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DE2646081A1 - Verfahren zur automatischen verdrahtungspruefung - Google Patents

Verfahren zur automatischen verdrahtungspruefung

Info

Publication number
DE2646081A1
DE2646081A1 DE19762646081 DE2646081A DE2646081A1 DE 2646081 A1 DE2646081 A1 DE 2646081A1 DE 19762646081 DE19762646081 DE 19762646081 DE 2646081 A DE2646081 A DE 2646081A DE 2646081 A1 DE2646081 A1 DE 2646081A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
coding
activated
connections
time
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19762646081
Other languages
English (en)
Other versions
DE2646081C2 (de
Inventor
Dieter J Ing Grad Suckale
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SPERRY RAND GmbH
Original Assignee
SPERRY RAND GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SPERRY RAND GmbH filed Critical SPERRY RAND GmbH
Priority to DE2646081A priority Critical patent/DE2646081C2/de
Publication of DE2646081A1 publication Critical patent/DE2646081A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2646081C2 publication Critical patent/DE2646081C2/de
Expired legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G01R31/67Testing the correctness of wire connections in electric apparatus or circuits

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

  • VERFAHREN ZUR AUTOMATISCHEN
  • VERDRAHTUNGSPRÜFUNG Sperry-Rand GmbH in Frankfurt am Main Die Erfindung betrifft ein Verfahren mit einem binären Logik- oder Verdrahtungs-Testgerät, zur seriellen Zustandsabfrage der jeweils noch nicht aktiviert gewesenen Anschlüsse eines Prüflings, dessen Anschlüsse einzeln nacheinander aktiviert werden.
  • Bei bekannten Verfahren, etwa mit dem Siemens-Verdrahtungspriifautomaten VD 30, dessen Betriebsanleitung zur Erläuterung des Standes der Technik beigefügt ist, wird so vorgegangen, daß während jeder Aktivierlmg eines Anschlusses die noch nicht aktiviert gewesenen Anschlüsse des Prüflings nacheinander auf das Vorhandensein oder Fehlen eines Signals (Durchgang oder Isolation, bzw. Hoch oder Tief) abgetastet und die BIeßergebnisse protokolliert werden. Insbesondere zur Überprüfung eines Moduls, der Tausende von Anschlüssen haben kann, ist dieses Prüfverfahren in der rationellen Massenfertigung zu zeitaufwendig.
  • Das erfindungsgemäße Verfahren verwirklicht die automatische Logik- oder Verdrahtungsprüfung des gleichen Prüflings, wobei Testzeitverkürzungen auf weniger als ein Prozent der mit dem bekannten Verfahren benötigten Zeiten möglich sind, dadurch, daß nach jeder Aktivierung alle jeweils zu erfassenden Anschlüsse gleichzeitig abgetastet werden, wobei die Fehlanzeigen unterdrückt und die Signalanzeigen in einer vorgegebenen Reihenfolge binär codiert und gespeichert werden, indem durch jede Codierung die vorher blockiert gewesene Codierung der nächsten Signalanzeige freigegeben und durch die letzte Sodierung der nächste Aktivierungsschritt eingeleitet werden, bis zur Abarbeitung aller zu aktivierenden Anschlüsse.
  • Die Erfindung möge anhand der nachfolgenden Beschreibung und des zugehörigen zeichnerischen Ausführungsheispiels weiter erläntert werden.
  • 1. Zweck des Direk-Melde-Verfahrens Der Zweck des Verfahrens liegt darin, Testgeraete die auf serieller Abfrage bestimmter Zustände, wie logisch "HOCH" oder "TIEF", sowie "Verbindung vorhanden" oder "keine Verbindung", basieren, durch nach diesem Verfahren arbeitende zu ersetzen.
  • Der Einsatz von Testgeräten die nach den Direkt-Melde-Verfahren arbeiten, führt zu einer drastischen Zeitersparnis die besonders bei Verdrahtungs-Testgeräten für die Computer industrie zu erheblichen Kostensenkungen im Bereich der Testabteilungen führen können. Eine grobe Abschätzung der Zeitersparnis für ein mit 10 000 Anschlüssen versehenes Module ist unter Punkt 3 aufgeführt und es ist erkennbar, daß Testzeitverkürzungen auf weniger als 1 % der bisher benötigten Zeiten möglich sind.
