DE2508716A1 - Pruefmodul fuer komplexes pruefsystem - Google Patents
Pruefmodul fuer komplexes pruefsystemInfo
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Description
DiPL-ING. KLAUS NEUBECKER
Patentanwalt
4 Düsseldorf 1 ■ Schadowplatz 9
4 Düsseldorf 1 ■ Schadowplatz 9
Düsseldorf, 27. Febr. 1975
Westinghouse Electric Corporation
Pittsburgh, Pa., V. St. A.
Pittsburgh, Pa., V. St. A.
Die Erfindung bezieht sich auf Prüfsysteme, insbesondere auf eingebaute Prüfanordnungen für die überprüfung komplexer
Systeme.
Die meisten eingebauten Prüfanordnungen nach dem Stand der Technik sind entsprechend den Kundenwünschen für das individuelle
zu prüfende Geräteteil ausgelegt, so daß solche Prüfanordnungen sowohl infolge des erforderlichen Hardware-Aufwands
als auch insofern teuer werden, als die einzelnen Prüfanordnungen jeweils individuell ausgelegt werden müssen. Diese
zusätzlichen Kosten haben zu fest eingebauten Prüfanordnungen geführt, die sich fast immer als unzureichend erwiesen
haben, weil die Kosten dafür niedrig gehalten werden sollten und ihnen nicht von vornherein volle Aufmerksamkeit geschenkt
wurde. Diese Probleme werden durch die Erfindung erheblich verringert, die einen Standard-Prüfmodul zur Verfügung
stellt, der schon bei der Konstruktion oder Auslegung des zu prüfenden Aufbaus mit einbezogen werden kann. Der Modul hat
eine ausreichende Kapazität, um komplexe Prüfungen oder Untersuchungen infolge Standardausführung der Prüfmoduln bei
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niedrigen Kosten durchführen zu können. Es können mehrere Prüfmoduln mit einer gemeinsamen Prüfkonsole gekoppelt werden,
um ein komplexes Prüfsystem zu bilden.
Aufgabe der Erfindung ist die Schaffung einer verbesserten fest eingebauten Prüfanordnung mit Standard-Prüfmoduln, von
denen jeweils mindestens einer jeder zu prüfenden Einheit zugeordnet ist.
Zur Lösung dieser Aufgabe ist ein Prüfmodul für den Einsatz als Unterabschnitt eines komplexen Prüfsystems erfindungsgemäß
gekennzeichnet durch eine Einrichtung zum Empfangen und Decodieren von einen codierten Anteil, der für die von dem
Modul auszuübende Funktion repräsentativ ist, enthaltenden Signalen von einer Prüfkonsole; eine Prüfeinrichtung zur Prüfung
eines dem Modul zugeordneten Aufbaus und' damit zur Erfassung des Betriebszustande des Moduls durch Vergleichen der
Ergebnisse mindestens einer an der Anordnung vorgenommenen Prüfung mit für die erwarteten Ergebnisse repräsentativen gespeicherten
Signalen; sowie durch eine Einrichtung zum Schalten (Gaten) der Ergebnisse einer an der Anordnung vorgenommenen
Prüfung zu der Prüfkonsole in Abhängigkeit von einem Abfragesignal von der Prüfkonsole.
Die Prüfmoduln arbeiten in zwei grundsätzlichen Betriebsarten, nämlich einer ersten oder synchronen und einer zweiten
oder nicht synchronen Betriebsart. In der ersten oder synchronen Betriebsart werden über die Adressen-Sammelleitung ein
aus einer Adresse bestehendes Signal und ein Signal, das anzeigt, daß der von der Adresse bestimmte Modul seine zugeordnete
Einheit prüfen soll, an die Prüfmoduln übertragen. Der Adressenteil des Signals wird durch die einzelnen Prüfmoduln
decodiert, und der richtige Modul leitet eine Prüfung des ihm zugeordneten Aufbaus ein. Zur Ermittlung der Ergebnisse der
Prüfung wird ein zweites oder Abfragesignal übertragen. Wenn das Adressen- und das Abfragesignal decodiert worden sind,
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werden über die Ergebnisse-Sammelleitung zwei Bits an die Prüfkonsole übertragen. Das erste Bit zeigt an, ob die zuvor
angeforderte Prüfung abgeschlossen ist, und das zweite Bit zeigt die Ergebnisse der Prfüung an.
