CN1527268A

CN1527268A - 可修补数据线的缺陷的平面显示器及其修补方法

Info

Publication number: CN1527268A
Application number: CNA031068987A
Authority: CN
Inventors: 李如龙; 林益祥
Original assignee: AU Optronics Corp
Current assignee: AUO Corp
Priority date: 2003-03-07
Filing date: 2003-03-07
Publication date: 2004-09-08
Anticipated expiration: 2023-03-07
Also published as: CN1264135C

Abstract

一种可修补数据线的缺陷的平面显示器，系藉由配置于数据线旁的遮光金属线以及跨于数据线/遮光金属线的修补备用导线做为修补线，若是同一条数据线中具有多处断线，均可以就近选择适当之遮光金属线和修补备用导线，配合激光熔融，使数据线绕过断线处。该平面显示器更可于栅极线旁配置遮光金属线以及配置跨于栅极线/遮光金属线的修补备用导线，如此亦可同时对栅极线断线处进行修补。

Description

可修补数据线的缺陷的平面显示器及其修补方法

技术领域

本发明涉及一种线缺陷的修补方法，特别是涉及一种平面显示器(flatpanel display，FPD)的数据线(data line)和栅极线(gate line)的修补方法。

背景技术

液晶显示器(liquid crystal display，LCD)是目前最被广泛使用的一种平面显示器，具有低消耗电功率、薄型轻量以及低电压驱动等特征，其显示原理是利用液晶分子的材料特性，于外加电场后使液晶分子的排列状态改变，造成液晶材料产生各种光电效应。一般而言，LCD的显示区域包含多个像素区域，每一个像素区域系指由两条栅极线(gate line)(又称扫描线，scan line)与两条数据线(data line)所定义之矩形区域，其内设置有一薄膜晶体管(thin film transistor，以下简称TFT)以及一像素电极，此薄膜晶体管为一种开关组件(switching device)。

栅极线与数据线主要是用来提供影像讯号以驱动像素电极，但是碍于制作时基板表面的高低起伏、热处理、蚀刻制造工艺等影响，栅极线与数据线很容易发生断线，进而导致断路(open circuit)或短路(short circuit)的现象。而且，当LCD面板之面积扩大并提高分辨率时，需要制作数量更多的栅极线与数据线，且线宽变得更窄，则制造工艺困难度的提高更容易导致断线现象。因此，为了避免LCD面板的操作受到少部份断线的影响，亟需发展出一种修补(repair)缺陷的结构及其使用方法。

请参考图1，其显示现有修补数据线断线的方法的上视图。现有一LCD之基板10上包含有多条横向延伸之栅极线12，多个栅极垫14分别设置于每一条栅极线12之一端，多条纵向延伸之数据线16，多个数据垫18分别设置于每一条数据线16之一端，以及多个矩阵排列之显示区域20。每一个显示区域20是由两条栅极线12与两条数据线16所垂直交叉定义型成，且均设置有一像素电极22。。除此之外，基板10另包含有多条辅助线24A、24B、24C，位于显示区域20周围的非显示区域，且多条辅助线24A、24B、24C跨越每一条数据线16之两端。

举例来说，当数据线16A发生断线而形成一开口A时，通过数据线16A之影像讯号无法到达开口A处，则可以利用激光或是其它技术，使数据线16A与辅助线24A的交叉点26a、26b产生电连接，并依据所选择最短之路径在切点28a、28b将辅助线24A切断，如此一来，传送到数据线16A的影像讯号便可以经由辅助线24A提供。不过，当影像讯号通过辅助线24A与其它数据线16之交会点时，会使影像讯号扭曲恶化，尤其当数据线16数目众多时，辅助线24A上之交会点的数目也会增加，则影像讯号恶化的情况会更加严重。而且，由上述可知，要修补一条数据线16A便需要耗费一条辅助线24A，因此随着辅助线24之数目与长度增加、栅极线12与数据线16之宽度设计变窄，辅助线24所产生的电阻值与电容值也会增加，这将使得讯号迟滞增长而影响LCD之显示品质。此外，辅助线24之制作数目会受到空间与面积的限制，因此可修补之断线数目相当有限。

发明内容

有鉴于此，本发明则提出一种数据线的修补方法，是在不额外制作辅助线的情况下，利用显示区域之遮光金属线来修补线缺陷，且可修补之断线数目没有限制。该方法亦可用于栅极线的修补。

