[go: up one dir, main page]

SU815468A1 - Способ измерени предельно малых радиусовСКРуглЕНи РЕжущиХ КРОМОКиНСТРуМЕНТОВ - Google Patents

Способ измерени предельно малых радиусовСКРуглЕНи РЕжущиХ КРОМОКиНСТРуМЕНТОВ Download PDF

Info

Publication number
SU815468A1
SU815468A1 SU792784238A SU2784238A SU815468A1 SU 815468 A1 SU815468 A1 SU 815468A1 SU 792784238 A SU792784238 A SU 792784238A SU 2784238 A SU2784238 A SU 2784238A SU 815468 A1 SU815468 A1 SU 815468A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
radii
rouding
etremely
measuring
cutting edges
Prior art date
Application number
SU792784238A
Other languages
English (en)
Inventor
Николай Михайлович Балясников
Original Assignee
Предприятие П/Я Г-4671
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Г-4671 filed Critical Предприятие П/Я Г-4671
Priority to SU792784238A priority Critical patent/SU815468A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU815468A1 publication Critical patent/SU815468A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПРЕДЕЛЬНО МАЛЫХ РАДИУСОВ СКРУГЛЕНИЯ РШУГПИХ КРОМОК ИНСТРУМЕНТОВ
но малого радиуса округлени  используют плоскую подложку, выполненную из твердссго материала, нанос т на ее поверхность калиброванный по толщине тонкий слой пластичного материала, твердость которого на пор док ниже, чем у материала подложки,прорезают измер емой режущей кромкой на всю глубину сло  из пластичного материал два Пересекающихс  под заданным острым углом пр молинейных штриха и измер ют рассто ние между точками пересечени  кромок гатрихов по биссектрисе острого угла, по значению которого суд т о величине радиуса скруглени  режущей кромки инструмента.
На чертеже представлена форма штрихов, выполненных провер емым инструментом на пластичном слое под-, ложки.
Способ осуществл етс  следующим образом.
Дл  измерени  предельно малого радиуса скруглени  режущих кромок инструмента на плоскую полированную поверхность подложки 1, выполненной, например, из кварца, нанос т тонкий слой 2 равной толщины h из пластичного материала, например, воска, алюмини  или золота. Толщина h наносимого сло  2 определ етс  из услови  полного прорезани  сло  только скругленной частью профил  инструмента. Практически дл  контрол  всего диапазона радиусов скруглени  режущих кромок инструментов дл  нарезани  дифракционных решеток достаточна  толщина сло  определ етс  значением 0,01 мкм. Алюминиевый слой такой толщины, полученный, например, вакуумным напылением, прозрачен в видимой области спектра, и действительное значение толщины в этом случае может быть определено по коэффициенту пропускани  света с точностью до 10%.
После нанесени  сло  2 на нем. на всю его глубину контролируемым скруглением на профиле инструмента выполн ют два пересекающихс  под заданным острым углом 2 8, пр молинейных штриха 3. Дл  выполнени  штрихов на всю глубину сло  пользуютс  методом пробных проходов, регулиру  при этом давление инструмента на подложку с нанесенным слоем по результатам рассмотрени  штриха по тыс чекратном увеличении.
Затем измер ют рассто ние О между точками пересечени  кромок штрихов 3 по биссектрисе острого угла 2 .
Поскольку это рассто ние D св зан с шириной S штриха на поверхности нанесенного сло  2 зависимостью
а S 2-VR2 - (R-h)
0,
R srvTe o-iin,- - r -ii/-, где искоглый ргщиус скруглени  режущей кромки определ ют по соотношению
R - Р S1H Л - Ь
et, 2 Таким образом, способ позвол ет п
высить точность измерени  предельно малых радиусов скруглени  режущих кромок инструментов дл  нарезани  дифракционных решеток.

Claims (2)

1.Проектор часовой ЧП-2. Описание и руководство, 1968, с. 43-44.
2.Хрущов М. М. и Беркович Е.С. Определение износа деталей машин методом искусственных баз. 1959,
с. 35-37(прототип).
SU792784238A 1979-06-15 1979-06-15 Способ измерени предельно малых радиусовСКРуглЕНи РЕжущиХ КРОМОКиНСТРуМЕНТОВ SU815468A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792784238A SU815468A1 (ru) 1979-06-15 1979-06-15 Способ измерени предельно малых радиусовСКРуглЕНи РЕжущиХ КРОМОКиНСТРуМЕНТОВ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792784238A SU815468A1 (ru) 1979-06-15 1979-06-15 Способ измерени предельно малых радиусовСКРуглЕНи РЕжущиХ КРОМОКиНСТРуМЕНТОВ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU815468A1 true SU815468A1 (ru) 1981-03-23

Family

ID=20835520

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792784238A SU815468A1 (ru) 1979-06-15 1979-06-15 Способ измерени предельно малых радиусовСКРуглЕНи РЕжущиХ КРОМОКиНСТРуМЕНТОВ

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU815468A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3712706A (en) Retroreflective surface
Downs et al. Optical system for measuring the profiles of super-smooth surfaces
Asai et al. Measuring the very small cutting-edge radius for a diamond tool using a new kind of SEM having two detectors
CN100410691C (zh) 通过局部基片应力方法制造的具有可控发散度的后向反射器
DE69011918T3 (de) Kodiereinrichtung.
Parks Geometrie Moire
JPS6475903A (en) Method for measuring refractive index and film thickness
US20030227682A1 (en) Methods of making a master and replicas thereof
SU815468A1 (ru) Способ измерени предельно малых радиусовСКРуглЕНи РЕжущиХ КРОМОКиНСТРуМЕНТОВ
CN105547540A (zh) 实时空间相移的相干梯度敏感干涉方法
Hodgkinson The application of fringes of equal chromatic order to the assessment of the surface roughness of polished fused silica
US2140410A (en) Lens and method of manufacturing the same
RU2035039C1 (ru) Способ определения положения дефекта в прозрачном камне
Jolic et al. Excimer laser machining of corner cube structures
KR20050005555A (ko) 마스터 및 그 레플리카를 제조하는 방법
US4357204A (en) Chemically machined spectral grating
CN106625033B (zh) 一种确定单点金刚石车削刀痕抛光去除特性的方法
Bosch Double layer ellipsometry: an efficient numerical method for data analysis
JPS6475902A (en) Method for measuring refractive index and film thickness
Pluta Variable wavelength interferometry: VIII, Calibration
SU1657946A1 (ru) Способ контрол процесса ионной обработки
SU1213398A1 (ru) Интерференционный способ определени показател преломлени
JPH07174504A (ja) 液膜厚さ測定装置
Kučírek Determination of the optical constants and thickness of a thin slightly absorbing film by ellipsometric measurement
SU1474524A1 (ru) Способ определени градиента показател преломлени непоглощающей пленки по толщине