TW307981B - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- TW307981B TW307981B TW084110438A TW84110438A TW307981B TW 307981 B TW307981 B TW 307981B TW 084110438 A TW084110438 A TW 084110438A TW 84110438 A TW84110438 A TW 84110438A TW 307981 B TW307981 B TW 307981B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- line
- inspection
- short
- shadow
- circuit
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136204—Arrangements to prevent high voltage or static electricity failures
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Description
經濟部中央標準局員工消費合作社印製 3〇79<3l a 7 E7五、發明説明(i) 〔發明背景〕 〔發明領域〕 本發明係關於劇增保護鼷_霉路連接到顯示部的平板 顯示裝置用陣列基板。 〔相關技術〕 近年來,以液晶顯示器(LCD )爲代衰的平板顯示 裝置已廣爲使用於個人電腦、文窨處理器、«視、錄影機 投射器(video projector)等機器。此植平板顯示裝置 —般具有薄、輕、省電的特徽。特別是主動遞矩障液晶顛 示器(active matvix LCD)的硏究闕發非常的多。因爲 此種主動型矩陣液晶顯示器具有用以分別驅勖複數的影點 電極的複數的薄膜電晶體,所以能夠得到在鄰接影點間沒 有相互交談(cross talk)的良好的顯示畫像。 一般而言,主動型矩陣液晶顯示器的構成却_下。此液 晶顛示器係:液晶組成物經遢鷗向膜而保持於陳列基板與 對向基板之閬,並藉由使光透過液晶組成物發顯示畫像。 配向基板則具有:在由銦錫氧化物(I nd i um Ti n Ox ide ; I TO)所構成的玻瑱基板上以矩陣狀配置的複數的影_m 極,沿著道些影點電極的行而形成的複數的掃描線,沿著 道些影點電極的列而形成的複數的信號線,及分別形成於 迸些掃描線及僧號線的交點附通的複數的影黏薄膜電晶體 。各影點薄膜電晶體依照來自掃描線的選擇僧號而供應來 自侰號線的映像侰號給對應的影點《極。而且,陣列基板 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本ff ) 裝· Λ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS > A4規格(2I0X 297公缝) 經濟部中央標率局員工消費合作社印製 Λ 7 Β-7 五、發明説明(2〉 也具有:與複數的播描線幾乎成卒行的E置於玻瑭基板上 ,用以構成輔助m容c s並以總緣膜而與對應影鼬電極絕 緣的複數的輔助電容線。對向蘂板則具有:形成於玻璃基 板上的矩陣遮光膜及形成於覆1此遮光膜的絕緣膜上的共 用(CQ ram on) «極。在陣列基板上,遮光膜可遮住透過薄 膜電晶體及其影贴《極的周邊«域的癱透光。共用電極係 經過,將銀粒子等的導m粒子分敝於樹脂中的,轉換( transfer)材而在《性上連接到設置於陣列基板的共用電 位線。此共用電位線,信號線1掃描線係經過,在聚亞醢 胺(polyimide)等柔軟(flex, ible)基材上具有金屬配 線的柔軟印刷電路(Flexible Print Circuit; FPC)配 線板或是在其上追加上驅動元件的腰帚自動黏接(Tape Automated Bonding; TAB)配嫌板,而電性上的連接到形 成於外部邂路的驅動電路。而且,瘅列基板具有:做爲接 受來自驅動電路並供應給信號線及掃描線的《颳的導電性 端點而使用的複數的接績片,及,做爲用以榆査影點薄膜 電晶髗及其配線而接受供應的徐寰《壓的導電性端點而使 用的複數的檢査片。因爲檢査片除了在檢查時之外並不被 使用,所以將其配置於接績片的外側並在陣列基板的製造 過程中在進行檢査之後便能夠將其除去。 譬如說,在特開平3-2 9 6 7 2 5號中,鬮示了在 陣列基板的製造中產生靜電時的保嫌影點薄膜《晶谶的技 術。此技術爲:使複數的劇增保護開鬮電路連接到形成於 沿著陣列基板的外周的短路線與信號線及掃描嫌之間。各 本紙張尺度適用中國國家標準(€阳)八4現格(210乂 297.公:釐) (請先閱讀背面之注意事項再填窍本S ) --8 經濟部中央標準局舅工消费合作社印袋 A7 B7 五、發明説明(3 ) 劇增保護開關«路係由二極體(diode )及薄騸電晶雠等 的非線性元件所構成,在信號線或掃描鐮的電位較小時可 做爲高電阻而在信號嫌或掃描線的電路鎌很大時則可做爲 低電阻。即是,掃描線或僧號線的其中之一在陣列基板的 製造中若是因產生了靜幫電荷而成爲高《位,則劇增保護 開關電路可使此電荷流到短路線。若是在各影點薄膜電晶 僵的閘極(gate)及源極(source)間的電位埜變成很大 時,則短路線會與連接到道些闌極及濂極的掃描線及信號 線做氰性上的連接,而降低此影點薄膜氰晶镰的閛極與源 極間的電位差。因此,能夠防止影點薄膜電晶髗因爲闞極 及源極間的電位差而被破壞。在做影點薄膜《晶嫌及其配 線的缺陷檢査時,短路嫌則在氰性上與印加了檢査用電Μ 的掃描線及信號線分開。因此*缺陷檢査不會受到劇增保 護開關電路的妨害。 但是,在以往曾有過複數的劇增保嫌霉路在_列基板 的製造中受到靜電破壞,而使鄰接的配線(僧號線或掃描 線)經由短路線而發生短路的情形。但是,在做缺陷檢査 時,很難將此種短路與將道些配線做接觸時所產生的短路 區別出來。 〔發明摘要〕 本發明的目的在於提供一娜掛的劇增保議闋關電路不 會同時的受到靜電破讓的平板臞示裝置用的陣列基板。 此目的係由:具有:絕緣基板,及,配列於行及列方 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(210X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項耳填寫本疗 • - -- - - I - - 1= I -fc rn ^11 ΛΙ— --- n ........^-衣-----In · ----- - —I- --1--- I -- I m - -1 —^l· IK - ----- 1 m· —l·— 11^1 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A 7 B7五、發明説明(4 ) 向的複數的影點電極,及,連捿獨道些影黏電極並分別控 制道些影點電極的«位的複數_影黏遍擇Μ騮元件,及, 包含連接到道些影點選揮開關元件並延伸到外部的除去可 能區域的複數的配線並形成於縴緣綦板上的願示部,及, 形成於此除去可能區域的短路線,及,在絕緣基板上分別 連接到短路線與配線之閜,在备個對應配綠的電位超過所 定値時使此對應配線«性的連接到短路線的複數的劇增保 護開關電路,及,分別與形成於除去可能厪域的複數的配 線相連接的複數的片:複數的檢査片及複數的劇增保護開 關電路係在行及列方向中的至少一方配置於顯示部的一方 側,而複數的檢査片中的鄰接的檢査片與絕緣基板的邊緣 的距離則是各不相同,平板顳示用陣列基板所達成。 本發明者檢證了上述的劇增用保護開鼸霉路在平板顯 示裝置用陣列基板的製造中被破壤的尿因。絕緣基板在各 種處理中重覆的裝卸於支撺台上,並由此Μ覆的裝卸而帶 電。在絕緣基板累稹大量的靜電電荷的狀態下,如果支撑 台接觸到位置決定栓(p i π )等外部部材,則在此外部部 材與形成於絕緣基板的除去可鎌區域的檢査片間會產生放 電。此放電比較容易同時的破壞掉,相對於鑕示部而霄, 接近檢査片附近的鄰接的劇增侮護開關電路。 在上述的平板顯示裝置用陳列基板中,複數的檢査片 中的鄰接片相互的距離與其與紲緣板的邊緣的距離相同。 在此場合,能夠保護對應於鄰據片的劇增保護開關m路之 一而使其不受靜《破壞。