本发明提供一种可修补数据线的缺陷的平面显示器，其结构如下所述。于每一像素区域内的像素电极和数据线之间分别设置第一遮光金属线，且每一第一遮光金属线彼此分开。第一修补备用导线横跨于相邻之第一遮光金属线和数据线，每一第一遮光金属线至少分配两对应之第一修补备用导线，且第一修补备用导线至少与数据线和第一遮光金属线择一绝缘。

上述的可修补数据线的缺陷的平面显示器中，第一修补备用导线可延伸自数据线、第一遮光金属线、或者与两者均绝缘。

在第一修补备用导线延伸自数据线的情况下，第一修补备用导线与第一遮光金属线的交错点为修补点。其中第一遮光金属线和栅极线属第一层金属层，第一修补备用导线和数据线属第二层金属层；或者第一修补备用导线和数据线属第一层金属层，第一遮光金属线和栅极线属第二层金属层。

在第一修补备用导线延伸自第一遮光金属线的情况下，第一修补备用导线与数据线之交错点为修补点。其中第一修补备用导线、第一遮光金属线和栅极线属第一层金属层，数据线属第二层金属层；或者数据线属第一层金属层，第一修补备用导线、第一遮光金属线和栅极线属第二层金属层。

在第一修补备用导线与数据线和第一遮光金属线均绝缘的情况下，第一修补备用导线与数据线及第一遮光金属线之交错点为修补点。其中第一修补备用导线和栅极线属第一层金属层，第一遮光金属线和数据线属第二层金属层；或者第一遮光金属线和数据线属第一层金属层，第一修补备用导线和栅极线属第二层金属层。

上述之可修补数据线的缺陷的平面显示器的结构中，更包括如下所述之可用于修补栅极线的缺陷的结构。于每一像素区域内之像素电极和栅极线之间分别设置第二遮光金属线，且每一第二遮光金属线彼此分开。第二修补备用导线横跨于相邻之第二遮光金属线和栅极线，每一第二遮光金属线至少分配两对应之第二修补备用导线，且第二修补备用导线至少与栅极线和第二遮光金属线择一绝缘。

针对可用于修补栅极线的缺陷的结构方面，第二修补备用导线可延伸自栅极线、第二遮光金属线、或者与两者均绝缘。

在第二修补备用导线延伸自栅极线的情况下，第二修补备用导线与第二遮光金属线之交错点为修补点。

在第二修补备用导线延伸自第二遮光金属线的情况下，第二修补备用导线与栅极线之交错点为修补点。

在第二修补备用导线与栅极线和第二遮光金属线均绝缘的情况下，第二修补备用导线与栅极线及第二遮光金属线之交错点为修补点。

当数据线之一具有缺陷时，将邻近之第一遮光金属线藉由对应之一对第一修补备用导线与具有上述缺陷之数据线电连接，其中该对第一修补备用导线分别位于缺陷之两侧。

当栅极线之一具有缺陷时，将邻近之第二遮光金属线藉由对应之一对第二修补备用导线与具有上述缺陷之栅极线电连接，其中该对第二修补备用导线分别位于缺陷之两侧。

附图说明

图1显示现有修补数据线之断线的方法的上视图。

图2显示本发明修补数据线方法的电路示意图。

图3是显示本发明之第一实施例之修补结构的上视图。

图4A至图4B显示沿图3之切线IV-IV进行修补的剖面示意图。

图5是显示本发明之第二实施例之修补结构的上视图。

图6A至图6B显示沿图5之切线VI-VI进行修补的剖面示意图。

图7是显示本发明之第三实施例之修补结构的上视图。

图8A至图8B显示沿图7之切线VIII-VIII进行修补的剖面示意图。

图9是显示本发明之第四实施例之修补结构的上视图。

图10A至图10B显示沿图9之切线X-X进行修补的剖面示意图。

图11是显示本发明之第五实施例之修补结构的上视图。

图12A至图12B显示沿图11之切线XII-XII进行修补的剖面示意图。

图13是显示本发明之第六实施例之修补结构的上视图。

图14A至图14B显示沿图13之切线XIV-XIV进行修补的剖面示意图。

图15是显示本发明之第七实施例之修补结构的上视图。

图16显示本发明修补栅极线方法的电路示意图。

附图标号说明

30：数组基板

34：薄膜晶体管

36：像素电极

32、32a、32b、62：遮光金属线

38a、38b、38c、68a、68c：导线

38、68：修补备用导线(或凸块)

341：栅极

342：漏极电极

343：源极电极

40：栅极线

50：数据线

42：绝缘层

44：保护层

46：接触洞

具体实施方式

本发明在制备好液晶显示面板之主动数组基板后，在尚未与另一基板进行组装之前，即进行检测，确认是否有断线的存在。若发现有断线，可针对断线处，利用邻近之遮光金属线进行修补。

