部、21a 接合部、21b ベンド部、22 段差部、22a 接合部、22b 薄肉部、23 段差部、23a 接合部、23b 立上部、24 段差部、24a 接合部、24b 立上部、25 電極部材、25a 接合部、25b ベント部、26電極部材、26a 接合部、26b ベント部

Claims (7)

  1. 絶縁基板上に接合され電気回路パターンが形成された回路パターン部、
    前記絶縁基板における前記電気回路パターンの形成面から前記回路パターン部の厚みより高く立ち上がるよう形成され弾性を有する板状の立上部と、前記電気回路パターンの形成面から所定距離を有して配置され前記立上部により支持された平坦面を有する接合部とを有する段差部、及び
    前記接合部の平坦面にハンダにより電気的に接合された電極端子を有する電極、
    を具備する電力用半導体装置。
  2. 前記立上部が屈曲部分を有する階段状に形成された請求項1に記載の電力用半導体装置。
  3. 前記立上部が前記接合部の厚みより薄く形成された請求項1に記載の電力用半導体装置。
  4. 前記立上部が前記回路パターンの形成面と前記平坦面との間に延設されたスリットを有する請求項1に記載の電力用半導体装置。
  5. 前記絶縁基板の両面に回路パターン部が形成され、一方の回路パターン部に段差部が形成され、前記段差部に対向する領域に他方の回路パターン部が配設されていない請求項1に記載の電力用半導体装置。
  6. 前記段差部が前記回路パターン部と別体で構成され、前記段差部と前記回路パターン部がハンダにより所定位置に接合された請求項1に記載の電力用半導体装置。
  7. 前記段差部が前記回路パターン部と別体で構成され、前記段差部と前記回路パターン部が超音波又は活性金属ロウ付けにより所定位置に接合された請求項1に記載の電力用半導体装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103972276A (zh) * 2013-02-06 2014-08-06 三菱电机株式会社 半导体装置及其制造方法

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59208763A (ja) * 1983-05-12 1984-11-27 Toshiba Corp 樹脂封止型電子装置
JPS61176142A (ja) * 1985-01-31 1986-08-07 Toshiba Corp 基板構造体
JPH03145748A (ja) * 1989-10-31 1991-06-20 Narumi China Corp セラミックス回路基板
JPH0547989A (ja) * 1991-08-21 1993-02-26 Hitachi Ltd 電子装置
JPH07226481A (ja) * 1994-02-10 1995-08-22 Hitachi Ltd パワー半導体モジュールとその製造方法
JPH0878620A (ja) * 1994-09-07 1996-03-22 Hitachi Ltd 電力用半導体装置
JPH09172140A (ja) * 1995-12-21 1997-06-30 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JPH09321216A (ja) * 1996-05-27 1997-12-12 Toshiba Corp 電力用半導体装置
JPH10125856A (ja) * 1996-10-18 1998-05-15 Hitachi Ltd パワー半導体装置
JP2005183455A (ja) * 2003-12-16 2005-07-07 Toyota Industries Corp 半導体モジュールの端子構造及びコントローラ出力端子
JP2005311284A (ja) * 2004-03-23 2005-11-04 Fuji Electric Holdings Co Ltd パワー半導体素子およびこれを用いた半導体装置

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59208763A (ja) * 1983-05-12 1984-11-27 Toshiba Corp 樹脂封止型電子装置
JPS61176142A (ja) * 1985-01-31 1986-08-07 Toshiba Corp 基板構造体
JPH03145748A (ja) * 1989-10-31 1991-06-20 Narumi China Corp セラミックス回路基板
JPH0547989A (ja) * 1991-08-21 1993-02-26 Hitachi Ltd 電子装置
JPH07226481A (ja) * 1994-02-10 1995-08-22 Hitachi Ltd パワー半導体モジュールとその製造方法
JPH0878620A (ja) * 1994-09-07 1996-03-22 Hitachi Ltd 電力用半導体装置
JPH09172140A (ja) * 1995-12-21 1997-06-30 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JPH09321216A (ja) * 1996-05-27 1997-12-12 Toshiba Corp 電力用半導体装置
JPH10125856A (ja) * 1996-10-18 1998-05-15 Hitachi Ltd パワー半導体装置
JP2005183455A (ja) * 2003-12-16 2005-07-07 Toyota Industries Corp 半導体モジュールの端子構造及びコントローラ出力端子
JP2005311284A (ja) * 2004-03-23 2005-11-04 Fuji Electric Holdings Co Ltd パワー半導体素子およびこれを用いた半導体装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103972276A (zh) * 2013-02-06 2014-08-06 三菱电机株式会社 半导体装置及其制造方法
JP2014154611A (ja) * 2013-02-06 2014-08-25 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置及びその製造方法
US9735100B2 (en) 2013-02-06 2017-08-15 Mitsubishi Electric Corporation Semiconductor device and method of manufacturing the same
CN103972276B (zh) * 2013-02-06 2018-09-11 三菱电机株式会社 半导体装置及其制造方法

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