因此》在做缺陷檢査時,能夠將 (請先閱璜背面之注意爹‘項再填寫本瓦 裝' ,va 丄 本紙張尺度適用中國國家標準(C_NS ) Λ4规格(2IOX297公錄) 307 剛 A, 五、發明説明(5 ) 鄰接的配線的短路視爲因接觸所形成的狀態。 〔圖號之簡單說明〕 第1蹁係在本發明的一實施例的平板鎮示裝置用陣列 基板的平面園。 第2圖係概略的顯示形成於讕1所示的障列碁板的區 域S內的電路的構進的圖。 第3圖係顯示形成於圓1所示的陣列基板的舊域DA 內的各影點的構造的平面圖。 第4圓係願示沿著圈3所示的一線所切衡的陣列基板 的斷面的斷面圖。 第5圖係在圓1所示的ft列塞板的缺陷檢査中所印加 的電壓的波形圓。 第6圚係概略的顛示使用圈1所示的隊列基板的液晶 顯示裝置的構造的謝面醒。 第7圓係顯示如圖2所示的電路的變形例的_。 經濟部中央標李局員工消費合作社印製 (請先間讀背面之注意事項再填寫本S ) 〔較佳實施例之詳細脫明〕 以下,參照附圈來詳細的醮明本發明的一資施例的平 板顯示裝置用陣列基板。 圖1係此陣列基板1 0 0的平面構造。此陣列基板 1 0 0,謇如說,係做爲光穿纖型的主動矩讎式液晶顯示 器的組裝部品而使用。在主動矩陣式液晶顯示器腾具有對 角爲1 0 4英寸的螢慕尺寸(screen size)的場合,陣 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規格(210>':297公釐) 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 * A 7 B7 五、發明説明(6 ) 列基板1 0 0係使用2 0 0咖X3 〇 〇_>的通明玻_基板 101而形成。如圓1所示,玻》基板101可分爲顯示 Μ域DA,連接片區域CP,及缺陷檢查區域CA°速接 片區域C P係配置於顯示面域D A的外側*而缺陷楡査區 域C A係配置於連接片班域C P的外側。 圖2顯示形成於圓1所示的Μ域S的電路的構遒。在 此顯示區域中,陣列基板1 0 0具有:以矩陣形式而配列 的480X1920個的影_霉極151 ,及1920條 的信號線 1 0 3 ( X i ( i 二 1,2,3,…,1 9 2 0 ),及,480 條的掃描線 111 ( Y 1 (j=l,2, 3,…,4 8 0 )):道些摊描線1 1 1分别沿著影點電 極1 5 1的行而形成,信號線1 〇 3則分別沿著影黏霣極 1 5 1的列而形成。因此,掃描線1 1 1與償號線1 〇 3 幾乎成垂直。僧號線1 〇 3的聞隔係設定爲].1 〇 , 掃描線1 1 1的間隔則設定爲3 3 〇 μ m。陣列基板 1 0 0也具有形成於信號線1 〇 3與掃描線I 1 1的交點 附近並分別控制影點電極1 5 i的電位的4 8 0 X 1 9 2 0個的薄膜電晶體1 2 1 ° 詳細而言,如圈3及圖4所示,各薄膜氰晶體1 2 1 具有:在玻璃基板1〇1上由掃描嫌111的一部份所構 成的閘極氰極,及,藉由在此_極電極上堆積二氣化矽及 氮化矽所得的絕緣腆1 13,及,形成於此絕緣膜1 1 3 上的a — S i : Η的半導髗膜11 5。氮化较的通道( channe丨)保護膜1 1 7則由與掃描線1 1 i做自我對齊 本紙張尺度適用中國國家標準(〔’灿)六4规格(2丨0\ 297公釐) (讀1閱讀背而之注意事項4填寫本頁) ^ΗΙΗΗν _ —訂--- Λ A7 B7 五、發明説明(7 ) (self alignment)而形成於 半導讎膜115上。半導籠 腆1 1 5除了經由η*型a — Si : Η的低電阻半導«[膜 1 1 9而與源極(source)電極1 3 1做氰性的連接之外 ,也經由η*型a — S ί : Η的低《阻半導體膜1 1 9而 與洩極(drain) «極1 〇 5做氰性的連接。灝極電極 1 3 1與影貼鬣極1 5 1相遽接而浅極電極1 0 5係由信 號線1 0 3的延伸部份所構成。陳列基板1 〇 0也具有股 定爲與掃描嫌1 1 1幾乎相平行的輔助霞容線1 6 1。此 輔助電容線1 6 1及影點電極1 5 1具有構成輔肋電容 Cs的重複部份。僧號線1 0 3、掃描線1 1 1及薄膜電 晶體1 2 1則全部由氮化矽的保護瞧1 7 1所覆董。 經濟部中央標隼局員工消費合作社印製 (請尤閱讀背而之注意事項再填寫衣頁) 在連接片區域CP中,陣列基板1 0 〇具有4 8 0個 掃描線連接片CPYi (i=l ,2,3,…,480) 及信號線連接片CPXi ( i=l ,2,3,…, 1920)。如圖2所示,掃插線連接片CPYi與分別 從顯示區域DA而向著玻瑱基板〗〇 1的邊緣RE伸出的 掃描線Yj的部份分別連接,倌號線連接片CPX i則分 別從顯示W域DA向著玻璃基板1〇1的邊綠CE伸出的 信號X i的部份連接。掃描線迪接片CPY j及備號線連 接片cpx i係做爲用以連接到股於外部m路基板(_未 示)的驅動電路的導電性端點來使用。全掃描線連接片 CPYj係只配置於與對應玻壤基板1 0 i的邊緣RE的 掃描線Y j的同一側:信號線連接片C PX i則只配置於 對應玻瑪基板1 0 1的邊緣CE的信猇線X i的同一側。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS > A4規格(2丨0> 297公釐)-川 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A 7 B7 五、發明説明(8 ) 此連接片C PY i及C PX i的配置的邏定是爲了有 效的增加玻璃基板1 0 1的利用效率與增加顧示面域D A 對連接片面域C P的比率。 在缺陷檢査1[域中,陣列基板1 0 0會有嫌描線檢査 片C A Y j ( j = 1 ,2,3,…,4 8 0 )及信號鎳檢 査片 CAXi (i = l,2,3,…,1920)。掃描 線檢査片 CAXj (; = 1,2,3,.,,480)係分 別經由掃描線連接片C P Y〗(〗=1 ,2,3,…, 4 8 0 )而連接到向著玻瑱基板1 0 1的邊嫌RE伸出的 掃描線Y i ( i = 1,2,3,…,4 8 0 )的部份,信 號線檢査片 CAXi (ί = 1,2,3,…,1920) 則經由僧號連接片C Ρ X i ( i = 1 ,2,3,…, 1 9 2 0 )而分別遽接到向著玻璃基板1 〇 1的邊緣C E 伸出的信號線(X i ( i = 1 ,2 ,3 ,…,1 9 2 0 ) 的部份。與掃描線連接片C PY i及信號線連接片 C PX i同樣的,掃描線檢査片CAY j只配置於與對應 玻璃基板1 0 1的邊緣RE的掃描線Yi的同一側,而信 號線檢査片CAX i則只配置於輿對應玻璃基板1 〇 1的 邊緣CE的倌號線X i的同一側。此檢査片CAY i及 CAX ί的配置選定是爲了有效的增大玻瑰基板1 〇 1的 利用效率。
信號線檢査片C A X i (丨=1 ,2 * 3,…, 1920)中的奇數信號線檢査片CAXi (i=l,3 ,5,…,1 9 1 9)係距離玻璃基板1 0 1的邊緣CE 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規1格(210X 297公釐> _ u I " (請先閱讀背而之注意事項洱填.¾本K〕 裝' 、-° -丄 經濟部中央標準局員工消費合作杜印製 307981 a B? 五、發明説明(9 ) dl而偶數信號檢査片CAXi ( i = 2,4,6,…, 1 9 2 0 )係距繭玻璃基板1 0 1的邊緣CE d 2而成 千Λ狀配列。具髗而首,將d 1設定爲1晒而將d 2股定 爲3咖。因此,相較於奇數信醃榆査片CAX i ( ί =1 ,3,5,…,1 9 1 9 ),偶數倌號檢寰片C A X i ( i = 2,4,6,…,192 0)距離玻濤基板101的 邊緣較逮。另外,信號線檢査片CAX丨在與僭論線X i 的垂直的行方向上有9 5 的寬度;掃描線檢査片 CAYj在與掃描線Yj的垂直的列方向上有110#m 的宽度。 掃描線檢査片CAY】 (i = l ,2,3,…, 4 8 0 )係分別經由劇增保護_闥電路C T Y i (丨=1 ,2,3,…,480)而連接到短路線SRY。短路線 則是沿著玻璃基板101的邊緣RE而形成。再者,此短 路線SRY係至少與信號線Xi < i = l ,2,3,…, 1 9 2 0 )爲同一材料所構成*並如蹁4所示的露出於保 護膜171而使其與外部之闉的放電容易發生。