数据线的断线修补

请参阅图2，其显示本发明修补数据线方法的电路示意图。液晶显示面板的数组基板30上包含有许多栅极线GL₁、GL₂和GL₃和数据线DL₁、DL₂和DL₃。栅极线GL₁、GL₂和GL₃与数据线DL₁、DL₂和DL₃以矩阵的形式排列，其垂直交叉所构成之矩形区域定义为像素区，每一像素区均配置一薄膜晶体管(TFT)34和像素电极36。在像素电极36边缘和数据线DL₁、DL₂和DL₃之间设置许多遮光金属线32，这些遮光金属线32主要系用以避免漏光问题的发生，且每一遮光金属线32为浮置状态(floatingstate)。

当主动数组基板30形成后，将会进行测试，以找出线缺陷的所在位置。之后，利用邻近之浮置的遮光金属线32进行修补。

举例而言，当数据线DL₂发生断线而在端点A、B之间形成开口时，传输至数据线DL₂之影像讯号便无法通过端点A、B。本发明的修补方法是，将端点A和B处的数据线DL₂分别藉由导线38a和38b连接至邻近之遮光金属线32。因此，路径C→D→E→F即构成一条修补线，藉此绕过断线处来修补数据线DL₂之端点A、B间的线缺陷问题。

以下系以数个实施例详细说明修补数据线于端点A和B的断线的方法，以及所构成之修补线的详细结构。

第一实施例

请参阅图3及图4A至图4B，其中图3是显示本发明之修补结构的上视图，图4A至图4B显示沿图3之切线IV-IV进行修补的剖面示意图，其中图4A为修补前的示意图，图4B为修补后的示意图。

如图3和图4A所示，一般在基板30上所进行之制造工艺，系先于基板30上形成第一层金属层，并定义其图案，以形成栅极线40、TFT结构34之栅极341、以及可用来进行修补之遮光金属线32。遮光金属线32之位置系在不影响电性表现的考量下，设置在数据线50与像素电极36之间，用以遮蔽像素电极36靠近数据线50之边缘的光线，且处于浮置的状态。然后，依序于已形成栅极线40、栅极341和遮光金属线32的基板30上依序形成一绝缘层42、至少一半导体层(未显示)以及第二层金属层。之后，定义第二层金属层之图案，以形成漏极电极342、源极电极343、数据线50与修补备用导线38。因为在此实施例之修补备用导线38为数据线50的凸出部份，故修补备用导线在此又称为凸块38。接着，于由第二金属层所形成之漏极电极302、源极电极303、数据线40与凸块38的上方形成一保护层44以及一导电层，并定义导电层的图案以形成像素电极36，如此便大致完成基板30上线路的制作。上述之第一金属层与第二金属层系由一般金属类导电体物质所构成，而用以制备像素电极36之导电层的材质可使用锡铟氧化物(indium tin oxide；ITO)。像素电极36经由接触洞46与漏极342电连接。

为说明方便，于数据线DL₂断线处邻近之遮光金属线系以32a和32b表示，将用于修补的凸块系以38a和38b表示。

为了确保基板30之制作品质，可藉由观察像素区36的点亮状态来判断是否有数据线50在某处发生线缺陷。举例来说，当发现数据线DL₂于栅极线GL₂和GL₃之间发生断线时，便可以进行下述的修补方法。首先，为了使数据线DL₂断线处的端点A、B电连接起来，可以选择邻近的遮光金属线32a或/和32b进行修补。在此实施例中，系以选择遮光金属线32a进行修补为例进行说明。接着，对修补点D和E进行激光熔接(laser fusing)，移除部份的绝缘层42，使得由第二层金属层所定义出之凸块38a和38b能与由第一层金属层所定义出之遮光金属线32a电连接，结果如图4B所示。因此，数据线DL₂可以绕过断线端点A和B，而改经由凸块38a、遮光金属线32a和凸块38b导通形成电连接回路，用以作为数据线DL₂之修补线。

在此实施例中，遮光金属线32与栅极341和栅极线40同时制备，且均来自第一层金属层；修补备用导线38与数据线50同时制备，且均来自第二层金属层。本发明于数据线50延伸出修补备用导线(即凸块)38，并利用激光技术使断线的数据线50经由数据线50本身的延伸部，即凸块38，与其下方邻近的金属遮蔽层32导通，以绕过断线处而形成电连接回路，用来作为数据线50之修补线。