In der zweiten oder nicht synchronen Betriebsart werden die Prüfungen fortlaufend durch die einzelnen Prüfmoduln, die
den zu prüfenden Einheiten zugeordnet sind, durchgeführt, und wenn die eine bestimmte Einheit 'festlegende Adresse durch den
zugeordneten Prüfmodul decodiert wird, werden die Ergebnisse der von diesem Prüfmodul zuvor durchgeführten Prüfung automatisch
über die Ergebnisse-Sammelleitung zu der Prüfkonsole geschaltet (gegatet). Die jeweilige Wahl der Betriebsart hängt
vom speziellen Anwendungsfall ab.
Die Erfindung wird nachstehend anhand eines Ausführungsbeispiels in Verbindung mit der zugehörigen Zeichnung erläutert.
In der Zeichnung zeigen:
Fig. 1 ein Funktions-Blockschaltbild des Systems;
Fig. 2 ein Funktions-Blockschaltbild der Prüfmoduln;
und
Fig. 3 ein Zeit- und Signaldiagramm, das die Übertragung der .Daten über die Adressen- und Daten-Sammelleitungen
veranschaulicht.
Die bevorzugte Ausführungsform des Systems ist mit Fig. 1 wiedergegeben.
Das System ist so ausgelegt, daß eine Reihe einzelner Einheiten geprüft werden kann, wobei die zu prüfenden
Einheiten 1 bis η die Bezugszeichen 10, 11 bzw. 12 tragen.
Normalerweise wäre jede der Einheiten 1 bis η eine Komponente eines größeren Systems, und in den meisten Fällen wäre jede
dieser Einheiten eine individuelle austauschbarere Komponente oder Schaltung. An jeder der Einheiten 1 bis η ist ein Prüf-
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modul 13, 14 bzw. 15 angebracht. Jeder der Prüfmoduln ist mit einer Prüfkonsole 16 über zwei Reihen-Daten-Sammelleitungen
20 und 21 gekoppelt.
Die Prüfmoduln 13, 14 und 15 werden durch die Prüfkonsole
gesteuert. Die Prüfkonsole enthält eine Adresseneinheit 22, eine Ergebniseinheit 23 und einen Startschalter 24. Um eine
Prüfung durchzuführen, beispielsweise der Einheit 1 mit dem Bezugszeichen 10 in der synchronen Betriebsart, wird die dem
ersten Prüfmodul 13 zugeordnete Adresse in die Adresseneinheit
eingegeben und der Startschalter 24 durch den Operator betätigt. Bei Betätigung des Startschalters 24 erzeugt die
Prüfkonsole 16 ein digitales Prüfsignal mit einem Startcode,
einer den ersten Prüfmodul 13 bestimmenden Adresse sowie einem Betriebsart-Bit. Das digitale Prüfsignal ist mit allen
Prüfmoduln 13, 14 und 15 über die Adressen-Sammelleitung 2O
gekoppelt. Der Adressenteil des Prüfsignals wird durch die einzelnen Prüfmoduln decodiert, um zu bestimmen, welcher
Prüfmodul adressiert worden ist. Die Decodierung der Adresse in Verbindung mit dem ihr folgenden Betriebsart-Bit veranlaßt
den ersten Prüfmodul 13, eine Prüfung der Einheit 10 einzuleiten.
Im Anschluß an das Prüfsignal erzeugt die Prüfkonsole
16 ein Abfragesignal. Dieses Signal enthält einen Adressenanteil, der den ersten Prüfmodul 13 identifiziert, und ein Betriebsart-Bit.