各劇增保 護開關電路CTYj與影點薄膜《晶懺121是在同一過 程中形成,如園2所示的係由剛極、洩極互相連接的一對 的薄膜電晶谶所構成。此一對的薄膜電晶讎在加上2 0V 的電壓以做爲源極、洩極間壜壓時具有1 2 Ok Ω的電阻 値。 奇數信號線檢査片CAXi ( i = l ,3,5,…, 1 9 1 9)係經由劇增保護開顯電路CTXi ( i=l , 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS )八4規格_( 21〇Χ 297^^_ ) _ I- n ft Ml I n I n I n I ^ I n ΙΊ I 丄 i請先閱讀背而之洼意夢項再填艿本R } A.., 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、 發明説明 ( 10 ) 丨 I 3 9 5 9 … > 1 9 1 9 ) 而 連 擄 到短路 嫌 S R X 1 0 俱數 f 倌號線檢査 片 C A X » 1 ( 1 2 ,4 6 f * * 1 9 2 0 1 1 ) 則 經 由 劇 增 保 護 關 瀾 電 路 C T X i ( 1 ZZ 2 9 4 ♦ 6 f I 請 1 f 1 9 2 0 ) 而 速 接 到 短 路 線 SR X 2 Q 短 躇 線 閱 ! r 讀 1 S R X 1 及 S R X 2 BS m -hr* 奇 數 信 號線 檢 審 JHL LL, γΓ C A \r i ( i 背 1 1 之 1 — 1 * 3 ♦ 5 9 … * 1 9 1 Θ ) 及偶 數僧號練 撿 'ϋκί 重. 片 注 意 1 I C A X • 1 ( 1 二 2 9 4 6 9 * > 1 9 2 0 ) 之 間 幾 乎 與 ¥ 項 再 1 玻 璃 基 板 1 0 1 的 邊 緣 平 行 的 形 成0 再 者 * 短 路 雄 填 寫 本 装 S R X 1 及 S R X 2 係 至 少 與 偺 號鎳 X 1 ( 一 1 9 2 y I ν〆.. 1 1 3 > • * 9 1 9 2 0 ) 爲 同 — 材 料 所構 成 * 並 如 _ 4 所 示 的 1 1 霣 出 於 保 護 膜 1 7 1 使 其 與 外 部 之間 的 放 « 容 昜 發 生 0 比 1 I 起 短 路 線 S R X 2 9 短 路 線 S R XI 配 置 的 較 靠 近奇 數 僧 訂 I 號 線 檢 査 片 C A X * ( 1 rr 1 » 3, 5 9 …. 9 1 9 1 9 ) 1 | 〇 而 比 起 短 路 線 S R X 1 > 短 赂 線S R X 2 配 置 的 較 靠 近 1 | 偶 數 倌 號 檢 査 片 C A X i ( 1 = 2 » 4 Ϊ 6 … 9 I .丄 1 9 2 0 ) 0 短 路 線 S R Y 係 連摻到 短 路 線 S R X 2 而 短 路線 S R X 2 則 連接 到 短路 線 S R X 1 0 各 劇 增 保 嫌 m 關 ! « 路 C T X • 係 與 影 點 薄 膜 « 晶 鳒1 2 1 形 成 於 同 過 程 1 1· , 如 圖 2 所 示 的 > 係 由 _ 極 洩 極互 相 Μ· 接 的 * 對 的 薄 膜 1 I 電 晶 體 所 構 成 0 此 — 對 的 薄 膜 % 晶讎 ζέιΐ 加 以 2 0 V 的 電 壓 1 I I 以 n.t. 做 源 •lac m 洩 極 閫 幫 壓 狩 fB 具 胥 12 0 k 0 的 氰 阻 値 0 1 1 1 短 路 線 S R X 1 及 短 路 她 m S R X % 也 接 到 輔 助 短 路 糠 1 S R X 3 0 輔 助 短 路 嫌 S R X 3 係至 少 與 信 號 嫌 X i ( ί 1 1 1 9 2 9 3 9 , 1 9 2 0 ) 爲同 材料 所 構 成 » 並 在 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(2丨0> 297公t) — a * 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 A 7 B7 五、發明説明(η) 奇數倌號線檢査片CAXi (丨=1,3,5,…, 1919)與玻璃基板101的邊緣CE之閜幾乎與短路 線SRX1及短路嫌SRX2平行的形成。 在上述的實施例中,即使陣列基板1 0 〇在製造中琳 電,放電主要會經由靠逝玻璃基椴101的邊緣RE的短 路線SRY或是靠近玻滇基板101的邊緣CE的輔助短 路線S RX 3而發生,由此,可減輕對劇增保護開關電路 CTXi及CTYj的播害。 奇數倌號線檢査片CAXi ( i = l,3,5,…, 1919)及偶數信號線檢査片CAXi (ί=2,4, 6,…,1 9 2 0 )分別以不同的距離d 1及d 2而距離 玻璃基板101的邊緣OE。因此,對奇數信號嫌檢査片 CAXi (i = l,3,5,·’ ,1919)而言會經由 鄰接的檢査片或是對偶數信號線檢査片(CAX〗(i -2 ,4 ,6,…,1 9 2 0 )而言會經由鄰搪的檢査片而 發生强烈的放電。但是,此放電幾乎不會經由對應於鄰接 的信號線Xi (i=P)及Xi (丨=:P + 1〉的奇數倌 號線檢査片CAX i ( i = p )及偶數倌號線檢査片 CAXi (i=p+l)的對而發生。 短路線S RX 1及S RX 2係配置於奇數僧號線檢査 片CAXi (i=l,3,5,…,1919)及偶數倌 號線檢査片 CAXi (i=2,4,6,…,1920) 之間,並可做爲偶數信號線檢查片CAX i ( i = 2,4 ,6,…,1 9 2 0 )的氰氣遞蔽(shield)。此電氣遮 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(2丨Ο X 297公犛)_ 14 - m nn vn i m In m mj^ in tn n^i n 一 / tn m nn - -ii -- - , ^ 0¾ *-βI. (请先閱讀背面之注意事項再填祥木頁) 經濟部中央標率局員工消費合作社印製 A:7 B·, 五、發明説明(12) 蔽能夠保護連接到偶數信號嫌楡查片CAX i ( i = 2, 4 ,6,…,1 9 2 Ο )的劇蟠保護電路C T X i使其不 受破壤連接到奇數倌號線檢査片CAT i ( i = 1,3, 5,…,1 9 1 9 )的劇增保贜Μ黼電路CTX ι·的正電 電荷的破壞。 劇增保護開關髦路C Τ X i《i = 1 ,3,5,…, 1919)係連接到短路線SRX1及奇數信號線檢査片 CAXi (i = l,3,5,…,1919)之聞:劇增 保護開關《路CTXi (ί=2,4,6,·,1920 )係連接到短路線S RX 2及偶數僧號嫌檢査片CAX i (i = 2,4,6,…,1920)之間,而道些短路線 SRX1及SRX2則在包園信號線檢査片CAXi (i =1 ,2 ,3,…,1 9 2 Ο )的框架(frame)的外側 而連接,因此,能夠更有效的防止鄰接的相同的舰增保護 電路CTX i同時受到靜《破壞。 檢査片CAY j及連接片遁域0 PY i係配置於對應 玻璃基板1 0 1的邊緣RE的信號線Yj的同一側,檢査 片CAX i及連接片區域CPX i則配置於對應玻璃基板 1 0 1的邊緣CE的信號線X i的同一側;因此,相較於 在道些電路權成要索(CQmponent)也配置於掃描線Y j 的他方側及信號線X i的他方側的場合,玻璃基板1 0 1 的利用效率較高。再者,此種16置也能夠降低連接片蓖域 C P對顯示區域DA的比率。 信號線檢査片CAXi (ί=1,2,3, 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規格('2Ι〇χ297^ΐ~) ~ —15 - _, I I_ ^-----(裝------訂----Ί — ^—{ (請先閱讀背而之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印装 A"? — B7五、發明説明(13 ) 1 9 2 Ο )雖然是配置於對應玻_基板1 Ο 1的邊緣CE 的傖號線X i的一方側,但是,因爲信號線檢奎片 C A X i (i = l,2,3," ,1920)係配置成千 烏狀,所以能夠擴大各信號綠檢査片C ΑΧ丨的宽度P 1 到倌號嫌X i的相互距離的2傅。