第二实施例

请参阅图5及图6A至图6B，其中图5是显示本发明之修补结构的上视图，图6A至图6B显示沿图5之切线VI-VI进行修补的剖面示意图，其中图6A为修补前的示意图，图6B为修补后的示意图。

在此实施例中，数组基板30的制造工艺大致与第一实施例相同，不同处在于修补备用导线38的位置。在此，修补备用导线38和遮光金属线32与栅极341和栅极线40同时制备，且均来自第一层金属层；数据线50系来自第二层金属层。在此实施例之修补备用导线38为遮光金属线32的凸出部份，因此，修补备用导线在此亦称为凸块38。

同样地，为说明方便，于数据线DL₂断线处邻近之遮光金属线系以32a和32b表示，将用于修补的凸块系以38a和38b表示。

当完成数组基板30的制备后，会藉由观察像素区36的点亮状态来判断是否有数据线50在某处发生线缺陷。举例来说，当发现数据线DL₂于栅极线GL₂和GL₃之间发生断线时，其修补方法如下所述。首先，为了使数据线DL₂断线处的端点A、B电连接起来，可以选择邻近的遮光金属线32a或/和32b进行修补。在此实施例中，系以选择遮光金属线32a进行修补为例进行说明。接着，对修补点C和F进行激光熔接，移除部份的绝缘层42，使得由第二层金属层所定义出之数据线DL₂能与由第一层金属层所定义出之凸块38a和38b电连接，结果如图6B所示。因此，数据线DL₂可以绕过断线端点A和B，而改经由凸块38a、遮光金属线32a和凸块38b导通形成电连接回路，用以作为数据线DL₂之修补线。

第三实施例

请参阅图7及图8A至图8B，其中图7是显示本发明之修补结构的上视图，图8A至图8B显示沿图7之切线VIII-VIII进行修补的剖面示意图，其中图8A为修补前的示意图，图8B为修补后的示意图。

在此实施例中，数组基板30的制造工艺大致与第一实施例相同，不同处在于修补备用导线38和遮光金属线32的位置。在此，修补备用导线38与栅极341和栅极线40同时制备，且均来自第一层金属层；遮光金属线32与数据线50同时制备，且均来自第二层金属层。在未进行任何修补动作前，修补备用导线38和遮光金属线32均为浮置状态。

同样地，为说明方便，于数据线DL₂断线处邻近之遮光金属线系以32a和32b表示，将用于修补的修补备用导线系以38a和38b表示。

当完成数组基板30的制备后，会藉由观察像素区36的点亮状态来判断是否有数据线50在某处发生线缺陷。举例来说，当发现数据线DL₂于栅极线GL₂和GL₃之间发生断线时，其修补方法如下所述。首先，为了使数据线DL₂断线处的端点A、B电连接起来，可以选择邻近的遮光金属线32a或/和32b进行修补。在此实施例中，系以选择遮光金属线32a进行修补为例进行说明。接着，对修补点C、D、E和F进行激光熔接，移除部份的绝缘层42，使得由第二层金属层所定义出之数据线DL₂能与由第一层金属层所定义出之修补备用导线38a和38b电连接，结果如图8B所示。因此，数据线DL₂可以绕过断线端点A和B，而改经由导线38a、遮光金属线32a和导线38b导通形成电连接回路，用以作为数据线DL₂之修补线。

第四实施例

请参阅图9及图10A至图10B，其中图9是显示本发明之修补结构的上视图，图10A至图10B显示沿图9之切线X-X进行修补的剖面示意图，其中图10A为修补前的示意图，图10B为修补后的示意图。

如图9和图10A所示，一般在基板30上所进行之制造工艺，系先于基板30上形成第一层金属层，并定义其图案，以形成TFT结构34之漏极电极342、TFT结构34之源极电极343、数据线50与修补备用导线38。然后，依序于已形成漏极电极342、源极电极343、数据线50与修补备用导线38的基板30上依序形成至少一半导体层(未显示)、一绝缘层42以及第二层金属层。之后，定义第二层金属层之图案，以形成栅极线40、TFT结构34之栅极341、以及可用来进行修补之遮光金属线32。遮光金属线32之位置系在不影响电性表现的考量下，设置在数据线50与像素电极36之间，用以遮蔽像素电极36靠近数据线50之边缘的光线，且处于浮置的状态。因为在此实施例之修补备用导线38为数据线50的凸出部份，故修补备用导线在此又称为凸块38。接着，于由第二金属层所形成之栅极线40、栅极341、以及遮光金属线32的上方形成一保护层44以及一导电层，并定义导电层的图案以形成像素电极36，如此便大致完成基板30上线路的制作。上述之第一金属层与第二金属层系由一般金属类导电体物质所构成，而用以制备像素电极36之导电层的材质可使用锡铟氧化物(indium tin oxide；ITO)。像素电极36经由接触洞46与漏极342电连接。

