CN101201469B - 液晶显示面板及其修补方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种液晶显示面板及其修补方法。该液晶显示面板包括多个相互平行的扫描线、多个与该扫描线垂直绝缘相交的数据线及多个由该多个扫描线与该多个数据线所围成的像素区域,该每一像素区域包括一像素电极。其中,在每相邻像素电极之间具有一长条环状修补线,该长条环状修补线的两端分别与该数据线绝缘相交。该液晶显示面板经过修补之后显示品质不受影响,且其修补无需受面板尺寸限制。
Description
技术领域
本发明是关于一种液晶显示面板及其修补方法,尤其是关于一种便于修补线路的液晶显示面板及对该液晶显示面板中线路缺陷的修补方法。
背景技术
液晶显示装置因具有低辐射性、体积轻薄短小及耗电低等特点,已广泛应用在手机、个人数字助理、笔记本电脑、个人电脑和电视等领域。液晶显示装置的显示面板包括由多个平行的水平扫描线与多个平行的垂直数据线绝缘相交形成的像素阵列,该像素阵列所在的区域即为该显示面板实际显示的区域,位于该像素阵列的每一像素区域均包括一与扫描线及数据线相交的薄膜晶体管,通过该扫描线与数据线所输送的信号控制薄膜晶体管以实现该液晶显示面板的显示功能。
然而,在上述液晶显示面板制造过程中,如果像素阵列所在的基板表面不平,或者在加热或蚀刻时,容易导致面板线路断开或短路。尤其当液晶显示面板的尺寸及分辨率要求越高时,数据线及扫描线数量也随之增加,此时为了实际显示区域大而整体面板尺寸小的需求,也要求线宽越来越小,导致制造难度增加,线路缺陷增多。因此,若发现线路有缺陷的状况,需对相应的线路进行修补,以使其能正常工作。
请参考图1,其是一种现有技术液晶显示面板中数据线的修补示意图。该液晶显示面板1包括多个相互平行的扫描线11及多个与该扫描线11垂直绝缘相交的数据线12。该多个扫描线11与多个数据线12相交形成一像素阵列10,在该像素阵列10内具有多个像素区域15。多个相互平行的修补线16与位于该像素阵列10之外的多个数据线12的一端垂直绝缘相交,并经由该像素阵列10的外围绕至该多个数据线12的另一端与之再次垂直绝缘相交。
当检测发现一数据线121上具有一断点A时,选择一修补线161,使该修补线161与该数据线121相交之处电导通,并截断其位于该数据线121左边的部分,此时,断点A可通过该修补线161剩下的部分连接,需经由该断点A传输的信号可通过该修补线161剩下的部分来传输,因此不会影响该液晶显示面板1的显示工作。如果扫描线11出现断开现象时,也可采用上述方法进行修补。
然而,因为该修补线16位于该像素阵列10的外围区域,信号经其传输时需要较长一段距离,势必会有一定延迟,如此会影响该液晶显示面板1的显示品质。而且,一数据线12存在缺陷时通常需要一修补线16来进行修补,当液晶显示面板1分辨率提高,数据线12增加时,若较多的数据线12存在缺陷,则需要较多的修补线16,然而,如此当实际显示区域面积增大时,还需要额外加大液晶显示面板1的尺寸以容纳更多的修补线16,不符合液晶显示装置体积轻薄短小且显示面积大的需求。
发明内容
为了克服现有技术中液晶显示面板修补线路后显示品质受到影响以及修补受面板尺寸限制的问题,有必要提供一种经过修补之后显示品质不受影响,且无需受面板尺寸限制的液晶显示面板。
还有必要提供一种上述液晶显示面板的修补方法。
一种液晶显示面板,其包括多个相互平行的扫描线、多个与该扫描线垂直绝缘相交的数据线及多个由该多个扫描线与该多个数据线所围成的像素区域,该每一像素区域包括一像素电极。其中,在每相邻像素电极之间具有一长条环状修补线,该长条环状修补线的两端分别与该数据线绝缘相交,该液晶显示面板进一步包括多个与该扫描线平行并与该数据线垂直绝缘相交的存储电容线,每一存储电容线位于对应像素区域的一端处,该长条环状修补线是子存储电容线,该长条环状修补线延伸至该存储电容线并与之相接。
一种液晶显示面板的修补方法,其包括以下步骤:步骤一:形成长条环状修补线,该长条环状修补线设置在每相邻像素电极之间,其两端与数据线绝缘相交,一端延伸至对应存储电容线并与之相接;步骤二:检测液晶显示面板;步骤三:对有断开现象的线路进行修补,当发现某一数据线出现断开现象时,使该数据线与该长条环状修补线在其二相交处电导通;步骤四:切断该长条环状修补线与存储电容线的连接。其中,该步骤一中,在该液晶显示面板的薄膜晶体管基板制作时,在一存储电容薄膜层上直接蚀刻多个与该扫描线平行并与该数据线垂直绝缘相交的存储电容线及与该存储电容线相连的长条环状子存储电容线,该长条环状修补线是直接由该长条环状子存储电容线所形成。
