DE3200376C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft ein elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial
gemäß dem Oberbegriff von Patentanspruch 1,
das gegenüber elektromagnetischen Wellen wie UV-Strahlen,
sichtbarem Licht, IR-Strahlen, Röntgenstrahlen und γ-Strahlen
empfindlich ist.
Fotoleiter, die fotoleitfähige Schichten für elektrofotografische
Aufzeichnungsmaterialien wie z. B. Bilderzeugungsmaterialien,
Festkörper-Bildaufnahme- bzw. Bildabtastvorrichtungen
oder Manuskript-Lesevorrichtungen bilden, müssen eine
hohe Empfindlichkeit, ein hohes S/N-Verhältnis [Fotostrom
(I p )/Dunkelstrom (I d )], Spektraleigenschaften, die den anzuwendenden
elektromagnetischen Wellen angepaßt sind, ein
schnelles Ansprechen auf elektromagnetische Wellen und einen
gewünschten Dunkelwiderstandswert haben und dürfen während
der Anwendung nicht gesundheitsschädlich sein. Außerdem
ist es bei einer Festkörper-Bildaufnahme- bzw. Bildabtastvorrichtung
auch notwendig, daß Restbilder innerhalb einer
vorbestimmten Zeit leicht beseitigt werden können. Im Fall
eines als Bilderzeugungsmaterial dienenden elektrofotografischen
Aufzeichnungsmaterials, das in eine für die Anwendung
in einem Büro vorgesehene elektrofotografische Vorrichtung
eingebaut wird, ist es besonders wichtig, daß das Aufzeichnungsmaterial
nicht gesundheitsschädlich ist.
Aus der DE-OS 28 55 718 ist ein elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial
mit einem Träger und einer fotoleitfähigen
Schicht, die aus einem amorphen Material gebildet ist,
das aus einer Wasserstoffatome enthaltenden Matrix von Siliciumatomen
besteht, bekannt, das gegebenenfalls zwischen dem
Träger und der fotoleitfähigen Schicht eine Sperrschicht
aufweist. Dieses bekannte elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial
ist jedoch z. B. hinsichtlich des Dunkelwiderstandswertes,
der Fotoempfindlichkeit und des Ansprechens auf elektromagnetische
Wellen sowie in bezug auf die Beständigkeit
gegen den Einfluß von Umgebungsbedingungen bei der Anwendung
wie z. B. die Feuchtigkeitsbeständigkeit noch verbesserungsbedürftig.
Es ist daher, auch was die Produktion und die
Möglichkeit einer Massenfertigung angeht, für den praktischen
Einsatz in einem weiten Anwendungsbereich als Bilderzeugungsmaterial,
Festkörper-Bildaufnahme- bzw. Bildabtastvorrichtung
und Manuskript-Lesevorrichtung nicht geeignet.
Wenn ein solches elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial
als Bilderzeugungsmaterial eingesetzt wird, wird z. B. oft
ein während des Betriebes verbleibendes Restpotential beobachtet.
Wenn ein solches Aufzeichnungsmaterial lange wiederholt
angewendet wird, werden verschiedene Nachteile wie eine
Anhäufung von Ermüdungserscheinungen oder das sogenannte
Geisterbild-Phänomen, das zur Erzeugung von Restbildern
führt, hervorgerufen.
Amorphes Silicium, das die fotoleitfähige Schicht eines
elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterials bildet, hat
zwar im Vergleich mit bekannten anorganischen Fotoleitern
wie Se, Cds oder ZnO oder organischen Fotoleitern wie Polyvinylcarbazol
oder Trinitrofluorenon eine Zahl von Vorteilen,
jedoch wurde festgestellt, daß es verschiedene Probleme
aufweist. Eines dieser Probleme ist ein bemerkenswert
schneller Dunkelabfall bei der Durchführung einer Ladungsbehandlung
zur Erzeugung elektrostatischer Ladungsbilder auf
der fotoleitfähigen Schicht, weshalb es schwierig ist, ein
bekanntes Elektrofotografieverfahren anzuwenden. Diese Neigung
wird unter einer feuchten Atmosphäre manchmal in einem
derartigen Ausmaß weiter verstärkt, daß vor der Entwicklung
überhaupt keine Ladung beibehalten wird.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein elektrofotografisches
Aufzeichnungsmaterial gemäß dem Oberbegriff von
Patentanspruch 1 derart zu verbessern, daß es hinsichtlich
des Dunkelwiderstandswertes, der Fotoempfindlichkeit und des
Ansprechens auf elektromagnetische Wellen sowie in bezug auf
die Beständigkeit gegen den Einfluß von Umgebungsbedingungen
bei der Anwendung wie z. B. die Feuchtigkeitsbeständigkeit
dauerhaft zufriedenstellend ist, hinsichtlich der Beständigkeit
gegen Lichtermüdung hervorragend ist, ohne daß es sich
nach wiederholter Anwendung verschlechtert, von Restpotentialen
vollkommen oder im wesentlichen frei ist und während
der Ladungsbehandlung in ausreichendem Maße zum Festhalten
von Ladungen befähigt ist.
Diese Aufgabe wird durch ein elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial
mit den im kennzeichnenden Teil von Patentanspruch
1 angegebenen Merkmalen gelöst.
Die bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung werden
nachstehend unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen
näher erläutert.
Die Fig. 1 bis 4 zeigen schematische Schnitte, die zur
Erläuterung der Schichtstrukturen der bevorzugten Ausführungsformen
der erfindungsgemäßen elektrofotografischen
Aufzeichnungsmaterialien dienen.
Fig. 5 ist ein schematisches Flußdiagramm, das zur Erläuterung
eines Beispiels der Vorrichtung für die Herstellung
der erfindungsgemäßen elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterialien
dient.
Die erste Grundstruktur des erfindungsgemäßen elektrofotografischen
Aufzeichnungsmaterials besteht aus einem Träger, einer fotoleitfähigen
Schicht und einer auf der oberen Oberfläche
der fotoleitfähigen Schicht angeordneten amorphen Schicht, die als Oberflächen-
Sperrschicht dient und die Funktion hat, eine Injektion von
Ladungen von der Oberfläche in die fotoleitfähige Schicht
zu verhindern. Die fotoleitfähige Schicht besteht
aus einem amorphen Material [nachstehend als a-Si (H, X) bezeichnet], das in einer Matrix
von Siliciumatomen Wasserstoffatome und/oder Halogenatome
(X) enthält, und die amorphe Schicht besteht
aus einem amorphen Material, das in einer Matrix
von Boratomen Wasserstoffatome und/oder Halogenatome
(X) enthält. An einer Grenzfläche zwischen diesen
Schichten wird eine Sperrschicht oder Verarmungsschicht
gebildet, die dazu befähigt ist, eine Injektion von
Elektronen in die fotoleitfähige Schicht zu verhindern,
jedoch einen Durchgang der durch
Bestrahlung mit elektromagnetischen Wellen in der fotoleitfähigen
Schicht erzeugten Fototräger ermöglicht.
Es ist festgestellt worden, daß die in dem vorstehend beschriebenen erfindungsgemäßen
elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterial enthaltene, als Oberflächen-
Sperrschicht dienende amorphe Schicht dazu
befähigt ist, eine Injektion von Elektronen in die fotoleitfähige
Schicht zu verhindern, jedoch nicht in der Lage
ist, eine Injektion von positiven Löchern in die fotoleitfähige
Schicht zu verhindern. Das erfindungsgemäße
elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial mit der vorstehend erwähnten Struktur
hat demnach eine spezifische Polarität, und für die Ladungsbehandlung
der Oberfläche dieses elektrofotografischen
Aufzeichnungsmaterials ist nur die Anwendung einer negativen Ladung bzw.
Aufladung geeignet.
Die zweite Grundstruktur des erfindungsgemäßen elektrofotografischen
Aufzeichnungsmaterials besteht aus einem Träger, einer fotoleitfähigen
Schicht und einer als Zwischenschicht zwischen dem Träger und der
fotoleitfähigen Schicht angeordneten amorphen Schicht, die
die Funktion hat, eine Injektion von Ladungsträgern von
der Seite des Trägers in die fotoleitfähige Schicht zu
verhindern.
Die fotoleitfähige Schicht besteht aus einem
amorphen Material, das in einer Matrix von Siliciumatomen
Wasserstoffatome und/oder Halogenatome (X) enthält,
und die als Zwischenschicht angeordnete amorphe Schicht besteht aus einem
amorphen Material, das in einer Matrix von Boratomen
Wasserstoffatome und/Halogenatome (X) enthält.
An der Grenzfläche zwischen der amorphen Schicht und der
fotoleitfähigen Schicht wird eine Sperrschicht oder Verarmungsschicht
gebildet, und die amorphe Schicht ist dazu
befähigt, eine Injektion von Elektronen von der Seite
des Trägers in die fotoleitfähige Schicht zu verhindern,
während die amorphe Schicht einen Durchgang der durch
Bestrahlung mit elektromagnetischen Wellen in der fotoleitfähigen
Schicht erzeugten Fototräger ermöglicht.
Es ist festgestellt worden, daß die in dem vorstehend beschriebenen erfindungsgemäßen
elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterial als Zwischenschicht
angeordnete amorphe Schicht dazu befähigt
ist, eine Injektion von Elektronen in die fotoleitfähige
Schicht zu verhindern, jedoch nicht in der Lage ist, eine
Injektion von positiven Löchern in die fotoleitfähige
Schicht zu verhindern. Das erfindungsgemäße elektrofotografische
Aufzeichnungsmaterial mit der vorstehend erwähnten Struktur hat
demnach eine spezifische Polarität, und für die Ladungsbehandlung
der Oberfläche dieses elektrofotografischen
Aufzeichnungsmaterials ist nur die Anwendung einer positiven Ladung bzw.
Aufladung geeignet.
Alle erfindungsgemäßen elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterialien, die
so aufgebaut sind, daß sie die vorstehend erwähnte
Schichtstruktur haben, können alle die verschiedenen
Probleme überwinden, die vorstehend beschrieben worden
sind, und diese elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterialien zeigen hervorragende
elektrische, optische und Fotoleitfähigkeitseigenschaften
und ein ausgezeichnetes Anpassungsvermögen
an die Umgebung während ihrer Anwendung.
Das erfindungsgemäße elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial ist besonders
im Fall einer Anwendung als
elektrofotografisches Bilderzeugungsmaterial in hervorragender Weise
dazu befähigt, Ladungen festzuhalten, ohne daß dieBilderzeugung
durch Restpotentiale beeinträchtigt
wird, und es hat stabile elektrische Eigenschaften
sowie einen hohen S/N-Wert und eine
hohe Empfindlichkeit. Es hat demnach eine hervorragende
Beständigkeit gegenüber der Lichtermüdung und ein
hervorragendes Anpassungsvermögen an die wiederholte Anwendung
und kann zur Erzeugung von sichtbaren Bildern
mit einer hohen Qualität, die eine hohe Dichte, einen
klaren Halbton und eine hohe Auflösung haben, führen.
Außerdem kann ein elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial mit bekanntem
Schichtaufbau sowohl im Fall von a-Si (H, X) mit hohem
spezifischem Dunkelwiderstand als auch im Fall von
a-Si (H, X) mit hoher Lichtempfindlichkeit nicht als
elektrofotografisches Bilderzeugungsmaterial eingesetzt
werden, weil die Neigung besteht, daß bei a-Si (H, X)
mit hohem spezifischem Dunkelwiderstand die Lichtempfindlichkeit
vermindert wird, während bei a-Si (H, X) mit hoher
Lichtempfindlichkeit der spezifische Dunkelwiderstand
niedrig ist und höchstens 10⁸ Ω · cm beträgt. Im Gegensatz
dazu kann bei dem erfindungsgemäßen elektrofotografischen
Aufzeichnungsmaterial auch ein a-Si (H, X) mit einem relativ niedrigen
spezifischen Widerstand (5 × 10⁹ Ω · cm oder mehr) auf der
Grundlage der besonderen Schichtstruktur eine fotoleitfähige
Schicht bilden,
weshalb ein a-Si (H, X), das eine hohe Empfindlichkeit,
jedoch einen relativ niedrigeren spezifischen Widerstand
hat, in ausreichendem Maße für das erfindungsgemäße
elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial zur Verfügung steht. Auf diese
Weise können die Beschränkungen, die im Hinblick auf die
Eigenschaften von a-Si (H, X) bestehen, vermindert bzw.
gemildert werden.
Bei dem elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterial mit der vorstehend beschriebenen
ersten Grundstruktur kann außerdem zwischen
dem Träger und der fotoleitfähigen Schicht eine untere
Sperrschicht vorgesehen werden, um während der Ladung einen
Dunkelabfall des Potentials zu verhindern. Auf diese
Weise wird eine Schichtstruktur gebildet, die aus einem
Träger, einer unteren Sperrschicht, einer fotoleitfähigen
Schicht und einer als Oberflächen-Sperrschicht dienenden amorphen Schicht besteht,
die in der erwähnten Reihenfolge laminiert sind. In diesem
Fall hat die untere Sperrschicht die Funktion, eine
Injektion von freien Ladungsträgern von der Seite des
Trägers in die fotoleitfähige Schicht in wirksamer Weise
zu verhindern und den Fototrägern, die in der fotoleitfähigen
Schicht bei der Bestrahlung mit elektromagnetischen
Wellen erzeugt werden, ein Herausfließen zu der Seite
des Trägers zu ermöglichen. Die untere Sperrschicht
kann vorzugsweise aus einem elektrisch isolierenden Metalloxid wie Al₂O₃ oder einem
amorphen Material, das in einer Matrix von Siliciumatomen
Kohlenstoffatome, Sauerstoffatome oder Stickstoffatome
enthält, bestehen.
Bei dem elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterial mit der vorstehend beschriebenen
zweiten Grundstruktur kann außerdem auf der
fotoleitfähigen Schicht eine Oberflächen-Sperrschicht vorgesehen
werden, um einen Dunkelabfall des Potentials während
der Ladung zu verhindern. Auf diese Weise wird eine
Schichtstruktur gebildet, die aus einem Träger, einer als
Zwischenschicht angeordneten amorphen Schicht, einer fotoleitfähigen Schicht und einer
Oberflächen-Sperrschicht besteht, die in der erwähnten
Reihenfolge laminiert sind. In diesem Fall hat die Oberflächen-
Sperrschicht die Funktion, eine Injektion von Ladungen
von der Seite der Oberfläche in die fotoleitfähige
Schicht in wirksamer Weise zu verhindern und den Fototrägern,
die bei der Bestrahlung mit elektromagnetischen
Wellen in der fotoleitfähigen Schicht erzeugt werden, eine
Rekombination mit Ladungen zu ermöglichen. Die Oberflächen-
Sperrschicht kann vorzugsweise aus einem elektrisch isolierenden Metalloxid
wie Al₂O₃ oder einem amorphen Material, das in einer
Matrix von Siliciumatomen Kohlenstoffatome, Sauerstoffatome
oder Stickstoffatome enthält, wie es nachstehend
beschrieben wird, bestehen.
Fig. 1 zeigt einen schematischen Schnitt, der zur Erläuterung
der Schichtstruktur der ersten Ausführungsform des
erfindungsgemäßen elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterials dient.
Das in Fig. 1 gezeigte elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial 100 weist
eine Schichtstruktur auf, die aus einem Träger 101,
einer auf dem Träger ausgebildeten
fotoleitfähigen Schicht 102 und einer in direkter
Berührung mit der fotoleitfähigen Schicht 102 ausgebildeten,
als Oberflächen-Sperrschicht dienenden amorphen Schicht 103 besteht.
Der Träger 101 kann entweder elektrisch leitend oder
isolierend sein. Als elektrisch leitende Substanzen
für die Herstellung des Trägers können Metalle wie NiCr, rostfreier Stahl, Al, Cr, Mo,
Au, Nb, Ta, V, Ti, Pt, Pd oder Legierungen davon erwähnt
werden.
Als isolierende Träger können üblicherweise Folien oder
Platten aus Kunstharzen wie Polyestern, Polyethylen,
Polycarbonaten, Celluloseacetat, Polypropylen, Polyvinylchlorid,
Polyvinylidenchlorid, Polystyrol oder Polyamiden,
Gläser, keramische Stoffe oder Papiere und andere
Werkstoffe eingesetzt werden. Diese isolierenden Träger
können vorzugsweise mindestens eine elektrisch leitend
gemachte Oberfläche aufweisen, und die anderen Schichten
werden geeigneterweise auf der Seite des Trägers ausgebildet,
die elektrisch leitend gemacht worden ist.
Glas kann beispielsweise elektrisch leitend gemacht
werden, indem man auf dem Glas eine dünne Schicht aus
NiCr, Al, Cr, Mo, Au, Ir, Nb, Ta, V, Ti, Pt, Pd, In₂O₃,
SnO₂ oder ITO (In₂O₃ + SnO₂) ausbildet. Alternativ kann die
Oberfläche einer Folie aus einem Kunstharz, beispielsweise
einer Polyesterfolie, durch Vakuumaufdampfung, Elektronenstrahl-
Abscheidung oder Zerstäubung eines Metalls
wie NiCr, Al, Ag, Pb, Zn, Ni, Au, Cr, Mo, Ir, Nb, Ta, V,
Ti oder Pt oder durch Laminieren mit einem solchen Metall
elektrisch leitend gemacht werden. Der Träger kann in
irgendeiner Form, beispielsweise in Form eines Zylinders,
eines Bandes oder einer Platte oder in anderen Formen,
gebildet werden, und die Form des Trägers kann nach
Wunsch festgelegt werden. Wenn das in Fig. 1 gezeigte
elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial 100 beispielsweise als
elektrofotografisches Bilderzeugungsmaterial eingesetzt
werden soll, kann es für die Anwendung zum kontinuierlichen
Kopieren mit hoher Geschwindigkeit erwünscht sein,
daß der Träger in Form eines endlosen Bandes oder eines
Zylinders gebildet wird. Der Träger kann eine Dicke haben,
die in geeigneter Weise so festgelegt wird, daß ein
gewünschtes elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial gebildet werden
kann. Wenn das elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial flexibel sein muß,
wird der Träger so dünn gemacht, wie dies unter der
Voraussetzung, daß er seine Funktion als Träger erfüllen
kann, möglich ist. In einem solchen Fall beträgt die
Dicke jedoch vom Standpunkt der Herstellung und Handhabung
des Trägers sowie seiner mechanischen Festigkeit aus
im allgemeinen 10 µm oder mehr.
Die amorphe Schicht 103 hat die Funktion, eine
Injektion von Oberflächenladungen in die fotoleitfähige
Schicht 102 in wirksamer Weise zu verhindern, wenn die
Oberfläche der Schicht geladen wird. D. h., daß an der
Grenzfläche zwischen der fotoleitfähigen Schicht 102
und der amorphen Schicht 103 eine Sperrschicht oder Verarmungsschicht
gebildet wird, die dazu befähigt ist,
eine Injektion von Elektronen in die fotoleitfähige
Schicht zu verhindern, und einen Durchgang von Ladungsträgern,
die durch Bestrahlung mit elektromagnetischen
Wellen erzeugt worden sind, zu ermöglichen.
Es wurde festgestellt, daß die als Oberflächen-Sperrschicht
des erfindungsgemäßen elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterials dienende amorphe Schicht dazu
befähigt ist, eine Injektion von Elektronen in die
fotoleitfähige Schicht zu verhindern, jedoch
fast nicht in der Lage ist, eine Injektion von positiven
Löchern in die fotoleitfähige Schicht zu verhindern. Demnach
hat das in Fig. 1 gezeigte elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial
eine spezifische Polarität, und bei der Ladungsbehandlung
der Oberfläche dieses elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterial kann
nur eine negative Ladung bzw. Aufladung angewendet werden.
Die amorphe Schicht 103 kann (a) aus einem
amorphen Material, das Boratome und Wasserstoffatome
enthält (nachstehend als a-B x H1-x bezeichnet), oder
(b) aus einem amorphen Material, das Boratome und
Halogenatome (X) enthält (nachstehend als a-B y H1-y bezeichnet),
oder (c) aus einem amorphen Material, das Boratome,
Wasserstoffatome und Halogenatome (X) enthält
[nachstehend als a-B α (H β X1-β )1-α bezeichnet], bestehen.
Nachstehend werden die vorstehend mit (a), (b) und
(c) bezeichneten, amorphen Materialien kurz mit "a-B (H, X)"
bezeichnet (O < x < 1; O < y < 1; O < α < 1; O < b < 1).
Die aus a-B (H, X) bestehende amorphe Schicht 103
kann vorzugsweise durch das nachstehend beschriebene
Glimmentladungsverfahren gebildet werden. Bei diesem Verfahren
werden B₂H₆, BF₃, BCl₃, die als gasförmige Ausgangsmaterialien
eingesetzt werden und, falls notwendig,
in einem gewünschten Mischungsverhältnis mit einem Verdünnungsglas
vermischt sein können, in eine Vakuumaufdampfungskammer
eingeführt, in die ein Träger 101 hineingebracht
worden ist, und das eingeführte Gas wird durch
Anregung einer Glimmentladung in der Vakuumaufdampfungskammer
in ein Gasplasma umgewandelt, wodurch auf einer
fotoleitfähigen Schicht 102, die bereits auf dem Träger
101 gebildet worden ist, das vorstehend erwähnte amorphe
Material abgeschieden wird.
Falls notwendig, können in die
amorphe Schicht 103 auch Atome der Gruppe II des
Periodensystems (beispielsweise Be-Atome) oder Atome der
Gruppe IV des Periodensystems (beispielsweise Si- oder
C-Atome) dotiert werden.