因此,能麴確實的降低 在用檢査用探針(probe)接觸信號嫌檢査片C A X i ( i = l ,2 * 3,…,1 92 0)時所發生的接觸不良。 此處,說明上述的陣列基板1 0 0的缺陷檢査。在此 缺陷檢査時,爲了將其電位做可變設定而使複數的檢査探 針分別接觸檢査片CAY j及CAX i及短路線S RX 1 、SRX2、SRX3 及 SRY。 配線之中,鄰接線的短路可以由以下的檢査(test ) 而發現。譬如脫,以鄰接信號線X 1及X 2聞的短路而言 ,可由在將短路線SRX1 、SRX2、SRX3及 SRY的電位設爲0V並將鄰擬的檢査片CAX 1及 CAX 2的電位分別設爲5 V及0 V的狀態下而測量檢査 片CAX 1及CAX 2間的電漉而得知。如果此電流的測 置値幾乎爲零,則可知信號線X 1並沒有接觸到僧猇線 X 2而且劇增保護闕關電路CTX 1爲在高電阻的正常狀 態。如果此電流的测量値比零大很多,則可知倌號線X 1 接觸到了信號線X 2或是劇增保議關關電路CTX 1爲在 導體的靜電破壞狀態。(再者*也可以測量由此«流所充 電的電容的《壓來取代測量電流。) 僧號線X 1與倌號線X 2的接觸可以從:由改變檢査 ---== £—- E- nn m emt ^^^^1 ^^^1· i 一OJ11^1 tm nt— mu nk^ (請先閲讀背面之注悫事項再填寫本f ) 本紙張疋度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(210X 297.公釐)__ A...? B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明(U) 片CAX 2的電壓從Ο V變爲輿槍査片CAX 1相等的電 壓5V,而降低的檢査片CAX1及CAX2閱的魏流, 而偵測出。再者,劇增保嫌闋關電路CTX1的靜《破壞 可以從:由改變短路嫌SRX1、SRX2、SRX3、 及S RY的籩壓從〇 V變爲與榆査片C AX1相等的電Μ 5V,而降低的檢査片CAX1及短路線SRX1閜的镰 流,而偵測出。 另外,在組裝使用陣列基板1 0 0的液晶顯示裝置時 ,要除去形成劇增保護_關蕙路CTX 1及CTX 2的檢 査®域CA。因此,即使劇增保護闋關電路CTX 1及 CTX 2的兩者被靜電破壞也不會損害到陣列基板1 〇 0 的商品價値。另一方面,在倌號線X 1及X 2相接餳的場 合,因爲信號線X 1及X 2是必需要留在陣列基板1 0 0 上,所以只好將此陣列基板1 0 0視爲不良品。 上述的檢査方法是無法使用在必醫要判別:劇增保護 開關電路ctx1及ctx2的爾者均受到靜m破壞,及 ,倌號線X 1及X 2相接觸,的場合。但是,在本實施例 的陣列基板1 0 0因爲是做成劇增保嫌開覼《路C T X 1 及CTX 2不會同時受到靜電破壤,所以能夠使用此檢査 方法來判定陣列基板1 0 0是否爲信號線XI及X 2爲相 接觸的不良品。 配線的斷線及影點薄膜《晶嫌的不良及其它的缺陷則 以下述的方法來發現。在圖5中* VX i係表示备信號線 檢査片CAX i的電位而VY i則表示各摊描線檢査片
In immtl temfl nnl —^n« l tHl Km fem 1 fl^n —am ^^—^1 u ^nn I 兔-彡 、 (靖先閲績背面之注意事項再填寫本R ) 本紙張尺度適用中國國家橾隼(CNS ) A4规格(2I0X 297公犛) 17 經濟部中央標準局舅工消費合作社印製 ^〇7S8i A7 B7 五、發明説明(is) C A Y j的氰位,V ( i j )則主要是表示各輔胁氬容 C s的電位。並一邊供應5 V的氰壓VX給備號線檢査片 CAXi ,一邊依序供應2 0V的第1繼禪脈銜(pulse 〉幫壓VY 1給掃描線檢査片CAY j °由此,所定的電 壓V s會保持於各輔助電容C §以做爲各影動電極1 5 1 及輔助電容嫌161間的竃位差。此電懕Vs則鼸著時間 而因漏電(leuk)而慢慢的衰滅。此處,在經過所定時間 t之後,再一次依序供應第2邏擇脈衡《重VY 2給掃描 線檢査片CAYj ,並從對應傯號檢査片CAXi讀出保 存於輔助電容C s的電壓。 在正常動作的陣列基板1 〇 g中*在親取時,輔助m 容會保持從電壓Vs僅衰滅所定悬的電臛Vs >。但是, 在陣列基板1 0 0內有缺陷的場合,會讀出如下述的電位 差 V s -。 譬如說,在掃描線Y 1在倌號線X 4及信號練X 5之 間斷線的場合,髦壓VX完全無法被加到對應於掃描線 Y 1及從信號線X 5到X 1 9 2 0的組合中的任一個影點 m極1 5 1。因此,與正常的陣列基板的不同的氰壓 V S ^會從對應於掃插線Υ 1及從僧號線X 5到 X 1 9 2 0的組合的影點電極1 5 1及輔肋電容線1 6工 之間的各輔助電容C s中被鏞出0其結果爲_夠確認掃播 線Y 1在僧號線X 4及倌號線X 5之間爲斷線。 在信號線X 1在掃描線Y 2及掃描線Y 3之閜謝路的 場合也是與上述的場合同樣的,電壓V X完全無法被加到 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格( 210X 297^) _ ^ (靖先閲讀背面之注意事項再填ΪΤ本頁 —ί 裝. 訂
經濟部中央標準局•負工消費合作社印製 五、發明説明(16) 對應於信號線X 1及從掃描線Y3到Y4 8 0的組合中的 任一個影點電極1 5 1,由此而能麴確E僭號線X 1的_ 線。 在缺陷係在位匿於儒號釀X 2及撵描線Y 2的交點的 薄膜電晶髖121的場合,會從對應於此薄臟電晶讎 1 2 1的影點電極1 5 1及__電容線16 1之閜的轤助 電容Cs讀出與正常的陣列基板不同的電鱅Vs/°但與 上述的斷線不同的,m壓v s “係反映出薄嫌電晶藿 121的狀態。因此能夠確認®置於倌猇線X2及嫌描嫌 Y2的交點的薄膜《晶髗1 2 1爲不良。 在對應於信號線X 1及掃插線Y 1的組合的影點電極 151及輔助電容線161短路的場合,可由輔肋氰容線 161的電位而檢偵出此短路。 當陣列基板1 0 0由上述的缺陷檢査而判定爲正常時 ,則使用此陣列基板1 0 〇而進行液晶顯示器的組裝。 在最初的處理時,將圖6所示的配向騰以凸版印刷有 機膜到圓2所示的顳示1E域D A全體上,並使其乾燥,再 將其以摩擦(rubb mg)處理而形成。其後,將障列基板 1 0 0以5 pm的間隙貼合到對向基板3 0 0,並將液晶 材料4 0 1經由基板1 0 0及3 1 0間的殘留開口注滿於 此間隙中,並將此開口封住。上述的對向基板3 0 0具有 :形成於透明的玻璃基板3 0 1上的矩陣遮光層3 1 1, 及,經由有機保護膜3 3 1而覆董住遮光膜的銦餳氣化物 的共用電極3 4 1 ,及,形成於此共用tt極3 4 1上的配 (請先閱讀圩面之注悉事項再填(·:?本f ) 訂 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4現格UlO〆297.公釐) 19 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A 7 __B:7____ 五、發明説明(17) 向腆3 5 1 °遮光膜3 1 1係幽氧化鉻膜及堆稹於其上的 鉻膜所構成,在陣列基板上翠住< »ask )播繊線及備號線 所形成的薄膜電晶體及影點《極的屬邊窗域,並遮住寥透 光。彩色濾光片(c 0丨G r f i丨t e I· ) 3 2 1則對應著不爲此 遮光層311所覃住的影點電極151而形成,並使由影 點電極1 5 1選揮性的分爲紅R、緣G、蓮B的3厭色的 光穿透。 在貼合上述的陣列基板1 0 0及對向基板3 0 0之後 ,如圆2所示的將缺陷檢査逝域CA以観械的除去、高能 束(energy beam )切除,或是以取面而從陣列基板 1 0 0中除去,並如圖6所示的將偏光板1 9 1及3 9 1 分別貼到陣列基板1 0 0及對肉基板3 0 0上,並由此而 形成液晶顯示板1。並將留在液晶顯示板1的遑接片 c px i及c py j分別電性的連接到外部碁板的_動m 路(圖未示)。其後,將液晶順示板1與面照明光瀕一齊 裝入外殼中。此時,係使液晶臛示板1的顧示區域DA露 出於外殻之外並使面照明光瀬置於液晶顯示板1的背後。 如此,在固定了液晶顯示板之後便完成了液晶顳示器。 在本實施例中,即使陣列基板1 0 0在製造過程中帶 m,也能夠有效的由劇增保護闕關電路ctx i及 CTY j而保護形成於顯示逝域DA內的影點薄膜髦晶髗 121使其不受靜電破壞。再者,因爲鄰接的信號檢査片 CAX i與邊緣CE的距離互棚不同,所以能夠防止鄰接 的劇增保護_關竃路CTX i _時受到破壞。因此,不需 本紙張尺度適用中國國家橾準(CNS ) Α4规格(210X 297公趫 (請先閱讀背面之注意事項"填寫本頁) ---{裝-