为了确保基板30之制作品质，可藉由观察像素区36的点亮状态来判断是否有数据线50在某处发生线缺陷。举例来说，当发现数据线DL₂于栅极线GL₂和GL₃之间发生断线时，便可以进行下述的修补方法。首先，为了使数据线DL₂断线处的端点A、B电连接起来，可以选择邻近的遮光金属线32a或/和32b进行修补。在此实施例中，系以选择遮光金属线32a进行修补为例进行说明。接着，对修补点D和E进行激光熔接(laser fusing)，移除部份的绝缘层42，使得由第二层金属层所定义出之遮光金属线32a能与由第一层金属层所定义出之凸块38a和38b电连接，结果如图10B所示。因此，数据线DL₂可以绕过断线端点A和B，而改经由凸块38a、遮光金属线32a和凸块38b导通形成电连接回路，用以作为数据线DL₂之修补线。

在此实施例中，修补备用导线38与数据线50同时制备，且均来自第一层金属层；遮光金属线32与栅极341和栅极线40同时制备，且均来自第二层金属层。本发明于数据线50延伸出修补备用导线(即凸块)38，并利用激光技术使断线的数据线50经由数据线50本身的延伸部，即凸块38，与其上方邻近的金属遮蔽层32导通，以绕过断线处而形成电连接回路，用来作为数据线50之修补线。

第五实施例

请参阅图11及图12A至图12B，其中图11是显示本发明之修补结构的上视图，图12A至图12B显示沿图11之切线XII-XII进行修补的剖面示意图，其中图12A为修补前的示意图，图12B为修补后的示意图。

在此实施例中，数组基板30的制造工艺大致与第四实施例相同，不同处在于修补备用导线38的位置。在此，修补备用导线38和遮光金属线32与栅极341和栅极线40同时制备，且均来自第二层金属层；数据线50系来自第一层金属层。在此实施例之修补备用导线38为遮光金属线32的凸出部份，因此，修补备用导线在此亦称为凸块38。

当完成数组基板30的制备后，会藉由观察像素区36的点亮状态来判断是否有数据线50在某处发生线缺陷。举例来说，当发现数据线DL₂于栅极线GL₂和GL₃之间发生断线时，其修补方法如下所述。首先，为了使数据线DL₂断线处的端点A、B电连接起来，可以选择邻近的遮光金属线32a或/和32b进行修补。在此实施例中，系以选择遮光金属线32a进行修补为例进行说明。接着，对修补点C和F进行激光熔接，移除部份的绝缘层42，使得由第二层金属层所定义出之凸块38a和38b能与由第一层金属层所定义出之数据线DL₂电连接，结果如图12B所示。因此，数据线DL₂可以绕过断线端点A和B，而改经由凸块38a、遮光金属线32a和凸块38b导通形成电连接回路，用以作为数据线DL₂之修补线。

第六实施例

请参阅图13及图14A至图14B，其中图13是显示本发明之修补结构的上视图，图14A至图14B显示沿图13之切线XIV-XIV进行修补的剖面示意图，其中第13A图为修补前的示意图，第13B图为修补后的示意图。

在此实施例中，数组基板30的制造工艺大致与第四实施例相同，不同处在于修补备用导线38和遮光金属线32的位置。在此，修补备用导线38与栅极341和栅极线40同时制备，且均来自第二层金属层；遮光金属线32与数据线50同时制备，且均来自第一层金属层。在未进行任何修补动作前，修补备用导线38和遮光金属线32均为浮置状态。

当完成数组基板30的制备后，会藉由观察像素区36的点亮状态来判断是否有数据线50在某处发生线缺陷。举例来说，当发现数据线DL₂于栅极线GL₂和GL₃之间发生断线时，其修补方法如下所述。首先，为了使数据线DL₂断线处的端点A、B电连接起来，可以选择邻近的遮光金属线32a或/和32b进行修补。在此实施例中，系以选择遮光金属线32a进行修补为例进行说明。接着，对修补点C、D、E和F进行激光熔接，移除部份的绝缘层42，使得由第二层金属层所定义出之修补备用导线38a和38b能与由第一层金属层所定义出之数据线DL₂电连接，结果如第13B图所示。因此，数据线DL₂可以绕过断线端点A和B，而改经由导线38a、遮光金属线32a和导线38b导通形成电连接回路，用以作为数据线DL₂之修补线。