Unmittelbar im Anschluß an das Betriebsart-Bit beginnt die Prüfkonsole 16 die Ergebnisse-Sammelleitung auf
ein verfügbare Prüfergebnisse repräsentierendes Signal zu überwachen. Im Anschluß an dieses verfügbare Prüfergebnisse
repräsentierende Signal bzw. Ergebnisse-Signal erscheint in der Ergebnisse-Sammelleitung ein zweites Signal, das für den
Betriebszustand der geprüften Einheit repräsentativ ist. Diese Information wird von der Ergebniseinheit 23 wiedergegeben.
Die Verzögerung zwischen dem Betriebsart-Bit und dem Ergebnisse-Signal wird durch die zur Prüfung der zugeordneten
Einheit erforderliche Zeit bestimmt. Die Einzelheiten der verschiedenen Signale werden weiter unten untersucht. Die
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weiteren Einheiten 2 bis η können in gleicher Weise geprüft werden.
In der nicht synchronen Betriebsart werden die digitalen Prüfsignale
nicht benötigt bzw. nicht durch die Prüfkonsole 16 erzeugt, weil beim Fehlen des Abfragesignals die einzelnen Prüfmoduln
die zugeordneten Einheiten fortlaufend prüfen. Der Empfang des Abfragesignals sperrt den Beginn einer weiteren
Prüfung und schaltet (gatet) die Ergebnisse der letzten Prüfung in ähnlicher Weise wie in der synchronen Betriebsart zu
der Ergebnisse-Sammelleitung. Ein typischer Prüfmodul, beispielsweise der erste Prüfmodul 13 der Fig. 1, ist in Fig.
weiter ins einzelne gehend veranschaulicht. Die einzelnen mit Fig. 2 angedeuteten Funktionen können jeweils mit herkömmlichen
logischen Schaltkreisen, beispielsweise im Handel erhältlichen TTL-IC-Kreisen, verwirklicht werden. Einige der Einzelheiten
des Prüfmoduls hängen von der Art der zur Verwirklichung des Moduls eingesetzten Schaltkreise ab. Insofern ist
kein ins einzelne gehendes Logikschaltbild gezeigt.
Wie erwähnt, stehen die einzelnen Prüfmoduln mit der Prüfkonsole
16 über die Adressen-Sammelleitung 20 bzw. die Ergebnisse-Sammelleitung 21 in Verbindung. In der synchronen Betriebsart
wird ein Zyklus für einen Prüfmodul durch den Empfang eines Startcodes und einer Adresse durch den Adressendecoder 25 eingeleitet. Die Einzelheiten dieses Signals werden
weiter unten erörtert. Wenn der Adressendecoder 25 eine den speziellen Prüfmodul identifizierende Adresse erhält und decodiert,
so erzeugt er ein Signal, das die Adressierung des speziellen Prüfmoduls anzeigt. Dieses Signals wird mit dem
Analog-/Digital-Interface 26 und dem Taktgeber 30 gekoppelt. Es läßt das Analog-/Digital-Interface 26 für den Betriebszustand
der zugehörigen Einheit repräsentative Signale austasten und die Ergebnisse als digitale Signale in einem
digitalen Speicher speichern, der Bestandteil des Interface 26 ist. Die in dem Speicher gespeicherten Digitalsignale
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werden mit den Ausgangsleitungen des Analog-/Digital-Interface
26 gekoppelt. Nachdem die Signale der Ausgangsleitungen des Analog-/Digital-Interface 26 sich stabilisiert haben,
wird ein Startsignal durch das Interface mit dem Taktgeber 30 gekoppelt. Wenn der Taktgeber 30 das Startsignal erhält., erzeugt
er ein sechs Impulse enthaltendes Taktsignal. Jeder dieser Impulse schaltet einen 6-Bit-Zähler 31 um einen Schritt
weiter. Dieser Zähler 31 mit sechs Bit-Adressen kann ein Schieberegister sein, das eine Eins bei jedem Taktimpuls zu
nachfolgenden Stufen des Schieberegisters verschiebt. Die Verwendung eines Schieberegisters kann das Decodieren vereinfachen,
wenn der Speicher 32 klein ist.