Bei der Bildung der aus a-B (H, X) bestehenden amorphen
Schicht 103 auf der oberen Oberfläche der fotoleitfähigen
Schicht 102 stellt die Trägertemperatur während der Schichtbildung
eine wichtige Einflußgröße dar, die die Struktur und
die Eigenschaften der gebildeten amorphen Schicht beeinflußt.
Die Trägertemperatur während der
Schichtbildung wird genau gesteuert, damit a-B (H, X) hergestellt
werden kann, das genau die gewünschten Eigenschaften
hat.
Für eine wirksame Lösung der Aufgabe der Erfindung beträgt
die Trägertemperatur während der Bildung der
amorphen Schicht 103 im allgemeinen 20° bis 350°C
und vorzugsweise 150° bis 300°C.
Für die mit einer guten Produktivität erfolgende, wirksame
Herstellung von a-B (H, X), das die Eigenschaften hat,
durch die die Aufgabe der Erfindung gelöst wird, beträgt
die Entladungsleistung im allgemeinen 2 bis 100 W und vorzugsweise
5 bis 50 W.
Auch der Gehalt an Wasserstoffatomen und Halogenatomen
in der als Oberflächen-Sperrschicht des erfindungsgemäßen
elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterials dienenden amorphen
Schicht stellt eine wichtige Einflußgröße für die Herstellung einer amorphen Schicht mit
den erwünschten Eigenschaften dar.
Der Gehalt der Wasserstoffatome oder der Halogenatome in der als
Oberflächen-Sperrschicht des erfindungsgemäßen elektrofotografischen
Aufzeichnungsmaterials dienenden amorphen Schicht beträgt im allgemeinen 1 bis 50 Atom-
Prozent, vorzugsweise 5 bis 40 Atom-Prozent und insbesondere
10 bis 40 Atom-Prozent, d. h., daß in den vorstehend
erwähnten Formeln a-B x H1-x oder a-B y H1-y x und y im allgemeinen
0,99 bis 0,5, vorzugsweise 0,95 bis 0,6 und insbesondere
0,9 bis 0,6 betragen. Wenn in der amorphen
Schicht sowohl Wasserstoffatome als auch Halogenatome
enthalten sind, beträgt die Summe des Gehalts der Wasserstoffatome
und der Halogenatome im allgemeinen 1 bis 50 Atom-
Prozent und vorzugsweise 5 bis 40 Atom-Prozent, d. h., daß
in der vorstehend erwähnten Formel a-B α (H β X1-β )1-α α im
allgemeinen 0,99 bis 0,5 und vorzugsweise 0,95 bis 0,6
beträgt, während β im allgemeinen 0,98 bis 0,2 und vorzugsweise
0,9 bis 0,4 beträgt.
Auch der numerische Bereich der Schichtdicke der amorphen
Schicht 103 des erfindungsgemäßen elektrofotografischen
Aufzeichnungsmaterials stellt eine wichtige Einflußgröße für eine wirksame
Lösung der Aufgabe der Erfindung dar.
Wenn die Schichtdicke der amorphen Schicht 103 zu
gering ist, kann die Funktion der Verhinderung der Injektion
von Oberflächenladungen von der Oberfläche in die
fotoleitfähige Schicht 102 nicht in ausreichendem Maße
erfüllt werden. Andererseits kann eine zu hohe Schichtdicke
dazu führen, daß die Fähigkeit zur Verhinderung der
Injektion vermindert wird, oder die Wahrscheinlichkeit,
daß Fototräger durch die amorphe Schicht hindurchgehen und
mit Oberflächenladungen rekombinieren, ist im Fall einer
zu hohen Schichtdicke sehr gering. Die Aufgabe der Erfindung
kann deshalb in keinem dieser Fälle in wirksamer
Weise gelöst werden.
Für eine wirksame Lösung der Aufgabe der Erfindung beträgt
die Schichtdicke der amorphen Schicht 103
im allgemeinen 3,0 nm bis 1 µm vorzugsweise 5,0 nm bis
500,0 nm und insbesondere 5,0 nm bis 100,0 nm.
Die auf dem Träger 101 gebildete fotoleitfähige Schicht
102 besteht aus a-Si (H, X) mit den nachstehend gezeigten
Halbleitereigenschaften, damit die Aufgabe der Erfindung
gelöst wird.
- 1) a-Si (H, X) vom p-Typ: Dieser Typ enthält nur einen Akzeptor oder sowohl einen Donator als auch einen Akzeptor, wobei die Konzentration des Akzeptors relativ höher ist;
- 2) a-Si (H, X) vom p--Typ: Bei diesem Typ handelt es sich um einen Typ von 1), der den Akzeptor mit einer relativ niedrigeren Konzentration enthält;
- 3) a-Si (H, X) vom n-Typ: Dieser Typ enthält nur einen Donator oder sowohl einen Donator als auch einen Akzeptor, wobei die Konzentration des Donators relativ höher ist;
- 4) a-Si (H, X) vom n--Typ: Bei diesem Typ handelt es sich um einen Typ von 3), der den Donator mit einer relativ niedrigeren Konzentration enthält;
- 5) a-Si (H, X) vom i-Typ: Bei diesem Typ gilt Na ≃ Nd ≃ O oder Na ≃ Nd, wobei Na die Konzentration des Akzeptors und Nd die Konzentration des Donators ist.
Typische Beispiele für Halogenatome (X), die
in die fotoleitfähige Schicht 102 einzubauen sind,
sind Fluor, Chlor, Brom und Jod, wobei Fluor und Chlor
besonders bevorzugt werden.
Einen aus a-Si (H, X) bestehende fotoleitfähige
Schicht 102 kann nach dem Vakuumaufdampfungsverfahren
unter Anwendung der Entladungserscheinung, beispielsweise
durch das Glimmentladungsverfahren, das Zerstäubungsverfahren
oder das Ionenplattierverfahren, gebildet
werden. Für die Bildung einer aus a-Si (H, X) bestehenden
fotoleitfähigen Schicht nach dem Glimmentladungsverfahren
wird beispielsweise ein gasförmiges Ausgangsmaterial
für den Einbau von Wasserstoffatomen und/
oder Halogenatomen zusammen mit einem gasförmigen Ausgangsmaterial
für die Zuführung von Siliciumatomen in
eine Abscheidungskammer, deren Innendruck vermindert werden
kann, eingeführt, und in der Abscheidungskammer wird
zur Bildung einer aus a-Si (H, X) bestehenden Schicht auf
der Oberfläche eines Trägers, der in der Abscheidungskammer
in eine vorbestimmte Lage gebracht worden ist, eine
Glimmentladung erzeugt. Wenn die fotoleitfähige Schicht
nach dem Zerstäubungsverfahren gebildet werden soll, kann
ein gasförmiges Ausgangsmaterial für den Einbau von Wasserstoffatomen
und/oder Halogenatomen bei der Zerstäubung
eines aus Silicium gebildeten Targets in
einer Atmosphäre aus einem Inertgas wie Ar, He oder in einer
auf diesen Gasen basierenden Gasmischung in die Zerstäubungskammer
eingeführt werden.
Als wirksame gasförmige Ausgangsmaterialien für die Zuführung
von Si,
können beispielsweise gasförmige oder vergasbare Siliciumhydride
(Silane) wie SiH₄, Si₂H₆, Si₃H₈ oder Si₄H₁₀ erwähnt
werden. SiH₄ und Si₂H₆ werden im Hinblick auf die
leichte Handhabung während der Schichtbildung und die Wirksamkeit
bezüglich der Zuführung von Si besonders bevorzugt.
Als wirksame gasförmige Ausgangsmaterialien für den Einbau
von Halogenatomen
kann eine Anzahl von gasförmigen oder vergasbaren
Halogenverbindungen wie gasförmige Halogene, Halogenide,
Interhalogenverbindungen und halogensubstituierte Silanderivate
erwähnt werden.
Alternativ ist im Rahmen der Erfindung auch der Einsatz
einer gasförmigen oder vergasbaren, Halogenatome enthaltenden
Siliciumverbindung, die aus Siliciumatomen und Halogenatomen
aufgebaut ist, wirksam.
Typische Beispiele für Halogenverbindungen, die
vorzugsweise eingesetzt werden, sind gasförmige Halogene
wie Fluor, Chlor, Brom oder Jod und Interhalogenverbindungen
wie BrF, ClF, ClF₃, BrF₅, BrF₃, JF₃, JF₇,
JCl oder JBr.
Als Halogenatome enthaltende Siliciumverbindungen werden
beispielsweise sogenannte halogensubstituierte Silanderivate
oder Siliciumhalogenide wie SiF₄, Si₂F₆, SiCl₄ oder
SiBr₄ bevorzugt.
Wenn das erfindungsgemäße elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial nach
dem Glimmentladungsverfahren unter Anwendung einer solchen
Halogenatome enthaltenden Siliciumverbindung gebildet
wird, kann auf einem gegebenen Träger eine aus
a-Si:X bestehende fotoleitfähige Schicht ohne Einsatz
eines gasförmigen Siliciumhydrids als zur Zuführung von
Si befähigtem gasförmigem Ausgangsmaterial gebildet
werden.
Bei der Bildung der Halogenatome enthaltenden fotoleitfähigen
Schicht 102 nach dem Glimmentladungsverfahren besteht
die grundlegende Verfahrensweise darin, daß ein gasförmiges
Ausgangsmaterial für die Zuführung von Si, nämlich
ein gasförmiges Siliciumhalogenid, und ein Gas wie
Ar, H₂ oder He in einem vorbestimmten Verhältnis in einer
geeigneten Menge in eine zur Bildung einer fotoleitfähigen
Schicht dienende Abscheidungskammer eingeleitet werden,
worauf zur Bildung einer Plasmaatmosphäre aus diesen
Gasen eine Glimmentladung angeregt und dadurch auf einem
Träger eine fotoleitfähige Schicht gebildet wird. Eine fotoleitfähige
Schicht kann auch gebildet werden, indem eine gasförmige,
Wasserstoffatome enthaltende Siliciumverbindung in einem
geeigneten Verhältnis mit diesen Gasen vermischt wird, um
in die Schicht Wasserstoffatome einzubauen.
Die zur Einführung der jeweiligen Atome dienenden Gase
können jeweils entweder in Form einer einzelnen Spezies
oder in Form einer Mischung von mehreren Spezies in einem
vorbestimmten Verhältnis eingesetzt werden.
Für die Bildung einer aus a-Si (H, X) bestehenden fotoleitfähigen
Schicht nach dem Reaktions-Zerstäubungsverfahren
oder dem Ionenplattierverfahren wird beispielsweise ein
Target aus Si eingesetzt und im Fall des Zerstäubungsverfahrens
in einer geeigneten Gasplasmaatmosphäre zerstäubt.
Alternativ wird im Fall des Ionenplattierverfahrens ein
polykristallines Silicium oder Einkristallsilicium als
Verdampfungsquelle in ein Aufdampfungsschiffchen hineingebracht,
und die Silicium-Verdampfungsquelle wird durch
Erhitzen nach dem Widerstands-Heizverfahren oder dem Elektronenstrahlverfahren
verdampft, wobei die verdampften,
fliegenden bzw. verflüchtigten Substanzen durch eine geeignete
Gasplasmaatmosphäre hindurchgehen gelassen werden.
Während dieser Verfahrensweise kann sowohl beim Zerstäubungsverfahren
als auch beim Ionenplattierverfahren für
den Einbau von Halogenatomen in die gebildete fotoleitfähige Schicht eine
gasförmige Halogenverbindung, wie sie vorstehend erwähnt
worden ist, oder eine halogenhaltige Siliciumverbindung,
wie sie vorstehend erwähnt worden ist, in die
Abscheidungskammer eingeleitet werden, um in der Abscheidungskammer
eine Plasmaatmosphäre aus diesem Gas zu bilden.
Wenn in die fotoleitfähige Schicht Wasserstoffatome eingebaut werden sollen, kann ein
gasförmiges Ausgangsmaterial für den Einbau von Wasserstoffatomen,
beispielsweise H₂ oder ein Gas wie die vorstehend
erwähnten Silane, in die zur Zerstäubung dienende
Abscheidungskammer eingeleitet werden, worauf eine
Plasmaatmosphäre aus diesen Gasen gebildet wird.
Als gasförmige Ausgangsmaterialien
für die Einführung von Halogenatomen können die Halogenverbindungen
oder die halogenhaltigen Siliciumverbindungen, die
vorstehend erwähnt worden sind, in wirksamer Weise eingesetzt
werden. Als wirksame Ausgangsmaterialien für die
Bildung einer fotoleitfähigen Schicht können außerdem
auch gasförmige oder vergasbare Halogenide eingesetzt
werden, die Wasserstoffatome als eine der an ihrem Aufbau
beteiligten Atomarten enthalten, wozu beispielsweise
Halogenwasserstoffe wie HF, HCl, HBr oder HJ oder halogensubstituierte
Siliciumhydride wie SiH₂F₂, SiH₂J₂,
SiH₂Cl₂, SiHCl₃, SiH₂Br₂ oder SiHBr₃ gehören.
Diese Wasserstoffatome enthaltenden Halogenide, durch
die während der Bildung der fotoleitfähigen Schicht
gleichzeitig mit der Einführung von Halogenatomen auch
Wasserstoffatome, die bezüglich der Steuerung der
elektrischen oder optischen Eigenschaften sehr wirksam
sind, in die fotoleitfähige Schicht eingeführt werden können, können
vorzugsweise als Ausgangsmaterial für den Einbau von Halogenatomen
eingesetzt werden.
Für den Einbau von Wasserstoffatomen in die Struktur der
fotoleitfähigen Schicht kann es zulässig sein, daß H₂
oder ein gasförmiges Siliciumhydrid wie SiH₄, Si₂H₆,
Si₃H₈ oder Si₄H₁₀ zusammen mit einer zur Zuführung von Si dienenden
Siliciumverbindung in einer Abscheidungskammer vorhanden
ist, in der eine Entladung angeregt wird.
Im Fall des Reaktions-Zerstäubungsverfahrens wird beispielsweise
ein Si-Target eingesetzt, und ein zur Einführung
von Halogenatomen dienendes Gas und H₂-Gas werden,
zusammen mit einem Inertgas wie He oder Ar, falls dies
notwendig ist, in eine Abscheidungskammer eingeleitet,
in der zur Zerstäubung des Si-Targets eine Plasmaatmosphäre
gebildet wird, wodurch auf einem Träger eine aus
a-Si (H, X) bestehende fotoleitfähige Schicht gebildet
wird.
Außerdem kann zur Dotierung mit Fremdstoffen auch ein
Gas wie B₂H₆, PH₃ oder PF₃ eingeleitet werden.
Die Menge der Wasserstoffatome oder Halogenatome,
die in die fotoleitfähige Schicht des erfindungsgemäßen
elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterials eingebaut werden, oder die Gesamtmenge
dieser beiden Atomarten kann im allgemeinen
1 bis 40 Atom-Prozent und vorzugsweise 5 bis 30 Atom-
Prozent betragen.
Für die Steuerung der Mengen der Wasserstoffatome
und/oder Halogenatome in der fotoleitfähigen Schicht
können die Trägertemperatur während der Abscheidung und/
oder die Mengen der in das Abscheidungs-Vorrichtungssystem
einzuführenden Ausgangsmaterialien für den Einbau
von Wasserstoffatomen oder Halogenatomen oder
die Entladungsleistung gesteuert werden.
Um der fotoleitfähigen Schicht Leitfähigkeit vom n-, p-
oder i-Typ zu verleihen, können ein Fremdstoff vom n-Typ,
ein Fremdstoff vom p-Typ oder Fremdstoffe von beiden
Typen während der Bildung der fotoleitfähigen Schicht nach dem Glimmentladungsverfahren
oder dem Reaktions-Zerstäubungsverfahren
in einer gesteuerten Menge in die Schicht hineingegeben
werden.
Als Fremdstoff, der in die fotoleitfähige Schicht hineinzugeben
ist, um der Schicht Leitfähigkeit vom p-Typ zu
verleihen, kann vorzugsweise ein Element der Gruppe III-A
des Periodensystems wie B, Al, Ga, In oder Tl erwähnt
werden.
Als Fremdstoff vom n-Typ kann vorzugsweise ein Element
der Gruppe V-A des Periodensystems wie N, P, Sb oder Bi
eingesetzt werden.
Die vorstehend beschriebenen Fremdstoffe sind in der fotoleitfähigen
Schicht in einer Menge in der Größenordnung von ppm enthalten,
weshalb es nicht notwendig ist, der durch diese
Fremdstoffe verursachten Umweltverschmutzung eine so große
Aufmerksamkeit zu schenken wie im Fall der die fotoleitfähige
Schicht bildenden Hauptbestandteile, jedoch
werden auch als Fremdstoffe vorzugsweise Substanzen eingesetzt,
die eine möglichst geringe Umweltverschmutzung
verursachen. Von diesem Gesichtspunkt aus und auch im
Hinblick auf die elektrischen und optischen Eigenschaften
der gebildeten Schicht werden Substanzen wie B, Ga, P
oder Sb am meisten bevorzugt. Außerdem können die Eigenschaften
der fotoleitfähigen Schicht beispielsweise auch
durch interstitielles Dotieren mit Substanzen wie Li mittels
thermischer Diffusion oder Implantation so gesteuert
werden, daß der Schicht-Leitfähigkeit vom n-Typ verliehen
wird. Die Menge des in die fotoleitfähige Schicht hineinzugebenden
Fremdstoffes wird in geeigneter Weise in Abhängigkeit
von den gewünschten elektrischen und optischen
Eigenschaften festgelegt. Bei einem Fremdstoff der
Gruppe III-A des Periodensystems beträgt die Menge im
allgemeinen bis zu 5 · 10-3 Atom-Prozent, um der Schicht
Leitfähigkeit vom n--, i- oder p--Typ zu verleihen, während
bei einem Fremdstoff der Gruppe III-A die Menge
5 × 10-3 bis 3 × 10-2 Atom-Prozent beträgt, um der
Schicht Leitfähigkeit vom p-Typ zu verleihen. Ein Fremdstoff
der Gruppe V-A des Periodensystems wird geeigneterweise
in einer Menge von 5 × 10-3 Atom-Prozent oder weniger
hinzugegeben, um der Schicht Leitfähigkeit vom n-Typ
zu verleihen.
Die Schichtdicke der fotoleitfähigen Schicht des erfindungsgemäßen
elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterial kann nach Wunsch
in geeigneter Weise in Übereinstimmung mit dem Anwendungszweck,
beispielsweise in Abhängigkeit davon, ob das elektrofotografische
Aufzeichnungsmaterial als Lesevorrichtung, als Bildaufnahmevorrichtung
bzw. Bildabtastvorrichtung oder als
elektrofotografisches Bilderzeugungsmaterial eingesetzt
werden soll, festgelegt werden.
Die Schichtdicke der fotoleitfähigen Schicht wird
geeigneterweise so in Beziehung zu der Dicke
der als Oberflächen-Sperrschicht dienenden amorphen Schicht festgelegt, daß für eine
wirksame Lösung der Aufgabe der Erfindung sowohl die
Funktionen der fotoleitfähigen Schicht als auch die
Funktion der amorphen Schicht in wirksamer Weise erfüllt
werden können. Die fotoleitfähige Schicht kann im allgemeinen
vorzugsweise einige hundertmal bis einige tausendmal
so dick sein wie die als Oberflächen-Sperrschicht
dienende amorphe Schicht.
Alternativ kann die Schichtdicke der fotoleitfähigen
Schicht nach Wunsch in geeigneter Weise so festgelegt
werden, daß die injizierten Fototräger in wirksamer Weise
erzeugt und in wirksamer Weise in einer bestimmten
Richtung transportiert werden können, jedoch beträgt die
Schichtdicke der fotoleitfähigen Schicht im allgemeinen
3 bis 100 µm und vorzugsweise 5 bis 50 µm.
Im Rahmen der Erfindung kann als fotoleitfähige Schicht
102 eine Schicht angewendet werden, die einen relativ
niedrigeren spezifischen Widerstand hat, weil die
amorphe Schicht 103 vorgesehen ist, die aus dem vorstehend
beschriebenen amorphen Material besteht. Der spezifische
Dunkelwiderstand der gebildeten fotoleitfähigen
Schicht 102 kann jedoch vorzugsweise 5 × 10⁹ Ω · cm oder
mehr und insbesondere 10¹⁰ Ω · cm oder mehr betragen, um
bessere Ergebnisse zu erzielen.
Besonders im Fall der Anwendung des hergestellten elektrofotografischen
Aufzeichnungsmaterials als elektrofotografisches Bilderzeugungsmaterial,
als hochempfindliche Lesevorrichtung
oder als Bildaufnahmevorrichtung bzw. Bildabtastvorrichtung,
die für den Einsatz in Bereichen mit einer
niedrigen Beleuchtungsstärke vorgesehen sind, oder
als fotoelektrischer Wandler stellt der numerische Wert
des spezifischen Dunkelwiderstandes eine wichtige
Einflußgröße dar.
Fig. 2 zeigt einen schematischen Schnitt, der zur Erläuterung
der Schichtstruktur der zweiten Ausführungsform
des erfindungsgemäßen elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterials
dient.
Das in Fig. 2 gezeigte elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial 200 besteht
aus einem Träger 201,
einer auf dem Träger befindlichen unteren Sperrschicht
204, einer in direkter Berührung mit der unteren Sperrschicht
204 ausgebildeten fotoleitfähigen Schicht 202
und einer als Oberflächen-Sperrschicht dienenden amorphen Schicht 203.