第七实施例

上述第一～六实施例中，每一遮光金属线32均有两个大致对应于其端点之修补备用导线38，然而，本发明并不限于此，亦可配置三个甚至以上之修补备用导线38，以增加修补的变通性。

图15是以每一遮光金属线32配置三个修补备用导线38为例，并以第一实施例所述之主动数组基板30的制造方法为例做说明。在此，遮光金属线32与栅极341和栅极线40同时制备，且均来自第一层金属层；修补备用导线38与数据线50同时制备，且均来自第二层金属层。

为说明方便，于数据线DL₂断线处邻近之遮光金属线系以32a和32b表示，对应于将用于修补之遮光金属线32a的凸块系以38a、38b和38c表示。

当主动数组基板30制作完后，藉由观察像素区36的点亮状态来判断是否有数据线50在某处发生线缺陷。举例来说，当发现数据线DL₂于栅极线GL₂和GL₃之间发生断线时，可利用其邻近之遮光金属线32a或/和32b进行修补。但是，若不巧邻近之两条遮光金属线32a和32b亦发生断线时，则无法利用整条遮光金属线32a或/和32b来进行修补。以图15的缺陷情形为例，对修补点D和G进行激光熔接，使得由第二层金属层所定义出之凸块38a和38c能与由第一层金属层所定义出之遮光金属线32a电连接。因此，数据线DL₂可以绕过断线端点A和B，而改经由凸块38a、遮光金属线32a和凸块38c导通形成电连接回路，因此路径C→D→G→H即用以作为数据线DL₂之修补线。

栅极线的断线修补

上述之数据线的断线修补方法亦可适用于栅极线。请参阅图16，其显示本发明修补栅极线方法的电路示意图。如图16所示，在像素电极36边缘和栅极线GL₁、GL₂和GL₃之间设置许多浮置的遮光金属线62，用以避免漏光问题的发生，以及做为修补线。

举例而言，当栅极线GL₂发生断线而在端点J、K之间形成开口时，传输至栅极线GL₂之影像讯号便无法通过端点J、K。本发明的修补方法是，将端点J和K处的栅极线DL₂分别藉由导线68a和68b连接至邻近之遮光金属线62。因此，路径L→M→N→O即构成一条修补线，藉此绕过断线处来修补栅极线GL₂之端点J、K间的线缺陷问题。

修补备用导线68a和68b可为延伸自栅极线GL₂的凸块、延伸自遮光金属线62的凸块、或自成独立且浮置之导线。若修补备用导线68a和68b为延伸自栅极线GL₂的凸块，则修补点为M和N；若修补备用导线68a和68b为延伸自遮光金属线62的凸块，则修补点为L和O；若修补备用导线68a和68b为自成独立且浮置之导线，则修补点为M、N、L和O。

本发明藉由配置于栅极线和数据线旁浮置的遮光金属线以及跨于栅极线/遮光金属线和数据线/遮光金属线的修补备用导线做为修补线，若是同一条数据线和/或门极线中具有多处断线，均可以就近选择适当之遮光金属线和修补备用导线，配合激光熔融，使数据线和/或门极线绕过断线处。因此，修补线并不会受限于空间与面积的影响，也不会有额外增加电阻值与电容值的情形，进而能够避免增加RC时间延迟。

虽然本发明已结合优选实施例揭露如上，然而其并非用以限定本发明，本领域的技术人员在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围应当视后附的权利要求所界定者为准。

Claims

1.一种可修补数据线的缺陷的平面显示器，包括：

多条栅极线与多条数据线，该些栅极讯号线和与该些栅极线相交的该些数据线定义出多个像素区域；

多个像素电极，分别位于该些像素区域内；

多条第一遮光金属线，分别设置于每一像素区域内的像素电极和数据线之间，且每一第一遮光金属线彼此分开；以及

多条第一修补备用导线，横跨于相邻的第一遮光金属线和数据线，每一第一遮光金属线至少分配两对应的第一修补备用导线，该些第一修补备用导线至少与该些数据线和该些第一遮光金属线择一绝缘。

2.如权利要求1所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器，其中该些第一修补备用导线系延伸自该些数据线。

3.如权利要求2所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器，其中该些第一修补备用导线与该些第一遮光金属线之交错点为修补点。

4.如权利要求2所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器，其中该些第一遮光金属线和该些栅极线属第一层金属层，该些第一修补备用导线和该些数据线属第二层金属层。