相较于现有技术,当该液晶显示面板的数据线出现断开现象时,仅需使该数据线和与其相交的长条环状修补线在其二相交处电导通,如此断点所在的数据线上传输的信号可通过该长条环状修补线来传输至其所在的像素区域及下一像素区域,该信号所经过的距离与该数据线未断开时所传输的距离相差无几,从而几乎不会出现信号延迟而影响显示效果的现象。且该长条环状修补线位于相邻像素电极之间,即使该液晶显示面板分辨率高,该数据线的数量增多,该长条环状修补线也不会占据额外的面积,故无需受面板尺寸限制。
该液晶显示面板的修补方法采用在面板制造过程中预先设置的长条环状修补线对断开的数据线进行修补,如此断点所在的数据线上传输的信号可通过该长条环状修补线来传输至其所在的像素区域及下一像素区域,该信号所经过的距离与该数据线未断开时所传输的距离相差无几,从而几乎不会出现信号延迟而影响显示效果的现象。且该长条环状修补线设置在相邻像素电极之间,即使该液晶显示面板分辨率高,该数据线的数量增多,该长条环状屏蔽金属线也不会占据额外的面积,故无需受面板尺寸限制。
附图说明
图1是一种现有技术液晶显示面板中数据线的修补示意图。
图2是本发明液晶显示面板第一实施方式的结构示意图。
图3是图2中液晶显示面板中数据线的修补示意图。
图4是本发明液晶显示面板第二实施方式的结构示意图。
图5是图4中液晶显示面板中数据线的修补示意图。
具体实施方式
请参考图2,其是本发明液晶显示面板第一实施方式的结构示意图。该液晶显示面板2包括多个相互平行的扫描线21、多个与该扫描线21垂直绝缘相交的数据线22及多个由该多个扫描线21与该多个数据线22所围成的像素区域(未标示)。该每一像素区域包括一像素电极20及一设置在该扫描线21与该数据线22相交处的薄膜晶体管23。在每相邻像素电极20之间具有一长条环状屏蔽金属线(Shielding Metal Line)24,该长条环状屏蔽金属线24的两长边分别与对应像素电极24的边缘部分绝缘重叠,且该长条环状屏蔽金属线24的两端分别与该数据线22绝缘相交。该多个长条环状屏蔽金属线24用于防止相邻像素区域的光泄漏,并且可当作修补线以修补断开的线路。
请参考图3,其是液晶显示面板2中数据线22的修补示意图。当检测发现一数据线22具有一断点B时,可采用焊接(Welding)方式使该数据线22与该长条环状屏蔽金属线24在其二相交处电导通,断点B可通过该长条环状屏蔽金属线24连接,如此断点B所在的数据线22上传输的信号可通过该长条环状屏蔽金属线24来传输至其所在的像素区域及下一像素区域,因此不会影响该液晶显示面板2的显示工作。
当该液晶显示面板2的数据线22出现断开现象时,仅需使该数据线22和与其相交的长条环状屏蔽金属线24在其二相交处电导通,如此断点所在的数据线22上传输的信号可通过该长条环状屏蔽金属线24来传输至其所在的像素区域及下一像素区域,该信号所经过的距离与该数据线22未断开时所传输的距离相差无几,从而几乎不会出现信号延迟而影响显示效果的现象。且该长条环状屏蔽金属线24位于相邻像素电极20之间,即使该液晶显示面板2分辨率高,该数据线22的数量增多,该长条环状屏蔽金属线24也不会占据额外的面积,故无需受面板尺寸限制。
该液晶显示面板2的修补方法步骤如下:
步骤一、形成长条环状屏蔽金属线;
在该液晶显示面板2的薄膜晶体管基板制作时,在一屏蔽金属层上直接蚀刻多个长条环状屏蔽金属线24,该多个长条环状屏蔽金属线24设置在每相邻像素电极20之间,其两端与数据线22绝缘相交。
步骤二、检测液晶显示面板;
当该液晶显示面板2制作完成之后,对该液晶显示面板2进行检测,检查各线路有无断线或短路状况。
步骤三、对有断开现象的线路进行修补。
当发现某一数据线22之间出现断开现象时,采用焊接方式使该数据线22与该长条环状屏蔽金属线24在其二相交处电导通。
该修补方法采用在面板制造过程中预先设置的长条环状屏蔽金属线24对断开的数据线22进行修补,如此断点所在的数据线22上传输的信号可通过该长条环状屏蔽金属线24来传输至其所在的像素区域及下一像素区域,该信号所经过的距离与该数据线22未断开时所传输的距离相差无几,从而几乎不会出现信号延迟而影响显示效果的现象。且该长条环状屏蔽金属线24设置在相邻像素电极20之间,即使该液晶显示面板2分辨率高,该数据线22的数量增多,该长条环状屏蔽金属线24也不会占据额外的面积,故无需受面板尺寸限制。
另外,也可对应该扫描线21设置长条环状屏蔽金属线,如果扫描线21出现断开现象时,利用该长条环状屏蔽金属线对其进行修补。修补时所采用的电导通方式不限于焊接。