Die in Fig. 2 gezeigte Schichtstruktur weist demnach
zusätzlich zu der Schichtstruktur des unter Bezugnahme
auf Fig. 1 beschriebenen elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterials
eine untere Sperrschicht 204 auf.
Die untere Sperrschicht 204 hat die Funktion, eine Injektion
von freien Ladungsträgern von der Seite des Trägers
201 in Richtung zu der Seite der fotoleitfähigen Schicht
202 in wirksamer Weise zu verhindern und den Fototrägern,
die bei der Bestrahlung mit elektromagnetischen Wellen
in der fotoleitfähigen Schicht erzeugt und in Richtung
zu der Seite des Trägers 201 bewegt werden, einen leichten
Durchgang von der Seite der fotoleitfähigen Schicht
202 zu der Seite des Trägers 201 zu ermöglichen.
Die untere Sperrschicht besteht aus einer Matrix von Siliciumatomen,
die mindestens eine aus Kohlenstoffatomen,
Stickstoffatomen und Sauerstoffatomen ausgewählte
Atomart und außerdem, falls notwendig, Wasserstoffatome
und/oder Halogenatome enthält [diese Materialien
werden kurz mit a-[Si γ (C, N, O)1-γ ] δ (H, X)1-δ ,
(worin O < γ < 1; O < δ < 1) bezeichnet], oder die untere
Sperrschicht besteht aus einem elektrisch isolierenden
Metalloxid.
Als Halogenatome (X), die in dem die vorstehend erwähnte
untere Sperrschicht bildenden amorphen Material enthalten
sind, werden F, Cl, Br und J und insbesondere
F und Cl bevorzugt.
Typische Beispiele für die amorphen Materialien, die
in wirksamer Weise für die Bildung
der vorstehend erwähnten unteren Sperrschicht 204 eingesetzt
werden können, sind amorphe Materialien vom Kohlenstofftyp
wie a-Si a C1-a , a-(Si b C1-b ) c H1-c , a-(Si d C1-d ) e X1-e
und a-(Si f C1-f ) g (H+X)1-g ; amorphe Materalien vom Stickstofftyp
wie a-Si h N1-h , a-(Si i N1-i ) j H1-j , a-(Si k N1-k ) l X1-l
und a-(Si m N1-m ) n (H+X)1-n ; amorphe Materialien vom Sauerstofftyp
wie a-Si o O1-o , a-(Si p O1-p ) q H1-q , a-(Si r O1-r ) s X1-s
und a-(Si t O1-t ) u (H+X)1-u sowie amorphe Materialien, die
als am Aufbau beteiligte Atome in den vorstehend erwähnten
amorphen Materalien mindestens zwei aus Kohlenstoffatomen
(C), Stickstoffatomen (N) und Sauerstoffatomen (O)
ausgewählte Atomarten enthalten (worin O < a, b, c, d, e,
f, g, h, i, j, k, l, m, n, o, p, q, r, s, t, u < 1).
Diese amorphen Materialien werden in optimaler Weise in
Abhängigkeit von den erforderlichen Eigenschaften der unteren
Sperrschicht 204, der optimalen Gestaltung der
Schichtstruktur und der Leichtigkeit der anschließenden
Herstellung der auf die untere Sperrschicht 204 laminierten
fotoleitfähigen Schicht 202 und der amorphen
Schicht 203 gewählt. Besonders vom Standpunkt der Eigenschaften
aus wird vorzugsweise ein amorphes Material vom
Kohlenstofftyp oder Stickstofftyp gewählt.
Die aus dem vorstehend erwähnten amorphen Material bestehende
untere Sperrschicht 204 kann durch das Glimmentladungsverfahren,
das Zerstäubungsverfahren, das Ionenimplantationsverfahren, das
Elektronenstrahlverfahren oder andere Verfahren gebildet
werden. Diese Fertigungsverfahren werden in geeigneter
Weise in Abhängigkeit von Einflußgrößen wie den Fertigungsbedingungen,
dem für die Betriebsanlage erforderlichen Kapitalaufwand,
dem Fertigungsmaßstab und den gewünschten
Eigenschaften der herzustellenden elektrofotografischen
Aufzeichnungsmaterialien gewählt. Das Glimmentladungsverfahren oder das Zerstäubungsverfahren wird jedoch vorzugsweise angewendet,
weil diese Verfahren den Vorteil haben, daß die Bedingungen
für die Herstellung eines elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterials
mit gewünschten Eigenschaften leicht gesteuert werden
können und daß es einfach ist, in die hergestellte untere
Sperrschicht 204 zusammen mit Siliciumatomen andere
erforderliche Atome wie Kohlenstoffatome, Stickstoffatome,
Sauerstoffatome oder Wasserstoffatome und Halogenatome
einzubauen.
Außerdem können zur Bildung der unteren
Sperrschicht 204 das Glimmentladungsverfahren und das
Zerstäubungsverfahren in Kombination in dem gleichen Vorrichtungssystem
angewendet werden.
Für die Bildung der unteren Sperrschicht 204 nach dem
Glimmentladungsverfahren werden die gasförmigen Ausgangsmaterialien
für die Bildung des vorstehend erwähnten,
amorphen Materials, die, falls erforderlich, in einem gewünschten
Mischungsverhältnis mit einem Verdünnungsgas
vermischt sein können, in eine zur Vakuumaufdampfung dienende
Kammer eingeleitet, in die der Träger 201 hineingebracht
worden ist, und das eingeleitete Gas wird durch
Anregung einer Glimmentladung in der Kammer in ein Gasplasma
umgewandelt, wodurch das vorstehend erwähnte,
amorphe Material auf dem Träger 201 abgeschieden wird.
Zu den Substanzen, die in wirksamer Weise
als Ausgangsmaterialien für die Bildung der unteren Sperrschicht
204, die aus einem amorphen Material vom Kohlenstofftyp
besteht, eingesetzt werden können, gehören gasförmige
Siliciumhydride, die aus Siliciumatomen und
Wasserstoffatomen bestehen, beispielsweise Silane
wie SiH₄, Si₂H₆, Si₃H₈ und Si₄H₁₀, und Kohlenwasserstoffe,
die aus Kohlenstoffatomen und Wasserstoffatomen
bestehen, beispielsweise gesättigte Kohlenwasserstoffe
mit 1 bis 5 Kohlenstoffatomen, Ethylen-Kohlenwasserstoffe
mit 2 bis 5 Kohlenstoffatomen oder Acetylen-Kohlenwasserstoffe
mit 2 bis 4 Kohlenstoffatomen.
Im einzelnen können als typische Beispiele für solche
Ausgangsmaterialien gesättigte Kohlenwasserstoffe wie
Methan (CH₄), Ethan (C₂H₆), Propan (C₃H₈), n-Butan
(n-C₄H₁₀) und Pentan (C₅H₁₂), Ethylen-Kohlenwasserstoffe
wie Ethylen (C₂H₄), Propylen (C₃H₆), Buten-1 (C₄H₈),
Buten-2 (C₄H₈), Isobutylen (C₄H₈) und Penten (C₅H₁₀) und
Acetylen-Kohlenwasserstoffe wie Acetylen (C₂H₂), Methylacetylen
(C₃H₄) und Butin (C₄H₆) erwähnt werden.
Typische Beispiele für gasförmige Ausgangsmaterialien,
die Siliciumatome, Kohlenstoffatome und Wasserstoffatome
als am Aufbau beteiligte Atome enthalten,
sind Alkylsilane wie Si(CH₃)₄ und Si(C₂H₅)₄. Zusätzlich
zu diesen gasförmigen Ausgangsmaterialien kann
H₂ in wirksamer Weise als gasförmiges Ausgangsmaterial
für den Einbau von Wasserstoffatomen eingesetzt
werden.
Zu den für den Einbau von Halogenatomen dienenden
gasförmigen Ausgangsmaterialien für die Bildung einer unteren
Sperrschicht 204, die aus einem Halogenatome
enthaltenden, amorphen Material vom Kohlenstofftyp besteht,
gehören beispielsweise einfache Halogensubstanzen,
Halogenwasserstoffe, Interhalogenverbindungen, Siliciumhalogenide
und halogensubstituierte Siliciumhydride.
Im einzelnen können als Beispiele für solche gasförmigen
Ausgangsmaterialien einfache Halogensubstanzen wie die
gasförmigen bzw. in Gasform eingesetzten Halogene Fluor,
Chlor, Brom und Jod, Halogenwasserstoffe wie HF, HJ, HCl
und HBr, Interhalogenverbindungen wie BrF, ClF, ClF₃,
ClF₅, BrF₅, JF₇, JF₅, JCl und JBr, Siliciumhalogenide wie
SiF₄, Si₂F₆, SiCl₄, SiCl₃Br, SiCl₂Br₂, SiClBr₃, SiCl₃J
und SiBr₄ und halogensubstituierte Siliciumhydride wie
SiH₂F₂, SiH₂Cl₂, SiHCl₃, SiH₃Cl, SiH₃Br, SiH₂Br₂ und
SiHBr₃ erwähnt werden.
Zusätzlich zu den vorstehend erwähnten Ausgangsmaterialien
können als Ausgangsmaterialien, die für die Bildung
der unteren Sperrschicht geeignet sind, halogensubstituierte
Paraffin-Kohlenwasserstoffe wie CCl₄, CHF₃, CH₂F₂,
DH₃F, CH₃Cl, CH₃Br, CH₃J und C₂H₅Cl, fluorierte Schwefelverbindungen
wie SF₄ und SF₆ und halogenhaltige Alkylsilane
wie SiCl(CH₃)₃, SiCl₂(CH₃)₂ und SiCl₃CH₃ erwähnt
werden.
Diese zur Bildung der unteren Sperrschicht dienenden
Substanzen werden in gewünschter Weise gewählt und so bei
der Bildung der unteren Sperrschicht eingesetzt, daß in
die gebildete untere Sperrschicht Siliciumatome, Kohlenstoffatome
und, falls notwendig, Halogenatome und Wasserstoffatome
in einer gewünschten Zusammensetzung eingebaut
werden können.
Beispielsweise können Si(CH₃)₄, mit dem auf einfache
Weise ein Einbau von Siliciumatomen, Kohlenstoffatomen
und Wasserstoffatomen erzielt und eine Sperrschicht mit
gewünschten Eigenschaften gebildet werden kann, und
SiHCl₃, SiCl₄, SiH₂Cl₂ oder SiH₃Cl als Substanz für den
Einbau von Halogenatomen in einem vorbestimmten Mischungsverhältnis
im gasförmigen Zustand in eine zur
Bildung einer Sperrschicht dienende Vorrichtung eingeführt
werden, wobei in der Vorrichtung zur Bildung einer
aus a-(Si f C1-f ) g (H+X)1-g bestehenden Sperrschicht eine
Glimmentladung angeregt wird.
Wenn zur Bildung einer unteren Sperrschicht 204, die aus
einem amorphen Material vom Stickstofftyp besteht, das
Glimmentladungsverfahren angewendet wird, können
aus den vorstehend für die Bildung der
unteren Sperrschicht erwähnten Ausgangsmaterialien in
gewünschter Weise ausgewählte Substanzen in Kombination
mit einem gasförmigen Ausgangsmaterial für den Einbau
von Stickstoffatomen eingesetzt werden. Als Ausgangsmaterialien
für den Einbau von Stickstoffatomen zur Bildung
der unteren Sperrschicht 204 können demnach gasförmige
oder vergasbare Stickstoffverbindungen, die aus Stickstoffatomen
oder aus Stickstoffatomen und Wasserstoffatomen
bestehen, wie Stickstoff (N₂), Nitride
und Azide erwähnt werden, wozu beispielsweise Ammoniak
(NH₃), Hydrazin (H₂NNH₂), Stickstoffwasserstoffsäure (HN₃)
und Ammoniumazid (NH₄N₃) gehören. Es ist außerdem auch
möglich, eine Stickstoffhalogenidverbindung wie Stickstofftrifluorid
(NF₃) oder Stickstofftetrafluorid (N₂F₄)
einzusetzen, durch die Stickstoffatome und Halogenatome
eingebaut werden können.
Wenn für die Bildung einer unteren Sperrschicht 204, die
aus einem amorphen Material vom Sauerstofftyp besteht,
das Glimmentladungsverfahren angewendet wird, wird aus
den vorstehend für die Bildung der unteren Sperrschicht
204 erwähnten Ausgangsmaterialien eine gewünschte Substanz
ausgewählt, und in Kombination damit kann ein Ausgangsmaterial
eingesetzt werden, das ein gasförmiges Ausgangsmaterial
für die Zuführung von Sauerstoffatomen sein
kann. Als Ausgangsmaterialien für den Einbau von Sauerstoffatomen
können die meisten gasförmigen Substanzen
oder vergasbaren Substanzen in vergaster Form eingesetzt
werden, die Sauerstoffatome als am Aufbau beteiligte
Atome enthalten.
Es kann beispielsweise eine Mischung aus einem gasförmigen
Ausgangsmaterial mit Siliciumatomen als am Aufbau
beteiligten Atomen, einem gasförmigen Ausgangsmaterial
mit Sauerstoffatomen als am Aufbau beteiligten
Atomen und, falls notwendig, einem Gas mit Wasserstoffatomen
und/oder Halogenatomen als am Aufbau
beteiligten Atomen in einem gewünschten Mischungsverhältnis
eingesetzt werden. Alternativ kann auch eine Mischung
aus einem gasförmigen Ausgangsmaterial mit Siliciumatomen
als am Aufbau beteiligten Atomen und einem gasförmigen
Ausgangsmaterial mit Sauerstoffatomen und Wasserstoffatomen
als am Aufbau beteiligten Atomen in einem
gewünschten Mischungsverhältnis eingesetzt werden. Außerdem
kann auch eine Mischung aus einem gasförmigen Ausgangsmaterial
mit Siliciumatomen als am Aufbau beteiligten
Atomen und einem gasförmigen Ausgangsmaterial mit den
drei Atomarten Siliciumatome, Sauerstoffatome und
Wasserstoffatome als am Aufbau beteiligten Atomen eingesetzt
werden.
Bei einem anderen Verfahren kann auch eine Mischung aus
einem gasförmigen Ausgangsmaterial mit Siliciumatomen
und Wasserstoffatomen als am Aufbau beteiligten Atomen
und einem gasförmigen Ausgangsmaterial mit Sauerstoffatomen
als am Aufbau beteiligten Atomen eingesetzt
werden.
Im einzelnen als Ausgangsmaterialien für die Einführung
von Sauerstoffatomen beispielsweise Sauerstoff
(O₂), Ozon (O₃), Kohlenmonoxid (CO), Kohlendioxid (CO₂),
Stickstoffmonoxid (NO), Distickstoffoxid (N₂O), Stickstoffdioxid
(NO₂), Distickstofftrioxid (N₂O₃), Distickstofftetraoxid
(N₂O₄), Distickstoffpentoxid (N₂O₅), Stickstofftrioxid
(NO₃) und niedere Siloxane, die Si, O und H
als am Aufbau beteiligte Atome enthalten, wie Disiloxan
(H₃SiOSiH₃) und Trisiloxan (H₃SiOSiH₂OSiH₃) erwähnt
werden.
Wie vorstehend beschrieben wurde, werden die Ausgangsmaterialien
für die Bildung einer unteren Sperrschicht 204
bei der Bildung der unteren Sperrschicht 204 nach dem
Glimmentladungsverfahren in geeigneter Weise so aus
den vorstehend erwähnten Materialien ausgewählt, daß die
untere Sperrschicht 204 mit den gewünschten Eigenschaften
gebildet werden kann. Wenn das Glimmentladungsverfahren
angewendet wird, können beispielsweise als Ausgangsmaterial
für die Bildung der unteren Sperrschicht 204 ein
einzelnes Gas wie Si(CH₃)₄ oder SiCl₂(CH₃)₂ oder eine
Gasmischung wie das System SiH₄-N₂O, das System
SiH₄-O₂(-Ar), das System SiH₄-NO₂, das System SiH₄-O₂-N₂,
das System SiCl₄-CO₂-H₂, das System SiCl₄-NO-H₂, das
System SiH₄-NH₃, das System SiCl₄-NH₃, das System
SiH₄-N₂, das System SiH₄-NH₃-NO oder das System
Si(CH₃)₄-SiCl₂(CH₃)₂-SiH₄ eingesetzt werden.
Für die Bildung einer unteren Sperrschicht 204, die aus
einem amorphen Material vom Kohlenstofftyp besteht, nach
dem Zerstäubungsverfahren werden eine Einkristall-Si-
Scheibe oder eine polykristalline Si-Scheibe oder
C-Scheibe oder eine Scheibe, in der eine Mischung von Si
und C enthalten ist, als Target eingesetzt und in einer
aus verschiedenen Gasen bestehenden Atmosphäre zerstäubt.
Wenn eine Si-Scheibe als Target eingesetzt wird, wird
beispielsweise ein gasförmiges Ausgangsmaterial für den
Einbau von Kohlenstoffatomen und Wasserstoffatomen
oder Halogenatomen, das, falls erwünscht, mit einem
Verdünnungsgas verdünnt sein kann, in eine zur Zerstäubung
dienende Abscheidungskammer eingeleitet, wobei in
der Abscheidungskammer ein Gasplasma gebildet und die Si-
Scheibe zerstäubt wird.
Alternativ können Si und C als getrennte Targets oder in Form
eines plattenförmigen Targets aus einer Mischung von Si
und C eingesetzt werden, wobei die Zerstäubung in einer
mindestens Wasserstoffatome oder Halogenatome
enthaltenden Gasatmosphäre durchgeführt wird.
Als wirksame gasförmige Ausgangsmaterialien für den Einbau
von Kohlenstoffatomen oder Wasserstoffatomen oder Halogenatomen
können auch im Fall des Zerstäubungsverfahrens
die Ausgangsmaterialien eingesetzt werden, die vorstehend
im Zusammenhang mit dem Glimmentladungsverfahren erwähnt
worden sind.
Für die Bildung einer aus einem amorphen Material
vom Stickstofftyp bestehenden unteren Sperrschicht
204 nach dem Zerstäubungsverfahren werden eine Einkristall-
oder eine polykristalline Si-Scheibe oder
Si₃N₄-Scheibe oder eine Scheibe, in der eine Mischung
von Si und Si₃N₄ enthalten ist, als Target eingesetzt
und in einer aus verschiedenen Gasen bestehenden Atmosphäre
zerstäubt.
Wenn eine Si-Scheibe als Target eingesetzt wird,
wird beispielsweise ein gasförmiges Ausgangsmaterial
für den Einbau von Stickstoffatomen und, falls erforderlich,
Wasserstoffatomen und/oder Halogenatomen
wie H₂ und N₂ oder NH₃, das, falls erwünscht, mit einem
Verdünnungsgas verdünnt sein kann, in eine zur Zerstäubung
dienende Abscheidungskammer eingeleitet, wobei
in der Abscheidungskammer ein Gasplasma gebildet und
die Si-Scheibe zerstäubt wird.
Alternativ können Si und Si₃N₄ als getrennte
Targets oder in Form eines plattenförmigen Targets
aus einer Mischung von Si und Si₃N₄ eingesetzt werden,
wobei die Zerstäubung in einer verdünnten Gasatmosphäre
als Gas für die Zerstäubung oder in einer Gasatmosphäre,
die mindestens Wasserstoffatome oder Halogenatome
enthält, durchgeführt wird.
Als wirksame gasförmige Ausgangsmaterialien
für den Einbau von Stickstoffatomen können auch im
Fall des Zerstäubungsverfahrens die Ausgangsmaterialien
eingesetzt werden, die vorstehend im Zusammenhang
mit dem Glimmentladungsverfahren als Ausgangsmaterialien
für die Bildung der unteren Sperrschicht erwähnt worden sind.
Für die Bildung einer aus einem amorphen Material
vom Sauerstofftyp bestehenden unteren Sperrschicht
204 nach dem Zerstäubungsverfahren werden eine Einkristall-
oder eine polykristalline Si-Scheibe oder
SiO₂-Scheibe oder eine Scheibe, in der eine Mischung
von Si und SiO₂ enthalten ist, als Target eingesetzt
und in einer aus verschiedenen Gasen bestehenden Atmosphäre
zerstäubt.
Wenn eine Si-Scheibe als Target eingesetzt wird, wird
beispielsweise ein gasförmiges Ausgangsmaterial für
den Einbau von Sauerstoffatomen und, falls erforderlich,
Wasserstoffatomen und/oder Halogenatomen, das, falls
erwünscht, mit einem Verdünnungsgas verdünnt sein
kann, in eine zur Zerstäubung dienende Abscheidungskammer
eingeleitet, wobei in der Abscheidungskammer
ein Gasplasma gebildet und die Si-Scheibe zerstäubt
wird.
Alternativ können Si und SiO₂ als getrennte Targets
oder in Form eines plattenförmigen Targets aus einer
Mischung von Si und SiO₂ eingesetzt werden, wobei
die Zerstäubung in einer Gasatmosphäre aus einem Verdünnungsgas
als Gas für die Zerstäubung oder in einer
Gasatmosphäre durchgeführt, die als am Aufbau beteiligte
Elemente mindestens Wasserstoffatome und/oder
Halogenatome enthält. Als wirksame gasförmige
Ausgangsmaterialien für den Einbau von Sauerstoffatomen
können auch im Fall des Zerstäubungsverfahrens die
vorstehend im Zusammenhang mit dem Glimmentladungsverfahren
erwähnten Ausgangsmaterialien eingesetzt
werden.