Die Ausgänge des 6-Bit-Zählers 31 sind mit den Adresseneingängen
des Speichers 32 gekoppelt. Diese Adresseneingänge geben an, welche Stelle im Speicher 32 gelesen werden soll. Der
Speicher 32 ist vorzugsweise ein Lesespeicher (ROM-Speicher read only memory) mit sieben Wörtern und acht Bits je Wort.
Der Speicher 32 ist vorzugsweise so ausgestaltet, daß Wörter permanent darin gespeichert werden können, die auch bei Leistungsausfall
oder sonstigen unvorhergesehenen Störungen keine Änderung erfahren. Ein solcher Speicher kann als Diodenmatrix
aufgebaut werden, wobei der Wert der einzelnen Bits durch die Anwesenheit oder Abwesenheit einer Diode an einer
bestimmten Stelle in der Matrix bestimmt wird. Es ist außerdem davon auszugehen, daß die derzeitige Forschung zur Entwicklung
geeigneter elektronisch änderbarer Festkörper-Speicher führt.
Die Ausgangssignale des Zählers 31 sind außerdem mit den Auswahleingängen
digitaler Multiplexer 33 und 34 gekoppelt. Für jede von dem Adressen-Zähler 31 erzeugte Adresse wird einer
der Multiplexer aktiviert. Die anderen Eingänge zu den Multiplexern
sind Signale von dem Analog-/Digital-Interface 26. Die Ausgänge der Multiplexer 33 und 34 sind mit einem Eingang
eines 8-Bit-Komparators 35 gekoppelt. Den anderen Eingang des
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!Comparators 35 beaufschlagen die Ausgangssignale des Speichers
32. In Fig. 2 sind nur sieben Multiplexer angedeutet. Ihre Anzahl wird so gewählt, daß zwischen der Anzahl der von
dem Zähler 31 erzeugten Adressen und den Multiplexern eine Eins-zu-Eins-Beziehung besteht. Die Wortlänge des Speichers
32 wird ebenfalls so gewählt, daß die Zahl der Bits in den einzelnen Wörtern der Zahl der Ausgänge von den einzelnen
Multiplexern entspricht. Der Grund dafür wird nachstehend dargelegt.
Als Teil der Vorbereitung der einzelnen Prüfmoduln werden
in jeder Speicherstelle digitale Datenwörter durch den Speicher 32 gespeichert. Diese Datenwörter sind auf einer
Bit-für-Bit-Basis mit dem erwarteten Ausgang eines der Multiplexer 33, 34 identisch. Beispielsweise würde die erste Stelle
im Speicher 32 mit dem erwarteten Ausgang des ersten Multiplexers 33 korrespondieren. Wenn der Adressen-Zähler 31
seine einzelnen Werte schrittweise durchläuft, werden die Multiplexer eins bis sieben aufeinanderfolgend aktiviert.
Wenn ein bestimmter Multiplexer, beispielsweise der Multiplexer Nr. 1, aktiviert wird, wird der Inhalt der Speicherstelle
Nr. 1 des Speichers 32 gelesen. Das an dieser Stelle gespeicherte Wort ist so gewählt, daß es auf einer Bit-für-Bit-Basis
identisch mit dem erwarteten Ausgang des Multiplexers Nr. 1 ist. Der Ausgang des Multiplexers Nr. 1 und der
Inhalt der Speicherstelle Nr. 1 des Speichers 32 werden durch den Komparator 35 verglichen. Entweder eine logische "Eins"
oder "Null" wird als Ergebnis jeden Vergleichs in ein Schieberegister verschoben. Die Zustände einer logischen "Eins" bzw.
"Null" entsprechen jeweils den erwarteten bzw. unerwarteten Ergebnissen.
