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DE68913902D1 - Integrierte Schaltung mit einer Signaldiskriminierungsschaltung und Verfahren zu deren Prüfung. - Google Patents

Integrierte Schaltung mit einer Signaldiskriminierungsschaltung und Verfahren zu deren Prüfung.

Info

Publication number
DE68913902D1
DE68913902D1 DE89119923T DE68913902T DE68913902D1 DE 68913902 D1 DE68913902 D1 DE 68913902D1 DE 89119923 T DE89119923 T DE 89119923T DE 68913902 T DE68913902 T DE 68913902T DE 68913902 D1 DE68913902 D1 DE 68913902D1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
signal
input terminals
circuit
testing
integrated circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE89119923T
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiro Tanaka
Kazuhiro Tomita
Kazumi Ogawa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP63275280A external-priority patent/JPH02122287A/ja
Priority claimed from JP63325412A external-priority patent/JPH02170566A/ja
Priority claimed from JP1004400A external-priority patent/JPH02184065A/ja
Application filed by Fujitsu VLSI Ltd, Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu VLSI Ltd
Application granted granted Critical
Publication of DE68913902D1 publication Critical patent/DE68913902D1/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/31701—Arrangements for setting the Unit Under Test [UUT] in a test mode

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
DE89119923T 1988-10-31 1989-10-26 Integrierte Schaltung mit einer Signaldiskriminierungsschaltung und Verfahren zu deren Prüfung. Expired - Lifetime DE68913902D1 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63275280A JPH02122287A (ja) 1988-10-31 1988-10-31 半導体回路装置
JP63325412A JPH02170566A (ja) 1988-12-23 1988-12-23 微小電圧入力試験用分圧回路の接続方法
JP1004400A JPH02184065A (ja) 1989-01-11 1989-01-11 半導体装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE68913902D1 true DE68913902D1 (de) 1994-04-21

Family

ID=27276253

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE89119923T Expired - Lifetime DE68913902D1 (de) 1988-10-31 1989-10-26 Integrierte Schaltung mit einer Signaldiskriminierungsschaltung und Verfahren zu deren Prüfung.

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US (1) US5142222A (de)
EP (1) EP0367115B1 (de)
DE (1) DE68913902D1 (de)

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EP0367115A1 (de) 1990-05-09
US5142222A (en) 1992-08-25
EP0367115B1 (de) 1994-03-16

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