Beispiele für geeignete Verdünnungsgase, die
bei der Bildung der unteren Sperrschicht 204
nach dem Glimmentladungsverfahren oder dem Zerstäubungsverfahren
eingesetzt werden können, sind Edelgase
wie He, Ne oder Ar.
Die untere Sperrschicht 204 wird in
sorgfältiger Weise so gebildet, daß sie genau die
gewünschten, erforderlichen Eigenschaften erhält.
Mit anderen Worten, eine Substanz, die aus Siliciumatomen
und mindestens einer aus Kohlenstoffatomen,
Stickstoffatomen und Sauerstoffatomen
ausgewählten Atomart sowie ggf. Wasserstoffatomen
und/oder Halogenatomen besteht, kann in Abhängigkeit
von den Herstellungsbedingungen verschiedene
Formen annehmen, die von kristallinen bis zu amorphen
Formen reichen, elektrische Eigenschaften haben, die
sich von den Eigenschaften eines Leiters über die
Eigenschaften eines Halbleiters bis zu den Eigenschaften
eines Isolators erstrecken, und Fotoleitfähigkeitseigenschaften
haben, die sich von den Eigenschaften
eines Fotoleiters bis zu den Eigenschaften einer nicht
fotoleitfähigen Schicht erstrecken.
Die Herstellungsbedingungen werden genau ausgewählt,
damit amorphe Materialien gebildet werden können,
die mindestens in bezug auf das Licht des sogenannten
sichtbaren Bereichs nicht fotoleitfähig sind.
Das die untere Sperrschicht 204 bildende amorphe
Material wird geeigneterweise so gebildet, daß es
elektrisch isolierendes Verhalten zeigt, weil die
untere Sperrschicht 204 die Funktion hat, eine Injektion
von freien Ladungsträgern von der Seite des Trägers
201 in die fotoleitfähige Schicht 202 zu verhindern
und zu ermöglichen, daß die in der fotoleitfähigen
Schicht 202 erzeugten Fototräger leicht bzw. ungehindert
bewegt werden und durch die Sperrschicht hindurch
zu der Seite des Trägers 201 hindurchgeführt werden.
Die untere Sperrschicht 204 wird auch so gebildet, daß sie
in bezug auf den Durchgang von Ladungsträgern einen
Beweglichkeitswert hat, dessen Ausmaß einen glatten
Durchgang bzw. eine glatte Hindurchführung der in
der fotoleitfähigen Schicht 202 erzeugten Fototräger
durch die untere Sperrschicht 204 ermöglicht.
Als kritische bzw. entscheidende Einflußgröße bei den
Bedingungen für die Herstellung der unteren Sperrschicht
204 aus dem vorstehend erwähnten amorphen Material
mit den vorstehend beschriebenen Eigenschaften kann
die Trägertemperatur während der Herstellung der unteren Sperrschicht
erwähnt werden.
Mit anderen Worten, bei der Bildung der unteren Sperrschicht
204, die aus dem vorstehend erwähnten amorphen
Material besteht, auf der Oberfläche des Trägers 201
stellt die Trägertemperatur während der Schichtbildung
eine wichtige Einflußgröße dar, die die Struktur und die
Eigenschaften der gebildeten unteren Sperrschicht beeinflußt.
Die Trägertemperatur während der
Schichtbildung wird genau gesteuert, damit das vorstehend
erwähnte amorphe Material mit genau den erwünschten
Eigenschaften hergestellt werden kann.
Damit die Aufgabe der Erfindung in wirksamer Weise
gelöst werden kann, wird die Trägertemperatur während
der Bildung der unteren Sperrschicht 204 in optimaler
Weise innerhalb eines von dem für die Bildung der
unteren Sperrschicht 204 angewandten Verfahren abhängenden
Bereichs gewählt. In einem System, das Wasserstoffatome
oder Halogenatome enthält, kann die Trägertemperatur
während der Bildung der unteren Sperrschicht 204
im allgemeinen im Bereich von 100°C bis 300°C und
vorzugsweise im Bereich von 150°C bis 250°C liegen.
Im Anschluß an die Bildung der unteren Sperrschicht
204 können in dem gleichen System die fotoleitfähige
Schicht 202 und des weiteren die amorphe
Schicht 203 gebildet werden. Vorteilhafterweise wird
das Glimmentladungsverfahren oder das Zerstäubungsverfahren
angewendet, weil in diesem Fall die Zusammensetzung
bzw. das Verhältnis der Atome, aus denen jede
Schicht gebildet wird, und die Dicke der Schichten
relativ einfach genau gesteuert werden können. Im
Fall der Bildung der unteren Sperrschicht 204 nach
diesen Schichtbildungsverfahren können in ähnlicher
Weise wie die vorstehend beschriebene Trägertemperatur
als wichtige Einflußgrößen, die die Eigenschaften der unteren
Sperrschicht 204 beeinflussen, die Entladungsleistung
und der Gasdruck während der Schichtbildung erwähnt
werden.
Als Bedingung für die wirksame, mit einer guten Produktivität
erfolgende Herstellung einer unteren Sperrschicht
204, die die Eigenschaften hat, durch die
die Aufgabe der Erfindung gelöst wird, beträgt die
Entladungsleistung im allgemeinen 1 bis 300 W und
vorzugsweise 2 bis 150 W. Der Gasdruck in der Abscheidungskammer
beträgt im allgemeinen 4 µbar bis 6,7 mbar
und vorzugsweise 10,7 µbar bis 0,67 mbar.
Für die Bildung einer unteren Sperrschicht, die die gewünschten
Eigenschaften hat, durch die die Aufgabe der Erfindung
gelöst wird, stellt in ähnlicher Weise wie die Bedingungen
für die Herstellung der unteren Sperrschicht 204
auch der Gehalt an Kohlenstoffatomen, Stickstoffatomen,
Sauerstoffatomen, Wasserstoffatomen und Halogenatomen
in der unteren Sperrschicht 204 des erfindungsgemäßen
elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterials eine wichtige Einflußgröße dar.
Wenn die untere Sperrschicht 204 aus a-Si a C1-a besteht,
beträgt der auf Siliciumatome bezogene Gehalt
an Kohlenstoffatomen im allgemeinen 60 bis 90 Atom-%,
vorzugsweise 65 bis 80 Atom-% und insbesondere 70
bis 75 Atom-%, d. h., daß a im allgemeinen 0,1 bis
0,4, vorzugsweise 0,2 bis 0,35 und insbesondere 0,25
bis 0,3 beträgt. Im Fall von a-(Si b C1-b ) c H1-c beträgt
der Gehalt an Kohlenstoffatomen im allgemeinen 30
bis 90 Atom-%, vorzugsweise 40 bis 90 Atom-% und insbesondere
50 bis 80 Atom-%, während der Gehalt an
Wasserstoffatomen im allgemeinen 1 bis 40 Atom-%,
vorzugsweise 2 bis 35 Atom-% und insbesondere 5 bis
30 Atom-% beträgt, d. h., daß b im allgemeinen 0,1
bis 0,5, vorzugsweise 0,1 bis 0,35 und insbesondere
0,15 bis 0,3 beträgt, während c im allgemeinen 0,60
bis 0,99, vorzugsweise 0,65 bis 0,98 und insbesondere
0,7 bis 0,95 beträgt. Im Fall von a-(Si d C1-d ) e H1-e
oder a-(Si f C1-f ) g (H+X)1-g beträgt der Gehalt an Kohlenstoffatomen
im allgemeinen 40 bis 90 Atom-%, vorzugsweise
50 bis 90 Atom-% und insbesondere 60 bis 80
Atom-%, während der Gehalt an Halogenatomen oder der
Gesamtgehalt an Halogenatomen und Wasserstoffatomen
im allgemeinen 1 bis 20 Atom-%, vorzugsweise 1 bis
18 Atom-% und insbesondere 2 bis 15 Atom-% beträgt,
wobei der Gehalt an Wasserstoffatomen, wenn sowohl
Halogenatome als auch Wasserstoffatome enthalten sind,
im allgemeinen 19 Atom-% oder weniger und vorzugsweise
13 Atom-% oder weniger beträgt, d. h., daß d oder
f im allgemeinen 0,1 bis 0,47, vorzugsweise 0,1 bis
0,35 und insbesondere 0,15 bis 0,3 beträgt, während
e oder g im allgemeinen 0,8 bis 0,99, vorzugsweise
0,85 bis 0,99 und insbesondere 0,85 bis 0,98 beträgt.
Wenn die untere Sperrschicht 204 aus einem amorphen
Material vom Stickstofftyp besteht, gilt zunächst
im Fall von a-Si h N1-h , daß der auf Siliciumatome bezogene
Gehalt an Stickstoffatomen im allgemeinen 43
bis 60 Atom-% und vorzugsweise 43 bis 50 Atom-% beträgt,
d. h., daß h im allgemeinen 0,43 bis 0,60 und vorzugsweise
0,43 bis 0,50 beträgt.
Im Fall von a-(Si i N1-i ) j H1-j beträgt der Gehalt an
Stickstoffatomen im allgemeinen 25 bis 55 Atom-% und
vorzugsweise 35 bis 55 Atom-%, während der Gehalt
an Wasserstoffatomen im allgemeinen 2 bis 35 Atom-%
und vorzugsweise 5 bis 30 Atom-% beträgt, d. h., daß
i im allgemeinen 0,43 bis 0,6 und vorzugsweise 0,43
bis 0,5 beträgt, während j im allgemeinen 0,65 bis
0,98 und vorzugsweise 0,7 bis 0,95 beträgt. Im Fall
von a-(Si k N1-k ) l X1-l oder a-(Si m C1-m ) n (H+X)1-n beträgt
der Gehalt an Stickstoffatomen im allgemeinen 30 bis
60 Atom-% und vorzugsweise 40 bis 60 Atom-%, während
der Gehalt an Halogenatomen oder der Gesamtgehalt
an Halogenatomen und Wasserstoffatomen im allgemeinen
1 bis 20 Atom-% und vorzugsweise 2 bis 15 Atom-% beträgt,
wobei der Gehalt an Wasserstoffatomen, wenn sowohl
Halogenatome als auch Wasserstoffatome enthalten sind,
im allgemeinen 19 Atom-% oder weniger und vorzugsweise
13 Atom-% oder weniger beträgt, d. h., daß k oder
m im allgemeinen 0,43 bis 0,60 und vorzugsweise 0,43
bis 0,49 beträgt, während l oder n im allgemeinen
0,8 bis 0,99 und vorzugsweise 0,85 bis 0,98 beträgt.
Wenn die untere Sperrschicht 204 aus einem amorphen
Material vom Sauerstofftyp besteht, beträgt der auf
Siliciumatome bezogene Gehalt an Sauerstoffatomen
zunächst im Fall von a-Si o O1-o im allgemeinen 60 bis
67 Atom-% und vorzugsweise 63 bis 67 Atom-%, d. h.,
daß o im allgemeinen 0,33 bis 0,40 und vorzugsweise
0,33 bis 0,37 beträgt.
Im Fall von a-(Si p O1-p ) q H1-q beträgt der Gehalt an
Sauerstoffatomen im allgemeinen 39 bis 66 Atom-% und
vorzugsweise 42 bis 64 Atom-%, während der Gehalt
an Wasserstoffatomen im allgemeinen 2 bis 35 Atom-%
und vorzugsweise 5 bis 30 Atom-% beträgt, d. h., daß
p im allgemeinen 0,33 bis 0,40 und vorzugsweise 0,33
bis 0,37 beträgt, während q im allgemeinen 0,65 bis
0,98 und vorzugsweise 0,70 bis 0,95 beträgt.
Wenn die untere Sperrschicht 204 aus a-(Si r N1-r ) s X1-s
oder a-(Si t O1-t ) u (H+X)1-u besteht, beträgt der Gehalt
an Sauerstoffatomen im allgemeinen 48 bis 66 Atom-%
und vorzugsweise 51 bis 66 Atom-%, während der Gehalt
an Halogenatomen oder der Gesamtgehalt an Halogenatomen
und Wasserstoffatomen im allgemeinen 1 bis 20 Atom-%
und vorzugsweise 2 bis 15 Atom-% beträgt, wobei der
Gehalt an Wasserstoffatomen, wenn sowohl Halogenatome
als auch Wasserstoffatome enthalten sind, 19 Atom-%
oder weniger und vorzugsweise 13 Atom-% oder weniger
beträgt, d. h., daß r oder t im allgemeinen 0,33 bis
0,40 und vorzugsweise 0,33 bis 0,37 beträgt, während
s oder u im allgemeinen 0,80 bis 0,99 und vorzugsweise
0,85 bis 0,98 beträgt.
Als elektrisch isolierende Metalloxide für die Bildung
der unteren Sperrschicht 204 von erfindungsgemäßen
elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterialien können vorzugsweise TiO₂,
Ce₂O₃, ZrO₂, HfO₂, GeO₂, CaO, BeO, P₂O₅, Y₂O₃, Cr₂O₃,
Al₂O₃, MgO, MgO · Al₂O₃ und SiO₂ · MgO erwähnt werden.
Zur Bildung der unteren Sperrschicht kann auch eine
Mischung aus zwei ober mehr Arten dieser Metalloxide
eingesetzt werden.
Die aus einem elektrisch isolierenden Metalloxid bestehende
untere Sperrschicht 204 kann nach dem Vakuumaufdampfungsverfahren,
dem chemischen Aufdampfungsverfahren
(CVD-Verfahren), dem Glimmentladungs-Zersetzungsverfahren,
dem Zerstäubungsverfahren, dem
Ionenimplantationsverfahren, dem Ionenplattierverfahren,
dem Elektronenstrahlverfahren oder anderen Verfahren
gebildet werden. Diese Herstellungsverfahren können
in geeigneter Weise in Abhängigkeit von den Herstellungsbedingungen,
dem für die Betriebsanlagen erforderlichen
Kapitalaufwand, dem Fertigungsmaßstab und
den gewünschten Eigenschaften des herzustellenden
elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterials gewählt werden.
Für die Bildung der unteren Sperrschicht 204 nach
dem Zerstäubungsverfahren kann beispielsweise eine
für die Bildung einer Sperrschicht dienende Scheibe
als Target eingesetzt und in einer Atmosphäre aus
verschiedenen Gasen wie He, Ne oder Ar zerstäubt werden.
Wenn das Elektronenstrahlverfahren angewendet wird,
wird ein Ausgangsmaterial für die Bildung der unteren
Sperrschicht in ein Abscheidungsschiffchen hineingebracht,
das wiederum mit einem Elektronenstrahl bestrahlt
werden kann, um eine Aufdampfung dieses Ausgangsmaterials
zu bewirken. Die untere Sperrschicht
204 des erfindungsgemäßen elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterials
wird so gebildet, daß sie elektrisch isolierendes
Verhalten zeigt, weil die untere Sperrschicht 204
die Funktion hat, eine Injektion von Ladungsträgern
von der Seite des Trägers 201 in die fotoleitfähige
Schicht 202 zu verhindern und zu ermöglichen, daß
die in der fotoleitfähigen Schicht 202 erzeugten Fototräger
leicht bzw. ungehindert bewegt und durch die
untere Sperrschicht hindurch zu der Seite des Trägers
201 hindurchgeführt werden.
Auch der numerische Bereich der Schichtdicke der unteren
Sperrschicht 204 stellt eine wichtige Einflußgröße für
die wirksame Lösung der Aufgabe der Erfindung dar.
Wenn die Schichtdicke der unteren Sperrschicht 204
zu gering ist, kann die Funktion der Verhinderung
einer Injektion von freien Ladungsträgern von der
Seite des Trägers in Richtung zu der fotoleitfähigen
Schicht 202 nicht in ausreichendem Maße erfüllt werden.
Andererseits ist die Wahrscheinlichkeit, daß die in
der fotoleitfähigen Schicht 202 erzeugten Fototräger
durch die untere Sperrschicht hindurch zu der Seite des Trägers
201 durchgelassen werden, sehr gering, wenn die untere
Sperrschicht 204 eine zu große Schichtdicke hat. Demnach
kann in diesen beiden Fällen die Aufgabe der Erfindung
nicht in wirksamer Weise gelöst werden.
Im Hinblick auf die vorstehend erwähnten Gesichtspunkte
beträgt die Schichtdicke der unteren Sperrschicht
204 für eine wirksame Lösung der Aufgabe der Erfindung
geeigneterweise im allgemeinen 3,0 bis 100,0 nm und
vorzugsweise 5,0 bis 60,0 nm.
Fig. 3 zeigt einen schematischen Schnitt, der zur
Erläuterung der dritten Ausführungsform des erfindungsgemäßen
elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterials dient.
Das in Fig. 3 gezeigte elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial 300
weist eine amorphe Schicht 303 und eine fotoleitfähige
Schicht 302 auf, die auf einen Träger 301
laminiert sind.
Die als Zwischenschicht zwischen dem Träger 301 und der fotoleitfähigen
Schicht 302 angeordnete amorphe Schicht 303 hat die Funktion, eine Injektion
von freien Ladungsträgern von der Seite des Trägers
301 in die fotoleitfähige Schicht 302 zu verhindern.
Die amorphe Schicht 303 kann auf dem Träger 301 unter
Anwendung des gleichen Materials und unter den gleichen
Herstellungsbedingungen wie bei der Bildung der als Oberflächen-
Sperrschicht dienenden amorphen Schicht 103 des in Fig. 1 gezeigten
elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterials 100 gebildet werden.
Auch der numerische Bereich der Schichtdicke der
amorphen Schicht 303 des in Fig. 3 gezeigten elektrofotografischen
Aufzeichnungsmaterials 300 stellt eine wichtige Einflußgröße
für die wirksame Lösung der Aufgabe der Erfindung
dar. Mit anderen Worten, wenn die Schichtdicke der
amorphen Schicht 303 zu gering ist, kann die Funktion der
Verhinderung einer Injektion von freien Ladungsträgern
von der Seite des Trägers 301 in Richtung zu der fotoleitfähigen
Schicht 302 nicht in ausreichendem Maße
erfüllt werden. Andererseits kann eine Verminderung
der Fähigkeit zur Verhinderung der Injektion hervorgerufen
werden oder ist die Wahrscheinlichkeit, daß
die in der fotoleitfähigen Schicht 302 erzeugten Fototräger
durch die amorphe Schicht 303 hindurch zu der Seite
des Trägers hindurchgelassen werden, sehr gering,
wenn die Schichtdicke der amorphen Schicht 303 zu groß
ist. Demnach kann in diesen beiden Fällen die Aufgabe
der Erfindung nicht in wirksamer Weise gelöst werden.
Aus den vorstehend erwähnten Gründen beträgt die
Schichtdicke der amorphen Schicht 303 für eine wirksame
Lösung der Aufgabe der Erfindung geeigneterweise im
allgemeinen 3,0 nm bis 1 µm, vorzugsweise 5,0 bis
500,0 nm und insbesondere 5,0 bis 100,0 nm.
Das in Fig. 4 gezeigte elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial 400
besteht aus einem Träger 401
sowie aus einer amorphen Schicht 403, einer
fotoleitfähigen Schicht 402 und einer Oberflächen-
Sperrschicht 404, die auf dem Träger übereinander
ausgebildet sind.
Demnach hat das in Fig. 4 gezeigte elektrofotografische
Aufzeichnungsmaterial die gleiche Schichtstruktur wie das unter
Bezugnahme auf Fig. 3 beschriebene elektrofotografische
Aufzeichnungsmaterial, wobei jedoch zusätzlich eine Oberflächen-
Sperrschicht vorgesehen ist.
Die Oberflächen-Sperrschicht 404 kann auf der fotoleitfähigen
Schicht 402 unter Anwendung des gleichen
Materials und unter den gleichen Herstellungsbedingungen
wie bei der Bildung der unteren Sperrschicht 204 des
in Fig. 2 gezeigten elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterials 200
gebildet werden.
Die Oberflächen-Sperrschicht 404 hat die gleiche Funktion
wie die unter Bezugnahme auf die Fig. 1 und 2
beschriebenen, als Oberflächen-Sperrschichten dienenden amorphen Schichten, und die
Schichtdicke der Oberflächen-Sperrschicht 404 liegt
geeigneterweise in dem gleichen numerischen Bereich
wie die Schichtdicke dieser amorphen Schichten.
Unter Anwendung der in Fig. 5 gezeigten Vorrichtung,
die in einem reinen, vollständig abgeschirmten Raum
untergebracht war, wurde nach dem folgenden Verfahren
ein elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial mit der in Fig. 1 gezeigten
Schichtstruktur hergestellt.
Ein Träger 502 aus Molybdän (10 cm × 10 cm) mit einer
Dicke von 0,5 mm, dessen Oberfläche gereinigt worden
war, wurde an einem auch als Elektrode dienenden Festhalteelement
503 befestigt, das in einer vorbestimmten
Lage in einer Abscheidungskammer 501 angeordnet war.
Das Target für die Zerstäubung bestand aus hochreinem,
polykristallinem Silicium (99,999%) 506, das auf
hochreinem Graphit (99,999%) 505 angeordnet war.
Die auch als Elektrode dienende Blende 508 wurde geschlossen.
Der Träger 502 wurde durch eine innerhalb
des Festhalteelements 503 befindliche Heizvorrichtung
504 mit einer Genauigkeit von ±0,5°C erhitzt. Die
Temperatur wurde mit einem Alumel-Chromel-Thermopaar
direkt an der Rückseite des Trägers gemessen. Nachdem dann
festgestellt worden war, daß alle Ventile in dem System
geschlossen waren, wurde das Hauptventil 531 vollständig
geöffnet, wodurch die Abscheidungskammer einmal
bis zu einem Druck von etwa 0,67 nbar evakuiert wurde.