Wenn der Adressen-Zähler 31 alle seine Werte durchlaufen hat, ist die Prüfung des dem Testmodul zugeordneten Aufbaus abgeschlossen.
Alle "Eins"-Werte im Speicher- bzw. Schieberegister 36 entsprechen der Feststellung, daß der zugeordnete
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Aufbau funktionsfähig ist. Demgegenüber zeigt eine logische "Null" an einer Stelle, daß der Aufbau fehlerhaft ist.
Wenn das dem Adressen-Bit unmittelbar folgende Betriebsart-Bit anzeigt, daß der Zyklus ein Abfragezyklus anstelle eines
Prüfzyklus sein soll, gibt der Adressendecoder 25 ein Signal
an ein Ergebnis-Interface 37. Das Interface 37 erzeugt einen mit der Ergebnis-Sammelleitung 21 gekoppelten ersten Impuls,
der anzeigt, daß die zuvor durchgeführte Prüfung abgeschlossen und das Ergebnis verfügbar ist. Unmittelbar auf den Impuls,
der anzeigt, daß die Ergebnisse vorangegangener Prüfungen verfügbar sind, folgt ein Bit, das anzeigt, ob die geprüfte
Einheit funktionsfähig ist oder nicht» Diese Impulse werden von der Prüfkonsole 16 ausgewertet, um die Ergebniseinheit
23 auf den neuestan Stand zu bringen.
Die Einzelheiten der fs.j.-L lichen Festlegung der Information
in der Adressen-Sammelleitung 21 bär/«, der Ergebnisse-Sammelleitung
22 sind iait Fig, 2 dargestellt„ Als erstes ist zu beachten,
:iaß das digitale Signal der Adressen-Sammelleitung
drei Niveaus aufweist, nämlich ein Null-, ^in Plus™ sowie ein
Minusniv-sau, Der Ädressend^r-oä-ar 25 hat einen Sehaltungsaufbau,
der dieses Signal in positive und negative Anteile unterteilt,
wobei die negativen Anteile einen digitalen Taktimpuls und die positiven Anteile ein Datensignal bilden.
Jeder Zyklus der Prüfmoduln, sei es ein Prüf- oder ein Abfragezyklus,
beginnt mit. einem Startcode. Ein Startcode-Signal wird von zwei aufeinanderfolgenden Taktimpulsen gebildet,
bei deren Anwesenheit der Datenanteil des Signals der Adressen-Sammelleitung 20 eine logische "Eins" ist. wird
dadurch angezeigt, daß der Datenanteil des Signals sich auf Plusniveau befindet. Ein typischer Startcode ist mit
bezeichnet. Nach dem Startcode werden die Bits der Adresse und das Betriebsart-Steuerbit übertragen. Während der Zeit
der Übertragung der Adressen- und Betriebsart-Steuerbits
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wird jedoch nur jeder zweite Impuls des Taktsignals verwertet. Dies stellt eine bequeme Möglichkeit dar, um mittels des
Adressendecodxerers 25 den Startimpuls zu erfassen. Der Einfachheit halber kann dies als Impulsbreitenmodulation angesehen
werden.
In dem gezeigten System werden genügend Adressen-Bits abgegeben, um 16 Prüfmoduln zu adressieren. Wie zuvor erwähnt,
wird nur jeder zweite Taktimpuls verwertet, um die Adresse zu verschieben, wobei drei typische Bits der Adresse mit dem
Bezugszeichen 40 versehen sind. Der Adresse folgt unmittelbar ein Betriebsart-Bit, das für den Prüfmodul als Indiz dafür
dient, ob eine Prüfung eingeleitet werden soll oder aber die im Schieberegister 36 gespeicherten Ergebnisse einer zuvor
durchgeführten Prüfung ausgegeben werden sollen. Dieses Bit ist mit dem Bezugszeichen 43 versehen, wobei ein hohes Niveau
anzeigt, daß eine Prüfung eingeleitet werden soll. In Fig. 3 ist somit die obere Impulsfolge diejenige, die von der Prüfkonsole
16 erzeugt wird, wenn eine Prüfung eingeleitet werden soll. Dem Betriebsart-Bit folgen zwei weitere Taktimpulse,
die normalerweise der Ausgabe der Ergebnisse der Prüfkonsole zugeordnet sind. Im Pfüfzyklus werden diese Taktimpulse normalerweise
nicht verwertet. Unmittelbar auf die der Ausgabe der Ergebnisse an die Prüfkonsole zugeordnete Periode folgt
der für den nächsten Zyklus erzeugte Startcode.