、1T 20 A 7 B? 經濟部中央標準局員工消費合作杜印褽 五、 發明説明 ( 18 ) 要 將 此 種 劇 增 保 mat « 關 關 電 路 C T X » 的 鬨 時 破 缠 m 2 信 號 線 1 0 3 的 短路 原 因 而 能 _ 艙短缺 陷 ΠΕ3 檢 査的 ηΦι 時 聞 也 能 夠 提 高 其 良 率 0 ΉΗΓ 丹 者 9 奇 數 信 號 線 檢 査 片 C A X ί ( 1 1 $ 3 « 5 9 … 1 9 1 9 ) 與 俱 數 倌 猇 線检 査 片 C A X i ( 1 — 2 9 4 > 6 > … * 1 9 2 0 ) 之 鬮 % 猫 riH «Μρ* 署 短 胳線 S R X 1 及 S R X 2 0 因 此 9 即 使 偺 號線 X i 的 間 隔 非 Λ tf.. rfa 小 也 能 夠 將 各 僧 號 線 檢 査 片 C A X * 的 寬 度 P 1 設 的 較 .l..r 大 由 此 而 能 夠 使 各 1B 號 線 檢 査 片 C A X ί 與· 檢 亦 aJBnti m 用 探 針 做 確 資 的 電 性 的 連 接 0 因 此 > 不 會 導 致 jue ( 對 位 的 不 * an* 而 能 夠 更 確 實 的 進 行 檢 査 0 本 明 並 不 僅 限 於 上 述 的 寶 施例 9 在 不 脫 離 其 要 kmiiiit m 的 範 園 內 可 以 有 各 種 的 變 形 0 譬 如 說 > 掃 描 線 檢 査 片 C A Y j 也 可 以 與 上 述 的 信 號 線 檢 査 片 C A X 1 同 樣 的 配 置 成 千 烏 狀 〇 即 是 9 如 圈 7 所 示 的 在 鄰 接 的 掃描線 檢 査 片 C A Y • J 與 玻瓖基 板 1 0 1 的 邊 緣 R E 的 距 離 係 互 相 不 同 的 場 合 » 也 能 夠 防 止 鄰 m wc 的 2 刺 增 保 mtts 腰 開 關 電 路 C T Y i 同 時 受 到 靜 電 破 壤 0 在 _ 7 中 9 奇 數 掃 彌 線 檢 JBBU 片 C A Y j ( j — 1 $ 3 9 5 , > 4 7 9 ) 係 鄉 ffOE» 由 劇 增 保 護 開 關 電 路 C Τ Y j ( j 二 1 9 3 > 5 $ … , 4 7 9 ) 而 電 性 的 連接 到 短 路 線 S R Y 2 9 偶 數掃描線 檢査 片 C A Υ » J ( j = 2 9 4 9 6 9 … ♦ 4 8 0 ) 則 經 由 劇 增 保 護 闋 Η m 路 C T Y j ( j = 2 4 » 6 ) … 9 4 8 0 ) 而 電 性 的 連 接 到 短 路 線 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS > A4規格(2丨0 X 297公嫠) - ?1 請先閲漬背面之注意事項辱填寫本f V mwaammmmm nn · —f.装·
-,1T A 7 B7 3〇79sx 五、發明説明(19) SRY1。但是,也可以是全部的掃描線橡査片CAYj (j =1,2 » 3,…,4 8 0_>均與上述的實施例同樣 i.請先閱讀背面之注意事項再4{馬衣s ) 的接到短路線S RY ° 再者,在上述的實施例的陣列基板1 〇 〇中*短路線 SRX1係經由劇增保護關覼霄路CTXi (i = l ,3 ,5,…,1 9 1 9 )而電性雜連接到奇數信諕嫌X i ( i = 1 , 3,5,…,1 9 1 9 ),短路嫌 S R X 2 則經 由劇增保護開關m路c T X i ( i = 2,4 ,6,…, 1920)而《性的連接到偶數僧號線Xi (i=2,4 ,6 ,…,1 9 2 〇 )。但是,也可以使用3條以上的短 路線。短路線譬如說如果是3條的話,則第1 、第2、及 第3條短路線分別經由劇增保護開關電路CTX i ( i = 1 , 4,7,…,1 9 1 8 )、劇增保護開關電路 CTXi (i=2,5,8,.. ,1919)、劇增保護 開關電路 CTXi (i=3,6,9,…,1920)而 電性的連接到信號線X丨(i = 1,4,7,…, 1918) 、信號線Xi (i=2,5,8,…, 經濟部中央榡準局員工消費合作社印製 1919) 、及信號嫌Xi (i=3,6,9,…, 1 9 2 0 ) ° 在上述的實施例中,雖然各個劇增保護闋關氰路 CTX i及CTY系由一對的薄臃電晶儺所構成,但是 ,爲了使道一對薄膜幫晶髗有所希望的低電阻,也能夠使 用2個以上的薄膜m晶讎或是二極髗來取代。 再者,爲了確資的排除不良品,陣列基板1 〇 〇的缺 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規格(21〇Χ 297公t ) . 22 S079S1 λ? 五、發明説明(2〇) 陷檢査不僅是在陣列基板1 0 0的製造中,在除去缺陷面 域C A之前也可以再進行一次。而且,缺陷槍査Μ域C A 也可以是在使用,完成後的障列基板1 〇 〇而組裝液晶顯 示器之前再將其從陣列基板100中除去。 在上述的資施例中也可以是使:_助短路線與,將倌 號線X i及掃描線Y j分別與此輔助短路線做電性的速接 的,複數的劇增保護開關m路一起形成於連接片II域c p 內。在此場合,譬如說,即使是在如貼上偏光板過程般的 在除去缺陷檢査區域c a之後所進行的過程中使陣列基板 帶《,也能夠有效的保護影點薄膜電晶體121使其不受 靜電破壞。
(請先閲讀背面之注意事項再填Ή本I —C 裝-- 訂 _____f 經濟部中央標牟局員工消費合作社印製 23 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(2丨Ο X 297公釐·丨
Claims (1)
- ^07381 Λ8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 1.一種平板顯示裝置用癉列基板,其特徽爲異有: 絕緣基板,及 形成於前述的絕緣基板上並包含:配列於行及列方向 的複數的影點《極,與道些影鼬電極相連搪並分別控制道 些影點m極的霉位的複數的影黏邐揮鼷_元件,及,連接 到前述的複數的影點選禪開鼷元件並延伸到外部的除去可 能面域的複數的配線的,顧示部,及 形成於前述的除去可能區域內的短路線,及 在前述絕緣基板上分別遑接到前述短路線及前述複數 的配線間,並在各個對應配線的電位超過所定値時,將此 對應配線«性的連接到前述短路線的複數的劇增保護開關 電路,及 分別連接到,形成於前述除去可能區域內的,前述複 數的配線的複數的檢査片; 而前述複數的檢査片及複數的劇增保護關黼m路在行 及列方向的至少其中之一係配置於前述顯示部的一方側; 而且在前述複數的檢査片之中,相鄰接的檢査片與前述絕 緣基板的邊緣的距離係各不相同。 2 .如申請專利範園第1項之平板顯示裝置用陣列基 板,其中前述複數的檢査片係包含距離前述絕緣基板的邊 緣第1距離的檢査片的第1群<莒]^11{)),及,距_絕緣 基板的邊緣比第1距離逮的第2距離的檢査片的第2群: 而前述短路線係形成於前述第1群的檢査片與前述第2群 的檢査片之間。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X'297公釐)_ 24 ^ ^ I f (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央橾準局員工消费合作社印聚 ABCD 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 六、申請專利範圍 3. 如申請專利範園第2項之平板顯示裝置用陣列基 板,其中前述短路線具有:幾乎以互相平行而配置的第1 線及第2線:前述第1群的檢査片經由對應的劇增保護開 關電路而逋接到前述第1線:前述第2群的榆査片則經由 對應的劇增保護闋關電路而遑接到第2綠。 4. 