Während dieses Vorgangs waren alle anderen Ventile in dem
System geschlossen. Anschließend wurde das Hilfsventil
529 geöffnet, und dann wurden die Ausströmventile
524, 525, 526, 527 und 528 geöffnet, um die in den
Durchfluß-Meßvorrichtungen 537, 538, 539, 540 und
541 befindlichen Gase in ausreichendem Maße zu entfernen.
Dann wurden die Ausströmventile 524, 525, 526,
527 und 528 geschlossen. Zur Einstellung der Trägertemperatur
auf 250°C wurde dann die Heizvorrichtung
504 eingeschaltet.
Dann wurden das Ventil 514 der Bombe 509, die SiH₄-
Gas (Reinheit: 99,999%) enthielt, das mit H₂ bis
zu einer SiH₄-Konzentration von 10 Volumenprozent
verdünnt worden war [nachstehend als SiH₄(10)/H₂ bezeichnet],
und das Ventil 515 der Bombe 510, die B₂H₆-
Gas enthielt, das mit H₂ bis zu einer B₂H₆-Konzentration
von 100 Volumen-ppm verdünnt worden war [nachstehend
als B₂H₆(100)/H₂ bezeichnet], geöffnet, wodurch
der an den Auslaßmanometern 532 bzw. 533 angezeigte
Druck auf einen Wert von 0,98 bar eingestellt wurde.
Dann wurden die Einströmventile 519 und 520 allmählich
geöffnet, um SiH₄(10)/H₂-Gas und B₂H₆(100)/H₂-
Gas in die Durchfluß-Meßvorrichtungen 537 bzw. 538
hineinströmen zu lassen. Anschließend wurden die Ausströmventile
524 und 525 allmählich geöffnet, worauf
das Hilfsventil 529 geöffnet wurde. Dabei wurden die
Einströmventile 519 und 520 so eingestellt, daß das
Gaszuführungsverhältnis von SiH₄(10)/H₂ zu B₂H₆(100)/H₂
100 : 1 betrug. Dann wurde die Öffnung des Hilfsventils
529 unter sorgfältiger Ablesung des Pirani-Manometers
542 eingestellt, wobei das Hilfsventil 529 so weit
geöffnet wurde, daß der Innendruck in der Abscheidungskammer
501 13 µbar erreichte. Nachdem sich der
Innendruck in der Abscheidungskammer 501 stabilisiert
hatte, wurde das Hauptventil 531 unter Verengung seiner
Öffnung allmählich geschlossen, bis an dem Pirani-
Manometer 542 0,67 mbar angezeigt wurden. Nachdem
festgestellt worden war, daß sich die Gaszuführung
und der Innendruck stabilisiert hatten, wurde die
Blende 508 geschlossen. Dann wurde die Hochfrequenz-
Stromquelle 543 eingeschaltet, wodurch zwischen dem
als Elektrode dienenden Festhalteelement 503 und der
ebenfalls als Elektrode dienenden Blende 508 eine
Hochfrequenzspannung mit einer Frequenz von 13,56 MHz
angelegt wurde. Dadurch wurde in der Abscheidungskammer
501 eine Glimmentladung mit einer Eingangsleistung
von 10 W erzeugt. Die Glimmentladung wurde
etwa 10 h lang zur Bildung einer fotoleitfähigen Schicht
mit einer Schichtdicke von etwa 15 µm fortgesetzt.
Dann wurde die Hochfrequenz-Stromquelle 543 zur Unterbrechung
der Glimmentladung abgeschaltet, und die
Ventile 514 und 515, die Einströmventile 519 und 520
und die Ausströmventile 524 und 525 wurden geschlossen,
und das Hauptventil 531 wurde vollständig geöffnet.
Nach gründlichem Evakuieren der Abscheidungskammer
501 wurde das Hilfsventil 529 einmal geschlossen,
und das Ventil 516 der Bombe 511, die B₂H₆-Gas enthielt,
das mit H₂ bis zu einer B₂H₆-Konzentration von 5 Volumenprozent
verdünnt worden war [nachstehend als
B₂H₆(5)/H₂ bezeichnet], wurde geöffnet, wodurch der
an dem Auslaßmanometer 534 angezeigte Druck auf 0,98 bar
eingestellt wurde. Dann wurde das Einströmventil 521
geöffnet, um B₂H₆(5)/H₂-Gas in die Durchfluß-Meßvorrichtung
539 hineinströmen zu lassen. Anschließend
wurde das Ausströmventil 526 allmählich geöffnet,
und der Innendruck in der Abscheidungskammer 501 wurde
durch Einstellung der Öffnung des Hilfsventils 529
auf 13 µbar gehalten. Nachdem sich der Innendruck
in der Abscheidungskammer 501 stabilisiert hatte,
wurde das Hauptventil 531 unter Verengung seiner Öffnung
allmählich geschlossen, bis der an dem Pirani-Manometer
542 angezeigte Druck 0,27 mbar erreichte. Nachdem
festgestellt worden war, daß sich das Einströmen des
Gases und der Innendruck stabilisiert hatten, wurde
die Hochfrequenz-Stromquelle 543 eingeschaltet, wodurch
zwischen dem als Elektrode dienenden Festhalteelement
503 und der als Elektrode dienenden Blende 508 eine
Hochfrequenzspannung angelegt wurde. Dadurch wurde
in der Abscheidungskammer 501 eine Glimmentladung
mit einer Eingangsleistung von 20 W erzeugt. Die Glimmentladung
wurde unter Beibehaltung dieser Bedingungen
etwa 6 min lang fortgesetzt, wodurch eine als Oberflächen-
Sperrschicht dienende amorphe Schicht mit einer Dicke von etwa 40,0 nm gebildet
wurde. Schließlich wurden die Heizvorrichtung 504
und die Hochfrequenz-Stromquelle 543 abgeschaltet,
und das Ausströmventil 526 und das Einströmventil
521 wurden bei vollständig geöffnetem Hauptventil
531 geschlossen, wodurch der Innendruck in der Abscheidungskammer
501 auf weniger als 13 nbar gebracht wurde.
Nach dem Abkühlen des Trägers auf 50°C wurde das Hauptventil
531 geschlossen, und der Innendruck in der
Abscheidungskammer 501 wurde durch das Belüftungsventil
530 auf Atmosphärendruck gebracht, worauf der
Träger mit den darauf gebildeten Schichten aus der
Abscheidungskammer herausgenommen wurde.
Das auf diese Weise hergestellte elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial
wurde in eine Ladungs-Belichtungs-Versuchsvorrichtung
hineingebracht. Das Aufzeichnungsmaterial wurde einer
Koronaladung mit -6,0 kV unterzogen, und eine bildmäßige
Belichtung wurde unter Anwendung einer Halogenlampe
als Lichtquelle mit einer Lichtmenge von etwa
1 lx · s durchgeführt.
Unmittelbar danach wurde ein positiv geladener Entwickler,
der Toner und Tonerträger enthielt, kaskadenförmig
auf die Oberfläche des Aufzeichnungsmaterials auftreffen
gelassen, wodurch auf dem Aufzeichnungsmaterial
ein gutes Tonerbild erhalten wurde. Als das
auf dem Aufzeichnungsmaterial befindliche Tonerbild
durch Koronaladung mit -5,0 kV auf als
Bildempfangsmaterial dienendes Papier übertragen wurde, wurde ein
klares Bild erhalten, das eine ausgezeichnete Auflösung
sowie eine ausgezeichnete Reproduzierbarkeit der Helligkeitsabstufung
zeigte. Die vorstehend erwähnte Bildqualität
änderte sich in keiner Weise, als das Bilderzeugungsverfahren
wiederholt wurde und das beim ersten
Bilderzeugungsverfahren erhaltene Bild mit den bei dem
zweiten Bilderzeugungsverfahren und den folgenden
Bilderzeugungsverfahren erhaltenen Bildern verglichen
wurde. Außerdem verschlechterten sich die Bildeigenschaften
auch dann nicht, als das vorstehend beschriebene
Bilderzeugungsverfahren 50 000mal wiederholt
worden war.
Andererseits wurden keine guten Bilder erhalten, als
die Ladungspolarität umgekehrt wurde, d. h., als die
Koronaladung mit +6 kV durchgeführt und im Anschluß
an die bildmäßige Belichtung eine Kaskadenentwicklung
mit einem negativ geladenen Entwickler durchgeführt
wurde.
Unter Anwendung der gleichen Vorrichtung, wie sie
in Beispiel 1 angewendet wurde, wurde ein Träger 502
aus Molybdän nach dem gleichen Verfahren wie in Beispiel
1 befestigt. Nachdem dann festgestellt worden war,
daß alle Ventile in dem System geschlossen waren,
wurde das Hauptventil 531 vollständig geöffnet, wodurch
die Abscheidungskammer 501 einmal bis zu einem Druck
von etwa 0,67 nbar evakuiert wurde. Während dieses
Vorgangs waren alle anderen Ventile in dem System
geschlossen. Anschließend wurde das Hilfsventil 529
geöffnet, und dann wurden die Ausströmventile 524,
525, 526, 527 und 528 geöffnet, um die in den Durchfluß-
Meßvorrichtungen 537, 538, 539, 540 und 541 befindlichen
Gase in ausreichendem Maße zu entfernen. Dann
wurden die Ausströmventile 524, 525, 526, 527 und
528 geschlossen.
Als nächstes wurde das Ventil 517 der Ar-Gas (Reinheit:
99,999%) enthaltenden Bombe 512 geöffnet, bis der
an dem Auslaßmanometer 535 abgelesene Druck auf 0,98 bar
eingestellt war, und dann wurde das Einströmventil
522 geöffnet, worauf das Ausströmventil 527 allmählich
geöffnet wurde, um Ar-Gas in die Abscheidungskammer
501 hineinströmen zu lassen. Das Ausströmventil 527
wurde allmählich geöffnet, bis an dem Pirani-Manometer
542 0,67 µbar angezeigt wurden. Nachdem sich die
Strömungsmenge unter diesen Bedingungen bzw. in diesem
Zustand stabilisiert hatte, wurde das Hauptventil
531 unter Verengung seiner Öffnung allmählich geschlossen,
bis der Druck in der Abscheidungskammer
13 µbar erreichte. Nachdem festgestellt worden war,
daß sich die Durchfluß-Vorrichtung 540 bei geöffneter
Blende 508 stabilisiert hatte, wurde die Hochfrequenz-
Stromquelle 543 eingeschaltet, wodurch zwischen
dem Graphit-Target 505 und dem Silicium-Target 506
einerseits und dem Festhalteelement 503 andererseits
eine Wechselspannung mit einer Frequenz von 13,56 MHz
und einer Leistung von 100 W angelegt wurde. Unter
diesen Bedingungen, die so abgestimmt waren, daß eine
stabile Entladung fortgesetzt wurde, wurde eine Schicht
gebildet. Nachdem die Entladung unter diesen Bedingungen
1 min lang fortgesetzt worden war, hatte sich
eine untere Sperrschicht mit einer Dicke von 10,0 nm
gebildet. Dann wurde die Hochfrequenz-Stromquelle
543 zur Unterbrechung der Glimmentladung abgeschaltet.
Anschließend wurde das Ausströmventil 522 geschlossen,
und das Hauptventil 531 wurde vollständig geöffnet,
um das in der Abscheidungskammer 501 befindliche Gas
bis zur Erzielung eines Druckes von 67 nbar zu evakuieren.
Dann wurde die Heizvorrichtung 504 eingeschaltet,
und die Eingangsspannung der Heizvorrichtung wurde
unter Messung der Trägertemperatur verändert, bis
sich die Trägertemperatur bei einem konstanten Wert
von 250°C stabilisiert hatte.
Des weiteren wurde das Hilfsventil 529 vollständig
geöffnet, und dann wurden das Ausstömventil 527 und
das Einströmventil 522 vollständig geöffnet, um die
Durchfluß-Meßvorrichtung 540 in ausreichendem Maße
bis zur Erzielung von Vakuum zu entgasen. Anschließend
wurden nach dem gleichen Verfahren wie in Beispiel
1 die fotoleitfähige Schicht und die als Oberflächen-Sperrschicht
dienende amorphe Schicht gebildet.
Das auf diese Weise hergestellte elektrofotografische
Aufzeichnungsmaterial wurde in die gleiche Ladungs-Belichtungs-Versuchsvorrichtung
hineingebracht, die in Beispiel 1
angewendet worden war, und die Bilderzeugung, die
Entwicklung und die Übertragung wurden in der gleichen
Weise wie in Beispiel 1 durchgeführt. Als Ergebnis
wurde ein klares Bild erhalten, das eine ausgezeichnete
Auflösung sowie eine gute Reproduzierbarkeit
der Helligkeitsabstufung zeigte und eine höhere Dichte
hatte als das in Beispiel 1 erhaltene Bild. Die Bildeigenschaften
waren auch bei der Wiederholung des
Bilderzeugungsverfahrens gut. In ähnlicher Weise wie
in Beispiel 1 wurde der Versuch einer Bilderzeugung
unter Umkehrung der Ladungspolarität gemacht, jedoch
wurden dabei keine guten Bilder erhalten.
Elektrofotografische Aufzeichnungsmaterialien wurden in der gleichen Weise
wie in Beispiel 1 hergestellt, jedoch wurde die Dicke
der als Oberflächen-Sperrschicht dienenden amorphen Schicht variiert. Diese
elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterialien wurden ähnlich wie in Beispiel 1
zur Bilderzeugung durch Ladung mit negativer Polarität
eingesetzt, wobei die in Tabelle 1 gezeigten Ergebnisse
erhalten wurden.
Unter Anwendung der gleichen Vorrichtung wie in Beispiel
1 wurde nach dem folgenden Verfahren ein elektrofotografisches
Aufzeichnungsmaterial mit der in Fig. 1 gezeigten Schichtstruktur
hergestellt.
Ein Träger 502 aus Molybdän (10 cm × 10 cm) mit einer
Dicke von 0,5 mm, dessen Oberfläche gereinigt worden
war, wurde an einem Festhalteelement 503, das in einer
vorbestimmten Lage in einer Abscheidungskammer 501
angeordnet war, befestigt. Nachdem dann festgestellt worden
war, daß alle Ventile in dem System geschlossen waren,
wurde das Hauptventil 531 vollständig geöffnet, um
die Abscheidungskammer 501 einmal bis zu einem Druck
von 0,67 nbar zu evakuieren. Während dieses Vorgangs
waren alle anderen Ventile in dem System geschlossen.
Dann wurden das Hilfsventil 529 und die Ausströmventile
524, 525, 526, 527 und 528 geöffnet, um die in den
Durchfluß-Meßvorrichtungen 537, 538, 539, 540 und
541 befindlichen Gase in ausreichendem Maße zu entfernen.
Dann wurden die Ausströmventile 524, 525, 526,
527 und 528 geschlossen, worauf die Heizvorrichtung
504 zur Einstellung der Trägertemperatur auf 250°C
eingeschaltet wurde. Anschließend wurden das Ventil
514 der SiH₄(10)/H₂-Gas enthaltenden Bombe 509 und
das Ventil 515 der B₂H₆(100)/H₂-Gas enthaltenden Bombe
510 geöffnet, bis der an den Auslaßmanometern 532
und 533 angezeigte Druck auf 0,98 bar eingestellt
war, und dann wurden die Einströmventile 519 und 520
allmählich geöffnet, um SiH₄(10)/H₂-Gas und B₂H₆(100)/H₂-
Gas in die Durchfluß-Meßvorrichtung 537 bzw. 538 hineinströmen
zu lassen, worauf das Hilfsventil 529 allmählich
geöffnet wurde. Dabei wurden die Einströmventile
519 und 521 so eingestellt, daß das Gaszuführungsverhältnis
von SiH₄(10)/H₂ zu B₂H₆(100)/H₂ 100 : 1 betrug.
Dann wurde die Öffnung des Hilfsventils 529
unter sorgfältiger Ablesung des an dem Pirani-Manometer
542 angezeigten Druckes einreguliert, bis der
Innendruck in der Abscheidungskammer 501 13 µbar
erreichte. Nachdem sich der Innendruck in der Abscheidungskammer
501 stabilisiert hatte, wurde das Hauptventil
531 unter Verengung seiner Öffnung allmählich
geschlossen, bis das Pirani-Manometer 542 einen Druck
von 0,67 mbar anzeigte. Nachdem festgestellt worden
war, daß sich das Einströmen der Gase und der Innendruck
bei geschlossener Blende 508 stabilisiert hatten,
wurde die Hochfrequenz-Stromquelle 543 eingeschaltet,
wodurch zwischen dem Festhalteelement 503 und der
Blende 508, die als Elektroden dienten, eine Hochfrequenzspannung
mit einer Frequenz von 13,56 MHz angelegt
und in der Abscheidungskammer 501 eine Glimmentladung
mit einer Eingangsleistung von 10 W erzeugt
wurde. Die Glimmentladung wurde unter Bildung einer
fotoleitfähigen Schicht mit einer Schichtdicke von
etwa 15 µm etwa 10 h lang fortgesetzt.
Dann wurde die Hochfrequenz-Stromquelle 543 zur Unterbrechung
der Glimmentladung abgeschaltet, und die
Ventile 514 und 515, die Einströmventile 519 und 520
und die Ausströmventile 524 und 525 wurden geschlossen,
und das Hauptventil 531 wurde vollständig geöffnet.
Nachdem die Abscheidungskammer 501 gründlich bis zur
Erzielung von Vakuum evakuiert worden war, wurde das
Hilfsventil 529 einmal geschlossen, und dann wurde
das Ventil 518 der Bombe 61218 00070 552 001000280000000200012000285916110700040 0002003200376 00004 61099513, die BF₃-Gas enthielt,
das mit Ar bis zu einer BF₃-Konzentration von 5%
verdünnt worden war [nachstehend als BF₃(5)/Ar bezeichnet],
geöffnet, wodurch der an dem Auslaßmanometer
536 angezeigte Druck auf 0,98 bar eingestellt wurde.
Anschließend wurde das Einströmventil 523 allmählich
geöffnet, um BF₃(5)/Ar-Gas in die Durchfluß-Meßvorrichtung
541 hineinströmen zu lassen. Dann wurde die
Öffnung des Hilfsventils 529 so eingestellt, daß der
Innendruck in der Abscheidungskammer 501 auf 13 µbar
gehalten wurde. Nachdem sich der Innendruck in der
Abscheidungskammer 501 stabilisiert hatte, wurde das
Hauptventil 531 unter Verengung seiner Öffnung allmählich
geschlossen, bis das Pirani-Manometer 542 0,27 mbar
anzeigte. Nachdem festgestellt worden war, daß sich
das Einströmen des Gases und der Innendruck stabilisiert
hatten, wurde die Hochfrequenz-Stromquelle 543
eingeschaltet, wodurch zwischen dem Festhalteelement
503 und der Blende 508, die als Elektroden dienten,
eine Hochfrequenzspannung angelegt und in der Abscheidungskammer
501 eine Glimmentladung mit einer Eingangsleistung
von 25 W erzeugt wurde. Die Glimmentladung
wurde auf diese Weise zur Bildung einer als Oberflächen-
Sperrschicht dienenden amorphen Schicht etwa 6 min lang fortgesetzt.
Die auf diese Weise gebildete amorphe Schicht
hatte eine Dicke von etwa 45,0 nm. Schließlich wurden
die Heizvorrichtung 504 und die Hochfrequenz-Stromquelle
543 abgeschaltet, und das Ausströmventil 528
und das Einströmventil 523 wurden bei vollständig
geöffnetem Hauptventil 531 geschlossen, wodurch der
Innendruck in der Abscheidungskammer 501 auf weniger
als 13 nbar gebracht wurde. Dann wurde das Hauptventil
531 geschlossen. Nachdem der Träger auf 50°C abgekühlt
war, wurde der Innendruck in der Abscheidungskammer
501 durch das Belüftungsventil 530 auf Atmosphärendruck
gebracht, und der Träger mit den darauf gebildeten
Schichten wurde aus der Abscheidungskammer herausgenommen.
Das auf diese Weise hergestellte elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial
wurde in eine Ladungs-Belichtungs-Versuchsvorrichtung
hineingebracht und einer Koronaladung mit -6 kV unterzogen,
worauf eine bildmäßige Belichtung unter Anwendung
einer Halogenlampe als Lichtquelle mit einer
Lichtmenge von etwa 1 lx · s durchgeführt wurde.
Unmittelbar danach wurde ein positiv geladener Entwickler,
der Toner und Tonerträger enthielt, kaskadenförmig
auf die Oberfläche des Aufzeichnungsmaterials auftreffen
gelassen, wodurch auf dem Aufzeichnungsmaterial
ein gutes Tonerbild erhalten wurde. Als das
auf dem Aufzeichnungsmaterial befindliche Tonerbild
durch Koronaladung mit -5,0 kV auf
als Bildempfangsmaterial dienendes Papier übertragen wurde, wurde ein
klares Bild erhalten, das eine ausgezeichnete Auflösung
sowie eine ausgezeichnete Reproduzierbarkeit der Helligkeitsabstufung
zeigte. Die vorstehend erwähnte Bildqualität
änderte sich in keiner Weise, als das Bilderzeugungsverfahren
wiederholt wurde und das beim
ersten Bilderzeugungsverfahren erhaltene Bild mit
den Bildern verglichen wurde, die bei dem zweiten Bilderzeugungsverfahren
und den folgenden Bilderzeugungsverfahren
erhalten wurden. Die Bildeigenschaften waren
auch dann nicht verschlechtert, als das vorstehend
beschriebene Bilderzeugungsverfahren 50 000mal wiederholt
worden war. Andererseits wurde kein gutes Bild
erhalten, als die Ladungspolarität umgekehrt wurde,
d. h., als die Koronaladung mit +6 kV durchgeführt
und im Anschluß an die bildmäßige Belichtung eine
Kaskadenentwicklung mit einem negativ geladenen Entwickler
durchgeführt wurde.