请参考图4,其是本发明液晶显示面板第二实施方式的结构示意图。该液晶显示面板3包括多个相互平行的扫描线31、多个与该扫描线平行的存储电容线35、多个与该扫描线31及该存储电容线35垂直绝缘相交的数据线32及多个由该多个扫描线31与该多个数据线32所围成的像素区域(未标示)。该每一像素区域包括一像素电极30及一设置在该扫描线31与该数据线32相交处的薄膜晶体管33。该存储电容线35位于该像素区域的一端处,在每相邻像素电极30之间,该存储电容线35沿该数据线32两侧分别延伸一子存储电容线至该像素区域的另一端,该二子存储电容线在相邻像素区域两端分别对应相连形成一长条环状子存储电容线34,该长条环状子存储电容线34的二连接处分别与该数据线32绝缘相交。该多个长条环状子存储电容线34可当作修补线以修补断开的线路。
请参考图5,其是液晶显示面板3中数据线32的修补示意图。当检测发现一数据线32具有一断点C时,可采用焊接方式使该数据线32与该长条环状子存储电容线34在其二相交处电导通,再切断该长条环状子存储电容线34与该存储电容线35的连接。如此,断点C可通过该长条环状子存储电容线34连接,断点C所在的数据线32上传输的信号可通过该长条环状子存储电容线34来传输至其所在的像素区域及下一像素区域,因此不会影响该液晶显示面板3的显示工作。
当该液晶显示面板3的数据线32出现断开现象时,仅需使该数据线32和与其相交的长条环状子存储电容线34在其二相交处电导通,并切断该长条环状子存储电容线34与该存储电容线35的连接。如此断点所在的数据线32上传输的信号可通过该长条环状子存储电容线34来传输至其所在的像素区域及下一像素区域,该信号所经过的距离与该数据线32未断开时所传输的距离相差无几,从而几乎不会出现信号延迟而影响显示效果的现象。且该长条环状子存储电容线34对应该数据线32设置,即使该液晶显示面板3分辨率高,该数据线32的数量增多,该长条环状子存储电容线34也不会占据额外的面积,故无需受面板尺寸限制。
该液晶显示面板3的修补方法步骤如下:
步骤一、形成长条环状子存储电容线;
在该液晶显示面板3的薄膜晶体管基板制作时,在一存储电容薄膜层上直接蚀刻多个存储电容线35及与之相连的长条环状子存储电容线34,该多个长条环状子存储电容线34设置在每相邻像素电极30之间,其两端与数据线32绝缘相交。
步骤二、检测液晶显示面板;
当该液晶显示面板3制作完成之后,对该液晶显示面板3进行检测,检查各线路有无断线或短路状况。
步骤三、对有断开现象的线路进行修补。
当发现某一数据线32出现断开现象时,采用焊接方式使该数据线32与该长条环状子存储电容线34在其二相交处电导通,并在该长条环状子存储电容线34距离该存储电容线35较近的一端与该存储电容线35之间切断该长条环状子存储电容线34与该存储电容线35的连接。
该修补方法采用在面板制造过程中预先设置的长条环状子存储电容线34对断开的数据线32进行修补,如此断点所在的数据线32上传输的信号可通过该长条环状子存储电容线34来传输至其所在的像素区域及下一像素区域,该信号所经过的距离与该数据线32未断开时所传输的距离相差无几,从而几乎不会出现信号延迟而影响显示效果的现象。且该长条环状子存储电容线34与该数据线32对应设置,即使该液晶显示面板3分辨率高,该数据线32的数量增多,该长条环状子存储电容线34也不会占据额外的面积,故无需受面板尺寸限制。
Claims (4)
1.一种液晶显示面板,其包括多个相互平行的扫描线、多个与该扫描线垂直绝缘相交的数据线及多个由该多个扫描线与该多个数据线所围成的像素区域,该每一像素区域包括一像素电极,其特征在于:在每相邻像素电极之间具有一长条环状修补线,该长条环状修补线的两端分别与该数据线绝缘相交,该液晶显示面板进一步包括多个与该扫描线平行并与该数据线垂直绝缘相交的存储电容线,每一存储电容线位于对应像素区域的一端处,该长条环状修补线是子存储电容线,该长条环状修补线延伸至该存储电容线并与之相接。
2.一种如权利要求1所述的液晶显示面板的修补方法,其包括以下步骤:
步骤一:形成长条环状修补线,该长条环状修补线设置在每相邻像素电极之间,其两端与数据线绝缘相交,一端延伸至对应存储电容线并与之相接;
步骤二:检测液晶显示面板;
步骤三:对有断开现象的线路进行修补,当发现某一数据线出现断开现象时,使该数据线与该长条环状修补线在其二相交处电导通;
步骤四:切断该长条环状修补线与存储电容线的连接。
3.如权利要求2所述的液晶显示面板的修补方法,其特征在于:该步骤三中,采用焊接方式使该数据线和与其相交的长条环状修补线在相交处电导通。