  • 2. Prinzip des Direkt-Melde-Verfahrens Logik- oder Verdrahtungs- Testgeräte arbeiten nach einem zweifach seriellen Prinzip. Die erste serielle Aktivität liegt in der Aktivierung eines Jeden Anschlusses, wonach jeweils die zweite Aktivität, die Abfrage aller übrigen Anschlüsse, oder zumindest aller noch nicht vorher aktivierten Anschlüsse, folgt.
  • Die für die Abfrage eines Systems mit n Anschlüssen benötigten Anschaltungen sind, wenn y deren Anzahl angibt,mit y = n-1 (2.1) gegeben. Diese Zahl kann durch Anwendung von rechnergesteuerten Systemen reduziert werden, jedoch erhöht sich dadurch die Anschaltschrittzeit t1 oft beträchtlich.
  • Die zweite serielle Aktivität3 die Abfrage eines jeden einzelnen Anschlusses auf eine Zustandsänderung, ergibt sich, wenn wieder n als die Anzahl der Anschlüsse gilt, zu z = O,5n(n-1) (2.2).
  • Die Gesamtzeit t>die ein solches Verfahren zum vollständigen Testen eines Logik- oder Verdrahtungsmodules benötigt ist in Gleichung (2.3) angegeben.
  • t = t1y + t2z (2.3) Nach Substitution von y und z aus vorherigen Gleichungen folgt dann die quadratische Gleichung (2.3.1).
  • t = 0,5t2n² + (t1 - 0,5t2)n - t1 (2.3.1) Dabei ist t1 die Anschaltzeit, d. h. die Zeit, die vom Zeitpunkt einer Eingangsaktivierung bis zum Ausklang von Einschwingvorgängen vergeht, und t2 die Schrittzeit zwischen zwei Abfragen ( zweite serielle Aktivität ).
  • Das Direkt-Melde-Verfahren verwendet die erste serielle Aktivität wie herkömmliche Tester auch. Die zweite serielle Aktivität wird umgangen durch eine direkte Rückmeldung von aktivierten Ausgängen. Sind keine Ausgänge aktiviert. so wird je nach Einsatzart nur der aktivierte Eingang gemeldet, oder bei Eingangsaktivierungs-Unterdrückung erfolgt keine Meldung und der nächste Eingang kann beschaltet werden. Die Rückmeldung eines aktivierten Ausganges erfolgt durch eine Kennung, die eine Art von "Adresse" des bestimmten Anschlusses darstellt.
  • Bei diesem Verfahren ist die Zahl der Abfragen, die sich nun nur noch auf das Sammeln der gemeldeten Adressen beschränkt, abhängig von der Zahl der verwendeten Verknüpfungen in einem Logikbaustein, oder von der Zahl der verbundenen Anschlüsse in einem Verdrahtungsmodul.
  • Um dieses Verfahren rechnerisch zu erfassen, muß eine neue Größe zur Kennzeichnung der Anzahl der logischen oder wirklichen Verbindungen eingeführt werden, die hier mit x bezeichnet werden soll. Da sich die erste serielle Aktivität nicht ändert, folgt für die zweite serielle Aktivität hier die Gleichung (2.4) ohne Anschaltunterdrückung und die Gleichung (2.5) für Systeme mit Anschaltunterdrückung.
  • z = x + n - 1 (2.4) z = x (2.5) Die Zahl z kann durch geeignete Vergleicherschaltungen die eine Adressenmeldung. die kleiner als die des gerade aktivierten Einganges ist, unterdrücken, noch um den Faktor 0,5 reduziert werden. Dies alles sind aber nur noch Nuancen im System, das durch die Gleichungen (2.4) und (2.5) zusammengefaßt mit (2.1) zu (2.6.1) und (2.6.2) eine lineare Abhängigkeit der Testzeit t von der Anzahl der Anschlüsse oder Verbindungen aufweist, im Gegensatz zu der quadratischen Abhängigkeit herkömmlicher Systeme, wie in (2.3.1) gezeigt.
  • t = tly + t2z = (t1 + t2 )n + xt2 - t1 -t2 (2.6.1) Obige Gleichung gilt ohne Anschaltunterdrückung, die nächste mit Unterdrückung.
  • t = tly + t2z = (n - 1)ç1 + xt2 (2.6.2) In wirklichen Systemen ist die Größenordnung von n und x etwa gleich, sodaß wirdlich von einer Dinearen Abhängigkeit ge sprechen werden kann.
  • Im Folgenden ist ein spezielles Beispiel durchgerechnet, das die Zeitersparnis augenscheinlich macht.
  • Annahmen: t1 = 100µs = 10-4 s t2 = 10 µs = 10-5 s n = 10 000 = 104 x = 20 000 = 2.104 Nach (2.3.1) folgt dann t = 0,5.10-5.104.104s + (10-4 -0,5.10-5)104s + 10-4 s und nach Vereinfachen ergibt sich für herkömmliche Systeme t = 500 s .
  • Nach (2.6.1) folgt t = (10-4 + 10-5 s + 2.104.10-5s wobei die beiden letzten Ausdrücke der Gleichung (2.6.1) bereits wegen ihrer unbedeutenden Größe ignoriert sind. Als Ergebnis folgt dann t = 1,3 s .