Unter Anwendung der gleichen Vorrichtung, wie sie
in Beispiel 4 angewendet wurde, wurde ein Träger 502
aus Molybdän nach dem gleichen Verfahren wie in Beispiel
4 befestigt. Nachdem dann festgestellt worden
war, daß alle Ventile in dem System geschlossen waren,
wurde das Hauptventil 531 vollständig geöffnet, wodurch
die Abscheidungskammer 501 einmal bis zu einem Druck
von etwa 0,67 nbar evakuiert wurde. Während dieses
Vorgangs waren alle anderen Ventile in dem System
geschlossen. Anschließend wurde das Hilfsventil 529
geöffnet, und dann wurden die Ausströmventile 524,
525, 526, 527 und 528 geöffnet, um die in den Durchfluß-
Meßvorrichtungen 537, 538, 539, 540 und 541 befindlichen
Gase in ausreichendem Maße zu entfernen. Dann wurden
die Ausströmventile 524, 525, 526, 527 und 528 geschlossen.
Als nächstes wurde das Ventil 517 der Ar-Gas (Reinheit:
99,999%) enthaltenden Bombe 512 geöffnet, bis der
an dem Auslaßmanometer 535 abgelesene Druck auf 0,98 bar
eingestellt war. Dann wurde das Einströmventil 522
geöffnet, worauf das Ausströmventil 527 allmählich
geöffnet wurde, um Ar-Gas in die Abscheidungskammer
501 hineinströmen zu lassen. Das Ausströmventil 527
wurde allmählich geöffnet, bis das Pirani-Manometer
542 0,67 µbar anzeigte. Nachdem sich die Strömungsmenge
in diesem Zustand stabilisiert hatte, wurde das Hauptventil
531 unter Verengung seiner Öffnung allmählich
geschlossen, bis der Druck in der Abscheidungskammer
501 13 µbar erreichte. Nachdem festgestellt worden
war, daß sich die Durchfluß-Meßvorrichtung 540 bei
geöffneter Blende 508 stabilisiert hatte, wurde die
Hochfrequenz-Stromquelle 543 eingeschaltet, wodurch
zwischen dem Target (Graphit-Target 505 und Silicium-
Target 506) und dem Festhalteelement 503 eine Wechselspannung
mit einer Frequenz von 13,56 MHz und einer
Leistung von 100 W angelegt wurde. Unter diesen Bedingungen,
die so abgestimmt waren, daß eine stabile
Entladung fortgesetzt wurde, wurde eine Schicht gebildet.
Nachdem die Entladung unter diesen Bedingungen
1 min lang fortgesetzt worden war, hatte sich eine
untere Sperrschicht mit einer Dicke von 10,0 nm gebildet.
Dann wurde die Hochfrequenz-Stromquelle 543 zur
Unterbrechung der Glimmentladung abgeschaltet. Anschließend
wurde das Ausströmventil 522 geschlossen, und
das Hauptventil 531 wurde vollständig geöffnet, um
das in der Abscheidungskammer 501 befindliche Gas
bis zur Erzielung eines Druckes von 67 nbar zu evakuieren.
Dann wurde die Eingangsspannung der Heizvorrichtung
504 verändert und unter Messung der Trägertemperatur
so stabilisiert, daß sich die Trägertemperatur
bei einem konstanten Wert von 250°C stabilisierte.
Des weiteren wurde das Hilfsventil 529 vollständig
geöffnet, und dann wurden das Ausströmventil 527 und
das Einströmventil 522 vollständig geöffnet, um die
Durchfluß-Meßvorrichtung 540 in ausreichendem Maße
bis zur Erzielung von Vakuum zu entgasen. Anschließend
wurden nach dem gleichen Verfahren wie in Beispiel
4 die fotoleitfähige Schicht und die als Oberflächen-Sperrschicht
dienende amorphe Schicht gebildet.
Das auf diese Weise hergestellte elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial
wurde in die gleiche Ladungs-Belichtungs-Versuchsvorrichtung
hineingebracht, die in Beispiel 4 angewendet
wurde, und die Bilderzeugung, die Entwicklung und
die Übertragung wurden in der gleichen Weise wie in
Beispiel 4 durchgeführt. Als Ergebnis wurde ein klares
Bild erhalten, das eine ausgezeichnete Auflösung sowie
eine gute Reproduzierbarkeit der Helligkeitsabstufung
zeigte und eine höhere Dichte hatte als das in Beispiel
4 erhaltene Bild. Auch nach wiederholtem Kopieren
waren die Bildeigenschaften gut. Ähnlich wie in Beispiel
4 wurde der Versuch einer Bilderzeugung unter Umkehrung
der Ladungspolarität gemacht, wobei jedoch kein gutes
Bild erhalten wurde.
Elektrofotografische Aufzeichnungsmaterialien wurden in der gleichen Weise
wie in Beispiel 4 hergestellt, jedoch wurde die Dicke
der als Oberflächen-Sperrschicht dienenden amorphen Schicht variiert. Diese
elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterialien wurden ähnlich wie in Beispiel 4
zur Bilderzeugung durch Ladung mit negativer Polarität
eingesetzt, wobei die in Tabelle 2 gezeigten Ergebnisse
erhalten wurden.
Die B₂H₆(5)/H₂-Gas enthaltende Bombe 511 wurde vorher
durch eine Gasbombe ersetzt, die BF₃-Gas enthielt,
das mit Ar bis zu einer BF₃-Konzentration von 5 Volumenprozent
verdünnt worden war [nachstehend als BF₃(5)/Ar
bezeichnet], und die BF₃(5)/Ar-Gas enthaltende Bombe
513 wurde durch eine Gasbombe ersetzt, die B₂H₆-Gas
enthielt, das mit Ar bis zu einer B₂H₆-Konzentration
von 5 Volumenprozent verdünnt worden war [nachstehend
als B₂H₆(5)/Ar-Gas bezeichnet]. Unter Anwendung der
in Fig. 5 gezeigten Vorrichtung wurde nach dem folgenden
Verfahren ein elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial mit der
in Fig. 1 gezeigten Schichtstruktur hergestellt.
Ein Träger 502 aus Molybdän (10 cm × 10 cm) mit einer
Dicke von 0,5 mm, dessen Oberfläche gereinigt worden
war, wurde an einem Festhalteelement 503 befestigt,
das in einer vorbestimmten Lage in einer Abscheidungskammer
501 angeordnet war.
Nachdem dann festgestellt worden war, daß alle Ventile
in dem System geschlossen waren, wurde das Hauptventil
531 vollständig geöffnet, wodurch die Abscheidungskammer
501 einmal bis zu einem Druck von 0,67 nbar
evakuiert wurde. Während dieses Vorgangs waren alle
anderen Ventile in dem System geschlossen. Dann wurden
das Hilfsmittel 529 und die Ausströmventile 524, 525,
526, 527 und 528 geöffnet, um die in den Durchfluß-
Meßvorrichtungen 537, 538, 539, 540 und 541 befindlichen
Gase in ausreichendem Maße zu entfernen. Dann wurden
die Ausströmventile 524, 525, 526, 527 und 528 geschlossen,
worauf die Heizvorrichtung 504 zur Einstellung
der Trägertemperatur auf 250°C eingeschaltet
wurde.
Anschließend wurden das Ventil 514 der SiH₄(10)/H₂-
Gas enthaltenden Bombe 509 und das Ventil 515 der
B₂H₆(100)/H₂-Gas enthaltenden Bombe 510 geöffnet,
bis der an den Auslaßmanometern 532 und 533 angezeigte
Druck auf 0,98 bar eingestellt war. Dann wurden die
Einströmventile 519 und 520 geöffnet, um
SiH₄(10)/H₂-Gas und B₂H₆(100)/H₂-Gas in die Durchfluß-
Meßvorrichtung 537 bzw. 538 hineinströmen zu
lassen, worauf das Hilfsventil 529 allmählich geöffnet
wurde. Dabei wurden die Einströmventile 519 und
520 so eingestellt, daß das Gaszuführungsverhältnis
von SiH₄(10)/H₂ zu B₂H₆(100)/H₂ 100 : 1 betrug. Dann
wurde die Öffnung des Hilfsventils 529 unter sorgfältiger
Ablesung des an dem Pirani-Manometer 542 angezeigten
Druckes so eingestellt, daß der Innendruck in
der Abscheidungskammer 501 13 µbar erreichte. Nachdem
sich der Innendruck in der Abscheidungskammer
501 stabilisiert hatte, wurde das Hauptventil 531
unter Verengung seiner Öffnung allmählich geschlossen,
bis an dem Pirani-Manometer 542 0,67 mbar angezeigt
wurden. Nachdem festgestellt worden war, daß sich
das Einströmen der Gase und der Innendruck bei geschlossener
Blende 508 stabilisiert hatten, wurde
die Hochfrequenz-Stromquelle 543 eingeschaltet, wodurch
zwischen dem Festhalteelement 503 und der Blende 508,
die als Elektroden dienten, eine Hochfrequenzspannung
mit einer Frequenz von 13,56 MHz angelegt und in der
Abscheidungskammer 501 eine Glimmentladung mit einer
Eingangsleistung von 10 W erzeugt wurde. Die Glimmentladung
wurde unter Bildung einer fotoleitfähigen
Schicht mit einer Schichtdicke von etwa 15 µm etwa
10 h lang fortgesetzt.
Dann wurde die Hochfrequenz-Stromquelle 543 zur Unterbrechung
der Glimmentladung abgeschaltet, und die
Ventile 514 und 515, die Einströmventile 519 und 520
und die Ausströmventile 524 und 525 wurden geschlossen,
und das Hauptventil 531 wurde vollständig geöffnet.
Nach gründlichem Evakuieren der Abscheidungskammer
501 bis zur Erzielung von Vakuum wurde das Hilfsventil
529 einmal geschlossen.
Dann wurden das Ventil 516 der BF₃(5)/Ar-Gas enthaltenden
Bombe 511 und das Ventil 518 der B₂H₆(5)/Ar-Gas
enthaltenden Bombe 513 allmählich geöffnet, wodurch
der an den Auslaßmanometern 534 und 536 angezeigte
Druck auf 0,98 bar eingestellt wurde. Anschließend
wurden die Einströmventile 521 und 523 allmählich
geöffnet, um BF₃(5)/Ar-Gas und B₂H₆(5)/Ar-Gas in die
Durchfluß-Meßvorrichtung 539 bzw. 541 hineinströmen
zu lassen. Anschließend wurden die Ausströmventile
526 und 528 allmählich geöffnet, worauf das Hilfsventil
529 allmählich geöffnet wurde. Dabei wurden die
Einströmventile 521 und 523 so reguliert, daß das
Gaszuführungsverhältnis von BF₃(5)/Ar-Gas zu B₂H₆(5)/Ar-
Gas 1 : 1 betrug.
Dann wurde die Öffnung des Hilfsventils 529 so eingestellt,
daß der Innendruck in der Abscheidungskammer
501 auf 13 µbar gehalten wurde. Nachdem sich der Innendruck
in der Abscheidungskammer 501 stabilisiert hatte,
wurde das Hauptventil 531 unter Verengung seiner Öffnung
allmählich geschlossen, bis das Pirani-Manometer
542 0,27 mbar anzeigte. Nachdem festgestellt worden
war, daß sich das Einströmen der Gase und der Druck
stabilisiert hatten, wurde die Hochfrequenz-Stromquelle
543 eingeschaltet, wodurch zwischen dem Festhalteelement
503 und der Blende 508, die als Elektroden dienten,
eine Hochfrequenzspannung angelegt und in der Abscheidungskammer
501 eine Glimmentladung mit einer Eingangsleistung
von 25 W erzeugt wurde. Die Glimmentladung
wurde auf diese Weise unter Bildung einer als Oberflächen-
Sperrschicht dienenden amorphen Schicht etwa 5 min lang fortgesetzt.
Die auf diese Weise gebildete amorphe Schicht
hatte eine Dicke von etwa 40,0 nm.
Schließlich wurden die Heizvorrichtung 504 und die
Hochfrequenz-Stromquelle 543 abgeschaltet, und das
Ausströmventil 526 und das Einströmventil 521 wurden
bei vollständig geöffnetem Hauptventil 531 geschlossen,
wodurch der Innendruck in der Abscheidungskammer 501
auf weniger als 13 nbar gebracht wurde. Dann wurde
das Hauptventil 531 geschlossen. Nachdem der Träger
auf 50°C abgekühlt war, wurde der Innendruck in der
Abscheidungskammer 501 durch das Belüftungsventil
530 auf Atmosphärendruck gebracht, und der Träger
mit den darauf gebildeten Schichten wurde aus der
Abscheidungskammer herausgenommen.
Das auf diese Weise hergestellte elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial
wurde in eine Ladungs-Belichtungs-Versuchsvorrichtung
hineingebracht und einer Koronaladung mit -6 kV unterzogen,
worauf eine bildmäßige Belichtung unter Anwendung
einer Halogenlampe als Lichtquelle mit einer
Lichtmenge von etwa 1 lx · s durchgeführt wurde.
Unmittelbar danach wurde ein positiv geladener Entwickler,
der Toner und Tonerträger enthielt, kaskadenförmig
auf die Oberfläche des Aufzeichnungsmaterials auftreffen
gelassen, wodurch auf dem Aufzeichnungsmaterial
ein gutes Tonerbild erhalten wurde. Als das
auf dem Aufzeichnungsmaterial befindliche Tonerbild
durch Koronaladung mit -5,0 kV auf
als Bildempfangsmaterial dienendes Papier übertragen wurde, wurde ein
klares Bild erhalten, das eine ausgezeichnete Auflösung
sowie eine ausgezeichnete Reproduzierbarkeit der Helligkeitsabstufung
zeigte. Die vorstehend erwähnte Bildqualität
änderte sich in keiner Weise, als das Bilderzeugungsverfahren
wiederholt wurde und das beim
ersten Bilderzeugungsverfahren erhaltene Bild mit
den Bildern verglichen wurde, die bei dem zweiten Bilderzeugungsverfahren
und den folgenden Bilderzeugungsverfahren
erhalten wurden. Die Bildeigenschaften verschlechterten
sich auch dann nicht, als das vorstehend
erwähnte Bilderzeugungsverfahren 50 000mal wiederholt
worden war.
Andererseits wurde kein gutes Bild erhalten, als die
Ladungspolarität umgekehrt wurde, d. h., als die Koronaladung
mit +6 kV durchgeführt und im Anschluß an die
bildmäßige Belichtung eine Kaskadenentwicklung mit
einem negativ geladenen Entwickler durchgeführt wurde.
Unter Anwendung der gleichen Vorrichtung, die in Beispiel
7 angewendet wurde, wurde nach dem gleichen
Verfahren wie in Beispiel 7 ein Träger 502 aus Molybdän
befestigt.
Nachdem dann festgestellt worden war, daß alle Ventile
in dem System geschlossen waren, wurde das Hauptventil
531 vollständig geöffnet, wodurch die Abscheidungskammer
501 einmal bis zu einem Druck von etwa 0,67 nbar evakuiert
wurde. Während dieses Vorgangs waren alle anderen
Ventile in dem System geschlossen. Anschließend wurde
das Hilfsventil 529 geöffnet, und dann wurden die
Ausströmventile 524, 525, 526, 527 und 528 geöffnet,
um die in den Durchfluß-Meßvorrichtungen 537, 538,
539, 540 und 541 befindlichen Gase in ausreichendem
Maße zu entfernen. Dann wurden die Ausströmventile
524, 525, 526, 527 und 528 geschlossen.
Als nächstes wurde das Ventil 517 der Ar-Gas (Reinheit:
99,999%) enthaltenden Bombe 512 geöffnet, bis
der an dem Auslaßmanometer 535 abgelesene Druck auf
0,98 bar eingestellt war. Dann wurde das Einströmventil
522 geöffnet, um Ar-Gas in die Abscheidungskammer
501 hineinströmen zu lassen. Das Ausströmventil 527
wurde allmählich geöffnet, bis das Pirani-Manometer
542 0,67 µbar anzeigte. Nachdem sich die Strömungsmenge
in diesem Zustand bzw. unter diesen Bedingungen
stabilisiert hatte, wurde das Hauptventil 531 unter
Verengung seiner Öffnung allmählich geschlossen, bis
der Druck in der Abscheidungskammer 13 µbar erreichte.
Nachdem festgestellt worden war, daß sich die Durchfluß-
Meßvorrichtung 540 bei geöffneter Blende 508
stabilisiert hatte, wurde die Hochfrequenz-Stromquelle
543 eingeschaltet, wodurch zwischen dem Target (Graphit-
Target 505 und Silicium-Target 506) und dem Festhalteelement
503 eine Wechselspannung mit einer Frequenz
von 13,56 MHz und einer Leistung von 100 W angelegt
wurde. Unter diesen Bedingungen, die so abgestimmt
waren, daß eine stabile Entladung fortgesetzt wurde,
wurde eine Schicht gebildet. Nachdem die Entladung
unter diesen Bedingungen 1 min lang fortgesetzt worden
war, hatte sich eine untere Sperrschicht mit einer
Dicke von 10,0 nm gebildet. Dann wurde die Hochfrequenz-
Stromquelle 543 zur Unterbrechung der Glimmentladung
abgeschaltet. Anschließend wurde das Ausströmventil
522 geschlossen, und das Hauptventil 531 wurde vollständig
geöffnet, um das in der Abscheidungskammer
501 befindliche Gas bis zur Erzielung eines Druckes
von 67 nbar zu evakuieren. Dann wurde die Eingangsspannung
der Heizvorrichtung 504 verändert und unter
Messung der Trägertemperatur stabilisiert, bis sich
die Trägertemperatur bei einem konstanten Wert von
250°C stabilisiert hatte.
Des weiteren wurde das Hilfsventil 529 vollständig
geöffnet, und dann wurden das Ausströmventil 527 und
das Einströmventil 522 vollständig geöffnet, um die
Durchfluß-Meßvorrichtung 540 in ausreichendem Maße
bis zur Erzielung von Vakuum zu entgasen.
Anschließend wurden die fotoleitfähige Schicht und
die als Oberflächen-Sperrschicht dienende amorphe Schicht nach dem gleichen Verfahren
wie in Beispiel 7 gebildet.
Das auf diese Weise hergestellte elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial
wurde in die gleiche Ladungs-Belichtungs-Versuchsvorrichtung
hineingebracht, die in Beispiel 7 angewendet
wurde, und die Bilderzeugung, die Entwicklung und
die Übertragung wurden in der gleichen Weise wie in
Beispiel 7 durchgeführt. Als Ergebnis wurde ein klares
Bild erhalten, das eine ausgezeichnete Auflösung sowie
eine gute Reproduzierbarkeit der Helligkeitsabstufung
zeigte und eine höhere Dichte hatte als das in Beispiel
7 erhaltene Bild. Die Bildeigenschaften waren auch
beim wiederholten Kopieren gut. Ähnlich wie in Beispiel
7 wurde der Versuch einer Bilderzeugung unter Umkehrung
der Ladungspolarität gemacht, wobei jedoch kein gutes
Bild erhalten wurde.
Elektrofotografische Aufzeichnungsmaterialien wurden in der gleichen Weise
wie in Beispiel 7 hergestellt, jedoch wurde die Dicke
der als Oberflächen-Sperrschicht dienenden amorphen Schicht variiert. Diese
elektrofotografischen Aufzeichnungsmaterialien wurden ähnlich wie in Beispiel 7
zur Bilderzeugung durch Ladung mit negativer Polarität
eingesetzt, wobei die in Tabelle 3 gezeigten Ergebnisse
erhalten wurden.
Unter Anwendung der in Fig. 5 gezeigten Vorrichtung
wurde nach dem folgenden Verfahren ein elektrofotografisches
Aufzeichnungsmaterial mit der in Fig. 3 gezeigten Schichtstruktur
hergestellt.
Ein Träger 502 aus Molybdän (10 cm × 10 cm) mit einer
Dicke von 0,5 mm, dessen Oberfläche gereinigt worden
war, wurde an einem Festhalteelement 503 befestigt,
das in einer vorbestimmten Lage in einer Abscheidungskammer
501 angeordnet war. Die Blende 508 wurde geschlossen.
Der Träger 502 wurde durch eine innerhalb
des Festhalteelements 503 befindliche Heizvorrichtung
504 mit einer Genauigkeit von ±0,5°C erhitzt. Nachdem
dann festgestellt worden war, daß alle Ventile in
dem System geschlossen waren, wurde das Hauptventil
531 vollständig geöffnet, wodurch die Abscheidungskammer
501 einmal bis zu einem Druck von 0,67 nbar evakuiert
wurde. Während dieses Vorgangs waren alle anderen
Ventile in dem System geschlossen. Dann wurden das
Hilfsventil 529 und die Ausströmventile 524, 525,
526 und 527 geöffnet, um die in den Durchfluß-Meßvorrichtungen
537, 538, 539 und 540 befindlichen Gase
in ausreichendem Maße zu entfernen. Dann wurden die
Ausströmventile 524, 525, 526 und 527 geschlossen,
worauf die Heizvorrichtung 504 zur Einstellung der
Trägertemperatur auf 250°C eingeschaltet wurde.
