SU815468A1 - Method of measuring etremely small rouding-off radii of tool cutting edges - Google Patents
Method of measuring etremely small rouding-off radii of tool cutting edges Download PDFInfo
- Publication number
- SU815468A1 SU815468A1 SU792784238A SU2784238A SU815468A1 SU 815468 A1 SU815468 A1 SU 815468A1 SU 792784238 A SU792784238 A SU 792784238A SU 2784238 A SU2784238 A SU 2784238A SU 815468 A1 SU815468 A1 SU 815468A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- radii
- rouding
- etremely
- measuring
- cutting edges
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПРЕДЕЛЬНО МАЛЫХ РАДИУСОВ СКРУГЛЕНИЯ РШУГПИХ КРОМОК ИНСТРУМЕНТОВ(54) METHOD OF MEASUREMENT OF EXTREMELY SMALL RADIUSES OF ROUNDING OF CRUSHED TOOLS SHOTS
но малого радиуса округлени используют плоскую подложку, выполненную из твердссго материала, нанос т на ее поверхность калиброванный по толщине тонкий слой пластичного материала, твердость которого на пор док ниже, чем у материала подложки,прорезают измер емой режущей кромкой на всю глубину сло из пластичного материал два Пересекающихс под заданным острым углом пр молинейных штриха и измер ют рассто ние между точками пересечени кромок гатрихов по биссектрисе острого угла, по значению которого суд т о величине радиуса скруглени режущей кромки инструмента.but with a small radius of rounding, a flat substrate made of hard material is applied, a thin layer of plastic material calibrated in thickness is applied to its surface; two straight lines crossing at a given acute angle and measure the distance between the points of intersection of the edges of the fritters along the bisector of the acute angle, judging by the value of which the radius value is rounded and the tool cutting edge.
На чертеже представлена форма штрихов, выполненных провер емым инструментом на пластичном слое под-, ложки.The drawing shows the shape of the strokes made by the testable tool on the plastic layer of the spoon.
Способ осуществл етс следующим образом.The method is carried out as follows.
Дл измерени предельно малого радиуса скруглени режущих кромок инструмента на плоскую полированную поверхность подложки 1, выполненной, например, из кварца, нанос т тонкий слой 2 равной толщины h из пластичного материала, например, воска, алюмини или золота. Толщина h наносимого сло 2 определ етс из услови полного прорезани сло только скругленной частью профил инструмента. Практически дл контрол всего диапазона радиусов скруглени режущих кромок инструментов дл нарезани дифракционных решеток достаточна толщина сло определ етс значением 0,01 мкм. Алюминиевый слой такой толщины, полученный, например, вакуумным напылением, прозрачен в видимой области спектра, и действительное значение толщины в этом случае может быть определено по коэффициенту пропускани света с точностью до 10%.To measure an extremely small radius of rounding of the tool cutting edges, a thin layer 2 of equal thickness h made of plastic material, such as wax, aluminum or gold, is applied onto the flat polished surface of the substrate 1, made for example of quartz. The thickness h of the applied layer 2 is determined from the condition that the layer is completely cut only by the rounded part of the tool profile. Practically, to control the entire range of rounding radii of cutting tools for cutting diffraction gratings, a sufficient layer thickness is determined to be 0.01 microns. An aluminum layer of this thickness, obtained, for example, by vacuum deposition, is transparent in the visible region of the spectrum, and the actual value of the thickness in this case can be determined from the light transmittance with an accuracy of 10%.
После нанесени сло 2 на нем. на всю его глубину контролируемым скруглением на профиле инструмента выполн ют два пересекающихс под заданным острым углом 2 8, пр молинейных штриха 3. Дл выполнени штрихов на всю глубину сло пользуютс методом пробных проходов, регулиру при этом давление инструмента на подложку с нанесенным слоем по результатам рассмотрени штриха по тыс чекратном увеличении.After applying layer 2 on it. For all its depth, two rounded 2 8 intersecting at a given acute angle, straight line 3, are performed in a controlled profile rounding up the tool. a stroke of one thousandth increase.
