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CN103765688B - 触头 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种在确保规定的位移量的同时、具有期望的导通性的触头。为此,具有:波纹体(20);固定部(30),连接于所述波纹体(20)的一端部(21);以及可动部(40),连接于所述波纹体(20)的另一端部(22),且从所述可动部的至少单侧边缘部沿所述波纹体(20)延伸有可动接触片(42)。通过按压所述可动部(40)而压缩所述波纹体(20),使位于所述可动接触片(42)的自由端部的可动触点(43)接触所述固定部(30)。

Description

触头
技术领域
本发明涉及一种触头,例如涉及一种用于集成电路检查用探测器的触头。
背景技术
以往,作为用于集成电路检查用探测器的触头,有一种电子端子用插座的触头,在通过将电子部件压向插座主体而保持所述电子部件的电极端子与所述插座主体的电极部的接触、使所述插座主体的电极部连接于被连接电子部件的电极端子而成的电子部件用插座中,所述插座主体的电极部具有:一对触点,通过对规定厚度的弹性板材进行打孔加工,在两端分别与所述电子部件的电极端子及所述被连接电子部件的电极端子接触;以及蜿蜒部,介于所述一对触点之间,连接所述一对触点而连续地并列设置(参照专利文献1)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2002-134202号公报
发明内容
发明所要解决的课题
但是,在所述电子端子用插座的触头中,由于蜿蜒部的回折次数少,难以确保期望的伸缩量(位移量),因此使用便利性差。为此,考虑一种以确保期望的伸缩量(位移量)为目的的、使所述电子端子用插座的回折次数增加的长尺寸的触头。但是,存在的问题点是:当长尺寸的触头的蜿蜒部变得细长时,电阻增加,电流难以流动,长尺寸化存在局限性。
本发明涉及的触头鉴于前述的问题点,目的在于提供一种在确保规定的位移量的同时、具有期望的导通性的触头。
解决课题的手段
为了解决前述课题,本发明涉及的触头构成为具有:波纹体;固定部,连接于所述波纹体的一端部;以及可动部,连接于所述波纹体的另一端部,且从所述可动部的至少单侧边缘部沿所述波纹体延伸有可动接触片,通过按压所述可动部而压缩所述波纹体,使位于所述可动接触片的自由端部的可动触点接触所述固定部。
发明效果
根据本发明,为了确保期望的位移量,即便使波纹体为长尺寸,由于通过可动部的可动接触片和固定部的接触而短路,能够使接触电阻下降,因此能够得到接触电阻小的触头。
作为本发明涉及的实施方式,可以从固定部的至少单侧边缘部沿波纹体延伸有能够与可动接触片的可动触点接触/分离的固定接触片。
根据本实施方式,为了确保期望的位移量,即便使波纹体为长尺寸,由于通过可动部的可动接触片和固定部的固定接触片的接触而短路,能够使接触电阻下降,因此能够得到接触电阻小的触头。
作为本发明涉及的其它实施方式,可以构成为:将从可动部的两侧边缘部延伸的可动接触片的可动触点配置为能够与从固定部的两侧边缘部延伸的固定接触片接触/分离。
根据本实施方式,由于将一对可动接触片配置为能够与一对固定接触片接触/分离,从而能够得到接触可靠性高的触头。
作为本发明的另外的实施方式,所述波纹体可以为由直线形状的中间部、和连接相邻的所述中间部的圆弧部构成的形状。
根据本实施方式,能够得到容易设计的触头。
作为本发明的另外的实施方式,所述波纹体可以为由曲线形状的中间部、和连接相邻的所述中间部的圆弧部构成的形状。
根据本实施方式,具有设计的自由度更大的优点。
作为本发明的不同的实施方式,波纹体和固定部的连接位置可以配置于所述固定部的轴心上。
根据本实施方式,在将波纹体和固定部的连接位置配置于固定部的轴心上的情况下,能够得到以较小的操作力即可操作的、寿命长的触头。
作为本发明的不同的实施方式,波纹体和可动部的连接位置可以配置于所述可动部的轴心上。
根据本实施方式,在将波纹体和可动部的连接位置配置于可动部的轴心上的情况下,具有能够得到以较小的操作力即可操作的、寿命长的触头的效果。
附图说明
图1中图1的(A)为表示本发明涉及的触头的第一实施方式的立体图,图1的(B)、图1的(C)为表示动作前后的正面图。