Die in der Adressen-Sammelleitung 20 während eines Abfragezyklus erzeugten Daten sind mit der zweiten (unteren) Impulsfolge
der Fig. 3 veranschaulicht. Die Startcode- und Adressenteile des Signals sind identisch mit den zuvor für den
Prüfzyklus beschriebenen. Das Betriebsart-Bit 43 entspricht jetzt jedoch einer logischen "Null", was bedeutet, daß der
Zyklus als Abfragezyklus ausgeführt werden soll. Nach dem Betriebsart-Impuls wird in der Ergebnisse-Sammelleitung ein
Impuls erzeugt, der anzeigt, daß die Ergebnisse einer vorangegangenen Prüfung verfügbar sind. Beim Abfragezyklus wird
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die Erzeugung weiterer Taktimpulse durch die Prüfkonsole 16
gesperrt, bis dieser Impuls, von der Prüfkonsole empfangen
wird. Diese Verzögerung ist mit dem Bezugszeichen 44 angedeutet. Der die Verfügbarkeit der Ergebnisse anzeigende Impuls
bzw. Ergebnis-Impuls ist mit dem Bezugszeichen 41 versehen. Diesem Ergebnis-Impuls 41 folgt unmittelbar ein zweiter Impuls
42. Wenn dieser Impuls, wie in Fig. 3 gezeigt, eine logische "Eins" ist, so hat die zuvor bezüglich der zugeordneten
Einheit durchgeführte Prüfung ergeben, daß die Einheit funktionsfähig ist. Wenn andererseits die Prüfung ergeben
hat, daß die Einheit nicht funktionsfähig ist, so ist dieses Signal eine logische "Null".
Man erkennt, daß das zuvor beschriebene System so abgewandelt werden kann, daß die einzelnen Prüfmoduln 1 bis η die zugeordneten
Einheiten sequentiell prüfen können, ohne daß das Prüfsignal der Fig. 3 erforderlich wäre. Eine solche Abwandlung
erfordert nur eine geringe Umstellung des Adressendecodierers und des Taktgebers 30, so daß der Taktgeber kontinuierlich
weiterläuft, mit Ausnahme der Zeit, während der ein Abfragezyklus abläuft. Wenn in dieser Betriebsart gearbeitet
wird, muß genügend Zeit zwischen der Decodierung der Adresse und der Ausgabe der Ergebnisse an die Ergebnis-Sammelleitung
vergehen können, um sicherzustellen, daß der adressierte Prüfmodul die angegebene Prüfung abschließen und die Ergebnisse
der Prüfung ausgeben (gaten) konnte. Diese Betriebsart wurde zuvor als die nicht synchrone Betriebsart beschrieben.
Es kann davon ausgegangen werden, daß die notwendige Anpassung hinsichtlich der Prüfmoduln und der Prüfkonsole aufgrund
der obigen Beschreibung und des Standes der Technik klar sind, so daß eine ins einzelne gehende Erläuterung nicht gegeben
wird. Die Prüfkonsole 16 könnte auch durch einen digitalen Computer ersetzt werden. Ein solcher Aufbau könnte in
Systemen vorteilhaft sein, in denen der Computer aus anderen Gründen schon zur Verfügung steht.