Anschließend wurde das Ventil 516 der B₂H₆(5)/H₂-Gas
enthaltenden Bombe 511 geöffnet, bis der an dem Auslaßmanometer
534 abgelesene Druck auf 0,98 bar eingestellt
war, und dann wurde das Einströmventil 521 allmählich
geöffnet, um B₂H₆(5)/H₂-Gas in die Durchfluß-Meßvorrichtung
539 hineinströmen zu lassen. Dann wurde das
Einströmventil 526 allmählich geöffnet, und die Öffnung
des Hilfsventils 529 wurde so eingestellt, daß der
Innendruck in der Abscheidungskammer 501 bei 13 µbar
gehalten wurde. Nachdem sich der Innendruck in der
Abscheidungskammer 501 stabilisiert hatte, wurde das
Hauptventil 531 unter Verengung seiner Öffnung allmählich
geschlossen, bis das Pirani-Manometer 542 0,27
mbar anzeigte. Nachdem festgestellt worden war, daß
sich das Einströmen des Gases und der Innendruck bei
geschlossener Blende 508 stabilisiert hatten, wurde
die Hochfrequenz-Stromquelle 543 eingeschaltet, wodurch
zwischen dem Festhalteelement 503 und der Blende 508,
die als Elektroden dienten, eine Hochfrequenzspannung
angelegt und in der Abscheidungskammer 501 eine Glimmentladung
mit einer Eingangsleistung von 20 W erzeugt
wurde. Die Glimmentladung wurde zur Bildung einer amorphen
Schicht (Zwischenschicht) etwa 6 min lang fortgesetzt.
Die auf diese Weise hergestellte amorphe Schicht hatte
eine Dicke von etwa 40,0 nm. Dann wurde die Hochfrequenz-
Stromquelle 543 zur Unterbrechung der Glimmentladung
abgeschaltet, und das Ventil 516, das Einströmventil
521 und das Ausströmventil 526 wurden
geschlossen, und das Hauptventil 531 wurde vollständig
geöffnet. Nach gründlichem Evakuieren der Abscheidungskammer
501 bis zur Erzielung von Vakuum wurde das
Hilfsventil 529 einmal geschlossen, und dann wurden
das Ventil 514 der SiH₄(10)/H₂-Gas enthaltenden Bombe
509 und das Ventil 515 der B₂H₆(100)/H₂-Gas enthaltenden
Bombe 510 geöffnet, um den an den Auslaßmanometern
532 und 533 abgelesenen Druck auf 0,98 bar einzustellen,
worauf die Einströmventile 519 und 520 allmählich
geöffnet wurden, um SiH₄(10)/H₂-Gas und B₂H₆(100)/H₂-
Gas in die Durchfluß-Maßvorrichtung 537 bzw. 538 hineinströmen
zu lassen. Anschließend wurden die Ausströmventile
524 und 525 allmählich geöffnet, und dann
wurde das Hilfsventil 529 allmählich geöffnet. Dabei
wurden die Einströmventile 519 und 520 so eingestellt,
daß das Gaszuführungsverhältnis von SiH₄(10)/H₂-Gas
zu B₂H₆(100)/H₂-Gas 100 : 1 betrug. Dann wurde die Öffnung
des Hilfsventils 529 unter sorgfältiger Ablesung
des Pirani-Manometers 542 so eingestellt, daß der
Innendruck in der Abscheidungskammer 501 13 µbar
erreichte. Nachdem sich der Innendruck in der Abscheidungskammer
501 stabilisiert hatte, wurde das Hauptventil
531 unter Verengung seiner Öffnung allmählich
geschlossen, bis das Pirani-Manometer 542 0,67 mbar
anzeigte. Nachdem festgestellt worden war, daß sich
das Einströmen der Gase und der Innendruck stabilisiert
hatten, wurde die Hochfrequenz-Stromquelle 543
eingeschaltet, wodurch zwischen dem Festhalteelement
503 und der Blende 508, die als Elektroden dienten,
eine Hochfrequenzspannung mit einer Frequenz von
13,56 MHz angelegt und in der Abscheidungskammer 501
eine Glimmentladung mit einer Eingangsleistung von
10 W erzeugt wurde. Die Glimmentladung wurde auf diese
Weise etwa 10 h lang fortgesetzt, wodurch eine fotoleitfähige
Schicht mit einer Dicke von etwa 15 µm gebildet
wurde.
Schließlich wurden die Heizvorrichtung 504 und die
Hochfrequenz-Stromquelle 543 abgeschaltet, und die
Ausströmventile 524 und 525 und die Einströmventile
519 und 520 wurden bei vollständig geöffnetem Hauptventil
531 geschlossen, wodurch der Innendruck in
der Abscheidungskammer 501 auf weniger als 13 nbar
gebracht wurde. Dann wurde das Hauptventil 531 geschlossen.
Nachdem der Träger auf 50°C abgekühlt war,
wurde der Innendruck in der Abscheidungskammer 501
durch das Belüftungsventil 530 auf Atmosphärendruck
gebracht, und der Träger mit den darauf gebildeten
Schichten wurde aus der Abscheidungskammer herausgenommen.
Das auf diese Weise hergestellte elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial
wurde in einer Ladungs-Belichtungs-Versuchsvorrichtung
hineingebracht und einer Koronaladung mit +6 kV unterzogen,
worauf eine bildmäßige Belichtung unter Anwendung
einer Halogenlampe als Lichtquelle mit einer
Lichtmenge von etwa 1,2 lx · s durchgeführt wurde.
Unmittelbar danach wurde ein negativ geladener Entwickler,
der Toner und Tonerträger enthielt, kaskadenförmig
auf die Oberfläche des Aufzeichnungsmaterials auftreffen
gelassen, wodurch auf dem Aufzeichnungsmaterial
ein gutes Tonerbild erhalten wurde. Als das
auf dem Aufzeichnungsmaterial befindliche Tonerbild
durch Koronabildung mit +0,5 kV auf
als Bildempfangsmaterial dienendes Papier übertragen wurde, wurde ein
klares Bild erhalten, das eine ausgezeichnete Auflösung
sowie eine ausgezeichnete Reproduzierbarkeit der Helligkeitsabstufung
zeigte. Die vorstehend erwähnte Bildqualität
änderte sich in keiner Weise, als das Bilderzeugungsverfahren
wiederholt und das beim ersten Bilderzeugungsverfahren
erhaltene Bild mit den Bildern
verglichen wurde, die bei dem zweiten Bilderzeugungsverfahren
und den folgenden Bilderzeugungsverfahren erhalten
wurden. Die Bildeigenschaften verschlechterten
sich auch dann nicht, als das vorstehend beschriebene
Bilderzeugungsverfahren 50 000mal wiederholt worden
war.
Andererseits wurde kein gutes Bild erhalten, als die
Ladungspolarität umgekehrt wurde, d. h., als die Koronaladung
mit -6 kV durchgeführt und im Anschluß an die
bildmäßige Belichtung eine Kaskadenentwicklung mit
einem positiv geladenen Entwickler durchgeführt wurde.
Unter den gleichen Bedingungen und nach dem gleichen
Verfahren wie in Beispiel 10 wurden auf einem Träger
aus Molybdän eine amorphe Schicht (Zwischenschicht) und eine fotoleitfähige
Schicht gebildet.
Dann wurden die Heizvorrichtung 504 und die Hochfrequenz-
Stromquelle 543 abgeschaltet. Nachdem der
Träger auf 50°C abgekühlt war, wurden die Ausströmventile
524 und 525 und die Einströmventile 519 und
520 bei vollständiger Öffnung des Hauptventils 531
geschlossen, um die Abscheidungskammer 501 in ausreichendem
Maße zu entgasen. Als nächstes wurde das Ventil
517 der Ar-Gas (Reinheit: 99,999%) enthaltenden Bombe
512 geöffnet, bis der an dem Auslaßmanometer 535 abgelesene
Druck auf 0,98 bar eingestellt war, und dann
wurde das Einströmventil 522 geöffnet, worauf das
Ausströmventil 527 allmählich geöffnet wurde, um Ar-Gas
in die Abscheidungskammer 501 hineinströmen zu lassen.
Das Ausströmventil 527 wurde allmählich geöffnet,
bis das Pirani-Manometer 542 0,67 µbar anzeigte. Nachdem
sich die Strömungsmenge in diesem Zustand bzw. unter
diesen Bedingungen stabilisiert hatte, wurde das Hauptventil
531 unter Verengung seiner Öffnung allmählich
geschlossen, bis der Druck in der Abscheidungskammer
501 µbar erreichte. Nachdem festgestellt worden
war, daß sich die Durchfluß-Meßvorrichtung 540 bei
geöffneter Blende 508 stabilisiert hatte, wurde die
Hochfrequenz-Stromquelle 543 eingeschaltet, wodurch
zwischen dem Target (Graphit-Target 505 und Silicium-
Target 506) und dem Festhalteelement 503 eine Wechselspannung
mit einer Frequenz von 13,56 MHz und einer
Leistung von 100 W angelegt wurde. Unter diesen Bedingungen,
die so abgestimmt waren, daß ein stabile Entladung
fortgesetzt wurde, wurde eine Schicht gebildet.
Nachdem die Entladung unter diesen Bedingungen 1 min
lang fortgesetzt worden war, hatte sich eine Oberflächen-
Sperrschicht mit einer Dicke von 10,0 nm gebildet.
Dann wurde die Hochfrequenz-Stromquelle 543 zur Unterbrechung
der Glimmentladung abgeschaltet. Anschließend
wurden das Ausströmventil 527 und das Einströmventil
522 geschlossen, und das Hauptventil 531 wurde
vollständig geöffnet, wodurch das in der Abscheidungskammer
501 befindliche Gas bis zur Erzielung eines
Druckes von 13 nbar oder weniger evakuiert wurde.
Dann wurde das Hauptventil 531 geschlossen, und die
Abscheidungskammer 501 wurde durch das Belüftungsventil
530 auf Atmosphärendruck gebracht, worauf der Träger
mit den darauf gebildeten Schichten aus der Abscheidungskammer
herausgenommen wurde.
Das auf diese Weise hergestellte elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial
wurde in die gleiche Ladungs-Belichtungs-Versuchsvorrichtung
hineingebracht, die in Beispiel 10 angewendet
wurde, und die Bilderzeugung, die Entwicklung und
die Übertragung wurden in der gleichen Weise wie in
Beispiel 10 durchgeführt. Als Ergebnis wurde ein klares
Bild erhalten, das eine ausgezeichnete Auflösung sowie
eine gute Reproduzierbarkeit der Helligkeitsabstufung
zeigte und eine höhere Dichte als das in Beispiel
10 erhaltene Bild hatte. Auch nach wiederholtem Kopieren
waren die Bildeigenschaften
gut. Ähnlich wie in Beispiel 10 wurde der Versuch
einer Bilderzeugung unter Umkehrung der Ladungspolarität
gemacht, wobei jedoch kein gutes Bild erhalten
wurde.
Elektrofotografische Aufzeichnungsmaterialien wurden in der gleichen Weise
wie in Beispiel 10 hergestellt, jedoch wurde die Dicke
der amorphen Schicht (Zwischenschicht) variiert. Diese elektrofotografischen
Aufzeichnungsmaterialien wurden ähnlich wie in Beispiel 10 zur Bilderzeugung
durch Ladung mit positiver Polarität eingesetzt,
wobei die in Tabelle 4 gezeigten Ergebnisse
erhalten wurden.
Unter Anwendung der in Fig. 5 gezeigten Vorrichtung
wurde nach dem folgenden Verfahren ein elektrofotografisches
Aufzeichnungsmaterial der in Fig. 3 gezeigten Schichtstruktur hergestellt.
Ein Träger 502 aus Molybdän (10 cm × 10 cm) mit einer
Dicke von 0,5 mm, dessen Oberfläche gereinigt worden
war, wurde an einem Festhalteelement 503 befestigt,
das in einer vorbestimmten Lage in einer Abscheidungskammer
501 angeordnet war.
Nachdem dann festgestellt worden war, daß alle Ventile
in dem System geschlossen waren, wurde das Hauptventil
531 vollständig geöffnet, wodurch die Abscheidungskammer
501 einmal bis zu einem Druck von 0,67 nbar evakuiert
wurde. Während dieses Vorgangs waren alle anderen
Ventile in dem System geschlossen. Dann wurden das
Hilfsventil 529 und die Ausströmventile 524, 525,
526 und 527 geöffnet, um die in den Durchfluß-Meßvorrichtungen
537, 538, 539 und 540 befindlichen Gase
in ausreichendem Maße zu entfernen. Dann wurden die
Ausströmventile 524, 525, 526 und 527 geschlossen,
worauf die Heizvorrichtung 504 zur Einstellung der
Trägertemperatur auf 250°C eingeschaltet wurde.
Anschließend wurde das Ventil 516 der BF₃(5)/Ar-Gas
enthaltenden Bombe 511 geöffnet, bis der an dem Auslaßmanometer
534 abgelesene Druck auf 0,98 bar eingestellt
war, und dann wurde das Einströmventil 521 allmählich
geöffnet, um BF₃(5)/Ar-Gas in die Durchfluß-Meßvorrichtung
539 hineinströmen zu lassen. Dann wurde das Einströmventil
526 allmählich geöffnet, und die Öffnung
des Hilfsventils 529 wurde so eingestellt, daß der
Innendruck in der Abscheidungskammer 501 bei 13 µbar
gehalten wurde. Nachdem sich der Innendruck in der
Abscheidungskammer 501 stabilisiert hatte, wurde das
Hauptventil 531 unter Verengung seiner Öffnung allmählich
geschlossen, bis an dem Pirani-Manometer 542
0,27 mbar angezeigt wurde. Nachdem festgestellt worden
war, daß sich das Einströmen des Gases und der Innendruck
bei geschlossener Blende 508 stabilisiert hatten,
wurde die Hochfrequenz-Stromquelle 543 eingeschaltet,
wodurch zwischen dem Festhalteelement 503 und der
Blende 508, die als Elektroden dienten, eine Hochfrequenzspannung
angelegt und in der Abscheidungskammer
501 eine Glimmentladung mit einer Eingangsleistung
von 25 W erzeugt wurde. Die Glimmentladung wurde zur
Bildung einer amorphen Schicht (Zwischenschicht) etwa 6 min lang fortgesetzt.
Die auf diese Weise hergestellte amorphe Schicht hatte
eine Dicke von etwa 45,0 nm. Dann wurde die Hochfrequenz-
Stromquelle 543 zur Unterbrechung der Glimmentladung
abgeschaltet, und das Ventil 516, das Einströmventil
521 und das Ausströmventil 526 wurden
geschlossen, und das Hauptventil 531 wurde vollständig
geöffnet. Nach gründlichem Evakuieren der Abscheidungskammer
501 bis zur Erzielung von Vakuum wurde das
Hilfsventil 529 einmal geschlossen, und dann wurden
das Ventil 514 der SiH₄(10)/H₂-Gas enthaltenden Bombe
509 und das Ventil 515 der B₂H₆(100)/H₂-Gas enthaltenden
Bombe 510 geöffnet, wobei der an den Auslaßmanometern
532 und 533 abgelesene Druck auf 0,98 bar eingestellt
wurde. Anschließend wurden die Einströmventile
519 und 520 allmählich geöffnet, um SiH₄(10)/H₂-Gas
und B₂H₆(100)/H₂-Gas in die Durchfluß-Meßvorrichtung
537 bzw. 538 hineinströmen zu lassen. Anschließend
wurden die Ausströmventile 524 und 525 allmählich
geöffnet, und dann wurde das Hilfsventil 529 allmählich
geöffnet. Dabei wurden die Einströmventile so eingestellt,
daß das Gaszuführungsverhältnis von SiH₄(10)/H₂-
Gas zu B₂H₆(100)/H₂-Gas 100 : 1 betrug. Dann wurde die
Öffnung des Hilfsventils 529 unter sorgfältiger Ablesung
des Pirani-Manometers 542 so eingestellt, daß der
Innendruck in der Abscheidungskammer 501 13 µbar
erreichte. Nachdem sich der Innendruck in der Abscheidungskammer
501 stabilisiert hatte, wurde das Hauptventil
531 unter Verengung seiner Öffnung allmählich
geschlossen, bis das Pirani-Manometer 542 0,27 mbar
anzeigte. Nachdem festgestellt worden war, daß sich
das Einströmen der Gase und der Innendruck stabilisiert
hatten, wurde die Hochfrequenz-Stromquelle 543 eingeschaltet,
wodurch zwischen dem Festhalteelement 503
und der Blende 508, die als Elektroden dienten, eine
Hochfrequenzspannung mit einer Frequenz von 13,56 MHz
angelegt und in der Abscheidungskammer 501 eine Glimmentladung
mit einer Eingangsleistung von 10 W erzeugt
wurde. Die Glimmentladung wurde in dieser Weise etwa
10 h lang fortgesetzt, wodurch eine fotoleitfähige
Schicht mit einer Dicke von etwa 15 µm gebildet wurde.
Schließlich wurden die Heizvorrichtung 504 und die
Hochfrequenz-Stromquelle 543 abgeschaltet, und die
Ausströmventile 524 und 525 und die Einströmventile
519 und 520 wurden bei vollständig geöffnetem Hauptventil
531 geschlossen, wodurch der Innendruck in
der Abscheidungskammer 501 auf weniger als 13 nbar
gebracht wurde. Dann wurde das Hauptventil 531 geschlossen.
Nachdem der Träger auf 50°C abgekühlt war,
wurde der Innendruck in der Abscheidungskammer 501
durch das Belüftungsventil 530 auf Atmosphärendruck
gebracht, worauf der Träger mit den darauf gebildeten
Schichten aus der Abscheidungskammer herausgenommen
wurde.
Das auf diese Weise hergestellte elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial
wurde in eine Ladungs-Belichtungs-Versuchsvorrichtung
hineingebracht und einer Koronaladung mit +6 kV unterzogen,
worauf eine bildmäßige Belichtung unter Anwendung
einer Halogenlampe als Lichtquelle mit einer Lichtmenge
von etwa 1,2 lx · s durchgeführt wurde.
Unmittelbar danach wurde ein negativ geladener Entwickler,
der Toner und Tonerträger enthielt, kaskadenförmig
auf die Oberfläche des Aufzeichnungsmaterials auftreffen
gelassen, wodurch auf dem Aufzeichnungsmaterial
ein gutes Tonerbild erhalten wurde. Als das
auf dem Aufzeichnungsmaterial befindliche Tonerbild
durch Koronaladung mit +5,0 kV auf
als Bildempfangsmaterial dienendes Papier übertragen wurde, wurde ein
klares Bild erhalten, das eine ausgezeichnete Auflösung
sowie eine ausgezeichnete Reproduzierbarkeit der Helligkeitsabstufung
zeigte. Die vorstehend erwähnte Bildqualität
wurde in keiner Weise verändert, als das
Bilderzeugungsverfahren wiederholt wurde und das beim
ersten Bilderzeugungsverfahren erhaltene Bild mit
den Bildern verglichen wurde, die bei dem zweiten Bilderzeugungsverfahren
und den folgenden Bilderzeugungsverfahren
erhalten wurden. Die Bildqualität verschlechterte
sich auch dann nicht, als das vorstehend erwähnte
Bilderzeugungsverfahren 50 000mal wiederholt worden
war.
Andererseits wurde kein gutes Bild erhalten, als die
Ladungspolarität umgekehrt wurde, d. h., als die Koronaladung
mit -6 kV durchgeführt und im Anschluß an die
bildmäßige Belichtung eine Kaskadenentwicklung mit
einem positiv geladenen Entwickler durchgeführt wurde.
Unter den gleichen Bedingungen und nach dem gleichen
Verfahren wie in Beispiel 13 wurden auf einem Träger
aus Molybdän eine amorphe Schicht (Zwischenschicht) und eine fotoleitfähige
Schicht gebildet.
Dann wurden die Heizvorrichtung 504 und die Hochfrequenz-
Stromquelle 543 abgeschaltet. Nachdem der
Träger auf 50°C abgekühlt war, wurden die Ausströmventile
524 und 525 und die Einströmventile 519 und 520
bei vollständiger Öffnung des Hauptventils 531 geschlossen,
wodurch die Abscheidungskammer 501 in ausreichendem
Maße entgast wurde. Als nächstes wurde das
Ventil 517 der Ar-Gas (Reinheit: 99,999%) enthaltenden
Bombe 512 geöffnet, bis der an dem Auslaßmanometer
535 abgelesen Druck auf 0,98 bar eingestellt war.
Dann wurde das Einströmventil 522 geöffnet, worauf
das Ausströmventil 527 allmählich geöffnet wurde,
um Ar-Gas in die Abscheidungskammer 501 hineinströmen
zu lassen. Das Ausströmventil 527 wurde allmählich
geöffnet, bis das Pirani-Manometer 542 0,67 µbar anzeigte.
Nachdem sich die Strömungsmenge unter diesen Bedingungen
bzw. in diesem Zustand stabilisiert hatte,
wurde das Hauptventil 531 unter Verengung seiner Öffnung
allmählich geschlossen, bis der Druck in der
Abscheidungskammer 501 13 µbar erreichte. Nachdem
festgestellt worden war, daß sich die Durchfluß-Meßvorrichtung
540 bei geöffneter Blende 508 stabilisiert
hatte, wurde die Hochfrequenz-Stromquelle 543 eingeschaltet,
wodurch zwischen dem Target (Graphit-Target
505 und Silicium-Target 506) und dem Festhalteelement
503 eine Wechselspannung mit einer Frequenz von
13,56 MHz und einer Leistung von 100 W angelegt wurde.