图2中图2的(A)为将图1所示的触头收纳于壳体内的状态的正面图,图2的(B)、图2的(C)为表示动作前后的正面截面图。
图3中图3的(A)为表示本发明涉及的触头的第二实施方式的立体图,图3的(B)、图3的(C)为表示动作前后的正面图。
图4中图4的(A)为将图3所示的触头收纳于壳体内的状态的正面图,图4的(B)、图4的(C)为表示动作前后的正面截面图。
具体实施方式
根据图1至图4的附图,说明本发明涉及的触头的实施方式。
在第一实施方式中,如图1及图2所示,将触头10收纳于壳体50内,所述触头10由波纹体20、连接于波纹体20的一端部21的固定部30、以及连接于所述波纹体20的另一端部22的可动部40形成。
所述波纹体20由直线形状的中间部23、和连接相邻的所述中间部23、23的圆弧部24形成。所述波纹体20的截面的纵横比为1.5以上、优选为2以上,所述波纹体20可以通过压力加工形成,也可以通过电铸形成。另,这里,所谓纵横比是指波纹体20的截面中的厚度尺寸与高度尺寸之比。
所述固定部30的上端中,于其轴心上连接有所述波纹体20的一端部21,并且,在所述固定部30的下端,端子部31沿轴心延伸。又,在所述固定部30的两侧侧面上突出设置有锁定用爪部32。
所述可动部40的正面具有大致T字形状,在可动部40的增宽部41的下端中,于其轴心上连接有所述波纹体20的另一端部22,且从其单侧边缘部沿所述波纹体20延伸有可动接触片42。并且,将所述可动接触片42的自由端部作为可动触点43。
如图2所示,壳体50为具有能够收纳所述触头10的开缝51的长方体形状,于其上端部具有操作孔52,另一方面,于其下端部具有压入孔53。
于是,如图2所示,当按下可动部40时,由于波纹体20被压缩,从而增宽部41下降,可动接触片42的可动触点43接触固定部30的侧面而短路。因此,接触电阻下降,电流流动。
在第二实施方式中,如图3及图4所示,与前述第一实施方式同样地,将触头10收纳于壳体50内,所述触头10由波纹体20、连接于波纹体20的一端部21的固定部30、以及连接于所述波纹体20的另一端部22的可动部40形成。
所述波纹体20由直线形状的中间部23、和连接相邻的所述中间部23、23的圆弧部24形成。
在所述固定部30的上端中,于其轴心上连接有所述波纹体20的一端部21,并且,在所述固定部30的下端,端子部31沿轴心延伸。又,在所述固定部30的两侧侧面上突出设置有锁定用爪部32,并且,从固定部30的上端的单侧边缘部沿所述波纹体20延伸有固定接触片33。
所述可动部40的正面具有大致T字形状,在可动部40的增宽部41的下端中,于其轴心上连接有所述波纹体20的另一端部22,而从其单侧边缘部沿所述波纹体20平行地延伸有可动接触片42。并且,将所述可动接触片42的自由端部作为可动触点43。
如图4所示,壳体50为具有能够收纳所述触头10的开缝51的长方体形状,于其上端部具有操作孔52,另一方面,于其下端部具有压入孔53。
于是,当按下所述可动部40时,波纹体20被压缩,增宽部41下降,可动接触片42的可动触点43接触固定接触片33的外侧面而短路,因此,接触电阻下降,电流流动。
根据本实施方式,具有通过调整可动接触片42及固定接触片33的长度尺寸而能够调整触点开合的时机的优点。
根据前述实施方式,对于将可动接触片42设置于波纹体20的单侧的情况进行了说明,但也可以将可动接触片42分别设置于所述波纹体20的两侧,另外,也可以根据需要将固定接触片33设置于两侧。
进一步,在前述实施方式中,对于由直线形状的中间部23和连接相邻的所述中间部23、23的圆弧部24形成波纹体20的情况进行了说明,但也可以由曲线形状的中间部和连接相邻的所述中间部的圆弧部形成波纹体20。
(产业上的可利用性)
本发明所涉及的触头不仅可以作为集成电路检查用探测器加以利用,也可以作为开关、电池的连接端子而加以利用。特别是,如果作为集成电路检查用探测器使用的话,所述触头能够使壁厚较薄地形成,因此,能够以窄的间距配置多个触头,能够得到部件件数少的集成电路检查用探测器。
又,壳体不限于一体成形,当然也能够一分为二。
符号说明
10触头
20波纹体
21一端部
22另一端部
23中间部
24圆弧部
30固定部
31端子部
32锁定用爪部
33固定接触片
40可动部
41增宽部
42可动接触片
43可动触点
50壳体
51开缝
52操作孔
53压入孔。