Patentansprüche; 509837/0827
Claims (8)
1. Prüfmodul für den Einsatz als Unterabschnitt eines komplexen
Prüfsystems/ gekennzeichnet durch eine Einrichtung zum Empfangen und Decodieren von einen codierten
Anteil, der für die von dein Modul auszuübende Funktion repräsentativ ist, enthaltenden Signalen von einer Prüfkonsole;
eine Prüfeinrichtung zur Prüfung eines dem Modul zugeordneten Aufbaus und damit zur Erfassung des
Betriebszustands des Moduls durch Vergleichen der Ergebnisse
mindestens einer an der Anordnung vorgenommenen Prüfung mit für die erwarteten Ergebnisse repräsentativen
gespeicherten Signalen; sowie durch eine Einrichtung zum Schalten (Gaten) der Ergebnisse einer an der Anordnung
vorgenommenen Prüfung zu der Prüfkonsole in Abhängigkeit von einem Abfragesignal von der Prüfkonsole.
2- Prüfmodul nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet^ daß
der codierte Anteil einen ersten und einen zweiten Bestandteil aufweist, wovon der erste Bestandteil eine.ii
ersten Code enthält, der durch die Decodiereinrichtung decodiert wird, um ein Signal zu erzeugen,» das die Prüfeinrichtung
in Gang setzt, so dai3 diese die zugeordnete Anordnung auf ihre Funktionsfähigkeit prüft, und der zweite
Bestandteil einen zweiten Code enthält, der decodiert wird, um ein Signal zu erzeugen, das die Ergebnisse der Prüfung
an die Prüfkonsole abgibt (gatet).
3. Prüfmodul nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch eine Einrichtung zur Kopplung mehrerer Prüfmoduln mit
der Prüfkonsole über zwei Reihen-Daten-Sammelleitungen auf Time-Sharing-Basis.
4. Prüfmodul nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Funktionsfähigkeit der dem Prüfmodul zugeordneten
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Anordnung durch Vergleich, von Signalen, die für den Zustand
der Funktionsfähigkeit: der Anordnung repräsentativ sind, mit einem in eineni Speicher, der einen Bestandteil
des Prüfmoduls bildet,- gespeicherten digitalen Signal
bestimmt wird.
5. Prüfmodul nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
der Speicher ein nicht löschender, elektronisch änderbarer Lesespeicher ist,
6. Prüfracdul nach Anspruch 4 oder 5f gekennzeichnet durch
ein Interface (26), das Signals, die in Beziehung zu
dem Fiinktiünsfähigkeitsziist.änä der von aera Prüfmodul zu
prüfenden Anordnung ste;.ie:i, austastetf um erste Signale
zu erzeugen, die mit den zweiter, digitalen Signalen verglichen
werien, die in dem Speiche;: gespeichert sindj,
am den Funktionsfähigkeitssustar.d der Anordnung zu bestimmen,
deren Fur-ktiC-^sfähigksitsäustär-d s,a ermitteln ist.
7. Früfmodul nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet,
laß der Prüfeociul xalc c.^r Prüf konsole
über mindestens eins Daten-Sana£iell£.i*"\ing in Verbindung
steht, die mit einam drei rivsaus aufweisenden Datensignal
arbeitet, so daß ein Taktsignal und ein Datensignal gleichzeitig über die Datenleitung(en) übertragen
werden kann.
8. Prüfmodul nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß
das Datensignal mindestens einen Startimpuls und Adressendaten enthält, die den Prüfmodul bestimmen, zu dem
eine Verbindung hergestellt werden soll, und daß der Startimpuls und die Adressendaten Impulsbreiten-moduliert
werden, um sie individuell durch den Prüfmodul identifizieren zu können.