4.如权利要求2所述的液晶显示面板的修补方法,其特征在于:该步骤一中,该长条环状修补线与存储电容线是通过一存储电容薄膜层直接蚀刻形成。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2006101575232A CN101201469B (zh) | 2006-12-13 | 2006-12-13 | 液晶显示面板及其修补方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2006101575232A CN101201469B (zh) | 2006-12-13 | 2006-12-13 | 液晶显示面板及其修补方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN101201469A CN101201469A (zh) | 2008-06-18 |
CN101201469B true CN101201469B (zh) | 2010-11-24 |
Family
ID=39516719
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN2006101575232A Active CN101201469B (zh) | 2006-12-13 | 2006-12-13 | 液晶显示面板及其修补方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN101201469B (zh) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5682385B2 (ja) * | 2011-03-10 | 2015-03-11 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置および電子機器 |
KR102354970B1 (ko) * | 2015-06-22 | 2022-01-25 | 삼성디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치 |
CN106200151B (zh) | 2016-08-09 | 2019-12-06 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种阵列基板及其制备方法、显示面板 |
CN106681036A (zh) * | 2017-03-29 | 2017-05-17 | 合肥京东方显示技术有限公司 | 阵列基板、显示面板及显示装置 |
CN107065369B (zh) * | 2017-06-20 | 2020-01-24 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种阵列基板及其维修方法、显示装置 |
CN107966862B (zh) * | 2017-12-21 | 2020-09-29 | 惠科股份有限公司 | 显示器及其显示面板、显示器的制作方法 |
CN109270756B (zh) | 2018-09-30 | 2020-12-25 | 惠科股份有限公司 | 一种显示面板和显示装置 |
TWI719838B (zh) * | 2019-08-20 | 2021-02-21 | 友達光電股份有限公司 | 顯示裝置 |
TWI718021B (zh) * | 2019-08-20 | 2021-02-01 | 友達光電股份有限公司 | 顯示面板 |
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CN1527268A (zh) * | 2003-03-07 | 2004-09-08 | 友达光电股份有限公司 | 可修补数据线的缺陷的平面显示器及其修补方法 |
-
2006
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CN1527268A (zh) * | 2003-03-07 | 2004-09-08 | 友达光电股份有限公司 | 可修补数据线的缺陷的平面显示器及其修补方法 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
CN101201469A (zh) | 2008-06-18 |
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C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
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