  • Bei diesem Beispiel ist bereits deutlich zu erkennen, daß für herkömmliche Systeme eine Verkürzung der Anschaltzeit t1 keine entscheidende Gesamtzeitverkürzung bewirkt, im Gegensatz zum Direkt-Melde-Verfahren, wo diese Zeit direkt in die Endzeit t eingeht.
  • 3. Arbeitsweise des Direkt - Melde - Verrahrens Die Arbeitaweise des Dirckt-Melde-Verfahrens beroht auf einer im Punkt 3.1 beschriobenen Aufnahmeeinkeit, die es erlaubt, inaktive Eingänge bzw. Ausgänge innerhalb eines Testsystems zu ignorieren.
  • Da das System auf einer Speicherung eines Zustandes des Gesamtsystems bis zur Abarbeitung aller aktivierten Anschlüsse dieses momentanen Zustandes beruht, kann aus den Gleichungen (2.6.1) und (2.6.2) die Anschaltzeit t1 noch zusätzlich überlappt werden, wodurch eine formelmäßig noch nicht erfaßte zusätzliche Einsparung an Zeit gegeben ist. Aus den folgenden Ausführungen wird das noch klarer werden.
  • 3. 1. Aufnahmeeinheit Zeichnung 1 zeigt das prinzipielle Grundgerät des Dierkt-Melde-Verfahrens, die Aufnahmeeinheit. Sie ist hier zur einfacheren Erklärung der Arbeitsweise nur für 8 Meßpunkte ausgelegt. Eine beliebige Anzahl von Aufnahmooinheiten kann parallel geschaltet werden, um so den benötigten Gesamtbedarf an Meßpunkten zu erhalten. Die Arbeitsweise dieser Einheit ist nun an einem angenommenen Beispiel erläutert.
  • Die oberste Reihe von Flip-Elops werden durch das Signal "SETZE FFS 1" in den Zustand gesetzt, der gerade in diesem Moment an den Dateneingängen DEO bis DE7 ansteht. Diese Dateneingänge sind mit dem zu testenden Modul verbunden. Die Aufschaltung der Daten auf einen Meßpunkt ist in dieser Zeichnung nicht zu sehen.
  • Wenn wir nun annehmen, auf den Dateneingängen DEO, DE2 und DE7 stehen Daten in Form von logischen Signalen t ("HOCH") an, werden die zugeordneten Flip-Flops DO, D2 und D7 gesetzt.
  • In die sein Moment kann die Anschaltung bereits für den nächsten Meßpunkt vorbereitet werden, da eine Änderung der Dateneingänge auf den Zustand der Flip-Flops nach Verschwinden des Signales "SETZE FFS 1" nicht mehr einwirken kann.
  • Die Ausgänge der Flip-Flops sind Jeweils mit dem logisch positiven ("1") Ausgang auf ein negierendes UND-Glied (UO bis U7) geführt, die negierten ("O") Ausgänge werden auf alle nächst höheren UND-Glieder geführt; alos das Signal. D0 auf U1 bis U7 D1 auf U2 bis U7, und so wieter. Zusätzlich ist ein Signal "VERH ADR EIN O" auf alle UND-Glieder geführt über dessen Funktion später gesprochen wird. Im Moment wird angenommen, dieses Signal sei im "1"-Zustand, wodurch es keinen Einfluß auf die Funktion der UND-Glieder hat.
  • Das Signal "SETZE ADR O" ist anfangs im "1"-Zustand, wodurch es über einen Inverter das Durchschalten irgend eines der UND-Glieder U0 bis U7 verhindert.
  • Nun wird dieses Signal aktiviert, d. h. vom "1" in den "0"- Zustand gebracht, wodurch die Blockierung der U0 bis U7 aufgehoben wird. Da D0 gesetzt ist, d. h. sein Ausgang im "1"-Zustand ist, sind an U0 alle Eingangsbedingungen erfüllt und der Ausgang geht tief, er wechselt in den logischen Zustand "O". Dieser Ausgang wird nur auf die Rücksetzverknüpfung R0 geführt, deren zweiter Eingang jedoch noch über den Inverter auf "1" liegt, womit der Ausgang von R0 auch noch keine Änderung erfährt.
  • Sehen wir uns U1 bis U7 an. Sie sind alle mit dem Ausgang D0 verbunden und ihre Ausgänge sind auf "1"-Pegel, da der negierte Ausgang des Flip-Flops D0 ein Durchschalten verhindert.
  • Gleichzeitig sind alle negierten Ausgänge von D0 bis D7 auf die UND-Verknüpfung DS geführt, deren negierter Ausgang auf das Adressen-Flip-Flop A3 ("STELLEN BIT 0") geführt ist. Der Ausgang der Verknüpfung DS ist über einen Inverter noch an die Außenwelt geführt und bildet dort das Signal "VERH ADR AUS O".
  • Dieses Signal ist im Moment im "0"-Zustand, da nicht alle Eingangsbedingungen vom UND-Glied DS erfüllt sind. Die Funktion dieses Signals wird später erläutert.