5.如权利要求2所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器，其中该些第一修补备用导线和该些数据线属第一层金属层，该些第一遮光金属线和该些栅极线属第二层金属层。

6.如权利要求1所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器，其中该些第一修补备用导线系延伸自该些第一遮光金属线。

7.如权利要求6所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器，其中该些第一修补备用导线与该些数据线之交错点为修补点。

8.如权利要求6所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器，其中该些第一修补备用导线、该些第一遮光金属线和该些栅极线属第一层金属层，该些数据线属第二层金属层。

9.如权利要求6所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器，其中该些数据线属第一层金属层，该些第一修补备用导线、该些第一遮光金属线和该些栅极线属第二层金属层。

10.如权利要求1所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器，其中该些第一修补备用导线与该些数据线和该些第一遮光金属线绝缘。

11.如权利要求10所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器，其中该些第一修补备用导线与该些数据线及该些第一遮光金属线之交错点为修补点。

12.如权利要求10所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器，其中该些第一修补备用导线和该些栅极线属第一层金属层，该些第一遮光金属线和该些数据线属第二层金属层。

13.如权利要求10所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器，其中该些第一遮光金属线和该些数据线属第一层金属层，该些第一修补备用导线和该些栅极线属第二层金属层。

14.如权利要求1所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器，更包括：

多条第二遮光金属线，分别设置于每一像素区域内之像素电极和栅极线之间，且每一第二遮光金属线彼此分开；以及

多条第二修补备用导线，横跨于相邻之第二遮光金属线和栅极线，每一第二遮光金属线至少分配两对应之第二修补备用导线，该些第二修补备用导线至少与该些栅极线和该些第二遮光金属线择一绝缘。

15.如权利要求14所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器，其中该些第二修补备用导线系延伸自该些栅极线。

16.如权利要求15所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器，其中该些第二修补备用导线与该些第二遮光金属线之交错点为修补点。

17.如权利要求14所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器，其中该些第二修补备用导线系延伸自该些第二遮光金属线。

18.如权利要求17所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器，其中该些第二修补备用导线与该些栅极线之交错点为修补点。

19.如权利要求14所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器，其中该些第二修补备用导线与该些栅极线和该些第二遮光金属线绝缘。

20.如权利要求19所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器，其中该些第二修补备用导线与该些栅极线及该些第二遮光金属线之交错点为修补点。

21.一种可修补数据线的缺陷的平面显示器的修补方法，其中该可修补数据线的缺陷的平面显示器包括：多条栅极线与多条数据线，该些栅极讯号线和与该些栅极线相交之该些数据线系定义出多个像素区域；多个像素电极，分别位于该些像素区域内；多条第一遮光金属线，分别设置于每一像素区域内之像素电极和数据线之间，且每一第一遮光金属线彼此分开；以及多条第一修补备用导线，横跨于相邻之第一遮光金属线和数据线，每一第一遮光金属线至少分配两对应之第一修补备用导线，该些第一修补备用导线至少与该些数据线和该些第一遮光金属线择一绝缘，该修补方法包括：

当该些数据线之一具有一缺陷时，将邻近之第一遮光金属线藉由对应之一对第一修补备用导线与具有该缺陷之数据线电连接，其中该对第一修补备用导线分别位于该缺陷之两侧。

22.如权利要求21所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器的修补方法，其中该些第一修补备用导线系延伸自该些数据线，该些第一修补备用导线与该些第一遮光金属线之交错点为修补点。

23.如权利要求22所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器的修补方法，其中将邻近之第一遮光金属线藉由对应之该对第一修补备用导线与具有该缺陷之数据线电连接的方法，包括：利用激光熔融使该对第一修补备用导线与交错之第一遮光金属线电连接。

24.如权利要求21所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器的修补方法，其中该些第一修补备用导线系延伸自该些第一遮光金属线，该些第一修补备用导线与该些数据线之交错点为修补点。

25.如权利要求24所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器的修补方法，其中将邻近之第一遮光金属线藉由对应之该对第一修补备用导线与具有该缺陷之数据线电连接的方法，包括：利用激光熔融使该对第一修补备用导线与交错之数据线电连接。

26.如权利要求21所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器的修补方法，其中该些第一修补备用导线与该些数据线和该些第一遮光金属线绝缘，该些第一修补备用导线与该些数据线及该些第一遮光金属线之交错点为修补点。