Claims (11)

1.一种触头,其特征在于,具有:
波纹体;
固定部,连接于所述波纹体的一端部;以及
可动部,连接于所述波纹体的另一端部,且从所述可动部的至少单侧边缘部沿所述波纹体延伸有可动接触片,
位于所述可动接触片的自由端部的可动触点能够与所述固定部接触/分离,
通过按压所述可动部而压缩所述波纹体,使所述可动触点接触所述固定部。
2.根据权利要求1所述的触头,其特征在于,
从所述固定部的至少单侧边缘部沿所述波纹体延伸有能够与所述可动接触片的可动触点接触/分离的固定接触片。
3.根据权利要求2所述的触头,其特征在于,从所述可动部的两侧边缘部延伸的所述可动接触片的可动触点被配置为能够与从所述固定部的两侧边缘部延伸的固定接触片接触/分离。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的触头,其特征在于,所述波纹体由直线形状的中间部、和连接相邻的所述中间部的圆弧部构成。
5.根据权利要求1至3中任一项所述的触头,其特征在于,所述波纹体由曲线形状的中间部、和连接相邻的所述中间部的圆弧部构成。
6.根据权利要求1至3中任一项所述的触头,其特征在于,所述波纹体和所述固定部的连接位置配置于所述固定部的轴心上。
7.根据权利要求4所述的触头,其特征在于,所述波纹体和所述固定部的连接位置配置于所述固定部的轴心上。
8.根据权利要求5所述的触头,其特征在于,所述波纹体和所述固定部的连接位置配置于所述固定部的轴心上。
9.根据权利要求1至3中任一项所述的触头,其特征在于,所述波纹体和所述可动部的连接位置配置于所述可动部的轴心上。
10.根据权利要求4所述的触头,其特征在于,所述波纹体和所述可动部的连接位置配置于所述可动部的轴心上。
11.根据权利要求5所述的触头,其特征在于,所述波纹体和所述可动部的连接位置配置于所述可动部的轴心上。
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Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5842528B2 (ja) * 2011-10-14 2016-01-13 オムロン株式会社 接触子
JP5708430B2 (ja) * 2011-10-14 2015-04-30 オムロン株式会社 接触子
JP6268896B2 (ja) * 2013-10-10 2018-01-31 オムロン株式会社 接触子
CN105529552B (zh) * 2014-09-30 2017-11-10 上海莫仕连接器有限公司 电连接器及其端子
JP1529603S (zh) * 2014-12-04 2015-07-27
JP1529602S (zh) * 2014-12-04 2015-07-27
JP1529604S (zh) * 2014-12-04 2015-07-27
TWD177827S (zh) * 2014-12-15 2016-08-21 歐姆龍股份有限公司 積體電路插座用探針引腳之部分
JP1529609S (zh) * 2014-12-15 2015-07-27
JP1529605S (zh) * 2014-12-15 2015-07-27
JP1529606S (zh) * 2014-12-15 2015-07-27
JP1529608S (zh) * 2014-12-15 2015-07-27
JP1529607S (zh) * 2014-12-15 2015-07-27
JP1529613S (zh) * 2014-12-19 2015-07-27
JP1529612S (zh) * 2014-12-19 2015-07-27
USD775984S1 (en) * 2015-03-04 2017-01-10 Omron Corporation Probe pin
TWI555279B (zh) * 2015-06-02 2016-10-21 技鼎股份有限公司 電觸頭
JP1554473S (zh) * 2015-09-15 2016-07-25
JP1554474S (zh) * 2015-09-15 2016-07-25
JP1567321S (zh) * 2016-02-15 2017-01-23
JP1567318S (zh) * 2016-02-15 2017-01-23
JP1567319S (zh) * 2016-02-15 2017-01-23
JP6669533B2 (ja) * 2016-02-29 2020-03-18 株式会社エンプラス コンタクトピンおよび電気部品用ソケット
JP6642359B2 (ja) 2016-09-21 2020-02-05 オムロン株式会社 プローブピンおよび検査ユニット
JP7620385B2 (ja) * 2019-04-25 2025-01-23 オムロン株式会社 プローブピン、検査治具および検査ユニット
JP7393980B2 (ja) * 2020-03-05 2023-12-07 ヒロセ電機株式会社 回路基板用電気コネクタおよび回路基板付電気コネクタ