  • Da das Signal "SETZE ADR 0" über einen Inverter auf die Adressen- Flip-Flops geschaltet ist, werden diese entsprechend den anstehenden Daten gesetzt. Wie erläutert, wird auf jeden Fall A3 gesetzt, dessen negierter Ausgang als "STELLEN BIT 0" soinit aktiviert, d. h. im logischen "0"-Zustand ist.
  • Die Verknüpfungen V0 bis V2 sind ein binäres Kodeumsetzer, deren drei Ausgänge im Moment alle im "0"-Zustand sind, wodurch keines der Flip-Flops AO bis A2 gesetzt werden kann, d. h., die Ausgänge "SETZE BIT 0-0" bis "SETZE BIT 2-0" sind im logischen Zustand "1".
  • Nach einer bestimmten Zeit (s. Zeitdiagramm auf Zeichnung 2) steht also dem Kontrollsystem eine Adresse zur Verfügung, die hier auf dieser Aufnahmeeinheit zu Null ist (neg. Logik), deren Stellen Bit aber gesetzt ist. Welche binäre Stelle diesem Stellen-Bit zukommt, hängt von der Position der Aufnahmeeinheit iä Gesamtsystem ab. Das Signal "VERH ADR AUS 0" ist für das Gesamt system der Indikator für das Vorhandensein einer Adresse und dient , auf die anderen Aufnahmeeinheiten geführt(auf den nächst höheren Eingang "VERH ADR EIN O"), zur Verhinderung des gleichzeitigen Ansprechens mehrerer Aufnahmeeinkeiten.
  • Nun folgt das Signal "SETZE FF ZUR 1". Es wird über den Inverter Il zu logisch "0" Dadurch wird ein Eingang der 0DERVerknüpfun£ R0 zu "0", der andere ist bereits über U0 ebenfalls im Zustand "0", wodurch sich der Ausgang von R0 ebenfalls verändert und das Flip-Flop D0 zurücksetzt.
  • Sehen wir uns R1 bis R7 an. Überall ist der Eingang, der von dem zugehörigen U1 bis U7 kommt, auf logisch "1" und verhindert somit einen Rückstellimpuls für die Daten-Flip-Flops D1 bis D7.
  • Mit einer kurzen Verzögerung zu dem Signal "SETZE FF ZUR 1", das, wie eben beschrieben, zu logisch "1" 1" wird, folgt Signal "SETZE ADR O" zu 1, d. h. es wird inaktiv, wodurch für alle UQ bis U7 eine Eingangsbedingung verloren geht. Die Verschiebung zwischen diesen beiden Signalen hängt von der Zeit ab, die für die Flip-Flops D0 bis D7 zum Zurücksetzen benötigt wird.
  • Aus obigen Erläuterungen gellt hervor, daß'also nur Flip-Flop D0 zurückgesetzt wird, aber keines der anderen. Damit ist die Übernahme der ersten Adresse beendet, und durch ein erneutes Aktivieren des Einganges "SETZE ADR O" zu "0" wird der gleiche Prozess erneut in Gang gesetzt, nur mit dem Unterschied, daß jetzt U2 aktiviert wird, und über die Adressenkodierung V0 bis V2 die Adresse 2 auf die Adressenleitungen gegeben wird (in binärer negativer log. Notierung als 101). Das Flip-Flop A3 ist ebenfalls wieder gesetzt,damit ist erneut in der Gesamtadresse das gleiche Stellen-Bit vorhanden wie bei der ersten Abfrage.
  • Durch das Signal "SETZE FF ZUR 1" wird er R2 diesmal das Daten-Flip-Flop D2 zurückgesetzt.
  • Beim erneuten, dritten Aktivieren von "SETZE ADR O" , wird die Verknüpfung U7 durchgeschaltet, und damit erhalten alle drei kodierungsverknüpfungen V0 bis V2 einen Eingang zu "O", wodurch alle drei Adressen-Flip-Flops AO bis A2 zu dem Stellen-Flip-Flop A3 gesetzt werden. Wir haben also Adresse 7 ( neg. binär als 000 kodiert) auf die allgemeinen Adressenbahnen geschaltet, und das Stellen-Bit wie gehabt.
  • Wird nun zum nächsten Male das Rücksetzsignal "SETZE FF ZUR 1" zu logisch "1" gesetzt, wird diesmal das letzte Daten-Flip-Flop zurückgesetzt. Mit dem Löschen von D7 geht auch das Signal "VERH ADR AUS O" in den 1 Zustand und erlaubt das Durchschalten von U0 bis U7 auf der nächsten Aufnahmeeinheit, falls dort eines der Daten-Flip-Flops gesetzt sein sollte.
  • Ist auf keiner der nachfolgenden Aufnahmeeinheiten ein Daten-Flip-Flop gesetzt, so ist das am Systemende abgegriffene Signal "VERH ADR AUS 0" ebenfalls zu logisch "1" geworden und der Abfragezyklus ist beendet.
  • Nun kann das Gesamtsystem zur Beschaltung des nächsten Sytemein ganges, oder falls dies durch Zyklenüberlappung schon geschehen ist, zum Speichern des nächsten Abfragezustandes schreiten. Dieser neue Zyklus verläuft prinzipiell wie der eben beschriebene, nur daß es sich um andere Adressen handeln wird, die vom System zurückgemeldet werden.