27.如权利要求26所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器的修补方法，其中将邻近之第一遮光金属线藉由对应之该对第一修补备用导线与具有该缺陷之数据线电连接的方法，包括：利用激光熔融使该对第一修补备用导线与交错之数据线及第一遮光金属线电连接。

28.一种可修补数据线的缺陷的平面显示器的修补方法，其中该可修补数据线的缺陷的平面显示器包括：多条栅极线与多条数据线，该些栅极讯号线和与该些栅极线相交之该些数据线系定义出多个像素区域；多个像素电极，分别位于该些像素区域内；多条第一遮光金属线，分别设置于每一像素区域内之像素电极和数据线之间，且每一第一遮光金属线彼此分开；多条第一修补备用导线，横跨于相邻之第一遮光金属线和数据线，每一第一遮光金属线至少分配两对应之第一修补备用导线，该些第一修补备用导线至少与该些数据线和该些第一遮光金属线择一绝缘；多条第二遮光金属线，分别设置于每一像素区域内之像素电极和栅极线之间，且每一第二遮光金属线彼此分开；以及多条第二修补备用导线，横跨于相邻之第二遮光金属线和栅极线，每一第二遮光金属线至少分配两对应之第二修补备用导线，该些第二修补备用导线至少与该些栅极线和该些第二遮光金属线择一绝缘，该修补方法包括：

当该些数据线之一具有一第一缺陷时，将邻近之第一遮光金属线藉由对应之一对第一修补备用导线与具有该第一缺陷之数据线电连接，其中该对第一修补备用导线分别位于该第一缺陷之两侧；以及

当该些栅极线之一具有一第二缺陷时，将邻近之第二遮光金属线藉由对应之一对第二修补备用导线与具有该第二缺陷之栅极线电连接，其中该对第二修补备用导线分别位于该第二缺陷之两侧。

29.如权利要求28所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器的修补方法，其中该些第一修补备用导线系延伸自该些数据线，该些第一修补备用导线与该些第一遮光金属线之交错点为修补点。

30.如权利要求29所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器的修补方法，其中将邻近之第一遮光金属线藉由对应之该对第一修补备用导线与具有该第一缺陷之数据线电连接的方法，包括：利用激光熔融使该对第一修补备用导线与交错之第一遮光金属线电连接。

31.如权利要求28所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器的修补方法，其中该些第一修补备用导线系延伸自该些第一遮光金属线，该些第一修补备用导线与该些数据线之交错点为修补点。

32.如权利要求31所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器的修补方法，其中将邻近之第一遮光金属线藉由对应之该对第一修补备用导线与具有该第一缺陷之数据线电连接的方法，包括：利用激光熔融使该对第一修补备用导线与交错之数据线电连接。

33.如权利要求28所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器的修补方法，其中该些第一修补备用导线与该些数据线和该些第一遮光金属线绝缘，该些第一修补备用导线与该些数据线及该些第一遮光金属线之交错点为修补点。

34.如权利要求33所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器的修补方法，其中将邻近之第一遮光金属线藉由对应之该对第一修补备用导线与具有该第一缺陷之数据线电连接的方法，包括：利用激光熔融使该对第一修补备用导线与交错之数据线及第一遮光金属线电连接。

35.如权利要求28所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器的修补方法，其中该些第二修补备用导线系延伸自该些栅极线，该些第二修补备用导线与该些第二遮光金属线之交错点为修补点。

36.如权利要求35所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器的修补方法，其中将邻近之第二遮光金属线藉由对应之该对第二修补备用导线与具有该第二缺陷之栅极线电连接的方法，包括：利用激光熔融使该对第二修补备用导线与交错之第二遮光金属线电连接。

37.如权利要求28所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器的修补方法，其中该些第二修补备用导线系延伸自该些第二遮光金属线，该些第二修补备用导线与该些栅极线之交错点为修补点。

38.如权利要求37所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器的修补方法，其中将邻近之第二遮光金属线藉由对应之该对第二修补备用导线与具有该第二缺陷之栅极线电连接的方法，包括：利用激光熔融使该对第二修补备用导线与交错之栅极线电连接。

39.如权利要求28所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器的修补方法，其中该些第二修补备用导线与该些栅极线和该些第二遮光金属线绝缘，该些第二修补备用导线与该些栅极线及该些第二遮光金属线之交错点为修补点。

40.如权利要求39所述的可修补数据线的缺陷的平面显示器的修补方法，其中将邻近之第二遮光金属线藉由对应之该对第二修补备用导线与具有该第二缺陷之栅极线电连接的方法，包括：利用激光熔融使该对第二修补备用导线与交错之栅极线及第二遮光金属线电连接。