如申請專利範圓第2項之平板顯示裝置用障列基 板,其中更具有:連接到,形成於前述絕緣基板的邊緣及 前述第1群的檢査片間的,前述短路線的辅助短路嫌。 5. 如申請專利範第1項之平板顯示裝置用陣列基 板,其中更具有:包含使前述短路嫌霣出於前述絕緣基板 上的窗部的保護膜。 6 .如申請專利範園第1項之平板顯示裝置用陣列基 板,其中前述複數的配線有沿著前述複數的影點電極的行 而形成的複數的掃描線及沿著前述複數的影點《極的列而 形成的複數的信號線;前述複數的檢査片有分別速接到前 述複數的掃描線的複數的掃描線檢査片及分別連接到前述 複數的信號線的複數的信號線檢査片:各個前述影點選擇 開關元件爲具有連接到前述複數的掃描線中的1條線的閘 極,及,連接到前述複數的信號線中的1條線及前述的影 點氰極中的一個m極之間的通道,的薄膜電晶體。 7. 如申請專利範園第6項之平板顆示裝置用障列基 板,其中前述複數的信號線檢査片係全部配置於前述複數 的信號線的一方側。 8. 如申請專利範園第6項之平板顯示裝置用障列基 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4规格(210X297公釐)_ 95 I n HI 11111 ^ I 11 n ^ I — i I C (請先閱績背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 B8 (:8 m 六、申請專利範圍 板,其中前述複數的掃描線檢查片係全部配讎於前述複數 的掃描嫌的一方側。 9. 如申腈專利範第6項之平板緬示裝匿用陣列基 板,其中前述複數的信號線檢査片係全部配《於前述複數 的信號線的一方側而前述的掃描線檢査片係全部配置於前 述複數的掃描線的一方側。 10. —種平板顯示裝置用陣列基板,其特徽爲具有 絕緣基板,及 形成於前述絕緣基板上,並包含:配列於行及列方向 的複數的影點電極,與道些影點電極相連接並分別控制道 些影點電極的電位的複數的影黏選揮開關元件,及,連接 到前述的複數的影點遘揮開鼷元件並延伸到外部的除去可 能ffi域的複數的配線的,顛示部,及 形成於前述的除去可能區域內的短路線,及 在前述絕緣基板上分別連接到前述短路線及前述複數 的配線間,並在各個對應配線的m位超過所定値時,將此 對應配線電性的連接到前述短路線的,複數的劇增保護關 關電路,及 分別連接到,形成於前述除去可能班域內的,前述複 數的配線的複數的檢査片,及 形成於前述絕緣板的邊緣與前述複數的檢査片之間並 連接到前述短路線的輔助短路線。 11·如申請專利範圈第1〇項之平板顧示裝置用隊 本紙張尺度逋用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)_ (請先聞績背面之注^h項再填寫本頁) 裝· 訂 Λ 8 Β8 C8 D8 307981 六、申請專利範圍 列基板,其中前述複數的檢査片及前述複數的劇增保護闋 關電路在行與列方向的至少一方係配置於前述顯示部的一 方側。 1 2 . —種平板顢示裝置用陣列基板,其特徵爲異有 絕緣基板,及 形成於前述絕緣基板上,並包含:配列於行及列方向 的複數的影點電極,與道些影_電極相連接並分別控制道 些影點電極的《位的複數的影_選揮闕蘭元件,及連接到 前述的複數的影點選擇關關元伴並延伸到外部的除去可能 區域的複數的配線的,顯示部*及 形成於前述除去可能區域內的複數的短路嫌,及 在前述絕緣基板上分別連接到前述複數的短路嫌中的 對應的一條線及前述複數的配線中的對應的一條線閜,並 在對應配線的電位超過所定値時,將前述對應配嫌電性的 連接到前述對應短路線的,複歟的劇增保護_關《路,及 分別連接到,形成於前述除去可能《域內的,前述複 數的配線的複數的檢査片: 而前述複數的檢査片中的鄰捿的檢査片係分別經由對 應的劇增保護開關電路而連接到不同的短路線。 13.如申腈專利範園第12項之平板顧示裝置用陣 列基板,其中前述複數的檢査片及前述複數的劇增保嫌開 關電路在行及列方向中的至少一方係配置在前述顯示部的 一方側。 .本紙張尺度適用中國繭家梂準(CNS ) A4規格(210X297公釐)_ (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) -*° 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 307981 A 8 B8 C8 D8六、申請專利範圍 14 .如申請專利範園第13項之平板顯示裝置用陣 列基板,其中前述複數的短路線有:經由對應的劇增保護 開關電路而連接到前述檢査片中的奇數檢査片的第1短路 線,及,經由對應的劇增保贜關關電路而連接到前述檢査 片中的偶數檢査片的第2短路線。 (請先閲绩背面之注意事項再填寫本頁) 裝. 訂 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4规格(210X 297公釐) 28 -
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23625994 | 1994-09-30 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW307981B true TW307981B (zh) | 1997-06-11 |
Family
ID=16998137
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW084110438A TW307981B (zh) | 1994-09-30 | 1995-10-04 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5657139A (zh) |
KR (1) | KR0160062B1 (zh) |
TW (1) | TW307981B (zh) |
Families Citing this family (46)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3029531B2 (ja) * | 1994-03-02 | 2000-04-04 | シャープ株式会社 | 液晶表示装置 |
US5841490A (en) * | 1994-10-31 | 1998-11-24 | Kyocera Corporation | Liquid crystal display device and its fabricating method |
US5835177A (en) * | 1995-10-05 | 1998-11-10 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Array substrate with bus lines takeout/terminal sections having multiple conductive layers |
KR100232177B1 (ko) * | 1996-07-22 | 1999-12-01 | 구본준 | 액정 표시 장치의 쇼팅바 및 그의 제조방법 |
KR100205382B1 (ko) * | 1996-07-22 | 1999-07-01 | 구자홍 | 액정 표시 장치 |
US5973658A (en) * | 1996-12-10 | 1999-10-26 | Lg Electronics, Inc. | Liquid crystal display panel having a static electricity prevention circuit and a method of operating the same |
JPH10319428A (ja) * | 1997-05-19 | 1998-12-04 | Toshiba Corp | アクティブマトリクス型液晶表示装置 |
US5946057A (en) * | 1997-05-28 | 1999-08-31 | Nec Corporation | Liquid crystal display having electrostatic discharge damage prevention |
JPH11101986A (ja) * | 1997-09-26 | 1999-04-13 | Sanyo Electric Co Ltd | 表示装置及び表示装置用大基板 |