Claims (1)

  1. P A T E N T A N S P R U C H : Verfahren mit einem binären Logik- oder Verdrabtungs Testgerät, zur seriellen Zustandsabfrage der jeweils noch nicht aktiviert gewesenen Anschlüsse eines Prüflings, dessen Anschlüsse einzeln nacheinander aktiviert werden, dadurch gekennzeichnet, daß nach jeder Aktivierung alle jeweils zu erfassenden Anschlüsse gleichzeitig abgetastet werden, wobei di.e Fehlanzeigen unterdrückt und die Signalanzeigen in einer vorgegebenen Reihenfolge binär codiert und gespeichert werden, indem durch jede Codierung die vorher blokkiert gewesene Codierung der nächsten Signalanzeige freigegeben und durch die letzte Codierung der nächste Aktivierungsschritt eingeleitet werden, bis zur Abarbeitung aller zu aktivierenden Anschlüsse.
DE2646081A 1976-10-13 1976-10-13 Verfahren mit einem binären Logik- oder Verdrahtungs-Testgerät, zur seriellen Zustandsabfrage der jeweils noch nicht aktiviert gewesenen Anschlüsse eines Prüflings Expired DE2646081C2 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2646081A DE2646081C2 (de) 1976-10-13 1976-10-13 Verfahren mit einem binären Logik- oder Verdrahtungs-Testgerät, zur seriellen Zustandsabfrage der jeweils noch nicht aktiviert gewesenen Anschlüsse eines Prüflings

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DE2646081A DE2646081C2 (de) 1976-10-13 1976-10-13 Verfahren mit einem binären Logik- oder Verdrahtungs-Testgerät, zur seriellen Zustandsabfrage der jeweils noch nicht aktiviert gewesenen Anschlüsse eines Prüflings

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE2646081A1 true DE2646081A1 (de) 1978-04-20
DE2646081C2 DE2646081C2 (de) 1983-02-03

Family

ID=5990311

Family Applications (1)

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DE2646081A Expired DE2646081C2 (de) 1976-10-13 1976-10-13 Verfahren mit einem binären Logik- oder Verdrahtungs-Testgerät, zur seriellen Zustandsabfrage der jeweils noch nicht aktiviert gewesenen Anschlüsse eines Prüflings

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Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Siemens-Verdrahtungsprüfautomat VD 30, Betriebsanleitung, Sept. 1974 *

Also Published As

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DE2646081C2 (de) 1983-02-03

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