Unter diesen Bedingungen, die so abgestimmt waren,
daß eine stabile Entladung fortgesetzt wurde, wurde
eine Schicht gebildet. Nachdem die Entladung unter
diesen Bedingungen 1 min lang fortgesetzt worden war,
hatte sich eine Oberflächen-Sperrschicht mit einer
Dicke von 10,0 nm gebildet. Dann wurde die Hochfrequenz-
Stromquelle 543 zur Unterbrechung der Glimmentladung
abgeschaltet. Anschließend wurden das Ausströmventil
527 und das Einströmventil 522 geschlossen, und das
Hauptventil 531 wurde vollständig geöffnet, um das
in der Abscheidungskammer 501 befindliche Gas bis
zur Erzielung eines Druckes von 13 nbar zu evakuieren.
Dann wurde das Hauptventil 531 geschlossen, und die
Abscheidungskammer 501 wurde durch das Belüftungsventil
530 auf Atmosphärendruck gebracht, worauf der Träger
mit den darauf gebildeten Schichten aus der Abscheidungskammer
herausgenommen wurde.
Das auf diese Weise hergestellte elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial
wurde in die gleiche Ladungs-Belichtungs-Versuchsvorrichtung
hineingebracht, die in Beispiel 13 angewendet
wurde, und die Bilderzeugung, die Entwicklung und
die Übertragung wurden in der gleichen Weise wie in
Beispiel 13 durchgeführt. Als Ergebnis wurde ein klares
Bild erhalten, das eine ausgezeichnete Auflösung sowie
eine gute Reproduzierbarkeit der Helligkeitsabstufung
zeigte und eine höhere Dichte hatte als das in
Beispiel 13 erhaltene Bild. Die Bildeigenschaften
waren auch beim wiederholten Kopieren gut. Ähnlich
wie in Beispiel 13 wurde der Versuch einer Bilderzeugung
unter Umkehrung der Ladungspolarität gemacht, wobei
jedoch kein gutes Bild erhalten wurde.
Elektrofotografische Aufzeichnungsmaterialien wurden in der gleichen Weise
wie in Beispiel 13 hergestellt, jedoch wurde die Dicke
der amorphen Schicht (Zwischenschicht) variiert. Diese elektrofotografischen
Aufzeichnungsmaterialien wurden ähnlich wie in Beispiel 13 zur Bilderzeugung
durch Ladung mit positiver Polarität eingesetzt,
wobei die in Tabelle 5 gezeigten Ergebnisse
erhalten wurden.
Unter Anwendung der in Fig. 5 gezeigten Vorrichtung
wurde nach dem folgenden Verfahren ein elektrofotografisches
Aufzeichnungsmaterial mit der in Fig. 3 gezeigten Schichtstruktur
hergestellt.
Ein Träger 502 aus Molybdän (10 cm × 10 cm) mit einer
Dicke von 0,5 mm, dessen Oberfläche gereinigt worden
war, wurde an einem Festhalteelement 503 befestigt,
das in einer vorbestimmten Lage in einer Abscheidungskammer
501 angeordnet war.
Nachdem dann festgestellt worden war, daß alle Ventile
in dem System geschlossen waren, wurde das Hauptventil
531 vollständig geöffnet, um die Abscheidungskammer
501 einmal bis zu einem Druck von 0,67 nbar zu evakuieren.
Während dieses Vorgangs waren alle anderen Ventile
in dem System geschlossen. Dann wurden das Hilfsventil
529 und die Ausströmventile 524, 525, 526, 527 und
528 geöffnet, um die in den Durchfluß-Meßvorrichtungen
537, 538, 539, 540 und 541 befindlichen Gase in ausreichendem
Maße zu entfernen. Dann wurden die Ausströmventile
524, 525, 526, 527 und 528 geschlossen, worauf
die Heizvorrichtung 504 zur Einstellung der Trägertemperatur
auf 250°C eingeschaltet wurde.
Anschließend wurden das Ventil 516 der BF₃(5)/Ar-Gas
enthaltenden Bombe 511 und das Ventil 518 der B₂H₆(5)/Ar-
Gas enthaltenden Bombe 513 geöffnet, bis der an den
Auslaßmanometern 534 und 536 angezeigte Druck auf
0,98 bar eingestellt war. Dann wurden die Einströmventile
521 und 523 allmählich geöffnet, um BF₃(5)/Ar-Gas
und B₂H₆(5)/Ar-Gas in die Durchfluß-Meßvorrichtung
539 bzw. 541 hineinströmen zu lassen. Dann wurden
die Ausströmventile 526 und 528 allmählich geöffnet,
worauf das Hilfsventil 529 allmählich geöffnet wurde.
Dabei wurden die Einströmventile 521 und 523 so eingestellt,
daß das Gaszuführungsverhältnis von BF₃(5)/Ar-
Gas zu B₂H₆(5)/Ar-Gas 1 : 1 betrug. Anschließend wurde
die Öffnung des Hilfsventils 529 so eingestellt, daß
der Innendruck in der Abscheidungskammer 501 bei 13 µbar
gehalten wurde. Nachdem sich der Innendruck in der
Abscheidungskammer 501 stabilisiert hatte, wurde das
Hauptventil 531 unter Verengung seiner Öffnung allmählich
geschlossen, bis das Pirani-Manometer 542 0,27 mbar
anzeigte. Nachdem festgestellt worden war, daß sich
das Einströmen der Gase und der Innendruck stabilisiert
hatten, wurde die Hochfrequenz-Stromquelle 543 eingeschaltet,
wodurch zwischen dem Festhalteelement 503
und der Blende 508, die als Elektroden dienten, eine
Hochfrequenzspannung angelegt und in der Abscheidungskammer
501 eine Glimmentladung mit einer Eingangsleistung
von 25 W erzeugt wurde. Die Glimmentladung
wurde zur Bildung einer amorphen Schicht (Zwischenschicht) etwa 5 min
lang fortgesetzt.
Die auf diese Weise hergestellte amorphe Schicht hatte
eine Dicke von etwa 40,0 nm. Dann wurde die Hochfrequenz-
Stromquelle 543 zur Unterbrechung der Glimmentladung
abgeschaltet, und die Ventile 516 und 518,
die Einströmventile 521 und 523 und die Ausströmventile
526 und 528 wurden geschlossen, und das Hauptventil
531 wurde vollständig geöffnet. Nach gründlichem Evakuieren
der Abscheidungskammer 501 bis zur Erzielung
von Vakuum wurde das Hilfsventil 529 einmal geschlossen,
und dann wurden das Ventil 514 der SiH₄(10)/H₂-Gas
enthaltenden Bombe 509 und das Ventil 515 der
B₂H₆(100)/H₂-Gas enthaltenden Bombe 510 geöffnet,
um den an den Auslaßmanometern 532 und 533 angezeigten
Druck auf 0,98 bar einzustellen. Anschließend wurden
die Einströmventile 519 und 520 allmählich geöffnet,
um SiH₄(10)/H₂-Gas und B₂H₆(100)/H₂-Gas in die Durchfluß-
Meßvorrichtung 537 bzw. 538 hineinströmen zu
lassen. Anschließend wurden die Ausströmventile 524
und 525 allmählich geöffnet, und dann wurde das Hilfsventil
529 allmählich geöffnet. Dabei wurden die Einströmventile
519 und 520 so eingestellt, daß das Gaszuführungsverhältnis
von SiH₄(10)/H₂-Gas zu B₂H₆(100)/H₂-
Gas 100 : 1 betrug. Dann wurde die Öffnung des Hilfsventils
529 unter sorgfältiger Ablesung des Pirani-Manometers
542 so eingestellt, daß der Innendruck in der
Abscheidungskammer 501 13 µbar erreichte. Nachdem
sich der Innendruck in der Abscheidungskammer 501
stabilisiert hatte, wurde das Hauptventil 531 unter
Verengung seiner Öffnung allmählich geschlossen, bis
das Pirani-Manometer 542 0,27 mbar anzeigte. Nachdem
festgestellt worden war, daß sich das Einströmen der
Gase und der Innendruck stabilisiert hatten, wurde
die Hochfrequenz-Stromquelle 543 bei geschlossener
Blende 508 eingeschaltet, wodurch zwischen dem Festhalteelement
503 und der Blende 508, die als Elektroden
dienten, eine Hochfrequenzspannung mit einer Frequenz
von 13,56 MHz angelegt und in der Abscheidungskammer
501 eine Glimmentladung mit einer Eingangsleistung
von 10 W erzeugt wurde. Die Glimmentladung wurde in
dieser Weise etwa 10 h lang fortgesetzt, wodurch eine
fotoleitfähige Schicht mit einer Dicke von etwa 15 µm
gebildet wurde.
Schließlich wurden die Heizvorrichtung 504 und die
Hochfrequenz-Stromquelle 543 abgeschaltet, und die
Ausströmventile 524 und 525 und die Einströmventile
519 und 520 wurden bei vollständig geöffnetem Hauptventil
531 geschlossen, wodurch der Innendruck in der
Abscheidungskammer 501 auf weniger als 13 nbar gebracht
wurde. Dann wurde das Hauptventil 531 geschlossen.
Nachdem der Träger auf 50°C abgekühlt war, wurde der
Innendruck in der Abscheidungskammer 501 durch das
Belüftungsventil 530 auf Atmosphärendruck gebracht,
worauf der Träger mit den darauf gebildeten Schichten
aus der Abscheidungskammer herausgenommen wurde.
Das auf diese Weise hergestellte elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial
wurde in eine Ladungs-Belichtungs-Versuchsvorrichtung
hineingebracht und einer Koronaladung mit +6 kV unterzogen,
worauf eine bildmäßige Belichtung unter Anwendung
einer Halogenlampe als Lichtquelle mit einer Lichtmenge
von etwa 1,2 lx · s durchgeführt wurde.
Unmittelbar danach wurde ein negativ geladener Entwickler,
der Toner und Tonerträger enthielt, kaskadenförmig
auf die Oberfläche des Aufzeichnungsmaterials auftreffen
gelassen, wodurch auf dem Aufzeichnungsmaterial
ein gutes Tonerbild erhalten wurde. Als das
auf dem Aufzeichnungsmaterial befindliche Tonerbild
durch Koronaladung mit +0,5 kV auf
als Bildempfangsmaterial dienendes Papier übertragen wurde, wurde ein
klares Bild erhalten, das eine ausgezeichnete Auflösung
sowie eine ausgezeichnete Reproduzierbarkeit der Helligkeitsabstufung
zeigte. Die vorstehend erwähnte Bildqualität
änderte sich in keiner Weise, als das Bilderzeugungsverfahren
wiederholt wurde und das beim ersten
Bilderzeugungsverfahren erhaltene Bild mit den Bildern
verglichen wurde, die bei dem zweiten Bilderzeugungsverfahren
und bei den folgenden Bilderzeugungsverfahren
erhalten wurden. Die Bildqualität bzw. die Bildeigenschaften
änderten sich auch dann nicht, als das
vorstehend beschriebene Bilderzeugungsverfahren 50 000mal
wiederholt worden war.
Andererseits wurde kein gutes Bild erhalten, als
die Ladungspolarität umgekehrt wurde, d. h., als die
Koronaladung mit -6 kV durchgeführt und im Anschluß
an die bildmäßige Belichtung eine Kaskadenentwicklung
mit einem positiv geladenen Entwickler durchgeführt
wurde.
Unter den gleichen Bedingungen und nach dem gleichen
Verfahren wie in Beispiel 16 wurden auf einem Träger
aus Molybdän eine amorphe Schicht (Zwischenschicht) und eine fotoleitfähige
Schicht gebildet.
Dann wurden die Heizvorrichtung 504 und die Hochfrequenz-
Stromquelle 543 abgeschaltet. Nachdem der
Träger auf 50°C abgekühlt war, wurden die Ausströmventile
524 und 525 und die Einströmventile 519 und
520 bei vollständiger Öffnung des Hauptventils 531
geschlossen, um die Abscheidungskammer 501 in ausreichendem
Maße zu entgasen. Als nächstes wurde das Ventil
517 der Ar-Gas (Reinheit: 99,999%) enthaltenden Bombe
512 geöffnet, bis der an dem Auslaßmanometer 535 abgelesene
Druck auf 0,98 bar eingestellt war. Dann wurde
das Einströmventil 522 geöffnet, worauf das Ausströmventil
527 allmählich geöffnet wurde, um Ar-Gas in
die Abscheidungskammer 501 hineinströmen zu lassen.
Das Ausströmventil 527 wurde allmählich geöffnet,
bis das Pirani-Manometer 542 µbar anzeigte. Nachdem
sich die Strömungsmenge in diesem Zustand bzw.
unter diesen Bedingungen stabilisiert hatte, wurde
das Hauptventil 531 unter Verengung seiner Öffnung
allmählich geschlossen, bis der Druck in der Abscheidungskammer
501 13 µbar erreichte. Nachdem festgestellt
worden war, daß sich die Durchfluß-Meßvorrichtung
540 bei geöffneter Blende 508 stabilisiert hatte,
wurde die Hochfrequenz-Stromquelle 543 eingeschaltet,
wodurch zwischen dem Target (Graphit-Target 505 und
Silicium-Target 506) und dem Festhalteelement 503
eine Wechselspannung mit einer Frequenz von 13,56 MHz
und einer Leistung von 100 W angelegt wurde. Unter
diesen Bedingungen, die so abgestimmt wurden, daß
eine stabile Entladung fortgesetzt wurde, wurde eine
Schicht gebildet. Nachdem die Entladung unter diesen
Bedingungen 1 min lang fortgesetzt worden war, hatte
sich eine Oberflächen-Sperrschicht mit einer Dicke
von 10,0 nm gebildet. Dann wurde die Hochfrequenz-Stromquelle
543 zur Unterbrechung der Glimmentladung abgeschaltet.
Anschließend wurde das Ausströmventil 522
geschlossen, und das Hauptventil 531 wurde vollständig
geöffnet, um das in der Abscheidungskammer 501 befindliche
Gas bis zur Erzielung eines Druckes von weniger
als 13 nbar zu evakuieren. Dann wurde das Hauptventil
531 geschlossen, und die Abscheidungskammer 501 wurde
durch das Belüftungsventil 530 auf Atmosphärendruck
gebracht, worauf der Träger mit den darauf gebildeten
Schichten aus der Abscheidungskammer herausgenommen
wurde.
Das auf diese Weise hergestellte elektrofotografische Aufzeichnungsmaterial
wurde in die gleiche Ladungs-Belichtungs-Versuchsvorrichtung
hineingebracht, die in Beispiel 16 angewendet
wurde, und die Bilderzeugung, die Entwicklung und
die Übertragung wurden in der gleichen Weise wie in
Beispiel 16 durchgeführt. Als Ergebnis wurde ein klares
Bild erhalten, das eine ausgezeichnete Auflösung sowie
eine gute Reproduzierbarkeit der Helligkeitsabstufung
zeigte und eine höhere Dichte hatte als das in Beispiel
16 erhaltene Bild. Die Bildeigenschaften bzw. die
Bildqualität waren auch beim wiederholten Kopieren
gut. Ähnlich wie in Beispiel 16 wurde der Versuch
einer Bilderzeugung unter Umkehrung der Ladungspolarität
gemacht, wobei jedoch kein gutes Bild erhalten
wurde.
Elektrofotografische Aufzeichnungsmaterialien wurden in der gleichen Weise
wie in Beispiel 16 hergestellt, jedoch wurde die Dicke der amorphen Schicht
(Zwischenschicht) variiert. Diese elektrofotografischen
Aufzeichnungsmaterialien wurden ähnlich wie in Beispiel 16 zur Bilderzeugung
durch Ladung mit positiver Polarität eingesetzt,
wobei die in Tabelle 6 gezeigten Ergebnisse erhalten
wurden.
Claims (12)
1. Elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial mit einem
Träger, einer fotoleitfähigen Schicht, die aus einem amorphen
Material gebildet ist, das aus einer Wasserstoffatome
enthaltenden Matrix von Siliciumatomen besteht, und gegebenenfalls
einer Sperrschicht, dadurch gekennzeichnet, daß
ferner eine amorphe Schicht vorgesehen ist, die aus einem
amorphen Material gebildet ist, das aus einer Wasserstoffatome
und/oder Halogenatome enthaltenden Matrix von Boratomen
besteht, und daß die fotoleitfähige Schicht in der Matrix
von Siliciumatomen gegebenenfalls zusätzlich zu den
Wasserstoffatomen oder anstelle der Wasserstoffatome Halogenatome
enthält.
2. Elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial nach Anspruch
1, dadurch gekennzeichnet, daß die amorphe Schicht zwischen
dem Träger und der fotoleitfähigen Schicht angeordnet ist,
wobei auf der oberen Oberfläche der fotoleitfähigen Schicht
noch eine Oberflächen-Sperrschicht vorliegen kann.
3. Elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial nach Anspruch
1, dadurch gekennzeichnet, daß die amorphe Schicht auf der
oberen Oberfläche der fotoleitfähigen Schicht angeordnet ist,
wobei zwischen dem Träger und der fotoleitfähigen Schicht
noch eine untere Sperrschicht vorliegen kann.
4. Elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial nach einem
der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Gehalt
der Halogenatome in der amorphen Schicht 1 bis 50 Atom-
Prozent beträgt.
5. Elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial nach einem
der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Gehalt
der Wasserstoffatome in der amorphen Schicht 1 bis 50
Atom-Prozent beträgt.
6. Elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial nach einem
der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Summe
des Gehalts der Wasserstoffatome und der Halogenatome in der
amorphen Schicht 1 bis 50 Atom-Prozent beträgt.
7. Elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial nach einem
der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß
die amorphe Schicht eine Dicke von 3,0 nm bis 1 µm hat.
8. Elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial nach einem
der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß
die Sperrschicht aus einem amorphen Material gebildet ist,
das aus einer Matrix von Siliciumatomen besteht, die mindestens
eine aus Kohlenstoffatomen, Stickstoffatomen und Sauerstoffatomen
ausgewählte Atomart enthält.
9. Elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial nach Anspruch
8, dadurch gekennzeichnet, daß die Sperrschicht Wasserstoffatome
und/oder Halogenatome enthält.
10. Elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial nach einem
der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß
die Sperrschicht aus einem amorphen Material gebildet ist,
das aus einer Wasserstoffatome und/oder Halogenatome enthaltenden
Matrix von Boratomen besteht.
11. Elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial nach Anspruch
9 oder 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Sperrschicht
eine Dicke von 3,0 nm bis 1 µm hat.
12. Elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial nach einem
der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß
die Sperrschicht aus einem elektrisch isolierenden Metalloxid
gebildet ist.
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Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US4565731A (en) * | 1978-05-04 | 1986-01-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Image-forming member for electrophotography |
JPS59111152A (ja) * | 1982-12-16 | 1984-06-27 | Sharp Corp | 電子写真用感光体 |
US4634647A (en) * | 1983-08-19 | 1987-01-06 | Xerox Corporation | Electrophotographic devices containing compensated amorphous silicon compositions |
DE3485373D1 (de) * | 1984-02-14 | 1992-01-30 | Energy Conversion Devices Inc | Verfahren zur herstellung eines fotoleitfaehigen elementes. |
US4624862A (en) * | 1984-11-05 | 1986-11-25 | Energy Conversion Devices, Inc. | Boron doped semiconductor materials and method for producing same |
JPS61221752A (ja) * | 1985-03-12 | 1986-10-02 | Sharp Corp | 電子写真感光体 |
US4666806A (en) * | 1985-09-30 | 1987-05-19 | Xerox Corporation | Overcoated amorphous silicon imaging members |
US4673589A (en) * | 1986-02-18 | 1987-06-16 | Amoco Corporation | Photoconducting amorphous carbon |
EP0246622A3 (de) * | 1986-05-22 | 1990-03-21 | Mitsubishi Kasei Corporation | Magnetischer Toner |
EP0261654A3 (de) * | 1986-09-26 | 1989-11-23 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Lichtempfindliches Element mit ladungserzeugender Schicht und Ladungstransportschicht |
EP0261652A3 (de) * | 1986-09-26 | 1989-11-23 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Lichtempfindliches Element mit ladungserzeugender Schicht und eine Ladungstransportschicht |
US4758487A (en) * | 1986-11-24 | 1988-07-19 | Xerox Corporation | Electrostatographic imaging members with amorphous boron |
US4980596A (en) * | 1988-12-13 | 1990-12-25 | United Technologies Corporation | Acoustic charge transport device having direct optical input |
US4926083A (en) * | 1988-12-13 | 1990-05-15 | United Technologies Corporation | Optically modulated acoustic charge transport device |
US6452338B1 (en) | 1999-12-13 | 2002-09-17 | Semequip, Inc. | Electron beam ion source with integral low-temperature vaporizer |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3650737A (en) * | 1968-03-25 | 1972-03-21 | Ibm | Imaging method using photoconductive element having a protective coating |
US4226897A (en) * | 1977-12-05 | 1980-10-07 | Plasma Physics Corporation | Method of forming semiconducting materials and barriers |
AU530905B2 (en) * | 1977-12-22 | 1983-08-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Electrophotographic photosensitive member |
US4217374A (en) * | 1978-03-08 | 1980-08-12 | Energy Conversion Devices, Inc. | Amorphous semiconductors equivalent to crystalline semiconductors |
US4226898A (en) * | 1978-03-16 | 1980-10-07 | Energy Conversion Devices, Inc. | Amorphous semiconductors equivalent to crystalline semiconductors produced by a glow discharge process |
US4200473A (en) * | 1979-03-12 | 1980-04-29 | Rca Corporation | Amorphous silicon Schottky barrier solar cells incorporating a thin insulating layer and a thin doped layer |
JPS574172A (en) * | 1980-06-09 | 1982-01-09 | Canon Inc | Light conductive member |
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