Затем измер ют рассто ние О между точками пересечени кромок штрихов 3 по биссектрисе острого угла 2 .Then, the distance O between the points of intersection of the edges of the grooves 3 along the bisector of the acute angle 2 is measured.
Поскольку это рассто ние D св зан с шириной S штриха на поверхности нанесенного сло 2 зависимостьюSince this distance D is related to the width S of the prime on the surface of the applied layer 2 by the dependence
а S 2-VR2 - (R-h)and S 2-VR2 - (R-h)
0,0,
R srvTe o-iin,- - r -ii/-, где искоглый ргщиус скруглени режущей кромки определ ют по соотношениюR srvTe o-iin, - - r -ii / -, where the surface edge of the cutting edge is determined by the ratio
R - Р S1H Л - ЬR - P S1H L - b
et, 2 Таким образом, способ позвол ет пet, 2 Thus, the method allows
высить точность измерени предельно малых радиусов скруглени режущих кромок инструментов дл нарезани дифракционных решеток.to improve the measurement accuracy of extremely small rounding radii of cutting edges of tools for cutting diffraction gratings.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792784238A SU815468A1 (en) | 1979-06-15 | 1979-06-15 | Method of measuring etremely small rouding-off radii of tool cutting edges |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792784238A SU815468A1 (en) | 1979-06-15 | 1979-06-15 | Method of measuring etremely small rouding-off radii of tool cutting edges |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU815468A1 true SU815468A1 (en) | 1981-03-23 |
Family
ID=20835520
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU792784238A SU815468A1 (en) | 1979-06-15 | 1979-06-15 | Method of measuring etremely small rouding-off radii of tool cutting edges |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU815468A1 (en) |
-
1979
- 1979-06-15 SU SU792784238A patent/SU815468A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3712706A (en) | Retroreflective surface | |
Downs et al. | Optical system for measuring the profiles of super-smooth surfaces | |
Asai et al. | Measuring the very small cutting-edge radius for a diamond tool using a new kind of SEM having two detectors | |
CN100410691C (en) | Retroreflector with controlled divergence made by the method of localized substrate stress | |
DE69011918T3 (en) | Coding. | |
Parks | Geometrie Moire | |
JPS6475903A (en) | Method for measuring refractive index and film thickness | |
US20030227682A1 (en) | Methods of making a master and replicas thereof | |
SU815468A1 (en) | Method of measuring etremely small rouding-off radii of tool cutting edges | |
CN105547540A (en) | Coherent gradient sensitive interference method for real-time space phase shift | |
Hodgkinson | The application of fringes of equal chromatic order to the assessment of the surface roughness of polished fused silica | |
US2140410A (en) | Lens and method of manufacturing the same | |
RU2035039C1 (en) | Process of determination of flaw in transparent stone | |
Jolic et al. | Excimer laser machining of corner cube structures | |
KR20050005555A (en) | Methods of making a master and replicas thereof | |
US4357204A (en) | Chemically machined spectral grating | |
CN106625033B (en) | A kind of method of determining Single point diamond turning o tool marks polishing removal behavior | |
Bosch | Double layer ellipsometry: an efficient numerical method for data analysis | |
JPS6475902A (en) | Method for measuring refractive index and film thickness | |
Pluta | Variable wavelength interferometry: VIII, Calibration | |
SU1657946A1 (en) | Method for control of process of ion treatment | |
SU1213398A1 (en) | Interference method of determining refraction index | |
JPH07174504A (en) | Device for measuring thickness of liquid film | |
Kučírek | Determination of the optical constants and thickness of a thin slightly absorbing film by ellipsometric measurement | |
SU1474524A1 (en) | Method of determining gradient of refraction index of nonabsorbing film as a function of thickness |