JP3111944B2 (ja) * | 1997-10-20 | 2000-11-27 | 日本電気株式会社 | アクティブマトリクス液晶表示装置 |
JP3916823B2 (ja) * | 1999-04-07 | 2007-05-23 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板およびその製造方法、並びにフラットパネル型イメージセンサ |
TW556357B (en) | 1999-06-28 | 2003-10-01 | Semiconductor Energy Lab | Method of manufacturing an electro-optical device |
TW527513B (en) * | 2000-03-06 | 2003-04-11 | Hitachi Ltd | Liquid crystal display device and manufacturing method thereof |
KR100628254B1 (ko) * | 2000-04-12 | 2006-09-27 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정 표시 장치 |
TW589455B (en) | 2000-11-24 | 2004-06-01 | Hannstar Display Corp | Testing method for LCD panel |
KR100715905B1 (ko) * | 2000-11-27 | 2007-05-08 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 소형 액정표시장치용 액정 셀의 제조공정 |
KR100710149B1 (ko) * | 2000-12-28 | 2007-04-20 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시소자 |
KR100884992B1 (ko) * | 2002-04-20 | 2009-02-20 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치 |
DE10227332A1 (de) * | 2002-06-19 | 2004-01-15 | Akt Electron Beam Technology Gmbh | Ansteuervorrichtung mit verbesserten Testeneigenschaften |
JP4294311B2 (ja) * | 2002-12-27 | 2009-07-08 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置の作製方法および表示装置の加工基板 |
JP2004246202A (ja) * | 2003-02-14 | 2004-09-02 | Koninkl Philips Electronics Nv | 静電放電保護回路を有する電子装置 |
KR100491560B1 (ko) * | 2003-05-06 | 2005-05-27 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시소자의 검사방법 및 장치 |
US6833717B1 (en) * | 2004-02-12 | 2004-12-21 | Applied Materials, Inc. | Electron beam test system with integrated substrate transfer module |
US20060038554A1 (en) * | 2004-02-12 | 2006-02-23 | Applied Materials, Inc. | Electron beam test system stage |
US7319335B2 (en) * | 2004-02-12 | 2008-01-15 | Applied Materials, Inc. | Configurable prober for TFT LCD array testing |
US7355418B2 (en) * | 2004-02-12 | 2008-04-08 | Applied Materials, Inc. | Configurable prober for TFT LCD array test |
JP2005300920A (ja) * | 2004-04-12 | 2005-10-27 | Nec Corp | 表示装置及び液晶表示装置 |
JP4073890B2 (ja) * | 2004-04-22 | 2008-04-09 | シャープ株式会社 | 薄膜回路基板、及びそれを備えた圧電式スピーカ装置及び表示装置並びに音源内蔵型表示装置 |
US8013816B2 (en) * | 2004-06-30 | 2011-09-06 | Samsung Mobile Display Co., Ltd. | Light emitting display |
KR101090255B1 (ko) * | 2004-11-16 | 2011-12-06 | 삼성전자주식회사 | 표시 장치용 표시판 및 표시 장치의 검사 방법 |
JP4662339B2 (ja) * | 2005-02-04 | 2011-03-30 | エプソンイメージングデバイス株式会社 | 液晶表示パネル |
US7535238B2 (en) * | 2005-04-29 | 2009-05-19 | Applied Materials, Inc. | In-line electron beam test system |
CN102353890B (zh) * | 2006-03-14 | 2014-09-24 | 应用材料公司 | 减小多个柱状电子束测试系统中的串扰的方法 |
US7786742B2 (en) * | 2006-05-31 | 2010-08-31 | Applied Materials, Inc. | Prober for electronic device testing on large area substrates |
US7602199B2 (en) * | 2006-05-31 | 2009-10-13 | Applied Materials, Inc. | Mini-prober for TFT-LCD testing |
KR20070119344A (ko) * | 2006-06-15 | 2007-12-20 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치용 어레이 기판 |
US7615731B2 (en) * | 2006-09-14 | 2009-11-10 | Carestream Health, Inc. | High fill-factor sensor with reduced coupling |
US8436636B2 (en) | 2006-10-10 | 2013-05-07 | Apple Inc. | Methods and apparatuses for testing circuit boards |
US8362793B2 (en) | 2006-11-07 | 2013-01-29 | Apple Inc. | Circuit boards including removable test point portions and configurable testing platforms |
KR101316791B1 (ko) * | 2007-01-05 | 2013-10-11 | 삼성디스플레이 주식회사 | 게이트 구동회로 및 이를 포함하는 액정 표시 장치, 박막트랜지스터 기판의 제조 방법 |
KR101304415B1 (ko) * | 2007-01-25 | 2013-09-05 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