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US449589A US3921139A (en) | 1974-03-08 | 1974-03-08 | Test system having memory means at test module |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2508716A1 true DE2508716A1 (de) | 1975-09-11 |
Family
ID=23784724
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19752508716 Ceased DE2508716A1 (de) | 1974-03-08 | 1975-02-28 | Pruefmodul fuer komplexes pruefsystem |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3921139A (de) |
JP (1) | JPS5332216B2 (de) |
CA (1) | CA1005120A (de) |
DE (1) | DE2508716A1 (de) |
FR (1) | FR2263556B1 (de) |
GB (1) | GB1467122A (de) |
IL (1) | IL46732A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0037965A2 (de) * | 1980-04-11 | 1981-10-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Einrichtung zum Prüfen einer digitalen Schaltung mittels in diese Schaltung eingebauter Prüfschaltungen |
DE3116079A1 (de) * | 1981-04-23 | 1982-11-11 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Pruefsystem |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4048620A (en) * | 1974-10-02 | 1977-09-13 | Kinney Safety Systems, Inc. | Central station to addressed point communication system |
JPS5435413U (de) * | 1977-08-13 | 1979-03-08 | ||
DE2842603C3 (de) * | 1978-09-29 | 1981-06-11 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schnittstelle zwischen einem Wartungsprozessor und einer Mehrzahl einzeln zu prüfender Funktionseinheiten eines datenverarbeitenden Systems |
JPS5563830U (de) * | 1978-10-25 | 1980-05-01 | ||
JPS5644923U (de) * | 1979-09-18 | 1981-04-22 | ||
FR2466810A1 (fr) * | 1979-10-05 | 1981-04-10 | Kott Jacques | Systeme de recherche de documents classes de facon aleatoire |
SE425998B (sv) * | 1982-01-19 | 1982-11-29 | Lykke Olesen | Dataoverforingsanordning |
JPS58136149A (ja) * | 1982-02-08 | 1983-08-13 | Hitachi Ltd | 端末処理装置 |
US4796025A (en) * | 1985-06-04 | 1989-01-03 | Simplex Time Recorder Co. | Monitor/control communication net with intelligent peripherals |
US4675864A (en) * | 1985-06-04 | 1987-06-23 | Hewlett-Packard Company | Serial bus system |
US4829520A (en) * | 1987-03-16 | 1989-05-09 | American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories | In-place diagnosable electronic circuit board |
JPH07101474B2 (ja) * | 1988-10-20 | 1995-11-01 | ニッタン株式会社 | 監視警報装置 |
JP3273854B2 (ja) * | 1994-03-30 | 2002-04-15 | 能美防災株式会社 | 火災報知設備用機器 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1012469A (en) * | 1963-03-12 | 1965-12-08 | Westinghouse Brake & Signal | Improvements relating to information transmission systems |
US3435416A (en) * | 1964-10-29 | 1969-03-25 | Bell Telephone Labor Inc | Monitoring and control system |
-
1974
- 1974-03-08 US US449589A patent/US3921139A/en not_active Expired - Lifetime
-
1975
- 1975-02-28 CA CA220,970A patent/CA1005120A/en not_active Expired
- 1975-02-28 DE DE19752508716 patent/DE2508716A1/de not_active Ceased
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0037965A2 (de) * | 1980-04-11 | 1981-10-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Einrichtung zum Prüfen einer digitalen Schaltung mittels in diese Schaltung eingebauter Prüfschaltungen |
EP0037965A3 (en) * | 1980-04-11 | 1982-01-20 | Siemens Aktiengesellschaft Berlin Und Munchen | Device for testing a digital circuit with test circuits enclosed in this circuit |
DE3116079A1 (de) * | 1981-04-23 | 1982-11-11 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Pruefsystem |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US3921139A (en) | 1975-11-18 |
IL46732A0 (en) | 1975-04-25 |
FR2263556B1 (de) | 1982-10-01 |
GB1467122A (en) | 1977-03-16 |
FR2263556A1 (de) | 1975-10-03 |
IL46732A (en) | 1977-07-31 |
CA1005120A (en) | 1977-02-08 |
JPS50122840A (de) | 1975-09-26 |
JPS5332216B2 (de) | 1978-09-07 |
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