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2800520Y (zh) * 2005-04-28 2006-07-26 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4161346A (en) 1978-08-22 1979-07-17 Amp Incorporated Connecting element for surface to surface connectors
JP2912882B2 (ja) * 1996-10-23 1999-06-28 山一電機株式会社 両面接触形接続器
JP3773396B2 (ja) * 2000-06-01 2006-05-10 住友電気工業株式会社 コンタクトプローブおよびその製造方法
JP3520468B2 (ja) 2000-06-21 2004-04-19 日本航空電子工業株式会社 コネクタ
JP2002134202A (ja) 2000-10-27 2002-05-10 Otax Co Ltd 電子部品用ソケット
JP2002164135A (ja) 2000-11-26 2002-06-07 Isao Kimoto ソケット
JP2003307525A (ja) * 2002-04-16 2003-10-31 Sumitomo Electric Ind Ltd コンタクトプローブ
US20060238209A1 (en) * 2002-05-07 2006-10-26 Microfabrica Inc. Vertical microprobes for contacting electronic components and method for making such probes
JP2004138391A (ja) 2002-10-15 2004-05-13 Renesas Technology Corp 半導体装置の製造方法
CN2800519Y (zh) 2005-04-28 2006-07-26 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器
JP2008047417A (ja) 2006-08-16 2008-02-28 Bairong Electron Co Ltd 電気コネクター用端子及び該端子をそなえた電気コネクター
JP2011502339A (ja) 2007-10-29 2011-01-20 アーデント コンセプツ、インコーポレイテッド コンプライアント接点及びアセンブリ
JP5103566B2 (ja) * 2007-11-26 2012-12-19 株式会社コーヨーテクノス 電気接触子およびそれを備える検査冶具
JP4964754B2 (ja) * 2007-12-17 2012-07-04 富士通コンポーネント株式会社 コンタクト部材
JP5493896B2 (ja) 2010-01-15 2014-05-14 オムロン株式会社 電気コネクタ、電子機器および導電接触方法。

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2800520Y (zh) * 2005-04-28 2006-07-26 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器

Also Published As

Publication number Publication date
EP2747210A1 (en) 2014-06-25
US20140218062A1 (en) 2014-08-07
WO2013054554A1 (ja) 2013-04-18
US9322846B2 (en) 2016-04-26
EP2747210A4 (en) 2015-01-14
JP2013089373A (ja) 2013-05-13
EP2747210B1 (en) 2017-08-16
KR101545105B1 (ko) 2015-08-17
CN103765688A (zh) 2014-04-30
JP5699899B2 (ja) 2015-04-15
KR20140043818A (ko) 2014-04-10

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