KR101427582B1 (ko) * | 2007-12-12 | 2014-08-08 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시판 및 이를 포함하는 액정 표시 장치 |
KR101450796B1 (ko) * | 2008-02-15 | 2014-10-14 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 기판 및 이를 구비한 표시 패널 |
TWI450237B (zh) * | 2010-01-14 | 2014-08-21 | Wintek Corp | 觸控顯示裝置 |
US8836364B2 (en) * | 2011-07-26 | 2014-09-16 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd | Voltage test devices used in LCD panels and a system thereof |
JP2019101128A (ja) | 2017-11-30 | 2019-06-24 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置、及び表示装置の製造方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02137828A (ja) * | 1988-11-18 | 1990-05-28 | Seiko Instr Inc | 電気光学装置の入力保護装置 |
US5200876A (en) * | 1989-04-10 | 1993-04-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Electrostatic breakdown protection circuit |
JP2764139B2 (ja) * | 1989-10-20 | 1998-06-11 | ホシデン・フィリップス・ディスプレイ株式会社 | アクティブマトリックス液晶表示素子 |
JP2687667B2 (ja) * | 1990-04-17 | 1997-12-08 | 日本電気株式会社 | マトリクス電極基板およびその製造方法 |
US5220443A (en) * | 1991-04-29 | 1993-06-15 | Nec Corporation | Matrix wiring substrate and active matrix display having non-linear resistance elements for electrostatic discharge protection |
JP3043869B2 (ja) * | 1991-11-20 | 2000-05-22 | 株式会社東芝 | 液晶表示装置 |
DE69319760T2 (de) * | 1992-02-21 | 1999-02-11 | International Business Machines Corp., Armonk, N.Y. | Flüssigkristallanzeigevorrichtung |
TW225024B (zh) * | 1992-04-03 | 1994-06-11 | Philips Nv | |
US5233448A (en) * | 1992-05-04 | 1993-08-03 | Industrial Technology Research Institute | Method of manufacturing a liquid crystal display panel including photoconductive electrostatic protection |
US5313319A (en) * | 1992-06-17 | 1994-05-17 | General Electric Company | Active array static protection devices |
JPH06186590A (ja) * | 1992-12-21 | 1994-07-08 | Sharp Corp | アクティブマトリクス型液晶表示パネル |
-
1995
- 1995-09-29 US US08/536,130 patent/US5657139A/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-09-30 KR KR1019950033948A patent/KR0160062B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1995-10-04 TW TW084110438A patent/TW307981B/zh active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5657139A (en) | 1997-08-12 |
KR960011505A (ko) | 1996-04-20 |
KR0160062B1 (ko) | 1999-01-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW307981B (zh) | ||
US11443989B2 (en) | Array substrate, display panel, method of fabricating display panel, and mother substrate | |
TW514755B (en) | Active-matrix type liquid crystal display device and method of compensating for defective pixel | |
TW444268B (en) | Display panel | |
DE102010042473B4 (de) | Flüssigkristall-Anzeigevorrichtung mit integrierter berührungsempfindlicher Tafel | |
TWI223731B (en) | Display panel | |
CN101604103B (zh) | 液晶显示器设备的阵列基板 | |
TW536648B (en) | Liquid crystal display device | |
TWI228199B (en) | Liquid crystal display device | |
CN103454819B (zh) | 用于液晶显示器的阵列基板及其制造方法 | |
US7724019B2 (en) | Active device array substrate | |
CN103268029B (zh) | 一种显示模组及显示器 | |
US6587162B1 (en) | Liquid crystal display | |
KR20070081902A (ko) | 액정 표시 장치 | |
CN104503176A (zh) | 阵列基板、显示面板及显示装置 | |
TW200823583A (en) | Liquid crystal display device | |
CN108803177A (zh) | 阵列基板、显示面板及其检测方法 | |
KR101842537B1 (ko) | 액정 표시 장치 및 액정 표시 장치의 어레이 기판 | |
CN101609234A (zh) | 液晶显示装置及电子设备 | |
CN111596476B (zh) | 阵列基板、显示面板以及显示装置 | |
CN103956365B (zh) | 阵列基板及其制备方法、显示装置 | |
US11693283B2 (en) | Electrostatic protection circuit of display panel, method, display panel, and display device | |
CN105974689A (zh) | 一种阵列基板及其制备方法、液晶显示面板 | |
CN101846828A (zh) | 主动组件阵列基板与液晶显示面板 | |
CN101726874A (zh) | 显示面板与软性电路板的接合结构 |